JP2001216202A - Address line fault detector for memory, method therefor and recording medium - Google Patents

Address line fault detector for memory, method therefor and recording medium

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JP2001216202A
JP2001216202A JP2000022407A JP2000022407A JP2001216202A JP 2001216202 A JP2001216202 A JP 2001216202A JP 2000022407 A JP2000022407 A JP 2000022407A JP 2000022407 A JP2000022407 A JP 2000022407A JP 2001216202 A JP2001216202 A JP 2001216202A
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memory
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique for detecting a fault generated on a line for the address input of a memory. SOLUTION: A CPU 102 inputs an address through an address line 103 to the memory 101. A fault generated on the address line 103, prescribed data different from the others are written to a predetermined address, the data of the address specified by changing a logic value by the unit of the address line 103 are read from the address and the read are compared with the prescribed data. By the comparison, it is judged that the fault is generated in the address line 103 for which the prescribed data are read even when the logic value is changed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、RAMやFROM
等の書き込み可能なメモリに設けられたアドレス入力用
の複数の端子にそれぞれ接続されたライン上に生じた障
害を検出するための技術に関する。
The present invention relates to a RAM and a FROM.
The present invention relates to a technique for detecting a fault occurring on a line connected to each of a plurality of address input terminals provided in a writable memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】RAMなどの書き込み可能なメモリを備
えたシステムでは、そのメモリが正常に動作するか否か
のチェックを電源の投入時などに行うようになっている
のが普通である。そのチェックを行うことにより、メモ
リの異常の発生に迅速に対応することや、メモリが異常
になって生じるシステムの誤動作などを未然に防ぐこと
ができる。
2. Description of the Related Art In a system having a writable memory such as a RAM, it is usual to check whether or not the memory operates normally when a power is turned on. By performing the check, it is possible to promptly respond to the occurrence of an abnormality in the memory and to prevent a malfunction of the system caused by the abnormality of the memory.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のメモリチェック
は、各アドレス毎に、予め定めた値を書き込み、その値
を読み出して、その値が書き込んだ値と一致するか否か
確認することで行っている。その確認は、書き込む値を
変えて複数回、行うのが普通である。しかし、そのよう
にして行うチェックでは、メモリが正常に動作するか否
か確認することができても、以下のように、メモリにア
ドレス入力用に設けられた複数の端子にそれぞれ接続さ
れたライン上の障害を検出することはできない。
A conventional memory check is performed by writing a predetermined value for each address, reading the value, and confirming whether the value matches the written value. ing. The confirmation is usually performed a plurality of times by changing the value to be written. However, in the check performed in such a manner, even if it is possible to confirm whether the memory operates normally or not, as described below, the lines connected to the plurality of terminals provided for the address input to the memory are as follows. The above fault cannot be detected.

【0004】例えば或るラインが短絡する障害が発生し
てその論理値が常に0となる場合、そのラインの論理値
をどのようにしても同じアドレスを指定してしまうこと
になる。しかし、障害によって意図しないアドレスを指
定してしまうようになっても、そのアドレスへのアクセ
スは行うことができる。このため、書き込んだ値と読み
出した値とが一致したとしても、意図したアドレスにア
クセスできたことを確認、言い換えれば、ライン上に障
害が発生していないことを確認したことにはならない。
[0004] For example, if a fault occurs in which a certain line is short-circuited and its logical value is always 0, the same address is specified regardless of the logical value of that line. However, even if an unintended address is specified due to a failure, access to that address can be performed. Therefore, even if the written value matches the read value, it does not mean that the intended address has been accessed, in other words, that no fault has occurred on the line.

【0005】ライン上の障害は、メモリが搭載された基
板に埃や塵が付着することでも生じる。それは、メモリ
自体の異常と同様に、システムが誤動作する原因となる
ことから、その影響は甚大である。このことから、ライ
ン上の障害を検出することによって得られる効果は大き
いと考えられる。
[0005] Obstacles on the line are also caused by adhesion of dust to the substrate on which the memory is mounted. This causes a malfunction of the system as well as an abnormality of the memory itself, so that the influence is enormous. From this, it is considered that the effect obtained by detecting the fault on the line is great.

【0006】本発明は、メモリのアドレス入力用のライ
ン上に生じた障害を検出する技術を提供することを目的
とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a technique for detecting a fault that has occurred on a memory address input line.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明のメモリのアドレ
スライン障害検出装置は、アドレス入力用の複数の端子
を備えたメモリを対象に、該複数の端子にそれぞれ接続
されたライン上に生じた障害を検出することを前提と
し、メモリ上の少なくとも1つのアドレスに所定値を書
き込む第1の書込手段と、少なくとも、第1の書込手段
が所定値を書き込むアドレスと所定ライン数の論理値を
異ならせて指定されるメモリ上のアドレスに、該所定値
と異なる値を書き込む第2の書込手段と、第2の書込手
段が所定値と異なる値を書き込んだアドレスから値を読
み出す読出手段と、読出手段が読み出した値を所定値と
比較し、該比較結果を基にライン上に生じた障害を検出
する障害検出手段と、を具備する。
SUMMARY OF THE INVENTION An address line fault detecting device for a memory according to the present invention is applied to a memory having a plurality of terminals for inputting an address, and is generated on a line connected to each of the plurality of terminals. Assuming that a failure is detected, first writing means for writing a predetermined value to at least one address on the memory, and at least an address at which the first writing means writes the predetermined value and a logical value of a predetermined number of lines A second writing means for writing a value different from the predetermined value to an address on the memory designated by differently writing, and reading the value from the address where the second writing means has written a value different from the predetermined value. Means, and a fault detecting means for comparing a value read by the reading means with a predetermined value, and detecting a fault occurring on the line based on the comparison result.

【0008】なお、上記の構成において、第1の書込手
段は、ラインの論理値を全て1として指定されるアドレ
スに所定値を書き込み、第2の書込手段は、第1の書込
手段が所定値を書き込むアドレスから、所定ライン数と
して1ラインだけ論理値を0にして指定される各アドレ
スに該所定値と異なる値を少なくとも書き込み、障害検
出手段は、読出手段が読み出した値が所定値と一致した
場合に、該読出手段が該値を読み出すために論理値を0
としたライン上に障害が生じていると判定する、ことが
望ましい。
In the above configuration, the first writing means writes a predetermined value to an address designated by setting all logical values of the line to 1, and the second writing means writes the predetermined value to the first writing means. From the address at which the predetermined value is written, at least a value different from the predetermined value is written to each address designated by setting the logical value to 0 for only one line as the predetermined number of lines. If the value coincides with the value, the reading means sets the logical value to 0 in order to read the value.
It is desirable to determine that a failure has occurred on the line that has been set.

【0009】また、第1の書込手段は、ラインの論理値
を全て0として指定されるアドレスに所定値を書き込
み、第2の書込手段は、第1の書込手段が所定値を書き
込むアドレスから、所定ライン数として1ラインだけ論
理値を1にして指定される各アドレスに該所定値と異な
る値を少なくとも書き込み、障害検出手段は、読出手段
が読み出した値が所定値と一致した場合に、該読出手段
が該値を読み出すために論理値を1としたライン上に障
害が生じていると判定する、ことが望ましい。
The first writing means writes a predetermined value to an address designated by setting all logical values of the line to 0, and the second writing means writes the predetermined value to the first writing means. From the address, at least a value different from the predetermined value is written to each address designated by setting the logical value to 1 for one line as the predetermined number of lines, and the failure detecting means determines that the value read by the reading means matches the predetermined value. Preferably, the reading means determines that a failure has occurred on a line having a logical value of 1 in order to read the value.

【0010】また、第2の書込手段は、第1の書込手段
が所定値を書き込むアドレスから、所定ライン数として
隣接した2ラインだけ論理値を反転させることで指定さ
れるアドレスに所定値と異なる値を少なくとも書き込
み、障害検出手段は、読出手段が読み出した値が所定値
と一致した場合に、該読出手段が該値を読み出すために
論理値を異ならせたライン上に障害が生じていると判定
する、ことが望ましい。その第1の書込手段は、ライン
の論理値を1ライン置きに0、残りのラインを1として
指定されるアドレスに所定値を書き込む、ことが望まし
い。或いは、ラインの論理値を全て1または0として指
定されるアドレスに所定値を書き込む、ことが望まし
い。
[0010] The second writing means may be configured to invert the logical value of the adjacent two lines as a predetermined number of lines from the address where the first writing means writes the predetermined value to a predetermined value. If at least the value read by the reading means matches the predetermined value, the failure detecting means generates a failure on a line having a different logical value for the reading means to read the value. It is desirable to determine that It is preferable that the first writing means writes a predetermined value to an address specified by setting a logical value of a line to 0 every other line and setting the remaining lines to 1s. Alternatively, it is desirable to write a predetermined value to an address where all the logical values of the line are specified as 1 or 0.

【0011】本発明のメモリのアドレスライン障害検出
方法は、アドレス入力用の複数の端子を備えたメモリを
対象に、該複数の端子にそれぞれ接続されたライン上に
生じた障害を検出するためのものであり、メモリ上の少
なくとも1つのアドレスに所定値を書き込むとともに、
該所定値を書き込むアドレスと所定ライン数の論理値が
異なるアドレスに該所定値と異なる値を少なくとも書き
込み、所定値と異なる値を書き込んだアドレスから値を
読み出して該所定値と比較し、比較結果を基にライン上
に生じた障害を検出する。
An address line fault detecting method for a memory according to the present invention is provided for detecting a fault occurring on a line connected to each of a plurality of terminals for a memory having a plurality of terminals for inputting an address. A predetermined value is written to at least one address on the memory,
At least a value different from the predetermined value is written to an address where the logical value of the predetermined number of lines differs from an address at which the predetermined value is written, a value is read from an address where a value different from the predetermined value is written, and the value is compared with the predetermined value. Based on the above, a fault occurring on the line is detected.

【0012】本発明の記録媒体は、それぞれ、ラインが
接続されているアドレス入力用の複数の端子を備えたメ
モリ上の少なくとも1つのアドレスに所定値を書き込む
第1の書込手段と、少なくとも、第1の書込手段により
所定値が書き込まれるアドレスと所定ライン数の論理値
を異ならせて指定されるメモリ上のアドレスに、該所定
値と異なる値を書き込む第2の書込手段と、第2の書込
手段により所定値と異なる値が書き込まれたアドレスか
ら値を読み出す読出手段と、読出手段により読み出され
た値を所定値と比較し、該比較結果を基にライン上に生
じた障害を検出する障害検出手段と、を実現させるプロ
グラムを記録している。
[0012] The recording medium of the present invention comprises a first writing means for writing a predetermined value to at least one address on a memory provided with a plurality of address input terminals to which lines are connected; A second writing unit for writing a value different from the predetermined value to an address on the memory designated by making a logical value of the predetermined line number different from an address where the predetermined value is written by the first writing unit; A reading means for reading a value from an address in which a value different from the predetermined value is written by the writing means of No. 2 and a value read by the reading means being compared with a predetermined value; A failure detecting means for detecting a failure and a program for realizing the failure are recorded.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態につき詳細に説明する。図1は、本実施
の形態によるメモリのアドレスライン障害検出装置(以
降、障害検出装置と略す)の構成を示す図である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a memory address line failure detection device (hereinafter, abbreviated as a failure detection device) according to the present embodiment.

【0014】その障害検出装置は、例えば携帯端末装置
に搭載されたものであり、図1に示すように、RAM、
或いはFROMなどの書き込み可能なメモリ101にア
クセスするCPU102によって実現される。なお、後
述するメモリ101のチェックを行うためのプログラム
は、例えばCPU102に搭載されたROM、或いは特
には図示しないメモリに格納されている。
The fault detecting device is mounted on, for example, a portable terminal device. As shown in FIG.
Alternatively, it is realized by the CPU 102 accessing the writable memory 101 such as an FROM. A program for checking the memory 101 described later is stored in, for example, a ROM mounted on the CPU 102 or a memory (not shown).

【0015】複数のアドレス線(ライン)103は、そ
れぞれ、メモリ101のアドレス入力用の端子と接続さ
れており、CPU102は、それらのアドレス線103
を介してメモリ101にアドレスを入力する。ここで
は、図2に示すように、便宜的にメモリ101は、1〜
16の数値を付した端子を備えているとの前提で説明す
ることにする。端子(或いはアドレス線103)を特定
する際には、端子1といったように、端子に付した数値
を用いて表現することにする。
A plurality of address lines (lines) 103 are connected to address input terminals of the memory 101, respectively.
The address is input to the memory 101 via the. Here, as shown in FIG.
The description will be made on the assumption that the terminal provided with the numerical value of 16 is provided. When the terminal (or the address line 103) is specified, it is expressed using a numerical value assigned to the terminal, such as terminal 1.

【0016】CPU101は、例えば電源がオンされた
とき、メモリ101上に障害が発生したか否かの検出を
含むシステムのチェックを行う。以降、図3〜図8に示
す各種フローチャートを参照して、CPU102が行う
メモリ101の障害検出について詳細に説明する。
The CPU 101 performs a system check including detection of whether or not a failure has occurred in the memory 101 when the power is turned on, for example. Hereinafter, the failure detection of the memory 101 performed by the CPU 102 will be described in detail with reference to various flowcharts illustrated in FIGS.

【0017】図3は、メモリ障害検出処理のフローチャ
ートである。その処理は、CPU102が、それに搭載
したROM、或いは特には図示しないメモリに格納され
たプログラムを実行することで実現される、メモリ10
1上に発生した障害を検出するための処理である。始め
に、図3を参照して、その処理について詳細に説明す
る。
FIG. 3 is a flowchart of a memory failure detection process. The processing is realized by the CPU 102 executing a program stored in a ROM mounted on the CPU 102 or a memory (not shown).
This is a process for detecting a failure that has occurred on the first device. First, the processing will be described in detail with reference to FIG.

【0018】先ず、ステップS1では、指定したアドレ
スに正常にアクセスできるか否か確認するためのメモリ
チェック処理を実行する。続くステップS2では、アド
レス線103上に発生した障害を検出するためのアドレ
スラインチェック処理を実行する。その処理を実行した
後、一連の処理を終了する。
First, in step S1, a memory check process for confirming whether a specified address can be normally accessed is executed. In a succeeding step S2, an address line check process for detecting a failure occurring on the address line 103 is executed. After executing the processing, the series of processing ends.

【0019】CPU102は、上記メモリ障害検出処理
を実行することにより、メモリ101上に発生した障害
の検出を行う。その検出結果は、特に詳細な説明は省略
するが、その処理の実行後、例えば不図示の表示装置に
表示してユーザに通知している。それにより、メモリ1
01上に生じた障害にユーザが迅速、且つ適切に対応で
きるようにしている。以降は、そのメモリ障害検出処理
内で実行されるサブルーチン処理について詳細に説明す
る。
The CPU 102 detects a fault that has occurred on the memory 101 by executing the above-described memory fault detecting process. Although the detailed description of the detection result is omitted, the user is notified by displaying the result on a display device (not shown) after the execution of the process. Thereby, the memory 1
In this case, the user can quickly and appropriately respond to a failure that has occurred on the device. Hereinafter, the subroutine processing executed in the memory failure detection processing will be described in detail.

【0020】図4は、上記ステップS1として実行され
るメモリチェック処理のフローチャートである。サブル
ーチン処理では、図4を参照して、始めにメモリチェッ
ク処理について詳細に説明する。なお、そのメモリチェ
ック処理は、従来、メモリの動作確認用に実行されてい
たものと基本的に同じである。
FIG. 4 is a flowchart of a memory check process executed as step S1. In the subroutine process, the memory check process will first be described in detail with reference to FIG. The memory check process is basically the same as that conventionally performed for checking the operation of the memory.

【0021】先ず、ステップS11では、メモリ102
の最初(先頭)のアドレス(番地)をアクセス先として
設定する。続くステップS12では、設定したアドレス
に00H(Hは16進数を表す)、55H、AAH、及
びFFHをその順序で書き込み、各データ(値)を書き
込む毎に、その直後に書き込んだデータの読み出しを行
う。その後にステップS13に移行する。
First, in step S11, the memory 102
Is set as the access destination. In the following step S12, 00H (H represents a hexadecimal number), 55H, AAH, and FFH are written in the set address in that order, and every time data (value) is written, the data written immediately after that is read. Do. Thereafter, the process proceeds to step S13.

【0022】ステップS13では、各データ毎に、書き
込んだデータとその書き込み後に読み出したデータとが
一致したか否か判定する。書き込んだデータとその書き
込み後に読み出したデータとが各データ毎に全て一致し
た場合、判定はYESとなってステップS15に移行す
る。そうでない場合には、即ち書き込んだデータのなか
で、読み出したデータと一致しなかったものが存在して
いた場合には、判定はNOとなり、ステップS14でメ
モリ101にエラー(動作不良)が生じていることを示
す情報(正常にアクセスできなかったアドレスの値、な
ど)をCPU102内、或いはチェック対象としていな
いメモリに保存した後、上記ステップS15に移行す
る。
In step S13, it is determined for each data whether the written data matches the data read after the writing. If the written data and the data read after the writing all match for each data, the determination is YES and the process moves to step S15. If not, that is, if there is any written data that does not match the read data, the determination is NO, and an error (malfunction) occurs in the memory 101 in step S14. After storing the information indicating that the data has been read (the value of the address that could not be accessed normally, etc.) in the CPU 102 or in a memory not to be checked, the process proceeds to step S15.

【0023】ステップS15では、ステップS12でア
クセスしたアドレスがメモリ101の最終アドレス(番
地)か否か判定する。メモリ101の全てのアドレスに
対する確認が終了した場合、判定はYESとなって一連
の処理を終了する。そうでない場合には、即ち確認を行
っていないアドレスが存在している場合には、判定はN
Oとなり、ステップS16でアクセス先を次のアドレス
(番地)に変更した後、上記ステップS12に戻る。
In step S15, it is determined whether the address accessed in step S12 is the last address (address) of the memory 101. When the confirmation for all the addresses of the memory 101 has been completed, the determination is YES, and the series of processing ends. Otherwise, that is, if there is an unconfirmed address, the determination is N
In step S16, the access destination is changed to the next address (address) in step S16, and the process returns to step S12.

【0024】上記メモリチェック処理を実行することに
より、正常に書き込み、或いは読み出しが行えない異常
なアドレスが検出(特定)される。そのようにして異常
なアドレスを検出(特定)することにより、その異常に
迅速に対応(例えば異常なアドレスを避けてアクセスす
る、など)することや、その異常によるシステムの誤動
作などを未然に防ぐことができる。
By executing the above memory check process, an abnormal address where normal writing or reading cannot be performed is detected (specified). By detecting (identifying) an abnormal address in this way, it is possible to promptly respond to the abnormality (for example, to access while avoiding the abnormal address) and to prevent a system malfunction due to the abnormality. be able to.

【0025】図5は、図3に示すメモリ障害検出処理内
でステップS2として実行されるアドレスラインチェッ
ク処理のフローチャートである。次に、図5を参照し
て、そのアドレスラインチェック処理について詳細に説
明する。
FIG. 5 is a flowchart of the address line check processing executed as step S2 in the memory failure detection processing shown in FIG. Next, the address line check processing will be described in detail with reference to FIG.

【0026】先ず、ステップS21では、アドレス線1
03上に発生した障害として、それが開放(ここでは便
宜的に論理値が常に1となる状態という意味で用いる)
しているか否か確認するためのアドレス線開放チェック
処理を実行する。続くステップS22では、アドレス線
103上に発生した障害として、それが短絡(ここでは
便宜的に論理値が常に0となる状態という意味で用い
る)しているか否か確認するためのアドレス線短絡チェ
ック処理を実行する。その実行後は、ステップS23に
移行し、アドレス線103上に発生した障害として、隣
接するアドレス線103が電気的に接続(短絡)してい
るか否か確認するための隣接するアドレス線の短絡チェ
ック処理を実行する。それを実行した後、一連の処理を
終了する。
First, in step S21, address line 1
It is released as a fault that has occurred on 03 (here, for convenience, it is used to mean that the logical value is always 1)
An address line release check process for confirming whether or not the address line is open is executed. In the following step S22, as a fault that has occurred on the address line 103, an address line short-circuit check for confirming whether or not it is short-circuited (for convenience, it is used in the sense that the logical value is always 0) is performed. Execute the process. After the execution, the process proceeds to step S23, and as a fault occurring on the address line 103, a short-circuit check of the adjacent address line 103 for checking whether or not the adjacent address line 103 is electrically connected (short-circuited). Execute the process. After executing it, a series of processing ends.

【0027】上記アドレスラインチェック処理を実行す
ることにより、アドレス線(ライン)103上に発生し
た障害として、開放、短絡、及び隣接するアドレス線1
03間の短絡が検出される。以降、それらの障害を検出
するためにアドレスラインチェック処理内で実行される
各種サブルーチン処理について詳細に説明する。
By executing the above-described address line check processing, failures occurring on the address line (line) 103 include an open circuit, a short circuit, and an adjacent address line 1.
03 is detected. Hereinafter, various subroutine processes executed in the address line check process for detecting those faults will be described in detail.

【0028】図6は、上記ステップS21として実行さ
れるアドレス線開放チェック処理のフローチャートであ
る。アドレスラインチェック処理内で実行されるサブル
ーチン処理では、始めに、図6を参照して、そのアドレ
ス線開放チェック処理について詳細に説明する。
FIG. 6 is a flowchart of the address line release check processing executed as step S21. In the subroutine processing executed in the address line check processing, first, the address line open check processing will be described in detail with reference to FIG.

【0029】例えば、或る1本のアドレス線103が開
放していてその論理値が常に1となってしまう状況で
は、CPU102が、その開放しているアドレス線10
3の論理値をどのように変えても同じアドレスにアクセ
スしてしまうことになる。言い換えれば、指定したアド
レスが異なっていても実際には同じアドレスにアクセス
してしまうことになる。本実施の形態では、そのことに
着目し、或るアドレスに書き込んだデータ(値)がその
アドレスとは異なるアドレスを指定して読み出されるか
否か確認することにより、アドレス線103の開放を検
出している。
For example, in a situation where a certain address line 103 is open and its logical value is always 1, the CPU 102 sets the open address line 10
No matter how the logical value of 3 is changed, the same address will be accessed. In other words, even if the specified addresses are different, the same address is actually accessed. In the present embodiment, by paying attention to this, it is detected whether or not the data (value) written at a certain address is read out by specifying an address different from that address, thereby detecting the opening of the address line 103. are doing.

【0030】先ず、ステップS31では、メモリ101
の全アドレス(番地)をクリア、即ちその値を0にす
る。続くステップS32では、最終アドレスに0とは異
なる値(ここでは1)を書き込む。最終アドレスに1を
書き込んだ後は、ステップS33に移行して、チェック
の対象とするアドレス線103を管理するための変数n
に0を代入する。その後は、ステップS34に移行す
る。
First, in step S31, the memory 101
Is cleared, that is, its value is set to 0. In the following step S32, a value (here, 1) different from 0 is written to the final address. After writing 1 to the final address, the process proceeds to step S33, where the variable n for managing the address line 103 to be checked is set.
To 0. After that, it moves to step S34.

【0031】最終アドレスは、通常、各アドレス線10
3(ビット)の論理値を全て1とすることで指定され
る。図2に示すように、アドレス入力用として、メモリ
101に端子1〜16が設けられているのであれば、各
端子1〜16(全16ビット)の論理値を全て1とする
ことで指定される。ステップS34では、最終アドレス
を指定する際の各アドレス線103の論理値のなかで、
2のn乗に対応するアドレス線103の論理値だけを0
にして指定されるアドレスのデータを読み込む。それに
より、例えば変数nの値が0で端子に付した数値がアド
レスにおいて何桁目かを表しているのであれば、端子1
の論理値だけを0にし、他の端子2〜16の論理値を全
て1にして指定されるアドレスのデータが読み出される
ことになる。
The final address is usually stored in each address line 10
It is specified by setting all logical values of 3 (bits) to 1. As shown in FIG. 2, if the terminals 101 to 16 are provided in the memory 101 for inputting an address, the address is designated by setting all logical values of the terminals 1 to 16 (all 16 bits) to 1. You. In step S34, among the logical values of each address line 103 when the final address is specified,
Only the logical value of the address line 103 corresponding to 2 to the nth power is set to 0
Reads the data at the address specified. Thus, for example, if the value of the variable n is 0 and the numerical value assigned to the terminal indicates the number of digits in the address, the terminal 1
Is set to 0, and the logical values of the other terminals 2 to 16 are all set to 1, and the data at the designated address is read.

【0032】ステップS34に続くステップS35で
は、そのステップS34で読み出したデータの値が1か
否か判定する。読み出したデータの値が1ということ
は、2のn乗に対応するアドレス線103(ビット)の
論理値を1から0に変えても、その論理値を1にして指
定される最終アドレスに書き込んだデータが読み出され
たということである。これは、論理値を1から0に変え
たアドレス線103が開放していることを意味する。こ
のことから、読み出したデータの値が1であった場合、
判定はYESとなり、ステップS36で2のn乗に対応
するアドレス線103が開放していることを示す情報を
CPU102内、或いはチェックの対象としていないメ
モリに保存した後、ステップS37に移行する。そうで
ない場合には、判定はNOとなり、そのステップS37
に移行する。
In step S35 following step S34, it is determined whether the value of the data read in step S34 is "1". When the value of the read data is 1, even if the logical value of the address line 103 (bit) corresponding to 2 to the nth power is changed from 1 to 0, the logical value is set to 1 and written to the final address specified. That is, the data has been read. This means that the address line 103 whose logical value has been changed from 1 to 0 is open. From this, if the value of the read data is 1,
The determination is YES, and information indicating that the address line 103 corresponding to the power of 2 is open is stored in the CPU 102 or in a memory not to be checked in step S36, and then the process proceeds to step S37. Otherwise, the determination is no and that step S37
Move to

【0033】ステップS37では、ステップS34で論
理値を0にしたアドレス線103が最後のものか否か判
定する。上述したように、本実施の形態では、アドレス
において位が低いアドレス線103から順に論理値を0
にしている。このことから、直前に実行したステップS
34で端子16に接続されたアドレス線103の論理値
を0にしてデータを読み出した場合、判定はYESとな
って一連の処理を終了する。そうでない場合には、判定
はNOとなり、ステップS38で変数nの値をインクリ
メントした後、上記ステップS34に戻る。
In step S37, it is determined whether or not the address line 103 whose logical value has been set to 0 in step S34 is the last one. As described above, in the present embodiment, the logical values are set to 0 in order from the address line 103 having the lowest address.
I have to. From this, the immediately preceding step S
When the data is read out by setting the logical value of the address line 103 connected to the terminal 16 to 0 at 34, the determination is YES and the series of processing ends. Otherwise, the determination is no, the value of the variable n is incremented in step S38, and the process returns to step S34.

【0034】このように、他とは異なるデータを書き込
んだアドレス(最終アドレス)を基準として、それの論
理値をアドレス線103(ビット)単位で変えて指定さ
れるアドレスからデータを読み出し、その読み出したデ
ータを最終アドレスに書き込んだデータと比較する。そ
れにより、論理値を変えてもアクセス先が変わらないア
ドレス線103(ここでは開放となっているアドレス線
103)を検出することができる。
As described above, based on the address (final address) at which data different from the others is written, data is read from the specified address by changing its logical value in units of the address line 103 (bit), and the data is read out. The data written is compared with the data written to the last address. Thus, it is possible to detect the address line 103 (here, the open address line 103) whose access destination does not change even when the logical value is changed.

【0035】図7は、図5に示すアドレスラインチェッ
ク処理内でステップS22として実行されるアドレス線
短絡チェック処理のフローチャートである。次に、図7
を参照して、そのアドレス線短絡チェック処理について
詳細に説明する。
FIG. 7 is a flowchart of the address line short-circuit check processing executed as step S22 in the address line check processing shown in FIG. Next, FIG.
, The address line short-circuit check processing will be described in detail.

【0036】短絡と開放とでは、アドレス線103の論
理値が異なる。このことから、アドレス線103の短絡
は、最終アドレスとは異なるアドレスに他とは異なるデ
ータを書き込み、そのデータが別のアドレスから読み出
されるか否か確認することで行っている。
The logical value of the address line 103 differs between a short circuit and an open circuit. For this reason, short-circuiting of the address line 103 is performed by writing data different from the other at an address different from the final address and confirming whether the data is read from another address.

【0037】先ず、ステップS41では、0番地、即ち
各端子1〜16に入力される1ビットの信号の論理値を
全て0にして指定される先頭アドレスに他とは異なるデ
ータを書き込む。この時点では、最終アドレスに1、他
のアドレスに0が書き込まれているはずであることか
ら、他とは異なるデータとして2を先頭アドレスに書き
込んでいる。その書き込みを行うと、ステップS42で
変数nに0を代入した後、ステップS43に移行する。
First, in step S41, data different from the others is written to address 0, that is, the head address specified by setting all logical values of 1-bit signals input to the terminals 1 to 16 to 0. At this point, 1 should be written to the last address and 0 should be written to the other addresses, so 2 is written to the first address as data different from the other addresses. When the writing is performed, 0 is substituted for the variable n in step S42, and the process proceeds to step S43.

【0038】ステップS43では、先頭アドレスを指定
する際の各アドレス線103の論理値のなかで、2のn
乗に対応するアドレス線103の論理値だけを1にして
指定されるアドレスのデータを読み込む。それにより、
例えば変数nの値が0であれば、端子1の論理値だけを
1にし、他の端子2〜16の論理値を全て0にして指定
されるアドレスのデータが読み出されることになる。
In step S43, 2n of the logical values of each address line 103 when the head address is specified
Only the logical value of the address line 103 corresponding to the power is set to 1 to read the data at the designated address. Thereby,
For example, if the value of the variable n is 0, only the logical value of the terminal 1 is set to 1 and the logical values of the other terminals 2 to 16 are all set to 0, and the data of the designated address is read.

【0039】ステップS43に続くステップS44で
は、そのステップS43で読み出したデータの値が2か
否か判定する。読み出したデータの値が2ということ
は、2のn乗に対応するアドレス線103(ビット)の
論理値を0から1に変えても、その論理値を0にして指
定される先頭アドレスに書き込んだデータが読み出され
たということである。これは、論理値を0から1に変え
たアドレス線103が短絡していることを意味する。こ
のことから、読み出したデータの値が2であった場合、
判定はYESとなり、ステップS45で2のn乗に対応
するアドレス線103が短絡していることを示す情報を
CPU102内、或いはチェックの対象としていないメ
モリに保存した後、ステップS46に移行する。そうで
ない場合には、判定はNOとなり、そのステップS46
に移行する。
In step S44 following step S43, it is determined whether or not the value of the data read in step S43 is 2. The read data value of 2 means that even if the logical value of the address line 103 (bit) corresponding to 2 to the nth power is changed from 0 to 1, the logical value is changed to 0 and written to the specified start address. That is, the data has been read. This means that the address line 103 whose logical value has been changed from 0 to 1 is short-circuited. From this, if the value of the read data is 2,
The determination is YES, and in step S45, information indicating that the address line 103 corresponding to 2 n is short-circuited is stored in the CPU 102 or in a memory not to be checked, and then the process proceeds to step S46. Otherwise, the determination is no and that step S46
Move to

【0040】ステップS46では、ステップS43で論
理値を1にしたアドレス線103が最後のものか否か判
定する。上述したように、本実施の形態では、位が低い
アドレス線103から順に論理値を1にしている。この
ことから、直前に実行したステップS43で端子16に
接続されたアドレス線103の論理値を1にしてデータ
を読み出した場合、判定はYESとなって一連の処理を
終了する。そうでない場合には、判定はNOとなり、ス
テップS47で変数nの値をインクリメントした後、上
記ステップS43に戻る。
In step S46, it is determined whether or not the address line 103 whose logical value is set to 1 in step S43 is the last one. As described above, in the present embodiment, the logical value is set to 1 in order from the lowest address line 103. Accordingly, when the data is read with the logical value of the address line 103 connected to the terminal 16 set to 1 in the immediately preceding step S43, the determination is YES, and the series of processing ends. Otherwise, the determination is no, and the value of the variable n is incremented in step S47, and the process returns to step S43.

【0041】このように、アドレス線短絡チェック処理
では、上記アドレス線開放チェック処理とは異なるアド
レスに他とは異なるデータを書き込み、アドレス線10
3単位で論理値を0から1に変えることにより、アドレ
ス線103の短絡を検出するようになっている。
As described above, in the address line short-circuit check processing, different data is written to an address different from the address line open check processing, and the address line 10
By changing the logical value from 0 to 1 in three units, a short circuit of the address line 103 is detected.

【0042】図8は、図5に示すアドレスラインチェッ
ク処理内でステップS23として実行される、隣接する
アドレス線の短絡チェック処理のフローチャートであ
る。最後に、図8を参照して、その短絡チェック処理に
ついて詳細に説明する。なお、それを実行する時点で
は、最終アドレスに1、先頭アドレスに2、他のアドレ
スに0が書き込まれていることになっている。
FIG. 8 is a flowchart of a short-circuit check process of an adjacent address line, which is executed as step S23 in the address line check process shown in FIG. Finally, the short-circuit check processing will be described in detail with reference to FIG. At the time of execution, 1 is written in the last address, 2 is written in the first address, and 0 is written in the other addresses.

【0043】隣接する2本以上のアドレス線103が接
続すると(短絡が生じると)、短絡したアドレス線10
3の論理値は全て同じ値となる。このことから、そのこ
とに着目して、アドレス線103間の短絡を検出するよ
うにしている。より具体的には、例えばアドレス線10
3の論理値を交互に異ならせて指定されるアドレスに所
定値を書き込み、そのアドレスから、隣接するアドレス
線103の論理値を反転させて指定されるアドレス、即
ち一方のアドレス線103の論理値は0から1に、他方
のアドレス線103の論理値は1から0に変えて指定さ
れるアドレスから値を読み出し、その読み出した値が所
定値と一致するか否か確認することで検出している。具
体例を挙げて説明すれば、例えば4ビットでアドレスを
指定するのであれば、例えば所定値を0101番地に書
き込み、その所定値が、0110番地、0011番地、
及び1001番地から読み出した値とそれぞれ一致する
か否か比較することにより、隣接するアドレス線103
間の短絡(電気的な接続)を検出している。
When two or more adjacent address lines 103 are connected (when a short circuit occurs), the shorted address line 10
The logical values of 3 are all the same. Therefore, attention is paid to this fact, and a short circuit between the address lines 103 is detected. More specifically, for example, the address line 10
A predetermined value is written to an address specified by alternately changing the logical value of the logical address 3 and the logical value of the adjacent address line 103 is inverted from that address, that is, the address specified, that is, the logical value of the one address line 103 Is changed from 0 to 1 and the logical value of the other address line 103 is changed from 1 to 0 and a value is read from the specified address, and it is detected by confirming whether or not the read value matches a predetermined value. I have. For example, if an address is specified by 4 bits, for example, a predetermined value is written to address 0101, and the predetermined value is 0110, 0011,
And 1001 are compared with each other to determine whether they match the values read from addresses 1001 and 1001, respectively.
A short circuit (electric connection) between them has been detected.

【0044】先ず、ステップS50では、アドレス線1
03の論理値を1ビット(1アドレス線103)おきに
0と1として指定したアドレスに他とは異なるデータと
して3を書き込む。続くステップS51では、変数nに
0を代入する。その後に移行するステップS52では、
先頭アドレス(0番地)を指定する際の各アドレス線1
03の論理値のなかで、2のn乗に対応するアドレス線
103と2の(n+1)乗に対応するアドレス線103
の論理値をステップS50で指定された論理値と反転さ
せて指定されるアドレスのデータを読み込む。それによ
り、例えば変数nの値が0であれば、端子1、及び2の
論理値だけを反転し、他の端子3〜16の論理値をその
ままにして指定されるアドレスのデータが読み出される
ことになる。
First, in step S50, address line 1
Write 3 as data different from the others at an address designated as a logical value of 03 as 0 and 1 every other bit (one address line 103). In a succeeding step S51, 0 is substituted for a variable n. After that, in step S52, the process proceeds to
Each address line 1 when specifying the start address (address 0)
Among the logical values of 03, the address line 103 corresponding to 2 n power and the address line 103 corresponding to 2 (n + 1) power
The data at the specified address is read by inverting the logical value of the above with the logical value specified in step S50. Thus, for example, if the value of the variable n is 0, only the logical values of the terminals 1 and 2 are inverted, and the data of the specified address is read out while the logical values of the other terminals 3 to 16 remain unchanged. become.

【0045】ステップS52に続くステップS53で
は、そのステップS52で読み出したデータの値が3か
否か判定する。読み出したデータの値が3ということ
は、2のn乗、更には2の(n+1)乗に対応する各ア
ドレス線103(ビット)の論理値を0から1または1
から0に変えても、その論理値を0または1にして指定
されるアドレスに書き込んだデータが読み出されたとい
うことである。これは、論理値を0から1または1から
0に変えた隣接する2つのアドレス線103がともに短
絡していることを意味する。このことから、読み出した
データの値が2であった場合、判定はYESとなり、ス
テップS54で2のn乗、更には2の(n+1)乗に対
応する各アドレス線103が短絡していることを示す情
報をCPU102内、或いはチェックの対象としていな
いメモリに保存した後、ステップS55に移行する。そ
うでない場合には、判定はNOとなり、そのステップS
55に移行する。
In a step S53 following the step S52, it is determined whether or not the value of the data read in the step S52 is 3. When the value of the read data is 3, the logical value of each address line 103 (bit) corresponding to 2 to the n-th power, and further to 2 to the (n + 1) -th power, is changed from 0 to 1 or 1
That is, even if the data is changed from 0 to 0, the data written to the address specified by changing the logical value to 0 or 1 is read. This means that two adjacent address lines 103 whose logic values have been changed from 0 to 1 or 1 to 0 are both short-circuited. From this, if the value of the read data is 2, the determination is YES, and the address lines 103 corresponding to 2 n and further 2 (n + 1) are short-circuited in step S54. Is stored in the CPU 102 or in a memory that is not checked, and then the process proceeds to step S55. Otherwise, the determination is no and that step S
Go to 55.

【0046】ステップS55では、ステップS52で論
理値を反転した2のn乗に対応するアドレス線103が
最後(位が最も高い)の一つ前のものか否か判定する。
直前に実行したステップS52で2のn乗に対応するア
ドレス線103として端子15に接続されているものの
論理値を反転してデータを読み出した場合、判定はYE
Sとなって一連の処理を終了する。そうでない場合に
は、判定はNOとなり、ステップS56で変数nの値を
インクリメントした後、上記ステップS52に戻る。
In step S55, it is determined whether or not the address line 103 corresponding to 2 n raised to the inverted logical value in step S52 is immediately before the last (highest order).
If the logic value of the address line 103 connected to the terminal 15 corresponding to 2 n raised to the power of n is inverted and the data is read in the immediately preceding step S52, the determination is YE
In S, the series of processing ends. Otherwise, the determination is no, the value of the variable n is incremented in step S56, and the process returns to step S52.

【0047】このように、隣接するアドレス線103の
論理値をともに変えてデータを読み出し、その読み出し
たデータを先頭アドレスに書き込んだデータと比較する
ことにより、論理値を変えた隣接するアドレス線103
がともに短絡しているか否か確認している。
As described above, the data is read by changing the logical values of the adjacent address lines 103 together, and the read data is compared with the data written in the head address, whereby the adjacent address lines 103 whose logical values have been changed are read.
Are both short-circuited.

【0048】なお、本実施の形態では、隣接する2本の
アドレス線103間の短絡を検出しているが、それらが
共に短絡、或いは開放していることもあり得る。そのよ
うな開放は、隣接する2つのアドレス線103の論理値
をともに0に、他のアドレス線103の論理値を全て1
にしてアドレスを指定し、そのアドレスから読み出した
データを最終アドレスに書き込んだデータ(ここでは
1)と比較することで検出することができる。他方の短
絡は、隣接する2つのアドレス線103の論理値をとも
に1に、他のアドレス線103の論理値を全て0にして
アドレスを指定し、そのアドレスから読み出したデータ
を先頭アドレスに書き込んだデータ(ここでは2)と比
較することで検出することができる。
In this embodiment, a short circuit between two adjacent address lines 103 is detected. However, both of them may be short circuited or open. Such release means that the logical values of two adjacent address lines 103 are both set to 0 and the logical values of the other address lines 103 are all set to 1
Can be detected by comparing the data read from that address with the data (here, 1) written to the final address. In the other short circuit, the logical value of the two adjacent address lines 103 is set to 1 and the logical values of the other address lines 103 are all set to 0 to specify an address, and data read from that address is written to the first address. It can be detected by comparing with data (here, 2).

【0049】隣接する2本のアドレス線103の開放、
或いは短絡を検出するために他とは異なる所定値(デー
タ)を書き込むアドレスは、先頭アドレス、或いは最終
アドレスに限定されるものではない。任意のアドレスに
その所定値を書き込んでも良い。値を読み出すアドレス
は、所定値を書き込むアドレスに応じて定めれば良い。
具体的には、例えば4ビットでアドレスを指定するので
あれば、例えば所定値を0101番地に書き込むとする
と、0110番地、0011番地、及び1001番地か
ら値(データ)を読み出して所定値と比較すれば良い。
Opening of two adjacent address lines 103,
Alternatively, the address at which a predetermined value (data) different from the others to detect a short circuit is not limited to the first address or the last address. The predetermined value may be written to an arbitrary address. The address from which the value is read may be determined according to the address at which the predetermined value is written.
Specifically, for example, if an address is specified by 4 bits, for example, if a predetermined value is written to address 0101, values (data) are read from addresses 0110, 0011, and 1001 and compared with the predetermined value. Good.

【0050】また、本実施の形態では、1本のアドレス
線103の開放、或いは短絡を検出するために、最終ア
ドレス、或いは先頭アドレスに他のアドレスと異なるデ
ータを書き込んでいるが、その異なるデータを書き込む
アドレスは最終アドレス、或いは先頭アドレスに限定さ
れるものではない。上述したように、他とは異なるデー
タを、それを書き込んだアドレスと1本のアドレス線1
03の論理値が異なるアドレスから読み出したデータと
比較することにより、そのアドレス線103が短絡、或
いは開放していることを検出することができる。このこ
とから、様々なアドレスに他とは異なるデータを書き込
んでも良い。そのアドレスの数も3以上であっても良
い。但し、他とは異なるデータを書き込むアドレスは、
アドレス線103単位で短絡と開放を共に検出できるよ
うにするために、各アドレスの各アドレス線103の論
理値をまとめると、各アドレス線103で論理値の0と
1が揃っているようにすることが望ましい(4ビットで
アドレスを指定するのであれば、所定値を書き込むアド
レスの組み合わせとして、0101番地と1010番
地、1001番地と0110番地、などが該当する)。
In this embodiment, in order to detect the opening or short circuit of one address line 103, data different from other addresses is written to the last address or the top address. Is not limited to the last address or the first address. As described above, data different from the others is written in the address where the data was written and one address line 1.
By comparing data read from an address with a different logical value of 03, it is possible to detect that the address line 103 is short-circuited or open. For this reason, different data may be written to various addresses. The number of the addresses may be three or more. However, the address to write data different from the others is
In order to be able to detect both short circuit and open circuit for each address line 103, the logical values of each address line 103 of each address are put together so that the logical values 0 and 1 are aligned in each address line 103. (If an address is designated by 4 bits, addresses 0101 and 1010, addresses 1001 and 0110 correspond to combinations of addresses to which a predetermined value is written).

【0051】本実施の形態による障害検出装置は、図1
に示すように、CPU102がメモリ101に直接的に
アクセスする構成となっているが、CPU102が他の
装置、例えばメモリ・コントローラを介してメモリ10
1に間接的にアクセスするものであっても良い。アドレ
スの指定は、行アドレスと列アドレスを入力することで
行うようになっているメモリが多い。そのようにしてア
ドレスを指定するようになっているメモリでは、例えば
行アドレス単位、列アドレス単位でアドレス線103上
の障害を検出すれば良い。このことから明らかなよう
に、本発明は、アドレスの指定方法に関わらず適用でき
るものである。
The fault detecting device according to the present embodiment has the configuration shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the CPU 102 directly accesses the memory 101. However, the CPU 102 can access the memory 10 via another device, for example, a memory controller.
1 may be accessed indirectly. In many cases, the address is specified by inputting a row address and a column address. In a memory in which an address is designated in such a manner, a fault on the address line 103 may be detected in, for example, a row address unit or a column address unit. As is apparent from this, the present invention is applicable regardless of the method of specifying an address.

【0052】上述したような障害検出装置の動作を実現
させるようなプログラムは、CD−ROM、フロッピー
ディスク、或いは光磁気ディスク等の記録媒体に記録さ
せて配布しても良い。或いは、公衆網等の通信回線を用
いて、そのプログラムの一部、若しくは全部を配信する
ようにしても良い。そのようにした場合には、ユーザは
プログラムを取得して任意の障害検出装置、或いはデー
タ処理装置にロードすることにより、その装置に本発明
を適用させることができる。このことから、記録媒体
は、プログラムを配信する装置がアクセスできるもので
あっても良い。
A program for realizing the operation of the above-described failure detecting device may be recorded on a recording medium such as a CD-ROM, a floppy disk, or a magneto-optical disk and distributed. Alternatively, part or all of the program may be distributed using a communication line such as a public network. In such a case, the user can apply the present invention to the device by acquiring the program and loading it into an arbitrary failure detection device or data processing device. For this reason, the recording medium may be one that can be accessed by an apparatus that distributes the program.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、メモリ上
の少なくとも1つのアドレスに所定値を書き込むととも
に、該所定値を書き込むアドレスと所定ライン数の論理
値が異なるアドレスに該所定値と異なる値を少なくとも
書き込み、所定値と異なる値を書き込んだアドレスから
値を読み出して該所定値と比較する。このため、論理値
を異ならせても実際に指定されるアドレスが変化しない
アドレスライン、即ち障害が生じているアドレスライン
を検出することができる。
As described above, according to the present invention, a predetermined value is written to at least one address on a memory, and the logical value of a predetermined number of lines is different from the address at which the predetermined value is written. At least a value is written, a value is read from an address where a value different from the predetermined value is written, and the read value is compared with the predetermined value. For this reason, it is possible to detect an address line in which an actually specified address does not change even if the logical value is changed, that is, an address line in which a failure has occurred.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態によるメモリのアドレスライン障
害検出装置の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a memory address line fault detection device according to the present embodiment.

【図2】メモリに接続されたアドレス線を説明する図で
ある。
FIG. 2 is a diagram illustrating address lines connected to a memory.

【図3】メモリ障害検出処理のフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart of a memory failure detection process.

【図4】メモリチェック処理のフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart of a memory check process.

【図5】アドレスラインチェック処理のフローチャート
である。
FIG. 5 is a flowchart of an address line check process.

【図6】アドレス線開放チェック処理のフローチャート
である。
FIG. 6 is a flowchart of an address line release check process.

【図7】アドレス線短絡チェック処理のフローチャート
である。
FIG. 7 is a flowchart of an address line short-circuit check process.

【図8】隣接するアドレス線の短絡チェック処理のフロ
ーチャートである。
FIG. 8 is a flowchart of a short-circuit check process of an adjacent address line.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 メモリ 102 CPU 103 アドレス線 101 memory 102 CPU 103 address line

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アドレス入力用の複数の端子を備えたメ
モリを対象に、該複数の端子にそれぞれ接続されたライ
ン上に生じた障害を検出する装置であって、 前記メモリ上の少なくとも1つのアドレスに所定値を書
き込む第1の書込手段と、 少なくとも、前記第1の書込手段が所定値を書き込むア
ドレスと所定ライン数の論理値を異ならせて指定される
前記メモリ上のアドレスに、該所定値と異なる値を書き
込む第2の書込手段と、 前記第2の書込手段が前記所定値と異なる値を書き込ん
だアドレスから値を読み出す読出手段と、 前記読出手段が読み出した値を前記所定値と比較し、該
比較結果を基に前記ライン上に生じた障害を検出する障
害検出手段と、 を具備したことを特徴とするメモリのアドレスライン障
害検出装置。
1. A device for detecting a fault occurring on a line connected to each of a plurality of terminals for a memory having a plurality of terminals for inputting an address, wherein at least one First writing means for writing a predetermined value to an address; at least an address on the memory designated by making the logical value of the predetermined number of lines different from the address at which the first writing means writes the predetermined value; Second writing means for writing a value different from the predetermined value; reading means for reading a value from an address at which the second writing means has written a value different from the predetermined value; and reading the value read by the reading means. A fault detecting means for comparing the predetermined value and detecting a fault occurring on the line based on a result of the comparison; and a fault detecting device for a memory address line.
【請求項2】 前記第1の書込手段は、前記ラインの論
理値を全て1として指定されるアドレスに前記所定値を
書き込み、 前記第2の書込手段は、前記第1の書込手段が前記所定
値を書き込むアドレスから、前記所定ライン数として1
ラインだけ論理値を0にして指定される各アドレスに該
所定値と異なる値を少なくとも書き込み、 前記障害検出手段は、前記読出手段が読み出した値が前
記所定値と一致した場合に、該読出手段が該値を読み出
すために論理値を0としたライン上に障害が生じている
と判定する、 ことを特徴とする請求項1記載のメモリのアドレスライ
ン障害検出装置。
2. The method according to claim 1, wherein the first writing unit writes the predetermined value to an address designated by setting all logical values of the line to be 1, and the second writing unit sets the first writing unit. From the address at which the predetermined value is written, 1 as the predetermined number of lines
At least a value different from the predetermined value is written to each address designated by setting the logical value to 0 only for the line, and the fault detecting means reads the read means when the value read by the reading means matches the predetermined value. 2. The memory address line fault detecting device according to claim 1, wherein it is determined that a fault has occurred on a line whose logical value is 0 in order to read the value.
【請求項3】 前記第1の書込手段は、前記ラインの論
理値を全て0として指定されるアドレスに前記所定値を
書き込み、 前記第2の書込手段は、前記第1の書込手段が前記所定
値を書き込むアドレスから、前記所定ライン数として1
ラインだけ論理値を1にして指定される各アドレスに該
所定値と異なる値を少なくとも書き込み、 前記障害検出手段は、前記読出手段が読み出した値が前
記所定値と一致した場合に、該読出手段が該値を読み出
すために論理値を1としたライン上に障害が生じている
と判定する、 ことを特徴とする請求項1記載のメモリのアドレスライ
ン障害検出装置。
3. The first writing means writes the predetermined value to an address designated by setting all logical values of the line to 0, and the second writing means comprises a first writing means. From the address at which the predetermined value is written, 1 as the predetermined number of lines
At least a value different from the predetermined value is written to each address designated by setting the logical value to 1 only for the line, and the failure detecting means reads the reading means when the value read by the reading means matches the predetermined value. 2. The memory address line fault detecting device according to claim 1, further comprising: determining that a fault has occurred on a line having a logical value of 1 to read the value.
【請求項4】 前記第2の書込手段は、前記第1の書込
手段が前記所定値を書き込むアドレスから、前記所定ラ
イン数として隣接した2ラインだけ論理値を反転させる
ことで指定されるアドレスに前記所定値と異なる値を少
なくとも書き込み、 前記障害検出手段は、前記読出手段が読み出した値が前
記所定値と一致した場合に、該読出手段が該値を読み出
すために論理値を異ならせたライン上に障害が生じてい
ると判定する、 ことを特徴とする請求項1記載のメモリのアドレスライ
ン障害検出装置。
4. The second writing means is designated by inverting a logical value of the adjacent two lines as the predetermined number of lines from an address at which the first writing means writes the predetermined value. At least a value different from the predetermined value is written in the address, and the failure detecting means changes the logical value so that the reading means reads the value when the value read by the reading means matches the predetermined value. 2. The address line fault detecting device for a memory according to claim 1, wherein it is determined that a fault has occurred on the failed line.
【請求項5】 前記第1の書込手段は、前記ラインの論
理値を1ライン置きに0、残りのラインを1として指定
されるアドレスに前記所定値を書き込む、 ことを特徴とする請求項4記載のメモリのアドレスライ
ン障害検出装置。
5. The method according to claim 1, wherein the first writing unit writes the predetermined value to an address specified by setting a logical value of the line to 0 every other line and setting the remaining lines to 1s. 5. The memory address line fault detecting device according to claim 4.
【請求項6】 前記第1の書込手段は、前記ラインの論
理値を全て1、或いは0として指定されるアドレスに前
記所定値を書き込む、 ことを特徴とする請求項4記載のメモリのアドレスライ
ン障害検出装置。
6. The memory address according to claim 4, wherein said first writing means writes the predetermined value to an address designated as a logical value of all ones or zeros of the line. Line fault detection device.
【請求項7】 アドレス入力用の複数の端子を備えたメ
モリを対象に、該複数の端子にそれぞれ接続されたライ
ン上に生じた障害を検出するための方法であって、 前記メモリ上の少なくとも1つのアドレスに所定値を書
き込むとともに、該所定値を書き込むアドレスと所定ラ
イン数の論理値が異なるアドレスに該所定値と異なる値
を少なくとも書き込み、 前記所定値と異なる値を書き込んだアドレスから値を読
み出して該所定値と比較し、 前記比較結果を基に前記ライン上に生じた障害を検出す
る、 ことを特徴とするメモリのアドレスライン障害検出方
法。
7. A method for detecting a fault occurring on a line connected to each of a plurality of terminals for a memory having a plurality of terminals for inputting an address, the method comprising: A predetermined value is written to one address, and at least a value different from the predetermined value is written to an address at which the logical value of the predetermined number of lines is different from the address at which the predetermined value is written. Reading out the address, comparing it with the predetermined value, and detecting a fault occurring on the line based on the comparison result.
【請求項8】 それぞれ、ラインが接続されているアド
レス入力用の複数の端子を備えたメモリ上の少なくとも
1つのアドレスに所定値を書き込む第1の書込手段と、 少なくとも、前記第1の書込手段により所定値が書き込
まれるアドレスと所定ライン数の論理値を異ならせて指
定される前記メモリ上のアドレスに、該所定値と異なる
値を書き込む第2の書込手段と、 前記第2の書込手段により前記所定値と異なる値が書き
込まれたアドレスから値を読み出す読出手段と、 前記読出手段により読み出された値を前記所定値と比較
し、該比較結果を基に前記ライン上に生じた障害を検出
する障害検出手段と、 を実現させるプログラムを記録した記録媒体。
8. A first writing means for writing a predetermined value to at least one address on a memory having a plurality of address input terminals to which lines are connected, and at least the first writing means. Second writing means for writing a value different from the predetermined value to an address on the memory designated by making the logical value of the predetermined number of lines different from the address where the predetermined value is written by the writing means; Reading means for reading a value from an address at which a value different from the predetermined value is written by the writing means; comparing the value read by the reading means with the predetermined value; A failure detecting means for detecting a failure that has occurred, and a recording medium that stores a program for realizing the following.
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CN110647436A (en) * 2018-06-26 2020-01-03 北京自动化控制设备研究所 Rapid detection method for DDR2/DDR3 memory

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