JP2001251559A - Image pickup device - Google Patents
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- JP2001251559A JP2001251559A JP2000061592A JP2000061592A JP2001251559A JP 2001251559 A JP2001251559 A JP 2001251559A JP 2000061592 A JP2000061592 A JP 2000061592A JP 2000061592 A JP2000061592 A JP 2000061592A JP 2001251559 A JP2001251559 A JP 2001251559A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、撮像素子の画素欠
陥を補正する機能を有したする撮像装置に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image pickup apparatus having a function of correcting a pixel defect of an image pickup device.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、撮像装置は高画質化に伴い、撮像
素子(以下、CCDと表記する)に画素欠陥(以下、キズ
と称する)がある場合、これに基づいて得られる映像信
号をLCD等に表示したときには、そのキズ部分が目だ
って画質を損なうため、キズ補正手段を設け、キズを補
正した映像信号を出力している。このようなキズとして
は、ある一つの画素での映像信号の輝度が通常表示の場
合よりも低くなる欠陥(以下、黒キズという)と、一つの
画素での輝度が通常表示の場合よりも高くなる欠陥(以
下、白キズという)とがある。以下、単にキズというと
きには、黒キズと白キズの両者を総称している。2. Description of the Related Art In recent years, when an image pickup device has a pixel defect (hereinafter, referred to as a flaw) in an image pickup device (hereinafter, referred to as a CCD) with an increase in image quality, an image signal obtained based on the defect is displayed on an LCD. For example, when the image is displayed, the flaw is noticeably impaired in the image quality, so that a flaw correcting means is provided to output a flaw-corrected video signal. Such flaws include a defect in which the luminance of a video signal at a certain pixel is lower than that in the normal display (hereinafter, referred to as a black defect) and a defect in which the luminance of one pixel is higher than that in the normal display. Defects (hereinafter referred to as white scratches). Hereinafter, when simply referring to a scratch, both a black scratch and a white scratch are collectively referred to.
【0003】次に、キズ補正手段を備えた従来の撮像装
置について説明する。Next, a conventional image pickup apparatus provided with a flaw correction means will be described.
【0004】図10は、たとえば特開平9−24754
8号公報に記載されている従来の撮像装置のキズ補正手
段を示すものである。FIG. 10 shows, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-24754.
FIG. 1 shows a flaw correction means of a conventional imaging device described in Japanese Patent Application Publication No. 8 (JP-A-8).
【0005】図10において、111〜115は入力信
号を順次1クロック分ずつ遅延させる遅延素子としての
各フリップフロップ、116はフリップフロップ111
から出力される信号SAとフリップフロップ115から
出力される信号SCを加算して、その加算信号(SA+
SC)を出力する加算器である。また、125は加算器1
16の出力を平均化した信号(SA+SC)/2を出力する
演算器である。In FIG. 10, reference numerals 111 to 115 denote flip-flops as delay elements for sequentially delaying an input signal by one clock, and 116 denotes a flip-flop 111
By adding the signal S C that is output from the signal S A and the flip-flop 115 to be output from the addition signal (S A +
S C ). 125 is an adder 1
This is an arithmetic unit that outputs a signal (S A + S C ) / 2 obtained by averaging 16 outputs.
【0006】117は演算器125から出力される信号
(SA+SC)/2とフリップフロップ113から出力され
る信号SBとで|(SA+SC)/2−SB|の差分絶対値演
算を行う第1演算回路、118は信号SBと信号SCとか
ら|SB−SC|の差分絶対値演算を行う第2演算回路、
119は信号SAと信号SBとから|SA−SB|の差分絶
対値演算を行う第3演算回路である。Reference numeral 117 denotes a signal output from the arithmetic unit 125
(S A + S C) / 2 and by the signal S B outputted from the flip-flop 113 | (S A + S C ) / 2-S B | first arithmetic circuit for performing absolute difference operations, 118 signal S A second arithmetic circuit for performing an absolute difference calculation of | S B −S C | from B and the signal S C ;
Reference numeral 119 denotes a third arithmetic circuit which performs an arithmetic operation of a difference | S A −S B | from the signal S A and the signal S B.
【0007】120〜122はそれぞれ第1〜第3の比
較回路であり、それぞれ第1〜第3の演算回路117,
118,119の演算結果と基準値Nshとを比較し、い
ずれの演算回路117,118,119の結果も基準値
Nshより大きい場合にはハイレベルの信号を出力する。
123はAND回路であって、各比較回路120,12
1,122の出力結果の論理積をとる。Reference numerals 120 to 122 denote first to third comparison circuits, respectively, which are first to third arithmetic circuits 117 and 117, respectively.
The calculation results of 118 and 119 are compared with the reference value Nsh, and if any of the results of the calculation circuits 117, 118 and 119 is larger than the reference value Nsh, a high-level signal is output.
Reference numeral 123 denotes an AND circuit, and each of the comparison circuits 120, 12
The logical product of the output results of 1,122 is taken.
【0008】124はキズ判定回路であって、AND回
路123の出力がハイレベルのときにはキズ有りと判断
し、ローレベルのときはキズ無しと判断して、その判断
結果の信号をセレクタ126に出力する。Reference numeral 124 denotes a flaw determining circuit. When the output of the AND circuit 123 is at a high level, it is determined that there is a flaw. When the output is at a low level, it is determined that there is no flaw. I do.
【0009】126はフリップフロップ113の出力信
号SBと演算器125の出力信号(S A+SC)/2のいず
れか一方を選択するセレクタであって、キズ判定回路1
24によりキズ無しと判断された場合にはフリップフロ
ップ113の出力信号SBが選択され、また、キズ判定
回路124によりキズ有りと判断された場合には演算器
125の出力信号(SA+SC)/2が補間信号として出力
される。Reference numeral 126 denotes an output signal of the flip-flop 113.
No. SBAnd the output signal (S A+ SC) / 2
A selector for selecting one of them, the defect determination circuit 1
If it is judged that there is no scratch by 24, flip flow
Output signal S of step 113BIs selected, and
If the circuit 124 determines that there is a flaw, an arithmetic unit
125 output signal (SA+ SC) / 2 is output as an interpolation signal
Is done.
【0010】したがって、この構成において、各信号S
A,SB,SC,(SA+SC)/2とCCDの画素との対応
関係を見てみると、図11に示すように、信号SA,
SB,S Cは1ライン上の一つ置きの画素に対応してお
り、信号SBに対応する中心の画素を補正対象画素とし
たとき、第1演算回路117の出力は左右の画素の信号
SA,SCの平均値と中心の補正対象画素の信号SBとの
レベル差(絶対値)であり、第2演算回路118の出力
は、補正対象画素の信号SBと右側の一つ置いた画素の
信号SCとのレベル差(絶対値)であり、第3演算回路1
19の出力は、補正対象画素の信号SBと左側の一つ置
いた画素の信号SAとのレベル差(絶対値)である。Therefore, in this configuration, each signal S
A, SB, SC, (SA+ SC) / 2 and CCD pixel correspondence
Looking at the relationship, as shown in FIG.A,
SB, S CCorresponds to every other pixel on one line
Signal SBThe pixel at the center corresponding to
The output of the first arithmetic circuit 117 is the signal of the left and right pixels
SA, SCAnd the signal S of the pixel to be corrected at the centerBWith
The level difference (absolute value) is the output of the second arithmetic circuit 118
Is the signal S of the pixel to be correctedBAnd one of the pixels on the right
Signal SCAnd the third arithmetic circuit 1
19 is the signal S of the pixel to be corrected.BAnd one on the left
The signal S of the pixelALevel difference (absolute value).
【0011】そして、CCDに生じているキズ(黒キズ
あるいは白キズ)が、丁度、中心の補正対象画素の信号
SBに対応している場合には、各演算回路117,11
8,119の演算結果が基準値Nshよりもいずれも大き
くなるため、キズ判定回路124においてキズ有りと判
断できることになる。そして、補正対象画素の信号SB
がCCDのキズに起因していると判断されれば、左右の
画素の信号SA,SCの平均値と差し替えられることにな
る。[0011] Then, flaws caused in the CCD (black defect or white defect) is just the case that corresponds to the signal S B of the correction target pixel in the center, each arithmetic circuits 117,11
Since the calculation results of 8, 119 are both larger than the reference value Nsh, the flaw determination circuit 124 can determine that there is a flaw. Then, the signal S B of the pixel to be corrected is
Is determined to be caused by a scratch on the CCD, the average value of the signals S A and S C of the left and right pixels is replaced.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような構成では、補正対象画素とその左右の画素のみで
キズの有無を判定をするので、キズの有無の判定範囲が
極めて限られており、短い周期で輝度が変化するような
信号が入力された場合には、キズの信号であると誤判断
してキズ補正を行ってしまう。このため、画像の忠実度
が損なわれるという問題点を有していた。However, in the above configuration, the presence / absence of a flaw is determined only by the pixel to be corrected and its left and right pixels, so that the range of determination of the flaw is extremely limited. When a signal whose luminance changes in a short cycle is input, it is erroneously determined to be a flaw signal and flaw correction is performed. For this reason, there is a problem that the fidelity of the image is impaired.
【0013】本発明は、上記の問題点に鑑み、誤動作の
ない高精度なキズ補正手段を有する撮像装置を提供する
ものである。The present invention has been made in view of the above problems, and provides an image pickup apparatus having a high-accuracy flaw correcting means without malfunction.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するために、次のようにしている。Means for Solving the Problems The present invention is as follows in order to solve such problems.
【0015】すなわち、本発明の撮像装置は、被写体を
撮像して得られる映像信号を出力する撮像素子と、この
撮像素子から出力される信号S0を1水平走査期間から
5水平走査期間まで順次遅延させた各信号S1〜S5を出
力する遅延手段と、前記撮像素子から出力される信号S
0および前記遅延手段で遅延された各信号S1〜S5につ
いて、互いに1水平走査期間分だけ遅延された2つの信
号間を1画素ごとにミックスした信号S1A′〜S5A′を
生成するミックス手段と、このミックス手段から出力さ
れる各信号S1A′〜S5A′に対してノイズ成分を除いて
出力するフィルタ手段と、このフィルタ手段を通って得
られる各信号S1A〜S5Aに基づいて前記撮像素子の欠陥
画素を補正するキズ補正手段とを備えている。[0015] That is, the image pickup apparatus of the present invention sequentially and an imaging device for outputting an image signal obtained by imaging an object, a signal S 0 output from the image pickup device from one horizontal scanning period to 5 horizontal scanning period Delay means for outputting the delayed signals S 1 to S 5, and a signal S output from the image sensor
With respect to 0 and each of the signals S 1 to S 5 delayed by the delay means, signals S 1A ′ to S 5A ′ are generated by mixing the two signals delayed by one horizontal scanning period for each pixel. mixes means, filter means for outputting except noise components for each signal S 1A '~S 5A' output from the mixing means, each signal S 1A to S 5A obtained through the filter means Flaw correcting means for correcting a defective pixel of the image sensor based on the defect.
【0016】これにより、従来のように補正対象画素と
その左右の画素に対応する1ライン上の信号のみでキズ
の有無を判定するのではなく、補正対象画素を中心とし
て前後左右の複数ラインにわたる画素に対応する信号に
基づいてキズの有無を判断するため、誤動作のない高精
度なキズ補正を行うことができる。Thus, the presence / absence of a flaw is determined not only by the pixel to be corrected and the signal on one line corresponding to the left and right pixels as in the prior art, but over a plurality of lines before, after, right and left around the pixel to be corrected. Since the presence or absence of a flaw is determined based on a signal corresponding to a pixel, highly accurate flaw correction without malfunction can be performed.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態におけ
る撮像装置について、図面を参照しながら説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an imaging apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0018】<実施形態1>図1は本発明の実施形態1
における撮像装置のブロック図を示すものである。<Embodiment 1> FIG. 1 shows Embodiment 1 of the present invention.
1 is a block diagram of the imaging apparatus in FIG.
【0019】図1において、10は被写体像を結像させ
るレンズ、11はレンズ10を介した被写体像を光電変
換して出力するCCD、12はCCD11から出力され
る信号S0を1画素ごとにサンプルホールドする相関二
相サンプリング回路(以下、CDSと表記する))であ
る。[0019] In FIG. 1, 10 is a lens for forming an object image, 11 CCD, 12 for outputting a subject image through the lens 10 and photoelectrically converted signals S 0 output from the CCD11 per pixel This is a correlated two-phase sampling circuit (hereinafter, referred to as CDS) that performs sample and hold.
【0020】また、13は入力信号をデジタル信号に変
換するA/D変換器、14は入力信号S0を1水平走査
期間ごとに最大で5水平走査期間分遅延させた信号S1
〜S5を出力する遅延手段である。Reference numeral 13 denotes an A / D converter for converting an input signal into a digital signal. Reference numeral 14 denotes a signal S 1 obtained by delaying the input signal S 0 by a maximum of five horizontal scanning periods every one horizontal scanning period.
A delay means for outputting to S 5.
【0021】15はA/D変換器13からの出力信号S
0および遅延手段14でそれぞれ遅延して得られる各信
号S1〜S5について、互いに1水平走査期間分だけ遅延
された2つの信号S0とS1,S1とS2,S2とS3,S3
とS4,S4とS5間を1画素ごとにミックスした信号S
1A′〜S5A′を生成するミックス回路である。Reference numeral 15 denotes an output signal S from the A / D converter 13.
0 and the respective signals S 1 to S 5 obtained by delaying by the delay means 14, respectively, two signals S 0 and S 1 , S 1 and S 2 , S 2 and S delayed from each other by one horizontal scanning period. 3 , S 3
And S 4 , and a signal S obtained by mixing between S 4 and S 5 for each pixel.
A mixing circuit for generating a 1A '~S 5A'.
【0022】16はミックス回路15から出力される各
信号S1A′〜S5A′についてノイズ成分を除くフィルタ
手段としのてローパスフィルタ(以下、LPFと表記す
る)である。Reference numeral 16 denotes a low-pass filter (hereinafter, referred to as LPF) as filter means for removing noise components from the signals S 1A ′ to S 5A ′ output from the mix circuit 15.
【0023】171はキズ補正手段であって、この実施
形態1ではCCD11の各画素ごとに白キズの有無を検
出して白キズがあればそれを補正するようになってい
る。[0023] 17 1 is a flaw correction means detects the presence or absence of white spots white blemish is adapted to correct, if any for each pixel of In Embodiment 1 CCD 11.
【0024】図2は、図1に示した遅延手段14の詳細
を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing details of the delay means 14 shown in FIG.
【0025】この実施形態1の遅延手段14は、入力さ
れる信号S0を1水平走査期間分だけそれぞれ遅延する
RAM201〜205が順次縦列接続されており、各RA
M201〜205を通過するたびに1水平走査期間分だけ
遅延された信号S1〜S5がそれぞれ取り出される。The delay means 14 of the first embodiment, the RAM 20 1 to 20 5 for delaying respective signals S 0 to be input by one horizontal scanning period are sequentially cascaded, each RA
M20 1 to 20 5 signals S 1 to S 5, which is one horizontal scanning period delay each time through a is taken out, respectively.
【0026】図3は、図1に示したLPF16の詳細を
示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing details of the LPF 16 shown in FIG.
【0027】このLPF16は、Z変換特性として(1
+Z-1)で表せる5つのフィルタ31〜35が各入力信
号S1A′〜S5A′に対して個別に配置されて構成されて
おり、各フィルタ31〜35は、それぞれフリップフロ
ップ371〜375と加算器38 1〜385とを有し、前記
フリップフロップ371〜375の入力信号と出力信号と
を加算器381〜385により加算することで、各信号S
1A〜S5Aがキズ補正手段171に対して出力されるよう
に構成されている。The LPF 16 has a Z conversion characteristic of (1
+ Z-1) Are used to filter each input signal.
No. S1A'~ S5A′ Are individually arranged and configured
Each of the filters 31 to 35 is a flip-flop.
Top 371~ 37FiveAnd adder 38 1~ 38FiveHaving the above
Flip-flop 371~ 37FiveInput and output signals
To adder 381~ 38Five, Each signal S
1A~ S5AIs the flaw correction means 171Output to
Is configured.
【0028】次に、上記構成において、キズ補正手段1
71に信号S1A〜S5Aが入力されるまでの動作につい
て、図4を参照して説明する。Next, in the above configuration, the flaw correcting means 1
The operation until the signals S 1A to S 5A are input to 71 will be described with reference to FIG.
【0029】レンズ10を介した被写体像は、CCD1
1の受光面で結像され、CCD11は、結像した被写体
像を光電変換して被写体の画素情報を画素ミックスせず
に出力する。CDS12は、このCCD11からの出力
信号を1画素毎にサンプルホールドして信号S0として
出力し、A/D変換器13はこの信号S0をデジタル信
号に変換する。The image of the subject through the lens 10 is
The CCD 11 forms an image on the light receiving surface 1 and photoelectrically converts the formed image of the subject, and outputs the pixel information of the subject without pixel mixing. The CDS 12 samples and holds the output signal from the CCD 11 for each pixel and outputs it as a signal S 0 , and the A / D converter 13 converts the signal S 0 into a digital signal.
【0030】遅延手段14は、A/D変換器13から出
力される信号S0を1水平走査期間ごとに最大で5水平
走査期間分遅延させた信号S1〜S5を出力する。すなわ
ち、1水平走査期間遅延した信号S1と、2水平走査期
間遅延した信号S2と、3水平走査期間遅延した信号S3
と、4水平走査期間遅延した信号S4と、5水平走査期
間遅延した信号S5とを同時に出力する。そして、ミッ
クス回路15に対しては、A/D変換器13から出力さ
れる信号S0および遅延手段14で遅延して得られた各
信号S1〜S5が共に入力される。The delay means 14 outputs signals S 1 to S 5 obtained by delaying the signal S 0 output from the A / D converter 13 by a maximum of five horizontal scanning periods every one horizontal scanning period. That is, the signal S 1 delayed by one horizontal scanning period, the signal S 2 delayed by two horizontal scanning periods, and the signal S 3 delayed by three horizontal scanning periods
When, 4 a horizontal scanning period delayed signal S 4, 5 and outputs horizontal scanning period delayed signal S 5 and at the same time. The signal S 0 output from the A / D converter 13 and the respective signals S 1 to S 5 obtained by delaying by the delay unit 14 are input to the mix circuit 15.
【0031】したがって、その場合の各信号S0,S1〜
S5とCCD11の各画素との対応関係を見てみると、
図4(a)に示すようになる。なお、図4(a)では、6ライ
ン×6画素の範囲のみを示している。また、図中、
『〇』印はCCD11にキズが無い場合の各画素に対応
した信号であり、『×』印は一つの画素にキズがある場
合に得られる信号である。Therefore, each of the signals S 0 , S 1 .
If you look at the corresponding relationship between each pixel of the S 5 and CCD11,
As shown in FIG. FIG. 4A shows only a range of 6 lines × 6 pixels. In the figure,
The “〇” mark is a signal corresponding to each pixel when the CCD 11 has no flaw, and the “x” mark is a signal obtained when one pixel has a flaw.
【0032】ミックス回路15は、互いに1水平走査期
間分だけ遅延された2つの信号S0とS1,S1とS2,S
2とS3,S3とS4,S4とS5間を1画素ごとにミックス
した信号S1A′〜S5A′を生成する。The mix circuit 15 generates two signals S 0 and S 1 , S 1 and S 2 , S 2 delayed by one horizontal scanning period from each other.
2 and S 3 , S 3 and S 4 , and S 4 and S 5 are mixed for each pixel to generate signals S 1A ′ to S 5A ′.
【0033】したがって、ミックス回路15から出力さ
れる各信号S1A′〜S5A′と各画素との対応関係を見て
みると、図4(b)に示すようになる。つまり、図4(a)の
範囲の信号は、ミックスによって1ライン分だけ数が減
って、5ライン×6画素になる。その場合、S2とS3、
S3とS4の信号間で加算されるために、キズの影響は2
ラインに及ぶことになる。Therefore, the correspondence between each signal S 1A ′ to S 5A ′ output from the mix circuit 15 and each pixel is as shown in FIG. 4B. That is, the number of signals in the range of FIG. 4A is reduced by one line due to the mixing, and becomes 5 lines × 6 pixels. In that case, S 2 and S 3 ,
To be added in between the signals S 3 and S 4, the influence of the flaw 2
Line.
【0034】引き続いて、LPF16は、入力される各
信号S1A′〜S5A′それぞれに対してノイズ成分を除い
た信号S1A〜S5Aを出力し、これらの信号が次段のキズ
補正手段171に出力される。その場合、各フィルタ3
1〜35ごとに、フリップフロップ371〜375に入出
力される信号同士が加算器381〜385により加算され
る。[0034] Subsequently, LPF 16, each signal S 1A '~S 5A' outputs a signal S 1A to S 5A, except for the noise components for each of these signals is the next stage of the defect correcting means input 17 is output to the 1. In that case, each filter 3
For each 1 to 35, the signals respectively input to and output from the flip-flop 37 1-37 5 are added by the adder 38 1 to 38 5.
【0035】したがって、LPF16から出力される各
信号S1A〜S5Aと各画素との対応関係を見てみると、図
4(c)に示すようになる。つまり、図4(b)の範囲の信号
は、各ラインごとに隣接する左右の画素の信号がミック
スされることによって1画素分だけ数が減って、5ライ
ン×5画素になる。その場合、互いに隣接する左右の画
素に相当する信号間で加算処理されるために、キズの影
響は2ライン×2画素に及ぶことになる。Therefore, the correspondence between the signals S 1A to S 5A output from the LPF 16 and the pixels is as shown in FIG. 4C. That is, the signals in the range of FIG. 4B are reduced by one pixel by mixing the signals of the adjacent left and right pixels for each line, and become 5 lines × 5 pixels. In this case, since the addition processing is performed between the signals corresponding to the left and right pixels adjacent to each other, the influence of the flaw extends to 2 lines × 2 pixels.
【0036】そこで、この実施形態1のキズ補正手段1
71は、図4(c)の破線で囲まれる範囲Rに含まれる画素
に対応する信号を対象として、白キズに対するキズ補正
処理を行う。Therefore, the flaw correcting means 1 of the first embodiment
7 1, as the target signals corresponding to the pixels included in the range R surrounded by the broken line in FIG. 4 (c), the performs defect correction processing on the white spots.
【0037】図5は、図1に示したキズ補正手段171
の詳細を示すブロック図である。FIG. 5 shows the flaw correcting means 17 1 shown in FIG.
FIG. 4 is a block diagram showing the details of.
【0038】図5において、40〜44はLPF16か
ら出力される各信号S1A〜S5Aを個別に1クロック分遅
延させた信号S1B〜S5Bを出力する遅延素子としてのフ
リップフロップ、45〜47は上記の各遅延素子40〜
44で得られ各信号S1B〜S 5Bの内で、S1B,S3B,S
5Bの各信号を個別に1クロック分遅延させた信号S1C,
S3C,S5Cを出力する遅延素子としてのフリップフロッ
プである。In FIG. 5, 40 to 44 are LPFs 16 or
Each signal S output from1A~ S5AAre individually delayed by one clock
Delayed signal S1B~ S5BOutput delay element
The lip flops 45 to 47 are the delay elements 40 to
Each signal S obtained at 441B~ S 5BWithin S1B, S3B, S
5BSignal S which is obtained by individually delaying each signal of FIG.1C,
S3C, S5CFlip-flop as a delay element that outputs
It is.
【0039】48は2つの信号S2B,S4Bを比較してそ
の内の値の小さい方の信号Smin1を出力する第1最小値
出力手段、49は前記2つの信号S3A,S3Cを比較して
その内の値の小さい方の信号Smin2を出力する第2最小
値出力手段、50は各信号S 1A,S1B,S1C,S5A,S
5B,S5C,Smin1,Smin2の内で最大値となる信号Sma
x0を出力する最大値出力手段である。48 denotes two signals S2B, S4BAnd compare
Signal Smin having the smaller value of1First minimum value to output
Output means 49 is provided for the two signals S3A, S3CCompare
The smaller signal SminTwoOutput the second minimum
Value output means, each signal S 1A, S1B, S1C, S5A, S
5B, S5C, Smin1, SminTwoSignal Sma having the maximum value of
x0Is a maximum value output unit that outputs
【0040】51はフリップフロップ42の出力信号S
3Bから前記最大値出力手段50で得られる信号Smax0を
減算した信号Δ1を出力する減算器、53はこの減算器
51の出力信号Δ1と予め設定器52で設定された基準
値Δsh1とを比較する比較器である。Reference numeral 51 denotes an output signal S of the flip-flop 42.
3B subtractor for outputting a signal delta 1 obtained by subtracting the signal Smax 0 obtained by the maximum value output unit 50 from the 53 reference value set by the output signal delta 1 and preset 52 of the subtracter 51 .DELTA.Sh 1 And a comparator for comparing
【0041】54は比較器53で両者Δ1,Δsh1を比較
した結果が、Δ1≦Δsh1である場合にはフリップフロッ
プ42からの信号S3Bを出力し、また、Δ1>Δsh1ある
場合には、最大値出力手段50の出力信号Smax0を出力
するセレクタである。Reference numeral 54 denotes a comparator 53 which outputs the signal S 3B from the flip-flop 42 when the result of comparing the two Δ 1 and Δsh 1 is Δ 1 ≦ Δsh 1 , and Δ 1 > Δsh 1 In some cases, the selector outputs the output signal Smax 0 of the maximum value output means 50.
【0042】次に、この構成のキズ補正手段171につ
いて、図6を参照してその動作を説明する。なお、図6
は図4(c)の破線で囲まれる範囲Rを取り出して示した
ものである。Next, the defect correcting means 17 1 of this configuration, with reference to FIG. 6 illustrating the operation thereof. FIG.
Fig. 4C shows a range R extracted by a broken line in Fig. 4C.
【0043】このキズ補正手段171は、図6に示すよ
うに、所定範囲Rに含まれる画素に対応する信号につい
て、その内の中心位置にある画素(信号S3Bに対応)を白
キズの補正対象画素としてキズ補正処理を行う。[0043] The defect correcting means 17 1, as shown in FIG. 6, the signal corresponding to the pixels included in the predetermined range R, to a certain pixel (corresponding to signal S 3B) of white defects center position of its A defect correction process is performed on the pixel to be corrected.
【0044】以下、具体的に動作を説明する。Hereinafter, the operation will be specifically described.
【0045】キズ補正手段17にはLPF16から出力
される各信号S1A〜S5Aが入力され、それぞれがフリッ
プフロップ40〜44に入力される。The signals S 1A to S 5A output from the LPF 16 are input to the flaw correcting means 17 and input to the flip-flops 40 to 44, respectively.
【0046】各フリップフロップ40〜44は、入力さ
れた信号S1A〜S5Aを個別に1クロック遅延させた信号
S1B〜S5Bを出力する。The flip-flops 40 to 44 output signals S 1B to S 5B obtained by individually delaying the input signals S 1A to S 5A by one clock.
【0047】引き続いて、フリップフロップ45〜47
は、各遅延素子40〜44で得られ各信号S1B〜S5Bの
内で、S1B,S3B,S5Bの各信号を個別に1クロック分
遅延させた信号S1C,S3C,S5Cを出力するしたがっ
て、上記の各信号S1A,S3A,S5A,S1B〜S5B、
S1C,S3C,S5CとCCD11の各画素との対応関係を
見てみると、図6に示すように、5ライン×5画素の範
囲R(図4(c)参照)に含まれる信号になる。Subsequently, flip-flops 45 to 47
, Among at each signal S 1B to S 5B obtained by each of the delay elements 40 to 44, S 1B, S 3B, the signal S 1C each signal individually delayed one clock of S 5B, S 3C, S thus outputs 5C, each signal S 1A above, S 3A, S 5A, S 1B ~S 5B,
Looking at the correspondence between S 1C , S 3C , S 5C and each pixel of the CCD 11, as shown in FIG. 6, the signals included in the range R of 5 lines × 5 pixels (see FIG. 4 (c)) become.
【0048】第1最小値出力手段48は、2つの信号S
2B,S4Bを比較してその内の値の小さい方の信号Smin1
を出力する。つまり、図6における補正対象画素の信号
S3Bの上下に位置する画素の信号S2B,S4Bの内の輝度
レベルの小さい方の信号がSmin1として選択される。The first minimum value output means 48 outputs two signals S
2B and S 4B are compared, and the signal Smin 1 of the smaller value is compared.
Is output. That is, the signal of the smaller luminance level among the signals S 2B and S 4B of the pixels located above and below the signal S 3B of the correction target pixel in FIG. 6 is selected as Smin 1 .
【0049】また、第2最小値出力手段49は、2つの
信号S3A,S3Cを比較してその内の値の小さい方の信号
Smin2を出力する。つまり、図6における補正対象画素
の信号S3Bの左右に位置する画素の信号S3a,S3Cの内
の輝度レベルの小さい方の信号がSmin2として選択され
る。The second minimum value output means 49 compares the two signals S 3A and S 3C and outputs the smaller signal Smin 2 . That is, the signal having the smaller luminance level among the signals S 3a and S 3C of the pixels located on the left and right of the signal S 3B of the correction target pixel in FIG. 6 is selected as Smin 2 .
【0050】このように、第1,第2の最小値出力手段
48,49で輝度レベルが最小となる信号Smin1,Smi
n2を選択することで、補正対象画素の信号S2Bを除くそ
の周囲の4画素の信号S2B,S5B,S3A,S3Cの内、白
キズの影響を受けたもの(つまり、輝度レベルが極端に
大きなもの)があったとしても、その影響が除かれるこ
とになる。As described above, the signals Smin 1 , Smi at which the luminance level is minimized by the first and second minimum value output means 48, 49.
By selecting the n 2, 4 pixels of the signal S 2B of the surrounding except the signal S 2B of the correction target pixel, S 5B, S 3A, among the S 3C, those affected by white flaws (i.e., luminance Even if there is an extremely large level), the effect will be eliminated.
【0051】最大値出力手段50は、各信号S1A,
S1B,S1C,Smin1,Smin2,S5A,S 5B,S5Cの輝度
レベルを比較し、その内で輝度レベルが最大となる信号
Smax0を出力する。つまり、補正対象画素の信号S2Bを
除く一定範囲R内で、白キズの影響を受けていないと推
定される8つの信号S1A,S1B,S1C,Smin1,Smi
n2,S4B,S5A,S5B,S5Cの内で、輝度レベルの最大
のものを選択する。The maximum value output means 50 outputs each signal S1A,
S1B, S1C, Smin1, SminTwo, S5A, S 5B, S5CBrightness
The signal whose level is compared and the brightness level is the highest
Smax0Is output. That is, the signal S of the pixel to be corrected2BTo
Within the fixed range R excluding that it is not affected by white scratches
Eight signals S defined1A, S1B, S1C, Smin1, Smi
nTwo, S4B, S5A, S5B, S5CWithin the maximum brightness level
Choose one.
【0052】減算器51は、フリップフロップ42の出
力信号S3Bから最大値出力手段50で得られる信号Sma
x0を減算した信号Δ1を出力する。そして、比較器53
はこの減算器51の出力信号Δ1と予め設定器52で設
定された基準値Δsh1とを比較する。The subtractor 51 outputs a signal Sma obtained from the output signal S 3B of the flip-flop 42 by the maximum value output means 50.
and outputs a signal delta 1 obtained by subtracting the x 0. And the comparator 53
Compares the output signal Δ 1 of the subtractor 51 with a reference value Δsh 1 set in advance by the setting unit 52.
【0053】ここで、補正対象画素に対応する信号S3B
に白キズの影響がある場合には、Δ 1>Δsh1となり、白
キズの影響が無い場合には、Δ1≦Δsh1となる。Here, the signal S corresponding to the pixel to be corrected is3B
If there are white scratches on the 1> Δsh1And white
If there is no effect of scratch, Δ1≤Δsh1Becomes
【0054】したがって、セレクタ54は、比較器53
で両者Δ1,Δsh1を比較した結果が、Δ1≦Δsh1である
場合には白キズの影響がないのでフリップフロップ42
からの信号S3Bをそのまま出力し、また、Δ1>Δsh1あ
る場合には白キズの影響があるため、補正対象画素に対
応した信号S3Bを最大値出力手段50の出力信号Smax0
に差し替えて出力する。Therefore, the selector 54 is connected to the comparator 53
Both delta 1, a result of comparison .DELTA.Sh 1 is in, there is no influence of the white defects in the case of Δ 1 ≦ Δsh 1 flip-flop 42
And directly outputs the signal S 3B from, also, delta 1> for when Δsh some 1 are affected by the white flaw, the output signal Smax 0 of the maximum value output means 50 a signal S 3B corresponding to the correction target pixel
And output.
【0055】このように、この実施形態1によれば、従
来のように、1つのライン上にある補正対象画素とその
左右の画素のみでキズの有無を判定をするのではなく、
補正対象画素の上下5ライン分にわたる一定範囲Rに含
まれる信号を考慮に入れて、補正対象画素の信号S3Bが
白キズの影響を受けているか否かを判断してキズ補正処
理を行うため、高精度のキズ補正を実現することがで
き、被写体像を忠実に反映した高画質の画像を得ること
ができる。As described above, according to the first embodiment, the presence / absence of a flaw is determined not by using only the correction target pixel on one line and the pixels on the left and right as in the related art.
In order to perform the flaw correction process by considering whether or not the signal S 3B of the correction target pixel is affected by white flaws, taking into account signals included in a fixed range R over five lines above and below the correction target pixel. Thus, it is possible to realize high-accuracy flaw correction, and obtain a high-quality image faithfully reflecting the subject image.
【0056】<実施形態2>図7は、この実施形態2の
撮像装置に用いられるキズ補正手段172の構成を示す
ブロック図であり、図5に示した実施形態1のキズ補正
手段171の構成と対応する部分については同一の符号
を付す。<Embodiment 2> FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of a flaw correcting means 172 used in the image pickup apparatus of the second embodiment. The flaw correcting means 17 1 of the first embodiment shown in FIG. The same reference numerals are given to the portions corresponding to the configuration of.
【0057】この実施形態2のキズ補正手段172は、
白キズを補正する点で、図5に示した実施形態1のキズ
補正手段171と基本的に同じである。[0057] defect correcting means 17 2 in the second embodiment,
In that for correcting the white defect, which is basically the same as the defect correction unit 17 1 of the first embodiment shown in FIG.
【0058】しかし、この実施形態2のキズ補正手段1
72では、実施形態1のキズ補正手段171の構成に加え
て、前述の第1最小値出力手段48と第2最小値出力手
段49の両出力信号Smin1,Smin2の輝度レベルを比較
してその内の大きい方の信号Smax3を出力する比較最大
値出力手段60が設けられている。However, the flaw correcting means 1 of the second embodiment
In 7 2, in addition to the defect correcting means 17 1 of the embodiment 1, compares the brightness levels of the two output signals Smin 1, Smin 2 of the first minimum value output unit 48 and the second minimum value output unit 49 of the above Further, a comparison maximum value output means 60 for outputting the larger signal Smax 3 is provided.
【0059】さらに、セレクタ54は、比較器53で比
較した結果がΔ1≦Δsh1である場合には、フリップフロ
ップ42からの信号S3Bを選択し、また、Δ1>Δsh1あ
る場合には、比較最大値出力手段60の出力信号Smax3
を選択するように構成されている。Further, the selector 54 selects the signal S 3B from the flip-flop 42 when the result of comparison by the comparator 53 is Δ 1 ≦ Δsh 1 , and selects the signal S 3B from the flip-flop 42 when Δ 1 > Δsh 1 Is the output signal Smax 3 of the comparison maximum value output means 60.
Is configured to be selected.
【0060】その他の構成は、図1および図5に示した
実施形態1の場合と同様であるので、ここでは詳しい説
明は省略する。The other configuration is the same as that of the first embodiment shown in FIGS. 1 and 5, and a detailed description is omitted here.
【0061】次に、この実施形態2のキズ補正手段17
2の動作について説明する。なお、実施形態1の場合と
重複する部分についてはその動作は同じであるから、説
明は省略する。Next, the flaw correcting means 17 of the second embodiment
Operation 2 will be described. Note that the operation of the same portion as that of the first embodiment is the same, and the description is omitted.
【0062】比較最大値出力手段60は、第1,第2の
各最小値出力手段48,49の出力信号Smin1,Smin2
の輝度レベルを比較して、その内の大きい方の信号Sma
x3を出力する。The comparison maximum value output means 60 outputs the output signals Smin 1 , Smin 2 of the first and second minimum value output means 48, 49.
Are compared, and the larger signal Sma is compared.
and outputs the x 3.
【0063】一方、減算器51は、フリップフロップ4
2の出力信号S3Bから最大値出力手段50で得られる信
号Smax0を減算した信号Δ1を出力する。そして、比較
器53は、この減算器51の出力信号Δ1と予め設定器
52で設定された基準値Δsh1とを比較する。On the other hand, the subtractor 51 is connected to the flip-flop 4
A signal Smax 0 obtained from the second output signal S 3B at the maximum value output means 50 outputs a signal delta 1 obtained by subtracting. The comparator 53 compares the reference value .DELTA.Sh 1 which is set by the output signal delta 1 and preset 52 of the subtracter 51.
【0064】ここで、補正対象画素に対応する信号S3B
に白キズの影響がある場合には、Δ 1>Δsh1となり、白
キズの影響が無い場合には、Δ1≦Δsh1となる。Here, the signal S corresponding to the pixel to be corrected3B
If there are white scratches on the 1> Δsh1And white
If there is no effect of scratch, Δ1≤Δsh1Becomes
【0065】セレクタ54は、比較器53で比較した結
果がΔ1≦Δsh1である場合には、白キズの影響がないの
で、フリップフロップ42からの信号S3Bをそのまま出
力し、また、Δ1>Δsh1ある場合には、白キズの影響が
あるため、補正対象画素に対応した信号S3Bを比較最大
値出力手段60の出力信号Smax3に差し替えて出力す
る。When the result of comparison by the comparator 53 is Δ 1 ≦ Δsh 1 , the selector 54 outputs the signal S 3B from the flip-flop 42 as it is because there is no influence of white spots. 1> .DELTA.Sh 1 in some cases, because of the influence of white blemish, and outputs the replacement signal S 3B corresponding to the correction target pixel in the output signal Smax 3 Compare the maximum value output unit 60.
【0066】このように、この実施形態2によれば、キ
ズ補正手段172において、補正対象画素の信号S3Bに
白キズの影響があるときには、その信号S3Bに隣接した
回りの4画素の信号S2B,S4B,S3A,S3Cの内から白
キズがないと推察される信号への差し替えが行われるた
め、実施形態1の場合よりも画像の連続性が保たれるこ
とになる。As described above, according to the second embodiment, when the signal S 3B of the pixel to be corrected is affected by white flaws in the flaw correction means 17 2 , four pixels around the signal S 3B adjacent to the signal S 3B are affected. Since the signals S 2B , S 4B , S 3A , and S 3C are replaced with signals that are assumed to have no white flaws, image continuity is maintained more than in the first embodiment. .
【0067】また、この実施形態2においても、実施形
態1の場合と同様、補正対象画素の上下5ライン分にわ
たる一定範囲Rに含まれる信号を考慮に入れて、補正対
象画素の信号S3Bが白キズの影響を受けているか否かを
判断してキズ補正処理を行うため、高精度のキズ補正を
実現することができ、被写体像を忠実に反映した高画質
の画像を得ることができる。In the second embodiment, as in the first embodiment, the signal S 3B of the pixel to be corrected is taken into account by taking into account the signals included in the fixed range R over the upper and lower five lines of the pixel to be corrected. Since the flaw correction processing is performed by determining whether or not the flaw is affected by white flaws, high-precision flaw correction can be realized, and a high-quality image faithfully reflecting the subject image can be obtained.
【0068】<実施形態3>図8は、この実施形態3の
撮像装置に用いられるキズ補正手段173の構成を示す
ブロック図であり、図5に示した実施形態1のキズ補正
手段171の構成と対応する部分については同一の符号
を付す。<Embodiment 3> FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of a flaw correcting means 173 used in the image pickup apparatus of the third embodiment. The flaw correcting means 17 1 of the first embodiment shown in FIG. The same reference numerals are given to the portions corresponding to the configuration of.
【0069】この実施形態3のキズ補正手段173は、
黒キズを補正する点で、図5および図7に示した実施形
態1,2の各キズ補正手段171,172と基本的に異な
っている。[0069] defect correcting means 17 3 of the third embodiment,
The correction of black flaws is basically different from the flaw correction means 17 1 and 17 2 of the first and second embodiments shown in FIGS.
【0070】このため、この実施形態3のキズ補正手段
173では、図5に示した第1,第2最小値出力手段4
8,49に代えて、第1,第2最大値出力手段80,8
1を設け、また、図5に示した最大値出力手段50に代
えて、最小値出力手段82を設けている。[0070] Therefore, the defect correcting means 17 3 of the third embodiment, first, second minimum value output means 4 shown in FIG. 5
8, 49, instead of first and second maximum value output means 80, 8
1 and a minimum value output means 82 is provided in place of the maximum value output means 50 shown in FIG.
【0071】そして、第1最大値出力手段80は、2つ
の入力信号S2B,S4Bの輝度レベルを比較して大きい方
の信号Smax1を出力し、また、第2最大値出力手段81
は、2つの入力信号S3A,S3Cの輝度レベルを比較して
小さい方の信号Smin2を出力するように構成されてい
る。また、最小値出力手段82は、各信号S1A,S1B,
S1C,Smin1,Smin2,S5A,S5B,S5Cの内で最小値
となる信号Smin0を出力するように構成されている。The first maximum value output means 80 compares the luminance levels of the two input signals S 2B and S 4B and outputs the larger signal Smax 1 , and the second maximum value output means 81
Is configured to compare the luminance levels of the two input signals S 3A and S 3C and output the smaller signal Smin 2 . The minimum value output means 82 outputs the signals S 1A , S 1B ,
It is configured to output a signal Smin 0 which has a minimum value among S 1C , Smin 1 , Smin 2 , S 5A , S 5B , and S 5C .
【0072】また、減算器51は、フリップフロップ4
2の出力信号S3Bから前記最小値出力手段82で得られ
る信号Smin0を減算した信号Δ2を出力するものであ
り、また、比較器53は、この減算器51の出力信号Δ
2と予め設定器52で設定された基準値Δsh2とを比較す
るようになっている。さらに、セレクタ54は、比較器
53で両者Δ1,Δsh1を比較した結果が、Δ1≦Δsh1で
ある場合にはフリップフロップ42からの信号S3Bを出
力し、また、Δ1>Δsh1ある場合には、最小値出力手段
82の出力信号Smin0を出力するように構成されてい
る。Further, the subtractor 51 is connected to the flip-flop 4
The comparator 53 outputs a signal Δ2 which is obtained by subtracting the signal Smin 0 obtained by the minimum value output means 82 from the output signal S 3B of the second comparator 2.
2 is compared with a reference value Δsh 2 previously set by the setting device 52. Further, the selector 54 outputs the signal S 3B from the flip-flop 42 when the result of comparison between the two Δ 1 and Δsh 1 by the comparator 53 satisfies Δ 1 ≦ Δsh 1 , and Δ 1 > Δsh 1 1 if there is configured to output an output signal Smin 0 of the minimum value output unit 82.
【0073】その他の構成は、図1ないし図4に示した
実施形態1の場合と同様であるので、ここでは詳しい説
明は省略する。The other structure is the same as that of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 4, and the detailed description is omitted here.
【0074】次に、この構成のキズ補正手段173の動
作を説明する。なお、実施形態1の場合と重複する部分
についてはその動作は同じであるから、説明は省略す
る。[0074] Next, the operation of defect correcting means 17 3 of this configuration. Note that the operation of the same portion as that of the first embodiment is the same, and the description is omitted.
【0075】第1最大値出力手段80は、2つの信号S
2B,S4Bを比較して値の大きい方の信号Smax1を出力す
る。つまり、図6における補正対象画素の信号S3Bの上
下に位置する画素の信号S2B,S4Bの内の輝度レベルの
大きい方の信号がSmax1として選択される。The first maximum value output means 80 outputs two signals S
2B, by comparing the S 4B outputs a signal Smax 1 larger values. That is, the signal having the larger luminance level among the signals S 2B and S 4B of the pixels located above and below the signal S 3B of the correction target pixel in FIG. 6 is selected as Smax 1 .
【0076】また、第2最大値出力手段81は、2つの
信号S3A,S3Cを比較して値の大きい方の信号Smax2を
出力する。つまり、図6における補正対象画素の信号S
3Bの左右に位置する画素の信号S3a,S3Cの内の輝度レ
ベルの大きい方の信号がSmax2として選択される。The second maximum value output means 81 compares the two signals S 3A and S 3C and outputs a signal Smax 2 having a larger value. That is, the signal S of the correction target pixel in FIG.
The signal having the larger luminance level among the signals S 3a and S 3C of the pixels located on the left and right of 3B is selected as Smax 2 .
【0077】このように、第1,第2の最大値出力手段
80,81でそれぞれ輝度レベルが最大となる信号Sma
x1,Smax2を選択することで、補正対象画素の信号S2B
を除くその周囲の4画素の信号S2B,S5B,S3A,S3C
の内、黒キズの影響を受けたもの(つまり、輝度レベル
が極端に小さなもの)があったとしても、その影響が除
かれることになる。As described above, the first and second maximum value output means 80 and 81 output the signal Sma having the maximum luminance level.
x 1, by selecting the Smax 2, signal S 2B of the correction target pixel
Signals S 2B , S 5B , S 3A , S 3C of the four surrounding pixels excluding
Among them, even if there is one affected by black flaws (that is, one having an extremely small luminance level), the effect is eliminated.
【0078】最小値出力手段82は、各信号S1A,
S1B,S1C,Smax1,Smax2,S5A,S 5B,S5Cの内で
最小値となる信号Smin0を出力する。つまり、補正対象
画素の信号S2Bを除く一定範囲R内で、黒キズの影響を
受けていないと推定される8つの信号S1A,S1B,
S1C,Smax1,Smax2,S4B,S5A,S5B,S5Cの内
で、輝度レベルの最小のものを選択する。The minimum value output means 82 outputs each signal S1A,
S1B, S1C, Smax1, SmaxTwo, S5A, S 5B, S5CWithin
Minimum signal Smin0Is output. In other words, the correction target
Pixel signal S2BWithin a certain range R excluding
Eight signals S presumed not to be received1A, S1B,
S1C, Smax1, SmaxTwo, S4B, S5A, S5B, S5CWithin
Select the one with the minimum luminance level.
【0079】減算器51は、フリップフロップ42の出
力信号S3Bから最小値出力手段82で得られる信号Smi
n0を減算した信号Δ2を出力する。そして、比較器53
は、この減算器51の出力信号Δ2と予め設定器52で
設定された基準値Δsh2とを比較する。The subtractor 51 outputs a signal Smi obtained by the minimum value output means 82 from the output signal S 3B of the flip-flop 42.
The n 0 and outputs a signal delta 2 subtraction. And the comparator 53
Compares the reference value .DELTA.Sh 2 which is set by the output signal delta 2 with a predetermined 52 of the subtracter 51.
【0080】ここで、補正対象画素に対応する信号S3B
に黒キズの影響がある場合には、Δ 2>Δsh2となり、黒
キズの影響が無い場合には、Δ2≦Δsh2となる。Here, the signal S corresponding to the pixel to be corrected3B
Is affected by black scratches, Δ Two> ΔshTwoAnd black
If there is no effect of scratch, ΔTwo≤ΔshTwoBecomes
【0081】したがって、セレクタ54は、比較器53
で両者Δ2,Δsh2を比較した結果が、Δ2≦Δsh2である
場合には黒キズの影響がないのでフリップフロップ42
からの信号S3Bをそのまま出力し、また、Δ2>Δsh2あ
る場合には黒キズの影響があるため、補正対象画素に対
応した信号S3Bを最小値出力手段82の出力信号Smin0
に差し替えて出力する。Therefore, the selector 54 is connected to the comparator 53
Both delta 2, a result of comparison .DELTA.Sh 2 is in, there is no influence of the black defect when a Δ 2 ≦ Δsh 2 flip-flop 42
And directly outputs the signal S 3B from, also, delta 2> for when .DELTA.Sh 2 there is the influence of black defect, the output signal Smin 0 of the minimum value output means 82 a signal S 3B corresponding to the correction target pixel
And output.
【0082】このように、この実施形態3によれば、従
来のように、1つのライン上にある補正対象画素とその
左右の画素のみでキズの有無を判定をするのではなく、
補正対象画素の上下5ライン分にわたる一定範囲Rに含
まれる信号を考慮に入れて、補正対象画素の信号S3Bが
黒キズの影響を受けているか否かを判断してキズ補正処
理を行うため、高精度のキズ補正を実現することがで
き、被写体像を忠実に反映した高画質の画像を得ること
ができる。As described above, according to the third embodiment, the presence / absence of a flaw is determined not only by the correction target pixel on one line and the right and left pixels but on the same line as in the related art.
In order to perform the flaw correction process by determining whether or not the signal S 3B of the correction target pixel is affected by black flaws, taking into account signals included in a fixed range R over five lines above and below the correction target pixel. Thus, it is possible to realize high-accuracy flaw correction, and obtain a high-quality image faithfully reflecting the subject image.
【0083】<実施形態4>図9は、この実施形態4の
撮像装置に用いられるキズ補正手段174の構成を示す
ブロック図であり、図8に示した実施形態3のキズ補正
手段173の構成と対応する部分については同一の符号
を付す。<Embodiment 4> FIG. 9 is a block diagram showing the structure of a flaw correcting means 174 used in the image pickup apparatus of the fourth embodiment. The flaw correcting means 17 3 of the third embodiment shown in FIG. The same reference numerals are given to the portions corresponding to the configuration of.
【0084】この実施形態4のキズ補正手段174は、
黒キズを補正する点で、図8に示した実施形態3のキズ
補正手段173と同じである。[0084] defect correcting means 17 4 of the fourth embodiment,
In that for correcting the black defect is the same as the defect correcting means 17 3 of the third embodiment shown in FIG.
【0085】しかし、この実施形態4のキズ補正手段1
74では、実施形態3のキズ補正手段173の構成に加え
て、前述の第1最大値出力手段80と第2最大値出力手
段81の両出力信号Smax1,Smax2の輝度レベルを比較
してその内の小さい方の信号Smin3を出力する比較最小
値出力手段61が設けられている。However, the flaw correcting means 1 of the fourth embodiment
In 7 4, in addition to the defect correcting means 17 3 of the third embodiment, compared the luminance level of both output signals Smax 1, Smax 2 of the first maximum value output unit 80 and the second maximum value output unit 81 of the above A comparison minimum value output means 61 for outputting the smaller signal Smin 3 is provided.
【0086】さらに、セレクタ54は、比較器53で比
較した結果がΔ2≦Δsh2である場合には、フリップフロ
ップ42からの信号S3Bを選択し、また、Δ2>Δsh2あ
る場合には、比較最小値出力手段61の出力信号Smin3
を選択するように構成されている。Further, the selector 54 selects the signal S 3B from the flip-flop 42 when the result of the comparison by the comparator 53 is Δ 2 ≦ Δsh 2 , and when the result of the comparison is Δ 2 > Δsh 2 Is the output signal Smin 3 of the comparison minimum value output means 61.
Is configured to be selected.
【0087】その他の構成は、図8に示した実施形態3
の場合と同様であるので、ここでは詳しい説明は省略す
る。The other structure is the same as that of the third embodiment shown in FIG.
In this case, the detailed description is omitted here.
【0088】次に、この実施形態4のキズ補正手段17
4の動作について説明する。なお、実施形態3の場合と
重複する部分についてはその動作は同じであるから、説
明は省略する。Next, the flaw correcting means 17 of the fourth embodiment will be described.
Operation 4 will be described. Note that the operation of the same portion as that of the third embodiment is the same, and the description is omitted.
【0089】比較最小値出力手段61は、第1,第2の
各最大値出力手段80,81の出力信号Smax1,Smax2
の輝度レベルを比較して、その内の小さい方の信号Smi
n3を出力する。The comparison minimum value output means 61 outputs the output signals Smax 1 , Smax 2 of the first and second maximum value output means 80, 81.
Are compared, and the smaller signal Smi is compared.
Outputs n 3 .
【0090】一方、減算器51は、フリップフロップ4
2の出力信号S3Bから最小値出力手段82で得られる信
号Smin0を減算した信号Δ2を出力する。そして、比較
器53は、この減算器51の出力信号Δ2と予め設定器
52で設定された基準値Δsh2とを比較する。On the other hand, the subtractor 51 is connected to the flip-flop 4
The signal Δ2 is obtained by subtracting the signal Smin 0 obtained by the minimum value output means 82 from the output signal S 3B of the second . The comparator 53 compares the reference value .DELTA.Sh 2 which is set by the output signal delta 2 with a predetermined 52 of the subtracter 51.
【0091】ここで、補正対象画素に対応する信号S3B
に黒キズの影響がある場合には、Δ 2>Δsh2となり、黒
キズの影響が無い場合には、Δ2≦Δsh2となる。Here, the signal S corresponding to the pixel to be corrected is3B
Is affected by black scratches, Δ Two> ΔshTwoAnd black
If there is no effect of scratch, ΔTwo≤ΔshTwoBecomes
【0092】セレクタ54は、比較器53で比較した結
果がΔ2≦Δsh2である場合には、黒キズの影響がないの
で、フリップフロップ42からの信号S3Bをそのまま出
力し、また、Δ2>Δsh2ある場合には、黒キズの影響が
あるため、補正対象画素に対応した信号S3Bを比較最小
値出力手段61の出力信号Smin3に差し替えて出力す
る。When the result of comparison by the comparator 53 is Δ 2 ≦ Δsh 2 , the selector 54 outputs the signal S 3B from the flip-flop 42 as it is because there is no influence of black flaws. If 2 > Δsh 2 , the signal S 3B corresponding to the pixel to be corrected is replaced with the output signal Smin 3 of the minimum comparison value output means 61 and output because the influence of black spots is present.
【0093】このように、この実施形態4によれば、キ
ズ補正手段174において、補正対象画素の信号S3Bに
黒キズの影響があるときには、その信号S3Bに隣接した
回りの4画素の信号S2B,S4B,S3A,S3Cの内から黒
キズがないと推察される信号への差し替えが行われるた
め、実施形態3の場合よりも画像の連続性が保たれるこ
とになる。[0093] Thus, according to this embodiment 4, the defect correcting means 17 4, when the signal S 3B of the correction target pixel is affected by the black scratches, four pixels around adjacent to the signal S 3B Since the signals S 2B , S 4B , S 3A , and S 3C are replaced with signals that are assumed to have no black flaws, the continuity of the image is maintained more than in the third embodiment. .
【0094】また、この実施形態4においても、実施形
態3の場合と同様、補正対象画素の上下5ライン分にわ
たる一定範囲Rに含まれる信号を考慮に入れて、補正対
象画素の信号S3Bが黒キズの影響を受けているか否かを
判断してキズ補正処理を行うため、高精度のキズ補正を
実現することができ、被写体像を忠実に反映した高画質
の画像を得ることができる。Also in the fourth embodiment, as in the third embodiment, the signal S 3B of the pixel to be corrected is taken into account by taking into account the signals included in the fixed range R over five lines above and below the pixel to be corrected. Since the flaw correction process is performed by determining whether or not it is affected by black flaws, highly accurate flaw correction can be realized, and a high-quality image faithfully reflecting the subject image can be obtained.
【0095】[0095]
【発明の効果】本発明は、従来のように、1つのライン
上にある補正対象画素とその左右の画素のみでキズの有
無を判定をするのではなく、補正対象画素の上下5ライ
ン分にわたる一定範囲に含まれる信号を考慮に入れて、
補正対象画素の信号がキズの影響を受けているか否かを
判断した上でキズ補正処理を行うため、高精度のキズ補
正を実現することができ、被写体像を忠実に反映した高
画質の画像を得ることができる。According to the present invention, the presence / absence of a flaw is determined not only by the pixel to be corrected on one line and the left and right pixels as in the prior art, but over the five lines above and below the pixel to be corrected. Taking into account a certain range of signals,
Since the defect correction process is performed after judging whether the signal of the pixel to be corrected is affected by the flaw, high-precision flaw correction can be realized, and a high-quality image that faithfully reflects the subject image Can be obtained.
【図1】本発明の実施形態1における撮像装置の全体構
成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram illustrating an overall configuration of an imaging device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1の撮像装置を構成する遅延手段のブロック
図FIG. 2 is a block diagram of a delay unit included in the imaging apparatus of FIG. 1;
【図3】図1の撮像装置を構成するローパスフィルタの
ブロック図FIG. 3 is a block diagram of a low-pass filter included in the imaging device of FIG. 1;
【図4】図1に示した撮像装置で扱われる各信号とCC
Dの画素との対応関係を示す説明図FIG. 4 is a diagram illustrating signals and CCs handled by the imaging apparatus illustrated in FIG. 1;
Explanatory diagram showing the correspondence relationship between D pixels
【図5】図1の撮像装置を構成するキズ補正手段のブロ
ック図FIG. 5 is a block diagram of a flaw correction unit included in the imaging apparatus of FIG. 1;
【図6】図4に示したキズ補正手段で扱われる各信号と
CCDの画素との対応関係を示す説明図FIG. 6 is an explanatory diagram showing a correspondence relationship between each signal handled by the flaw correction means shown in FIG. 4 and a pixel of a CCD;
【図7】本発明の実施形態2における撮像装置のキズ補
正手段のブロック図FIG. 7 is a block diagram of a flaw correction unit of the imaging apparatus according to the second embodiment of the present invention.
【図8】本発明の実施形態3における撮像装置のキズ補
正手段のブロック図FIG. 8 is a block diagram of a flaw correction unit of the imaging apparatus according to the third embodiment of the present invention.
【図9】本発明の実施形態4における撮像装置のキズ補
正手段のブロック図FIG. 9 is a block diagram of a flaw correction unit of the imaging apparatus according to the fourth embodiment of the present invention.
【図10】従来の撮像装置におけるキズ補正手段のブロ
ック図FIG. 10 is a block diagram of a flaw correction unit in a conventional imaging apparatus.
【図11】キズ補正手段で扱われる各信号とCCDの画
素との対応関係を示す説明図FIG. 11 is an explanatory diagram showing the correspondence between each signal handled by the flaw correction means and the pixels of the CCD.
10…レンズ、11…撮像素子(CCD)、14…遅延手
段、15…ミックス回路、16…LPF(フィルタ手
段)、171〜174…キズ補正手段、40〜47…フリ
ップフロップ(遅延素子)、48…第1最小値出力手段、
49…第2最小値出力手段、50…最大値出力手段、5
1…減算器、53…比較器、54…セレクタ、60…比
較最大値出力手段、61…比較最小値出力手段、80…
第1最大値出力手段、81…第2最大値出力手段。10 ... lens, 11 ... image pickup device (CCD), 14 ... delay means, 15 ... mixing circuit, 16 ... LPF (filter means), 17 1-17 4 ... defect correcting means, 40 to 47 ... flip-flop (delay elements) , 48... First minimum value output means,
49: second minimum value output means, 50: maximum value output means, 5
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Subtractor, 53 ... Comparator, 54 ... Selector, 60 ... Comparison maximum value output means, 61 ... Comparison minimum value output means, 80 ...
First maximum value output means, 81... Second maximum value output means.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5C021 PA34 PA52 PA56 PA58 PA66 PA85 SA22 XA03 YA06 YC01 5C024 CX21 GY01 HX03 HX05 HX23 HX28 HX50 HX58 5C061 BB05 CC01 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5C021 PA34 PA52 PA56 PA58 PA66 PA85 SA22 XA03 YA06 YC01 5C024 CX21 GY01 HX03 HX05 HX23 HX28 HX50 HX58 5C061 BB05 CC01
Claims (6)
力する撮像素子と、 この撮像素子から出力される信号S0を1水平走査期間
から5水平走査期間まで順次遅延させた各信号S1〜S5
を出力する遅延手段と、 前記撮像素子から出力される信号S0および前記遅延手
段で遅延された各信号S1〜S5について、互いに1水平
走査期間分だけ遅延された2つの信号間を1画素ごとに
ミックスした信号S1A′〜S5A′を生成するミックス手
段と、 このミックス手段から出力される各信号S1A′〜S5A′
に対してノイズ成分を除いて出力するフィルタ手段と、 このフィルタ手段を通って得られる各信号S1A〜S5Aに
基づいて前記撮像素子の欠陥画素を補正するキズ補正手
段と、 を備えることを特徴とする撮像装置。1. An image sensor that outputs a video signal obtained by imaging a subject, and signals S 1 obtained by sequentially delaying a signal S 0 output from the image sensor from one horizontal scanning period to five horizontal scanning periods ~ S 5
And a signal S 0 output from the image sensor and each of the signals S 1 to S 5 delayed by the delay means are set to a signal between two signals delayed by one horizontal scanning period. mixes means for generating a signal S 1A '~S 5A' a mix for each pixel, each signal S 1A is output from the mixing means 'to S 5A'
And a flaw correcting means for correcting a defective pixel of the image sensor based on each of the signals S 1A to S 5A obtained through the filtering means. Characteristic imaging device.
せる5つのフィルタが各入力信号S1A′〜S5A′に対し
て個別に設けられており、各フィルタは、加算器とフリ
ップフロップとを有し、前記フリップフロップの入力信
号と出力信号とを前記加算器により加算して出力するよ
うに構成されていることを特徴とする撮像装置。2. The image pickup apparatus according to claim 1, wherein said filter means includes five filters which can be expressed as (1 + Z -1 ) as Z conversion characteristics for each of the input signals S 1A ′ to S 5A ′. Wherein each filter has an adder and a flip-flop, and is configured to add and output the input signal and the output signal of the flip-flop by the adder. apparatus.
において、 前記キズ補正手段は、 前記フィルタ手段から出力される各信号S1A〜S5Aを個
別に1クロック分遅延させた信号S1B〜S5Bを出力する
遅延素子と、 この各遅延素子から出力される各信号S1B〜S5Bの内
で、S1B,S3B,S5Bの各信号を個別に1クロック分遅
延させた信号S1C,S3C,S5Cを出力する遅延素子と、 前記2つの信号S2B,S4Bを比較して値の小さい方の信
号Smin1を出力する第1最小値出力手段と、 前記2つの信号S3A,S3Cを比較して値の小さい方の信
号Smin2を出力する第2最小値出力手段と、 前記各信号S1A,S1B,S1C,S5A,S5B,S5C,Smi
n1,Smin2の内で最大値となる信号Smax0を出力する最
大値出力手段と、 前記信号S3Bから前記最大値出力手段から出力される信
号Smax0を減算した信号Δ1を出力する減算器と、 この減算器の出力信号Δ1と予め設定された基準値Δsh1
とを比較する比較器と、 この比較器で比較した結果がΔ1≦Δsh1である場合に
は、前記信号S3Bを出力し、また、Δ1>Δsh1ある場合
には、前記最大値出力手段の出力信号Smax0を出力する
セレクタと、 で構成されていることを特徴とする撮像装置。3. The image pickup apparatus according to claim 1, wherein said flaw correction means is a signal S 1B obtained by individually delaying each of the signals S 1A to S 5A output from said filter means by one clock. a delay element for outputting to S 5B, this among at each signal S 1B to S 5B output from the respective delay elements, S 1B, S 3B, signals individually delayed one clock each signal S 5B A delay element that outputs S 1C , S 3C , and S 5C , a first minimum value output unit that compares the two signals S 2B and S 4B and outputs a smaller signal Smin 1 , A second minimum value output means for comparing the signals S 3A and S 3C and outputting a signal S min 2 having a smaller value; and the respective signals S 1A , S 1B , S 1C , S 5A , S 5B , S 5C , Smi
a maximum value output means for outputting a signal Smax 0 having a maximum value among n 1 and Smin 2 , and a signal Δ 1 obtained by subtracting the signal Smax 0 output from the maximum value output means from the signal S 3B. A subtractor; an output signal Δ 1 of the subtracter; and a preset reference value Δsh 1
And the comparator S compares the signal S 3B when the result of comparison by this comparator is Δ 1 ≦ Δsh 1 , and outputs the signal S 3B when Δ 1 > Δsh 1 An image pickup apparatus comprising: a selector for outputting an output signal Smax 0 of an output means;
と第2最小値出力手段の両出力信号Smin1,Smin2を比
較して値の大きい方の信号Smax3を出力する比較最大値
出力手段が設けられており、かつ、前記セレクタは、前
記比較器で比較した結果がΔ1≦Δsh1である場合には、
前記信号S3Bを出力し、また、Δ1>Δsh1ある場合に
は、前記比較最大値出力手段の出力信号Smax3を出力す
るように構成されていることを特徴とする撮像装置。4. The image pickup apparatus according to claim 3, wherein said flaw correcting means further compares the output signals Smin 1 and Smin 2 of said first minimum value output means and said second minimum value output means. The maximum value output means for outputting the signal Smax 3 of the larger value is provided, and when the result of comparison by the comparator is Δ 1 ≦ Δsh 1 ,
Outputs the signal S 3B, also, delta 1> if Δsh some 1 includes an imaging apparatus characterized by being configured to output an output signal Smax 3 of said comparison the maximum value output means.
において、 前記キズ補正手段は、 前記フィルタ手段から出力される各信号S1A〜S5Aを個
別に1クロック分遅延させた信号S1B〜S5Bを出力する
遅延素子と、 この各遅延素子から出力される各信号S1B〜S5Bの内
で、S1B,S3B,S5Bの各信号を個別に1クロック分遅
延させた信号S1C,S3C,S5Cを出力する遅延素子と、 前記2つの信号S2B,S4Bを比較して値の大きい方の信
号Smax1を出力する第1最大値出力手段と、 前記2つの信号S3A,S3Cを比較して値の大きい方の信
号Smax2を出力する第2最大値出力手段と、 前記各信号S1A,S1B,S1C,S5A,S5B,S5C,Sma
x1,Smax2の内で最小値となる信号Smin0を出力する最
小値出力手段と、 前記信号S3Bから前記最小値出力手段から出力される信
号Smin0を減算した信号Δ2を出力する減算器と、 この減算器の出力信号Δ2と予め設定された基準値Δsh2
とを比較する比較器と、 この比較器で比較した結果がΔ2≦Δsh2である場合に
は、前記信号S3Bを出力し、また、Δ2>Δsh2ある場合
には、前記最小値出力手段の出力信号Smin0を出力する
セレクタと、 で構成されていることを特徴とする撮像装置。5. The imaging apparatus according to claim 1 or claim 2, wherein the defect correcting means, each signal S 1A to S 5A individually signal S 1B which is delayed one clock output from said filter means a delay element for outputting to S 5B, this among at each signal S 1B to S 5B output from the respective delay elements, S 1B, S 3B, signals individually delayed one clock each signal S 5B A delay element that outputs S 1C , S 3C , and S 5C , a first maximum value output unit that compares the two signals S 2B and S 4B and outputs a larger signal Smax 1 , Second maximum value output means for comparing the signals S 3A and S 3C and outputting a signal S max 2 having a larger value; and the respective signals S 1A , S 1B , S 1C , S 5A , S 5B , S 5C , Sma
a minimum value output means for outputting a signal Smin 0 having a minimum value among x 1 and Smax 2 , and a signal Δ 2 obtained by subtracting the signal Smin 0 output from the minimum value output means from the signal S 3B. A subtractor; an output signal Δ 2 of the subtracter; and a preset reference value Δsh 2
The signal S 3B is output when the result of comparison by this comparator is Δ 2 ≦ Δsh 2 , and when Δ 2 > Δsh 2 , the minimum value is output. An image pickup apparatus comprising: a selector for outputting an output signal Smin 0 of an output unit;
と第2最大値出力手段の両出力信号Smax1,Smax2を比
較して値の小さい方の信号Smin3を出力する比較最小値
出力手段が設けられており、かつ、前記セレクタは、前
記比較器で比較した結果がΔ2≦Δsh2である場合には、
前記信号S3Bを出力し、また、Δ2>Δsh2ある場合に
は、前記比較最小値出力手段の出力信号Smin3を出力す
るように構成されていることを特徴とする撮像装置。6. The imaging apparatus according to claim 5, wherein the flaw correcting means further compares the output signals Smax 1 and Smax 2 of the first maximum value output means and the second maximum value output means to obtain a value. A comparison minimum value output means for outputting a signal Smin 3 having a smaller value, and the selector, when a result of comparison by the comparator is Δ 2 ≦ Δsh 2 ,
Outputs the signal S 3B, also, delta 2> when .DELTA.Sh 2 there is an imaging apparatus characterized by being configured to output an output signal Smin 3 of the comparison minimum value output means.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100431340C (en) * | 2001-09-28 | 2008-11-05 | 松下电器产业株式会社 | Solid imaging equipment |
JP2009027253A (en) * | 2007-07-17 | 2009-02-05 | Canon Inc | Image pickup device and imaging apparatus |
-
2000
- 2000-03-07 JP JP2000061592A patent/JP2001251559A/en active Pending
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JP2009027253A (en) * | 2007-07-17 | 2009-02-05 | Canon Inc | Image pickup device and imaging apparatus |
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