JP2001127138A - Device and method for treatment - Google Patents

Device and method for treatment

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JP2001127138A
JP2001127138A JP2000245610A JP2000245610A JP2001127138A JP 2001127138 A JP2001127138 A JP 2001127138A JP 2000245610 A JP2000245610 A JP 2000245610A JP 2000245610 A JP2000245610 A JP 2000245610A JP 2001127138 A JP2001127138 A JP 2001127138A
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正巳 飽本
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the yield of a product by preventing the adhesion of particles, etc., to an object to be treated without being affected by the treating environment nor atmosphere. SOLUTION: A container 2 in which a cassette 1 housing wafers W is enclosed in such a way that the wafers W can be carried out of and in the cassette 1 is airtightly clamped on an airtight chamber 20 by means of clamps 7 or pressing members 8. An openable/closeable shutter 21 is provided between the container 2 and chamber 20, and an elevating/lowering mechanism 30 which carries the cassette 1 out of and in the container 2 is set up in the chamber 20. Between the chamber 20 and a treating section 10 having treating chambers 13a-13e for treating the wafers W and a cassette placing chamber 15, a transfer chamber 40 in which wafer transfer tweezers 16 are set up is provided. Therefore, the wafers W housed in the cassette 1 enclosed in the container 2 can be transported to the treating section 10 without exposing the wafers W to the outside air and, at the same time, the cassette 1 can be carried in the container 2 after the wafers W treated in the treating section 10 are housed in the cassette 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、処理装置及び処
理方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing apparatus and a processing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体集積回路の高集積・高密度
化が進んでいる。このような高集積・高密度化に伴い、
例えば半導体ウエハ等の被処理体の処理面積の増大と共
に、処理雰囲気の清浄度のより精密な管理が要求されて
いる。
2. Description of the Related Art In recent years, high integration and high density of semiconductor integrated circuits have been advanced. With such high integration and high density,
For example, as the processing area of an object to be processed such as a semiconductor wafer is increased, more precise control of the cleanliness of the processing atmosphere is required.

【0003】従来、上記事情に鑑みて半導体デバイスの
処理工程、すなわち例えばシリコン基板あるいはLCD
基板(ガラス基板)等の被処理体にフォトレジストを塗
布し、フォトリソグラフィ技術を用いて回路パターン等
を縮小してフォトレジストに転写し、これを現像処理す
る塗布・現像処理、あるいは、被処理体の表面上に形成
された薄膜の全面又は特定箇所を所定厚さ食刻するエッ
チング処理又は加速されたイオンを被処理体に注入して
被処理体への不純物を導入するイオン注入処理等におい
て、処理雰囲気の清浄度の改善が進められている。
[0003] Conventionally, in view of the above circumstances, processing steps for semiconductor devices, for example, silicon substrates or LCDs
A photoresist is applied to an object to be processed, such as a substrate (glass substrate), and a circuit pattern or the like is reduced and transferred to the photoresist by using photolithography technology, and this is developed and applied. In an etching process for etching the entire surface or a specific portion of the thin film formed on the surface of the body to a predetermined thickness, or an ion implantation process for implanting accelerated ions into the workpiece to introduce impurities into the workpiece. The improvement of the cleanliness of the processing atmosphere has been promoted.

【0004】また、処理工程へ搬入する未処理の被処理
体や処理済みの被処理体がパーティクル等の付着による
汚染から保護されるような管理も必要となっている。そ
こで、従来では、被処理体を収納するカセットを搬出入
可能に封入する箱と、この箱に対してカセットを搬出入
するエレベータ機構を具備するインターフェイス装置
(特公平5−66733号公報参照)や、このようなイ
ンターフェイス装置に更にカセットを所定位置に搬送す
るマニピュレータ手段を具備する装置(特開平1−29
4120号公報参照)等が開発されている。このような
インターフェイス装置を用いることによって、クリーン
ルームの必要性なしに、被処理体を運搬することが可能
となる。
In addition, it is necessary to manage the unprocessed object and the processed object to be carried into the processing step so that they are protected from contamination due to adhesion of particles and the like. Therefore, conventionally, a box for enclosing a cassette accommodating the object to be processed so as to be able to carry in and out, and an interface device having an elevator mechanism for carrying the cassette in and out of the box (see Japanese Patent Publication No. 5-66733), An apparatus having a manipulator means for transporting a cassette to a predetermined position in addition to such an interface apparatus (Japanese Patent Laid-Open No. 1-29).
No. 4120) has been developed. By using such an interface device, an object to be processed can be transported without the need for a clean room.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種の装置は、被処理体を収納するカセットを搬出入
可能に封入する箱と、この箱に隣接する室との間でのカ
セットの搬出入を対象とするため、既存の処理装置への
組付けに問題がある。すなわち、上記エレベータ機構や
マニピュレータ手段を配設する室と、処理装置の処理部
との間には環境や雰囲気が相違するため、両者間での被
処理体の受渡しの際に被処理体にパーティクル等が付着
したり、両者間の雰囲気相違により被処理体の処理面に
変化をきたす虞れがあるという問題がある。
However, in this type of conventional apparatus, the cassette is unloaded between a box for accommodating a cassette for accommodating the object to be loaded and unloaded and a chamber adjacent to the box. Therefore, there is a problem in assembling with an existing processing device. That is, since the environment and atmosphere are different between the chamber in which the elevator mechanism and the manipulator means are disposed and the processing unit of the processing apparatus, particles are transferred to the processing object when the processing object is transferred between the two. However, there is a problem that there is a risk that the processing surface of the object to be processed may be changed due to the attachment of the same or the difference in atmosphere between the two.

【0006】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、処理環境や雰囲気に影響されずに被処理体へのパー
ティクル等の付着を防止し、製品歩留まりの向上を図れ
るようにした処理装置及び処理方法を提供することを目
的とするものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is directed to a processing apparatus and a processing apparatus capable of preventing particles and the like from adhering to an object to be processed without being affected by a processing environment or an atmosphere and improving a product yield. It is intended to provide a method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の第1の処理装置は、被処理体を処理する
処理室と、上記被処理体を収納するカセットを載置する
カセット載置室と上記処理室との間で被処理体を搬出入
する被処理体搬送手段とを有する処理部と、上記カセッ
トを搬出入可能に封入するコンテナと、上記コンテナと
処理部との間に気密に介在される気密室と、上記気密室
内に配設されて、上記コンテナとの間で上記カセットを
搬出入するカセット搬送手段と、上記気密室と処理部と
の間に介在されて、上記カセット搬送手段にて搬送され
たカセットとカセット載置室との間で上記被処理体を受
渡しする被処理体受渡し手段と、コンテナと気密室とを
接続すると共に、着脱可能な締結手段と、上記コンテナ
と気密室との間に設けられる開閉可能なシャッタと、を
具備することを特徴とするものである(請求項1)。
To achieve the above object, a first processing apparatus according to the present invention comprises a processing chamber for processing an object to be processed and a cassette for mounting a cassette for accommodating the object to be processed. A processing unit having a processing object transporting unit for loading and unloading a processing object between the loading chamber and the processing chamber, a container enclosing the cassette so that the cassette can be loaded and unloaded, and a processing unit between the container and the processing unit. An airtight chamber interposed airtightly, cassette transport means disposed in the airtight chamber, for loading and unloading the cassette between the container, and interposed between the airtight chamber and the processing unit, An object transfer means for transferring the object between the cassette transported by the cassette transport means and the cassette mounting chamber, and connecting the container and the airtight chamber, and a detachable fastening means, Between the above container and hermetic chamber It is characterized in that it comprises a shutter which can be opened and closed to vignetting (claim 1).

【0008】この発明の第2の処理装置は、被処理体を
処理する処理室と、上記被処理体を収納するカセットを
載置するカセット載置室と上記処理室との間で被処理体
を搬出入する被処理体搬送手段とを有する処理部と、上
記カセットを搬出入可能に封入するコンテナと、上記コ
ンテナと処理部との間に気密に介在される気密室と、上
記気密室内に配設されて、上記コンテナとの間で上記カ
セットを搬出入するカセット搬送手段と、上記気密室と
処理部との間に介在されて、上記カセットを受渡しする
カセット受渡し手段と、コンテナと気密室とを接続する
と共に、着脱可能な締結手段と、上記コンテナと気密室
との間に設けられる開閉可能なシャッタと、を具備する
ことを特徴とするものである(請求項2)。
According to a second processing apparatus of the present invention, a processing chamber for processing an object to be processed, and a cassette mounting chamber for mounting a cassette for storing the object to be processed and the processing chamber, A processing unit having an object transfer means for carrying in and out, a container enclosing the cassette so as to be able to carry in and out, an airtight chamber interposed airtightly between the container and the processing unit, and an airtight chamber. A cassette conveying means disposed to carry the cassette in and out of the container; a cassette transfer means interposed between the airtight chamber and the processing unit for transferring the cassette; a container and an airtight chamber And detachable fastening means, and an openable / closable shutter provided between the container and the airtight chamber (claim 2).

【0009】また、この発明の第3の処理装置は、被処
理体を処理する処理室と、上記被処理体を収納するカセ
ットを載置するカセット載置室と上記処理室との間で被
処理体を搬出入する被処理体搬送手段とを有する処理部
と、上記カセットを搬出入可能に封入して上記カセット
載置室に連結されるコンテナと、上記コンテナとカセッ
ト載置室との間でカセットを搬出入するカセット搬送手
段と、上記コンテナとカセット載置室とを接続すると共
に、着脱可能な締結手段と、上記コンテナとカセット載
置室との間に設けられる開閉可能なシャッタと、を具備
することを特徴とするものである(請求項3)。
In a third processing apparatus according to the present invention, a processing chamber for processing an object to be processed, a cassette mounting chamber for mounting a cassette for storing the object to be processed, and the processing chamber are disposed between the processing chamber. A processing unit having a processing object transporting means for loading and unloading the processing object, a container enclosing the cassette so as to be capable of loading and unloading, and a container connected to the cassette mounting chamber; and a container between the container and the cassette mounting chamber. Cassette transport means for loading and unloading cassettes, connecting the container and the cassette mounting chamber, detachable fastening means, and an openable / closable shutter provided between the container and the cassette mounting chamber; (Claim 3).

【0010】この発明の処理装置において、上記シャッ
タは上記コンテナと気密室との間、又は、コンテナとカ
セット載置室との間に設けられる開閉可能な構造であれ
ば、一体に形成されるものであっても差し支えないが、
好ましくは、上記シャッタを、2段階に開閉される一対
のシャッタ体にて形成する方がよい。また、上記コンテ
ナと気密室又はコンテナとカセット載置室とをシール手
段を介して接続する方が好ましい。また、上記コンテナ
内と気密室内とを同一雰囲気とする方が好ましい。この
場合、コンテナ内と気密室内の雰囲気を同一の不活性ガ
ス雰囲気とする方が更に好ましい。不活性ガスとして
は、例えば窒素(N2 )ガス、アルゴン(Ar)ガスあ
るいはヘリウム(He)ガス等を使用することができ
る。
In the processing apparatus according to the present invention, the shutter may be integrally formed if the shutter is openable and closable provided between the container and the airtight chamber or between the container and the cassette mounting chamber. Although it does not matter,
Preferably, the shutter is formed of a pair of shutter bodies that are opened and closed in two stages. Further, it is preferable to connect the container and the airtight chamber or the container and the cassette mounting chamber via a sealing means. In addition, it is preferable that the inside of the container and the airtight room have the same atmosphere. In this case, it is more preferable that the atmosphere in the container and the atmosphere in the airtight chamber be the same inert gas atmosphere. As the inert gas, for example, nitrogen (N2) gas, argon (Ar) gas, helium (He) gas, or the like can be used.

【0011】また、上記コンテナ内と気密室内とを同一
の加圧又は減圧雰囲気とする方が好ましい。
It is preferable that the inside of the container and the hermetic chamber be in the same pressurized or reduced pressure atmosphere.

【0012】また、上記カセット搬送手段を、コンテナ
側に向って進退移動する搬送駆動部と、この搬送駆動部
と気密室又は搬送駆動部とカセット載置室とを区画する
気密壁とで構成する方が好ましい。この場合、気密壁を
伸縮自在に形成してもよい。
Further, the cassette transport means is constituted by a transport drive section which moves forward and backward toward the container side, and an airtight wall which partitions the transport drive section and the airtight chamber or the transport drive section and the cassette mounting chamber. Is more preferred. In this case, the airtight wall may be formed to be stretchable.

【0013】加えて、上記気密室内に配設される温度検
出手段及び湿度検出手段と、上記温度検出手段及び湿度
検出手段からの検出信号に基づいて作動して、上記気密
室内の温度及び湿度を制御する温度及び湿度制御手段と
を具備する方が好ましい。
In addition, the temperature detection means and the humidity detection means provided in the airtight chamber and the temperature and humidity in the airtight chamber are operated based on detection signals from the temperature detection means and the humidity detection means. It is preferable to provide temperature and humidity control means for controlling.

【0014】また、この発明の第1の処理方法は、請求
項1に記載の第1の処理装置を用いて被処理体を処理す
る方法において、コンテナを気密室に気密に締結する工
程と、上記コンテナと気密室との間に設けられたシャッ
タを開放してコンテナと気密室とを連通させる工程と、
上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、上記気密室内のカセットから被処理体を処理部に受
け渡す工程とを有することを特徴とするものである(請
求項14)。
According to a first processing method of the present invention, in the method for processing an object to be processed using the first processing apparatus according to the first aspect, a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber; Opening a shutter provided between the container and the airtight chamber to communicate the container and the airtight chamber;
The method includes a step of transporting the cassette from the inside of the container to the airtight chamber and a step of transferring the object to be processed from the cassette in the airtight chamber to the processing unit.

【0015】また、この発明の第2の処理方法は、請求
項2に記載の第2の処理装置を用いて被処理体を処理す
る方法において、コンテナを気密室に気密に締結する工
程と、上記コンテナと気密室との間に設けられたシャッ
タを開放してコンテナと気密室とを連通させる工程と、
上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、上記気密室内のカセットをカセット載置室内に受け
渡す工程とを有することを特徴とするものである(請求
項15)。
According to a second processing method of the present invention, in the method of processing an object to be processed using the second processing apparatus according to the second aspect, a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber; Opening a shutter provided between the container and the airtight chamber to communicate the container and the airtight chamber;
The method includes a step of transporting the cassette from inside the container to the airtight chamber, and a step of transferring the cassette in the airtight chamber to the cassette mounting chamber (claim 15).

【0016】また、この発明の第3の処理方法は、請求
項3に記載の第3の処理装置を用いて被処理体を処理す
る方法において、コンテナをカセット載置室に気密に締
結する工程と、上記コンテナとカセット載置室との間に
設けられたシャッタを開放してコンテナとカセット載置
室とを連通させる工程と、上記コンテナ内からカセット
をカセット載置室内に搬送する工程とを有することを特
徴とするものである(請求項16)。
According to a third processing method of the present invention, in the method of processing an object to be processed using the third processing apparatus according to the third aspect, the step of airtightly fastening the container to the cassette mounting chamber. Opening a shutter provided between the container and the cassette mounting chamber to communicate the container with the cassette mounting chamber; and transporting the cassette from the container into the cassette mounting chamber. It is characterized by having (claim 16).

【0017】また、この発明の第4の処理方法は、請求
項1記載に記載の処理装置を用いて被処理体を処理する
方法において、コンテナを気密室に気密に締結する工程
と、上記コンテナ内と気密室内とを同一の加圧又は減圧
雰囲気にする工程と、上記コンテナと気密室との間に設
けられたシャッタを開放してコンテナと気密室とを連通
させる工程と、上記コンテナ内からカセットを気密室内
に搬送する工程と、上記気密室と被処理体搬送手段を配
設する受渡し室とを同一の雰囲気にする工程と、上記気
密室内のカセットから被処理体を処理部に受け渡す工程
とを有することを特徴とするものである(請求項17,
18)。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to the first aspect, wherein the container is hermetically fastened to an airtight chamber; A step of bringing the inside and the hermetic chamber into the same pressurized or depressurized atmosphere; a step of opening a shutter provided between the container and the hermetic chamber to communicate the container with the hermetic chamber; A step of transporting the cassette into the airtight chamber, a step of setting the same atmosphere in the airtight chamber and a delivery chamber in which the object transfer means is provided, and transferring the object to be processed from the cassette in the airtight chamber to the processing unit. (Claim 17, claim 17)
18).

【0018】加えて、この発明の第5の処理方法は、請
求項2記載に記載の処理装置を用いて被処理体を処理す
る方法において、コンテナを気密室に気密に締結する工
程と、上記コンテナ内と気密室内とを同一の加圧又は減
圧雰囲気にする工程と、上記コンテナと気密室との間に
設けられたシャッタを開放してコンテナと気密室とを連
通させる工程と、上記コンテナ内からカセットを気密室
内に搬送する工程と、上記気密室とカセット受渡し手段
を配設する受渡し室とを同一の雰囲気にする工程と、上
記気密室内のカセットをカセット載置室に受け渡す工程
とを有することを特徴とするものである(請求項19,
20)。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to the second aspect, wherein the container is hermetically fastened to an airtight chamber; A step of bringing the inside of the container and the hermetic chamber into the same pressurized or depressurized atmosphere; a step of opening a shutter provided between the container and the hermetic chamber to communicate the container with the hermetic chamber; Transferring the cassette from the airtight chamber to the airtight chamber, setting the airtight chamber and the transfer chamber provided with the cassette transfer means to have the same atmosphere, and transferring the cassette in the airtight chamber to the cassette mounting chamber. (Claim 19, Claim 19)
20).

【0019】この発明の処理方法において、上記シャッ
タを第1段階まで開放すると共に、コンテナ内のカセッ
トの固定を解除して、カセットをシャッタの上部に位置
させ、その後、上記カセットを全開の第2段階まで開放
して、カセットをカセット搬送手段に受け渡す方が好ま
しい(請求項21)。
In the processing method of the present invention, the shutter is opened to the first stage, the cassette in the container is released, the cassette is positioned above the shutter, and then the cassette is fully opened to the second stage. It is preferable that the cassette is opened to the stage and the cassette is delivered to the cassette carrying means (claim 21).

【0020】上記技術的手段によるこの発明によれば、
コンテナを気密室に気密に締結した後、コンテナと気密
室との間に設けられたシャッタを開放してコンテナと気
密室とを連通させて、コンテナ内からカセットを気密室
内に搬送し、次いで気密室内のカセットから被処理体を
処理部に受け渡すか、あるいは、気密室内のカセットを
カセット載置室内に受け渡した後、カセット載置室のカ
セットから被処理体を処理部に受け渡すことができる。
According to the present invention by the above technical means,
After the container is airtightly fastened to the airtight chamber, the shutter provided between the container and the airtight chamber is opened to communicate the container and the airtight chamber, and the cassette is transported from the container into the airtight chamber, and then airtight. After the object to be processed is delivered from the cassette in the room to the processing unit, or after the cassette in the airtight chamber is delivered to the cassette mounting room, the object to be processed can be delivered to the processing unit from the cassette in the cassette mounting room. .

【0021】また、この発明によれば、コンテナをカセ
ット載置室に気密に締結した後、コンテナとカセット載
置室との間に設けられたシャッタを開放してコンテナと
カセット載置室とを連通させ、次いでコンテナ内からカ
セットをカセット載置室内に受け渡した後、カセット載
置室のカセットから被処理体を処理部に受け渡すことが
できる。
According to the present invention, after the container is airtightly fastened to the cassette mounting chamber, a shutter provided between the container and the cassette mounting chamber is opened to open the container and the cassette mounting chamber. After the communication, the cassette is transferred from the inside of the container into the cassette mounting chamber, the object to be processed can be transferred from the cassette in the cassette mounting chamber to the processing section.

【0022】処理部にて処理が施された被処理体は、上
述と逆の動作でコンテナ内に搬入され、外気と遮断され
た雰囲気の状態で所定の場所に運搬される。
The object to be processed, which has been processed in the processing section, is carried into the container by the reverse operation of the above, and is transported to a predetermined place in an atmosphere shielded from the outside air.

【0023】したがって、被処理体を外気の雰囲気に晒
すことなく処理工程へ供給することができると共に、処
理後の被処理体を同様に外気の雰囲気に晒すことなく搬
送することができ、被処理体へのパーティクル等の付着
による汚染を防止することができると共に、製品歩留ま
りの向上を図ることができる。
Therefore, the object to be processed can be supplied to the processing step without being exposed to the atmosphere of the outside air, and the object to be processed can be similarly transported without being exposed to the atmosphere of the outside air. Contamination due to adhesion of particles and the like to the body can be prevented, and the product yield can be improved.

【0024】また、この発明によれば、コンテナを気密
室に気密に締結した後、コンテナ内と気密室内とを同一
の加圧又は減圧雰囲気にし、コンテナと気密室との間に
設けられたシャッタを開放してコンテナと気密室とを連
通させて、コンテナ内からカセットを気密室内に搬送
し、次いで気密室と被処理体搬送手段を配設する受渡し
室とを同一の雰囲気にした後、気密室内のカセットから
被処理体を処理部に受け渡すことができる。
Further, according to the present invention, after the container is airtightly fastened to the airtight chamber, the inside of the container and the airtight chamber are set to the same pressurized or depressurized atmosphere, and the shutter provided between the container and the airtight chamber is provided. Is opened to communicate the container with the airtight chamber, the cassette is transported from the container into the airtight chamber, and then the airtight chamber and the transfer chamber in which the object transfer means are disposed are made to have the same atmosphere. The object to be processed can be transferred from the cassette in the room to the processing section.

【0025】したがって、被処理体を常に同一の雰囲気
の下におくことができるので、被処理体の雰囲気相違に
よる質的変化を防止することができ、製品歩留まりの向
上を図ることができる。
Therefore, since the object to be processed can always be kept under the same atmosphere, a qualitative change due to a difference in atmosphere between the objects to be processed can be prevented, and the product yield can be improved.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態を添付
図面に基いて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0027】◎第一実施形態 図1はこの発明の処理装置の第一実施形態の概略平面
図、図2は図1の要部断面図が示されている。
First Embodiment FIG. 1 is a schematic plan view of a processing apparatus according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of a main part of FIG.

【0028】第一実施形態の処理装置は、被処理体とし
ての半導体ウエハW(以下にウエハという)のレジスト
塗布・現像装置に適用した場合である。
The processing apparatus of the first embodiment is applied to a resist coating / developing apparatus for a semiconductor wafer W (hereinafter, referred to as a wafer) as an object to be processed.

【0029】この発明の処理装置は、ウエハWに種々の
処理を施す処理部10と、複数枚例えば25枚のウエハ
Wを多段状に収納するカセット1を搬出入可能に封入す
るコンテナ2と、コンテナ2と処理部10との間に気密
に介在される気密室20と、気密室20内に配設され
て、コンテナ2との間でカセット1を搬出入するカセッ
ト搬送手段としての昇降機構30と、気密室20と処理
部10との間に介在されて、昇降機構30にて搬送され
たカセット1と、処理部10に設けられたカセット載置
室15との間でウエハWを受渡しするウエハW受渡し手
段としてのウエハ受渡し用ピンセット16とを具備して
なる。
The processing apparatus of the present invention includes a processing unit 10 for performing various processing on wafers W, a container 2 for loading and unloading a cassette 1 for accommodating a plurality of, for example, 25 wafers W in a multi-stage shape, An airtight chamber 20 airtightly interposed between the container 2 and the processing unit 10; and an elevating mechanism 30 disposed in the airtight chamber 20 and serving as a cassette transport means for carrying the cassette 1 in and out of the container 2. The wafer W is transferred between the cassette 1 interposed between the airtight chamber 20 and the processing unit 10 and transported by the elevating mechanism 30 and the cassette mounting chamber 15 provided in the processing unit 10. It is provided with a wafer transfer tweezers 16 as a wafer W transfer means.

【0030】上記処理部10は、ウエハWに種々の処理
を施す処理機構ユニット11と、処理機構ユニット11
にウエハWを搬入及び搬出するカセット載置室15とで
主要部が構成され、処理機構ユニット11とカセット載
置室15との間には、ウエハWの受渡しを司る中継手段
としてのキャリアステーション12を配置してなる。
The processing unit 10 includes a processing mechanism unit 11 for performing various processes on the wafer W, and a processing mechanism unit 11.
The main part is constituted by a cassette mounting chamber 15 for loading and unloading wafers W into and from the processing mechanism unit 11 and the cassette mounting chamber 15, a carrier station 12 as a relay means for transferring the wafer W is provided. Is arranged.

【0031】上記カセット載置室15は、複数枚例えば
25枚の未処理のウエハWを多段状に収容するウエハキ
ャリア17aと、複数枚例えば25枚の処理済みのウエ
ハWを多段状に収容するウエハキャリア17bと、これ
らウエハキャリア17a,17bとの間でウエハWを搬
入及び搬出する搬入・搬出手段としてのウエハ搬送用ピ
ンセット18とを有する。この場合、ウエハキャリア1
7a,17bは、処理室側と気密室側が開口しており、
これら開口を介してウエハWの搬出・搬入が行えるよう
になっている。また、ウエハ搬送用ピンセット18は、
ウエハWを吸着例えば真空吸着保持するアーム18a
と、このアーム18aをX,Y(水平)、Z(垂直)及
びθ(回転)方向に移動させる移動機構18bとで構成
されている。
The cassette mounting chamber 15 stores a plurality of, for example, 25 unprocessed wafers W in a multi-stage shape, and a plurality of, for example, 25 processed wafers W, in a multi-stage shape. It has a wafer carrier 17b, and wafer transfer tweezers 18 as loading / unloading means for loading and unloading the wafer W between the wafer carriers 17a and 17b. In this case, the wafer carrier 1
7a and 17b are open on the processing chamber side and the airtight chamber side,
The wafer W can be carried out / in through these openings. Further, the tweezers 18 for wafer transfer includes:
Arm 18a for holding wafer W by suction, for example, vacuum suction
And a moving mechanism 18b for moving the arm 18a in X, Y (horizontal), Z (vertical) and θ (rotation) directions.

【0032】一方、上記処理機構ユニット11は、ウエ
ハWに所定の処理を施す複数の処理室13a〜13e
と、これら処理室13a〜13eとの間でウエハWを搬
入及び搬出する搬送手段14とを具備する。この場合、
搬送手段14は、処理機構ユニット11とカセット載置
室15との間に配置されたキャリアステーション12か
らX方向に形成された搬送路14aに沿って移動自在な
搬送台14bと、この搬送台14b上にX,Y,Z及び
θ方向に移動自在に搭載されてウエハWを保持するメイ
ンアーム14cとで構成されている。また、搬送路14
aの一方の側には、ウエハWとレジスト膜との密着性を
向上させるためのアドヒージョン処理を行うアドヒージ
ョン処理室13aと、ウエハWに塗布されたレジスト中
に残存する溶剤を加熱蒸発させるためのプリベーク室1
3bと、加熱処理されたウエハWを冷却する冷却室13
cが配置されている。搬送路14aの他方の側には、ウ
エハWの表面にレジスト液を塗布するレジスト塗布室1
3dと、所定のパターンが露光されたレジスト膜を現像
処理する2つの現像室13eが並列配置されている。
On the other hand, the processing mechanism unit 11 includes a plurality of processing chambers 13a to 13e for performing predetermined processing on the wafer W.
And transfer means 14 for loading and unloading the wafer W between the processing chambers 13a to 13e. in this case,
The transfer means 14 includes a transfer table 14b movable along a transfer path 14a formed in the X direction from a carrier station 12 disposed between the processing mechanism unit 11 and the cassette mounting chamber 15, and a transfer table 14b. And a main arm 14c that is mounted movably in the X, Y, Z, and θ directions to hold the wafer W. Also, the transport path 14
One side of a has an adhesion processing chamber 13a for performing an adhesion process for improving the adhesion between the wafer W and the resist film, and a heating chamber for heating and evaporating a solvent remaining in the resist applied to the wafer W. Pre-bake room 1
3b and a cooling chamber 13 for cooling the wafer W subjected to the heat treatment.
c is arranged. A resist coating chamber 1 for coating a resist liquid on the surface of the wafer W is provided on the other side of the transfer path 14a.
3d and two developing chambers 13e for developing a resist film on which a predetermined pattern has been exposed are arranged in parallel.

【0033】上記コンテナ2は、下方が開口する例えば
硬質プラスチック製あるいはステンレスやアルミニウム
などの金属製の箱状のコンテナ本体3と、このコンテナ
本体3の開口部3aを開閉可能に塞ぐと共にその上にカ
セット1を載置する蓋体4とで構成されており、蓋体4
によって塞がれた状態においてカセット1は密封状態で
保管されるようになっている。このコンテナ2内は、例
えばN2 ガスなどの不活性ガス雰囲気で、常圧又は僅か
に加圧、例えば0.05Torr程度以上の雰囲気に設定さ
れている。なお、コンテナ2内に収容されるカセット1
は、図3に想像線で示すような操作ノブ付きの気密にシ
ールされた保持部材5の押圧によってコンテナ2内に固
定された状態で保持され、保持部材5の押圧を解除する
ことによって固定保持が解除されるようになっている。
カセット1の保持は必ずしもこのような構造である必要
はなく、その他の保持手段を用いてカセット1をコンテ
ナ2内に固定保持するようにしてもよい。
The container 2 has a box-shaped container main body 3 made of, for example, a hard plastic or a metal such as stainless steel or aluminum, and has an opening 3a. And a lid 4 on which the cassette 1 is placed.
When the cassette 1 is closed, the cassette 1 is stored in a sealed state. The interior of the container 2 is set to an atmosphere of an inert gas such as N2 gas at normal pressure or slightly increased pressure, for example, about 0.05 Torr or more. The cassette 1 accommodated in the container 2
Is held in a state fixed in the container 2 by pressing of an airtightly sealed holding member 5 having an operation knob as shown by an imaginary line in FIG. 3, and is fixed and held by releasing the pressing of the holding member 5. Is released.
The holding of the cassette 1 is not necessarily required to have such a structure, and the cassette 1 may be fixedly held in the container 2 using other holding means.

【0034】また、コンテナ本体3の開口部3aには外
向きフランジ3cが設けられており、この外向きフラン
ジ3cの下面に周設された凹溝3d内に、例えばOリン
グなどのシール部材6(シール手段)が装着されてい
る。また、フランジ3cの内周下面側には、例えばOリ
ングなどのシール部材3eが全周に亘り装着されてお
り、これに蓋体4の周縁上部を押圧することによりコン
テナ本体3内を密閉状態に保つ。なお、蓋体4は、図示
しないロック機構、嵌合機構等により、フランジ3c部
分に密着される。
An outward flange 3c is provided in the opening 3a of the container body 3, and a sealing member 6 such as an O-ring is provided in a concave groove 3d provided on the lower surface of the outward flange 3c. (Sealing means) is mounted. Further, a sealing member 3e such as an O-ring is attached to the entire lower surface of the inner peripheral surface of the flange 3c, and the inside of the container body 3 is sealed by pressing the upper peripheral edge of the lid 4 against the sealing member 3e. To keep. The lid 4 is brought into close contact with the flange 3c by a lock mechanism, a fitting mechanism, or the like (not shown).

【0035】このように構成されるコンテナ2は図示し
ない搬送手段によって気密室20の頂部に載置され、気
密室20の頂部上面に装着された自動的又は手動的な締
結手段としてのクランプ7によって外向きフランジ3c
が締結されることによってシール部材6がコンテナ2と
気密室20に密接して、コンテナ2と気密室20とが気
密に連結される。なお、クランプ7に代えて図2に想像
線で示すような押圧部材8を、コンテナ2の上方から下
方に向かって押圧することによっても同様にコンテナ2
と気密室20とを気密に連結することができる。さら
に、コンテナ2の自重により押圧するようにしてもよ
い。また、この実施形態ではシール部材6をコンテナ側
に装着した場合について説明したが、必ずしもこのよう
な構造である必要はなく、気密室側にシール部材6を装
着してもよい。
The container 2 constructed as described above is placed on the top of the airtight chamber 20 by a transport means (not shown), and is mounted on the top of the airtight chamber 20 by a clamp 7 as an automatic or manual fastening means. Outward flange 3c
Is fastened, the sealing member 6 comes into close contact with the container 2 and the airtight chamber 20, and the container 2 and the airtight chamber 20 are airtightly connected. The container 2 can be similarly pressed by pressing a pressing member 8 as shown by an imaginary line in FIG.
And the airtight chamber 20 can be connected in an airtight manner. Further, the container 2 may be pressed by its own weight. Further, in this embodiment, the case where the seal member 6 is mounted on the container side has been described. However, such a structure is not necessarily required, and the seal member 6 may be mounted on the airtight chamber side.

【0036】一方、上記気密室20は、その頂部上面に
おけるコンテナ載置部に開閉可能なシャッタ21を設け
た開口窓22を具備すると共に、その内部に昇降機構3
0を配設してなる。この気密室20の上部側壁にはガス
供給口23が開設され、底壁部には排気口24が開設さ
れている。そして、ガス供給口23にはバルブ25を介
してN2 ガス供給源26が接続され、排気口24にはバ
ルブ27を介して排気手段としての真空ポンプ28が接
続されている。したがって、気密室20内はN2 ガス供
給源26から供給されるN2 ガスによってパージされ、
コンテナ2内と同一の常圧又は僅かに加圧、例えば0.
05Torr程度の雰囲気、あるいは真空ポンプ28の駆動
によって所定の真空度、例えば1×10-1〜10-8Torr
の雰囲気に設定される。なお、気密室20の圧力は圧力
検出器29によって測定される。
On the other hand, the hermetic chamber 20 has an opening window 22 provided with a shutter 21 which can be opened and closed on a container mounting portion on the top surface of the top, and an elevating mechanism 3 therein.
0 is provided. A gas supply port 23 is provided on an upper side wall of the hermetic chamber 20, and an exhaust port 24 is provided on a bottom wall portion. The gas supply port 23 is connected to an N2 gas supply source 26 via a valve 25, and the exhaust port 24 is connected to a vacuum pump 28 as an exhaust means via a valve 27. Therefore, the inside of the hermetic chamber 20 is purged by the N2 gas supplied from the N2 gas supply source 26,
The same normal pressure or slightly pressurized as in the container 2, for example, 0.
Atmosphere of about 05 Torr or a predetermined degree of vacuum by driving the vacuum pump 28, for example, 1 × 10 -1 to 10 -8 Torr
The atmosphere is set. The pressure in the airtight chamber 20 is measured by the pressure detector 29.

【0037】上記開口窓22に設けられるシャッタ21
は、図3ないし図5に示すように、開口窓22の対向す
る位置の気密室20の頂部下面に設けられた収納溝22
a内に収納可能な一対のシャッタ体21aにて形成され
ている。各シャッタ体21aは収納溝22aの内壁に設
けられたガイド溝22bに沿って摺動可能に取付けら
れ、シャッタ体21aに取付けられたアーム部21bに
連結するシリンダ21cの駆動によって開口窓22を開
閉し得るようになっている。この場合、図3(a),
(b)に示すように、シャッタ体21aを2段階に開閉
させるようにし、コンテナ2内に収容されたカセット1
を気密室20内に搬送する際に、まず、シャッタ体21
aを第1段階の位置例えば、蓋体4の端部がシャッタ体
21aの端部に載っているような位置まで開放してシャ
ッタ体21aの上にカセット1を載置させる。このと
き、保持部材5の保持は開放されており、また昇降機構
30の昇降台31は上昇し上記蓋体4を支持している。
次に、シャッタ体21aを第2段階すなわち全開位置に
開放することにより、カセット1を昇降機構30の昇降
台31上に載置することができる。なおこの場合、コン
テナ2は気密に連結されているので、シャッタ21を開
放してカセット1を移動する際、外部雰囲気のパーティ
クル等がウエハWに付着する虞れはない。
The shutter 21 provided in the opening window 22
As shown in FIGS. 3 to 5, a storage groove 22 provided on the lower surface of the top of the hermetic chamber 20 at a position facing the opening window 22.
The shutter body 21a is formed of a pair of shutter bodies 21a that can be stored in the shutter body 21a. Each shutter body 21a is slidably mounted along a guide groove 22b provided on the inner wall of the storage groove 22a, and opens and closes the opening window 22 by driving a cylinder 21c connected to an arm 21b mounted on the shutter body 21a. It is possible to do. In this case, FIG.
As shown in (b), the shutter 21a is opened and closed in two stages, and the cassette 1 accommodated in the container 2 is opened.
When transporting into the airtight chamber 20, first, the shutter body 21
a is opened to a first stage position, for example, a position where the end of the lid 4 is placed on the end of the shutter 21a, and the cassette 1 is placed on the shutter 21a. At this time, the holding of the holding member 5 is released, and the elevating table 31 of the elevating mechanism 30 is raised to support the lid 4.
Next, the cassette 1 can be placed on the lift table 31 of the lift mechanism 30 by opening the shutter body 21a to the second stage, that is, the fully open position. In this case, since the container 2 is air-tightly connected, there is no possibility that particles or the like in an external atmosphere will adhere to the wafer W when the shutter 21 is opened and the cassette 1 is moved.

【0038】上記昇降機構30は、気密室20の下方に
配置された搬送駆動部としての昇降駆動部を、例えばモ
ータ32と、このモータに図示しないボールネジ機構を
介して連設する昇降ロッド33とで構成してなり、昇降
ロッド33の上部に昇降台31を取付けてなる。また、
昇降台31と気密室20の底壁との間には、伸縮自在な
ベローズシール等の気密壁34が張設されており、この
気密壁34によって昇降機構30と気密室20内とが気
密に区画されて、昇降機構30の搬送駆動部から気密室
20内にごみ等が侵入するのを防止している。なお、昇
降機構30の搬送駆動部は必しもモータ32とボールネ
ジ機構によるものである必要はなく、モータ32とボー
ルネジ機構に代えてシリンダによる往復移動機構のもの
を用いてもよい。
The elevating mechanism 30 includes, for example, a motor 32 and an elevating rod 33 which is connected to the motor via a ball screw mechanism (not shown). The lifting table 31 is attached to the upper part of the lifting rod 33. Also,
An airtight wall 34 such as a telescopic bellows seal is stretched between the lift table 31 and the bottom wall of the airtight chamber 20. The airtight wall 34 allows the elevating mechanism 30 and the inside of the airtight chamber 20 to be airtight. It is partitioned to prevent dust and the like from entering the airtight chamber 20 from the transport drive unit of the elevating mechanism 30. Note that the transport drive unit of the elevating mechanism 30 does not necessarily need to be driven by the motor 32 and the ball screw mechanism. Instead of the motor 32 and the ball screw mechanism, a reciprocating mechanism using a cylinder may be used.

【0039】一方、上記ウエハ受渡し用ピンセット16
は、気密室20との間、及び処理部10のカセット載置
室15との間にそれぞれ開閉可能に配設されたゲート3
5,36を介して連通するウエハ受渡し室40内に配設
されている。このウエハ受渡し用ピンセット16は、上
記ウエハ搬送用ピンセット18と同様、ウエハWを吸着
保持するアーム16aと、このアーム16aをX,Y
(水平)、Z(垂直)及びθ(回転)方向に移動させる
移動機構16bとで構成されている。このように構成さ
れるウエハ受渡し用ピンセット16を用いてウエハWの
受渡しを行うには、上記コンテナ2内からカセット1を
昇降機構30にて気密室20内に搬送した状態にし、そ
して、ゲート35,36を開放して気密室20及びカセ
ット載置室15と受渡し室40とを連通して、カセット
1内から未処理のウエハWを1枚搬出して処理部10の
ウエハキャリア17a内に搬入するか、あるいは、逆に
ウエハキャリア17a内から処理済みのウエハWを搬出
して気密室20内のカセット1内に搬入する。
On the other hand, the tweezers 16 for transferring the wafer
Are gates 3 that can be opened and closed between the airtight chamber 20 and the cassette mounting chamber 15 of the processing unit 10, respectively.
It is arranged in a wafer transfer chamber 40 that communicates through 5 and 36. Like the wafer transfer tweezers 18, the wafer transfer tweezers 16 include an arm 16a for holding the wafer W by suction, and this arm 16a is connected to the X, Y
(Horizontal), Z (vertical), and θ (rotation) directions. In order to transfer the wafer W using the wafer transfer tweezers 16 configured as described above, the cassette 1 is transported from the container 2 into the hermetic chamber 20 by the elevating mechanism 30, and the gate 35 is moved. , 36 are opened to communicate the airtight chamber 20, the cassette mounting chamber 15 and the transfer chamber 40, and one unprocessed wafer W is unloaded from the cassette 1 and loaded into the wafer carrier 17a of the processing unit 10. Alternatively, on the contrary, the processed wafer W is unloaded from the wafer carrier 17a and loaded into the cassette 1 in the hermetic chamber 20.

【0040】上記気密室20とウエハ受渡し室40とを
連通させる際に、両室20,40の雰囲気を同一にする
方が好ましい。そこで、この発明においては、図6に示
すように、気密室20及びウエハ受渡し室40にそれぞ
れ温度センサ50及び湿度センサ51を配設し、これら
温度センサ50及び湿度センサ51にて検出された検出
情報を温度及び湿度制御手段としての中央演算処理装置
52(CPU)に伝達し、CPU52に入力される例え
ば0℃の温度保障回路53からの情報と測定温度とを比
較演算して、その制御信号をN2 供給系に設けられた加
熱手段としてのヒータ54に伝達してヒータ54(加
熱、冷却手段を備えた温調機構でもよい)を制御するこ
とにより気密室20内及びウエハ受渡し室40内を所定
の温度、例えば室温(23.0±2.5℃)に設定する
ことができる。また、湿度センサ51にて検出された検
出情報もCPU52に伝達され、CPU52に予め記憶
された基準湿度と比較演算されて、その制御信号を湿度
制御手段としてのヒータ54に伝達することにより気密
室20内及びウエハ受渡し室40内を所定の湿度、例え
ば40±0.5%に設定することができる。この温度:
23.0±2.5℃及び湿度:40±0.5%はウエハ
Wのレジスト塗布・現像処理に最適の温度及び湿度であ
る。なお、湿度制御手段を上記ヒータ54に代えて加湿
・除湿器を用いてもよい。
When the hermetic chamber 20 and the wafer transfer chamber 40 are communicated with each other, it is preferable that the atmospheres of the two chambers 20 and 40 be the same. Therefore, in the present invention, as shown in FIG. 6, a temperature sensor 50 and a humidity sensor 51 are provided in the hermetic chamber 20 and the wafer transfer chamber 40, respectively, and the detection detected by the temperature sensor 50 and the humidity sensor 51 is performed. The information is transmitted to a central processing unit 52 (CPU) as temperature and humidity control means, and information from a temperature assurance circuit 53 of, for example, 0 ° C. input to the CPU 52 is compared with a measured temperature, and a control signal is transmitted. Is transmitted to a heater 54 as a heating means provided in the N2 supply system to control the heater 54 (which may be a temperature control mechanism provided with a heating and cooling means), so that the inside of the airtight chamber 20 and the inside of the wafer transfer chamber 40 are controlled. It can be set to a predetermined temperature, for example, room temperature (23.0 ± 2.5 ° C.). Further, the detection information detected by the humidity sensor 51 is also transmitted to the CPU 52, compared with a reference humidity stored in advance in the CPU 52, and the control signal is transmitted to a heater 54 as a humidity control means, so that the airtight chamber is obtained. The inside of the wafer 20 and the inside of the wafer transfer chamber 40 can be set to a predetermined humidity, for example, 40 ± 0.5%. This temperature:
23.0 ± 2.5 ° C. and Humidity: 40 ± 0.5% are the optimal temperature and humidity for resist coating / developing processing of the wafer W. It should be noted that a humidifier / dehumidifier may be used instead of the heater 54 for the humidity control means.

【0041】この実施形態では気密室20とウエハ受渡
し室40の両方を同一の温度及び湿度に設定する場合に
ついて説明したが、両室は、外部雰囲気とは遮断状態に
されており、ゲート35により連通されるので少なくと
も気密室20のみの温度及び湿度を上記のように制御し
て管理することにより、処理部10に搬入される未処理
のウエハW及び処理部10から搬出される処理済みのウ
エハWを最適な温度及び湿度雰囲気におくことができる
ので、ウエハWの温度や湿度の相違による質的変化を防
止することができる。
In this embodiment, the case where both the hermetic chamber 20 and the wafer transfer chamber 40 are set to the same temperature and humidity has been described. However, both chambers are cut off from the external atmosphere, Since the communication is established, at least the temperature and the humidity of only the airtight chamber 20 are controlled and managed as described above, so that the unprocessed wafers W loaded into the processing unit 10 and the processed wafers unloaded from the processing unit 10 are processed. Since W can be placed in an optimal temperature and humidity atmosphere, qualitative changes due to differences in temperature and humidity of the wafer W can be prevented.

【0042】次に、上記実施形態の処理方法の手順につ
いて説明する。
Next, the procedure of the processing method of the above embodiment will be described.

【0043】まず、図示しない搬送手段によって未処理
のウエハWを収納するカセット1を密封したコンテナ2
を気密室20の頂部の開口窓22の上方に載置し、クラ
ンプ7をコンテナ2の外向きフランジ3cに締結して、
コンテナ2と気密室20を気密に連結する。次に、バル
ブ25を開いてN2 ガス供給源26からN2 ガスを気密
室20内に供給して気密室20内をコンテナ2内と同一
の常圧あるいは加圧のN2 ガス雰囲気とする。次に、昇
降機構30のモータ32を駆動して昇降台31を気密室
20の上部付近まで上昇させて待機させる。この状態
で、シャッタ21を第1段階まで開放すると共に、昇降
台31を、蓋体4を僅かに持ち上げる程度まで上昇さ
せ、同時にコンテナ2内のカセット1を固定保持してい
る保持部材5の固定を解除して、カセット1を蓋体4上
に載置した状態でシャッタ体21a,21aの上部に位
置させる。次に、シャッタ21を全開してコンテナ2と
気密室20とを連通させると共に、シャッタ体21aに
て保持されていたカセット1を昇降台31の上に移載し
て、カセット1を昇降台31上に載置する。この時、コ
ンテナ2内と気密室20内は同一雰囲気に設定されてい
るので、圧力等に起因する気流の発生は防止され、パー
ティクルの舞い上りは無い。次に、昇降機構30のモー
タ32を逆駆動させて昇降台31を下降させることによ
り、コンテナ2内からカセット1を気密室20内に搬送
する。次に、加圧している場合にはバルブ27を開いて
常圧に戻す。また、減圧している場合には真空ポンプの
作動を停止して気密室20内をウエハ受渡し室40と同
一の常圧にした後、ゲート35,36を開放して気密室
20及びカセット載置室15と受渡し室40とを連通
し、そして、ウエハ受渡し用ピンセット16によってカ
セット1内から未処理のウエハWを搬出して処理部10
のウエハキャリア17a内に搬入する。
First, a container 2 in which a cassette 1 for storing unprocessed wafers W is sealed by a transfer means (not shown).
Is placed above the open window 22 at the top of the hermetic chamber 20, and the clamp 7 is fastened to the outward flange 3c of the container 2,
The container 2 and the airtight chamber 20 are airtightly connected. Next, the valve 25 is opened and N2 gas is supplied from the N2 gas supply source 26 into the hermetic chamber 20 to make the inside of the hermetic chamber 20 the same normal pressure or pressurized N2 gas atmosphere as in the container 2. Next, the motor 32 of the elevating mechanism 30 is driven to elevate the elevating table 31 to near the upper part of the airtight chamber 20 and wait. In this state, the shutter 21 is opened to the first stage, and the elevating table 31 is raised to such an extent that the lid 4 is slightly lifted, and at the same time, the holding member 5 for holding the cassette 1 in the container 2 is fixed. Is released, and the cassette 1 is positioned above the shutters 21a, 21a with the cassette 1 placed on the lid 4. Next, the shutter 21 is fully opened to allow the container 2 to communicate with the airtight chamber 20, and the cassette 1 held by the shutter body 21a is transferred onto the elevator 31 so that the cassette 1 is moved to the elevator 31. Place on top. At this time, since the inside of the container 2 and the inside of the airtight chamber 20 are set to the same atmosphere, generation of airflow due to pressure or the like is prevented, and particles do not soar. Next, the cassette 1 is transported from the container 2 into the airtight chamber 20 by driving the motor 32 of the lifting mechanism 30 in reverse to lower the lifting table 31. Next, if pressurized, the valve 27 is opened to return to normal pressure. When the pressure is reduced, the operation of the vacuum pump is stopped to make the inside of the hermetic chamber 20 the same normal pressure as that of the wafer transfer chamber 40, and then the gates 35 and 36 are opened to open the hermetic chamber 20 and the cassette mounting chamber. The chamber 15 communicates with the delivery chamber 40, and the unprocessed wafer W is unloaded from the cassette 1 by the wafer delivery tweezers 16 to be processed by the processing unit 10.
Is carried into the wafer carrier 17a.

【0044】処理部10に搬送されたウエハWは、カセ
ット載置室15のウエハ搬送用ピンセット18によって
ウエハキャリア17aから取り出され、キャリアステー
ション12に搬送される。次に、キャリアステーション
12上のウエハWは、搬送手段14のメインアーム14
cに保持されて、各処理室13a〜13eへ順次搬送さ
れて、適宜処理が施される。処理後のウエハWは、再び
メインアーム14cによってキャリアステーション12
に搬送され、ウエハ搬送用ピンセット18によってウエ
ハキャリア17bへ収容される。ウエハキャリア17b
に収容された処理済みのウエハWは、ウエハ受渡し用ピ
ンセット16によってウエハキャリア17b内から搬出
されて気密室20内のカセット1内に搬入される。
The wafer W transferred to the processing section 10 is taken out of the wafer carrier 17 a by the wafer transfer tweezers 18 in the cassette mounting chamber 15 and transferred to the carrier station 12. Next, the wafer W on the carrier station 12 is transferred to the main arm 14 of the transfer means 14.
c, and sequentially transported to each of the processing chambers 13a to 13e, where appropriate processing is performed. The processed wafer W is again transferred to the carrier station 12 by the main arm 14c.
And stored in the wafer carrier 17b by the wafer transfer tweezers 18. Wafer carrier 17b
The processed wafer W stored in the wafer carrier 17b is carried out of the wafer carrier 17b by the wafer transfer tweezers 16 and carried into the cassette 1 in the airtight chamber 20.

【0045】このようにして、処理が施されたウエハW
は気密室20のカセット1内に収容され、カセット1内
に所定枚数のウエハWが収容されると、モータ32が再
び駆動して昇降台31が上昇してカセット1がコンテナ
内に搬入される。コンテナ2内に搬入されたカセット1
は保持部材5の押圧によって保持された後、昇降台31
が下降し、開口窓22がシャッタ21にて閉じられ、カ
セット1はコンテナ2内に密封された状態で一時保管さ
れる。そして、クランプ7の締結を解除した状態で、図
示しない搬送手段によりコンテナ2を所定の場所に搬送
する。コンテナ2内をN2 ガス雰囲気とし、内部を常圧
又は加圧状態に保っておくことにより、ウエハWの変質
を防止し、また、外部からのパーティクルの侵入を防止
できるため、ウエハWをクリーンな状態にして保管、搬
送することが可能となる。一方、コンテナ2と気密室2
0とが気密に連結された状態で所定の真空度の減圧状態
に設定した場合、内部で発生したパーティクルは排気口
24により排出されるので、ウエハWに付着するのを抑
制できる。
In this way, the processed wafer W
Is accommodated in the cassette 1 of the airtight chamber 20, and when a predetermined number of wafers W are accommodated in the cassette 1, the motor 32 is driven again to move the elevating table 31 up and the cassette 1 is carried into the container. . Cassette 1 loaded into container 2
Is held by the pressing of the holding member 5,
Is lowered, the opening window 22 is closed by the shutter 21, and the cassette 1 is temporarily stored in a sealed state in the container 2. Then, in a state where the fastening of the clamp 7 is released, the container 2 is transported to a predetermined place by transport means (not shown). By keeping the inside of the container 2 in an N2 gas atmosphere and keeping the inside at normal pressure or pressurized state, it is possible to prevent the deterioration of the wafer W and to prevent the intrusion of particles from the outside. It can be stored and transported in a state. On the other hand, container 2 and hermetic chamber 2
If the pressure is set to a predetermined degree of vacuum in a state where 0 is hermetically connected, particles generated inside are exhausted through the exhaust port 24, so that adhesion to the wafer W can be suppressed.

【0046】◎第二実施形態 図7はこの発明の第二実施形態の処理装置の概略平面
図、図8は図7の要部断面図が示されている。
Second Embodiment FIG. 7 is a schematic plan view of a processing apparatus according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a sectional view of a main part of FIG.

【0047】第二実施形態の処理装置は、上記第一実施
形態の処理装置と同様、ウエハWのレジスト塗布・現像
装置に適用した場合で、上記処理部10と気密室20と
の間にカセット受渡し手段を収容するカセット受渡し室
41を設けた場合である。すなわち、処理部10のカセ
ット載置室15と気密室20との間にそれぞれ開閉可能
なゲート42,43を介してカセット受渡し室41を介
在させ、このカセット受渡し室41内にカセット受渡し
手段としての例えば多関節アームにて形成されるカセッ
ト受渡し用アーム45を配設した場合である。なお、カ
セット受渡し用アーム45にかえてX、Y、Z、θ移動
可能なカセット受渡し機構で構成してもよい。
The processing apparatus according to the second embodiment is similar to the processing apparatus according to the first embodiment, and is applied to a resist coating / developing apparatus for a wafer W. A cassette is provided between the processing unit 10 and the airtight chamber 20. This is a case where a cassette transfer chamber 41 that accommodates transfer means is provided. That is, the cassette transfer chamber 41 is interposed between the cassette mounting chamber 15 and the airtight chamber 20 of the processing unit 10 via the gates 42 and 43 which can be opened and closed, respectively. For example, this is a case where a cassette delivery arm 45 formed by a multi-joint arm is provided. Instead of the cassette transfer arm 45, a cassette transfer mechanism that can move X, Y, Z, and θ may be used.

【0048】上記のように構成することにより、気密室
20内に搬送されたカセット1をカセット受渡し用アー
ム45で受取って処理部10のカセット載置室15にカ
セット1を搬送することができ、また、カセット載置室
15における処理済みのウエハWを収納したカセット1
をカセット受渡し用アーム45で受取って気密室20内
の昇降台31上に搬送することができる。したがって、
複数枚の未処理のウエハWを同時に処理部10に搬送す
ることができると共に、処理済みの複数枚のウエハWを
同時にコンテナ2内に搬送することができるので、ウエ
ハWの搬送を効率よく行うことができる。
With the above configuration, the cassette 1 transported into the airtight chamber 20 can be received by the cassette transfer arm 45 and transported to the cassette mounting chamber 15 of the processing unit 10. The cassette 1 containing the processed wafer W in the cassette mounting chamber 15
Can be received by the cassette transfer arm 45 and transported to the lift 31 in the hermetic chamber 20. Therefore,
Since a plurality of unprocessed wafers W can be simultaneously transferred to the processing unit 10 and a plurality of processed wafers W can be simultaneously transferred into the container 2, the transfer of the wafer W is performed efficiently. be able to.

【0049】なお、第二実施形態において、その他の構
造及び処理手順は上記第一実施形態と同じであるので、
同一部分には同一符号を付して、その説明は省略する。
In the second embodiment, other structures and processing procedures are the same as those in the first embodiment.
The same portions are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0050】◎第三実施形態 図9はこの発明の第三実施形態の処理装置の要部断面図
が示されている。
Third Embodiment FIG. 9 is a sectional view of a main part of a processing apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【0051】第三実施形態の処理装置は、上記第一実施
形態及び第二実施形態の処理装置と同様、ウエハWのレ
ジスト塗布・現像装置に適用した場合で、上記処理部1
0のカセット載置室15の上部にコンテナ2を直接気密
に連結するようにした場合である。すなわち、処理部1
0のカセット載置室15の頂部に開閉可能なシャッタ2
1を有する開口窓22を設けると共に、この開口窓22
の上方側に上記第一実施形態及び第二実施形態と同様な
シール部材6及びクランプ7あるいは押圧部材8をもっ
てコンテナ2を気密に締結し得るように形成し、カセッ
ト載置室15内に、上記第一実施形態及び第二実施形態
と同様な昇降機構30を配設した場合である。
The processing apparatus of the third embodiment is similar to the processing apparatuses of the first and second embodiments and is applied to a resist coating and developing apparatus for a wafer W.
This is a case where the container 2 is directly and air-tightly connected to the upper part of the cassette loading chamber 15 of No. 0. That is, the processing unit 1
Shutter 2 which can be opened and closed at the top of the cassette loading chamber 15
1 and an open window 22 having
Is formed so that the container 2 can be airtightly fastened with the same sealing member 6 and clamp 7 or pressing member 8 as those in the first embodiment and the second embodiment. This is a case where a lifting mechanism 30 similar to the first embodiment and the second embodiment is provided.

【0052】上記のように構成することにより、コンテ
ナ2内のカセット1を昇降機構30によってカセット載
置室15内に搬送し、カセット載置室15内に搬送され
たカセット1からウエハ搬送用ピンセット18でウエハ
Wを1枚ずつ受取ってキャリアステーションに受渡した
後、処理部10のメインアーム14cによってウエハW
を各処理室13a〜13eに搬送することができる。ま
た、処理室13a〜13eで処理されたウエハWをメイ
ンアーム14cにてキャリアステーション12に受渡し
た後、ウエハ搬送用ピンセット18で受取ってカセット
載置室15内の昇降台31上に搬送することができる。
したがって、コンテナ2を直接処理部10に連結するこ
とができるので、ウエハWの搬出入を効率よく行うこと
ができ、スループットの向上を図ることができる。
With the above configuration, the cassette 1 in the container 2 is transported into the cassette mounting chamber 15 by the elevating mechanism 30, and the wafer transport tweezers are transferred from the cassette 1 transported into the cassette mounting chamber 15. After the wafers W are received one by one and delivered to the carrier station at 18, the wafers W are processed by the main arm 14 c of the processing unit 10.
Can be transported to each of the processing chambers 13a to 13e. Further, after the wafer W processed in the processing chambers 13a to 13e is transferred to the carrier station 12 by the main arm 14c, the wafer W is received by the wafer transfer tweezers 18 and transferred to the elevating table 31 in the cassette mounting chamber 15. Can be.
Therefore, since the container 2 can be directly connected to the processing unit 10, the loading and unloading of the wafer W can be efficiently performed, and the throughput can be improved.

【0053】なおこの場合、カセット載置室15を昇降
機構30を配設する室15aとウエハ搬送用ピンセット
18を配設する室15bとに区画し、両室15a,15
b間に開閉可能なゲート19を配設し、そして、上記気
密室20と同様に、室15aにN2 ガス供給源26及び
真空ポンプ28を接続する。
In this case, the cassette mounting chamber 15 is divided into a chamber 15a in which the elevating mechanism 30 is disposed and a chamber 15b in which the wafer transfer tweezers 18 are disposed.
A gate 19 which can be opened and closed is disposed between the gates b, and an N2 gas supply source 26 and a vacuum pump 28 are connected to the chamber 15a in the same manner as the airtight chamber 20.

【0054】また、カセット載置室15のゲート19側
の外部上方位置、例えば室15bの外側上端部付近に
は、ウエハ検出手段として光学式センサー19aが取着
されている。このセンサー19aは例えば光透過型で、
投射された光ビーム19bはカセット載置室15の天井
部の光ビーム19bの光路上に設けられた光透過窓(図
示せず)を通過し、カセット載置室15の底部付近に取
着された受光器(図示せず)にて受光されるように構成
されている。
An optical sensor 19a is attached as a wafer detecting means at an upper position outside the cassette mounting chamber 15 on the side of the gate 19, for example, near the outer upper end of the chamber 15b. This sensor 19a is, for example, a light transmission type,
The projected light beam 19b passes through a light transmitting window (not shown) provided on the optical path of the light beam 19b on the ceiling of the cassette mounting chamber 15, and is attached near the bottom of the cassette mounting chamber 15. It is configured to be received by a light receiver (not shown).

【0055】そして、ウエハ搬送用ピンセット18によ
って搬送されるウエハWが光ビーム19bを遮ることに
よってウエハWを検出する。このウエハ検出により、例
えば、ウエハ搬送用ピンセット18によりカセット1内
のウエハWが搬出されたことの確認や、ウエハ搬送用ピ
ンセット18によりカセット載置室15内に搬入された
ウエハWをカセット1内に収納後、ウエハ搬送用ピンセ
ット18が後退時にウエハWが無いということを検出す
ることにより、ウエハWがカセット1内に確実に収納さ
れたという確認や、搬送トラブル等によりウエハ搬送用
ピンセット18から落下したウエハWの有無等を確認す
ることが可能となる。
Then, the wafer W carried by the wafer carrying tweezers 18 detects the wafer W by blocking the light beam 19b. By this wafer detection, for example, it is confirmed that the wafer W in the cassette 1 has been unloaded by the wafer transfer tweezers 18, and the wafer W loaded into the cassette mounting chamber 15 by the wafer transfer tweezers 18 is loaded into the cassette 1. After the wafer transfer tweezers 18 are retracted, the absence of the wafer W is detected when the wafer transfer tweezers 18 are retracted, so that it is confirmed that the wafer W has been securely stored in the cassette 1, It is possible to confirm the presence of the dropped wafer W and the like.

【0056】なお、上記光学式センサー19aは、カセ
ット載置室15内の例えば天井部に配置してもよく、ま
た、光反射式のセンサーでもよい。
The optical sensor 19a may be arranged, for example, on the ceiling in the cassette mounting chamber 15, or may be a light reflection type sensor.

【0057】なお、第三実施形態において、その他の構
造及び処理手順は上記第一実施形態及び第二実施形態と
同様であるので、ここではその説明は省略する。
In the third embodiment, other structures and processing procedures are the same as those in the first and second embodiments, and a description thereof will be omitted.

【0058】◎第四実施形態 図10はこの発明の処理装置の第四実施形態の概略平面
図、図11は図10の要部断面図が示されている。
Fourth Embodiment FIG. 10 is a schematic plan view of a processing apparatus according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 11 is a sectional view of a main part of FIG.

【0059】第四実施形態はこの発明の処理装置をウエ
ハWのエッチング装置に適用した場合である。
The fourth embodiment is a case where the processing apparatus of the present invention is applied to a wafer W etching apparatus.

【0060】上記エッチング装置は、上記第一実施形態
及び第二実施形態と同様に構成される気密室20に開閉
可能なゲート44を介して連設されるウエハ載置兼搬送
室46と、このウエハ載置兼搬送室46に開閉可能なゲ
ート47を介して連設する複数(図面では3個の場合を
示す)の真空処理室60とで構成されている。
The above-mentioned etching apparatus comprises a wafer mounting / transfer chamber 46 connected to a hermetic chamber 20 constructed in the same manner as in the first and second embodiments via a gate 44 which can be opened and closed. A plurality (three in the drawing) of vacuum processing chambers 60 are connected to the wafer mounting / transfer chamber 46 via a gate 47 that can be opened and closed.

【0061】上記ウエハ載置兼搬送室46の底壁部には
排気口71が設けられ、この排気口71にバルブ72を
介して排気手段としての真空ポンプ73が接続されてい
る。また、ウエハ載置兼搬送室46には、気密室20及
び真空処理室60間でウエハWを搬送するためのウエハ
受渡し手段としてのウエハ受渡し用アーム80が配設さ
れている。このウエハ受渡し用アーム80は、各々独立
して水平方向に回動される3本の搬送アーム体81を具
備する多関節アームにて形成されており、下段の搬送ア
ーム体81は、ウエハ載置兼搬送室46の下部に設けら
れた駆動部82から延びる回動軸83に取付けられてい
る。この場合、回動軸83はシール機構を介してウエハ
載置兼搬送室46を貫通しており、駆動部82は外気と
遮断されるケース84内に配置されている。なお、ウエ
ハ受渡し用アーム80の各搬送アーム体81に駆動部8
2の駆動により搬送アーム体81が独立して駆動される
ようにベルトやプーリなどの伝達機構(図示せず)が組
込まれると共に、関節部の軸受部で発生したパーティク
ルを吸引するための吸引路(図示せず)が形成され、こ
の吸引路が回動軸83を通ってケース84内の空間に開
口している。また、ウエハ受渡し用アーム80のウエハ
保持部には、例えばウエハWを安定して保持できる3箇
所の位置に、摩擦によパーティクルの発生しにくい材質
例えばフッ素樹脂よりなる突起80aが設けられてお
り、この突起80aによりウエハWのずれ防止及びダメ
ージを防止し得るようにしてある。
An exhaust port 71 is provided on the bottom wall of the wafer mounting / transfer chamber 46, and a vacuum pump 73 as an exhaust unit is connected to the exhaust port 71 via a valve 72. In the wafer mounting / transfer chamber 46, a wafer transfer arm 80 as a wafer transfer means for transferring the wafer W between the airtight chamber 20 and the vacuum processing chamber 60 is provided. The wafer transfer arm 80 is formed by an articulated arm having three transfer arm members 81 which are independently rotated in the horizontal direction, and the lower transfer arm member 81 It is attached to a rotating shaft 83 extending from a driving section 82 provided at the lower part of the transfer chamber 46. In this case, the rotating shaft 83 penetrates the wafer mounting / transfer chamber 46 via a seal mechanism, and the driving unit 82 is disposed in a case 84 that is shut off from the outside air. The drive unit 8 is attached to each transfer arm 81 of the wafer transfer arm 80.
A transmission mechanism (not shown) such as a belt or a pulley is incorporated so that the transfer arm body 81 is independently driven by the driving of the second arm, and a suction path for sucking particles generated in a bearing portion of the joint portion. (Not shown) is formed, and this suction path is opened to the space inside the case 84 through the rotation shaft 83. Further, the wafer holding portion of the wafer transfer arm 80 is provided with projections 80a made of a material such as a fluororesin, which hardly generates particles due to friction, at three positions where the wafer W can be stably held, for example. The projections 80a can prevent the wafer W from being displaced and damaged.

【0062】上記ケース84には排気管85が接続さ
れ、この排気管85はバルブ86を介して上記真空ポン
プ73に接続されている。したがって、バルブ86を開
くと、ケース84の内部空間が真空排気され、これによ
りウエハ受渡し用アーム80の各軸受部で発生したパー
ティクルがケース84の内部空間を介して排気管85内
に排出されることとなる。
An exhaust pipe 85 is connected to the case 84, and the exhaust pipe 85 is connected to the vacuum pump 73 via a valve 86. Therefore, when the valve 86 is opened, the internal space of the case 84 is evacuated, whereby particles generated in each bearing portion of the wafer transfer arm 80 are discharged into the exhaust pipe 85 via the internal space of the case 84. It will be.

【0063】また、ウエハ載置兼搬送室46内には、ウ
エハWを一時的に載置するための昇降自在なバッファス
テージ87と、ウエハWのオリエンテーションフラット
(以下オリフラという)の向き及び中心位置を合せるた
めの位置合せ機構88とが配置されている。この位置合
せ機構88はX,Y,Z及びθ方向に移動可能な回転ス
テージ88a及びウエハWの周縁部を光学的に検出する
発光・受光部88bなどを備えている。
In the wafer mounting / transfer chamber 46, a buffer stage 87 for temporarily mounting the wafer W, which can be moved up and down, and the orientation and center position of an orientation flat (hereinafter, referred to as an orientation flat) of the wafer W are provided. And an alignment mechanism 88 for adjusting the position. The alignment mechanism 88 includes a rotary stage 88a movable in the X, Y, Z, and θ directions, and a light emitting / receiving unit 88b that optically detects the peripheral edge of the wafer W.

【0064】また、ウエハ載置兼搬送室46内には、図
10に示すように、不活性ガス例えばN2 ガスを供給す
るための不活性ガス供給管90が上記下段の搬送アーム
体81の回動中心付近の上方位置まで延び出して配管さ
れており、この不活性ガス供給管90の先端部には、例
えば焼結金属よりなる不活性ガス供給部91が形成され
ている。また、不活性ガス供給管90の基端側は例えば
N2 ガス供給源92に接続されている。
As shown in FIG. 10, an inert gas supply pipe 90 for supplying an inert gas, for example, an N 2 gas, is provided in the wafer mounting / transfer chamber 46 to rotate the lower transfer arm body 81. An inert gas supply section 91 made of, for example, a sintered metal is formed at the end of the inert gas supply pipe 90. The base end of the inert gas supply pipe 90 is connected to, for example, an N2 gas supply source 92.

【0065】一方、上記真空処理室60には、サセプタ
を兼用する下部電極61と上部電極62が設けられると
共に、処理ガス供給管68及び排気管69が接続されて
いる。上部電極62は真空処理室60を介して接地され
ており、この上部電極62の上方には、マグネット収納
用の筐体63が真空処理室60とは分割されて設けられ
ており、この中には真空処理室60内に磁場を形成する
マグネット64及び磁場漏洩防止用のマグネット65が
モータ66で回転されるように配置されている。上記下
部電極61は高周波電源67に接続されている。
On the other hand, the vacuum processing chamber 60 is provided with a lower electrode 61 and an upper electrode 62 which also serve as a susceptor, and a processing gas supply pipe 68 and an exhaust pipe 69 are connected. The upper electrode 62 is grounded via a vacuum processing chamber 60. Above the upper electrode 62, a housing 63 for accommodating a magnet is provided separately from the vacuum processing chamber 60. Are arranged such that a magnet 64 for forming a magnetic field and a magnet 65 for preventing leakage of the magnetic field are rotated by a motor 66 in a vacuum processing chamber 60. The lower electrode 61 is connected to a high frequency power supply 67.

【0066】上記のように構成されるエッチング装置の
ウエハ載置兼搬送室46には、上記第一実施形態及び第
二実施形態と同様の構造の気密室20が開閉可能なゲー
ト44を介して連設されている。なお、第四実施形態に
おいて、その他の部分は上記第一実施形態及び第二実施
形態と同じであるので、同一部分には同一符号を付し
て、その説明は省略する。
The wafer mounting / transfer chamber 46 of the etching apparatus having the above-described structure is connected to the airtight chamber 20 having the same structure as that of the first and second embodiments through a gate 44 which can be opened and closed. It is installed continuously. In the fourth embodiment, other parts are the same as those in the first and second embodiments, and therefore, the same parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0067】次に、上記エッチング装置の処理手順につ
いて説明する。まず、図示しない搬送手段によって未処
理のウエハWを収納するカセット1を密封したコンテナ
2を気密室20の頂部の開口窓22の上方に載置し、ク
ランプ7をコンテナ2の外向きフランジ3cに締結し
て、コンテナ2と気密室20を気密に連結する。次に、
バルブ25を開いてN2 ガス供給源26からN2 ガスを
気密室20内に供給して気密室20内をコンテナ2内と
同一のN2 ガス雰囲気とすると共に、真空ポンプ28を
作動させて気密室20内をコンテナ2内と同一の所定の
真空度、例えば1×10-7〜10-8Torrの減圧状態にす
る。次に、昇降機構30のモータ32を駆動して昇降台
31を気密室20の上部まで上昇させ、この状態で、シ
ャッタ21を第1段階まで開放すると共に、コンテナ2
内のカセット1を固定保持している保持部材5の固定を
解除して、カセット1をシャッタ体21a,21aの上
部に載置させる。次に、シャッタ21を全開してコンテ
ナ2と気密室20とを連通させると共に、シャッタ体2
1aにて保持されていたカセット1を昇降台31の上に
落として、カセット1を昇降台31上に載置する。次
に、昇降機構30のモータ32を逆駆動させて昇降台3
1を下降させることにより、コンテナ2内からカセット
1を気密室20内に搬送する。
Next, the processing procedure of the above etching apparatus will be described. First, a container 2 in which a cassette 1 for storing unprocessed wafers W is sealed by a transfer means (not shown) is placed above an open window 22 at the top of an airtight chamber 20, and a clamp 7 is attached to an outward flange 3 c of the container 2. By fastening, the container 2 and the airtight chamber 20 are airtightly connected. next,
The valve 25 is opened to supply N2 gas from the N2 gas supply source 26 into the hermetic chamber 20 to make the hermetic chamber 20 the same N2 gas atmosphere as that in the container 2, and to operate the vacuum pump 28 to operate the hermetic chamber 20. The inside of the container 2 is set to the same predetermined degree of vacuum as the inside of the container 2, for example, 1 × 10 −7 to 10 −8 Torr. Next, the motor 32 of the elevating mechanism 30 is driven to elevate the elevating table 31 to the upper part of the airtight chamber 20. In this state, the shutter 21 is opened to the first stage and the container 2
The fixing of the holding member 5 holding and holding the cassette 1 therein is released, and the cassette 1 is placed on the upper portions of the shutter bodies 21a, 21a. Next, the shutter 21 is fully opened to allow the container 2 and the airtight chamber 20 to communicate with each other.
The cassette 1 held at 1a is dropped on the elevator 31 and the cassette 1 is placed on the elevator 31. Next, the motor 32 of the elevating mechanism 30 is driven in reverse to
By lowering the cassette 1, the cassette 1 is transported from the container 2 into the airtight chamber 20.

【0068】次に、真空ポンプ28の作動により気密室
20内をウエハ載置兼搬送室46と同一の減圧状態にし
た後、ゲート44を開放して気密室20とウエハ載置兼
搬送室46とを連通し、そして、ウエハ受渡し用アーム
80によってカセット1内から未処理のウエハWを取出
して位置合せ機構88の回転ステージ88a上に載置し
て、発光・受光部88bによりウエハWの周縁を検出
し、その結果に基づき回転ステージ88aを動かしてウ
エハWのオリフラの向き及び中心の位置合せを行う。続
いて、このウエハWをウエハ受渡し用アーム80により
真空処理室60内に搬入し、サセプタに組込まれた図示
しない昇降ピンの昇降動作を介してウエハWをサセプタ
61(下部電極)上に載置する。サセプタ61上に載置
されたウエハWは下部電極61と上部電極62間に印加
された高周波電力とマグネット64の磁場とのエネルギ
ーにより得られたプラズマによってエッチング処理され
る。
Next, after the inside of the hermetic chamber 20 is evacuated by the operation of the vacuum pump 28 to the same depressurized state as that of the wafer placing and carrying chamber 46, the gate 44 is opened to open the hermetic chamber 20 and the wafer placing and carrying chamber 46. Then, an unprocessed wafer W is taken out of the cassette 1 by the wafer transfer arm 80 and placed on the rotating stage 88a of the alignment mechanism 88, and the light-emitting / light-receiving unit 88b controls the peripheral edge of the wafer W. Is detected, and based on the result, the rotation stage 88a is moved to align the orientation and the center of the orientation flat of the wafer W. Subsequently, the wafer W is carried into the vacuum processing chamber 60 by the wafer transfer arm 80, and the wafer W is placed on the susceptor 61 (lower electrode) through the elevating operation of an elevating pin (not shown) incorporated in the susceptor. I do. The wafer W placed on the susceptor 61 is etched by plasma obtained by the high frequency power applied between the lower electrode 61 and the upper electrode 62 and the energy of the magnetic field of the magnet 64.

【0069】このようにして、処理が施されたウエハW
は、ウエハ受渡し用アーム80によって気密室20のカ
セット1内に収容され、カセット1内に所定枚数のウエ
ハWが収容されると、モータ32が再び駆動して昇降台
31が上昇してカセット1がコンテナ内に搬入される。
コンテナ2内に搬入されたカセット1は保持部材5の押
圧によって保持された後、昇降台31が下降し、開口窓
22がシャッタ21にて閉じられ、カセット1はコンテ
ナ2内に密封される。そして、クランプ7の締結を解除
した状態で、図示しない搬送手段によりコンテナ2を所
定の場所に搬送する。
The wafer W thus processed is thus processed.
Is stored in the cassette 1 in the hermetic chamber 20 by the wafer transfer arm 80, and when a predetermined number of wafers W are stored in the cassette 1, the motor 32 is driven again to move the elevating table 31 up and the cassette 1 Is carried into the container.
After the cassette 1 carried into the container 2 is held by the pressing of the holding member 5, the elevator 31 descends, the opening window 22 is closed by the shutter 21, and the cassette 1 is sealed in the container 2. Then, in a state where the fastening of the clamp 7 is released, the container 2 is transported to a predetermined place by transport means (not shown).

【0070】上記実施形態では、コンテナ2を、下方が
開口する箱状のコンテナ本体3と、このコンテナ本体3
の開口部3aを開閉可能に塞ぐと共にその上にカセット
1を載置する蓋体4とで構成した場合について説明した
が、コンテナ2は必ずしもこのような構造である必要は
なく、図12に示すように、側方に開口部3bを有する
箱状のコンテナ本体3と、このコンテナ本体3の開口部
3bを開閉する扉4aとで構成してもよい。このように
構成されるコンテナ2において、側方の開口部3bから
ウエハ受渡し用ピンセット16にてカセット1内のウエ
ハWを直接搬出入してもよく(図12(a)参照)、あ
るいは、カセット受渡し用アーム45にてコンテナ2内
のカセットを搬出入するようにしてもよい(図12
(b)参照)。
In the above-described embodiment, the container 2 is composed of a box-shaped container body 3 having an open bottom,
Has been described in which the opening 3a is openably and closably closed and the lid 4 on which the cassette 1 is placed is described. However, the container 2 does not necessarily need to have such a structure, and is shown in FIG. As described above, the container body 3 may have a box-shaped container body 3 having an opening 3b on the side and a door 4a for opening and closing the opening 3b of the container body 3. In the container 2 configured as described above, the wafer W in the cassette 1 may be directly loaded and unloaded from the side opening 3b by the wafer transfer tweezers 16 (see FIG. 12A). A cassette in the container 2 may be carried in / out by the delivery arm 45 (FIG. 12).
(B)).

【0071】なお、上記実施形態では処理部がレジスト
塗布・現像装置とエッチング装置の場合について説明し
たが、処理部はこれらの他に、例えばイオン注入装置、
熱処理装置あるいはCVD装置等にも適用できる。ま
た、被処理体は半導体ウエハ以外のLCD基板(ガラス
基板)などにも適用できることは勿論である。
In the above embodiment, the case where the processing section is a resist coating / developing apparatus and an etching apparatus has been described.
It can be applied to a heat treatment apparatus or a CVD apparatus. Also, the object to be processed can be applied to LCD substrates (glass substrates) other than semiconductor wafers.

【0072】[0072]

【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば、被処理体を外気の雰囲気に晒すことなく処理工程へ
供給することができると共に、処理後の被処理体を同様
に外気の雰囲気に晒すことなく搬送することができ、被
処理体へのパーティクル等の付着による汚染を防止する
ことができると共に、製品歩留まりの向上を図ることが
できる。
As described above, according to the present invention, the object to be processed can be supplied to the processing step without exposing the object to the atmosphere of the outside air, and the object to be processed after the processing can be similarly exposed to the outside air. The wafer can be transported without being exposed to the atmosphere, contamination due to adhesion of particles and the like to the object to be processed can be prevented, and the product yield can be improved.

【0073】また、被処理体を常に同一の雰囲気の下に
おくことにより、被処理体の雰囲気相違による質的変化
を防止することができ、製品歩留まりの向上を図ること
ができる。
Further, since the object to be processed is always kept under the same atmosphere, it is possible to prevent a qualitative change due to a difference in the atmosphere of the object to be processed, and to improve the product yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の処理装置の第一実施形態の概略平面
図である。
FIG. 1 is a schematic plan view of a first embodiment of a processing apparatus of the present invention.

【図2】図1の要部断面図である。FIG. 2 is a sectional view of a main part of FIG.

【図3】この発明におけるコンテナの搬出入状態を示す
断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state in which a container is carried in and out according to the present invention.

【図4】この発明における開口窓の開閉部の一例を示す
拡大断面図である。
FIG. 4 is an enlarged sectional view showing an example of an opening / closing portion of an opening window according to the present invention.

【図5】開口窓の開閉状態の一例を示す概略平面図であ
る。
FIG. 5 is a schematic plan view showing an example of an open / closed state of an opening window.

【図6】この発明における気密室の圧力、温度及び湿度
等の雰囲気の制御部を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a control section for controlling the atmosphere, such as pressure, temperature, and humidity, of the airtight chamber according to the present invention.

【図7】この発明の処理装置の第二実施形態の概略平面
図である。
FIG. 7 is a schematic plan view of a second embodiment of the processing apparatus of the present invention.

【図8】図7の要部断面図である。FIG. 8 is a sectional view of a main part of FIG. 7;

【図9】この発明の処理装置の第三実施形態の要部断面
図である。
FIG. 9 is a sectional view of a main part of a third embodiment of the processing apparatus of the present invention.

【図10】この発明の処理装置の第四実施形態の要部概
略平面図である。
FIG. 10 is a schematic plan view of a main part of a fourth embodiment of the processing apparatus of the present invention.

【図11】図10の要部断面図である。FIG. 11 is a sectional view of a main part of FIG. 10;

【図12】この発明におけるコンテナの別の構造を示す
断面図である。
FIG. 12 is a sectional view showing another structure of the container according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カセット 2 コンテナ 6 シール部材(シール手段) 7 クランプ(締結手段) 8 押圧部材(締結手段) 10 処理部 13a〜13e 処理室 14 搬送手段(被処理体搬送手段) 15 カセット載置室 16 ウエハ受渡し用ピンセット(被処理体受渡し手
段) 18 ウエハ搬送用ピンセット(被処理体搬送手段) 20 気密室 21 シャッタ 21a シャッタ体 22 開口窓 26 N2 ガス供給源(不活性ガス供給源) 28 真空ポンプ 30 昇降機構(カセット搬送手段) 31 昇降台 32 モータ(駆動部) 33 昇降ロッド(駆動部) 34 気密壁 40 ウエハ受渡し室 41 カセット受渡し室 45 カセット受渡し用アーム(カセット受渡し手段) 46 ウエハ載置兼搬送室 50 温度センサ 51 湿度センサ 52 CPU(温度及び湿度制御手段) 53 温度保障回路 54 ヒータ 60 真空処理室 80 ウエハ受渡し用アーム(被処理体受渡し手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cassette 2 Container 6 Seal member (seal means) 7 Clamp (fastening means) 8 Pressing member (fastening means) 10 Processing part 13a-13e Processing chamber 14 Transport means (transferring means to be processed) 15 Cassette mounting chamber 16 Wafer delivery Tweezers (object transfer means) 18 wafer transfer tweezers (object transfer means) 20 airtight chamber 21 shutter 21a shutter body 22 opening window 26 N2 gas supply source (inert gas supply source) 28 vacuum pump 30 lifting mechanism (Cassette transfer means) 31 Lifting table 32 Motor (drive unit) 33 Lifting rod (drive unit) 34 Airtight wall 40 Wafer transfer chamber 41 Cassette transfer chamber 45 Cassette transfer arm (cassette transfer means) 46 Wafer mounting and transfer chamber 50 Temperature sensor 51 Humidity sensor 52 CPU (temperature and humidity control ) 53 Temperature protection circuit 54 heater 60 vacuum processing chamber 80 wafer delivery arm (workpiece transfer means)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C23C 14/56 C23C 14/56 G 16/44 16/44 F H01L 21/265 603 H01L 21/265 603C 21/027 21/30 502J ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) C23C 14/56 C23C 14/56 G 16/44 16/44 F H01L 21/265 603 H01L 21/265 603C 21 / 027 21/30 502J

Claims (21)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被処理体を処理する処理室と、上記被処
理体を収納するカセットを載置するカセット載置室と上
記処理室との間で被処理体を搬出入する被処理体搬送手
段とを有する処理部と、 上記カセットを搬出入可能に封入するコンテナと、 上記コンテナと処理部との間に気密に介在される気密室
と、 上記気密室内に配設されて、上記コンテナとの間で上記
カセットを搬出入するカセット搬送手段と、 上記気密室と処理部との間に介在されて、上記カセット
搬送手段にて搬送されたカセットとカセット載置室との
間で上記被処理体を受渡しする被処理体受渡し手段と、 上記コンテナと気密室とを接続すると共に、着脱可能な
締結手段と、 上記コンテナと気密室との間に設けられる開閉可能なシ
ャッタと、を具備することを特徴とする処理装置。
1. A processing chamber for processing an object to be processed, and a transfer of the object to be transferred into and out of the processing chamber between a cassette mounting chamber for mounting a cassette for storing the object to be processed and the processing chamber. A processing unit having means, a container enclosing the cassette so that the cassette can be carried in and out, an airtight room airtightly interposed between the container and the processing unit, and a container disposed in the airtight room, Cassette transfer means for loading and unloading the cassette between the cassette and the processing chamber between the cassette transported by the cassette transfer means and the cassette interposed between the airtight chamber and the processing unit. An object delivery means for delivering and receiving a body, a detachable fastening means for connecting the container and the airtight chamber, and a detachable shutter provided between the container and the airtight chamber; Processing characterized by apparatus.
【請求項2】 被処理体を処理する処理室と、上記被処
理体を収納するカセットを載置するカセット載置室と上
記処理室との間で被処理体を搬出入する被処理体搬送手
段とを有する処理部と、 上記カセットを搬出入可能に封入するコンテナと、 上記コンテナと処理部との間に気密に介在される気密室
と、 上記気密室内に配設されて、上記コンテナとの間で上記
カセットを搬出入するカセット搬送手段と、 上記気密室と処理部との間に介在されて、上記カセット
を受渡しするカセット受渡し手段と、 上記コンテナと気密室とを接続すると共に、着脱可能な
締結手段と、 上記コンテナと気密室との間に設けられる開閉可能なシ
ャッタと、を具備することを特徴とする処理装置。
2. A processing chamber for processing an object to be processed, and a transfer of an object to be transferred into and out of the processing chamber between a cassette mounting chamber for mounting a cassette for storing the object to be processed and the processing chamber. A processing unit having means, a container enclosing the cassette so that the cassette can be carried in and out, an airtight room airtightly interposed between the container and the processing unit, and a container disposed in the airtight room, Cassette transfer means for carrying the cassette in and out, cassette transfer means interposed between the airtight chamber and the processing unit for transferring the cassette, and connecting and disconnecting the container and the airtight chamber. A processing apparatus, comprising: a possible fastening means; and an openable and closable shutter provided between the container and the airtight chamber.
【請求項3】 被処理体を処理する処理室と、上記被処
理体を収納するカセットを載置するカセット載置室と上
記処理室との間で被処理体を搬出入する被処理体搬送手
段とを有する処理部と、 上記カセットを搬出入可能に封入して上記カセット載置
室に連結されるコンテナと、 上記コンテナとカセット載置室との間でカセットを搬出
入するカセット搬送手段と、 上記コンテナとカセット載置室とを接続すると共に、着
脱可能な締結手段と、 上記コンテナとカセット載置室との間に設けられる開閉
可能なシャッタと、を具備することを特徴とする処理装
置。
3. A processing chamber for processing an object to be processed, and a processing object transport for loading and unloading the processing object between a cassette mounting chamber for mounting a cassette for storing the processing object and the processing chamber. A processing unit having a means, a container enclosing the cassette so as to be able to be loaded and unloaded, and a container connected to the cassette loading chamber; and a cassette transport means for loading and unloading the cassette between the container and the cassette loading chamber. A processing device for connecting the container and the cassette mounting chamber, comprising: a detachable fastening means; and an openable and closable shutter provided between the container and the cassette mounting chamber. .
【請求項4】 上記シャッタを、2段階に開閉される一
対のシャッタ体にて形成してなることを特徴とする請求
項1ないし3のいずれかに記載の処理装置。
4. The processing apparatus according to claim 1, wherein the shutter is formed by a pair of shutter bodies that are opened and closed in two stages.
【請求項5】 コンテナと気密室とをシール手段を介し
て接続することを特徴とする請求項1又は2記載の処理
装置。
5. The processing apparatus according to claim 1, wherein the container and the airtight chamber are connected via a sealing means.
【請求項6】 コンテナとカセット載置室とをシール手
段を介して接続することを特徴とする請求項3記載の処
理装置。
6. The processing apparatus according to claim 3, wherein the container and the cassette mounting chamber are connected via a sealing means.
【請求項7】 カセット搬送手段を、コンテナ側に向っ
て進退移動する搬送駆動部と、この搬送駆動部と気密室
とを区画する気密壁とで構成してなることを特徴とする
請求項1又は2処理装置。
7. The cassette transporting means comprises a transport drive unit that moves forward and backward toward the container side, and an airtight wall that partitions the transport drive unit and an airtight chamber. Or a two-processing device.
【請求項8】 カセット搬送手段を、コンテナ側に向っ
て進退移動する搬送駆動部と、この搬送駆動部とカセッ
ト載置室とを区画する気密壁とで構成してなることを特
徴とする請求項3記載の処理装置。
8. The cassette transporting means comprises a transport drive unit which moves forward and backward toward the container side, and an airtight wall which partitions the transport drive unit and the cassette mounting chamber. Item 3. The processing apparatus according to Item 3.
【請求項9】 コンテナ内と気密室内とを同一雰囲気と
することを特徴とする請求項1又は2記載の処理装置。
9. The processing apparatus according to claim 1, wherein the atmosphere in the container and the airtight chamber are the same.
【請求項10】 コンテナ内と気密室内の雰囲気が不活
性ガス雰囲気であることを特徴とする請求項9記載の処
理装置。
10. The processing apparatus according to claim 9, wherein the atmosphere in the container and the airtight chamber is an inert gas atmosphere.
【請求項11】 コンテナ内と気密室内とを同一の減圧
雰囲気とすることを特徴とする請求項1又は2記載の処
理装置。
11. The processing apparatus according to claim 1, wherein the inside of the container and the airtight chamber are set to the same reduced-pressure atmosphere.
【請求項12】 コンテナ内と気密室内とを同一の加圧
雰囲気とすることを特徴とする請求項1又は2記載の処
理装置。
12. The processing apparatus according to claim 1, wherein the inside of the container and the airtight chamber are set to the same pressurized atmosphere.
【請求項13】 気密室内に配設される温度検出手段及
び湿度検出手段と、 上記温度検出手段及び湿度検出手段からの検出信号に基
づいて作動して、上記気密室内の温度及び湿度を制御す
る温度及び湿度制御手段とを具備することを特徴とする
請求項1又は2記載の処理装置。
13. A temperature detecting means and a humidity detecting means disposed in an airtight room, and operating based on detection signals from the temperature detecting means and the humidity detecting means to control the temperature and humidity in the airtight room. 3. The processing apparatus according to claim 1, further comprising temperature and humidity control means.
【請求項14】 請求項1に記載の処理装置を用いて被
処理体を処理する方法において、 コンテナを気密室に気密に締結する工程と、 上記コンテナと気密室の間に設けられたシャッタを開放
してコンテナと気密室とを連通させる工程と、 上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、 上記気密室内のカセットから被処理体を処理部に受け渡
す工程とを有することを特徴とする処理方法。
14. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 1, wherein a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber; and a step of providing a shutter provided between the container and the airtight chamber. Opening the container to communicate the container with the airtight chamber, transferring the cassette from the container into the airtight chamber, and transferring the object to be processed from the cassette in the airtight chamber to the processing unit. Processing method.
【請求項15】 請求項2に記載の処理装置を用いて被
処理体を処理する方法において、 コンテナを気密室に気密に締結する工程と、 上記コンテナと気密室の間に設けられたシャッタを開放
してコンテナと気密室とを連通させる工程と、 上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、 上記気密室内のカセットをカセット載置室内に受け渡す
工程とを有することを特徴とする処理方法。
15. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 2, wherein: a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber; and a step of providing a shutter provided between the container and the airtight chamber. Opening the container to communicate the container with the airtight chamber, transferring the cassette from inside the container to the airtight chamber, and transferring the cassette in the airtight chamber to the cassette mounting chamber. Processing method.
【請求項16】 請求項3に記載の処理装置を用いて被
処理体を処理する方法において、 コンテナをカセット載置室に気密に締結する工程と、 上記コンテナとカセット載置室との間に設けられたシャ
ッタを開放してコンテナとカセット載置室とを連通させ
る工程と、 上記コンテナ内からカセットをカセット載置室内に搬送
する工程とを有することを特徴とする処理方法。
16. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 3, wherein a container is hermetically fastened to a cassette mounting chamber, and a step is provided between the container and the cassette mounting chamber. A processing method comprising: opening a shutter provided to allow a container and a cassette mounting chamber to communicate with each other; and transporting a cassette from inside the container to the cassette mounting chamber.
【請求項17】 請求項1記載に記載の処理装置を用い
て被処理体を処理する方法において、 コンテナを気密室に気密に締結する工程と、 上記コンテナ内と気密室内とを同一の減圧雰囲気にする
工程と、 上記コンテナと気密室の間に設けられたシャッタを開放
してコンテナと気密室とを連通させる工程と、 上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、 上記気密室と被処理体搬送手段を配設する受渡し室とを
同一の雰囲気にする工程と、 上記気密室内のカセットから被処理体を処理部に受け渡
す工程とを有することを特徴とする処理方法。
17. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 1, wherein a container is hermetically fastened to an airtight chamber, and the same depressurized atmosphere is provided between the container and the airtight chamber. A step of opening a shutter provided between the container and the airtight chamber to communicate the container and the airtight chamber; a step of transporting a cassette from the inside of the container to the airtight chamber; A processing method, comprising the steps of: setting a delivery chamber in which a workpiece transfer means is disposed to have the same atmosphere; and delivering a workpiece to a processing unit from a cassette in the airtight chamber.
【請求項18】 請求項1記載に記載の処理装置を用
いて被処理体を処理する方法において、 コンテナを気密室に気密に締結する工程と、 上記コンテナ内と気密室内とを同一の加圧雰囲気にする
工程と、 上記コンテナと気密室との間に設けられたシャッタを開
放してコンテナと気密室とを連通させる工程と、 上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、 上記気密室と被処理体搬送手段を配設する受渡し室とを
同一の雰囲気にする工程と、 上記気密室内のカセットから被処理体を処理部に受け渡
す工程とを有することを特徴とする処理方法。
18. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 1, wherein a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber, and the same pressurizing the inside of the container and the airtight chamber. A step of setting an atmosphere; a step of opening a shutter provided between the container and the airtight chamber to communicate the container with the airtight chamber; a step of transporting a cassette from inside the container to the airtight chamber; A processing method, comprising the steps of: setting a closed chamber and a delivery chamber in which a workpiece transfer means is disposed to have the same atmosphere; and transferring a workpiece to a processing unit from a cassette in the airtight chamber.
【請求項19】 請求項2記載に記載の処理装置を用い
て被処理体を処理する方法において、 コンテナを気密室に気密に締結する工程と、 上記コンテナ内と気密室内とを同一の減圧雰囲気にする
工程と、 上記コンテナと気密室との間に設けられたシャッタを開
放してコンテナと気密室とを連通させる工程と、 上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、 上記気密室とカセット受渡し手段を配設する受渡し室と
を同一の雰囲気にする工程と、 上記気密室内のカセットをカセット載置室に受け渡す工
程とを有することを特徴とする処理方法。
19. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 2, wherein a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber, and the same depressurized atmosphere in the container and the airtight chamber. A step of opening a shutter provided between the container and the airtight chamber to communicate the container with the airtight chamber; a step of transporting a cassette from inside the container to the airtight chamber; And a transfer chamber in which the cassette transfer means is provided. The processing method comprises: transferring the cassette in the airtight chamber to the cassette mounting chamber.
【請求項20】 請求項2記載に記載の処理装置を用い
て被処理体を処理する方法において、 コンテナを気密室に気密に締結する工程と、 上記コンテナ内と気密室内とを同一の加圧雰囲気にする
工程と、 上記コンテナと気密室との間に設けられたシャッタを開
放してコンテナと気密室とを連通させる工程と、 上記コンテナ内からカセットを気密室内に搬送する工程
と、 上記気密室とカセット受渡し手段を配設する受渡し室と
を同一の雰囲気にする工程と、 上記気密室内のカセットをカセット載置室に受け渡す工
程とを有することを特徴とする処理方法。
20. A method for processing an object to be processed using the processing apparatus according to claim 2, wherein a step of airtightly fastening a container to an airtight chamber, and the same pressurizing the inside of the container and the airtight chamber. A step of setting an atmosphere; a step of opening a shutter provided between the container and the airtight chamber to communicate the container with the airtight chamber; a step of transporting a cassette from inside the container to the airtight chamber; A processing method comprising the steps of: setting a closed chamber and a delivery chamber provided with cassette delivery means to have the same atmosphere; and delivering a cassette in the airtight chamber to a cassette mounting chamber.
【請求項21】 上記シャッタを第1段階まで開放する
と共に、コンテナ内のカセットの固定を解除して、カセ
ットをシャッタの上部に位置させ、その後、上記カセッ
トを全開の第2段階まで開放して、カセットをカセット
搬送手段に受け渡すことを特徴とする請求項14ないし
20のいずれかに記載の処理方法。
21. Opening the shutter to the first stage, releasing the fixing of the cassette in the container, positioning the cassette on the shutter, and then opening the cassette to the second stage of full opening. 21. The processing method according to claim 14, wherein the cassette is transferred to a cassette transport unit.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003088351A1 (en) * 2002-04-12 2003-10-23 Tokyo Electron Limited Port structure in semiconductor processing device
JP2006080485A (en) * 2004-08-12 2006-03-23 Tokyo Electron Ltd Substrate processing system, substrate processing method, sealed container storage apparatus, program, and storage medium
CN101728238A (en) * 2008-10-16 2010-06-09 东京毅力科创株式会社 Processing apparatus and processing method
KR101371170B1 (en) * 2012-03-27 2014-03-07 삼건세기(주) Metal coating system
JP2014110374A (en) * 2012-12-04 2014-06-12 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Front chamber lift arrangement mechanism
JP6011900B1 (en) * 2015-02-27 2016-10-25 株式会社東京精密 Prober
JP6020758B1 (en) * 2015-02-27 2016-11-02 株式会社東京精密 Prober
US20180231582A1 (en) 2016-02-26 2018-08-16 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Transfer unit and prober
JP2020524900A (en) * 2017-06-23 2020-08-20 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Indexable lateral storage pod device, heated lateral storage pod device, system, and method
JP7422513B2 (en) 2019-10-31 2024-01-26 東京エレクトロン株式会社 Substrate heating device

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003088351A1 (en) * 2002-04-12 2003-10-23 Tokyo Electron Limited Port structure in semiconductor processing device
CN1307706C (en) * 2002-04-12 2007-03-28 东京毅力科创株式会社 Port structure in semiconductor processing device
JP2006080485A (en) * 2004-08-12 2006-03-23 Tokyo Electron Ltd Substrate processing system, substrate processing method, sealed container storage apparatus, program, and storage medium
CN101728238A (en) * 2008-10-16 2010-06-09 东京毅力科创株式会社 Processing apparatus and processing method
KR101371170B1 (en) * 2012-03-27 2014-03-07 삼건세기(주) Metal coating system
JP2014110374A (en) * 2012-12-04 2014-06-12 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Front chamber lift arrangement mechanism
JP6011900B1 (en) * 2015-02-27 2016-10-25 株式会社東京精密 Prober
JP6020758B1 (en) * 2015-02-27 2016-11-02 株式会社東京精密 Prober
US20180231582A1 (en) 2016-02-26 2018-08-16 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Transfer unit and prober
US10605829B2 (en) 2016-02-26 2020-03-31 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Transfer unit and prober
JP2020524900A (en) * 2017-06-23 2020-08-20 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Indexable lateral storage pod device, heated lateral storage pod device, system, and method
JP7125430B2 (en) 2017-06-23 2022-08-24 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Indexable Side Storage Pod Apparatus, Heated Side Storage Pod Apparatus, System, and Method
JP2022180349A (en) * 2017-06-23 2022-12-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Indexable side storage pod apparatus, heated side storage pod apparatus, systems, and methods
JP7305857B2 (en) 2017-06-23 2023-07-10 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Indexable Side Storage Pod Apparatus, Heated Side Storage Pod Apparatus, System, and Method
JP7422513B2 (en) 2019-10-31 2024-01-26 東京エレクトロン株式会社 Substrate heating device

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