JP2001228526A - Camera - Google Patents

Camera

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JP2001228526A
JP2001228526A JP2000035460A JP2000035460A JP2001228526A JP 2001228526 A JP2001228526 A JP 2001228526A JP 2000035460 A JP2000035460 A JP 2000035460A JP 2000035460 A JP2000035460 A JP 2000035460A JP 2001228526 A JP2001228526 A JP 2001228526A
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JP
Japan
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unit
camera
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units
error
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2000035460A
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Japanese (ja)
Inventor
Osamu Nonaka
修 野中
Junichi Ito
順一 伊藤
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a camera which is manufactured without necessitating a large-scaled manufacturing line while assembling a complicated unit and whose quality is excellent. SOLUTION: This camera is composed of plural units (a mirror frame unit 2, a main body unit 1, an autofocusing unit 3 and a stroboscope unit 4), and possesses memories (unit nonvolatile memories 20, 16, 30 and 40) respectively provided for the plural units and to store quality information for each unit and a controlling means (a microcomputer 10) to control warning or display based on information obtained by combining the stored content of each memory.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数のユニットか
ら構成されるカメラに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a camera comprising a plurality of units.

【0002】[0002]

【従来の技術】カメラを構成する部品やユニットを管理
するために製造年月日、シリアルナンバー、ロットナン
バーなどを部品やユニットに添付することは、従来より
一般に行われている。これらの情報はユニット本体に刻
印したり、シールやバーコードを利用してユニット毎に
来歴付けされる。また、カメラの部品のバラつきなどを
EEPROMに記憶されたデータを用いて補正する技術
は例えば特開昭63−198818号公報に開示されて
いる。
2. Description of the Related Art It has been common practice to attach a date of manufacture, a serial number, a lot number, etc. to a part or unit in order to manage the parts or unit constituting the camera. Such information is stamped on the unit body, or the history of each unit is recorded using a sticker or a bar code. A technique for correcting variations in camera components using data stored in an EEPROM is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-198818.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしカメラのシステ
ムが複雑になると、システムを構成するユニットそのも
のも複雑になり、従来のシリアルナンバー、ロットナン
バーだけではシステムの性能を管理しきれなくなる。す
なわち、複雑な部品の集まりからなる各ユニットは、部
品のバラつきが積み重なることになり、したがって各ユ
ニットからなるカメラもユニットの組み合わせによって
は相性が悪く良い性能が得られない場合がある。
However, when the camera system becomes complicated, the units constituting the system become complicated, and the performance of the system cannot be managed only by the conventional serial number and lot number. In other words, each unit composed of a complex group of components accumulates variation in components, and therefore, depending on the combination of units, the camera composed of each unit may be incompatible with each other, and good performance may not be obtained.

【0004】また、ユニットの組み合わせに関する情報
は、従来の刻印やバーコードなどによる管理方法では取
り扱うことが出来ないか、あるいは複雑なネットワーク
コンピューターの導入による管理なくしては、カメラは
規格を満たせない不良品となってしまうことが多かっ
た。
[0004] In addition, information on the combination of units cannot be handled by conventional management methods such as engraving and barcodes, or a camera cannot meet the standard without management by introducing a complicated network computer. Often it was a good product.

【0005】また、上記特開昭63−198818号公
報にはバラつきを補正する技術について述べられている
が、各ユニットの組み合わせについては何ら開示してい
ない。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-198818 describes a technique for correcting variations, but does not disclose any combination of units.

【0006】本発明はこのような課題に着目してなされ
たものであり、その目的とするところは、複雑なユニッ
トを組み合わせながらも大がかりな製造ラインを必要と
せず、しかも高品質なカメラを提供することにある。
The present invention has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide a high-quality camera which does not require a large-scale production line while combining complicated units. Is to do.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第1の発明は、複数のユニットからなるカメラで
あって、上記複数のユニットの各々に設けられ、各ユニ
ットについての品質情報を記憶するメモリと、上記各メ
モリの記憶内容を組み合わせた情報に基づいて、警告ま
たは表示を制御する制御手段とを具備する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a camera comprising a plurality of units, provided in each of the plurality of units, and provided with quality information about each unit. And a control means for controlling a warning or a display based on information obtained by combining the storage contents of the memories.

【0008】また、第2の発明は、各々がメモリを有す
る複数のユニットからなるカメラであって、上記各メモ
リは、カメラ動作を設計値どおりに制御するためのデー
タを記憶する第一領域と、誤差などの品質情報を記憶す
る第二領域とを備えている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a camera comprising a plurality of units each having a memory, wherein each of the memories has a first area for storing data for controlling a camera operation according to a design value. , And a second area for storing quality information such as an error.

【0009】また、第3の発明は、複数のユニットから
なるカメラであって、上記複数のユニットに設けられ、
その各々が第一の条件における品質情報を記憶する第一
領域と、第二の条件における品質情報を記憶する第二領
域とを有しているメモリと、上記第一の条件での品質
を、設計値に合わせるための補正制御を行う制御手段
と、上記各メモリの第二領域の情報の組み合わせによっ
てカメラの品質状態を判断する判断手段とを具備する。
A third invention is a camera comprising a plurality of units, wherein the camera is provided in the plurality of units,
Each of the first area for storing the quality information under the first condition, the memory having a second area for storing the quality information under the second condition, and the quality under the first condition, The control device includes a control unit that performs correction control to match the design value, and a determination unit that determines a quality state of the camera based on a combination of information in the second area of each memory.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下に図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0011】(第1実施形態)図3(a)はカメラの製
造工場の様子を示す図である。図3(b)、(c)、
(d)に示すように、製造中のカメラ100は、鏡枠ユ
ニット2、本体ユニット1、AFユニット3等から構成
されている。
(First Embodiment) FIG. 3A is a diagram showing a state of a camera manufacturing factory. 3 (b), (c),
As shown in (d), the camera 100 during manufacture includes a lens frame unit 2, a main body unit 1, an AF unit 3, and the like.

【0012】カメラ製造においては各ユニットが持つバ
ラつき要因をキャンセルするために種々の調整を行って
から出荷されるが、そのバラつきがつみ重なると、所定
の規格に入らないことがある。例えば、各ユニットがす
べて前ピン傾向のバラつきをギリギリの範囲で持ってい
る場合には、これらが積算されたカメラは不良となる確
率が高い。そこで本実施形態では、各ユニットは各々の
バラつき傾向を示すユニットデータを記憶可能なメモリ
20a(鏡枠ユニット2の場合)、1b(本体ユニット
1の場合)、20b(AFユニット3の場合)を備えて
いる。
In the manufacture of a camera, various adjustments are made to cancel the cause of the variation of each unit, and then the unit is shipped. If the variation overlaps, the unit may not meet a predetermined standard. For example, when each unit has a variation in the front focus tendency in the last minute range, the camera in which these are integrated has a high probability of failure. Therefore, in the present embodiment, each unit includes a memory 20a (in the case of the lens frame unit 2), 1b (in the case of the main unit 1), and 20b (in the case of the AF unit 3) capable of storing unit data indicating the tendency of variation. Have.

【0013】そして図4(a)に示すようなカメラ製造
ラインのフローチャートにおいて、まず各メモリに記憶
されているユニットデータを読み出して(ステップS
1)、各ユニットデータを合成した合成情報を形成し
(ステップS2)、これが所定の基準に入るかどうかを
判断して(ステップS3)、入らない場合には警告する
(ステップS5)。また入る場合には合成情報(例えば
前ピンになる度合)を本体用不揮発性メモリ(本体EE
PROM)に書きこむ(ステップS4)。
In the flowchart of the camera manufacturing line as shown in FIG. 4A, first, the unit data stored in each memory is read (step S).
1) Combined information obtained by combining the unit data is formed (step S2), and it is determined whether or not the combined information satisfies a predetermined standard (step S3). If not, a warning is issued (step S5). When entering, the combined information (for example, the degree of the previous pin) is stored in the nonvolatile memory for the main body (the main body EE).
(PROM) (step S4).

【0014】警告が出たカメラについては図3(a)の
ように修理者60がその合成情報を確認し、別のバラつ
きを持つユニット2bに組みかえるようにする。
As shown in FIG. 3A, the repairer 60 confirms the combined information of the camera for which the warning has been issued, and reconfigures the camera into a unit 2b having another variation.

【0015】またカメラ自体に表示機能を持たせるよう
にしてもよい。すなわち、図4(b)のフローチャート
において、表示ボタンを押すと(ステップS10)、各
ユニットの持つバラつきデータを合成して合成情報を形
成しこれを表示データとする(ステップS11)。次に
この表示データを表示部(LCD)19aに表示する
(ステップS12)。これによって、修理者60は例え
ばピント特性がどのような傾向にあるかを判断し迅速な
修理ができる。また、各ユニットのバラつきの傾向を把
握して、前工程にフィードバックすることができる。
[0015] The camera itself may have a display function. That is, in the flowchart of FIG. 4B, when the display button is pressed (step S10), the variation data of each unit is combined to form combined information, which is used as display data (step S11). Next, the display data is displayed on the display unit (LCD) 19a (step S12). As a result, the repairer 60 can determine, for example, what the focus characteristic tends to be and perform quick repair. In addition, it is possible to grasp the tendency of variation of each unit and feed it back to the preceding process.

【0016】図1は本発明の第1実施形態において、カ
メラの一部の機能を抜粋して示すブロック図である。本
体ユニット1内に設けられてカメラの制御を司るマイク
ロコンピュータ10は、ドライバー回路11を制御し
て、ズーム&フィルム駆動モーター12を駆動してフィ
ルム給送機構14を動作させる。同時に駆動力分配機構
13によって、鏡枠ユニット2の駆動源となる減速機構
15をも駆動する。
FIG. 1 is a block diagram showing a part of functions of a camera in the first embodiment of the present invention. A microcomputer 10 provided in the main unit 1 and controlling a camera controls a driver circuit 11 to drive a zoom & film driving motor 12 to operate a film feeding mechanism 14. At the same time, the driving force distribution mechanism 13 also drives the speed reduction mechanism 15 which is the driving source of the lens frame unit 2.

【0017】また本体用不揮発性メモリ16には、前述
した駆動のためのパラメータとして、ズーム&フィルム
駆動モータ12の回転数を検出するための、例えばフォ
トインタラプタ信号のスレッシュデータや、フィルム給
送機構における、パーフォレーション検出信号のスレッ
シュデータが本体ユニット固有の来歴情報として記憶さ
れている。
The main body non-volatile memory 16 includes, for example, threshold data of a photo interrupter signal for detecting the number of rotations of the zoom & film drive motor 12 and a film feeding mechanism as parameters for the above-mentioned driving. , The threshold data of the perforation detection signal is stored as history information unique to the main unit.

【0018】鏡枠ユニット2は、焦点距離を変更して被
写体に焦点を合わせるための撮影レンズ6と、露出動作
を行なうレンズシャッタ7を備えている。前記本体ユニ
ット1を駆動源とする焦点距離可変機構21により、い
わゆるズーム動作を行なって焦点距離を変更する。同時
に焦点距離検出回路22により検出された焦点距離情報
がマイクロコンピュータ10へ伝達される。
The lens frame unit 2 includes a photographing lens 6 for changing the focal length to focus on a subject, and a lens shutter 7 for performing an exposure operation. A so-called zoom operation is performed by the variable focal length mechanism 21 using the main unit 1 as a drive source to change the focal length. At the same time, focal length information detected by the focal length detecting circuit 22 is transmitted to the microcomputer 10.

【0019】また、マイクロコンピュータ10によりレ
ンズ駆動モータ25が駆動され、パルス発生回路26の
信号に基づいて焦点調節機構24を制御して焦点合わせ
を行なう。
The microcomputer 10 drives the lens drive motor 25 to control the focus adjustment mechanism 24 based on the signal of the pulse generation circuit 26 to perform focusing.

【0020】鏡枠ユニット用不揮発性メモリ20には、
焦点合わせ時の焦点距離と鏡枠のズーム位置との対応情
報や、焦点調節機構24の分解能情報や、シャッター開
閉時のセクター羽根の移動速度特性に関する情報などが
記憶されている。
The nonvolatile memory 20 for the lens frame unit includes:
Information on the correspondence between the focal length at the time of focusing and the zoom position of the lens frame, information on the resolution of the focus adjustment mechanism 24, information on the moving speed characteristics of the sector blades when the shutter is opened and closed, and the like are stored.

【0021】オートフォーカスユニット3は、前記マイ
クロコンピュータ10からの信号によりAFセンサー3
2を駆動して測距を行なう距離検出回路31を有する。
The autofocus unit 3 is operated by the AF sensor 3 based on a signal from the microcomputer 10.
2 has a distance detection circuit 31 for performing distance measurement by driving.

【0022】AFユニット用不揮発性メモリ30には、
測距データと実際の距離とを一致させるための調整デー
タや、センサーの温度特性などのデータが記憶されてい
る。
The nonvolatile memory 30 for the AF unit includes:
Adjustment data for matching the distance measurement data with the actual distance, and data such as temperature characteristics of the sensor are stored.

【0023】ストロボユニット4は、マイクロコンピュ
ータ10からの信号により、発光のために必要な電圧ま
で充電する充電回路41と、光量制御回路42とによっ
てフラッシュ43の発光を制御するユニットである。
The strobe unit 4 is a unit for controlling light emission of a flash 43 by a charging circuit 41 for charging to a voltage required for light emission by a signal from the microcomputer 10 and a light amount control circuit 42.

【0024】ストロボユニット用不揮発性メモリ40に
は、充電電圧データや、発光時間データなどが記憶され
ている。
The flash unit nonvolatile memory 40 stores charging voltage data, light emission time data, and the like.

【0025】なお、本体ユニット1は、例えばパーソナ
ルコンピュータのような、外部制御装置50と通信する
ための通信インターフェイス回路17を備え、各ユニッ
トを組み合わせた状態で、前記外部制御装置50によ
り、各ユニットの不揮発性メモリの任意の記憶情報を閲
覧・修正できる。
The main unit 1 is provided with a communication interface circuit 17 for communicating with an external control device 50 such as a personal computer, for example. Can read and modify any information stored in the nonvolatile memory.

【0026】また、前記各ユニットは、組合わせられる
ことによってカメラとしての機能を果たし、本体ユニッ
トを中心に、ユニット間のデータの受け渡しによって、
どのユニットと組合わされたかの情報や、組み合わせた
場合の特性などが来歴として不揮発性メモリに記憶され
ている。
Each of the units functions as a camera by being combined, and the data is exchanged between the units mainly by the main unit.
Information as to which unit has been combined, characteristics when combined, and the like are stored as history in the nonvolatile memory.

【0027】図2は本発明の第1実施形態を示すメモリ
空間図で、ユニット毎に設けられた不揮発性メモリの空
間配置を概念的に示している。この不揮発性メモリに
は、ユニット自体の管理ナンバーや、製造年月日、部品
のロットナンバー、ユニットにおいて目標とする性能を
実現するための調整データや設計からのバラつきデータ
等が記憶されている。また、本体ユニットの不揮発性メ
モリ内は、各ユニットの情報をさらに組み合わせること
により決まる性能の良否に関する情報などを記録してお
くための領域を備えている。
FIG. 2 is a memory space diagram showing the first embodiment of the present invention, and conceptually shows the spatial arrangement of nonvolatile memories provided for each unit. The nonvolatile memory stores a management number of the unit itself, a manufacturing date, a lot number of parts, adjustment data for realizing a target performance of the unit, variation data from design, and the like. Further, the nonvolatile memory of the main unit includes an area for recording information on the quality of performance determined by further combining information of each unit.

【0028】ここで、まずカメラのピント合せに関連す
る各要素について本実施形態に関する説明を行なう。図
5(a)は測距ユニットの構成を示し、赤外線を投射す
る赤外発光ダイオード(IRED)72の光を被写体に
対して投光する投光レンズ70と、被写体からの反射信
号光を受光する受光レンズ71と、反射信号光の位置を
検出すべくフレキシブル基板73a上に設けられたセン
サ(PSD)73が枠32に接着可能に配置されてい
る。さらにIRED72、PSD73を制御したりその
出力信号を処理する機能を備えた集積回路(AFIC)
31とEEPROM30とがプリント基板74上に搭載
されている。
Here, first, the components relating to the camera focusing will be described with respect to the present embodiment. FIG. 5A shows a configuration of a distance measuring unit, in which a light projecting lens 70 for projecting light of an infrared light emitting diode (IRED) 72 for projecting infrared rays to a subject, and receiving a reflected signal light from the subject. A light receiving lens 71 and a sensor (PSD) 73 provided on a flexible substrate 73a for detecting the position of the reflected signal light are provided so as to be adhered to the frame 32. Further, an integrated circuit (AFIC) having a function of controlling the IRED 72 and the PSD 73 and processing an output signal thereof.
31 and the EEPROM 30 are mounted on a printed circuit board 74.

【0029】図5(b)は上記した測距ユニットをリー
ド線72a、フレキシブル基板73a等で接続した状態
を示す図である。
FIG. 5B is a view showing a state in which the above-described distance measuring units are connected by a lead wire 72a, a flexible board 73a and the like.

【0030】被写体からの反射信号光がPSD73へ入
射する位置は被写体により変化するが、このことより三
角測距の原理に基づいて被写体距離を検出する。しかし
ICなど各部品の出来ばえに加え、その組み付けのバラ
つき等が積算されて単に各部品を組み立てただけでは、
設計通りの測距性能を得ることができない。
The position at which the reflected signal light from the subject enters the PSD 73 varies depending on the subject. From this, the subject distance is detected based on the principle of triangulation. However, in addition to the quality of each component such as IC, the variation of the assembly and the like are accumulated, and simply assembling each component,
The distance measurement performance as designed cannot be obtained.

【0031】そこで本実施形態では、図6(a)のよう
な組立工程を実行する。すなわち、組立、接着(ステッ
プS20)、調整(ステップS21)、接着(ステップ
S22)後、ステップS23にて測距ユニット(AFユ
ニット)の特性をチェックしてEEPROMにその結果
を書きこむ(ステップS24)。ここでは図5(c)の
ように、工場において作業者77がこの測距ユニットを
実際に作動させてその特性をチェックする。測距ユニッ
トの電気回路は、パソコン75とコネクタ76を介して
通信を行ない、所定距離L1 を持たせて配置されたチャ
ート78を測距した時の測距結果がパソコン75に取り
込まれる。
Therefore, in the present embodiment, an assembling process as shown in FIG. That is, after assembling, bonding (step S20), adjustment (step S21), bonding (step S22), the characteristics of the distance measuring unit (AF unit) are checked in step S23, and the result is written in the EEPROM (step S24). ). Here, as shown in FIG. 5 (c), an operator 77 actually operates the distance measuring unit at a factory and checks its characteristics. The electric circuit of the distance measuring unit communicates with the personal computer 75 via the connector 76, and the distance measurement result obtained when the chart 78 arranged with a predetermined distance L1 is measured is taken into the personal computer 75.

【0032】ここで設計値からのズレがなくなるように
図6(b)のAF特性チェックのフローを実行する。す
なわち、IREDを発光(ステップS30)させて、所
定距離時の実測値DL1を求め(ステップS31)、この
ときの実測値と設計値DL0との間の誤差ΔDL を求めて
ユニット用不揮発性メモリ(EEPROM)に書き込む
(ステップS33)。これによって、実際の距離測定時
には、実測値DL1に対して補正値ΔDL を加味した距離
を算出し、ピントを合わせるようにする。
Here, the flow of the AF characteristic check of FIG. 6B is executed so that the deviation from the design value is eliminated. That is, the IRED is caused to emit light (step S30), an actual measurement value DL1 at a predetermined distance is obtained (step S31), and an error ΔDL between the actual measurement value at this time and the design value DL0 is obtained to obtain the unit nonvolatile memory ( (EEPROM) (step S33). As a result, at the time of actual distance measurement, the distance is calculated by adding the correction value ΔDL to the actually measured value DL1, and the focus is adjusted.

【0033】また、ステップS32にて図5(c)のチ
ャート78に対する測距時の光量PL1をパソコン75に
より認識,判定する。次にステップS34でステップS
32で判定した光量を設計値の光量と比較する。このよ
うに光投射タイプの測距装置では光量が十分であれば正
確な測距値を出力するが、例えば部品の出来ばえによっ
て光量が少ないものでは遠距離での精度劣化が起こりや
すい。つまり光量が少ないユニットではピントが遠距離
になりがちである。
In step S32, the personal computer 75 recognizes and determines the light quantity PL1 at the time of distance measurement for the chart 78 of FIG. 5C. Next, in step S34, step S
The light amount determined in 32 is compared with the light amount of the design value. As described above, the light projection type distance measuring device outputs an accurate distance measurement value if the light amount is sufficient. However, if the light amount is small due to the quality of the components, for example, accuracy degradation at a long distance is likely to occur. That is, a unit having a small amount of light tends to focus on a long distance.

【0034】そこでステップS34で光量が少ないと判
定された場合にはステップS36に分岐し、遠距離で誤
差が出やすい事を示す値FAFを−0.1としてステップ
S37にてそれをユニット用不揮発性メモリ(EEPR
OM)に書き込む。また、光量が十分な場合にはFAFを
0とする(ステップS35)。このように製造されてい
る測距ユニットが誤差を起こしやすいものか否かをメモ
り内に書き込むことができる。
If it is determined in step S34 that the amount of light is small, the flow branches to step S36, in which the value FAF indicating that an error is likely to occur at a long distance is set to -0.1, and in step S37, the value is set to the non-volatile memory for the unit. Memory (EEPR)
OM). If the light amount is sufficient, FAF is set to 0 (step S35). It is possible to write in the memory whether or not the manufactured ranging unit is likely to cause an error.

【0035】図7はカメラの本体部の組立に関して起こ
る設計値からのずれを記憶する工程について説明するた
めの図である。図8は本体部に関する組立の手順を示す
フローチャートである。図7(a)のように、フィルム
を装填し巻き上げていく部分(本体)1に、巻き上げ用
モーター12、巻き上げ巻き戻し用ギア列14の他、E
EPROM16が搭載された基板16aなどがビスで組
みつけられて本体ユニットとなる(ステップS40)。
このようにして製造された本体ユニットにおいて、図7
(b)のように撮影レンズ等からなる鏡枠ユニットが当
てつけられる面100とフィルムが当てつけられる面1
01の位置の差FK がカメラのピント合せ時には重要な
要因となる。それは、カメラのオートフォーカス制御は
フィルム面101に対してピントが合うようにレンズ位
置を調整するためであり、このFK が設計値からずれて
いると測距ユニットの測距結果が正確でも、カメラは見
当はずれな所にピント合せをしてピンボケとなってしま
う。
FIG. 7 is a view for explaining a step of storing a deviation from a design value which occurs in assembling the camera body. FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for assembling the main body. As shown in FIG. 7A, a film winding and winding portion (main body) 1 includes a winding motor 12, a winding and rewinding gear train 14, and E.
The board 16a on which the EPROM 16 is mounted is assembled with screws to form a main unit (step S40).
In the main unit manufactured as described above, FIG.
As shown in (b), a surface 100 to which a lens frame unit including a photographing lens is applied and a surface 1 to which a film is applied
The position difference FK at position 01 is an important factor when focusing the camera. The reason is that the auto focus control of the camera is to adjust the lens position so that the lens is in focus with respect to the film surface 101. If this FK deviates from the design value, even if the distance measurement result of the distance measurement unit is accurate, the camera will not be adjusted. It is out of focus because it focuses on the wrong place.

【0036】そこで、図7(c)のように、レーザー変
位計81a,81b,81cを用いて、中心部における
2つの面の位置の差FK を実測して(ステップS4
1)、設計値からのズレΔFを計算し(ステップS4
2)、ΔFをFHとしてEEPROMに書き込む(ステ
ップS43)。ピント合せ時は、カメラのマイクロコン
ピュータ10(図1)がこの値を加味した制御を行な
う。
Therefore, as shown in FIG. 7C, the difference FK between the positions of the two surfaces at the center is actually measured using the laser displacement meters 81a, 81b and 81c (step S4).
1) Calculate the deviation ΔF from the design value (step S4)
2) Write ΔF as FH into the EEPROM (step S43). At the time of focusing, the microcomputer 10 of the camera (FIG. 1) performs control taking this value into account.

【0037】一方、画面の周辺部のピントも重要なの
で、周辺部のズレΔFについてもステップS44でチェ
ックする。次に、得られたΔFと先に求めた中心部につ
いてのズレΔFとを比較してさらなる誤差を求めこれを
FH1としてEEPROMに記憶する(ステップS4
5)。
On the other hand, since the focus of the peripheral portion of the screen is also important, the deviation ΔF of the peripheral portion is also checked in step S44. Next, the obtained .DELTA.F is compared with the deviation .DELTA.F with respect to the center obtained earlier to obtain a further error, and this is stored in the EEPROM as FH1 (step S4).
5).

【0038】なお、図7(c)において80はパソコン
である。また、82はフィルム面に当てつける冶具であ
り、本体ユニット1はバネ83a,83bの力で押圧さ
れる金属板84a,84bに挟まれてしっかりと固定さ
れた状態でチェックを行なうようになっている。
In FIG. 7C, reference numeral 80 denotes a personal computer. Reference numeral 82 denotes a jig to be applied to the film surface, and the main unit 1 is checked while being firmly fixed by being sandwiched between metal plates 84a and 84b pressed by the force of springs 83a and 83b. I have.

【0039】本体ユニット1の本体用不揮発性メモリ1
6には、成形時のガタや組みつけ歪により実際に撮影時
に影響しそうな誤差要因に関する情報が記憶されてい
る。
Non-volatile memory 1 for main unit of main unit 1
Reference numeral 6 stores information on error factors that are likely to affect the actual shooting due to backlash during molding and assembly distortion.

【0040】図9はカメラの鏡枠ユニット2の組立に関
して起こる設計値からのずれを記憶する工程について説
明するための図である。図9(a)に示すように、レン
ズを固定する鏡枠6a,6b,6cやシャッターユニッ
ト7などがユニット枠2に組みこまれ、EEPROM2
0を持つ基板20aが取り付けられている。
FIG. 9 is a diagram for explaining a process of storing a deviation from a design value which occurs in assembling the lens barrel unit 2 of the camera. As shown in FIG. 9A, mirror frames 6a, 6b, 6c for fixing a lens, a shutter unit 7, and the like are assembled in the unit frame 2, and the EEPROM 2
A substrate 20a having 0 is attached.

【0041】図9(b)のように、これらのレンズ系は
本体ユニット1に当てつけられて固定され、撮影時には
被写体からの反射光をフイルム89上にピント合せす
る。従って、各部品のできばえがレンズによって増幅さ
れる形でピント精度に影響する。またレンズは傾きや位
置の誤差によって空間周波数によるピント位置ずれやチ
ャートの縦横によるピント位置ずれを起こすので、非常
に正確な組立と測定を要する。
As shown in FIG. 9B, these lens systems are fixed to the main body unit 1 so that the reflected light from the subject is focused on the film 89 during photographing. Therefore, the quality of each component affects the focus accuracy in a form amplified by the lens. In addition, since the lens causes a focus shift due to a spatial frequency due to a tilt or a position error and a focus shift due to the vertical and horizontal directions of the chart, very accurate assembly and measurement are required.

【0042】図9(c)はカメラの鏡枠ユニット2につ
いて設計値からのずれを実測するための構成を示し、図
10(a)はカメラの鏡枠ユニット2の組立のフローチ
ャートである。組立、接着(ステップS50)の後、光
源90とレンズ91で形成された平行光をチャート92
に投射し、レンズ6によりそのピント位置をCCD93
上に合わせる。このときコントラストを調べながら、ス
ライド部材94a,94bによりCCD93を前後に移
動させてそのピント位置のできばえを調べる(ステップ
S51)。パソコン97は、CCD93に接続された画
像処理回路96によりCCD93の出力をモニタし、ス
ライド部材94a,94bをスキャン機構99によつて
スキャンさせその位置を変位量検査手段95で調べる。
FIG. 9C shows a configuration for actually measuring the deviation from the design value of the camera frame unit 2, and FIG. 10A is a flowchart of assembling the camera frame unit 2. After assembly and bonding (step S50), the parallel light formed by the light source 90 and the lens 91 is converted to a chart 92.
And the focus position is adjusted by the lens 93 to the CCD 93.
Fit on top. At this time, while checking the contrast, the CCD 93 is moved back and forth by the slide members 94a and 94b to check the quality of the focus position (step S51). The personal computer 97 monitors the output of the CCD 93 by an image processing circuit 96 connected to the CCD 93, scans the slide members 94 a and 94 b by the scanning mechanism 99, and checks the positions by the displacement amount inspection means 95.

【0043】パソコン97は、像を結ぶべき設計値から
のズレを補正できるように、このときの変位量をユニッ
ト用不揮発性メモリ(EEPROM)20にズレ量ΔF
L として書き込む(ステップS52)。カメラのCPU
は、ピント合せ時には、これを加味したピント制御を行
なう。
The personal computer 97 stores the displacement amount at this time in the unit non-volatile memory (EEPROM) 20 so as to correct the deviation from the design value for forming an image.
Write as L (step S52). Camera CPU
Performs focus control taking this into account at the time of focusing.

【0044】このEEPROM書きこみのあと、パソコ
ン97はチャート切換手段98によりチャート92を切
り替える(ステップS53)。これはレンズ設計時の空
間周波数が20本に合わせられているチャートを例えば
10本に変更したり、縦チャートから横チャートに切り
替えるような変更でもよい。いずれにせよ、設計どおり
にできていれば、これらのチャート変化によってピント
位置はずれないはずだが、前述の部品精度や組立バラつ
きによって差異を生じる場合がある。しかし、製造ライ
ンの実力や工程設定の制約等から必ずしも理想的なもの
ばかりが生産できるわけではなく、所定の許容値に入っ
たものを良品であると判定しなければならない。しか
し、良品の中でも限界ギリギリの良品と理想どおりの良
品とが存在する。
After writing the EEPROM, the personal computer 97 switches the chart 92 by the chart switching means 98 (step S53). This may be a change such as changing the chart in which the spatial frequency is adjusted to 20 at the time of lens design to, for example, 10 or switching from a vertical chart to a horizontal chart. In any case, if they are made as designed, the focus position should not be deviated due to these chart changes, but there may be differences due to the aforementioned component precision and assembly variations. However, it is not always possible to produce only ideal products due to the ability of the production line, restrictions on process settings, and the like, and products having a predetermined tolerance must be judged as non-defective products. However, among non-defective products, there are non-defective non-defective products and ideal non-defective products.

【0045】そこで本実施形態では、チャート切換後の
ピント位置を調べ(ステップS54)、ピント位置がず
れた場合のズレ量をΔFLCとしてユニット用不揮発性メ
モリ(EEPROM)20に書きこむようにする(ステ
ップS55)。
Therefore, in the present embodiment, the focus position after the chart switching is checked (step S54), and the deviation amount when the focus position is shifted is written as ΔFLC in the unit nonvolatile memory (EEPROM) 20 (step S54). S55).

【0046】以上説明したように、ピント合せでは様々
なユニットがからみ合ってその性能が満たされる。
As described above, in focusing, various units are entangled, and the performance is satisfied.

【0047】図10(b)のステップS70〜S73は
ユニット合成情報のフローチャートである。上記実施形
態では各ユニットのピント関係の合成情報は、測距ユニ
ットのFAF、本体ユニットのFH1、鏡枠ユニットFLCか
らなり、これらを読み出して加算したものがピントの信
頼性を示す値(合成情報)となる。つまり、特定の条件
下では補正できるEEPROMデータの他、遠距離での
信頼性、中央以外のピントの信頼性、チャート変化によ
る信頼性を同じディメンジョンの評価量としてEEPR
OMに記憶しておくことにより、実写時の信頼性が工程
内で予測できるようになる。
Steps S70 to S73 in FIG. 10B are flowcharts of unit combination information. In the above embodiment, the combined information of the focus relation of each unit is composed of the FAF of the distance measuring unit, the FH1 of the main unit, and the lens frame unit FLC, and a value obtained by reading and adding these values indicates the reliability of the focus (the combined information). ). That is, in addition to the EEPROM data that can be corrected under specific conditions, the reliability at a long distance, the reliability of focus other than at the center, and the reliability due to a change in the chart are evaluated as EEPROM of the same dimension.
By storing in the OM, the reliability at the time of actual shooting can be predicted in the process.

【0048】これによって、ユニットの組み合せ上あま
りにも条件の悪いカメラは修理したりユニットを組み換
えるようにする。これは、図3,図4で説明したとおり
である。この合成情報は、カメラのCPUが各ユニット
のEEPROM値より判定してもよいし、工場の組立工
程のパソコンが、各ユニットのEEPROM値より判断
するようにしてもよい。例えば図3(a)の最終工程
で、作業者61がカメラ100とパソコン63とをイン
ターフェース62を介して接続して調べるようにしても
よい。合成情報によって信頼性が低い場合は、パソコン
63がその旨を警告表示する。
In this way, a camera whose condition is too poor in terms of unit combination is repaired or the unit is replaced. This is as described in FIGS. This combination information may be determined by the CPU of the camera from the EEPROM value of each unit, or the personal computer in the factory assembling process may determine from the EEPROM value of each unit. For example, in the final step of FIG. 3A, the worker 61 may connect the camera 100 and the personal computer 63 via the interface 62 to check. If the reliability is low due to the combined information, the personal computer 63 displays a warning to that effect.

【0049】以上説明したように本実施形態によれば、
特定の条件だけでピント精度を満足するだけでなく、さ
まざまな環境、条件下におけるピントの信頼性までを考
慮して、高品質のAFカメラが提供できる。しかも、多
少のバラつきが各ユニットにあっても組み合わせた時に
打ち消し合うようなバラつきなら許容でき、まったくユ
ーザーに問題を及ぼすことがないので厳しい規格を守れ
ずやみくもに不良とされていたユニットも有効利用でき
るので、不良率を下げ、低コストでカメラを提供でき
る。
As described above, according to the present embodiment,
It is possible to provide a high-quality AF camera that not only satisfies the focus accuracy under specific conditions but also considers the reliability of focus under various environments and conditions. Moreover, even if there is some variation in each unit, it is acceptable if the variations cancel each other out when combined, and there is no problem for the user at all, so it is possible to effectively use the units that could not comply with strict standards and were blindly defective As a result, the defective rate can be reduced and a camera can be provided at low cost.

【0050】(第2実施形態)次に本発明を露出関係に
応用した第2実施形態を説明する。図11(a)は、カ
メラの露出用測光部の構成を示している。プリント基板
104上には、センサ103、IC103a、EEPR
OM105が搭載されている。またセンサ103の前面
には絞り102が配置される。また、図11(b)は鏡
枠ユニット2を示しており、シャッター用のアクチュエ
ータ28とシャッター用セクター7がユニット内部に組
みこまれていることを図示している。20はEEPRO
M20である。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment in which the present invention is applied to an exposure relationship will be described. FIG. 11A shows a configuration of an exposure photometry unit of the camera. A sensor 103, an IC 103a, an EEPR
The OM 105 is mounted. An aperture 102 is arranged on the front surface of the sensor 103. FIG. 11B shows the lens frame unit 2 and illustrates that the shutter actuator 28 and the shutter sector 7 are incorporated in the unit. 20 is EEPRO
M20.

【0051】図12(a)、(b)は上記した各素子の
バラつき特性を示す図である。測光部はセンサやICの
特性バラつき、及び絞り102とセンサ103の位置差
によって図12(a)のように設計値の実線に対して点
線のようなバラつきをとり得る。そこでここでは、測光
ユニット状態で光源の明るさを3ポイント変えてその時
の測光結果(ICの出力)をモニタしてEEPROM2
0に書きこむようにする。
FIGS. 12 (a) and 12 (b) are diagrams showing the variation characteristics of each of the above elements. The photometric unit can take a variation as shown by a dotted line with respect to a solid line of a design value as shown in FIG. 12A due to variation in characteristics of sensors and ICs and a difference in position between the diaphragm 102 and the sensor 103. Therefore, here, the brightness of the light source is changed by 3 points in the state of the photometry unit, and the photometry result (output of the IC) at that time is monitored, and the EEPROM 2 is used.
Write to 0.

【0052】また鏡枠ユニットも図12(b)のよう
に、モーターや伝達系のバラつき、又は、セクターの組
みつけや出来ばえの差異から、開口特性に誤差を持つ。
従って、その開口の特性を複数のタイミングに渡って調
べておき、その設計値からのバラつきをEEPROM2
0に書きこんでおく。このようなユニットから構成され
たカメラ100の概観を図11(c)に示す。つまり、
測光部、鏡枠ユニットが所定の誤差を持っても、これら
が打ち消されれば問題ないカメラとなるし、誤差を強調
する場合には不良品として扱われる。実線は設計値を示
し、点線は実測値であり、それらの差が誤差となる。
Also, as shown in FIG. 12B, the lens frame unit also has an error in the aperture characteristics due to variations in the motor and transmission system, or differences in assembling and finishing of the sectors.
Therefore, the characteristics of the opening are checked over a plurality of timings, and the variation from the design value is checked in the EEPROM 2.
Write it to 0. FIG. 11C shows an overview of the camera 100 including such a unit. That is,
Even if the photometry unit and the lens frame unit have predetermined errors, if these are canceled out, there will be no problem with the camera. If the errors are emphasized, they will be treated as defective. The solid line indicates the design value, and the dotted line indicates the actually measured value, and the difference between them is an error.

【0053】図13(a)に、明るさと露出時間の制御
の関係を示す。明るさが明るい程、露出時間を短くする
必要がある。また、暗い時にはレンズは開放絞りよりも
明るくならないので、もっと露出時間を長くする必要が
ある。この関係を設計値(理論値)どおりに調整するた
めに、調整ポイントの明るさで実際にカメラを作動させ
てその時のフィルム面露光量の誤差を0にするような調
整が行なわれる。
FIG. 13A shows the relationship between the brightness and the control of the exposure time. The higher the brightness, the shorter the exposure time needs to be. Also, when the lens is dark, the exposure time needs to be longer because the lens is not brighter than the open aperture. In order to adjust this relationship according to the design value (theoretical value), the camera is actually operated at the brightness of the adjustment point, and adjustment is performed so that the error of the film surface exposure amount at that time becomes zero.

【0054】特に、測光や開口の特性が非線形のバラつ
きを持つ場合、調整ポイント以外では誤差を持ってしま
うことがある。しかし、すべての明るさ(輝度)に対し
て誤差の合せこみをするには大量生産の工場では時間的
な制約があった。そこで、本実施形態では、各ユニット
の特性を考慮して1つのポイントだけでなく、複数のポ
イントにわたって誤差が小さくなるような調整ができる
ようにした。具体的には図13(b)のように調整ポイ
ントにシフトHの補正を加え、全体的な誤差量を小さく
している。
In particular, when the photometry and aperture characteristics have non-linear variations, errors may occur at positions other than the adjustment points. However, there is a time constraint in a mass production factory to adjust the error for all brightness (luminance). Therefore, in the present embodiment, adjustment is made so that the error is reduced not only at one point but also at a plurality of points in consideration of the characteristics of each unit. Specifically, as shown in FIG. 13B, the shift H is corrected at the adjustment point to reduce the overall error amount.

【0055】ピント合せの場合は、各ユニットに補正量
を与えて演算すれば良いが、露出の場合は、シャッター
の開口特性(特に開口タイミング)を補正によって揃え
ることは事実上困難である。したがって、早く開放にな
るカメラは、シャッターがオーバー気味になるので、同
じ明るさなら測光もオーバーとなるように補正して必要
以上に長い露出にならないようにする。また、遅く開放
になるカメラはシャッターがアンダー気味になるので、
露出時間を長めにするために測光結果をアンダーとなる
ように調整する。
In the case of focusing, calculation may be performed by giving a correction amount to each unit. However, in the case of exposure, it is practically difficult to make the shutter opening characteristics (particularly the opening timing) uniform by correction. Accordingly, a camera that opens early will have a shutter that tends to be over, so that if the brightness is the same, the metering will be over-corrected so that the exposure will not be unnecessarily long. Also, the camera that opens late will have a shutter that is slightly under,
Adjust the photometry result to be under in order to make the exposure time longer.

【0056】図15(a)、図15(b)は開口特性を
モニタするのに用いられるチェッカーの構成を示す図で
ある。シャッターの開口特性は図15(a)のようなチ
ェッカーでモニタすることが可能である。光源200か
ら光を入射させながらパソコン202によりシャッター
205を制御し、シャッター205を通った光の量を受
光素子203でモニタすればよい。従ってシャッター2
05の開放時点や、その時点でフィルムに露光される光
の量の関係は、ユニット検査工程できめ細かくチェック
でき、そのときの誤差はEEPROMに記憶される。こ
の誤差から設計値からのズレを補正できる。
FIGS. 15A and 15B are diagrams showing the configuration of a checker used to monitor the aperture characteristics. The aperture characteristics of the shutter can be monitored by a checker as shown in FIG. The shutter 205 may be controlled by the personal computer 202 while light is incident from the light source 200, and the amount of light passing through the shutter 205 may be monitored by the light receiving element 203. So shutter 2
At the time of opening 05 and the relationship of the amount of light exposed on the film at that time, the unit inspection process can be checked in detail, and the error at that time is stored in the EEPROM. The deviation from the design value can be corrected from this error.

【0057】また、図15(b)のようなチェッカーを
用いることにより測光ユニットを調整可能である。ここ
ではパソコン202からの信号により光量切り換え部2
06において光源200の光量を切り換えて拡散板20
4表面の明るさを切り換えることにより測光ユニットの
出力をモニタする。測光ユニットの出力が理論値又は設
計値になるように近づける調整データを、測光ユニット
のEEPROMに書きこむ。
The photometric unit can be adjusted by using a checker as shown in FIG. Here, the light amount switching unit 2 is operated by a signal from the personal computer 202.
At 06, the light amount of the light source 200 is switched to
4 The output of the photometric unit is monitored by switching the brightness of the surface. The adjustment data for bringing the output of the photometric unit close to the theoretical value or the design value is written in the EEPROM of the photometric unit.

【0058】しかし、実際には、測光回路のリニアリテ
ィや補正式や量子化誤差の制約によって、非常に暗い所
や明るい所では調整誤差が発生してしまう。
However, in practice, an adjustment error occurs in a very dark place or a bright place due to the linearity of the photometric circuit, the correction formula, and the restriction of the quantization error.

【0059】測光ユニット調整において、最もよく使わ
れる輝度BV8,12について正しい値となるように調
整してもBV4とかBV15については誤差を生じうる
ので、これを実測してEEPROMに記憶しておく。
In the photometric unit adjustment, even if the most frequently used luminances BV8 and B12 are adjusted to have correct values, an error may occur in the BV4 and BV15, so this is measured and stored in the EEPROM.

【0060】図16はこのときの測光調整の手順を示す
フローチャートである。まず輝度8の出力を実測し(ス
テップS80)、次に輝度12の出力を実測する(ステ
ップS81)。次に輝度8と輝度12が設計値となるよ
うな補正値を算出してEEPROMに記憶する(ステッ
プS82)。次に輝度4の出力をチェックして誤差を算
出し(ステップS83、S84)、続いて輝度15の出
力をチェックして誤差を算出する(ステップS85、S
86)。最後に算出した誤差をEEPROMに記憶する
(ステップS87)。
FIG. 16 is a flowchart showing the procedure of photometric adjustment at this time. First, the output of the luminance 8 is actually measured (step S80), and then the output of the luminance 12 is actually measured (step S81). Next, a correction value such that the luminance 8 and the luminance 12 become design values is calculated and stored in the EEPROM (step S82). Next, the output of the luminance 4 is checked to calculate an error (steps S83 and S84), and then the output of the luminance 15 is checked to calculate the error (steps S85 and S85).
86). Finally, the calculated error is stored in the EEPROM (step S87).

【0061】図13(a)のようにこれらのユニットを
組み合せたカメラでは、各ユニットは各々自らのEEP
ROM値によって補正され設計どおりの働きをするが、
暗い所や明るい所では補正しきれなかった誤差を生じ
る。その誤差量も、各ユニットのEEPROMが記憶し
ているので、組み合せた時の誤差量(図13の誤差1,
2)を判定することができる。これらが大きい場合、調
整ポイントにシフトを加えて、全体の誤差が小さくなる
なら図13(b)のように、さらにシフト微調してもよ
い。
In a camera combining these units as shown in FIG. 13A, each unit has its own EEP.
Corrected by ROM value and works as designed,
In a dark place or a bright place, an error that cannot be corrected occurs. Since the error amount is also stored in the EEPROM of each unit, the error amount when combined (error 1, error 1 in FIG. 13)
2) can be determined. If these are large, a shift may be added to the adjustment point, and if the overall error is reduced, the shift may be finely adjusted as shown in FIG.

【0062】また、ユニットを組み合せてカメラの形状
にした後、図14のようなフローで調整を行なうように
してもよい。各ユニット組付け後(ステップS60)、
ステップS61で所定の明るさの輝度(BV0 )の光源
にカメラを向け、その時の露出量の誤差が所定の値(こ
こでは0)になるように補正量Hを決定して(ステップ
S62)、記憶する(ステップS63)。カメラが実際
に撮影を行なう時には、記憶した補正量Hを参照して露
出制御をすればよい。補正量Hの記憶場所は図1の不揮
発性メモリ16あるいは20など、マイクロコンピュー
タ10が通信できるEEPROMならどれでもよい。
After the units are combined to form a camera, the adjustment may be performed according to the flow shown in FIG. After assembling each unit (step S60),
In step S61, the camera is pointed at a light source having a predetermined brightness (BV0), and a correction amount H is determined so that the exposure error at that time becomes a predetermined value (here, 0) (step S62). It is stored (step S63). When the camera actually performs shooting, exposure control may be performed with reference to the stored correction amount H. The storage location of the correction amount H may be any EEPROM such as the nonvolatile memory 16 or 20 in FIG.

【0063】また、この調整がなされた時、他の明るさ
での誤差情報も各ユニットが各EEPROMに保持して
いるので、上記BV0 以外の明るさBV1 の誤差も各ユ
ニットの特性を合成して判別することができる(ステッ
プS64、S65)。この判別は、図4(a)、(b)
のようにカメラのCPU10が判断しても工程における
チェッカーが行ってもよい。この判別により、カメラ状
態ではBV0 以外の光源を必要とすることなく、他の明
るさポイントの良否判断ができ、設備の簡略化が可能と
なる。
When this adjustment is made, each unit also holds error information at other brightness in each EEPROM, so that the error of brightness BV1 other than BV0 is also obtained by synthesizing the characteristics of each unit. (Steps S64 and S65). This determination is made in accordance with FIGS. 4 (a) and 4 (b).
As described above, the checker in the process may determine whether the CPU 10 of the camera determines. By this determination, the quality of other brightness points can be determined without requiring a light source other than BV0 in the camera state, and the equipment can be simplified.

【0064】また、前述のように、BV1 の露出誤差が
大きすぎると判定されたときには(ステップS66)、
警告(ステップS67)を行うとともに、ズレ量に応じ
てシフト量ΔHを決定し(ステップS68)、これを考
慮した値を補正量Hとして記憶する(ステップS69、
S70)。このように、調整輝度BV0 でシフト補正を
加えて全体的に良い精度のカメラが提供できる。
As described above, when it is determined that the exposure error of BV1 is too large (step S66),
A warning is issued (step S67), the shift amount ΔH is determined according to the deviation amount (step S68), and a value taking this into account is stored as the correction amount H (step S69,
S70). In this manner, a camera with good accuracy as a whole can be provided by adding shift correction with the adjusted luminance BV0.

【0065】従来のカメラでは、部品のバラつきの規格
を決める際に各ユニットのバラつきを単純加算して決定
していたが、本発明では個々のユニットのバラつき情報
を実際の出来ばえに応じて判断し、相互に打ち消し合う
場合は、製品が良品となるような方法をとり入れたの
で、生産性と品質を向上させられる。本実施形態では、
露出関係の歩留りを向上させ、なおかつ、製品の品質を
トータルで向上させる事ができる。
In the conventional camera, when determining the standard of the variation of the parts, the variation of each unit is determined by simply adding the variation. However, in the present invention, the variation information of each unit is determined according to the actual performance. In the case of mutually canceling each other, a method for obtaining a good product is adopted, so that productivity and quality can be improved. In this embodiment,
The yield related to exposure can be improved, and the quality of the product can be improved as a whole.

【0066】以上、各条件を変えた時の誤差について説
明したが、シャッターの乱調やAFのピントくり出し制
御のバラつき等、ランダムに発生するバラつきの大きさ
にかかわる値を記憶するようにしてもよい。バラつきの
大きいシャッターでも、測光ユニットがバラつきのない
ユニットなら、カメラ全体としては良品となる。
The error when each condition is changed has been described above. However, a value relating to the magnitude of the variation that occurs at random, such as the shutter turbulence and the variation of the AF focus control, may be stored. . Even if the shutter has a large variation, if the photometry unit is a unit without variation, the camera as a whole will be a good product.

【0067】(第3実施形態)以下に図17、18を用
いて本発明の第3実施形態を説明する。測距ユニットや
鏡枠ユニットは、単なる設計値からのズレ以外にS/N
が悪かったり、量子化誤差やメカ制御上のブレーキ誤差
によって1回の距離判定、1回のピント制御でも図17
(a)、(b)のようにデータや繰り出し位置によって
生じるランダムなバラつきを生じる。このバラつきの中
心を一般に設計値と比較し、補正する時のデータを形成
する。つまり、測距時には、このバラつき中心と設計値
との差をキャンセルするような制御を行えば、ほぼ正確
なピント合せができる。
(Third Embodiment) A third embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. Distance measurement unit and lens frame unit require S / N besides mere deviation from design value.
17 is poor even if the distance is determined once or focus control is performed once due to quantization error or brake error in mechanical control.
As shown in (a) and (b), random variations occur depending on the data and the feeding position. The center of this variation is generally compared with a design value to form data for correction. That is, at the time of distance measurement, if the control for canceling the difference between the center of variation and the design value is performed, almost accurate focusing can be performed.

【0068】しかし、このバラつきはランダムに生じる
ので、そのたびにどのような補正をすれば良いかが決定
されるので、補正値としてEEPROMに内蔵すること
はできない。しかし、実際には同じAFデータD1 を出
力してもバラつきを考慮すると図17(a)のように、
距離の逆数の誤差Δ1/L を生じ、ピント合せの時には
この誤差に、さらにくり出し量バラつきΔKが加算さ
れ、最終的にはΔPのバラつきがピントの誤差となる。
このΔPが被写界深度内の許容値以内なら良品のカメラ
であると判断できるが、所定のレベルを超えると不良品
となる。
However, since this variation occurs at random, the type of correction to be performed is determined each time, and therefore cannot be incorporated in the EEPROM as a correction value. However, in practice, even if the same AF data D1 is output, considering the variation, as shown in FIG.
An error Δ1 / L of a reciprocal of the distance is generated, and at the time of focusing, a variation ΔK of the amount of extraction is added to this error, and finally a variation of ΔP becomes a focusing error.
If this ΔP is within an allowable value within the depth of field, it can be determined that the camera is a good camera, but if it exceeds a predetermined level, it is a defective camera.

【0069】そこで、本実施形態では、設計値からのズ
レ量に加えて図18(a)のように、各ユニットごとの
バラつき情報をCPUに入力して判断し、これらのバラ
つき加算値が大きすぎる場合はピント精度が低いものと
して警告を行うようにする。
Therefore, in this embodiment, as shown in FIG. 18A, in addition to the amount of deviation from the design value, the variation information of each unit is input to the CPU for determination, and these variation addition values are large. If too long, a warning is issued assuming that the focus accuracy is low.

【0070】図18(b)はこのときのCPUによる判
断フローである。各ユニットを用いてカメラ組立後に、
設計値からのずれ情報により補正値を算出し(ステップ
S90)、OKであれば(ステップS91)、上記バラ
つき情報をCPUが加算(ステップS92)して所定の
範囲に入っているかどうかを判断し(ステップS9
3)、その結果に応じて品質状態を判定するようにして
いる(ステップS94、S95)。このような方法によ
って各ユニットの組み合せが良好かどうかを即座に判定
でき、不良品を後工程に流さずにすみ、効率の良いカメ
ラを生産することができる。
FIG. 18B is a flowchart of the judgment by the CPU at this time. After assembling the camera using each unit,
The correction value is calculated based on the deviation information from the design value (step S90). If the correction value is OK (step S91), the CPU adds the variation information (step S92) and determines whether the variation information is within a predetermined range. (Step S9
3) The quality state is determined according to the result (steps S94, S95). By such a method, it is possible to immediately determine whether the combination of the units is good or not, so that a defective product does not need to be sent to a subsequent process, and an efficient camera can be produced.

【0071】上記した実施形態によれば、ユニットを組
合わせる場合にどのような性能を達成できるかに関する
情報をユニット毎に持つようにしたので、組付け後の性
能の保証レベルが向上し、生産性も向上することとな
る。また、相性のよいユニット同士の関係が数値化され
ることによりユニットの組合わせ特性がわかり、その情
報をユニット自体に持つことで、組合わせる相手を選択
することが可能となる。これは不良品を減らすことにも
つながる。
According to the above-described embodiment, since information about what performance can be achieved when combining units is provided for each unit, the performance assurance level after assembly is improved, and The property is also improved. Further, the combination characteristics of the compatible units are quantified to show the combination characteristics of the units, and by having the information in the units themselves, it is possible to select a partner to be combined. This also leads to a reduction in defective products.

【0072】さらにユニット段階ではまだカメラの外装
がかかっておらず、内部の回路のアナログ的特性を含め
た特性把握が簡単にできるが、ユニットを組み上げて製
品の状態にすると傷の問題や回路チェック等の困難さが
クローズアップされる。しかし本実施形態では、ユニッ
ト状態で詳細なチェックを行ない製品状態にした後は、
ユニット自身の記憶した品質情報をもとに単純なディジ
タルデータを通信するだけで製品全体の品質の保証がで
き、ユーザーに高品質の製品が提供できる。
Further, at the unit stage, the exterior of the camera has not yet been mounted, and the characteristics including the analog characteristics of the internal circuit can be easily grasped. The difficulties, such as, are brought up. However, in this embodiment, after performing a detailed check in the unit state and setting the product state,
The quality of the entire product can be assured simply by communicating simple digital data based on the quality information stored in the unit itself, and a high quality product can be provided to the user.

【0073】[0073]

【発明の効果】本発明によれば、複雑なユニットを組み
合わせながらも大がかりな製造ラインを必要とせず、し
かも高品質なカメラを提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a high-quality camera which does not require a large-scale production line while combining complicated units.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態において、カメラの一部
の機能を抜粋して示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a part of functions of a camera in a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態を示すメモリ空間図であ
る。
FIG. 2 is a memory space diagram showing the first embodiment of the present invention.

【図3】カメラの製造工場の様子を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a state of a camera manufacturing factory.

【図4】(a)は各ユニットデータを合成して合成情報
を形成するカメラ製造ラインの手順を示すフローチャー
トであり、(b)は合成情報を表示する表示フローチャ
ートである。
FIG. 4A is a flowchart showing a procedure of a camera manufacturing line for combining each unit data to form combined information, and FIG. 4B is a display flowchart for displaying combined information.

【図5】カメラのピント合せに関連する各要素について
説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for describing each element related to camera focusing.

【図6】(a)は組立工程の詳細を示すフローチャート
であり、(b)はAF特性チェックの詳細を示すフロー
チャートである。
FIG. 6A is a flowchart showing details of an assembling process, and FIG. 6B is a flowchart showing details of an AF characteristic check.

【図7】カメラの本体部の組立に関して起こる設計値か
らのずれを記憶する工程について説明するための図であ
る。
FIG. 7 is a diagram for explaining a process of storing a deviation from a design value which occurs in assembling the main body of the camera.

【図8】本体部に関する組立の手順を示すフローチャー
トである。
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for assembling the main body.

【図9】カメラの鏡枠ユニット2の組立に関して起こる
設計値からのずれを記憶する工程について説明するため
の図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining a process of storing a deviation from a design value which occurs in assembling the lens barrel unit 2 of the camera.

【図10】(a)はカメラの鏡枠ユニット2の組立のフ
ローチャートであり、(b)はユニット合成情報を作り
出す手順を示すフローチャートである。
FIG. 10A is a flowchart of assembling the lens frame unit 2 of the camera, and FIG. 10B is a flowchart showing a procedure for creating unit combination information.

【図11】本発明を露出関係に応用した本発明の第2実
施形態を説明するための図である。
FIG. 11 is a diagram for explaining a second embodiment of the present invention in which the present invention is applied to an exposure relationship.

【図12】各素子のバラつき特性を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a variation characteristic of each element.

【図13】明るさと露出時間の制御について説明するた
めの図である。
FIG. 13 is a diagram for describing control of brightness and exposure time.

【図14】カメラ組立後の調整手順を示すフローチャー
トである。
FIG. 14 is a flowchart showing an adjustment procedure after assembling the camera.

【図15】開口特性をモニタするのに用いられるチェッ
カーの構成を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing a configuration of a checker used to monitor the aperture characteristics.

【図16】測光調整の手順を示すフローチャートであ
る。
FIG. 16 is a flowchart illustrating a procedure of photometry adjustment.

【図17】1回の距離判定、1回のピント制御において
発生するランダムなバラつきを示す図である。
FIG. 17 is a diagram showing random variations that occur in one distance determination and one focus control.

【図18】設計値からのズレ量に加えて各ユニットごと
のバラつき情報を考慮した本発明の第3実施形態を説明
するための図である。
FIG. 18 is a diagram for explaining a third embodiment of the present invention in which variation information for each unit is considered in addition to a deviation amount from a design value.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 本体ユニット 2 鏡枠ユニット 3 オートフォーカスユニット 4 ストロボユニット 6 撮影レンズ 7 レンズシャッタ 10 マイクロコンピュータ 11 ドライバー回路 12 ズーム&フィルム駆動モータ 13 駆動力分配機構 14 フィルム給送機構 15 減速機構 16 本体用不揮発性メモリ 17 通信インターフェイス回路 19 警告部 19a 表示部 20 ユニット用不揮発性メモリ 21 焦点距離可変機構 22 焦点距離検出回路 24 焦点調節機構 25 レンズ駆動モータ 26 パルス発生回路 27 セクター羽根駆動機構 28 セクター駆動アクチュエータ 29 セクター羽根検出回路 30 AFユニット用不揮発性メモリ 31 距離検出回路 32 AFセンサー 40 ユニット用不揮発性メモリ 41 充電回路 42 光量制御回路 43 フラッシュ 50 外部制御装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Main body unit 2 Lens frame unit 3 Autofocus unit 4 Strobe unit 6 Shooting lens 7 Lens shutter 10 Microcomputer 11 Driver circuit 12 Zoom & film drive motor 13 Driving force distribution mechanism 14 Film feeding mechanism 15 Reduction mechanism 16 Non-volatile for main body Memory 17 Communication interface circuit 19 Warning section 19a Display section 20 Non-volatile memory for unit 21 Variable focal length mechanism 22 Focal length detection circuit 24 Focus adjustment mechanism 25 Lens drive motor 26 Pulse generation circuit 27 Sector blade drive mechanism 28 Sector drive actuator 29 Sector Blade detection circuit 30 Non-volatile memory for AF unit 31 Distance detection circuit 32 AF sensor 40 Non-volatile memory for unit 41 Charging circuit 42 Light amount control circuit 43 Shrewsbury 50 external control device

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のユニットからなるカメラであっ
て、 上記複数のユニットの各々に設けられ、各ユニットにつ
いての品質情報を記憶するメモリと、 上記各メモリの記憶内容を組み合わせた情報に基づい
て、警告または表示を制御する制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。
1. A camera comprising a plurality of units, comprising: a memory provided in each of the plurality of units, for storing quality information of each unit; and information combining storage contents of each of the memories. And control means for controlling a warning or display.
【請求項2】 各々がメモリを有する複数のユニットか
らなるカメラであって、 上記各メモリは、カメラ動作を設計値どおりに制御する
ためのデータを記憶する第一領域と、誤差などの品質情
報を記憶する第二領域とを備えていることを特徴とする
カメラ。
2. A camera comprising a plurality of units each having a memory, wherein each of the memories includes a first area for storing data for controlling a camera operation according to a design value, and quality information such as an error. And a second area for storing the information.
【請求項3】 複数のユニットからなるカメラであっ
て、 上記複数のユニットに設けられ、その各々が第一の条件
における品質情報を記憶する第一領域と、第二の条件に
おける品質情報を記憶する第二領域とを有しているメモ
リと、 上記第一の条件での品質を、設計値に合わせるための補
正制御を行う制御手段と、 上記各メモリの第二領域の情報の組み合わせによってカ
メラの品質状態を判断する判断手段とを具備することを
特徴とするカメラ。
3. A camera comprising a plurality of units, wherein each of the plurality of units is provided with a first area for storing quality information under a first condition and a quality information under a second condition. A memory having a second area to be adjusted, control means for performing correction control for adjusting the quality under the first condition to a design value, and a camera based on a combination of information in the second area of each memory. And a determination means for determining a quality state of the camera.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007011021A (en) * 2005-06-30 2007-01-18 Nikon Corp Electronic camera and camera system

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