JP2001189823A - Substrate inspecting method, host device and substrate mounting device for inspecting substrate, substrate inspection system, and recording medium - Google Patents

Substrate inspecting method, host device and substrate mounting device for inspecting substrate, substrate inspection system, and recording medium

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JP2001189823A
JP2001189823A JP37542599A JP37542599A JP2001189823A JP 2001189823 A JP2001189823 A JP 2001189823A JP 37542599 A JP37542599 A JP 37542599A JP 37542599 A JP37542599 A JP 37542599A JP 2001189823 A JP2001189823 A JP 2001189823A
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data
substrate
inspected
data transmission
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Junichi Kawakami
純一 河上
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Ricoh Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Microelectronics Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate inspection system capable of inspecting the whole picture data transmitting and receiving function efficiently as for a facsimile control substrate which is not provided with an option interface for inspection without using a real device, a dedicated interface device and a computer system. SOLUTION: The substrate inspection system consists of a host device 10, a fixture device 30 having an inspection mode setting switch 32 and an analog communication line 50 for connecting both of the devices through a pseudo analog exchange 51. The device 10 has a data transmission and reception part 11 for transmitting and receiving data to/from a facsimile control substrate 100 and the computer device. The computer device has a hard disk 16c as a data storing part for storing data to be used for inspecting the substrate 100 and a CPU 16a as a deciding part for judging the performance of the whole data transmitting and receiving function of the substrate 100 based on the data from the substrate 100 received by the part 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ファクシミリ等の
電子機器に取り付けられるデータ送受信機能を有する基
板を検査する基板検査方法、基板検査用のホスト装置及
び基板装着装置、基板検査システム、並びに該ホスト装
置で読み出し可能な記録媒体に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a board inspection method for inspecting a board having a data transmitting / receiving function attached to an electronic device such as a facsimile, a host apparatus for board inspection, a board mounting apparatus, a board inspection system, and the host. The present invention relates to a recording medium readable by an apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の基板検査方法としては、
被検査基板としてのファクシミリ制御基板が取り付けら
れた実際の電子機器としてのファクシミリ(以下、「実
機FAX」という。)を用いる方法がある。例えば、図
6に示すように、2台の実機FAX100、101を、
交換器102を介して接続し、各実機FAX100、1
01にテストチャート103をセットして該テストチャ
ートの画像を互いに送受信する方法がある。この方法で
は、各実機FAX100、101から出力された出力用
紙104上の画像をオペレータが目視検査による判定を
することにより、各実機FAX100、101に取り付
けられている各ファクシミリ制御基板のデータ送信機能
及びデータ受信機能の良否を判定する方法がある。ま
た、図7に示すように、FAXモデムボード(カード)
105を装着したパソコン106と実機FAX100と
を、交換器102を介して接続し、実機FAX100に
テストチャート103をセットして該テストチャートの
画像データをパソコン106側に送信するとともに、パ
ソコン106からテストチャートの画像データを実機F
AX100側に送信する方法もある。この方法では、実
機FAX100側では出力用紙104上の画像をオペレ
ータが目視検査による判定をする。そして、パソコン1
06側では、実機FAX100から受けた画像データに
基づいてCRTに画像を表示したり、プリンタから画像
を印刷したプリント用紙を出力したりする。このCRT
上の画像やプリント用紙上の画像をオペレータが目視検
査する。これらの実機FAX100側及びパソコン10
6側での目視検査により、ファクシミリ制御基板のデー
タ送信機能及びデータ受信機能の良否を判定する。
2. Description of the Related Art Conventionally, this type of board inspection method includes:
There is a method using a facsimile (hereinafter, referred to as “actual FAX”) as an actual electronic device to which a facsimile control board as a substrate to be inspected is attached. For example, as shown in FIG.
Connected via the exchange 102, each real machine FAX 100, 1
There is a method of setting the test chart 103 to 01 and transmitting and receiving images of the test chart to each other. In this method, the operator performs a visual inspection to determine the image on the output paper 104 output from each of the actual machines FAX 100, 101, and the data transmission function of each facsimile control board attached to each of the actual machines FAX 100, 101 There is a method for determining whether the data receiving function is good or not. Also, as shown in FIG. 7, a FAX modem board (card)
The personal computer 106 equipped with the computer 105 is connected to the real machine FAX 100 via the exchange 102, the test chart 103 is set in the real machine FAX 100, the image data of the test chart is transmitted to the personal computer 106, and the test is performed from the personal computer 106. Convert chart image data to actual machine F
There is also a method of transmitting data to the AX 100 side. In this method, on the actual machine FAX 100 side, the operator determines the image on the output paper 104 by visual inspection. And personal computer 1
On the 06 side, an image is displayed on a CRT based on the image data received from the actual machine FAX 100, or a print sheet on which the image is printed is output from a printer. This CRT
The operator visually inspects the above image and the image on the print paper. These FAX 100 and PC 10
The visual inspection on the side 6 determines the quality of the data transmission function and the data reception function of the facsimile control board.

【0003】また、上記実機FAXを用いない方法とし
て、図8に示すように、被検査基板としてのファクシミ
リ制御基板107の検査用のシリアル又はパラレルのオ
プションインターフェース(OPIF)部を、専用イン
ターフェース装置108を介してパソコン109に接続
するとともに、該ファクシミリ制御基板107とFAX
ボード(カード)105を装着したパソコン106と
を、交換器102を介して接続し、両パソコン106、
109からテストチャートの画像データを送受信する方
法がある。この方法では、各パソコン106、109か
ら検査用の画像データを送信する。そして、各パソコン
106、109では、受信した画像データに基づいてC
RTに画像を表示したり、プリンタから画像を印刷した
プリント用紙を出力したりする。このCRT上の画像や
プリント用紙上の画像をオペレータが目視検査し、ファ
クシミリ制御基板のデータ送信機能及びデータ受信機能
の良否を判定する。
As a method not using the actual machine FAX, as shown in FIG. 8, a serial or parallel option interface (OPIF) unit for testing a facsimile control board 107 as a board to be inspected is provided with a dedicated interface device 108. And a facsimile control board 107 and a facsimile
A personal computer 106 equipped with a board (card) 105 is connected via an exchange 102, and both personal computers 106
There is a method of transmitting and receiving the image data of the test chart from 109. In this method, image data for inspection is transmitted from each of the personal computers 106 and 109. Then, in each of the personal computers 106 and 109, C
An image is displayed on the RT, or a print sheet on which the image is printed is output from a printer. The operator visually inspects the image on the CRT or the image on the print paper to judge whether or not the data transmission function and the data reception function of the facsimile control board are good.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
実機FAXを用いた基板検査方法では、検査対象のファ
クシミリ制御基板を実機FAXに組み込むという煩雑な
作業が必要となるという問題点があった。
However, the above-mentioned conventional board inspection method using an actual machine FAX has a problem that a complicated operation of incorporating a facsimile control board to be inspected into the actual machine FAX is required.

【0005】また、上記従来のファクシミリ制御基板1
07の基板検査用のオプションインターフェース部を利
用する方法では、該オプションインターフェース(OP
IF)部を備えていないファクシミリ制御基板を検査す
ることができず、また、ファクシミリ制御基板の種類ご
とに、該ファクシミリ制御基板とパソコンとを接続する
ための専用インターフェース装置を用意する必要がある
という問題点があった。
The conventional facsimile control board 1
In the method using the optional interface unit for inspecting a substrate, the optional interface (OP
It is not possible to inspect a facsimile control board without an IF) unit, and it is necessary to prepare a dedicated interface device for connecting the facsimile control board to a personal computer for each type of facsimile control board. There was a problem.

【0006】なお、上記被検査基板が実際に組み込まれ
る電子機器(以下、「実機」という。)に被検査基板を
組み込む煩雑な作業が必要となるという問題や、上記基
板検査用のオプションインターフェース部を備えていな
い基板を検査することができなかったり、被検査基板で
受信した画像データを確認するために該被検査基板側に
直接接続される専用インターフェース装置やコンピュー
タ装置を用意する必要があったりするという問題は、上
記ファクシミリ制御基板の検査の場合にかぎらず、検査
対象の基板が、データ送受信機能を有する基板であれば
同様に発生し得るものである。
It is to be noted that there is a problem that a complicated operation for incorporating the substrate to be inspected into an electronic device (hereinafter, referred to as an "actual device") in which the substrate to be inspected is actually incorporated, and an optional interface unit for inspecting the substrate. It is not possible to inspect a board that does not have a board, or it is necessary to prepare a dedicated interface device or computer device directly connected to the board to be inspected in order to confirm image data received by the board to be inspected The problem of not only performing the inspection of the facsimile control board but also the same problem can occur if the board to be inspected has a data transmission / reception function.

【0007】また、上記従来の各基板検査方法では、被
検査基板のデータ送信機能とデータ受信機能とを別々に
検査しているため、検査作業が煩雑なものになってい
た。本発明者は、被検査基板の良品と不良品とを判別す
るという観点からは、該被検査基板のデータ送信機能と
データ受信機能とを別々に検査する必要がなく、データ
送信機能及びデータ受信機能の少なくとも一方が正常で
ない場合はその被検査基板を不良品として扱えばよく、
データ送信機能とデータ受信機能との合わせたデータ送
受信機能を一括して検査することが検査作業の効率化の
点で好ましいということに着目した。
In each of the above-described conventional board inspection methods, the data transmission function and the data reception function of the board to be inspected are separately inspected, so that the inspection work is complicated. The present inventor does not need to separately inspect the data transmission function and the data reception function of the inspected board from the viewpoint of discriminating a non-defective product and a defective product of the inspected substrate. If at least one of the functions is not normal, the inspected board may be treated as a defective product.
Attention was paid to the fact that it is preferable to collectively inspect the data transmission / reception function combining the data transmission function and the data reception function from the viewpoint of improving the efficiency of the inspection operation.

【0008】本発明は以上の問題点に鑑みなされたもの
であり、その目的は、被検査基板の煩雑な組み込み作業
が伴う実機や、被検査基板側に直接接続される専用イン
ターフェース装置及びコンピュータ装置を用いることな
く、検査用オプションインターフェースを備えていない
被検査基板についてもデータ送受信機能全体を効率的に
検査することができる基板検査方法、基板検査用のホス
ト装置及び基板装着装置、基板検査システム、並びに該
ホスト装置で読み出し可能な記録媒体を提供することで
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a real machine which involves complicated assembling work of a board to be inspected, a dedicated interface device directly connected to the board to be inspected, and a computer device Without using an inspection option interface, a board inspection method capable of efficiently inspecting the entire data transmission / reception function even for a substrate to be inspected, a host device for substrate inspection and a substrate mounting device, a substrate inspection system, Another object of the present invention is to provide a recording medium readable by the host device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明は、データ送受信機能を有する基板
を検査する基板検査方法であって、被検査基板の動作モ
ードを、外部からデータを受信したときに該データをデ
ータ送信元に返送するように予め設定しておき、該被検
査基板に対してデータを送信し、該被検査基板から返送
されてきたデータを受信し、該受信したデータに基づい
て該被検査基板のデータ送受信機能全体の良否を判定す
ることを特徴とするものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate inspection method for inspecting a substrate having a data transmission / reception function, wherein an operation mode of a substrate to be inspected is changed from outside. When the data is received, the data is set in advance to be returned to the data transmission source, the data is transmitted to the substrate to be inspected, the data returned from the substrate to be inspected is received, and The quality of the data transmission / reception function of the substrate to be inspected is determined based on the received data.

【0010】前述した従来の基板検査方法では、被検査
基板で受信したデータを、該被検査基板が組み込まれた
実機で処理してオペレータが識別可能な形態で用紙等に
出力したり、被検査基板内のオプションインターフェー
ス及び個別の専用インターフェース装置を介してコンピ
ュータ装置内に取り込んでオペレータが識別可能な形態
でCRT上に画像表示したりプリンタで画像をプリント
したりする。この画像をオペレータが目視検査すること
により、被検査基板のデータ受信機能の良否を判定す
る。そして、上記被検査基板のデータ送信機能を検査す
るときは、該被検査基板が組み込まれた実機や、該被検
査基板に専用インターフェース装置等を介して接続され
たコンピュータ装置を操作してデータを送信する。
In the above-described conventional board inspection method, data received by the board to be inspected is processed by an actual machine in which the board to be inspected is incorporated, and output to paper or the like in a form that can be identified by an operator. The data is taken into a computer device via an optional interface on the board and a dedicated interface device, and is displayed on a CRT in a form identifiable by an operator or printed by a printer. This image is visually inspected by an operator to determine the quality of the data receiving function of the substrate to be inspected. Then, when inspecting the data transmission function of the substrate to be inspected, the data is operated by operating an actual machine incorporating the substrate to be inspected or a computer connected to the substrate to be inspected via a dedicated interface device or the like. Send.

【0011】これに対し、本請求項1の基板検査方法で
は、外部から送信されてきたデータが被検査基板で受信
されると、該被検査基板で受信されたデータは、上記実
機や上記コンピュータ装置で処理してオペレータが識別
可能な形態で用紙等に出力したりすることなく、上記外
部のデータ送信元に返送される。上記返送されてきたデ
ータは、被検査基板のデータ受信機能及びデータ送信機
能の両機能で処理されているので、該返送されてきたデ
ータを受信することにより、該受信されたデータに基づ
き、該被検査基板のデータ送受信機能全体について良否
を判定することができる。
On the other hand, according to the board inspection method of the present invention, when data transmitted from the outside is received by the board to be inspected, the data received by the board to be inspected is transmitted to the actual machine or the computer. The data is returned to the external data transmission source without being processed by the apparatus and output to a sheet or the like in a form that can be identified by the operator. Since the returned data is processed by both the data receiving function and the data transmitting function of the inspection target board, by receiving the returned data, based on the received data, Pass / fail of the entire data transmission / reception function of the substrate to be inspected can be determined.

【0012】請求項2の発明は、請求項1の基板検査方
法において、データ送受信機能が正常な参照用基板につ
いて上記被検査基板の検査時と同じデータ伝送経路で上
記データの送受信を行なったときに該参照用基板から返
送されてきたデータを、予め基準データとして保存して
おき、該被検査基板から返送されてきたデータと該基準
データとを比較し、該比較の結果に基づいて該被検査基
板のデータ送受信機能全体の良否を判定することを特徴
とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the board inspection method of the first aspect, when the data transmission / reception is performed on the reference substrate having a normal data transmission / reception function through the same data transmission path as that used when the inspection target substrate is inspected. The data returned from the reference board is stored in advance as reference data, the data returned from the board to be inspected is compared with the reference data, and the data is returned based on the result of the comparison. It is characterized in that the quality of the entire data transmission / reception function of the inspection board is determined.

【0013】この基板検査方法において、参照用基板に
ついて被検査基板の検査時と同じデータ伝送経路で上記
データの送受信を行なったときに該参照用基板から返送
されてきた基準データは、該参照用基板の正常なデータ
送信機能の特性とともに、該データが伝送されるデータ
伝送経路の特性の影響を受けている。この参照用基板と
被検査基板とを入れ替えて該被検査基板について上記デ
ータの送受信を行う。この被検査基板から返信されきた
受信データは、上記基準データと同じデータ伝送路の影
響を受けているので、被検査基板からの受信データと上
記基準データとを比較することにより、被検査基板のデ
ータ送受信機能と参照用基板のデータ送受信機能との差
異がわかる。したがって、この比較の結果に基づき、上
記伝送経路の影響を除外した被検査基板のデータ送受信
機能全体の良否判定が可能となる。
In this board inspection method, the reference data returned from the reference board when the above-mentioned data is transmitted and received through the same data transmission path as that for the inspection of the board to be inspected with respect to the reference board is used as the reference data. In addition to the characteristics of the normal data transmission function of the board, the characteristics of the data transmission path through which the data is transmitted are affected. The reference substrate and the substrate to be inspected are exchanged, and the data is transmitted and received for the substrate to be inspected. Since the received data returned from the board to be inspected is affected by the same data transmission path as the reference data, the data received from the board to be inspected is compared with the reference data to obtain the data of the board to be inspected. The difference between the data transmission / reception function and the data transmission / reception function of the reference substrate can be seen. Therefore, based on the result of this comparison, it is possible to determine the quality of the entire data transmission / reception function of the test board excluding the influence of the transmission path.

【0014】請求項3の発明は、請求項1の基板検査方
法において、上記被検査基板から返送されてきたデータ
とともに、該被検査基板から送られてくる該被検査基板
のデータ送信機能のエラー情報及びデータ受信機能のエ
ラー情報の少なくとも一つを受信し、該受信したデータ
とともに該エラー情報に基づいて、該被検査基板のデー
タ送受信機能全体の良否を判定することを特徴とするも
のである。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate inspection method of the first aspect, the data returned from the inspected substrate and an error in the data transmission function of the inspected substrate transmitted from the inspected substrate. Receiving at least one of the information and the error information of the data receiving function, and judging the quality of the entire data transmitting and receiving function of the inspection target board based on the received data and the error information. .

【0015】この基板検査方法では、被検査基板のデー
タ送受信機能でエラーが発生した場合に、そのエラー情
報を取得することができるので、該被検査基板のデータ
送受信機能全体の更に詳細な良否判定が可能となる。
According to this board inspection method, when an error occurs in the data transmission / reception function of the board to be inspected, the error information can be obtained. Therefore, a more detailed pass / fail judgment of the entire data transmission / reception function of the board to be inspected can be obtained. Becomes possible.

【0016】請求項4の発明は、請求項1の基板検査方
法において、上記被検査基板に対するデータ送信開始時
点からの経過時間を計測し、該データ送信開始時点から
所定時間内に上記データが返送されてこないときに、該
被検査基板のデータ送受信機能が停止していると判定す
ることを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the board inspection method of the first aspect, an elapsed time from a start of data transmission to the substrate to be inspected is measured, and the data is returned within a predetermined time from the start of data transmission. If not, it is determined that the data transmission / reception function of the substrate to be inspected is stopped.

【0017】この基板検査方法では、上記被検査基板に
対するデータ送信開始時点から所定時間内に上記データ
が返送されてこないときに、該被検査基板のデータ送受
信機能が停止していると判定する。この判定結果に基づ
いて、上記比較の結果に基づく該被検査基板のデータ送
受信機能全体の良否判定を停止することができる。
In this board inspection method, when the data is not returned within a predetermined time from the start of data transmission to the board, it is determined that the data transmission / reception function of the board is stopped. Based on the result of the determination, it is possible to stop the quality determination of the entire data transmission / reception function of the test substrate based on the result of the comparison.

【0018】請求項5の発明は、請求項1、2、3又は
4の基板検査方法において、上記被検査基板がファクシ
ミリ制御基板であるものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate inspection method of the first, second, third or fourth aspect, the substrate to be inspected is a facsimile control substrate.

【0019】この基板検査方法では、被検査基板である
ファクシミリ制御基板に対して、画像データをファクシ
ミリ信号として送受信する。そして、このファクシミリ
制御基板から返送されてきたファクシミリ信号を画像デ
ータとして受信し、該受信した画像データに基づいて該
ファクシミリ制御基板の画像データ送受信機能全体の良
否が判定される。
In this board inspection method, image data is transmitted and received as a facsimile signal to and from a facsimile control board which is a board to be inspected. Then, the facsimile signal returned from the facsimile control board is received as image data, and the quality of the entire image data transmission / reception function of the facsimile control board is determined based on the received image data.

【0020】請求項6の発明は、データ送受信機能を有
する基板を検査する基板検査システムに用いる基板検査
用のホスト装置であって、被検査基板に対してデータを
送受信するためのデータ送受信部と、該被検査基板の検
査に用いるデータを記憶するデータ記憶部と、該データ
送受信部で受信した該被検査基板からのデータに基づい
て該被検査基板のデータ送受信機能全体の良否を判定す
る判定部とを備えたことを特徴とするものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a host device for inspecting a substrate used in a substrate inspection system for inspecting a substrate having a data transmission / reception function, comprising: a data transmission / reception unit for transmitting / receiving data to / from a substrate to be inspected; A data storage unit for storing data used for inspection of the substrate to be inspected, and determining whether or not the entire data transmission / reception function of the substrate to be inspected is acceptable based on data from the substrate to be inspected received by the data transmission / reception unit And a unit.

【0021】この基板検査用のホスト装置では、データ
記憶部に記憶されているデータがデータ送受信部により
被検査基板に送信される。被検査基板で受信されたデー
タは、実機で処理してオペレータが識別可能な形態で用
紙等に出力されたりコンピュータ装置内に取り込んでC
RTやプリンタ上に出力したりすることなく、ホスト装
置のデータ送受信部に返送される。上記被検査基板から
返送されてきたデータは、該データ送受信部で受信され
該データ記憶部に記憶される。判定部では、データ記憶
部に記憶された受信データに基づき、該被検査基板のデ
ータ送受信機能全体について良否が判定される。
In this board inspection host device, the data stored in the data storage section is transmitted to the board to be inspected by the data transmission / reception section. The data received by the board to be inspected is processed by an actual machine and output to a sheet or the like in a form that can be identified by an operator, or is taken into a computer device, and
The data is returned to the data transmission / reception unit of the host device without being output to an RT or a printer. The data returned from the substrate to be inspected is received by the data transmission / reception unit and stored in the data storage unit. The determination unit determines pass / fail of the entire data transmission / reception function of the test substrate based on the reception data stored in the data storage unit.

【0022】請求項7の発明は、請求項6の基板検査用
のホスト装置において、上記データ送受信部を、上記被
検査基板で用いられるすべての通信規格でデータ送受信
可能な回路を用いて構成したことを特徴とするものであ
る。
According to a seventh aspect of the present invention, in the host device for inspecting a substrate according to the sixth aspect, the data transmitting / receiving section is configured using a circuit capable of transmitting and receiving data in all communication standards used for the substrate to be inspected. It is characterized by the following.

【0023】この基板検査用のホスト装置では、上記デ
ータ送受信部を構成する回路が、被検査基板で用いられ
るすべての通信規格でデータ送受信可能であるので、該
被検査基板で用いられるすべての通信規格について、上
記データの送受信を行って該被検査基板のデータ送受信
機能を検査できる。
In this board inspection host device, since the circuit constituting the data transmission / reception section can transmit and receive data according to all communication standards used for the board to be inspected, all circuits used for the board to be inspected can be transmitted and received. With respect to the standard, the data transmission / reception function of the inspected substrate can be inspected by transmitting / receiving the data.

【0024】請求項8の発明は、請求項6の基板検査用
のホスト装置において、データ送受信機能が正常な参照
用基板について上記被検査基板の検査時と同じデータ伝
送経路でデータの送受信を行なったときに該参照用基板
から返送されてきたデータを、上記データ記憶部に基準
データとして保存し、上記判定部が、上記被検査基板か
ら返送されてきたデータを該基準データと比較し、該比
較の結果に基づいて該被検査基板のデータ送受信機能全
体の良否を判定するものであることを特徴とするもので
ある。
According to an eighth aspect of the present invention, in the board inspection host device of the sixth aspect, data transmission and reception are performed on the reference substrate having a normal data transmission / reception function through the same data transmission path as when the inspection target substrate is inspected. The data returned from the reference board at the time of saving is stored as reference data in the data storage unit, and the determination unit compares the data returned from the board to be inspected with the reference data. The quality of the whole data transmission / reception function of the substrate to be inspected is determined based on the result of the comparison.

【0025】この基板検査用のホスト装置において、上
記データ記憶部に記憶されている基準データは、参照用
基板の正常なデータ送信機能の特性とともに、データが
伝送されるデータ伝送経路の特性の影響を受けている。
この参照用基板と被検査基板とを入れ替えて該被検査基
板について上記データの送受信を行う。この被検査基板
から返信されきた受信データは、上記基準データと同じ
データ伝送路の影響を受けているので、被検査基板から
の受信データと上記基準データとを比較することによ
り、被検査基板のデータ送受信機能と参照用基板のデー
タ送受信機能との差異がわかる。したがって、上記判定
部において、該比較の結果に基づき、上記伝送経路の影
響を除外した被検査基板のデータ送受信機能全体の良否
判定が可能となる。
In this board inspection host device, the reference data stored in the data storage unit is influenced by the characteristics of the normal data transmission function of the reference substrate and the characteristics of the data transmission path through which the data is transmitted. Is receiving.
The reference substrate and the substrate to be inspected are exchanged, and the data is transmitted and received for the substrate to be inspected. Since the received data returned from the board to be inspected is affected by the same data transmission path as the reference data, the data received from the board to be inspected is compared with the reference data to obtain the data of the board to be inspected. The difference between the data transmission / reception function and the data transmission / reception function of the reference substrate can be seen. Therefore, in the determination unit, it is possible to determine the quality of the entire data transmission / reception function of the board under test, excluding the influence of the transmission path, based on the result of the comparison.

【0026】請求項9の発明は、請求項6の基板検査用
のホスト装置において、上記データ送受信部を、上記被
検査基板から返送されてきたデータとともに、該被検査
基板から送られてくる該被検査基板のデータ送信機能の
エラー情報及びデータ受信機能のエラー情報の少なくと
も一つを受信するように構成し、上記判定部を、該受信
したデータとともに該エラー情報に基づいて、該被検査
基板のデータ送受信機能全体の良否を判定するように構
成したことを特徴とするものである。
According to a ninth aspect of the present invention, in the host apparatus for inspecting a substrate according to the sixth aspect, the data transmission / reception section transmits the data transmitted from the inspected substrate together with the data returned from the inspected substrate. It is configured to receive at least one of the error information of the data transmission function and the error information of the data reception function of the substrate to be inspected, and the determining unit performs the inspection on the substrate to be inspected based on the received data and the error information. The quality of the entire data transmission / reception function is determined.

【0027】この基板検査用のホスト装置では、被検査
基板のデータ送受信機能でエラーが発生した場合に、そ
のエラー情報を上記データ送受信部で受信して取得する
ことができるので、該被検査基板のデータ送受信機能全
体の更に詳細な良否判定が可能となる。
In this board inspection host device, when an error occurs in the data transmission / reception function of the substrate to be inspected, the error information can be received and acquired by the data transmission / reception section. More detailed pass / fail judgment of the entire data transmission / reception function can be performed.

【0028】請求項10の発明は、請求項6の基板検査
用のホスト装置において、上記被検査基板に対するデー
タ送信開始時点からの経過時間を計測する時間計測部を
設け、上記判定部を、該データ送信開始時点から所定時
間内に上記データが返送されてこないときに、該被検査
基板のデータ送受信機能が停止していると判定するよう
に構成したことを特徴とするものである。
According to a tenth aspect of the present invention, in the host apparatus for inspecting a substrate of the sixth aspect, a time measuring unit for measuring an elapsed time from the start of data transmission to the substrate to be inspected is provided. When the data is not returned within a predetermined time from the start of data transmission, the data transmission / reception function of the substrate to be inspected is determined to be stopped.

【0029】この基板検査用のホスト装置では、上記時
間計測部で上記被検査基板に対するデータ送信開始時点
からの経過時間を計測する。そして、上記被検査基板に
対するデータ送信開始時点から所定時間内に上記データ
が返送されてこないときに、上記判定部で該被検査基板
のデータ送受信機能が停止していると判定する。この判
定結果に基づいて、上記比較の結果に基づく該被検査基
板のデータ送受信機能全体の良否判定を停止することが
できる。
In this board inspection host device, the time measuring section measures the elapsed time from the start of data transmission to the board to be inspected. When the data is not returned within a predetermined time from the start of data transmission to the test board, the determination unit determines that the data transmission / reception function of the test board is stopped. Based on the result of the determination, it is possible to stop the quality determination of the entire data transmission / reception function of the test substrate based on the result of the comparison.

【0030】請求項11の発明は、請求項6、7、8、
9又は10の基板検査用のホスト装置において、上記被
検査基板がファクシミリ制御基板であることを特徴とす
るものである。
The invention of claim 11 provides claims 6, 7, 8,
In the host device for inspecting a substrate according to the ninth or tenth aspect, the substrate to be inspected is a facsimile control substrate.

【0031】この基板検査用の基板装着装置では、デー
タ送受信部により、データ記憶部に記憶されている画像
データが被検査基板であるファクシミリ制御基板にファ
クシミリ信号として送信される。ファクシミリ制御基板
から返送されてきたファクシミリ信号は、該データ送受
信部で画像データとして受信され該データ記憶部に記憶
される。このデータ記憶部内の受信データに基づいて、
該ファクシミリ制御基板の良否が判定部で判定される。
In the board mounting apparatus for board inspection, the image data stored in the data storage section is transmitted as a facsimile signal to the facsimile control board, which is the board to be inspected, by the data transmitting / receiving section. The facsimile signal returned from the facsimile control board is received by the data transmission / reception unit as image data and stored in the data storage unit. Based on the received data in the data storage unit,
The quality of the facsimile control board is determined by a determination unit.

【0032】請求項12の発明は、データ送受信機能を
有する基板を検査する基板検査システムに用いる基板検
査用の基板装着装置であって、被検査基板上の電源供給
用電極及びデータ入出力用電極端子に接触する接触電極
端子を有する基板装着部と、該被検査基板に電源電圧を
供給する電源電圧供給部とを備えたことを特徴とするも
のである。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a board mounting apparatus for board inspection used in a board inspection system for inspecting a board having a data transmission / reception function, wherein a power supply electrode and a data input / output electrode on a board to be inspected are provided. A substrate mounting portion having a contact electrode terminal for contacting a terminal, and a power supply voltage supply portion for supplying a power supply voltage to the substrate to be inspected are provided.

【0033】この基板検査用の基板装着装置において、
基板装着部に被検査基板が装着されると、被検査基板上
の電源供給用電極及びデータ入出力用電極端子に、基板
装着部側の接触電極端子が接触する。そして、電源供給
用電極及び基板装着部側の接触電極端子を介して、電源
電圧供給部から被検査基板に電源電圧が供給される。ま
た、データ入出力用電極端子及び基板装着部側の接触電
極端子を介して、被検査基板に対するデータの送受信が
可能となる。
In this board mounting device for board inspection,
When the substrate to be inspected is mounted on the substrate mounting portion, the contact electrode terminal on the substrate mounting portion contacts the power supply electrode and the data input / output electrode terminal on the substrate to be inspected. Then, a power supply voltage is supplied to the substrate to be inspected from the power supply voltage supply unit via the power supply electrode and the contact electrode terminal on the substrate mounting unit side. Further, data can be transmitted and received to and from the substrate to be inspected via the data input / output electrode terminals and the contact electrode terminals on the substrate mounting portion side.

【0034】請求項13の発明は、請求項12の基板検
査用の基板装着装置において、被検査基板の動作モード
を、外部からデータを受信したときに該データを送信元
に返送する基板検査用の動作モードに設定するための動
作モード設定手段を設けたことを特徴とするものであ
る。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the board mounting apparatus for a board inspection according to the twelfth aspect, the operation mode of the board to be inspected is changed when the data is received from the outside and the data is returned to the transmission source. Operation mode setting means for setting the operation mode.

【0035】この基板検査用の基板装着装置では、被検
査基板を基板装着部に装着した後、動作モード設定手段
で被検査基板の動作モードを基板検査用の動作モードに
設定する。この動作モードの設定により、被検査基板が
外部からデータを受信したときに該データを送信元に返
送するようになる。
In the board mounting apparatus for board inspection, after the board to be inspected is mounted on the board mounting section, the operation mode of the board to be inspected is set to the operation mode for board inspection by the operation mode setting means. By setting the operation mode, when the inspection target substrate receives data from the outside, the data is returned to the transmission source.

【0036】請求項14の発明は、請求項12又は13
の基板検査用の基板装着装置において、上記被検査基板
がファクシミリ制御基板であることを特徴とするもので
ある。
The invention of claim 14 is the invention of claim 12 or 13
In the above substrate mounting apparatus for inspecting a substrate, the substrate to be inspected is a facsimile control substrate.

【0037】この基板検査用の基板装着装置では、基板
装着部にファクシミリ制御基板が装着されると、電源供
給用電極及び基板装着部側の接触電極端子を介して、電
源電圧供給部からファクシミリ制御基板に電源電圧が供
給されるとともに、データ入出力用電極端子及び基板装
着部側の接触電極端子を介して、ファクシミリ制御基板
に対するデータの送受信が可能となる。
In this board mounting apparatus for board inspection, when the facsimile control board is mounted on the board mounting section, the facsimile control board is connected to the facsimile control board via the power supply electrode and the contact electrode terminal on the board mounting section side. A power supply voltage is supplied to the board, and data can be transmitted and received to and from the facsimile control board via the data input / output electrode terminals and the contact electrode terminals on the board mounting portion side.

【0038】請求項15の発明は、請求項6、7、8、
9又は10の基板検査用のホスト装置と、請求項12又
は13の基板検査用の基板装着装置と、該ホスト装置と
該基板装着装置とを接続する電気通信回線とを備えたこ
とを特徴とするものである。
According to a fifteenth aspect of the present invention,
A host device for inspecting a substrate according to claim 9 or 10, a substrate mounting device for inspecting a substrate according to claim 12 or 13, and an electric communication line connecting the host device and the substrate mounting device. Is what you do.

【0039】この基板検査システムでは、上記ホスト装
置から電気通信回線を介して上記基板装着装置に装着さ
れた被検査基板にデータが送信される。該被検査基板で
受信されたデータは、実機で処理してオペレータが識別
可能な形態で用紙等に出力されたりコンピュータ装置内
に取り込まれたりすることなく、電気通信回線を介して
ホスト装置に返送される。上記被検査基板から返送され
てきたデータは、ホスト装置のデータ送受信部で受信さ
れデータ記憶部に記憶される。ホスト装置の判定部で
は、データ記憶部に記憶された受信データに基づき、該
被検査基板のデータ送受信機能全体について良否が判定
される。
In this board inspection system, data is transmitted from the host apparatus to the board to be inspected mounted on the substrate mounting apparatus via an electric communication line. The data received by the board to be inspected is processed by the actual machine and returned to the host device via a telecommunication line without being output on paper or the like in a form identifiable by the operator or taken into the computer device. Is done. The data returned from the board to be inspected is received by the data transmission / reception unit of the host device and stored in the data storage unit. The determination unit of the host device determines pass / fail of the entire data transmission / reception function of the test substrate based on the reception data stored in the data storage unit.

【0040】請求項16の発明は、請求項15の基板検
査システムにおいて、上記被検査基板がファクシミリ制
御基板であることを特徴とするものである。
According to a sixteenth aspect of the present invention, in the substrate inspection system of the fifteenth aspect, the substrate to be inspected is a facsimile control substrate.

【0041】この基板検査システムでは、上記ホスト装
置から上記基板装着装置に装着された被検査基板である
ファクシミリ制御基板に対して、画像データをファクシ
ミリ信号として送受信する。そして、該ホスト装置で
は、該ファクシミリ制御基板から返送されてきたファク
シミリ信号を画像信号として受信し、該受信したデータ
に基づいて該ファクシミリ制御基板の良否が判定され
る。
In this board inspection system, image data is transmitted and received as facsimile signals from the host device to a facsimile control board, which is a board to be inspected, mounted on the substrate mounting apparatus. Then, the host device receives the facsimile signal returned from the facsimile control board as an image signal, and determines the quality of the facsimile control board based on the received data.

【0042】請求項17の発明は、請求項6、7、8、
9、10又は11の基板検査用のホスト装置に、上記デ
ータ送受信部におけるデータの送受信手順と、上記デー
タ記憶部に対するデータの書き込み及び読み出し手順
と、上記判定部における判定手順とを実行させるための
プログラムを記録した、該ホスト装置で読み出し可能な
記録媒体である。
The invention of claim 17 is based on claims 6, 7, 8,
A host device for inspecting a substrate, which is configured to execute a data transmission / reception procedure in the data transmission / reception unit, a data writing / reading procedure in the data storage unit, and a determination procedure in the determination unit. A recording medium on which a program is recorded and which can be read by the host device.

【0043】この記録媒体に記憶されているプログラム
を上記ホスト装置で読み出し、該プログラムを実行する
ことにより、上記データ送受信部におけるデータの送受
信と、上記データ記憶部に対するデータの書き込み及び
読み出しと、上記判定部における被検査基板のデータ送
受信機能全体の良否の判定を行うことができる。
The host device reads out the program stored in the recording medium, and executes the program to transmit and receive data in the data transmission / reception unit, and write and read data in and from the data storage unit. The determination unit can determine whether the entire data transmission / reception function of the substrate to be inspected is good or bad.

【0044】[0044]

【発明の実施の形態】以下、本発明を電子通信機器とし
てのファクシミリ装置に用いるファクシミリ制御基板の
データ送受信機能を検査する基板検査システムに適用し
た実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係
る基板検査システムの概略構成を示すブロック図であ
り、図2は、被検査基板であるファクシミリ制御基板1
00を有するファクシミリ装置内の概略構成を示すブロ
ック図であり、図3は、同基板検査システムの外観図で
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to a board inspection system for inspecting a data transmission / reception function of a facsimile control board used in a facsimile apparatus as an electronic communication device will be described below. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a board inspection system according to the present embodiment. FIG. 2 shows a facsimile control board 1 which is a board to be inspected.
FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration in a facsimile apparatus having a substrate inspection system 00, and FIG. 3 is an external view of the board inspection system.

【0045】図2に示すファクシミリ装置は、被検査基
板であるファクシミリ制御基板(FCU基板)100
と、画像読取部120と、入出力操作部130と、印字
部140とを備えている。上記ファクシミリ制御基板1
00は、CPUエンジン、システムROM、DRAM、
SRAM、モデム部、DTMF(Dial Tone Multi Freq
uency)トーンレシーバ、AFE(アナログフロントエ
ンド)部、NCU(ネットワークコントロールユニッ
ト)等により構成されている。上記CPUエンジンは、
DSP(Digital Signal Processor)、DCR(DataCo
mpressor Reconstructor)、DMA(Direct Memory Ac
cess)等の処理を行うファクシミリエンジンとして機能
する。上記システムROMには、ファクシミリハードウ
ェア全体制御用のファームウェアが格納されている。上
記DRAMは、ワーキングRAM、ECMバッファ、ペ
ージメモリ、画像蓄積及びバッファメモリなどに使用さ
れる2次電池でバックアップされたメモリである。上記
SRAMは、登録データ保持用に使用される1次電池で
バックアップされたメモリである。上記モデム部は、画
像データに基づいて基準信号を変調してファクシミリ信
号を生成する処理、及びファクシミリ信号から画像デー
タを復調する処理を行うものであり、ファクシミリ通信
規格であるG3規格(V34/V33/V29/V27
/V17)をサポートしている。上記DTMFトーンレ
シーバは、ダイアルトーン信号を受けて識別する処理を
行うものである。上記AFE(アナログフロントエン
ド)部には、モデム部周辺のフィルタ回路、モニタスピ
ーカ駆動回路、電話回線信号の2線/4線切替回路、R
ITONE切替機能回路などのアナログ系の回路が含ま
れている。また、上記NCUは、上記AFE(アナログ
フロントエンド)部と電話回線との間のファクシミリ信
号を制御するインターフェースである。
The facsimile apparatus shown in FIG. 2 has a facsimile control board (FCU board) 100
, An image reading unit 120, an input / output operation unit 130, and a printing unit 140. Facsimile control board 1
00 is a CPU engine, system ROM, DRAM,
SRAM, modem, DTMF (Dial Tone Multi Freq
uency) tone receiver, AFE (analog front end) unit, NCU (network control unit), and the like. The CPU engine,
DSP (Digital Signal Processor), DCR (DataCo
mpressor Reconstructor), DMA (Direct Memory Ac)
cess) etc. function as a facsimile engine. The system ROM stores firmware for controlling the entire facsimile hardware. The DRAM is a memory backed up by a secondary battery used for a working RAM, an ECM buffer, a page memory, an image storage and a buffer memory, and the like. The SRAM is a memory backed up by a primary battery used for holding registered data. The modem unit performs a process of generating a facsimile signal by modulating a reference signal based on image data and a process of demodulating image data from the facsimile signal, and is a G3 standard (V34 / V33) which is a facsimile communication standard. / V29 / V27
/ V17). The DTMF tone receiver performs a process of receiving and identifying a dial tone signal. The AFE (analog front end) section includes a filter circuit around the modem section, a monitor speaker driving circuit, a 2-line / 4-line switching circuit for telephone line signals,
An analog circuit such as an ITONE switching function circuit is included. The NCU is an interface for controlling a facsimile signal between the AFE (analog front end) unit and a telephone line.

【0046】上記画像読取部120は、SBU(センサ
サーボユニット)用のインターフェース、ゲインアン
プ、直流再生回路、D/A(デジタル/アナログ)変換
処理回路、スキャナ駆動ドライバ、光源点灯用ドライバ
等を含んでいる。上記入出力操作部130は、操作パネ
ルなどのマンマシンインターフェース、各種センサ及び
スタンプなどのドライバ、外部オプションインターフェ
ース、増設メモリ等を含んでいる。上記印字部140
は、印字系モータドライバ、光源のLD(半導体レー
ザ)や加熱部材へ送るシリアルデータの処理部等を含ん
でいる。
The image reading unit 120 includes an interface for an SBU (sensor servo unit), a gain amplifier, a DC reproduction circuit, a D / A (digital / analog) conversion processing circuit, a scanner driving driver, a light source lighting driver, and the like. In. The input / output operation unit 130 includes a man-machine interface such as an operation panel, drivers such as various sensors and stamps, an external option interface, an additional memory, and the like. Printing section 140
Includes a printing system motor driver, a light source LD (semiconductor laser), a processing unit for serial data sent to a heating member, and the like.

【0047】図1に示す基板検査システムは、ホスト装
置10と、基板装着装置としてのフィクスチャ装置30
と、該ホスト装置10と該フィクスチャ装置30とを擬
似アナログ交換器51を介して接続する電気通信回線
(アナログ通信回線)50とから構成されている。上記
ホスト装置10は、データ送受信部11と、コンピュー
タ装置とを備えている。データ送受信部11は、ネット
ワークコントロールユニット(NCU)を有する被検査
基板と同等な検査用ファクシミリ制御基板(FCU基
板)12と、電源ユニット(PSU)13と、シリアル
インターフェース14と、LAN用のネットワークイン
ターフェース15とを備えている。上記検査用ファクシ
ミリ制御基板12は、ファクシミリの通信規格であるス
ーパーG3規格(G3−V34規格)もサポートしてい
る。
The substrate inspection system shown in FIG. 1 includes a host device 10 and a fixture device 30 as a substrate mounting device.
And a telecommunication line (analog communication line) 50 for connecting the host device 10 and the fixture device 30 via a pseudo analog switch 51. The host device 10 includes a data transmission / reception unit 11 and a computer device. The data transmission / reception unit 11 includes an inspection facsimile control board (FCU board) 12 equivalent to a board to be inspected having a network control unit (NCU), a power supply unit (PSU) 13, a serial interface 14, and a network interface for LAN. 15 is provided. The inspection facsimile control board 12 also supports the super G3 standard (G3-V34 standard) which is a facsimile communication standard.

【0048】上記ホスト装置10のコンピュータ装置
は、パソコン本体16、CRT17、キーボード18、
図示しないマウスなどにより構成されている。パソコン
本体16は、CPU16a、ROM16b、RAM、検
査に用いるデータを記憶するデータ記憶部としてのハー
ドディスク16c、シリアルインターフェース16d、
LANカード16e、CD−ROMドライブ16f、F
Dドライブ16g等を有している。上記ROM16bに
は、BIOSプログラムが記憶されている。また、上記
ハードディスク16cには、基本ソフト(OS)のプロ
グラム、FDやCD−ROMなどの記録媒体で提供され
た基板検査用のアプリケーションソフトのプログラム、
基板検査に使用する基準画像データのファイル(マスタ
ーFILE)、送信する画像データのファイル(TX
FILE)、受信した画像データのファイル(RX F
ILE)等が格納され、必要に応じてRAM等に読み出
される。上記基板検査用のアプリケーションソフトは、
ハードディスクにおける送受信画像ファイル管理機能、
画像データのビットマップ変換機能、画像データの判定
機能等を有するソフトである。また、上記CPU16a
は、上記データ送受信部11で受信した画像データに基
づいてファクシミリ制御基板100のデータ送受信機能
全体の良否を判定する判定部として機能する。また、上
記パソコン本体16と上記データ送受信部11とはシリ
アルインターフェースケーブル19で接続されるととも
に、ハブ装置(HUB)20を介してLANケーブル2
1で接続されている。これにより、パソコン本体16と
上記データ送受信部11との間で、シリアルインターフ
ェース又はネットワークインターフェースを介して、基
板検査で送受信される画像データを受け渡しできるよう
になっている。
The computer of the host device 10 includes a personal computer main body 16, a CRT 17, a keyboard 18,
It is composed of a mouse or the like (not shown). The personal computer body 16 includes a CPU 16a, a ROM 16b, a RAM, a hard disk 16c as a data storage unit for storing data used for inspection, a serial interface 16d,
LAN card 16e, CD-ROM drive 16f, F
It has a D drive 16g and the like. The ROM 16b stores a BIOS program. The hard disk 16c has a program of basic software (OS), a program of application software for board inspection provided on a recording medium such as an FD or a CD-ROM,
Reference image data file (master FILE) used for board inspection, transmitted image data file (TX
FILE), the received image data file (RX F
ILE) is stored and read out to a RAM or the like as necessary. The application software for board inspection is
Image file management function on hard disk,
This software has a bitmap conversion function of image data, a function of determining image data, and the like. Further, the CPU 16a
Functions as a determination unit that determines the quality of the entire data transmission / reception function of the facsimile control board 100 based on the image data received by the data transmission / reception unit 11. The personal computer body 16 and the data transmission / reception unit 11 are connected by a serial interface cable 19 and a LAN cable 2 via a hub device (HUB) 20.
1 is connected. Thus, the image data transmitted and received in the board inspection can be transferred between the personal computer main body 16 and the data transmission / reception unit 11 via a serial interface or a network interface.

【0049】図4(a)は、上記ファクシミリ制御基板
100が装着されるフィクスチャ装置30の外観を示す
斜視図であり、図4(b)は同フィクスチャ装置30の
カバー311を開けたときの斜視図である。このフィク
スチャ装置30に検査対象のファクシミリ制御基板10
0を装着するときは、アクリル材からなるカバー311
の把手311aを持って手前側からカバー311を開け
るとともに、昇降レバー312を矢印A方向に持ち上げ
るように回転させ、ファクシミリ制御基板100の電極
端子に接触させる接触電極端子としてコンタクトピンを
上昇させる。
FIG. 4A is a perspective view showing the appearance of the fixture device 30 on which the facsimile control board 100 is mounted, and FIG. 4B shows the fixture device 30 when the cover 311 is opened. It is a perspective view of. The facsimile control board 10 to be inspected is
When attaching 0, a cover 311 made of an acrylic material is used.
The cover 311 is opened from the near side by holding the handle 311a, and the elevating lever 312 is rotated so as to lift in the direction of arrow A, so that the contact pins are raised as the contact electrode terminals to be brought into contact with the electrode terminals of the facsimile control board 100.

【0050】図4(b)において、フィクスチャ装置3
0の基板載置面313の中央部には、ガラスエポキシ材
からなるコンタクトピンガイド板314が取り付けられ
ている。このコンタクトピンガイド板314の所定位置
には、昇降レバー312の矢印B方向の回転に応じて上
昇してくるコンタクトピンが貫通し得る貫通孔314a
が形成されている。
In FIG. 4B, the fixture device 3
A contact pin guide plate 314 made of a glass epoxy material is attached to a central portion of the substrate mounting surface 313 of No. 0. At a predetermined position of the contact pin guide plate 314, a through hole 314a through which a contact pin that rises in accordance with the rotation of the elevating lever 312 in the direction of arrow B can penetrate.
Are formed.

【0051】また、コンタクトピンガイド板314の2
つのコーナー部には、ファクシミリ制御基板100の係
合孔に係合するガイドピン316が設けられている。フ
ァクシミリ制御基板100を装着するときに該基板10
0の水平方向の位置が多少ずれていても、該ガイドピン
316が該基板100側の係合孔に係合して該基板10
0をガイドして所定位置に位置決めすることにより、該
基板100の電極端子とフィクスチャ装置30側のコン
タクトピンとを確実に接触させることができる。また、
コンタクトピンガイド板314の四隅に隣接する位置に
は、ファクシミリ制御基板100の四隅をガイドする基
板ガイド部材315が取付けられている。
The contact pin guide plates 314-2
A guide pin 316 that engages with the engagement hole of the facsimile control board 100 is provided at one corner. When mounting the facsimile control board 100,
The guide pins 316 are engaged with the engagement holes on the substrate 100 side even if the horizontal position of the
Positioning the electrode terminal of the substrate 100 and the contact pin of the fixture device 30 can be reliably performed by guiding the position of the substrate 100 to a predetermined position. Also,
At positions adjacent to the four corners of the contact pin guide plate 314, board guide members 315 for guiding the four corners of the facsimile control board 100 are attached.

【0052】また、カバー311の内側の面には、コン
タクトピンガイド板314上に装着されたファクシミリ
制御基板100をコンタクトピンガイド板314側に押
圧する押圧部材311bが取り付けられている。
A pressing member 311b for pressing the facsimile control board 100 mounted on the contact pin guide plate 314 toward the contact pin guide plate 314 is attached to the inner surface of the cover 311.

【0053】また、フィクスチャ装置30の内部には、
ファクシミリ制御基板100に電源電圧を供給するため
の電源電圧供給部としての電源ユニット(PSU)31
等が取り付けられている。また、フィクスチャ装置30
の前面パネルには、スタートボタン317とともに、動
作モード設定手段としての検査モード設定スイッチ32
が設けられている。この検査モード設定スイッチ32
は、ファクシミリ制御基板100の動作モードを、外部
からデータを受信したときに該データを送信元に返送す
る基板検査用の動作モードに設定するためのものであ
る。
In the fixture device 30,
Power supply unit (PSU) 31 as a power supply voltage supply unit for supplying a power supply voltage to facsimile control board 100
Etc. are attached. Also, the fixture device 30
The inspection mode setting switch 32 as the operation mode setting means is provided on the front panel
Is provided. This inspection mode setting switch 32
Is for setting the operation mode of the facsimile control board 100 to an operation mode for board inspection in which when data is received from the outside, the data is returned to the transmission source.

【0054】上記構成のフィクスチャ装置30にファク
シミリ制御基板100を装着して機能検査を開始すると
きは、カバー311を開けた状態でファクシミリ制御基
板100をコンタクトピンガイド板314上に載置し、
昇降レバー312を図4(b)の矢印B方向の回転させ
ることによりコンタクトピンを上昇させるとともに、カ
バー311を閉める。そして、カバー311の押圧部材
311bがファクシミリ制御基板100を押圧して該基
板100の電極端子とフィクスチャ装置30側のコンタ
クトピンとが確実に接触した状態で、上記検査モード設
定スイッチ32を押すとともに、スタートボタン317
を押して機能検査を開始する。
When the facsimile control board 100 is mounted on the fixture device 30 having the above-described configuration and the function test is started, the facsimile control board 100 is placed on the contact pin guide plate 314 with the cover 311 opened.
By rotating the elevating lever 312 in the direction of arrow B in FIG. 4B, the contact pin is raised and the cover 311 is closed. Then, while the pressing member 311b of the cover 311 presses the facsimile control board 100 and the electrode terminals of the board 100 and the contact pins of the fixture device 30 are securely in contact with each other, the inspection mode setting switch 32 is pressed, Start button 317
Press to start function test.

【0055】図5は、上記構成の基板検査システムを用
いてファクシミリ制御基板100のデータ送受信機能を
検査するときの手順を示したフローチャートである。ま
ず、前述のように検査対象のファクシミリ制御基板10
0をフィクスチャ装置30にセットし、検査モード設定
スイッチ32を押した後、スタートボタン317を押し
て機能検査を開始すると、ホスト装置が画像データをフ
ァクシミリ信号(アナログ信号)として被検査基板であ
るファクシミリ制御基板100に向けて送信する(ステ
ップ1)。この送信ファクシミリ信号は、擬似アナログ
交換器51を介して伝送され、フィクスチャ装置30上
のファクシミリ制御基板100に受信され、該基板10
0内のメモリに画像データとして一旦格納される(ステ
ップ2)。次に、ファクシミリ制御基板100は、メモ
リに格納されている画像データをホスト装置10に向け
て返送する(ステップ3)。ホスト装置10では、受信
した画像データ(ビットマップイメージ)と、ハードデ
ィスクに保存されている基準データ(ビットマップイメ
ージ)とをビット単位で比較し、一致しているビット数
と不一致のビット数がカウントされ、不一致のビット数
Nmが予め設定しておいた基準値Nrefと比較される
(ステップ4)。ここで、上記不一致ビット数Nmが基
準値Nref以下であれば、データ送受信機能が正常であり
良品として判定し、その判定結果をハードディスクに格
納するとともに、CRT上に良品である旨(例えば、
「OK」という文字)を表示し、検査を終了する(ステ
ップ5、6)。一方、上記不一致ビット数Nmが基準値
Nrefよりも大きいときは、データ送受信機能が異常であ
り不良品として判定し、その判定結果をハードディスク
に格納するとともに、CRT上に不良品である旨(例え
ば、「NG」という文字)を表示する(ステップ5、
7)。以上の検査により、データ送受信機能全体が不良
品と判定されたファクシミリ制御基板100は、更に詳
細な検査を行う工程にまわされ、データ受信機能及びデ
ータ送信機能のうちどちらの機能が異常なのか等を判定
するための詳細な検査が行われる。
FIG. 5 is a flowchart showing a procedure for inspecting the data transmission / reception function of the facsimile control board 100 using the above-configured board inspection system. First, as described above, the facsimile control board 10 to be inspected is
0 is set in the fixture device 30, and after pressing the test mode setting switch 32, the start button 317 is pressed to start the function test. When the host device receives the image data as a facsimile signal (analog signal), the facsimile which is the substrate to be tested is used. It is transmitted to the control board 100 (step 1). This transmission facsimile signal is transmitted through the pseudo-analog switch 51 and received by the facsimile control board 100 on the fixture device 30.
The image data is temporarily stored as image data in a memory in the memory 0 (step 2). Next, the facsimile control board 100 returns the image data stored in the memory to the host device 10 (Step 3). The host device 10 compares the received image data (bitmap image) with the reference data (bitmap image) stored on the hard disk on a bit-by-bit basis, and counts the number of matching bits and the number of mismatching bits. The number of unmatched bits Nm is compared with a preset reference value Nref (step 4). Here, if the mismatch bit number Nm is equal to or smaller than the reference value Nref, the data transmission / reception function is normal and determined to be non-defective, the determination result is stored in the hard disk, and the non-defective item is displayed on the CRT (for example,
"OK" is displayed, and the inspection is terminated (steps 5 and 6). On the other hand, the number of mismatch bits Nm is equal to the reference value.
If the value is larger than Nref, the data transmission / reception function is abnormal and determined to be defective, the determination result is stored in the hard disk, and the fact that the product is defective is displayed on the CRT (for example, “NG”). (Step 5,
7). The facsimile control board 100 in which the entire data transmission / reception function is determined to be defective by the above inspection is sent to a step of performing more detailed inspection, and which of the data reception function and the data transmission function is abnormal is determined. A detailed inspection is performed to judge this.

【0056】なお、上記図5に示す検査工程では、受信
した画像データと基準データとの間の不一致ビット数を
カウントした不一致ビット数Nmが基準値Nrefを超えた
ときに、ファクシミリ制御基板100のデータ送受信機
能が不良と判定しているが、受信した画像データと基準
データとの間で全ビットの一つ一つについて比較を行
い、一つでも不一致している場合に、ファクシミリ制御
基板100のデータ送受信機能が不良であると判定して
もよい。
In the inspection step shown in FIG. 5, when the number of mismatch bits Nm, which is the number of mismatch bits between the received image data and the reference data, exceeds the reference value Nref, the facsimile control board 100 Although it is determined that the data transmission / reception function is defective, the received image data and the reference data are compared for each and every bit, and if any one does not match, the facsimile control board 100 It may be determined that the data transmission / reception function is defective.

【0057】以上、本実施形態によれば、ファクシミリ
制御基板100に対して直接画像データを送受信してい
るので、ファクシミリ制御基板100が実際に組み込ま
れるファクシミリ装置を用いることなく、ファクシミリ
制御基板100の画像データ送受信機能を検査すること
ができる。したがって、実機のファクシミリ装置を用い
た検査の場合と異なり、紙の消費を抑えることができる
とともに、ばらつきが多いオペレータの目視検査が介在
することがないので、データ送受信機能の検査を安定に
行うことができる。また、検査対象のファクシミリ制御
基板100を検査のたびに実機に組み込むような煩雑な
作業も不要となる。
As described above, according to the present embodiment, since image data is directly transmitted to and received from the facsimile control board 100, the facsimile control board 100 can be used without using a facsimile apparatus in which the facsimile control board 100 is actually incorporated. The image data transmission / reception function can be inspected. Therefore, unlike the case of the inspection using the actual facsimile machine, it is possible to suppress the consumption of the paper and to perform the inspection of the data transmission / reception function stably because the visual inspection of the operator with much variation does not intervene. Can be. Further, it is not necessary to perform a complicated operation of incorporating the facsimile control board 100 to be inspected into the actual machine every time the inspection is performed.

【0058】また、本実施形態によれば、ファクシミリ
制御基板100内で折り返し返送されてくるデータを用
いているので、ファクシミリ制御基板側に直接接続され
る専用インターフェース装置やコンピュータ装置を用意
したりすることなく、ファクシミリ制御基板100のデ
ータ送受信機能を検査することができる。したがって、
上記専用インターフェース装置の開発やそれを動作させ
るためのソフトウェアの開発も不要となる。
Further, according to the present embodiment, since the data returned in the facsimile control board 100 is used, a dedicated interface device or a computer device directly connected to the facsimile control board side is prepared. Without this, the data transmission / reception function of the facsimile control board 100 can be inspected. Therefore,
The development of the dedicated interface device and the software for operating the interface device are not required.

【0059】また、本実施形態によれば、上記ホスト装
置による1回の画像データの送信及び受信でファクシミ
リ制御基板100の送受信機能全体の良否を検査してい
るので、従来のようにファクシミリ制御基板100のデ
ータ送信機能全体の良否とデータ受信機能の良否とを分
けて検査する場合に比して、該ファクシミリ制御基板1
00のデータ送受信機能全体の良否を効率的に行うこと
ができる。
Further, according to the present embodiment, the quality of the entire transmission / reception function of the facsimile control board 100 is checked by one transmission and reception of the image data by the host device. The facsimile control board 1 is compared with the case where the quality of the entire data transmission function and the quality of the data reception function are checked separately.
The quality of the entire data transmission / reception function of 00 can be efficiently determined.

【0060】また、従来のFAXボード(カード)を装
着したパソコンを用いた基板検査方法では、市販のFA
Xボード(カード)が最近のファクシミリの通信規格で
あるスーパーG3規格(G3−V34規格)をサポート
していないことにより、スーパーG3規格(G3−V3
4規格)でのファクシミリ制御基板100の検査を行う
ことができない。これに対し、本実施形態では、上記ス
ーパーG3規格(G3−V34規格)を含むファクシミ
リ制御基板100で用いるすべての通信規格(G3−V
34/V33/V29/V27/V17規格)をサポー
トしている検査用ファクシミリ制御基板(FCU基板)
12を、ホスト装置10側に用いているので、上記通信
規格(G3−V34/V33/V29/V27/V17
規格)のすべてについて、ファクシミリ制御基板100
のデータ送受信機能全体の良否検査を行うことができ
る。
In a conventional board inspection method using a personal computer equipped with a FAX board (card), a commercially available FA
Since the X board (card) does not support the super G3 standard (G3-V34 standard), which is a recent facsimile communication standard, the super G3 standard (G3-V3 standard) is used.
4) cannot be performed on the facsimile control board 100. On the other hand, in the present embodiment, all the communication standards (G3-V) used in the facsimile control board 100 including the super G3 standard (G3-V34 standard) are used.
Inspection facsimile control board (FCU board) that supports 34 / V33 / V29 / V27 / V17 standards
12 is used on the host device 10 side, the communication standard (G3-V34 / V33 / V29 / V27 / V17
Facsimile control board 100
Quality check of the entire data transmission / reception function can be performed.

【0061】なお、上記実施形態において、上記ファク
シミリ制御基板100から返送されてきた画像データと
ともに、該ファクシミリ制御基板100から送られてく
る該基板のデータ送信機能のエラー情報及びデータ受信
機能のエラー情報の少なくとも一つを受信し、該受信し
た画像データとともに該エラー情報に基づいて、該ファ
クシミリ制御基板100のデータ送受信機能全体の良否
を判定するしてもよい。このファクシミリ制御基板10
0の受信機能のエラー情報は、該基板100が画像デー
タを受信している途中のタイミングや画像データの受信
が完了したタイミングで、該標準のプロトコルを用いて
上記ホスト装置側に送られる。また、ファクシミリ制御
基板100の送信機能のエラー情報は、該基板100が
画像データを返送している途中のタイミングや画像デー
タの返送が完了したタイミングで、該標準のプロトコル
を用いて上記ホスト装置側に送られる。このエラー情報
により、ファクシミリ制御基板100のデータ送受信機
能全体の更に詳細な良否判定が可能となる。
In the above embodiment, the error information of the data transmission function and the error information of the data reception function of the board sent from the facsimile control board 100 together with the image data returned from the facsimile control board 100 are used. Of the facsimile control board 100 may be determined based on the received image data and the error information. This facsimile control board 10
The error information of the receiving function of 0 is sent to the host device side using the standard protocol at a timing when the substrate 100 is receiving image data or at a timing when the reception of the image data is completed. Further, the error information of the transmission function of the facsimile control board 100 is transmitted at the timing when the board 100 is returning the image data or when the return of the image data is completed. Sent to With this error information, a more detailed pass / fail determination of the entire data transmission / reception function of the facsimile control board 100 can be made.

【0062】また、上記実施形態において、上記ファク
シミリ制御基板100に対するデータ送信開始時点から
の経過時間を上記ホスト装置の時間計測部としてのコン
ピュータ装置で計測し、該データ送信開始時点から所定
時間(例えば40秒)内に上記データが返送されてこな
いときに、ファクシミリ制御基板100のデータ送受信
機能が停止していると判定する。この判定結果に基づい
て、上記画像データ比較の結果に基づく該被検査基板の
データ送受信機能全体の良否判定を停止することができ
るため、無駄な待ち時間を回避し、基板検査の効率化を
図ることができる。
In the above embodiment, the elapsed time from the start of data transmission to the facsimile control board 100 is measured by a computer as a time measuring unit of the host device, and a predetermined time (for example, If the data is not returned within 40 seconds), it is determined that the data transmission / reception function of the facsimile control board 100 is stopped. Based on the result of the determination, it is possible to stop the quality determination of the entire data transmission / reception function of the inspected substrate based on the result of the image data comparison, thereby avoiding unnecessary waiting time and improving the efficiency of the substrate inspection. be able to.

【0063】また、上記実施形態では、ファクシミリ装
置に取り付けられるファクシミリ制御基板のデータ送受
信機能を検査する基板検査システムについて説明した
が、本発明は、パソコン用のモデムインターフェースボ
ードなどの他のデータ送受信機能を有する基板を検査す
る場合にも適用できるものである。
In the above-described embodiment, the board inspection system for inspecting the data transmission / reception function of the facsimile control board attached to the facsimile apparatus has been described. However, the present invention provides another data transmission / reception function such as a modem interface board for a personal computer. The present invention can also be applied to the case of inspecting a substrate having.

【0064】[0064]

【発明の効果】請求項1乃至17の発明によれば、被検
査基板で受信したデータを、該被検査基板を組み込んだ
実機内で処理したり該被検査基板に接続したコンピュー
タ装置内に取り込んだりすることなく、送信元に返信し
て該被検査基板のデータ送受信機能の検査に用いること
ができる。したがって、上記実機を用意したり、被検査
基板側に直接接続される専用インターフェース装置やコ
ンピュータ装置を用意したりすることなく、基板検査用
オプションインターフェースを備えていない被検査基板
についても、データ送受信機能全体の良否を検査するこ
とができる。しかも、被検査基板のデータ送信機能の良
否とデータ受信機能の良否とを個別的に検査する場合に
比して、該被検査基板のデータ送受信機能全体の良否を
効率的に行うことができるという効果がある。
According to the present invention, the data received by the board to be inspected is processed in an actual machine incorporating the board to be inspected or taken into a computer device connected to the board to be inspected. Instead, the data can be returned to the transmission source and used for testing the data transmission / reception function of the board to be tested. Therefore, without preparing the actual machine or preparing a dedicated interface device or computer device directly connected to the substrate to be inspected, the data transmission / reception function can be performed for the substrate to be inspected which does not have the optional interface for substrate inspection. The overall quality can be checked. In addition, the quality of the entire data transmission / reception function of the test substrate can be efficiently performed as compared with the case where the quality of the data transmission function of the test substrate and the quality of the data reception function are individually tested. effective.

【0065】特に、請求項2及び8の発明によれば、基
板検査に用いるデータ伝送経路の特性の影響を除外した
被検査基板のデータ送受信機能全体の良否判定が可能と
なるという効果がある。
In particular, according to the second and eighth aspects of the present invention, it is possible to determine the quality of the entire data transmission / reception function of the board to be inspected, excluding the influence of the characteristics of the data transmission path used for the board inspection.

【0066】また特に、請求項3及び9の発明によれ
ば、被検査基板のデータ送受信機能全体の更に詳細な良
否判定が可能となるという効果がある。
In particular, according to the third and ninth aspects of the present invention, there is an effect that a more detailed pass / fail judgment of the entire data transmission / reception function of the board to be inspected can be made.

【0067】また特に、請求項4及び10の発明によれ
ば、被検査基板のデータ送受信機能が停止したときに、
上記比較の結果に基づく該被検査基板のデータ送受信機
能全体の良否判定を停止することができるため、無駄な
待ち時間を回避し、基板検査の効率化を図ることができ
るという効果がある。
According to the fourth and tenth aspects of the present invention, when the data transmission / reception function of the board to be inspected is stopped,
Since the pass / fail judgment of the entire data transmission / reception function of the board to be inspected based on the result of the comparison can be stopped, there is an effect that unnecessary waiting time can be avoided and the board inspection can be performed more efficiently.

【0068】また特に、請求項5、11、14及び16
の発明によれば、ファクシミリ制御基板の画像データ送
受信機能全体の良否判定が可能となるという効果があ
る。
In particular, claims 5, 11, 14 and 16
According to the invention, there is an effect that the quality of the entire image data transmission / reception function of the facsimile control board can be determined.

【0069】また特に、請求項7の発明によれば、被検
査基板で採用されているすべての通信規格について、該
被検査基板のデータ送受信機能全体の良否判定が可能と
なるという効果がある。
In particular, according to the invention of claim 7, there is an effect that it is possible to judge whether or not the entire data transmission / reception function of the board to be inspected is good for all communication standards adopted for the board to be inspected.

【0070】また特に、請求項12の発明によれば、被
検査基板を装着することで、該被検査基板に電源電圧を
供給し、該被検査基板に対するデータの送受信が可能と
なるという効果がある。
In particular, according to the twelfth aspect of the present invention, by mounting the substrate to be inspected, the power supply voltage is supplied to the substrate to be inspected, and the effect of transmitting and receiving data to and from the substrate to be inspected becomes possible. is there.

【0071】また特に、請求項13の発明によれば、被
検査基板を基板装着部に装着した後、被検査基板の動作
モードを基板検査用の動作モードに設定するができると
いう効果がある。
According to the thirteenth aspect of the present invention, after the board to be inspected is mounted on the board mounting portion, the operation mode of the board to be inspected can be set to the operation mode for board inspection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係るファクシミリ制御基板
の基板検査システムの概略構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a board inspection system for a facsimile control board according to an embodiment of the present invention.

【図2】ファクシミリ制御基板を有するファクシミリ装
置内の概略構成を示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration in a facsimile apparatus having a facsimile control board.

【図3】同基板検査システムの外観図。FIG. 3 is an external view of the board inspection system.

【図4】(a)は基板検査中のフィクスチャ装置の斜視
図。(b)は基板交換のためにカバーを開けた状態のフ
ィクスチャ装置の斜視図。
FIG. 4A is a perspective view of a fixture device during a board inspection. (B) is a perspective view of the fixture device with a cover opened for substrate replacement.

【図5】ファクシミリ制御基板の検査手順を示すフロー
チャート。
FIG. 5 is a flowchart showing an inspection procedure of the facsimile control board.

【図6】従来例に係るファクシミリ制御基板の検査方法
の説明図。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a method of inspecting a facsimile control board according to a conventional example.

【図7】他の従来例に係るファクシミリ制御基板の検査
方法の説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram of an inspection method of a facsimile control board according to another conventional example.

【図8】更に他の従来例に係るファクシミリ制御基板の
検査方法の説明図。
FIG. 8 is an explanatory diagram of a method of inspecting a facsimile control board according to still another conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ホスト装置 11 データ送受信部 12 検査用ファクシミリ制御基板 13 電源ユニット 14 シリアルインターフェース 15 ネットワークインターフェース 16 パソコン本体 17 CRT 18 キーボード 30 フィクスチャ装置 31 電源ユニット 32 検査モード設定スイッチ 50 アナログ通信回線 51 アナログ擬似交換器 100 ファクシミリ制御基板(被検査基板) DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Host device 11 Data transmission / reception part 12 Inspection facsimile control board 13 Power supply unit 14 Serial interface 15 Network interface 16 Personal computer 17 CRT 18 Keyboard 30 Fixture device 31 Power supply unit 32 Inspection mode setting switch 50 Analog communication line 51 Analog pseudo switch 100 Facsimile control board (substrate to be inspected)

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】データ送受信機能を有する基板を検査する
基板検査方法であって、 被検査基板の動作モードを、外部からデータを受信した
ときに該データをデータ送信元に返送するように予め設
定しておき、 該被検査基板に対してデータを送信し、 該被検査基板から返送されてきたデータを受信し、 該受信したデータに基づいて該被検査基板のデータ送受
信機能全体の良否を判定することを特徴とする基板検査
方法。
1. A board inspection method for inspecting a board having a data transmission / reception function, wherein an operation mode of a board to be inspected is preset so that when data is received from outside, the data is returned to a data transmission source. In addition, transmitting data to the substrate to be inspected, receiving data returned from the substrate to be inspected, and judging whether the entire data transmission / reception function of the substrate to be inspected is good or not based on the received data. A substrate inspection method.
【請求項2】請求項1の基板検査方法において、 データ送受信機能が正常な参照用基板について上記被検
査基板の検査時と同じデータ伝送経路で上記データの送
受信を行なったときに該参照用基板から返送されてきた
データを、予め基準データとして保存しておき、 該被検査基板から返送されてきたデータと該基準データ
とを比較し、 該比較の結果に基づいて該被検査基板のデータ送受信機
能全体の良否を判定することを特徴とする基板検査方
法。
2. The board inspection method according to claim 1, wherein said reference board has a normal data transmission / reception function when said data transmission / reception is performed on the same data transmission path as in the inspection of said board to be inspected. The data returned from the board is stored in advance as reference data, the data returned from the board to be inspected is compared with the reference data, and the data of the board to be inspected is transmitted and received based on the result of the comparison. A board inspection method characterized by determining pass / fail of the entire function.
【請求項3】請求項1の基板検査方法において、 上記被検査基板から返送されてきたデータとともに、該
被検査基板から送られてくる該被検査基板のデータ送信
機能のエラー情報及びデータ受信機能のエラー情報の少
なくとも一つを受信し、 該受信したデータとともに該エラー情報に基づいて、該
被検査基板のデータ送受信機能全体の良否を判定するこ
とを特徴とする基板検査方法。
3. The board inspection method according to claim 1, wherein the data returned from the board to be inspected together with the error information and data reception function of the data transmission function of the board to be inspected sent from the board to be inspected. Receiving at least one of the above error information, and determining whether or not the entire data transmission / reception function of the inspection target board is good or not based on the received data and the error information.
【請求項4】請求項1の基板検査方法において、 上記被検査基板に対するデータ送信開始時点からの経過
時間を計測し、 該データ送信開始時点から所定時間内に上記データが返
送されてこないときに、該被検査基板のデータ送受信機
能が停止していると判定することを特徴とする基板検査
方法。
4. The board inspection method according to claim 1, wherein an elapsed time from a start of data transmission to said board to be inspected is measured, and said data is not returned within a predetermined time from said start of data transmission. And determining that the data transmission / reception function of the substrate to be inspected is stopped.
【請求項5】請求項1、2、3又は4の基板検査方法に
おいて、 上記被検査基板がファクシミリ制御基板であることを特
徴とする基板検査方法。
5. The substrate inspection method according to claim 1, wherein the substrate to be inspected is a facsimile control substrate.
【請求項6】データ送受信機能を有する基板を検査する
基板検査システムに用いる基板検査用のホスト装置であ
って、 被検査基板に対してデータを送受信するためのデータ送
受信部と、 該被検査基板の検査に用いるデータを記憶するデータ記
憶部と、 該データ送受信部で受信した該被検査基板からのデータ
に基づいて該被検査基板のデータ送受信機能全体の良否
を判定する判定部とを備えたことを特徴とする基板検査
用のホスト装置。
6. A board inspection host device used in a board inspection system for inspecting a board having a data transmission / reception function, comprising: a data transmission / reception unit for transmitting / receiving data to / from a substrate to be inspected; A data storage unit for storing data to be used for the inspection, and a judging unit for judging pass / fail of the entire data transmission / reception function of the board to be inspected based on data from the board to be inspected received by the data transmitting / receiving unit. A host device for inspecting a substrate, comprising:
【請求項7】請求項6の基板検査用のホスト装置におい
て、 上記データ送受信部を、上記被検査基板で用いられるす
べての通信規格でデータ送受信可能な回路を用いて構成
したことを特徴とする基板検査用のホスト装置。
7. The board inspection host device according to claim 6, wherein the data transmission / reception unit is configured using a circuit capable of transmitting / receiving data in all communication standards used for the substrate to be inspected. Host device for substrate inspection.
【請求項8】請求項6の基板検査用のホスト装置におい
て、 データ送受信機能が正常な参照用基板について上記被検
査基板の検査時と同じデータ伝送経路でデータの送受信
を行なったときに該参照用基板から返送されてきたデー
タを、上記データ記憶部に基準データとして保存し、 上記判定部が、上記被検査基板から返送されてきたデー
タを該基準データと比較し、該比較の結果に基づいて該
被検査基板のデータ送受信機能全体の良否を判定するも
のであることを特徴とする基板検査用のホスト装置。
8. The board inspection host device according to claim 6, wherein when the reference board having a normal data transmission / reception function transmits / receives data through the same data transmission path as the inspection of the board to be inspected, the reference is performed. The data returned from the test board is stored in the data storage unit as reference data, and the determination unit compares the data returned from the board to be inspected with the reference data, and based on the result of the comparison. A host device for inspecting a substrate, wherein the host device determines whether or not the entire data transmission / reception function of the inspected substrate is good.
【請求項9】請求項6の基板検査用のホスト装置におい
て、 上記データ送受信部を、上記被検査基板から返送されて
きたデータとともに、該被検査基板から送られてくる該
被検査基板のデータ送信機能のエラー情報及びデータ受
信機能のエラー情報の少なくとも一つを受信するように
構成し、 上記判定部を、該受信したデータとともに該エラー情報
に基づいて、該被検査基板のデータ送受信機能全体の良
否を判定するように構成したことを特徴とする基板検査
用のホスト装置。
9. The board inspection host device according to claim 6, wherein the data transmission / reception unit transmits the data of the board to be inspected sent from the board to be inspected together with the data returned from the board to be inspected. The receiving unit is configured to receive at least one of the error information of the transmission function and the error information of the data reception function, and the determining unit performs the entire data transmission / reception function of the inspection target board based on the received data and the error information. A host device for inspecting a substrate, characterized in that the host device is configured to judge pass / fail.
【請求項10】請求項6の基板検査用のホスト装置にお
いて、 上記被検査基板に対するデータ送信開始時点からの経過
時間を計測する時間計測部を設け、 上記判定部を、該データ送信開始時点から所定時間内に
上記データが返送されてこないときに、該被検査基板の
データ送受信機能が停止していると判定するように構成
したことを特徴とする基板検査用のホスト装置。
10. The host device for inspecting a substrate according to claim 6, further comprising: a time measuring unit for measuring an elapsed time from a time point at which data transmission to the substrate to be inspected is started; A board inspection host device configured to determine that the data transmission / reception function of the board to be inspected is stopped when the data is not returned within a predetermined time.
【請求項11】請求項6、7、8、9又は10の基板検
査用のホスト装置において、 上記被検査基板がファクシミリ制御基板であることを特
徴とする基板検査用のホスト装置。
11. The board inspection host apparatus according to claim 6, 7, 8, 9 or 10, wherein said board to be inspected is a facsimile control board.
【請求項12】データ送受信機能を有する基板を検査す
る基板検査システムに用いる基板検査用の基板装着装置
であって、 被検査基板上の電源供給用電極及びデータ入出力用電極
端子に接触する接触電極端子を有する基板装着部と、 該被検査基板に電源電圧を供給する電源電圧供給部とを
備えたことを特徴とする基板検査用の基板装着装置。
12. A board mounting apparatus for board inspection used in a board inspection system for inspecting a board having a data transmission / reception function, wherein the contact is provided for contacting a power supply electrode and a data input / output electrode terminal on the board to be inspected. A substrate mounting apparatus for inspecting a substrate, comprising: a substrate mounting section having an electrode terminal; and a power supply voltage supply section for supplying a power supply voltage to the substrate to be inspected.
【請求項13】請求項12の基板検査用の基板装着装置
において、 被検査基板の動作モードを、外部からデータを受信した
ときに該データを送信元に返送する基板検査用の動作モ
ードに設定するための動作モード設定手段を設けたこと
を特徴とする基板検査用の基板装着装置。
13. The board mounting apparatus for board inspection according to claim 12, wherein an operation mode of the board to be inspected is set to an operation mode for board inspection in which when receiving data from the outside, the data is returned to a transmission source. A substrate mounting apparatus for inspecting a substrate, comprising an operation mode setting means for performing the operation mode setting.
【請求項14】請求項12又は13の基板検査用の基板
装着装置において、 上記被検査基板がファクシミリ制御基板であることを特
徴とする基板検査用の基板装着装置。
14. The board mounting apparatus for board inspection according to claim 12, wherein the board to be inspected is a facsimile control board.
【請求項15】請求項6、7、8、9又は10の基板検
査用のホスト装置と、 請求項12又は13の基板検査用の基板装着装置と、 該ホスト装置と該基板装着装置とを接続する電気通信回
線とを備えたことを特徴とする基板検査システム。
15. The board inspection host device according to claim 6, 7, 8, 9 or 10, the board inspection device according to claim 12 or 13, the host device and the substrate installation device. A board inspection system, comprising: an electric communication line to be connected.
【請求項16】請求項15の基板検査システムにおい
て、 上記被検査基板がファクシミリ制御基板であることを特
徴とする基板検査システム。
16. The board inspection system according to claim 15, wherein said board to be inspected is a facsimile control board.
【請求項17】請求項6、7、8、9、10又は11の
基板検査用のホスト装置に、上記データ送受信部におけ
るデータの送受信手順と、上記データ記憶部に対するデ
ータの書き込み及び読み出し手順と、上記判定部におけ
る判定手順とを実行させるためのプログラムを記録し
た、該ホスト装置で読み出し可能な記録媒体。
17. A data transmission / reception procedure in the data transmission / reception section, and a data writing / reading procedure in the data storage section in the board inspection host device according to claim 6, 7, 8, 9, 10, or 11. And a recording medium readable by the host device, recording a program for causing the determination unit to execute the determination procedure.
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