JP2001124626A - Spectroscopic analyzer - Google Patents

Spectroscopic analyzer

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JP2001124626A
JP2001124626A JP30421799A JP30421799A JP2001124626A JP 2001124626 A JP2001124626 A JP 2001124626A JP 30421799 A JP30421799 A JP 30421799A JP 30421799 A JP30421799 A JP 30421799A JP 2001124626 A JP2001124626 A JP 2001124626A
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JP
Japan
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case
light
spectrometer
partition wall
heat generating
Prior art date
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Application number
JP30421799A
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Japanese (ja)
Inventor
Naonori Hayashi
尚典 林
Tomoaki Nanko
智昭 南光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To actualize a spectroscopic analyzer having high measurement accuracy and enabling the assembling time to be shortened. SOLUTION: This spectroscopic analyzer is used to apply the light outgoing from a case to a sample to measure the spectrum of transmitted or reflected light, or to find characteristic values of the sample based on the spectrum. Optical members and heat generating members are disposed in separate chambers or in separate cases, while the diameter of a light transmitting hole and the wavelengths transmitted by a filter are optimized.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、石油化学、化学、
食品などの分野で近赤外域の波長を用いて測定サンプル
の成分分析を行うための分光分析計に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to petrochemical, chemical,
The present invention relates to a spectrophotometer for analyzing components of a measurement sample using a wavelength in a near-infrared region in a field such as food.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は分光分析計の従来の構成を示す平
面図である。図において、1は光学部材が配置されたケ
ースであり、このケース1の中には図示のように測定光
を出射するランプ2、レーザービーム発生装置3、コリ
メートレンズ4、ビームスプリッタ5、固定ミラー6、
移動ミラー7、移動ミラーホルダ8、集光レンズ9およ
びレーザービーム検出部14が収納されている。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a plan view showing a conventional structure of a spectrometer. In the drawing, reference numeral 1 denotes a case in which an optical member is arranged. In this case 1, a lamp 2 for emitting measurement light, a laser beam generator 3, a collimator lens 4, a beam splitter 5, a fixed mirror are provided as shown in the figure. 6,
A movable mirror 7, a movable mirror holder 8, a condenser lens 9, and a laser beam detector 14 are housed therein.

【0003】ケース1の外側壁にはファイバアダプタ1
0が固定され、光ファイバ11を介して測定サンプル1
2、光検出部13が配置されている。上述の構成におい
て、ランプ2から出射したブロードな波長域を持つ測定
光はコリメートレンズ4により平行光とされ、ビームス
プリッタ5を介して固定ミラー6、移動ミラー7が配置
された2方向に分岐される。
The outer wall of the case 1 has a fiber adapter 1
0 is fixed, and the measurement sample 1 is
2. The light detection unit 13 is provided. In the above-described configuration, the measurement light having a broad wavelength range emitted from the lamp 2 is converted into parallel light by the collimator lens 4 and split via the beam splitter 5 in two directions in which the fixed mirror 6 and the movable mirror 7 are arranged. You.

【0004】そして、移動ミラー7を光軸方向にスキャ
ンさせることで固定ミラー6からの反射光との間に光路
差が生じ、ビームスプリッタ5で再結合された光はブロ
ードな波長域帯での合成された干渉光となる。
When the movable mirror 7 is scanned in the direction of the optical axis, an optical path difference is generated between the light reflected from the fixed mirror 6 and the light recombined by the beam splitter 5 in a broad wavelength band. The combined interference light is obtained.

【0005】この干渉光は集光レンズ9により集光さ
れ、ファイバアダプタ10を介して光ファイバ11に導
かれる。この光をサンプル光としてサンプル12を透過
またはサンプルに反射させて光検出部13で受光するこ
とにより被測定サンプルの吸収スペクトルまたは反射ス
ペクトルを得ることができる。
The interference light is condensed by a condenser lens 9 and guided to an optical fiber 11 via a fiber adapter 10. The light is transmitted through or reflected by the sample 12 as sample light, and is received by the light detection unit 13, whereby an absorption spectrum or a reflection spectrum of the sample to be measured can be obtained.

【0006】ここで、データのサンプリングはレーザー
ビーム発生装置3から出射されるレーザービームの干渉
信号に同期して行われ、そのときサンプル光により測定
した波長の絶対波長はレーザービームとランプ2の位置
関係および集光レンズ9と光ファイバ10の位置により
決まる。
Here, the sampling of data is performed in synchronization with the interference signal of the laser beam emitted from the laser beam generator 3. At this time, the absolute wavelength of the wavelength measured by the sample light is the position of the laser beam and the position of the lamp 2. It depends on the relationship and the positions of the condenser lens 9 and the optical fiber 10.

【0007】ここで各要素部材であるランプ2、レーザ
ービーム発生装置3、コリメートレンズ4、ビームスプ
リッタ5、固定ミラー6、移動ミラーホルダ8、集光レ
ンズ9、ファイバアダプタ10はケース1にそれぞれ設
けられた所定の光学的基準面に保持されている。
Here, the lamp 2, laser beam generator 3, collimator lens 4, beam splitter 5, fixed mirror 6, movable mirror holder 8, condenser lens 9, and fiber adapter 10, which are the respective components, are provided in the case 1. Is held on a predetermined optical reference plane.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の従来
例においては、発熱部材であるランプおよびレーザービ
ーム発生手段と光学系部材とは同じ室内に配置される構
造となっており、発熱体がケース内に置かれていること
により分光器本体内の温度上昇が大きくなることがあ
る。また、測定精度を上げるにはランプ光量を大きくす
る必要があるが、ランプの光量を大きくすると温度上昇
が大きくなり熱影響による問題が増大する。
In the above-mentioned prior art, the lamp, the laser beam generating means, and the optical system member, which are the heating members, are arranged in the same room. The temperature rise inside the spectrometer body may be increased by being placed inside the spectroscope. Further, to increase the measurement accuracy, it is necessary to increase the light intensity of the lamp. However, if the light intensity of the lamp is increased, the temperature rise increases, and the problem due to the influence of heat increases.

【0009】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたもので、発熱体であるランプおよびレーザビーム発
生装置を光学系部材とは別々の室に配置し、光学系部材
の熱による測定誤差を少なくした精度の高い分光分析計
を実現することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and a lamp and a laser beam generator, which are heating elements, are disposed in a chamber separate from an optical system member, and a measurement error due to heat of the optical system member is provided. It is an object of the present invention to realize a high-accuracy spectrophotometer with reduced noise.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、請求項1においては、ケースから
出射する光をサンプルに照射してその透過または反射光
のスペクトルを測定し、または、そのスペクトルを元に
サンプルの性状値を求める分光分析計において、前記ケ
ースに収納された光学系部材と発熱部材を別室に配置し
たことを特徴とする。
In order to achieve the above object, according to the present invention, in claim 1, the sample is irradiated with light emitted from the case, and the spectrum of the transmitted or reflected light is measured. Alternatively, in the spectrometer for obtaining the property value of the sample based on the spectrum, the optical system member and the heat generating member housed in the case are arranged in separate rooms.

【0011】請求項2においては、請求項1記載の分光
分析計において、ケースは発熱部材から出射する光の通
過孔を有する仕切り壁により分割されていることを特徴
とする。
According to a second aspect of the present invention, in the spectrometer according to the first aspect, the case is divided by a partition wall having a through hole for light emitted from the heat generating member.

【0012】請求項3においては、請求項2記載の分光
分析計において、仕切り壁には測定光とレーザービーム
が通過する通過孔が形成され、この通過孔の直径は測定
に必要な最小限の大きさに開口したことを特徴とする。
請求項4においては、請求項1〜3いずれかに記載の分
光分析計において、ケースは2以上の壁で仕切られてお
り、壁と壁の間に断熱層を有することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the spectrometer according to the second aspect, a through hole through which the measurement light and the laser beam pass is formed in the partition wall, and the diameter of the through hole is a minimum required for the measurement. It is characterized by having an opening in size.
According to a fourth aspect, in the spectrometer according to any one of the first to third aspects, the case is partitioned by two or more walls, and a heat insulating layer is provided between the walls.

【0013】請求項5においては、請求項4記載の分光
分析計において、断熱層は壁と壁の間に気体若しくは液
体を流す構成としたものであることを特徴とする。請求
項6においては、請求項1〜5いずれかに記載の分光分
析計において、発熱部材が収納された室の仕切り壁を冷
却する冷却部材若しくは冷却機構を設けたことを特徴と
する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the spectrometer according to the fourth aspect, the heat insulating layer is configured to flow a gas or a liquid between the walls. According to a sixth aspect of the present invention, in the spectrometer according to any one of the first to fifth aspects, a cooling member or a cooling mechanism for cooling a partition wall of a chamber in which the heat generating member is stored is provided.

【0014】請求項7においては、請求項2〜6いずれ
かに記載の分光分析計において、仕切り壁の光の通過孔
に光学系で必要とする波長帯のみを透過させるフィルタ
を設けたことを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the spectrometer according to any one of the second to sixth aspects, a filter for transmitting only a wavelength band required by the optical system is provided in the light passage hole of the partition wall. Features.

【0015】請求項8においては、請求項1〜7いずれ
かに記載の分光分析計において、光学系部材と発熱部材
を別々のケースに収納し、これらそれぞれのケースを位
置決めを行うことが可能な接続部材により固定したこと
を特徴とする。
According to the eighth aspect, in the spectrometer according to any one of the first to seventh aspects, the optical system member and the heat generating member can be housed in separate cases, and these cases can be positioned. It is characterized by being fixed by a connecting member.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図1は本発明の実施形態の1例を示す平面図
である。なお、図3に示す構成要素と同一部品には同一
符号を付して説明は省略する。図1において、1aは第
1ケース、1bは第2ケースであり、これらは構成部品
を収納可能な程度の深さに形成されており、図では省略
するが上部にはケースを密閉可能な蓋を有している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing an example of an embodiment of the present invention. Note that the same components as those shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In FIG. 1, reference numeral 1a denotes a first case, and 1b denotes a second case. These are formed to a depth that can accommodate the components. have.

【0017】本実施例においてはケース1は底部から上
部縁面に達する仕切り壁15a,15bにより気密に仕
切られている。仕切り壁15a,15bの間には断熱
(空気)層16が形成されており、この仕切り壁の発熱
部材が配置された側には例えばペルチェ素子からなる冷
却部材17が取り付けられている。なお、図では省略す
るが断熱層16内を空気や液体が流れるように構成する
ことも可能である。
In this embodiment, the case 1 is airtightly partitioned by partition walls 15a and 15b extending from the bottom to the upper edge. A heat insulating (air) layer 16 is formed between the partition walls 15a and 15b, and a cooling member 17 made of, for example, a Peltier element is attached to a side of the partition wall where the heat generating member is arranged. Although not shown in the drawing, it is also possible to adopt a configuration in which air or liquid flows in the heat insulating layer 16.

【0018】このように発熱部材が配置された室と光学
系が配置された室を仕切り壁15a,15bで仕切り、
仕切り壁を冷却部材17で冷却することにより光学系が
配置された室の温度上昇を抑えることができる。
The chamber in which the heat generating member is disposed and the chamber in which the optical system is disposed are partitioned by partition walls 15a and 15b.
By cooling the partition wall with the cooling member 17, it is possible to suppress a rise in the temperature of the room in which the optical system is disposed.

【0019】22a,22bはコリメートレンズ4で平
行光とされたランプ2からの光とレーザビーム発生装置
で発生したレーザ光を光学系側に透過する孔である。こ
れらの孔は測定に必要な平行光が透過できる最適な大き
さの直径とする。
Reference numerals 22a and 22b denote holes for transmitting the light from the lamp 2 converted into parallel light by the collimating lens 4 and the laser light generated by the laser beam generator to the optical system side. These holes have an optimally sized diameter through which parallel light required for measurement can be transmitted.

【0020】20は孔22a,22bを覆って設けられ
たフィルタであり、光学系で必要な波長帯のみを透過す
る。このように光透過孔の直径とフィルタを透過する波
長を最適化することにより高精度な測定が可能となる。
Reference numeral 20 denotes a filter provided so as to cover the holes 22a and 22b, and transmits only a wavelength band necessary for the optical system. By optimizing the diameter of the light transmission hole and the wavelength transmitted through the filter in this manner, highly accurate measurement can be performed.

【0021】図2は請求項8に関する実施形態の1例を
示すもので、この例においては、ケース1aと1bを別
体として作製し、これらのケースを所定の間隔(断熱
層)を介して各ケースの位置決めが可能なブラケット3
0で接続している。このような構成によれば、光学系が
配置されるケース1aと発熱部材が配置されるケース1
bの組付けを別々に行いその後微調整をすることにより
組付け時間を短縮することができる。
FIG. 2 shows an example of the embodiment according to the eighth aspect. In this example, the cases 1a and 1b are manufactured separately, and these cases are interposed at a predetermined interval (heat insulating layer). Bracket 3 that can position each case
0 is connected. According to such a configuration, the case 1a in which the optical system is arranged and the case 1 in which the heat generating member is arranged
By separately assembling b and then performing fine adjustment, the assembling time can be reduced.

【0022】本発明の以上の説明は、説明および例示を
目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。し
たがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの変更、
変形をなし得ることは当業者に明らかである。
The foregoing description of the present invention has been presented by way of illustration and example only of a particular preferred embodiment. Accordingly, the present invention has many modifications, without departing from its essence,
It will be apparent to those skilled in the art that variations can be made.

【0023】例えば、仕切り壁は一重でもよく、冷却部
材の取付け箇所も例えば図1に示す断熱層16の間に配
置してもよい。また、断熱層は空気として説明したが断
熱効果の高いプラスチック部材を詰め込んでもよい。ま
た、各構成部品の配置も実施例に限るものではなく、要
は発熱の影響が光学系側に及ばないような配置であれば
よい。
For example, the partition wall may be single-walled, and the cooling member may be attached at a location between the heat insulating layers 16 shown in FIG. 1, for example. Although the heat insulating layer has been described as air, a plastic member having a high heat insulating effect may be packed. In addition, the arrangement of each component is not limited to the embodiment, but the arrangement may be any as long as the influence of heat generation does not affect the optical system side.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ケースから出射する測定光をサンプルに照射してその透
過または反射光のスペクトルを測定し、または、そのス
ペクトルを元にサンプルの性状値を求める分光分析計に
おいて、光学系部品と発熱部品を別室とし(請求項
1)、これらを仕切り壁で仕切って(請求項2)光の通
過孔を最小限とし(請求項3)、仕切り壁との間を断熱
構造とした(請求項4,5,6)ので、光学系部材に対
する熱の影響を軽減することができる。
As described above, according to the present invention,
The spectrum of transmitted or reflected light is measured by irradiating the sample with the measurement light emitted from the case, or the spectrometer that determines the property value of the sample based on the spectrum is used. (Claim 1), these are partitioned by a partition wall (Claim 2) The number of light passage holes is minimized (Claim 3), and a heat insulating structure is provided between the partition wall and the partition wall (Claims 4, 5, and 6). ), The influence of heat on the optical system members can be reduced.

【0025】また、測定光の透過孔の直径とフィルタを
透過する波長を最適化(請求項7)することにより測定
精度の高い分光分析計を実現することができ、更に光学
系部材と発熱部材を別々のケースに収納し、これらそれ
ぞれのケースを位置決めを行うことが可能な接続部材に
より固定した(請求項8)ので組付け時間を短縮するこ
とができる。
Further, by optimizing the diameter of the transmission hole of the measurement light and the wavelength transmitted through the filter (claim 7), a spectrometer with high measurement accuracy can be realized. Are housed in separate cases, and these cases are fixed by connecting members capable of positioning (claim 8), so that the assembling time can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の分光分析計の実施形態の一例を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view illustrating an example of an embodiment of a spectrometer according to the present invention.

【図2】他の実施形態の一例を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing an example of another embodiment.

【図3】従来例を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a,1b ケース 2 ランプ 3 レーザービーム発生装置 4 コリメートレンズ 5 ビームスプリッタ 6 固定ミラー 7 移動ミラー 8 移動ミラーホルダ 9 集光レンズ 10 ファイバアダプタ 11 光ファイバ 12 サンプル 13 光検出部 14 レーザービーム検出部 15a,15b 仕切り壁 16 断熱層 17 冷却部材 20 フィルタ 30 接続ブラケット 1a, 1b Case 2 Lamp 3 Laser Beam Generator 4 Collimator Lens 5 Beam Splitter 6 Fixed Mirror 7 Moving Mirror 8 Moving Mirror Holder 9 Condensing Lens 10 Fiber Adapter 11 Optical Fiber 12 Sample 13 Light Detector 14 Laser Beam Detector 15a, 15b Partition wall 16 Heat insulation layer 17 Cooling member 20 Filter 30 Connection bracket

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ケースから出射する光をサンプルに照射し
てその透過または反射光のスペクトルを測定し、また
は、そのスペクトルを元にサンプルの性状値を求める分
光分析計において、前記ケースに収納された光学系部材
と発熱部材を別室に配置したことを特徴とする分光分析
計。
1. A spectrophotometer for irradiating a sample with light emitted from a case and measuring the spectrum of the transmitted or reflected light, or for obtaining a property value of the sample based on the spectrum, and stored in the case. A spectrometer characterized in that the optical member and the heat generating member are arranged in separate rooms.
【請求項2】ケースは発熱部材から出射する光の通過孔
を有する仕切り壁により分割されていることを特徴とす
る請求項1記載の分光分析計。
2. The spectrometer according to claim 1, wherein the case is divided by a partition wall having a through hole for light emitted from the heat generating member.
【請求項3】仕切り壁には測定光とレーザービームが通
過する通過孔が形成され、この通過孔の直径は測定に必
要な最小限の大きさに開口したことを特徴とする請求項
2記載の分光分析計。
3. The partition wall is formed with a through hole through which the measurement light and the laser beam pass, and the diameter of the through hole is reduced to a minimum size necessary for the measurement. Spectrometer.
【請求項4】ケースは2以上の壁で仕切られており、壁
と壁の間に断熱層を有することを特徴とする請求項1〜
3いずれかに記載の分光分析計。
4. The case according to claim 1, wherein the case is divided by two or more walls, and a heat insulating layer is provided between the walls.
3. The spectrophotometer according to any one of 3.
【請求項5】断熱層は壁と壁の間に気体若しくは液体を
流す構成としたものであることを特徴とする請求項4記
載の分光分析計。
5. The spectrometer according to claim 4, wherein the heat insulating layer has a structure in which gas or liquid flows between the walls.
【請求項6】発熱部材が収納された室の仕切り壁を冷却
する冷却部材若しくは冷却機構を設けたことを特徴とす
る請求項1〜5いずれかに記載の分光分析計。
6. The spectrometer according to claim 1, further comprising a cooling member or a cooling mechanism for cooling a partition wall of the chamber in which the heat generating member is stored.
【請求項7】仕切り壁の光の通過孔に光学系で必要とす
る波長帯のみを透過させるフィルタを設けたことを特徴
とする請求項2〜6いずれかに記載の分光分析計。
7. The spectrometer according to claim 2, wherein a filter that transmits only a wavelength band required by the optical system is provided in a light passage hole of the partition wall.
【請求項8】光学系部材と発熱部材を別々のケースに収
納し、これらそれぞれのケースを位置決めを行うことが
可能な接続部材により固定したことを特徴とする請求項
1〜7いずれかに記載の分光分析計。
8. The optical system according to claim 1, wherein the optical system member and the heat generating member are housed in separate cases, and the respective cases are fixed by a connecting member capable of performing positioning. Spectrometer.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101624105B1 (en) 2014-08-12 2016-05-25 주식회사 오토닉스 Terminal block for temperature compensating of thermocouple

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