JP2001156046A - Plasma processing apparatus and method - Google Patents

Plasma processing apparatus and method

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JP2001156046A
JP2001156046A JP33876199A JP33876199A JP2001156046A JP 2001156046 A JP2001156046 A JP 2001156046A JP 33876199 A JP33876199 A JP 33876199A JP 33876199 A JP33876199 A JP 33876199A JP 2001156046 A JP2001156046 A JP 2001156046A
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reaction vessel
plasma
plasma processing
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典幸 田口
Koji Sawada
康志 澤田
Keiichi Yamazaki
圭一 山崎
Kazuya Kitayama
和也 喜多山
Masaharu Yasuda
正治 安田
Yoshiyuki Nakazono
佳幸 中園
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To uniformly execute plasma processing in the width direction, without fluctuations, and moreover to easily manufacture a reaction vessel at a low cost. SOLUTION: A cylindrical reaction vessel 1 and a pair of electrodes 2, 3 are provided. A plasma generating gas is then supplied to the reaction vessel 1. The glow discharge is generated under the atmospheric pressure, to generate the plasma P from the plasma generation gas by applying an AC field into the reaction vessel 1, at the position corresponding to the area between the electrodes 2, 3. The plasma P is then supplied to the surface of an object 7 to be processed. A blowing port 4 for blowing the plasma P, generated within the reaction vessel 1 to the processing object 7 in the form of plasma jet, is formed in the reaction vessel 1. At least one of a pair of electrodes 2, 3 is provided at the external side of the reaction vessel 1. A sheet member 6, composed of a conductive material, is provided between the electrodes 2, 3 provided at the external side of the reaction vessel 1 and the reaction vessel 1. The sheet member 6 is provided in close contact with the external surface of the reaction vessel 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被処理物の表面に
存在する有機物等の異物のクリーニング、レジストの剥
離、有機フィルムの密着性の改善、金属酸化物の還元、
製膜、表面改質などのプラズマ処理に利用されるプラズ
マを発生させるためのプラズマ処理装置、及びこれを用
いたプラズマ処理方法に関するものであり、特に、精密
な接合が要求される電子部品の表面のクリーニングに好
適に応用されるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to cleaning of foreign substances such as organic substances present on the surface of an object to be processed, peeling of resist, improvement of adhesion of an organic film, reduction of metal oxide,
The present invention relates to a plasma processing apparatus for generating plasma used for plasma processing such as film formation and surface modification, and a plasma processing method using the same. Particularly, the present invention relates to a surface of an electronic component requiring precise bonding. It is preferably applied to the cleaning of.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、大気圧下でプラズマ処理を行
うことが試みられている。例えば、特開平2−1517
1号公報や特開平3−241739号公報や特開平1−
306569号公報には、反応容器内の放電空間に一対
の電極を配置すると共に電極の間に誘電体を設け、放電
空間をHe(ヘリウム)やAr(アルゴン)などの希ガ
スを主成分とするプラズマ生成用ガスで充満し、反応容
器に被処理物を入れると共に電極の間に交流電界を印加
するようにしたプラズマ処理方法が開示されており、誘
電体が配置された電極の間に交流電界を印加することに
より安定的にグロー状の放電を発生させ、このグロー状
の放電によりプラズマ生成用ガスを励起して反応容器内
にプラズマを生成し、このプラズマにより被処理物の処
理を行うようにしたものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, attempts have been made to perform plasma processing under atmospheric pressure. For example, Japanese Unexamined Patent Publication No.
No. 1, JP-A-3-241739 and JP-A-1-241.
Japanese Patent No. 306569 discloses a method in which a pair of electrodes are arranged in a discharge space in a reaction vessel, a dielectric is provided between the electrodes, and the discharge space is mainly composed of a rare gas such as He (helium) or Ar (argon). There is disclosed a plasma processing method in which an object to be processed is filled with a gas for plasma generation and an AC electric field is applied between electrodes while an AC electric field is applied between electrodes on which a dielectric is arranged. Is applied to stably generate a glow-like discharge, and the glow-like discharge excites a plasma generation gas to generate plasma in a reaction vessel, and the plasma is used to process an object to be processed. It was made.

【0003】また、特開平4−334543号公報や特
開平5−202481号公報にも大気圧下でプラズマ処
理を行うことが記載されており、これら公報には、円筒
状の反応管の外周に複数の電極を設け、電極間に交流電
圧を印加して反応管内にプラズマを発生させ、プラズマ
が発生した反応管内に被処理物を導入して被処理物の処
理を行うようにしたものである。
[0003] Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 4-334543 and 5-202481 also describe that plasma treatment is performed under atmospheric pressure. In these publications, a plasma treatment is performed on the outer periphery of a cylindrical reaction tube. A plurality of electrodes are provided, an AC voltage is applied between the electrodes, plasma is generated in the reaction tube, and the object is introduced into the reaction tube where the plasma is generated to process the object. .

【0004】しかし、上記公報に記載の方法では被処理
物の特定の部分のみに局所的にプラズマ処理を行いにく
く、また、処理時間も長くかかるという問題があった。
そこで、大気圧下でグロー状の放電により生成したプラ
ズマ(特にプラズマの活性種)を被処理物にジェット状
に吹き出してプラズマ処理を行うことが、例えば、特開
平3−219082号公報、特開平4−212253号
公報、特開平6−108257号公報等で提案されてい
る。これら公報に記載の方法は、ジェット状のプラズマ
をスポット的に吹き出して被処理物に吹き付けることに
よって、被処理物を局所的にプラズマ処理するようにし
たものである。
However, in the method described in the above publication, there is a problem that it is difficult to locally perform the plasma processing only on a specific portion of the processing object, and the processing time is long.
Therefore, plasma processing is performed by blowing plasma (particularly, active species of plasma) generated by glow-like discharge under atmospheric pressure into an object to be processed in the form of a jet. It has been proposed in JP-A-4-212253, JP-A-6-108257 and the like. The methods described in these publications are configured to locally jet plasma of an object to be processed by blowing out a jet-like plasma in a spot manner and spraying the plasma on the object.

【0005】しかし、プラズマをスポット的に吹き出し
て被処理物に吹き付ける方法では、被処理物の広い面積
をプラズマ処理する場合に時間がかかるという問題があ
った。そこで、大気圧下で生成したプラズマをある程度
の幅で被処理物に供給してプラズマ処理を行うことが特
開平4−358076号公報に記載されている。この方
法は、表面に固体誘電体を配設した一対の誘電体被覆電
極を対向させて配置し、誘電体被覆電極の間に上側から
プラズマ生成用ガスを導入すると共に誘電体被覆電極に
高電圧を印加することによって、プラズマ生成用ガスか
らプラズマを生成し、このプラズマを誘電体被覆電極の
間から下流して被処理物に供給するものである。また、
特願平11−303117号の願書に最初に添付した明
細書及び図面にも、大気圧下で生成したプラズマをある
程度の幅で被処理物に供給してプラズマ処理を行うこと
が記載されている。この方法は、石英ガラスなどの絶縁
材料で反応容器を形成すると共に反応容器の下面にスリ
ット状で幅広の吹き出し口を形成し、反応容器の外側に
一対の電極を対向させて配置し、反応容器内にプラズマ
生成用ガスを導入すると共に電極に高電圧を印加するこ
とによって、プラズマ生成用ガスからプラズマを反応容
器内に生成し、このプラズマを吹き出し口から吹き出し
て下流して被処理物に供給するものである。
However, the method of blowing out the plasma in a spot-like manner and spraying it on the object to be processed has a problem that it takes a long time to perform plasma processing on a large area of the object to be processed. Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-358076 describes that plasma generated under atmospheric pressure is supplied to an object to be processed in a certain width to perform plasma processing. In this method, a pair of dielectric-coated electrodes having a solid dielectric disposed on the surface are arranged to face each other, a plasma generating gas is introduced from above from between the dielectric-coated electrodes, and a high voltage is applied to the dielectric-coated electrodes. Is applied to generate plasma from the plasma generation gas, and this plasma is supplied to the object to be processed downstream from between the dielectric coated electrodes. Also,
The specification and drawings attached to the application of Japanese Patent Application No. Hei 11-303117 also describe that plasma generated under atmospheric pressure is supplied to a workpiece with a certain width to perform plasma processing. . In this method, a reaction vessel is formed from an insulating material such as quartz glass, a slit-shaped wide outlet is formed on the lower surface of the reaction vessel, and a pair of electrodes are arranged outside the reaction vessel so as to face each other. By introducing a plasma generating gas into the reactor and applying a high voltage to the electrodes, plasma is generated from the plasma generating gas into the reaction vessel, and this plasma is blown out from the outlet and supplied downstream to the workpiece. Is what you do.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
大気圧下で生成したプラズマをある程度の幅で被処理物
に供給してプラズマ処理を行う方法では、幅方向でプラ
ズマ処理を均一に行なうことが難しいという問題があっ
た。この原因として固体誘電体や反応容器と電極との密
着性が低いためであると考えられる。すなわち、固体誘
電体や反応容器は石英ガラスなどの絶縁材料(ガラス材
料)を加熱溶着などの手法で形成するために、固体誘電
体や反応容器の厚み寸法を均一に保つことは非常に困難
であり、電極と接触する面が凹凸や湾曲して形成される
ものである。これに対して電極は金属等を機械加工して
形成するために、固体誘電体や反応容器と接触する面は
凹凸や湾曲がほとんどなく平坦に形成されるものであ
る。従って、固体誘電体や反応容器の幅方向において、
固体誘電体や反応容器の表面と電極が接触している部分
と接触していない部分とが生じ、このために固体誘電体
の間や反応容器の内部での放電に疎密が発生し、この結
果、幅方向でプラズマ処理にムラが生じるのであった。
However, in the above-described method of performing plasma processing by supplying plasma generated at atmospheric pressure to a workpiece with a certain width, the plasma processing is performed uniformly in the width direction. There was a problem that it was difficult. It is considered that this is because the adhesion between the solid dielectric or the reaction vessel and the electrode is low. That is, since the solid dielectric and the reaction vessel are formed by heating and fusing an insulating material (glass material) such as quartz glass, it is very difficult to keep the thickness of the solid dielectric and the reaction vessel uniform. In addition, the surface in contact with the electrode is formed to be uneven or curved. On the other hand, since the electrode is formed by machining metal or the like, the surface in contact with the solid dielectric or the reaction vessel is formed to be flat with almost no irregularities or curvature. Therefore, in the width direction of the solid dielectric or the reaction vessel,
Some parts of the solid dielectric or the surface of the reaction vessel are in contact with the electrode and some parts of the reaction vessel are not in contact with each other. As a result, the plasma processing was uneven in the width direction.

【0007】そして、このような問題を解決する手法の
一つとして、固体誘電体や反応容器の厚み寸法の管理を
行なうことが考えられるが、厚み寸法を均一にするため
には加熱溶着後に研磨などを行なわなければならず、固
体誘電体や反応容器の作製が非常に困難で且つ高価にな
るものであった。
As one of the methods for solving such a problem, it is conceivable to control the thickness of the solid dielectric or the reaction vessel. In order to make the thickness uniform, polishing is performed after heat welding. And so on, and it is very difficult and expensive to produce a solid dielectric or a reaction vessel.

【0008】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、プラズマ処理をムラなくほぼ均一に行なうことが
でき、特に、幅方向でのプラズマ処理をムラなくほぼ均
一に行なうことができ、しかも、反応容器を簡単に安価
に作製することができるプラズマ処理装置を提供するこ
とを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and enables plasma processing to be performed almost uniformly without unevenness. In particular, plasma processing in the width direction can be performed almost uniformly without unevenness. Moreover, it is another object of the present invention to provide a plasma processing apparatus that can easily and inexpensively produce a reaction vessel.

【0009】また、本発明は幅方向でプラズマ処理をム
ラなくほぼ均一に行なうことができるプラズマ処理方法
を提供することを目的とするものである。
Another object of the present invention is to provide a plasma processing method capable of performing plasma processing substantially uniformly in the width direction without unevenness.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
プラズマ処理装置は、筒状の反応容器1と一対の電極
2、3とを備え、反応容器1に不活性ガス又は不活性ガ
スと反応ガスとの混合気体からなるプラズマ生成用ガス
を導入すると共に電極2、3の間に対応する位置におい
て反応容器1内に交流電界を印加することにより、大気
圧下でグロー状の放電を生じさせてプラズマ生成用ガス
からプラズマPを生成し、このプラズマPを被処理物7
の表面に供給するプラズマ処理装置であって、反応容器
1内に生成されたプラズマPを被処理物7に向かってジ
ェット状に吹き出すための吹き出し口4を反応容器1に
形成し、一対の電極2、3のうち少なくとも一方を反応
容器1の外側に設け、反応容器1の外側に設けた電極
2、3と反応容器1の間に導電性材料からなるシート部
材6を介在させると共にシート部材6を反応容器1の外
面に密着させて設けて成ることを特徴とするものであ
る。
A plasma processing apparatus according to a first aspect of the present invention includes a cylindrical reaction vessel 1 and a pair of electrodes 2 and 3, and the reaction vessel 1 contains an inert gas or an inert gas. A glow-like discharge is generated under atmospheric pressure by introducing a plasma-generating gas composed of a mixture of gas and a reaction gas and applying an AC electric field to the reaction vessel 1 at a position corresponding to between the electrodes 2 and 3. The plasma P is generated from the plasma generation gas, and the plasma P is
A plasma processing apparatus for supplying plasma P generated in the reaction vessel 1 to the object to be treated 7 in the form of a jet in the reaction vessel 1. At least one of the electrodes 2 and 3 is provided outside the reaction vessel 1, and a sheet member 6 made of a conductive material is interposed between the electrodes 2 and 3 provided outside the reaction vessel 1 and the reaction vessel 1. Is provided in close contact with the outer surface of the reaction vessel 1.

【0011】また本発明の請求項2に係るプラズマ処理
装置は、請求項1の構成に加えて、両方の電極2、3を
反応容器1の外側に設けて成ることを特徴とするもので
ある。
A plasma processing apparatus according to a second aspect of the present invention is characterized in that, in addition to the configuration of the first aspect, both electrodes 2 and 3 are provided outside the reaction vessel 1. .

【0012】また本発明の請求項3に係るプラズマ処理
装置は、請求項1又は2の構成に加えて、シート部材6
を反応容器1の外面に被着させて成ることを特徴とする
ものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a plasma processing apparatus according to the first or second aspect, further comprising:
On the outer surface of the reaction vessel 1.

【0013】また本発明の請求項4に係るプラズマ処理
装置は、請求項1乃至3のいずれかの構成に加えて、吹
き出し口4を幅広に形成して成ることを特徴とするもの
である。
A plasma processing apparatus according to a fourth aspect of the present invention is characterized in that, in addition to any one of the first to third aspects, the outlet 4 is formed wide.

【0014】また本発明の請求項5に係るプラズマ処理
装置は、請求項1乃至4のいずれかの構成に加えて、シ
ート部材6のシート抵抗を20mΩ以下にして成ること
を特徴とするものである。
A plasma processing apparatus according to a fifth aspect of the present invention is characterized in that, in addition to any one of the first to fourth aspects, the sheet resistance of the sheet member 6 is set to 20 mΩ or less. is there.

【0015】また本発明の請求項6に係るプラズマ処理
装置は、請求項1乃至5のいずれかの構成に加えて、シ
ート部材6の厚さを、電極2、3に印加する高周波電圧
の周波数に対応したスキンデプス以上に形成して成るこ
とを特徴とするものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a plasma processing apparatus according to any one of the first to fifth aspects, wherein the thickness of the sheet member 6 is controlled by adjusting the frequency of the high frequency voltage applied to the electrodes 2 and 3. Characterized by being formed to have a skin depth equal to or greater than the skin depth.

【0016】また本発明の請求項7に係るプラズマ処理
方法は、請求項1乃至6のいずれかに記載のプラズマ処
理装置の吹き出し口4の下方に被処理物7を配置し、吹
き出し口4からプラズマPを吹き出して被処理物7に供
給することを特徴とするものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a plasma processing method according to any one of the first to sixth aspects, wherein the object to be processed 7 is disposed below the outlet 4 of the plasma processing apparatus. It is characterized in that the plasma P is blown out and supplied to the workpiece 7.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below.

【0018】図1に本発明のプラズマ処理装置の一例を
示す。このプラズマ処理装置は、反応容器1の外周の全
周に亘って一対の電極2、3を接触させて設けると共に
電極2と電極3を上下に対向させて配置することによっ
て形成されており、電極2と電極3の間に対応する位置
において反応容器1の内部に放電空間15が形成されて
いる。一対の電極2、3のうち、一方の電極2は高周波
を発生する電源18と接続されて高電圧が印加される高
圧電極として形成されており、他方の電極3は接地され
る接地電極として形成されている。
FIG. 1 shows an example of the plasma processing apparatus of the present invention. The plasma processing apparatus is formed by providing a pair of electrodes 2 and 3 in contact with each other over the entire outer circumference of the reaction vessel 1 and arranging the electrodes 2 and 3 so as to face each other up and down. A discharge space 15 is formed inside the reaction vessel 1 at a position corresponding to between the electrode 2 and the electrode 3. One of the pair of electrodes 2 and 3 is formed as a high-voltage electrode to which a high voltage is applied by being connected to a power supply 18 for generating a high frequency, and the other electrode 3 is formed as a ground electrode to be grounded. Have been.

【0019】反応容器1は高融点の絶縁材料(誘電体材
料)で形成されるものである。反応容器1を構成する絶
縁材料の誘電率は放電空間15におけるプラズマの低温
化の重要な要素であって、2000以下であることが好
ましい。具体的には絶縁材料として、石英、アルミナ、
イットリア部分安定化ジルコニウムなどのガラス質材料
やセラミック材料などを例示することができる。
The reaction vessel 1 is formed of an insulating material (dielectric material) having a high melting point. The dielectric constant of the insulating material constituting the reaction vessel 1 is an important factor in lowering the temperature of the plasma in the discharge space 15, and is preferably 2000 or less. Specifically, as an insulating material, quartz, alumina,
Vitreous materials such as yttria partially stabilized zirconium and ceramic materials can be exemplified.

【0020】図2(a)(b)(c)に示すように、反
応容器1はその厚み方向(厚み方向を矢印Bで示す)に
並んで対向する一対の側壁1aと、反応容器1の幅方向
(幅方向を矢印Aで示す)に並んで対向する一対の側壁
1bと、反応容器1の下面を構成する矩形状(底面視で
長方形)の底部1cとで有底の角形筒状に形成されてい
る。また、反応容器1の上面はガス導入口16として略
全面に亘って開放されていると共に底部1cの外面であ
る反応容器1の下面はほぼ平坦な面で形成されている。
そして、図2(b)に示すように、反応容器1の下面の
厚み方向の略中央部には反応容器1の長手方向(幅方
向)と平行な方向に長くて幅広の吹き出し口4が形成さ
れている。吹き出し口4はスリット状であって、反応容
器1の底部1cを貫通して反応容器1の内部の放電空間
15と連通している。
As shown in FIGS. 2 (a), 2 (b) and 2 (c), the reaction vessel 1 has a pair of side walls 1a facing each other side by side in the thickness direction (the thickness direction is indicated by an arrow B). A pair of side walls 1b facing each other side by side in the width direction (the width direction is indicated by an arrow A), and a rectangular (rectangular when viewed from the bottom) bottom 1c constituting the lower surface of the reaction vessel 1 are formed into a bottomed rectangular cylindrical shape. Is formed. The upper surface of the reaction vessel 1 is open almost entirely as a gas inlet 16 and the lower surface of the reaction vessel 1, which is the outer surface of the bottom 1c, is formed as a substantially flat surface.
Then, as shown in FIG. 2B, a long and wide outlet 4 is formed in a direction parallel to the longitudinal direction (width direction) of the reaction vessel 1 at a substantially central portion of the lower surface of the reaction vessel 1 in the thickness direction. Have been. The outlet 4 has a slit shape and penetrates through the bottom 1 c of the reaction vessel 1 and communicates with the discharge space 15 inside the reaction vessel 1.

【0021】反応容器1は厚み寸法よりも幅寸法が非常
に大きく形成された扁平形状であって、反応容器1の厚
み方向(幅狭方向)における内寸、すなわち、反応容器
1の厚み方向(幅狭方向)に並んで対向する一対の側壁
1aの内面の対向間隔は、0.1〜5mmに形成するの
が好ましい。このように反応容器1の厚み方向の内寸を
0.1〜5mmにすることによって、放電空間15の体
積が比較的小さくなって、放電空間15における単位空
間あたりの電力を高くすることができ、つまり、放電空
間15における放電空間密度を上げることができ、低電
力化及び小ガス流量化を図ることができるものであり、
しかも、プラズマの生成効率が高まって、プラズマ処理
の能力を向上させることができるものである。
The reaction vessel 1 has a flat shape whose width is much larger than its thickness, and has an inner dimension in the thickness direction (narrow direction) of the reaction vessel 1, that is, the thickness direction of the reaction vessel 1 (thickness direction). It is preferable that the interval between the inner surfaces of the pair of side walls 1a facing each other (in the narrow direction) is 0.1 to 5 mm. By setting the inner size in the thickness direction of the reaction vessel 1 to 0.1 to 5 mm in this manner, the volume of the discharge space 15 becomes relatively small, and the power per unit space in the discharge space 15 can be increased. In other words, the discharge space density in the discharge space 15 can be increased, and the power consumption and gas flow can be reduced.
In addition, the plasma generation efficiency is increased, and the capability of plasma processing can be improved.

【0022】反応容器1の内寸が0.1mm未満である
と、吹き出し口4が小さくなり過ぎてプラズマの吹き出
し範囲が狭くなり、プラズマ処理をすることができる範
囲が小さくなる恐れがあり、また、反応容器1の強度が
低下する恐れがある。一方、反応容器1の内寸が5mm
より大きくなると、吹き出し口4が大きくなり過ぎて吹
き出し口4から吹き出されるジェット状のプラズマの流
速が小さくなり、プラズマ処理の速度が遅くなる恐れが
あり、また、放電空間15の体積が大きくなり過ぎて放
電空間15における単位体積あたりの投入電力(交流電
界)が小さくなってプラズマの生成の効率が低下し、プ
ラズマ処理の速度が遅くなる恐れがある。そして、これ
らの問題点を解決するためには、ガス流量や電力を増や
すしかないが、この結果、ガス及び電力を多量に消費
し、コストパフォーマンスが低下する恐れがある。従っ
て、反応容器1の内寸を0.1〜5mmに形成するのが
好ましい。
If the inner size of the reaction vessel 1 is less than 0.1 mm, the blowing port 4 becomes too small, so that the plasma blowing range is narrowed, and the range in which plasma processing can be performed may be reduced. The strength of the reaction vessel 1 may be reduced. On the other hand, the inner size of the reaction vessel 1 is 5 mm
If it becomes larger, the outlet 4 becomes too large, the flow rate of the jet-like plasma blown out from the outlet 4 becomes small, and the speed of the plasma processing may be reduced, and the volume of the discharge space 15 becomes large. As a result, the input power per unit volume (AC electric field) in the discharge space 15 becomes small, the efficiency of plasma generation is reduced, and the speed of plasma processing may be reduced. The only solution to these problems is to increase the gas flow rate and power. However, as a result, a large amount of gas and power are consumed, and the cost performance may decrease. Therefore, it is preferable that the inner size of the reaction vessel 1 is formed to be 0.1 to 5 mm.

【0023】反応容器1の外面(側壁1a、1bの外
面)にはシート部材6が全周に亘って形成されている。
シート部材6は導電性材料で形成されるものであって、
具体的には、金、銀、銅及びこれらを含む合金等で形成
することができる。また、シート部材6は反応容器1の
外面に密着して設けられている。シート部材6は導電性
材料で薄膜のシート形状に形成した後、反応容器1の外
面に取り付けるようにしても良いし、また、反応容器1
の外面に導電性材料を被着(コーティング)することに
よりシート部材6を形成するようにしても良い。シート
部材6と反応容器1の外面の密着性を高くするために
は、被着によりシート部材6を形成するのが好ましい。
被着によりシート部材6を形成するにあたっては、ペー
スト状の導電性材料を印刷や塗布により反応容器1の外
面に設け、ペースト状の導電性材料を焼成して硬化させ
ることができる。また、導電性材料を反応容器1の外面
にメッキしてシート部材6を形成するようにしても良
い。そして、シート部材6は上下に並べて一対形成され
ており、シート部材6を設けた部分が後述の電極2、3
を配置する部分である。
On the outer surface of the reaction vessel 1 (outer surfaces of the side walls 1a and 1b), a sheet member 6 is formed over the entire circumference.
The sheet member 6 is formed of a conductive material,
Specifically, it can be formed of gold, silver, copper, an alloy containing these, or the like. The sheet member 6 is provided in close contact with the outer surface of the reaction vessel 1. The sheet member 6 may be formed into a thin sheet shape with a conductive material and then attached to the outer surface of the reaction vessel 1.
The sheet member 6 may be formed by applying (coating) a conductive material to the outer surface of the sheet member 6. In order to increase the adhesion between the sheet member 6 and the outer surface of the reaction vessel 1, it is preferable to form the sheet member 6 by adhesion.
In forming the sheet member 6 by adhesion, a paste-like conductive material can be provided on the outer surface of the reaction vessel 1 by printing or coating, and the paste-like conductive material can be fired and cured. Alternatively, a sheet material 6 may be formed by plating an outer surface of the reaction vessel 1 with a conductive material. The sheet member 6 is formed as a pair, which is vertically arranged.
This is the part where is arranged.

【0024】シート部材6のシート抵抗は20mΩ以下
であることが好ましい。シート部材6のシート抵抗が2
0mΩより大きくなると、シート部材6での発熱による
抵抗ロスが大きくなると共に、シート部材6内に電位分
布が生じるために、反応容器1の放電空間15における
放電にムラが生じてしまう恐れがある。シート部材6の
シート抵抗は小さいほど好ましいので、その下限は特に
設定されないが、現在入手可能なシート部材6のシート
抵抗は、0.1mΩ以上である。尚、シート抵抗ρ
sは、試料(本発明ではシート部材6)が薄膜で厚さが
はっきりしない場合、あるいは、試料の表面伝導率を評
価する場合に、試料の抵抗率ρの代わりに用いられるも
のであって、試料の幅をw、試料の厚さをd、試料の長
さをLとすると、試料の断面積SはS=wdとなるの
で、試料の抵抗値Rは、R=ρs×(L/w)となり、
従って、ρs=ρ/dの式で表される。
The sheet resistance of the sheet member 6 is preferably 20 mΩ or less. The sheet resistance of the sheet member 6 is 2
If it is larger than 0 mΩ, resistance loss due to heat generation in the sheet member 6 increases, and a potential distribution occurs in the sheet member 6, which may cause uneven discharge in the discharge space 15 of the reaction vessel 1. The lower the sheet resistance of the sheet member 6 is, the more preferable it is. Therefore, the lower limit is not particularly set, but the sheet resistance of the currently available sheet member 6 is 0.1 mΩ or more. Note that the sheet resistance ρ
s is used instead of the resistivity ρ of the sample when the sample (the sheet member 6 in the present invention) is a thin film and the thickness is not clear or when evaluating the surface conductivity of the sample, Assuming that the width of the sample is w, the thickness of the sample is d, and the length of the sample is L, the cross-sectional area S of the sample is S = wd. Therefore, the resistance value R of the sample is R = ρ s × (L / w),
Therefore, it is represented by the equation ρ s = ρ / d.

【0025】また、シート部材6の厚みは電極2、3に
印加する高周波電圧の周波数に対応したスキンデプス以
上に形成するのが好ましい。シート部材6の厚みが印加
する高周波電圧の周波数に対応したスキンデプス未満の
場合、シート部材6に高周波電流が流れると電圧降下が
生じてしまい、結果として、シート部材6の部分で電力
ロスが生じる恐れがある。
The thickness of the sheet member 6 is preferably formed to be equal to or greater than the skin depth corresponding to the frequency of the high-frequency voltage applied to the electrodes 2 and 3. When the thickness of the sheet member 6 is less than the skin depth corresponding to the frequency of the high-frequency voltage to be applied, a voltage drop occurs when a high-frequency current flows through the sheet member 6, and as a result, a power loss occurs at the sheet member 6 portion There is fear.

【0026】尚、スキンデプスは高周波電流を導体に流
した場合、導体の表面付近にのみ電流が流れる、いわゆ
る表皮効果を示す指標であり、次の(1)の式で定義さ
れる。
The skin depth is an index indicating a so-called skin effect in which a high-frequency current flows through a conductor only near the surface of the conductor, and is defined by the following equation (1).

【0027】[0027]

【数1】 (Equation 1)

【0028】反応容器1の上部にはガス均一化室5が一
体に形成されている。ガス均一化室5は反応容器1より
厚い箱状に形成されるものであって、ガス均一化室5の
上面にはガス供給口19を設けたガス管部10が突設さ
れていると共にガス均一化室5の下部は下側ほど厚みが
小さくなる絞り部11として形成されており、ガス均一
化室5の下端である絞り部11の下端がシート部材6の
上側において反応容器1の側壁1a、1bの外面に接合
されている。また、絞り部11の接合部分にはガス均一
化室5内に突出する筒状の鍔部14が形成されており、
鍔部14の上面が反応容器1のガス導入口16として開
口されている。
In the upper part of the reaction vessel 1, a gas homogenization chamber 5 is integrally formed. The gas homogenization chamber 5 is formed in a box shape thicker than the reaction vessel 1, and a gas pipe section 10 provided with a gas supply port 19 is formed on the upper surface of the gas homogenization chamber 5 and protrudes. The lower portion of the uniformizing chamber 5 is formed as a narrowed portion 11 whose thickness becomes smaller toward the lower side. , 1b. Further, a cylindrical flange portion 14 projecting into the gas equalizing chamber 5 is formed at a joint portion of the throttle portion 11,
The upper surface of the flange 14 is opened as a gas inlet 16 of the reaction vessel 1.

【0029】電極2と電極3は同形であって、平面視で
ロ字状(角形環状)に形成されている。すなわち、電極
2と電極3の略中央部には上下に貫通する挿着孔17が
形成されている。この挿着孔17の大きさは反応容器1
の外周寸法とほぼ同一に、また、挿着孔17の平面視の
形状は反応容器1の外周形状とほぼ同一にそれぞれ形成
されている。さらに、電極2と電極3はその冷却効率を
高くするために熱伝導性の高い金属材料、例えば、銅、
アルミニウム、真鍮、耐食性の高いステンレス(SUS
304など)などで形成されている。また、電極2、3
の表面をより耐食性が高く高周波の伝播性の良い金など
でメッキすることも有効である。そして、電極2と電極
3を平面視でロ字状に形成することによって、反応容器
1の全周に亘って電極2と電極3を配置することがで
き、シート部材6を介して電極2、3と反応容器1との
接触面積を大きくして接触性を向上させることができ、
プラズマPの生成が容易になるものである。
The electrode 2 and the electrode 3 have the same shape and are formed in a square shape (square ring) in plan view. That is, an insertion hole 17 penetrating vertically is formed substantially at the center of the electrodes 2 and 3. The size of the insertion hole 17 is
And the shape of the insertion hole 17 in plan view is substantially the same as the outer shape of the reaction vessel 1. Further, the electrode 2 and the electrode 3 are made of a metal material having high thermal conductivity, such as copper, in order to increase the cooling efficiency.
Aluminum, brass, corrosion-resistant stainless steel (SUS
304 etc.). Also, electrodes 2, 3
It is also effective to plate the surface with gold or the like, which has higher corrosion resistance and good propagation of high frequency. Then, by forming the electrodes 2 and 3 in a rectangular shape in plan view, the electrodes 2 and 3 can be arranged over the entire circumference of the reaction vessel 1. 3 and the contact area between the reaction vessel 1 and the contact vessel can be improved,
This facilitates generation of the plasma P.

【0030】そして、反応容器1を挿着孔17に差し込
むことによって、シート部材6を介在させて電極2、3
を反応容器1の外周に取り付けると共に電極2と電極3
の内周面を反応容器1の外周面(側壁1aと側壁1bの
外面)に形成したシート部材6に接触させるように配置
することによって、反応容器1と電極2、3の間にシー
ト部材6を介在させ、交流電界を発生させる電源18を
電極2に接続すると共に電極3を接地することによっ
て、図1に示すようなプラズマ処理装置を形成すること
ができる。ここで、接地される電極3は高電圧が印加さ
れる電極2よりも下側に、すなわち、電極3は電極2よ
りも吹き出し口4の近くに配置されている。このように
電極3を電極2よりも吹き出し口4の近くに配置するこ
とによって、電極2よりも電極3の方が吹き出し口4の
下側に配置される被処理物に近くに位置することにな
り、すなわち、高電圧となる電極2が電極3よりも被処
理物から遠くに位置することになり、電極2から被処理
物にアーク放電が飛びにくくなって、アーク放電による
被処理物の破損を防止することができる。
Then, by inserting the reaction vessel 1 into the insertion hole 17, the electrodes 2, 3
Is attached to the outer periphery of the reaction vessel 1 and the electrodes 2 and 3
Is arranged so as to be in contact with the sheet member 6 formed on the outer peripheral surface (outer surfaces of the side walls 1a and 1b) of the reaction vessel 1 so that the sheet member 6 is disposed between the reaction vessel 1 and the electrodes 2, 3. The power supply 18 for generating an AC electric field is connected to the electrode 2 and the electrode 3 is grounded, whereby the plasma processing apparatus as shown in FIG. 1 can be formed. Here, the electrode 3 to be grounded is located below the electrode 2 to which a high voltage is applied, that is, the electrode 3 is located closer to the outlet 4 than the electrode 2. By arranging the electrode 3 closer to the outlet 4 than the electrode 2 in this way, the electrode 3 is positioned closer to the workpiece to be disposed below the outlet 4 than the electrode 2. That is, the electrode 2 having a high voltage is located farther from the workpiece than the electrode 3, so that arc discharge does not easily fly from the electrode 2 to the workpiece, and the workpiece is damaged by the arc discharge. Can be prevented.

【0031】電極2と電極3の間隔(電極2の下端と電
極3の上端の間隔)は3〜20mmに設定するのが好ま
しい。電極2と電極3の間隔が3mm未満であれば、反
応容器1の外部で電極2と電極3の間で短絡が起こって
放電空間15で放電が起こらなくなる恐れがあり、しか
も、放電空間15が狭くなって、効率よくプラズマを生
成することが難しくなる恐れがある。また、電極2と電
極3の間隔が20mmを超えると、放電空間15で放電
が起こりにくくなって、効率よくプラズマを生成するこ
とが難しくなる恐れがある。尚、電極2、3を冷媒で冷
却するようにしても良い。
The distance between the electrodes 2 and 3 (the distance between the lower end of the electrode 2 and the upper end of the electrode 3) is preferably set to 3 to 20 mm. If the distance between the electrode 2 and the electrode 3 is less than 3 mm, a short circuit may occur between the electrode 2 and the electrode 3 outside the reaction vessel 1 and no discharge may occur in the discharge space 15. There is a possibility that it becomes difficult to efficiently generate plasma because of the narrowing. On the other hand, if the distance between the electrode 2 and the electrode 3 exceeds 20 mm, it becomes difficult for discharge to occur in the discharge space 15 and it may be difficult to efficiently generate plasma. In addition, you may make it cool the electrodes 2 and 3 with a refrigerant | coolant.

【0032】上記のように形成されるプラズマ処理装置
では、プラズマ生成用ガスとして不活性ガス(希ガス)
あるいは不活性ガスと反応ガスの混合気体を用いる。不
活性ガスとしては、ヘリウム、アルゴン、ネオン、クリ
プトンなどを使用することができるが、放電の安定性や
経済性を考慮すると、アルゴンやヘリウムを用いるのが
好ましい。また反応ガスの種類は処理の内容によって任
意に選択することができる。例えば、被処理物の表面に
存在する有機物のクリーニング、レジストの剥離、有機
フィルムのエッチングなどを行う場合は、酸素、空気、
CO2、N2Oなどの酸化性ガスを用いるのが好ましい。
また反応ガスとしてCF4などのフッ素系ガスも適宜用
いることができ、シリコンなどのエッチングを行う場合
にはこのフッ素系ガスを用いるのが効果的である。また
金属酸化物の還元を行う場合は、水素、アンモニアなど
の還元性ガスを用いることができる。反応ガスの添加量
は不活性ガスの全量に対して10重量%以下、好ましく
は0.1〜5重量%の範囲である。反応ガスの添加量が
0.1重量%未満であれば、処理効果が低くなる恐れが
あり、反応ガスの添加量が10重量%を超えると、放電
が不安定になる恐れがある。
In the plasma processing apparatus formed as described above, an inert gas (rare gas) is used as a plasma generating gas.
Alternatively, a mixed gas of an inert gas and a reaction gas is used. As the inert gas, helium, argon, neon, krypton, or the like can be used, but it is preferable to use argon or helium in consideration of discharge stability and economy. The type of the reaction gas can be arbitrarily selected depending on the content of the treatment. For example, when performing cleaning of an organic substance present on the surface of the object to be processed, stripping of a resist, etching of an organic film, etc., oxygen, air,
It is preferable to use an oxidizing gas such as CO 2 and N 2 O.
In addition, a fluorine-based gas such as CF 4 can be appropriately used as a reaction gas, and it is effective to use the fluorine-based gas when etching silicon or the like. In the case of reducing a metal oxide, a reducing gas such as hydrogen or ammonia can be used. The amount of the reaction gas added is 10% by weight or less, preferably 0.1 to 5% by weight, based on the total amount of the inert gas. If the addition amount of the reaction gas is less than 0.1% by weight, the treatment effect may be reduced, and if the addition amount of the reaction gas exceeds 10% by weight, the discharge may be unstable.

【0033】上記のように形成されるプラズマ処理装置
を用いてプラズマ処理を行うにあたっては、まず、矢印
で示すように、ガス供給口19からガス均一化室5内
にプラズマ生成用ガスを導入し、プラズマ生成用ガスを
ガス導入口16まで下流させ、この後、ガス導入口16
から反応容器1内にプラズマ生成用ガスを導入し、反応
容器1の内部にプラズマ生成用ガスを上から下に向かっ
て流すと共に電極2に電源18から高周波電圧を印加し
て、電極2と電極3の間の放電空間15に高周波の交流
電界を印加する。この交流電界の印加により大気圧下で
放電空間15にグロー状の放電を発生させ、グロー状の
放電でプラズマ生成用ガスをプラズマ化してプラズマ活
性種を含むプラズマを生成した後、吹き出し口4から下
方にカーテンのような幅を持ったジェット状のプラズマ
Pを連続的に流出させ、吹き出し口4の下側に配置され
た被処理物7の表面にプラズマPを吹き付けるようにす
る。このようにして被処理物Pのプラズマ処理を行うこ
とができる。また、平板状の基板が被処理物7であっ
て、その基板の表面全面をプラズマ処理するには、プラ
ズマPを吹き出しながら基板あるいはプラズマ処理装置
を吹き出し口4の長手方向と直交する方向に移動させ、
基板の表面全面にプラズマPを走査して吹き付けるよう
にして行う。さらに、プラズマ処理装置又は被処理物7
を被処理物7の移動方向と直交する方向に振動させるこ
とにより、繰り返しプラズマPが被処理物7に吹き付け
られることになってプラズマ処理の均一化を高めること
も可能である。
In performing plasma processing using the plasma processing apparatus formed as described above, first, as shown by an arrow, a plasma generating gas is introduced into the gas homogenizing chamber 5 from the gas supply port 19. The gas for plasma generation is caused to flow downstream to the gas inlet 16, and thereafter, the gas
A gas for plasma generation is introduced into the reaction vessel 1 from above, and the gas for plasma generation is flowed from the top to the bottom inside the reaction vessel 1, and a high frequency voltage is applied to the electrode 2 from the power source 18, and the electrode 2 and the electrode A high-frequency AC electric field is applied to the discharge space 15 during the period 3. The glow-like discharge is generated in the discharge space 15 under the atmospheric pressure by applying the AC electric field, and the plasma for generating the plasma is generated by the glow-like discharge to generate the plasma containing the plasma active species. A jet-shaped plasma P having a width like a curtain is continuously discharged downward, and the plasma P is blown onto the surface of the processing target 7 arranged below the outlet 4. In this way, the plasma processing of the processing object P can be performed. Further, in order to perform the plasma processing on the entire surface of the substrate 7 which is a flat substrate and which is to be processed, the substrate or the plasma processing apparatus is moved in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the blowing port 4 while blowing the plasma P. Let
The plasma P is scanned and sprayed on the entire surface of the substrate. Furthermore, the plasma processing apparatus or the workpiece 7
Is vibrated in a direction perpendicular to the moving direction of the processing target 7, whereby the plasma P is repeatedly sprayed on the processing target 7, so that the uniformity of the plasma processing can be improved.

【0034】本発明において、放電空間15に印加され
る交流電界の周波数は1kHz〜200MHzに設定す
るのが好ましい。交流の周波数が1kHz未満であれ
ば、放電空間15での放電を安定化させることができな
くなり、プラズマ処理を効率よく行うことができなくな
る恐れがある。また、交流の周波数が200MHzを超
えると、放電空間15でのプラズマの温度上昇が著しく
なり、反応容器1や電極2や電極3の寿命が短くなる恐
れがあり、しかも、プラズマ処理装置が複雑化及び大型
化する恐れがある。また本発明において、放電空間15
に印加される印加電力の密度は20〜3500W/cm
3に設定するのが好ましい。放電空間15に印加される
印加電力の密度が20W/cm3未満であれば、プラズ
マを充分に発生させることができなくなり、逆に、放電
空間15に印加される印加電力の密度が3500W/c
3を超えると、安定した放電を得ることができなくな
る恐れがある。尚、印加電力の密度(W/cm3)は、
(印加電力/放電空間体積)で定義される。
In the present invention, the frequency of the AC electric field applied to the discharge space 15 is preferably set to 1 kHz to 200 MHz. If the AC frequency is less than 1 kHz, the discharge in the discharge space 15 cannot be stabilized, and the plasma processing may not be performed efficiently. If the AC frequency exceeds 200 MHz, the temperature of the plasma in the discharge space 15 rises remarkably, and the life of the reaction vessel 1, the electrode 2, and the electrode 3 may be shortened, and the plasma processing apparatus becomes complicated. And there is a fear that the size becomes large. In the present invention, the discharge space 15
The density of the applied power applied to is 20 to 3500 W / cm
It is preferably set to 3 . If the density of the applied power applied to the discharge space 15 is less than 20 W / cm 3 , plasma cannot be sufficiently generated, and conversely, the density of the applied power applied to the discharge space 15 becomes 3500 W / c.
Beyond m 3, it may be impossible to obtain a stable discharge. The density of the applied power (W / cm 3 )
(Applied power / discharge space volume).

【0035】そしてこの実施の形態では、反応容器1の
外側に設けた電極2、3と反応容器1の外面との間に導
電性材料からなるシート部材6を介在させると共にシー
ト部材6を反応容器1の外面に密着させて設けるので、
電極2、3から供給される高周波電力(交流電力)をシ
ート部材6を通して均一に反応容器1に印加することが
でき、反応容器1の内部の放電空間15において放電の
疎密が少なくなって幅方向でプラズマ処理をムラなくほ
ぼ均一に行なうことができるものである。しかも、反応
容器1の作製時に加熱溶着後の研磨などを行なう必要が
無く、反応容器1を簡単に安価に作製することができる
ものである。
In this embodiment, a sheet member 6 made of a conductive material is interposed between the electrodes 2, 3 provided outside the reaction vessel 1 and the outer surface of the reaction vessel 1, and the sheet member 6 is connected to the reaction vessel 1. Because it is provided in close contact with the outer surface of 1,
The high-frequency power (AC power) supplied from the electrodes 2 and 3 can be uniformly applied to the reaction vessel 1 through the sheet member 6, and the discharge space 15 inside the reaction vessel 1 is less sparse and dense in the discharge direction. Thus, the plasma processing can be performed almost uniformly without unevenness. In addition, there is no need to perform polishing or the like after heat welding when manufacturing the reaction vessel 1, and the reaction vessel 1 can be easily and inexpensively manufactured.

【0036】また、反応容器1の側壁1aと側壁1bの
内面に沿った電気力線が形成されるように、反応容器1
を挟んで対向させないで電極2と電極3を配置するの
で、反応容器1の内面の垂直方向に電気力線が生じにく
くなって電気力線による反応容器1の劣化を少なくする
ことができ、反応容器1の側壁1aと側壁1bの内面か
らその構成物質が飛び出しにくくなって被処理物7が不
純物により汚染されるのを少なくすることができるもの
である。
The reaction vessel 1 is formed such that the lines of electric force are formed along the inner surfaces of the side walls 1a and 1b of the reaction vessel 1.
The electrode 2 and the electrode 3 are arranged so as not to face each other, so that lines of electric force are less likely to be generated in the vertical direction of the inner surface of the reaction container 1, and the deterioration of the reaction container 1 due to the lines of electric force can be reduced. This makes it difficult for the constituent material to jump out from the inner surfaces of the side walls 1a and 1b of the container 1, thereby reducing contamination of the processing object 7 with impurities.

【0037】また、上記の実施の形態では、幅を持った
ジェット状のプラズマを吹き出すための吹き出し口4を
反応容器1の下面に形成するので、カーテンのような幅
を持ったプラズマを吹き出し口4から吹き出しながら基
板あるいはプラズマ処理装置を吹き出し口4の長手方向
と直交する方向に移動させて基板の表面全面にプラズマ
を走査して吹き付けることによって、スポット的なプラ
ズマを吹き出すものに比べて被処理物の広い面積を一度
にプラズマ処理することができ、BGA基板などの基板
の全面を処理する場合に処理時間を短くすることができ
るものである。
In the above-described embodiment, since the outlet 4 for blowing the jet-shaped plasma having a width is formed on the lower surface of the reaction vessel 1, the plasma having a width like a curtain is blown out. By moving the substrate or the plasma processing apparatus in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the blow-out port 4 while blowing the plasma from the base 4, and scanning and blowing the plasma over the entire surface of the substrate, the processing to be performed is smaller than that in which the spot-like plasma is blown. A large area of an object can be plasma-processed at a time, and the processing time can be reduced when processing the entire surface of a substrate such as a BGA substrate.

【0038】さらに、上記の実施の形態では、放電空間
15に交流電界を印加するための電極2と電極3の両方
を反応容器1の外側に設けるので、電極2と電極3の両
方がプラズマPに直接曝されることが無くなってプラズ
マPによりスパッタリングを受けないようにすることが
できると共に、電極2と電極3の両方が反応ガスにより
腐食されないようにすることができ、電極2と電極3が
プラズマPでダメージを受けなくなって寿命を長くする
ことができるものである。しかも、スパッタリングや腐
食により不純物が生じないので、長期間の使用であって
も被処理物7が不純物より汚染されないようにすること
ができるものである。尚、一方の電極2を反応容器1の
内部に配設し、他方の電極3を反応容器1の外側に配設
するようにしても良い。
Further, in the above embodiment, since both the electrodes 2 and 3 for applying an AC electric field to the discharge space 15 are provided outside the reaction vessel 1, both the electrodes 2 and 3 are plasma P The electrode 2 and the electrode 3 can be prevented from being sputtered by the reaction gas while being not directly exposed to the plasma and being prevented from being sputtered by the plasma P. The plasma P is not damaged and the life can be extended. Moreover, since no impurities are generated by sputtering or corrosion, the object 7 can be prevented from being contaminated by the impurities even when used for a long time. Note that one electrode 2 may be provided inside the reaction vessel 1 and the other electrode 3 may be provided outside the reaction vessel 1.

【0039】また、上記の実施の形態では、電極2と電
極3をプラズマ生成用ガスの導入方向へ沿って対向する
ように、すなわち、電極2と電極3を上下に並べて対向
させて配置するので、放電空間15に生成される交流電
界の方向(電気力線の方向)とプラズマ生成用ガス及び
プラズマPの流れ方向とをほぼ一致させることができ、
プラズマPの活性種を効率よく生成することができるも
のであり、しかも、電極2と電極3の間隔を変えること
によって、放電空間15の大きさを簡単に変えることが
でき、プラズマPの生成量を容易に調整することができ
るものである。
In the above-described embodiment, the electrodes 2 and 3 are arranged so as to face each other in the direction of introduction of the plasma generating gas, that is, the electrodes 2 and 3 are arranged vertically and opposed to each other. The direction of the AC electric field (the direction of the electric lines of force) generated in the discharge space 15 can be substantially matched with the flow direction of the plasma generating gas and the plasma P.
The active species of the plasma P can be efficiently generated, and the size of the discharge space 15 can be easily changed by changing the distance between the electrode 2 and the electrode 3. Can be easily adjusted.

【0040】また、ガス均一化室5を通過させてプラズ
マ生成用ガスを反応容器1に供給することで、プラズマ
生成用ガスが鍔部14により撹拌されて反応容器1内の
一部分に偏らないように拡散しやすくなり、反応容器1
内の全体に均一な濃度で供給することができ、均質なプ
ラズマPを効率よく生成することができるものであり、
処理ムラを少なくすることができるものである。
Further, by supplying the gas for plasma generation to the reaction vessel 1 by passing the gas through the gas homogenization chamber 5, the gas for plasma generation is agitated by the flange portion 14 and is not biased to a part in the reaction vessel 1. Reaction vessel 1
Can be supplied at a uniform concentration throughout the inside, and a uniform plasma P can be efficiently generated.
Processing unevenness can be reduced.

【0041】尚、電極と誘電体の間に金網を介在させて
形成したグロー放電プラズマ発生用電極が特開平6−1
19995号公報に開示されている。しかし、この電極
では本発明のシート部材6に相当する部材として金網を
用いており、誘電体と金網とは線接触であり、本発明の
シート部材6のように反応容器1に面接触で密着させる
ものではない。従って、特開平6−119995号公報
ではアーク放電が生じやすく、均一なプラズマが生成し
にくいものである。
The glow discharge plasma generating electrode formed by interposing a metal mesh between the electrode and the dielectric is disclosed in
It is disclosed in 199995. However, in this electrode, a wire mesh is used as a member corresponding to the sheet member 6 of the present invention, and the dielectric and the wire mesh are in line contact with each other. It does not make it. Therefore, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-119995, arc discharge is apt to occur and uniform plasma is hardly generated.

【0042】[0042]

【実施例】以下本発明を実施例によって具体的に説明す
る。
The present invention will be described below in detail with reference to examples.

【0043】(実施例)図1に示す構造のプラズマ処理
装置を形成した。反応容器1としては図2に示す石英ガ
ラス製のものを用い、幅方向における内側寸法を55m
m、厚み方向における内側寸法を1mm、幅方向におけ
る外側寸法を57mm、厚み方向における外側寸法を3
mmにそれぞれ形成した。また、吹き出し口4の大きさ
は上記の内側寸法と同様である(55mm×1mm)。
吹き出し口4に対して上下に配置される電極2、3は銅
製である。また、反応容器1の外周面と電極2、3の内
周面の間にはシート部材6を介在させた。シート部材6
は厚み50μmに形成されており、また、シート部材6
のシート抵抗は5mΩに形成されている。このシート部
材6は導電性材料(イー・エス・エル日本(株)製の
「MICRO−LOKPd/Ag CONDUCTOR
9601」であって、パラジウム−銀のペースト)を
スクリーン印刷により反応容器1の外面に印刷し、この
後、導電性材料を焼き付け処理を行なって形成するよう
にしている。
Example A plasma processing apparatus having the structure shown in FIG. 1 was formed. As the reaction vessel 1, the one made of quartz glass shown in FIG. 2 was used, and the inner dimension in the width direction was 55 m.
m, the inner dimension in the thickness direction is 1 mm, the outer dimension in the width direction is 57 mm, and the outer dimension in the thickness direction is 3
mm. The size of the outlet 4 is the same as the above inner size (55 mm × 1 mm).
The electrodes 2, 3 arranged above and below the outlet 4 are made of copper. Further, a sheet member 6 was interposed between the outer peripheral surface of the reaction vessel 1 and the inner peripheral surfaces of the electrodes 2 and 3. Sheet member 6
Is formed to a thickness of 50 μm.
Has a sheet resistance of 5 mΩ. The sheet member 6 is made of a conductive material (“MICRO-LOCKPd / Ag CONDUCTOR” manufactured by ES L Japan Co., Ltd.).
9601 ", a palladium-silver paste) is printed on the outer surface of the reaction container 1 by screen printing, and thereafter, a conductive material is baked to form the conductive material.

【0044】また、被処理物7としては、ネガ型レジス
トを1μm塗布したシリコン基板を使用した。プラズマ
生成用ガスはヘリウムを2リットル/分、アルゴンを1
0リットル/分、酸素を0.4リットル/分の割合で混
合したものを流して反応容器1に供給した。そして放電
空間15に700Wで13.56MHzの高周波電界を
印加してプラズマPを発生させ、これを吹き出し口4か
ら幅広にジェット状に吹き出して被処理物7の表面に供
給してプラズマ処理(レジストのエッチング)を行っ
た。尚、この時のスキンデプスは20μmであって、シ
ート部材6はこのスキンデプスよりも厚く形成されてい
る。
As the object 7 to be processed, a silicon substrate coated with a negative resist of 1 μm was used. The gas for plasma generation was 2 liters / min of helium and 1 liter of argon.
A mixture obtained by mixing 0 liter / minute and oxygen at a rate of 0.4 liter / minute was supplied to the reaction vessel 1 by flowing. Then, a high-frequency electric field of 13.56 MHz at 700 W is applied to the discharge space 15 to generate plasma P, which is blown out from the outlet 4 in a wide jet shape and supplied to the surface of the processing object 7 to perform plasma processing (resist). Etching). The skin depth at this time is 20 μm, and the sheet member 6 is formed thicker than this skin depth.

【0045】(比較例)シート部材6を設けなかった以
外は実施例と同様にしてプラズマ処理装置を形成し、実
施例と同様にして被処理物7のプラズマ処理を行った。
(Comparative Example) A plasma processing apparatus was formed in the same manner as in the embodiment except that the sheet member 6 was not provided, and the workpiece 7 was subjected to plasma processing in the same manner as in the embodiment.

【0046】図3は、実施例と比較例のそれぞれにおい
て、反応容器1の幅方向における位置とプラズマ処理性
能(エッチング深さ)の関係を示すグラフである。実施
例ではどの位置に置いてもほぼ均一にプラズマ処理され
ているのに対して、比較例ではプラズマ処理が不足する
箇所とプラズマ処理が過剰に行なわれる箇所が生じてし
まうものであった。そして、実施例のプラズマ処理のば
らつき(分散/平均×100)は約6%であったのに対
して、比較例では約25%のプラズマ処理のばらつきが
生じ、実施例の方が比較例よりも大幅にプラズマ処理の
ばらつきが少なかった。
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the position in the width direction of the reaction vessel 1 and the plasma processing performance (etching depth) in each of the example and the comparative example. In the example, the plasma processing was performed almost uniformly at any position, whereas in the comparative example, there were places where the plasma processing was insufficient and places where the plasma processing was performed excessively. The variation (dispersion / average × 100) of the plasma processing of the example was about 6%, whereas the variation of the plasma processing of the comparative example was about 25%, and the example was better than the comparative example. Also, the variation in the plasma treatment was significantly small.

【0047】尚、パラジウム−銀のペーストの代わり
に、厚み50μmの金を反応容器1の外面にシート部材
6としてメッキにより形成した場合も、上記の実施例と
同様にプラズマ処理の均一化を実現することができた。
It should be noted that even when gold having a thickness of 50 μm is formed as a sheet member 6 on the outer surface of the reaction vessel 1 by plating instead of the palladium-silver paste, uniform plasma processing is realized in the same manner as in the above embodiment. We were able to.

【0048】[0048]

【発明の効果】上記のように本発明の請求項1の発明
は、筒状の反応容器と一対の電極とを備え、反応容器に
不活性ガス又は不活性ガスと反応ガスとの混合気体から
なるプラズマ生成用ガスを導入すると共に電極の間に対
応する位置において反応容器内に交流電界を印加するこ
とにより、大気圧下でグロー状の放電を生じさせてプラ
ズマ生成用ガスからプラズマを生成し、このプラズマを
被処理物の表面に供給するプラズマ処理装置であって、
反応容器内に生成されたプラズマを被処理物に向かって
ジェット状に吹き出すための吹き出し口を反応容器に形
成し、一対の電極のうち少なくとも一方を反応容器の外
側に設け、反応容器の外側に設けた電極と反応容器の間
に導電性材料からなるシート部材を介在させると共にシ
ート部材を反応容器の外面に密着させて設けるので、シ
ート部材の介在によって反応容器の外側に設けた電極に
印加された交流電力を均一に反応容器に供給することが
でき、反応容器内での放電に疎密が無くなって被処理物
に対してプラズマ処理をムラなくほぼ均一に行なうこと
ができるものであり、特に、幅方向でのプラズマ処理を
ムラなくほぼ均一に行なうことができるものである。し
かも、反応容器の作製時に加熱溶着後の研磨などを行な
う必要が無く、反応容器を簡単に安価に作製することが
できるものである。
As described above, the invention of claim 1 of the present invention comprises a cylindrical reaction vessel and a pair of electrodes, and the reaction vessel contains an inert gas or a mixed gas of an inert gas and a reaction gas. By introducing an AC electric field into the reaction vessel at a position corresponding to between the electrodes, a glow-like discharge is generated under atmospheric pressure to generate plasma from the plasma generating gas. A plasma processing apparatus for supplying the plasma to the surface of the workpiece,
An outlet for ejecting plasma generated in the reaction vessel in a jet shape toward the object to be processed is formed in the reaction vessel, at least one of a pair of electrodes is provided outside the reaction vessel, and outside the reaction vessel. Since a sheet member made of a conductive material is interposed between the provided electrode and the reaction container and the sheet member is provided in close contact with the outer surface of the reaction container, the sheet member is applied to the electrode provided outside the reaction container by the interposition of the sheet member. AC power can be uniformly supplied to the reaction vessel, and the discharge in the reaction vessel can be performed almost uniformly without unevenness, and plasma processing can be performed on the object to be processed without unevenness. The plasma processing in the width direction can be performed almost uniformly without unevenness. In addition, there is no need to perform polishing or the like after heat welding when producing the reaction vessel, and the reaction vessel can be produced simply and inexpensively.

【0049】また本発明の請求項2の発明は、両方の電
極を反応容器の外側に設けるので、両方の電極がプラズ
マに直接曝されることが無くなってプラズマによりスパ
ッタリングを受けないようにすることができると共に、
両方の電極が反応ガスにより腐食されないようにするこ
とができ、電極がプラズマでダメージを受けなくなって
寿命を長くすることができるものである。しかも、スパ
ッタリングや腐食により不純物が生じないので、長期間
の使用であっても被処理物が不純物より汚染されないよ
うにすることができるものである。
According to the invention of claim 2 of the present invention, since both electrodes are provided outside the reaction vessel, both electrodes are not directly exposed to plasma so that they are not subjected to sputtering by plasma. Can be done,
Both electrodes can be prevented from being corroded by the reaction gas, and the electrodes can be prevented from being damaged by the plasma and the life can be extended. In addition, since no impurities are generated by sputtering or corrosion, the object to be processed can be prevented from being contaminated by the impurities even when used for a long time.

【0050】また本発明の請求項3の発明は、シート部
材を反応容器の外面に被着させるので、反応容器へのシ
ート部材の密着性が高まって反応容器と反応容器の外側
に設けた電極の密着性をさらに高めることができ、反応
容器内での放電に疎密が無くなって被処理物に対してプ
ラズマ処理をムラなくほぼ均一に行なうことができるも
のであり、特に、幅方向でのプラズマ処理をムラなくほ
ぼ均一に行なうことができるものである。
According to the invention of claim 3 of the present invention, since the sheet member is attached to the outer surface of the reaction vessel, the adhesion of the sheet member to the reaction vessel is increased, and the electrode provided outside the reaction vessel and the reaction vessel. The plasma treatment can be performed almost uniformly without unevenness in the discharge in the reaction vessel, and the plasma treatment can be carried out almost uniformly. The processing can be performed almost uniformly without unevenness.

【0051】また本発明の請求項4の発明は、吹き出し
口を幅広に形成するので、被処理物に幅広のプラズマを
供給することができ、幅方向でのプラズマ処理をムラな
くほぼ均一に行なうことができると共に被処理物の広い
面積を短時間でプラズマ処理することができるものであ
る。
According to the invention of claim 4 of the present invention, since the outlet is formed wide, a wide plasma can be supplied to the object to be processed, and the plasma processing in the width direction is performed almost uniformly without unevenness. In addition, a large area of the object can be plasma-treated in a short time.

【0052】また本発明の請求項5の発明は、シート部
材のシート抵抗を20mΩ以下にするので、シート部材
での発熱による抵抗ロスを小さくすることができると共
に、シート部材内に電位分布が生じにくくなって反応容
器の内部における放電にムラが生じないようにすること
ができるものである。
According to the invention of claim 5 of the present invention, since the sheet resistance of the sheet member is set to 20 mΩ or less, the resistance loss due to heat generation in the sheet member can be reduced, and a potential distribution is generated in the sheet member. This makes it possible to prevent the occurrence of unevenness in the discharge inside the reaction vessel due to the difficulty.

【0053】また本発明の請求項6の発明は、シート部
材の厚さを、電極に印加する高周波電圧の周波数に対応
したスキンデプス以上に形成するので、シート部材で電
力ロスが生じないようにすることができ、プラズマの生
成効率を高めることができるものである。
According to the invention of claim 6 of the present invention, the thickness of the sheet member is formed to be equal to or greater than the skin depth corresponding to the frequency of the high-frequency voltage applied to the electrode, so that no power loss occurs in the sheet member. It is possible to increase the plasma generation efficiency.

【0054】また本発明の請求項7の発明は、請求項1
乃至6のいずれかに記載のプラズマ処理装置の吹き出し
口の下方に被処理物を配置し、吹き出し口からプラズマ
を吹き出して被処理物に供給するので、シート部材の介
在によって反応容器の外側に設けた電極に印加された交
流電力を均一に反応容器に供給することができ、反応容
器内での放電に疎密が無くなって被処理物に対してプラ
ズマ処理をムラなくほぼ均一に行なうことができるもの
であり、特に、幅方向でのプラズマ処理をムラなくほぼ
均一に行なうことができるものである。しかも、反応容
器の作製時に加熱溶着後の研磨などを行なう必要が無
く、反応容器を簡単に安価に作製することができるもの
である。
Further, the invention of claim 7 of the present invention is directed to claim 1
7. An object to be processed is arranged below the outlet of the plasma processing apparatus according to any one of the above items 6 to 6, and plasma is blown out from the outlet and supplied to the object to be processed. AC power applied to the electrode can be uniformly supplied to the reaction vessel, and the discharge in the reaction vessel can be performed without unevenness and plasma processing can be performed almost uniformly on the workpiece. In particular, plasma processing in the width direction can be performed almost uniformly without unevenness. In addition, there is no need to perform polishing or the like after heat welding when producing the reaction vessel, and the reaction vessel can be produced simply and inexpensively.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の一例を示す斜視図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of the present invention.

【図2】同上の反応容器を示し、(a)は正面図、
(b)は側面図、(c)は底面図である。
FIG. 2 shows a reaction container of the above, (a) is a front view,
(B) is a side view, and (c) is a bottom view.

【図3】実施例と比較例のプラズマ処理性能を示すグラ
フである。
FIG. 3 is a graph showing plasma processing performance of an example and a comparative example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 反応容器 2 電極 3 電極 4 吹き出し口 6 シート部材 7 被処理物 P プラズマ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Reaction container 2 Electrode 3 Electrode 4 Outlet 6 Sheet member 7 Workpiece P Plasma

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山崎 圭一 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 喜多山 和也 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 安田 正治 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 中園 佳幸 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 4K057 DA01 DA16 DB06 DD01 DD08 DK03 DM06 DM08 DM09 DM28 DM35 DN01 5F004 AA01 AA14 BA03 BA06 BB13 BB29 BD01 CA02 DA22 DA23 DA26 DB26  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Keiichi Yamazaki 1048 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Kazuya Kitayama 1048 Kadoma Kadoma Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Works (72) Inventor Masaharu Yasuda 1048 Kadoma, Kadoma, Osaka Pref. Matsushita Electric Works, Ltd. (72) Inventor Yoshiyuki Nakazono 1048 Kadoma, Kazuma, Kadoma, Osaka Pref. DA16 DB06 DD01 DD08 DK03 DM06 DM08 DM09 DM28 DM35 DN01 5F004 AA01 AA14 BA03 BA06 BB13 BB29 BD01 CA02 DA22 DA23 DA26 DB26

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 筒状の反応容器と一対の電極とを備え、
反応容器に不活性ガス又は不活性ガスと反応ガスとの混
合気体からなるプラズマ生成用ガスを導入すると共に電
極の間に対応する位置において反応容器内に交流電界を
印加することにより、大気圧下でグロー状の放電を生じ
させてプラズマ生成用ガスからプラズマを生成し、この
プラズマを被処理物の表面に供給するプラズマ処理装置
であって、反応容器内に生成されたプラズマを被処理物
に向かってジェット状に吹き出すための吹き出し口を反
応容器に形成し、一対の電極のうち少なくとも一方を反
応容器の外側に設け、反応容器の外側に設けた電極と反
応容器の間に導電性材料からなるシート部材を介在させ
ると共にシート部材を反応容器の外面に密着させて設け
て成ることを特徴とするプラズマ処理装置。
An apparatus comprising: a tubular reaction vessel and a pair of electrodes;
By introducing an inert gas or a plasma-generating gas consisting of a mixture of an inert gas and a reaction gas into the reaction vessel and applying an AC electric field to the reaction vessel at a position corresponding to between the electrodes, the reaction vessel is maintained at atmospheric pressure. A plasma processing apparatus that generates a glow-like discharge to generate plasma from a plasma generating gas and supplies the plasma to the surface of the processing object, and the plasma generated in the reaction vessel is applied to the processing object. An outlet for jetting toward the jet is formed in the reaction container, at least one of the pair of electrodes is provided outside the reaction container, and a conductive material is provided between the electrode and the reaction container provided outside the reaction container. A plasma processing apparatus comprising a sheet member interposed therebetween and a sheet member closely attached to an outer surface of the reaction vessel.
【請求項2】 両方の電極を反応容器の外側に設けて成
ることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装
置。
2. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein both electrodes are provided outside the reaction vessel.
【請求項3】 シート部材を反応容器の外面に被着させ
て成ることを特徴とする請求項1又は2に記載のプラズ
マ処理装置。
3. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein a sheet member is attached to an outer surface of the reaction vessel.
【請求項4】 吹き出し口を幅広に形成して成ることを
特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のプラズマ
処理装置。
4. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the outlet is formed wide.
【請求項5】 シート部材のシート抵抗を20mΩ以下
にして成ることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか
に記載のプラズマ処理装置。
5. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the sheet resistance of the sheet member is set to 20 mΩ or less.
【請求項6】 シート部材の厚さを、電極に印加する高
周波電圧の周波数に対応したスキンデプス以上に形成し
て成ることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記
載のプラズマ処理装置。
6. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the thickness of the sheet member is equal to or greater than the skin depth corresponding to the frequency of the high-frequency voltage applied to the electrode. .
【請求項7】 請求項1乃至6のいずれかに記載のプラ
ズマ処理装置の吹き出し口の下方に被処理物を配置し、
吹き出し口からプラズマを吹き出して被処理物に供給し
てプラズマ処理することを特徴とするプラズマ処理方
法。
7. An object to be processed is arranged below an outlet of the plasma processing apparatus according to claim 1;
A plasma processing method, characterized in that plasma processing is performed by blowing out plasma from an outlet and supplying the plasma to an object to be processed.
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