JP2001102866A - Cr oscillation circuit - Google Patents

Cr oscillation circuit

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JP2001102866A
JP2001102866A JP27948199A JP27948199A JP2001102866A JP 2001102866 A JP2001102866 A JP 2001102866A JP 27948199 A JP27948199 A JP 27948199A JP 27948199 A JP27948199 A JP 27948199A JP 2001102866 A JP2001102866 A JP 2001102866A
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voltage
circuit
reference voltage
comparison
capacitor
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Hisaaki Iwasaki
寿明 岩▲崎▼
Noriyasu Kitamura
哲康 北村
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Denso Corp
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Denso Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the accuracy of an oscillation frequency by absorbing dispersion of a circuit constant in production. SOLUTION: A capacitor 23 performs charging/discharging through a resistor 22 corresponding to the comparing output of a comparator circuit 20. The comparing output of the comparator circuit 20 becomes a low level until increasing the terminal voltage of the capacitor 23 to a first reference voltage V1 and becomes high level until lowering the terminal voltage to a second reference voltage V2. A reference voltage generating part 13 has first and second voltage divider circuits 14 and 15 for generating the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 at the interval of plural stages, a first selector circuit 17 for outputting the reference voltage selected by a select signal from an EEPROM 19 out of the first reference voltages V1 of plural stages and a second selector circuit 18 for outputting the reference voltage selected by the select signal out of the second reference voltages V2 of plural stages. The selected reference voltages V1 and V2 are inputted to the comparator circuit 20 by any one of first and second switching circuits 24 and 25.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサの充放
電特性に基づいて所定周波数の発振信号を生成するよう
にしたCR発振回路、特には、コンデンサの充放電動作
を比較回路の比較出力に基づいて行うようにしたCR発
振回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a CR oscillating circuit which generates an oscillation signal of a predetermined frequency based on the charging / discharging characteristics of a capacitor. The present invention relates to a CR oscillating circuit configured to perform the above operation.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3には、例えば車両用キーレスエント
リーシステムの携帯型送信機に使用されるCR発振回路
の構成例が示されている。この図3において、CR発振
回路1は、全体がワンチップIC化されたもので、各内
部回路要素の電源は、内蔵電池に接続された電源端子V
DDから与えられるようになっている。この電源端子V
DDと接地端子との間に接続された基準電圧生成部2
は、例えば多結晶シリコン膜を抵抗要素とした抵抗分圧
回路により構成されており、第1の基準電圧V1及び第
2の基準電圧V2(V1>V2)を出力する。
2. Description of the Related Art FIG. 3 shows a configuration example of a CR oscillation circuit used for a portable transmitter of a keyless entry system for a vehicle, for example. In FIG. 3, the CR oscillation circuit 1 is a one-chip IC as a whole, and the power supply of each internal circuit element is a power supply terminal V connected to a built-in battery.
DD. This power terminal V
Reference voltage generator 2 connected between DD and ground terminal
Is composed of, for example, a resistance voltage dividing circuit using a polycrystalline silicon film as a resistance element, and outputs a first reference voltage V1 and a second reference voltage V2 (V1> V2).

【0003】比較回路3は、その出力端子がインバータ
回路4を介してCR発振回路1の出力端子1aに接続さ
れている。また、上記出力端子1aは、抵抗5及びコン
デンサ6の直列回路を介して接地端子に接続されてお
り、比較回路3の非反転入力端子(+)には、当該コン
デンサ6の端子電圧が与えられる構成となっている。比
較回路3の反転入力端子(−)には、前記第1の基準電
圧V1及び第2の基準電圧V2の一方が、第1のスイッ
チング回路7或いは第2のスイッチング回路8を通じて
選択的に与えられる構成となっている。尚、上記抵抗5
は、例えば多結晶シリコン膜を利用して形成され、コン
デンサ6は、絶縁膜(例えば酸化シリコン膜)を利用し
て形成されるものである。
[0005] The output terminal of the comparison circuit 3 is connected to the output terminal 1 a of the CR oscillation circuit 1 via an inverter circuit 4. The output terminal 1a is connected to a ground terminal via a series circuit of a resistor 5 and a capacitor 6, and a terminal voltage of the capacitor 6 is applied to a non-inverting input terminal (+) of the comparison circuit 3. It has a configuration. One of the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 is selectively supplied to the inverting input terminal (-) of the comparison circuit 3 through the first switching circuit 7 or the second switching circuit 8. It has a configuration. Note that the resistance 5
Is formed using, for example, a polycrystalline silicon film, and the capacitor 6 is formed using an insulating film (for example, a silicon oxide film).

【0004】第1のスイッチング回路7は、Pチャネル
FET7a及びNチャネルFET7bを並列接続したも
ので、FET7aのゲートには、インバータ回路4の出
力がインバータ回路9を介して与えられ、FET7bの
ゲートには、インバータ回路4の出力が直接的に与えら
れる。また、第2のスイッチング回路8は、Pチャネル
FET8a及びNチャネルFET8bを並列接続したも
ので、FET8aのゲートには、インバータ回路4の出
力が直接的に与えられ、FET8bのゲートには、イン
バータ回路4の出力がインバータ回路9を介して与えら
れる。
The first switching circuit 7 has a P-channel FET 7a and an N-channel FET 7b connected in parallel. The output of the inverter circuit 4 is supplied to the gate of the FET 7a via the inverter circuit 9, and the gate of the FET 7b is connected to the gate of the FET 7a. , The output of the inverter circuit 4 is directly given. The second switching circuit 8 has a P-channel FET 8a and an N-channel FET 8b connected in parallel. The output of the inverter circuit 4 is directly applied to the gate of the FET 8a, and the gate of the FET 8b is connected to the inverter circuit. 4 is provided through an inverter circuit 9.

【0005】この構成によれば、コンデンサ6の充電期
間、つまりインバータ回路4の出力がハイレベルに反転
した期間(比較回路3の比較出力がローレベルの期間)
には、第1のスイッチング回路7内のFET7a、7b
がオンされるため、比較回路3の反転入力端子(−)に
第1の基準電圧V1が与えられている。この後、コンデ
ンサ6の端子電圧が第1の基準電圧V1まで上昇する
と、比較回路3の比較出力がハイレベルに反転してイン
バータ回路4の出力がローレベルに反転する。すると、
コンデンサ6の放電動作が開始されると共に、第2のス
イッチング回路8内のFET8a、8bがオンされるの
に応じて、比較回路3の反転入力端子(−)に第2の基
準電圧V2が与えられようになる。そして、このような
コンデンサ6の放電に応じて、当該コンデンサ6の端子
電圧が第2の基準電圧V2まで低下すると、比較回路3
の比較出力がローレベルに反転してインバータ回路4の
出力がハイレベルに反転するため、コンデンサ6の充電
動作が再開されると共に、比較回路3の反転入力端子
(−)に第1の基準電圧V1が与えられるようになる。
要するに、コンデンサ6の充放電動作が、比較回路3の
比較出力の交互反転動作に応じて周期的に実行され、こ
れにより出力端子1aから所定周波数の三角波状発振信
号を出力という発振動作が行われるものである。
According to this configuration, the charging period of the capacitor 6, that is, the period when the output of the inverter circuit 4 is inverted to the high level (the period when the comparison output of the comparing circuit 3 is at the low level)
Are the FETs 7a, 7b in the first switching circuit 7.
Is turned on, the first reference voltage V1 is supplied to the inverting input terminal (−) of the comparison circuit 3. Thereafter, when the terminal voltage of the capacitor 6 rises to the first reference voltage V1, the comparison output of the comparison circuit 3 is inverted to a high level, and the output of the inverter circuit 4 is inverted to a low level. Then
When the discharging operation of the capacitor 6 is started and the FETs 8a and 8b in the second switching circuit 8 are turned on, the second reference voltage V2 is applied to the inverting input terminal (-) of the comparison circuit 3. I will be able to. When the terminal voltage of the capacitor 6 decreases to the second reference voltage V2 in response to the discharge of the capacitor 6, the comparison circuit 3
Is inverted to a low level and the output of the inverter circuit 4 is inverted to a high level, so that the charging operation of the capacitor 6 is restarted and the first reference voltage is applied to the inverting input terminal (-) of the comparison circuit 3. V1 is provided.
In short, the charging / discharging operation of the capacitor 6 is periodically executed in accordance with the alternate inversion operation of the comparison output of the comparison circuit 3, whereby an oscillation operation of outputting a triangular oscillation signal of a predetermined frequency from the output terminal 1a is performed. Things.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記のようなIC化さ
れたCR発振回路1にあっては、その製造工程(半導体
製造プロセス)において、コンデンサ6の初期容量値や
抵抗5並びに基準電圧生成部2内の抵抗分圧回路の初期
抵抗値がばらつくという事情がある。このため、CR発
振回路1を製造するに当たって、コンデンサ6の充放電
時定数や基準電圧生成部2の出力電圧が設計目標値から
ずれることが避けられないものであり、結果的に発振周
波数の精度が低下するという問題点があった。
In the above-described CR oscillation circuit 1 formed into an IC, in the manufacturing process (semiconductor manufacturing process), the initial capacitance value of the capacitor 6, the resistor 5, and the reference voltage generation unit There is a situation that the initial resistance value of the resistance voltage dividing circuit in 2 varies. For this reason, in manufacturing the CR oscillation circuit 1, it is inevitable that the charging / discharging time constant of the capacitor 6 and the output voltage of the reference voltage generation unit 2 deviate from the design target value. However, there is a problem that the temperature is reduced.

【0007】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであり、その目的は、製造工程での回路定数の
ばらつきを吸収できて、発振周波数の精度向上を実現可
能になるなどの効果を奏するCR発振回路を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to make it possible to absorb variations in circuit constants in a manufacturing process, thereby making it possible to improve the accuracy of an oscillation frequency. Is to provide a CR oscillation circuit that achieves the above.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明によ
れば、コンデンサの充放電周期は、その充放電時定数
と、比較回路の比較入力端子に与えられる第1の基準電
圧及び第2の基準電圧のレベル(特には各基準電圧の電
圧差)とに大きく依存して決まることになる。つまり、
CR発振回路の発振周波数は、コンデンサの充放電時定
数が大きい場合ほど低くなり、第1の基準電圧及び第2
の基準電圧の電圧差が大きい場合ほど低くなる。
According to the first aspect of the invention, the charge / discharge cycle of the capacitor is determined by the charge / discharge time constant, the first reference voltage and the second reference voltage applied to the comparison input terminal of the comparison circuit. (In particular, the voltage difference between the reference voltages). That is,
The oscillation frequency of the CR oscillation circuit becomes lower as the charge / discharge time constant of the capacitor becomes larger, and the first reference voltage and the second
Becomes lower as the voltage difference between the reference voltages is larger.

【0009】この場合、コンデンサの充放電時定数は、
当該コンデンサの容量及び充放電用抵抗の抵抗値によっ
て一義的に決まってしまうが、比較回路の比較入力端子
に与える第1の基準電圧及び第2の基準電圧は、基準電
圧生成部内の第1の分圧回路及び第2の分圧回路が発生
する複数段階ずつの第1の基準電圧及び第2の基準電圧
の中から、第1の選択回路及び第2の選択回路を通じて
選択できる構成となっている。従って、例えば、コンデ
ンサの充放電時定数を実際に測定した結果に基づいて第
1の基準電圧及び第2の基準電圧を選択することによ
り、発振周波数を調整できることになり、以て製造工程
で発生する回路定数(コンデンサの容量、充放電用抵抗
の抵抗値など)のばらつきを吸収して発振周波数を設計
目標値に近付けることが可能になる。この結果、コンデ
ンサの初期容量値や充放電用抵抗並びに基準電圧生成部
内の分圧回路用抵抗要素の初期抵抗値がばらつくような
状況下でも、発振周波数の精度向上を実現できるように
なる。
In this case, the charge / discharge time constant of the capacitor is
The first reference voltage and the second reference voltage applied to the comparison input terminal of the comparison circuit are uniquely determined by the capacitance of the capacitor and the resistance value of the charge / discharge resistor. The configuration is such that it can be selected from the first reference voltage and the second reference voltage in a plurality of steps generated by the voltage dividing circuit and the second voltage dividing circuit through the first selecting circuit and the second selecting circuit. I have. Therefore, for example, the oscillation frequency can be adjusted by selecting the first reference voltage and the second reference voltage based on the result of actually measuring the charging / discharging time constant of the capacitor. It is possible to make the oscillation frequency close to the design target value by absorbing the variation of the circuit constants (capacitance of the capacitor, resistance value of the charging / discharging resistor, etc.) to be performed. As a result, even when the initial capacitance value of the capacitor, the charge / discharge resistance, and the initial resistance value of the resistive element for the voltage dividing circuit in the reference voltage generator vary, the accuracy of the oscillation frequency can be improved.

【0010】請求項2記載の発明によれば、複数段階の
第1の基準電圧を発生するための第1の分圧回路及び複
数段階の第2の基準電圧を発生するための第2の分圧回
路は、所定電圧を発生する端子間に分圧抵抗を介して直
列接続されており、また、その分圧抵抗の抵抗温度係数
が前記各抵抗要素の抵抗温度係数より大きな値に設定さ
れている。従って、周囲温度が上昇したときには、分圧
抵抗の抵抗値の増加割合が各抵抗要素の抵抗値の増加割
合より大きくなって、それら各抵抗要素の分担電圧のレ
ベルが低下するから、結果的に第1の基準電圧及び第2
の基準電圧の電圧差が縮小するようになる。
According to the second aspect of the present invention, a first voltage dividing circuit for generating a plurality of stages of a first reference voltage and a second voltage dividing circuit for generating a plurality of stages of a second reference voltage. The voltage circuit is connected in series between terminals that generate a predetermined voltage via a voltage dividing resistor, and the resistance temperature coefficient of the voltage dividing resistor is set to a value larger than the resistance temperature coefficient of each of the resistance elements. I have. Therefore, when the ambient temperature rises, the rate of increase of the resistance value of the voltage dividing resistor becomes larger than the rate of increase of the resistance value of each resistance element, and the level of the shared voltage of each resistance element decreases. A first reference voltage and a second
Is reduced.

【0011】この場合、周囲温度が上昇したときには、
充放電用抵抗の抵抗値が大きくなるのに伴いコンデンサ
の充放電時定数が増大するため、発振周波数を低下させ
るように作用し、また、比較回路の温度特性(高温にな
るのに伴い動作が遅くなるという特性)も発振周波数を
低下させるように作用するが、このときには、第1の基
準電圧及び第2の基準電圧の電圧差が縮小して発振周波
数を上昇させるように作用するから、結果的に、このよ
うに発振周波数を低下させようとする作用と上昇させよ
うとする作用が相殺されるようになって、充放電用抵抗
の温度特性に起因した発振周波数の変動を未然に防止で
きるようになる。
In this case, when the ambient temperature rises,
As the resistance value of the charging / discharging resistor increases, the charging / discharging time constant of the capacitor increases, which acts to lower the oscillation frequency. The characteristic of slowing down) also acts to decrease the oscillation frequency, but at this time, the voltage difference between the first reference voltage and the second reference voltage acts to decrease and increase the oscillation frequency. In this way, the effect of reducing the oscillation frequency and the effect of increasing the oscillation frequency are canceled out, and the fluctuation of the oscillation frequency due to the temperature characteristics of the charge / discharge resistor can be prevented beforehand. Become like

【0012】請求項3記載の発明によれば、前記複数段
階ずつの第1の基準電圧及び第2の基準電圧の中から所
定の基準電圧を選択するための選択信号を、記憶手段の
アドレス指定に応じて出力する構成となっているから、
その基準電圧の選択を容易且つ確実に行い得るようにな
る。
According to the third aspect of the present invention, the selection signal for selecting a predetermined reference voltage from the first reference voltage and the second reference voltage in each of the plurality of stages is designated by the addressing of the storage means. Output according to
The reference voltage can be easily and reliably selected.

【0013】請求項4記載の発明によれば、前記比較回
路の電源を、CR発振回路の電源電圧の最下限電圧より
低いレベルの安定化電圧を発生するレギュレータから得
る構成となっているから、電源電圧が変動した場合で
も、比較回路の電源電圧レベルは常時において安定した
ものとなる。この結果、一般的な比較回路が有する電圧
特性(電源電圧が低くなるにの応じて動作速度が低下す
るという特性)の影響を受ける恐れがなくなり、電源電
圧の変動に起因して発振周波数が変化する事態を未然に
防止できるようになる。
According to the fourth aspect of the present invention, the power supply for the comparison circuit is obtained from a regulator that generates a stabilized voltage having a level lower than the lower limit voltage of the power supply voltage of the CR oscillation circuit. Even when the power supply voltage fluctuates, the power supply voltage level of the comparison circuit is always stable. As a result, there is no danger of being affected by the voltage characteristics of the general comparison circuit (the characteristic that the operation speed decreases as the power supply voltage decreases), and the oscillation frequency changes due to the power supply voltage fluctuation. Can be prevented beforehand.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例について
図1及び図2を参照しながら説明する。図1には、車両
用キーレスエントリーシステムの携帯型送信機に使用さ
れるCR発振回路の構成例が示されている。この図1に
おいて、本実施例で対象とするCR発振回路11は、全
体がワンチップIC化されたもので、各内部回路要素の
電源は、内蔵電池に接続された電源端子VDDからレギ
ュレータ12を通じて与えられるようになっている。
尚、上記レギュレータ12は、CR発振回路11の電源
電圧(電源端子VDDの電圧)の最下限電圧より低いレ
ベルの安定化電圧を発生する構成となっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 shows a configuration example of a CR oscillation circuit used in a portable transmitter of a keyless entry system for a vehicle. In FIG. 1, the CR oscillation circuit 11 of the present embodiment is a one-chip IC as a whole. The power of each internal circuit element is supplied from a power supply terminal VDD connected to a built-in battery through a regulator 12. Is to be given.
Note that the regulator 12 is configured to generate a stabilized voltage at a level lower than the lower limit voltage of the power supply voltage (voltage of the power supply terminal VDD) of the CR oscillation circuit 11.

【0015】レギュレータ12の出力端子と接地端子と
の間に接続された基準電圧生成部13は、互いに異なる
レベルの第1の基準電圧V1及び第2の基準電圧V2
(V1>V2)を出力するためのものであり、これは以
下のような構成となっている。即ち、基準電圧発生部1
3は、第1の分圧回路14、第2の分圧回路15及び分
圧抵抗16を直列に接続した構成となっている。具体的
には、第1の分圧回路14は複数個の抵抗要素14aを
直列接続して構成され、各抵抗要素14aにより印加電
圧を分圧することにより複数段階の第1の基準電圧V1
を発生する。また、第2の分圧回路15は複数個の抵抗
要素15aを直列接続して構成され、各抵抗要素15a
により印加電圧を分圧することにより複数段階の第2の
基準電圧V2を発生する。
The reference voltage generator 13 connected between the output terminal of the regulator 12 and the ground terminal provides a first reference voltage V1 and a second reference voltage V2 at different levels.
(V1> V2), which has the following configuration. That is, the reference voltage generator 1
Reference numeral 3 denotes a configuration in which a first voltage dividing circuit 14, a second voltage dividing circuit 15, and a voltage dividing resistor 16 are connected in series. Specifically, the first voltage dividing circuit 14 is configured by connecting a plurality of resistive elements 14a in series, and divides an applied voltage by each resistive element 14a to thereby form a first-stage first reference voltage V1.
Occurs. The second voltage dividing circuit 15 is configured by connecting a plurality of resistance elements 15a in series.
Divides the applied voltage to generate a second reference voltage V2 in a plurality of stages.

【0016】この場合、上記抵抗要素14a、15a
は、例えば多結晶シリコン膜を利用して形成されている
のに対して、分圧抵抗16は、例えばドレイン・ソース
間を短絡した状態のNチャネルFETを利用して形成さ
れており、これにより、分圧抵抗16の抵抗温度係数
が、各抵抗要素14a、15aの抵抗温度係数(多結晶
シリコンの場合、0.000685/℃程度)より大き
い値となるように設定されている。
In this case, the resistance elements 14a, 15a
Is formed using, for example, a polycrystalline silicon film, whereas the voltage dividing resistor 16 is formed using, for example, an N-channel FET in which the drain and the source are short-circuited. The resistance temperature coefficient of the voltage dividing resistor 16 is set to a value larger than the resistance temperature coefficient of each of the resistance elements 14a and 15a (about 0.000685 / ° C. in the case of polycrystalline silicon).

【0017】尚、図1では、抵抗要素14a、15aを
4個ずつ設けて3段階ずつ基準電圧V1及びV2を発生
する例を示したが、実際にはさらに多数個の抵抗要素が
設けられて、多段階(例えば32段階程度)ずつの基準
電圧V1及びV2を発生できるように構成されるもので
ある。
Although FIG. 1 shows an example in which four resistive elements 14a and 15a are provided to generate the reference voltages V1 and V2 in three steps, actually, more resistive elements are provided. , So that the reference voltages V1 and V2 can be generated in multiple steps (for example, about 32 steps).

【0018】一方、第1の分圧回路14を含んで構成さ
れた第1の選択回路17は、複数段階の第1の基準電圧
V1の各出力点(各抵抗要素14aの共通接続点)と、
出力端子17aとの間にそれぞれスイッチング要素17
bを接続して構成されたもので、それらスイッチング要
素17bの何れか一つがオンされることにより、所定の
基準電圧V1を出力端子17aから出力する。また、第
2の分圧回路15を含んで構成された第2の選択回路1
8は、複数段階の第2の基準電圧V2の各出力点(各抵
抗要素15aの共通接続点)と、出力端子18aとの間
にそれぞれスイッチング要素18bを接続して構成され
たもので、それらスイッチング要素18bの何れか一つ
がオンされることにより、所定の基準電圧V2を出力端
子18aから出力する。尚、上記各スイッチング要素1
7b及び18bは、例えばPチャネルFETを利用して
構成することができる。
On the other hand, the first selecting circuit 17 including the first voltage dividing circuit 14 is connected to each of the output points of the first reference voltage V1 in a plurality of stages (common connection points of the respective resistance elements 14a). ,
The switching element 17 is provided between the switching element 17 and the output terminal 17a.
The switching element 17b outputs a predetermined reference voltage V1 from the output terminal 17a when one of the switching elements 17b is turned on. In addition, the second selection circuit 1 including the second voltage dividing circuit 15
Reference numeral 8 denotes a configuration in which a switching element 18b is connected between each output point (a common connection point of each resistance element 15a) of the second reference voltage V2 in a plurality of stages and an output terminal 18a. When one of the switching elements 18b is turned on, a predetermined reference voltage V2 is output from the output terminal 18a. Note that each of the above switching elements 1
7b and 18b can be configured using, for example, a P-channel FET.

【0019】上記スイッチング要素17b群の何れか一
つをオンさせるための選択信号、並びにスイッチング要
素18b群の何れか一つをオンさせるための選択信号
は、EEPROM19(記憶手段に相当)のアドレス指
定に応じて当該EEPROM19から出力される構成と
なっている。
The selection signal for turning on any one of the switching elements 17b and the selection signal for turning on any one of the switching elements 18b are designated by an address in the EEPROM 19 (corresponding to storage means). Is output from the EEPROM 19 in response to

【0020】比較回路20は、その出力端子がインバー
タ回路21を介してCR発振回路11の出力端子11a
に接続されている。また、上記出力端子11aは、充放
電用の抵抗22及びコンデンサ23の直列回路を介して
接地端子に接続されており、比較回路20の非反転入力
端子(+)には、当該コンデンサ23の端子電圧が与え
られる構成となっている。比較回路20の反転入力端子
(−)には、前記第1の選択回路17からの第1の基準
電圧V1及び前記第2の選択回路18からの第2の基準
電圧V2の一方が、第1のスイッチング回路24或いは
第2のスイッチング回路25を通じて選択的に与えられ
る構成となっている。尚、上記抵抗22は、例えば多結
晶シリコン膜を利用して形成され、コンデンサ23は、
絶縁膜(例えば酸化シリコン膜)を利用して形成される
ものである。
The comparison circuit 20 has an output terminal connected to an output terminal 11a of the CR oscillation circuit 11 through an inverter circuit 21.
It is connected to the. The output terminal 11a is connected to a ground terminal via a series circuit of a charging / discharging resistor 22 and a capacitor 23. The non-inverting input terminal (+) of the comparison circuit 20 is connected to the terminal of the capacitor 23. The voltage is applied. One of the first reference voltage V1 from the first selection circuit 17 and the second reference voltage V2 from the second selection circuit 18 is supplied to the inverting input terminal (-) of the comparison circuit 20 in the first input terminal. , Or the second switching circuit 25. The resistor 22 is formed using, for example, a polycrystalline silicon film.
It is formed using an insulating film (for example, a silicon oxide film).

【0021】第1のスイッチング回路24は、Pチャネ
ルFET24a及びNチャネルFET24bを並列接続
したもので、FET24aのゲートには、インバータ回
路21の出力がインバータ回路26を介して与えられ、
FET24bのゲートには、インバータ回路21の出力
が直接的に与えられる。また、第2のスイッチング回路
25は、PチャネルFET25a及びNチャネルFET
25bを並列接続したもので、FET25aのゲートに
は、インバータ回路21の出力が直接的に与えられ、F
ET25bのゲートには、インバータ回路21の出力が
インバータ回路26を介して与えられる。
The first switching circuit 24 has a P-channel FET 24a and an N-channel FET 24b connected in parallel. The output of the inverter circuit 21 is supplied to the gate of the FET 24a via an inverter circuit 26.
The output of the inverter circuit 21 is directly given to the gate of the FET 24b. The second switching circuit 25 includes a P-channel FET 25a and an N-channel FET
25b are connected in parallel. The output of the inverter circuit 21 is directly supplied to the gate of the FET 25a.
The output of the inverter circuit 21 is provided to the gate of the ET 25b via the inverter circuit 26.

【0022】上記構成の作用は以下の通りである。即
ち、コンデンサ23の充電期間、つまりインバータ回路
21の出力がハイレベルに反転した期間(比較回路20
の比較出力がローレベル(本発明でいう第1のレベルに
相当)の期間)には、第1のスイッチング回路24内の
FET24a、24bがオンされるため、比較回路20
の反転入力端子(−)に第1の基準電圧V1が与えられ
ている。この後、コンデンサ23の端子電圧が第1の基
準電圧V1まで上昇すると、比較回路20の比較出力が
ハイレベル(本発明でいう第1のレベルに相当)に反転
してインバータ回路21の出力がローレベルに反転す
る。すると、コンデンサ23の放電動作が開始されると
共に、第2のスイッチング回路25内のFET25a、
25bがオン(第1のスイッチング回路24内のFET
24a、24bはオフ)されるのに応じて、比較回路2
0の反転入力端子(−)に第2の基準電圧V2が与えら
れようになる。そして、このようなコンデンサ23の放
電に応じて、当該コンデンサ23の端子電圧が第2の基
準電圧V2まで低下すると、比較回路20の比較出力が
ローレベルに反転してインバータ回路21の出力がハイ
レベルに反転するため、コンデンサ23の充電動作が再
開されると共に、比較回路20の反転入力端子(−)に
第1の基準電圧V1が与えられる。
The operation of the above configuration is as follows. That is, the charging period of the capacitor 23, that is, the period in which the output of the inverter circuit 21 is inverted to the high level (the comparison circuit 20).
During the period when the comparison output of the first switching circuit 24 is at a low level (corresponding to the first level in the present invention), the FETs 24a and 24b in the first switching circuit 24 are turned on.
Are supplied with a first reference voltage V1. Thereafter, when the terminal voltage of the capacitor 23 rises to the first reference voltage V1, the comparison output of the comparison circuit 20 is inverted to a high level (corresponding to the first level in the present invention), and the output of the inverter circuit 21 is changed. Invert to low level. Then, the discharging operation of the capacitor 23 is started, and at the same time, the FET 25a in the second switching circuit 25,
25b is ON (FET in the first switching circuit 24)
24a and 24b are turned off), the comparison circuit 2
The second reference voltage V2 is supplied to the 0 inverting input terminal (-). When the terminal voltage of the capacitor 23 decreases to the second reference voltage V2 in response to such discharge of the capacitor 23, the comparison output of the comparison circuit 20 is inverted to low level, and the output of the inverter circuit 21 becomes high. Because of the inversion to the level, the charging operation of the capacitor 23 is restarted, and the first reference voltage V1 is applied to the inverting input terminal (−) of the comparison circuit 20.

【0023】要するに、コンデンサ23の充放電動作
が、比較回路20の比較出力の交互反転動作に応じて周
期的に実行されるのに応じて、そのコンデンサ23の端
子電圧が図2に示すように第1の基準電圧V1と第2の
基準電圧V2との間で変化するものであり、これにより
出力端子1aから所定周波数の三角波状発振信号を出力
という発振動作が行われるものである。
In short, as the charging / discharging operation of the capacitor 23 is periodically executed in response to the alternate inversion operation of the comparison output of the comparison circuit 20, the terminal voltage of the capacitor 23 becomes as shown in FIG. It changes between the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2, whereby an oscillation operation of outputting a triangular wave-like oscillation signal of a predetermined frequency from the output terminal 1a is performed.

【0024】ところで、コンデンサ23の充放電周期T
(図2参照)は、その充放電時定数と、比較回路20の
比較入力端子に与えられる第1の基準電圧V1及び第2
の基準電圧V2の電圧差ΔV(図2参照)とに大きく依
存して決まることになる。つまり、CR発振回路11の
発振周波数は、コンデンサ23の充放電時定数が大きい
場合ほど低くなり、第1の基準電圧V1及び第2の基準
電圧V2の電圧差ΔVが大きい場合ほど低くなる。
Incidentally, the charge / discharge cycle T of the capacitor 23
(Refer to FIG. 2) is the charge / discharge time constant, the first reference voltage V1 and the second
And the voltage difference ΔV of the reference voltage V2 (see FIG. 2). That is, the oscillation frequency of the CR oscillation circuit 11 decreases as the charge / discharge time constant of the capacitor 23 increases, and decreases as the voltage difference ΔV between the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 increases.

【0025】この場合、コンデンサ23の充放電時定数
は、当該コンデンサ23の容量及び充放電用抵抗22の
抵抗値によって一義的に決まってしまうが、比較回路2
0の反転入力端子(−)に与える第1の基準電圧V1及
び第2の基準電圧V2は、基準電圧生成部13内の第1
の分圧回路14及び第2の分圧回路15が発生する複数
段階ずつの第1の基準電圧V1及び第2の基準電圧V2
の中から、第1の選択回路17及び第2の選択回路18
を通じて選択できる構成となっている。
In this case, the charging / discharging time constant of the capacitor 23 is uniquely determined by the capacity of the capacitor 23 and the resistance value of the charging / discharging resistor 22.
The first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 given to the inverting input terminal (−) of 0 are the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2, respectively.
The first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 generated by the voltage dividing circuit 14 and the second voltage dividing circuit 15 in a plurality of stages.
Among the first selection circuit 17 and the second selection circuit 18
It can be selected through.

【0026】従って、例えば、コンデンサ23の充放電
時定数を実際に測定した結果に基づいて第1の基準電圧
V1及び第2の基準電圧V2を選択することにより、発
振周波数を調整できることになり、以て製造工程で発生
する回路定数(コンデンサ23の容量、充放電用抵抗2
2の抵抗22値など)のばらつきを吸収して発振周波数
を設計目標値に近付けることが可能になる。この結果、
コンデンサ23の初期容量値や充放電用抵抗22並びに
基準電圧生成部13内の分圧回路用抵抗要素14a、1
5aの初期抵抗値がばらつくような状況下でも、発振周
波数の精度向上を実現できるようになる。
Therefore, for example, the oscillation frequency can be adjusted by selecting the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 based on the result of actually measuring the charging / discharging time constant of the capacitor 23, The circuit constants (capacity of capacitor 23, charge / discharge resistor 2
2 and the like, the oscillation frequency can be made closer to the design target value by absorbing the variation in the resistance value. As a result,
The initial capacitance value of the capacitor 23, the charge / discharge resistor 22, and the voltage dividing circuit resistance elements 14 a, 1
Even under the situation where the initial resistance value of 5a varies, the accuracy of the oscillation frequency can be improved.

【0027】また、複数段階の第1の基準電圧V1を発
生するための第1の分圧回路14及び複数段階の第2の
基準電圧V2を発生するための第2の分圧回路15は、
所定電圧を発生する端子間(レギュレータ12の出力端
子及び接地端子間)に分圧抵抗16を介して直列接続さ
れており、また、その分圧抵抗16の抵抗温度係数が各
分圧回路14及び15を構成する抵抗要素14a及び1
5aの抵抗温度係数より大きな値に設定されている。従
って、周囲温度が上昇したときには、分圧抵抗16の抵
抗値の増加割合が各抵抗要素14a及び15aの抵抗値
の増加割合より大きくなって、それら各抵抗要素14a
及び15aの分担電圧のレベルが低下するから、結果的
に第1の基準電圧V1及び第2の基準電圧V2の電圧差
ΔVが縮小するようになる。
A first voltage dividing circuit 14 for generating a plurality of stages of a first reference voltage V1 and a second voltage dividing circuit 15 for generating a plurality of stages of a second reference voltage V2 are:
It is connected in series between terminals that generate a predetermined voltage (between the output terminal of the regulator 12 and the ground terminal) via a voltage dividing resistor 16, and the temperature coefficient of resistance of the voltage dividing resistor 16 is determined by each voltage dividing circuit 14 and 15, the resistance elements 14a and 1
The value is set to a value larger than the temperature coefficient of resistance 5a. Therefore, when the ambient temperature rises, the rate of increase in the resistance value of the voltage dividing resistor 16 becomes larger than the rate of increase in the resistance value of each of the resistance elements 14a and 15a, and the resistance element 14a
, And 15a, the voltage difference ΔV between the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 is reduced.

【0028】この場合、周囲温度が上昇したときには、
充放電用抵抗22の抵抗値が大きくなるのに伴いコンデ
ンサ23の充放電時定数が増大するため、発振周波数を
低下させるように作用し、また、比較回路20の温度特
性(高温になるのに伴い動作が遅くなるという特性)も
発振周波数を低下させるように作用するが、このときに
は、第1の基準電圧V1及び第2の基準電圧V2の電圧
差ΔVが縮小して発振周波数を上昇させるように作用す
るから、結果的に、このように発振周波数を低下させよ
うとする作用と上昇させようとする作用が相殺されるよ
うになって、充放電用抵抗の温度特性に起因した発振周
波数の変動を未然に防止できるようになる。
In this case, when the ambient temperature rises,
Since the charging / discharging time constant of the capacitor 23 increases as the resistance value of the charging / discharging resistor 22 increases, it acts to lower the oscillating frequency. The characteristic that the operation is slowed down also acts to lower the oscillation frequency. At this time, however, the voltage difference ΔV between the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 is reduced to increase the oscillation frequency. As a result, the effect of reducing the oscillation frequency and the effect of increasing the oscillation frequency are offset as a result, and the oscillation frequency due to the temperature characteristics of the charge / discharge resistor is reduced. Fluctuations can be prevented beforehand.

【0029】また、複数段階ずつの第1の基準電圧V1
及び第2の基準電圧V2の中から所定の基準電圧を選択
するための選択信号を、EEPROM19のアドレス指
定に応じて出力する構成となっているから、その基準電
圧V1及びV2の選択を容易且つ確実に行い得るように
なる。
Further, the first reference voltage V1 in a plurality of stages
And a selection signal for selecting a predetermined reference voltage from the second reference voltage V2 is output in accordance with the address designation of the EEPROM 19, so that the selection of the reference voltages V1 and V2 can be performed easily and easily. You can do it reliably.

【0030】さらに、比較回路20の電源を、CR発振
回路11の電源電圧の最下限電圧より低いレベルの安定
化電圧を発生するレギュレータ12から得る構成となっ
ているから、電源電圧が変動した場合でも、比較回路2
0の電源電圧レベルは常時において安定したものとな
る。この結果、一般的な比較回路20が有する電圧特性
(電源電圧が低くなるにの応じて動作速度が低下すると
いう特性)の影響を受ける恐れがなくなり、電源電圧の
変動に起因して発振周波数が変化する事態を未然に防止
できるようになる。
Further, since the power supply of the comparison circuit 20 is obtained from the regulator 12 which generates a stabilized voltage having a level lower than the lowermost limit voltage of the power supply voltage of the CR oscillation circuit 11, when the power supply voltage fluctuates. But the comparison circuit 2
The power supply voltage level of 0 is always stable at all times. As a result, there is no danger of being affected by the voltage characteristics of the general comparison circuit 20 (the characteristic that the operation speed decreases as the power supply voltage decreases), and the oscillation frequency decreases due to the fluctuation of the power supply voltage. Changes can be prevented beforehand.

【0031】尚、本発明は上記した実施例に限定される
ものではなく、次のような変形または拡張が可能であ
る。第1の分圧回路14、第2の分圧回路15を直列接
続する構成としたが、所定電圧を発生する端子間に第1
の分圧回路14と第2の分圧回路と互いに並列接続する
構成としても良く、要は、複数段階の中から選択される
第1の基準電圧V1と第2の基準電圧V2との関係がV
1>V2となれば良いものである。尚、このように第1
の分圧回路14及び第2の分圧回路15を並列接続する
場合、周囲温度が上昇したときに第1の基準電圧及び第
2の基準電圧の電圧差ΔVを縮小するためには、一方の
分圧回路のみと直列に分圧抵抗16を接続すれば良い
(例えば接地端子側に分圧抵抗16を接続する場合に
は、第2の分圧回路15と直列に接続する)。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the following modifications or extensions are possible. Although the first voltage dividing circuit 14 and the second voltage dividing circuit 15 are connected in series, the first voltage dividing circuit 14 and the second voltage dividing circuit 15 are connected between terminals for generating a predetermined voltage.
The voltage dividing circuit 14 and the second voltage dividing circuit may be connected in parallel with each other. The point is that the relationship between the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 selected from a plurality of stages is different. V
It suffices that 1> V2. In addition, the first
When the voltage dividing circuit 14 and the second voltage dividing circuit 15 are connected in parallel, in order to reduce the voltage difference ΔV between the first reference voltage and the second reference voltage when the ambient temperature rises, one of the two The voltage dividing resistor 16 may be connected in series only with the voltage dividing circuit (for example, when the voltage dividing resistor 16 is connected to the ground terminal side, it is connected in series with the second voltage dividing circuit 15).

【0032】比較回路20の非反転入力端子(+)にコ
ンデンサ23の端子電圧を与え、その反転入力端子
(−)に第1の基準電圧V1及び第2の基準電圧V2を
選択的に与える構成としたが、これに限らないことは勿
論である。また、分圧抵抗16は、接地端子側に接続さ
れる関係上、NチャネルFETにより構成したが、レギ
ュレータ12の出力端子側に接続する場合には、Pチャ
ネルFETにより構成することになる。勿論、分圧抵抗
16は他の素子により形成しても良い。
A configuration in which the terminal voltage of the capacitor 23 is applied to the non-inverting input terminal (+) of the comparison circuit 20, and the first reference voltage V1 and the second reference voltage V2 are selectively applied to the inverting input terminal (-). However, it is a matter of course that the present invention is not limited to this. Further, the voltage dividing resistor 16 is constituted by an N-channel FET because it is connected to the ground terminal side, but when it is connected to the output terminal side of the regulator 12, it is constituted by a P-channel FET. Of course, the voltage dividing resistor 16 may be formed by another element.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す回路構成図FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】コンデンサ端子電圧の波形図FIG. 2 is a waveform diagram of a capacitor terminal voltage.

【図3】従来構成を示す図1相当図FIG. 3 is a diagram corresponding to FIG. 1 showing a conventional configuration.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11はCR発振回路、12はレギュレータ、13は基準
電圧生成部、14は第1の分圧回路、14aは抵抗要
素、15は第2の分圧回路、15aは抵抗要素、16は
分圧抵抗、17は第1の選択回路、18は第2の選択回
路、19はEEPROM(記憶手段)、20は比較回
路、22は抵抗、23はコンデンサ、24は第1のスイ
ッチング回路、25は第2のスイッチング回路を示す。
11 is a CR oscillation circuit, 12 is a regulator, 13 is a reference voltage generator, 14 is a first voltage dividing circuit, 14a is a resistance element, 15 is a second voltage dividing circuit, 15a is a resistance element, and 16 is a voltage dividing resistor. , 17 is a first selection circuit, 18 is a second selection circuit, 19 is an EEPROM (storage means), 20 is a comparison circuit, 22 is a resistor, 23 is a capacitor, 24 is a first switching circuit, and 25 is a second switching circuit. 2 shows a switching circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J043 AA26 GG01 5J081 AA08 BB04 CC17 CC46 DD09 EE03 EE04 FF08 FF11 FF18 FF23 FF25 GG05 KK02 KK12 KK23 LL05 MM01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5J043 AA26 GG01 5J081 AA08 BB04 CC17 CC46 DD09 EE03 EE04 FF08 FF11 FF18 FF23 FF25 GG05 KK02 KK12 KK23 LL05 MM01

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 抵抗を通じたコンデンサの充放電動作に
基づいて所定周波数の発振信号を生成するものであっ
て、 互いに異なるレベルの第1の基準電圧及び第2の基準電
圧を出力する基準電圧生成部と、 前記コンデンサの端子電圧と前記基準電圧生成部の出力
電圧とを比較するように設けられ、その比較出力が第1
のレベルにあるときに上記コンデンサの充電動作を行う
と共に、比較出力が第2のレベルにあるときにコンデン
サの放電動作を行う比較回路と、 この比較回路の比較出力が第1のレベルにあるときにオ
ンして前記第1の基準電圧を当該比較回路の比較入力端
子に与える第1のスイッチング回路と、 前記比較回路の比較出力が第2のレベルにあるときにオ
ンして前記第2の基準電圧を当該比較回路の比較入力端
子に与える第2のスイッチング回路とを備えたCR発振
回路において、 前記基準電圧生成部は、 複数の抵抗要素を直列接続して構成され、印加電圧を各
抵抗要素により分圧することにより複数段階の第1の基
準電圧を発生する第1の分圧回路と、 複数の抵抗要素を直列接続して構成され、印加電圧を各
抵抗要素により分圧することにより複数段階の第2の基
準電圧を発生する第2の分圧回路と、 前記複数段階の第1の基準電圧のうち選択信号により選
択された基準電圧を出力する第1の選択回路と、 前記複数段階の第2の基準電圧のうち選択信号により選
択された基準電圧を出力する第2の選択回路とを備えた
ことを特徴とするCR発振回路。
1. A reference voltage generator for generating an oscillation signal of a predetermined frequency based on a charge / discharge operation of a capacitor through a resistor, wherein the reference voltage generator outputs a first reference voltage and a second reference voltage having different levels from each other. , A terminal voltage of the capacitor and an output voltage of the reference voltage generation unit, and the comparison output is a first voltage.
A comparison circuit that performs the charging operation of the capacitor when the comparison output is at the second level and discharges the capacitor when the comparison output is at the second level. And a first switching circuit for applying the first reference voltage to a comparison input terminal of the comparison circuit, and turning on when the comparison output of the comparison circuit is at a second level. In a CR oscillation circuit comprising: a second switching circuit that supplies a voltage to a comparison input terminal of the comparison circuit; wherein the reference voltage generation unit is configured by connecting a plurality of resistance elements in series; A first voltage dividing circuit for generating a first reference voltage in a plurality of stages by dividing the voltage, a plurality of resistance elements are connected in series, and the applied voltage is divided by each resistance element A second voltage dividing circuit that generates a second reference voltage of a plurality of stages; a first selection circuit that outputs a reference voltage selected by a selection signal among the plurality of first reference voltages; A second selection circuit for outputting a reference voltage selected by a selection signal from a plurality of second reference voltages.
【請求項2】 前記第1の分圧回路及び第2の分圧回路
は、所定電圧を発生する端子間に分圧抵抗を介して直列
接続され、 前記分圧抵抗は、その抵抗温度係数が前記各抵抗要素の
抵抗温度係数より大きな値に設定されていることを特徴
とする請求項1記載のCR発振回路。
2. The first voltage dividing circuit and the second voltage dividing circuit are connected in series via a voltage dividing resistor between terminals for generating a predetermined voltage, and the voltage dividing resistor has a resistance temperature coefficient. 2. The CR oscillation circuit according to claim 1, wherein the resistance value is set to a value larger than a resistance temperature coefficient of each of the resistance elements.
【請求項3】 前記第1の選択回路及び第2の選択回路
に与えられる前記選択信号は、記憶手段のアドレス指定
に応じて出力されるものであることを特徴とする請求項
1または2記載のCR発振回路。
3. The method according to claim 1, wherein the selection signal supplied to the first selection circuit and the second selection circuit is output in accordance with an address specification of a storage unit. CR oscillation circuit.
【請求項4】 電源電圧の最下限電圧より低いレベルの
安定化電圧を発生するレギュレータを備え、 このレギュレータの出力を前記比較回路の電源として使
用することを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記
載のCR発振回路。
4. The regulator according to claim 1, further comprising a regulator for generating a stabilized voltage having a level lower than a lowermost limit voltage of a power supply voltage, wherein an output of the regulator is used as a power supply for the comparison circuit. Or a CR oscillation circuit according to any of the above.
【請求項5】 全体がワンチップIC化されていること
を特徴とする請求項1ないし4の何れかに記載のCR発
振回路。
5. The CR oscillation circuit according to claim 1, wherein the whole is formed as a one-chip IC.
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