JP2001205056A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2001205056A5 JP2001205056A5 JP2000019718A JP2000019718A JP2001205056A5 JP 2001205056 A5 JP2001205056 A5 JP 2001205056A5 JP 2000019718 A JP2000019718 A JP 2000019718A JP 2000019718 A JP2000019718 A JP 2000019718A JP 2001205056 A5 JP2001205056 A5 JP 2001205056A5
- Authority
- JP
- Japan
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000019718A JP4338279B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 分離膜のリーク検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000019718A JP4338279B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 分離膜のリーク検査方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001205056A JP2001205056A (ja) | 2001-07-31 |
| JP2001205056A5 true JP2001205056A5 (enExample) | 2007-05-10 |
| JP4338279B2 JP4338279B2 (ja) | 2009-10-07 |
Family
ID=18546377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000019718A Expired - Lifetime JP4338279B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 分離膜のリーク検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4338279B2 (enExample) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5037758B2 (ja) * | 2001-04-25 | 2012-10-03 | 三菱レイヨン株式会社 | 膜モジュールの完全性検査方法 |
| JP2007301415A (ja) * | 2004-03-03 | 2007-11-22 | Asahi Kasei Pharma Kk | 多孔性分離膜の孔径測定法及び完全性試験方法 |
| JP4557287B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2010-10-06 | 三菱レイヨン株式会社 | 中空糸膜の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
| JP5637214B2 (ja) | 2011-06-16 | 2014-12-10 | 三菱レイヨン株式会社 | 中空糸膜モジュールの補修方法および中空糸膜モジュール |
| JP7331841B2 (ja) | 2018-04-18 | 2023-08-23 | 住友電気工業株式会社 | 太陽光発電装置用筐体ユニットの圧力検査方法 |
| CN115245746B (zh) * | 2021-04-28 | 2023-08-04 | 天津膜天膜科技股份有限公司 | 膜组件孔径优化方法 |
-
2000
- 2000-01-28 JP JP2000019718A patent/JP4338279B2/ja not_active Expired - Lifetime