JP2001177768A5

JP2001177768A5 -

Info

Publication number: JP2001177768A5
Application number: JP1999356001A
Authority: JP
Filing date: 1999-12-15
Publication date: 2007-02-08

Description

【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体像を撮像するための撮像素子と、
この撮像素子の所定の撮像動作状況における暗出力レベルを検出する暗出力レベル検出手段と、
この暗出力レベル検出手段が検出した暗出力レベルの値に基づいて所定数以下の画素を欠陥画素として検出する欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子による本撮像時において各画素に関してその出力画素信号から前記暗出力レベルの値を減算する暗出力補正手段と、
前記撮像素子による本撮像時において前記欠陥画素検出手段が検出した欠陥画素の情報に関しては当該画素近傍の画素情報によってこれを補償する画素欠陥補償手段と、
を備えたことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記欠陥画素検出手段による欠陥画素の検出は、前記暗出力レベル検出手段が検出した暗出力レベルの値が大きいものから所定数以下の画素を欠陥画素として検出するものであることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】
前記暗出力補正手段による補正処理を、前記画素欠陥補償手段による補償処理の処理に先行して行うことを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項４】
前記撮像素子に対する露光を遮断した状態で該撮像素子における電荷蓄積及び読み出し動作を実行するテスト撮像手段を有し、前記暗出力レベル検出手段は、前記テスト撮像手段によるテスト撮像によって得られた撮像素子出力レベルと、当該本撮像において使用された露出制御における電荷蓄積時間と、に基づいて本撮像時の暗出力レベルを算出するものであることを特徴とする請求項１乃至３の何れかに記載の撮像装置。
【請求項５】
前記欠陥画素検出手段は、前記暗出力レベル検出手段によって得られた前記暗出力レベルの値を所定の画素欠陥判定レベルと比較することにより欠陥画素を判定するものであり、一旦判定された欠陥画素の数が前記所定数を超える場合には、前記画素欠陥判定レベルを変更した後に再度欠陥画素の判定を行わせるものであることを特徴とする請求項１乃至４の何れかに記載の撮像装置。
【請求項６】
前記画素欠陥判定レベルの初期設定値は、前記撮像装置における画像取扱いレベルの最大値の５〜２０％であることを特徴とする請求項５記載の撮像装置。 [Claims]
[Claim 1]
An image sensor for capturing a subject image and
A dark output level detecting means for detecting a dark output level in a predetermined imaging operation condition of the image sensor, and a dark output level detecting means.
A defective pixel detecting means that detects a predetermined number or less of pixels as defective pixels based on the value of the dark output level detected by the dark output level detecting means.
A dark output correction means for subtracting the value of the dark output level from the output pixel signal for each pixel at the time of main imaging by the image sensor.
Regarding the information of the defective pixel detected by the defective pixel detecting means at the time of the main imaging by the image pickup element, the pixel defect compensating means for compensating for the information of the defective pixel by the pixel information in the vicinity of the pixel
An imaging device characterized by being equipped with.
2.
The detection of defective pixels by the defective pixel detecting means is characterized in that a predetermined number or less of pixels having a large dark output level value detected by the dark output level detecting means are detected as defective pixels. Item 1. The imaging device according to item 1.
3.
The imaging apparatus according to claim 1, wherein the correction process by the dark output correction means is performed prior to the process of the compensation process by the pixel defect compensation means.
4.
It has a test image pickup means for executing charge accumulation and readout operations in the image pickup device in a state where exposure to the image pickup element is blocked, and the dark output level detection means is an image pickup device obtained by test imaging by the test image pickup means. The invention according to any one of claims 1 to 3, wherein the dark output level at the time of the main imaging is calculated based on the output level and the charge accumulation time in the exposure control used in the present imaging. Image sensor.
5.
The defective pixel detecting means determines a defective pixel by comparing the value of the dark output level obtained by the dark output level detecting means with a predetermined pixel defect determination level, and the defective pixel once determined. The imaging apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein when the number of the pixels exceeds the predetermined number, the defective pixels are determined again after changing the pixel defect determination level. ..
6.
The imaging device according to claim 5 , wherein the initial setting value of the pixel defect determination level is 5 to 20% of the maximum value of the image handling level in the imaging device.