JP2001250341A - Asymmetry detecting device, jitter detecting device and recording and reproducing device - Google Patents

Asymmetry detecting device, jitter detecting device and recording and reproducing device

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JP2001250341A
JP2001250341A JP2000392982A JP2000392982A JP2001250341A JP 2001250341 A JP2001250341 A JP 2001250341A JP 2000392982 A JP2000392982 A JP 2000392982A JP 2000392982 A JP2000392982 A JP 2000392982A JP 2001250341 A JP2001250341 A JP 2001250341A
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JP
Japan
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sample data
recording
signal
jitter
asymmetry
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JP2000392982A
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Japanese (ja)
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Takeshi Nakajima
健 中嶋
Shinichi Konishi
信一 小西
Seijun Miyashita
晴旬 宮下
Toshihiko Takahashi
利彦 高橋
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect the jitters and asymmetry of regenerative signals by using sampled data. SOLUTION: The asymmetry detecting device has a clock former which forms a clock signal in accordance with the regenerative signals, an analog-to- digital converter which samples the regenerative signals in synchronization with the clock signal, a decider which decides whether the magnitude of each of a plurality of the sample data obtained by sampling is above a prescribed level or not and a detector which detects the asymmetry of the regenerative signal by using the prescribed sample data in accordance with the output from the decider. The jitter detecting device has a clock former which forms the clock signal in accordance with the regenerative signals, an analog-to-digital converter which samples the regenerative signals in synchronization with the clock signal, and the decider which decides whether the magnitude of each of a plurality of the sample data obtained by sampling is above the prescribed level or not and the detector which detects the jitter of the regenerative signal by using the prescribed sample data in a plurality of the sample data in accordance with the output from the decider.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体を用いて
デジタル情報を記録/再生する装置に関し、より具体的
には、記録媒体から得られた再生信号のジッタあるいは
アシンメトリーを検出する技術に関する。
The present invention relates to an apparatus for recording / reproducing digital information using a recording medium, and more particularly, to a technique for detecting jitter or asymmetry of a reproduction signal obtained from a recording medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、リムーバブルな記録媒体に対
してデジタル情報を記録し、記録媒体からデジタル情報
を再生することができる記録再生装置が知られている。
記録媒体としては、相変化媒体や光磁気媒体などから形
成された記録層を有する光ディスクが広く用いられてい
る。
2. Description of the Related Art A recording / reproducing apparatus capable of recording digital information on a removable recording medium and reproducing the digital information from the recording medium has been known.
As a recording medium, an optical disk having a recording layer formed of a phase change medium, a magneto-optical medium, or the like is widely used.

【0003】相変化媒体を有する光ディスクにレーザ光
を用いてデジタル情報を記録する場合などにおいて、図
17(a)に示すような波形を有するレーザ光が光ディ
スクに対して照射される。これにより、光ディスク上に
は、図17(b)に示すように、記録すべきデジタルデ
ータに応じた長さを有するマークが記録される。光ディ
スク上に記録されたマークは、レーザ光を用いて読出さ
れ、再生信号として、図17(c)に示すような連続的
なアナログ信号が検出される。このアナログ再生信号
は、所定のレベルLvでスライスされることによって図
17(d)に示すような2値信号に変換され、この2値
信号からデジタル情報が再生される。
In a case where digital information is recorded on an optical disk having a phase change medium using a laser beam, a laser beam having a waveform as shown in FIG. 17A is applied to the optical disk. As a result, a mark having a length corresponding to the digital data to be recorded is recorded on the optical disc, as shown in FIG. The mark recorded on the optical disk is read using a laser beam, and a continuous analog signal as shown in FIG. 17C is detected as a reproduction signal. The analog reproduction signal is converted into a binary signal as shown in FIG. 17D by being sliced at a predetermined level Lv, and digital information is reproduced from the binary signal.

【0004】しかし、同じレーザパワーおよびパルス波
形を有するレーザ光を用いて記録を行なったときにも、
装置や記録媒体の個体差によって、記録媒体上に形成さ
れる記録マークの形状が異り得る。記録マークの形状が
所望の形状からずれていると、上記アナログ再生信号の
波形や2値信号の波形も、本来の波形からずれることに
なり、再生信号の品質が低下する。従って、記録再生装
置では、記録媒体上に記録した信号を再生したときの再
生信号の品質が、装置または記録媒体ごとに大きく異な
るという問題があった。
However, when recording is performed using laser light having the same laser power and pulse waveform,
The shape of the recording mark formed on the recording medium may differ depending on the individual difference between the device and the recording medium. If the shape of the recording mark deviates from the desired shape, the waveform of the analog reproduction signal and the waveform of the binary signal also deviate from the original waveform, and the quality of the reproduction signal deteriorates. Therefore, the recording / reproducing apparatus has a problem in that the quality of a reproduced signal when reproducing a signal recorded on a recording medium greatly differs depending on the apparatus or the recording medium.

【0005】このような再生信号の信頼性の低下を防止
するために、記録再生装置では記録媒体の装填時などに
おいてテスト記録や校正動作が行われている。具体的に
は、予め知られているパターンを有するデータを記録媒
体上の所定の領域に記録し、記録されたデータを再生し
たときの信号品質を計測する。記録再生装置は、計測さ
れた信号品質に基づいて、再生系の特性の最適化や、記
録に関するパラメータ(記録パラメータ)の最適化を行
う。
In order to prevent such a decrease in the reliability of the reproduced signal, test recording and calibration are performed in the recording / reproducing apparatus when a recording medium is loaded. Specifically, data having a known pattern is recorded in a predetermined area on a recording medium, and the signal quality when the recorded data is reproduced is measured. The recording / reproducing apparatus optimizes the characteristics of the reproducing system and optimizes parameters related to recording (recording parameters) based on the measured signal quality.

【0006】再生信号の品質は、例えば、誤り率や、ジ
ッタ(再生信号の時間軸方向の揺れ)によって判断され
る。記録再生装置は、再生信号の誤り率やジッタが最小
となるように、再生系の特性あるいは記録パラメータの
最適化を行なう。
[0006] The quality of a reproduced signal is determined, for example, by an error rate or jitter (fluctuation in the time axis direction of the reproduced signal). The recording / reproducing apparatus optimizes the characteristics of the reproducing system or the recording parameters so as to minimize the error rate and jitter of the reproduced signal.

【0007】特に、レーザ光等を用いて熱によって情報
が記録される記録媒体においては、前後の記録パターン
で熱干渉が生じるため、媒体上に形成される記録マーク
の形状が所望の形状と異なり易い。このような記録媒体
に対して記録を行なう場合、個々の記録パターンに対し
て最適な記録パラメータを設定することが必要となる。
Particularly, in a recording medium on which information is recorded by heat using a laser beam or the like, heat interference occurs between the recording patterns before and after the recording medium, so that the shape of the recording mark formed on the medium differs from the desired shape. easy. When recording is performed on such a recording medium, it is necessary to set optimal recording parameters for each recording pattern.

【0008】記録パラメータには、図17(a)に示す
ように、記録パルス幅というような時間軸方向のパラメ
ータと、記録パワーというような再生信号振幅方向のパ
ラメータとがある。記録パルスの時間軸方向のパラメー
タを評価するためには、上記ジッタを用いることができ
る。一方、振幅方向のパラメータを評価するためには、
再生信号の非対称性、いわゆるアシンメトリーを用いる
ことができる。記録パワーが適切でない場合、再生信号
のアシンメトリーが発生する。
As shown in FIG. 17A, recording parameters include a parameter in a time axis direction such as a recording pulse width and a parameter in a reproduction signal amplitude direction such as a recording power. The above-mentioned jitter can be used to evaluate the parameters of the recording pulse in the time axis direction. On the other hand, to evaluate the parameters in the amplitude direction,
Asymmetry of the reproduced signal, so-called asymmetry, can be used. If the recording power is not appropriate, asymmetry of the reproduced signal occurs.

【0009】以下、図13〜図15を参照しながら、再
生信号のジッタおよびアシンメトリーを用いて記録パラ
メータの校正動作を行なう従来の光ディスク記録再生装
置の構成を説明する。
A configuration of a conventional optical disk recording / reproducing apparatus that performs a calibration operation of a recording parameter using jitter and asymmetry of a reproduced signal will be described below with reference to FIGS.

【0010】図13に示すように、光ディスク1からの
反射光は、光ヘッド2のピックアップ部分においてフォ
トダイオードなどによって電気信号に変換され、これに
より光ディスクに記録されたデジタル情報に対応したア
ナログ再生信号が生成される。このようにして得られた
再生信号は波形等化器3により波形整形される。波形整
形された再生信号は、コンパレータ15(図14参照)
などを用いて構成される2値化回路4によって所定レベ
ルVcでスライスされ、連続的な2値信号に変換され
る。
As shown in FIG. 13, the reflected light from the optical disk 1 is converted into an electric signal by a photodiode or the like at a pickup portion of the optical head 2, whereby an analog reproduction signal corresponding to the digital information recorded on the optical disk. Is generated. The waveform of the reproduced signal thus obtained is shaped by the waveform equalizer 3. The waveform-shaped reproduced signal is supplied to a comparator 15 (see FIG. 14).
Is sliced at a predetermined level Vc by a binarizing circuit 4 and converted into a continuous binary signal.

【0011】2値化回路4から出力された2値信号は、
位相比較器5、LPF(ローパスフィルタ)6、および
VCO(電圧制御発振器)7を用いて構成されるPLL
回路に入力され、PLL回路において再生クロック信号
が生成される。位相比較器5において、入力された2値
信号とVCO7から出力されたクロック信号とが比較さ
れ、これらの位相誤差が検出される。検出された位相誤
差は、コンデンサなどを用いて構成されたLPF6によ
って平均化処理され、VCO7を駆動する電圧に変換さ
れる。このように位相誤差の大きさに応じてVCO7の
駆動電圧を変化させることにより、位相比較器5から出
力される位相誤差が0に近づくようにVCO7の発振周
波数がフィードバック制御される。このようにして、2
値信号と同期した再生クロック信号を生成することがで
きる。
The binary signal output from the binarizing circuit 4 is
PLL configured by using a phase comparator 5, an LPF (low-pass filter) 6, and a VCO (voltage controlled oscillator) 7
The reproduced clock signal is input to the circuit and is generated in the PLL circuit. In the phase comparator 5, the input binary signal and the clock signal output from the VCO 7 are compared, and these phase errors are detected. The detected phase error is averaged by the LPF 6 configured using a capacitor or the like, and is converted into a voltage for driving the VCO 7. By changing the drive voltage of the VCO 7 in accordance with the magnitude of the phase error in this way, the oscillation frequency of the VCO 7 is feedback controlled so that the phase error output from the phase comparator 5 approaches zero. Thus, 2
A reproduced clock signal synchronized with the value signal can be generated.

【0012】上述のようにPLL回路を用いて2値信号
と同期した再生クロック信号がVCO7から出力されて
いる状態であっても、記録されたマークの長さが理想的
な長さと異なることなどに起因して、2値信号と再生ク
ロック信号との間には位相誤差が発生する。ジッタ検出
回路11は、位相比較器5から出力された位相誤差の絶
対値を所定の時間または所定のゼロクロスポイント分だ
け積分し、ジッタ量を算出する。このジッタ量は、個々
の記録パターン毎に算出される。
As described above, even when the reproduced clock signal synchronized with the binary signal is output from the VCO 7 using the PLL circuit, the length of the recorded mark is different from the ideal length. , A phase error occurs between the binary signal and the reproduced clock signal. The jitter detection circuit 11 calculates the amount of jitter by integrating the absolute value of the phase error output from the phase comparator 5 for a predetermined time or a predetermined zero cross point. This jitter amount is calculated for each recording pattern.

【0013】このようにして算出されたジッタ量は、記
録パラメータ設定回路12へと送られる。記録パラメー
タ設定回路12は、入力されたジッタ量の大きさに基づ
いて、記録パルス幅などの記録パラメータが適切である
かどうかを判断する。記録パラメータが適切でないと判
断された場合、より適切な記録パラメータを推定し、こ
れを記録補償回路9に出力する。
The jitter amount calculated in this way is sent to the recording parameter setting circuit 12. The recording parameter setting circuit 12 determines whether recording parameters such as a recording pulse width are appropriate based on the magnitude of the input jitter amount. If it is determined that the recording parameters are not appropriate, a more appropriate recording parameter is estimated and output to the recording compensation circuit 9.

【0014】記録補償回路9は、記録パラメータ設定回
路12から出力された記録パラメータを用いて、パター
ン発生回路8から得た記録パターンをパルス波形に変換
する。このようにして形成されたパルス波形に従ってレ
ーザ駆動回路10は光ディスク1に対して記録を行な
う。その後、記録されたデジタル情報が再び再生され、
上述と同様にしてジッタ量が判定される。記録再生装置
は、記録パラメータ設定回路12において、ジッタ量が
所定のレベル以下であると判断されるまで、記録パラメ
ータの最適化を行なう。
The recording compensation circuit 9 uses the recording parameters output from the recording parameter setting circuit 12 to convert the recording pattern obtained from the pattern generating circuit 8 into a pulse waveform. The laser drive circuit 10 performs recording on the optical disk 1 according to the pulse waveform formed in this manner. After that, the recorded digital information is reproduced again,
The amount of jitter is determined in the same manner as described above. The recording / reproducing apparatus optimizes the recording parameters until the recording parameter setting circuit 12 determines that the jitter amount is equal to or less than the predetermined level.

【0015】次に、再生信号のアシンメトリーを用いて
校正動作を行なう場合を説明する。図14は、従来のア
シンメトリー検出部の構成を示す。また、図15にアシ
ンメトリーを有する再生信号の具体例を示す。
Next, a case where a calibration operation is performed using asymmetry of a reproduced signal will be described. FIG. 14 shows a configuration of a conventional asymmetry detection unit. FIG. 15 shows a specific example of a reproduced signal having asymmetry.

【0016】図14に示すように、アシンメトリー検出
部は、図13に示した2値化回路4のコンパレータ15
で用いられるスライスレベル(中心電圧)Vcが入力さ
れるアシンメトリー検出回路17と、ピーク側包絡電圧
検出回路13およびボトム側包絡電圧検出回路14とを
有している。
As shown in FIG. 14, the asymmetry detecting section is provided with a comparator 15 of the binarizing circuit 4 shown in FIG.
Has an asymmetry detection circuit 17 to which the slice level (center voltage) Vc used in the above is input, a peak-side envelope voltage detection circuit 13 and a bottom-side envelope voltage detection circuit 14.

【0017】テスト記録時に、アシンメトリー検出用
に、マーク/スペースのデューティー比が50%となる
ような連続パターンが記録され、図15に示すようなア
ナログ再生信号が得られたものとする。ピーク側包絡電
圧検出回路13は再生信号のピーク側の包絡電圧Vpを
検出し、ボトム側包絡電圧検出回路14は再生信号のボ
トム側の包絡電圧Vbを検出する。これらの包絡電圧検
出回路13,14として、サンプルホールド回路が利用
される。
At the time of test recording, it is assumed that a continuous pattern having a mark / space duty ratio of 50% is recorded for asymmetry detection, and an analog reproduction signal as shown in FIG. 15 is obtained. The peak-side envelope voltage detection circuit 13 detects the peak-side envelope voltage Vp of the reproduction signal, and the bottom-side envelope voltage detection circuit 14 detects the bottom-side envelope voltage Vb of the reproduction signal. Sample and hold circuits are used as the envelope voltage detection circuits 13 and 14.

【0018】また再生信号はコンパレータ15によって
中心電圧Vcでスライスされ、2値信号に変換される。
この中心電圧Vcは、コンパレータ15の出力側に接続
された積分回路16を用いてフィードバック制御されて
いる。これは、媒体上に記録されたデジタル情報列が直
流成分を有さない(DCフリー)ことを利用し、外的要
因(例えば、記録媒体の反射率変動など)によって生じ
る再生信号の変動を補正することによって、コンパレー
タ15から出力される2値信号のデューティー比を50
%にするためである。中心電圧Vcが適切なレベルより
も高い側にシフトしている場合、出力される2値信号の
オンデューティが小さくなり、中心電圧Vcが適切なレ
ベルよりも低い側にシフトしている場合、2値信号のオ
ンデューティが大きくなる。
The reproduced signal is sliced by the comparator 15 at the center voltage Vc and converted into a binary signal.
This center voltage Vc is feedback-controlled using an integrating circuit 16 connected to the output side of the comparator 15. This utilizes the fact that the digital information sequence recorded on the medium has no DC component (DC free), and corrects the fluctuation of the reproduction signal caused by an external factor (for example, the fluctuation of the reflectance of the recording medium). As a result, the duty ratio of the binary signal output from the comparator 15 becomes 50
%. When the center voltage Vc shifts to a higher level than the appropriate level, the on-duty of the output binary signal decreases, and when the center voltage Vc shifts to a lower level than the appropriate level, 2 The on-duty of the value signal increases.

【0019】このために設けられた積分回路16は、出
力された2値信号を平滑化処理することによって中心電
圧Vcを生成している。このようなフィードバック制御
を行なうことによって、中心電圧Vcのレベルは、コン
パレータ15から出力される2値信号のデューティ比が
50%となるようなレベルに設定される。
The integration circuit 16 provided for this purpose generates the center voltage Vc by smoothing the output binary signal. By performing such feedback control, the level of the center voltage Vc is set to a level at which the duty ratio of the binary signal output from the comparator 15 becomes 50%.

【0020】この結果、図15に示すように、上述の中
心電圧Vcと、再生信号の振幅の中央レベルとは異なる
ようになる。アシンメトリー検出回路17には、ピーク
側包絡電圧Vp、ボトム側包絡電圧Vb、中心電圧Vc
が入力され、これらに基づいてアシンメトリー量Asが
次式 As=(Vp+Vb)/2−Vc によって算出される。このようにして検出されたアシン
メトリー量Asは、図13に示した記録パラメータ設定
回路12へと送られる。記録パラメータ設定回路12
は、アシンメトリー量Asの値に応じて、記録パワーの
調節を行なう。このようにして、記録再生装置では、ア
シンメトリー量が所望の範囲内に収まるように記録パワ
ーの校正が行なわれる。
As a result, as shown in FIG. 15, the center voltage Vc differs from the center level of the amplitude of the reproduced signal. The asymmetry detection circuit 17 includes a peak-side envelope voltage Vp, a bottom-side envelope voltage Vb, and a center voltage Vc.
Is input, and based on these, the asymmetry amount As is calculated by the following equation: As = (Vp + Vb) / 2−Vc. The asymmetry amount As detected in this manner is sent to the recording parameter setting circuit 12 shown in FIG. Recording parameter setting circuit 12
Adjusts the recording power according to the value of the asymmetry amount As. Thus, in the recording / reproducing apparatus, the recording power is calibrated so that the asymmetry amount falls within a desired range.

【0021】このようにテスト記録を行ない、再生信号
から得られたジッタ量またはアシンメトリー量に基づい
て記録パラメータを適切に選択すれば、装置または記録
媒体の個体差にかかわらず、より高品位な再生信号が得
られる条件で情報の記録を行なうことができるようにな
る。
If test recording is performed as described above and recording parameters are appropriately selected based on the amount of jitter or asymmetry obtained from the reproduced signal, higher-quality reproduction can be performed regardless of individual differences between devices or recording media. Information can be recorded under the condition that a signal can be obtained.

【0022】[0022]

【発明が解決しようとする課題】一方、近年において
は、記録媒体の記録密度が著しく上昇している。このよ
うに高密度記録された情報を再生する方式として、パー
シャルレスポンス等化(以下「PR等化」と称する)と
ビタビ復号とを組み合わせたPRML(Partial Respon
se Maximum Likelihood)方式と呼ばれる再生信号の検
出方法(米国特許第5,719,843号参照)が用い
られている。図16に一般的なPRML方式による信号
処理回路を示す。
On the other hand, in recent years, the recording density of a recording medium has been significantly increased. As a method for reproducing information recorded in such a high density, PRML (Partial Respond) combining partial response equalization (hereinafter referred to as "PR equalization") and Viterbi decoding is used.
A method of detecting a reproduced signal called a "se Maximum Likelihood" method (see U.S. Pat. No. 5,719,843) is used. FIG. 16 shows a signal processing circuit based on a general PRML system.

【0023】図示するように、この信号処理回路は、再
生信号の信号振幅を所定値に調整するAGC(Automati
c Gain Control)回路18と、不要な高域のノイズ成分
を除去し、必要な信号帯域の強調を行う波形等化器19
と、再生信号をチャネルクロック(サンプリングクロッ
ク)でサンプリングするA/D変換器20と、周波数特
性が所定のPR等化となるようにサンプルデータを等化
するデジタルフィルタ21と、離散的なサンプルデータ
から最尤な(前後の時点での情報に基づいて確率的に最
も確からしい)2値化結果を出力するビタビ復号器22
と、離散サンプルデータから位相誤差を検出する位相比
較器23と、再生クロックを抽出するLPF(ローパス
フィルタ)24と、LPF24の出力であるデジタル値
をアナログ値に変換するD/A変換器25と、VCO2
6とを備えている。
As shown in the figure, this signal processing circuit adjusts the signal amplitude of a reproduced signal to a predetermined value by an AGC (Automati
c Gain Control) circuit 18 and a waveform equalizer 19 for removing unnecessary high-frequency noise components and emphasizing a necessary signal band.
An A / D converter 20 for sampling a reproduced signal with a channel clock (sampling clock), a digital filter 21 for equalizing the sample data so that the frequency characteristic has a predetermined PR equalization, and discrete sample data. A Viterbi decoder 22 that outputs the most likely (in most probable probability based on information at the preceding and following points) binarized result
A phase comparator 23 for detecting a phase error from discrete sample data, an LPF (low-pass filter) 24 for extracting a reproduced clock, and a D / A converter 25 for converting a digital value output from the LPF 24 into an analog value. , VCO2
6 is provided.

【0024】上記信号処理回路では、A/D変換器20
を用いてアナログ再生信号をサンプリングおよび量子化
することによって得られた多値レベルのサンプルデータ
から、原デジタル情報を再生している。また、A/D変
換器20におけるサンプリングクロックは、位相比較器
23を用いてサンプルデータから位相誤差を算出し、こ
の位相誤差に応じてVCO26の発振周波数を制御する
ことによってフィードバック制御されている。これによ
り、再生信号と同期したサンプリングクロックでサンプ
ルデータが生成される。
In the signal processing circuit, the A / D converter 20
The original digital information is reproduced from the multi-level sample data obtained by sampling and quantizing the analog reproduction signal by using. The sampling clock in the A / D converter 20 is feedback-controlled by calculating a phase error from the sample data using the phase comparator 23 and controlling the oscillation frequency of the VCO 26 according to the phase error. As a result, sample data is generated with a sampling clock synchronized with the reproduction signal.

【0025】上記PRML信号処理を用いる光ディスク
記録再生装置を用いた場合にも、再生信号のアシンメト
リーおよびジッタを検出し、記録時における記録パラメ
ータの最適化を行なうことが好ましい。しかし、このよ
うな記録再生装置に対して、図13および図14に示し
たような従来の検出方式を採用した場合、回路全体の規
模が大きくなるという問題が生じる。図14に示した従
来のアシンメトリー検出回路では、ピーク側包絡電圧検
出回路13とボトム側包絡電圧検出回路14とを用いて
包絡電圧を検出している。また、図13に示した従来の
ジッタ検出回路11は、位相比較器5からの位相誤差検
出パルス幅の絶対値の平均を求めることでジッタ量を検
出しており、このためにアナログPLL回路が必要とな
る。このように、記録パラメータの最適化を行なうため
のアナログ信号処理回路と、PRML方式に適合するデ
ジタル信号処理回路との両方を備えた記録再生装置で
は、回路規模が不必要に大きくなるという問題が生じ
る。
Even when an optical disk recording / reproducing apparatus using the above PRML signal processing is used, it is preferable to detect the asymmetry and jitter of the reproduced signal and optimize the recording parameters at the time of recording. However, when such a recording / reproducing apparatus adopts the conventional detection method as shown in FIGS. 13 and 14, there is a problem that the scale of the entire circuit becomes large. In the conventional asymmetry detection circuit shown in FIG. 14, an envelope voltage is detected by using a peak-side envelope voltage detection circuit 13 and a bottom-side envelope voltage detection circuit 14. Further, the conventional jitter detection circuit 11 shown in FIG. 13 detects the amount of jitter by calculating the average of the absolute values of the pulse widths of the phase error detection pulses from the phase comparator 5. Required. As described above, the recording / reproducing apparatus including both the analog signal processing circuit for optimizing the recording parameters and the digital signal processing circuit conforming to the PRML method has a problem that the circuit scale becomes unnecessarily large. Occurs.

【0026】本発明は、上述の課題を解決するために為
されたものであり、再生信号をサンプリングすることに
よって得られたサンプルデータから再生信号のジッタ量
およびアシンメトリー量を検出することができる装置ま
たは方法を提供することをその目的とする。また、この
ような検出装置を用いて記録パラメータの最適化を行な
う記録再生装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and is an apparatus capable of detecting a jitter amount and an asymmetry amount of a reproduction signal from sample data obtained by sampling the reproduction signal. Or to provide a method. It is another object of the present invention to provide a recording / reproducing apparatus for optimizing recording parameters using such a detecting apparatus.

【0027】[0027]

【課題を解決するための手段】本発明のアシンメトリー
検出回路は、記録媒体上に記録されたデジタル情報を再
生することによって得られた再生信号のアシンメトリー
を検出するアシンメトリー検出装置であって、前記再生
信号に基づいてクロック信号を生成するクロック生成器
と、前記クロック信号に同期して、前記再生信号のサン
プリングを行なうA/D変換器と、前記サンプリングに
よって得られた複数のサンプルデータのそれぞれの大き
さが所定のレベル以上であるか否かを判定する判定器
と、前記判定器からの出力に基づいて前記複数のサンプ
ルデータのうちの所定のサンプルデータを選択し、前記
選択された所定のサンプルデータを用いて前記再生信号
のアシンメトリーを検出する検出器とを備える。
An asymmetry detection circuit according to the present invention is an asymmetry detection apparatus for detecting the asymmetry of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, wherein A clock generator that generates a clock signal based on a signal, an A / D converter that samples the reproduction signal in synchronization with the clock signal, and a size of each of a plurality of sample data obtained by the sampling. And a determiner for determining whether or not is greater than or equal to a predetermined level, and selecting predetermined sample data among the plurality of sample data based on an output from the determiner, and selecting the selected predetermined sample. A detector for detecting asymmetry of the reproduction signal using data.

【0028】好ましい実施形態において、前記検出器
は、前記判定器からの出力に基づき、前記複数のサンプ
ルデータのうち最大値を有するサンプルデータおよび最
小値を有するサンプルデータを選択する。
In a preferred embodiment, the detector selects sample data having a maximum value and sample data having a minimum value from the plurality of sample data based on an output from the determiner.

【0029】好ましい実施形態において、前記検出器
は、前記最大値を有するサンプルデータおよび最小値を
有するサンプルデータを累積的に加算し、これにより再
生信号のアシンメトリーを検出する。
In a preferred embodiment, the detector accumulatively adds the sample data having the maximum value and the sample data having the minimum value, thereby detecting the asymmetry of the reproduced signal.

【0030】好ましい実施形態において、前記判定器
は、サンプルデータの極性に関する情報を取得し、前記
検出器は、前記極性に基づいて最大値を有するサンプル
データおよび最小値を有するサンプルデータを検出す
る。
[0030] In a preferred embodiment, the determiner acquires information on the polarity of the sample data, and the detector detects sample data having a maximum value and sample data having a minimum value based on the polarity.

【0031】好ましい実施形態において、前記クロック
信号生成器は、前記サンプルデータを用いて、前記再生
信号とクロック信号との位相誤差を検出し、前記検出さ
れた位相誤差に基づいて前記クロック信号をフィードバ
ック制御する。
In a preferred embodiment, the clock signal generator detects a phase error between the reproduced signal and the clock signal using the sample data, and feeds back the clock signal based on the detected phase error. Control.

【0032】本発明の記録再生装置は、上記アシンメト
リー検出装置と、前記アシンメトリー検出装置によって
検出された再生信号のアシンメトリーに応じて、記録に
関するパラメータを設定する記録パラメータ設定部と、
前記記録パラメータを用いて、前記記録媒体上にデジタ
ル情報を記録する記録装置とを備える。
The recording / reproducing apparatus of the present invention comprises the above-mentioned asymmetry detecting apparatus, a recording parameter setting section for setting parameters relating to recording according to the asymmetry of the reproduced signal detected by the asymmetry detecting apparatus,
A recording device for recording digital information on the recording medium using the recording parameters.

【0033】本発明のジッタ検出装置は、記録媒体上に
記録されたデジタル情報を再生することによって得られ
た再生信号のジッタを検出するジッタ検出装置であっ
て、前記再生信号に基づいてクロック信号を生成するク
ロック生成器と、前記クロック信号に同期して、前記再
生信号のサンプリングを行なうA/D変換器と、前記サ
ンプリングによって得られた複数のサンプルデータのそ
れぞれの大きさが所定レベル以上であるか否かを判定す
る判定器と、前記判定器からの出力に基づいて、前記複
数のサンプルデータのうちの所定のサンプルデータを用
いて前記再生信号のジッタを検出する検出器とを備え
る。
A jitter detector according to the present invention is a jitter detector for detecting a jitter of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, wherein the clock signal is detected based on the reproduced signal. , An A / D converter that performs sampling of the reproduction signal in synchronization with the clock signal, and a case where each of a plurality of sample data obtained by the sampling has a predetermined level or more. A determination unit that determines whether or not there is a signal; and a detector that detects a jitter of the reproduction signal using predetermined sample data of the plurality of sample data based on an output from the determination unit.

【0034】好ましい実施形態において、前記判定器
は、前記サンプルデータの極性に関する情報を取得す
る。
[0034] In a preferred embodiment, the determiner acquires information on the polarity of the sample data.

【0035】好ましい実施形態において、前記検出器
は、前記複数のサンプルデータの極性が反転するときの
サンプルデータを選択的に累積することによって前記再
生信号のジッタを検出する。
In a preferred embodiment, the detector detects the jitter of the reproduced signal by selectively accumulating the sample data when the polarity of the plurality of sample data is inverted.

【0036】好ましい実施形態において、前記検出器
は、前記所定のサンプルデータの位相誤差の絶対値を累
積する。
[0036] In a preferred embodiment, the detector accumulates the absolute value of the phase error of the predetermined sample data.

【0037】好ましい実施形態において、前記判定器か
らの出力に基づいて前記複数のサンプルデータが形成す
る信号パターンを検出する。
In a preferred embodiment, a signal pattern formed by the plurality of sample data is detected based on an output from the determiner.

【0038】好ましい実施形態において、前記信号パタ
ーンが所定のパターンであると判断された場合において
前記ジッタを検出することにより、前記所定のパターン
に関連するジッタを検出することができる。
In a preferred embodiment, when the signal pattern is determined to be a predetermined pattern, the jitter related to the predetermined pattern can be detected by detecting the jitter.

【0039】本発明の記録再生装置は、上記ジッタ検出
装置と、前記ジッタ検出装置によって検出された再生信
号のジッタに応じて、記録に関するパラメータを設定す
る記録パラメータ設定部と、前記記録パラメータを用い
て、前記記録媒体上にデジタル情報を記録する記録装置
とを備える。
A recording / reproducing apparatus according to the present invention uses the above-described jitter detecting apparatus, a recording parameter setting section for setting parameters relating to recording in accordance with the jitter of a reproduced signal detected by the jitter detecting apparatus, and using the recording parameters. A recording device for recording digital information on the recording medium.

【0040】本発明のアシンメトリー検出方法は、記録
媒体上に記録されたデジタル情報を再生することによっ
て得られた再生信号のアシンメトリーを検出する方法で
あって、前記再生信号に基づいてクロック信号を生成す
るステップと、前記クロック信号に同期して前記再生信
号のサンプリングを行なうステップと、前記サンプリン
グによって得られた複数のサンプルデータのうちの選択
されたサンプルデータを累積加算することにより、前記
再生信号のアシンメトリーを検出するステップとを包含
する。
The asymmetry detection method according to the present invention is a method for detecting the asymmetry of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, wherein a clock signal is generated based on the reproduced signal. Performing the sampling of the reproduction signal in synchronization with the clock signal; and accumulating and adding the selected sample data of the plurality of sample data obtained by the sampling, thereby obtaining the reproduction signal. Detecting asymmetry.

【0041】本発明のジッタ検出方法は、記録媒体上に
記録されたデジタル情報を再生することによって得られ
た再生信号のジッタを検出する方法であって、前記再生
信号に基づいてクロック信号を生成するステップと、前
記クロック信号に同期して、前記再生信号のサンプリン
グを行なうステップと、前記サンプリングによって得ら
れた複数のサンプルデータうちの選択されたサンプルデ
ータを累積加算することにより、前記再生信号のジッタ
を検出するステップとを包含する。
A jitter detection method according to the present invention is a method for detecting jitter of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, and generating a clock signal based on the reproduced signal. Performing the sampling of the reproduction signal in synchronization with the clock signal; and accumulating and adding the selected sample data of the plurality of sample data obtained by the sampling, thereby obtaining the reproduction signal. Detecting jitter.

【0042】本発明のアシンメトリー検出方法は、記録
媒体からの再生信号をパーシャルレスポンス等化するこ
とによって多値レベルの等化出力を得るステップと、前
記等化出力のうち、最大値を有する等化出力と最小値を
有する等化出力とを累積加算することによって、前記再
生信号のアシンメトリーを検出するステップとを包含す
る。
According to the asymmetric detection method of the present invention, a multi-level equalized output is obtained by equalizing a reproduced signal from a recording medium by a partial response, and an equalizing output having a maximum value among the equalized outputs is provided. Detecting the asymmetry of the reproduced signal by cumulatively adding the output and the equalized output having the minimum value.

【0043】[0043]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0044】図1は本発明の実施形態にかかる光ディス
ク記録再生装置を示すブロック図である。以下には、図
示する記録再生装置を用いてテスト記録を行なう場合を
説明する。
FIG. 1 is a block diagram showing an optical disk recording / reproducing apparatus according to an embodiment of the present invention. Hereinafter, a case where test recording is performed using the illustrated recording / reproducing apparatus will be described.

【0045】テスト記録において、光ディスクコントロ
ーラ39は初期設定された記録パラメータを記録補償回
路41に出力し、パターン発生回路40は所定の記録パ
ターンを記録補償回路41に出力する。記録補償回路4
1は、入力された記録パターンと記録パラメータとを用
いて、記録パターンに対応するレーザ発光制御パルス波
形を生成する。レーザ駆動回路42は、このレーザ発光
制御パルス波形に応じて光ヘッド28を駆動し、光ディ
スク27にデジタル情報を記録する。
In test recording, the optical disk controller 39 outputs the initially set recording parameters to the recording compensating circuit 41, and the pattern generating circuit 40 outputs a predetermined recording pattern to the recording compensating circuit 41. Recording compensation circuit 4
1 generates a laser emission control pulse waveform corresponding to a recording pattern using the input recording pattern and recording parameters. The laser drive circuit 42 drives the optical head 28 according to the laser emission control pulse waveform, and records digital information on the optical disk 27.

【0046】このときの記録状態が良いかどうかを検査
するために、次いで、上記光ディスク27に記録された
デジタル情報が再生される。
In order to check whether the recording state at this time is good, the digital information recorded on the optical disk 27 is reproduced.

【0047】まず、光ヘッド28を用いて再生用レーザ
が光ディスク27上に照射される。光ディスク27から
の反射光は、光ヘッド28のピックアップ部においてフ
ォトダイオードなどを用いて電気信号に変換され、アナ
ログ再生信号が生成される。生成された再生信号は増幅
された後に波形等化器29により波形整形される。波形
整形された再生信号は、複数のコンパレータなどを用い
て構成されるアナログ−デジタル変換器(A/D変換
器)30においてサンプリングおよび量子化され、これ
により、多値レベルを有するサンプルデータが生成され
る。サンプルデータは、デジタル信号としてA/D変換
器30から出力される。なお、A/D変換器30におけ
るサンプリング周波数は、VCO(電圧制御発振器)3
5の出力に基づいて決定される。
First, a reproduction laser is irradiated onto the optical disk 27 using the optical head 28. The light reflected from the optical disk 27 is converted into an electric signal using a photodiode or the like in the pickup section of the optical head 28, and an analog reproduction signal is generated. The waveform of the generated reproduction signal is shaped by a waveform equalizer 29 after being amplified. The waveform-shaped reproduced signal is sampled and quantized in an analog-to-digital converter (A / D converter) 30 configured using a plurality of comparators and the like, whereby sample data having a multi-level level is generated. Is done. The sample data is output from the A / D converter 30 as a digital signal. Note that the sampling frequency in the A / D converter 30 is a VCO (voltage controlled oscillator) 3
5 is determined based on the output.

【0048】帯域制限回路31は、量子化された再生信
号(サンプルデータ)に含まれ得る不要な低周波数成分
を除去する。帯域制限されたサンプルデータは、位相比
較処理ブロック32およびデジタルフィルタ43へと出
力される。
The band limiting circuit 31 removes unnecessary low frequency components that can be included in the quantized reproduction signal (sample data). The band-limited sample data is output to the phase comparison processing block 32 and the digital filter 43.

【0049】位相比較処理ブロック32は、入力された
信号に基づいて、再生信号とクロック信号(すなわちV
CO35の出力)との位相誤差を検出する。この位相誤
差の検出方法については後述する。LPF(ローパスフ
ィルタ)33は検出された位相誤差からVCO(電圧制
御発振器)35が追従すべき周波数成分を決定する。L
PF(ローパスフィルタ)33から出力された信号は、
デジタル−アナログ変換器(D/A変換器)34でアナ
ログ信号に変換され、VCO35の制御電圧として用い
られる。このように本実施形態では、デジタル信号処理
を行なう位相比較処理ブロック32およびLPF33
と、D/A変換器34と、VCO35とを用いてPLL
回路が構成されており、VCO35の発振周波数は、位
相誤差の大きさが0に近づくようにフィードバック制御
される。このようにして、再生信号と同期したクロック
信号が生成される。
The phase comparison processing block 32 generates a reproduction signal and a clock signal (ie, V
The phase error with the output of the CO 35 is detected. A method for detecting this phase error will be described later. An LPF (low-pass filter) 33 determines a frequency component to be followed by a VCO (voltage controlled oscillator) 35 from the detected phase error. L
The signal output from the PF (low-pass filter) 33 is
The signal is converted into an analog signal by a digital-analog converter (D / A converter) 34 and used as a control voltage of the VCO 35. As described above, in the present embodiment, the phase comparison processing block 32 and the LPF 33 that perform digital signal processing
, A D / A converter 34, and a VCO 35
A circuit is configured, and the oscillation frequency of the VCO 35 is feedback-controlled so that the magnitude of the phase error approaches zero. In this way, a clock signal synchronized with the reproduction signal is generated.

【0050】一方、デジタルフィルタ43は、帯域制限
回路31からの出力に対して所定のパーシャルレスポン
ス等化(PR等化)となるように波形整形を行う。デジ
タルフィルタ43からの等化出力は、ビタビ復号器44
において復号され、最尤な2値化出力が生成される。2
値化出力は、光ディスクコントローラ39を介して、次
段のデジタル信号処理回路へ送られる。このデジタル信
号処理回路において誤り訂正処理などが行なわれ、所望
の再生データを得ることができる。
On the other hand, the digital filter 43 shapes the waveform of the output from the band limiting circuit 31 so as to achieve a predetermined partial response equalization (PR equalization). An equalized output from the digital filter 43 is output to a Viterbi decoder 44.
And a maximum likelihood binarized output is generated. 2
The digitized output is sent to the next-stage digital signal processing circuit via the optical disk controller 39. Error correction processing and the like are performed in this digital signal processing circuit, and desired reproduction data can be obtained.

【0051】本実施形態の記録再生装置では、位相比較
処理ブロック32からの出力に基づいて再生信号のアシ
ンメトリーおよびジッタを検出するアシンメトリー検出
処理ブロック37およびジッタ検出処理ブロック38が
設けられている。
The recording / reproducing apparatus of this embodiment is provided with an asymmetry detection processing block 37 and a jitter detection processing block 38 for detecting the asymmetry and the jitter of the reproduced signal based on the output from the phase comparison processing block 32.

【0052】アシンメトリー検出処理ブロック37に
は、帯域制限回路31および位相比較処理ブロック32
を介して、A/D変換器30によって生成された多値の
離散的なサンプルデータSDが入力される。また、その
サンプルデータSDについての極性判定情報POLが入
力される。アシンメトリー検出処理ブロック37は、極
性判定情報POLに基づいて選択されたサンプルデータ
SDを用いて、デジタルアシンメトリー情報Asを算出
する。アシンメトリー情報Asは、光ディスクコントロ
ーラ39に送られる。
The asymmetry detection processing block 37 includes a band limiting circuit 31 and a phase comparison processing block 32.
, Multi-valued discrete sample data SD generated by the A / D converter 30 is input. Further, polarity determination information POL for the sample data SD is input. The asymmetry detection processing block 37 calculates digital asymmetry information As using the sample data SD selected based on the polarity determination information POL. The asymmetry information As is sent to the optical disk controller 39.

【0053】一方、ジッタ検出処理ブロック38には、
位相比較処理ブロック32によって検出された位相誤差
の絶対値Absと極性判定情報POLとが入力される。
ジッタ検出処理ブロック38は、サンプルデータSDが
示す信号パターンを極性判定情報POLから検出すると
ともに、サンプルデータSDに関する位相誤差絶対値A
bsを用いてデジタルジッタ情報Jrを算出する。ジッ
タ情報Jrもまた、光ディスクコントローラ39に送ら
れる。
On the other hand, the jitter detection processing block 38 includes:
The absolute value Abs of the phase error detected by the phase comparison processing block 32 and the polarity determination information POL are input.
The jitter detection processing block 38 detects a signal pattern indicated by the sample data SD from the polarity determination information POL, and detects a phase error absolute value A related to the sample data SD.
The digital jitter information Jr is calculated by using the bs. The jitter information Jr is also sent to the optical disk controller 39.

【0054】光ディスクコントローラ39は、アシンメ
トリー検出処理ブロック37から入力されたデジタルア
シンメトリー情報Asやジッタ検出処理ブロック38か
ら入力されたデジタルジッタ情報Jrに基づいて、記録
パワーや記録パルス幅などの記録パラメータが適切であ
るかどうかを判定する。アシンメトリー情報Asまたは
ジッタ情報Jrから、初期設定の記録パラメータが適切
でないと判断された場合、光ディスクコントローラ39
はより適切なパラメータを推定し、記録補償回路41に
新しい記録パラメータを設定する。このように更新され
た記録パラメータを用いて、再び、テスト記録が行なわ
れる。記録再生装置は、記録パラメータが適切であると
判断されるまでテスト記録を繰り返し行い、記録パラメ
ータの最適化を行う。
Based on the digital asymmetry information As input from the asymmetry detection processing block 37 and the digital jitter information Jr input from the jitter detection processing block 38, the optical disk controller 39 adjusts recording parameters such as recording power and recording pulse width. Determine if it is appropriate. If it is determined from the asymmetry information As or the jitter information Jr that the initial recording parameters are not appropriate, the optical disk controller 39
Estimates a more appropriate parameter, and sets a new recording parameter in the recording compensation circuit 41. Test recording is performed again using the recording parameters updated in this manner. The recording / reproducing apparatus performs test recording repeatedly until it is determined that the recording parameters are appropriate, and optimizes the recording parameters.

【0055】以下、図2を参照しながら、アシンメトリ
ー検出処理ブロック37およびジッタ検出処理ブロック
38のより具体的な構成を説明する。
Hereinafter, more specific configurations of the asymmetry detection processing block 37 and the jitter detection processing block 38 will be described with reference to FIG.

【0056】アシンメトリー検出処理ブロック37は、
帯域制限回路31および位相比較処理ブロック32を介
してA/D変換器30から送られてくるサンプルデータ
SDの多値レベル判定を行う多値レベル判定手段50
と、多値レベル判定手段50による判定結果に応じて発
せられるアシンメトリー情報算出許可指令Eaに基づい
てデジタルアシンメトリー情報Asを算出するアシンメ
トリー演算手段60とを備えている。
The asymmetry detection processing block 37
A multi-level level determination unit 50 for performing a multi-level level determination of the sample data SD sent from the A / D converter 30 via the band limiting circuit 31 and the phase comparison processing block 32.
And an asymmetry calculation means 60 for calculating digital asymmetry information As based on an asymmetry information calculation permission command Ea issued according to the determination result by the multi-value level determination means 50.

【0057】多値レベル判定手段50は、サンプルデー
タSDの極性を判定し、極性判定情報POLを出力する
サンプル極性判定手段52と、極性判定情報POLに基
づいてサンプルデータSDのうちの最大値を有するサン
プルデータ(最大データ)SDmax およびサンプルデー
タSDのうちの最小値を有するサンプルデータ(最小デ
ータ)SDmin とを検出(または識別)するためのピー
ク値検出手段54とを備えている。多値レベル判定手段
50におけるピーク値検出手段54は、最大データSD
max または最小データSDmin を検出したときにアシン
メトリー情報算出許可指令Eaを出力するように構成さ
れている。
The multi-level level determination means 50 determines the polarity of the sample data SD and outputs polarity determination information POL. The multi-level level determination means 50 determines the maximum value of the sample data SD based on the polarity determination information POL. A peak value detecting means 54 for detecting (or identifying) sample data (maximum data) SDmax having the minimum value and sample data (minimum data) SDmin having the minimum value among the sample data SD. The peak value detecting means 54 in the multi-value level determining means 50 is the maximum data SD
It is configured to output an asymmetry information calculation permission command Ea when detecting the max or the minimum data SDmin.

【0058】アシンメトリー演算手段60は、ピーク値
検出手段54からの許可指令Eaが入力されたときにサ
ンプルデータSDを累積加算することによってデジタル
アシンメトリー情報Asを算出する。
The asymmetry calculating means 60 calculates digital asymmetry information As by accumulatively adding the sample data SD when the permission command Ea from the peak value detecting means 54 is input.

【0059】このように構成されたアシンメトリー検出
処理ブロックは、サンプルデータのうちの最大値を有す
るデータと最小値を有するデータとを選択的に累積加算
し、この加算結果から再生信号のアシンメトリー量を検
出している。このようにして従来アナログ回路を用いて
算出していたアシンメトリー量をデジタル的に検出でき
る理由は、サンプルデータはPLL回路を用いて形成さ
れたクロックでサンプリングされたデータであるため、
再生信号にアシンメトリーが発生している場合、そのア
シンメトリー量がサンプル値に反映されるからである。
例えば、図15に示すような信号が再生された場合、同
期したクロックでサンプリングを行なうと、中心電圧V
cに対応するサンプルデータ(基準サンプルデータ)
と、ピーク側包絡電圧およびボトム側包絡電圧に対応す
るサンプルデータ(すなわち最大値を有するサンプルデ
ータおよび最小値を有するサンプルデータ)とが繰り返
し生成される。基準サンプルデータの値が理想的には0
となるように設定されている場合、最大サンプルデータ
および最小サンプルデータのそれぞれのサンプル値は、
正側および負側に異なる大きさを持った値として検出さ
れる。このサンプル値の大きさの差は、再生信号のアシ
ンメトリー量に応じた値を有する。従って、サンプルデ
ータの最大値と最小値とを加算すれば、上記従来のアシ
ンメトリー量Asと同様のアシンメトリー量を算出する
ことが可能である。
The asymmetry detection processing block configured as described above selectively accumulates the data having the maximum value and the data having the minimum value among the sample data, and calculates the asymmetry amount of the reproduced signal from the addition result. Detected. The reason why the asymmetry amount conventionally calculated using the analog circuit can be digitally detected in this way is that the sample data is data sampled by the clock formed using the PLL circuit,
This is because, when asymmetry occurs in the reproduced signal, the asymmetry amount is reflected in the sample value.
For example, when a signal as shown in FIG. 15 is reproduced, if sampling is performed with a synchronized clock, the center voltage V
Sample data corresponding to c (reference sample data)
And sample data corresponding to the peak-side envelope voltage and the bottom-side envelope voltage (that is, sample data having a maximum value and sample data having a minimum value) are repeatedly generated. The value of the reference sample data is ideally 0
When set to be, each sample value of the maximum sample data and the minimum sample data,
It is detected as a value having different magnitudes on the positive and negative sides. The difference between the sample values has a value corresponding to the asymmetry amount of the reproduced signal. Therefore, by adding the maximum value and the minimum value of the sample data, it is possible to calculate the same asymmetry amount as the above-mentioned conventional asymmetry amount As.

【0060】また、ジッタ検出処理ブロック38は、サ
ンプルデータSDを用いて再生信号とサンプリングクロ
ックとの位相誤差の絶対値Absを生成するための位相
誤差絶対値生成手段70と、上記多値レベル判定手段5
0においても用いられているサンプル極性判定手段52
と、このサンプル極性判定手段52によって生成される
極性判定情報POLに基づいてサンプルデータSDの記
録パターンKPを抽出する記録パターン抽出手段80
と、その抽出した記録パターンKPを基準パターンKP
thと比較し、これらが一致したときにジッタ情報算出許
可指令Ejを出力するパターン判定手段85と、ジッタ
情報算出許可指令Ejが入力された場合において、位相
誤差絶対値生成手段70からの位相誤差絶対値Absを
累積することによりデジタルジッタ情報Jrを算出する
ジッタ演算手段90とを備えている。
The jitter detection processing block 38 includes a phase error absolute value generating means 70 for generating the absolute value Abs of the phase error between the reproduction signal and the sampling clock using the sample data SD, and the multi-level level determination. Means 5
The sample polarity determination means 52 used also at 0
A recording pattern extraction unit 80 for extracting a recording pattern KP of the sample data SD based on the polarity determination information POL generated by the sample polarity determination unit 52.
And the extracted recording pattern KP as a reference pattern KP
th, a pattern determination unit 85 that outputs a jitter information calculation permission command Ej when they match, and a phase error from the phase error absolute value generation unit 70 when the jitter information calculation permission command Ej is input. And a jitter calculating means 90 for calculating digital jitter information Jr by accumulating the absolute values Abs.

【0061】このように構成されたジッタ検出処理ブロ
ックでは、極性判定情報POLを用いて記録パターンが
判定され、その記録パターンに関するジッタ量が、所定
のサンプルデータの位相誤差絶対値Absから算出され
る。このようにすれば、各記録パターンに関するジッタ
量を別個に算出することができるので、個々の記録パタ
ーンに対して適切な記録パラメータを設定することが可
能になる。
In the jitter detection processing block configured as described above, the recording pattern is determined using the polarity determination information POL, and the jitter amount related to the recording pattern is calculated from the phase error absolute value Abs of the predetermined sample data. . In this way, the amount of jitter for each recording pattern can be calculated separately, so that appropriate recording parameters can be set for each recording pattern.

【0062】なお、図2に示すように、本実施形態で
は、サンプル極性判定手段52および位相誤差絶対値生
成手段70として、位相比較処理ブロック32において
設けられる回路が利用されている。ただし、本発明はこ
のような構成に限られない。
As shown in FIG. 2, in this embodiment, the circuit provided in the phase comparison processing block 32 is used as the sample polarity determination means 52 and the phase error absolute value generation means 70. However, the present invention is not limited to such a configuration.

【0063】次に、位相比較処理ブロック32、アシン
メトリー検出処理ブロック37、およびジッタ検出処理
ブロック38の具体的な回路構成について説明する。こ
こではPR等化方式としてPR(a,b,b,a)方式
を用い、また、記録符号として8−16変調を用いた場
合を例にとって説明する。前記のa,bは任意の正の定
数である。なお、PR等化方式を用いた信号再生方法の
詳細については、例えば、米国特許第5,719,84
3号に記載されている。
Next, specific circuit configurations of the phase comparison processing block 32, the asymmetry detection processing block 37, and the jitter detection processing block 38 will be described. Here, the case where the PR (a, b, b, a) system is used as the PR equalization system and 8-16 modulation is used as the recording code will be described as an example. The aforementioned a and b are arbitrary positive constants. For details of the signal reproducing method using the PR equalization method, see, for example, US Pat. No. 5,719,84.
No. 3.

【0064】PR(a,b,b,a)等化方式では、光
ディスク27などの記録媒体を含めた記録再生信号処理
回路の周波数特性が所定のPR(a,b,b,a)等化
となるように再生信号が波形整形される。このとき、帯
域制限回路31から出力されるサンプルデータSDは、
理想的には、“0”,“a”,“a+b”,“a+2
b”,“2a+2b”の5値の値をとることになる。た
だし、ここでは、理解を容易にするため、“a+b”を
基準として、“−a−b”,“−b”,“0”,
“b”,“a+b”の5値を取るものとする。
In the PR (a, b, b, a) equalization method, the frequency characteristics of a recording / reproducing signal processing circuit including a recording medium such as the optical disk 27 have a predetermined PR (a, b, b, a) equalization. The waveform of the reproduced signal is shaped so that At this time, the sample data SD output from the band limiting circuit 31 is:
Ideally, “0”, “a”, “a + b”, “a + 2”
b "and" 2a + 2b ", where" -ab "," -b ", and" 0 "with reference to" a + b "for easy understanding. ”,
It is assumed that five values “b” and “a + b” are taken.

【0065】図3は位相比較処理ブロック32の具体的
なロジック回路構成を示す回路図であり、図4は図3に
おけるnビットパラレルフリップフロップ回路DFF1
の具体的なロジック回路構成を示す回路図であり、図5
は図3におけるセレクタSEL1の具体的なロジック回
路構成を示す回路図であり、図6は位相比較処理ブロッ
ク32における各部の信号/情報の状態遷移図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of the phase comparison processing block 32. FIG. 4 is an n-bit parallel flip-flop circuit DFF 1 shown in FIG.
FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of FIG.
Is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of the selector SEL 1 in FIG. 3, FIG. 6 is a state transition diagram of the signal / information of each part in the phase comparison process block 32.

【0066】光ディスク27からの再生信号が図6
(a)に示す波形でA/D変換器30に入力された場
合、図6(b)に示すようなクロック信号に基づいてサ
ンプリングが行なわれ、図6(c)に示すように量子化
される。量子化されたデータは上述の5つの値の
“0”,“b”,“a+b”,“−b”,“−a−b”
のいずれかをとる。ここでは、再生信号として正弦波を
例にあげているので、“0”,“b”,“a+b”,
“b”,“0”,“−b”,“−a−b”,“−b”の
繰り返しとなっている。
The reproduced signal from the optical disk 27 is shown in FIG.
When the waveform shown in FIG. 6A is input to the A / D converter 30, sampling is performed based on a clock signal as shown in FIG. 6B, and quantization is performed as shown in FIG. You. The quantized data has the above five values “0”, “b”, “a + b”, “−b”, “−ab”.
Take one of: Here, since a sine wave is taken as an example of the reproduction signal, “0”, “b”, “a + b”,
"B", "0", "-b", "-ab", "-b" are repeated.

【0067】なお、上述した多値レベル判定手段50
は、サンプルデータSDが上記5つの値のいずれをとる
かを判定し、判定結果である許可指令Eaをアシンメト
リー演算手段60に出力する。
It should be noted that the above-described multi-level level judging means 50
Determines which of the above five values the sample data SD takes, and outputs the permission command Ea, which is the result of the determination, to the asymmetry calculating means 60.

【0068】図3に示した位相比較処理ブロック32
は、nビット構成のデータ型(遅延型)のフリップフロ
ップ回路DFF1〜DFF4と、加算回路ADD1と、単
体のデータ型(遅延型)のフリップフロップ回路F
11,FF12と、排他的論理和回路EORと、反転回路
Invと、絶対値演算回路ABSと、セレクタSEL1
とを備えている。
The phase comparison processing block 32 shown in FIG.
Is an n-bit data type (delay type) flip-flop circuit DFF 1 to DFF 4 , an adder circuit ADD 1, and a single data type (delay type) flip-flop circuit F
F 11 , FF 12 , exclusive OR circuit EOR, inverting circuit Inv, absolute value calculating circuit ABS, and selector SEL 1
And

【0069】nビットパラレルフリップフロップ回路D
FF1〜DFF4のそれぞれは、図4に示すように、n個
の単体のデータ型(遅延型)のフリップフロップFF1
〜FFnをパラレルに接続したものである。DFF1に対
して図6(c)に示すような信号が入力された場合、D
FF1からは、1クロック分だけ遅延された図6(d)
に示すような信号が出力される。
An n-bit parallel flip-flop circuit D
As shown in FIG. 4, each of the FF 1 to DFF 4 is an n-piece data type (delay type) flip-flop FF 1.
FF n are connected in parallel. When a signal as shown in FIG. 6C is input to DFF 1 , DFF 1
FIG. 6D delayed by one clock from FF 1
Is output.

【0070】加算回路ADD1には、nビットのサンプ
ルデータSDが入力されるとともに、DFF1を介し
て、そのサンプルデータSDを1クロック遅延させたサ
ンプルデータSDが入力される。加算回路ADD1は両
者の加算を行い、その加算結果のうちのMSB(Most S
ignificant Bit;最上位ビット)を出力するようになっ
ている。理想的なPR(a,b,b,a)等化の場合、
0+b=b、b+(a+b)=a+2b、(a+b)+
b=a+2b、b+0=b、0+(−b)=−b、(−
b)+(−a−b)=−a−2b、(−a−b)+(−
b)=−a−2b、(−b)+0=−b、であるから、
結果的に、加算回路ADD1による加算結果は、“−a
−2b”,“−b”,“b”,“a+2b”の4つの値
をとる。加算回路ADD1は、その加算結果のMSBを
出力する。
The adder ADD 1 receives the n-bit sample data SD and the sample data SD obtained by delaying the sample data SD by one clock via the DFF 1 . Addition circuit ADD 1 performs an addition of both, MSB of the addition result (Most S
ignificant Bit (the most significant bit). In the case of ideal PR (a, b, b, a) equalization,
0 + b = b, b + (a + b) = a + 2b, (a + b) +
b = a + 2b, b + 0 = b, 0 + (− b) = − b, (−
b) + (− ab) = − a−2b, (−ab) + (−)
b) = − a−2b, (−b) + 0 = −b,
Consequently, the result added by the adding circuit ADD 1 is, "- a
-2b "," -. B "," b "," take four values of a + 2b "adding circuit ADD 1 outputs the MSB of the addition result.

【0071】加算回路ADD1から出力されるMSB
は、隣合うサンプルデータSDの平均値が基準値(この
例では“0”)以上であるか、基準値未満であるかを表
している。出力されたMSBに基づいて、図6(e)に
示すようなサンプルデータSDの極性を示す極性判定情
報POLが得られる。この極性判定情報POLは、記録
されたデジタル情報に対応している。なお、加算結果の
MSBを用いて極性判定情報POLを形成している理由
は、図12(a)または図12(c)等において示すよ
うに、理想的には0の値を有するべきサンプルデータ
が、ジッタなどの影響で実際には−1または1などの僅
かにずれた値を有していた場合であっても、記録された
デジタル情報に対応する極性判定情報POLを得ること
ができるからである。図12(a)〜(i)は、それぞ
れ図6(a)〜(i)に対応しており、サンプリングク
ロック信号が入力された再生信号に対して進んでいる場
合の信号/情報の状態遷移図である。
MSB output from adder ADD 1
Indicates whether the average value of adjacent sample data SD is equal to or greater than a reference value (“0” in this example) or less than the reference value. Based on the output MSB, polarity determination information POL indicating the polarity of the sample data SD as shown in FIG. 6E is obtained. This polarity determination information POL corresponds to the recorded digital information. Note that the reason why the polarity determination information POL is formed using the MSB of the addition result is that, as shown in FIG. 12A or FIG. However, even if it actually has a slightly deviated value such as -1 or 1 due to the influence of jitter or the like, the polarity determination information POL corresponding to the recorded digital information can be obtained. It is. 12 (a) to 12 (i) correspond to FIGS. 6 (a) to 6 (i), respectively, and state transition of signal / information when the sampling clock signal is advanced with respect to the input reproduction signal. FIG.

【0072】このようにして、nビットパラレルフリッ
プフロップ回路DFF1、加算回路ADD1、およびフリ
ップフロップFF11を備えるサンプル極性判定手段52
において形成された極性判定情報POLは、アシンメト
リー検出処理ブロック37におけるピーク値検出手段5
4およびジッタ検出処理ブロック38における記録パタ
ーン抽出手段80に出力される。ただし、本実施形態で
は、タイミング調整を行なうために、遅延要素として設
けられたフリップフロップFF11を介して出力されるよ
うになっている。なお、図6(e)には遅延された極性
判定情報POLが示されている。
As described above, the sample polarity determining means 52 including the n-bit parallel flip-flop circuit DFF 1 , the adding circuit ADD 1 , and the flip-flop FF 11
The polarity determination information POL formed in the step (1) is used as the peak value detection means 5 in the asymmetry detection processing block 37.
4 and the recording pattern extracting means 80 in the jitter detection processing block 38. However, in the present embodiment, in order to perform timing adjustment, and it is output via a flip-flop FF 11, which is provided as a delay element. FIG. 6E shows the delayed polarity determination information POL.

【0073】加算回路ADD1による加算結果のMSB
が“L”から“H”に、あるいは“H”から“L”に変
化することは、再生信号が値“0”を横切ることを示
す。このとき、ゼロクロスポイントが検出されることに
なる。MSBと、そのMSBをフリップフロップFF11
で1クロック遅延させた値との排他的論理和を排他的論
理和回路EORでとると、“H”と“L”との組み合わ
せの場合、および“L”と“H”の組み合わせの場合に
限って、排他的論理和回路EORの出力が“H”とな
る。従って、排他的論理和回路EORからは、出力
“H”が再生信号のゼロクロスポイントに対応した、図
6(f)に示すようなゼロクロスポイント検出信号CR
OSSが出力される。このゼロクロスポイント検出信号
CROSSは、LPF33のゲートに出力される。ただ
し、タイミング調整のためにLPF33に対しては遅延
要素としてのフリップフロップFF12を介して出力する
ようになっている。
MSB of result of addition by adder ADD 1
Changes from “L” to “H” or from “H” to “L” indicates that the reproduction signal crosses the value “0”. At this time, a zero cross point is detected. MSB and the MSB are flip-flop FF 11
When the exclusive OR with the value delayed by one clock is calculated by the exclusive OR circuit EOR, in the case of the combination of “H” and “L”, and in the case of the combination of “L” and “H”, Only in this case, the output of the exclusive OR circuit EOR becomes “H”. Therefore, from the exclusive OR circuit EOR, the output “H” corresponds to the zero cross point of the reproduction signal, and the zero cross point detection signal CR as shown in FIG.
OSS is output. The zero cross point detection signal CROSS is output to the gate of the LPF 33. However, and outputs via the flip-flop FF 12 as a delay element for LPF33 for timing adjustment.

【0074】次に、位相誤差の検出方法を説明する。図
5は、位相誤差を検出するために設けられたセレクタS
EL1の具体的回路構成を示している。セレクタSEL1
には、nビットパラレルフリップフロップ回路DFF1
から出力されたnビットのサンプルデータAと、そのサ
ンプルデータAが反転回路Invで反転されたサンプル
データBとが入力される。セレクタSEL1は、加算回
路ADD1の出力であるMSBをセレクト信号として、
そのMSBの値に基づいてサンプルデータAとサンプル
データBとを切り換えて選択するようになっている。そ
の結果として、セレクタSEL1からは図6(g)に示
すような位相誤差εφが出力される。ただし、タイミン
グ調整のためにLPF33に対しては遅延要素として設
けられたnビットパラレルフリップフロップ回路DFF
2を介して出力するようになっている。
Next, a method for detecting a phase error will be described. FIG. 5 shows a selector S provided for detecting a phase error.
Shows a specific circuit configuration of the EL 1. Selector SEL 1
Has an n-bit parallel flip-flop circuit DFF 1
Are input, and the sample data A of n bits and the sample data B obtained by inverting the sample data A by the inverting circuit Inv are input. The selector SEL 1 uses the MSB output from the adder ADD 1 as a select signal,
The sample data A and the sample data B are switched and selected based on the value of the MSB. As a result, the selector SEL 1 a phase error εφ as shown in FIG. 6 (g) is outputted. However, an n-bit parallel flip-flop circuit DFF provided as a delay element for the LPF 33 for timing adjustment
Output via two .

【0075】位相誤差が生じている場合、ゼロクロスポ
イントに対応するサンプルデータSDは、位相誤差の大
きさに応じて“0”以外の値を持つ。ただし、これらの
サンプルデータは、上述のように反転回路を用いて極性
を揃える必要がある。例えば、図12(a)〜図12
(i)に示すようにチャネルクロック(サンプリングク
ロック)が入力信号に対して進んでいる場合、ゼロクロ
スポイント検出信号CROSSが“H”となるときのサ
ンプルデータは、負の値(“−1”)と正の値
(“1”)とを繰り返す。これに対して、上記反転回路
を用いて生成した位相誤差εφは常に負の値(“−
1”)をとる。このようにして生成された位相誤差εφ
はLPF33に入力され、D/A変換器34を介してV
CO35の制御電圧に変換される。
When a phase error has occurred, the sample data SD corresponding to the zero cross point has a value other than "0" according to the magnitude of the phase error. However, these sample data need to have the same polarity using the inverting circuit as described above. For example, FIGS.
As shown in (i), when the channel clock (sampling clock) is ahead of the input signal, the sample data when the zero cross point detection signal CROSS becomes “H” has a negative value (“−1”). And a positive value ("1"). On the other hand, the phase error εφ generated using the inverting circuit is always a negative value (“−
1 ″). The phase error εφ thus generated
Is input to the LPF 33, and V is input through the D / A converter 34.
It is converted to the control voltage of CO35.

【0076】また、図3に示すように、nビットパラレ
ルフリップフロップ回路DFF1からの出力(サンプル
データSDを1クロック遅延させたデータ)は、絶対値
演算回路ABSに入力される。絶対値演算回路ABS
は、サンプルデータSDの絶対値をとり、タイミング調
整のために遅延要素としてのnビットパラレルフリップ
フロップ回路DFF3を介して位相誤差絶対値Absと
してジッタ検出処理ブロック38におけるジッタ演算手
段90に出力する。この位相誤差絶対値Absは図6
(h)のようになる。このように、位相比較処理ブロッ
ク32におけるnビットパラレルフリップフロップ回路
DFF1と絶対値演算回路ABSとnビットパラレルフ
リップフロップ回路DFF3とが位相誤差絶対値生成手
段70を構成していることになる。
[0076] Further, as shown in FIG. 3, the output from the n-bit parallel flip flop circuit DFF 1 (data sample data SD was 1 clock delay) is input to the absolute value calculation circuit ABS. Absolute value calculation circuit ABS
Takes the absolute value of the sample data SD, and outputs the jitter calculating unit 90 in the jitter detecting block 38 as a phase error absolute value Abs through the n-bit parallel flip flop circuit DFF 3 as delay elements for timing adjustment . The absolute value Abs of the phase error is shown in FIG.
(H). Thus, so that the n-bit parallel flip flop circuit DFF 1 and the absolute value calculation circuit ABS and n-bit parallel flip flop circuit DFF 3 in the phase comparison process block 32 constitutes the phase error absolute value generating means 70 .

【0077】位相比較処理ブロック32からは、nビッ
トパラレルフリップフロップ回路DFF1,DFF2によ
り2クロック分遅延されたサンプルデータSDが出力さ
れる。図6(i)はこのように2クロック分遅延された
サンプルデータSDを示す。このサンプルデータSD
は、アシンメトリー検出処理ブロック37におけるアシ
ンメトリー演算手段60に入力される。
The phase comparison processing block 32 outputs sample data SD delayed by two clocks by n-bit parallel flip-flop circuits DFF 1 and DFF 2 . FIG. 6I shows the sample data SD delayed by two clocks in this manner. This sample data SD
Is input to the asymmetry calculation means 60 in the asymmetry detection processing block 37.

【0078】図7はアシンメトリー検出処理ブロック3
7におけるピーク値検出手段54およびアシンメトリー
演算手段60の具体的なロジック回路構成を示す回路図
である。また、図8(a)〜(i)および図9(j)〜
(u)には、以下のアシンメトリー検出処理ブロック3
7で処理される信号を示す。なお、図8(a)〜(i)
は、上記図6(a)〜(i)と同様の図である。ただ
し、図8(a)〜(i)では、図6(a)〜(i)で示
したサンプル値0、b、a+b、−b、−a−bをそれ
ぞれ0、A、B、C、Dで示している。
FIG. 7 shows an asymmetry detection processing block 3
7 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of a peak value detecting means 54 and an asymmetry calculating means 60 in FIG. Also, FIGS. 8 (a) to (i) and FIGS. 9 (j) to
(U) includes the following asymmetry detection processing block 3
7 shows the signals processed. 8A to 8I.
7 is a view similar to FIGS. 6A to 6I. FIG. However, in FIGS. 8A to 8I, the sample values 0, b, a + b, -b, and -ab shown in FIGS. 6A to 6I are 0, A, B, C, Indicated by D.

【0079】ピーク値検出手段54は、フリップフロッ
プFF21,FF22,FF23と、加算回路ADD2と、最
大値・最小値検出回路DETとから構成されている。フ
リップフロップFF21は、図9(j)に示すように、サ
ンプル極性判定手段52から入力された極性判定情報P
OL(図8(c)参照)を1クロック遅延させる。フリ
ップフロップFF22は、図9(k)に示すように、フリ
ップフロップFF21によって遅延された極性判定情報P
OLをさらに1クロック遅延させ、フリップフロップF
23は、図9(l)に示すように、フリップフロップF
22によって遅延された極性判定情報POLをさらに1
クロック遅延させる。そのように1クロックずつずれた
4つの信号が加算回路ADD2で加算される。加算回路
ADD2への入力が“0000”のときは加算結果が
“0”となるが、このときはDFF5から出力されるサ
ンプルデータSDが“B”(図6では“a+b”)のタ
イミングを示す。加算回路ADD2への入力が“000
1”のときは加算結果が“1”となるが、このときはサ
ンプルデータSDが“A”(図6では“b”)のタイミ
ングを示す。加算回路ADD2への入力が“0011”
のときは加算結果が“2”となるが、このときはサンプ
ルデータSDが“0”のタイミングを示す。加算回路A
DD2への入力が“0111”のときは加算結果が
“3”となるが、このときはサンプルデータSDが
“C”(図6では“−b”)のタイミングを示す。加算
回路ADD2への入力が“1111”のときは加算結果
が“4”となるが、このときはサンプルデータSDが
“D”(図6では“−a−b”)のタイミングを示す。
The peak value detecting means 54 includes flip-flops FF 21 , FF 22 , FF 23 , an adder ADD 2, and a maximum / minimum value detector DET. Flip-flop FF 21, as shown in FIG. 9 (j), the polarity judgment information P which is input from the sample polarity determining circuit 52
The OL (see FIG. 8C) is delayed by one clock. Flip-flop FF 22, as shown in FIG. 9 (k), the polarity judgment information P that has been delayed by the flip-flop FF 21
OL is further delayed by one clock, and the flip-flop F
F 23, as shown in FIG. 9 (l), the flip-flop F
Further 1 polarity determination information POL delayed by F 22
Delay the clock. So four signals shifted by one clock is added by the adding circuit ADD 2. Although the input is "0000" the addition result when the to the summing circuit ADD 2 becomes "0", the timing of the sample data SD "B" at this time is output from the DFF 5 (in FIG. 6 "a + b") Is shown. When the input to the adder ADD 2 is “000”
1 "becomes a sample data SD this time is" 1 "the addition result is when the" A "input to. Adder circuit ADD 2 showing the timing of a" (FIG. 6 "b)" 0011 "
In this case, the addition result is "2". At this time, the timing indicates that the sample data SD is "0". Adder circuit A
Input to the DD 2 is "0111" the addition result when the can becomes a "3" indicates the timing of sample data SD "C" at this time (in FIG. 6 "-b"). When the input to the addition circuit ADD2 is "1111", the addition result is "4". At this time, the sample data SD indicates the timing of "D"("-ab" in FIG. 6).

【0080】図9(m)に示すように、加算回路ADD
2による加算結果(“0”,“1”,“2”,“3”,
“4”)は最大値・最小値検出回路DETに入力され
る。最大値・最小値検出回路DETは、入力された加算
結果が“0”と“4”のときのみ(厳密には、加算結果
が“0”と“4”のときのみアクティブとなる)アシン
メトリー情報算出許可指令Ea(図9(n)参照)をア
シンメトリー演算手段60に出力する。図9(m)およ
び図9(o)からわかるように、加算結果“0”が出力
されるということは、サンプルデータSDの値が“B”
(図6では“a+b”)であるデータを検出することに
相当し、加算結果“4” が出力されるということは、
サンプルデータSDの値が“D”(図6では“−a−
b” )であるデータを検出することに相当している。
As shown in FIG. 9 (m), the addition circuit ADD
2 (“0”, “1”, “2”, “3”,
"4") is input to the maximum / minimum value detection circuit DET. The maximum value / minimum value detection circuit DET has asymmetry information only when the input addition result is “0” and “4” (strictly, only when the addition result is “0” and “4”). The calculation permission command Ea (see FIG. 9 (n)) is output to the asymmetry calculation means 60. As can be seen from FIGS. 9 (m) and 9 (o), the fact that the addition result “0” is output means that the value of the sample data SD is “B”.
(“A + b” in FIG. 6) corresponds to detecting data, and the fact that the addition result “4” is output means that
When the value of the sample data SD is "D" (in FIG. 6, "-a-
b ") corresponds to detecting data.

【0081】アシンメトリー算手段60は、遅延要素と
してのnビットパラレルフリップフロップ回路DFF5
と、セレクタSEL2と、加算回路ADD3と、セレクタ
SEL3と、nビットパラレルフリップフロップ回路D
FF6,DFF7と、カウンタCONT1とから構成され
ている。nビットパラレルフリップフロップ回路DFF
5,DFF6,DFF7の構成は、図4と同様のものとな
っている。
The asymmetry calculating means 60 has an n-bit parallel flip-flop circuit DFF 5 as a delay element.
When, a selector SEL 2, and an addition circuit ADD 3, a selector SEL 3, n-bit parallel flip-flop circuit D
It comprises FF 6 , DFF 7 and counter CONT 1 . n-bit parallel flip-flop circuit DFF
5 , DFF 6 and DFF 7 have the same configuration as that of FIG.

【0082】ピーク値検出手段54における最大値・最
小値検出回路DETがアシンメトリー情報算出許可指令
Eaを出力するとき、セレクタSEL2にはサンプルデ
ータSDの最大値(=“B”=“a+b”)または最小
値(=“D”=“−a−b”)のいずれかが入力され
る。このとき、セレクタSEL2は最大値または最小値
を加算回路ADD3に出力する。それ以外のとき、すな
わち、最大値・最小値検出回路DETがアシンメトリー
情報算出許可指令Eaを出力しないときは、セレクタS
EL2は固定値の“0”を選択して加算回路ADD3に出
力する(図9(p))。加算回路ADD3は、レジスタ
としてのnビットパラレルフリップフロップ回路DFF
6に蓄積されているnビットの累積値(図9(t))
と、セレクタSEL2からの出力とを加算する。その加
算結果(図9(s))は、セレクタSEL3を介してレ
ジスタとしてのnビットパラレルフリップフロップ回路
DFF6に蓄積される。すなわち、レジスタとしてのn
ビットパラレルフリップフロップ回路DFF6は、サン
プルデータSDの最大値と最小値とのみを累積してい
る。そして、このことは光ディスク27からの再生信号
のアシンメトリー量を算出していることに相当してい
る。
[0082] When the maximum and minimum value detection circuit DET of the peak value detecting means 54 outputs the asymmetry information calculation permission command Ea, sample data SD of the maximum value to the selector SEL 2 (= "B" = "a + b") Alternatively, either the minimum value (= "D" = "-ab") is input. At this time, the selector SEL 2 outputs the maximum value or the minimum value to the addition circuit ADD 3. At other times, that is, when the maximum / minimum value detection circuit DET does not output the asymmetry information calculation permission command Ea, the selector S
EL 2 selects and outputs "0" of the fixed value to the addition circuit ADD 3 (FIG. 9 (p)). Adder circuit ADD 3 is, n-bit parallel flip-flop circuit as a register DFF
N-bit accumulated value stored in 6 (FIG. 9 (t))
When adds the output from the selector SEL 2. The addition result (FIG. 9 (s)) is stored in the n-bit parallel flip flop circuit DFF 6 as register via the selector SEL 3. That is, n as a register
The bit parallel flip-flop circuit DFF 6 accumulates only the maximum value and the minimum value of the sample data SD. This corresponds to calculating the asymmetry amount of the reproduction signal from the optical disk 27.

【0083】カウンタCONT1は、図9(q)に示す
ように、最大値・最小値検出回路DETからのアシンメ
トリー情報算出許可指令Eaの入力回数をカウントして
いるが、そのカウント値が所定値になったときに、ゲー
トとしてのnビットパラレルフリップフロップ回路DF
7にイネーブル信号(図9(r))を出力して、ゲー
トを開き、それまでに蓄積した最大値と最小値との累積
値をデジタルアシンメトリー情報As(図9(u))と
して光ディスクコントローラ39に出力する。
As shown in FIG. 9 (q), the counter CONT 1 counts the number of times of input of the asymmetry information calculation permission command Ea from the maximum value / minimum value detection circuit DET. , An n-bit parallel flip-flop circuit DF as a gate
And outputs the enable signal (FIG. 9 (r)) to F 7, open the gate, the optical disk controller cumulative value between the maximum value and the minimum value accumulated so far as the digital asymmetry information As (Fig 9 (u)) Output to 39.

【0084】このとき、カウンタCONT1はセレクタ
SEL3に対して固定値の“0”を選択するように制御
する。その結果として、レジスタとしてのnビットパラ
レルフリップフロップ回路DFF6の累積値は“0”に
リセットされる。
At this time, the counter CONT 1 controls the selector SEL 3 to select a fixed value “0”. As a result, the cumulative value of the n-bit parallel flip flop circuit DFF 6 as registers are reset to "0".

【0085】図10(a)および(b)に非対称性をも
つ再生信号の具体例を示す。図10(a)のような再生
信号の場合、検出されるアシンメトリー量は負の値とな
り、出力されるデジタルアシンメトリー情報Asも負の
値となる。したがって、光ディスクコントローラ39
は、アシンメトリー量がプラス側にシフトするような記
録パラメータを記録補償回路41に出力することにな
る。また、図10(b)のような再生信号の場合、検出
されるアシンメトリー量は正の値となり、出力されるデ
ジタルアシンメトリー情報Asも正の値となる。したが
って、光ディスクコントローラ39は、アシンメトリー
量がマイナス側にシフトするような記録パラメータを記
録補償回路41に出力することになる。記録補償回路4
1はレーザ駆動回路42に対して適正なレーザ発光制御
パルス波形を出力するように制御を行う。光ディスクコ
ントローラ39は、上記のようなアシンメトリー検出結
果をもとにして所定のアシンメトリー量に収まるまで、
校正動作を繰り返し、ディスク記録再生装置の性能を確
保する。
FIGS. 10A and 10B show specific examples of the reproduced signal having asymmetry. In the case of a reproduced signal as shown in FIG. 10A, the detected asymmetry amount has a negative value, and the output digital asymmetry information As also has a negative value. Therefore, the optical disk controller 39
Outputs a recording parameter such that the asymmetry amount shifts to the plus side to the recording compensation circuit 41. In the case of a reproduced signal as shown in FIG. 10B, the detected asymmetry amount has a positive value, and the output digital asymmetry information As also has a positive value. Accordingly, the optical disk controller 39 outputs to the recording compensation circuit 41 a recording parameter that causes the asymmetry amount to shift to the minus side. Recording compensation circuit 4
1 controls the laser drive circuit 42 to output an appropriate laser emission control pulse waveform. The optical disk controller 39 controls the optical disk controller 39 until the optical disk controller 39 falls within a predetermined asymmetry amount based on the asymmetry detection result as described above.
The calibration operation is repeated to ensure the performance of the disk recording / reproducing device.

【0086】なお、図10(a)および図10(b)で
は特定のパターンの繰り返しとなるような再生信号の例
を示したが、上記の構成のアシンメトリー検出処理ブロ
ック37はランダムなパターンの再生信号であっても、
アシンメトリー量を検出することができる。
10A and 10B show an example of a reproduction signal in which a specific pattern is repeated. However, the asymmetry detection processing block 37 having the above-described configuration reproduces a random pattern. Even if it ’s a signal,
The asymmetry amount can be detected.

【0087】図11はジッタ検出処理ブロック38の構
成を示す。ジッタ検出処理ブロック38は、記録パター
ン抽出手段80と、パターン判定手段85と、ジッタ演
算手段90とを備えている。
FIG. 11 shows the configuration of the jitter detection processing block 38. The jitter detection processing block 38 includes a recording pattern extraction unit 80, a pattern determination unit 85, and a jitter calculation unit 90.

【0088】記録パターン抽出手段80には、サンプル
極性判定手段52からの極性判定情報POLが入力さ
れ、この極性判定情報POLをクロックによって順次的
にずらしていくことによって、サンプルデータSDの記
録パターンKPを抽出する。この記録パターン抽出手段
80は、9つのフリップフロップFF41〜FF49をカス
ケード接続したシフトレジスタ構成を有している。
The polarity judgment information POL from the sample polarity judging means 52 is input to the recording pattern extracting means 80, and the polarity judging information POL is sequentially shifted by a clock, thereby obtaining the recording pattern KP of the sample data SD. Is extracted. The recording pattern extraction unit 80 includes a shift register configuration in which cascaded nine flip-flops FF 41 ~FF 49.

【0089】パターン判定手段85は、基準パターンK
Pthがあらかじめ設定されたロジック回路として設けら
れた10入力ANDゲートAND10を備えている。記録
パターン抽出手段80における初段のフリップフロップ
FF41への入力と前半側4つのフリップフロップFF41
〜FF44からの出力がそのまま10入力ANDゲートA
ND10の5つの入力端子に接続され、残りの後半の5つ
のフリップフロップFF45〜FF49の出力が反転されて
10入力ANDゲートAND10の別の5つの入力端子に
接続されている。10入力ANDゲートAND10を用い
て構成されたパターン判定手段85は、極性判定情報P
OLが時間軸方向に例えば“0”,“0”,“0”,
“0”,“0”,“1”,“1”,“1”,“1”,
“1”と変化するようなサンプルデータSDの記録パタ
ーンKPを抽出する。
The pattern determining means 85 determines whether the reference pattern K
Pth is provided with a 10-input AND gate AND 10 which is provided as a logic circuit that is set in advance. Recording pattern extraction inputs and front half four to the first flip-flop FF 41 in unit 80 the flip-flop FF 41
10-input AND gate A as output from FF 44
Is connected to the five input terminals of the ND 10, and is connected to another five input terminals of the output is inverted 10-input AND gate AND 10 the remaining second half of the five flip-flops FF 45 ~FF 49. 10 input AND gate AND 10 the pattern determination unit 85 that is configured using the polarity judgment information P
OL is, for example, “0”, “0”, “0”,
“0”, “0”, “1”, “1”, “1”, “1”,
A recording pattern KP of the sample data SD that changes to “1” is extracted.

【0090】図11に示す10入力ANDゲートAND
10の場合には、光ディスク27から5チャネルクロック
連続して“0”を検出し、その後、5チャネルクロック
連続して“1”を検出した場合に、10入力ANDゲー
トAND10がジッタ情報算出許可指令Ejを出力するこ
とになる。この場合、習慣的に、「5T−5T」の記録
パターンを検出したという。ここで、Tはチャネルクロ
ックの周期である。
The 10-input AND gate AND shown in FIG.
In the case of 10 , the 10-input AND gate AND 10 permits the calculation of the jitter information when "0" is detected continuously for 5 channel clocks from the optical disk 27 and then "1" is detected continuously for 5 channel clocks. The command Ej will be output. In this case, it is customarily said that a recording pattern of "5T-5T" was detected. Here, T is the cycle of the channel clock.

【0091】ジッタ演算手段90は、タイミング調整の
ための5つのnビットパラレルフリップフロップ回路D
FF11〜DFF15と、セレクタSEL4と、加算回路A
DD4と、セレクタSEL5と、nビットパラレルフリッ
プフロップ回路DFF16,DFF17と、カウンタCON
2とを備えている。nビットパラレルフリップフロッ
プ回路DFF11〜DFF17の構成は、図4と同様のもの
となっている。
The jitter calculating means 90 includes five n-bit parallel flip-flop circuits D for timing adjustment.
The FF 11 ~DFF 15, a selector SEL 4, adder circuit A
And DD 4, a selector SEL 5, and n-bit parallel flip flop circuit DFF 16, DFF 17, the counter CON
And a T 2. The configuration of the n-bit parallel flip-flop circuits DFF 11 to DFF 17 is similar to that of FIG.

【0092】パターン判定手段85である10入力AN
DゲートAND10がジッタ情報算出許可指令Ejを出力
するとき、セレクタSEL4は入力された位相誤差絶対
値Absを加算回路ADD4に出力する。それ以外のと
き、すなわち、10入力ANDゲートAND10がジッタ
情報算出許可指令Ejを出力しないときは、セレクタS
EL4は固定値の“0”を選択して加算回路ADD4に出
力する。
The 10-input AN as the pattern determining means 85
When the D gate AND 10 outputs the jitter information calculation permission command Ej, the selector SEL 4 outputs the input absolute phase error value Abs to the addition circuit ADD 4 . Otherwise, i.e., when the 10-input AND gate AND 10 does not output jitter information calculation permission command Ej, the selector S
EL 4 selects a fixed value “0” and outputs it to the addition circuit ADD 4 .

【0093】ジッタ情報算出許可指令Ejが出力された
とき、nビットパラレルフリップフロップ回路DFF11
〜DFF15を用いてタイミング調整を行なっているた
め、セレクタSEL4には、必ずゼロクロスポイントに
対応するサンプルデータ(すなわち、極性が変化すると
きのサンプルデータ)の位相誤差絶対値absが出力さ
れる。なお、nビットパラレルフリップフロップ回路の
数(すなわち遅延すべきクロック数)は検出されるべき
記録パターンに応じて決定され、ジッタ情報算出許可指
令Ejが出力されたときに、極性が変化するときのサン
プルデータの位相誤差絶対値absが出力されるように
なっていればよい。このように本実施形態では、極性判
定情報POLを用いて記録パターンを抽出するととも
に、この記録パターンにおけるゼロクロスポイントに対
応するサンプルデータの位相誤差絶対値absを用い
て、抽出された記録パターンに関するジッタ量を測定す
るようにしている。
When the jitter information calculation permission command Ej is output, the n-bit parallel flip-flop circuit DFF 11
Because doing the timing adjusted using ~DFF 15, the selector SEL 4, sample data always corresponds to the zero crossing point (i.e., sample data when changing polarity) phase error absolute value abs of outputs . The number of n-bit parallel flip-flop circuits (that is, the number of clocks to be delayed) is determined according to the recording pattern to be detected, and when the polarity is changed when the jitter information calculation permission command Ej is output. It is sufficient that the phase error absolute value abs of the sample data is output. As described above, in the present embodiment, the recording pattern is extracted using the polarity determination information POL, and the phase error absolute value abs of the sample data corresponding to the zero cross point in this recording pattern is used to extract the jitter related to the extracted recording pattern. I try to measure the amount.

【0094】加算回路ADD4は、レジスタとしてのn
ビットパラレルフリップフロップ回路DFF16に蓄積さ
れているnビットの累積値と、セレクタSEL4からの
nビットの位相誤差絶対値Absとを加算する。その加
算結果はセレクタSEL5を介してレジスタとしてのn
ビットパラレルフリップフロップ回路DFF16に蓄積さ
れる。すなわち、レジスタとしてのnビットパラレルフ
リップフロップ回路DFF16は、記録パターンKPに関
する位相誤差絶対値Absを累積している。
The adder ADD 4 has a register n
The n-bit accumulated value stored in the bit parallel flip-flop circuit DFF 16 is added to the n-bit phase error absolute value Abs from the selector SEL 4 . N of the addition result as the register via the selector SEL 5
It is stored in bit parallel flip flop circuit DFF 16. That is, the n-bit parallel flip-flop circuit DFF 16 as a register accumulates the phase error absolute value Abs relating to the recording pattern KP.

【0095】このようにして、各記録パターンについ
て、光ディスク27からの再生信号のジッタを算出して
いることができる。カウンタCONT2は10入力AN
DゲートAND10からのジッタ情報算出許可指令Ejの
入力回数をカウントしているが、そのカウント値が所定
値になったときに、ゲートとしてのnビットパラレルフ
リップフロップ回路DFF17にイネーブル信号を出力し
て、ゲートを開き、それまでに蓄積した位相誤差絶対値
Absの累積値をデジタルジッタ情報Jrとして光ディ
スクコントローラ39に出力する。
Thus, the jitter of the reproduction signal from the optical disk 27 can be calculated for each recording pattern. Counter CONT 2 has 10 inputs AN
The number of inputs of the jitter information calculation permission command Ej from the D gate AND 10 is counted. When the count value reaches a predetermined value, an enable signal is output to the n-bit parallel flip-flop circuit DFF 17 as a gate. Then, the gate is opened, and the accumulated value of the phase error absolute value Abs accumulated so far is output to the optical disk controller 39 as digital jitter information Jr.

【0096】このとき、カウンタCONT2はセレクタ
SEL5に対して固定値の“0”を選択するように制御
する。その結果として、レジスタとしてのnビットパラ
レルフリップフロップ回路DFF16の累積値は“0”に
リセットされる。
At this time, the counter CONT 2 controls the selector SEL 5 to select a fixed value “0”. As a result, the accumulated value of the n-bit parallel flip-flop circuit DFF 16 as a register is reset to “0”.

【0097】光ディスクコントローラ39は、ジッタ量
がゼロに近づくような記録パラメータを記録補償回路4
1に出力する。この出力された記録パラメータに基づい
て、記録補償回路41はレーザ駆動回路42に対して適
正なレーザ発光制御パルス波形を出力するように制御を
行う。光ディスクコントローラ39は、上記のようなジ
ッタ検出結果をもとにして所定のジッタ量に収まるま
で、校正動作を繰り返し、ディスク記録再生装置の性能
を確保する。
The optical disk controller 39 sets the recording parameters such that the amount of jitter approaches zero to the recording compensation circuit 4.
Output to 1. Based on the output recording parameters, the recording compensation circuit 41 controls the laser drive circuit 42 to output an appropriate laser emission control pulse waveform. The optical disk controller 39 repeats the calibration operation until the jitter amount falls within a predetermined amount on the basis of the above-described jitter detection result, thereby ensuring the performance of the disk recording / reproducing apparatus.

【0098】なお、上記の例では5T−5Tの記録パタ
ーンKPについてのジッタを検出する場合を説明した
が、記録パターンKPj (j=1,2,3,・・・)は
あらかじめ分かっており、これらの記録パターンに関す
るジッタ量をそれぞれ求めることが好ましいことから、
記録再生装置には、それぞれの記録パターンKPj に対
応したパターン判定手段85が設けられている。パター
ン判定手段85における入力ビット数が10の場合は、
記録パターン抽出手段80およびジッタ演算手段90に
おける5つのnビットパラレルフリップフロップ回路D
FF11〜DFF15は利用することが可能であるが、そう
でない場合には、それぞれに対応した記録パターン抽出
手段80や遅延要素(シフトレジスタ)を設ける必要が
ある。
In the above example, the case of detecting the jitter of the 5T-5T recording pattern KP has been described. However, the recording pattern KPj (j = 1, 2, 3,...) Is known in advance. Since it is preferable to determine the jitter amount for each of these recording patterns,
The recording / reproducing apparatus is provided with pattern determination means 85 corresponding to each recording pattern KPj. When the number of input bits in the pattern determining means 85 is 10,
Five n-bit parallel flip-flop circuits D in recording pattern extracting means 80 and jitter calculating means 90
The FF 11 to DFF 15 can be used, but if not, it is necessary to provide a recording pattern extracting means 80 and a delay element (shift register) corresponding to each.

【0099】このように、校正動作が必要とされる記録
パターンの数だけジッタ検出処理ブロック38を設ける
ことにより、ランダムに組み合わせられた複数の記録パ
ターンから構成される記録情報を再生した場合にも、再
生信号から所定の記録パターンを抽出し、抽出した記録
パターンに関するジッタ量を求めることができる。従っ
て、記録パラメータを適切に校正することが可能であ
る。
As described above, by providing the jitter detection processing blocks 38 as many as the number of recording patterns requiring the calibration operation, even when recording information composed of a plurality of recording patterns randomly combined is reproduced. Then, a predetermined recording pattern is extracted from the reproduced signal, and the amount of jitter relating to the extracted recording pattern can be obtained. Therefore, it is possible to appropriately calibrate the recording parameters.

【0100】このように、本実施形態の記録再生装置で
は、波形整形された再生信号がA/D変換器30で量子
化され、量子化されたデータはパーシャルレスポンス等
化される。このサンプル値は、アシンメトリー検出処理
ブロック37において、多値のレベルに判定され、最大
と最小のレベルに対応するサンプル値が累積加算され
る。また、ジッタ検出処理ブロック38において、再生
信号から特定のパターンのジッタ量が検出される。検出
されたアシンメトリー量とジッタ量から、光ディスクコ
ントローラ39が記録パラメータの最適化を行い、アシ
ンメトリー量とジッタ量とが所定の許容値以下になるよ
うに校正動作を行うことで、光ディスクおよびディスク
記録再生装置の特性のばらつきの影響を低減し、信頼性
の高い記録性能を実現することができる。
As described above, in the recording / reproducing apparatus of the present embodiment, the waveform-shaped reproduced signal is quantized by the A / D converter 30, and the quantized data is subjected to partial response equalization. This sample value is determined to be a multi-value level in the asymmetry detection processing block 37, and sample values corresponding to the maximum and minimum levels are cumulatively added. In the jitter detection processing block 38, the amount of jitter of a specific pattern is detected from the reproduced signal. The optical disk controller 39 optimizes the recording parameters based on the detected asymmetry amount and the jitter amount, and performs a calibration operation so that the asymmetry amount and the jitter amount are equal to or less than a predetermined allowable value. The effect of variations in device characteristics can be reduced, and highly reliable recording performance can be achieved.

【0101】以上、本発明の実施の形態について詳述し
てきたが、本発明は上記の実施の形態に限定されず、次
のような実施の形態も含み得る。 (1)上記の実施の形態においては、ジッタ検出処理ブ
ロック38は位相誤差絶対値Absを累積するように構
成されているが、これに代えて、位相誤差の2乗を累積
し、所定時間経過後の累積値または所定回数加算後の累
積値をデジタルジッタ情報Jrとして出力するように構
成してもよい。 (2)上記の実施の形態においては、位相誤差および位
相誤差絶対値として、ゼロクロスポイントに対応するサ
ンプルデータSDのサンプル値をそのまま用いたが、こ
れに代えて、ゼロクロスポイントの前後のサンプル値か
ら、再生信号の立ち上がりあるいは立ち下がりエッジの
傾きを求め、上記ゼロクロスポイントに対応するサンプ
ルデータSDのサンプル値を正規化した結果(すなわち
時間軸方向のずれ量に変換した結果)を位相誤差および
位相誤差絶対値に用いても良い。 (3)上記の実施の形態においては、アシンメトリー検
出処理ブロック37において帯域制限回路31から出力
されたサンプルデータSDを直接用いて多値レベル判定
を行い、デジタルアシンメトリー情報Asの算出を行っ
たが、これに代えて、後段のビタビ復号器44の復号結
果を用いてサンプルデータの多値のレベルを間接的に判
定し、判定結果から最大値および最小値を有するデータ
を特定することによって、アシンメトリ量を求めるよう
に構成してもよい。 (4)上記の実施の形態においては、帯域制限回路31
から出力されたサンプルデータSDに基づいて極性判定
情報POLを生成し、極性判定情報POLに基づいてデ
ジタルジッタ情報Jrの算出を行ったが、これに代え
て、ビタビ復号器44の復号結果を用いて記録パターン
KPj を検出し、検出結果からジッタ量を求めるように
構成してもよい。
The embodiments of the present invention have been described above in detail. However, the present invention is not limited to the above embodiments, and may include the following embodiments. (1) In the above embodiment, the jitter detection processing block 38 is configured to accumulate the phase error absolute value Abs, but instead accumulates the square of the phase error and elapses a predetermined time. A configuration may be adopted in which a later accumulated value or an accumulated value after a predetermined number of additions is output as digital jitter information Jr. (2) In the above-described embodiment, the sample value of the sample data SD corresponding to the zero cross point is used as it is as the phase error and the absolute value of the phase error. , The slope of the rising or falling edge of the reproduced signal is obtained, and the result of normalizing the sample value of the sample data SD corresponding to the above-mentioned zero cross point (that is, the result of conversion into a shift amount in the time axis direction) is used as a phase error and a phase error. It may be used as an absolute value. (3) In the above embodiment, the multi-level level determination is performed by directly using the sample data SD output from the band limiting circuit 31 in the asymmetry detection processing block 37, and the digital asymmetry information As is calculated. Instead, the multi-value level of the sample data is indirectly determined using the decoding result of the Viterbi decoder 44 at the subsequent stage, and the data having the maximum value and the minimum value are specified from the determination result. May be obtained. (4) In the above embodiment, the band limiting circuit 31
The polarity determination information POL is generated based on the sample data SD output from the PDP, and the digital jitter information Jr is calculated based on the polarity determination information POL. Instead, the decoding result of the Viterbi decoder 44 is used. In this case, the recording pattern KPj may be detected by using this method, and the jitter amount may be obtained from the detection result.

【0102】[0102]

【発明の効果】本発明によれば、再生信号と同期したサ
ンプリングクロックで再生信号からサンプリングされた
データを用いて、再生信号のジッタおよびアシンメトリ
を適切に検出することができる。従って、PRML方式
に適合するデジタル信号処理回路を備えた記録再生装置
などにおいては、回路規模を不必要に大きくすることな
くジッタおよびアシンメトリを検出することができる。
このようにして検出したジッタおよびアシンメトリに基
づいて記録パラメータを最適化し、最適化された記録パ
ラメータを用いてデジタル情報を記録するようにすれ
ば、再生時の信号品質を高くすることができる。
According to the present invention, jitter and asymmetry of a reproduced signal can be appropriately detected using data sampled from the reproduced signal with a sampling clock synchronized with the reproduced signal. Therefore, in a recording / reproducing apparatus including a digital signal processing circuit conforming to the PRML system, jitter and asymmetry can be detected without unnecessarily increasing the circuit scale.
If the recording parameters are optimized based on the jitter and asymmetry detected in this way, and digital information is recorded using the optimized recording parameters, the signal quality during reproduction can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態のディスク記録再生装置
の電気的構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating an electrical configuration of a disk recording / reproducing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1のディスク記録再生装置におけるアシン
メトリー検出処理ブロックとジッタ検出処理ブロックの
より具体的な電気的構成を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a more specific electrical configuration of an asymmetry detection processing block and a jitter detection processing block in the disk recording / reproducing apparatus of FIG.

【図3】 図1のディスク記録再生装置における位相比
較処理ブロックの具体的なロジック回路構成を示す回路
図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of a phase comparison processing block in the disk recording / reproducing apparatus of FIG. 1;

【図4】 図3におけるnビットパラレルフリップフロ
ップ回路の具体的なロジック回路構成を示す回路図であ
る。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of the n-bit parallel flip-flop circuit in FIG. 3;

【図5】 図3におけるセレクタの具体的なロジック回
路構成を示す回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of a selector in FIG. 3;

【図6】 実施の形態のディスク記録再生装置の位相比
較処理ブロックにおける各部の信号/情報の状態遷移図
である。
FIG. 6 is a state transition diagram of signals / information of each unit in a phase comparison processing block of the disk recording / reproducing apparatus of the embodiment.

【図7】 図2のアシンメトリー検出処理ブロックにお
けるピーク値検出手段とアシンメトリー演算手段との具
体的なロジック回路構成を示す回路図である。
7 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of a peak value detection unit and an asymmetry calculation unit in the asymmetry detection processing block of FIG. 2;

【図8】 実施の形態のディスク記録再生装置の位相比
較処理ブロックにおける各部の信号/情報の状態遷移図
であり、図6と同様の形態を示す。
FIG. 8 is a state transition diagram of signals / information of each unit in a phase comparison processing block of the disk recording / reproducing apparatus according to the embodiment, and shows a form similar to FIG. 6;

【図9】 実施の形態のディスク記録再生装置のアシン
メトリ検出処理ブロックにおける、図8に示した信号/
情報の状態遷移図である。
FIG. 9 shows the signal / signal shown in FIG.
It is a state transition diagram of information.

【図10】 非対称性をもつ再生信号の具体例を示す図
である。
FIG. 10 is a diagram showing a specific example of a reproduced signal having asymmetry.

【図11】 図2のジッタ検出処理ブロックにおける記
録パターン抽出手段、パターン判定手段およびジッタ演
算手段の具体的なロジック回路構成を示す回路図であ
る。
11 is a circuit diagram showing a specific logic circuit configuration of a recording pattern extraction unit, a pattern determination unit, and a jitter calculation unit in the jitter detection processing block of FIG.

【図12】 上記の図6とは別の、位相比較処理ブロッ
クにおける各部の信号/情報の状態遷移図である。
FIG. 12 is a state transition diagram of signals / information of each unit in the phase comparison processing block, which is different from FIG.

【図13】 従来技術にかかわるディスク記録再生装置
の電気的構成を示すブロック図である。
FIG. 13 is a block diagram illustrating an electrical configuration of a disk recording / reproducing apparatus according to the related art.

【図14】 従来技術におけるアシンメトリー検出の手
法の説明図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram of a technique of asymmetry detection in a conventional technique.

【図15】 アシンメトリーのついた再生信号の具体例
を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing a specific example of a reproduction signal with asymmetry.

【図16】 一般的なPRML(パーシャルレスポンス
最尤)方式による信号処理回路の概略図である。
FIG. 16 is a schematic diagram of a general PRML (partial response maximum likelihood) signal processing circuit.

【図17】 光ディスクに対するデジタルデータの記録
動作および再生動作を説明するための図であり、(a)
はレーザ光波形、(b)はディスク上に記録されるマー
ク、(c)は再生されたアナログ信号、(d)は2値化
された信号を示す。
17A and 17B are diagrams for explaining a recording operation and a reproducing operation of digital data with respect to an optical disc, and FIG.
Shows a laser beam waveform, (b) shows a mark recorded on a disk, (c) shows a reproduced analog signal, and (d) shows a binarized signal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

27 光ディスク 28 光ヘッド 29 波形等化器 30 A/D変換器 31 帯域制限回路 32 位相比較処理ブロック 33 LPF 34 D/A変換器 35 VCO 37 アシンメトリー検出処理ブロック 38 ジッタ検出処理ブロック 39 光ディスクコントローラ 40 パターン発生回路 41 記録補償回路 42 レーザ 43 デジタルフィルタ 44 ビタビ復号器 50 多値レベル判定手段 52 サンプル極性判定手段 54 ピーク値検出手段 60 アシンメトリー演算手段 70 位相誤差絶対値生成手段 80 記録パターン抽出手段 85 パターン判定手段 90 ジッタ演算手段 DET 最大値・最小値検出回路 SD サンプルデータ εφ 位相誤差 CROSS ゼロクロスポイント検出信号 Abs 位相誤差絶対値 POL 極性判定情報 Ea アシンメトリー情報算出許可指令 Ej ジッタ情報算出許可指令 KP 記録パターン KPth 基準パターン 27 Optical Disk 28 Optical Head 29 Waveform Equalizer 30 A / D Converter 31 Band Limiting Circuit 32 Phase Comparison Processing Block 33 LPF 34 D / A Converter 35 VCO 37 Asymmetry Detection Processing Block 38 Jitter Detection Processing Block 39 Optical Disk Controller 40 Pattern Generation circuit 41 Recording compensation circuit 42 Laser 43 Digital filter 44 Viterbi decoder 50 Multi-level level determination means 52 Sample polarity determination means 54 Peak value detection means 60 Asymmetry calculation means 70 Phase error absolute value generation means 80 Recording pattern extraction means 85 Pattern determination Means 90 Jitter calculation means DET Maximum / minimum value detection circuit SD Sample data εφ Phase error CROSS Zero cross point detection signal Abs Phase error absolute value POL Polarity judgment information Ea Asymmet Reason information calculation permission command Ej Jitter information calculation permission command KP recording pattern KPth reference pattern

フロントページの続き (72)発明者 宮下 晴旬 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 高橋 利彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内Continued on the front page (72) Inventor Haruharu Miyashita 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 記録媒体上に記録されたデジタル情報を
再生することによって得られた再生信号のアシンメトリ
ーを検出するアシンメトリー検出装置であって、 前記再生信号に基づいてクロック信号を生成するクロッ
ク生成器と、 前記クロック信号に同期して、前記再生信号のサンプリ
ングを行なうA/D変換器と、 前記サンプリングによって得られた複数のサンプルデー
タのそれぞれの大きさが所定のレベル以上であるか否か
を判定する判定器と、 前記判定器からの出力に基づいて前記複数のサンプルデ
ータのうちの所定のサンプルデータを選択し、前記選択
された所定のサンプルデータを用いて前記再生信号のア
シンメトリーを検出する検出器と、 を備えるアシンメトリー検出装置。
1. An asymmetry detection device for detecting the asymmetry of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, wherein the clock generator generates a clock signal based on the reproduced signal. An A / D converter that samples the reproduction signal in synchronization with the clock signal; and determines whether each of a plurality of sample data obtained by the sampling is at least a predetermined level. A determiner for determining, selecting predetermined sample data among the plurality of sample data based on an output from the determiner, and detecting asymmetry of the reproduction signal using the selected predetermined sample data. An asymmetry detection device comprising: a detector;
【請求項2】 前記検出器は、前記判定器からの出力に
基づき、前記複数のサンプルデータのうち最大値を有す
るサンプルデータおよび最小値を有するサンプルデータ
を選択する請求項1に記載のアシンメトリー検出装置。
2. The asymmetry detection according to claim 1, wherein the detector selects sample data having a maximum value and sample data having a minimum value among the plurality of sample data based on an output from the determiner. apparatus.
【請求項3】 前記検出器は、前記最大値を有するサン
プルデータおよび最小値を有するサンプルデータを累積
的に加算し、これにより再生信号のアシンメトリーを検
出する請求項2に記載のアシンメトリー検出装置。
3. The asymmetry detection apparatus according to claim 2, wherein the detector cumulatively adds the sample data having the maximum value and the sample data having the minimum value, thereby detecting the asymmetry of the reproduced signal.
【請求項4】 前記判定器は、サンプルデータの極性に
関する情報を取得し、前記極性に基づいて最大値を有す
るサンプルデータおよび最小値を有するサンプルデータ
を検出する請求項2に記載のアシンメトリー検出装置。
4. The asymmetry detection apparatus according to claim 2, wherein the determiner acquires information on the polarity of the sample data and detects sample data having a maximum value and sample data having a minimum value based on the polarity. .
【請求項5】 前記クロック信号生成器は、前記サンプ
ルデータを用いて、前記再生信号とクロック信号との位
相誤差を検出し、前記検出された位相誤差に基づいて前
記クロック信号をフィードバック制御する請求項1に記
載のアシンメトリー検出装置。
5. The clock signal generator detects a phase error between the reproduced signal and a clock signal using the sample data, and performs feedback control of the clock signal based on the detected phase error. Item 2. An asymmetry detection device according to item 1.
【請求項6】 請求項1に記載のアシンメトリー検出装
置と、 前記アシンメトリー検出装置によって検出された再生信
号のアシンメトリーに応じて、記録に関するパラメータ
を設定する記録パラメータ設定部と、 前記記録パラメータを用いて、前記記録媒体上にデジタ
ル情報を記録する記録装置と、 を備える記録再生装置。
6. The asymmetry detection device according to claim 1, a recording parameter setting unit configured to set parameters related to recording according to the asymmetry of the reproduction signal detected by the asymmetry detection device, and using the recording parameter. A recording device for recording digital information on the recording medium.
【請求項7】 記録媒体上に記録されたデジタル情報を
再生することによって得られた再生信号のジッタを検出
するジッタ検出装置であって、 前記再生信号に基づいてクロック信号を生成するクロッ
ク生成器と、 前記クロック信号に同期して、前記再生信号のサンプリ
ングを行なうA/D変換器と、 前記サンプリングによって得られた複数のサンプルデー
タのそれぞれの大きさが所定レベル以上であるか否かを
判定する判定器と、 前記判定器からの出力に基づいて、前記複数のサンプル
データのうちの所定のサンプルデータを用いて前記再生
信号のジッタを検出する検出器と、 を備えるジッタ検出装置。
7. A jitter detector for detecting jitter of a reproduction signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, wherein the clock generator generates a clock signal based on the reproduction signal. An A / D converter that samples the reproduction signal in synchronization with the clock signal; and determines whether each of a plurality of sample data obtained by the sampling is at least a predetermined level. And a detector that detects jitter of the reproduced signal using predetermined sample data of the plurality of sample data based on an output from the determiner.
【請求項8】 前記判定器は、前記サンプルデータの極
性に関する情報を取得する請求項7に記載のジッタ検出
装置。
8. The jitter detection device according to claim 7, wherein the determiner acquires information on a polarity of the sample data.
【請求項9】 前記検出器は、前記複数のサンプルデー
タの極性が変化するときのサンプルデータを用いて前記
再生信号のジッタを検出する請求項8に記載のジッタ検
出装置。
9. The jitter detection device according to claim 8, wherein the detector detects the jitter of the reproduction signal using sample data when the polarities of the plurality of sample data change.
【請求項10】 前記検出器は、前記所定のサンプルデ
ータの位相誤差の絶対値を累積する請求項7に記載のジ
ッタ検出装置。
10. The jitter detecting apparatus according to claim 7, wherein the detector accumulates an absolute value of a phase error of the predetermined sample data.
【請求項11】 前記判定器からの出力に基づいて前記
複数のサンプルデータが形成する信号パターンを検出す
る請求項7に記載のジッタ検出装置。
11. The jitter detection device according to claim 7, wherein a signal pattern formed by the plurality of sample data is detected based on an output from the determiner.
【請求項12】 前記信号パターンが所定のパターンで
あると判断された場合において前記ジッタを検出するこ
とにより、前記所定のパターンに関するジッタを検出す
ることができる請求項11に記載のジッタ検出装置。
12. The jitter detecting apparatus according to claim 11, wherein when the signal pattern is determined to be a predetermined pattern, the jitter related to the predetermined pattern can be detected by detecting the jitter.
【請求項13】 請求項7に記載のジッタ検出装置と、 前記ジッタ検出装置によって検出された再生信号のジッ
タに応じて、記録に関するパラメータを設定する記録パ
ラメータ設定部と、 前記記録パラメータを用いて、前記記録媒体上にデジタ
ル情報を記録する記録装置と、 を備える記録再生装置。
13. A jitter detection device according to claim 7, a recording parameter setting unit for setting a parameter relating to recording in accordance with a jitter of a reproduction signal detected by the jitter detection device, and using the recording parameter. A recording device for recording digital information on the recording medium.
【請求項14】 記録媒体上に記録されたデジタル情報
を再生することによって得られた再生信号のアシンメト
リーを検出する方法であって、 前記再生信号に基づいてクロック信号を生成するステッ
プと、 前記クロック信号に同期して、前記再生信号のサンプリ
ングを行なうステップと、 前記サンプリングによって得られた複数のサンプルデー
タのうちの選択されたサンプルデータを累積加算するこ
とにより、前記再生信号のアシンメトリーを検出するス
テップとを包含するアシンメトリー検出方法。
14. A method for detecting asymmetry of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, comprising: generating a clock signal based on the reproduced signal; Sampling the reproduction signal in synchronization with the signal; and detecting asymmetry of the reproduction signal by accumulatively adding sample data selected from a plurality of sample data obtained by the sampling. An asymmetry detection method comprising:
【請求項15】 記録媒体上に記録されたデジタル情報
を再生することによって得られた再生信号のジッタを検
出する方法であって、 前記再生信号に基づいてクロック信号を生成するステッ
プと、 前記クロック信号に同期して、前記再生信号のサンプリ
ングを行なうステップと、 前記サンプリングによって得られた複数のサンプルデー
タのうちの選択されたサンプルデータを累積加算するこ
とにより、前記再生信号のジッタを検出するステップと
を包含するジッタ検出方法。
15. A method for detecting jitter of a reproduced signal obtained by reproducing digital information recorded on a recording medium, comprising: generating a clock signal based on the reproduced signal; Sampling the reproduction signal in synchronization with a signal; and detecting jitter of the reproduction signal by accumulatively adding sample data selected from a plurality of sample data obtained by the sampling. And a jitter detection method including:
【請求項16】 記録媒体からの再生信号をパーシャル
レスポンス等化することによって多値レベルの等化出力
を得るステップと、 前記等化出力のうち、最大値を有する等化出力と最小値
を有する等化出力とを累積加算することによって、前記
再生信号のアシンメトリーを検出するステップとを包含
するアシンメトリー検出方法。
16. A step of obtaining a multi-value level equalized output by equalizing a reproduced signal from a recording medium with a partial response, and having an equalized output having a maximum value and a minimum value among the equalized outputs. Detecting the asymmetry of the reproduced signal by cumulatively adding the equalized output.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100771722B1 (en) * 2005-03-10 2007-10-30 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 Jitter detection apparatus
JP2008059715A (en) * 2006-09-01 2008-03-13 Teac Corp Optical disk drive
CN101661787A (en) * 2001-11-29 2010-03-03 夏普株式会社 Data recording method
US7983132B2 (en) 2005-10-25 2011-07-19 Teac Corporation Optical disk apparatus
US8004945B2 (en) 2006-03-13 2011-08-23 Panasonic Corporation Recording medium access device
KR101092113B1 (en) 2004-10-20 2011-12-12 가부시키가이샤 히타치 엘지 데이터 스토리지 Recording method and optical disc device
KR101217560B1 (en) * 2006-11-27 2013-01-02 삼성전자주식회사 Method and apparatus for compensating asymmetric error
JP2014171238A (en) * 2014-04-25 2014-09-18 Spansion Llc Receiving apparatus and method for setting gain
JP2016109476A (en) * 2014-12-03 2016-06-20 国立研究開発法人産業技術総合研究所 Electrostatic measurement device and electrostatic removal system

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8370324B2 (en) 2001-11-29 2013-02-05 Sharp Kabushiki Kaisha Data management method using a table, and related storage device, storage medium and program
CN101661787A (en) * 2001-11-29 2010-03-03 夏普株式会社 Data recording method
US9330724B2 (en) 2001-11-29 2016-05-03 Sharp Kabushiki Kaisha Data recording method, data erasure method, data display method, storage device, storage medium, and program
KR101092113B1 (en) 2004-10-20 2011-12-12 가부시키가이샤 히타치 엘지 데이터 스토리지 Recording method and optical disc device
US7433286B2 (en) 2005-03-10 2008-10-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Jitter detection apparatus
KR100771722B1 (en) * 2005-03-10 2007-10-30 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 Jitter detection apparatus
US7983132B2 (en) 2005-10-25 2011-07-19 Teac Corporation Optical disk apparatus
US8004945B2 (en) 2006-03-13 2011-08-23 Panasonic Corporation Recording medium access device
JP2008059715A (en) * 2006-09-01 2008-03-13 Teac Corp Optical disk drive
JP4697096B2 (en) * 2006-09-01 2011-06-08 ティアック株式会社 Optical disk device
KR101217560B1 (en) * 2006-11-27 2013-01-02 삼성전자주식회사 Method and apparatus for compensating asymmetric error
JP2014171238A (en) * 2014-04-25 2014-09-18 Spansion Llc Receiving apparatus and method for setting gain
JP2016109476A (en) * 2014-12-03 2016-06-20 国立研究開発法人産業技術総合研究所 Electrostatic measurement device and electrostatic removal system

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