JP2001184796A - Data reproducing system and optical disk device to reproduce data by using the same system - Google Patents

Data reproducing system and optical disk device to reproduce data by using the same system

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JP2001184796A
JP2001184796A JP37163099A JP37163099A JP2001184796A JP 2001184796 A JP2001184796 A JP 2001184796A JP 37163099 A JP37163099 A JP 37163099A JP 37163099 A JP37163099 A JP 37163099A JP 2001184796 A JP2001184796 A JP 2001184796A
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雅一 田口
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a data reproducing system capable of efficiently detecting viterbi even in the case of reproduced waveform containing distortion. SOLUTION: In the data reproducing system to calculate a path metric value based on a branch metric value to be calculated from an expectation value to be determined by partial response waveform and a sampling value and to determine reproduced data based on a comparison and calculation result of the value, the branch metric value is used for calculation of the path metric value by providing a means to perform sampling with prescribed cycles at plural sampling positions by unit of recorded data and a synthetic calculation means to calculate branch metric according to each sampling position from plural sampling values and expectation value from the means to perform sampling, to weigh the value according to the sampling positions, to synthesize the branch metric value according to a prescribed data transition state and to calculate a synthetic branch metric value.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置や
光磁気ディスク装置または磁気ディスク装置等のデータ
記録装置に適用される記録媒体のデータ再生システムに
関する。また、本発明は、そのシステムを用いてデータ
再生する光ディスク装置に関する。
The present invention relates to a data reproducing system for a recording medium applied to a data recording device such as an optical disk device, a magneto-optical disk device or a magnetic disk device. Further, the present invention relates to an optical disk device for reproducing data using the system.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、光ディスク装置に用いられる光
ディスク記録媒体(光ディスク、光磁気ディスク)は、
大容量、可換性、高信頼性等により、画像・イメージ情
報の記録再生やコンピュータ用のコード記録等、種々の
分野で利用が図られている。このような光ディスク装置
では、記録密度の増大に伴ってより精度の高いデータの
記録及び再生の手法が望まれている。この光ディスク記
録媒体に対する精度の高いデータの記録及び再生を行な
う手法として、例えば、記録データ信号を所謂パーシャ
ルレスポンス(PR)波形に変調して光ディスク記録媒
体に記録する一方、この光ディスク記録媒体からの再生
信号を所定周期でサンプリングした後に、所謂ビタビ検
出器(最尤データ検出器)にて最も確からしいデータを
検出する手法が提案されている。
2. Description of the Related Art For example, an optical disk recording medium (optical disk, magneto-optical disk) used in an optical disk device is
Due to its large capacity, interchangeability, high reliability, and the like, it is used in various fields such as recording and reproduction of image / image information and code recording for computers. In such an optical disk device, a method of recording and reproducing data with higher accuracy is desired as the recording density increases. As a method of recording and reproducing data with high accuracy on the optical disk recording medium, for example, a recording data signal is modulated into a so-called partial response (PR) waveform and recorded on the optical disk recording medium, while reproduction from the optical disk recording medium is performed. A method has been proposed in which a so-called Viterbi detector (maximum likelihood data detector) detects the most probable data after sampling a signal at a predetermined cycle.

【0003】図1に示す従来のPRMLシステム構成に
おいて、再生信号はアンプ(Amp)50及びローパス
フィルタ(LPF)51でアナログ処理され、ADC5
2によりデジタル変換され、等化器(EQ)53で等化
される。等化器53は、アナログ処理で行なっている場
合やアナログとデジタルの両方で行なっている場合とが
ある。デジタル化した値から位相検出器(Phase Detect
or)55により位相誤差を抽出し、その位相誤差を基に
位相や周波数をPLL54により調整したクロック(チ
ャネルクロック)を作成し、最適なサンプリング値をえ
るようなクロックをADC52へ供給する。図示してい
ないが、同様なクロックをロジックシステムにも供給す
る。
In the conventional PRML system configuration shown in FIG. 1, a reproduced signal is analog-processed by an amplifier (Amp) 50 and a low-pass filter (LPF) 51,
2 and is equalized by an equalizer (EQ) 53. The equalizer 53 may be performed by analog processing or may be performed by both analog and digital. Phase detector (Phase Detect)
(or) 55 to extract a phase error, create a clock (channel clock) whose phase and frequency are adjusted by the PLL 54 based on the phase error, and supply the ADC 52 with a clock for obtaining an optimal sampling value. Although not shown, a similar clock is also supplied to the logic system.

【0004】再生波形とサンプリング値の例を図2に示
す。PR(1,1)の理想信号をクロックの立ち上がり
でサンプリングすると「0」、「1」及び「2」の3レ
ベルが得られる。また、ナイキスト条件を満たすPR
(1,1)波形干渉の例を示す図3より、これは、
(1、7)変調((1、7)RLLC)のランダムデー
タに対するアイパターンからナイキスト条件を満たすよ
うなPR(1,1)波形干渉では3つのレベルとなるこ
とが理解できる。
FIG. 2 shows an example of a reproduced waveform and a sampling value. When the ideal signal of PR (1, 1) is sampled at the rising edge of the clock, three levels of "0", "1" and "2" are obtained. PR that satisfies Nyquist conditions
From FIG. 3 showing an example of (1, 1) waveform interference,
It can be understood that there are three levels in PR (1, 1) waveform interference that satisfies the Nyquist condition from an eye pattern for random data of (1, 7) modulation ((1, 7) RLLC).

【0005】PR(1、1)を例とした場合の基データ
とその期待値を図4に示す。図4より、データの遷移状
態の組み合わせによりナイキスト条件を満足した波形干
渉において、すなわち、PR(1、1)を例とした場合
において、遷移状態の組み合わせとその組み合わせに応
じて期待されるレベルを期待値Phで示す。ここで、状
態遷移S2からS1及びS1からS2の2つの組み合わ
せは(1、7)RLLCでは存在せず、後述するビタビ
検出では考慮されないため消去される。
FIG. 4 shows base data and its expected value in the case of PR (1, 1) as an example. From FIG. 4, in the case of waveform interference satisfying the Nyquist condition by a combination of data transition states, that is, in the case of PR (1, 1) as an example, the combination of transition states and the level expected according to the combination are shown as It is indicated by the expected value Ph. Here, the two combinations of the state transitions S2 to S1 and S1 to S2 do not exist in the (1, 7) RLLC and are not considered in Viterbi detection described later, and thus are deleted.

【0006】ビタビ検出は、図1のブランチメトリック
計算回路(BM)56、アッドコンペアセレクト(AC
S)58、パスメトリックメモリ(PMM)57及びパ
スメモリ(PM)59から構成されている。ブランチメ
トリック計算回路56は、期待値に対するブランチメト
リックを計算する。計算式を下記(1)から(6)に示
す。下記計算式では、ブランチメトリックBMn(n=
0,1,3,4,6及び7)は、時刻tでのサンプル値
ytと期待値Ph(h=0,1,3,4,6及び7)の
差の二乗を計算しているが、ブランチメトリックは相対
的な大きさがわかれば良いため差の絶対値でもかまわな
い。
The Viterbi detection is performed by a branch metric calculation circuit (BM) 56 shown in FIG.
S) 58, a path metric memory (PMM) 57 and a path memory (PM) 59. The branch metric calculation circuit 56 calculates a branch metric for the expected value. The calculation formulas are shown in (1) to (6) below. In the following formula, the branch metric BMn (n =
0, 1, 3, 4, 6, and 7) calculate the square of the difference between the sample value yt at time t and the expected value Ph (h = 0, 1, 3, 4, 6, and 7). Since the branch metric only needs to know its relative size, the absolute value of the difference may be used.

【0007】 BM0 = (yt−P0)2 = yt2 (1) BM1 = (yt−P1)2 = yt2 (2) BM3 = (yt−P3)2 = (yt−1)2 (3) BM4 = (yt−P4)2 = (yt−1)2 (4) BM6 = (yt−P6)2 = (yt−2)2 (5) BM7 = (yt−P7)2 = (yt−2)2 (6) 次に、ACS58でブランチメトリックを用いてパスメ
トリックを計算する。状態遷移を示す図5より、状態S
1へのパスは状態遷移S3からS1、また、状態S2へ
のパスは状態遷移S0からS2の各々1つしか存在しな
い。よって、パスメトリックPM(t−1、3)のパス
メトリックPM(t−1、0)から一義的に計算され
る。各パスメトリック計算式を(7)から(10)に示
す。
BM0 = (yt-P0) 2 = yt2 (1) BM1 = (yt-P1) 2 = yt2 (2) BM3 = (yt-P3) 2 = (yt-1) 2 (3) BM4 = ( yt-P4) 2 = (yt-1) 2 (4) BM6 = (yt-P6) 2 = (yt-2) 2 (5) BM7 = (yt-P7) 2 = (yt-2) 2 (6) Next, the path metric is calculated by the ACS 58 using the branch metric. From FIG. 5 showing the state transition, the state S
There is only one path from state transitions S3 to S1 for the path to state 1 and state transition S0 to state S2 for the path to state S2. Therefore, it is uniquely calculated from the path metric PM (t-1, 0) of the path metric PM (t-1, 3). Each path metric calculation formula is shown in (7) to (10).

【0008】 PM(t,0) = min(PM(t-1,0) +BM0,PM(t-1,1) +BM1)(7) PM(t,1) =PM(t-1,3) +BM3 (8) PM(t,2) =PM(t-1,0) +BM4 (9) PM(t,3) = min(PM(t-1,2) +BM6,PM(t-1,3) +BM7 (10) 上記式(7)で示されるPM(t,0) と式(10)で示さ
れるPM(t,3) の要素の大小関係は、下記式(7)−1
及び(7)−2と式(10)−1及び(10)−2の4
式の条件となる。
PM (t, 0) = min (PM (t−1,0) + BM0, PM (t−1,1) + BM1) (7) PM (t, 1) = PM (t−1,3) + BM3 (8) PM (t, 2) = PM (t-1,0) + BM4 (9) PM (t, 3) = min (PM (t-1,2) + BM6, PM (t-1,3) + BM7 (10) The magnitude relationship between the elements of PM (t, 0) expressed by the above equation (7) and PM (t, 3) expressed by the equation (10) is expressed by the following equation (7) -1
And (7) -2 and 4 of the formulas (10) -1 and (10) -2
It becomes the condition of the expression.

【0009】 PM(t-1,0) +BM0 < PM(t-1,1) +BM1 (7)−1 PM(t-1,0) +BM0 ≧ PM(t-1,1) +BM1 (7)−2 PM(t-1,2) +BM6 < PM(t-1,3) +BM7 (10)−1 PM(t-1,2) +BM6 ≧ PM(t-1,3) +BM7 (10)−2 それらの組み合わせにより発生するマージは、図6に示
すように4種類のマージに分類される。図6において、
下から上への状態遷移の場合、対応するパスメモリD0
からD3の値は「0」となる。例えば、S1からS2へ
の状態遷移の場合、D2の値は「0」となる。一方、上
から下への状態遷移の場合、対応するパスメモリD0か
らD3の値は「1」となる。例えば、図6に示される4
つのマージの組み合わせから少なくとも3つ以上のマー
ジが合わさってパスマージが発生する。図6において、
上述のPR(1、1)波形を例とした場合、サンプル値
「0」を取り得るのは条件、サンプル値「1」を取り
得るのは条件及びサンプル値「2」を取り得るのは条
件が成立する場合である。この場合、条件は起こり
得ない条件であるので、条件、及びの3つでマー
ジが発生し、パスマージの組み合わせは、図7に示す8
種類となる。図7において、収束するようにデータを過
去へ追跡することで、過去データを決める(●で示され
る点)ことができ、かつ、状態遷移が決定される。
PM (t-1,0) + BM0 <PM (t-1,1) + BM1 (7) -1 PM (t-1,0) + BM0 ≧ PM (t-1,1) + BM1 (7) − 2 PM (t-1,2) + BM6 <PM (t-1,3) + BM7 (10) -1 PM (t-1,2) + BM6 ≧ PM (t-1,3) + BM7 (10) -2 Those Are classified into four types of merges as shown in FIG. In FIG.
In the case of a state transition from bottom to top, the corresponding path memory D0
The value of D3 is “0”. For example, in the case of a state transition from S1 to S2, the value of D2 is “0”. On the other hand, in the case of a state transition from top to bottom, the values of the corresponding path memories D0 to D3 are “1”. For example, 4 shown in FIG.
A path merge occurs when at least three or more merges are combined from one merge combination. In FIG.
In the case of the above-mentioned PR (1, 1) waveform as an example, it is a condition that a sample value “0” can be taken, a condition that a sample value “1” can be taken, and a condition that a sample value “2” can be taken. Is satisfied. In this case, since the condition is a condition that cannot occur, a merge occurs under the condition and the condition.
Kind. In FIG. 7, by tracking the data to the past so as to converge, the past data can be determined (the point indicated by ●), and the state transition is determined.

【0010】パスメモリの構成を図8に示す。パスメト
リックで選択されたデータがD0からD3に入力され
る。入力データは、図6のマージに従って決められる。
図8においてシフトレジスタSRは、クロック同期で動
作するが、SRの前にはセレクタSel.があり、SR
に入るデータが選択される。例えば、D3に「1」が入
力された場合は、図6よりS3からS3へのパスが確か
らしいと判断されるため、D3のすべてのSRは時刻t
−1のD3のデータを時刻tのデータとする。一方、D
3に「0」が入力された場合は、図6よりS2からS3
のパスが確からしいと判断されるためD3の全てのSR
は時刻t−1のD2のデータを時刻tのデータとする。
このような動作を各SRとSel.が行うことにより、
パスメモリの後方ではパスマージ発生によりD0からD
3の各SRが同じデータに収束される。
FIG. 8 shows the configuration of the path memory. Data selected by the path metric is input to D0 to D3. The input data is determined according to the merge shown in FIG.
In FIG. 8, the shift register SR operates in clock synchronization, but before the SR, the selector Sel. There is, SR
The data to enter is selected. For example, if “1” is input to D3, it is determined from FIG. 6 that the path from S3 to S3 is likely to be correct, and all SRs of D3 are at time t
The data of D3 of −1 is data at time t. On the other hand, D
When "0" is input to 3, the process goes from S2 to S3 according to FIG.
All SRs in D3
Represents the data at D2 at time t-1 as the data at time t.
Such an operation is performed by each SR and Sel. By doing,
Behind the path memory, D0 to D due to path merge
3 are converged to the same data.

【0011】上述の従来のPRMLシステム構成は、線
形な重ね合わせで成る波形によるデータ再生に効果を奏
していた。
The above-described conventional PRML system configuration has been effective in reproducing data using a waveform composed of linear superpositions.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上述従来のPRMLの
動作原理において、対象とする波形は、線形な重ね合わ
せが成り立つ伝送系を対象としている。すなわち、再生
波形のサンプリング点がナイキスト条件を満足している
ことが前提であった。しかし、磁気ディスクや光ディス
クなどは、高密度化していく磁化の向き易さや読み出し
スポット(アパーチャ)などが対象ではなくなり、その
ため非線形ズレ成分が再生信号に含まれ、その結果、歪
みが発生する。例えば、データ高密度記録を実現するた
めの磁気超解像効果を持つ媒体(MSR(Magnetic Sup
er Resolution )媒体)では、光ビームの熱分布を利用
したマスクを形成することにより超解像効果をつくりだ
すため、媒体上を移動する光ビームの熱分布の偏りによ
って再生信号に非線形ズレ成分が発生し、この非線形ズ
レ成分のために再生波形に歪みが発生する。そのような
場合、従来のPRMLでは十分なデータ検出能力が得ら
れないという問題がある。
In the above-described operation principle of the conventional PRML, the target waveform is a transmission system in which linear superposition is established. That is, it was assumed that the sampling point of the reproduced waveform satisfies the Nyquist condition. However, magnetic disks, optical disks, and the like are no longer concerned with the easiness of magnetization orientation and read spots (apertures) that are increasing in density. Therefore, a nonlinear deviation component is included in the reproduced signal, and as a result, distortion occurs. For example, a medium having a magnetic super-resolution effect (MSR (Magnetic Sup
er Resolution) Medium creates a super-resolution effect by forming a mask using the heat distribution of the light beam, so a non-linear deviation component occurs in the reproduced signal due to the bias of the heat distribution of the light beam moving on the medium. However, a distortion occurs in the reproduced waveform due to the non-linear deviation component. In such a case, there is a problem that sufficient data detection capability cannot be obtained with the conventional PRML.

【0013】よって、歪みを含む再生波形に対しても有
効にビタビ検出が行なわれることが必要とされている。
そこで、本発明の第一の課題は、歪みを含む再生波形に
対しても有効にビタビ検出が行なわれるようにしたデー
タ再生システムを提供することである。また、本発明の
第二の課題は、そのシステムを用いてデータ再生する光
ディスク装置を提供することである。
Therefore, it is required that Viterbi detection be effectively performed even on a reproduced waveform including distortion.
Therefore, a first object of the present invention is to provide a data reproducing system in which Viterbi detection is effectively performed even on a reproduced waveform including distortion. A second object of the present invention is to provide an optical disk device for reproducing data using the system.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記第一の課題を解決す
るため、本発明は、請求項1に記載されるように、パー
シャルレスポンス波形の記録信号に従ってデータ記録の
なされた記録媒体からの再生信号を所定周期にてサンプ
リングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、上記パー
シャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリ
ング値とから演算されるブランチメトリック値に基づい
てパスメトリック値を演算し、そのパスメトリック値の
比較演算結果に基づいて再生データを決めるようにした
データ再生システムにおいて、記録データ単位に、所定
周期で複数のサンプリング位置でサンプリングする複数
サンプリング手段と、該複数サンプリング手段にて得ら
れた複数のサンプリング値と期待値に基づいて、各サン
プリング位置に応じたブランチメトリックを演算し、そ
れらのブランチメトリック値に対してサンプリング位置
に応じた重み付けをし、所定のデータ遷移状態に応じて
該ブランチメトリック値を合成することによって合成ブ
ランチメトリック値を算出する合成ブランチメトリック
演算手段とを有し、上記合成ブランチメトリック値をパ
スメトリック値の演算に用いるように構成される。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for reproducing data from a recording medium on which data is recorded in accordance with a partial response waveform recording signal. The signal is sampled at a predetermined cycle, and a path metric value is calculated based on a branch metric value calculated from an expected value determined by the partial response waveform and the sampling value according to a Viterbi decoding algorithm, and the path metric value is calculated. In a data reproduction system in which reproduction data is determined based on a result of a comparison operation, a plurality of sampling means for sampling at a plurality of sampling positions in a predetermined cycle in a recording data unit, and a plurality of sampling means obtained by the plurality of sampling means Response to each sampling position based on the A combined branch metric value by calculating the calculated branch metric, weighting the branch metric value according to the sampling position, and combining the branch metric value according to a predetermined data transition state. Metric calculation means, and is configured to use the combined branch metric value for calculating a path metric value.

【0015】このようなデータ再生システムでは、記録
データ単位に複数位置でサンプリングされ、サンプリン
グされた複数のサンプリング値のブランチメトリック値
から最も確からしいデータ遷移状態が抽出される。従っ
て、複数のサンプリング値からデータ遷移状態が考察さ
れるため、データ遷移状態の抽出の精度を向上すること
ができる。つまり、サンプリング位置がナイキスト条件
を満たさない場合に、複数位置のサンプリング値から歪
みを補正することが可能となる。
In such a data reproducing system, sampling is performed at a plurality of positions in units of recording data, and the most probable data transition state is extracted from branch metric values of a plurality of sampled sampled values. Therefore, since the data transition state is considered from a plurality of sampling values, the accuracy of extracting the data transition state can be improved. That is, when the sampling position does not satisfy the Nyquist condition, distortion can be corrected from the sampling values at a plurality of positions.

【0016】上記パーシャルレスポンス波形は、例え
ば、3値4状態のPR(1、1)ML又はPR(1、
2、1)ML、PR(1、2、2、1)ML、或いはP
R(1331)ML等の拘束長が長い波形である。上記
記録データ単位は、例えば、データ遷移状態を示す3ビ
ットで構成されるデータの単位である。
The partial response waveform is, for example, PR (1,1) ML or PR (1,1) in three values and four states.
2, 1) ML, PR (1, 2, 2, 1) ML or P
This is a waveform having a long constraint length such as R (1331) ML. The recording data unit is, for example, a data unit composed of 3 bits indicating a data transition state.

【0017】サンプリング位置がナイキスト条件を満た
さない場合においてもビタビ復号アルゴリズムを適用す
ることができるという観点から、本発明は、請求項2に
記載されるように、前記合成ブランチメトリック演算手
段は、前記サンプリング位置毎に、ブランチメトリック
値を演算する第一の演算手段と、サンプリング位置に応
じた重み付け係数を上記ブランチメトリック値に掛け合
わせて得られた値を、前記データ遷移状態に応じて加算
することによって合成ブランチメトリック値を算出する
第二の演算手段とを有するように構成することができ
る。
From the viewpoint that the Viterbi decoding algorithm can be applied even when the sampling position does not satisfy the Nyquist condition, according to the present invention, the combined branch metric calculation means includes: First calculating means for calculating a branch metric value for each sampling position; and adding a value obtained by multiplying the branch metric value by a weighting coefficient corresponding to the sampling position in accordance with the data transition state. And a second calculating means for calculating the combined branch metric value.

【0018】このようなデータ再生システムでは、先
ず、サンプリング位置毎のサンプリング値と期待値でデ
ータ遷移状態の重み付けをした第一のブランチメトリッ
ク値を演算する。次に、データ遷移状態毎に複数位置で
計算された第一のブランチメトリック値を足し合わせた
第二のブランチメトリック値が演算される。従って、複
数位置でサンプリングした場合においても、従来のビタ
ビ復号アルゴリズムに適用させることができる。
In such a data reproducing system, first, a first branch metric value in which a data transition state is weighted by a sampling value and an expected value for each sampling position is calculated. Next, a second branch metric value is calculated by adding the first branch metric values calculated at a plurality of positions for each data transition state. Therefore, even when sampling is performed at a plurality of positions, it can be applied to the conventional Viterbi decoding algorithm.

【0019】また、歪みの補正をより効果的に行なうと
いう観点から、本発明は、請求項3に記載されるよう
に、前記重み付け係数は、可変に設定できるように構成
される。さらに、所定周期で複数のサンプリング位置で
サンプリングするという観点から、本発明は、請求項4
に記載されるように、前記複数サンプリング手段は、ク
ロックを用いて、所定周期で複数のサンプリング位置で
サンプリングし、記録データ単位の複数のサンプリング
値から位相誤差量を抽出し、位相及び周波数の同期を行
なうように構成される。
From the viewpoint of more effectively correcting distortion, the present invention is configured such that the weighting coefficient can be variably set. Further, from the viewpoint of sampling at a plurality of sampling positions in a predetermined cycle, the present invention
As described in the above, the plurality of sampling means, using a clock, performs sampling at a plurality of sampling positions in a predetermined cycle, extracts a phase error amount from a plurality of sampling values of a recording data unit, and synchronizes a phase and a frequency. Is performed.

【0020】また、複数のサンプリング位置のサンプリ
ング値に応じて期待値が参照されるという観点から、本
発明は、請求項5に記載されるように、前記期待値は、
データ遷移状態とサンプリング位置との組み合わせに応
じた期待値が格納されたリファレンス領域から参照する
ように構成される。さらに、期待値を設定するという観
点から、本発明は、請求項6に記載されるように、前記
データ遷移状態から成るデータパターンに応じたリファ
レンス信号を、数回サンプリングすることによって取得
したサンプリング値の平均値を前記リファレンス領域に
格納するように構成される。または、本発明は、請求項
7に記載されるように、前記データ遷移状態から成るデ
ータパターンに応じて記録された信号を、数回サンプリ
ングすることによって取得したサンプリング値の平均値
を前記リファレンス領域に格納するように構成される。
Further, in view of the fact that the expected value is referred to according to the sampling values at a plurality of sampling positions, the present invention provides the following:
It is configured to refer from a reference area in which an expected value according to a combination of a data transition state and a sampling position is stored. Further, from the viewpoint of setting an expected value, the present invention provides, as described in claim 6, a sampling value obtained by sampling a reference signal corresponding to a data pattern composed of the data transition state several times. Is stored in the reference area. Alternatively, according to the present invention, an average value of sampling values obtained by sampling a signal recorded in accordance with a data pattern composed of the data transition state several times is used as the reference area. Is configured to be stored.

【0021】このようなデータ再生システムでは、基本
となるデータパターンに応じて記録された信号から期待
値が設定されるため、この期待値は予期される歪みを含
むことになり、実際のサンプリング値と期待値の差を小
さくすることができ、より確からしいブランチメトリッ
ク値を取得することが可能となる。さらに、学習した歪
みから、より確からしいブランチメトリック値を取得す
るという観点から、本発明は、請求項8に記載されるよ
うに、前記リファレンス領域から読み取った平均値を期
待値としてレジスタに設定するように構成される。さら
に、本発明は、請求項9に記載されるように、前記レジ
スタは、ファームウェアによって読み書き可能であり、
該ファームウェアの判断によって補正された値を設定で
きるように構成される。
In such a data reproducing system, an expected value is set from a signal recorded in accordance with a basic data pattern, so that the expected value includes an expected distortion, and an actual sampling value And the expected value can be reduced, and a more reliable branch metric value can be obtained. Further, from the viewpoint of obtaining a more likely branch metric value from the learned distortion, the present invention sets the average value read from the reference area as an expected value in a register as described in claim 8. It is configured as follows. Further, according to the present invention, as set forth in claim 9, the register is readable and writable by firmware;
It is configured such that a value corrected by the judgment of the firmware can be set.

【0022】このようなデータ再生システムでは、平均
値を必要に応じてレジスタに設定しておくことで、ファ
ームウェアが学習した歪みに応じてレジスタに設定され
た平均値を補正した値に書き換えて期待値とすることが
できる。従って、期待値は、歪みに応じて動的に補正す
ることができるので、ビタビ検出において、より効果的
なブランチメトリック値を得ることができる。
In such a data reproducing system, by setting the average value in the register as necessary, the average value set in the register is rewritten to a corrected value in accordance with the distortion learned by the firmware. It can be a value. Therefore, the expected value can be dynamically corrected according to the distortion, so that a more effective branch metric value can be obtained in Viterbi detection.

【0023】上記ファームウェアは、例えば、データ再
生システムを制御するようなMPU(Micro Processing
Unit )である。また、重み付け係数により、より確か
らしいブランチメトリック値を取得するという観点か
ら、本発明は、請求項11に記載されるように、前記重
み付け係数は、ファームウェアがレジスタに設定するこ
とによって、可変に設定できるように構成される。
The firmware includes, for example, an MPU (Micro Processing) for controlling a data reproduction system.
Unit). In addition, from the viewpoint of obtaining a more probable branch metric value by using a weighting coefficient, the present invention provides a method as set forth in claim 11, wherein the weighting coefficient is variably set by setting in a register by firmware. It is configured to be able.

【0024】上記第二の課題を解決するため、本発明
は、請求項12に記載されるように、パーシャルレスポ
ンス波形の記録信号に従って光学的にデータ記録のなさ
れた記録媒体からの光学的に再生信号を読み取る光学ヘ
ッドによって、該再生信号を所定周期にてサンプリング
し、ビタビ復号アルゴリズムに従って、上記パーシャル
レスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリング値
とから演算されるブランチメトリック値に基づいてパス
メトリック値を演算し、そのパスメトリック値の比較演
算結果に基づいてデータを再生する再生手段を有する光
ディスク装置において、上記再生手段は、記録データ単
位に、所定周期で複数のサンプリング位置でサンプリン
グする複数サンプリング手段と、該複数サンプリング手
段にて得られた複数のサンプリング値と期待値に基づい
て、各サンプリング位置に応じたブランチメトリックを
演算し、それらのブランチメトリック値に対してサンプ
リング位置に応じた重み付けをし、所定のデータ遷移状
態に応じて該ブランチメトリック値を合成することによ
って合成ブランチメトリック値を算出する合成ブランチ
メトリック演算手段とを有し、上記合成ブランチメトリ
ック値をパスメトリック値の演算に用いるように構成さ
れる。
In order to solve the above-mentioned second problem, the present invention provides an optical reproducing apparatus for optically reproducing data from a recording medium on which data is optically recorded in accordance with a recording signal of a partial response waveform. The reproduced signal is sampled at a predetermined cycle by an optical head that reads the signal, and a path metric value is calculated based on a branch metric value calculated from the expected value determined by the partial response waveform and the sampling value according to a Viterbi decoding algorithm. And reproducing means for reproducing data based on the result of the comparison operation of the path metric value, wherein the reproducing means comprises: a plurality of sampling means for performing sampling at a plurality of sampling positions at predetermined intervals in units of recording data. And a plurality obtained by the plurality of sampling means. Based on the sampling value and the expected value, a branch metric corresponding to each sampling position is calculated, the branch metric value is weighted according to the sampling position, and the branch metric value is determined according to a predetermined data transition state. And a combined branch metric calculation means for calculating a combined branch metric value by combining the above.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。本発明を適用した実施例に係る光
ディスク装置は、例えば、図9に示すように構成され
る。この光ディスク装置は、記録媒体として光磁気ディ
スクを使用する光磁気ディスク装置である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. An optical disc device according to an embodiment to which the present invention is applied is configured, for example, as shown in FIG. This optical disk device is a magneto-optical disk device using a magneto-optical disk as a recording medium.

【0026】図9において、この光磁気ディスク装置
は、記録媒体となる光磁気ディスク10、光学ヘッド2
0、アンプ21、再生系ユニット25、書込み系ユニッ
ト26、電磁石27、MPU28、サーボ系ユニット2
9及びモータ30を有している。光磁気ディスク10に
は、所定の記録規則(拘束長2のパーシャルレスポンス
PR(1、1))に従ったデータの記録がなされ、ま
た、この光磁気ディスク10からデータの再生が行なわ
れる。
Referring to FIG. 9, the magneto-optical disk drive includes a magneto-optical disk 10 serving as a recording medium and an optical head 2.
0, amplifier 21, reproducing unit 25, writing unit 26, electromagnet 27, MPU 28, servo unit 2
9 and a motor 30. Data is recorded on the magneto-optical disk 10 in accordance with a predetermined recording rule (partial response PR (1, 1) with a constraint length of 2), and data is reproduced from the magneto-optical disk 10.

【0027】MPU28は、ファームウェアとして動作
し、コネクタ32、インタフェース回路31を介して供
給される外部ユニット(図示せず)からのデータ再生命
令及びデータ書込み命令に従って、再生系ユニット2
5、書込み系ユニット26及びサーボ系ユニット29を
制御する。MPU28による再生系ユニット25の制御
に関しては後に詳述する。
The MPU 28 operates as firmware, and in accordance with a data reproduction command and a data write command from an external unit (not shown) supplied through the connector 32 and the interface circuit 31, the reproduction unit 2
5. Control the writing unit 26 and the servo unit 29. The control of the reproduction system unit 25 by the MPU 28 will be described later in detail.

【0028】上記光磁気ディスク装置では、データ再生
命令が供給されたときに、光学ヘッド20が光磁気ディ
スク10を光学的に走査し、その際光学ヘッド20から
出力される再生信号がアンプ21を介して再生系ユニッ
ト25に供給される。この再生系ユニット25は、供給
される再生信号を量子化すると共に、その量子化データ
から最尤(ML)復号アルゴリズム(例えば、ビタビ復
号アルゴリズム)に従って出力データを生成する。この
出力データが、MPU28に供給され、さらにMPU2
8からインターフェース回路31及びコネクタ32を介
して外部ユニットに出力される。
In the above-described magneto-optical disk device, when a data reproducing command is supplied, the optical head 20 optically scans the magneto-optical disk 10, and at this time, a reproduced signal output from the optical head 20 drives the amplifier 21. The signal is supplied to the reproduction system unit 25 via the control unit. The reproduction system unit 25 quantizes the supplied reproduction signal and generates output data from the quantized data according to a maximum likelihood (ML) decoding algorithm (for example, a Viterbi decoding algorithm). This output data is supplied to the MPU 28,
8 to an external unit via an interface circuit 31 and a connector 32.

【0029】一方、MPU28は、外部ユニットから記
録データと共に書込み命令を受信すると、この記録デー
タを所定の記録規制(例えば、パーシャルレスポンスP
R(1,1))に従って変調し、その変調されたデータ
を書込み系ユニット26に供給する。書込み系ユニット
26は、供給されたデータに従って光学ヘッド20の駆
動制御を行い、更にMPU28がその記録データの変調
にて得られたデータに基づいて電磁気27を制御する。
その結果、光磁気ディスク10に上記所定の記録規則に
従ったデータが書き込まれる。
On the other hand, when the MPU 28 receives the write command together with the recording data from the external unit, the MPU 28 restricts the recording data to a predetermined recording regulation (for example, a partial response P).
R (1, 1)), and supplies the modulated data to the writing unit 26. The writing unit 26 controls the driving of the optical head 20 in accordance with the supplied data, and the MPU 28 controls the electromagnetic field 27 based on the data obtained by modulating the recording data.
As a result, data according to the above-mentioned predetermined recording rule is written on the magneto-optical disk 10.

【0030】なお、MPU28にて制御されるサーボ系
ユニット29は、モータ30を駆動させて光磁気ディス
ク10を所定の速度で回転させると共に、光学ヘッド2
0を光磁気ディスク10の記録/再生位置に位置付け
る。上記図9の再生系ユニット25は、例えば、図10
に示すように構成することができる。
The servo system unit 29 controlled by the MPU 28 drives the motor 30 to rotate the magneto-optical disk 10 at a predetermined speed,
0 is positioned at the recording / reproducing position of the magneto-optical disk 10. The reproduction system unit 25 shown in FIG.
Can be configured as shown in FIG.

【0031】図9の光学ヘッド20からの再生信号は、
アンプ(Amp)111及びフィルター(LPF)11
2を経由してADC113へ供給される。また、PLL
119から同期クロックが生成される。従来との違い
は、マルチクロック(Multi-CLK)回路120で複数
点のサンプリング用にクロックが作成されることであ
る。Multi-CLK回路120で3倍化されたクロック
は、セレクタ(Selector)114で3つの等化器EQ_
M115、EQ116及びEQ_P117に並列に振り
分る。3つのブランチメトリックBM_M121、BM
122及びBM_P123は、各クロックに同期して検
出されたサンプル値に応じて6個のブランチメトリック
MB0からMB7の値を計算する。図4より、考え得る
状態遷移の組み合わせ8つの内2つの組み合わせは、実
際には起こり得ないので、起こり得る状態遷移の組み合
わせに応じたMB0からMB7のブランチメトリックが
計算される。
The reproduced signal from the optical head 20 shown in FIG.
Amplifier (Amp) 111 and Filter (LPF) 11
2 to the ADC 113. Also, PLL
From 119, a synchronous clock is generated. The difference from the related art is that a clock is created by the multi-clock (Multi-CLK) circuit 120 for sampling at a plurality of points. The clock tripled by the Multi-CLK circuit 120 is supplied to three equalizers EQ_ by a selector (Selector) 114.
Distribute in parallel to M115, EQ116 and EQ_P117. Three branch metrics BM_M121, BM
122 and BM_P 123 calculate the values of the six branch metrics MB0 to MB7 according to the sample values detected in synchronization with each clock. From FIG. 4, since two of the eight possible combinations of state transitions cannot actually occur, the branch metrics of MB0 to MB7 corresponding to the possible combinations of state transitions are calculated.

【0032】上述より、マルチクロック(Multi-CL
K)回路120でクロックを3倍化することにより、1
クロック内で複数ポイントにおいてサンプル値を検出す
ることが可能となる。図10において、ビタビ検出は、
ブランチメトリック(BM−MIX)回路124、AC
S(Add Compare Select)126、パスメトリックメモ
リ(PMM)125及びパスメモリ(PM)127から
構成される。このビタビ検出におけるブランチメトリッ
ク計算は、各BM_M121、BM122及びBM_P
123で計算されたブランチメトリック値に重み付けを
する。ACS126、PMM125及びPM127は、
従来と同等である。本発明に係るビタビ検出の重み付け
計算については後述する。
As described above, the multi-clock (Multi-CL)
K) By doubling the clock in the circuit 120, 1
It becomes possible to detect sample values at a plurality of points in the clock. In FIG. 10, the Viterbi detection
Branch metric (BM-MIX) circuit 124, AC
S (Add Compare Select) 126, path metric memory (PMM) 125 and path memory (PM) 127. The branch metric calculation in this Viterbi detection is performed by each of BM_M121, BM122 and BM_P
The branch metric value calculated in 123 is weighted. ACS 126, PMM 125 and PM 127 are:
Same as before. The weight calculation for Viterbi detection according to the present invention will be described later.

【0033】図10のマルチクロック回路120は、例
えば、図11に示すように構成することができる。図1
1(A)において、図10のPLL119のクロック信
号は(1)から取得され、シンセサイザー(Synthesize
r )1201により3倍クロック信号(2)となりカウ
ンタ(Counter )1202へ供給される。カウンタ12
02は、2ビットカウンタであり、1から開始し2、3
とカウントした後また1へ戻る。このカウンタ1202
の各ビットの出力C[0]及びC[1]は、3つの論理
回路not1203、not1204及びand125
によって、2ビットの値が論理演算され3つの出力信号
(a)、(b)及び(c)となる。図11(B)は、各
信号のタイムチャートを示す図であり、各符号は図11
(A)の符号に対応する。
The multi-clock circuit 120 shown in FIG. 10 can be configured, for example, as shown in FIG. FIG.
In 1 (A), the clock signal of the PLL 119 in FIG. 10 is obtained from (1), and a synthesizer (Synthesize) is obtained.
(r) A double clock signal (2) is supplied by 1201 to a counter (Counter) 1202. Counter 12
02 is a 2-bit counter, starting from 1 and 2, 3
And returns to 1. This counter 1202
The outputs C [0] and C [1] of each bit of three logical circuits not 1203, not 1204 and and 125
As a result, a logical operation is performed on a 2-bit value, resulting in three output signals (a), (b) and (c). FIG. 11B is a diagram showing a time chart of each signal.
(A) corresponds to the sign.

【0034】図10に示される第一の構成例において、
上記3倍化されたクロックに応じて十分高速に動作する
ADC113を用いた例である。マルチクロック回路1
20からADCへのクロック信号は、図11(B)に示
されるクロック信号(2)の3倍クロック信号が用いら
れる。また、この構成例では、3倍クロック信号を用い
たが、図11(A)のシンセサイザー1201を用い
て、サンプリングする複数ポイントに応じて、2倍以上
のクロック信号を生成すれば良い。
In the first configuration example shown in FIG.
This is an example in which the ADC 113 that operates at a sufficiently high speed in accordance with the tripled clock is used. Multi-clock circuit 1
As the clock signal from 20 to the ADC, a clock signal three times the clock signal (2) shown in FIG. 11B is used. Further, in this configuration example, a triple clock signal is used, but a double or more clock signal may be generated according to a plurality of sampling points using the synthesizer 1201 in FIG.

【0035】次に、図10のブランチメトリック(BM
_MIX)回路124は、例えば、図12に示されるよ
うに構成される。ブランチメトリック(BM_MIX)
回路124は、図9に示されるMPU28(ファームウ
ェア)で制御され、3つの乗算器(Multiply)124
1、1242及び1243と加算器1247とで構成さ
れる。
Next, the branch metric (BM) shown in FIG.
The _MIX) circuit 124 is configured, for example, as shown in FIG. Branch metric (BM_MIX)
The circuit 124 is controlled by the MPU 28 (firmware) shown in FIG.
1, 1242 and 1243 and an adder 1247.

【0036】乗算器1242は、サンプリングされた値
に応じて計算されたBM0からBM7までのブランチメ
トリックに所定の重み付けをする。例えば、重み付け係
数がK0であれば、各BM0からBM7にK0を掛け合
わせる。乗算器1241及び1243においても、重み
付け係数KM及びKPで同様の処理が行なわれる。重み
付け係数KM、K0及びKPは、図9のMPU28によ
って設定される。
The multiplier 1242 gives a predetermined weight to the branch metrics from BM0 to BM7 calculated according to the sampled values. For example, if the weighting coefficient is K0, each of BM0 to BM7 is multiplied by K0. In multipliers 1241 and 1243, similar processing is performed using weighting coefficients KM and KP. The weighting coefficients KM, K0 and KP are set by the MPU 28 in FIG.

【0037】加算器1247は、各乗算器で計算された
重み付けされたブランチメトリックを、状態遷移毎に足
し合わせる処理を行なう。これによって、ACS126
は、従来通りにBM0からBM7のブランチメトリック
の計算結果を取得することができ、従来からのビタビ検
出方法に適用することが可能となる。
The adder 1247 performs a process of adding the weighted branch metrics calculated by each multiplier for each state transition. This allows the ACS 126
Can obtain the calculation results of the branch metrics of BM0 to BM7 as in the past, and can be applied to the conventional Viterbi detection method.

【0038】また、BM0からBM7のブランチメトリ
ックの計算結果は、3つのサンプリング値から演算され
るため、より精度の高い結果を得ることが可能となる。
また、図9の再生系ユニット25は、例えば、図13に
示すようなADCを複数用いた構成にすることができ
る。図13において、既に説明した構成部分と同一構成
部分には同一符号を付し、その説明は省略する。図13
に示される第二の構成例では、3個のADCが用いられ
ている。
Further, since the calculation results of the branch metrics of BM0 to BM7 are calculated from three sampling values, it is possible to obtain more accurate results.
Further, the reproduction system unit 25 in FIG. 9 can have a configuration using a plurality of ADCs as shown in FIG. 13, for example. In FIG. 13, the same components as those already described are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. FIG.
In the second configuration example shown in (1), three ADCs are used.

【0039】各3個のADC1131〜1133は、そ
れぞれマルチクロック回路120からの図11(A)及
び(B)で示されるクロックの出力信号(a)、(b)
及び(c)に同期してサンプリングする。さらに、図9
の再生系ユニット25は、例えば、図14に示すような
構成にすることができる。図14において、既に説明し
た構成部分と同一構成部分には同一符号を付し、その説
明は省略する。図14に示される第三の構成例では、P
LL119へ供給する位相誤差量を1記録データに対す
る複数のサンプリング値から演算を行なう。信号を3つ
の等化器115〜117から取得することによって、同
期するレベルに達したことを検出することが容易にな
り、よって、位相誤差量を抽出し易くすることができ
る。
The three ADCs 1131 to 1133 output clock signals (a) and (b) shown in FIGS. 11A and 11B from the multi-clock circuit 120, respectively.
And sampling in synchronization with (c). Further, FIG.
The reproduction system unit 25 can be configured as shown in FIG. 14, for example. 14, the same components as those already described are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In the third configuration example shown in FIG.
The phase error amount supplied to the LL 119 is calculated from a plurality of sampling values for one recording data. By acquiring the signals from the three equalizers 115 to 117, it is easy to detect that the signal has reached the synchronized level, and thus it is possible to easily extract the phase error amount.

【0040】上記再生系ユニットの第一から第三の構成
例において、3倍のクロックで1チャンネルクロック中
に3つのサンプリング値が得られた場合、セレクタ又は
3つのADCにより各等化器へ供給し波形等化を行な
う。元の再生信号は同一であり、アナログ再生信号周波
数よりも2倍以上のサンプリングを行なうことによって
復元された元波形において、3つのサンプリングの時系
列も同一のパーシャルレスポンス特性の波形となる。
In the first to third configuration examples of the reproduction system unit, when three sampling values are obtained in one channel clock with a triple clock, the three sampling values are supplied to each equalizer by a selector or three ADCs. And performs waveform equalization. The original reproduced signal is the same, and in the original waveform restored by sampling at least twice the frequency of the analog reproduced signal, the time series of the three samplings also has the same partial response characteristics.

【0041】上記再生系ユニットの第一から第三の構成
例では、波形等化を3つの等化器を用いる構成を示した
が、サンプリング値をシリアルに供給し1つの等化器で
等化を行ない、その後、3つのサンプリング値を並列に
取得し、サンプリング値毎ににブランチメトリックを計
算することも可能である。サンプリングは、例えば、図
15で示されるような3点a、b及びcで行なわれる。
図15において、データ遷移0から7の各々のサンプリ
ング位置が示されている。これらサンプリング位置で採
取した3つのサンプリング値に対してブランチメトリッ
クが計算される。この例では、サンプリング位置は3点
であったが、2つ以上の複数点でのブランチメトリック
値が計算されれば良く、それ以上でも良い。
In the first to third configuration examples of the reproduction system unit, a configuration in which three equalizers are used for waveform equalization has been described. However, sampling values are supplied serially and equalization is performed by one equalizer. After that, three sampling values are acquired in parallel, and a branch metric can be calculated for each sampling value. Sampling is performed, for example, at three points a, b, and c as shown in FIG.
In FIG. 15, the sampling positions of data transitions 0 to 7 are shown. A branch metric is calculated for three sampling values collected at these sampling positions. In this example, the sampling positions are three points, but the branch metric values at two or more points may be calculated, and may be more.

【0042】このように、1チャネルクロック内で、従
来よりも複数点でサンプリングすることにより、データ
遷移に応じたブランチメトリック値の精度を向上させる
ことができる。次に、リファレンス領域のデータパター
ンとデータパターンに応じた理想波形の例を図16に示
す。図16に示されるデータパターンは、3チャンネル
クロック単位毎に図15で示されるデータ遷移を示し、
このデータパターンによって全ての組み合わせが示され
る。そして、図16には、このデータパターンに応じた
理想波形が示されている。
As described above, by sampling at a plurality of points within one channel clock as compared with the conventional case, the accuracy of the branch metric value according to the data transition can be improved. Next, FIG. 16 shows an example of a data pattern of the reference area and an ideal waveform corresponding to the data pattern. The data pattern shown in FIG. 16 shows the data transition shown in FIG. 15 every three channel clocks,
All combinations are indicated by this data pattern. FIG. 16 shows an ideal waveform corresponding to the data pattern.

【0043】このデータパターンをリファレンスパター
ンとして用いて、図13のデータ遷移毎にa、b及びc
点で数回サンプリングして得たサンプリング値を平均
し、それを期待値として設定しておく。このように期待
値を設定することにより、歪みを持った再生信号に対し
て、予め歪みを含めた期待値を設定することができる。
よって、ブランチメトリック計算が向上し、正しいデー
タ検出が可能となる。
Using this data pattern as a reference pattern, a, b and c are used for each data transition in FIG.
The sampling values obtained by sampling several times at the points are averaged and set as an expected value. By setting the expected value in this way, it is possible to set the expected value including the distortion in advance for the reproduced signal having the distortion.
Therefore, branch metric calculation is improved, and correct data detection becomes possible.

【0044】リファレンス領域のデータパターンとデー
タパターンに応じた歪みのある波形の例を図17に示
す。図17において、例えば、理想波形に対して歪みの
ある波形(太線)に応じた期待値が設定される。これに
よって、再生系ユニットにおけるデータ検出能力を向上
させることができる。MPUによるデータ遷移毎の期待
値を設定する構成として、例えば、図18に示されるよ
うに構成することができる。図18は、図10に示され
る第一の構成例に、さらにMPUによるデータ遷移毎の
期待値を設定する構成を加えたものである。図18にお
いて、既に説明した構成部分と同一構成部分には同一符
号を付し、その説明は省略する。
FIG. 17 shows an example of a data pattern in the reference area and a waveform having distortion according to the data pattern. In FIG. 17, for example, an expected value is set according to a waveform (thick line) distorted from the ideal waveform. As a result, the data detection capability of the reproduction unit can be improved. As a configuration for setting an expected value for each data transition by the MPU, for example, a configuration shown in FIG. 18 can be used. FIG. 18 is obtained by adding a configuration for setting an expected value for each data transition by the MPU to the first configuration example shown in FIG. In FIG. 18, the same components as those already described are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0045】図18に示される第四の構成例において、
図9の再生系ユニット25は、図10の第一の構成を有
し、さらに、平均個数設定レジスタ130、平均回路1
31、132及び133、コントローラ(Controller)
140、セレクタ(Sel.)141、142及び143、
レジスタXa、Xb及びXc、リファレンス領域150
とを有する。
In the fourth configuration example shown in FIG.
9 has the first configuration shown in FIG. 10, and further includes an average number setting register 130, an averaging circuit 1
31, 132 and 133, Controller
140, selectors (Sel.) 141, 142 and 143,
Registers Xa, Xb and Xc, reference area 150
And

【0046】リファレンス領域(VFO領域)150に
は、データ遷移0〜7とサンプリング位置a、b及びc
との組み合わせに応じたレジスタXa、Xb及びXcが
設定されており、組み合わせを示す各レジスタのアドレ
スが割り当てられている。各レジスタには、1クロック
前のサンプリング値の平均が格納されている。ここで、
レジスタXa、Xb及びXcにおいて、Xはデータ遷移
番号を示し、a、b及びcは図15に示されるデータ遷
移毎のサンプリング位置を示す。
In the reference area (VFO area) 150, data transitions 0 to 7 and sampling positions a, b, and c
Registers Xa, Xb, and Xc are set in accordance with the combination of, and the address of each register indicating the combination is assigned. Each register stores the average of the sampling value one clock before. here,
In the registers Xa, Xb, and Xc, X indicates a data transition number, and a, b, and c indicate sampling positions for each data transition shown in FIG.

【0047】コントローラ140は、MPU28から受
信した制御信号の1つであるレジスタ切り換え信号がレ
ジスタReadの命令の場合、レジスタXa〜XcのWrite/
Read動作をRead状態に切り換える。さらに、MPU28
からの平均値計算命令に応じて、レジスタXa、Xb及
びXcのWrite/Read動作を切り換えることによって、サ
ンプリング値の新たな平均値を取得する。
When the register switching signal, which is one of the control signals received from the MPU 28, is a register read command, the controller 140 writes / writes the registers Xa to Xc.
Switch Read operation to Read state. Furthermore, MPU28
By switching the write / read operation of the registers Xa, Xb, and Xc in accordance with the average value calculation instruction from the CPU, a new average value of the sampling values is obtained.

【0048】つまり、コントローラ140は、先ず、M
PU28からのレジスタReadの命令に応じてレジスタX
a〜XcへRead命令を送り、1クロック前の平均値をリ
ファレンス領域150から読み出し、平均回路131〜
133へ読み出した平均値を供給する。次に、平均回路
131〜133から新たな平均値を得ると、コントロー
ラ140は、レジスタXa〜XcへWrite 命令を送り、
セレクタ141〜143を切り換えることによって、新
たな平均値をレジスタXa〜Xcに書き込む。書き込ま
れた平均値が期待値となる。この様な動作を繰り返すこ
とによって学習し得られた期待値は、最も確からしい期
待値となる。この期待値は、ブランチメトリック121
〜123でブランチメトリック値を計算する際に参照さ
れる。
That is, the controller 140 first sets M
Register X in response to a register read instruction from PU 28
a to Xc are read, the average value one clock before is read from the reference area 150, and the averaging circuits 131 to
The read average value is supplied to 133. Next, when a new average value is obtained from the averaging circuits 131 to 133, the controller 140 sends a Write command to the registers Xa to Xc,
By switching the selectors 141 to 143, new average values are written to the registers Xa to Xc. The written average value becomes the expected value. The expected value learned by repeating such an operation is the most likely expected value. This expected value is determined by the branch metric 121
123123 is referred to when calculating a branch metric value.

【0049】各平均回路131〜133は、例えば、下
記計算式でサンプリング値を平均化すれば良い。 新Ave=((n−1)*旧Ave+新Smpl)/n 新平均値(新Ave)は、リファレンス領域150から
取得した旧Aveに所定の平均個数から1を引いた数
(n−1)を掛け合わせ、さらに、新しくサンプリング
されたサンプリング値(新Smpl)を足した結果を所
定の平均個数(n)で割った結果で表わされる。平均個
数は、平均個数設定レジスタ130で指定され、この平
均個数設定レジスタ130は、MPU28によって設定
される。平均個数が1個の場合は、レジスタXa〜Xc
に新たにサンプリングしたサンプリング値(新Smp
l)が平均値として格納される。
Each of the averaging circuits 131 to 133 may average the sampling values by the following formula, for example. New Ave = ((n-1) * Old Ave + New Smpl) / n The new average value (New Ave) is a number (n-1) obtained by subtracting 1 from a predetermined average number of old Ave acquired from the reference area 150. , And the result of adding a newly sampled sampling value (new Smpl) is divided by a predetermined average number (n). The average number is specified by the average number setting register 130, and the average number setting register 130 is set by the MPU 28. When the average number is one, the registers Xa to Xc
Newly sampled value (new Smp
l) is stored as an average value.

【0050】また、MPU28は、レジスタXa〜Xc
の読み書きが可能であるため、レジスタXa〜Xc内に
格納された平均値を読み取り、システムの特性を考慮し
たアルゴリズムによって補正し、必要に応じて値を書き
込むことにより期待値を補正することができる。上記第
一から第四の実施例において、パーシャルレスポンス波
形の例として3値4状態のPR(1、1)MLを示した
が、PR(1、2、1)ML、PR(1、2、2、1)
ML、或いはPR(1、3、3、1)ML等の拘束長が
長い場合でも同様に適用が可能である。
The MPU 28 has registers Xa to Xc
Is possible, the average value stored in the registers Xa to Xc is read, corrected by an algorithm in consideration of the characteristics of the system, and the expected value can be corrected by writing the value as necessary. . In the first to fourth embodiments, PR (1, 1) ML in three values and four states is shown as an example of the partial response waveform, but PR (1, 2, 1) ML, PR (1, 2,. 2, 1)
The same applies to the case where the constraint length is long, such as ML or PR (1, 3, 3, 1) ML.

【0051】上記第四の実施例におけるデータ遷移毎の
期待値を設定する構成は、第一の実施例に限らず、第二
及び第三の実施例にも適用できる。上述によって、非線
形ズレ成分が再生信号に含まれ、サンプリング点がナイ
キスト条件を満たさない場合においても、複数位置での
サンプリング、重み付け係数の設定、又は、期待値の設
定によって、歪み補正が可能であるため、十分なデータ
検出能力が得られる。
The configuration for setting the expected value for each data transition in the fourth embodiment can be applied not only to the first embodiment but also to the second and third embodiments. As described above, even when a nonlinear deviation component is included in the reproduced signal and the sampling point does not satisfy the Nyquist condition, distortion correction can be performed by sampling at a plurality of positions, setting a weighting coefficient, or setting an expected value. Therefore, sufficient data detection capability can be obtained.

【0052】なお、上記各例では、光ディスク記録媒体
(具体的には、光磁気ディスク)のデータ再生システム
について述べたが、本発明は、これに限らず、磁気ディ
スク等の記録媒体のデータ再生システムにも適用可能で
ある。
In each of the above examples, a data reproducing system for an optical disk recording medium (specifically, a magneto-optical disk) has been described. However, the present invention is not limited to this. It is also applicable to systems.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上、説明してきたように、請求項1乃
至11記載の本願発明によれば、複数のサンプリング位
置でサンプリング値を取得し、重み付けされたブランチ
メトリック値を演算することにより、最も確からしいデ
ータ遷移状態を抽出することができる。従って、データ
検出の精度を向上させることができる。また、記録媒体
の特性や再生システムの特性に依存した再生信号の特性
(非線形ズレ量等)に応じて期待値又は重み付け係数を
変更することにより、実際のサンプリング値と期待値の
差を小さくすることができ、より確からしいデータがよ
り精度良く再生することができる。
As described above, according to the present invention, the sampling values are acquired at a plurality of sampling positions, and the weighted branch metric values are calculated, whereby the most significant value is obtained. Probable data transition states can be extracted. Therefore, the accuracy of data detection can be improved. Further, the difference between the actual sampling value and the expected value is reduced by changing the expected value or the weighting coefficient according to the characteristics of the reproduction signal (such as the amount of nonlinear deviation) depending on the characteristics of the recording medium and the characteristics of the reproduction system. And more reliable data can be reproduced with higher accuracy.

【0054】また、請求項12記載の本願発明によれ
ば、複数のサンプリング位置でサンプリング値を取得
し、重み付けされたブランチメトリック値を演算するこ
とにより、最も確からしいデータ遷移状態を抽出し、非
線形ズレ量等を補正するように期待値又は重み付け係数
を変更することにより、実際のサンプリング値と期待値
の差を小さくすることができ、より確からしいデータが
より精度良く再生することができる光ディスク装置を提
供することができる。
According to the twelfth aspect of the present invention, the most probable data transition state is extracted by acquiring sampling values at a plurality of sampling positions and calculating a weighted branch metric value. An optical disc device that can reduce the difference between the actual sampled value and the expected value by changing the expected value or the weighting coefficient so as to correct the deviation amount, etc., and reproduce more accurate data with higher accuracy. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、従来のPRMLシステム構成を示す図
である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a conventional PRML system.

【図2】図2は、再生波形とサンプリング値の例を示す
図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a reproduction waveform and a sampling value.

【図3】図3は、ナイキスト条件を満たす波形干渉の例
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of waveform interference satisfying a Nyquist condition.

【図4】図4は、基データとその期待値の例を示す図で
ある。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of base data and its expected value;

【図5】図5は、状態遷移図である。FIG. 5 is a state transition diagram.

【図6】図6は、マージの種類を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating types of merge.

【図7】図7は、パスマージの組み合わせを示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram illustrating a combination of path merges;

【図8】図8は、パスメモリの構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a path memory;

【図9】図9は、光ディスク装置の構成例を示す図であ
る。
FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration example of an optical disc device;

【図10】図10は、再生系ユニットの第一の構成例を
示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a first configuration example of a reproduction system unit.

【図11】図11は、マルチクロック回路の構成例を示
す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating a configuration example of a multi-clock circuit.

【図12】図12は、BM−MIX回路の構成例を示す
図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating a configuration example of a BM-MIX circuit;

【図13】図13は、再生系ユニットの第二の構成例を
示す図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a second configuration example of the reproduction system unit.

【図14】図14は、再生系ユニットの第三の構成例を
示す図である。
FIG. 14 is a diagram illustrating a third configuration example of the reproduction system unit.

【図15】図15は、データ遷移とそのサンプリング位
置の例を示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating an example of data transition and its sampling position.

【図16】図16は、リファレンス領域のデータパター
ンと理想波形の例を示す図である。
FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a data pattern and an ideal waveform in a reference area.

【図17】図17は、リファレンス領域のデータパター
ンと歪みのある波形の例を示す図である。
FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a data pattern in a reference area and a waveform having distortion.

【図18】図18は、再生系ユニットの第四の構成例を
示す図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating a fourth configuration example of the reproduction system unit.

【符号の説明】 10 光磁気ディスク 25 再生系ユニット 28 MPU 114 セレクタ 115、116、117 等化器 120 マルチクロック 121、122、123 ブランチメトリック計算 124 ブランチメトリック計算(重み付け計
算) 125 パスメトリックメモリ 126 ACS(Add Compare Select) 127 パスメトリック
[Description of Signs] 10 Magneto-optical disk 25 Reproduction system unit 28 MPU 114 Selector 115, 116, 117 Equalizer 120 Multiclock 121, 122, 123 Branch metric calculation 124 Branch metric calculation (weighting calculation) 125 Path metric memory 126 ACS (Add Compare Select) 127 Path Metric

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D044 BC01 BC02 CC04 FG05 GL31 GL32 GM12 GM15 5D090 AA01 CC04 DD03 EE14 EE15 EE16  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5D044 BC01 BC02 CC04 FG05 GL31 GL32 GM12 GM15 5D090 AA01 CC04 DD03 EE14 EE15 EE16

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パーシャルレスポンス波形の記録信号に
従ってデータ記録のなされた記録媒体からの再生信号を
所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズム
に従って、上記パーシャルレスポンス波形にて定まる期
待値と当該サンプリング値とから演算されるブランチメ
トリック値に基づいてパスメトリック値を演算し、その
パスメトリック値の比較演算結果に基づいて再生データ
を決めるようにしたデータ再生システムにおいて、 記録データ単位に、所定周期で複数のサンプリング位置
でサンプリングする複数サンプリング手段と、 該複数サンプリング手段にて得られた複数のサンプリン
グ値と期待値に基づいて、各サンプリング位置に応じた
ブランチメトリックを演算し、それらのブランチメトリ
ック値に対してサンプリング位置に応じた重み付けを
し、所定のデータ遷移状態に応じて該ブランチメトリッ
ク値を合成することによって合成ブランチメトリック値
を算出する合成ブランチメトリック演算手段とを有し、 上記合成ブランチメトリック値をパスメトリック値の演
算に用いるようにしたデータ再生システム。
1. A reproduction signal from a recording medium on which data is recorded according to a recording signal of a partial response waveform is sampled at a predetermined period, and an expected value determined by the partial response waveform and the sampling value are determined according to a Viterbi decoding algorithm. A path metric value based on the branch metric value calculated from the data, and determining the reproduction data based on a result of the comparison operation of the path metric value. A plurality of sampling means for sampling at the sampling position; a branch metric corresponding to each sampling position is calculated based on a plurality of sampling values and an expected value obtained by the plurality of sampling means; Sampling position Means for calculating a combined branch metric value by combining the branch metric value according to a predetermined data transition state, and calculating the combined branch metric value as a path metric value. A data reproduction system used for the calculation of.
【請求項2】 前記合成ブランチメトリック演算手段
は、 前記サンプリング位置毎に、ブランチメトリック値を演
算する第一の演算手段と、 サンプリング位置に応じた重み付け係数を上記ブランチ
メトリック値に掛け合わせて得られた値を、前記データ
遷移状態に応じて加算することによって合成ブランチメ
トリック値を算出する第二の演算手段とを有するように
した請求項1記載のデータ再生システム。
2. The combined branch metric calculating means is obtained by first calculating a branch metric value for each sampling position, and multiplying the branch metric value by a weighting coefficient corresponding to the sampling position. 2. A data reproducing system according to claim 1, further comprising: a second calculating means for calculating a combined branch metric value by adding the calculated values to the data transition state according to the data transition state.
【請求項3】 前記重み付け係数は、可変に設定できる
ようにした請求項1乃至2記載のデータ再生システム。
3. The data reproducing system according to claim 1, wherein said weighting coefficient can be set variably.
【請求項4】 前記複数サンプリング手段は、クロック
を用いて、所定周期で複数のサンプリング位置でサンプ
リングし、記録データ単位の複数のサンプリング値から
位相誤差量を抽出し、位相及び周波数の同期を行なうよ
うにした請求項1記載のデータ再生システム。
4. The plurality of sampling units sample at a plurality of sampling positions in a predetermined cycle using a clock, extract a phase error amount from a plurality of sampling values of a recording data unit, and synchronize phase and frequency. 2. The data reproduction system according to claim 1, wherein:
【請求項5】 前記期待値は、データ遷移状態とサンプ
リング位置との組み合わせに応じた期待値が格納された
リファレンス領域から参照するようにした請求項1記載
のデータ再生システム。
5. The data reproduction system according to claim 1, wherein the expected value is referred to from a reference area storing an expected value corresponding to a combination of a data transition state and a sampling position.
【請求項6】 前記データ遷移状態から成るデータパタ
ーンに応じたリファレンス信号を、数回サンプリングす
ることによって取得したサンプリング値の平均値を前記
リファレンス領域に格納するようにした請求項5記載の
データ再生システム。
6. The data reproduction according to claim 5, wherein an average value of sampling values obtained by sampling a reference signal corresponding to a data pattern composed of the data transition state several times is stored in the reference area. system.
【請求項7】 前記データ遷移状態から成るデータパタ
ーンに応じて記録された信号を、数回サンプリングする
ことによって取得したサンプリング値の平均値を前記リ
ファレンス領域に格納するようにした請求項5記載のデ
ータ再生システム。
7. The reference area according to claim 5, wherein an average value of sampling values obtained by sampling a signal recorded according to a data pattern composed of the data transition state several times is stored in the reference area. Data playback system.
【請求項8】 前記リファレンス領域から読み取った平
均値を期待値としてレジスタに設定するようにした請求
項5記載のデータ再生システム。
8. The data reproduction system according to claim 5, wherein an average value read from said reference area is set as an expected value in a register.
【請求項9】 前記レジスタは、ファームウェアによっ
て読み書き可能であり、該ファームウェアの判断によっ
て補正された値を設定できるようにした請求項8記載の
データ再生システム。
9. The data reproducing system according to claim 8, wherein said register is readable and writable by firmware, and can set a value corrected by the judgment of said firmware.
【請求項10】 前記サンプリング回数を1回とするこ
とによって、前記ファームウェアが前記サンプリング値
を直接読み取ることができるようにした請求項9記載の
データ再生システム。
10. The data reproducing system according to claim 9, wherein the firmware can directly read the sampling value by setting the number of times of sampling to one.
【請求項11】 前記重み付け係数は、ファームウェア
がレジスタに設定することによって、可変に設定できる
ようにした請求項3記載のデータ再生システム。
11. The data reproducing system according to claim 3, wherein the weighting coefficient can be variably set by setting in a register by firmware.
【請求項12】 パーシャルレスポンス波形の記録信号
に従って光学的にデータ記録のなされた記録媒体からの
光学的に再生信号を読み取る光学ヘッドによって、該再
生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アル
ゴリズムに従って、上記パーシャルレスポンス波形にて
定まる期待値と当該サンプリング値とから演算されるブ
ランチメトリック値に基づいてパスメトリック値を演算
し、そのパスメトリック値の比較演算結果に基づいてデ
ータを再生する再生手段を有する光ディスク装置におい
て、 上記再生手段は、 記録データ単位に、所定周期で複数のサンプリング位置
でサンプリングする複数サンプリング手段と、 該複数サンプリング手段にて得られた複数のサンプリン
グ値と期待値に基づいて、各サンプリング位置に応じた
ブランチメトリックを演算し、それらのブランチメトリ
ック値に対してサンプリング位置に応じた重み付けを
し、所定のデータ遷移状態に応じて該ブランチメトリッ
ク値を合成することによって合成ブランチメトリック値
を算出する合成ブランチメトリック演算手段とを有し、 上記合成ブランチメトリック値をパスメトリック値の演
算に用いるようにした光ディスク装置。
12. A reproduction signal is sampled at a predetermined cycle by an optical head for reading a reproduction signal optically from a recording medium on which data is optically recorded in accordance with a recording signal of a partial response waveform, and according to a Viterbi decoding algorithm. Reproducing means for calculating a path metric value based on a branch metric value calculated from an expected value determined by the partial response waveform and the sampling value, and reproducing data based on a comparison calculation result of the path metric value. In the optical disc apparatus having the above, the reproducing means comprises: a plurality of sampling means for sampling at a plurality of sampling positions in a predetermined cycle in a recording data unit; and a plurality of sampling values and an expected value obtained by the plurality of sampling means. Bra according to each sampling position A combined branch metric value by calculating multi-metrics, weighting those branch metric values according to the sampling position, and combining the branch metric values according to a predetermined data transition state. An optical disc device, comprising: arithmetic means, wherein the combined branch metric value is used for calculating a path metric value.
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