JP2001261933A - Epoxy resin for sealing optical semiconductor element and optical semiconductor device - Google Patents

Epoxy resin for sealing optical semiconductor element and optical semiconductor device

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JP2001261933A
JP2001261933A JP2000071482A JP2000071482A JP2001261933A JP 2001261933 A JP2001261933 A JP 2001261933A JP 2000071482 A JP2000071482 A JP 2000071482A JP 2000071482 A JP2000071482 A JP 2000071482A JP 2001261933 A JP2001261933 A JP 2001261933A
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JP
Japan
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epoxy resin
optical semiconductor
glass powder
semiconductor element
resin composition
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JP2000071482A
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Japanese (ja)
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Junko Yamada
純子 山田
Katsumi Shimada
克実 嶋田
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Nitto Denko Corp
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Nitto Denko Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an epoxy resin composition for sealing optical semiconductor elements that has a small internal stress and can retain good light permeability all over the wavelength, and provide optical semiconductor devices that are produced by sealing optical semi-conductor elements with this epoxy resin composition. SOLUTION: The objective epoxy resin composition for sealing optical semiconductor elements comprises an epoxy resin, a curing agent and a glass powder wherein the difference between the Abbe's numbers of the cured resin of the components other than the glass powder and that of the glass powder are adjusted to <=5.0.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体素子を封
止するために用いられる光半導体素子封止用エポキシ樹
脂組成物、および、その光半導体素子封止用エポキシ樹
脂組成物によって光半導体素子が封止された光半導体装
置に関する。
The present invention relates to an epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element used for encapsulating an optical semiconductor element, and an optical semiconductor element using the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element. Is related to an optical semiconductor device sealed.

【0002】[0002]

【従来の技術】LED(発光ダイオード)等の光半導体
素子を封止するために用いられる光半導体素子封止用樹
脂組成物としては、その硬化体の透明性が要求されるこ
とから、一般に、ビスフェノールA型エポキシ樹脂等の
エポキシ樹脂と、酸無水物等の硬化剤とを用いて得られ
るエポキシ樹脂組成物が汎用されている。
2. Description of the Related Art As a resin composition for encapsulating an optical semiconductor element used for encapsulating an optical semiconductor element such as an LED (light emitting diode), transparency of a cured product is required. An epoxy resin composition obtained using an epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin and a curing agent such as an acid anhydride is widely used.

【0003】しかし、このようなエポキシ樹脂組成物を
用いて光半導体素子を封止すると、エポキシ樹脂と光半
導体素子との線膨張係数の差に起因する歪みにより内部
応力が発生する。その結果、光半導体素子が劣化し、例
えば、光半導体素子がLEDの場合には、その輝度が低
下したり、あるいは、LEDに接続されている配線が断
線するという問題を生じる。
However, when an optical semiconductor element is sealed with such an epoxy resin composition, internal stress is generated due to distortion caused by a difference in linear expansion coefficient between the epoxy resin and the optical semiconductor element. As a result, the optical semiconductor element is degraded. For example, when the optical semiconductor element is an LED, there is a problem in that the luminance is reduced or a wiring connected to the LED is disconnected.

【0004】そのため、従来より、このような内部応力
を低減させる方法として、シリカ粉末、ガラス粉末等の
線膨張係数の小さい無機粉末を、エポキシ樹脂組成物に
配合して、エポキシ樹脂組成物の線膨張係数を小さくし
て、光半導体素子のそれに近似させる方法が提案されて
いる。
Therefore, conventionally, as a method for reducing such internal stress, an inorganic powder having a small linear expansion coefficient, such as silica powder or glass powder, is blended into an epoxy resin composition, and the linearity of the epoxy resin composition is reduced. A method has been proposed in which the expansion coefficient is reduced to approximate that of an optical semiconductor device.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法では、エポキシ樹脂組成物の光透過率が著しく低下
するという、光半導体素子封止用樹脂組成物としては致
命的な欠点を有している。これに対し、上記の欠点を解
決するために、樹脂成分と無機粉末との屈折率の差を小
さくする方法が提案されている。
However, the above method has a fatal drawback as a resin composition for encapsulating an optical semiconductor element, in that the light transmittance of the epoxy resin composition is significantly reduced. . On the other hand, in order to solve the above-mentioned drawbacks, there has been proposed a method for reducing the difference in the refractive index between the resin component and the inorganic powder.

【0006】しかし、一般に、物質の屈折率は、光の波
長により変化するので、ある特定の波長において、樹脂
成分と無機粉末との屈折率を小さくしただけでは、全波
長において、良好な光透過率が得られるとは限らない。
すなわち、仮に、ある特定の波長において、樹脂成分と
無機粉末との屈折率の差が、実質的に0であったとして
も、それと異なる波長では、屈折率に差が生じるように
なる。このような波長による光透過率の変動は、光半導
体装置の機能を低下させる原因となる。
However, in general, since the refractive index of a substance changes depending on the wavelength of light, only a small refractive index between a resin component and an inorganic powder at a specific wavelength provides good light transmission at all wavelengths. Rates are not always available.
That is, even if the difference in the refractive index between the resin component and the inorganic powder is substantially zero at a certain specific wavelength, the difference in the refractive index occurs at a different wavelength. Such a change in the light transmittance due to the wavelength causes a decrease in the function of the optical semiconductor device.

【0007】本発明は、このような事情に鑑みなされた
もので、その目的とするところは、内部応力が小さく、
しかも、全波長において良好な光透過率を得ることので
きる、光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物、およ
び、その光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物によっ
て光半導体素子が封止された光半導体装置を提供するこ
とにある。
[0007] The present invention has been made in view of such circumstances, and its object is to reduce internal stress,
Moreover, an epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element capable of obtaining good light transmittance at all wavelengths, and a light in which an optical semiconductor element is encapsulated by the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element. It is to provide a semiconductor device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物
は、エポキシ樹脂、硬化剤およびガラス粉末を含有し、
上記光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物の上記ガラ
ス粉末以外の成分を硬化して得られる硬化体のアッべ数
と、上記ガラス粉末のアッべ数との差が、5.0以下で
あることを特徴としている。
In order to achieve the above object, an epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention comprises an epoxy resin, a curing agent and a glass powder.
The difference between the Abbe number of the cured product obtained by curing the components other than the glass powder of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element and the Abbe number of the glass powder is 5.0 or less. It is characterized by:

【0009】また、本発明は、エポキシ樹脂、硬化剤お
よびガラス粉末を含有し、上記光半導体素子封止用エポ
キシ樹脂組成物の上記ガラス粉末以外の成分を硬化して
得られる硬化体のアッべ数と、上記ガラス粉末のアッべ
数との差が、5.0以下であり、かつ、上記光半導体素
子封止用エポキシ樹脂組成物の上記ガラス粉末以外の成
分を硬化して得られる硬化体の屈折率と、上記ガラス粉
末の屈折率との関係が、下記式(1)で表わされる、光
半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物を含むものであ
る。
Further, the present invention provides an epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element, comprising an epoxy resin, a curing agent, and a glass powder. Cured product obtained by curing a component other than the glass powder of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element, wherein the difference between the number and the Abbe number of the glass powder is 5.0 or less. The relationship between the refractive index of the glass powder and the refractive index of the glass powder is represented by the following formula (1), and includes the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element.

【0010】 −0.005≦n2 −n1 ≦0.005 ・・・(1) n1 :上記ガラス粉末以外の成分を硬化して得られる硬
化体の波長589.3nmにおける屈折率 n2 :上記ガラス粉末の波長589.3nmにおける屈
折率 また、この光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物にお
いて、上記ガラス粉末は、球状ガラス粉末であることが
好ましい。
-0.005 ≦ n 2 −n 1 ≦ 0.005 (1) n 1 : a refractive index n 2 at a wavelength of 589.3 nm of a cured product obtained by curing a component other than the glass powder. : Refractive index of the glass powder at a wavelength of 589.3 nm In this epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element, the glass powder is preferably a spherical glass powder.

【0011】さらに、本発明は、この光半導体素子封止
用エポキシ樹脂組成物を用いて、光半導体素子を封止す
ることによって得られる光半導体装置をも含むものであ
る。
Further, the present invention includes an optical semiconductor device obtained by sealing an optical semiconductor element using the epoxy resin composition for sealing an optical semiconductor element.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明の光半導体素子封止用エポ
キシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂、硬化剤およびガラス
粉末を含有している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention contains an epoxy resin, a curing agent and glass powder.

【0013】上記エポキシ樹脂としては、例えば、ビス
フェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポ
キシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂やクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポ
キシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシ
アヌレート、ヒダントインエポキシ樹脂等の含窒素環エ
ポキシ樹脂、水添加ビスフェノールA型エポキシ樹脂、
脂肪族系エポキシ樹脂、グリシジルエーテル型エポキシ
樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、低吸水率硬化
体タイプの主流であるビフェニル型エポキシ樹脂、ジシ
クロ環型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂等が
挙げられる。これらは単独で使用してもよく、あるい
は、併用してもよい。これらエポキシ樹脂の中では、透
明性および耐変色性に優れる、ビスフェノールA型エポ
キシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラッ
ク型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、トリグリシジ
ルイソシアヌレートを用いることが好ましい。
Examples of the epoxy resin include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, novolak epoxy resin such as phenol novolak epoxy resin and cresol novolak epoxy resin, alicyclic epoxy resin, triglycidyl isocyanate. Nurate, nitrogen-containing ring epoxy resin such as hydantoin epoxy resin, water-containing bisphenol A type epoxy resin,
Examples include aliphatic epoxy resins, glycidyl ether type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, dicyclo ring type epoxy resins, and naphthalene type epoxy resins which are the mainstream of the low water absorption cured type. These may be used alone or in combination. Among these epoxy resins, it is preferable to use bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, novolak type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, and triglycidyl isocyanurate which are excellent in transparency and discoloration resistance.

【0014】上記エポキシ樹脂は、常温で固形でも液状
でもよいが、一般に、使用するエポキシ樹脂の平均エポ
キシ当量が、90〜1000のものが好ましく、また、
固形の場合には、軟化点が、160℃以下のものが好ま
しい。エポキシ当量が90より小さい場合には、光半導
体素子封止用エポキシ樹脂組成物の硬化体が脆くなる場
合がある。また、エポキシ当量が1000を超える場合
には、その硬化体のガラス転移温度(Tg)が低くなる
場合がある。
The epoxy resin may be solid or liquid at room temperature. Generally, the epoxy resin used preferably has an average epoxy equivalent of 90 to 1,000.
In the case of a solid, those having a softening point of 160 ° C. or less are preferred. If the epoxy equivalent is smaller than 90, the cured product of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element may become brittle. If the epoxy equivalent exceeds 1000, the cured product may have a low glass transition temperature (Tg).

【0015】上記硬化剤としては、例えば、酸無水物系
硬化剤、フェノール系硬化剤が挙げられる。酸無水物系
硬化剤としては、例えば、無水フタル酸、無水マレイン
酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサ
ヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水
メチルナジック酸、無水ナジック酸、無水グルタル酸、
メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ
無水フタル酸等が挙げられる。これらは単独で使用して
もよく、あるいは、併用してもよい。これら酸無水物系
硬化剤の中では、無水フタル酸、へキサヒドロ無水フタ
ル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ
無水フタル酸を用いることが好ましい。酸無水物系硬化
剤は、その分子量が、140〜200程度のものが好ま
しく、また、無色ないし淡黄色の酸無水物が好ましい。
Examples of the curing agent include an acid anhydride curing agent and a phenol curing agent. Examples of the acid anhydride-based curing agent include phthalic anhydride, maleic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, nadic anhydride, glutaric anhydride. acid,
Methyl hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination. Among these acid anhydride-based curing agents, it is preferable to use phthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, and methylhexahydrophthalic anhydride. The acid anhydride-based curing agent preferably has a molecular weight of about 140 to 200, and more preferably a colorless to pale yellow acid anhydride.

【0016】また、フェノール系硬化剤としては、例え
ば、フェノールノボラック樹脂系硬化剤などが挙げられ
る。
Examples of the phenol-based curing agent include phenol novolak resin-based curing agents.

【0017】エポキシ樹脂と、硬化剤との配合割合は、
エポキシ樹脂中のエポキシ基1当量に対して、硬化剤に
おけるエポキシ基と反応可能な活性基(酸無水基または
水酸基)が0.5〜1.5当量、さらには、0.7〜
1.2当量となるような割合であることが好ましい。活
性基が0.5当量未満の場合には、光半導体素子封止用
エポキシ樹脂組成物の硬化速度が遅くなるとともに、そ
の硬化体のガラス転移温度が低くなる場合があり、一
方、1.5当量を超える場合には、耐湿性が低下する場
合がある。
The mixing ratio of the epoxy resin and the curing agent is as follows:
The active group (acid anhydride group or hydroxyl group) capable of reacting with the epoxy group in the curing agent is 0.5 to 1.5 equivalent, and more preferably 0.7 to 1.5 equivalent to 1 equivalent of the epoxy group in the epoxy resin.
It is preferable that the ratio be 1.2 equivalents. When the active group is less than 0.5 equivalent, the curing rate of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element is reduced, and the glass transition temperature of the cured product may be reduced. If the amount exceeds the equivalent, the moisture resistance may decrease.

【0018】また、上記硬化剤としては、その目的およ
び用途によっては、酸無水物系硬化剤およびフェノール
系硬化剤以外に、従来から公知のエポキシ樹脂の硬化
剤、例えば、アミン系硬化剤、上記酸無水物系硬化剤を
アルコールで部分エステル化したもの、または、ヘキサ
ヒドロフタル酸、テトラヒドロフタル酸、メチルヘキサ
ヒドロフタル酸等のカルボン酸の硬化剤を、単独、もし
くは、酸無水物系硬化剤およびフェノール系硬化剤と併
用して用いてもよい。例えば、カルボン酸の硬化剤を併
用した場合には、硬化速度を速めることができ、生産性
を向上させることができる。なお、これらの硬化剤を用
いる場合においても、その配合割合は、酸無水物系硬化
剤およびフェノール系硬化剤を用いた場合の配合割合
(当量比)に準じればよい。
Depending on the purpose and use of the curing agent, other than an acid anhydride curing agent and a phenol curing agent, a conventionally known curing agent for an epoxy resin such as an amine curing agent may be used. An acid anhydride-based curing agent partially esterified with alcohol, or a carboxylic acid curing agent such as hexahydrophthalic acid, tetrahydrophthalic acid, methylhexahydrophthalic acid, alone or an acid anhydride-based curing agent And a phenolic curing agent. For example, when a carboxylic acid curing agent is used in combination, the curing speed can be increased, and the productivity can be improved. When these curing agents are used, the compounding ratio may be in accordance with the compounding ratio (equivalent ratio) when using an acid anhydride-based curing agent and a phenol-based curing agent.

【0019】また、本発明の光半導体素子封止用エポキ
シ樹脂組成物には、後で詳述するガラス粉末以外に、必
要に応じて、従来から用いられている、例えば、硬化促
進剤、劣化防止剤、変性剤、シランカップリング剤、脱
泡剤、レべリング剤、離型剤、染料、顔料などの、公知
の各種の添加剤を適宜配合してもよい。
The epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention may further include, if necessary, a conventionally used curing agent such as a curing accelerator, Various known additives such as an inhibitor, a modifier, a silane coupling agent, a defoaming agent, a leveling agent, a release agent, a dye, and a pigment may be appropriately compounded.

【0020】上記硬化促進剤としては、特に限定される
ものではなく、例えば、1,8−ジアザ−ビシクロ
(5,4,0)ウンデセン−7、トリエチレンジアミ
ン、トリ−2,4,6−ジメチルアミノメチルフェノー
ル等の3級アミン類、2−エチル−4−メチルイミダゾ
ール、2−メチルイミダゾール等のイミダゾール類、ト
リフェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテ
トラフェニルボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウ
ム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート等のリン化
合物、4級アンモニウム塩、有機金属塩類、およびこれ
らの誘導体等が挙げられる。これらは単独で使用しても
よく、あるいは、併用してもよい。これら硬化促進剤の
中では、3級アミン類、イミダゾール類、リン化合物を
用いることが好ましい。その中でも、着色度が少なく、
透明で強靭な硬化体を得るためには、リン化合物を用い
ることが特に好ましい。
The curing accelerator is not particularly restricted but includes, for example, 1,8-diaza-bicyclo (5,4,0) undecene-7, triethylenediamine, tri-2,4,6-dimethyl. Tertiary amines such as aminomethylphenol, imidazoles such as 2-ethyl-4-methylimidazole and 2-methylimidazole, triphenylphosphine, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetra-n-butylphosphonium-o, o- Examples include phosphorus compounds such as diethylphosphorodithioate, quaternary ammonium salts, organic metal salts, and derivatives thereof. These may be used alone or in combination. Among these curing accelerators, tertiary amines, imidazoles, and phosphorus compounds are preferably used. Among them, the degree of coloring is small,
In order to obtain a transparent and tough cured product, it is particularly preferable to use a phosphorus compound.

【0021】上記硬化促進剤の含有率は、上記エポキシ
樹脂に対して、0.01〜8.0重量%であることが好
ましく、より好ましくは、0.1〜3.0重量%であ
る。硬化促進剤の含有率が、0.01重量%未満では、
充分な硬化促進効果を得られない場合があり、また、
8.0重量%を超えると、得られる硬化体に変色が見ら
れる場合がある。
The content of the curing accelerator is preferably 0.01 to 8.0% by weight, more preferably 0.1 to 3.0% by weight, based on the epoxy resin. If the content of the curing accelerator is less than 0.01% by weight,
It may not be possible to obtain a sufficient curing acceleration effect,
If it exceeds 8.0% by weight, discoloration may be observed in the obtained cured product.

【0022】上記劣化防止剤としては、例えば、フェノ
ール系化合物、アミン系化合物、有機硫黄系化合物、ホ
スフィン系化合物などの、従来から公知の劣化防止剤が
挙げられる。上記変性剤としては、例えば、グリコール
類、シリコーン類、アルコール類などの、従来から公知
の変性剤が挙げられる。上記シランカップリング剤とし
ては、例えば、シラン系、チタネート系などの、従来か
ら公知のシランカップリング剤が挙げられる。上記脱泡
剤としては、例えば、シリコーン系などの、従来から公
知の脱泡剤が挙げられる。
Examples of the above-mentioned deterioration inhibitor include conventionally known deterioration inhibitors such as phenol compounds, amine compounds, organic sulfur compounds and phosphine compounds. Examples of the modifier include conventionally known modifiers such as glycols, silicones, and alcohols. Examples of the silane coupling agent include, for example, conventionally known silane coupling agents such as a silane coupling agent and a titanate coupling agent. Examples of the defoaming agent include a conventionally known defoaming agent such as a silicone type.

【0023】そして、本発明では、後で詳述するガラス
粉末以外のこれらの成分(以下、樹脂成分という。)、
すなわち、エポキシ樹脂、硬化剤、および、必要により
配合される添加剤を硬化して得られる硬化体のアッべ数
が、例えば、20〜65、好ましくは、25〜60であ
り、また、ナトリウムD線における屈折率(nD )が、
1.40〜1.65、さらには、1.45〜1.60で
あることが好ましい。
In the present invention, these components (hereinafter referred to as resin components) other than the glass powder described in detail below,
That is, the Abbe number of the cured product obtained by curing the epoxy resin, the curing agent, and the additives to be blended if necessary is, for example, 20 to 65, preferably 25 to 60, and sodium D The refractive index (n D ) at the line is
It is preferably from 1.40 to 1.65, more preferably from 1.45 to 1.60.

【0024】このようなアッべ数および屈折率を得るた
めの、エポキシ樹脂および硬化剤の好ましい組み合わせ
としては、例えば、エポキシ樹脂がビスフェノールA型
エポキシ樹脂およびトリグリシジルイソシアヌレート
で、硬化剤が酸無水物系硬化剤である組み合わせや、エ
ポキシ樹脂がビスフェノールA型エポキシ樹脂およびノ
ボラック型エポキシ樹脂で、硬化剤がフェノール系硬化
剤である組み合わせが挙げられる。
As a preferable combination of an epoxy resin and a curing agent for obtaining such Abbe number and refractive index, for example, the epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin and triglycidyl isocyanurate, and the curing agent is an acid anhydride. And a combination in which the epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin and a novolak type epoxy resin, and the curing agent is a phenolic curing agent.

【0025】上記ガラス粉末としては、SiO2 、もし
くは、SiO2 およびB2 3 を主成分とするものが挙
げられ、ガラス粉末のアッベ数を調整するために、亜
鉛、チタン、セリウム、ビスマス、鉛、セレンから選ば
れる1種または2種以上の成分が適宜配合されているこ
とが好ましい。特に、樹脂成分を硬化して得られる硬化
体のアッべ数に、ガラス粉末のアッベ数を近づけるため
には、亜鉛、チタンが配合されていることが好ましい。
亜鉛が配合される場合には、通常、ZnOとして配合さ
れ、その含有率が、ガラス粉末に対して、1〜10重量
%とされていることが好ましい。また、チタンが配合さ
れる場合には、通常、TiO2 として配合され、その含
有率が、ガラス粉末に対して、1〜10重量%とされて
いることが好ましい。
Examples of the glass powder include SiO 2 or those containing SiO 2 and B 2 O 3 as main components. In order to adjust the Abbe number of the glass powder, zinc, titanium, cerium, bismuth, It is preferable that one or more components selected from lead and selenium are appropriately blended. Particularly, in order to make the Abbe number of the glass powder close to the Abbe number of the cured product obtained by curing the resin component, it is preferable that zinc and titanium are blended.
When zinc is blended, it is usually blended as ZnO, and its content is preferably 1 to 10% by weight based on the glass powder. When titanium is blended, it is usually blended as TiO 2 , and its content is preferably 1 to 10% by weight based on the glass powder.

【0026】また、ガラス粉末の屈折率を調整するため
には、必要に応じて、Na2 O、Al2 3 、CaO、
BaO等が適宜配合されていることが好ましい。
In order to adjust the refractive index of the glass powder, Na 2 O, Al 2 O 3 , CaO,
It is preferable that BaO or the like is appropriately blended.

【0027】そして、このガラス粉末は、例えば、上記
した各原料成分を溶融し、急冷して得たガラスフリット
を、ボールミルなどを用いて粉砕することによって、得
ることができる。得られた粉砕状ガラス粉末は、そのま
ま用いてもよいが、例えば、その表面をフレーム処理し
て球状化した球状ガラス粉末を用いることが好ましい。
球状ガラス粉末は、表面の泡やクラック等がないので、
樹脂成分とガラス粉末の界面での光散乱が少なく、得ら
れた硬化体の光透過率を向上させることができる。ま
た、このガラス粉末は、得られたガラス粉末を、例え
ば、篩などによって所定の粒子径のものとして得ること
が好ましく、ガラス粉末の粒子径としては、ガラス粉末
混入時の樹脂成分の粘度や成形時のゲートづまりなどの
成形性を考慮すると、平均粒子径が5〜100μmであ
ることが好ましい。また、ガラス粉末の含有率は、線膨
張係数の低減と透明性および成形性を考慮すると、光半
導体素子封止用エポキシ樹脂組成物全量に対して、10
〜90重量%であることが好ましい。
The glass powder can be obtained, for example, by melting each of the above-mentioned raw materials and quenching the obtained glass frit using a ball mill or the like. The obtained ground glass powder may be used as it is, but, for example, it is preferable to use a spherical glass powder whose surface has been framed to be spherical.
Since spherical glass powder has no bubbles or cracks on the surface,
Light scattering at the interface between the resin component and the glass powder is small, and the light transmittance of the obtained cured product can be improved. In addition, it is preferable that the obtained glass powder is obtained as a glass powder having a predetermined particle size by, for example, a sieve. Considering moldability such as gate clogging at the time, the average particle diameter is preferably 5 to 100 μm. In addition, considering the reduction of the coefficient of linear expansion and the transparency and moldability, the content of the glass powder is 10% with respect to the total amount of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element.
It is preferably about 90% by weight.

【0028】そして、本発明の光半導体素子封止用エポ
キシ樹脂組成物では、上記した樹脂成分の硬化体のアッ
べ数と、上記ガラス粉末のアッべ数との差が、5.0以
下、好ましくは、3.0以下とされている。
In the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention, the difference between the Abbe number of the cured resin component and the Abbe number of the glass powder is 5.0 or less. Preferably, it is 3.0 or less.

【0029】なお、アッベ数とは、いわゆる逆分散能を
指称するものであって、本発明において、アッベ数は、
下記式(2)で表わされる。
The Abbe number refers to a so-called inverse dispersion power. In the present invention, the Abbe number is
It is represented by the following equation (2).

【0030】 アッベ数=([589.3nmにおける屈折率]−1)/([450nmにお ける屈折率]−[650nmにおける屈折率]) ・・・(2) 上記した樹脂成分の硬化体のアッべ数と、上記ガラス粉
末のアッべ数との差が、5.0を超えると、各波長にお
ける良好な光透過率を得ることができない。なお、樹脂
成分の硬化体のアッべ数と、ガラス粉末のアッべ数と
は、どちらの値が大きくても、または、どちらの値が小
さくてもよい。
Abbe number = ([refractive index at 589.3 nm] -1) / ([refractive index at 450 nm]-[refractive index at 650 nm]) (2) of the above cured resin component If the difference between the Abbe number and the Abbe number of the glass powder exceeds 5.0, good light transmittance at each wavelength cannot be obtained. In addition, the Abbe number of the cured body of the resin component and the Abbe number of the glass powder may be larger or smaller.

【0031】さらに、本発明の光半導体素子封止用エポ
キシ樹脂組成物では、上記した樹脂成分の硬化体の屈折
率と、上記ガラス粉末の屈折率との関係が、下記式
(1)を満足する関係にあることが好ましい。
Further, in the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention, the relationship between the refractive index of the above-mentioned cured resin component and the refractive index of the above glass powder satisfies the following expression (1). It is preferable that the relationship is satisfied.

【0032】 −0.005≦n2 −n1 ≦0.005 ・・・(1) n1 :樹脂成分を硬化して得られる硬化体の波長58
9.3nmにおける屈折率 n2 :ガラス粉末の波長589.3nmにおける屈折率 上記した樹脂成分の硬化体の屈折率と、上記ガラス粉末
の屈折率との関係が、上記式(1)を満足する関係にあ
れば、各波長における光透過率の向上を図ることができ
る。
-0.005 ≦ n 2 −n 1 ≦ 0.005 (1) n 1 : wavelength 58 of the cured product obtained by curing the resin component
Refractive index at 9.3 nm n 2 : Refractive index at a wavelength of 589.3 nm of glass powder The relationship between the refractive index of the cured product of the above resin component and the refractive index of the above glass powder satisfies the above formula (1). If so, the light transmittance at each wavelength can be improved.

【0033】なお、上記した樹脂成分の硬化体の屈折率
と、上記ガラス粉末の屈折率との関係が、下記式(3)
を満足する関係にあることが、さらに好ましい。
The relationship between the refractive index of the cured resin component and the refractive index of the glass powder is expressed by the following equation (3).
Is more preferably satisfied.

【0034】 −0.003≦n2 −n1 ≦0.003 ・・・(3) n1 およびn2 は、上記式(1)と同じ。−0.003 ≦ n 2 −n 1 ≦ 0.003 (3) n 1 and n 2 are the same as in the above formula (1).

【0035】このように、上記した樹脂成分の硬化体
と、上記ガラス粉末との、アッベ数および屈折率を、上
記したような関係とするには、例えば、樹脂成分の硬化
体のアッベ数および屈折率を調整する方法(例えば、エ
ポキシ樹脂の種類の選択、エポキシ樹脂の2種類以上の
併用、硬化剤の種類の選択、硬化剤の2種類以上の併用
等)、ガラス粉末のアッベ数および屈折率を調整する方
法(例えば、原料組成の選択、配合割合の調整等)、お
よび、これら2つの方法を併用する方法が挙げられる。
通常は、ガラス粉末のアッベ数および屈折率を、ある程
度、樹脂成分の硬化体のそれに近づけてから、さらに樹
脂成分の硬化体のアッベ数および屈折率を調整すること
により、樹脂成分の硬化体とガラス粉末との、アッべ数
および屈折率の差をさらに小さく調整する。
As described above, in order to make the Abbe number and the refractive index of the above-mentioned cured body of the resin component and the above-mentioned glass powder into the above-mentioned relationship, for example, the Abbe number and the cured body of the resin component are obtained. A method of adjusting the refractive index (for example, selection of the type of epoxy resin, use of two or more epoxy resins, selection of the type of hardener, use of two or more types of hardener, etc.), Abbe number and refraction of glass powder A method of adjusting the ratio (for example, selection of the raw material composition, adjustment of the mixing ratio, etc.) and a method of using these two methods in combination are exemplified.
Normally, the Abbe number and the refractive index of the glass powder are, to some extent, close to those of the cured body of the resin component, and then the Abbe number and the refractive index of the cured body of the resin component are further adjusted so that the cured body of the resin component and The difference between the Abbe number and the refractive index of the glass powder is adjusted to be smaller.

【0036】より具体的には、例えば、上記した樹脂成
分において、エポキシ樹脂および硬化剤の好ましい組み
合わせとして例示した、エポキシ樹脂がビスフェノール
A型エポキシ樹脂およびトリグリシジルイソシアヌレー
トで、硬化剤が酸無水物系硬化剤である組み合わせの場
合においては、ガラス粉末の組成を、SiO2 −B2
3 −ZnO−Al2 3 −CaOとして、その組成にお
いて、各成分が、SiO2 が45〜55重量%、B2
3 が10〜25重量%、ZnOが1〜6重量%、Al2
3 が10〜18重量%、CaOが7〜20重量%の割
合で、それぞれ配合されるように調整することが好まし
い。
More specifically, for example, in the above-mentioned resin component, the epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin and triglycidyl isocyanurate, and the curing agent is an acid anhydride. In the case of a combination that is a system curing agent, the composition of the glass powder is changed to SiO 2 —B 2 O
As 3 -ZnO-Al 2 O 3 -CaO , in its composition, each component, SiO 2 is 45 to 55 wt%, B 2 O
3 is 10 to 25% by weight, ZnO is 1 to 6% by weight, Al 2
It is preferable to adjust so that O 3 is blended at 10 to 18% by weight and CaO is blended at 7 to 20% by weight.

【0037】また、エポキシ樹脂がビスフェノールA型
エポキシ樹脂およびノボラック型エポキシ樹脂で、硬化
剤がフェノール系硬化剤である組み合わせの場合には、
ガラス粉末の組成を、SiO2 −B2 3 −TiO2
Al2 3 −CaO−BaO、もしくは、SiO2 −T
iO2 −Al2 3 −CaO−BaOとして、その組成
において、各成分が、SiO2 が40〜55重量%、B
2 3 が0〜2重量%、TiO2 が1〜7重量%、Al
2 3 が12〜17重量%、CaOが25〜35重量
%、BaOが5〜10重量%の割合で、それぞれ配合さ
れるように調整することが好ましい。
When the epoxy resin is a combination of a bisphenol A epoxy resin and a novolak epoxy resin and the curing agent is a phenolic curing agent,
The composition of the glass powder is SiO 2 —B 2 O 3 —TiO 2
Al 2 O 3 —CaO—BaO or SiO 2 —T
In the composition of iO 2 —Al 2 O 3 —CaO—BaO, each component was composed of 40 to 55% by weight of SiO 2 ,
2 O 3 is 0-2 wt%, TiO 2 is 1-7 wt%, Al
It is preferable to adjust so that the content of 2 O 3 is 12 to 17% by weight, the content of CaO is 25 to 35% by weight, and the content of BaO is 5 to 10% by weight.

【0038】そして、本発明の光半導体素子封止用エポ
キシ樹脂組成物は、例えば、次のようにして製造するこ
とによって、液状、粉末状、もしくは、その粉末を打錠
したタブレット状として得ることができる。すなわち、
液状の光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物を得るに
は、例えば、上記した各成分、すなわち、エポキシ樹
脂、硬化剤、ガラス粉末、および、必要により配合され
る添加剤を、適宜配合すればよい。また、粉末状、もし
くは、その粉末を打錠したタブレット状として得るに
は、例えば、上記した各成分を適宜配合し、予備混合し
た後、混練機を用いて混練して溶融混合し、次いで、こ
れを室温まで冷却した後、公知の手段によって、粉砕
し、必要に応じて打錠すればよい。
The epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention can be obtained, for example, in the form of a liquid, a powder, or a tablet by compressing the powder by manufacturing as follows. Can be. That is,
In order to obtain a liquid epoxy resin composition for encapsulating a photosemiconductor element, for example, each of the above-described components, that is, an epoxy resin, a curing agent, a glass powder, and, if necessary, an additive to be added, if appropriate, Good. Further, in order to obtain a powder form, or a tablet form obtained by compressing the powder, for example, the above components are appropriately blended, premixed, kneaded using a kneader, melt-mixed, and then After cooling this to room temperature, it may be pulverized by a known means and tableted if necessary.

【0039】このようにして得られた本発明の光半導体
素子封止用エポキシ樹脂組成物は、LED、CCDなど
の光半導体素子の封止用として用いられる。すなわち、
本発明の光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物を用い
て、光半導体素子を封止するには、特に制限されること
はなく、通常のトランスファー成形や注型などの公知の
モールド方法により行なうことができる。なお、本発明
の光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物が液状である
場合には、少なくともエポキシ樹脂と硬化剤とそれぞれ
別々に保管しておき、使用する直前に混合する、いわゆ
る2液タイプとして用いればよい。また、本発明の光半
導体素子封止用エポキシ樹脂組成物が粉末状、もしく
は、タブレット状である場合には、上記した各成分を溶
融混合する時に、B−ステージとしておき、これを使用
時に加熱溶融すればよい。
The thus obtained epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor device of the present invention is used for encapsulating optical semiconductor devices such as LEDs and CCDs. That is,
The optical semiconductor element is encapsulated by using the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention, without any particular limitation, by a known molding method such as ordinary transfer molding or casting. be able to. When the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention is in a liquid state, at least the epoxy resin and the curing agent are stored separately and mixed immediately before use, so-called two-liquid type. It may be used. When the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention is in the form of a powder or a tablet, the above-mentioned components are melt-mixed and set as a B-stage, which is heated during use. What is necessary is just to melt.

【0040】そして、本発明の光半導体素子封止用エポ
キシ樹脂組成物によって、光半導体素子を封止すれば、
内部応力が小さく、光半導体素子の劣化を有効に防止す
ることができるとともに、全波長において良好な光透過
率を得ることができる。そのため、本発明の光半導体素
子封止用エポキシ樹脂組成物によって光半導体素子が封
止された、本発明の光半導体装置は、信頼性および透明
性に優れ、各波長における光透過率の変動が少なく、そ
の機能を充分に発揮することができる。
When the optical semiconductor element is sealed with the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention,
The internal stress is small, deterioration of the optical semiconductor element can be effectively prevented, and good light transmittance can be obtained at all wavelengths. Therefore, the optical semiconductor device of the present invention in which the optical semiconductor device is encapsulated by the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor device of the present invention has excellent reliability and transparency, and the fluctuation of the light transmittance at each wavelength is improved. With few, the function can be fully exhibited.

【0041】[0041]

【実施例】表1に示す各成分を、表1に示す割合(重量
部)において配合することにより、実施例1〜8および
比較例1〜4の光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物
を調製した。
EXAMPLES The epoxy resin compositions for encapsulating optical semiconductor elements of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 4 were prepared by mixing the components shown in Table 1 in the proportions (parts by weight) shown in Table 1. Prepared.

【0042】[0042]

【表1】 [Table 1]

【0043】なお、表1中の表記は、以下の通りであ
る。
The notations in Table 1 are as follows.

【0044】ビスフェノールA型エポキシ樹脂A:エポ
キシ当量475 ビスフェノールA型エポキシ樹脂B:エポキシ当量65
0 ノボラック型エポキシ樹脂:エポキシ当量195 酸無水物系硬化剤:4−メチルヘキサヒドロ無水フタル
酸とヘキサヒドロ無水フタル酸との混合物 フェノールノボラック樹脂系硬化剤:水酸基当量105 ガラス粉末A:SiO2 −B2 3 −ZnO−Al2
3 −CaOの組成を有し、フレーム処理により得られた
球状ガラス粉末 (SiO2 50.0重量%、B2 3 10.0重量%、
ZnO1.0重量%、Al2 3 10.0重量%、Ca
O19.0重量%) ガラス粉末B:SiO2 −B2 3 −Al2 3 −Ca
Oの組成を有しフレーム処理により得られた球状ガラス
粉末 (SiO2 52.0重量%、B2 3 13.0重量%、
Al2 3 17.0重量%、CaO18.0重量%) ガラス粉末C:SiO2 −B2 3 −Al2 3 −Ca
Oの組成を有しフレーム処理により得られた球状ガラス
粉末 (SiO2 54.0重量%、B2 3 20.0重量%、
Al2 3 13.0重量%、CaO13.0重量%) ガラス粉末D:SiO2 −B2 3 −ZnO−Al2
3 −CaOの組成を有しフレーム処理されていない粉砕
状ガラス粉末 (SiO2 50.0重量%、B2 3 10.0重量%、
ZnO1.0重量%、Al2 3 10.0重量%、Ca
O19.0重量%) ガラス粉末E:SiO2 −TiO2 −Al2 3 −Ca
O−BaOの組成を有しフレーム処理されていない粉砕
状ガラス粉末 (SiO2 43.0重量%、TiO2 7.0重量%、A
2 3 15.0重量%、CaO30重量%、BaO5
重量%) 次いで、実施例1〜8および比較例1〜4で得られた光
半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物を用いて、LED
をトランスファー成形(150℃×3分)により封止
し、さらに、150℃で3時間硬化させることにより、
光半導体装置を作製した。そして、1サイクルが、−2
5℃×30分/125℃×30分という、熱サイクル条
件で、200サイクル後におけるワイヤーオープン率
(不良率%)を調べた。なお、各光半導体装置のサンプ
ル数(n数)は、24個とした。
Bisphenol A type epoxy resin A: Epoxy equivalent 475 Bisphenol A type epoxy resin B: Epoxy equivalent 65
0 Novolak epoxy resin: Epoxy equivalent 195 Acid anhydride curing agent: Mixture of 4-methylhexahydrophthalic anhydride and hexahydrophthalic anhydride Phenol novolak resin curing agent: Hydroxyl equivalent 105 Glass powder A: SiO 2 -B 2 O 3 -ZnO-Al 2 O
A spherical glass powder having a composition of 3- CaO and obtained by flame treatment (SiO 2 50.0% by weight, B 2 O 3 10.0% by weight,
1.0% by weight of ZnO, 10.0% by weight of Al 2 O 3 , Ca
O19.0% by weight) Glass powder B: SiO 2 —B 2 O 3 —Al 2 O 3 —Ca
Spherical glass powder having a composition of O and obtained by flame treatment (SiO 2 52.0% by weight, B 2 O 3 13.0% by weight,
Al 2 O 3 17.0 wt%, CaO18.0 wt%) Glass powder C: SiO 2 -B 2 O 3 -Al 2 O 3 -Ca
Spherical glass powder having a composition of O and obtained by flame treatment (SiO 2 54.0% by weight, B 2 O 3 20.0% by weight,
Al 2 O 3 13.0 wt%, CaO13.0 wt%) Glass powder D: SiO 2 -B 2 O 3 -ZnO-Al 2 O
Ground glass powder having a composition of 3- CaO and not subjected to flame treatment (SiO 2 50.0% by weight, B 2 O 3 10.0% by weight,
1.0% by weight of ZnO, 10.0% by weight of Al 2 O 3 , Ca
O 19.0% by weight) Glass powder E: SiO 2 —TiO 2 —Al 2 O 3 —Ca
Ground glass powder having a composition of O—BaO and not subjected to flame treatment (SiO 2 43.0% by weight, TiO 2 7.0% by weight, A
l 2 O 3 15.0% by weight, CaO 30% by weight, BaO5
Next, using the epoxy resin compositions for encapsulating optical semiconductor elements obtained in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 4, an LED was prepared.
Is sealed by transfer molding (150 ° C. × 3 minutes), and further cured at 150 ° C. for 3 hours.
An optical semiconductor device was manufactured. And one cycle is -2
Under a thermal cycle condition of 5 ° C. × 30 minutes / 125 ° C. × 30 minutes, the wire open rate (defective rate%) after 200 cycles was examined. The number of samples (the number n) of each optical semiconductor device was 24.

【0045】また、表1における実施例1〜8および比
較例1〜4の各成分について、ガラス粉末を除いて配合
することにより、エポキシ樹脂組成物を調製し、トラン
スファー成形(150℃×3分)後、さらに、150℃
で3時間硬化させることにより、ガラス粉末以外の成分
を硬化して得られる硬化体を作製した。
Further, the respective components of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 4 in Table 1 were blended except for the glass powder to prepare an epoxy resin composition, which was then subjected to transfer molding (150 ° C. × 3 minutes). ) And then at 150 ° C
For 3 hours to prepare a cured product obtained by curing components other than the glass powder.

【0046】そして、各光半導体装置および各硬化体の
アッべ数、屈折率、光透過率および線膨張係数を測定し
た。
The Abbe number, refractive index, light transmittance and linear expansion coefficient of each optical semiconductor device and each cured product were measured.

【0047】アッベ数:アタゴ(株)製、アッベ屈折率
計T2を使用して、波長450nm、589.3nm、
650nmの屈折率を測定し、上記式(2)から算出し
た。
Abbe number: 450 nm, 589.3 nm, Abbe refractometer T2 manufactured by Atago Co., Ltd.
The refractive index at 650 nm was measured and calculated from the above equation (2).

【0048】屈折率:アタゴ(株)製、アッベ屈折率計
T2を使用して、波長589.3nmの屈折率を測定し
た。
Refractive index: The refractive index at a wavelength of 589.3 nm was measured using an Abbe refractometer T2 manufactured by Atago Co., Ltd.

【0049】光透過率:島津製作所製、分光光度計UV
3101を使用して、試料厚み1mmで、波長450n
m、589.3nm、650nmの光透過率を測定し
た。
Light transmittance: Spectrophotometer UV, manufactured by Shimadzu Corporation
Using 3101, sample thickness 1 mm, wavelength 450n
m, 589.3 nm, and light transmittance at 650 nm.

【0050】線膨張係数:熱分析装置(TMA)によ
り、2℃/分の昇温速度で、ガラス転移点より低い温度
での線膨張係数(α1 )を測定した。
Linear expansion coefficient: The coefficient of linear expansion (α 1 ) at a temperature lower than the glass transition point was measured by a thermal analyzer (TMA) at a rate of 2 ° C./min.

【0051】これらの結果を表2にまとめて示す。The results are summarized in Table 2.

【0052】[0052]

【表2】 [Table 2]

【0053】表2から明らかなように、実施例1〜8
は、アッべ数の差が5.0より小さいので、アッベ数の
差が5.0より大きい比較例1〜4に比較して、波長に
よる光透過率の変動が小さいことがわかる。
As is clear from Table 2, Examples 1 to 8
Since the difference in Abbe number is smaller than 5.0, it can be seen that the variation in light transmittance with wavelength is smaller than in Comparative Examples 1 to 4 in which the difference in Abbe number is larger than 5.0.

【0054】また、実施例5と実施例7とは、アッベ数
の差がほぼ同じであるが、屈折率の差(式(1)のn2
−n1 )が−0.005以上0.005以下の範囲にあ
る実施例5は、屈折率の差(式(1)のn2 −n1 )が
−0.005より小さい実施例7に比べて、光透過率が
どの波長においても高いことがわかる。
Further, although the difference in Abbe number between Examples 5 and 7 is almost the same, the difference in refractive index (n 2 in the equation (1))
Example 5 in which −n 1 ) is in the range of −0.005 or more and 0.005 or less, corresponds to Example 7 in which the difference in refractive index (n 2 −n 1 in the formula (1)) is smaller than −0.005. In comparison, it can be seen that the light transmittance is high at any wavelength.

【0055】また、実施例3と実施例6とは、アッベ数
の差がほぼ同じであるが、球状ガラス粉末が配合される
実施例3は、破砕状ガラス粉末が配合される実施例6に
比べて、光透過率が向上していることがわかる。
Although the difference in Abbe number between Examples 3 and 6 is almost the same, Example 3 in which spherical glass powder is blended is different from Example 6 in which crushed glass powder is blended. In comparison, it can be seen that the light transmittance is improved.

【0056】また、ガラス粉末を配合することにより、
線膨張係数が小さくなり、内部応力が低減されるので、
ガラス粉末が配合される実施例1〜8は、ガラス粉末が
配合されていない比較例1よりも、オープン不良率が小
さいことがわかる。
Also, by blending glass powder,
Since the coefficient of linear expansion is reduced and the internal stress is reduced,
It can be seen that Examples 1 to 8 in which the glass powder is blended have a lower open defect rate than Comparative Example 1 in which the glass powder is not blended.

【0057】[0057]

【発明の効果】本発明の光半導体素子封止用エポキシ樹
脂組成物によって、光半導体素子を封止すれば、内部応
力が小さいため、光半導体素子の劣化を有効に防止する
ことができるとともに、全波長において良好な光透過率
を得ることができる。
According to the present invention, when the optical semiconductor element is encapsulated with the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element of the present invention, the internal stress is small, so that the deterioration of the optical semiconductor element can be effectively prevented. Good light transmittance can be obtained at all wavelengths.

【0058】そのため、本発明の光半導体素子封止用エ
ポキシ樹脂組成物によって光半導体素子が封止されてい
る、本発明の光半導体装置は、信頼性および透明性に優
れ、各波長における光透過率の変動が少なく、その機能
を充分に発揮することができる。
Therefore, the optical semiconductor device of the present invention, in which the optical semiconductor device is encapsulated by the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor device of the present invention, is excellent in reliability and transparency, and transmits light at each wavelength. The fluctuation of the rate is small, and the function can be sufficiently exhibited.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 33/00 Fターム(参考) 4J002 CC032 CD011 CD021 CD051 CD061 CD111 CD131 CD141 DL007 EL136 FD030 FD090 FD140 FD142 FD146 FD150 FD160 FD200 GJ02 GQ05 4M109 EA02 EB02 EB03 EB04 EB06 EB08 EB09 EB12 EB16 EC04 EC11 EC15 GA01 5F041 AA25 AA40 AA43 AA44 DA44 DA47 DA58 5F088 BA10 JA06 JA20 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 33/00 F term (Reference) 4J002 CC032 CD011 CD021 CD051 CD061 CD111 CD131 CD141 DL007 EL136 FD030 FD090 FD140 FD142 FD146 FD150 FD160 FD200 GJ02 GQ05 4M109 EA02 EB02 EB03 EB04 EB06 EB08 EB09 EB12 EB16 EC04 EC11 EC15 GA01 5F041 AA25 AA40 AA43 AA44 DA44 DA47 DA58 5F088 BA10 JA06 JA20

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エポキシ樹脂、硬化剤およびガラス粉末
を含有する光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物であ
って、 上記光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物の上記ガラ
ス粉末以外の成分を硬化して得られる硬化体のアッべ数
と、上記ガラス粉末のアッべ数との差が、5.0以下で
あることを特徴とする、光半導体素子封止用エポキシ樹
脂組成物。
An epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element, comprising an epoxy resin, a curing agent and glass powder, wherein a component other than the glass powder of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element is cured. Wherein the difference between the Abbe number of the cured product obtained by the above method and the Abbe number of the glass powder is 5.0 or less.
【請求項2】 エポキシ樹脂、硬化剤およびガラス粉末
を含有する光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物であ
って、 上記光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物の上記ガラ
ス粉末以外の成分を硬化して得られる硬化体のアッべ数
と、上記ガラス粉末のアッべ数との差が、5.0以下で
あり、 かつ、上記光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物の上
記ガラス粉末以外の成分を硬化して得られる硬化体の屈
折率と、上記ガラス粉末の屈折率との関係が、下記式
(1)で表わされることを特徴とする、光半導体素子封
止用エポキシ樹脂組成物。 −0.005≦n2 −n1 ≦0.005 ・・・(1) n1 :上記ガラス粉末以外の成分を硬化して得られる硬
化体の波長589.3nmにおける屈折率 n2 :上記ガラス粉末の波長589.3nmにおける屈
折率
2. An epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element comprising an epoxy resin, a curing agent and glass powder, wherein a component other than the glass powder of the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element is cured. The difference between the Abbe number of the cured product obtained by the above method and the Abbe number of the glass powder is 5.0 or less, and the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element other than the glass powder. An epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element, wherein the relationship between the refractive index of a cured product obtained by curing the components and the refractive index of the glass powder is represented by the following formula (1). −0.005 ≦ n 2 −n 1 ≦ 0.005 (1) n 1 : refractive index at a wavelength of 589.3 nm of a cured product obtained by curing a component other than the glass powder n 2 : the above glass Refractive index of powder at a wavelength of 589.3 nm
【請求項3】 上記ガラス粉末が、球状ガラス粉末であ
ることを特徴とする、請求項1または2に記載の光半導
体素子封止用エポキシ樹脂組成物。
3. The epoxy resin composition according to claim 1, wherein the glass powder is a spherical glass powder.
【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の光半導
体素子封止用エポキシ樹脂組成物を用いて、光半導体素
子を封止することによって得られることを特徴とする、
光半導体装置。
4. An optical semiconductor element obtained by encapsulating an optical semiconductor element using the epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element according to claim 1.
Optical semiconductor device.
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