JP2001093145A - Bombardment device - Google Patents

Bombardment device

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JP2001093145A
JP2001093145A JP26729999A JP26729999A JP2001093145A JP 2001093145 A JP2001093145 A JP 2001093145A JP 26729999 A JP26729999 A JP 26729999A JP 26729999 A JP26729999 A JP 26729999A JP 2001093145 A JP2001093145 A JP 2001093145A
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JP
Japan
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electrode
cover
film
bombard
bombardment
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JP26729999A
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Japanese (ja)
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Akihiko Hirano
明彦 平野
Hiroyuki Watanabe
広之 渡辺
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a bombardment device in which a bombardment processing condition to a film forming body can be easily and finely adjusted. SOLUTION: This bombardment device 30 of a multiple structure is provided with an electrode cover 31 and an exterior cover 32 for covering the electrode cover 31 from the outside. The exterior cover 32 is provided with a pair of traveling holes 33a and 34a and traveling flanges 33 and 34 around them, both of the electrode cover 31 and the exterior cover 32 are communicated by a gas supply pipe 35. A magnet electrode 36 is arranged inside the electrode cover 31, the magnet electrode and the electrode cover are electrically connected and an AC voltage is applied. A slit 37 having a prescribed width is provided on the position facing the gas supply pipe 35 of the electrode cover 31 and the film forming body 13 made to travel between the pair of the traveling holes 33a and 34a is bombardment-processed through the slit 37.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ボンバード装置に
係わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bombard apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビデオテープレコーダー等の分野におい
ては、高画質化を図るために、磁性材料の高密度化が一
層強く要求されている。これに対し、金属、あるいはC
oNi等の合金からなる磁性材料を、真空蒸着法、スパ
ッタリング法、イオンプレーティング法等の各種真空薄
膜形成技術により、直接、ポリエチレンテレフタレート
フィルム等の被磁性支持体上に被着して磁性層を形成す
る、いわゆる金属磁性薄膜型磁気記録媒体が広く適用さ
れている。
2. Description of the Related Art In the field of video tape recorders and the like, there is a strong demand for higher density magnetic materials in order to achieve higher image quality. On the other hand, metal or C
A magnetic material made of an alloy such as oNi is directly deposited on a magnetic support such as a polyethylene terephthalate film by various vacuum thin film forming techniques such as a vacuum evaporation method, a sputtering method, and an ion plating method to form a magnetic layer. A so-called metal magnetic thin film type magnetic recording medium to be formed is widely applied.

【0003】このような金属磁性薄膜型磁気記録媒体
は、保磁力、角型比、および短波長域における電磁変換
特性に優れているばかりでなく、磁性層の薄膜化が可能
で磁性材料の充填密度を高くできる等、多くの利点を有
している。また更に、このような金属磁性薄膜型磁気記
録媒体の電磁変換特性を向上させ、より大きな出力を得
ることができるようにするために、磁性層を形成する際
には、磁性層を斜めに蒸着するいわゆる斜方蒸着法が実
用化されている。
[0003] Such a metal magnetic thin film type magnetic recording medium is not only excellent in coercive force, squareness ratio, and electromagnetic conversion characteristics in a short wavelength region, but also enables the magnetic layer to be thinned and is filled with a magnetic material. It has many advantages, such as higher density. Further, in order to improve the electromagnetic conversion characteristics of such a metal magnetic thin film type magnetic recording medium and to obtain a larger output, when forming the magnetic layer, the magnetic layer is obliquely deposited. A so-called oblique deposition method has been put to practical use.

【0004】このような真空蒸着法によって磁性層を形
成した例えば蒸着テープは、高い生産効率と、安定した
磁気特性のため、既にハイエイト8ミリカセット(Hi
8ME)およびディジタルマイクロテープ(NTテー
プ)として商品化されている。
For example, a vapor-deposited tape on which a magnetic layer is formed by such a vacuum vapor-deposition method has already been manufactured using a high-eight 8 mm cassette (Hi) due to high production efficiency and stable magnetic characteristics.
8ME) and digital microtape (NT tape).

【0005】また、今後さらなる高記録密度化を図るた
めに、スペーシング損失を少なくすることを目的とし
て、金属磁性薄膜型磁気記録媒体の表面は、平滑化され
る傾向にある。しかし、このような金属磁性薄膜型磁気
記録媒体の表面の平滑化により、磁気ヘッドと磁気記録
媒体間の摩擦力が増大し、磁気記録媒体にかかるせん断
応力が大きくなるので、磁気記録媒体の摺動耐久性の向
上を図るために、一般的に磁性層の表面には保護膜が形
成されている。
In order to further increase the recording density in the future, the surface of the metal magnetic thin film type magnetic recording medium tends to be smoothed for the purpose of reducing the spacing loss. However, the smoothing of the surface of such a metal magnetic thin film type magnetic recording medium increases the frictional force between the magnetic head and the magnetic recording medium, and increases the shear stress applied to the magnetic recording medium. In general, a protective film is formed on the surface of the magnetic layer in order to improve dynamic durability.

【0006】このような、磁性層表面に形成される保護
膜としては、カーボン、石英(SiO2 )膜、ジルコニ
ア膜(ZrO2 )膜等が適用されている。特に最近は、
カーボン保護膜においても、より高硬度な膜であるダイ
ヤモンドライクカーボン(DLC)膜の膜形成も実用化
されている。このダイヤモンドライクカーボン(DL
C)膜は、化学的気相成長法(CVD)法や、スパッタ
リング法等の物理的気相成長法(PVD)法により形成
することができる。
As such a protective film formed on the surface of the magnetic layer, a carbon, quartz (SiO 2 ) film, a zirconia film (ZrO 2 ) film or the like is applied. Especially recently,
As a carbon protective film, a diamond-like carbon (DLC) film, which is a film having higher hardness, has also been put into practical use. This diamond-like carbon (DL
C) The film can be formed by a chemical vapor deposition (CVD) method or a physical vapor deposition (PVD) method such as a sputtering method.

【0007】上記スパッタリング法とは、先ず、電場や
磁場を利用して、Arガス等の不活性ガスの電離(プラ
ズマ化)を行い、更に、電離されたArイオンを加速し
て、その運動エネルギーによりターゲットの原子をはじ
き出し、そのはじき出された原子が、対向する被膜形成
体上に堆積し、目的とする膜を形成するものである。こ
のスパッタリング法によるダイヤモンドライクカーボン
膜の形成速度は、一般に遅く、工業的見地からは生産性
に劣る。
In the sputtering method, first, an inert gas such as an Ar gas is ionized (plasmaized) using an electric field or a magnetic field, and further, the ionized Ar ions are accelerated, and their kinetic energy is increased. The target atoms are repelled by the above, and the repelled atoms are deposited on the facing film forming body to form a target film. The formation rate of the diamond-like carbon film by this sputtering method is generally slow, and the productivity is inferior from an industrial point of view.

【0008】これに対し、上記化学的気相成長(CV
D)法は、電場や磁場を用いて発生させたプラズマのエ
ネルギーを利用して、原料となる気体の分解、合成等の
化学反応を起こさせて膜を形成する方法である。上述し
た方法により、磁性層上に形成されたカーボン保護膜の
形成により摺動に対する耐久性は著しく向上する。
On the other hand, the chemical vapor deposition (CV)
The method D) is a method of forming a film by causing a chemical reaction such as decomposition or synthesis of a raw material gas by using energy of plasma generated by using an electric or magnetic field. By the method described above, the durability against sliding is significantly improved by forming the carbon protective film formed on the magnetic layer.

【0009】以下に、被膜形成体上に、膜を形成する場
合の一例として、非磁性支持体上に、磁性層を形成する
装置の一例について、その膜形成工程とともに説明す
る。
Hereinafter, as an example of forming a film on a film forming body, an example of an apparatus for forming a magnetic layer on a non-magnetic support will be described together with its film forming process.

【0010】図12に、従来用いられている金属磁性薄
膜型磁気記録媒体の蒸着装置111の一例の概略構成図
を示す。図12の蒸着装置111は、蒸着室112内に
長尺状の被膜形成体、この場合においては、ポリエチレ
ンテレフタレート等の非磁性支持体113を供給する供
給ロール114、および巻き取りロール115、非磁性
支持体113を支持案内する冷却キャン116、金属磁
性材料119を供給する蒸着源117等により構成され
ている。
FIG. 12 is a schematic diagram showing an example of a conventional metal magnetic thin film type magnetic recording medium vapor deposition apparatus 111. A deposition apparatus 111 shown in FIG. 12 includes a supply roll 114 for supplying a long film-formed body, in this case, a nonmagnetic support 113 such as polyethylene terephthalate, and a winding roll 115, It comprises a cooling can 116 for supporting and guiding the support 113, an evaporation source 117 for supplying a metal magnetic material 119, and the like.

【0011】非磁性支持体113は、供給ロール114
から送り出され、冷却キャン116状に沿って案内移送
されて、巻き取りロール115に巻き取られるようにな
されている。このとき、供給ロール114から供給され
た非磁性支持体113は、ボンバード装置123によっ
てボンバードされて冷却キャン116の表面に密着して
走行するようになされる。
The non-magnetic support 113 includes a supply roll 114
And is guided and transported along a cooling can 116 to be taken up by a take-up roll 115. At this time, the nonmagnetic support 113 supplied from the supply roll 114 is bombarded by the bombarding device 123 and runs in close contact with the surface of the cooling can 116.

【0012】蒸着源117には、ルツボ内118に金属
磁性材料119の、例えばコバルト塊が配されてなり、
電子銃120からの電子線121によって金属磁性材料
119が加熱溶解して蒸着させるようになされている。
122は酸素ガスを導入するための酸素ガス導入管、1
24はガイドロールである。
[0012] The vapor deposition source 117 has a metallic magnetic material 119, for example, a cobalt lump disposed in a crucible 118.
The metal magnetic material 119 is heated and melted by the electron beam 121 from the electron gun 120 to be deposited.
122 is an oxygen gas introduction pipe for introducing oxygen gas, 1
24 is a guide roll.

【0013】上述のように、非磁性支持体113上に、
蒸着膜の形成を行う場合や、この蒸着膜上にダイヤモン
ドライクカーボン膜等の保護膜の形成を行う場合におい
ても、被膜形成体の熱によるダメージを防止するため、
冷却用キャンに被膜形成体を密着させて走行させた状態
で成膜するようにしている。
As described above, on the non-magnetic support 113,
When forming a vapor-deposited film, or even when forming a protective film such as a diamond-like carbon film on this vapor-deposited film, in order to prevent damage to the film-formed body due to heat,
The film is formed in a state where the film forming body is brought into close contact with the cooling can and allowed to run.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図13
に示すような非磁性支持体113を案内移送する冷却キ
ャン116と、非磁性支持体113との密着性が悪い
と、非磁性支持体113上に磁性層を形成したとき、冷
却の効果が充分に得られないことから、図14に示す磁
気テープ213のように熱負け等のムラを生じ、形状不
良(形状変形)を招来し、磁気テープの表面性が劣化
し、品質が低下したり、歩留りが低下したりするおそれ
がある。
However, FIG.
When the cooling can 116 for guiding and transporting the non-magnetic support 113 as shown in (1) and the non-magnetic support 113 have poor adhesion, when the magnetic layer is formed on the non-magnetic support 113, the cooling effect is sufficient. Therefore, unevenness such as heat loss occurs as in the case of the magnetic tape 213 shown in FIG. 14, resulting in a shape defect (shape deformation), deterioration of the surface property of the magnetic tape, deterioration of the quality, Yield may be reduced.

【0015】一方、逆に非磁性支持体113等の被膜形
成体と、冷却キャン116との密着性が強すぎると、ガ
イドロール124の平衡度や冷却キャン116の表面形
状が、そのまま非磁性支持体113等の被膜形成体の表
面に反映されて、図15に示すように、磁気テープの表
面にシワが発生したりする。これは、冷却キャン116
の表面が、厳密には平面ではなく、冷却のためにわずか
な変形が生じる等に起因するものである。
On the other hand, if the adhesion between the film-forming member such as the non-magnetic support 113 and the cooling can 116 is too strong, the balance of the guide roll 124 and the surface shape of the cooling can 116 are not changed. As shown in FIG. 15, wrinkles are generated on the surface of the magnetic tape as reflected on the surface of the film forming body such as the body 113. This is the cooling can 116
Is not strictly flat, but is caused by a slight deformation due to cooling.

【0016】図12に示した例においては、非磁性支持
体113上に磁性膜を形成する場合について説明した
が、磁性膜形成後、磁性膜上にダイヤモンドライクカー
ボン等の保護膜を形成する場合においても、同様のこと
が言える。すなわち、被膜形成体の膜形成時に、冷却キ
ャンとの密着性が充分でないことによって熱負けが生じ
て表面にムラを生じたり、冷却キャン116との密着性
が強すぎることによって、表面にシワが発生したりす
る。
In the example shown in FIG. 12, the case where a magnetic film is formed on the non-magnetic support 113 has been described. However, after the magnetic film is formed, a protective film such as diamond-like carbon is formed on the magnetic film. The same can be said for. That is, during the film formation of the film-formed body, heat loss occurs due to insufficient adhesion with the cooling can, resulting in unevenness on the surface, or wrinkles on the surface due to too strong adhesion with the cooling can 116. Or occur.

【0017】図12に示した冷却キャン116の表面
は、用途に応じて、金属、プラスチック、あるいはセラ
ミック等で表面処理が施されているが、これらのいずれ
であっても、被膜形成体上に磁性膜や保護膜等を形成す
るときには、冷却キャン116に被膜形成体を適度な強
さで密着させる必要がある。
The surface of the cooling can 116 shown in FIG. 12 is subjected to a surface treatment with metal, plastic, ceramic, or the like, depending on the application. When forming a magnetic film, a protective film, or the like, it is necessary to bring the film forming body into close contact with the cooling can 116 with an appropriate strength.

【0018】冷却キャン116の表面性や、被膜形成体
にかけるテンションの条件、冷却キャン116の形状精
度等が、被膜形成体との密着性に影響を与える要因とな
るが、従来においては、被膜形成体と冷却キャン116
との、膜形成時の走行密着性を良好ならしめるために、
被膜形成体をあらかじめボンバード処理しておく方法が
用いられている。
The surface properties of the cooling can 116, the conditions of tension applied to the film-formed body, the shape accuracy of the cooling can 116, and the like are factors that affect the adhesion to the film-formed body. Formed body and cooling can 116
In order to improve running adhesion during film formation with
A method of bombarding the film formed body in advance is used.

【0019】すなわち、図12に示すように、供給ロー
ル114と冷却キャン116の途中において、ボンバー
ド装置123を設置し、ガス流量や電流値を調整するこ
とによって被膜形成体に強制的にチャージさせたり、逆
にチャージ量を減らしたりして、非磁性支持体113等
の被膜形成体のチャージ量を均一にすることで、冷却キ
ャン116との密着性の調整を図った。
That is, as shown in FIG. 12, a bombardment device 123 is installed in the middle of the supply roll 114 and the cooling can 116, and the film forming body is forcibly charged by adjusting the gas flow rate and the current value. On the other hand, the amount of charge of the film forming body such as the non-magnetic support 113 was made uniform by reducing the amount of charge, thereby adjusting the adhesion to the cooling can 116.

【0020】図16に、従来のボンバード装置123の
概略構成図を示す。このボンバード装置123は、外装
カバー232内に、マグネット電極236が配されてな
る。外装カバー232には、被膜形成体、例えば非磁性
支持体113を、外装カバー232内を貫通させ、走行
させるための一対の走行孔233、234が、外装カバ
ーの左右の位置のそれぞれ相対向する位置に設けられて
いる。この一対の走行孔233、234は、非磁性支持
体113の入口と出口に相当する所に配置されてなる。
FIG. 16 is a schematic structural view of a conventional bombardment device 123. The bombard device 123 has a magnet electrode 236 disposed inside an exterior cover 232. In the exterior cover 232, a pair of traveling holes 233 and 234 for allowing the film forming body, for example, the non-magnetic support body 113 to penetrate the exterior cover 232 and travel, are opposed to each other at left and right positions of the exterior cover. Position. The pair of traveling holes 233 and 234 are arranged at positions corresponding to the entrance and exit of the nonmagnetic support 113.

【0021】図16のボンバード装置123において
は、外装カバー232を貫通して、例えばAr等のボン
バードガスを供給するガス供給管235が設置されてお
り、このガス供給管235からは、ボンバードガスが非
磁性支持体113に対して、例えば50〔cc/mi
n〕程度供給される。
In the bombarding apparatus 123 shown in FIG. 16, a gas supply pipe 235 for supplying a bombard gas such as Ar, for example, is provided through the outer cover 232, and the bombard gas is supplied from the gas supply pipe 235. For example, 50 [cc / mi]
n].

【0022】また、上記のように図16のボンバード装
置123においては、外装カバー232内にマグネット
電極236が配置されている。このマグネット電極23
6は、例えばSUSにより成る1本以上のパイプ形状を
有しており、パイプ内部空間にリング形状のマグネット
が埋設された構成を有する。
Further, as described above, in the bombardment device 123 of FIG. 16, the magnet electrode 236 is disposed inside the outer cover 232. This magnet electrode 23
6 has one or more pipe shapes made of, for example, SUS, and has a configuration in which a ring-shaped magnet is embedded in the pipe internal space.

【0023】このマグネット電極236と、外装カバー
232とは、電気的に接続されて、交流電源(図示せ
ず)により所定の周波数の交流電圧がかけられ、マグネ
ット電極236と外装カバー232との間の空間で、放
電領域が形成されており、特に、図16中のマグネット
電極236の周囲に示した破線で囲まれた領域におい
て、強い放電領域が形成される。なお、マグネット電極
236の設定電流は、0.3〔A〕程度であるとする。
The magnet electrode 236 and the outer cover 232 are electrically connected to each other, and an AC voltage of a predetermined frequency is applied by an AC power supply (not shown). In this space, a discharge region is formed. In particular, a strong discharge region is formed in a region surrounded by a broken line around the magnet electrode 236 in FIG. It is assumed that the set current of the magnet electrode 236 is about 0.3 [A].

【0024】上述したような構成のボンバード装置12
3を用いて、非磁性支持体113を図16中の走行孔間
において矢印方向に走行させて、ボンバード処理を行
う。これにより非磁性支持体113と冷却キャンとの密
着性を良好ならしめている。
The bombardment device 12 having the above-described configuration
3, the nonmagnetic support 113 is caused to travel in the direction of the arrow between the travel holes in FIG. Thereby, the adhesion between the nonmagnetic support 113 and the cooling can is improved.

【0025】また、図12および図16に示して説明し
た例においては、非磁性支持体に、磁性層を形成する膜
形成工程において、非磁性支持体113をボンバード処
理する場合について説明したが、従来においても、この
例に限定されることなく、非磁性支持体上に磁性層を形
成した後、この磁性層上に、例えばダイヤモンドライク
カーボン等の保護膜を形成する場合についても同様に適
用される。
Further, in the example described with reference to FIGS. 12 and 16, the case where the nonmagnetic support 113 is subjected to the bombardment treatment in the film forming step of forming the magnetic layer on the nonmagnetic support has been described. Conventionally, the present invention is not limited to this example, and is similarly applied to a case where a magnetic layer is formed on a non-magnetic support and then a protective film such as diamond-like carbon is formed on the magnetic layer. You.

【0026】しかし、最近は、被膜形成体の製造条件が
多用化しており、種々の条件に応じたボンバード処理を
行って、それぞれにおいて冷却キャンとの密着性を精密
かつ適切に調節することが必要となってきている。
However, recently, the production conditions of the film-formed body have been diversified, and it is necessary to precisely and appropriately adjust the adhesion to the cooling can in each case by performing a bombarding treatment according to various conditions. It is becoming.

【0027】すなわち、非磁性支持体の材料について
も、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリイミ
ド、ポリアミド等、それぞれの製品の用途に応じて異な
るので、それぞれにおいて、冷却キャンとの適度な密着
性を確保するための最適なチャージ状態が変化する。冷
却キャンとの密着性を、それぞれの条件に応じて、適正
に調節するためには、従来のボンバード装置では、充分
に対応できないという問題が生じており、被膜形成体の
膜形成時の熱負けや、シワ、ムラの発生を完全に回避す
ることが困難になってきている。すなわち、ボンバード
装置において、ガス流量や電流値のさらなる精密な制御
や、個々の場合に応じた調整が必要になってきている。
That is, the material of the non-magnetic support also varies depending on the use of each product, for example, polyethylene terephthalate, polyimide, polyamide, etc., so that in each case, appropriate adhesion to the cooling can is ensured. The optimal charge state changes. In order to properly adjust the adhesion with the cooling can in accordance with the respective conditions, there is a problem that the conventional bombarding apparatus cannot sufficiently cope with the problem. It is becoming difficult to completely avoid wrinkles and unevenness. That is, in a bombardment apparatus, more precise control of a gas flow rate and a current value and adjustment according to individual cases are required.

【0028】また、その他、蒸着装置やスパッタリング
装置、CVD装置の、装置構成等が異なる毎に、被膜形
成体をボンバード処理するための最適な条件は異なるの
で、それぞれの場合においてボンバード処理を行う条件
を最適化させるための精密な制御が必要となる。
In addition, the optimum conditions for bombarding the film-formed body differ depending on the apparatus configuration and the like of the vapor deposition apparatus, the sputtering apparatus, and the CVD apparatus. Precise control for optimizing is required.

【0029】そこで、本発明においては、種々の被膜形
成体や、あらゆる膜形成装置に対応することができ、ボ
ンバードの条件を簡易かつ精密に制御することができる
ボンバード装置を提供するものである。
In view of the above, the present invention provides a bombarding apparatus which can be applied to various kinds of film forming bodies and all kinds of film forming apparatuses and which can easily and precisely control the conditions of bombarding.

【0030】[0030]

【課題を解決するための手段】本発明のボンバード装置
は、電極カバーと、電極カバーを外部から覆う外装カバ
ーとを有する多重構造のボンバード装置である。外装カ
バーには、被膜形成体を外装カバー内を貫通させ、走行
させるための対の走行孔に走行つばを設けることとし、
また、電極カバーと、外装カバーの双方とを連通して、
電極カバー内にボンバードガスを供給するガス供給管が
設置されている。電極カバー内には、マグネット電極が
配置されているものとする。このマグネット電極と、電
極カバーとは、電気的に接続されるものとし、所定に交
流電圧が掛けられ、この電流値が所望の値に設定するも
のとする。マグネット電極と電極カバーとの間には、放
電領域が形成されるものとし、特に、マグネット電極の
周囲においては、その周囲に比較して強い放電領域が形
成されるものとする。電極カバーにおいて、ガス供給管
と対向する位置には、所定の幅を有するスリットが形成
されていて、このスリットを介して、対の走行孔間を走
行する被膜形成体をボンバード処理するようになされて
いる。
The bombard apparatus of the present invention is a multi-layer bombard apparatus having an electrode cover and an outer cover for covering the electrode cover from the outside. In the exterior cover, the coating formed body is penetrated through the exterior cover, and a traveling brim is provided in a pair of traveling holes for traveling,
Also, by communicating both the electrode cover and the exterior cover,
A gas supply pipe for supplying a bombard gas is provided in the electrode cover. It is assumed that a magnet electrode is arranged in the electrode cover. It is assumed that the magnet electrode and the electrode cover are electrically connected to each other, a predetermined AC voltage is applied thereto, and the current value is set to a desired value. A discharge region is formed between the magnet electrode and the electrode cover. In particular, a discharge region that is stronger around the magnet electrode is formed as compared to the periphery. In the electrode cover, a slit having a predetermined width is formed at a position facing the gas supply pipe, and through this slit, the film forming body traveling between the pair of traveling holes is bombarded. ing.

【0031】本発明のボンバード装置によれば、種々の
被膜形成体や、あらゆる膜形成装置に対応して、ボンバ
ード処理の条件を、簡易かつ精密に制御することができ
る。
According to the bombarding apparatus of the present invention, the conditions of the bombarding process can be easily and precisely controlled corresponding to various film forming bodies and all kinds of film forming apparatuses.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】本発明は、被膜形成体を移行させ
た状態で、該被膜形成体に対してボンバード処理を行う
ボンバード装置に係わるものである。本発明のボンバー
ド装置は、特に、電極カバーと、電極カバーを外部から
覆う外装カバーとを有する多重構造のものである。外装
カバーには、被膜形成体を上記外装カバー内を貫通さ
せ、走行させるための対の走行孔が設けられており、こ
の走行孔の周囲には、走行つばが形成されている。電極
カバーと、外装カバーの双方とを連通して、電極カバー
内に例えばAr等のボンバードガスを供給するためのガ
ス供給管を有する。また、電極カバー内には、マグネッ
ト電極が配置されており、マグネット電極と、電極カバ
ーとの間の空間で、放電領域が形成されているものとす
る。電極カバーの、ボンバードガス供給管と対向する位
置には、所定の幅を有し、かつこの幅を変化させること
ができるスリットが形成されており、このスリットを介
して、対の走行孔間のボンバード装置内を走行する被膜
形成体をボンバード処理するようになされている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a bombarding apparatus for performing a bombarding process on a film-formed body in a state where the film-formed body has been transferred. The bombardment device of the present invention has a multi-layer structure including an electrode cover and an exterior cover that covers the electrode cover from the outside. The exterior cover is provided with a pair of traveling holes through which the film-formed body penetrates and travels in the exterior cover, and a traveling collar is formed around the traveling holes. A gas supply pipe is provided for communicating both the electrode cover and the exterior cover and supplying a bombard gas such as Ar into the electrode cover. Further, a magnet electrode is disposed in the electrode cover, and a discharge region is formed in a space between the magnet electrode and the electrode cover. The electrode cover has a predetermined width at a position facing the bombard gas supply pipe, and a slit that can change the width is formed. A bombarding process is performed on a film forming body traveling in a bombarding apparatus.

【0033】以下、本発明のボンバード装置について、
一例を示して説明するが、本発明は、以下に示す例に限
定されるものではなく、いかなる従来公知の構成と組み
合わせた構成とすることもできる。
Hereinafter, the bombard apparatus of the present invention will be described.
Although an example will be described, the present invention is not limited to the example described below, and may be configured in combination with any conventionally known configuration.

【0034】以下に、被膜形成体上に成膜する場合の一
例として、例えば長尺状の非磁性支持体上に、磁性層を
形成する場合の例について、その蒸着装置及び膜形成工
程とともに、被膜形成体をボンバード処理する本発明の
ボンバード装置の一例を挙げて説明するが、本発明のボ
ンバード装置は、以下の例に示す蒸着装置の他、スパッ
タリングやCVD等、従来公知のいかなる成膜装置につ
いても対応することができる。
In the following, as an example of the case of forming a film on the film forming body, for example, in the case of forming a magnetic layer on a long non-magnetic support, together with the vapor deposition apparatus and the film forming process, An example of the bombarding apparatus of the present invention for bombarding a film-formed body will be described. However, the bombarding apparatus of the present invention is not limited to a vapor deposition apparatus shown in the following examples, and may be any conventionally known film forming apparatus such as sputtering or CVD. Can also be handled.

【0035】図1に、本発明のボンバード装置30が配
置された金属磁性薄膜型磁気記録媒体の蒸着装置11の
例の概略図を示す。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of a metal magnetic thin film type magnetic recording medium vapor deposition apparatus 11 in which a bombard apparatus 30 of the present invention is arranged.

【0036】図1の蒸着装置11は、蒸着室12内に長
尺状の非磁性支持体13、例えばポリエチレンテレフタ
レートフィルムを供給する供給ロール14、巻き取りロ
ール15、非磁性支持体13を支持案内する冷却キャン
16、および蒸着源17等により構成されている。
The vapor deposition apparatus 11 shown in FIG. 1 supports and guides a long non-magnetic support 13, for example, a supply roll 14 for supplying a polyethylene terephthalate film, a take-up roll 15, and a non-magnetic support 13 into a vapor deposition chamber 12. And a vapor deposition source 17 and the like.

【0037】非磁性支持体13は、供給ロール14から
送り出され、例えば−20℃程度に冷却された冷却キャ
ン16上に沿って案内移送されて、巻き取りロール15
に巻き取られるようになされている。
The non-magnetic support 13 is sent out from the supply roll 14 and guided and transferred along a cooling can 16 cooled to, for example, about -20 ° C.
It is made to be wound up.

【0038】供給ロール14と冷却キャン16との途中
に、非磁性支持体13をボンバード処理する本発明のボ
ンバード装置30が配置されている。供給ロール14か
ら供給された非磁性支持体13は、ボンバード装置30
によってボンバード処理され、冷却キャン16の表面に
密着させるようになされる。
A bombarding device 30 of the present invention for bombarding the non-magnetic support 13 is provided between the supply roll 14 and the cooling can 16. The non-magnetic support 13 supplied from the supply roll 14 is
The bombarding process is performed to bring the cooling can 16 into close contact with the surface of the cooling can 16.

【0039】蒸着源17は、ルツボ内18に金属磁性材
料19の、例えばコバルト塊が配された構成を有し、電
子銃20からの電子線21によって金属磁性材料19が
加熱溶解して蒸着させるようになされている。22は、
非磁性支持体13表面に酸素ガスを導入するための酸素
ガス導入管、24はガイドロールである。
The vapor deposition source 17 has a configuration in which a metallic magnetic material 19, for example, a cobalt lump, is disposed in a crucible 18. The metallic magnetic material 19 is heated and melted by an electron beam 21 from an electron gun 20 to vapor-deposit. It has been made like that. 22 is
An oxygen gas introduction pipe for introducing oxygen gas to the surface of the nonmagnetic support 13, and 24 is a guide roll.

【0040】図1に示す非磁性支持体13をボンバード
処理する本発明のボンバード装置30について以下に図
を参照して説明する。
The bombarding apparatus 30 of the present invention for bombarding the nonmagnetic support 13 shown in FIG. 1 will be described below with reference to the drawings.

【0041】図2に、本発明のボンバード装置30の一
例の概略側面図を示し、図3に、本発明のボンバード装
置30の概略平面図を示す。本発明のボンバード装置3
0は、電極カバー31と、電極カバー31を外部から覆
う外装カバー32とを有する多重構造のボンバード装置
である。
FIG. 2 shows a schematic side view of an example of the bombarding apparatus 30 of the present invention, and FIG. 3 shows a schematic plan view of the bombarding apparatus 30 of the present invention. Bombard device 3 of the present invention
Reference numeral 0 denotes a multi-layered bombardment device having an electrode cover 31 and an exterior cover 32 that covers the electrode cover 31 from the outside.

【0042】外装カバー32には、ボンバード処理する
被膜形成体、この例においては非磁性支持体13を、外
装カバー32内を貫通させて走行させるための一対の走
行孔33aおよび34aがそれぞれ相対向する位置に設
けられている。また、この走行孔33aおよび34aの
周囲には、それぞれ走行つば33、34が設けられてい
るものとする。この走行孔33a、34aは、非磁性支
持体13が貫通するボンバード装置の外装カバー32の
入口と出口に相当する位置に配置されている。またこの
走行孔33a、34aに設けられた走行つば33、34
は、所定の幅dを有するものとし、例えば外装カバー3
2本体の表面から、走行つば33、34の先端部までの
幅dを10〜30〔mm〕とすることができる。
The exterior cover 32 has a pair of traveling holes 33a and 34a for allowing the film forming body to be bombarded, in this example, the nonmagnetic support 13 to pass through the exterior cover 32 and travel. It is provided in the position where it does. It is assumed that traveling flanges 33 and 34 are provided around the traveling holes 33a and 34a, respectively. The traveling holes 33a and 34a are arranged at positions corresponding to the entrance and exit of the exterior cover 32 of the bombardment device through which the nonmagnetic support 13 penetrates. The traveling collars 33 and 34 provided in the traveling holes 33a and 34a, respectively.
Has a predetermined width d.
The width d from the surface of the main body 2 to the tip of the traveling collars 33, 34 can be set to 10 to 30 [mm].

【0043】この走行つば33、34の、外装カバー3
2の表面からその先端部までの幅dを、特に10〔m
m〕以上に形成することにより、ボンバード装置30内
のガスの外部への洩れを有効に防止することができる。
また、特に30〔mm〕以下に形成することにより、非
磁性支持体13の、走行つば33、34内への挿入を困
難にすることを回避することができる。
The outer cover 3 of the traveling collars 33, 34
The width d from the surface of No. 2 to its tip is particularly 10 [m
m] or more, it is possible to effectively prevent the gas in the bombard device 30 from leaking to the outside.
In particular, when the thickness is set to 30 [mm] or less, it is possible to avoid making it difficult to insert the nonmagnetic support 13 into the traveling collars 33 and 34.

【0044】また、図2に示す走行つば33、34それ
ぞれの上下の開口間隔hは、非磁性支持体13に接触し
ない程度すなわち、非磁性支持体13の走行性を悪化さ
せない程度に狭くし、内部のガス洩れを防止する程度の
大きさに形成することが望ましく、例えばこれを2〜5
〔mm〕程度に形成することができる。
The upper and lower opening distances h of the traveling collars 33 and 34 shown in FIG. 2 are so small that they do not come into contact with the non-magnetic support 13, that is, do not deteriorate the running performance of the non-magnetic support 13. It is desirable to form it in such a size that gas leakage inside is prevented.
[Mm].

【0045】このように、走行つば33、34の幅dお
よび上下の開口間隔hを、非磁性支持体13の安定した
走行性を保持し、かつ装置内部のガス洩れを回避するこ
とができる程度の大きさに形成することにより、この図
2に示すボンバード装置30の内部の真空度の低下を回
避することができ、異常放電の発生を効果的に防止で
き、最終的に得られる磁気記録媒体の品質の向上を図る
ことができる。
As described above, the width d of the running collars 33 and 34 and the distance h between the upper and lower openings are determined so that the stable running of the nonmagnetic support 13 is maintained and gas leakage inside the apparatus can be avoided. 2 can avoid a decrease in the degree of vacuum inside the bombardment device 30 shown in FIG. 2, can effectively prevent the occurrence of abnormal discharge, and can provide a finally obtained magnetic recording medium. Quality can be improved.

【0046】また、図3のボンバード装置の概略平面図
に示すように、電極カバー31に設けられたスリット3
7の幅Wは、被膜形成体すなわち非磁性支持体13の横
幅に相当する長さに設定されるものとし、これにより非
磁性支持体13は、全幅においてまんべんなくボンバー
ド処理される。
Further, as shown in a schematic plan view of the bombarding apparatus shown in FIG.
The width W of 7 is set to a length corresponding to the lateral width of the film forming body, that is, the non-magnetic support 13, whereby the non-magnetic support 13 is evenly bombarded over the entire width.

【0047】また、本発明のボンバード装置30は、電
極カバー31と、外装カバー32との双方を連通して、
電極カバー31内に、例えばAr等のボンバードガスを
所定量供給するためのガス供給管35が設置されてい
る。このガス供給管35からのガス供給量は、電極カバ
ー31に設けられたスリット37から供出されるガス量
が、例えば30〔cc/min〕程度となるように制御
されるようになされている。
Further, the bombard apparatus 30 of the present invention communicates both the electrode cover 31 and the outer cover 32 with each other.
A gas supply pipe 35 for supplying a predetermined amount of a bombard gas, such as Ar, is provided in the electrode cover 31. The gas supply amount from the gas supply pipe 35 is controlled such that the gas amount supplied from the slit 37 provided in the electrode cover 31 is, for example, about 30 [cc / min].

【0048】図2に示す本発明のボンバード装置30
は、外装カバー32と、電極カバー31との2重構造を
有するものであるので、ボンバードガスが、従来装置の
ように外装カバー内部に広く拡散してしまうことを回避
でき、ボンバードガスの供給量は、従来のボンバード装
置に比較すると、少量で充分な効果が得られるようにな
る。
The bombard apparatus 30 of the present invention shown in FIG.
Has a double structure of the exterior cover 32 and the electrode cover 31, so that the bombard gas can be prevented from being diffused widely inside the exterior cover as in the conventional device, and the supply amount of the bombard gas can be reduced. As compared with the conventional bombard apparatus, a sufficient effect can be obtained with a small amount.

【0049】本発明のボンバード装置30は、図2に示
すように、電極カバー31内に、マグネット電極36が
配置されている。このマグネット電極36は、1本以上
の例えばSUSより成るパイプ状形状を有しており、こ
のパイプ内部空間に、例えばリング形状のマグネットが
埋設されている。このマグネット電極36の磁場は、例
えば1500〜3500〔GAUSS〕とすることがで
きる。
As shown in FIG. 2, the bombardment device 30 of the present invention has a magnet electrode 36 disposed inside an electrode cover 31. The magnet electrode 36 has one or more pipe-like shapes made of, for example, SUS, and a ring-shaped magnet is embedded in the internal space of the pipe. The magnetic field of the magnet electrode 36 can be, for example, 1500 to 3500 [GAUSS].

【0050】このマグネット電極36と、電極カバー3
1とは、図3の本発明のボンバード装置の概略平面図に
示すように、電気的に接続されており、交流電源40に
より例えば周波数3.5〔MHz〕の交流電圧がかけら
れ、マグネット電極36と電極カバー31との間の空間
で、放電領域が形成されている。図2および図3中のマ
グネット電極35の周囲に示した破線で囲まれた領域に
おいて、特に強い放電領域が形成されている。
The magnet electrode 36 and the electrode cover 3
1 is electrically connected as shown in the schematic plan view of the bombardment apparatus of the present invention in FIG. 3, and an AC voltage of, for example, 3.5 [MHz] is applied by an AC power supply 40 to the magnet electrode. A discharge region is formed in a space between the electrode 36 and the electrode cover 31. A particularly strong discharge region is formed in a region surrounded by a broken line around the magnet electrode 35 in FIGS. 2 and 3.

【0051】図2中のマグネット電極36は、電極カバ
ー31とともに、あるいは電極カバー31とは別に単独
で上下に移動することができ、これにより、マグネット
電極36と、非磁性支持体13との距離を自在に調整制
御することができるようになされている。このように、
マグネット電極36と、非磁性支持体13との距離を自
在に調整することができるようにすることによって、非
磁性支持体13のチャージ量を、最終的に目的とする磁
気記録媒体の用途や、非磁性支持体の材料や状態等、種
々の場合の異なる条件に対応して精密に制御することが
できる。
The magnet electrode 36 shown in FIG. 2 can be moved up and down together with the electrode cover 31 or separately from the electrode cover 31, whereby the distance between the magnet electrode 36 and the nonmagnetic support 13 can be increased. Can be freely adjusted and controlled. in this way,
By allowing the distance between the magnet electrode 36 and the non-magnetic support 13 to be freely adjusted, the amount of charge of the non-magnetic support 13 can be reduced to the intended use of the magnetic recording medium, It can be precisely controlled according to different conditions in various cases such as the material and state of the nonmagnetic support.

【0052】また、本発明のボンバード装置30におい
ては、電極カバー31の底部、すなわちガス供給管35
形成側とは反対側の位置に、所定の幅wを有するスリッ
ト37が形成されており、このスリット37を介して、
下部に走行する非磁性支持体13をボンバードするよう
になされているが、このスリット37の開口幅wは、適
宜調整変更することができ、これにより、最適なボンバ
ード条件に制御することができる。
Further, in the bombarding apparatus 30 of the present invention, the bottom of the electrode cover 31, that is, the gas supply pipe 35.
A slit 37 having a predetermined width w is formed at a position opposite to the forming side, and through this slit 37,
Although the non-magnetic support 13 traveling below is bombarded, the opening width w of the slit 37 can be adjusted and changed as appropriate, whereby the optimum bombard condition can be controlled.

【0053】上述したように、本発明のボンバード装置
においては、電極カバー31と外装カバー32を有する
2重構造であるため、ボンバードガスが装置内部で拡散
してしまうことを回避することができ、従来構造のボン
バード装置と比較して少量のボンバードガスで、高いボ
ンバード効果を得ることができるようになった。
As described above, the bombard device of the present invention has a double structure having the electrode cover 31 and the outer cover 32, so that the bombard gas can be prevented from diffusing inside the device. A high bombard effect can be obtained with a small amount of bombard gas compared to a bombard device having a conventional structure.

【0054】また、本発明のボンバード装置において
は、被膜形成体、例えば非磁性支持体を走行させる走行
孔に走行つばを設け、この幅dおよび上下の開口間隔h
を、調整可能とし、あるいは数値的に特定することによ
り、被膜形成体の安定した走行性を保持しつつ、装置内
部のガスの洩れを効果的に回避することができた。
In the bombarding apparatus of the present invention, a running collar is provided in a running hole for running a film forming body, for example, a non-magnetic support, and has a width d and a vertical opening interval h.
Can be adjusted or specified numerically, thereby effectively preventing gas leakage inside the apparatus while maintaining stable running performance of the film-formed body.

【0055】また、電極カバーの、被膜形成体との対向
側に、スリット37を設け、かつこの開口幅wを広狭自
在に調整することができる構成としたため、被膜形成体
に対する放電の影響を、簡易かつ確実に、微調整するこ
とができた。
Further, since the slit 37 is provided on the electrode cover on the side facing the film forming body and the opening width w can be adjusted to be wide and narrow, the influence of the discharge on the film forming body is reduced. Fine adjustment could be made easily and reliably.

【0056】次に、本発明のボンバード装置の他の一例
の構成について、図を参照して説明する。
Next, the structure of another example of the bombarding apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0057】図2に示した例においては、電極カバー3
1内に、一本のマグネット電極36を配置した場合につ
いて示したが、本発明のボンバード装置はこの例に限定
されることなく、複数本のマグネット電極を配置した構
成とすることもできる。図4に、電極カバー31内に、
例えば2本のマグネット電極41、42を配置した例の
ボンバード装置の概略図を示す。
In the example shown in FIG.
Although the case where one magnet electrode 36 is arranged in 1 is shown, the bombardment device of the present invention is not limited to this example, and may have a configuration in which a plurality of magnet electrodes are arranged. In FIG. 4, in the electrode cover 31,
For example, a schematic diagram of a bombard device in which two magnet electrodes 41 and 42 are arranged is shown.

【0058】図4に示したボンバード装置においては、
第1のマグネット電極41と、第2のマグネット電極4
2の2本のマグネット電極が電極カバー31内に配置さ
れている。
In the bombard apparatus shown in FIG.
A first magnet electrode 41 and a second magnet electrode 4
Two magnet electrodes 2 are arranged in the electrode cover 31.

【0059】なお、図4に示したボンバード装置におい
ては、電極カバー31内に2本のマグネット電極41、
42を配置した構成を有するが、その他の構成について
は、図2に示したボンバード装置30と共通するものと
し、重複説明を省略する。
In the bombardment apparatus shown in FIG. 4, two magnet electrodes 41 are provided inside the electrode cover 31.
Although there is a configuration in which 42 is arranged, the other configuration is common to the bombardment device 30 shown in FIG. 2 and redundant description is omitted.

【0060】図4の第1のマグネット電極41と第2の
マグネット電極42とは、電気的に接続され、交流電源
40によって例えば周波数3.5〔MHz〕の交流電圧
をかけられるようになされている。これにより第1およ
び第2のマグネット電極41、42の周囲に示した破線
で囲まれた領域において、強い放電領域が形成される。
図4に示したボンバード装置においても、走行つば3
3、34間を貫通走行する非磁性支持体13の表面を、
電極カバー31のスリット37を介してボンバード処理
がなされる。
The first magnet electrode 41 and the second magnet electrode 42 shown in FIG. 4 are electrically connected to each other so that an AC power supply 40 can apply an AC voltage having a frequency of, for example, 3.5 [MHz]. I have. As a result, a strong discharge region is formed in a region surrounded by a broken line around the first and second magnet electrodes 41 and 42.
In the bombard apparatus shown in FIG.
The surface of the non-magnetic support body 13 that runs through between Nos.
Bombard processing is performed through the slit 37 of the electrode cover 31.

【0061】上述した例においては、非磁性支持体に、
磁性層を形成する膜形成工程において、ボンバードを行
う場合について説明したが、本発明のボンバード装置
は、この例に限定されるものではなく、磁性層上に、例
えばダイヤモンドライクカーボンの保護膜を形成する場
合についても同様に適用することができる。以下、この
例について図を参照して説明する。
In the above example, the non-magnetic support is
In the film forming step of forming the magnetic layer, the case where bombarding is performed has been described, but the bombarding device of the present invention is not limited to this example, and a protective film of, for example, diamond-like carbon is formed on the magnetic layer. The same can be applied to the case of performing. Hereinafter, this example will be described with reference to the drawings.

【0062】図5は、磁性層を形成した後にダイヤモン
ドライクカーボン保護膜を形成するために用いるプラズ
マCVD(化学的気相成長)連続膜形成装置に要部の概
略構成図を示す。図5に示すように、この装置において
は、排気系50から排気されて内部が真空状態となされ
た真空室61内に、送りロール53と、巻き取りロール
54とが設けられ、これら送りロール53から巻き取り
ロール54に、例えばテープ状の非磁性支持体上に酸素
ガス雰囲気下、金属磁性薄膜を被着させたもの(以下、
被膜形成体とする)が順次走行するようになされてい
る。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a main part of a plasma CVD (chemical vapor deposition) continuous film forming apparatus used for forming a diamond-like carbon protective film after forming a magnetic layer. As shown in FIG. 5, in this apparatus, a feed roll 53 and a take-up roll 54 are provided in a vacuum chamber 61 which is evacuated from an exhaust system 50 and the inside of which is in a vacuum state. Rolls of a metal magnetic thin film adhered to a tape-shaped non-magnetic support under an oxygen gas atmosphere (hereinafter referred to as
(Former film-formed body) are sequentially driven.

【0063】送りロール53から巻き取りロール54に
被膜形成体51が走行する途中には、円筒状で回転可能
な対向電極59が設けられている。また、送りロール5
3と対向電極59との途中には、図2、図4に示した本
発明のボンバード装置30が配置されてなり、ここで、
被膜形成体51のボンバード処理がなされる。
While the film forming body 51 travels from the feed roll 53 to the take-up roll 54, a cylindrical rotatable counter electrode 59 is provided. In addition, feed roll 5
The bombardment device 30 of the present invention shown in FIGS. 2 and 4 is arranged in the middle of the counter electrode 3 and the counter electrode 59.
The bombardment treatment of the film forming body 51 is performed.

【0064】被膜形成体51は、送りロール53から順
次送り出され、対向電極59の周面を通過し、巻き取り
ロール54に巻き取られていくようになされている。な
お、送りロール53と対向電極59との間、および対向
電極59と巻き取りロール54との間には、それぞれガ
イドロール52が配置され、被膜形成体51に所定のテ
ンションをかけ、被膜形成体51が円滑に走行するよう
になされている。
The film forming body 51 is sequentially sent out from the feeding roll 53, passes through the peripheral surface of the counter electrode 59, and is wound up by the winding roll 54. Guide rolls 52 are arranged between the feed roll 53 and the counter electrode 59 and between the counter electrode 59 and the take-up roll 54, respectively. 51 is designed to run smoothly.

【0065】また、真空室61内には、反応管55が設
けられ、この反応管55内には、電極56が組み込まれ
ている。また、この電極56には直流電源57により、
+500〜2000Vの電位が加えられる。
Further, a reaction tube 55 is provided in the vacuum chamber 61, and an electrode 56 is incorporated in the reaction tube 55. In addition, a DC power supply 57 applies a voltage to this electrode 56.
A potential of + 500-2000 V is applied.

【0066】反応管55には、放電ガス導入口58から
炭化水素系ガスを主成分としたガスが導入される。被膜
形成体51は、送りロール53より送り出され、対向電
極59の周面を通過し、反応管55内において、その表
面にダイラモンドライクカーボンの保護膜が所定の厚さ
に形成される。
A gas containing a hydrocarbon-based gas as a main component is introduced into the reaction tube 55 from a discharge gas inlet 58. The film forming body 51 is sent out from the feed roll 53, passes through the peripheral surface of the counter electrode 59, and in the reaction tube 55, a protective film of diamond-like carbon is formed on the surface thereof to a predetermined thickness.

【0067】次に、図5に示したCVD装置を用いて、
磁性層の表面に、保護膜としてダイヤモンドライクカー
ボン膜を形成する場合に、被膜形成体51を、図2に示
したボンバード装置30によってボンバード処理した場
合〔実施例1〕〜〔実施例11〕、および図16に示し
たボンバード装置によってボンバード処理した場合〔比
較例〕の、ボンバード条件を、スリット37の開口幅
w、マグネット電極36と被膜形成体13との距離、走
行つば33、34の幅d、走行つば33、34の上下の
開口間隔h、最低電流値、アルゴンガス流量を変化させ
た場合の、それぞれの場合におけるテープの品質につい
て、シワ不良率〔%〕、ムラ発生状況(有、無)、異常
放電数〔個/1000m〕に関して測定しこれを比較し
た。なお、この場合シワ不良率は、テープの全面積をB
とし、シワが発生した部分の面積をAとすると、(A/
B)×100により求めた。この結果を下記(表1)に
示す。
Next, using the CVD apparatus shown in FIG.
When a diamond-like carbon film is formed as a protective film on the surface of the magnetic layer, the film forming body 51 is bombarded by the bombarding apparatus 30 shown in FIG. 2 [Examples 1 to 11], When the bombarding process is performed by the bombarding apparatus shown in FIG. 16 (Comparative Example), the bombarding conditions include the opening width w of the slit 37, the distance between the magnet electrode 36 and the film forming body 13, and the width d of the running collars 33 and 34. When the upper and lower opening distances h, the minimum current value, and the argon gas flow rate of the running collars 33 and 34 are changed, the wrinkle defect rate [%], the unevenness occurrence status (yes, no ), The number of abnormal discharges [number / 1000 m] were measured and compared. In this case, the wrinkle defect rate is obtained by dividing the entire area of the tape by B
Assuming that the area of the wrinkled portion is A, (A /
B) It was determined by × 100. The results are shown below (Table 1).

【0068】[0068]

【表1】 [Table 1]

【0069】この(表1)から明らかなように、〔実施
例1〕〜〔実施例11〕において適用した図2の本発明
のボンバード装置のように、外装カバー32と電極カバ
ー31により構成される多重構造のボンバード装置にお
いては、電極カバー31にスリットを設けてこのスリッ
トを介してボンバード処理を行うこととしたため、スリ
ットを設けないいわゆる単層構造の従来のボンバード装
置を用いた(表1)中の〔比較例〕と比べて、装置内で
のアルゴンガスの拡散を効果的に回避できるので、異常
放電を効果的に回避することができ、これにより使用す
るアルゴンガス流量を低減化させることができることが
明らかになった。
As is clear from Table 1, like the bombardment apparatus of the present invention shown in FIG. 2 applied in [Embodiment 1] to [Embodiment 11], it is constituted by the outer cover 32 and the electrode cover 31. In the multi-layered bombardment apparatus, a slit is provided in the electrode cover 31 and the bombardment process is performed through the slit. Therefore, a conventional bombardment apparatus having a so-called single-layer structure without a slit is used (Table 1). In comparison with the comparative example, the diffusion of argon gas in the apparatus can be effectively avoided, so that abnormal discharge can be effectively avoided, thereby reducing the flow rate of argon gas used. It became clear that we could do it.

【0070】また、電極カバー31のスリット幅wを、
1〔mm〕より大きくすることによりボンバード処理を
有効に行うことができるので、被膜形成体(テープ)の
熱負けを防止することができ、磁気テープのムラの発生
を回避できることが明らかになった。
The slit width w of the electrode cover 31 is
By making it larger than 1 [mm], the bombarding treatment can be effectively performed, so that it is possible to prevent heat loss of the film-formed body (tape) and to avoid the occurrence of unevenness of the magnetic tape. .

【0071】また、被膜形成体を走行させる対の走行孔
に走行つばを設け、かつその幅dを10〜30〔mm〕
とし、走行つばの上下の開口間隔hを2〜5〔mm〕と
することにより、テープと冷却キャンとの適度な密着性
を実現することができ、シワ不良率が良好であることが
明らかになった。特に、走行つばの上下の間隔hを、小
にすることにより、異常放電数を著しく現象させること
ができ、これを数値的に特定することが、テープの品質
を向上させる上において重要であることが明らかになっ
た。
Further, a running collar is provided in a pair of running holes for running the film-formed body, and the width d is set to 10 to 30 [mm].
By setting the distance h between the upper and lower openings of the running brim to 2 to 5 [mm], it is possible to realize appropriate adhesion between the tape and the cooling can, and it is apparent that the wrinkle defect rate is good. became. In particular, the number of abnormal discharges can be remarkably reduced by reducing the distance h between the top and bottom of the running brim, and it is important to specify this numerically in order to improve the quality of the tape. Was revealed.

【0072】次に、図2に示した本発明のボンバード装
置30において、電極カバー31の底部のスリット幅w
〔mm〕と、磁気テープのシワ不良率〔%〕との関係
(図中○印)、および図16に示した従来構造のボンバ
ード装置を適用した場合のシワ不良率との関係(図中□
印)を図6に示す。図6に示すように、スリット幅wを
狭く制御することにより、シワ不良率を改善することが
可能になる。また、従来構造のボンバード装置に比較し
て、本発明のボンバード装置によれば、磁気テープのシ
ワ不良率が著しく改善されることが明らかになった。
Next, in the bombard apparatus 30 of the present invention shown in FIG.
[Mm] and the wrinkle defect rate [%] of the magnetic tape (indicated by a circle in the figure), and the wrinkle defect rate when the conventional bombarding apparatus shown in FIG. 16 is applied (□ in the figure).
Mark) is shown in FIG. As shown in FIG. 6, by controlling the slit width w to be narrow, the wrinkle defect rate can be improved. Further, it has been clarified that the wrinkle defect rate of the magnetic tape is remarkably improved according to the bombard apparatus of the present invention, as compared with the bombard apparatus having the conventional structure.

【0073】次に、図2に示した本発明のボンバード装
置30においてマグネット電極36と被膜形成体13す
なわちテープとの距離を65〔mm〕、80〔mm〕、
120〔mm〕とした場合の、シワ不良率との関係を図
7に示した(図中○印)。また、図16に示した従来構
造のボンバード装置を適用した場合で、マグネット電極
36と被膜形成体13すなわちテープとの距離を80
〔mm〕とした場合のシワ不良率との関係を示した(図
中□印)。図7に示すように、本発明のボンバード装置
を用いてボンバード処理を行うと、いずれの場合におい
てもシワ不良率は低い値にすることができる。これによ
り、マグネット電極とテープ間距離を種々の値に調整し
てボンバード条件を制御する自由度が著しく向上するこ
とが明らかになった。
Next, in the bombardment apparatus 30 of the present invention shown in FIG. 2, the distance between the magnet electrode 36 and the film forming body 13, that is, the tape, is 65 [mm], 80 [mm],
FIG. 7 shows the relationship with the wrinkle defect rate when the value was set to 120 [mm] (in the figure, marked with a circle). In the case where the conventional bombarding apparatus shown in FIG. 16 is applied, the distance between the magnet electrode 36 and the film forming body 13, that is, the tape is set to 80.
The relationship with the wrinkle defect rate when [mm] is set is shown (indicated by □ in the figure). As shown in FIG. 7, when the bombarding process is performed using the bombarding apparatus of the present invention, the wrinkle defect rate can be set to a low value in any case. This has revealed that the degree of freedom in controlling the bombarding conditions by adjusting the distance between the magnet electrode and the tape to various values is remarkably improved.

【0074】次に、図8において、図2に示す本発明の
ボンバード装置30において、走行つば33、34の幅
dを0〜30〔mm〕の間で変化させたときの、走行つ
ばの上下の開口間隔hが3〔mm〕としたとき(図中○
印)と、6〔mm〕としたとき(図中△印)の、それぞ
れのアーク数〔個/1000m〕の関係を示した。この
図8によれば、走行つばの上下の間隔hを、5〔mm〕
以下とすると、ボンバードガスの洩れを回避できること
から、アーク数が低減化できることが明らかになった。
また、走行つば33、34の幅dは、10〜30〔m
m〕とすることにより、アーク数を低い値に抑えること
ができることが明らかになった。
Next, in FIG. 8, in the bombardment apparatus 30 of the present invention shown in FIG. 2, when the width d of the traveling collars 33, 34 is changed between 0 and 30 [mm], When the opening distance h is 3 [mm]
The relationship between the number of arcs (number of arcs / 1000 m) when 6 mm was used (indicated by Δ in the figure) and 6 mm was shown. According to FIG. 8, the vertical interval h of the traveling brim is 5 mm
In the following, it was clarified that the number of arcs could be reduced because the leakage of bombard gas could be avoided.
The width d of the traveling collars 33 and 34 is 10 to 30 [m
m], the number of arcs can be suppressed to a low value.

【0075】次に、図9において、ボンバード電流
〔A〕と、テープのシワ発生率〔%〕との関係を示す。
このとき、ボンバード電流は、図2に示した本発明のボ
ンバード装置30において、スリット幅wを調整するこ
とによって制御した。この図9によれば、ボンバード電
流値を低くすると、被膜形成体13と冷却キャンとの密
着性が弱くなるので、シワ発生率が低く抑えられること
がわかる。すなわち、本発明のボンバード装置30によ
れば、スリット幅wを調整することによってボンバード
電流値を制御することができ、これにより、シワ発生率
を制御できる。
Next, FIG. 9 shows the relationship between the bombardment current [A] and the wrinkle occurrence rate [%] of the tape.
At this time, the bombard current was controlled by adjusting the slit width w in the bombard apparatus 30 of the present invention shown in FIG. According to FIG. 9, when the bombardment current value is reduced, the adhesion between the film forming body 13 and the cooling can is weakened, so that the wrinkle generation rate can be suppressed to be low. That is, according to the bombarding apparatus 30 of the present invention, the bombarding current value can be controlled by adjusting the slit width w, whereby the wrinkle generation rate can be controlled.

【0076】次に、図10に、本発明のボンバード装置
30でボンバード処理を行ったときのArガス流量〔c
c/min〕と、ボンバード電流値〔A〕との関係を示
す。このとき、Arガス流量は、スリット幅wを調整す
ることにより制御した。この図10に示すように、Ar
ガス流量と、ボンバード電流値とは、相関関係を有す
る。すなわち、ガス流量が増えると電流値を上げないと
安定した放電が得られなくなるのである。本発明のボン
バード装置30は、いわゆる多重構造を有するため、A
rガスの拡散を効果的に回避でき、安定した放電を得る
ことができ、設定するボンバード電流値の制御も簡易化
できる効果を有する。
Next, FIG. 10 shows the Ar gas flow rate [c] when bombarding is performed by the bombarding apparatus 30 of the present invention.
c / min] and a bombardment current value [A]. At this time, the Ar gas flow rate was controlled by adjusting the slit width w. As shown in FIG.
The gas flow rate and the bombardment current value have a correlation. That is, when the gas flow rate increases, a stable discharge cannot be obtained unless the current value is increased. Since the bombard device 30 of the present invention has a so-called multiplex structure, A
The diffusion of r gas can be effectively avoided, a stable discharge can be obtained, and the control of the set bombardment current value can be simplified.

【0077】図11に、本発明のボンバード装置30の
スリット幅wと、Arガス流量〔cc/min〕との関
係を示す。この図11に示すように、スリット幅wを大
きくすれば、Arガス流量も多くする必要がある。これ
により、スリット幅wをある値にすれば、最適なArガ
ス流量も定めることができ、安定した放電の制御が簡易
化する。
FIG. 11 shows the relationship between the slit width w of the bombardment apparatus 30 of the present invention and the flow rate of Ar gas [cc / min]. As shown in FIG. 11, if the slit width w is increased, the Ar gas flow rate also needs to be increased. Thus, if the slit width w is set to a certain value, the optimal Ar gas flow rate can be determined, and stable discharge control is simplified.

【0078】[0078]

【発明の効果】本発明のボンバード装置によれば、非磁
性支持体や、蒸着テープ等の被膜形成体に対するチャー
ジ量を、広範囲に、簡易かつ精密に調整することが可能
になる。これにより、真空蒸着装置や、CVD、スパッ
タ等、種々の巻き取り式真空薄膜形成装置に共通した課
題である被膜形成体の熱負けによるムラや、シワの発生
のような、冷却キャンと被膜形成体との密着性に起因す
る形状不良を効果的に防止することができた。
According to the bombardment apparatus of the present invention, it is possible to easily and precisely adjust the charge amount for a non-magnetic support or a film forming body such as a vapor deposition tape. As a result, cooling can and film formation such as unevenness due to heat loss of the film formed body and generation of wrinkles, which are problems common to various winding type vacuum thin film forming apparatuses such as a vacuum evaporation apparatus, CVD, sputtering, etc. Shape defects due to adhesion to the body could be effectively prevented.

【0079】また、本発明のボンバード装置は、マグネ
ット電極と、被膜形成体との距離を遠近自在に調整する
ことができるので、被膜形成体への放電の影響を、簡易
かつ精密に制御することができた。
Further, the bombardment device of the present invention can adjust the distance between the magnet electrode and the film-forming body in a distance, so that the influence of the discharge on the film-forming body can be controlled simply and precisely. Was completed.

【0080】本発明のボンバード装置においては、電極
カバー31と外装カバー32を有する2重構造としたた
め、ボンバードガスの拡散を効果的に回避することがで
きた、これにより、異常放電を効果的に回避でき、従来
構造のボンバード装置と比較して少量のボンバードガス
で、高いボンバード効果を得ることができるようになっ
た。
In the bombarding apparatus of the present invention, the double structure having the electrode cover 31 and the exterior cover 32 can effectively prevent the bombard gas from diffusing, thereby effectively preventing abnormal discharge. Thus, a high bombard effect can be obtained with a small amount of bombard gas as compared with a conventional bombard device.

【0081】また、本発明のボンバード装置において
は、被膜形成体、例えば非磁性支持体を走行させる走行
つばを設け、かつ、この幅dあるいは上下の開口間隔
h、またはこれらの双方を、数値的に特定したことによ
り、被膜形成体の安定した走行性を保持しつつ、装置内
部のガスの洩れを効果的に回避でき、安定した放電を得
ることができ、磁気テープの品質の向上を図ることがで
きた。
Further, in the bombarding apparatus of the present invention, a running brim for running a film-forming body, for example, a non-magnetic support, is provided, and the width d, the upper and lower opening intervals h, or both of them are numerically determined. By maintaining the stable running property of the film forming body, it is possible to effectively avoid gas leakage inside the device, obtain a stable discharge, and improve the quality of the magnetic tape. Was completed.

【0082】また、本発明のボンバード装置は、電極カ
バー31の、被膜形成体13との対向面側に、スリット
37を設け、このスリット37の開口幅を広狭自在に調
整することができる構成としたため、被膜形成体13に
対する放電の影響を、簡易にかつ精密に制御することが
可能となった。
Further, the bombardment apparatus of the present invention has a configuration in which a slit 37 is provided on the side of the electrode cover 31 facing the film forming body 13, and the opening width of the slit 37 can be adjusted to be wide and narrow. As a result, the influence of the discharge on the film forming body 13 can be easily and precisely controlled.

【0083】本発明のボンバード装置によれば、被膜形
成体13に対する放電の影響の微調整を簡易に行うこと
ができるようになったので、従来問題とされていた被膜
形成体の膜形成時における熱負けのムラや、シワの発生
を効果的に回避することができるようになり、製品の歩
留りを約27%程度向上させ、生産性の向上を図ること
ができた。
According to the bombarding apparatus of the present invention, the fine adjustment of the influence of the discharge on the film forming body 13 can be easily performed. Irregularities due to heat loss and generation of wrinkles can be effectively avoided, the product yield can be improved by about 27%, and the productivity can be improved.

【0084】[0084]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】蒸着装置の概略構成図を示す。FIG. 1 shows a schematic configuration diagram of a vapor deposition apparatus.

【図2】本発明のボンバード装置の一例の概略構成図を
示す。
FIG. 2 shows a schematic configuration diagram of an example of a bombardment device of the present invention.

【図3】本発明のボンバード装置の一例の概略平面図を
示す。
FIG. 3 shows a schematic plan view of an example of a bombardment device of the present invention.

【図4】本発明のボンバード装置の他の一例の概略構成
図を示す。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of another example of the bombardment device of the present invention.

【図5】CVD装置の概略構成図を示す。FIG. 5 shows a schematic configuration diagram of a CVD apparatus.

【図6】電極カバーのスリット幅wとシワ不良率との関
係図を示す。
FIG. 6 shows a relationship diagram between a slit width w of the electrode cover and a wrinkle defect rate.

【図7】マグネット電極とテープ間距離と、シワ不良率
との関係図を示す。
FIG. 7 is a diagram showing a relationship between a distance between a magnet electrode and a tape and a wrinkle defect rate.

【図8】走行つばの幅dと、アーク発生数との関係図を
示す。
FIG. 8 is a diagram showing the relationship between the width d of the running brim and the number of arcs generated.

【図9】ボンバード電流とシワ発生率との関係図を示
す。
FIG. 9 shows a relationship diagram between a bombardment current and a wrinkle generation rate.

【図10】Arガス流量とボンバード電流との関係図を
示す。
FIG. 10 shows a relationship diagram between the Ar gas flow rate and the bombardment current.

【図11】スリット幅Wと最適Arガス流量との関係図
を示す。
FIG. 11 shows a relationship diagram between a slit width W and an optimum Ar gas flow rate.

【図12】従来の蒸着装置の一例の概略構成図を示す。FIG. 12 shows a schematic configuration diagram of an example of a conventional vapor deposition apparatus.

【図13】長尺状の非磁性支持体の概略図を示す。FIG. 13 shows a schematic view of a long non-magnetic support.

【図14】従来における蒸着装置の要部の概略斜視図を
示す。
FIG. 14 is a schematic perspective view of a main part of a conventional vapor deposition apparatus.

【図15】従来における蒸着装置の要部の概略斜視図を
示す。
FIG. 15 is a schematic perspective view of a main part of a conventional vapor deposition apparatus.

【図16】従来のボンバード装置の一例の概略構成図を
示す。
FIG. 16 shows a schematic configuration diagram of an example of a conventional bombard device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 蒸着装置、12 蒸着室、13 非磁性支持体、
14 供給ロール、15巻き取りロール、16 冷却キ
ャン、17 蒸着源、18 ルツボ、19 金属磁性材
料、20 電子銃、21 電子線、22 酸素ガス導入
管、24 ガイドロール、30 ボンバード装置、31
電極カバー、32 外装カバー、33,34 走行つ
ば,33a,34a 走行孔、35 ガス供給管、36
マグネット電極、37 スリット、40 電源、41
第1のマグネット電極、42第2のマグネット電極、
50 排気系、 51 被膜形成体、52 ガイドロー
ル、53 送りロール、54 巻き取りロール、55
反応管、56 電極、57 電源、58 放電ガス導入
口、59 対向電極、61 真空室、111 蒸着装
置、112 蒸着室、113 非磁性支持体、114
供給ロール、115巻き取りロール、116 冷却キャ
ン、117 蒸着源、118 ルツボ、119 金属磁
性材料、120 電子銃、121 電子線、122 酸
素ガス導入管、123 ボンバード装置、213 磁気
テープ、232 外装カバー、233 走行孔、234
走行孔、235 ガス供給管、236 マグネット電
11 evaporation apparatus, 12 evaporation chamber, 13 non-magnetic support,
Reference Signs List 14 supply roll, 15 take-up roll, 16 cooling can, 17 evaporation source, 18 crucible, 19 metal magnetic material, 20 electron gun, 21 electron beam, 22 oxygen gas introduction tube, 24 guide roll, 30 bombard device, 31
Electrode cover, 32 Exterior cover, 33, 34 Running collar, 33a, 34a Running hole, 35 Gas supply pipe, 36
Magnet electrode, 37 slit, 40 power supply, 41
A first magnet electrode, 42 a second magnet electrode,
Reference Signs List 50 exhaust system, 51 film forming body, 52 guide roll, 53 feed roll, 54 take-up roll, 55
Reaction tube, 56 electrodes, 57 power supply, 58 discharge gas inlet, 59 counter electrode, 61 vacuum chamber, 111 vapor deposition device, 112 vapor deposition chamber, 113 non-magnetic support, 114
Supply roll, 115 take-up roll, 116 cooling can, 117 evaporation source, 118 crucible, 119 metal magnetic material, 120 electron gun, 121 electron beam, 122 oxygen gas inlet tube, 123 bombard device, 213 magnetic tape, 232 exterior cover, 233 running hole, 234
Running hole, 235 gas supply pipe, 236 magnet electrode

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被膜形成体を移行させた状態で、該被膜
形成体に対してボンバード処理を行うボンバード装置で
あって、 電極カバーと、該電極カバーを外部から覆い、該電極カ
バーとの間に空間を有する外装カバーとを有し、 該外装カバーには、上記被膜形成体を上記外装カバー内
を貫通させ、走行させるための一対の走行孔の周囲に走
行つばが形成されて成り、 上記電極カバーと、上記外装カバーの双方とを連通し
て、上記電極カバー内に、ボンバードガスを供給するた
めのガス供給管を有し、 上記電極カバー内には、マグネット電極が配置され、該
マグネット電極と、上記電極カバーとの間の空間に、放
電領域が形成されてなり、 上記電極カバーの、上記ガス供給管と対向する位置に
は、開口幅を変化することができるスリットが形成され
てなり、 該スリットを介して、上記対の走行孔間を走行する上記
被膜形成体をボンバード処理するようになされているこ
とを特徴とするボンバード装置。
1. A bombarding apparatus for performing a bombarding process on a film-formed body in a state where the film-formed body has been transferred, comprising: an electrode cover; An outer cover having a space therein, wherein the outer cover has a running brim formed around a pair of running holes for allowing the film forming body to pass through the outer cover and run. An electrode cover communicates with both of the exterior cover, and has a gas supply pipe for supplying a bombard gas in the electrode cover. In the electrode cover, a magnet electrode is disposed, A discharge region is formed in a space between the electrode and the electrode cover, and a slit capable of changing an opening width is formed at a position of the electrode cover facing the gas supply pipe. Is to become, through the slit, bombardment apparatus characterized by being adapted to bombardment treatment to the film forming body which travels between the running hole of the pair.
【請求項2】 上記マグネット電極は、上記被膜形成体
との間の距離を遠近調整が可能となされていることを特
徴とする請求項1に記載のボンバード装置。
2. The bombardment apparatus according to claim 1, wherein a distance between the magnet electrode and the film forming body can be adjusted.
【請求項3】 上記マグネット電極の磁場は、1500
〜3500ガウスであることを特徴とする請求項1に記
載のボンバード装置。
3. The magnetic field of the magnet electrode is 1500
The bombard apparatus according to claim 1, wherein the pressure is from 3 to 3500 Gauss.
【請求項4】 上記マグネット電極が、2本以上配置さ
れてなることを特徴とする請求項1に記載のボンバード
装置。
4. The bombard apparatus according to claim 1, wherein two or more magnet electrodes are arranged.
【請求項5】 上記走行つばの幅が10〜30mmであ
ることを特徴とする請求項1に記載のボンバード装置。
5. The bombard apparatus according to claim 1, wherein the width of the traveling collar is 10 to 30 mm.
【請求項6】 上記走行つばの上下の開口間隔を2〜5
mmとなされていることを特徴とする請求項1に記載の
ボンバード装置。
6. An interval between upper and lower openings of the traveling collar is 2 to 5.
The bombard apparatus according to claim 1, wherein the diameter is set to mm.
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