JP2001255196A - 充填物レベル測定のための装置 - Google Patents

充填物レベル測定のための装置

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JP2001255196A JP2001040569A JP2001040569A JP2001255196A JP 2001255196 A JP2001255196 A JP 2001255196A JP 2001040569 A JP2001040569 A JP 2001040569A JP 2001040569 A JP2001040569 A JP 2001040569A JP 2001255196 A JP2001255196 A JP 2001255196A
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Peter Gerst
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 容器の充填物又は排出時における確実な充填
物レベル測定が可能である、充填物レベル測定のための
装置を提供する。 【解決手段】 容器1内に充填された充填物3の充填物
レベル5を測定するようになっており、バイパス7が、
容器1に、測定したい最も高い充填物レベル13の上方
に配置された上部の横管9と、測定したい最も低い充填
物レベル15の下方に配置された下部の横管とを介して
接続されており、充填物レベルメータ21が、上部の横
管の上方でバイパス7に配置されており、マイクロ波導
体25,35が、マイクロ波を充填物レベルメータ21
からバイパス内へ、最上部の横管9の下方の領域にまで
ガイドしかつ、充填物表面において反射されたマイクロ
波を充填物レベルメータ21にまでガイドする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロ波を用い
て作動する充填物レベルメータがバイパスに配置されて
いるような、充填物レベル測定のための装置に関する。
【0002】
【従来の技術】充填物レベル測定では、マイクロ波がア
ンテナによって充填物の表面へ送信され、表面において
反射されたエコー波が受け取られる。距離に関するエコ
ー振幅を示すエコー関数が形成され、このエコー関数
は、蓋然利用可能エコーと、このエコーの伝搬時間とを
決定するために使用される。伝搬時間は、充填物の表面
とアンテナとの間の距離を決定するために使用される。
【0003】誘電体ロッドアンテナとホーンアンテナと
が、通常送信及び/又は受信のための工業機器において
使用される。通常ハウジングが使用され、このハウジン
グは、短絡された導波管のジオメトリを有するハウジン
グセクションを有している。導波管にはエキサイタエレ
メントが挿入され、このエキサイタエレメントを介して
マイクロ波がハウジングセクションを介して送信及び/
又は受信される。ホーンアンテナでは、容器に面した方
向で拡開しかつホーンを形成した漏斗状区分がハウジン
グに隣接している。ロッドアンテナの場合、ロッドが設
けられており、このロッドは誘電体から形成されてお
り、容器に突入している。
【0004】通常、ハウジングの内部は、誘電体から形
成された挿入体でほぼ完全に充填されている。ホーンア
ンテナの場合、挿入体は、容器に突入した円錐形端部を
有している。ロッドアンテナでは、ロッド状アンテナが
挿入体に隣接している。
【0005】充填物レベルを決定するために、比較的短
い距離を、反射されたマイクロ波によって測定すること
ができる全ての公知の方法を使用することができる。公
知の最良の例は、パルスレーダ及び周波数変調連続波レ
ーダ(FMCWレーダ)である。
【0006】パルスレーダでは、短いマイクロ波の主パ
ルス(以下では波束と呼ぶ)が周期的に送信され、充填
物表面から反射され、間隔に応じた伝搬時間の後に再び
受信される。時間に関する受信信号の振幅は、エコー関
数を示している。このエコー関数のそれぞれの値が、ア
ンテナから所定の間隔において反射されたエコーの振幅
に相当する。
【0007】FMCW法では、連続的なマイクロ波が送
信され、このマイクロ波は、周期的に、線形に、例えば
のこぎり波関数に基づき周波数変調される。その結果、
送信された信号が受信の瞬間に関して有する瞬間的周波
数に関して、受信エコー信号の周波数は、エコー信号の
伝搬時間に応じて周波数の差異を有する。送信信号と受
信信号との周波数差異は、両信号を混合し、混合された
信号のフーリエスペクトルを分析することによって得る
ことができ、この周波数差異は、アンテナからの反射面
の距離に相当する。さらに、フーリエ変換によって得ら
れる頻度スペクトルのスペクトル線の振幅は、エコー振
幅に相当する。したがって、このフーリエスペクトルは
この場合エコー関数を表す。
【0008】マイクロ波を用いて作動する充填物レベル
メータは、工業の極めて多くの分野において、例えば化
学又は食品製造において使用される。通常、容器内の充
填物レベルが測定される。容器を充填又は排出するとき
に表面に波が生じる可能性がある。したがって、多くの
応用例においていわゆるバイパスを設けるのが一般的で
ある。バイパスは、容器に直接に隣接して配置された、
下端部においてシールされた鉛直方向の管である。管
は、測定したい最も低い充填物レベルの高さにおける下
部の横管と、測定したい最も高い充填物レベルの高さに
おける又はこれよりも高い上部の横管とによって容器の
内部に接続されている。したがって、バイパス内部の充
填物レベルは、容器内の充填物レベルに従う。しかしな
がら、容器内の充填物の表面と比較し、バイパスにおい
ては充填物の表面は静止しており滑らかである。したが
って、容器と比較して、バイパスにおいては著しくより
正確な充填物レベル測定を行うことができる。このため
に、充填物レベルメータはバイパスの最上部に取付けら
れている。
【0009】バイパスは、マイクロ波のための導波管の
ように働き、上部横管は、充填物によって覆われていな
いそれぞれの別の1つは、それぞれ、測定を著しく妨害
する干渉信号の元を表す。
【0010】干渉信号は、例えば、横管において直接に
反射された後にアンテナによって受け取られる送信マイ
クロ波のエネルギの割合によって生ぜしめられる。アン
テナから直接に充填物へ送られこの充填物においてアン
テナへ直接に反射される充填物レベル測定に使用される
マイクロ波放射に加え、横管における少なくとも1つの
反射を介して迂回を覆う干渉放射もアンテナに到達す
る。このことは、伝搬時間の誤った決定、ひいては誤っ
た測定結果をもたらすおそれがある。
【0011】種々異なるマイクロ波モードが、種々異な
る伝搬率で伝搬する。その結果、充填物レベル測定のた
めには単一のマイクロ波モードが使用されると有利であ
る。丸い導波管の場合には、これは例えばTE1.1
ード又はTE0.1モードである。ジオメトリによって
決定されるように、マイクロ波の伝搬のための別の境界
条件が、バイパスの残りの領域ではなく、横管の領域に
おいて適用される。変化させられた境界条件のために、
送信されたマイクロ波放射の少なくとも一部が横管の領
域においてモード転換を生じるおそれがある。この部分
は、例えば増大した干渉放射として認識することがで
き、利用できる信号パワーがこの部分によって減じられ
る。
【0012】この効果は、横管がアンテナの近傍領域に
配置されている場合に特に顕著である。所望のマイクロ
波モードは、まだ完全に近傍領域において形成されてお
らず、これにより、境界条件における変化に特に敏感で
ある。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、容器の充填又は排出時における確実な充填物レ
ベル測定が可能な、充填物レベル測定のための装置を提
供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、容器が設けられており、該容器内に充填
物が充填されており、該充填物の充填物レベルを測定す
るようになっており、バイパスが設けられており、該バ
イパスが、前記容器に、測定したい最も高い充填物レベ
ルの上方に配置された上部の横管と、測定したい最も低
い充填物レベルの下方に配置された下部の横管とを介し
て接続されており、充填物レベルメータが設けられてお
り、該充填物レベルメータが、上部の横管の上方でバイ
パスに配置されており、前記充填物レベルメータが、マ
イクロ波を用いて作動するようになっており、マイクロ
波導体が設けられており、該マイクロ波導体が、作動中
に、マイクロ波を、充填物レベルメータからバイパス内
へ、最上部の横管の下方の領域にまでガイドし、さらに
前記マイクロ波導体が、作動中に、充填物表面において
反射されたマイクロ波を、充填物レベルメータにまでガ
イドするようになっている充填物レベル測定のための装
置から成っている。
【0015】発明の発展によれば、マイクロ波導体は、
管状の導波管である。
【0016】別の発展によれば、充填物レベルメータ
は、導波管を形成したホーンアンテナを有している。
【0017】前記発展の改良によれば、充填物レベルメ
ータとホーンアンテナとの間に管状の延長エレメントが
設けられている。
【0018】改良によれば、マイクロ波導体は、通気開
口を有している。
【0019】
【発明の効果】発明の利点は、マイクロ波導体が、それ
ぞれ上部の横管をカバーすることである。その結果、ア
ンテナの近傍領域に、規定された境界条件が形成され、
これらの条件下に、エキサイテーションされた1つの又
は複数のモードが妨害されることなく形成することがで
きる。
【0020】上部横管におけるマイクロ波放射の反射が
排除される。その結果、アンテナによって放射されたほ
とんど全てのマイクロ波パワーが、充填物レベル測定の
ための有効信号として利用可能である。
【0021】
【発明の実施の形態】発明及び別の利点を以下に図面を
参照しながら詳細に説明する。図面には4つの典型的な
実施例が示されており、図面中同一の部材は同一の符号
で示されている。
【0022】充填物レベル測定のための装置が図1に示
されている。この装置は容器1を有しており、この容器
には充填物が充填されている。この充填物3の充填物レ
ベル5が測定される。バイパス7が容器1に隣接して配
置されている。バイパス7は、容器1の充填物高さ全体
よりも上方へ延びた、鉛直に配置された管である。
【0023】容器1は、上部及び下部の横管9,11を
介してバイパス7に接続されている。上部の横管9は、
測定したい最も高い充填物レベル13の上方に配置され
ており、下部の横管は、充填したい最も低い充填物レベ
ル15の下方に配置されている。容器1が、例えば、容
器の蓋に設けられた開口17を介して充填されると、容
器1内の充填物レベル5が上昇する。充填物が、例えば
容器の底部に設けられた出口弁19を介して排出される
と、容器1内の充填物レベル5が低下する。充填物の表
面は、充填物レベルのこれらの変化の時に乱される。こ
のことは、現在の充填物レベル5を象徴する波線によっ
て図1に示されている。充填物レベルのそれぞれの変化
は、下部の横管11を介してバイパス7に伝達され、容
器1とバイパス7との間の圧力の補償が、上部の横管9
を介して行われる。対応して、バイパス7内の充填物レ
ベル5aは、容器1内の充填物レベル5に確実に従う。
バイパス7内の充填物レベルの変化は、下部の横管11
を介して間接的に生じるので、バイパス7における充填
物の表面は、容器1内の充填物の表面と比較して極めて
平坦である。このことは、充填物レベル5aを象徴する
直線によって図1に示されている。もちろん、上部の横
管9と下部の横管11との間に別の横管を配置すること
ができる。
【0024】バイパス7は、低い充填物レベルから生じ
るエコーをバイパス7の底部から生じるエコーと明確に
区別することができるように、測定したい最も低い充填
物レベルよりも著しく下方で終わっていると有利であ
る。
【0025】マイクロ波を用いて作動する充填物レベル
メータ21は、上部の横管9の上方でバイパス7に配置
されている。充填物レベルメータ21は、誘電体、例え
ばポリテトラフルオロエチレンから形成されたロッド状
のアンテナを有しており、バイパス7内の充填物レベル
5aを決定するために働く。
【0026】マイクロ波導体が設けられており、このマ
イクロ波導体は、作動中に充填物レベルメータ21から
のマイクロ波をバイパス7内へ最も上の横管9の下方の
領域へガイドし、作動中に充填物の表面において反射さ
れたマイクロ波を充填物レベルメータ21へガイドす
る。
【0027】図1に示した典型的な実施例では、マイク
ロ波導体は、上方からバイパス7へ挿入された管状の導
波管25である。導波管はフランジ27を有しており、
このフランジによって導波管は、バイパス7の上端に配
置された対応するフランジ29に固定される。充填物レ
ベルメータ21は、雄ねじ山31を有しており、この雄
ねじ山によって、バイパス7から突出した、導波管25
の上端に螺合させられる。
【0028】図1に示した典型的な実施例では、マイク
ロ波導体は、上部の横管9の僅か下方で終わっている。
導波管25の下端において必然的に生じるインピーダン
スのジャンプを回避するために、マイクロ波導体は、測
定したい最も低い充填物レベル15の下方にまで延びて
いることもできる。これは、図1に破線で示されてい
る。
【0029】図2から図4までは、充填物レベル測定の
ための装置の別の典型的な実施例を示している。設計の
原理は全ての典型的な実施例において同一であるので、
図1に示した典型的な実施例との違いのみを以下に詳細
に説明する。
【0030】図2に示した典型的な実施例では、充填物
レベルメータ21はホーンアンテナ33を有している。
マイクロ波導体は、この場合も管状の導波管25であ
る。導波管は、上端にフランジ37を有しており、ホー
ンアンテナ33が導波管25内に配置されるように、フ
ランジ37に充填物レベルメータ21が固定される。
【0031】図1及び図2の典型的な実施例では、商業
上利用可能な静め穴(stilling well)を管状の導波管
25として使用することができる。静め穴は、乱れた及
び/又は不均一な充填物表面の容器内の充填物レベルを
測定するために、充填物レベル計器において使用される
管状のエレメントである。この場合、波管(wave tub
e)が容器内へ直接に上方から開口を介して挿入されて
おり、充填物レベルメータは、波管の上に配置されてい
る。本発明によれば、波管を使用する場合、波管は、通
常のように容器内ではなくバイパス内へ挿入される。
【0032】図3に示した典型的な実施例では、充填物
レベルメータ21は同様にホーンアンテナ35を有して
いる。充填物レベルメータ21は、バイパス7上に直接
にフランジ結合27によって取り付けられており、ホー
ンアンテナ35はバイパス7内へ突入している。ホーン
アンテナ35は上部の横管9の下方の領域にまで延びて
おり、これにより、マイクロ波導体を形成しており、こ
のマイクロ波導体は、作動中に充填物レベルメータ21
からのマイクロ波をバイパス7内の最も上の横管9の下
方の領域内へガイドし、作動中に充填物の表面において
反射されたマイクロ波を充填物レベルメータ21へガイ
ドする。
【0033】上部の横管9がバイパス7の上端の著しく
下方に配置されているならば、図4に示したように、管
状の延長エレメント38を充填物レベルメータ21とホ
ーンアンテナ35との間に設けることができる。
【0034】図示した全ての典型的な実施例において、
個々のマイクロ波導体に通気開口39が設けられてお
り、バイパス7内の充填物レベル5aが変化した場合に
は、この開口39を通って空気又はガスがマイクロ波導
体から逃げるかマイクロ波導体に進入することができ
る。通気開口は圧力補償を行う。これにより、マイクロ
波導体の内側でも外側でも同じ充填物レベルが維持され
る。通気開口39は、測定装置の空間的条件の理由から
及び/又は、通気経路がマイクロ波導体によって遮断さ
れているときに上部横管9を介するエアレーション又は
通気を保証するために、充填物がマイクロ波導体内に上
昇することができるときに必要である。
【図面の簡単な説明】
【図1】バイパスに挿入された導波管を備えた充填物レ
ベル測定のための装置を示す図であり、充填物レベルメ
ータは、ロッドアンテナを有している。
【図2】バイパスに挿入された導波管を備えた充填物レ
ベル測定のための装置を示す図であり、充填物レベルメ
ータがホーンアンテナを有している。
【図3】充填物レベルメータが、バイパス内へ延びたホ
ーンアンテナを有している、充填物レベル測定のための
装置を示す図である。
【図4】ホーンアンテナと充填物レベルメータとの間に
管状の延長エレメントが設けられている、図3の装置を
示す図である。
【符号の説明】
1 容器、 3 充填物、 5 充填物レベル、 7
バイパス、 9,11横管、 13 最も高い充填物レ
ベル、 15 最も低い充填物レベル、 17 開口、
19 出口弁、 21 充填物レベルメータ、 25
導波管、27,29 フランジ、 33,35 ホー
ンアンテナ、 37 フランジ、38 延長エレメン
ト、 39 通気開口
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クライヴ ヴァン ビルジョン アメリカ合衆国 インディアナ インディ アナポリス オーククレスト ドライヴ 5545 (72)発明者 クレイグ マッキンタイル アメリカ合衆国 インディアナ グリーン ウッド シャドウヒル ドライヴ 362 (72)発明者 アレクサンダー ハーデル ドイツ連邦共和国 レルラッハ グレータ ーシュトラーセ 14 (72)発明者 ペーター ゲルスト ドイツ連邦共和国 ヴァイル アム ライ ン ジーベン ユーヘルテン 2

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 充填物レベル測定のための装置におい
    て、 容器(1)が設けられており、該容器内に充填物(3)
    が充填されており、該充填物の充填物レベル(5)を測
    定するようになっており、 バイパス(7)が設けられており、該バイパスが、前記
    容器(1)に、測定したい最も高い充填物レベル(1
    3)の上方に配置された上部の横管(9)と、測定した
    い最も低い充填物レベル(15)の下方に配置された下
    部の横管とを介して接続されており、 充填物レベルメータ(21)が設けられており、該充填
    物レベルメータが、、上部の横管の上方でバイパス
    (7)に配置されており、前記充填物レベルメータが、
    マイクロ波を用いて作動するようになっており、 マイクロ波導体(25,35)が設けられており、該マ
    イクロ波導体が、作動中に、マイクロ波を、充填物レベ
    ルメータ(21)からバイパス内へ、最上部の横管
    (9)の下方の領域にまでガイドし、さらに前記マイク
    ロ波導体が、作動中に、充填物表面において反射された
    マイクロ波を、充填物レベルメータ(21)にまでガイ
    ドするようになっていることを特徴とする、充填物レベ
    ル測定のための装置。
  2. 【請求項2】 前記マイクロ波導体が、管状の導波管
    (25)である、請求項1記載の充填物レベル測定のた
    めの装置。
  3. 【請求項3】 前記充填物レベルメータが、ホーンアン
    テナ(35)を有しており、該ホーンアンテナ(35)
    が、マイクロ波導体を形成している、請求項1記載の充
    填物レベル測定のための装置。
  4. 【請求項4】 前記充填物レベルメータ(21)とホー
    ンアンテナ(35)との間に、管状の延長エレメント
    (38)が設けられている、請求項3記載の充填物レベ
    ル測定のための装置。
  5. 【請求項5】 前記マイクロ波導体(25,35)が、
    通気開口(39)を有している、請求項1から4までの
    いずれか1項記載の充填物レベル測定のための装置。
JP2001040569A 2000-02-17 2001-02-16 充填物レベル測定のための装置 Pending JP2001255196A (ja)

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