JP2001099785A - Method and device for automatic inspection - Google Patents

Method and device for automatic inspection

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JP2001099785A
JP2001099785A JP27784099A JP27784099A JP2001099785A JP 2001099785 A JP2001099785 A JP 2001099785A JP 27784099 A JP27784099 A JP 27784099A JP 27784099 A JP27784099 A JP 27784099A JP 2001099785 A JP2001099785 A JP 2001099785A
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JP
Japan
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signal pattern
reference signal
weaving
woven fabric
style
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JP27784099A
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Japanese (ja)
Inventor
Zenji Tamura
善次 田村
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Tsudakoma Corp
Original Assignee
Tsudakoma Corp
Tsudakoma Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To automatically inspect the web of woven cloth precisely in response to various weave styles. SOLUTION: Light reflecting a finish condition of nondefective normal woven cloth is detected, and an electric output signal corresponding to a received amount of the light is produced as a reference signal pattern. The reference signal pattern is stored in relation to the weave style of the normal woven cloth. When inspecting the woven cloth to be inspected, the reference signal pattern corresponding to the weave style of the woven cloth to be inspected is read out and light reflecting a finish condition of the woven cloth to be inspected is detected. A measured output signal pattern corresponding to the received amount of the light is detected and the read out reference signal pattern and the measured output signal pattern are compared to determine whether the inspected woven cloth has a defect.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の技術分野】本発明は、製織後に、織布の織り欠
点を自動的に検出する検反方法および検反装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection method and apparatus for automatically detecting a weaving defect of a woven fabric after weaving.

【0002】[0002]

【従来の技術】製織中に、経糸切れや緯入れ不良などの
トラブルにより、織機が自動的に停止したり、または作
業員により自動停止した後、停止原因を解消して、再起
動したとしても、織機の再起動の際には、筬打ち力の不
足などにより、止め段(厚段・薄段)などの織り段が発
生し易く、また経糸切れなどの場合には、経糸の結び目
などが残り、これらが織り傷となって発生する。
2. Description of the Related Art During weaving, even if the loom is automatically stopped due to a trouble such as warp breakage or poor weft insertion, or automatically stopped by an operator, the cause of the stop is eliminated, and the loom is restarted. However, when the loom is restarted, weaving steps such as stop steps (thick and thin steps) are likely to occur due to lack of beating force. These are left as weaving scratches.

【0003】このため、織り上げられた織布に対して、
これらの織り欠点の有無を確認するため、一般に、作業
員の目視による検反が行われている。この検反にあた
り、通常、作業員は、織り段または織り傷などの発生位
置を事前に知らされていないために、織布の全織り幅お
よび全長にわたって注意して、織布面を監視しなければ
ならない。
[0003] For this reason, for the woven fabric,
In order to confirm the presence or absence of these weaving defects, inspection is generally performed visually by an operator. In this inspection, workers must usually monitor the woven fabric surface with caution over the entire woven width and length of the woven fabric, because the location of the weaving steps or scratches is not known in advance. Must.

【0004】ところが、検反時には、織布が相当の早い
速度で走行していること、および、織布面に明るい電光
を当てていることなどから、常時、織布面を注意深く監
視していると、作業員の目を相当に疲れさせることにな
る。このような作業は、労働衛生上、非常に好ましくな
いばかりか、検反作業そのものが不正確になる恐れもあ
る。
However, at the time of inspection, the woven fabric surface is constantly monitored carefully because the woven fabric is traveling at a considerably high speed and a bright light is applied to the woven fabric surface. This will cause the eyes of the worker to be quite tired. Such work is not only unfavorable in terms of occupational health, but also the inspection work itself may be inaccurate.

【0005】また、多品種少量生産が多い中、検反作業
は、多種の織りスタイルに対応しなければならない。こ
の場合、織り欠点の有無の判断基準は、織りスタイル毎
に異なるので、このような検反作業は、困難を極めるも
のとなる。なお、織りスタイルとは、糸種、緯糸および
経糸の密度、織り組織、織布幅などの製織データによっ
て決定される織り様式を言う。
[0005] In addition, while there are many multi-product small-quantity productions, inspection work must cope with various weaving styles. In this case, since the criterion for determining the presence or absence of a weaving defect differs for each weaving style, such inspection work is extremely difficult. The weaving style refers to a weaving style determined by weaving data such as the yarn type, the density of the weft and the warp, the weaving structure, and the width of the woven fabric.

【0006】一方、自動検反器は、検査対象の織布に対
し、タングステン光やレーザー光を当て、透過光または
反射光の光量の大きな変化から織り欠点を検出してい
る。この自動検反器でも、織りスタイルが変化すると、
光量が変化するため、織りスタイルに適合した状態で織
り欠点の正確な検出が困難である。
On the other hand, the automatic detector detects a woven defect by irradiating a woven cloth to be inspected with tungsten light or laser light from a large change in the amount of transmitted light or reflected light. Even with this automatic detector, when the weaving style changes,
Since the amount of light changes, it is difficult to accurately detect a weaving defect in a state suitable for the weaving style.

【0007】[0007]

【発明の目的】本発明の目的は、多種の織りスタイルに
対応して、織布の自動検反を正確に行えるようにするこ
とである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to accurately perform automatic inspection of a woven fabric corresponding to various weaving styles.

【0008】[0008]

【発明の解決手段】上記目的の下に、本発明の自動検反
方法は、欠点のない正常な織布の織り上がり状態を反映
する光を検知し、その光の受光量に対応した電気的な出
力信号を基準信号パターンとして作成し、その基準信号
パターンを上記正常な織布の織りスタイルに関連付けて
記憶しておき、検査対象の織布の検反時には、その検査
対象の織布の織りスタイルに対応する上記基準信号パタ
ーンを読み出すとともに、検査対象の織布の織り上がり
状態を反映する光を検知し、その光の受光量に対応した
実測の出力信号パターンを検出し、読み出した基準信号
パターンと実測の出力信号パターンとを比較することに
より、検査対象の織布の欠点の有無を判断している。
According to the above object, an automatic inspection method according to the present invention detects light reflecting a normal weaving state of a woven fabric having no defect, and detects an electric current corresponding to the amount of received light. The reference signal pattern is created as a reference signal pattern, and the reference signal pattern is stored in association with the normal weaving style of the woven fabric. The reference signal pattern corresponding to the style is read out, light that reflects the weaving state of the woven fabric to be inspected is detected, an actually measured output signal pattern corresponding to the amount of received light is detected, and the read reference signal is detected. By comparing the pattern with the actually measured output signal pattern, it is determined whether or not there is a defect in the woven fabric to be inspected.

【0009】また、本発明の自動検反装置は、上記自動
検反方法を基礎として、欠点のない正常な織布の織り上
がり状態を反映する光の受光量に対応した電気的な出力
信号を基準信号パターンとして正常な織布の織りスタイ
ルに関連付けて記憶する記憶装置と、この記憶装置から
検査対象の織布の織りスタイルに対応する基準信号パタ
ーンを読み出し、基準信号パターンを発生する基準信号
発生器と、検査対象の織布の織り上がり状態を反映する
光を検知し、その光の受光量に対応した電気的な実測の
出力信号パターンを発生する光電式センサと、この光電
式センサからの実測の出力信号パターンと上記基準信号
発生器により上記記憶装置から読み出された基準信号パ
ターンとを比較して、検査対象の織布の欠点の有無を判
断する比較判断器と、で構成されている。
Further, the automatic inspection apparatus of the present invention, based on the automatic inspection method described above, generates an electrical output signal corresponding to the amount of light received which reflects a normal weaving state of a woven cloth having no defect. A storage device for storing a reference signal pattern in association with a normal woven fabric weaving style, and a reference signal pattern corresponding to the woven style of the woven fabric to be inspected is read from the storage device to generate a reference signal pattern And a photoelectric sensor that detects light reflecting the weaving state of the woven fabric to be inspected and generates an electrical measurement output signal pattern corresponding to the amount of received light, and a photoelectric sensor from the photoelectric sensor. A comparison / determination unit that compares an actually measured output signal pattern with a reference signal pattern read from the storage device by the reference signal generator to determine whether there is a defect in the woven fabric to be inspected. , In it is configured.

【0010】上記の比較は、(1)読み出した基準信号
パターンと実測の出力信号パターンとの間で差を取り、
この差と許容値との大小比較、(2)全幅または特定幅
で、読み出した基準信号パターンの平均値と実測の出力
信号パターンの平均値との大小比較、(3)読み出した
基準信号パターンの微分波形と実測の出力信号パターン
の微分波形との大小比較、(4)読み出した基準信号パ
ターンのピーク数(山・谷の数)と実測の出力信号パタ
ーンのピーク数との比較などにより行われる。
In the above comparison, (1) the difference between the read reference signal pattern and the actually measured output signal pattern is obtained,
(2) Size comparison between the average value of the read reference signal pattern and the average value of the actually measured output signal pattern in the full width or the specific width; (3) Size comparison of the read reference signal pattern The comparison is performed by comparing the differential waveform with the differential waveform of the actually measured output signal pattern, and (4) comparing the number of peaks (number of peaks and valleys) of the read reference signal pattern with the number of peaks of the actually measured output signal pattern. .

【0011】上記の基準信号パターンおよび出力信号パ
ターンは、横軸に織布幅、縦軸に光電式センサの出力信
号として作成される。
The above-mentioned reference signal pattern and output signal pattern are created as a woven fabric width on the horizontal axis and an output signal of the photoelectric sensor on the vertical axis.

【0012】検査対象の織布の織りスタイルは、製織デ
ータに基づいて、スタイル判断器により判断されるか、
または人為的にスタイル指定器によって特定される。も
ちろん、前記のように、織りスタイルは、糸種、緯糸お
よび経糸の密度、織り組織、織布幅などの設定値によっ
て決定される。
Whether the weaving style of the woven fabric to be inspected is determined by a style determiner based on the weaving data,
Or, it is artificially specified by the style designator. Of course, as described above, the weaving style is determined by set values such as the yarn type, the density of the weft and the warp, the weave structure, and the width of the woven fabric.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の自動検反方法に
基づく、自動検反装置1を示している。この自動検反装
置1は、例えば織機に付設され、織り上げられた織布2
に対向する位置で、反射式の光電センサ3を有し、スク
リュ・ナット・送りモータなどの送り手段4によって、
織布2の織り幅方向に移動可能な状態で備えている。光
電センサ3の出力は、増幅器5に送られ、増幅されて、
切り換えスイッチ6により記憶装置7の内部のメモリ9
または比較判断器8に送り込まれる。
FIG. 1 shows an automatic inspection apparatus 1 based on the automatic inspection method of the present invention. The automatic inspection apparatus 1 is attached to, for example, a loom and is woven cloth 2
Has a reflective photoelectric sensor 3 at a position opposed to the position, and is provided by a feeding means 4 such as a screw / nut / feed motor.
The woven fabric 2 is provided so as to be movable in the weaving width direction. The output of the photoelectric sensor 3 is sent to the amplifier 5 and amplified,
The internal memory 9 of the storage device 7 is operated by the changeover switch 6.
Alternatively, it is sent to the comparison / determination unit 8.

【0014】記憶装置7は、スタイル指定器22によっ
て設定される織りスタイル、またはスタイル判断器10
によって自動的に設定される織りスタイルに応じて、織
り欠点のない正常な織布2に対応する基準信号パターン
をメモリ9から読み出し、基準信号発生器11に送り込
む。ここで、基準信号発生器11は、織り欠点のない正
常な織布2に対応する基準信号パターンを発生し、比較
判断器8に送り込む。
The storage device 7 stores the weave style set by the style designator 22 or the style determiner 10.
A reference signal pattern corresponding to a normal woven fabric 2 having no weaving defect is read out from the memory 9 and sent to the reference signal generator 11 in accordance with the weaving style automatically set. Here, the reference signal generator 11 generates a reference signal pattern corresponding to a normal woven fabric 2 having no weaving defect, and sends it to the comparison / determination unit 8.

【0015】なお、スタイル判断器10は、織機制御装
置12の内部の制御器13から、糸種、織り組織、織布
幅などの製織データを取り込むとともに、織り密度設定
器14から緯糸および経糸の密度の製織データを取り込
んで、それらの製織データから織りスタイルを判断す
る。
The style judging device 10 takes in the weaving data such as the yarn type, the weaving structure and the woven fabric width from the controller 13 inside the weaving machine control device 12, and sends the weft and warp yarns from the weaving density setting device 14. The weaving data of the density is taken in, and the weaving style is determined from the weaving data.

【0016】ちなみに、制御器13は、織り密度設定器
14からの緯糸および経糸の密度、開口・緯入れパター
ン設定器15からの開口・緯入れパターンに応じて、製
織時に、織機の主軸20に連結されたエンコーダ21か
らの角度信号に応じて、織機の緯入れ装置16、開口装
置17、送り出し装置18、および巻き取り装置19を
駆動する。
Incidentally, the controller 13 controls the main shaft 20 of the loom at the time of weaving in accordance with the density of the weft and the warp from the weaving density setting device 14 and the opening / wefting pattern from the shedding / wefting pattern setting device 15. The weft insertion device 16, the opening device 17, the feeding device 18, and the winding device 19 of the loom are driven in accordance with the angle signal from the connected encoder 21.

【0017】検査対象の織布2の検反に先立って、作業
員は、基準信号パターンを作成するために、切り換えス
イッチ6をメモリ9側に切り換える。この状態で、光電
センサ3は、織り欠点のない正常な織布2の正常な織り
部分について一方の織り端から他方の織り端まで走査す
ることによって、正常な織布2に対応する出力信号を発
生し、これを基準信号パターンとして、そのときの織布
2の織りスタイルに関連付けてメモリ9に記憶させる。
この作業は、多くの織りスタイルについて行われる。こ
のあとに、切り換えスイッチ6は、作業員により比較判
断器8の入力側に切り換える。
Prior to the inspection of the woven cloth 2 to be inspected, the operator switches the changeover switch 6 to the memory 9 in order to create a reference signal pattern. In this state, the photoelectric sensor 3 scans the normal woven portion of the normal woven fabric 2 having no woven defects from one woven end to the other woven end, and outputs an output signal corresponding to the normal woven fabric 2. This is generated and stored in the memory 9 as a reference signal pattern in association with the weaving style of the woven fabric 2 at that time.
This is done for many weave styles. Thereafter, the changeover switch 6 is switched to the input side of the comparison / determination unit 8 by the operator.

【0018】図2は、基準信号パターンの一例を示して
いる。基準信号パターンは、横軸に織布幅、縦軸に光電
センサ3の出力(出力電圧または出力電流)として表さ
れており、織りスタイルに応じて、実線のように、ほぼ
一定レベルの正弦波形として現れている。
FIG. 2 shows an example of the reference signal pattern. The reference signal pattern is expressed as a woven cloth width on the horizontal axis and an output (output voltage or output current) of the photoelectric sensor 3 on the vertical axis. According to the weaving style, a substantially constant level sinusoidal waveform is shown as a solid line. It appears as.

【0019】検反前に、作業員は、スタイル指定器22
を操作して、製織中の織りスタイルを指定するか、また
はこの指定に代えて、スタイル判断器10を動作させ
る。既に記載したように、スタイル判断器10は、製織
データから織りスタイルを自動的に決定し、それを記憶
装置7のメモリ9に送り込み、読み出すべき内容を指定
する。したがって、記憶装置7は、指定された織りスタ
イルに対応する基準信号パターンをメモリ9から読み出
し、これを基準信号発生器11に出力する。
Before the inspection, the worker sets the style designator 22
Is operated to designate the weaving style during weaving, or in place of this designation, the style judging device 10 is operated. As described above, the style determiner 10 automatically determines the weaving style from the weaving data, sends it to the memory 9 of the storage device 7, and specifies the content to be read. Therefore, the storage device 7 reads the reference signal pattern corresponding to the specified weaving style from the memory 9 and outputs this to the reference signal generator 11.

【0020】ここで、基準信号発生器11は、正常な織
布2に対応する基準信号パターンを比較判断器8の他方
の入力端に送り込む。製織過程で、光電センサ3は、織
り上げられた織布2の表面に対し光を当て、その反射光
を検出することにより、光の受光量に対応した電気的な
出力信号を発生し、それを増幅器5、切り換えスイッチ
6を経て、比較判断器8の一方の入力端に、実測の出力
信号パターンとして送り込む。比較判断器8は、読み出
した基準信号パターンと実測の出力信号パターンとを比
較することによって、織り上げられた織布2について織
り欠点の有無の判断を行い、その判断結果に応じて、欠
点有無判断出力信号を発生する。
Here, the reference signal generator 11 sends a reference signal pattern corresponding to a normal woven fabric 2 to the other input end of the comparison / determination unit 8. In the weaving process, the photoelectric sensor 3 irradiates the surface of the woven fabric 2 with light, detects the reflected light, and generates an electrical output signal corresponding to the amount of received light. The signal is sent as an actually measured output signal pattern to one input terminal of the comparison / determination unit 8 via the amplifier 5 and the changeover switch 6. The comparison / determination unit 8 compares the read reference signal pattern with the actually measured output signal pattern to determine the presence or absence of a weaving defect in the woven fabric 2, and determines the presence or absence of a defect according to the determination result. Generate an output signal.

【0021】前記のように、この比較は、(1)読み出
した基準信号パターンと実測の出力信号パターンとの間
で差を取り、この差と許容値との大小比較、(2)全幅
または特定幅で、読み出した基準信号パターンの平均値
と実測の出力信号パターンの平均値との大小比較、
(3)読み出した基準信号パターンの微分波形と実測の
出力信号パターンの微分波形との大小比較、(4)読み
出した基準信号パターンのピーク数(山・谷の数)と実
測の出力信号パターンのピーク数との比較などのほか、
これらの組み合わせによる比較によって行われる。
As described above, this comparison is performed by (1) taking the difference between the read reference signal pattern and the actually measured output signal pattern, and comparing the difference with the allowable value; Comparison of the average value of the read reference signal pattern with the average value of the actually measured output signal pattern,
(3) magnitude comparison between the differentiated waveform of the read reference signal pattern and the differential waveform of the actually measured output signal pattern; (4) the number of peaks (number of peaks / valleys) of the read reference signal pattern and the actually measured output signal pattern In addition to comparison with the number of peaks,
The comparison is performed by a combination of these.

【0022】なお、自動検反装置1は、コンピュータの
記憶機能を記憶装置7および基準信号発生器11として
利用し、またコンピュータの演算機能を利用して、比較
判断器8の機能およびスタイル判断器10の機能を行わ
せることによって、コンピュータによって構成すること
もできる。また、光電センサ3は、1個のものを織り幅
方向に移動させるものに代えて、織り幅方向に多数の光
電センサ3を配置し、それらの多数の光電センサ3の信
号を電気的に走査しながら取り込むことによって、また
は1つの光源からの光をポリゴンミラーによって、織り
幅方向に走査させ、その光を織り幅方向に配置された多
数の光電センサ3によって順次検出することにより行う
こともできる。もちろん、光電センサ3によって検出す
る光の量は、検査対象の織布2の表面からの反射光に限
らず、透過光であってもよい。
The automatic inspection device 1 uses the storage function of the computer as the storage device 7 and the reference signal generator 11, and uses the operation function of the computer to perform the function of the comparison judgment device 8 and the style judgment device. The computer can be configured by performing the functions of the ten functions. Further, instead of the photoelectric sensor 3 which moves one object in the weaving width direction, a large number of photoelectric sensors 3 are arranged in the weaving width direction, and the signals of these many photoelectric sensors 3 are electrically scanned. Alternatively, the light can be obtained by scanning the light from one light source by a polygon mirror in the weaving width direction and sequentially detecting the light by a large number of photoelectric sensors 3 arranged in the weaving width direction. . Of course, the amount of light detected by the photoelectric sensor 3 is not limited to light reflected from the surface of the woven fabric 2 to be inspected, but may be transmitted light.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明では、織布の織りスタイル毎に基
準信号パターンが記憶されており、検査対象の織布の検
反時に、その織りスタイルに対応する基準信号パターン
と、検査対象の織布の出力信号パターンとが比較される
から、織布の織り欠点の有無の判断が正確に行われ、検
反の精度が高められる。
According to the present invention, a reference signal pattern is stored for each weaving style of a woven fabric, and when a woven fabric to be inspected is inspected, a reference signal pattern corresponding to the weaving style and a woven fabric to be inspected are stored. Since the output signal pattern of the woven fabric is compared with the output signal pattern of the woven fabric, it is accurately determined whether or not there is a woven defect, and the accuracy of inspection is improved.

【0024】また、織りスタイルが糸種、緯糸および経
糸の密度、織り組織および織布幅などの製織データから
スタイル判断器により自動的に判断される実施態様で
は、織りスタイルの特定作業が省略でき、これによって
操作ミスなども減少する。
In the embodiment in which the weaving style is automatically judged by the style judging device from the weaving data such as the yarn type, the density of the weft and the warp, the weaving structure and the width of the woven fabric, the operation for specifying the weaving style can be omitted. This also reduces operation errors and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の自動検反方法に基づく自動検反装置の
ブロック線図である。
FIG. 1 is a block diagram of an automatic inspection system based on the automatic inspection method of the present invention.

【図2】織り欠点のない正常な織布に対応する基準信号
パターン(実線)と実測の出力信号パターン(破線)の
グラフである。
FIG. 2 is a graph of a reference signal pattern (solid line) and a measured output signal pattern (dashed line) corresponding to a normal woven fabric having no weaving defects.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 自動検反装置 2 織布 3 光電センサ 4 送り手段 5 増幅器 6 切り換えスイッチ 7 記憶装置 8 比較判断器 9 メモリ 10 スタイル判断器 11 基準信号発生器 12 織機制御装置 13 制御器 14 織り密度設定器 15 開口・緯入れパターン設定器 16 緯入れ装置 17 開口装置 18 送り出し装置 19 巻き取り装置 20 織機の主軸 21 エンコーダ 22 スタイル指定器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Automatic inspection apparatus 2 Woven cloth 3 Photoelectric sensor 4 Sending means 5 Amplifier 6 Changeover switch 7 Storage device 8 Comparison judgment device 9 Memory 10 Style judgment device 11 Reference signal generator 12 Loom control device 13 Controller 14 Weaving density setting device 15 Shedding / weft insertion pattern setting device 16 Weft insertion device 17 Shedding device 18 Feeding device 19 Winding device 20 Main axis of loom 21 Encoder 22 Style designator

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 欠点のない正常な織布の織り上がり状態
を反映する光を検知し、その光の受光量に対応した電気
的な出力信号を基準信号パターンとして作成し、その基
準信号パターンを上記正常な織布の織りスタイルに関連
付けて記憶しておき、検査対象の織布の検反時には、そ
の検査対象の織布の織りスタイルに対応する上記基準信
号パターンを読み出すとともに、検査対象の織布の織り
上がり状態を反映する光を検知し、その光の受光量に対
応した実測の出力信号パターンを検出し、読み出した基
準信号パターンと実測の出力信号パターンとを比較する
ことにより、検査対象の織布の欠点の有無を判断するこ
とを特徴とする自動検反方法。
An optical output signal corresponding to the amount of light received is detected as a reference signal pattern, and the reference signal pattern is generated. The reference signal pattern corresponding to the weaving style of the woven fabric to be inspected is read out and stored in association with the weaving style of the normal woven fabric. Detects light that reflects the weave state of the cloth, detects the measured output signal pattern corresponding to the amount of light received, and compares the read reference signal pattern with the measured output signal pattern to determine the inspection target. An automatic inspection method comprising determining whether there is a defect in the woven fabric.
【請求項2】 欠点のない正常な織布の織り上がり状態
を反映する光の受光量に対応した電気的な出力信号を基
準信号パターンとして正常な織布の織りスタイルに関連
付けて記憶する記憶装置と、この記憶装置から検査対象
の織布の織りスタイルに対応する基準信号パターンを読
み出し、基準信号パターンを発生する基準信号発生器
と、検査対象の織布の織り上がり状態を反映する光を検
知し、その光の受光量に対応した電気的な実測の出力信
号パターンを発生する光電式センサと、この光電式セン
サからの実測の出力信号パターンと上記基準信号発生器
により上記記憶装置から読み出された基準信号パターン
とを比較して、検査対象の織布の欠点の有無を判断する
比較判断器と、を具備することを特徴とする自動検反装
置。
2. A storage device for storing, as a reference signal pattern, an electrical output signal corresponding to an amount of received light that reflects a normal weaving state of a normal woven fabric having no defect, in association with a normal woven fabric weaving style. The reference signal pattern corresponding to the weaving style of the woven fabric to be inspected is read from the storage device, and a reference signal generator for generating the reference signal pattern and the light reflecting the weaving state of the woven fabric to be inspected are detected. A photoelectric sensor for generating an electrical measured output signal pattern corresponding to the amount of received light, and a measured output signal pattern from the photoelectric sensor and read from the storage device by the reference signal generator. And a comparison / determination unit for comparing the reference signal pattern with the reference signal pattern to determine whether or not there is a defect in the woven fabric to be inspected.
【請求項3】 上記記憶装置は、製織データから検査対
象の織布の織りスタイルを判断し、記憶装置内のメモリ
から読み出すべき織りスタイルを特定するスタイル判断
器を具備することを特徴とする請求項2記載の自動検反
装置。
3. The storage device according to claim 1, further comprising a style determiner that determines a weaving style of the woven fabric to be inspected from the weaving data and specifies a weaving style to be read from a memory in the storage device. Item 6. The automatic inspection device according to Item 2.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103604809A (en) * 2013-10-22 2014-02-26 江南大学 Pattern cloth flaw online visual inspection method
CN106091996A (en) * 2016-05-26 2016-11-09 东华大学 A kind of online visible detection method of stone flatness

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