JP2001243662A - Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium - Google Patents

Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium

Info

Publication number
JP2001243662A
JP2001243662A JP2000047819A JP2000047819A JP2001243662A JP 2001243662 A JP2001243662 A JP 2001243662A JP 2000047819 A JP2000047819 A JP 2000047819A JP 2000047819 A JP2000047819 A JP 2000047819A JP 2001243662 A JP2001243662 A JP 2001243662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
material layer
photosensitive material
recording medium
manufacturing
master
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000047819A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichiro Kijima
公一朗 木島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2000047819A priority Critical patent/JP2001243662A/en
Publication of JP2001243662A publication Critical patent/JP2001243662A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To sufficiently increase the adhesion property of a photosensitive material layer in the formation of a fine rugged pattern and to suppress increase in the number of production processes therefor in a method of manufacturing a recording medium having a fine rugged pattern and in a method of manufacturing a master disk for the manufacture of a recording medium. SOLUTION: In the method of manufacturing a recording medium having the fine rugged pattern in the process of patterning by pattern exposure and development of a photosensitive material layer, a base layer 4 which improves the adhesion property of the photosensitive material layer 5 and which shows solubility with the developer for the development of the photosensitive material layer is formed on the structural substrate 1 of the recording medium, and then the photosensitive layer is formed on the base layer. Thus, the base layer is patterned at the same time of developing the photosensitive material after the pattern exposure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば記録マーク
あるいはトラック溝等の微細凹凸を有する記録媒体を得
る場合に適用して好適な記録媒体の製造方法、および記
録媒体製造用原盤の製造方法に係わる。尚、本発明でい
う原盤とは、この原盤自体を、例えば射出成形によって
あるいは2P法(Photopolymerization 法) 等によって
微細凹凸を有する記録媒体を成形するスタンパー、この
スタンパーを複数転写複製するためのいわゆるマスタ
ー、このマスターを複数転写複製するいわゆるマザーマ
スターを含めて指称するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a recording medium suitable for obtaining a recording medium having fine irregularities such as recording marks or track grooves, and a method for manufacturing a master for manufacturing a recording medium. Get involved. In the present invention, the master is a stamper for molding a recording medium having fine irregularities by, for example, injection molding or a 2P method (Photopolymerization method), or a so-called master for copying and copying a plurality of stampers. , Including a so-called mother master for transferring and copying a plurality of masters.

【0002】[0002]

【従来の技術】昨今、より高記録密度化の実現に向かっ
て、その光記録および/または光再生を行う光学ピック
アップにおける光学系の高開口数(高N.A.)化、そ
の光記録および/または光再生を行うレーザ光の短波長
化、すなわちいわゆる青紫レーザ光を用いてビームスポ
ット径の縮小化が図られている。これに伴って、記録媒
体における記録マークや、トラック溝等の微細凹凸パタ
ーンの、より微細化、微細ピッチ化の必要性が高まって
いる。
2. Description of the Related Art In recent years, toward realization of higher recording density, an optical system in an optical pickup for performing optical recording and / or optical reproduction has been increased in numerical aperture (high NA), and optical recording and optical recording have been performed. Attempts have been made to shorten the wavelength of laser light for optical reproduction, that is, to reduce the beam spot diameter using so-called blue-violet laser light. Along with this, the necessity of making finer and finer pitches of fine uneven patterns such as recording marks and track grooves on a recording medium is increasing.

【0003】微細凹凸パターンを有する記録媒体、例え
ば光ディスクを製造する方法としては、記録媒体を構成
する基板に直接的に、微細凹凸を形成することによって
目的とする微細凹凸パターンを有する記録媒体、あるい
は微細凹凸を有する記録媒体製造用原盤、例えばスタン
パーを作製して射出成形あるいは2P法等によって目的
とする微細凹凸を有する記録媒体を得る方法等がある。
[0003] As a method of manufacturing a recording medium having a fine concavo-convex pattern, for example, an optical disk, a recording medium having a target fine concavo-convex pattern by forming fine concavo-convex directly on a substrate constituting the recording medium, or There is a method of producing a master for producing a recording medium having fine irregularities, for example, a stamper, and obtaining a recording medium having the desired fine irregularities by injection molding or 2P method.

【0004】これらいずれの方法においても、その記録
媒体を構成する基板、あるいは原盤を構成する基板に対
する微細凹凸の形成においては、感光性材料層を用いて
これに対する露光、現像工程を行って感光性材料層によ
る目的とする微細凹凸パターンに応じたパターンの作製
がなされる。
In any of these methods, in forming fine irregularities on a substrate constituting a recording medium or a substrate constituting a master, a photosensitive material layer is used to perform exposure and development steps on the photosensitive material layer. Fabrication of a pattern corresponding to the target fine uneven pattern by the material layer is performed.

【0005】すなわち、例えば平滑表面を有するガラス
基板が用意され、これに感光性材料層を塗布し、目的と
する微細凹凸に対応するパターン露光がなされ、現像処
理がなされてこの感光性材料層をパターニングし、例え
ばこのパターンによって目的とする記録媒体における微
細凹凸に対応する微細凹凸を形成する。そして、このパ
ターン化された感光性材料層上に、このパターンを埋込
むように、無電解メッキおよび電気メッキによる例えば
Niメッキ層を形成し、このメッキ層を、感光性材料層
を有する基板から剥離して記録媒体成形用のスタンパ
ー、マスター、あるいはマザーマスターを作製する。こ
のようにして形成してNiメッキ層によるスタンパー、
あるいはマスターもしくはマザーマスターによるレプリ
カの作製によって得たスタンパーによって、上述したよ
うに、射出成形、あるいは2P法によって目的とする微
細凹凸を有する記録媒体の作製がなされる。
[0005] That is, for example, a glass substrate having a smooth surface is prepared, a photosensitive material layer is applied to the glass substrate, pattern exposure corresponding to the desired fine irregularities is performed, and development processing is performed. By patterning, for example, fine concavities and convexities corresponding to fine concavities and convexities on a target recording medium are formed by this pattern. Then, on the patterned photosensitive material layer, for example, a Ni plating layer by electroless plating and electroplating is formed so as to embed the pattern, and this plating layer is formed from the substrate having the photosensitive material layer. By peeling off, a stamper, master or mother master for forming a recording medium is manufactured. A stamper formed by the Ni plating layer formed in this manner,
Alternatively, as described above, the recording medium having the desired fine irregularities is produced by injection molding or the 2P method using a stamper obtained by producing a replica by a master or a mother master.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うに、感光性材料層による微細凹凸パターンが、より微
細化されると、基板に対する密着性に問題が生じ、微細
パターン化された感光性材料層に剥がれや流れが生じ、
高密度、高精度の微細凹凸の形成を阻害し、不良品の発
生率を高める。
However, as described above, when the fine concavo-convex pattern formed by the photosensitive material layer is further miniaturized, a problem occurs in the adhesion to the substrate, and the finely patterned photosensitive material is formed. Peeling and flow occur in the layer,
It inhibits the formation of high-density, high-precision fine irregularities and increases the incidence of defective products.

【0007】このような感光性材料層の基板に対する密
着性を上げるために、基板上にCr層をスパッタリング
等によって被着し、この上に感光性材料層を塗布する方
法の提案もなされているが、この場合、感光性材料層に
対する露光、現像の後に、Cr層を、感光性材料層をマ
スクとしてエッチングするという工程を必要とし、工程
数の増加のみならず、高密度、高精度の微細凹凸の形成
を阻害することになる。
In order to increase the adhesion of the photosensitive material layer to the substrate, a method has been proposed in which a Cr layer is deposited on the substrate by sputtering or the like, and the photosensitive material layer is applied thereon. However, in this case, a step of etching the Cr layer using the photosensitive material layer as a mask after exposure and development of the photosensitive material layer is required. This will hinder the formation of irregularities.

【0008】また、記録媒体において、特に高い平坦性
が求められる場合がある。すなわち、前述したように、
ニアフィールド構成や、また、昨今、提唱されているよ
うな、光学レンズを、例えばエアスライダー上にマウン
トして例えばこのスライダー部材と記録媒体との距離を
100nm以下に設定する構成とする場合等において
は、記録媒体に高い表面平坦性が要求されて来る。とこ
ろが、上述したように、スタンパー等の形成において、
メッキ層を形成することは、表面形状、位置等にメッキ
速度が依存することから、このメッキ層、すなわちスタ
ンパーに、幾分のうねりが発生しがちで、この程度のう
ねりによっても、上述したニアフィールド構成、スライ
ダー構成による記録媒体の作製においては問題となる。
In some cases, a recording medium requires particularly high flatness. That is, as described above,
In a near-field configuration, or in a case where an optical lens is mounted on, for example, an air slider and a distance between the slider member and a recording medium is set to 100 nm or less, for example, as recently proposed. The recording media require high surface flatness. However, as described above, in forming a stamper or the like,
Forming the plating layer depends on the plating speed depending on the surface shape, position, and the like. Therefore, some undulation tends to occur in this plating layer, that is, the stamper. This is a problem in producing a recording medium having a field configuration and a slider configuration.

【0009】記録媒体の平坦性を向上させる方法として
は、メッキによる方法によらず、原盤表面に、RIE
(反応性イオンエッチング)によって所要のパターンを
有する微細凹凸を形成するという方法によるものがある
(例えば特開平6−212458号公報)。この方法に
よる場合、微細凹凸の深さ、断面形状等が、感光性材料
層に依存しないという利点を有する。
As a method for improving the flatness of a recording medium, RIE is applied to the surface of the master disk regardless of the plating method.
There is a method by which fine irregularities having a required pattern are formed by (reactive ion etching) (for example, JP-A-6-212458). According to this method, there is an advantage that the depth and the cross-sectional shape of the fine unevenness do not depend on the photosensitive material layer.

【0010】しかしながら、この場合においても、RI
Eのマスクとしての感光性材料層の密着性の問題があ
り、その密着性を上げるべく下地層としてCrを用いる
場合、前述したと同様の問題があり、またこのCrを、
例えばガラス原盤に対するRIEのガス種によってRI
Eすることができないことから、このRIEに先立って
Crのパターン化工程を必要とし、数多くの工程数の増
加を来す。
However, even in this case, the RI
There is a problem of the adhesion of the photosensitive material layer as the mask of E. When Cr is used as the underlayer to increase the adhesion, the same problem as described above occurs.
For example, depending on the RIE gas type for the glass master, RI
Since E cannot be performed, a patterning step of Cr is required prior to this RIE, and the number of steps is increased.

【0011】また、前述したように、感光性材料層によ
って微細凹凸を形成する場合、最終的に得る記録媒体に
おける微細凹凸の高低差は、感光性材料層の厚さによっ
て規制さる。また、その断面形状も感光性材料層に形成
した微細凹凸の断面形状に依存するなどの望ましくない
制約がある。ところが、上述したように、感光性材料層
のパターンをマスクとして、基板に対して、例えばRI
Eによって微細凹凸の形成を行う場合は、このような制
約が排除されるという利点もある。
Further, as described above, when fine irregularities are formed by the photosensitive material layer, the height difference of the fine irregularities in the finally obtained recording medium is regulated by the thickness of the photosensitive material layer. In addition, there is an undesirable restriction that the cross-sectional shape also depends on the cross-sectional shape of the fine unevenness formed on the photosensitive material layer. However, as described above, using the pattern of the photosensitive material layer as a mask,
When fine unevenness is formed by E, there is also an advantage that such a restriction is eliminated.

【0012】本発明においては、微細凹凸を有する記録
媒体の製造方法、および記録媒体製造用原盤の製造方法
において、少なくとも微細凹凸形成における感光性材層
の密着性を充分高め、かつ、これに伴う製造工程数の増
加の抑制を図る。
In the present invention, in the method for producing a recording medium having fine irregularities and the method for producing a master for producing a recording medium, the adhesiveness of the photosensitive material layer at least in the formation of the fine irregularities is sufficiently increased, and An increase in the number of manufacturing steps is suppressed.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明は、感光性材料層
に対するパターン露光および現像処理によるパターニン
グ工程を経て微細凹凸を有する記録媒体を製造する記録
媒体の製造方法にあって、記録媒体の構成基板上に、感
光性材料層の密着性を向上し、感光性材料層に対する現
像処理の現像液に対し溶解性を示す下地層、例えば後述
するアルミニウムAl層、あるいはシリコンSi層を形
成する工程を有し、この下地層上に感光性材料層を形成
する工程と、感光性材料層に対する微細凹凸に応じたパ
ターン露光工程と、現像液によって、感光性材料層のパ
ターニングと、このパターニングによる感光性材料層の
開口を通じて下地層を溶解するパターニングとを同時に
行う現像工程を行う。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a method for manufacturing a recording medium having fine irregularities through a patterning step by pattern exposure and development of a photosensitive material layer, and comprises a structure of the recording medium. On the substrate, a step of improving the adhesiveness of the photosensitive material layer and forming a base layer showing solubility in a developing solution of a developing process for the photosensitive material layer, for example, an aluminum Al layer or a silicon Si layer described later. A step of forming a photosensitive material layer on the underlayer, a step of pattern exposure corresponding to fine irregularities on the photosensitive material layer, a patterning of the photosensitive material layer with a developer, and a photosensitivity by the patterning. A development step is performed in which patterning for dissolving the underlayer through the openings in the material layer is performed simultaneously.

【0014】また、本発明は、感光性材料層に対するパ
ターン露光および現像処理によるパターニング工程を経
て微細凹凸を有する記録媒体を製造する記録媒体製造用
原盤の製造方法にあって、原盤の構成基板上に、感光性
材料層の密着性を向上し、感光性材料層に対する現像処
理の現像液に対し溶解性を示す下地層を形成する工程
と、この下地層上に感光性材料層を形成する工程と、感
光性材料層に対する微細凹凸に応じたパターン露光工程
と、現像液によって、感光性材料層のパターニングと、
このパターニングによる感光性材料層の開口を通じて下
地層を溶解するパターニングとを同時に行う現像工程と
を行う。
The present invention also relates to a method for producing a recording medium producing master for producing a recording medium having fine irregularities through a patterning step by pattern exposure and development of a photosensitive material layer. Forming a base layer that improves the adhesion of the photosensitive material layer and is soluble in a developing solution in a developing process for the photosensitive material layer; and forming a photosensitive material layer on the base layer. And, a pattern exposure step according to the fine irregularities on the photosensitive material layer, and patterning of the photosensitive material layer by a developer,
And a developing step of simultaneously performing patterning for dissolving the underlying layer through the opening of the photosensitive material layer by the patterning.

【0015】上述の本発明による記録媒体の製造方法、
および記録媒体製造用原盤の製造方法においては、下地
層を設けることによって感光性材料層の密着性を高めて
その剥離や流れの防止を回避するものであるが、その下
地層が、感光性材料層の現像液によって溶解できる材料
層によって構成することによって、この下地層のパター
ン化のための特段の作業を回避する。すなわち、感光性
材料層の密着性を上げるために下地層を設けるにも拘わ
らず、これに対するパターン化を別途行うことによる工
程数の増加を回避する。
A method for manufacturing a recording medium according to the present invention,
In the method of manufacturing a master for producing a recording medium, a base layer is provided to enhance the adhesiveness of the photosensitive material layer to prevent the separation and the flow of the photosensitive material layer. By configuring the layer with a material layer that can be dissolved by the developer of the layer, this special work for patterning the underlayer is avoided. That is, even though an underlayer is provided to increase the adhesion of the photosensitive material layer, an increase in the number of steps due to separate patterning of the underlayer is avoided.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】本発明による記録媒体の製造方法
は、前述したように、感光性材料層に対するパターン露
光および現像処理によるパターニング工程を経て微細凹
凸を有する記録媒体を製造する記録媒体の製造方法にあ
って、記録媒体の構成基板上に、感光性材料層の密着性
を向上し、感光性材料層に対する現像処理の現像液に対
し溶解性を示す例えばAlないしはAlを主成分とする
下地層として形成し、この上に感光性材料層を形成す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As described above, the method for manufacturing a recording medium according to the present invention is a method for manufacturing a recording medium having fine irregularities through a patterning step of pattern exposure and development of a photosensitive material layer. In the method, on the constituent substrate of the recording medium, the adhesiveness of the photosensitive material layer is improved, and the solubility of the photosensitive material layer in a developing solution of a developing process is reduced, for example, by using Al or Al as a main component. It is formed as a ground layer, and a photosensitive material layer is formed thereon.

【0017】そして、この感光性材料層に対して、最終
的に得る記録媒体における微細凹凸に応じたパターン露
光を行い、その後、この感光性材料層に対する現像液に
よって現像処理を行い、感光性材料層の露光がなされた
部分、もしくは露光されなかった部分を除去する現像処
理を行う。このようにして、感光性材料層において、上
述の微細パターンに応じたパターン、すなわち最終的に
得る記録媒体における微細凹凸の凹部と同一パターンあ
るいはこのパターンが反転したパターンの開口を有する
微細パターンを形成する。そして、このとき、この現像
液によって下地層が溶解することから、感光性材料層の
現像処理と同時に、この感光性材料層の開口と同一パタ
ーンをもって下地層が除去されて、感光性材料層のパタ
ーンと同一パターンの開口が形成される。
Then, the photosensitive material layer is subjected to pattern exposure according to the fine irregularities on the finally obtained recording medium, and thereafter, the photosensitive material layer is subjected to a developing treatment with a developing solution. A development process is performed to remove the exposed or unexposed portions of the layer. In this manner, in the photosensitive material layer, a pattern corresponding to the above-described fine pattern, that is, a fine pattern having an opening of the same pattern as the concave and convex portions of the fine unevenness in the finally obtained recording medium or an inverted pattern of this pattern is formed. I do. At this time, since the underlayer is dissolved by the developing solution, the underlayer is removed in the same pattern as the opening of the photosensitive material layer at the same time as the development processing of the photosensitive material layer, and the photosensitive material layer is removed. An opening having the same pattern as the pattern is formed.

【0018】また、本発明による記録媒体製造用原盤の
製造方法は、感光性材料層に対するパターン露光および
現像処理によるパターニング工程を経て微細凹凸を有す
る記録媒体を製造する記録媒体製造用原盤の製造方法に
あって、原盤の構成基板上に、感光性材料層の密着性を
向上し、かつ感光性材料層に対する現像処理の現像液に
対し溶解性を示す例えばAlないしはAlを主成分とす
る下地層を形成し、この下地層上に感光性材料層を形成
する。
Further, the method of manufacturing a master for producing a recording medium according to the present invention is a method of manufacturing a master for producing a recording medium for producing a recording medium having fine irregularities through a patterning step by pattern exposure and development of a photosensitive material layer. In the above, on the constituent substrate of the master, an adhesive layer of a photosensitive material layer is improved, and the photosensitive material layer is soluble in a developing solution of a developing process, for example, Al or an underlayer containing Al as a main component. Is formed, and a photosensitive material layer is formed on the underlayer.

【0019】その後、この感光性材料層に対する微細凹
凸に応じたパターン露光を行い、現像液によって現像処
理を行ない、これによって、感光性材料層のパターニン
グと、このパターニングによる感光性材料層の開口を通
じて下地層を溶解するパターニングとを同時に行う。す
なわち、感光性材料層と下地層に同一パターンの開口を
形成する。
Thereafter, the photosensitive material layer is subjected to pattern exposure in accordance with fine irregularities, and is subjected to a developing treatment with a developing solution, whereby patterning of the photosensitive material layer and opening of the photosensitive material layer by the patterning are performed. Patterning for dissolving the underlayer is performed simultaneously. That is, openings having the same pattern are formed in the photosensitive material layer and the underlayer.

【0020】上述の記録媒体の製造方法、および記録媒
体製造用原盤の製造方法における感光性材料層は、例え
ばノボラック樹脂による感光性材料を用い、現像液は、
テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドを用いる
ことができ、この現像液は、AlないしはあるいはAl
を主成分とする材料、すなわち上述した下地層の溶解を
行うことができる。ここでAlを主成分とする材料と
は、上述した下地層としての機能、すなわち感光性材料
層の密着性を高め、かつその現像液によって溶解する性
質を損なわない程度に他の材料、例えば1〜2容量%程
度に、Ti,Si等を添加して、この下地層の成膜に際
しての結晶化を防止し、平坦性を得るような組成とする
ことができる。
In the above-described method for producing a recording medium and the method for producing a master for producing a recording medium, the photosensitive material layer uses, for example, a photosensitive material of a novolak resin, and the developing solution is
Tetramethylammonium hydroxide can be used, and this developer is Al or
, Ie, the underlayer described above can be dissolved. Here, the material containing Al as a main component refers to another material, for example, 1 as long as it enhances the function as the above-described underlayer, that is, the adhesiveness of the photosensitive material layer and does not impair the property of being dissolved by the developer. By adding Ti, Si, etc. to about 2% by volume, a composition can be obtained which prevents crystallization during the formation of this underlayer and obtains flatness.

【0021】上述した感光性材料層の密着性を高め、か
つ感光性材料層の現像液によって溶解が可能な、下地層
としては、AlないしはAlを主体とする材料に限定さ
れるものではなく、例えばSiないしはSiを主体とす
る材料によって構成することもできる。
The underlayer, which enhances the adhesion of the photosensitive material layer and can be dissolved by the developer of the photosensitive material layer, is not limited to Al or a material mainly composed of Al. For example, it can be made of Si or a material mainly composed of Si.

【0022】まず、本発明による記録媒体、例えば光磁
気記録媒体、相変化記録媒体等の、記録あるいは再生の
少なくともいずれかが光学的になされる、例えば光ディ
スクを得る記録媒体の製造方法の一例を、図1の工程図
(その1)、および図2の工程図(その2)における各
工程の概略断面図を参照して説明する。図3は、この製
造方法のフロー図を示す。まず、図1Aに示すように記
録媒体を構成する透明基板1例えばSiO2 基板を用意
し、そのSiO2 基板表面を洗浄する。この基板1は、
例えばガラス基体2上に、SiO2 による材料層3、す
なわち後述するRIEによる凹部形成が可能な材料層3
が形成されたSiO2 基板構成とし得る。
First, an example of a method of manufacturing a recording medium for obtaining an optical disk, in which at least one of recording and reproduction is optically performed, such as a recording medium according to the present invention, for example, a magneto-optical recording medium, a phase change recording medium, or the like, will be described. The process will be described with reference to schematic cross-sectional views of each process in the process chart of FIG. 1 (part 1) and the process chart of FIG. 2 (part 2). FIG. 3 shows a flowchart of this manufacturing method. First, as shown in FIG. 1A, a transparent substrate 1 constituting a recording medium, for example, an SiO 2 substrate is prepared, and the surface of the SiO 2 substrate is cleaned. This substrate 1
For example, on a glass substrate 2, a material layer 3 of SiO 2 , that is, a material layer 3 capable of forming a concave portion by RIE described later.
May be formed on the SiO 2 substrate.

【0023】この基板1の洗浄表面に、Alによる下地
層4の成膜、例えばスパッタリングによる成膜を行う。
このAl下地層4の厚さは、後述する感光性材料層に対
する露光に際して金属反射によって、露光スポットの光
分布が単峰性とならず縁部に光分布の小峰が生じるいわ
ゆるフリンジングを伴う例えばエアリーリングが発生す
るような不都合を生じることがない厚さで、かつこの上
に形成する感光性材料層と、基板1との密着性を向上す
る効果を奏することのできる厚さの1nm〜2nmとす
ることが望ましい。
On the cleaning surface of the substrate 1, a film of the underlayer 4 made of Al, for example, a film is formed by sputtering.
The thickness of the Al underlayer 4 is accompanied by so-called fringing in which the light distribution of the exposure spot does not become monomodal due to metal reflection upon exposure to the photosensitive material layer described later and a small peak of the light distribution occurs at the edge. A thickness of 1 nm to 2 nm that does not cause inconvenience such as air leaking and that has an effect of improving the adhesion between the photosensitive material layer formed thereon and the substrate 1. It is desirable that

【0024】次に、図1Bに示すように、下地層4上
に、レジストすなわち感光性材料層5を塗布する。この
感光性材料層5は、例えばポジティブ型のノボラック樹
脂などの感光性材料をスピンコート法などにより塗布す
ることによって形成する。
Next, as shown in FIG. 1B, a resist, that is, a photosensitive material layer 5 is applied on the underlayer 4. The photosensitive material layer 5 is formed by applying a photosensitive material such as a positive type novolak resin by a spin coating method or the like.

【0025】この感光性材料層5に対し、パターン露光
を行って、図1Cに示すように、露光部6を形成する。
この露光は、基板1が透明であり、また下地層を1nm
〜2nm程度に選定したことにより、不要な反射による
露光精度の低下を回避できる。この露光は、例えば最終
的に得る微細凹凸における凹部、例えばトラック案内溝
あるいは記録マークのピット等の形成部を露光し、この
露光部6を可溶性とする。
The photosensitive material layer 5 is subjected to pattern exposure to form an exposed part 6 as shown in FIG. 1C.
In this exposure, the substrate 1 is transparent and the underlayer is 1 nm.
By selecting about 2 nm, a decrease in exposure accuracy due to unnecessary reflection can be avoided. In this exposure, for example, a concave portion in the finally obtained fine unevenness, for example, a formation portion such as a track guide groove or a pit of a recording mark, is exposed, and this exposed portion 6 is made soluble.

【0026】このようにしてパターン露光された感光性
材料層5に対し現像処理を行う。この現像処理は、感光
性材料の露光領域を溶解するように、現像液に浸す。感
光性材料層5がノボラック樹脂である場合は、現像液
は、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドを用
いることができる。このようにすると、感光性材料層5
の露光部6において、図1Dに示すように、開口5Aが
形成されると共に、この現像液は、Alを溶解すること
ができることから、Alによる下地層4についても、感
光性材料層5の開口5Aを通じて外部に露呈した下地層
4も溶解エッチングされて、開口5Aのパターンと対応
するパターンの開口4Aが形成される。
The photosensitive material layer 5 thus pattern-exposed is developed. In this developing process, the photosensitive material is immersed in a developing solution so as to dissolve the exposed area. When the photosensitive material layer 5 is a novolak resin, tetramethylammonium hydroxide can be used as the developer. By doing so, the photosensitive material layer 5
1D, an opening 5A is formed in the exposed portion 6, and since the developer can dissolve Al, the opening of the photosensitive material layer 5 is also formed for the underlying layer 4 made of Al. The underlying layer 4 exposed to the outside through 5A is also dissolved and etched to form an opening 4A having a pattern corresponding to the pattern of the opening 5A.

【0027】この場合、感光性材料層5には、Al下地
層4が形成されており、このAlは基板材料のSiO2
に対し、また感光性材料層5に対する密着性が良好であ
って、感光性材料層5の基板1に対する密着性が高めら
れていることから、この感光性材料層5に対する現像処
理、すなわち現像液への浸漬によっても、感光性材料層
5に流れや、剥がれが生じることがない。
In this case, an Al underlayer 4 is formed on the photosensitive material layer 5, and this Al is made of SiO 2 as a substrate material.
In addition, since the adhesiveness to the photosensitive material layer 5 is good and the adhesiveness of the photosensitive material layer 5 to the substrate 1 is enhanced, the developing process for the photosensitive material layer 5, that is, the developing solution Also, the immersion in the photosensitive material layer 5 does not cause flow or peeling in the photosensitive material layer 5.

【0028】次に、図2Aに示すように、感光性材料層
5をマスクとして、その開口5Aおよび下地層4の開口
4Aを通じて基板1の、SiO2 材料層3に対する異方
性エッチングを可とするエッチングを行って、凹部7の
形成を行う。このエッチングは、例えばCF4 、あるい
はCHF3 などのガスによるRIE(反応性イオンエッ
チング)によって行う。
Next, as shown in FIG. 2A, using the photosensitive material layer 5 as a mask, anisotropic etching of the SiO 2 material layer 3 of the substrate 1 through the opening 5A and the opening 4A of the underlayer 4 can be performed. The concave portion 7 is formed by performing etching. This etching is performed by RIE (reactive ion etching) using a gas such as CF 4 or CHF 3 .

【0029】このようにして、RIEによってSiO2
材料層3に、開口5Aおよび4Bに対応する凹部7と、
これ以外の部分においてRIEがなされないで残された
凸部8が形成され、これら凹部7および凸部8によっ
て、目的とする微細凹凸9例えばトラック案内溝あるい
は記録マークのピットが形成される。このように、エッ
チング、例えばRIEによって微細凹凸9を形成する場
合、メッキ工程によらないことから、冒頭の述べたよう
な、うねりの発生を回避できるものである。
As described above, the SiO 2 is formed by RIE.
A concave portion 7 corresponding to the openings 5A and 4B in the material layer 3;
In other portions, the convex portions 8 left without being subjected to RIE are formed, and the concave portions 7 and the convex portions 8 form the target fine unevenness 9 such as a track guide groove or a pit of a recording mark. As described above, when the fine irregularities 9 are formed by etching, for example, RIE, generation of undulation as described at the beginning can be avoided because the plating process is not performed.

【0030】その後、感光性材料層5を、その剥離溶液
により剥離する。更に、最終的に得る記録媒体としてA
l下地層4が、残存することが、記録もしくは再生等に
おいて好ましくない場合には、このAl下地層4を例え
ばアルカリ溶液によって剥離する。
Thereafter, the photosensitive material layer 5 is peeled off by the peeling solution. Further, as a finally obtained recording medium, A
If it is not preferable for the recording or reproduction or the like to remain, the Al underlayer 4 is peeled off using, for example, an alkaline solution.

【0031】このようにして微細凹凸9が形成された基
板1上に、図2Cに示すように、記録膜例えば光磁気記
録膜、相変化記録膜、誘電体膜、金属反射膜、熱拡散膜
等の、目的とする記録媒体に応じた記録媒体構成膜10
の成膜工程、および保護層11の塗布等を行って目的と
する例えば光磁気記録、相変化記録等による記録媒体1
2、例えば光ディスクを構成する。
As shown in FIG. 2C, a recording film such as a magneto-optical recording film, a phase change recording film, a dielectric film, a metal reflection film, and a heat diffusion film is formed on the substrate 1 on which the fine unevenness 9 is formed. Recording medium constituent film 10 corresponding to the target recording medium such as
The recording medium 1 is formed by performing, for example, a magneto-optical recording, a phase change recording, etc.
2. For example, configure an optical disk.

【0032】このようにして作製された記録媒体12
は、メッキ工程が回避されたことにより、うねりが回避
されたすぐれた平坦性を有する。また、その微細凹凸の
深さや断面形状は、感光性材料層の厚さ、断面形状によ
って規制されない。また、その感光性材料層に関する流
れや、剥離が回避される。したがって、この記録媒体の
製造方法によれば、例えば短波長の青紫レーザ光による
記録、あるいは/および再生がなされる高密度記録にお
ける極めて微細、狭小ピッチによる微細凹凸が確実に形
成された記録媒体を歩留り良く製造することができる。
また、うねりの改善によって、冒頭に述べたニアフィー
ルド構成や、光学レンズを、スライダー上にマウントし
た記録媒体との距離を例えば100nm以下として用い
る記録媒体として、高い信頼性を得ることができる。
The recording medium 12 thus manufactured
Has excellent flatness in which undulation is avoided by avoiding the plating step. Further, the depth and the cross-sectional shape of the fine unevenness are not restricted by the thickness and the cross-sectional shape of the photosensitive material layer. Also, the flow and peeling of the photosensitive material layer are avoided. Therefore, according to the method for manufacturing a recording medium, a recording medium in which very fine and fine irregularities due to a narrow pitch are surely formed in, for example, high-density recording in which recording and / or reproduction is performed using a short-wavelength blue-violet laser beam is provided. It can be manufactured with good yield.
Further, by improving the waviness, high reliability can be obtained as a near-field configuration or a recording medium using an optical lens at a distance of, for example, 100 nm or less from a recording medium mounted on a slider.

【0033】次に、本発明を記録媒体製造用原盤の製造
方法に適用する場合の例を、図4の製造工程図(その
1)、図5の製造工程図(その2)、および図6の製造
工程図(その3)の各工程の概略断面図を参照して説明
する。図7は、この製造方法のフロー図を示す。まず、
図4Aに示すように原盤例えばスタンパーを構成する透
明基板21を用意し、基板表面を洗浄する。この基板2
1においても、例えばガラス基体22上に、後述するR
IEによる凹部形成が可能なSiO2 による材料層23
が形成されたSiO2 基板構成とすることができる。
Next, an example in which the present invention is applied to a method of manufacturing a master for manufacturing a recording medium will be described with reference to FIGS. 4A to 4C (first manufacturing process), FIGS. 3 will be described with reference to schematic cross-sectional views of each step of the manufacturing process diagram (No. 3). FIG. 7 shows a flowchart of this manufacturing method. First,
As shown in FIG. 4A, a transparent substrate 21 constituting a master, for example, a stamper is prepared, and the substrate surface is cleaned. This substrate 2
1 also, for example, on a glass substrate 22, R
Material layer 23 of SiO 2 capable of forming recesses by IE
Can be formed on the SiO 2 substrate.

【0034】そして、この場合においても、図1A〜
D、図2AおよびBで説明したと同様の工程が採られ
る。すなわち、この基板21の洗浄表面に、Alによる
下地層4の成膜、例えばスパッタリングによる成膜を行
う。この場合においても、Al下地層4の厚さは、前述
したように、後述する感光性材料層に対する露光に際し
て金属反射による不都合が生じることがなく、かつ基板
21との密着性を向上する効果を奏することのできる厚
さの1nm〜2nmとすることが望ましい。
Also in this case, FIGS.
D, steps similar to those described in FIGS. 2A and 2B are employed. That is, on the cleaning surface of the substrate 21, the underlayer 4 is formed from Al, for example, by sputtering. Also in this case, as described above, the thickness of the Al underlayer 4 has the effect of preventing inconvenience due to metal reflection upon exposure of the photosensitive material layer described later and improving the adhesion to the substrate 21. It is desirable that the thickness be 1 nm to 2 nm, which can be played.

【0035】次に、図4Bに示すように、下地層4上
に、レジストすなわち感光性材料層5を塗布する。この
感光性材料層5は、例えばポジティブ型のノボラック樹
脂などの感光性材料をスピンコート法などにより塗布す
ることによって形成する。
Next, as shown in FIG. 4B, a resist, that is, a photosensitive material layer 5 is applied on the underlayer 4. The photosensitive material layer 5 is formed by applying a photosensitive material such as a positive type novolak resin by a spin coating method or the like.

【0036】この感光性材料層5に対し、パターン露光
を行って、図4Cに示すように、露光部6を形成する。
この露光は、例えば最終的に得る微細凹凸における凸
部、例えばトラック案内溝、記録マークのピット等の形
成部以外を露光し、この露光部6を可溶性とする。
The photosensitive material layer 5 is subjected to pattern exposure to form an exposed portion 6 as shown in FIG. 4C.
In this exposure, for example, a portion other than a convex portion in the finally obtained fine unevenness, for example, a track guide groove, a pit of a recording mark, or the like is exposed to make the exposed portion 6 soluble.

【0037】このようにしてパターン露光された感光性
材料層5に対し現像処理を行う。この現像処理は、感光
性材料の露光領域を溶解するように、現像液に浸す。感
光性材料層5がノボラック樹脂である場合は、現像液
は、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドを用
いることができる。このようにすると、感光性材料層5
の露光部6において、図4Dに示すように、開口5Aが
形成されると共に、この現像液は、Alを溶解すること
ができることから、Alによる下地層4についても、感
光性材料層5の開口5Aを通じて外部に露呈した下地層
4も溶解エッチングされて、開口5Aのパターンと対応
するパターンの開口4Aが形成される。
The photosensitive material layer 5 thus pattern-exposed is developed. In this developing process, the photosensitive material is immersed in a developing solution so as to dissolve the exposed area. When the photosensitive material layer 5 is a novolak resin, tetramethylammonium hydroxide can be used as the developer. By doing so, the photosensitive material layer 5
As shown in FIG. 4D, an opening 5A is formed in the exposed portion 6, and since this developer can dissolve the Al, the opening of the photosensitive material layer 5 is also formed for the underlying layer 4 made of Al. The underlying layer 4 exposed to the outside through 5A is also dissolved and etched to form an opening 4A having a pattern corresponding to the pattern of the opening 5A.

【0038】この場合、感光性材料層5には、Al下地
層4が形成されており、このAlは基板材料のSiO2
に対し、また感光性材料層5に対する密着性が良好であ
って、感光性材料層5の基板1に対する密着性が高めら
れていることから、この感光性材料層5に対する現像処
理、すなわち現像液への浸漬によっても、感光性材料層
5に流れや、剥がれが生じることがない。
In this case, an Al underlayer 4 is formed on the photosensitive material layer 5, and this Al is made of SiO 2 of the substrate material.
In addition, since the adhesiveness to the photosensitive material layer 5 is good and the adhesiveness of the photosensitive material layer 5 to the substrate 1 is enhanced, the developing process for the photosensitive material layer 5, that is, the developing solution Also, the immersion in the photosensitive material layer 5 does not cause flow or peeling in the photosensitive material layer 5.

【0039】次に、図5Aに示すように、感光性材料層
5をマスクとして、その開口5Aおよび下地層4の開口
4Aを通じて基板1の、SiO2 材料層3に対し、異方
性エッチングを可とするエッチングを行って、凹部27
の形成を行う。このエッチングは、例えばCF4 、ある
いはCHF3 などのガスによるRIE(反応性イオンエ
ッチング)によって行う。
Next, as shown in FIG. 5A, using the photosensitive material layer 5 as a mask, anisotropic etching is performed on the SiO 2 material layer 3 of the substrate 1 through the opening 5A and the opening 4A of the base layer 4. Etching is performed to make the recess 27
Is formed. This etching is performed by RIE (reactive ion etching) using a gas such as CF 4 or CHF 3 .

【0040】このようにして、RIEによってSiO2
材料層3に、開口5Aおよび4Bに対応する凹部27
と、これ以外の部分においてRIEがなされないで残さ
れた凸部28が形成され、これら凹部27および凸部2
8によって、微細凹凸29が形成される。
As described above, the SiO 2 was formed by RIE.
In the material layer 3, concave portions 27 corresponding to the openings 5A and 4B are provided.
In other portions, the convex portions 28 left without being subjected to RIE are formed, and the concave portions 27 and the convex portions 2 are formed.
8, the fine unevenness 29 is formed.

【0041】その後、感光性材料層5を、その剥離溶液
により剥離する。更に、最終的に得る記録媒体としてA
l下地層4が、残存することが、記録もしくは再生等に
おいて好ましくない場合には、このAl下地層4を例え
ばアルカリ溶液によって剥離する。このようにして、図
5Bに示すように、微細凹凸29を有する原盤30、例
えば目的とする記録媒体を得るためのスタンパーを作製
する。このようにして形成された原盤30は、エッチン
グ、例えばRIEによって微細凹凸29を形成する場
合、メッキ工程によらないことから、冒頭の述べたよう
な、うねりの発生を回避できるものである。また、その
微細凹凸の深さや断面形状は、感光性材料層の厚さ、断
面形状によって規制されない。
Thereafter, the photosensitive material layer 5 is peeled off by the peeling solution. Further, as a finally obtained recording medium, A
If it is not preferable for the recording or reproduction or the like to remain, the Al underlayer 4 is peeled off using, for example, an alkaline solution. In this way, as shown in FIG. 5B, a master 30 having fine irregularities 29, for example, a stamper for obtaining a target recording medium is manufactured. When the fine irregularities 29 are formed by etching, for example, RIE, the master 30 thus formed does not depend on the plating step, and therefore, generation of the undulation as described at the beginning can be avoided. Further, the depth and the cross-sectional shape of the fine unevenness are not restricted by the thickness and the cross-sectional shape of the photosensitive material layer.

【0042】このようにして製造した原盤を、スタンパ
ーとして用いて、周知の成形方法の射出成形、あるいは
2P法等によって、図6Aに示すように、上述した微細
凹凸29が反転した微細凹凸9が形成された記録媒体を
構成する基板1が構成される。
Using the master thus manufactured as a stamper, the fine irregularities 9 obtained by inverting the fine irregularities 29 described above are formed by injection molding of a well-known molding method or 2P method as shown in FIG. 6A. The substrate 1 constituting the formed recording medium is configured.

【0043】このようにして微細凹凸9が形成された基
板1上に、図6Bに示すように、記録膜例えば光磁気記
録膜、相変化記録膜、誘電体膜、金属反射膜、熱拡散膜
等の、目的とする記録媒体に応じた記録媒体構成膜10
の成膜工程、および保護層11の塗布等を行って目的と
する例えば光磁気記録、相変化記録等による記録媒体1
2、例えば光ディスクを構成する。
As shown in FIG. 6B, a recording film such as a magneto-optical recording film, a phase change recording film, a dielectric film, a metal reflection film, and a heat diffusion film are formed on the substrate 1 on which the fine irregularities 9 are formed. Recording medium constituent film 10 corresponding to the target recording medium such as
The recording medium 1 is formed by performing, for example, a magneto-optical recording, a phase change recording, etc.
2. For example, configure an optical disk.

【0044】このようにして作製された記録媒体12に
おいても、メッキ工程が回避されたことにより、うねり
が回避されたすぐれた平坦性を有する。また、その微細
凹凸の深さや断面形状は、感光性材料層の厚さ、断面形
状によって規制されない。また、その感光性材料層に関
する流れや、剥離が回避される。したがって、この記録
媒体製造用原盤を用いて得た記録媒体は、例えば短波長
の青紫レーザ光による記録、あるいは/および再生がな
される高密度記録における極めて微細、狭小ピッチによ
る微細凹凸が確実に形成された記録媒体を歩留り良く製
造することができる。また、うねりの改善によって、冒
頭に述べたニアフィールド構成や、光学レンズを、スラ
イダー上にマウントした記録媒体との距離を例えば10
0nm以下として用いる記録媒体として、高い信頼性を
得ることができる。
The recording medium 12 manufactured in this manner also has excellent flatness in which undulation is avoided because the plating step is avoided. Further, the depth and the cross-sectional shape of the fine unevenness are not restricted by the thickness and the cross-sectional shape of the photosensitive material layer. Also, the flow and peeling of the photosensitive material layer are avoided. Therefore, in the recording medium obtained by using this master for producing a recording medium, for example, extremely fine and minute irregularities due to a narrow pitch are surely formed in high-density recording in which recording is performed by using a short-wavelength blue-violet laser beam and / or reproduction is performed. The manufactured recording medium can be manufactured with good yield. Further, by improving the undulation, the distance between the near-field configuration described above and the recording medium in which the optical lens is mounted on the slider is set to, for example, 10 mm.
High reliability can be obtained as a recording medium used at 0 nm or less.

【0045】上述した例では、いわゆるニアフィーフド
構成等の厳密にうねりが生じないことが要求される記録
媒体あるいは記録媒体を成形する原盤の作製について説
明したが、うねりが高い精度に改善される必要のない記
録、再生がなされる記録媒体、この記録媒体を得る原盤
の作製においては、本発明においても、RIE工程に限
定されず、メッキ法を適用することができる。
In the above-described example, a description has been given of the production of a recording medium or a master for molding a recording medium which is required to have no undulation such as a so-called near-field configuration. In the production of a recording medium on which recording and reproduction are not performed and a master for obtaining the recording medium, the present invention is not limited to the RIE process, and a plating method can be applied.

【0046】この場合の一例を、図8の工程図(その
1)および図9の工程図(その2)と、図10のフロー
図を参照して説明する。この例においては、記録媒体製
造用原盤、この例では例えばマスター(以下第1の原盤
という)と、これの転写によるスタンパー(以下第2の
原盤という)と、これによって記録媒体を製造する場合
である。
An example of this case will be described with reference to the process chart of FIG. 8 (part 1), the process chart of FIG. 9 (part 2), and the flowchart of FIG. In this example, a master for manufacturing a recording medium, in this example, for example, a master (hereinafter, referred to as a first master), a stamper by transferring the master (hereinafter, referred to as a second master), and a recording medium manufactured therewith. is there.

【0047】この場合、図8Aに示すように、第1の原
盤を構成する基板、例えばガラス基板31を用意し、図
4で説明したと同様に洗浄工程の後に、図8B〜Dに示
すように、図4B〜Dで説明したと同様の工程を採る。
図8A〜Dにおいて、図4A〜Dに対応する部分には同
一符号を付して重複説明を省略する。
In this case, as shown in FIG. 8A, a substrate constituting the first master, for example, a glass substrate 31, is prepared, and after the cleaning step as described in FIG. 4, as shown in FIGS. Then, the same steps as those described with reference to FIGS.
8A to 8D, parts corresponding to FIGS. 4A to 4D are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0048】しかしながら、この例においては、図8D
に示すように、感光性材料層5によって微細凹凸を形成
する。すなわち、感光性材料層5が除去された開口5A
によって例えば最終的に得る記録媒体における凹部に相
当する凹部37を形成し、感光性材料層5が残された部
分によって凸部38が構成された微細凹凸39が構成さ
れた第1の原盤51を作製する。
However, in this example, FIG.
As shown in (1), fine irregularities are formed by the photosensitive material layer 5. That is, the opening 5A from which the photosensitive material layer 5 has been removed.
For example, a concave portion 37 corresponding to a concave portion of a finally obtained recording medium is formed, and a first master 51 having fine irregularities 39 in which a convex portion 38 is formed by a portion where the photosensitive material layer 5 is left is formed. Make it.

【0049】この場合においても、下地層4は、前述の
説明と同様に、感光性材料層5の例えばノボラック樹脂
によるを感光性材の現像液の、例えばテトラメチルアン
モニウムハイドロオキサイドによって溶解される、すな
わち感光性材料層5に対する現像処理と同時に、その開
口5Aを通じて下地層4のAl層を溶解して開口4Aが
形成されるようになされる。そして、この場合において
も、その下地層4の厚さは前述したと同様に、感光性材
料層5に対する露光処理を阻害することがない例えば1
nm〜2nmのAl層によって構成することができる。
Also in this case, the underlayer 4 is formed by dissolving the photosensitive material layer 5 of, for example, a novolak resin with a developer of a photosensitive material, for example, tetramethylammonium hydroxide, as described above. That is, simultaneously with the development processing on the photosensitive material layer 5, the Al layer of the base layer 4 is dissolved through the opening 5A to form the opening 4A. In this case as well, the thickness of the underlayer 4 is, for example, 1 which does not hinder the exposure processing on the photosensitive material layer 5 as described above.
It can be constituted by an Al layer having a thickness of 2 nm to 2 nm.

【0050】そして、この微細凹凸39が形成された第
1の原盤51を、マスターとして、これによって第2の
原盤すなわちスタンパーを作製する。すなわち、図9A
に示すように、第1の原盤51上に、その微細凹凸39
を埋込む厚さに、例えばNiメッキ層40を、無電界メ
ッキおよび電気メッキによって形成する。
Then, the first master 51 on which the fine irregularities 39 are formed is used as a master to manufacture a second master, that is, a stamper. That is, FIG.
As shown in FIG.
For example, a Ni plating layer 40 is formed by electroless plating and electroplating so as to have a thickness for embedding.

【0051】図9Bに示すように、このメッキ層40
を、第1の原盤51から剥離して、このメッキ層40に
よって構成された、微細凹凸39が転写されて形成され
た微細凹凸49が形成された第2の原盤52すなわちス
タンパーを得る。
As shown in FIG. 9B, the plating layer 40
Is peeled off from the first master 51 to obtain a second master 52, that is, a stamper, on which the fine irregularities 49 formed by transferring the fine irregularities 39 formed by the plating layer 40 are formed.

【0052】図9Cに示すように、第2の原盤52、す
なわちスタンパーを用いて、例えば射出成形、あるいは
2P法等の周知の成形法によって、第2の原盤52の微
細凹凸49が転写されて得られた微細凹凸9を有する記
録媒体を構成する基板1を得る。
As shown in FIG. 9C, the fine irregularities 49 of the second master 52 are transferred by using a second master 52, ie, a stamper, by a known molding method such as injection molding or 2P method. The substrate 1 constituting the recording medium having the obtained fine irregularities 9 is obtained.

【0053】このようにして作製した基板1の、微細凹
凸9を有する面に、前述したと同様に、記録膜例えば光
磁気記録膜、相変化記録膜、誘電体膜、金属反射膜、熱
拡散膜等の、目的とする記録媒体に応じた記録媒体構成
膜10の成膜工程、および保護層11の塗布等を行って
目的とする例えば光磁気記録、相変化記録等による記録
媒体12、例えば光ディスクを構成する。
A recording film such as a magneto-optical recording film, a phase change recording film, a dielectric film, a metal reflection film, a heat diffusion A film forming step of the recording medium constituting film 10 corresponding to the target recording medium, such as a film, and the application of the protective layer 11 or the like to perform the target recording medium 12 such as magneto-optical recording, phase change recording, etc. Configure an optical disk.

【0054】この方法においても、感光性材料層5の密
着性を向上する下地層4を形成したことにより、感光性
材料層5の剥がれは発生しにくくなっている。このため
に、微細凹凸39の形成を、高密度記録の微細凹凸とし
て確実に形成することができ、これによって、第1の原
盤51によって作製した第2の原盤52の、微細凹凸を
49もまた高密度記録の微細凹凸として確実に形成する
ことができる。したがって、これによって成形して得た
記録媒体12の微細凹凸9も、高密度記録の微細凹凸と
して確実に形成することができる。
Also in this method, the formation of the underlayer 4 for improving the adhesion of the photosensitive material layer 5 makes it difficult for the photosensitive material layer 5 to peel off. Therefore, the formation of the fine irregularities 39 can be surely formed as the fine irregularities of the high-density recording, whereby the fine irregularities 49 of the second master 52 manufactured by the first master 51 can also be reduced. It can be reliably formed as fine irregularities for high-density recording. Therefore, the fine irregularities 9 of the recording medium 12 obtained by molding can be surely formed as fine irregularities for high-density recording.

【0055】上述したように、本発明の記録媒体の製造
方法、および記録媒体製造用原盤の製造方法によれば、
感光性材料層のパターンの流れ、剥がれ等の不確実性に
起因する記録媒体のエラーの発生確率を低くすることが
できる。つまり、不良品の発生率の低減化を図ることが
できる。
As described above, according to the method of manufacturing a recording medium and the method of manufacturing a master for manufacturing a recording medium of the present invention,
It is possible to reduce the probability of occurrence of errors in the recording medium due to uncertainties such as flow of the pattern of the photosensitive material layer and peeling. That is, the occurrence rate of defective products can be reduced.

【0056】上述した各例において、それぞれ得られた
記録媒体12は、その基板側からあるいは透明構成とさ
れた保護層11側からの、短波長レーザ光例えば青紫レ
ーザ光の照射によって、光記録、光再生がなされる。し
たがって、微細凹凸とは、実際には相対的に凹部および
凸部を指称するものである。
In each of the above-described examples, the recording medium 12 obtained is subjected to optical recording, by irradiation of short-wavelength laser light, for example, blue-violet laser light from the substrate side or from the transparent protective layer 11 side. Light regeneration is performed. Therefore, the fine unevenness actually refers to a concave portion and a convex portion relatively.

【0057】尚、上述した各例では、下地層4がAlな
いしはAlを主成分とする材料によって構成した場合で
あるが、本発明は、この例に限られるものではなく、感
光性材料層の現像液の例えばテトラメチルアンモニウム
ハイドロオキサイドによって溶解することができる他の
材料、例えばSiないしはSiを主成分とする材料によ
って構成することもできる。
In each of the above examples, the underlayer 4 is made of Al or a material containing Al as a main component. However, the present invention is not limited to this example. The developer may be made of another material that can be dissolved by, for example, tetramethylammonium hydroxide, for example, Si or a material containing Si as a main component.

【0058】また、例えば記録媒体を構成する基板1、
あるいは原盤を構成する基板21の表面に、Al
2 3 ,SiN,TiO2 ,Ta2 5 等のが形成され
ている場合いおいても、上述した下地層4を適用するこ
とができる。
Further, for example, a substrate 1 constituting a recording medium,
Alternatively, the surface of the substrate 21 forming the master is
Even when 2 O 3 , SiN, TiO 2 , Ta 2 O 5 or the like is formed, the above-described underlayer 4 can be applied.

【0059】また、感光性材料層5は、露光によって可
溶性となるポジティブ型構成に限定されるものではな
く、例えばネガティブ型構成の感光性材料層を用いるこ
ともできる。
Further, the photosensitive material layer 5 is not limited to a positive type structure which becomes soluble by exposure, and for example, a negative type photosensitive material layer can be used.

【0060】また、上述した記録媒体製造用原盤の例で
は、スタンパー、スタンパーを得るためのマスターとし
た場合であるが、更にマスター原盤を得るためのマザー
マスターとして原盤を得る場合に適用することもできる
など、上述した例に限らず、本発明方法において、その
工程等に種々の変形変更が可能である。
In the above-described example of the master for producing a recording medium, the stamper and the master for obtaining the stamper are used. However, the present invention is also applicable to a case where the master is obtained as a mother master for obtaining a master master. The method of the present invention is not limited to the examples described above, and various modifications can be made to the steps and the like.

【0061】本発明を適用する記録媒体は、記録および
再生が可能な記録媒体、あるいは再生専用の記録媒体例
えばROM(Read Only Memory) 型の光ディスクを得る
場合、磁気ディスクを得る場合等に種々の構成による記
録媒体に適用することができる。
The recording medium to which the present invention is applied can be various recording media such as a recordable / reproducible recording medium or a read-only recording medium such as a ROM (Read Only Memory) type optical disk and a magnetic disk. The present invention can be applied to a recording medium having a configuration.

【0062】[0062]

【発明の効果】上述したように、本発明による記録媒体
の製造方法、および記録媒体製造用原盤の製造方法にお
いては、感光性材料層5の下地として例えばAlないし
はAlを主成分とする下地層4を形成したことにより、
感光性材料層5の密着性を高めたので、この感光性材料
層のパターンの流れ、剥離の発生を効果的に回避できる
ことから、感光性材料層に対する現像処理工程時、ある
いはこの感光性材料層による微細凹凸を有する原盤から
スタンパーを転写作製する場合においても、確実に微細
凹凸を形成することができる。
As described above, in the method of manufacturing a recording medium and the method of manufacturing a master for manufacturing a recording medium according to the present invention, the photosensitive material layer 5 may be made of, for example, Al or a base layer mainly composed of Al. By forming 4,
Since the adhesion of the photosensitive material layer 5 is enhanced, the flow of the pattern of the photosensitive material layer and the occurrence of peeling can be effectively avoided. Even when a stamper is transferred and manufactured from a master having fine irregularities due to the above, fine irregularities can be surely formed.

【0063】したがって、高密度微細凹凸の形成におい
ても、感光性材料層のパターンに起因するエラーの発生
確率を低くすることができ、歩留りの向上、すなわち不
良品の発生率の低減化を図ることができる。
Therefore, even in the formation of high-density fine irregularities, the probability of occurrence of errors due to the pattern of the photosensitive material layer can be reduced, and the yield can be improved, that is, the incidence of defective products can be reduced. Can be.

【0064】また、このような下地層の形成を行うもの
の、この下地層に対するパターン化、すなわち開口の形
成は、感光性材料層に対する現像と同時に行うことがで
きるので、例えば従来におけるCrを用いる場合におけ
るような工程数の著しい増加を回避できる。
Although the formation of the underlayer is performed, the patterning of the underlayer, that is, the formation of the openings can be performed simultaneously with the development of the photosensitive material layer. It is possible to avoid a remarkable increase in the number of steps as in the above.

【0065】また、上述したように、メッキ工程を回避
して例えばRIEによって基板への微細凹凸の形成を行
うことによって、微細凹凸の深さや断面形状は、感光性
材料層の厚さ、断面形状によって規制されないことか
ら、高密度微細凹凸を高精度に形成することができる。
また、このメッキ工程の回避がなされる場合、メッキに
よるうねりの発生を回避できることから、より高密度微
細凹凸を高精度に形成することができる。また、うねり
を回避できることによって、ニアフィールド構成、スラ
イダー構成等における光学系、あるいはスライダー部材
と、記録媒体との距離が、200nm以下、例えば10
0nm以下とする場合においても、支障なく、光記録も
しくは光再生を行うことができる。
Further, as described above, the depth and the cross-sectional shape of the fine unevenness are determined by forming the fine unevenness on the substrate by RIE, for example, by avoiding the plating step, for example, by RIE. , High-density fine irregularities can be formed with high precision.
Further, when this plating step is avoided, generation of undulation due to plating can be avoided, so that higher-density fine unevenness can be formed with higher precision. Further, by being able to avoid undulation, the distance between an optical system in a near-field configuration, a slider configuration, or the like, or a slider member and a recording medium is 200 nm or less, for example,
Even when the thickness is set to 0 nm or less, optical recording or optical reproduction can be performed without any trouble.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】A〜Dは、本発明による記録媒体の製造方法の
一例の各工程における概略断面図を示す工程図(その
1)である。
FIGS. 1A to 1D are process diagrams (part 1) showing schematic cross-sectional views in each process of an example of a method for manufacturing a recording medium according to the present invention.

【図2】A〜Cは、本発明による記録媒体の製造方法の
一例の各工程における概略断面図を示す工程図(その
2)である。
FIGS. 2A to 2C are process diagrams (part 2) showing schematic cross-sectional views in each process of an example of a method for manufacturing a recording medium according to the present invention.

【図3】図1および図2で示した本発明による記録媒体
の製造方法のフロー図である。
FIG. 3 is a flowchart of a method for manufacturing the recording medium according to the present invention shown in FIGS. 1 and 2.

【図4】A〜Dは、本発明による記録媒体製造用原盤お
よび記録媒体の製造方法の一例の各工程における概略断
面図を示す工程図(その1)である。
FIGS. 4A to 4D are process diagrams (part 1) showing schematic cross-sectional views in respective steps of an example of a recording medium manufacturing master and a method of manufacturing a recording medium according to the present invention.

【図5】A〜Cは、本発明による記録媒体製造用原盤お
よび記録媒体の製造方法の一例の各工程における概略断
面図を示す工程図(その2)である。
FIGS. 5A to 5C are process diagrams (part 2) showing schematic cross-sectional views in respective steps of an example of a recording medium manufacturing master and a method for manufacturing a recording medium according to the present invention.

【図6】AおよびBは、本発明による記録媒体製造用原
盤および記録媒体の製造方法の一例の各工程における概
略断面図を示す工程図(その3)である。
FIGS. 6A and 6B are process diagrams (part 3) showing schematic cross-sectional views in each process of an example of a method for manufacturing a master for recording media and a recording medium according to the present invention.

【図7】図4〜図6で示した本発明製造方法のフロー図
である。
FIG. 7 is a flowchart of the manufacturing method of the present invention shown in FIGS. 4 to 6;

【図8】A〜Dは、本発明による記録媒体製造用原盤お
よび記録媒体の製造方法の一例の各工程における概略断
面図を示す工程図(その1)である。
FIGS. 8A to 8D are process diagrams (part 1) showing schematic cross-sectional views in respective steps of an example of a recording medium manufacturing master and a method of manufacturing a recording medium according to the present invention.

【図9】A〜Dは、本発明による記録媒体製造用原盤お
よび記録媒体の製造方法の一例の各工程における概略断
面図を示す工程図(その2)である。
FIGS. 9A to 9D are process diagrams (part 2) showing schematic cross-sectional views in respective steps of an example of a recording medium manufacturing master and a method of manufacturing a recording medium according to the present invention.

【図10】図8および図9で示した本発明製造方法のフ
ロー図である。
FIG. 10 is a flowchart of the manufacturing method of the present invention shown in FIGS. 8 and 9;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,21,31・・・基板、2,22・・・基体、3,
23・・・材料層、4・・・下地層、5・・・感光性材
料層、6・・・露光部、7,27,37・・・凹部、
8,28・・・凸部、9,29,39,49・・・微細
凹凸、10・・・記録媒体構成膜、11・・・保護層、
12・・・記録媒体、30・・・原盤
1,21,31 ... substrate, 2,22 ... substrate, 3
23: Material layer, 4: Underlayer, 5: Photosensitive material layer, 6: Exposure part, 7, 27, 37: Concave part,
8, 28: convex portion, 9, 29, 39, 49: fine unevenness, 10: recording medium constituent film, 11: protective layer,
12: recording medium, 30: master

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 感光性材料層に対するパターン露光およ
び現像処理によるパターニング工程を経て微細凹凸を有
する記録媒体を製造する記録媒体の製造方法にあって、 上記記録媒体の構成基板上に、上記感光性材料層の密着
性を向上し、上記感光性材料層に対する上記現像処理の
現像液に対し溶解性を示す下地層を形成する工程と、 該下地層上に感光性材料層を形成する工程と、 上記感光性材料層に対する上記微細凹凸に応じたパター
ン露光工程と、 上記現像液によって、上記感光性材料層のパターニング
と、該パターニングによる上記感光性材料層の開口を通
じて上記下地層を溶解するパターニングとを同時に行う
現像工程とを有することを特徴とする記録媒体の製造方
法。
1. A method for producing a recording medium having fine irregularities through a patterning step of pattern exposure and development processing on a photosensitive material layer, wherein the photosensitive material layer is provided on a constituent substrate of the recording medium. Improving the adhesion of the material layer, forming a base layer showing solubility in the developing solution of the developing process for the photosensitive material layer, a step of forming a photosensitive material layer on the base layer, A pattern exposure step according to the fine irregularities for the photosensitive material layer, patterning of the photosensitive material layer by the developer, and patterning of dissolving the underlayer through the opening of the photosensitive material layer by the patterning. And a developing step of simultaneously performing the steps (a) to (c).
【請求項2】 上記下地層が、アルミニウムを主成分と
する材料層より成ることを特徴とする請求項1に記載の
記録媒体の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the underlayer is made of a material layer containing aluminum as a main component.
【請求項3】 上記下地層が、シリコンを主成分とする
材料層より成ることを特徴とする請求項1に記載の記録
媒体の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the underlayer comprises a material layer containing silicon as a main component.
【請求項4】 上記現像液が、テトラメチルアンモニウ
ムハイドロオキサイドを主成分とする水溶液であること
を特徴とする請求項1に記載の記録媒体の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein the developer is an aqueous solution containing tetramethylammonium hydroxide as a main component.
【請求項5】 請求項1に記載の記録媒体の製造方法に
おいて、上記パターニングされた上記下地層と上記感光
性材料層とをマスクとして、上記記録媒体の構成基板に
パターンエッチングを行う工程を有することを特徴とす
る記録媒体の製造方法。
5. The method for manufacturing a recording medium according to claim 1, further comprising a step of performing pattern etching on a constituent substrate of the recording medium using the patterned underlayer and the photosensitive material layer as a mask. A method for manufacturing a recording medium, comprising:
【請求項6】 上記記録媒体の構成基板のパターンエッ
チングを、リアクティブ・イオン・エッチングによって
行うことを特徴とする請求項5に記載の記録媒体の製造
方法。
6. The method according to claim 5, wherein the pattern etching of the constituent substrate of the recording medium is performed by reactive ion etching.
【請求項7】 感光性材料層に対するパターン露光およ
び現像処理によるパターニング工程を経て微細凹凸を有
する記録媒体を製造する記録媒体製造用原盤の製造方法
にあって、 上記原盤の構成基板上に、上記感光性材料層の密着性を
向上し、上記感光性材料層に対する上記現像処理の現像
液に対し溶解性を示す下地層を形成する工程と、 該下地層上に感光性材料層を形成する工程と、 上記感光性材料層に対する上記微細凹凸に応じたパター
ン露光工程と、 上記現像液によって、上記感光性材料層のパターニング
と、該パターニングによる上記感光性材料層の開口を通
じて上記下地層を溶解するパターニングとを同時に行う
現像工程とを有することを特徴とする記録媒体製造用原
盤の製造方法。
7. A method of manufacturing a master for manufacturing a recording medium for manufacturing a recording medium having fine irregularities through a patterning step by pattern exposure and development processing on a photosensitive material layer, comprising: A step of improving the adhesion of the photosensitive material layer and forming a base layer showing solubility in the developing solution of the development processing for the photosensitive material layer; and forming a photosensitive material layer on the base layer. Pattern exposure step for the photosensitive material layer according to the fine irregularities; patterning of the photosensitive material layer by the developer; and dissolving the underlayer through the opening of the photosensitive material layer by the patterning. And a developing step of performing patterning at the same time.
【請求項8】 上記下地層が、アルミニウムを主成分と
する材料層より成ることを特徴とする請求項7に記載の
記録媒体製造用原盤の製造方法。
8. The method according to claim 7, wherein the underlayer is made of a material layer containing aluminum as a main component.
【請求項9】 上記下地層が、シリコンを主成分とする
材料層より成ることを特徴とする請求項7に記載の記録
媒体の製造方法。
9. The method according to claim 7, wherein the underlayer comprises a material layer containing silicon as a main component.
【請求項10】 上記現像液が、テトラメチルアンモニ
ウムハイドロオキサイドを主成分とする水溶液であるこ
とを特徴とする請求項7に記載の記録媒体製造用原盤の
製造方法。
10. The method according to claim 7, wherein the developer is an aqueous solution containing tetramethylammonium hydroxide as a main component.
【請求項11】 請求項7に記載の記録媒体製造用原盤
の製造方法において、上記パターニングされた上記下地
層と上記感光性材料層とをマスクとして、上記原盤の構
成基板にパターンエッチングを行う工程を有することを
特徴とする記録媒体製造用原盤の製造方法。
11. The method of manufacturing a master for a recording medium according to claim 7, wherein the constituent substrate of the master is subjected to pattern etching using the patterned underlayer and the photosensitive material layer as a mask. A method for producing a master for producing a recording medium, comprising:
【請求項12】 上記原盤の構成基板のパターンエッチ
ングを、リアクティブ・イオン・エッチングによって行
うことを特徴とする請求項11に記載の記録媒体の製造
方法。
12. The method according to claim 11, wherein the pattern etching of the constituent substrate of the master is performed by reactive ion etching.
【請求項13】 上記原盤の構成基板が透明基板である
ことを特徴とする請求項7に記載の記録媒体製造用原盤
の製造方法。
13. The method according to claim 7, wherein the constituent substrate of the master is a transparent substrate.
JP2000047819A 2000-02-24 2000-02-24 Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium Pending JP2001243662A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000047819A JP2001243662A (en) 2000-02-24 2000-02-24 Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000047819A JP2001243662A (en) 2000-02-24 2000-02-24 Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001243662A true JP2001243662A (en) 2001-09-07

Family

ID=18570008

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000047819A Pending JP2001243662A (en) 2000-02-24 2000-02-24 Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001243662A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003088235A1 (en) * 2002-04-15 2003-10-23 Nagase & Co., Ltd. Stamper original and its manufacturing method, stamper and its manufacturing method, and optical disk
WO2005088628A1 (en) * 2004-03-12 2005-09-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Process for producing stamper for direct mastering, and stamper produced by such process and optical disc

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003088235A1 (en) * 2002-04-15 2003-10-23 Nagase & Co., Ltd. Stamper original and its manufacturing method, stamper and its manufacturing method, and optical disk
WO2005088628A1 (en) * 2004-03-12 2005-09-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Process for producing stamper for direct mastering, and stamper produced by such process and optical disc

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6874262B2 (en) Method for manufacturing master substrate used for manufacturing grooved molding substrate, method for manufacturing stamper for manufacturing grooved molding substrate, method for manufacturing grooved molding substrate, grooved molding substrate, memory medium, memory device, and computer
JPH09106584A (en) Production of recording master disk for optical disk
EP1460625A1 (en) Information medium master manufacturing method, information medium stamper manufacturing method, information medium master manufacturing apparatus, and information medium stamper manufacturing apparatus
US20050042427A1 (en) Method for manufacturing stamper for information medium manufacture, stamper, and stamper intermediate with master disk
JP2000280255A (en) Production of master disk
JPH11296918A (en) Manufacture of stamper for optical information recording medium
US7204188B2 (en) Method of manufacturing stamper for manufacturing information medium, stamper, and photoresist master
KR20050024195A (en) Fabrication method of stamper for optical information recording medium, stamper for optical information recording medium and master disk thereof, and optical information recording medium
JP2001243662A (en) Method of manufacturing recording medium, and method of manufacturing master disk for manufacture of recording medium
EP1465174A1 (en) Method for manufacturing stamper for information medium manufacture, stamper, and photoresist master disk
JP2000113526A (en) Production of stamper for optical information recording medium
US20050066825A1 (en) Method for manufacturing stamper for information medium manufacture, stamper, and photoresist original disk
JPH09115190A (en) Production of stamper for optical disk
JPH11120626A (en) Production of master disk for manufacture of optical disk
JP2009080914A (en) Method for manufacturing optical disk master plate, optical disk master plate, stamper, optical disk substrate, and optical disk
JP3749520B2 (en) Manufacturing method of stamper for manufacturing information medium, stamper, and stamper intermediate with master
JPH1196606A (en) Production of master disk for manufacture of optical disk
JPH11350181A (en) Production of stamper
KR100228803B1 (en) Write once type optical disc and manufacturing method therefor
KR100588616B1 (en) Method for manufacturing nano pattern master using electronic beam
JP2000021017A (en) Optical recording medium and production of optical recording medium as well as substrate for optical recording medium and production of substrate for optical recording medium
JP2002216399A (en) Manufacturing method of stamper for optical information recording medium
JP2001110096A (en) Method of manufacturing information recording medium
JPH07121913A (en) Stamper for producing optical disk and manufacture thereof
JP2010118121A (en) Method for manufacturing optical disk master, optical disk master, stamper, and optical disk