JP2001235749A - 電気光学装置の製造方法、電気光学装置および投射型表示装置 - Google Patents

電気光学装置の製造方法、電気光学装置および投射型表示装置

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JP2001235749A
JP2001235749A JP2000043350A JP2000043350A JP2001235749A JP 2001235749 A JP2001235749 A JP 2001235749A JP 2000043350 A JP2000043350 A JP 2000043350A JP 2000043350 A JP2000043350 A JP 2000043350A JP 2001235749 A JP2001235749 A JP 2001235749A
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electro
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Masayuki Yazaki
正幸 矢崎
Kenichi Yamada
健一 山田
Hiroo Miyajima
弘夫 宮島
Hiroaki Akiyama
博明 秋山
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Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板上に形成した配向膜を効率よく選択的に
除去することにより、高い生産性をもって表示品位や信
頼性の高い電気光学装置を製造することのできる電気光
学装置の製造方法、電気光学装置、およびこの電気光学
装置を用いた投射型表示装置を提供すること。 【解決手段】 電気光学装置1において、TFTアレイ
基板10および対向基板20にスピンコート法で配向膜
24、25を形成した後、シール材52と重なる領域お
よびそれより外周領域の配向膜24、25を大気圧プラ
ズマの照射により除去し、しかる後にTFTアレイ基板
10と対向基板20とをシール材52で貼り合わせる。
この際に、大気圧プラズマとして、酸素ガス間接放電方
式によりプラズマを発生させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気光学装置等の
電気光学装置の製造方法、電気光学装置およびこの電気
光学装置を光変調手段として用いた投射型表示装置に関
するものである。さらに詳しくは、電気光学装置におい
て、基板間で電気光学物質を配向させるための配向膜の
形成技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電気光学装置のうち、例えば、画素スイ
ッチング素子としてTFTを用いたアクティブマトリク
ス型の電気光学装置(液晶装置)では、図12に示すよ
うに、TFTアレイ基板10(第1の基板)と対向基板
20(第2の基板)との間に液晶などの電気光学物質5
0を挟持しており、各基板表面に形成した配向膜24、
32によって液晶層50の配向を制御している。
【0003】このような電気光学装置1を製造するにあ
たっては、まず、TFTアレイ基板10および対向基板
20の各々に配向膜24、32を形成した後(配向膜形
成工程)、この配向膜24、32に対してラビング処理
を行う。次に、TFTアレイ基板10と対向基板20と
をシール材52によって所定の間隙を介して貼り合わせ
た後(貼り合わせ工程)、TFTアレイ基板10と対向
基板20との間隙のうち、シール材52で区画された領
域内に液晶を充填して液晶層50を形成する(充填工
程)。
【0004】このようにして製造した電気光学装置1に
おいて、シール材52と重なる領域に配向膜24、32
が形成されていると、シール材52とTFTアレイ基板
10や対向基板20との間に配向膜24、32が介在す
ることになる。ここで、配向膜24、32はポリイミド
樹脂などから形成され、このポリイミド樹脂は比較的、
水分を通しやすい性質を有しているため、基板同士をシ
ール材52を介して接着したとき、対向基板20とシー
ル材52との間522、およびTFTアレイ基板10と
シール材52との間521において配向膜24、32を
通って水分が装置外から基板間に入り込むおそれがあ
る。
【0005】そこで、従来は、フレキソ印刷によって、
基板上の必要な領域のみ、すなわちシール材52で区画
された領域内のみに配向膜24、32を形成した構成に
なっている。このフレキソ印刷によれば、所定の領域だ
けに選択的に配向膜24、32を塗布でき、かつ、生産
性にも優れているという利点がある。
【0006】しかしながら、配向膜24、32をフレキ
ソ印刷で塗布すると、配向膜24、32を均一な膜厚で
塗布することができないという問題点がある。このよう
な膜厚の不均一性があると、液晶の配向が不均一になっ
て表示の品位が低下する。特に、この種の電気光学装置
1を投射型表示装置の光変調手段として用いると、この
ような配向の不均一性は、そのまま表示のムラやシミと
して拡大投射されてしまう。このような問題点は、投射
型表示装置において表示の輝度が高まるにつれて、より
顕在化してくる。
【0007】そこで、配向膜24、32をフレキソ印刷
に代えて、スピンコート法など、配向膜24、32を均
一な膜厚で形成できる成膜方法を採用することが考えら
れる。このスピンコート法では、配向膜24、32を形
成するためのポリイミド樹脂、あるいはポリイミド前駆
体をガンマブチロラクトンやブチルセロソルブなどの溶
剤に溶かした薬液(配向剤)を、回転する基板の中心に
垂らし、遠心力によって基板の表面全体に展開する方法
である。このため、スピンコート法によれば、配向膜2
4、32を均一に塗布できるので、高い品位の表示を行
なうことができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、スピン
コート法では配向膜24、32を選択的に塗布すること
ができないため、図13に示すように、シール材52と
基板との間521、522に配向膜24、32が介在す
ることになる。従って、シール材52と基板との間52
1、522において配向膜24、32を通って水分が侵
入するという問題が発生する。このような耐湿性能の低
下を防止する方法として、ポリイミド樹脂に代えて、耐
湿性能の高い他の樹脂材料を用いて配向膜24、32を
形成すればよいが、スピンコート法での成膜が可能で、
かつ、配向膜24、32として液晶を適正に配向させる
材料はまだ見出されていないのが現状である。
【0009】それ故、電気光学装置1の分野において、
基板の全面に形成した配向膜24、32を効率よく選択
的に除去する方法があれば、スピンコート法で形成した
配向膜24、32と組み合わせることによって、表示の
品位が高く、かつ、耐湿性能も高い電気光学装置を製造
できるなどの利点があるが、このような方法で製造ライ
ンに組み込める方法は、未だ確率されていないのが現状
である。
【0010】そこで、本発明の課題は、基板上に形成し
た配向膜を効率よく選択的に除去することにより、高い
生産性をもって表示品位や信頼性の高い電気光学装置を
製造することのできる電気光学装置の製造方法、電気光
学装置、およびこの電気光学装置を用いた投射型表示装
置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明では、第1の基板と第2の基板とを所定の間
隙を介してシール材で貼り合わせる貼り合わせ工程と、
前記第1の基板と前記第2の基板の間隙のうち前記シー
ル材で区画された領域内に電気光学物質を充填する充填
工程とを有する電気光学装置の製造方法において、前記
貼り合わせ工程を行なう前に、前記第1および第2の基
板の各々に配向膜を形成する配向膜形成工程と、前記第
1および第2の基板のうちの少なくとも一方の基板の配
向膜の所定領域に大気圧プラズマを照射して当該所定領
域の配向膜を除去する配向膜除去工程とを行うことを特
徴とする。
【0012】たとえば、前記配向膜除去工程では、前記
第1および第2の基板に形成した前記配向膜のうち、少
なくとも前記シール材の形成領域下の一部を当該シール
材の形成領域に沿って除去する。
【0013】本発明においては、配向膜は、基板全体に
形成された後、シール材と重なる領域がシール材の形成
領域に沿って全体あるいは部分的に除去されているの
で、シール材と第1の基板および第2の基板との間には
配向膜が介在しない。従って、シール材と第1の基板と
の間、あるいはシール材と第2の基板の間において、配
向膜を通って外部から水分が侵入することを回避でき
る。それ故、本発明を適用した電気光学装置は耐湿性能
が高い。また、配向膜を除去するのに大気圧プラズマを
利用するので、真空雰囲気中で配向膜除去工程を行なう
必要がない。それ故、大気圧プラズマを利用した配向膜
除去工程であれば、真空装置内でのプラズマ処理と違っ
て、枚葉連続処理を容易に行なえ、かつ、大きなスペー
スが不要であるので、製造ラインに組み込みやすい。ま
た、基板表面の全体に形成した配向膜を効率よく除去で
きるのであれば、配向膜をスピンコート法などにより形
成でき、このスピンコート法であれば、配向膜を均一な
膜厚で形成することができる。それ故、液晶などの電気
光学物質を適正に配向させることができるので、ムラや
シミのない品位の高い表示を行なうことができる。しか
も、大気圧プラズマであれば、電極膜や遮光膜などを損
傷しないので、必要な領域を効率よく処理できる。
【0014】本発明において、前記配向膜除去工程で
は、前記シール材の形成領域下の領域、および該形成領
域より外周側に形成された配向膜も除去することがあ
る。
【0015】また、本発明において、前記配向膜除去工
程では、前記シール材の形成領域より外周側に形成され
た配向膜、および前記シール材の形成領域下の配向膜の
うち外周部の配向膜を除去することもある。
【0016】また、本発明において、前記配向膜除去工
程では、前記シール材の形成領域において、該シール材
の形成領域の幅寸法の30%以上に相当する領域の配向
膜を除去することが好ましい。たとえば、シール材の形
成領域の幅寸法の30%から80%に相当する領域の前
記配向膜を除去することが好ましい。このように構成す
ると、シール材と配向膜が接触配置されるため、シール
近傍まで配向の均一性を保持することが可能となる。ま
たシール領域において30%以上配向膜が除去されるの
で、十分に水分の浸透を防ぐことも可能となる。
【0017】言い換えれば、本発明では、前記配向膜除
去工程において、シール材の内側の配向膜とシール材の
外側の配向膜とがシール材の形成領域下において分断さ
れるように配向膜を除去することを特徴とする。
【0018】また、本発明では、前記配向膜除去工程で
は、シール材の外側の配向膜からシール材の内側の配向
膜へ水分が伝わらないように、シール材の形成領域下に
おいて配向膜を除去することを特徴とする。
【0019】本発明において、前記配向膜除去工程で
は、前記大気圧プラズマとして酸素プラズマを発生させ
る。たとえば、前記大気圧プラズマとして間接放電方式
により酸素プラズマを発生させる。
【0020】本発明において、前記配向膜除去工程を行
なった後、前記配向膜を加熱、焼成する焼成工程を行な
うことが好ましい。このように構成すると、配向膜除去
工程において漏れたプラズマが配向膜に照射されても、
この配向膜は未だ焼成工程前であることから、配向膜前
駆体状態であるので、その後に焼成工程を行なえば、安
定した品質の配向膜を形成することができる。
【0021】本発明において、前記配向膜除去工程を行
なった後、前記配向膜にラビング処理を施すラビング工
程を行なうことが好ましい。このように構成すると、配
向膜除去工程において漏れたプラズマが画像表示領域の
配向膜に照射されても、この配向膜は未だラビング工程
前であるので、その後にラビング工程を行なえば、配向
膜に適正な配向力を付与できる。
【0022】本発明を適用した電気光学装置は、たとえ
ば、光源と、該光源から出射された光を光変調手段に導
く導光光学系と、前記光変調手段により変調された光を
拡大投射する拡大投射光学系とを有する投射型表示装置
において、前記光変調手段として用いるのに適当してい
る。
【0023】また、本発明を適用した電気光学装置につ
いては、光源と、該光源から出射された光を複数の色光
に分離する色光分離手段と、該色分離手段によって分離
された各色光をそれぞれ変調する光変調手段と、該光変
調手段によりそれぞれ変調された色光を合成する色合成
手段と、該色合成手段により合成された光を拡大投射す
る拡大投射光学系とを有するカラー投射型表示装置にお
いて、前記光変調手段として用いるのに適している。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。
【0025】[実施の形態1] (電気光学装置の全体構成)先ず、本発明を適用した電
気光学装置(液晶装置)の全体構成について、図1およ
び図2を参照して説明する。ここでは、駆動回路内蔵型
のTFTアクティブマトリクス駆動方式の電気光学装置
を例にとる。
【0026】図1は、本発明を適用した電気光学装置の
TFTアレイ基板(アクティブマトリクス基板)をその
上に形成された各構成要素と共に、対向基板の側から見
た平面図である。図2は、図1のH−H´の断面図であ
る。図3は、この電気光学装置の端部を拡大して模式的
に示す断面図である。なお、図3においては、各層や各
部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各
層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。また、図3に
おいては、集光の様子を理解し易く描くために、マイク
ロレンズおよびTFTの配置関係を実際の配置関係とは
異ならしめてある。
【0027】図1、図2および図3において、本形態の
電気光学装置1は、TFTアレイ基板10(第1の基
板)と対向基板20(第2の基板)とが対向配置されて
いる。この対向基板20の下側の面(カバーガラスとの
接着面)には、多数のマイクロレンズ500が形成され
ており、対向基板20はマイクロレンズアレイ板として
構成されている。このようにしてマイクロレンズ500
が形成された対向基板20の下側の面には、接着剤21
0により、第1の基板としてのカバーガラス200が接
着されている。接着剤210は、マイクロレンズ500
より小さい屈折率を有するアクリル系の光硬化性の接着
剤からなり、両者間の屈折率の違いにより、マイクロレ
ンズ500は、集光レンズとしての機能を果たす。ここ
で、マイクロレンズ500はそれぞれ、入射した光をT
FTアレイ基板10に形成されている画素電極9aのそ
れぞれに集光するようにマトリクス状に形成され、か
つ、カバーガラス200には、複数のマイクロレンズ5
00の相互の境界にそれぞれ対向する位置に遮光膜23
が形成されている。画素電極9aは、ITO膜(インジ
ウム・ティン・オキサイド膜)から形成されている。
【0028】シール材52は、TFTアレイ基板10
と、対向基板20に全面接着されたカバーガラス200
とを貼り合わせてパネル5とするための紫外線硬化樹
脂、熱硬化樹脂等からなり、TFTアレイ基板10上に
塗布された後、カバーガラス200と対向基板20との
貼り合わせ基板を重ねた状態で、紫外線照射、加熱等に
より硬化させたものである。電気光学装置1が投射型表
示装置用のように小型で、拡大表示を行うものであれ
ば、シール材52中には、両基板内の距離(基板間ギャ
ップ)を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラ
スビーズ等のギャップ材(スペーサ)が配合される。ま
た、電気光学装置1が液晶ディスプレイや液晶テレビの
ように大型で等倍表示を行うものであれば、このような
ギャップ材は、液晶層50の中に点在させる場合もあ
る。
【0029】本形態の電気光学装置1では、シール材5
2の形成領域の内側には、この領域に沿って画像表示領
域10aを規定する見切り用の遮光膜53が対向基板2
0の側に形成されている。シール材52には、その途切
れ部分によって液晶注入口108が形成され、この液晶
注入口108は液晶の注入を終えた後、シール材52と
同一あるいは異なる材料からなる封止材109で塞がれ
ている。
【0030】また、シール材52が形成された領域の外
側の周辺領域には、データ線駆動回路101および外部
回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿
って形成され、走査線駆動回路104は、この一辺に隣
接する2辺に沿って設けられている。さらに、TFTア
レイ基板10の残る一辺には、画像表示領域10aの両
側に設けられた走査線駆動回路104間をつなぐための
複数の配線105が形成されている。さらにまた、対向
基板20のコーナー部の少なくとも一箇所には、TFT
アレイ基板10と対向基板20との間で電気的導通をと
るための上下導通材106が設けられている。
【0031】図3において、TFTアレイ基板10上に
は、画素スイッチング用TFT30や走査線、データ
線、容量線等の配線が形成された後の画素電極9aの表
面に、スピンコート法により成膜されたポリイミド系材
料からなる配向膜32が形成されている。
【0032】また、対向基板20の側において、カバー
ガラス200上には、対向電極21の他、各画素毎に非
開口領域を規定するブラックマスク又はブラックマトリ
クスなどと称される遮光膜23が形成され、この表面に
は、スピンコート法により成膜されたポリイミド系材料
からなる配向膜24が形成されている。
【0033】これらの配向膜32、24はそれぞれ、ポ
リイミド系の樹脂材料を塗布し、焼成した後、液晶層5
0中の液晶を所定方向に配向させると共に、液晶に所定
のプレチルト角を付与するように配向処理が施されてい
る。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティッ
ク液晶を混合した液晶からなり、配向膜32、24間
で、所定の配向状態をとる。遮光膜23は、表示画像に
おけるコントラストの向上を図る機能を有している。
【0034】なお、TFTアレイ基板10の方にも、後
述する走査線および容量線に沿って縞状の遮光膜11a
が形成されている。この遮光膜11aは、TFT30の
チャネル領域を含む領域をTFTアレイ基板10の側か
らそれぞれ覆っている。このようにTFT30の下側に
遮光膜11aを形成すれば、TFTアレイ基板10の側
から裏面反射(戻り光)や複数の電気光学装置1をプリ
ズム等を介して組み合わせて1つの光学系を構成する場
合に、他の電気光学装置1からプリズム等を突き抜けて
くる光などが当該電気光学装置1のTFT30に入射す
るの未然に防ぐことができる。
【0035】本形態の電気光学装置1は、後述する投射
型表示装置において、各色に分離された色光が入射する
ため、カラーフィルタが形成されていないが、カバーガ
ラス200の表面にカラーフィルタが形成される場合も
ある。この場合に、遮光膜23は、カラーフィルタを形
成する色材の混色を防止する機能も有する。
【0036】(電気光学装置の画像表示領域の構成)図
4を参照して、本形態の電気光学装置1の画素部を説明
する。図4は、電気光学装置1の画像表示領域10aを
構成するマトリクス状に形成された複数の画素における
各種素子、配線等の等価回路である。
【0037】図4に示すように、本形態の電気光学装置
1において、画像表示領域10aを構成するマトリクス
状に形成された複数の画素は、画素電極9aを制御する
ためのTFT30がマトリクス状に複数形成されてお
り、画素信号が供給されるデータ線6aがTFT30の
ソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き
込む画像信号S1、S2、…、Snは、この順に線準次
に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6
a同士に対して、グループ毎に供給するようにしても良
い。また、TFT30のゲートに走査線3aが電気的に
接続されており、所定のタイミングで、走査線3aにパ
ルス的に走査信号G1、G2、…、Gmを、この順に線
順次で印加するように構成されている。画素電極9a
は、TFT30のドレインに電気的に接続されており、
スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけその
スイッチを閉じることにより、データ線6aから供給さ
れる画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイミング
で書き込む。画素信号9aを介して液晶に書き込まれた
所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、対向基
板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。
液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や
秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可
能にする。ノーマリーホワイトモードであれば、印加さ
れた電圧に応じて入射光がこの液晶部分を通過不可能と
され、ノーマリーブラックモードであれば、印加された
電圧に応じて入射光がこの液晶部分を通過可能とされ、
全体として電気光学装置1からは画像信号に応じたコン
トラストを持つ光が出射する。ここで、保持された画像
信号がリークするのを防ぐために、画素電極9aと対向
電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70
を付加する。
【0038】(配向膜24、32の形成領域)このよう
に構成した電気光学装置1において、本形態では、対向
基板20およびTFTアレイ基板10のいずれにおいて
も、配向膜24、32は、シール材52の形成領域の内
側領域のみに形成されている。すなわち、配向膜24、
32は、シール材52と重なる領域、およびシール材5
2より外周側の領域には形成されていない。
【0039】従って、シール材52とTFTアレイ基板
10との間521、およびシール材52と対向基板20
との間522には、配向膜24、32が介在していな
い。このため、シール材52を介してTFTアレイ基板
10と対向基板20とを貼り合わせた以降、シール材5
2とTFTアレイ基板10との間521、およびシール
材52と対向基板20との間522で配向膜24、32
を通って水分が外部からシール材52の形成領域の内側
に侵入するということがない。それ故、本形態の電気光
学装置1は耐湿性能が高い。
【0040】また、本形態の電気光学装置1では、その
製造方法を以下に説明するように、配向膜24、32
は、スピンコート法によって塗布されたものである。こ
のようなスピンコート法によれば、フレキソ印刷法と比
較して、配向膜24、32を均一な厚さに塗布できるの
で、液晶層50においては、配向膜24、32の膜厚ば
らつきに起因する液晶の配向不良が発生しない。それ
故、本形態の電気光学装置1を、後述する投射型表示装
置の光変調手段と用いても、ムラやシミのない品位の高
い表示を行なうことができる。
【0041】(電気光学装置の製造方法)次に、本形態
の電気光学装置1の製造方法のうち、特徴的な工程につ
いて説明する。
【0042】図5(A)〜(H)はそれぞれ、図1に示
す電気光学装置1の製造方法を示す工程断面図である。
図6は、図1に示す電気光学装置1を製造するのに用い
たプラズマ照射装置の概略構成図である。図7(A)、
(B)、(C)、(D)はそれぞれ、図1に示す電気光
学装置の製造工程において、配向膜塗布工程で形成した
配向膜24の形成領域を示す対向基板20の平面図、そ
の断面図、配向膜塗布工程で形成した配向膜32の形成
領域を示すTFTアレイ基板10の平面図、およびその
断面図である。図8(A)、(B)、(C)、(D)は
それぞれ、図1に示す電気光学装置1の製造工程におい
て、配向膜除去工程を終えた後の配向膜24の形成領域
を示す対向基板20の平面図、その断面図、配向膜除去
工程を終えた後の配向膜32の形成領域を示すTFTア
レイ基板10の平面図、およびその断面図である。
【0043】まず、TFTアレイ基板10の表面にTF
T30や画素電極9aなどを形成する一方、対向基板2
0に対して対向電極32などを形成した後、配向膜2
4、32を形成する前に、図5(A)に示すように、前
処理工程として、プラズマ照射装置2000を用いてT
FTアレイ基板10および対向基板20の表面全体に大
気圧プラズマを照射する。本形態では、大気圧プラズマ
として、図6を参照して後述するプラズマ照射装置にお
いて窒素ガス間接放電方式で発生させた窒素プラズマを
用いる。その結果、TFTアレイ基板10および対向基
板20の表面に吸着していた異物が除去され、これらの
基板表面と、配向膜24、34を形成するための薬液と
の濡れ性が向上する。たとえば、配向膜24、34を形
成するための薬液としてガンマブチロラクトンやブチル
セロソルブを配合した薬液と基板との接触角は、プラズ
マ照射なしで37°だったものが、プラズマ照射によっ
て6°にまで小さくなる。
【0044】この前処理工程では、図6に示すプラズマ
照射装置2000を用いる。このプラズマ照射装置20
00では、移動テーブル2200の上にアルミナ製のス
テージ2001が配置され、このステージ2001の上
にTFTアレイ基板10や対向基板20などの基板20
02が配置される。また、ステージ2001の真上位置
には、ステージ2001との間にプラズマを発生させる
プラズマガン2100が配置されている。
【0045】このプラズマガン2100では、ケーシン
グ部材2022内に、ホルダー部材2010によって保
持された電極2007、2008が配置されている。こ
れらの電極2007、2008のうち、電極2008は
アース電極とされている一方、電極2007には、リー
ド2021から高周波電圧が印加されるようになってい
る。電極2007、2008の間には、ガス導入部20
03のガス導入管2023からガスが供給される放電管
2004が通っており、この放電管2004内で、処理
ガスの搬送、放電、反応ガスの輸送が行われる。この放
電管2004は保護部材2009によって保持、固定さ
れ、この保護部材2009は、中間部材2011によっ
て位置決めされた状態にある。
【0046】また、放電管2004の下端には、ノズル
ホルダー2006に保持されたノズルチップ2005が
配置され、このノズルチップ2005からステージ20
01上の基板2002に向けてプラズマを放出する。こ
のノズルチップ2005と電極2007、2008との
間には絶縁部材2012が配置されている。なお、ケー
シング部材2022には、電極2007、2008を冷
却するための空気を供給するための冷却口2013が形
成されているととにもに、電極2007、2008を冷
却した後の空気を排出するための排気口2014も形成
されている。
【0047】ここで、プラズマガン2100、ステージ
2001、テーブル2200などは全て大気圧下に配置
される。従って、このプラズマ照射装置2000で発生
するプラズマは大気圧プラズマと称せられ、かつ、この
ような間接放電によってプラズマを放出させる方式は、
一般に、間接放電方式と称せられる。
【0048】このプラズマガン2100においてノズル
チップ2005を交換すれば、プラズマガン2100を
ラインガンあるいはスポットガンとして用いることがで
きる。たとえば、図5(A)を参照して説明した前処理
工程のように、基板2002(基板10、20)の全面
に大気圧プラズマを照射するときには、ラインガン用の
ノズルチップ2005を用い、図5(C)を参照して後
述する配向膜除去工程のように、基板2002上の特定
領域に大気圧プラズマを照射するときには、スポットガ
ン用のノズルチップ2005を用いる。
【0049】また、大気圧プラズマとして、図5(A)
を参照して説明した前処理工程のように、窒素プラズマ
を発生させるときには、ガス導入管2023から窒素ガ
スを供給し、図5(C)を参照して後述する配向膜除去
工程のように、酸素プラズマを発生させるときには、ガ
ス導入管2023から酸素ガスを供給する。
【0050】このように構成したプラズマ照射装置20
00において、図5(A)を参照して説明した工程で
は、プラズマガン2100に対しては、横寸法が基板2
002の横寸法と略等しいノズルチップ2005を用
い、TFTアレイ基板10および対向基板20の全面を
一括して処理する。従って、TFTアレイ基板10、お
よびこのTFTアレイ基板10より一回り小さな対向基
板20については、テーブル2200上でステージ20
01を片道移動させるだけで、TFTアレイ基板10お
よび対向基板20の表面全体にプラズマを照射すること
ができる。
【0051】このようにして前処理工程を終えたTFT
アレイ基板10および対向基板20は、図5(B)に示
す配向膜形成工程に移送される。この配向膜形成工程に
おいては、図示を省略するが、スピンコータ装置(図示
せず)において、TFTアレイ基板10および対向基板
20は、スピンコート法により配向膜24、32が塗布
される。すなわち、このスピンコート法では、配向膜2
4、32を形成するためのポリイミド樹脂を溶剤に溶か
した薬液を回転する基板(TFTアレイ基板10および
対向基板20)の中心に垂らして、遠心力によって基板
の表面全体に展開する。このため、スピンコート法で
は、図7(A)、(B)、(C)、(D)に示すよう
に、対向基板20およびTFTアレイ基板10の表面全
体に配向膜24、32(右下がりの斜線を付した領域)
が形成される。
【0052】次に、図5(C)において、TFTアレイ
基板10および対向基板20の表面全体に形成した配向
膜24、32の所定領域に大気圧プラズマを照射し、図
8(A)、(B)、(C)、(D)に示すように、配向
膜24、32のうち、シール材52との重なり領域につ
いては、シール材52の形成領域に沿って配向膜24、
32を除去する。また、TFTアレイ基板10では、シ
ール材52の形成領域よりも外周側の領域についても配
向膜32を除去する。
【0053】この工程でも、プラズマを発生させるに
は、基本的には図6を参照して説明したプラズマ照射装
置2000を用いる。但し、この工程では、配向膜2
4、32をアッシングする必要があるため、酸素ガスを
供給し、酸素プラズマを発生させる。
【0054】また、この工程では、対向基板20および
TFTアレイ基板10の全面にプラズマを照射する場合
と違って、図8(A)、(B)に示すように、対向基板
20に対しては、シール材52の形成領域の幅寸法に相
当する幅でシール材52の形成領域に沿ってプラズマを
照射することにより配向膜24を除去する。また、図8
(C)、(D)に示すように、TFTアレイ基板10に
対しては、シール材52の形成領域およびそれより外周
側全体の幅寸法に相当する幅でシール材52の形成領域
に沿ってプラズマを照射することにより配向膜32を除
去する。それ故、この配向膜除去工程では、先の前処理
工程で用いたノズルチップ2005をラインガン用から
スポットガン用に交換する。
【0055】次に図5(D)に示すように、焼成工程で
は、配向膜除去工程を終えた対向基板20およびTFT
アレイ基板10を加熱して配向膜24、32を焼成す
る。
【0056】次に図5(E)に示すように、ラビング工
程では、焼成工程を終えた対向基板20およびTFTア
レイ基板10の各配向膜24、32をラビング布で所定
の方向に擦る。
【0057】次に図5(F)に示すように、TFTアレ
イ基板10の表面にシール材51を塗布した後、図5
(G)に示すように、このシール材51によって、TF
Tアレイ基板10と対向基板20とを貼り合わせる。そ
して、シール材51を硬化させる。
【0058】次に図5(H)に示すように、TFTアレ
イ基板10と対向基板20との間隙のうち、液晶注入口
108からシール材51により区画形成された領域内に
液晶などの電気光学物質を減圧注入し、しかる後に液晶
注入口108を封止材109で塞ぐ。
【0059】このように、本形態では、焼成処理やラビ
ング処理を行なう前に配向膜除去工程を行なうため、配
向膜除去工程において、たとえ画像表示領域10aの側
にプラズマが漏れたとしても、漏れたプラズマによって
配向膜24、32が劣化したまま、貼り合わせ工程に移
送されることがない。すなわち、ラビング工程を行なっ
た後の配向膜24、32にプラズマが照射されると、配
向膜24、32で分子配列の乱れが発生するので、その
まま貼り合わせ工程および充填工程に回送されると液晶
などの電気光学物質の配向状態が乱れるが、このような
問題は本形態によれば発生しない。
【0060】また、本形態ではスピンコート法によって
配向膜24、32を塗布する前に対向基板20およびT
FTアレイ基板10の表面にプラズマ照射を行なうの
で、これらの基板表面と、配向膜24、32を形成する
ための薬液との親和性、濡れ性が高い。従って、スピン
コート法において、薬液を遠心力によって基板の表面全
体に展開するとき、基板上から零れ落ちる薬液量が少な
くて済む。このため、薬品の使用量を1/2位にまで低
減できるという利点もある。
【0061】さらにプラズマとして大気圧プラズマを用
いるため、真空装置内での処理と違って、枚葉連続処理
を容易に行なえ、かつ、大きなスペースが不要であるの
で、製造ラインに組み込みやすい。しかも、大気圧プラ
ズマであれば、電極膜や遮光膜などを損傷しないので、
必要な領域を効率よく処理できる。前述したように、プ
ラズマを照射するプラズマガンにスポットガンを搭載
し、間接放電方式により酸素プラズマを発生させた場
合、例えばシール部等、必要な領域の配向膜を効率よく
除去できる。また、前処理工程ではプラズマガンにライ
ンガンを搭載し、間接放電方式により窒素プラズマを発
生させるので、広い領域の表面改質を効率よく処理でき
る。ヘリウム直接放電タイプなどと比較して、ガン構造
の選択により目的に応じた処理が効率よく達成でき、か
つ、ランニングコストが低いという利点がある。
【0062】[実施の形態2]図9は、本発明の実施の
形態2に係る電気光学装置の端部を拡大して模式的に示
す断面図である。図10(A)、(B)、(C)、
(D)はそれぞれ、図9に示す電気光学装置1の製造工
程において、配向膜除去工程を終えた後の配向膜24の
形成領域を示す対向基板20の平面図、その断面図、配
向膜除去工程を終えた後の配向膜32の形成領域を示す
TFTアレイ基板10の平面図、およびその断面図であ
る。
【0063】実施の形態1では、シール材52と重なる
領域、およびこの領域より外周側の領域について配向膜
24、32を除去したが、図9に示すように、配向膜除
去工程において、シール材52の形成領域において、シ
ール材52の形成領域の幅寸法の30%から80%に相
当する領域の配向膜24、32のみを除去する構成であ
ってもよい。すなわち、本形態では、シール材52と重
なる領域(シール材の形成領域下)のうち、その内周側
および外周側には配向膜24、32が部分的に残ってい
るとともに、シール材52の形成領域よりも外周側の領
域にも配向膜24、32が残っている。なお、本形態で
も、実施の形態1と同様、配向膜24、32はスピンコ
ート法による成膜されたものである。その他の構造は、
実施の形態1と同様であるため、対応する部分には同一
の符号を付して図示することにして、それらの説明を省
略する。
【0064】このように構成した電気光学装置1におい
て、シール材52は、部分的ではあるが、TFTアレイ
基板10や対向基板20に対して直接、接しており、シ
ール材52とTFTアレイ基板10との間521、およ
びシール材52と対向基板20との間522には、配向
膜24、32が部分的にしか存在していない。このた
め、シール材52を介してTFTアレイ基板10と対向
基板20とを貼り合わせた以降、シール材52とTFT
アレイ基板10との間521、およびシール材52と対
向基板20との間522を通って水分が外部からシール
材52の形成領域の内側に侵入するということがない。
本構成のようにシール領域において30%以上配向膜が
除去されていれば、十分に水分の浸透を防ぐことが可能
である。それ故、本形態の電気光学装置1は耐湿性能が
高い。また、このように構成した電気光学装置1におい
て、シールと配向膜が接触配置される為、シール近傍ま
で配向の均一性を保持することが可能となる。
【0065】また、本形態の電気光学装置1では、その
製造方法を以下に説明するように、配向膜24、32
は、スピンコート法によって塗布されたものである。従
って、このスピンコート法によれば、フレキソ印刷法と
比較して、配向膜24、32を均一な厚さに塗布できる
ので、液晶層50においては、配向膜24、32の膜厚
ばらつきに起因する液晶の配向不良が発生しない。それ
故、本形態の電気光学装置1を、後述する投射型表示装
置の光変調手段と用いても、ムラやシミのない品位の高
い表示を行なうことができる。
【0066】次に、本形態の電気光学装置の製造方法の
うち、特徴的な工程について説明する。なお、全体的な
フローについては、実施の形態1と同様、図5を参照し
て説明する。
【0067】まず、図5(A)に示すように、TFTア
レイ基板10の表面にTFT30や画素電極9aなどを
形成する一方、対向基板20に対して対向電極32など
を形成した後、配向膜24、32を形成する前に、前処
理工程として、TFTアレイ基板10および対向基板2
0の表面全体に大気圧プラズマを照射して、基板と配向
膜形成用の薬液との濡れ性を高める。この前処理工程
も、図6に示すプラズマ照射装置において、TFTアレ
イ基板10および対向基板20の表面全体に窒素プラズ
マを照射する。
【0068】次に図5(B)に示す配向膜形成工程にお
いて、図7(A)、(B)、(C)、(D)に示すよう
に、TFTアレイ基板10および対向基板20の表面全
体にスピンコート法により配向膜24、32を塗布す
る。
【0069】次に図5(C)において、TFTアレイ基
板10および対向基板20の表面全体に形成した配向膜
24、32の所定領域(シール材52の形成領域におい
て、シール材52の形成領域の幅寸法の30%から80
%に相当する領域)に大気圧プラズマとして酸素プラズ
マを照射する。その結果、図10(A)、(B)、
(C)、(D)に示すように、シール材52と重なる配
向膜24、32のうち、シール材52の形成領域におい
て、シール材52の形成領域の幅寸法の30%から80
%に相当する領域の配向膜24、32が除去される。従
って、シール材52と重なる領域のうち、その内周側お
よび外周側には配向膜24、32が部分的に残るととも
に、シール材52の形成領域よりも外周側の領域にも配
向膜24、32が残る。
【0070】この工程でも、プラズマを発生させるに
は、基本的には図6を参照して説明したプラズマ照射装
置を用いる。但し、この工程では、配向膜24、32を
アッシングする必要があるので、酸素ガスを供給して酸
素プラズマを発生させる。また、対向基板20およびT
FTアレイ基板10の全面にプラズマを照射する場合と
違って、図10(A)、(B)、(C)、(D)に示す
ように、対向基板20およびTFTアレイ基板10に対
しては、シール材52の形成領域の幅寸法の30%から
80%の幅でプラズマを照射する。
【0071】次に図5(D)に示すように、焼成工程で
は、スピンコート法による配向膜形成工程、およびプラ
ズマ照射により配向膜除去工程を終えた対向基板20お
よびTFTアレイ基板10を加熱して配向膜24、32
を焼成する。
【0072】次に図5(E)に示すように、ラビング工
程では、焼成工程を終えた対向基板20およびTFTア
レイ基板10の各配向膜24、32をラビング布で所定
の方向に擦る。
【0073】次に図5(F)に示すように、TFTアレ
イ基板10のシール材51を塗布した後、図5(G)に
示すように、このシール材51によって、TFTアレイ
基板10と対向基板20とを貼り合わせる。しかる後に
シール材52を硬化させる。
【0074】次に図5(H)に示すように、TFTアレ
イ基板10と対向基板20との間隙のうち、液晶注入口
108からシール材51により区画形成された領域内に
液晶などの電気光学物質を減圧注入し、しかる後に液晶
注入口108を封止材109で塞ぐ。
【0075】このように、本形態でも、焼成処理やラビ
ング処理を行なう前に配向膜除去工程を行なうため、配
向膜除去工程において、たとえ画像表示領域10aの側
にプラズマが漏れたとしても、漏れたプラズマによって
配向膜24、32が劣化したまま、貼り合わせ工程に移
送されることがない。すなわち、ラビング工程を行なっ
た後の配向膜24、32にプラズマが照射されると配向
膜24、32で分子配列の乱れが発生し、そのまま貼り
合わせ工程および充填工程に回送されると液晶などの電
気光学物質の配向状態が乱れるが、このような問題は本
形態によれば発生しないなど、実施の形態1と同様な効
果を奏する。
【0076】[その他の実施の形態]なお、実施の形態
2では、シール材52の形成領域下のうち、その内周側
および外周側に配向膜24、32を部分的に残したが、
シール材52の形成領域下のうち、内周側については配
向膜24、32を完全に除去した構成であってもよい。
【0077】[投射型表示装置の構成]図11を参照し
て、本発明を適用した電気光学装置1を用いた投射型表
示装置の構成を説明する。
【0078】図11において、投射型表示装置1100
では、透過型の電気光学装置1を含む液晶表示モジュー
ルが各々R(赤色光)、G(緑色光)、B(青色光)用
のライトバルブ100R、100Gおよび100B(光
変調装置)として用いられている。
【0079】この投射型表示装置1100において、メ
タルハライドランプ等の白色光源のランプユニット11
02(光源)から投射光が発せられると、この光は、以
下に説明する導光光学系を介してライトバルブ100
R、100Gおよび100Bに導かれる。すなわち、ラ
ンプユニット1102からの投射光は、3枚のミラー1
106および2枚のダイクロイックミラー1108(色
分離手段)によって、RGBの3原色に対応する光成分
R、G、Bに分けられ、各色に対応するライトバルブ1
00R、100G、100Bに各々導かれる。この際、
特にB光は、長い光路による光損失を防ぐために、入射
レンズ1122、リレーレンズ1123および出射レン
ズ1124からなるリレーレンズ系1121を介して導
かれる。
【0080】そして、ライトバルブ100R、100G
および100Bにより各々変調された3原色に対応する
光成分は、ダイクロイックプリズム1112(色合成手
段)により再度合成された後、投射レンズ1114(拡
大投射光学系)を介してスクリーン1120にカラー画
像として拡大投射される。
【0081】このように、本発明を適用した電気光学装
置1を投射型表示装置1100に用いた場合には、拡大
投射された画像には、電気光学装置1に形成した配向膜
24、32の不均一性に起因する表示のムラやシミが発
生しないので、品位の高い表示を行なうことができる。
【0082】なお、図11に示す投射型表示装置110
0では、R(赤色)、G(緑色)、B(青色)用の3個
のライトバルブ100R、100G、100Bの全てに
ついて、本発明を適用したが、G(緑色)については特
に視感度が高く、ムラやシミが目立ちやすいので、この
G(緑色)用のライトバルブ100Gのみに、本発明を
適用した電気光学装置1を用いてもよい。
【0083】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る電気
光学装置では、大気圧プラズマを配向膜の所定領域に照
射してこの所定領域の配向膜を選択的に除去する。従っ
て、配向膜を基板全体にスピンコート法により形成した
後、シール材と重なる領域をシール材の形成領域に沿っ
て全体あるいは部分的に除去することができるので、シ
ール材と第1の基板および第2の基板との間には配向膜
が介在しない構成を実現できる。それ故、シール材と第
1の基板との間、あるいはシール材と第2の基板の間に
おいて、配向膜を通って外部から水分が侵入することを
回避できる。それ故、本発明を適用した電気光学装置は
耐湿性能が高い。また、配向膜を除去するのに大気圧プ
ラズマを利用するので、真空雰囲気中で配向膜除去工程
を行なう必要がない。それ故、大気圧プラズマを利用し
た配向膜除去工程であれば、製造ラインに組み込むやす
い。また、基板表面の全体に形成した配向膜を効率よく
除去できるのであれば、配向膜をスピンコート法などに
より形成でき、このスピンコート法であれば、配向膜を
均一な膜厚で形成することができる。それ故、液晶など
の電気光学物質を適正に配向させることができるので、
ムラやシミのない品位の高い表示を行なうことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係る電気光学装置のT
FTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に
対向基板の側から見た平面図である。
【図2】図1のH−H´の断面図である。
【図3】図1に示す電気光学装置の端部を拡大して模式
的に示す断面図である。
【図4】図1に示す電気光学装置の画像表示領域におい
て、マトリクス状に形成された複数の画素における各種
素子、配線等の等価回路である。
【図5】(A)〜(H)はそれぞれ、図1に示す電気光
学装置の製造方法を示す工程断面図である。
【図6】図1に示す電気光学装置を製造するのに用いた
プラズマ照射装置の概略構成図である。
【図7】(A)、(B)、(C)、(D)はそれぞれ、
図1に示す電気光学装置の製造工程において、配向膜塗
布工程で形成した配向膜の形成領域を示す対向基板の平
面図、その断面図、配向膜塗布工程で形成した配向膜の
形成領域を示すTFTアレイ基板の平面図、およびその
断面図である。
【図8】(A)、(B)、(C)、(D)はそれぞれ、
図1に示す電気光学装置の製造工程において、配向膜除
去工程を終えた後の配向膜の形成領域を示す対向基板の
平面図、その断面図、配向膜除去工程を終えた後の配向
膜の形成領域を示すTFTアレイ基板の平面図、および
その断面図である。
【図9】本発明の実施の形態2に係る電気光学装置の端
部を拡大して模式的に示す断面図である。
【図10】(A)、(B)、(C)、(D)はそれぞ
れ、図9に示す電気光学装置の製造工程において、配向
膜除去工程を終えた後の配向膜の形成領域を示す対向基
板の平面図、その断面図、配向膜除去工程を終えた後の
配向膜の形成領域を示すTFTアレイ基板の平面図、お
よびその断面図である。
【図11】本発明を適用した電気光学装置を用いた投射
型表示装置の光学系の構成を示す説明図である。
【図12】従来の電気光学装置の端部を拡大して模式的
に示す断面図である。
【図13】本発明の比較例に係る電気光学装置の端部を
拡大して模式的に示す断面図である。
【符号の説明】
1 電気光学装置 5 パネル 10 TFTアレイ基板(第1の基板) 10a 画像表示領域 20 対向基板(第2の基板) 24、34 配向膜 50 液晶層 52 シール材 53 見切り用の遮光膜 200 カバーガラス 210 接着剤 500 マイクロレンズ 1100 投射型表示装置 100R、100Gおよび100B ライトバルブ(光
変調装置) 2000 プラズマ照射装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮島 弘夫 長野県諏訪市大和3丁目3番5号 セイコ ーエプソン株式会社内 (72)発明者 秋山 博明 長野県諏訪市大和3丁目3番5号 セイコ ーエプソン株式会社内 Fターム(参考) 2H088 EA14 EA15 HA03 HA05 HA08 HA13 HA25 HA28 MA06 2H089 NA41 NA45 QA07 QA12 TA04 TA16 TA18 UA05 2H090 HA14 HB08Y HC05 HC12 MB01 5C094 AA03 AA38 BA03 BA16 BA43 CA19 CA24 DA14 DA15 EA04 EA07 EB02 EC03 ED01 ED15 5G435 AA02 AA13 BB12 BB17 CC12 DD02 DD05 FF00 FF13 GG01 GG02 GG03 GG04 GG08 GG28 GG46 KK05 KK10

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の基板と第2の基板とを所定の間隙
    を介してシール材で貼り合わせる貼り合わせ工程と、前
    記第1の基板と前記第2の基板の間隙のうち前記シール
    材で区画された領域内に電気光学物質を充填する充填工
    程とを有する電気光学装置の製造方法において、 前記貼り合わせ工程を行なう前に、前記第1および第2
    の基板の各々に配向膜を形成する配向膜形成工程と、前
    記第1および第2の基板のうちの少なくとも一方の基板
    の配向膜の所定領域に大気圧プラズマを照射して当該所
    定領域の配向膜を除去する配向膜除去工程とを行うこと
    を特徴とする電気光学装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、前記第1および
    第2の基板に形成した前記配向膜のうち、少なくとも前
    記シール材の形成領域下の一部を当該シール材の形成領
    域に沿って除去することを特徴とする電気光学装置の製
    造方法。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、前記シール材の
    形成領域下の領域、および該形成領域より外周側に形成
    された配向膜を除去することを特徴とする電気光学装置
    の製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項2に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、前記シール材の
    形成領域より外周側に形成された配向膜、および前記シ
    ール材の形成領域下の配向膜のうち外周部の配向膜を除
    去することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 請求項2に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、前記シール材の
    形成領域において、当該シール材の形成領域の幅寸法の
    30%以上に相当する領域の前記配向膜を除去すること
    を特徴とする電気光学装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 請求項2に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、シール材の内側
    の配向膜とシール材の外側の配向膜とがシール材の形成
    領域下において分断されるように配向膜を除去すること
    を特徴とする電気光学装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 請求項2に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、シール材の外側
    の配向膜からシール材の内側の配向膜へ水分が伝わらな
    いように、シール材の形成領域下において配向膜を除去
    することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 請求項1乃至請求項7のいずれか一項に
    記載の電気光学装置の製造方法において、前記配向膜除
    去工程では、前記大気圧プラズマとして酸素プラズマを
    発生させることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載の電気光学装置の製造方
    法において、前記配向膜除去工程では、前記大気圧プラ
    ズマとして間接放電方式により酸素プラズマを発生させ
    ることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  10. 【請求項10】 請求項1乃至請求項9のいずれか一項
    に記載の電気光学装置の製造方法において、前記配向膜
    除去工程を行なった後、前記貼り合わせ工程を行なう前
    に、前記配向膜を加熱、焼成する焼成工程を行なうこと
    を特徴とする電気光学装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 請求項1乃至請求項10のいずれか一
    項に記載の電気光学装置の製造方法において、前記配向
    膜除去工程を行なった後、前記貼り合わせ工程を行なう
    前に、前記配向膜にラビング処理を施すラビング工程を
    行なうことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  12. 【請求項12】 請求項1乃至請求項11のいずれか一
    項に規定する方法で製造したことを特徴とする電気光学
    装置。
  13. 【請求項13】 請求項12に規定する電気光学装置を
    用いた投射型表示装置であって、光源と、該光源から出
    射された光を光変調手段に導く導光光学系と、前記光変
    調手段により変調された光を拡大投射する拡大投射光学
    系とを有し、 前記光変調手段として前記電気光学装置が用いられてい
    ることを特徴とする投射型表示装置。
  14. 【請求項14】 請求項12に規定する電気光学装置を
    用いた投射型表示装置であって、光源と、該光源から出
    射された光を複数の色光に分離する色光分離手段と、該
    色分離手段によって分離された各色光をそれぞれ変調す
    る光変調手段と、該光変調手段によりそれぞれ変調され
    た色光を合成する色合成手段と、該色合成手段により合
    成された光を拡大投射する拡大投射光学系とを有し、 前記光変調手段として前記電気光学装置を用いることを
    特徴とする投射型表示装置。
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