JP2001281282A - Probe for impedance measurement - Google Patents

Probe for impedance measurement

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JP2001281282A
JP2001281282A JP2000089914A JP2000089914A JP2001281282A JP 2001281282 A JP2001281282 A JP 2001281282A JP 2000089914 A JP2000089914 A JP 2000089914A JP 2000089914 A JP2000089914 A JP 2000089914A JP 2001281282 A JP2001281282 A JP 2001281282A
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Japan
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impedance
ground
circuit
signal
conductor
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Application number
JP2000089914A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukio Matsushita
幸生 松下
Toshiyuki Akamatsu
資幸 赤松
Kaneo Kagami
金雄 加賀美
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe for impedance measurement which can reduce reflection at a signal input point by having its impedance matched with a coaxial cable connected to an impedance measuring instrument. SOLUTION: This probe is equipped with a printed wiring board 3 which has a signal conductor 1 and a ground conductor 2 formed, a signal input pin 6 which is electrically connected to the signal conductor 1 and can be brought into contact with a measured circuit 5 on a circuit board 4, and a ground contact pin 8 which is electrically connected to the ground conductor 2 and can be brought into contact with a ground circuit 7 of the circuit board 4. This is concerned with a probe A for impedance measurement which is electrically connected to the impedance measuring instrument by a coaxial cable 9. The probe is formed matching the impedance of the coaxial cable 9.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板等の回路板のインピーダンスを測定する際に用いられ
るインピーダンス測定用プローブに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a probe for measuring impedance used for measuring the impedance of a circuit board such as a multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器などに用いられる回路板では、
回路板に設けた回路とその回路を伝送する信号とのイン
ピーダンス整合を取ることが行なわれており、特に、高
周波信号(高速信号)を伝送するための回路である場合
はこのインピーダンス整合が重要である。従って、回路
板の回路はこれを伝送する信号とインピーダンス整合が
取れるように設計されていると共に回路板は回路のイン
ピーダンス(値)が設計値から許容範囲内に収っている
か否かチェックされて製品化されており、回路のインピ
ーダンスが一定の許容範囲から外れるものは不良品とし
て破棄するようにしている。
2. Description of the Related Art In a circuit board used for electronic equipment, etc.,
The impedance matching between a circuit provided on a circuit board and a signal transmitted through the circuit is performed. Particularly, in the case of a circuit for transmitting a high-frequency signal (high-speed signal), this impedance matching is important. is there. Therefore, the circuit of the circuit board is designed so that impedance matching with a signal to be transmitted can be obtained, and the circuit board is checked whether the impedance (value) of the circuit is within an allowable range from the design value. Products that have been commercialized and whose circuit impedance falls outside a certain allowable range are discarded as defective products.

【0003】従来より、回路板の回路のインピーダンス
を測定するにあたっては、主にTDR(Time Domain Ref
rectrometry)法が用いられている。この方法は、インピ
ーダンスの測定の対象となる信号回路(被測定回路)と
基準のグランド回路とからなる伝送回路にパルスあるい
はステップ信号を伝送し、伝送回路内での反射信号を検
知すると共に反射信号から求められる反射係数を用いて
伝送回路(被測定回路)のインピーダンス値を得るよう
にするものである。
Conventionally, when measuring the impedance of a circuit on a circuit board, mainly TDR (Time Domain Ref) is used.
rectrometry) method is used. In this method, a pulse or step signal is transmitted to a transmission circuit including a signal circuit (circuit under test) whose impedance is to be measured and a reference ground circuit, and a reflection signal in the transmission circuit is detected and a reflection signal is detected. The impedance value of the transmission circuit (circuit under test) is obtained by using the reflection coefficient obtained from the above.

【0004】回路板のインピーダンス測定には、SMA
コネクタなどの同軸コネクタを被測定回路に直接半田付
けする方法と接触式の同軸型プローブを用いる方法が一
般的に実施されている。前者は信号入力点の反射による
測定誤差を低減させることができるが、同軸コネクタの
半田付けによる汚れ等があり、いわゆる破壊試験になる
ものである。また、後者は同軸ケーブルと同軸ピンを用
いてインピーダンスを整合させたものが提案されてお
り、信号導体とグランド導体の間のピッチ及び同軸ピン
の先端の位置が固定されているものである。
For measuring the impedance of a circuit board, an SMA
A method of directly soldering a coaxial connector such as a connector to a circuit to be measured and a method of using a contact-type coaxial probe are generally practiced. The former can reduce the measurement error due to the reflection of the signal input point, but it is a so-called destructive test because there is contamination due to soldering of the coaxial connector. In the latter case, the impedance is matched using a coaxial cable and a coaxial pin, and the pitch between the signal conductor and the ground conductor and the position of the tip of the coaxial pin are fixed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記のようなインピー
ダンスの測定方法について、被測定回路に同軸コネクタ
を直接半田付けする方法では、回路板を半田付けで破壊
したり汚したりするために、回路板の製品としての価値
を低下させる恐れがある。また、同軸ケーブルを延長し
た同軸ピンを用いる同軸プローブを用いる方法では、信
号導体とグランド導体の間の距離(ピッチ)が固定され
ていること、同軸ピンにスプリング機能が無く信号入力
時に反射が大きいこと、価格が高価であるなどの技術的
にも使用方法にも問題があった。
In the method of measuring the impedance as described above, the method of directly soldering a coaxial connector to a circuit to be measured requires the circuit board to be broken or stained by soldering. May reduce the value of the product. Further, in the method using a coaxial probe using a coaxial pin extended from a coaxial cable, the distance (pitch) between the signal conductor and the ground conductor is fixed, and the coaxial pin has no spring function and has large reflection at the time of signal input. In addition, there was a problem in terms of technical and usage methods, such as high price.

【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、インピーダンス測定機器と接続された同軸ケーブ
ルとインピーダンスが整合して信号入力点での反射を低
減することができるインピーダンス測定用プローブを提
供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and an impedance measuring probe capable of reducing reflection at a signal input point by matching impedance with a coaxial cable connected to an impedance measuring device. It is intended to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
インピーダンス測定用プローブAは、信号導体1及びグ
ランド導体2を形成したプリント配線板3と、信号導体
1に電気的に接続されると共に回路板4の被測定回路5
に接触可能な信号入力ピン6と、グランド導体2に電気
的に接続されると共に回路板4のグランド回路7に接触
可能なグランド接触ピン8とを備え、同軸ケーブル9に
よりインピーダンス測定機器に電気的に接続されるイン
ピーダンス測定用プローブAであって、同軸ケーブル9
のインピーダンスに整合するように形成して成ることを
特徴とするものである。
A probe A for impedance measurement according to a first aspect of the present invention is electrically connected to a printed wiring board 3 on which a signal conductor 1 and a ground conductor 2 are formed, and to the signal conductor 1. And the circuit under test 5 on the circuit board 4
And a ground contact pin 8 that is electrically connected to the ground conductor 2 and can contact the ground circuit 7 of the circuit board 4. Measuring impedance probe A connected to the coaxial cable 9
Characterized by being formed so as to match the impedance of.

【0008】本発明の請求項2に係るインピーダンス測
定用プローブAは、請求項1の構成に加えて、信号入力
ピン6とグランド接触ピン8をバネ式のコンタクトピン
で構成し、回路板4の被測定回路5への信号入力ピン6
の接触時及び回路板4のグランド回路7へのグランド接
触ピン8の接触時に信号入力ピン6とグランド接触ピン
8の先端がプリント配線板3の端面にまで後退するよう
に、コンタクトピンを伸縮自在に形成して成ることを特
徴とするものである。
A probe A for impedance measurement according to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first aspect, comprises a signal input pin 6 and a ground contact pin 8 formed by spring-type contact pins. Signal input pin 6 to circuit under test 5
The contact pins can be extended and retracted so that the tips of the signal input pins 6 and the ground contact pins 8 recede to the end surface of the printed wiring board 3 when the contact is made and when the ground contact pins 8 contact the ground circuit 7 of the circuit board 4. It is characterized by being formed in.

【0009】本発明の請求項3に係るインピーダンス測
定用プローブAは、請求項1又は2の構成に加えて、マ
イクロストリップ構造、ストリップ構造、コプラナー構
造のいずれかでプリント配線板3を形成して成ることを
特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an impedance measuring probe A in which the printed wiring board 3 is formed in any one of a microstrip structure, a strip structure and a coplanar structure in addition to the structure of the first or second aspect. It is characterized by becoming.

【0010】本発明の請求項4に係るインピーダンス測
定用プローブAは、請求項1乃至3のいずれかの構成に
加えて、低誘電率で低誘電正接の材料を用いてプリント
配線板3を形成して成ることを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an impedance measuring probe according to any one of the first to third aspects, wherein the printed wiring board is formed by using a material having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. It is characterized by comprising.

【0011】本発明の請求項5に係るインピーダンス測
定用プローブAは、請求項1乃至4のいずれかの構成に
加えて、同軸ケーブル9のインピーダンスに整合した状
態で、プリント配線板3の絶縁層10の厚みとグランド
接触ピン8の位置を調整可能に形成して成ることを特徴
とするものである。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an impedance measuring probe A according to the first aspect of the present invention, further comprising an insulating layer of the printed wiring board 3 which is matched with the impedance of the coaxial cable 9. The thickness and the position of the ground contact pin 8 are formed so as to be adjustable.

【0012】本発明の請求項6に係るインピーダンス測
定用プローブAは、請求項1乃至5のいずれかの構成に
加えて、信号導体1の配線長をコントロールすることに
より、共振周波数を変えて通過する信号の周波数特性を
コントロール可能に形成して成ることを特徴とするもの
である。
The impedance measuring probe A according to a sixth aspect of the present invention, in addition to the configuration according to any one of the first to fifth aspects, controls the length of the wiring of the signal conductor 1 so as to change the resonance frequency and pass therethrough. The frequency characteristic of the signal to be controlled is formed so as to be controllable.

【0013】本発明の請求項7に係るインピーダンス測
定用プローブAは、請求項1乃至6のいずれかの構成に
加えて、信号導体1、グランド導体2、信号入力ピン
6、グランド接触ピン8に金メッキを施して成ることを
特徴とするものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an impedance measuring probe A according to any one of the first to sixth aspects, wherein a signal conductor 1, a ground conductor 2, a signal input pin 6, and a ground contact pin 8 are provided. It is characterized by being plated with gold.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below.

【0015】図1(a)〜(c)に本発明の一例を示
す。プリント配線板3は絶縁層10の一方の表面に信号
導体1を、他方の表面にグランド導体2をそれぞれ設け
て形成されている。信号導体1はプリント配線板3の前
後方向に細長い線路に形成されており、また、グランド
導体2はプリント配線板3の片方の表面全面を覆うベタ
面に形成されている。すなわち、このプリント配線板3
はマイクロストリップ(ライン)構造に形成されてい
る。このようにプリント配線板3をマイクロストリップ
構造に形成することによって、信号導体1の表面に配置
される信号入力ピン6の上側(表面側)が空気層となっ
て、プローブA自体の持つ実効誘電率と誘電正接を下げ
ることができ、この結果、プローブAを通過するインピ
ーダンス測定用の信号の伝送遅延と伝送損失を低減させ
て測定精度の向上を図ることができる。
FIGS. 1A to 1C show an example of the present invention. The printed wiring board 3 is formed by providing the signal conductor 1 on one surface of the insulating layer 10 and the ground conductor 2 on the other surface. The signal conductor 1 is formed in an elongated line in the front-rear direction of the printed wiring board 3, and the ground conductor 2 is formed on a solid surface covering the entire surface of one surface of the printed wiring board 3. That is, the printed wiring board 3
Are formed in a microstrip (line) structure. By forming the printed wiring board 3 in a microstrip structure in this way, the upper side (surface side) of the signal input pins 6 arranged on the surface of the signal conductor 1 becomes an air layer, and the effective dielectric constant of the probe A itself. As a result, the transmission delay and transmission loss of the impedance measurement signal passing through the probe A can be reduced, and the measurement accuracy can be improved.

【0016】信号導体1とグランド導体2の間の絶縁層
10は樹脂材料の硬化物で形成されるものであるが、絶
縁層10の形成に用いられる樹脂材料としては低誘電率
で低誘電正接の材料であるPTEF(ポリテトラフルオ
ロエチレン)などのフッ素樹脂材料を用いるのが好まし
い。このように低誘電率で低誘電正接の材料でプリント
配線板3の絶縁層10を形成することによって、信号導
体1を通過する高周波信号の遅延と誘電損失を低減する
ことができる。尚、絶縁層10をフッ素樹脂材料で形成
すると、上記のマイクロストリップ構造のプリント配線
板3の特徴である空気層の効果との相乗効果により、実
効誘電率が1.8となり、この結果、プローブAを通過
する信号速度が従来の同軸構造のプローブと比較して2
0%増加させることができる。
The insulating layer 10 between the signal conductor 1 and the ground conductor 2 is formed of a cured resin material. The resin material used to form the insulating layer 10 has a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. It is preferable to use a fluororesin material such as PTEF (polytetrafluoroethylene), which is a material for the above. By thus forming the insulating layer 10 of the printed wiring board 3 with a material having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent, it is possible to reduce delay and dielectric loss of a high-frequency signal passing through the signal conductor 1. When the insulating layer 10 is formed of a fluororesin material, the effective dielectric constant becomes 1.8 due to a synergistic effect with the effect of the air layer, which is a characteristic of the printed wiring board 3 having the microstrip structure. The signal speed passing through A is 2 compared to a conventional coaxial probe.
Can be increased by 0%.

【0017】上記の信号導体1の表面には信号入力ピン
6が、またグランド導体2の表面にはグランド接触ピン
8が設けられている。信号入力ピン6及びグランド接触
ピン8は図2に示すようなバネ式のコンタクトピンで形
成することができる。コンタクトピンは銅やニッケルな
どの導体金属で形成されるものであって、先端が尖った
針状のピン本体21と、前面が開口し後面が閉塞された
筒形状のソケット22と、コイルバネなどのバネ23と
を備え、これらを一体化して形成されている。ピン本体
21はその先端がソケット22の前面開口から突出した
状態でソケット22に差し込まれており、ピン本体21
の先端部以外にソケット22が被さった状態に形成され
ている。また、バネ23はピン本体21の後端とソケッ
ト22の底面の間に設けられている。さらに、ピン本体
21はソケット22に対して前後方向にスライド移動自
在に形成されている。また、ピン本体21はソケット2
2に対して抜き差し可能に形成されている。加えて、ピ
ン本体21の外周面とソケット22の内周面が接触する
ことにより、ピン本体21とソケット22は電気的に接
続されている。
A signal input pin 6 is provided on the surface of the signal conductor 1, and a ground contact pin 8 is provided on the surface of the ground conductor 2. The signal input pin 6 and the ground contact pin 8 can be formed by spring-type contact pins as shown in FIG. The contact pin is formed of a conductive metal such as copper or nickel, and has a needle-shaped pin body 21 having a sharp tip, a cylindrical socket 22 having an open front surface and a closed rear surface, and a coil spring. A spring 23 is provided, and these are formed integrally. The pin body 21 is inserted into the socket 22 with its tip protruding from the front opening of the socket 22.
The socket 22 is formed in a state where the socket 22 covers other than the front end portion. The spring 23 is provided between the rear end of the pin body 21 and the bottom of the socket 22. Further, the pin body 21 is formed so as to be slidable in the front-rear direction with respect to the socket 22. The pin body 21 is connected to the socket 2
2 is formed so as to be removable. In addition, when the outer peripheral surface of the pin main body 21 and the inner peripheral surface of the socket 22 come into contact with each other, the pin main body 21 and the socket 22 are electrically connected.

【0018】上記のコンタクトピンは、ピン本体21が
ソケット22に対して前後方向にスライド移動自在に形
成されているので、ソケット22からピン本体21が大
きく突出する状態と、ピン本体21がバネ23の弾性力
に抗してソケット22に深く差し込まれる状態との間で
伸縮自在に形成されている。また、上記のコンタクトピ
ンは、バネ23がピン本体21の後端とソケット22の
底面の間に設けられているので、クッション性を有する
ことになり、ピン本体21の先端を回路板4の被測定回
路5やグランド回路7に密着させて弾接させることがで
きるものであり、この結果、信号入力ピン6やグランド
接触ピン8の接触による被測定回路5やグランド回路7
のダメージ(傷つけ)の低減、及び信号入力ピン6やグ
ランド接触ピン8の被測定回路5やグランド回路7への
接触性を向上させることができるものである。
The above-mentioned contact pins are formed such that the pin body 21 is slidably movable in the front-rear direction with respect to the socket 22. Is formed so as to be able to expand and contract with a state in which it is inserted into the socket 22 deeply against the elastic force of the above. Further, since the spring 23 is provided between the rear end of the pin body 21 and the bottom surface of the socket 22, the contact pin has a cushioning property. It can be brought into close contact with the measurement circuit 5 and the ground circuit 7 to be elastically contacted. As a result, the circuit under test 5 and the ground circuit 7 by the contact of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8
This can reduce the damage (damage) and improve the contact of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 with the circuit under test 5 and the ground circuit 7.

【0019】そして、信号入力ピン6を信号導体1の表
面に沿って配置し、信号入力ピン6のソケット22を信
号導体1の表面に半田付けで固着することによって、信
号入力ピン6が信号導体1の表面に取り付けられてい
る。また、グランド接触ピン8をグランド導体2の表面
に沿って配置し、グランド接触ピン8のソケット22を
グランド導体2の表面に半田付けで固着することによっ
て、グランド接触ピン8がグランド導体2の表面に取り
付けられている。このようにしてプリント配線板3に取
り付けられた信号入力ピン6とグランド接触ピン8のピ
ン本体21の先端はプリント配線板3の前端よりも前側
に突出して配置されている。また、プリント配線板3の
前端よりも前側に突出した信号入力ピン6とグランド接
触ピン8のピン本体21の先端は回路板4の被測定回路
5あるいはグランド回路7に接触して押圧されることに
よりプリント配線板3の前端にまで後退するように形成
されている。また、プリント配線板3の前端にまで後退
した信号入力ピン6とグランド接触ピン8のピン本体2
1の先端は回路板4の被測定回路5あるいはグランド回
路7への接触による押圧が解除されることにより、バネ
23の弾性力でプリント配線板3の前端よりも前側に突
出した状態にまで前進する。
The signal input pins 6 are arranged along the surface of the signal conductor 1 and the sockets 22 of the signal input pins 6 are fixed to the surface of the signal conductor 1 by soldering. 1 is attached to the surface. The ground contact pins 8 are arranged along the surface of the ground conductor 2 and the sockets 22 of the ground contact pins 8 are fixed to the surface of the ground conductor 2 by soldering, so that the ground contact pins 8 Attached to. The distal ends of the pin bodies 21 of the signal input pins 6 and the ground contact pins 8 attached to the printed wiring board 3 in this manner are arranged so as to protrude forward from the front end of the printed wiring board 3. In addition, the tips of the pin body 21 of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 protruding forward from the front end of the printed wiring board 3 come into contact with the circuit under test 5 or the ground circuit 7 of the circuit board 4 and are pressed. Thereby, it is formed so as to retreat to the front end of the printed wiring board 3. Further, the pin body 2 of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 retreated to the front end of the printed wiring board 3
The leading end of the printed wiring board 1 is advanced by the elastic force of the spring 23 to a position protruding forward from the front end of the printed wiring board 3 by releasing the pressing of the circuit board 4 due to the contact with the circuit to be measured 5 or the ground circuit 7. I do.

【0020】尚、図1(a)〜(c)では信号入力ピン
6をプリント配線板3の幅方向のほぼ中央に配置し、グ
ランド接触ピン8をプリント配線板3の中央から幅方向
にずれた配置しているが、これに限らず、図3(a)〜
(c)に示すように、信号入力ピン6とグランド接触ピ
ン8の両方をプリント配線板3の幅方向のほぼ中央に配
置してもよい。
1 (a) to 1 (c), the signal input pins 6 are arranged substantially at the center of the printed wiring board 3 in the width direction, and the ground contact pins 8 are shifted from the center of the printed wiring board 3 in the width direction. However, the arrangement is not limited to this, and FIG.
As shown in (c), both the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 may be arranged substantially at the center of the printed wiring board 3 in the width direction.

【0021】プリント配線板3の後端にはSMAコネク
タなどの同軸コネクタ30が設けられている。同軸コネ
クタ30の内部導体31はプリント配線板3の信号導体
1に電気的に接続されていると共に同軸コネクタ30の
外部導体32はプリント配線板3のグランド導体2に電
気的に接続されている。また、信号導体1、グランド導
体2、信号入力ピン6、グランド接触ピン8に金メッキ
を施して被覆するのが好ましく、このことで、インピー
ダンスの測定回数を1万回程度にしても信号入力ピン6
やグランド接触ピン8の先端の摩耗を少なくすることが
できると共に錆の発生を防ぐことができるものである。
また、プリント配線板3はABS樹脂などで形成される
カバーで覆うこともできる。
At the rear end of the printed wiring board 3, a coaxial connector 30 such as an SMA connector is provided. The inner conductor 31 of the coaxial connector 30 is electrically connected to the signal conductor 1 of the printed wiring board 3, and the outer conductor 32 of the coaxial connector 30 is electrically connected to the ground conductor 2 of the printed wiring board 3. Further, it is preferable that the signal conductor 1, the ground conductor 2, the signal input pin 6, and the ground contact pin 8 are covered with gold plating so that even if the number of times of impedance measurement is about 10,000, the signal input pin 6
In addition, the wear of the tip of the ground contact pin 8 can be reduced and the generation of rust can be prevented.
Further, the printed wiring board 3 can be covered with a cover made of ABS resin or the like.

【0022】上記のように形成される本発明のインピー
ダンス測定用プローブAは、オシロスコープや入力信号
発生器を備えたインピーダンス測定機器に同軸ケーブル
9を介して電気的に接続されるものである。同軸ケーブ
ル9をインピーダンス測定用プローブAに接続するにあ
たっては、図4に示すように、同軸ケーブル9の一端を
同軸コネクタ30に接続し、同軸ケーブル9の一端の中
心導体を同軸コネクタ30の内部導体31に電気的に接
続すると共に同軸ケーブル9の一端の外層導体を同軸コ
ネクタ30の外部導体32に電気的に接続するようにす
る。
The impedance measuring probe A of the present invention formed as described above is electrically connected via a coaxial cable 9 to an impedance measuring instrument provided with an oscilloscope and an input signal generator. When connecting the coaxial cable 9 to the impedance measuring probe A, as shown in FIG. 4, one end of the coaxial cable 9 is connected to the coaxial connector 30 and the center conductor at one end of the coaxial cable 9 is connected to the internal conductor of the coaxial connector 30. 31 and an outer conductor at one end of the coaxial cable 9 is electrically connected to an outer conductor 32 of the coaxial connector 30.

【0023】そして、本発明は接続される同軸ケーブル
9とインピーダンス整合するように形成されており、こ
のことで安定したインピーダンスの測定を行なうことが
できるものである。本発明はこのように同軸ケーブル9
とインピーダンス整合させるために、プリント配線板3
の絶縁層10の厚み(図にtで示す)、信号導体1の幅
寸法、信号入力ピン6とグランド接触ピン8の直径、絶
縁層10の材料を考慮して設計されている。例えば、同
軸ケーブル9のインピーダンスは通常50Ωであるの
で、本発明のインピーダンスも50Ω(±5%)に設計
されるが、この場合、プリント配線板3の絶縁層10の
厚みは0.5mm、信号導体1の幅寸法は1.2mm、
信号入力ピン6とグランド接触ピン8の直径は0.45
mm、絶縁層10の材料はフッ素樹脂材料(1MHzに
おける比誘電率εr=2.6)でそれぞれ形成すること
ができる。もちろん、必要に応じて50Ω以外のインピ
ーダンスに設計することも可能である。
The present invention is formed so that the impedance is matched with the coaxial cable 9 to be connected, so that a stable impedance measurement can be performed. The present invention uses the coaxial cable 9
Printed circuit board 3
The thickness of the insulating layer 10 (shown by t in the drawing), the width of the signal conductor 1, the diameter of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8, and the material of the insulating layer 10 are taken into consideration. For example, since the impedance of the coaxial cable 9 is usually 50Ω, the impedance of the present invention is also designed to be 50Ω (± 5%). In this case, the thickness of the insulating layer 10 of the printed wiring board 3 is 0.5 mm, The width of the conductor 1 is 1.2 mm,
The diameter of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 is 0.45
mm, and the material of the insulating layer 10 can be formed of a fluororesin material (relative permittivity εr = 2.6 at 1 MHz). Of course, it is also possible to design an impedance other than 50Ω as necessary.

【0024】本発明のインピーダンス測定用プローブA
はTDR法などによる特性インピーダンス測定に用いる
ことができる。この場合、回路板4の表面には被測定回
路5の端部と電気的に接続される被測定回路コンタクト
部35とグランド回路7の端部と電気的に接続されるグ
ランド回路コンタクト部36が形成されており、図5に
示すように、信号入力ピン6の先端を被測定回路コンタ
クト部35に、グランド接触ピン8の先端をグランド回
路コンタクト部36にそれぞれ接触させるようにする。
被測定回路5の端部と被測定回路コンタクト部35及び
グランド回路7の端部とグランド回路コンタクト部36
はスルーホールメッキ37などで接続するようにする。
尚、被測定回路5は実際に信号が伝送される信号回路で
あっても良いし、インピーダンスを測定するためのテス
トパターンであっても良い。
Probe A for Impedance Measurement of the Present Invention
Can be used for characteristic impedance measurement by the TDR method or the like. In this case, a circuit-under-measurement contact portion 35 electrically connected to an end of the circuit-under-measurement 5 and a ground circuit contact portion 36 electrically connected to an end of the ground circuit 7 are provided on the surface of the circuit board 4. As shown in FIG. 5, the tip of the signal input pin 6 is brought into contact with the contact portion 35 to be measured, and the tip of the ground contact pin 8 is brought into contact with the ground circuit contact portion 36.
The end of the circuit under test 5 and the contact section 35 to be measured, and the end of the ground circuit 7 and the ground circuit contact section 36
Are connected by through-hole plating 37 or the like.
The circuit under test 5 may be a signal circuit to which a signal is actually transmitted, or may be a test pattern for measuring impedance.

【0025】そして、本発明はインピーダンス測定機器
で発生させたインピーダンス測定用の信号を同軸ケーブ
ル9の中心導体、同軸コネクタ30の内部導体31、プ
リント配線板3の信号導体1を通じて信号入力ピン6に
供給し、信号入力ピン6の先端から被測定回路5にイン
ピーダンス測定用の信号を入力するものであるが、上記
のように、本発明のインピーダンス測定用プローブAは
同軸ケーブル9とインピーダンス整合するように形成さ
れているので、信号入力ピン6の先端と被測定回路5の
被測定回路コンタクト部35との接点である信号入力点
での反射を低減することができ、従来の測定方法である
コネクタの半田付けによる方法や同軸構造のプローブよ
りもインピーダンスの測定性能を高くすることができる
ものである。また、本発明のインピーダンス測定用プロ
ーブは既存の材料を用いて形成することができ、安価で
短時間で作製することができるものである。
In the present invention, the signal for impedance measurement generated by the impedance measuring device is applied to the signal input pin 6 through the center conductor of the coaxial cable 9, the inner conductor 31 of the coaxial connector 30, and the signal conductor 1 of the printed wiring board 3. A signal for impedance measurement is supplied to the circuit under test 5 from the distal end of the signal input pin 6. As described above, the impedance measurement probe A of the present invention matches the impedance of the coaxial cable 9 with the impedance measurement probe A. Therefore, reflection at a signal input point, which is a contact point between the tip of the signal input pin 6 and the circuit-under-test contact portion 35 of the circuit-under-test 5, can be reduced. The method can improve the measurement performance of impedance as compared with the soldering method or the probe having the coaxial structure. Further, the impedance measuring probe of the present invention can be formed using existing materials, and can be manufactured at low cost in a short time.

【0026】上記のように信号入力ピン6を被測定回路
コンタクト部35に、グランド接触ピン8をグランド回
路コンタクト部36にそれぞれ接触させるように押圧す
ると、信号入力ピン6の先端とグランド接触ピン8の先
端はプリント配線板3の前端にまで後退することになる
が、信号入力ピン6とグランド接触ピン8にはバネ23
が内蔵されているので、信号入力ピン6の先端とグラン
ド接触ピン8の先端は被測定回路コンタクト部35やグ
ランド回路コンタクト部36にクッション性を持って弾
性的に密着することになる。この結果、製品となる回路
板4にインピーダンス測定時に傷を残すことなく且つ充
分な圧力で信号入力ピン6の先端とグランド接触ピン8
の先端のインピーダンス制御された部分を被測定回路コ
ンタクト部35やグランド回路コンタクト部36に接触
させることができ、インピーダンス測定用の信号入力時
におけるインピーダンスの不連続点の存在による入力反
射を少なくすることができ、測定によって得られる波形
の乱れを低減することができるものである。
As described above, when the signal input pin 6 is pressed to make contact with the circuit contact portion 35 to be measured and the ground contact pin 8 is brought into contact with the ground circuit contact portion 36, the tip of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 are pressed. Is retracted to the front end of the printed wiring board 3, but the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 have springs 23.
, The tip of the signal input pin 6 and the tip of the ground contact pin 8 are elastically adhered to the measured circuit contact portion 35 and the ground circuit contact portion 36 with cushioning properties. As a result, the tip of the signal input pin 6 and the ground contact pin 8 do not leave a scratch on the circuit board 4 as a product during impedance measurement and have sufficient pressure.
The impedance controlled portion at the tip of the contact can be brought into contact with the circuit contact portion 35 to be measured or the ground circuit contact portion 36 to reduce input reflection due to the presence of a discontinuity in impedance when a signal for impedance measurement is input. Thus, the disturbance of the waveform obtained by the measurement can be reduced.

【0027】図6(a)に本発明を用いてインピーダン
スを測定した時に得られる波形を示し、図6(b)に従
来のプローブを用いてインピーダンスを測定した時に得
られる波形を示す。尚、縦軸は電圧の目盛りが、横軸は
時間の目盛りが付してある。図6(a)から明らかなよ
うに本発明のインピーダンス測定用プローブAでは信号
入力の際の反射がほとんど生じていない(グラフのBの
部分)が、図6(b)の従来のプローブでは信号入力の
際の反射が生じている(グラフのCの部分)。このよう
に本発明ではインピーダンスの測定の際に得られる波形
の安定性に優れるものである。尚、図6(b)に示す従
来のプローブにおいて信号入力部分での反射点のピーク
インピーダンスは112Ωであったが、図6(a)に示
す本発明のプローブAでは信号入力部分での反射点のピ
ークインピーダンスが53.3Ωであり、反射が低減さ
れていた。
FIG. 6A shows a waveform obtained when impedance is measured using the present invention, and FIG. 6B shows a waveform obtained when impedance is measured using a conventional probe. The vertical axis has a voltage scale, and the horizontal axis has a time scale. As is clear from FIG. 6A, the impedance measuring probe A of the present invention hardly causes reflection at the time of signal input (portion B in the graph), but the conventional probe of FIG. Reflection occurs at the time of input (portion C in the graph). As described above, in the present invention, the stability of the waveform obtained when measuring the impedance is excellent. The peak impedance of the reflection point at the signal input portion in the conventional probe shown in FIG. 6B was 112Ω, but the reflection point at the signal input portion of the probe A of the present invention shown in FIG. Had a peak impedance of 53.3Ω, and the reflection was reduced.

【0028】また、信号入力ピン6の先端とグランド接
触ピン8の先端の間の距離(ピッチ)は、回路板4に設
けた被測定回路コンタクト部35とグランド回路コンタ
クト部36の間の距離によって設定されるが、被測定回
路コンタクト部35とグランド回路コンタクト部36の
距離は回路板4ごとに異なっているので、回路板4ごと
に信号入力ピン6の先端とグランド接触ピン8の先端の
距離を変える必要があるが、従来のピンピッチが固定の
プローブでは被測定回路コンタクト部35とグランド回
路コンタクト部36の距離が異なる各種の回路板4に対
応させることができない。そこで本発明ではプリント配
線板3の絶縁層10の厚みを選定し、且つグランド接触
ピン8の位置を微調整することにより、同軸ケーブル9
のインピーダンスに整合した状態で、信号入力ピン6の
先端とグランド接触ピン8の先端の距離を変更可能に形
成したものであり、連続的に被測定回路コンタクト部3
5とグランド回路コンタクト部36の距離が異なる各種
の(多ピッチの)回路板4にフレキシブルに対応させる
ことができるものである。尚、図1(a)〜(c)のも
のでは、信号入力ピン6の先端とグランド接触ピン8の
先端の距離Pを2.54mmに形成したが、マイクロス
トリップ構造のプリント配線板3を用いた場合は、信号
入力ピン6の先端とグランド接触ピン8の先端の距離P
を1.27mm以上に設定することが可能である。
The distance (pitch) between the tip of the signal input pin 6 and the tip of the ground contact pin 8 is determined by the distance between the measured circuit contact 35 provided on the circuit board 4 and the ground circuit contact 36. Although the distance is set, the distance between the circuit contact portion 35 to be measured and the ground circuit contact portion 36 is different for each circuit board 4, so that the distance between the tip of the signal input pin 6 and the tip of the ground contact pin 8 for each circuit board 4 However, a conventional probe having a fixed pin pitch cannot correspond to various circuit boards 4 having different distances between the circuit contact portion 35 to be measured and the ground circuit contact portion 36. Therefore, in the present invention, the thickness of the insulating layer 10 of the printed wiring board 3 is selected, and the position of the ground contact pin 8 is finely adjusted.
In this state, the distance between the tip of the signal input pin 6 and the tip of the ground contact pin 8 can be changed in a state of matching with the impedance of the circuit contact part 3 to be measured.
5 can be flexibly adapted to various (multi-pitch) circuit boards 4 having different distances from the ground circuit contact portion 36. In FIGS. 1A to 1C, the distance P between the tip of the signal input pin 6 and the tip of the ground contact pin 8 is set to 2.54 mm, but the printed wiring board 3 having a microstrip structure is used. The distance P between the tip of the signal input pin 6 and the tip of the ground contact pin 8
Can be set to 1.27 mm or more.

【0029】また、一般に長さを持った信号伝送線路で
はその共振と伝送損失により通過信号の低減が生じる。
本発明においてその共振と伝送損失はプリント配線板3
の信号導体1と同軸コネクタ30の内部導体31の長さ
(配線長)によって決まるので、これらの配線長を制御
することで本発明のプローブAを通過するインピーダン
ス測定用の信号の周波数帯域を制御することができる。
そして本発明ではプリント配線板3の信号導体1と同軸
コネクタ30の内部導体31の長さ(配線長)を制御す
ることによって、共振と伝送損失の影響をインピーダン
ス測定が可能なレベルにまで低減しているものである。
例えば、同軸コネクタ30からプリント配線板3の前端
にまで後退した信号入力ピン6の先端までの配線長を2
5mmにすると、12GHzのインピーダンス測定用の
信号を用いた場合、図7にグラフで示すように、−1.
5dBの減衰特性が確認されるが、インピーダンス測定
用の入力信号は通常10GHz程度とされているので、
共振と伝送損失の影響を受けず、インピーダンス測定が
十分可能な信号の通過特性を有するものである。
In general, a signal transmission line having a length causes a reduction in a passing signal due to its resonance and transmission loss.
In the present invention, the resonance and the transmission loss
Is determined by the length (wiring length) of the signal conductor 1 and the inner conductor 31 of the coaxial connector 30. By controlling these wiring lengths, the frequency band of the impedance measurement signal passing through the probe A of the present invention is controlled. can do.
In the present invention, by controlling the length (wiring length) of the signal conductor 1 of the printed wiring board 3 and the internal conductor 31 of the coaxial connector 30, the influence of resonance and transmission loss is reduced to a level at which impedance can be measured. Is what it is.
For example, the wiring length from the coaxial connector 30 to the front end of the signal input pin 6 retreated to the front end of the printed wiring board 3 is 2
When the distance is set to 5 mm, when a signal for impedance measurement of 12 GHz is used, as shown in the graph of FIG.
Although the attenuation characteristic of 5 dB is confirmed, since the input signal for impedance measurement is usually set to about 10 GHz,
It is not affected by resonance and transmission loss, and has a signal passing characteristic that allows sufficient impedance measurement.

【0030】図8(a)〜(c)に他の実施の形態を示
す。このインピーダンス測定用プローブAはプリント配
線板3としてストリップ(ライン)構造のものを用いた
ものである。すなわち、プリント配線板3の信号導体1
は、絶縁層10の内部に配置される内部信号導体1a
と、絶縁層10の片側の表面の前部に配置される前部信
号導体1bと、絶縁層10の片側の表面の後部に配置さ
れる後部信号導体1cとで形成されており、内部信号導
体1aの前端と前部信号導体1bの後端及び内部信号導
体1aの後端と後部信号導体1cの前端が、BVHなど
のスルーホール(メッキ)40で接続されている。そし
て、前部信号導体1bの表面に信号入力ピン6が固着し
て設けられている。その他の構成は上記の実施の形態と
同様に形成されている。
FIGS. 8A to 8C show another embodiment. The probe A for impedance measurement uses a printed wiring board 3 having a strip (line) structure. That is, the signal conductor 1 of the printed wiring board 3
Are the internal signal conductors 1a arranged inside the insulating layer 10.
And a front signal conductor 1b disposed at the front of one surface of the insulating layer 10 and a rear signal conductor 1c disposed at the rear of the one surface of the insulating layer 10. The front end of the first signal conductor 1a, the rear end of the front signal conductor 1b, and the rear end of the internal signal conductor 1a and the front end of the rear signal conductor 1c are connected by through holes (plating) 40 such as BVH. The signal input pins 6 are fixedly provided on the surface of the front signal conductor 1b. Other configurations are formed in the same manner as in the above embodiment.

【0031】このようにプリント配線板3としてストリ
ップ構造のものを用いることによって、プリント配線板
3の表面に露出する信号導体1の面積を小さくして手で
直接信号導体1に触れることを少なくすることができ、
静電気による破壊を防止することができるものである。
As described above, by using the printed wiring board 3 having a strip structure, the area of the signal conductor 1 exposed on the surface of the printed wiring board 3 is reduced so that the signal conductor 1 is not directly touched by hand. It is possible,
It can prevent destruction due to static electricity.

【0032】図9(a)〜(c)に他の実施の形態を示
す。このインピーダンス測定用プローブAはプリント配
線板3としてコプラナー(コプレーナ)構造のものを用
いたものである。すなわち、図3(a)〜(c)に示す
プリント配線板3において、信号導体1を形成した絶縁
層10の一方の表面にさらに表面側グランド導体2aを
設けて形成したものである。表面側グランド導体2aは
信号導体1の両側に形成されるものであり、BVHなど
のスルーホール(メッキ)40で絶縁層10の他方の表
面にグランド導体2と接続されている。そして、グラン
ド接触ピン8は表面側グランド導体2aの表面に固着し
て設けられている。その他の構成は上記の実施の形態と
同様に形成されている。
FIGS. 9A to 9C show another embodiment. The probe A for impedance measurement uses a printed wiring board 3 having a coplanar (coplanar) structure. That is, the printed wiring board 3 shown in FIGS. 3A to 3C is formed by further providing a surface-side ground conductor 2a on one surface of the insulating layer 10 on which the signal conductor 1 is formed. The surface-side ground conductor 2a is formed on both sides of the signal conductor 1, and is connected to the ground conductor 2 on the other surface of the insulating layer 10 by through holes (plating) 40 such as BVH. The ground contact pin 8 is fixedly provided on the surface of the front-side ground conductor 2a. Other configurations are formed in the same manner as in the above embodiment.

【0033】このようにプリント配線板3としてコプラ
ナー構造のものを用いることによって、信号入力ピン6
の先端とグランド接触ピン8の先端の間隔を最小で0.
5mmの狭ピッチに設定することができ、この結果、回
路板4に設けた被測定回路コンタクト部35とグランド
回路コンタクト部36の間の距離が0.5mm以上あれ
ば、インピーダンス測定が可能となり、一般的な回路板
4の検査に充分適用することができるものである。
As described above, by using the coplanar structure as the printed wiring board 3, the signal input pins 6 are provided.
The distance between the tip of the ground contact pin 8 and the tip of
The pitch can be set to a narrow pitch of 5 mm. As a result, if the distance between the circuit contact portion 35 to be measured provided on the circuit board 4 and the ground circuit contact portion 36 is 0.5 mm or more, impedance measurement becomes possible. It can be sufficiently applied to inspection of a general circuit board 4.

【0034】[0034]

【発明の効果】上記のように本発明の請求項1の発明
は、信号導体及びグランド導体を形成したプリント配線
板と、信号導体に電気的に接続されると共に回路板の被
測定回路に接触可能な信号入力ピンと、グランド導体に
電気的に接続されると共に回路板のグランド回路に接触
可能なグランド接触ピンとを備え、同軸ケーブルにより
インピーダンス測定機器に電気的に接続されるインピー
ダンス測定用プローブであって、同軸ケーブルのインピ
ーダンスに整合するように形成するので、インピーダン
ス測定機器と接続された同軸ケーブルとインピーダンス
が整合して信号入力点での反射を低減することができる
ものであり、インピーダンスの測定を精度良く行なうこ
とができるものである。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the printed wiring board on which the signal conductor and the ground conductor are formed is electrically connected to the signal conductor and is in contact with the circuit to be measured on the circuit board. An impedance measuring probe, comprising a signal input pin capable of being connected to the ground measuring circuit and a ground contact pin electrically connected to a ground conductor and capable of contacting a ground circuit of a circuit board. Since the impedance is matched to the impedance of the coaxial cable, the impedance is matched with the coaxial cable connected to the impedance measuring device, and the reflection at the signal input point can be reduced. It can be performed with high accuracy.

【0035】また、本発明の請求項2の発明は、信号入
力ピンとグランド接触ピンをバネ式のコンタクトピンで
構成し、回路板の被測定回路への信号入力ピンの接触時
及び回路板のグランド回路へのグランド接触ピンの接触
時に信号入力ピンとグランド接触ピンの先端がプリント
配線板の端面にまで後退するように、コンタクトピンを
伸縮自在に形成するので、信号入力点での反射をさらに
低減することができるものであり、インピーダンスの測
定をさらに精度良く行なうことができるものである。ま
た、バネ式による信号入力ピンとグランド接触ピンのク
ッション性によって、回路板に傷が付かないようにする
ことができるものである。
Further, according to a second aspect of the present invention, the signal input pin and the ground contact pin are formed by spring-type contact pins, and when the signal input pin contacts the circuit to be measured on the circuit board and when the ground of the circuit board is grounded. The contact pins are formed to be extendable so that the tips of the signal input pins and the ground contact pins recede to the end surface of the printed wiring board when the circuit contacts the ground contact pins, so that the reflection at the signal input point is further reduced. Thus, the impedance can be measured with higher accuracy. Further, the circuit board can be prevented from being damaged by the cushioning property of the signal input pin and the ground contact pin by the spring type.

【0036】また、本発明の請求項3の発明は、マイク
ロストリップ構造、ストリップ構造、コプラナー構造の
いずれかでプリント配線板を形成するので、マイクロス
トリップ構造のプリント配線板を用いることによって、
入力信号を高速に伝送し且つ低損失型にすることができ
るものであり、また、ストリップ構造のプリント配線板
を用いることによって、静電気破壊を防止することがで
きるものであり、さらに、コプラナー構造のプリント配
線板を用いることによって、信号入力ピンとグランド接
触ピンの間隔を狭ピッチにすることができるものであ
る。
According to the invention of claim 3 of the present invention, the printed wiring board is formed by any one of a microstrip structure, a strip structure, and a coplanar structure.
It is capable of transmitting an input signal at high speed and of a low loss type. In addition, by using a printed wiring board having a strip structure, it is possible to prevent electrostatic destruction. By using the printed wiring board, the interval between the signal input pin and the ground contact pin can be made narrower.

【0037】また、本発明の請求項4の発明は、低誘電
率で低誘電正接の材料を用いてプリント配線板を形成す
るので、入力信号を高速に伝送することができるもので
ある。
According to the invention of claim 4 of the present invention, since the printed wiring board is formed by using a material having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent, an input signal can be transmitted at a high speed.

【0038】また、本発明の請求項5の発明は、同軸ケ
ーブルのインピーダンスに整合した状態で、プリント配
線板の絶縁層の厚みとグランド接触ピンの位置を調整可
能に形成するので、信号入力ピンの先端とグランド接触
ピンの先端の距離を変更することができ、信号入力ピン
の先端を接触させる部分とグランド接触ピンの先端を接
触させる部分の距離が異なる各種の回路板にフレキシブ
ルに対応させることができるものである。
According to the invention of claim 5 of the present invention, the thickness of the insulating layer of the printed wiring board and the position of the ground contact pin are formed so as to be adjustable while matching the impedance of the coaxial cable. The distance between the tip of the ground contact pin and the tip of the ground contact pin can be changed, and it can be flexibly adapted to various circuit boards where the distance between the part where the tip of the signal input pin contacts and the part where the tip of the ground contact pin contacts is different. Can be done.

【0039】また、本発明の請求項6の発明は、信号導
体の配線長をコントロールすることにより共振周波数を
変えて通過する信号の周波数特性をコントロール可能に
形成するので、共振と伝送損失の影響をインピーダンス
測定が可能なレベルにまで低減することができ、安定し
たインピーダンス測定を行なうことができるものであ
る。
According to the invention of claim 6 of the present invention, by controlling the wiring length of the signal conductor to change the resonance frequency so as to control the frequency characteristic of the signal passing therethrough, the influence of resonance and transmission loss is obtained. Can be reduced to a level at which impedance measurement can be performed, and stable impedance measurement can be performed.

【0040】また、本発明の請求項7の発明は、信号導
体、グランド導体、信号入力ピン、グランド接触ピンに
金メッキを施するので、信号入力ピンやグランド接触ピ
ンの先端の摩耗を少なくすることができると共に錆の発
生を防ぐことができるものである。
According to the seventh aspect of the present invention, the signal conductor, the ground conductor, the signal input pin, and the ground contact pin are plated with gold, so that wear of the tips of the signal input pin and the ground contact pin is reduced. And rust can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の一例を示し、(a)は正
面図、(b)は左側面図、(c)は右側面図である。
1 shows an example of an embodiment of the present invention, wherein (a) is a front view, (b) is a left side view, and (c) is a right side view.

【図2】同上のコンタクトピンを示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing the same contact pin.

【図3】同上の概略を示し、(a)は正面図、(b)は
背面図、(c)は平面図である。
3A and 3B schematically show the above, wherein FIG. 3A is a front view, FIG. 3B is a rear view, and FIG. 3C is a plan view.

【図4】同上の同軸ケーブルを接続した状態を示す概略
図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a state where the coaxial cable is connected thereto.

【図5】同上の使用状態を示す概略図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing a use state of the above.

【図6】(a)は本発明の一例を使用したインピーダン
ス測定の結果を示すグラフ、(b)は従来例を使用した
インピーダンス測定の結果を示すグラフである。
6A is a graph showing a result of impedance measurement using one example of the present invention, and FIG. 6B is a graph showing a result of impedance measurement using a conventional example.

【図7】本発明の一例の減衰特性を示すグラフである。FIG. 7 is a graph showing the attenuation characteristics of an example of the present invention.

【図8】同上の他の実施の形態の一例の概略を示し、
(a)は正面図、(b)は背面図、(c)は平面図であ
る。
FIG. 8 schematically shows an example of another embodiment of the present invention;
(A) is a front view, (b) is a rear view, and (c) is a plan view.

【図9】同上の他の実施の形態の一例の概略を示し、
(a)は正面図、(b)は背面図、(c)は平面図であ
る。
FIG. 9 schematically shows an example of another embodiment of the present invention;
(A) is a front view, (b) is a rear view, and (c) is a plan view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 信号導体 2 グランド導体 3 プリント配線板 4 回路板 5 被測定回路 6 信号入力ピン 7 グランド回路 8 グランド接触ピン 9 同軸ケーブル 10 絶縁層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Signal conductor 2 Ground conductor 3 Printed wiring board 4 Circuit board 5 Circuit under test 6 Signal input pin 7 Ground circuit 8 Ground contact pin 9 Coaxial cable 10 Insulation layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加賀美 金雄 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 2G011 AA02 AB01 AC32 AD01 AE01 AF04 2G014 AA01 AA21 AB59 AC06 AC10 2G028 AA01 AA04 BB10 BC01 BF05 BF08 CG08 DH06 FK05 HM05 HN01 HN09 KQ02 LR20  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Kaneo Kagami 1048 Kazuma Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture F-term in Matsushita Electric Works, Ltd. BC01 BF05 BF08 CG08 DH06 FK05 HM05 HN01 HN09 KQ02 LR20

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 信号導体及びグランド導体を形成したプ
リント配線板と、信号導体に電気的に接続されると共に
回路板の被測定回路に接触可能な信号入力ピンと、グラ
ンド導体に電気的に接続されると共に回路板のグランド
回路に接触可能なグランド接触ピンとを備え、同軸ケー
ブルによりインピーダンス測定機器に電気的に接続され
るインピーダンス測定用プローブであって、同軸ケーブ
ルのインピーダンスに整合するように形成して成ること
を特徴とするインピーダンス測定用プローブ。
1. A printed wiring board on which a signal conductor and a ground conductor are formed, a signal input pin electrically connected to the signal conductor and capable of contacting a circuit to be measured on the circuit board, and electrically connected to the ground conductor. A ground contact pin capable of contacting a ground circuit of a circuit board, and an impedance measuring probe electrically connected to an impedance measuring device by a coaxial cable, formed so as to match the impedance of the coaxial cable. A probe for measuring impedance, comprising:
【請求項2】 信号入力ピンとグランド接触ピンをバネ
式のコンタクトピンで構成し、回路板の被測定回路への
信号入力ピンの接触時及び回路板のグランド回路へのグ
ランド接触ピンの接触時に信号入力ピンとグランド接触
ピンの先端がプリント配線板の端面にまで後退するよう
に、コンタクトピンを伸縮自在に形成して成ることを特
徴とする請求項1に記載のインピーダンス測定用プロー
ブ。
The signal input pin and the ground contact pin are formed by spring-type contact pins, and the signal is input when the signal input pin contacts the circuit to be measured on the circuit board and when the ground contact pin contacts the ground circuit on the circuit board. 2. The impedance measuring probe according to claim 1, wherein the contact pins are formed to extend and contract so that the tips of the input pins and the ground contact pins recede to the end surface of the printed wiring board.
【請求項3】 マイクロストリップ構造、ストリップ構
造、コプラナー構造のいずれかでプリント配線板を形成
して成ることを特徴とする請求項1又は2に記載のイン
ピーダンス測定用プローブ。
3. The probe according to claim 1, wherein the printed wiring board is formed of any one of a microstrip structure, a strip structure, and a coplanar structure.
【請求項4】 低誘電率で低誘電正接の材料を用いてプ
リント配線板を形成して成ることを特徴とする請求項1
乃至3のいずれかに記載のインピーダンス測定用プロー
ブ。
4. The printed wiring board is formed by using a material having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent.
The probe for measuring impedance according to any one of claims 1 to 3.
【請求項5】 同軸ケーブルのインピーダンスに整合し
た状態で、プリント配線板の絶縁層の厚みとグランド接
触ピンの位置を調整可能に形成して成ることを特徴とす
る請求項1乃至4のいずれかに記載のインピーダンス測
定用プローブ。
5. The printed wiring board according to claim 1, wherein the thickness of the insulating layer and the position of the ground contact pin are adjusted so as to match the impedance of the coaxial cable. The probe for measuring impedance described in 1.
【請求項6】 信号導体の配線長をコントロールするこ
とにより共振周波数を変えて通過する信号の周波数特性
をコントロール可能に形成して成ることを特徴とする請
求項1乃至5のいずれかに記載のインピーダンス測定用
プローブ。
6. The signal processing method according to claim 1, wherein the frequency characteristic of a signal passing therethrough by changing the resonance frequency by controlling the wiring length of the signal conductor is formed so as to be controllable. Probe for impedance measurement.
【請求項7】 信号導体、グランド導体、信号入力ピ
ン、グランド接触ピンに金メッキを施して成ることを特
徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のインピーダ
ンス測定用プローブ。
7. The impedance measuring probe according to claim 1, wherein the signal conductor, the ground conductor, the signal input pin, and the ground contact pin are plated with gold.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN105652088A (en) * 2014-11-14 2016-06-08 神讯电脑(昆山)有限公司 External interface contact impedance test apparatus
CN110609174A (en) * 2019-10-24 2019-12-24 惠亚科技(苏州)有限公司 Device and method for automatically measuring resistance value

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