JP2001236602A - Testing method of disk operation - Google Patents

Testing method of disk operation

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JP2001236602A
JP2001236602A JP2000042163A JP2000042163A JP2001236602A JP 2001236602 A JP2001236602 A JP 2001236602A JP 2000042163 A JP2000042163 A JP 2000042163A JP 2000042163 A JP2000042163 A JP 2000042163A JP 2001236602 A JP2001236602 A JP 2001236602A
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Japan
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disk
test
data
fixed
access
Prior art date
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JP2000042163A
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Japanese (ja)
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Satoshi Yazawa
諭 矢沢
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To much more surely detect the failure possible to generate at the access time of a disk. SOLUTION: The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test. At this time, the plural methods are allowed to set in the plural by the disk access system. The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed. Then, the data are written by issuing the demand of disk access, or the like, at the same time in the plural with respect to the plural disks in accordance with the parameters manually or automatically set inside, and after that, the failed place is detected by comparing them with the data read from the disk.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はディスク動作テスト
方法、特に動作テストにおける不具合箇所の検出精度の
向上に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a disk operation test method, and more particularly to an improvement in detection accuracy of a defective portion in an operation test.

【0002】[0002]

【従来の技術】コンピュータを使用したシステムが固定
ディスク装置へのアクセスを伴う場合には、製品開発
時、製品製造時、あるいはシステム納入時に固定ディス
ク装置、更には固定ディスク制御装置を含むディスク動
作テストを行う。この動作テストは、不具合箇所の未検
出が極力発生しないように様々なケースを想定し、テス
ト内容を決定して作成された動作テスト用プログラムを
用いて行われる。テストの内容としては、例えば、所望
のアドレスに所望のデータ長でアクセスできるように設
定する。また、ディスクアクセス方式をシーケンシャル
アクセス又はランダムアクセスなどで行う。更に、固定
ディスク制御装置に複数の固定ディスク装置が接続され
ている場合には、複数の固定ディスク装置に対してアク
セスするタイミング等を考慮しながら、また過負荷をか
けるなどして固定ディスク制御装置を含めたテストを行
う。
2. Description of the Related Art When a system using a computer involves access to a fixed disk device, a disk operation test including a fixed disk device and a fixed disk control device at the time of product development, product manufacture, or system delivery. I do. This operation test is performed using an operation test program created by determining the test content and assuming various cases so that the undetected defective portion does not occur as much as possible. The content of the test is set, for example, so that a desired address can be accessed with a desired data length. The disk access method is performed by sequential access or random access. Further, when a plurality of fixed disk devices are connected to the fixed disk device, the fixed disk device may be overloaded while taking into account the timing of accessing the plurality of fixed disk devices. Perform a test including.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来に
おいては、連続してディスクアクセスを行う場合、その
ディスクアクセス方式は通常固定されており、仮に複数
のディスクアクセス方式でテストを行う場合でも、例え
ばシーケンシャルアクセスによるテストを行った後にラ
ンダムアクセスを行っていた。つまり、実際に運用が開
始されると、ディスクアクセス方式の異なる複数のプロ
グラムが同時にアクセス要求を発行する場合が十分にあ
り得るが、このアクセス要求を一連のディスクアクセス
とみなすと、固定ディスク制御装置は、異なるディスク
アクセス方式を混在させて固定ディスク装置にアクセス
要求を発行することになる。しかし、従来においては、
このような実際の運用時における動作に即したテスト環
境を設定していないため運用を開始してから不具合箇所
が検出されてしまう場合があった。つまり、従来の動作
テスト方法では、動作テストを行ったとしても不具合箇
所が検出できない場合があった。
However, in the prior art, when performing continuous disk access, the disk access method is usually fixed, and even if a test is performed using a plurality of disk access methods, for example, the sequential access is performed. A random access was performed after the access test. That is, when the operation is actually started, a plurality of programs having different disk access methods may simultaneously issue an access request. However, when this access request is regarded as a series of disk accesses, the fixed disk controller Means that an access request is issued to the fixed disk device by mixing different disk access methods. However, in the past,
Since such a test environment that matches the operation at the time of actual operation is not set, a defective part may be detected after the operation is started. That is, in the conventional operation test method, there is a case where a defective portion cannot be detected even if an operation test is performed.

【0004】また、テストプログラムを用いる場合には
特にテストする内容(テスト実施項目)が固定化されや
すく、システムに応じた固定ディスク装置への動作テス
トが実行されているとは限られない。このため、異なる
設定をすれば容易に不具合箇所を検出できるような場合
でも見落としやすかった。
In addition, when a test program is used, the contents to be tested (test execution items) are particularly likely to be fixed, and the operation test to the fixed disk device according to the system is not always executed. For this reason, it is easy to overlook even when a defective part can be easily detected by setting differently.

【0005】本発明は以上のような問題を解決するため
になされたものであり、その目的は、ディスクアクセス
の際に発生しうる不具合をより確実に検出することがで
きるディスク動作テスト方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a disk operation test method capable of more reliably detecting a defect that may occur during disk access. Is to do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】以上のような目的を達成
するために、本発明に係るディスク動作テスト方法は、
固定ディスク装置単体又は固定ディスク制御装置を含め
て動作テストを行うディスク動作テスト方法において、
ディスクアクセス方式を混在させてテスト対象の固定デ
ィスク装置へアクセスすることによって動作テストを行
うものである。
In order to achieve the above object, a disk operation test method according to the present invention comprises:
In a disk operation test method for performing an operation test including a fixed disk device alone or a fixed disk control device,
The operation test is performed by accessing the fixed disk device to be tested by mixing the disk access methods.

【0007】また、固定ディスク装置単体又は固定ディ
スク制御装置を含めて動作テストを行うディスク動作テ
スト方法において、一連のディスクアクセスを含む動作
テストの際に、少なくともディスクアクセス方式、テス
トデータのパターン及びデータ長のいずれかを不規則に
変更させるテスト内容を設定可能にしたものである。
In a disk operation test method for performing an operation test including a fixed disk unit or a fixed disk controller, at least a disk access method, a test data pattern and a data It is possible to set a test content for changing any of the lengths irregularly.

【0008】更に、複数の固定ディスク装置への動作テ
ストを同時並行して行うものである。
Further, operation tests on a plurality of fixed disk devices are performed simultaneously in parallel.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
好適な実施の形態について説明する。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】図1は、本発明に係るディスク動作テスト
方法の一実施の形態が実施されるコンピュータシステム
の概略的な構成図である。システム構成自体には、特徴
的なところはなく、一般的なCPU1、メモリ2、2台
のディスクコントローラ3がバス4によって接続されて
いる。固定ディスク制御装置である各ディスクコントロ
ーラ3には、それぞれ複数台の固定ディスク装置(以
下、「単にディスク」)5が接続されている。本実施の
形態におけるディスク動作テスト方法は、動作テストプ
ログラムをメモリ2にロードし、CPU1で実行するこ
とで実施される。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a computer system in which an embodiment of a disk operation test method according to the present invention is performed. There is no characteristic in the system configuration itself, and a general CPU 1, memory 2, and two disk controllers 3 are connected by a bus 4. A plurality of fixed disk devices (hereinafter, simply referred to as “disks”) 5 are connected to each disk controller 3 which is a fixed disk control device. The disk operation test method according to the present embodiment is implemented by loading an operation test program into the memory 2 and executing the program by the CPU 1.

【0011】本実施の形態において特徴的なことは、デ
ィスクコントローラ3及びディスク5のテストを行うテ
ストパターンとして様々なパラメータを設定できるよう
にしたことである。これにより、実際のシステムの使用
環境に近い動作をディスクコントローラ3にさせること
ができ、また、過負荷な状態でテストを行うことができ
るので、不具合箇所をより確実にかつ短期間で検出する
ことができる。
A feature of the present embodiment is that various parameters can be set as test patterns for testing the disk controller 3 and the disk 5. This allows the disk controller 3 to perform an operation close to the actual use environment of the system, and allows a test to be performed in an overloaded state, so that a defective portion can be detected more reliably and in a short period of time. Can be.

【0012】次に、本実施の形態におけるディスク動作
テスト方法を図2に示したフローチャートに基づき説明
する。
Next, a disk operation test method according to the present embodiment will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

【0013】本実施の形態では、動作テスト用プログラ
ムを実行することによってテスト対象とするディスクコ
ントローラ3及びディスク5のテストを行う。本実施の
形態では、様々なテスト内容を設定可能としたことを特
徴としているので、テストを開始する前にテスト内容、
すなわちディスクアクセス方式やテストデータの仕様を
事前に設定する必要がある。従って、まず、最初にディ
スクアクセス方式のパターンを決定する(ステップ10
0)。これは、テストを行うディスク5毎に決定する。
本実施の形態では、ディスクアクセス方式のパターンと
してシーケンシャル、ランダム、一定回数毎にランダム
及び不定回数毎にランダムの4通りのディスクアクセス
パターンを想定しており、これらのディスクアクセスパ
ターンの中から1乃至複数選択され設定されることにな
る。もちろん、これだけのパターンに制限しようとする
ものではない。
In this embodiment, the disk controller 3 and the disk 5 to be tested are tested by executing an operation test program. This embodiment is characterized in that various test contents can be set, so that the test contents,
That is, it is necessary to set the disk access method and test data specifications in advance. Therefore, first, the pattern of the disk access method is determined (step 10).
0). This is determined for each disk 5 to be tested.
In the present embodiment, four types of disk access patterns are assumed as patterns of the disk access method: sequential, random, random for a fixed number of times, and random for an indefinite number of times. A plurality is selected and set. Of course, we are not trying to limit to this pattern.

【0014】ところで、本実施の形態では、動作テスト
を行うためのテスト内容を自動のみならず外部からでも
手動でパラメータとして設定できるようにしている。自
動というのは、後述する疑似乱数によりディスクアクセ
スパターンを設定する処理に相当し、手動というのは、
固定値又は固定パターンによりディスクアクセスパター
ンを設定する処理に相当する。疑似乱数により設定する
というのは、疑似乱数の結果でシーケンシャル/ランダ
ム/一定回数毎のランダム/不定回数毎のランダム、を
決定する。また、一定回数毎のランダム/不定回数毎の
ランダムの場合は、その回数も疑似乱数で決定する。固
定値により設定するというのは、与えられたパラメータ
でシーケンシャル/ランダム/一定回数毎のランダム/
不定回数毎のランダム、を決定する。また、一定回数毎
のランダム/不定回数毎のランダムの場合は、その回数
も与えられたパラメータにより決定される。固定パター
ンにより設定するというのは、与えられたパラメータで
シーケンシャル/ランダム/一定回数毎のランダム/不
定回数毎のランダム、を決定する。また、一定回数毎の
ランダム/不定回数毎のランダムの場合は、その回数も
与えられたパラメータにより決定される。固定値による
設定との相違は、起動回数によりアクセスパターンが変
更されることである。
By the way, in the present embodiment, the test contents for performing the operation test can be set manually as parameters as well as automatically. Automatic is equivalent to the process of setting a disk access pattern using pseudo-random numbers described later, and manual is
This corresponds to a process of setting a disk access pattern using a fixed value or a fixed pattern. The setting by pseudo-random numbers means that sequential / random / random at a fixed number of times / random at an indefinite number of times are determined based on the result of the pseudo-random numbers. Also, in the case of random for every fixed number of times / random for every indefinite number of times, the number of times is also determined by a pseudo random number. Setting with a fixed value means that given parameters are sequential / random / random /
Random for each indefinite number of times is determined. Also, in the case of random for every fixed number of times / random for every indefinite number of times, the number of times is also determined by a given parameter. The setting based on the fixed pattern determines sequential / random / random for a fixed number of times / random for an indefinite number of times with given parameters. Also, in the case of random for every fixed number of times / random for every indefinite number of times, the number of times is also determined by a given parameter. The difference from the setting using the fixed value is that the access pattern is changed depending on the number of times of activation.

【0015】なお、上記「起動」は、テストプログラム
を起動することによってディスクアクセスを行うことに
起因しているが、テストプログラムにより複数のディス
クアクセスが発生し、また、複数のテストプログラムが
実行される場合もある。また、ディスクコントローラ3
の制御によりディスクアクセスがマージされる場合があ
る。従って、本実施の形態でいう「起動」という用語
は、「アクセス要求を発行する」と解釈するのが妥当で
ある。以下、ディスクアクセスパターンを決定する処理
の詳細について図3に示したフローチャートを用いて説
明する。
The above-mentioned "start" is caused by performing a disk access by activating a test program. However, a plurality of disk accesses are generated by the test program, and a plurality of test programs are executed. In some cases. Also, the disk controller 3
In some cases, disk access is merged under the control of. Therefore, it is appropriate to interpret the term “activation” in this embodiment as “issuing an access request”. Hereinafter, the details of the process of determining the disk access pattern will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

【0016】まず、外部から事前に設定されたパラメー
タが内部に保持されていれば、それを読み込む(ステッ
プ101,102)。そして、そのパラメータが固定値
であれば、その固定値によりディスクアクセスパターン
を設定する(ステップ103,104)。また、事前に
設定されたパラメータが固定パターンであれば、その固
定パターンによりディスクアクセスパターンを設定する
(ステップ105,106)。一方、パラメータが事前
に設定されていないとき、あるいは設定されたパラメー
タが固定値でも固定パターンでもないときには、内部で
疑似乱数を発生して、その乱数値によりいずれかのディ
スクアクセスパターンを選択して設定する(ステップ1
01,107)。
First, if parameters set in advance from outside are stored internally, they are read (steps 101 and 102). If the parameter is a fixed value, a disk access pattern is set based on the fixed value (steps 103 and 104). If the parameter set in advance is a fixed pattern, a disk access pattern is set according to the fixed pattern (steps 105 and 106). On the other hand, when the parameter is not set in advance, or when the set parameter is neither a fixed value nor a fixed pattern, a pseudo random number is generated internally, and one of the disk access patterns is selected based on the random value. Set (Step 1
01, 107).

【0017】次に、ディスクアクセスパターンを構成す
る各ディスクアクセスの実行数を決定する(ステップ1
10)。例えば、シーケンシャルアクセスの場合、1回
の起動でa番地から(a+m)番地までシーケンシャル
にアクセスされることになるので、この場合の実行数は
1である。1回の起動でa番地から(a+m)番地ま
で、更にb番地から(b+n)番地まで2箇所の連続領
域にアクセスされる場合の実行数は2である。実行数も
上記ディスクアクセスパターンと同様に自動でも手動で
も設定することができる。自動というのは、後述する疑
似乱数により実行数を設定する処理に相当し、手動とい
うのは、固定値又は固定パターンにより実行数を設定す
る処理に相当する。疑似乱数により設定するというの
は、疑似乱数の結果でディスクアクセス毎の実行数を決
定する。固定値により設定するというのは、与えられた
パラメータでディスクアクセス毎の実行数を決定する。
固定パターンにより設定するというのは、与えられたパ
ラメータでディスクアクセス毎の実行数を決定する。固
定値による設定との相違は、起動回数により実行数が変
更されることである。以下、ディスクアクセスの実行数
を決定する処理の詳細について図4に示したフローチャ
ートを用いて説明する。
Next, the number of executed disk accesses constituting the disk access pattern is determined (step 1).
10). For example, in the case of the sequential access, since the address is sequentially accessed from the address a to the address (a + m) by one activation, the number of executions in this case is one. The number of executions in the case of accessing two continuous areas from address a to address (a + m) and further from address b to address (b + n) by one activation is two. The number of executions can be set either automatically or manually as in the above disk access pattern. The term “automatic” corresponds to a process of setting the number of executions using a pseudo-random number described later, and the term “manual” corresponds to a process of setting the number of executions using a fixed value or a fixed pattern. Setting by pseudo random numbers means that the number of executions for each disk access is determined based on the result of the pseudo random numbers. Setting with a fixed value determines the number of executions for each disk access with given parameters.
Setting by a fixed pattern determines the number of executions for each disk access by a given parameter. The difference from the setting by the fixed value is that the number of executions is changed depending on the number of times of activation. Hereinafter, the details of the process of determining the number of disk accesses to be executed will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

【0018】まず、外部から事前に設定されたパラメー
タが内部に保持されていれば、それを読み込む(ステッ
プ111,112)。そして、そのパラメータが固定値
であれば、その固定値により実行数を設定する(ステッ
プ113,114)。また、事前に設定されたパラメー
タが固定パターンであれば、その固定パターンにより実
行数を設定する(ステップ115,116)。一方、パ
ラメータが事前に設定されていないとき、あるいは設定
されたパラメータが固定値でも固定パターンでもないと
きには、内部で疑似乱数を発生して、その乱数値により
いずれかの実行数を選択して設定する(ステップ11
1,117)。
First, if parameters set in advance from outside are stored internally, they are read (steps 111 and 112). If the parameter is a fixed value, the number of executions is set based on the fixed value (steps 113 and 114). If the parameter set in advance is a fixed pattern, the number of executions is set according to the fixed pattern (steps 115 and 116). On the other hand, when the parameter is not set in advance, or when the set parameter is neither a fixed value nor a fixed pattern, a pseudo random number is generated internally, and one of the number of executions is selected and set according to the random number value (Step 11
1,117).

【0019】以上のようにしてディスクアクセス方式及
び実行数が決定すると決定されたディスクアクセス方式
に従ってアクセス先とするディスク5のアドレスを決定
する(ステップ120〜140)。続いて、ディスク5
に書き込むテストデータのデータ長、データパターンを
決定する(ステップ150)。データ長及びデータパタ
ーンも上記ディスクアクセスパターンと同様に自動でも
手動でも設定することができる。自動というのは、後述
する疑似乱数によりデータ長又はデータパターンを設定
する処理に相当し、手動というのは、固定値又は固定パ
ターンによりデータ長又はデータパターンを設定する処
理に相当する。疑似乱数によりデータ長を設定するとい
うのは、疑似乱数の結果でデータ長を決定する。固定値
によりデータ長を設定するというのは、与えられたパラ
メータでデータ長を決定する。固定パターンによりデー
タ長を設定するというのは、与えられたパラメータでデ
ータ長を決定する。固定値による設定との相違は、起動
回数によりデータ長が変更されることである。また、疑
似乱数によりデータパターンを設定するというのは、疑
似乱数の結果で固定値(同一値)/同一パターン(一定
増分値、ワーストパターン等)/乱数生成のデータパタ
ーンを決定する。固定値によりデータパターンを設定す
るというのは、与えられたパラメータで固定値/同一パ
ターン/乱数生成のデータパターンを決定する。固定パ
ターンによりデータパターンを設定するというのは、与
えられたパラメータで固定値/同一パターン/乱数生成
のデータパターンを決定する。固定値による設定との相
違は、起動回数によりデータパターンが変更されること
である。図5及び図6には、それぞれテストデータのデ
ータ長及びデータパターンを決定する処理の詳細を示し
たフローチャートが示されているが、フローチャートを
参照すれば明らかなように図3と図5及び図6とは、設
定する内容が異なるだけで処理自体は同じであるため詳
細な説明は省略する。
When the disk access method and the number of executions are determined as described above, the address of the disk 5 to be accessed is determined according to the determined disk access method (steps 120 to 140). Then, disk 5
Then, the data length and data pattern of the test data to be written into are determined (step 150). The data length and data pattern can also be set automatically or manually similarly to the disk access pattern. The term “automatic” corresponds to a process of setting a data length or a data pattern by using a pseudo-random number described later, and the term “manual” corresponds to a process of setting a data length or a data pattern by a fixed value or a fixed pattern. Setting the data length by a pseudo random number determines the data length based on the result of the pseudo random number. Setting the data length by a fixed value determines the data length by a given parameter. To set the data length by a fixed pattern, the data length is determined by a given parameter. The difference from the setting by the fixed value is that the data length is changed by the number of times of activation. Setting a data pattern using a pseudo-random number means determining a fixed value (identical value) / identical pattern (constant increment value, worst pattern, etc.) / Data pattern for random number generation based on the result of the pseudo-random number. Setting a data pattern by a fixed value determines a fixed value / identical pattern / random number generation data pattern with given parameters. Setting a data pattern using a fixed pattern involves determining a fixed value / identical pattern / random number generation data pattern using given parameters. The difference from the setting by the fixed value is that the data pattern is changed by the number of times of activation. FIGS. 5 and 6 show flowcharts showing the details of the processing for determining the data length and the data pattern of the test data, respectively, and FIGS. 3 and 5 and FIG. 6 is the same as the process itself except for the content to be set, so the detailed description is omitted.

【0020】以上のようにして、テスト対象となる全て
のディスクに対して動作テストに必要なパラメータの設
定が終了すると(ステップ160)、実際にディスク5
へテストデータの読み書きを行うことで不具合箇所の検
出を試みる(ステップ170)。以下、ディスクへアク
セスを行い不具合箇所を検出するための処理についてデ
ィスク5への書込処理のフローチャートを示した図7、
ディスク5からの読込及びデータ比較処理のフローチャ
ートを示した図8,更に、このディスクアクセスの概要
を示した図9を用いて説明する。
As described above, when the parameters necessary for the operation test have been set for all the disks to be tested (step 160), the disk 5 is actually set.
An attempt is made to detect a defective portion by reading and writing the test data to the memory (step 170). FIG. 7 shows a flowchart of a process of writing to the disk 5 for a process for accessing the disk and detecting a defective portion.
A description will be given with reference to FIG. 8 showing a flowchart of the reading from the disk 5 and the data comparison processing, and FIG.

【0021】図7において、上記処理において設定され
たディスクアクセスパターン、実行数、テストデータの
データ長及びデータパターンのパラメータに基づきディ
スクコントローラ3へ送るべき全起動情報を生成し、メ
モリ2の所定のエリアに実行する順番にセットする(ス
テップ171,172)。そして、テスト対象のディス
ク5が接続されているディスクコントローラ3へ起動情
報を送ることで、設定されたパラメータに従いデータ書
込みが実行されるようにディスクコントローラ3へ指示
する(ステップ173)。これにより、割り込みが発生
してディスクコントローラ3は指定されたディスク5へ
テストデータの書込みを実行する(ステップ174)。
このデータ書込みの際にエラーが発生した場合にはその
旨及びエラーステータス情報等エラー解析に必要な情報
を記録する(ステップ175,176)。
In FIG. 7, all the start information to be sent to the disk controller 3 is generated based on the disk access pattern, the number of executions, the data length of the test data and the parameters of the data pattern set in the above processing. They are set in the area in the order of execution (steps 171 and 172). Then, by sending startup information to the disk controller 3 to which the disk 5 to be tested is connected, the disk controller 3 is instructed to execute data writing in accordance with the set parameters (step 173). As a result, an interrupt occurs, and the disk controller 3 writes test data to the specified disk 5 (step 174).
If an error has occurred during the data writing, the fact and information necessary for error analysis such as error status information are recorded (steps 175 and 176).

【0022】図8において、上記処理において設定され
たディスクアクセスパターン等のパラメータに基づきデ
ィスクコントローラ3へ送るべき全起動情報を生成し、
メモリ2の所定のエリアに実行する順番にセットする
(ステップ181,182)。そして、テスト対象のデ
ィスク5が接続されているディスクコントローラ3へ起
動情報を送ることで、設定されたパラメータに従いデー
タ読込みが実行されるようにディスクコントローラ3へ
指示する(ステップ183)。これにより、割り込みが
発生してディスクコントローラ3は指定されたディスク
5からテストデータの読込みを実行する(ステップ18
4)。このデータ読込みの際にエラーが発生した場合に
はその旨及びエラーステータス情報等エラー解析に必要
な情報を記録する(ステップ185,186)。
In FIG. 8, all the start information to be sent to the disk controller 3 is generated based on parameters such as the disk access pattern set in the above processing,
The execution order is set in a predetermined area of the memory 2 (steps 181 and 182). Then, by sending startup information to the disk controller 3 to which the disk 5 to be tested is connected, the disk controller 3 is instructed to execute data reading in accordance with the set parameters (step 183). As a result, an interrupt occurs, and the disk controller 3 reads test data from the specified disk 5 (step 18).
4). If an error occurs during the reading of the data, the fact and information necessary for error analysis such as error status information are recorded (steps 185 and 186).

【0023】指定のアドレスからテストデータが読み込
まれると、読み込んだデータ値と期待値とを比較する
(ステップ187)。期待値は、データ書込みの際にメ
モリ2に保持しているテストデータを利用すればよい。
比較した結果、同値でなければ、エラーが発生したと判
断してその旨を示すエラー情報を記録する(ステップ1
89)。なお、上記データの書込みと読込みのアクセス
タイミングは、書込みと読込みを交互に実施するように
してもよいし、テストデータを連続して書き込んだ後に
データを連続して読み込むようにすることもできる。こ
れは、パラメータの設定に従う。
When the test data is read from the designated address, the read data value is compared with the expected value (step 187). As the expected value, test data held in the memory 2 at the time of data writing may be used.
As a result of the comparison, if the values are not the same, it is determined that an error has occurred, and error information indicating that fact is recorded (step 1).
89). The write and read access timings of the data may be such that the write and the read are alternately performed, or the test data may be continuously written and then the data may be continuously read. This follows the parameter settings.

【0024】以上の処理をパラメータとして設定された
起動回数繰り返し行う(ステップ180)。そして、テ
ストが終了すると、ディスクアクセスの際にエラーが発
生したか、すなわち動作テストにおいて不具合が検出さ
れたか報告するために、テスト結果を出力する(ステッ
プ190)。
The above process is repeated for the number of activations set as a parameter (step 180). When the test is completed, a test result is output to report whether an error has occurred during disk access, that is, whether a failure has been detected in the operation test (step 190).

【0025】本実施の形態によれば、動作テストにおい
てテストしたい項目、すなわちどのディスク5のどのア
ドレスにどれだけの量のデータを書き込むか、そして書
き込むべきテストデータのパターンをどのようにする
か、更にどのようなタイミングや順番でディスクアクセ
スを行うかなどを設定できるようにした。すなわち、様
々なパターンで動作テストを行えるようにテスト内容を
パラメータ設定できるようにした。これにより、テスト
を行う者は、実際のシステムにおけるディスクアクセス
と同様なパターンでテストを行うことができる。また、
ディスクアクセスを不規則に、あるいは過負荷をかけた
状態で行うことを容易にできる。このように、様々なテ
スト環境を設定できるようにすることによって不具合箇
所をより確実にかつ短期間で検出することができるの
で、動作テストの効率化、精度の向上を図ることができ
る。
According to the present embodiment, items to be tested in the operation test, that is, how much data is to be written to which address of which disk 5, and how the test data pattern to be written is In addition, it is possible to set the timing and order of disk access. That is, parameters of test contents can be set so that operation tests can be performed in various patterns. Thus, the tester can perform the test in the same pattern as the disk access in the actual system. Also,
It is easy to perform disk access irregularly or in an overloaded state. Since various test environments can be set as described above, a defective portion can be detected more reliably and in a short period of time, so that the efficiency and accuracy of the operation test can be improved.

【0026】なお、上記においては、ディスクアクセス
方式、テストデータパターンやデータ長など変更できる
ものは全て変更させた場合を例にして説明したが、これ
らの設定を全てする必要はなく所望する任意のものだけ
を選択し、また組み合わせて動作テストを行うことがで
きる。
In the above description, a case has been described as an example where all the changeable items such as the disk access method, the test data pattern and the data length have been changed. Operation tests can be performed by selecting only ones and combining them.

【0027】[0027]

【発明の効果】本発明によれば、様々なパターンで動作
テストを行えるようにテスト内容をパラメータ設定でき
るようにしたので、実際のシステムにおいて起こりうる
ディスクアクセスと同様なパターンでテストを行うこと
ができる。また、ディスクアクセス方式を変更しなが
ら、また混在させて動作テストを行うことが容易にでき
る。また、過負荷をかけた状態で動作テストを容易に行
うことができる。このように、様々なテスト環境を設定
できるようにすることによって不具合箇所をより確実に
かつ短期間で検出することができる。
According to the present invention, the test contents can be set with parameters so that the operation test can be performed in various patterns. Therefore, the test can be performed in the same pattern as the disk access that can occur in an actual system. it can. Further, it is possible to easily perform an operation test while changing the disk access method and mixing the disk access methods. In addition, an operation test can be easily performed in an overloaded state. As described above, by setting various test environments, a defective portion can be detected more reliably and in a short period of time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明に係るディスク動作テスト方法の一実
施の形態が実施されるコンピュータシステムの概略的な
構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a computer system in which an embodiment of a disk operation test method according to the present invention is implemented.

【図2】 本実施の形態におけるディスク動作テスト方
法を示したフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a disk operation test method according to the embodiment.

【図3】 本実施の形態におけるディスクアクセスパタ
ーンを決定する処理の詳細を示したフローチャートであ
る。
FIG. 3 is a flowchart showing details of a process for determining a disk access pattern in the present embodiment.

【図4】 本実施の形態においてディスクアクセス毎の
実行数を決定する処理の詳細を示したフローチャートで
ある。
FIG. 4 is a flowchart showing details of processing for determining the number of executions for each disk access in the present embodiment.

【図5】 本実施の形態におけるテストデータ長を決定
する処理の詳細を示したフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing details of processing for determining a test data length in the present embodiment.

【図6】 本実施の形態におけるテストデータパターン
を決定する処理の詳細を示したフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing details of processing for determining a test data pattern in the present embodiment.

【図7】 本実施の形態におけるディスクへの書込処理
の詳細を示したフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing details of a writing process to a disc in the present embodiment.

【図8】 本実施の形態におけるディスクからの読込、
比較処理の詳細を示したフローチャートである。
FIG. 8 shows reading from a disk according to the embodiment;
9 is a flowchart illustrating details of a comparison process.

【図9】 本実施の形態におけるディスクアクセスの内
容を示した概念図である。
FIG. 9 is a conceptual diagram showing the contents of a disk access in the present embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CPU、2 メモリ、3 ディスクコントローラ
(固定ディスク制御装置)、4 バス、5 ディスク
(固定ディスク装置)。
1 CPU, 2 memories, 3 disk controllers (fixed disk controller), 4 buses, 5 disks (fixed disk device).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 20/18 501 G11B 20/18 501F 572 572F ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G11B 20/18 501 G11B 20/18 501F 572 572F

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 固定ディスク装置単体又は固定ディスク
制御装置を含めて動作テストを行うディスク動作テスト
方法において、ディスクアクセス方式を混在させてテス
ト対象の固定ディスク装置へアクセスすることによって
動作テストを行うことを特徴とするディスク動作テスト
方法。
In a disk operation test method for performing an operation test including a fixed disk device alone or a fixed disk controller, an operation test is performed by accessing a fixed disk device to be tested by mixing disk access methods. A disk operation test method.
【請求項2】 固定ディスク装置単体又は固定ディスク
制御装置を含めて動作テストを行うディスク動作テスト
方法において、一連のディスクアクセスを含む動作テス
トの際に、少なくともディスクアクセス方式、テストデ
ータのパターン及びデータ長のいずれかを不規則に変更
させるテスト内容を設定可能にしたことを特徴とするデ
ィスク動作テスト方法。
2. A disk operation test method for performing an operation test including a single fixed disk device or a fixed disk controller, wherein at least a disk access method, a test data pattern and a data are included in an operation test including a series of disk accesses. A disk operation test method, wherein test contents for changing any of the lengths irregularly can be set.
【請求項3】 複数の固定ディスク装置への動作テスト
を同時並行して行うことを特徴とする請求項2記載のデ
ィスク動作テスト方法。
3. The disk operation test method according to claim 2, wherein operation tests on a plurality of fixed disk devices are performed simultaneously in parallel.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004051647A1 (en) * 2002-12-04 2004-06-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Hard disc information write system
US7165001B2 (en) 2005-03-29 2007-01-16 Fujitsu Limited Operation testing method, operation testing apparatus and computer readable information recording medium
JP2019021050A (en) * 2017-07-18 2019-02-07 富士通株式会社 Storage testing apparatus and storage testing program

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