JP2001168566A - Cooler for electronic part tester - Google Patents

Cooler for electronic part tester

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JP2001168566A
JP2001168566A JP34993599A JP34993599A JP2001168566A JP 2001168566 A JP2001168566 A JP 2001168566A JP 34993599 A JP34993599 A JP 34993599A JP 34993599 A JP34993599 A JP 34993599A JP 2001168566 A JP2001168566 A JP 2001168566A
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JP
Japan
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cooling medium
cooling
electronic component
branch header
sub
Prior art date
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Application number
JP34993599A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Fujimoto
明博 藤本
Koji Nakagawa
幸司 中川
Shigekatsu Yajima
重勝 矢島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NISHIYAMA KK
Advantest Corp
Nishiyama Corp
Original Assignee
NISHIYAMA KK
Advantest Corp
Nishiyama Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cooler in which balance of flow rate can be adjusted easily while keeping a high accuracy of flow rate and saving the space. SOLUTION: The cooler 2 supplies cooling medium to each of a plurality of printed boards 3 fixed to an electronic part tester 1 through a branch header 22 having at least one outlet 222a of cooling medium provided with an orifice 223.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品が実装さ
れた基板を冷却するための冷却装置、特に冷却用媒体の
分岐ヘッダに関し、電子部品試験装置のテストヘッド等
に用いて好ましい冷却装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cooling device for cooling a substrate on which electronic components are mounted, and more particularly to a branch header for a cooling medium, and more particularly to a cooling device which is preferably used for a test head of an electronic component testing device. .

【0002】[0002]

【従来の技術】ハンドラ (handler)と称される電子部品
試験装置では、多数の被試験ICをハンドラ内に搬送
し、各被試験ICをテストヘッドに電気的に接触させ、
電子部品試験装置本体(以下、テスタともいう。)に試
験を行わせる。そして、試験を終了すると各被試験IC
をテストヘッドから払い出し、試験結果に応じて良品や
不良品といったカテゴリへの仕分けが行われる。
2. Description of the Related Art In an electronic component test apparatus called a handler, a large number of ICs under test are transported into a handler, and each IC under test is brought into electrical contact with a test head.
A test is performed by an electronic component test apparatus main body (hereinafter, also referred to as a tester). When the test is completed, each IC under test is
From the test head, and sorting into categories such as non-defective products and defective products is performed according to the test results.

【0003】被試験ICが電気的に接続されるテストヘ
ッドには、テスタとの間で各種のテスト信号を送受する
ための電気回路が構築されたプリント基板が設けられて
いる。この種のプリント基板では、その片面または両面
に多数の大規模集積回路モジュール(以下、LSIモジ
ュールともいう。)が実装されているので、LSIモジ
ュールの動作速度が高速になればなる程、またLSIモ
ジュールの集積度が高密度になればなる程、個々のLS
Iモジュールから発生する熱量が増加する。
A test head to which an IC under test is electrically connected is provided with a printed circuit board on which an electric circuit for transmitting and receiving various test signals to and from a tester is constructed. In this type of printed circuit board, a large number of large-scale integrated circuit modules (hereinafter, also referred to as LSI modules) are mounted on one or both sides thereof, so that the higher the operating speed of the LSI module becomes, the more the LSI becomes. The higher the module integration, the higher the individual LS
The amount of heat generated from the I module increases.

【0004】このため、パーフロロカーボンや超純水な
どの絶縁性液体からなる冷媒を用いてプリント基板を強
制冷却することが行われている(たとえば、特開平10
−51169号公報参照)。
For this reason, the printed circuit board is forcibly cooled using a refrigerant made of an insulating liquid such as perfluorocarbon or ultrapure water (see, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No.
-51169).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した絶
縁性液体冷媒を用いたプリント基板の冷却装置では、複
数枚のプリント基板に冷却用媒体を流すために、循環回
路に分岐ヘッダが設けられ、ここで冷却用媒体が各プリ
ント基板に分岐されるようになっている。また、各プリ
ント基板へ分岐される冷却用媒体の流量を調節するため
に、分岐ヘッダの下流側に流量調節弁と流量計とが設け
られている。そして、各プリント基板に分岐された冷却
用媒体の流量が目的とする流量になるように、流量計を
目視しながら流量調節弁の開度が調節される。
By the way, in the above-described apparatus for cooling a printed circuit board using an insulating liquid refrigerant, a branch header is provided in a circulation circuit for flowing a cooling medium through a plurality of printed circuit boards. Here, the cooling medium is branched to each printed circuit board. Further, in order to adjust the flow rate of the cooling medium branched to each printed circuit board, a flow control valve and a flow meter are provided downstream of the branch header. Then, the opening of the flow control valve is adjusted while visually checking the flow meter so that the flow rate of the cooling medium branched to each printed circuit board becomes the target flow rate.

【0006】ところが、こうしたトライ&エラー式に流
量調節する作業はきわめて煩雑で実用的ではなく、各プ
リント基板に目的とする流量の冷媒が流れるように調節
するのは至難の業である。
However, such a work of adjusting the flow rate in a try-and-error manner is extremely complicated and impractical, and it is extremely difficult to adjust the flow rate of a desired flow of refrigerant to each printed circuit board.

【0007】また、テストヘッドには複数枚のプリント
基板が差し込まれ、しかも被試験ICの同時測定数の増
加やテスト内容の複雑化等々の理由により、テストヘッ
ドに設けられるプリント基板の枚数も増加傾向にあるた
め、プリント基板間の隙間はますます減少する傾向にあ
る。たとえば、近年のテストヘッドでは16mm前後の
隙間でプリント基板が配置されている。
In addition, a plurality of printed circuit boards are inserted into the test head, and the number of printed circuit boards provided in the test head is also increased due to an increase in the number of simultaneously measured ICs to be tested and a complicated test content. Due to this tendency, the gap between the printed circuit boards tends to decrease more and more. For example, in recent test heads, printed boards are arranged with a gap of about 16 mm.

【0008】したがって、分岐ヘッダの下流に設けるべ
き流量調節弁や流量計といった機器の取付スペースがな
くなり、仮にこれらの機器を装着しようとするとテスト
ヘッド自体が大型化する。
Accordingly, there is no space for mounting devices such as a flow control valve and a flow meter to be provided downstream of the branch header, and if these devices are to be mounted, the test head itself becomes large.

【0009】尤も、スペースの問題を解消するために流
量調節弁および流量計に代えて定流量弁を採用すること
も考えられるが、従来の定流量弁はテストヘッドの大型
化を抑制するには未だ大き過ぎ、しかも定流量弁はその
流量精度が±8%前後で、冷却のバラツキが大きい。特
に、電子部品試験装置のテストヘッドにおいては、テス
ト信号が高周波になればなる程、LSIモジュールに実
装された電子部品からの発熱量が増加し、その冷却精度
も厳しく要求される。
Although it is conceivable to adopt a constant flow valve in place of the flow control valve and the flow meter in order to solve the problem of space, the conventional constant flow valve is required to suppress an increase in the size of the test head. It is still too large, and the flow rate accuracy of the constant flow valve is around ± 8%, and the variation in cooling is large. In particular, in a test head of an electronic component testing apparatus, the higher the frequency of the test signal, the greater the amount of heat generated from the electronic components mounted on the LSI module, and the more strict cooling accuracy is required.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、流量バランス
の調節が容易で且つ流量精度が高く、省スペース化を図
ることができる冷却装置およびその評価方法を提供する
ことを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a cooling apparatus which can easily adjust the flow rate balance, has high flow rate accuracy, and saves space, and a method for evaluating the cooling apparatus.

【0011】(1)本発明の第1の観点によれば、電子
部品試験装置に装着された複数の基板のそれぞれに対
し、分岐ヘッダを介して冷却用媒体を供給する冷却装置
であって、前記分岐ヘッダの冷却用媒体の流入口および
流出口の少なくとも一つに、オリフィスが設けられてい
る電子部品試験装置の冷却装置が提供される。
(1) According to a first aspect of the present invention, there is provided a cooling device for supplying a cooling medium via a branch header to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test apparatus, A cooling device for an electronic component test apparatus is provided, wherein at least one of an inlet and an outlet of a cooling medium of the branch header is provided with an orifice.

【0012】この発明の実施形態として、電子部品試験
装置に装着される複数の基板のそれぞれに対し冷却用媒
体を供給する冷却装置であって、冷却用冷媒の供給源
と、前記供給源に接続された主管と、前記それぞれの基
板に前記冷却用媒体を導く副管と、前記主管と前記副管
との間に設けられ前記主管により導かれた冷却用媒体を
前記それぞれの副管に分岐させる分岐ヘッダとを備え、
前記分岐ヘッダと前記副管との少なくとも一の接続部に
オリフィスが設けられている電子部品試験装置の冷却装
置を挙げることができる。
According to an embodiment of the present invention, there is provided a cooling apparatus for supplying a cooling medium to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test apparatus, wherein the cooling medium is connected to a supply source of the cooling medium. Main pipe, a sub pipe for guiding the cooling medium to the respective substrates, and a cooling medium provided between the main pipe and the sub pipe and guided by the main pipe to branch to the respective sub pipes. With a branch header,
A cooling device of an electronic component testing device in which an orifice is provided at at least one connection portion between the branch header and the sub pipe can be given.

【0013】また、他の実施形態として、電子部品試験
装置に装着される複数の基板のそれぞれに対し冷却用媒
体を供給する冷却装置であって、冷却用冷媒の供給源
と、前記供給源に接続された主管と、前記それぞれの基
板に前記冷却用媒体を導く副管と、前記主管と前記副管
との間に設けられ前記主管により導かれた冷却用媒体を
前記それぞれの副管に分岐させる複数の分岐ヘッダとを
備え、少なくとも一の分岐ヘッダと前記主管との接続部
にオリフィスが設けられている電子部品試験装置の冷却
装置を挙げることができる。
According to another embodiment, there is provided a cooling device for supplying a cooling medium to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test apparatus, wherein the cooling medium supply source includes: A connected main pipe, a sub pipe for guiding the cooling medium to the respective substrates, and a cooling medium provided between the main pipe and the sub pipe and guided by the main pipe to branch to the respective sub pipes A cooling device for an electronic component test apparatus, comprising a plurality of branch headers to be provided, wherein an orifice is provided at a connection portion between at least one branch header and the main pipe.

【0014】本発明の冷却装置では、分岐ヘッダの冷却
用媒体の流入口および流出口の少なくとも一つにオリフ
ィスを設け、オリフィスのない流入口および流出口との
間で流量バランスを調節する。オリフィスの開口面積
は、目的とする流量バランスが得られる大きさとしてお
くので、一度決定されたあとは流量バランスが崩れるお
それがなく、また定流量弁等に比べ開口面積が切削加工
精度で決まるため流量精度も格段に向上する。
In the cooling device of the present invention, at least one of the inlet and the outlet of the cooling medium of the branch header is provided with an orifice, and the flow rate is balanced between the inlet and the outlet without the orifice. Since the opening area of the orifice is large enough to achieve the desired flow balance, once it is determined, there is no risk that the flow balance will be lost, and since the opening area is determined by the cutting accuracy compared to a constant flow valve etc. The flow rate accuracy is also greatly improved.

【0015】さらに、流量調節弁や定流量弁のように弁
体および弁体の駆動機構が不要であるため狭小なスペー
スにも設置することができ、電子部品試験装置の小型化
が期待できる。
Further, since a valve element and a drive mechanism for the valve element are not required as in the case of a flow control valve or a constant flow valve, the valve can be installed in a small space, and a reduction in the size of an electronic component test apparatus can be expected.

【0016】(2)上記発明においては特に限定されな
いが、前記分岐ヘッダは、前記主管および前記副管のそ
れぞれを接続するための継手と、前記継手が装着される
開口を有する中空状の分岐ヘッダ本体とを含み、前記継
手と前記分岐ヘッダ本体とを炉中ロー付けにより接合す
ることが好ましい。
(2) Although not particularly limited in the above invention, the branch header includes a joint for connecting each of the main pipe and the sub pipe, and a hollow branch header having an opening in which the joint is mounted. It is preferable that the joint and the branch header main body are joined by brazing in a furnace.

【0017】冷却対象である基板の間隔が狭ければ狭い
ほど、主管および副管、特に副管を接続するための継手
の間隔も狭くなり、溶接トーチを用いて溶接することが
困難となるが、炉中ロー付け法、すなわち接合部にロー
材を塗布し、これを加熱炉内に搬入することで接合する
方法を採用すれば、基板の間隔が狭くなっても分岐ヘッ
ダ本体に継手を接合することができる。
The narrower the space between the substrates to be cooled, the narrower the space between the joints for connecting the main pipe and the sub-pipe, especially the sub-pipe, and it becomes difficult to perform welding using a welding torch. If the brazing method in a furnace, that is, a method in which a brazing material is applied to a joint portion and then carried into a heating furnace to join the joints, is adopted, the joint is joined to the branch header body even when the distance between the substrates becomes narrow. can do.

【0018】(3)上記発明においては特に限定されな
いが、より具体的な実施形態として、それぞれの基板を
通過した冷却用媒体を導く複数の第2副管と、前記第2
副管が接続され前記それぞれの基板を通過した冷却用媒
体を集約する一または複数の集約ヘッダと、前記集約ヘ
ッダで集約された冷却用媒体を前記供給源に戻す第2主
管とをさらに備えた電子部品試験装置の冷却装置を挙げ
ることができる。
(3) Although not particularly limited in the above invention, as a more specific embodiment, a plurality of second sub-tubes for guiding a cooling medium that has passed through each substrate;
One or more aggregation headers that are connected to the sub-tube and aggregate the cooling medium that has passed through the respective substrates, and a second main pipe that returns the cooling medium aggregated by the aggregation header to the supply source are further provided. A cooling device of an electronic component test device can be mentioned.

【0019】この冷却装置では、冷却用媒体を循環させ
ることができるので、冷媒の有効利用とコストダウンを
図ることができる。
In this cooling device, the cooling medium can be circulated, so that the refrigerant can be effectively used and the cost can be reduced.

【0020】(4)本発明の第2の観点によれば、電子
部品試験装置に装着される複数の基板のそれぞれに対
し、少なくとも一のオリフィスを有する分岐ヘッダを介
して冷却用媒体を供給する冷却装置の、前記分岐ヘッダ
から流出するそれぞれの冷却用媒体の流量バランスを評
価する方法であって、前記電子部品試験装置に装着され
た際の流通負荷に相当するダミー負荷を前記分岐ヘッダ
のそれぞれの流出口に接続された管体に設け、前記分岐
ヘッダから流出するそれぞれの冷却用媒体の流量バラン
スを評価する冷却装置の評価方法が提供される。
(4) According to a second aspect of the present invention, a cooling medium is supplied to each of a plurality of substrates mounted on the electronic component test apparatus via a branch header having at least one orifice. A method for evaluating the flow rate balance of each cooling medium flowing out of the branch header of the cooling device, wherein a dummy load corresponding to a flow load when the electronic device is mounted on the electronic component test device is provided for each of the branch headers. A method for evaluating a cooling device, which is provided in a pipe connected to an outlet of a cooling medium and evaluates a flow rate balance of each cooling medium flowing out from the branch header, is provided.

【0021】上述した分岐ヘッダの流量バランスを調節
するに際しては、実際に装着される基板、管体、流量計
その他流通負荷となる部材を全て装着した状態で実施し
なければ、これらの部材による圧力損失によって流量誤
差が生じる。したがって、実際の部材を全て装着した状
態で流量バランスを調節することが望ましいとされる
が、分岐ヘッダを製造するにあたり、こうした全ての部
材を準備することは、費用や納期、あるいはスペースの
点で問題がある。
When adjusting the flow rate balance of the branch header described above, unless the board, tube, flow meter, and other members to be flow-loaded, which are actually mounted, are all mounted, the pressure caused by these members must be adjusted. The loss causes a flow error. Therefore, it is desirable to adjust the flow rate balance with all of the actual components installed, but in the manufacture of a branch header, preparing all of these components is cost, delivery, or space-saving. There's a problem.

【0022】しかしながら、本発明のように、これら全
ての部材の流通負荷を計算や実験にて予め求めておき、
その流通負荷と同じ流通負荷を有する、好ましくは流通
負荷が自由に調節できるダミー負荷を分岐ヘッダに接続
された管体に設けることで、低コストで、短期間で、し
かも省スペースで分岐ヘッダ、特にオリフィスの開口面
積を決定することができる。
However, as in the present invention, the distribution loads of all these members are obtained in advance by calculation or experiment,
With the same distribution load as the distribution load, preferably by providing a dummy load whose distribution load can be freely adjusted to the pipe connected to the branch header, at a low cost, in a short period of time, and with a space saving branch header, In particular, the opening area of the orifice can be determined.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。第1実施形態 図1は本発明の冷却装置が適用される電子部品試験装置
を示す斜視図、図2は図1のテストヘッドを示す断面
図、図3は本発明の冷却装置の実施形態を示す回路図、
図4は図3の分岐ヘッダを示す斜視図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First Embodiment FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component test apparatus to which the cooling device of the present invention is applied, FIG. 2 is a cross-sectional view showing the test head of FIG. 1, and FIG. 3 shows an embodiment of the cooling device of the present invention. Circuit diagram,
FIG. 4 is a perspective view showing the branch header of FIG.

【0024】まず、本発明の冷却装置が適用される電子
部品試験装置1は、図1に示すように、ハンドラ11、
テストヘッド12およびテスタ13からなり、テストヘ
ッド12とテスタ13とはケーブル14を介して接続さ
れている。そして、ハンドラ11の供給トレイに搭載さ
れた試験前の被試験ICを各種の搬送装置によってテス
トヘッド12のコンタクト部に押し当て、このテストヘ
ッド12およびケーブル14を介して被試験ICのテス
トを実行したのち、テストが終了した被試験ICをテス
ト結果にしたがって分類トレイに格納する。
First, as shown in FIG. 1, an electronic component test apparatus 1 to which a cooling device of the present invention is applied includes a handler 11,
It comprises a test head 12 and a tester 13, and the test head 12 and the tester 13 are connected via a cable 14. Then, the IC under test mounted on the supply tray of the handler 11 is pressed against the contact portion of the test head 12 by various transport devices, and the test of the IC under test is executed via the test head 12 and the cable 14. After that, the IC under test after the test is stored in the classification tray according to the test result.

【0025】テストヘッド12の筐体121には、バッ
クワイヤリングボード122が設けられ、このバックワ
イヤリングボード122の入出力コネクタ123にプリ
ント基板3のコネクタ31が接続される。また、プリン
ト基板3の上端にはローインサーションコネクタまたは
ゼロインサーションコネクタ32が設けられ、このコネ
クタ32に図外のコンタクト部を有する基板が接続され
る。
The housing 121 of the test head 12 is provided with a back wiring board 122, and the input / output connector 123 of the back wiring board 122 is connected to the connector 31 of the printed circuit board 3. A low insertion connector or a zero insertion connector 32 is provided at the upper end of the printed circuit board 3, and a board having a contact portion (not shown) is connected to the connector 32.

【0026】これらプリント基板3には、ピンエレクト
ロニクスと称される基板や電源基板があり、被試験電子
部品であるICチップのテストを行うためのテスト信号
の入出力回路および制御回路等が構築されている。こう
した電気回路には、動作中に多量の熱を発生する電子部
品が実装されていることから、本実施形態の電子部品試
験装置でもプリント基板3をサンドイッチ状に挟む冷却
用ジャケット21が設けられ、このジャケット21に冷
却用媒体(絶縁性液体)であるパーフロロカーボン、た
とえばスリーエム社製フロリナート(登録商標)や、超
純水を循環させ、これにより動作中に発生した熱を吸収
している。
The printed circuit board 3 includes a board called a pin electronics and a power supply board, on which a test signal input / output circuit and a control circuit for testing an IC chip as an electronic component under test are constructed. ing. Since an electronic component that generates a large amount of heat during operation is mounted on such an electric circuit, the electronic component test apparatus of the present embodiment is also provided with a cooling jacket 21 that sandwiches the printed circuit board 3 in a sandwich shape. Perfluorocarbon which is a cooling medium (insulating liquid), for example, Fluorinert (registered trademark) manufactured by 3M, or ultrapure water is circulated through the jacket 21 to absorb heat generated during operation.

【0027】本発明の冷却装置2について説明する。上
述したテストヘッド12には複数のプリント基板3が装
着されているので、図3に示すように、各プリント基板
3のそれぞれに冷却用ジャケット21が設けられている
が、これら複数のジャケット21のそれぞれに冷却用媒
体が供給され、プリント基板3を冷却したのち、集約さ
れる。このため、冷却用ジャケット21の上流側に分岐
ヘッダ22が設けられ、冷却用ジャケット21の下流側
に集約ヘッダ23が設けられている。
The cooling device 2 of the present invention will be described. Since a plurality of printed circuit boards 3 are mounted on the test head 12, the cooling jackets 21 are provided on each of the printed circuit boards 3 as shown in FIG. A cooling medium is supplied to each of them, and after cooling the printed circuit boards 3, they are consolidated. For this reason, the branch header 22 is provided on the upstream side of the cooling jacket 21, and the aggregate header 23 is provided on the downstream side of the cooling jacket 21.

【0028】これら分岐ヘッダ22および集約ヘッダ2
3の外観を図4に示すが、冷却用媒体を一定の低温に維
持するとともにこれを圧送する恒温冷媒循環器24から
圧送された冷却用媒体は、送り側主管25を介して、ま
ず分岐ヘッダ22本体の一端に形成された流入口221
に送られ、ここから分岐ヘッダ22本体の内部空間に至
った冷却用媒体は、分岐ヘッダ22本体の側面に多数
(プリント基板3の枚数に相当する。)設けられた流出
口222(222a,222bの総称)から、送り側副
管26を介して各冷却用ジャケット21に供給される。
The branch header 22 and the aggregation header 2
FIG. 4 shows the external appearance of the cooling medium 3. The cooling medium, which is pressure-fed from the constant-temperature refrigerant circulator 24 for keeping the cooling medium at a constant low temperature and for pumping the same, is first passed through the feed-side main pipe 25, and then to a branch header. Inlet 221 formed at one end of the body 22
The cooling medium reaching the internal space of the main body of the branch header 22 from there is sent out a large number of outlets 222 (equivalent to the number of printed circuit boards 3) on the side surface of the main body of the branch header 22 (222a, 222b). ) Is supplied to each cooling jacket 21 through the feed-side sub-tube 26.

【0029】この流出口222は、図4に示されるよう
にプリント基板3の装着間隔に応じて極力その間隔が小
さくなるように千鳥状に設けられている。これにより、
プリント基板3の装着間隔が狭くても分岐ヘッダ22自
体を大型化することなくテストヘッド12内に内蔵する
ことができる。
As shown in FIG. 4, the outlets 222 are provided in a zigzag pattern so that the intervals are as small as possible in accordance with the intervals at which the printed circuit boards 3 are mounted. This allows
Even when the intervals between the printed circuit boards 3 are narrow, the branch header 22 itself can be built in the test head 12 without increasing the size.

【0030】これに対して、集約ヘッダ23も分岐ヘッ
ダ22と基本的に同じ構造とされ、それぞれの冷却用ジ
ャケット21を通過した冷却用媒体は、それぞれ集約ヘ
ッダ23本体に導くための副管27を介して、流入口2
31から集約ヘッダ23本体に流入する。そして、集約
ヘッダ23本体内で集約された冷却用媒体は、集約ヘッ
ダ23本体の一端に形成された流出口232から流出
し、戻り側主管28を介して恒温冷媒循環器24に戻さ
れる。
On the other hand, the consolidation header 23 also has basically the same structure as the branch header 22, and the cooling medium that has passed through each cooling jacket 21 is provided with a sub-pipe 27 for guiding to the main body of the consolidation header 23. Through the inlet 2
From 31 flows into the aggregation header 23 main body. Then, the cooling medium gathered in the body of the header 23 flows out of the outlet 232 formed at one end of the body of the header 23, and is returned to the constant-temperature refrigerant circulator 24 via the return-side main pipe 28.

【0031】なお、分岐ヘッダ22および集約ヘッダ2
3は、その流入口221,231を構成する継手をヘッ
ダ本体に炉中ロー付けにより接合したもので、本実施形
態のようにプリント基板3の装着間隔が狭くて溶接トー
チが入り難くても、炉中ロー付け法を採用することでこ
れに対応することができる。
The branch header 22 and the aggregation header 2
Reference numeral 3 denotes a joint in which the joints constituting the inlets 221 and 231 are joined to the header body by brazing in a furnace. Even if the mounting interval of the printed circuit board 3 is narrow and the welding torch is hard to enter as in the present embodiment, This can be dealt with by adopting an in-furnace brazing method.

【0032】ここで、冷却用媒体により冷却すべきプリ
ント基板3としては、発熱量が相対的に大きいピンエレ
クトロニクス基板と、このピンエレクトロニクス基板よ
り発熱量が小さい電源基板とが存在する。冷却用媒体に
よる冷却効果は冷却用媒体の単位時間あたりの流量に依
存するので、発熱量が大きいプリント基板3に対しては
相対的に多量の冷却用媒体を流し、逆に発熱量が小さい
プリント基板3に対しては相対的に少量の冷却用媒体を
流すことが冷却効率の点から望ましい。
Here, as the printed circuit board 3 to be cooled by the cooling medium, there are a pin electronics board which generates a relatively large amount of heat and a power supply board which generates a smaller amount of heat than the pin electronics board. Since the cooling effect of the cooling medium depends on the flow rate of the cooling medium per unit time, a relatively large amount of the cooling medium flows to the printed circuit board 3 having a large heat value, and conversely, the printing having a small heat value is performed. It is desirable to flow a relatively small amount of cooling medium to the substrate 3 from the viewpoint of cooling efficiency.

【0033】このため、図3に示すように、たとえば同
図の両サイドのプリント基板3,3が電源基板であり、
中央の3枚のプリント基板3,3,3がピンエレクトロ
ニクス基板であるときは、相対的に少量の冷却用媒体で
足りるプリント基板3,3に対する分岐ヘッダ22の流
出口222a,222aにオリフィス223を形成し、
その他の流出口222bに比べて冷却用媒体の通過量を
絞るようにしている。
For this reason, as shown in FIG. 3, for example, the printed circuit boards 3 on both sides of the figure are power supply boards,
When the three central printed boards 3, 3, 3 are pin electronics boards, orifices 223 are provided at the outlets 222a, 222a of the branch header 22 for the printed boards 3, 3 which require a relatively small amount of cooling medium. Forming
The passage amount of the cooling medium is narrowed as compared with the other outlets 222b.

【0034】オリフィス223の形状は特に限定されな
いが、当該オリフィス223の開口面積を決定するに当
たっては、以下のような評価方法を採用することが望ま
しい。
Although the shape of the orifice 223 is not particularly limited, it is desirable to adopt the following evaluation method in determining the opening area of the orifice 223.

【0035】すなわち、実際のテストヘッド12に冷却
装置2を搭載する場合、冷却用媒体の循環回路の流路抵
抗となり得るものは、冷却装置2の構成部品以外に、プ
リント基板3および冷却用ジャケット21があり、本来
的には、正規のプリント基板3や冷却用媒体21を正規
の状態で組み付けて、分岐ヘッダ22の流出口222
a,222bの開口面積比を調節することが望ましい。
しかしながら、開発段階にあるためにこれらプリント基
板3や冷却用ジャケット21の製造が間に合わずその現
物が存在しなかったり、分岐ヘッダ22の調節用に特別
に製造することがコスト的あるいは時間的に困難な場合
もある。そこで、実際のプリント基板3および冷却用ジ
ャケット21の流通抵抗と同じ流通抵抗を有するダミー
継手を準備し、これを用いて流量バランスを調節するこ
ととしている。
That is, when the cooling device 2 is mounted on the actual test head 12, the printed circuit board 3 and the cooling jacket other than the components of the cooling device 2 can be the flow path resistance of the circulation circuit of the cooling medium. 21. Originally, the regular printed circuit board 3 and the cooling medium 21 are assembled in a regular state, and the outlet 222 of the branch header 22 is provided.
It is desirable to adjust the ratio of the opening areas of a and 222b.
However, since the printed circuit board 3 and the cooling jacket 21 are not manufactured in time because they are in the development stage, it is difficult to manufacture them specially for adjusting the branch header 22 in terms of cost or time. It may be. Therefore, a dummy joint having the same flow resistance as that of the actual printed circuit board 3 and the cooling jacket 21 is prepared, and the flow rate balance is adjusted by using the dummy joint.

【0036】図5は、図3に示す冷却装置2の構築にあ
たり、分岐ヘッダ22のオリフィス223の開口面積を
決定する際の評価用回路であり、図3に示すプリント基
板3および冷却用ジャケット21に代えてダミー継手2
91および流量計292が設けられている。このダミー
継手291は、小孔を有する継手機器であって、この小
孔および流量計292の流通抵抗が、プリント基板3と
冷却用ジャケット21の流通抵抗に相当する。なお、ダ
ミー継手291は開口面積が可変となるものが汎用性の
点からより好ましいといえるが、定開口面積のものでも
充分に使用することができる。また、流量計292は、
オリフィス223の開口面積が流量バランス上好ましい
かどうかを評価するための計器であって、各流量計29
2の流量が所望の流量になっているかどうかでオリフィ
ス223の開口面積の調整を行う。
FIG. 5 shows an evaluation circuit for determining the opening area of the orifice 223 of the branch header 22 when constructing the cooling device 2 shown in FIG. 3. The printed circuit board 3 and the cooling jacket 21 shown in FIG. Dummy joint 2 instead of
91 and a flow meter 292 are provided. The dummy joint 291 is a joint device having a small hole, and the flow resistance of the small hole and the flow meter 292 corresponds to the flow resistance of the printed circuit board 3 and the cooling jacket 21. The dummy joint 291 having a variable opening area is more preferable in terms of versatility, but a dummy joint 291 having a constant opening area can be sufficiently used. The flow meter 292 is
A meter for evaluating whether or not the opening area of the orifice 223 is preferable for the flow rate balance.
The opening area of the orifice 223 is adjusted depending on whether or not the flow rate of No. 2 is a desired flow rate.

【0037】上記評価方法による評価の一例を示すと、
図3の冷却装置2において34枚のプリント基板3が装
着されているものとし、そのうち両サイドの4枚ずつ
(計8枚)のプリント基板3に対しては、それぞれ0.
75リットル/分の冷却用媒体を流し、中央の26枚の
プリント基板3に対しては、それぞれ1.5リットル/
分の冷却用媒体を流し、恒温冷媒循環器24からは合計
45リットル/分流すものとする。こうした条件で上述
した評価方法を用いてオリフィス223の開口面積を調
整した結果、表1に示すようになった。同表において分
岐No.とは分岐ヘッダ22の一方の端部から数えた流
出口222であり、同表の結果によると、全体の目標流
量45リットル/分に対して実際には44.79リット
ル/分の冷却用媒体が流れているので流量誤差は0.5
%、分岐ヘッダ22のそれぞれの流出口222からの流
量誤差も最大のもので5.3%(No.33)であっ
た。既述したように、定流量弁を用いてもその流量精度
が±8%が限度であることを考慮すると本実施形態のオ
リフィス223を採用することで数%の精度アップを達
成することができた。しかも、本実施形態のオリフィス
223は、テストヘッド12への装着前にその開口面積
を一旦設定しておけば、使用中に開口面積が変動するこ
とはなく冷却用媒体が安定した流量で流れることにな
る。また、オリフィス223のみにより流量バランスを
調節するので、弁体を用いるよりも設置スペースが格段
に小さくなり、プリント基板3が小間隔で配置されてい
たとしても対応することができる。
An example of the evaluation by the above evaluation method is shown below.
It is assumed that 34 printed boards 3 are mounted in the cooling device 2 of FIG.
A cooling medium of 75 liters / min was flowed, and 1.5 liters / min.
Of the cooling medium, and a total of 45 liters / minute from the constant-temperature refrigerant circulator 24. Table 1 shows the results of adjusting the opening area of the orifice 223 using the above-described evaluation method under these conditions. In the table, branch No. Is the outlet 222 counted from one end of the branch header 22, and according to the results in the table, the cooling medium is actually 44.79 liters / minute for the total target flow rate of 45 liters / minute. Flow rate error is 0.5
%, And the maximum flow rate error from the outlet 222 of the branch header 22 was 5.3% (No. 33). As described above, even if a constant flow valve is used, considering that the flow rate accuracy is limited to ± 8%, the use of the orifice 223 of the present embodiment can increase the accuracy by several%. Was. In addition, if the opening area of the orifice 223 of this embodiment is set once before being attached to the test head 12, the opening area does not change during use, and the cooling medium flows at a stable flow rate. become. In addition, since the flow rate balance is adjusted only by the orifice 223, the installation space becomes much smaller than when a valve body is used, and it is possible to cope with the case where the printed circuit boards 3 are arranged at small intervals.

【0038】[0038]

【表1】 [Table 1]

【0039】第2実施形態 本発明の冷却装置2は上述した実施形態にのみ限定され
ることなく種々に改変することができる。たとえば、本
発明に係る分岐ヘッダ22は複数含まれてもよい。図6
は本発明の冷却装置の他の実施形態を示す回路図であ
り、本例では分岐ヘッダ22A,22Bおよび集約ヘッ
ダ23A,23Bが2対設けられ、分岐ヘッダ22A側
に相当するプリント基板3がピンエレクトロニクス基板
で、分岐ヘッダ22B側に相当するプリント基板3が電
源基板とされている。そして、恒温冷媒循環器24から
たとえば45リットル/分の冷却用媒体が供給され、こ
れを分岐ヘッダ22Aの流入口221Aに40リットル
/分、分岐ヘッダ22Bの流入口221Bに5リットル
/分に分岐させる。分岐ヘッダ22A側には38枚のプ
リント基板3が装着され、したがって分岐ヘッダ22A
の流出口222Aも38個設けられ(各流出口222A
からは1.05リットル/分)、これに対して分岐ヘッ
ダ22B側には20枚のプリント基板3が装着され、し
たがって分岐ヘッダ22Bの流出口222Bも20個設
けられている(各流出口222Bからは0.25リット
ル/分)。
Second Embodiment The cooling device 2 of the present invention can be variously modified without being limited to the above embodiment. For example, a plurality of branch headers 22 according to the present invention may be included. FIG.
FIG. 4 is a circuit diagram showing another embodiment of the cooling device of the present invention. In this example, two pairs of branch headers 22A and 22B and integrated headers 23A and 23B are provided, and the printed circuit board 3 corresponding to the branch header 22A is pinned. In the electronics board, the printed board 3 corresponding to the branch header 22B is a power supply board. Then, a cooling medium, for example, 45 liters / minute is supplied from the constant temperature refrigerant circulator 24, and the cooling medium is branched into the inlet 221A of the branch header 22A at 40 liters / minute and to the inlet 221B of the branch header 22B at 5 liters / minute. Let it. 38 printed boards 3 are mounted on the branch header 22A side.
Are provided with 38 outlets 222A (each outlet 222A).
In contrast, 20 printed circuit boards 3 are mounted on the branch header 22B side, and therefore, 20 outlets 222B of the branch header 22B are provided (each outlet 222B). From 0.25 l / min).

【0040】本実施形態では、分岐ヘッダ22Bの流入
口221Bにオリフィス223が設けられ、上述した分
岐ヘッダ22A,22Bの流量バランスを調節すること
としている。
In the present embodiment, an orifice 223 is provided at the inflow port 221B of the branch header 22B to adjust the flow balance of the branch headers 22A and 22B.

【0041】本例の場合も、上述した実施形態と同様
に、オリフィス223の開口面積を調節するに当たって
は図5に示すダミー継手291および流量計292を用
いて実際の流通抵抗と同じ流通抵抗を有する回路を構築
する。こうして調整された結果を表2に示す。
Also in the case of the present embodiment, similarly to the above-described embodiment, in adjusting the opening area of the orifice 223, the same flow resistance as the actual flow resistance is obtained by using the dummy joint 291 and the flow meter 292 shown in FIG. Build a circuit with Table 2 shows the results adjusted in this manner.

【0042】この場合も、分岐ヘッダ22A側の全体の
目標流量40リットル/分に対して実際には40.76
リットル/分の冷却用媒体が流れているので流量誤差は
1.9%、分岐ヘッダ22B側の全体の目標流量5リッ
トル/分に対して実際には4.97リットル/分の冷却
用媒体が流れているので流量誤差は0.6%、分岐ヘッ
ダ22Aのそれぞれの流出口222Aからの流量誤差も
最大のもので3.6%(No.1)、分岐ヘッダ22B
のそれぞれの流出口222Bからの流量誤差も最大のも
ので4.0%(No.1,6,12,16,18)であ
った。既述したように、定流量弁を用いてもその流量精
度が一般的に±8%前後であることを考慮すると本実施
形態のオリフィス223を分岐ヘッダ22Bの流入口2
21Bに採用することで数%の精度アップを達成するこ
とができた。
In this case, the actual target flow rate of 40 liters / minute on the branch header 22A side is actually 40.76.
Since the cooling medium flows at a rate of liter / min, the flow rate error is 1.9%, and the cooling medium of 4.97 liter / min is actually equal to the total target flow rate of 5 liter / min on the branch header 22B side. Since it is flowing, the flow rate error is 0.6%, the flow rate error from each outlet 222A of the branch header 22A is 3.6% at maximum (No. 1), and the branch header 22B
The maximum flow rate error from each outlet 222B was 4.0% (Nos. 1, 6, 12, 16, and 18). As described above, considering that the flow rate accuracy is generally about ± 8% even when a constant flow rate valve is used, the orifice 223 of this embodiment is connected to the inflow port 2 of the branch header 22B.
By adopting it for 21B, it was possible to achieve a several percent increase in accuracy.

【0043】[0043]

【表2】 [Table 2]

【0044】なお、以上説明した実施形態は、本発明の
理解を容易にするために記載されたものであって、本発
明を限定するために記載されたものではない。したがっ
て、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技
術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨
である。
The embodiments described above are described for facilitating the understanding of the present invention, and are not described for limiting the present invention. Therefore, each element disclosed in the above embodiment is intended to include all design changes and equivalents belonging to the technical scope of the present invention.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上述べたように、第1の観点による発
明によれば、流量精度が高く、省スペース化を図ること
ができる。また、炉中ロー付け法を採用することで、基
板の間隔が著しく狭くてもこれに対応する分岐ヘッダを
提供することができる。
As described above, according to the invention according to the first aspect, the flow rate accuracy is high and the space can be saved. Further, by employing the in-furnace brazing method, it is possible to provide a branch header corresponding to the case where the distance between the substrates is extremely narrow.

【0046】また、第2の観点による発明によれば、低
コストで、短期間で、しかも省スペースで、分岐ヘッ
ダ、特にオリフィスの開口面積を決定することができ
る。
According to the invention of the second aspect, the opening area of the branch header, particularly the orifice, can be determined at low cost, in a short period of time, and in a small space.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の冷却装置が適用される電子部品試験装
置を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component test apparatus to which a cooling device of the present invention is applied.

【図2】図1のテストヘッドを示す断面図である。FIG. 2 is a sectional view showing the test head of FIG.

【図3】本発明の冷却装置の実施形態を示す回路図であ
る。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of a cooling device of the present invention.

【図4】図3の分岐ヘッダを示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a branch header of FIG. 3;

【図5】図3の冷却装置の評価方法を示す回路図であ
る。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a method for evaluating the cooling device of FIG. 3;

【図6】本発明の冷却装置の他の実施形態を示す回路図
である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing another embodiment of the cooling device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…電子部品試験装置 11…ハンドラ 12…テストヘッド 13…テスタ 2…冷却装置 21…冷却用ジャケット 22…分岐ヘッダ 221…流入口 222…流出口 223…オリフィス 23…集約ヘッダ 24…恒温冷媒循環器(冷却用媒体の供給源) 25,28…主管 26,27…副管 291…ダミー継手 292…流量計 3…プリント基板(基板) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electronic component testing apparatus 11 ... Handler 12 ... Test head 13 ... Tester 2 ... Cooling apparatus 21 ... Cooling jacket 22 ... Branch header 221 ... Inflow port 222 ... Outflow port 223 ... Orifice 23 ... Consolidation header 24 ... Constant temperature refrigerant circulator (Supply source of cooling medium) 25, 28 ... Main pipe 26, 27 ... Sub pipe 291 ... Dummy joint 292 ... Flow meter 3 ... Printed circuit board (board)

フロントページの続き (72)発明者 中川 幸司 東京都品川区大井7丁目30番8号 株式会 社ニシヤマ内 (72)発明者 矢島 重勝 東京都品川区大井7丁目30番8号 株式会 社ニシヤマ内 Fターム(参考) 3L044 AA04 BA06 CA13 DB02 FA02 HA03 KA05 5E322 AA05 AB11 DA01 DA02 FA01Continued on the front page (72) Inventor Koji Nakagawa 7-30-8 Oi, Shinagawa-ku, Tokyo Nishiyama Co., Ltd. (72) Inventor Shigekatsu Yajima 7-30-8 Oi, Shinagawa-ku, Tokyo Nishiyama Co., Ltd. F term (reference) 3L044 AA04 BA06 CA13 DB02 FA02 HA03 KA05 5E322 AA05 AB11 DA01 DA02 FA01

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電子部品試験装置に装着された複数の基板
のそれぞれに対し、分岐ヘッダを介して冷却用媒体を供
給する冷却装置であって、 前記分岐ヘッダの冷却用媒体の流入口および流出口の少
なくとも一つに、オリフィスが設けられている電子部品
試験装置の冷却装置。
1. A cooling device for supplying a cooling medium via a branch header to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test apparatus, wherein the branch header has an inlet and a flow of a cooling medium. A cooling device for an electronic component testing device, wherein at least one of the outlets is provided with an orifice.
【請求項2】電子部品試験装置に装着される複数の基板
のそれぞれに対し冷却用媒体を供給する冷却装置であっ
て、 冷却用冷媒の供給源と、前記供給源に接続された主管
と、前記それぞれの基板に前記冷却用媒体を導く副管
と、前記主管と前記副管との間に設けられ前記主管によ
り導かれた冷却用媒体を前記それぞれの副管に分岐させ
る分岐ヘッダとを備え、 前記分岐ヘッダと前記副管との少なくとも一の接続部に
オリフィスが設けられている電子部品試験装置の冷却装
置。
2. A cooling device for supplying a cooling medium to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test device, comprising: a supply source of a cooling refrigerant; a main pipe connected to the supply source; A sub pipe for guiding the cooling medium to the respective substrates; and a branch header provided between the main pipe and the sub pipe, for branching the cooling medium guided by the main pipe to the respective sub pipes. A cooling device for an electronic component testing device, wherein an orifice is provided in at least one connection portion between the branch header and the sub pipe.
【請求項3】電子部品試験装置に装着される複数の基板
のそれぞれに対し冷却用媒体を供給する冷却装置であっ
て、 冷却用冷媒の供給源と、前記供給源に接続された主管
と、前記それぞれの基板に前記冷却用媒体を導く副管
と、前記主管と前記副管との間に設けられ前記主管によ
り導かれた冷却用媒体を前記それぞれの副管に分岐させ
る複数の分岐ヘッダとを備え、 少なくとも一の分岐ヘッダと前記主管との接続部にオリ
フィスが設けられている電子部品試験装置の冷却装置。
3. A cooling device for supplying a cooling medium to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test apparatus, comprising: a supply source of a cooling refrigerant; a main pipe connected to the supply source; A sub-pipe for guiding the cooling medium to the respective substrates, and a plurality of branch headers provided between the main pipe and the sub-pipe to branch the cooling medium guided by the main pipe to the respective sub-pipe; A cooling device for an electronic component testing device, comprising: an orifice provided at a connection portion between at least one branch header and the main pipe.
【請求項4】前記分岐ヘッダは、前記主管および前記副
管のそれぞれを接続するための継手と、前記継手が装着
される開口を有する中空状の分岐ヘッダ本体とを含み、
前記継手と前記分岐ヘッダ本体とは炉中ロー付けにより
接合される請求項2または3記載の電子部品試験装置の
冷却装置。
4. The branch header includes a joint for connecting each of the main pipe and the sub pipe, and a hollow branch header main body having an opening to which the joint is mounted,
4. The cooling device for an electronic component test apparatus according to claim 2, wherein the joint and the branch header body are joined by brazing in a furnace.
【請求項5】前記それぞれの基板を通過した冷却用媒体
を導く複数の第2副管と、前記第2副管が接続され前記
それぞれの基板を通過した冷却用媒体を集約する一また
は複数の集約ヘッダと、前記集約ヘッダで集約された冷
却用媒体を前記供給源に戻す第2主管とをさらに備えた
電子部品試験装置の冷却装置。
5. A plurality of second sub-tubes for guiding a cooling medium that has passed through each of said substrates, and one or a plurality of second sub-tubes connected to said second sub-tubes for consolidating the cooling medium that has passed through said respective substrates. A cooling device for an electronic component test apparatus, further comprising: an aggregation header; and a second main pipe returning the cooling medium aggregated by the aggregation header to the supply source.
【請求項6】電子部品試験装置に装着される複数の基板
のそれぞれに対し、少なくとも一のオリフィスを有する
分岐ヘッダを介して冷却用媒体を供給する冷却装置の、
前記分岐ヘッダから流出するそれぞれの冷却用媒体の流
量バランスを評価する方法であって、前記電子部品試験
装置に装着された際の流通負荷に相当するダミー負荷を
前記分岐ヘッダのそれぞれの流出口に接続された管体に
設け、前記分岐ヘッダから流出するそれぞれの冷却用媒
体の流量バランスを評価する冷却装置の評価方法。
6. A cooling apparatus for supplying a cooling medium to each of a plurality of substrates mounted on an electronic component test apparatus via a branch header having at least one orifice,
A method for evaluating the flow rate balance of each cooling medium flowing out of the branch header, wherein a dummy load corresponding to a flow load when the cooling medium is mounted on the electronic component test apparatus is supplied to each outlet of the branch header. A method for evaluating a cooling device, which is provided in a connected pipe and evaluates a flow rate balance of each cooling medium flowing out of the branch header.
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