JP2001084793A - Physical coordinate transformation system of physical address of memory cell, coordinate transformation method and recording medium storing coordinate transformation program - Google Patents

Physical coordinate transformation system of physical address of memory cell, coordinate transformation method and recording medium storing coordinate transformation program

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JP2001084793A
JP2001084793A JP26449999A JP26449999A JP2001084793A JP 2001084793 A JP2001084793 A JP 2001084793A JP 26449999 A JP26449999 A JP 26449999A JP 26449999 A JP26449999 A JP 26449999A JP 2001084793 A JP2001084793 A JP 2001084793A
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JP
Japan
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pattern
origin
grouping
physical
basic
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JP26449999A
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Japanese (ja)
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Hiroyuki Morinaga
裕之 森永
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Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for preparing a transformation table for transforming fail bit map data in the test process of a semiconductor memory into physical coordinates using design data. SOLUTION: The method for forming a conversion table comprises a step (S107) for defining an placement pattern of memory cells being repeated a plurality of times as a basic pattern, a step (S107) for associating the local physical address of the memory cell with physical coordinates, a step (S109) for grouping the memory cells based on a basic pattern, and a step (S111) for associating the physical address at the origin of a basic pattern referring to the origin of all memory cells with physical coordinates.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体メモリのテ
スト工程で得られるフェイルビットマップ(FailBit Ma
p 以下、FBMとする。)の物理アドレスと欠陥検査工
程より得られる欠陥データの物理座標との座標変換を行
うシステム、方法、その制御プログラムを記録したコン
ピュータ読みとり可能な記録媒体に関するものである。
The present invention relates to a fail bit map (Fail Bit Map) obtained in a test process of a semiconductor memory.
Hereafter, it is referred to as FBM. The present invention relates to a system and method for performing coordinate conversion between a physical address and physical coordinates of defect data obtained in a defect inspection step, and a computer-readable recording medium storing a control program thereof.

【0002】なお、物理アドレスとはフェイルビットマ
ップとして表示する際に用いられる2次元のアドレス体
系のことであり、例えばDRAM(dynamic random acc
essmemory)の場合、ワードラインを縦、ビットライン
を横、もしくはその逆に設定するような座標系である。
[0002] The physical address is a two-dimensional address system used when displaying as a fail bit map, and is, for example, a DRAM (dynamic random accumulator).
In the case of essmemory, the coordinate system is such that the word lines are set vertically and the bit lines are set horizontally or vice versa.

【0003】また、物理座標とは各メモリセルの絶対的
な位置関係を示すものであり、例えば物理座標を直交す
るX軸方向とY軸方向の2方向成分により表現する場
合、X軸方向成分が大きいほどX軸に沿って原点から遠
くにあり、同様に、Y軸方向成分が大きいほどY軸に沿
って原点から遠くにある。また、X軸方向成分が2倍に
なればX軸方向の距離も2倍になる。さらに、X軸方向
成分が同一であればX軸方向の距離も同一である。Y軸
方向についても同様である。
The physical coordinates indicate the absolute positional relationship of each memory cell. For example, when the physical coordinates are expressed by two orthogonal X-axis and Y-axis components, the X-axis component The larger the value is, the farther from the origin along the X-axis, and similarly, the larger the component in the Y-axis direction, the farther from the origin along the Y-axis. Further, if the component in the X-axis direction doubles, the distance in the X-axis direction also doubles. Furthermore, if the components in the X-axis direction are the same, the distance in the X-axis direction is also the same. The same applies to the Y-axis direction.

【0004】[0004]

【従来の技術】半導体メモリの製造過程の欠陥検査工程
で得られる欠陥データと、テスト工程で得られる電気的
な不良を示すFBMデータの座標比較を行い、不良とな
る欠陥を特定することは欠陥原因の不良を特定する上で
非常に重要である。欠陥検査工程では、欠陥座標やその
大きさ等を検出する。一般的にその座標系はウェハーの
中心を原点とする物理座標系である。
2. Description of the Related Art Defect data obtained in a defect inspection process in the manufacturing process of a semiconductor memory is compared with FBM data indicating an electrical defect obtained in a test process, and identifying a defective defect is a defect. This is very important in identifying the cause of the failure. In the defect inspection process, the defect coordinates and the size thereof are detected. Generally, the coordinate system is a physical coordinate system whose origin is at the center of the wafer.

【0005】FBMと欠陥データの座標比較を行う場
合、FBMの座標系と欠陥データの座標系を同一にしな
ければならない。通常、FBMで用いられている物理ア
ドレス表記から欠陥の座標である物理座標系に変換す
る。
When comparing the coordinates of the FBM and the defect data, the coordinate system of the FBM and the coordinate system of the defect data must be the same. Usually, the physical address notation used in the FBM is converted into a physical coordinate system which is the coordinates of a defect.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来は、この変換する
機構を、人間が作成した数式により実現していた。その
ため、数式が非常に複雑になり、作成に時間がかかる、
人為的なミスが発生しやすいという問題点があった。
Conventionally, the conversion mechanism has been realized by a mathematical formula created by a human. This makes formulas very complex and time-consuming to create,
There was a problem that human error easily occurred.

【0007】また、製品のメモリセル構造を熟知し、数
式を作成するスキルを必要としたため、数式を作成する
ことができる人が限定されるという問題点があった。
[0007] Further, there is a problem that a person who is familiar with a memory cell structure of a product and has a skill of creating a mathematical formula is limited in the number of people who can formulate a mathematical formula.

【0008】さらに、数式に誤りがあった場合、誤りが
無くなるまで修正・検証を繰り返す必要がある。数式の
検証作業には時間がかかるため、作成時間が更に長くな
るという問題点もあった。
Further, when there is an error in the mathematical expression, it is necessary to repeat correction and verification until the error disappears. Since it takes time to verify the mathematical expression, there is a problem that the creation time is further increased.

【0009】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、FBMの座標系と欠陥データの座標
系との変換を容易にするためのシステム、方法、及びそ
の制御プログラムを記録したコンピュータ読みとり可能
な記録媒体を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and has recorded therein a system and method for facilitating conversion between a coordinate system of FBM and a coordinate system of defect data, and a control program therefor. It is an object of the present invention to provide a computer-readable recording medium.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、メモ
リセルの物理アドレスを物理座標へ変換するシステムで
あって、メモリセルの配置パターンであって複数回繰り
返されるパターンを基本パターンとして定義する基本パ
ターン定義部と、基本パターンに基づいてメモリセルを
グルーピングするメモリセルグルーピング部と、全メモ
リセルの原点を基準として基本パターンの原点の物理ア
ドレス及び物理座標を管理し、かつ基本パターンの原点
を基準として基本パターン内メモリセルのローカルな物
理アドレス及び物理座標を管理するアドレス座標管理部
と、を有することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a system for converting a physical address of a memory cell into physical coordinates, wherein a pattern which is a plurality of times and is arranged as a memory cell is defined as a basic pattern. A basic pattern definition unit, a memory cell grouping unit for grouping memory cells based on the basic pattern, and a physical address and physical coordinates of the origin of the basic pattern with reference to the origin of all memory cells, and an origin of the basic pattern. And an address coordinate management unit for managing local physical addresses and physical coordinates of the memory cells in the basic pattern on the basis of

【0011】請求項2の発明は、さらに、基本パターン
の配置パターンであって複数回繰り返されるパターンを
まとめ上げパターンとして定義するまとめ上げパターン
定義部と、まとめ上げパターンに基づいて基本パターン
をグルーピングする基本パターングルーピング部と、を
含み、まとめ上げパターン定義部は、さらに、まとめ上
げパターンの配置パターンであって複数回繰り返される
パターンを新たなまとめ上げパターンとして定義し、新
たなまとめ上げパターンの作成が不可能になるまで繰り
返し、最終的に得られたまとめ上げパターンをn番目
(nは自然数)のまとめ上げパターンと定義する機能を
有し、アドレス座標管理部は、さらに、全メモリセルの
原点を基準として求められたn番目のまとめ上げパター
ンの原点の物理アドレス及び物理座標を管理し、n番目
のまとめ上げパターンの原点を基準とする(n−1)番
目のまとめ上げパターンの原点の物理アドレス及び物理
座標を管理し、n番目のまとめ上げパターンの原点と
(n−1)番目のまとめ上げパターンの原点との関連づ
けを(n−1)番目のまとめ上げパターンが基本パター
ンとなるまで繰り返すことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is further provided a grouping pattern defining section for defining a pattern, which is an arrangement pattern of a basic pattern, which is repeated a plurality of times, as a grouping pattern, and grouping the basic patterns based on the grouping pattern. And a basic pattern grouping unit.The grouping pattern definition unit further defines a pattern that is an arrangement pattern of the grouping pattern and that is repeated a plurality of times as a new grouping pattern, and creates a new grouping pattern. It has a function of defining the finally obtained grouping pattern as an n-th (n is a natural number) grouping pattern by repeating until it becomes impossible. The address coordinate management unit further sets the origin of all the memory cells. Physical address of the origin of the n-th combined pattern found as a reference And the physical coordinates of the origin of the (n-1) th combined pattern with reference to the origin of the nth combined pattern, and the origin of the nth combined pattern. And the association with the origin of the (n-1) th combined pattern is repeated until the (n-1) th combined pattern becomes the basic pattern.

【0012】請求項3の発明は、メモリセルの物理アド
レスを物理座標へ変換する方法であって、メモリセルの
配置パターンであって複数回繰り返されるパターンを基
本パターンとして定義するステップと、メモリセルのロ
ーカルな物理アドレスと物理座標とを関連づけるステッ
プと、基本パターンに基づいてメモリセルをグルーピン
グするステップと、全メモリセルの原点を基準とする基
本パターンの原点の物理アドレスと物理座標とを関連づ
けるステップと、を含むことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method of converting a physical address of a memory cell into a physical coordinate, wherein a step of defining a layout pattern of the memory cell, which is repeated a plurality of times, as a basic pattern, Associating local physical addresses and physical coordinates with each other; grouping memory cells based on the basic pattern; and associating physical addresses and physical coordinates of the origin of the basic pattern with reference to the origin of all memory cells. And characterized in that:

【0013】請求項4の発明は、さらに、基本パターン
の配置パターンであって複数回繰り返されるパターンを
まとめ上げパターンとして定義するステップと、まとめ
上げパターンに基づいて基本パターンをグルーピングす
るステップと、まとめ上げパターンの配置パターンであ
って複数回繰り返されるパターンを新たなまとめ上げパ
ターンとして定義するステップと、を含み、さらに、各
ステップを新たなまとめ上げパターンの作成が不可能に
なるまで繰り返し、最終的に得られたまとめ上げパター
ンをn番目(nは自然数)のまとめ上げパターンとし、
全メモリセルの原点を基準とするn番目のまとめ上げパ
ターンの原点の物理アドレスと物理座標とを関連づける
ステップと、n番目のまとめ上げパターンの原点を基準
とする(n−1)番目のまとめ上げパターンの原点の物
理アドレス及び物理座標とを関連づけるステップと、を
含み、さらに、n番目のまとめ上げパターンの原点と
(n−1)番目のまとめ上げパターンの原点とを関連づ
ける前記ステップを(n−1)番目のまとめ上げパター
ンが基本パターンとなるまで繰り返すことを特徴とす
る。
According to a fourth aspect of the present invention, there is further provided a step of defining an arrangement pattern of a basic pattern which is repeated a plurality of times as a grouped pattern, a step of grouping the basic patterns based on the grouped pattern, Defining a pattern that is an arrangement pattern of the raising pattern and that is repeated a plurality of times as a new grouping pattern, further repeating each step until it becomes impossible to create a new grouping pattern. Is the nth (n is a natural number) grouping pattern,
Associating the physical address and the physical coordinates of the origin of the n-th combined pattern with reference to the origin of all memory cells, and the (n-1) -th combined with reference to the origin of the n-th combined pattern Associating the physical address and the physical coordinates of the origin of the pattern with the origin of the nth combined pattern and the origin of the (n-1) th combined pattern. 1) It is characterized in that it is repeated until the first grouping pattern becomes the basic pattern.

【0014】請求項5の発明は、メモリセルの配置パタ
ーンであって複数回繰り返されるパターンを基本パター
ンとして定義するステップと、メモリセルのローカルな
物理アドレスと物理座標とを関連づけるステップと、基
本パターンに基づいてメモリセルをグルーピングするス
テップと、全メモリセルの原点を基準として基本パター
ンの原点の物理アドレスと物理座標とを関連づけるステ
ップと、を含み、これらの処理をコンピュータに実行さ
せることを特徴とする座標変換プログラムを格納したコ
ンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a memory system comprising: a step of defining a memory cell layout pattern which is repeated a plurality of times as a basic pattern; a step of associating a local physical address of the memory cell with physical coordinates; Grouping the memory cells based on, and associating the physical address and the physical coordinates of the origin of the basic pattern with reference to the origin of all memory cells, and causing a computer to execute these processes. A computer-readable recording medium storing a coordinate conversion program to be executed.

【0015】請求項6の発明は、さらに、基本パターン
の配置パターンであって複数回繰り返されるパターンを
まとめ上げパターンとして定義するステップと、まとめ
上げパターンに基づいて基本パターンをグルーピングす
るステップと、まとめ上げパターンの配置パターンであ
って複数回繰り返されるパターンを新たなまとめ上げパ
ターンとして定義するステップと、を含み、さらに、各
ステップを新たなまとめ上げパターンの作成が不可能に
なるまで繰り返し、最終的に得られたまとめ上げパター
ンをn番目(nは自然数)のまとめ上げパターンとし、
全メモリセルの原点を基準として求められたn番目のま
とめ上げパターンの原点の物理アドレスと物理座標とを
関連づけるステップと、n番目のまとめ上げパターンの
原点を基準とする(n−1)番目のまとめ上げパターン
の原点の物理アドレスと物理座標とを関連づけるステッ
プと、を含み、さらに、n番目のまとめ上げパターンの
原点と(n−1)番目のまとめ上げパターンの原点とを
関連づける前記ステップを(n−1)番目のまとめ上げ
パターンが基本パターンとなるまで繰り返すという、こ
れらの処理をコンピュータに実行させることを特徴とす
る座標変換プログラムを格納したコンピュータ読み取り
可能な記録媒体である。
According to a sixth aspect of the present invention, there is further provided a step of defining a pattern which is a layout pattern of a basic pattern and repeated a plurality of times as a grouping pattern, a step of grouping the basic patterns based on the grouping pattern, Defining a pattern that is an arrangement pattern of the raising pattern and that is repeated a plurality of times as a new grouping pattern, further repeating each step until it becomes impossible to create a new grouping pattern. Is the nth (n is a natural number) grouping pattern,
Associating the physical address and the physical coordinate of the origin of the n-th combined pattern obtained with reference to the origin of all the memory cells, and the (n-1) -th reference based on the origin of the n-th combined pattern Associating the physical address of the origin of the grouping pattern with the physical coordinates, and further comprising the step of associating the origin of the n-th grouping pattern with the origin of the (n-1) th grouping pattern. This is a computer-readable recording medium storing a coordinate conversion program characterized by causing a computer to execute these processes of repeating until the (n-1) -th combined pattern becomes a basic pattern.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を用いて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0017】図1は、本発明の第1の実施形態にかかる
システム構成を示す。欠陥検査装置101によって検出
された欠陥情報(欠陥の座標、サイズ等)は、欠陥デー
タベース102に蓄えられる。さらに欠陥データベース
102に蓄えられている欠陥情報を用いて欠陥分類装置
103で欠陥分類を行い、分類の結果を欠陥データベー
ス102の欠陥情報に追加する。テスタ104によって
測定されたFBMはFBMデータベース105に蓄えら
れ、FBM分類システム106により分類され、その結
果がFBMデータベース105に蓄えられる。座標比較
システム107では、欠陥データ及びFBM分類データ
をデータベース102、105より収集し、品種毎に設
定された構成情報、座標情報を元にFBM分類結果デー
タの物理座標への変換、同一ウェハの欠陥情報と座標比
較を行い、結果を座標比較データベース108に登録す
る。
FIG. 1 shows a system configuration according to a first embodiment of the present invention. Defect information (defect coordinates, size, etc.) detected by the defect inspection apparatus 101 is stored in the defect database 102. Further, defect classification is performed by the defect classification device 103 using the defect information stored in the defect database 102, and the result of the classification is added to the defect information in the defect database 102. The FBM measured by the tester 104 is stored in the FBM database 105, classified by the FBM classification system 106, and the result is stored in the FBM database 105. The coordinate comparison system 107 collects defect data and FBM classification data from the databases 102 and 105, converts FBM classification result data into physical coordinates based on configuration information and coordinate information set for each product type, The coordinates are compared with the information, and the result is registered in the coordinates comparison database 108.

【0018】テスター104によって測定されたFBM
は、FBM分類システム106によってモード分類され
る。図2は、FBMのモード分類の例を示す。直線状の
ビットの集合からなるFBM201は、カラム不良のF
BM202として分類され、始点203及び終点204
のアドレスと、カラム不良を示すモード番号がデータベ
ースに格納される。また、矩形状のビットの集合からな
るFBM205は、ブロック不良のFBM206として
分類され、始点207及び終点208のアドレスと、ブ
ロック不良を示すモード番号がデータベースに格納され
る。
FBM measured by tester 104
Are mode classified by the FBM classification system 106. FIG. 2 shows an example of FBM mode classification. The FBM 201 composed of a set of linear bits has a column failure FBM.
Classified as BM 202, starting point 203 and ending point 204
And a mode number indicating a column failure are stored in the database. The FBM 205 composed of a set of rectangular bits is classified as a block failure FBM 206, and the addresses of the start point 207 and the end point 208 and the mode number indicating the block failure are stored in the database.

【0019】図3に示すように、FBMの物理アドレス
は(x,y)で表す。チップ301内にビット302が
X方向、Y方向ともに規則正しく並んでいる。以下の図
中において、(x,y)形式の数値はFBMの物理アド
レス(x,y)を表す。
As shown in FIG. 3, the physical address of the FBM is represented by (x, y). Bits 302 are regularly arranged in a chip 301 in both the X and Y directions. In the following figures, numerical values in the (x, y) format represent physical addresses (x, y) of the FBM.

【0020】図4は、FBMアドレスと物理座標の関係
を示す。図中の○は個々のメモリセルを表している。図
4の401及び402は、基本パターン405がそれぞ
れX方向に2個、Y方向に4個配置され、403及び4
04は、基本パターン406がそれぞれX方向に2個、
Y方向に4個配置されている。
FIG. 4 shows the relationship between the FBM address and the physical coordinates. In the figure, 図 represents individual memory cells. Reference numerals 401 and 402 in FIG. 4 each include two basic patterns 405 arranged in the X direction and four basic patterns 405 in the Y direction.
04 is two basic patterns 406 each in the X direction,
Four are arranged in the Y direction.

【0021】FBMのアドレスは、座標比較システム1
07で欠陥データの座標系である物理座標系に変換され
る。変換は座標変換テーブルを用いる。座標変換テーブ
ルは、変換テーブル作成システム110によって作成さ
れる。作成方法は次のような手順で行われる。
The address of the FBM is stored in the coordinate comparison system 1.
At 07, the data is converted into a physical coordinate system which is a coordinate system of the defect data. The conversion uses a coordinate conversion table. The coordinate conversion table is created by the conversion table creation system 110. The creation method is performed in the following procedure.

【0022】まず、変換テーブル作成システム110が
設計データ109を読み込む。設計データ109は、ト
レンチなどFBMのビットと一対一対応しているオブジ
ェクトを含んでいる工程のものを使用する。以下、FB
Mのビットと一対一対応しているオブジェクトをセルと
呼ぶ。また、ここでは座標変換の対象を本体セルアレイ
と仮定する。
First, the conversion table creation system 110 reads the design data 109. As the design data 109, data of a process including an object such as a trench that has one-to-one correspondence with an FBM bit is used. Hereinafter, FB
An object that has a one-to-one correspondence with M bits is called a cell. Here, it is assumed that the object of coordinate conversion is a main body cell array.

【0023】例えば、トレンチ工程の設計データには、
本体セルアレイのトレンチ以外に、図5のような位置あ
わせ501〜504やリダンダンシ回路505、周辺回
路506、周辺回路内のセル507〜509が存在す
る。そこで、設計データに基づいて端末111の画面に
本体セルアレイ、位置あわせ、リダンダンシ回路、周辺
回路を表示し、その中からマウス等を用いて人間が本体
セルアレイ領域を選択する。選択されたデータのみを抽
出し、変換テーブル作成システム110に保存する。ま
た端末111から、設計データの座標スケールと物理座
標のスケールの比率を入力し、変換テーブル作成システ
ム110に保存する。これにより設計データ上の任意点
間の物理相対座標を取得できる。設計データに描かれて
いるセルは、縦横それぞれ幅を持つ。そのため、セルの
重心をセルの代表点とし、これをセルの座標とする。
For example, the design data of the trench process includes:
In addition to the trenches of the main body cell array, there are alignments 501 to 504, a redundancy circuit 505, a peripheral circuit 506, and cells 507 to 509 in the peripheral circuit as shown in FIG. Therefore, based on the design data, the main body cell array, the alignment, the redundancy circuit, and the peripheral circuits are displayed on the screen of the terminal 111, and a human selects a main body cell array area from among them by using a mouse or the like. Only the selected data is extracted and stored in the conversion table creation system 110. Further, the ratio of the coordinate scale of the design data to the scale of the physical coordinates is input from the terminal 111 and stored in the conversion table creation system 110. Thereby, physical relative coordinates between arbitrary points on the design data can be obtained. The cells drawn in the design data have respective widths in the vertical and horizontal directions. Therefore, the center of gravity of the cell is used as the representative point of the cell, and this is used as the coordinates of the cell.

【0024】次に、セルの基本パターンを定義する。F
BMのアドレスとセルの物理的位置の関係は図4のよう
なX軸及びY軸を設定した場合、物理的位置は、Xアド
レスの値が大きくなるほど右に、Yアドレスの値が大き
くなるほど下になる。しかし、製品によっては図4に示
す基本パターン405及び406のように、Xアドレス
が同一のセルでもX方向の物理的位置が異なる場合があ
る。つまり、Xアドレスが同一のセルが全て同一直線上
に並んでいるとは限らない。そのため、セルの物理的位
置から物理アドレスを特定することができない。
Next, a basic pattern of a cell is defined. F
When the X-axis and the Y-axis are set as shown in FIG. 4, the relationship between the BM address and the physical position of the cell is as follows. become. However, depending on the product, as in the basic patterns 405 and 406 shown in FIG. 4, even in the case of cells having the same X address, the physical position in the X direction may be different. That is, the cells having the same X address are not always arranged on the same straight line. Therefore, the physical address cannot be specified from the physical position of the cell.

【0025】そこで、Xアドレスを固定して、Yアドレ
スのみをインクリメントした時発生する、セルの物理的
配置の繰り返しパターンを指定する。この繰り返しパタ
ーンを基本パターンと呼ぶ。図6の例において、基本パ
ターンに相当する部分は網掛け部分405及び406の
2つとなる。
Therefore, a repetition pattern of the physical arrangement of cells, which is generated when the X address is fixed and only the Y address is incremented, is designated. This repeated pattern is called a basic pattern. In the example of FIG. 6, two portions corresponding to the basic pattern are shaded portions 405 and 406.

【0026】変換テーブル作成システム110に保存し
た本体セルアレイの設計データを読み込み、本体セルア
レイを端末111に表示し、マウス等を用いて人間が基
本パターンを選択する。その際、Yアドレスの値が小さ
い順に選択し、順番がわかるように選択する。基本パタ
ーンは複数指定することができる。
The design data of the main body cell array stored in the conversion table creation system 110 is read, the main body cell array is displayed on the terminal 111, and a human selects a basic pattern using a mouse or the like. At this time, the values are selected in ascending order of the value of the Y address so that the order can be understood. A plurality of basic patterns can be specified.

【0027】基本パターンが定義されると、図7に示す
ように、それぞれに識別名がつけられる。例えば、基本
パターン405の識別名をP0とし、基本パターン40
6の識別名をP1とする。また、基本パターンのローカ
ルな物理アドレスと基本パターン内に存在するセルの物
理的な位置関係を設計データより算出し、図8に示す。
テーブル801は識別名P0に対応し、テーブル802
は識別名P1に対応する。算出された情報は座標比較シ
ステム107に保存される。ここで、基本パターンのロ
ーカルな物理アドレスとは、基本パターン内でYアドレ
スが最小のセル(以下、これを基本パターンの原点と呼
ぶ)を(0,0)とした各セルの相対物理アドレスを意
味し、基本パターンのローカルな物理座標とは、基本パ
ターンの原点に対する各セルの相対物理座標を意味して
いる。つまり、テーブル801及び802を参照するこ
とにより、基本パターンのローカル物理アドレスから、
基本パターンの原点からの相対物理座標を求めることが
できる。
When the basic patterns are defined, an identification name is given to each of them as shown in FIG. For example, the identifier of the basic pattern 405 is P0, and the basic pattern 40
The identifier of No. 6 is P1. FIG. 8 shows the relationship between the local physical address of the basic pattern and the physical positional relationship between cells existing in the basic pattern based on the design data.
The table 801 corresponds to the identifier P0, and the table 802
Corresponds to the identification name P1. The calculated information is stored in the coordinate comparison system 107. Here, the local physical address of the basic pattern is a relative physical address of each cell where the cell having the smallest Y address in the basic pattern (hereinafter referred to as the origin of the basic pattern) is (0, 0). Meaning, the local physical coordinates of the basic pattern means relative physical coordinates of each cell with respect to the origin of the basic pattern. That is, by referring to the tables 801 and 802, the local physical address of the basic pattern
The relative physical coordinates from the origin of the basic pattern can be obtained.

【0028】定義された基本パターンで本体セルアレイ
のグルーピングを行う。図4の本体セル401〜404
を基本パターン405、406でグルーピングを行うと
図9のようになる。グルーピングを行うと同時に、図1
0のようなテーブルを作成する。このテーブルは、各グ
ループ内でYアドレスが最小のセル(以下、グループの
原点と呼ぶ)の物理アドレス、各グループ内のセル個
数、物理アドレス(0,0)から各グループの原点まで
の相対物理座標、グルーピングに使用した基本パターン
が記述されている。このテーブルは変換テーブル作成シ
ステム110で生成され座標比較システム107に保存
される。
Grouping of the main body cell array is performed according to the defined basic pattern. Main cells 401 to 404 in FIG.
Are grouped by the basic patterns 405 and 406, as shown in FIG. Fig. 1
Create a table like 0. This table includes the physical address of the cell having the smallest Y address in each group (hereinafter referred to as the origin of the group), the number of cells in each group, and the relative physical address from the physical address (0, 0) to the origin of each group. Basic patterns used for coordinates and grouping are described. This table is generated by the conversion table creation system 110 and stored in the coordinate comparison system 107.

【0029】FBMデータと欠陥データの座標比較を行
う場合、物理アドレスから物理座標に変換する必要があ
る。これは、座標比較システム107に保存されている
図8と図10のテーブルを参照することによって可能と
なる。例えば物理アドレスが(X,Y)=(1,10)
の場合、図10を参照すると(1,8)−(1,11)
の範囲内にあるためNo.11に対応することがわか
る。すると、物理アドレス(0,0)のセルから目的の
セルを含むグループの原点までの物理座標1101は
(40,120)で、使用した基本パターンはP0とな
る。ここで、物理アドレスから目的のセルを含むグルー
プの原点の物理アドレスを減算して、そのグループの原
点から目的のセルまでのローカルな物理アドレスを求め
る。
When performing coordinate comparison between FBM data and defect data, it is necessary to convert physical addresses into physical coordinates. This is made possible by referring to the tables of FIGS. 8 and 10 stored in the coordinate comparison system 107. For example, if the physical address is (X, Y) = (1, 10)
In the case of, referring to FIG. 10, (1,8)-(1,11)
Is within the range of No. It turns out that it corresponds to 11. Then, the physical coordinates 1101 from the cell at the physical address (0, 0) to the origin of the group including the target cell are (40, 120), and the basic pattern used is P0. Here, the physical address of the origin of the group including the target cell is subtracted from the physical address to obtain a local physical address from the origin of the group to the target cell.

【0030】 物理アドレス (1,10)−)グループの原点の物理アドレス (1,8) グループ内のローカルな物理アドレス(0,2) グルーピングに使用した基本パターンはP0であるため
図8のテーブル801を参照すると、求めたローカルな
物理アドレス(0,2)に対応したローカルな物理座標
1102は(20,30)であることがわかる。そし
て、物理アドレス(0,0)のセルから目的のセルを含
むグループの原点までの物理座標1101にローカルな
物理座標1102を加算して目的セルの物理座標を算出
する。
Physical address (1,10) -) Physical address of origin of group (1,8) Local physical address (0,2) in group Since the basic pattern used for grouping is P0, the table in FIG. Referring to 801, it is found that the local physical coordinates 1102 corresponding to the obtained local physical address (0, 2) is (20, 30). Then, the local physical coordinates 1102 are added to the physical coordinates 1101 from the cell at the physical address (0,0) to the origin of the group including the target cell to calculate the physical coordinates of the target cell.

【0031】 物理アドレス(0,0)からそのグループの原点までの物理座標(40,120)+)グループのローカルな物理座標 (20,30) 物理アドレス(0,0)から目的のセルまでの物理座標 (60,150) 以上で物理座標が求まるが、これは物理アドレス=
(0,0)を原点としたときの座標のため、欠陥座標と
座標比較を行う際は、FBMの原点と欠陥座標の原点の
差異を加味する必要がある。また、ノッチ又はオリエン
テーションフラットの方向も考慮し、必要があれば回転
を行う。
Physical coordinates (40,120) from the physical address (0,0) to the origin of the group +) Local physical coordinates of the group (20,30) Physical coordinates from the physical address (0,0) to the target cell (60,150) The physical coordinates can be obtained by the above.
Since coordinates are set when (0, 0) is set as the origin, it is necessary to take the difference between the origin of the FBM and the origin of the defect coordinates into consideration when comparing the coordinates with the defect coordinates. In addition, the direction of the notch or the orientation flat is taken into consideration, and rotation is performed if necessary.

【0032】座標比較システム107において、FBM
データベースより取得したFBM分類結果と上記の手法
で変換された座標をもとに欠陥データベースより取得し
た欠陥データの座標比較を行い、その結果を座標比較結
果データベース108に登録する。登録されたデータを
使用して座標比較の結果を解析する。また、変換テーブ
ルはFBMの物理的座標に基づく表示にも使用する。
In the coordinate comparison system 107, the FBM
Based on the FBM classification result obtained from the database and the coordinates converted by the above method, the coordinates of the defect data obtained from the defect database are compared, and the result is registered in the coordinate comparison result database 108. Analyze the result of the coordinate comparison using the registered data. The conversion table is also used for display based on the physical coordinates of the FBM.

【0033】図27は、本実施形態の処理の流れを示す
フローチャートである。同図に示すように、まず設計デ
ータを読み込む(ステップS101)。設計データは、
前記の如く、トレンチなどFBMのビットと一対一対応
しているオブジェクトを含んでいる工程のものを使用す
る。次に、セルアレイ部分をGUI(graphical userin
terface)を用いて人間が選択する(ステップS10
3)。設計データには、前記の如く、トレンチ工程等の
設計データには、本体セルアレイのトレンチ以外に、位
置あわせやリダンダンシ回路、周辺回路内のセルが存在
する。そこで、設計データに基づいて端末111の画面
に表示された本体セルアレイ、位置あわせ、リダンダン
シ回路、周辺回路の中から、マウス等を用いて人間が本
体セルアレイ領域を選択する。次に、設計データと実寸
法の割合を入力する(ステップS105)。次に、GU
Iを用いてセルの基本パターンを定義する。つまり、端
末111の画面に表示されたセルアレイを見て、人間が
その基本パターンをマウス等を用いて選択する。その
際、パターン内のセルの配置と物理アドレスの関係を定
義する(ステップS107)。次に、基本パターンに基
づいて全セルをグルーピングする(ステップS10
9)。グルーピングの際、パターンの原点の物理アドレ
スと物理座標の対応や、パターン内のセル個数、グルー
ピングに使用したパターンの名前を座標変換テーブルに
記録する(ステップS111)。作成された座標変換テ
ーブルを用いて、物理アドレスを物理座標に変換する
(ステップS113)。
FIG. 27 is a flowchart showing the flow of the processing of this embodiment. As shown in the figure, first, design data is read (step S101). The design data is
As described above, a process that includes an object such as a trench, which has one-to-one correspondence with an FBM bit, is used. Next, the cell array part is replaced with a GUI (graphical userin
(Step S10)
3). As described above, in the design data of the trench process or the like, cells in the alignment, the redundancy circuit, and the peripheral circuit exist in addition to the trench of the main body cell array as described above. Therefore, a human selects a main body cell array region using a mouse or the like from the main body cell array, the alignment, the redundancy circuit, and the peripheral circuit displayed on the screen of the terminal 111 based on the design data. Next, the ratio between the design data and the actual dimensions is input (step S105). Next, GU
I is used to define the basic pattern of the cell. That is, the human looks at the cell array displayed on the screen of the terminal 111 and selects a basic pattern using a mouse or the like. At this time, the relationship between the cell arrangement in the pattern and the physical address is defined (step S107). Next, all cells are grouped based on the basic pattern (step S10).
9). At the time of grouping, the correspondence between the physical address of the origin of the pattern and the physical coordinates, the number of cells in the pattern, and the name of the pattern used for grouping are recorded in the coordinate conversion table (step S111). The physical address is converted into physical coordinates using the created coordinate conversion table (step S113).

【0034】上記の如く、本実施形態により、半導体メ
モリのテスト工程におけるFBMデータを物理座標に変
換するテーブルを、設計データを利用して作成すること
ができる。また、作成した変換テーブルを用いて、FB
Mの物理アドレスを物理座標へ変換することができる。
As described above, according to the present embodiment, a table for converting FBM data into physical coordinates in a test process of a semiconductor memory can be created using design data. Also, using the created conversion table, FB
The physical address of M can be converted into physical coordinates.

【0035】次に、第2の実施形態について説明する。
第2実施形態においては、第1実施形態に加えて、座標
変換テーブルの階層化を行う。半導体メモリは微細化技
術の進歩とともにメモリ容量が増大している。そのため
第1実施形態で求められる座標変換テーブル(図10)
が肥大化する。そこで、メモリの構成情報に基づく繰り
返し部分のまとめ上げによって座標変換テーブルの階層
化を行い、変換テーブルのサイズを小さくする。
Next, a second embodiment will be described.
In the second embodiment, in addition to the first embodiment, the coordinate conversion table is hierarchized. 2. Description of the Related Art The memory capacity of a semiconductor memory is increasing with the progress of miniaturization technology. Therefore, the coordinate conversion table obtained in the first embodiment (FIG. 10)
Becomes bloated. Therefore, the coordinate conversion table is hierarchized by grouping repetitive parts based on the configuration information of the memory, and the size of the conversion table is reduced.

【0036】第1実施形態の座標変換テーブル作成シス
テム110で作成された座標変換テーブル(図10)に
ついて、同一基本パターンが等間隔で配置されている領
域を検出する。
In the coordinate conversion table (FIG. 10) created by the coordinate conversion table creation system 110 of the first embodiment, an area where the same basic patterns are arranged at equal intervals is detected.

【0037】まず、物理アドレス(0,0)のセルを含
むグループを検索基準として、これと同一グループが等
間隔に配置されているグループを、X軸方向とY軸方向
についてそれぞれ検索する。検索結果は図12のように
なり、X軸方向2個、Y軸方向4個となる。ここで、等
間隔に配置されているグループの個数が多い方(X方向
かY方向)をまとめ上げパターンとする(図13)。X
軸Y軸ともに同じ個数が見つかった場合はX方向とす
る。これにユニークな識別名、まとめ上げる方向、その
物理的間隔、グループを構成するパターン内のセルの個
数(X方向とY方向を別々に計算)、グループを構成す
るパターンの個数、構成しているパターンを求め、まと
め上げパターン一覧(図14)に登録する。この例で
は、認識名をS00とつけている。このパターンに対応
するグループをまとめ上げる。まとめ上げの対象となっ
たグループは図10の座標変換テーブルから削除し、そ
の中で物理アドレスの値が一番小さいセルの物理アドレ
スと、まとめ上げ対象に存在するセル数(X方向、Y方
向別々に計算する)、物理座標(0,0)からまとめ上
げ対象で物理アドレスの値が一番小さいセルまでの相対
的な物理座標、まとめ上げを行うパターンを座標変換テ
ーブルに登録する(図15の1501部)。
First, using the group including the cell of the physical address (0, 0) as a search criterion, a group in which the same group is arranged at equal intervals is searched in the X-axis direction and the Y-axis direction. The search results are as shown in FIG. 12, that is, two in the X-axis direction and four in the Y-axis direction. Here, the group with the larger number of groups arranged at equal intervals (X direction or Y direction) is a collective pattern (FIG. 13). X
If the same number is found for both the Y and Y axes, the X direction is set. In addition to this, a unique identifier, a grouping direction, a physical interval thereof, the number of cells in the pattern constituting the group (the X direction and the Y direction are separately calculated), the number of patterns constituting the group, and the number of cells constituting the group. The pattern is obtained and registered in the grouping pattern list (FIG. 14). In this example, the recognition name is S00. Groups corresponding to this pattern are put together. The group to be grouped is deleted from the coordinate conversion table of FIG. 10, and the physical address of the cell having the smallest physical address value in the group and the number of cells existing in the grouping target (X direction, Y direction) (Calculated separately), relative physical coordinates from the physical coordinates (0, 0) to the cell having the smallest physical address value in the grouping target, and a pattern for grouping are registered in the coordinate conversion table (FIG. 15). 1501).

【0038】検索基準をY方向にインクリメントし、図
12と図13を用いた前記説明と同様に、同一グループ
が等間隔に配置されているグループを、X軸方向とY軸
方向についてそれぞれ検索する。ただし、まとめ上げら
れたグループ1601については対象外とする。この例
で、次の検索基準は基本パターン405となる。同じま
とめ上げパターンが図14の一覧にすでに存在する場合
は、そのパターンの新たな登録を行わず、既存のパター
ンを使用してまとめ上げを行う。同様に検索基準をY方
向にインクリメントしていき、Y軸方向の最終グループ
に到達した場合、X方向にインクリメントし、同様な検
索と登録を繰り返す。
The search criterion is incremented in the Y direction, and a group in which the same groups are arranged at equal intervals is searched in the X axis direction and the Y axis direction, respectively, as described above with reference to FIGS. . However, the group 1601 put together is excluded from the target. In this example, the next search criterion is the basic pattern 405. If the same grouping pattern already exists in the list of FIG. 14, the pattern is not newly registered, and the grouping is performed using the existing pattern. Similarly, the search criterion is incremented in the Y direction. When the search group reaches the final group in the Y axis direction, the search criterion is incremented in the X direction, and the same search and registration are repeated.

【0039】これにより、まとめ上げを構成するパター
ンの一覧は図17のように、まとめ上げられた座標変換
テーブルは図18のようになる。
As a result, a list of the patterns constituting the grouping is as shown in FIG. 17, and the grouped coordinate conversion table is as shown in FIG.

【0040】さらに、まとめ上げられた座標変換テーブ
ル図18に対し同様のまとめ上げを行い、これをまとめ
上げが不可能になるまで繰り返す。図19に、まとめ上
げの様子を示す。まず、基本パターンP0を構成要素と
し、これをY軸方向に4つ並べたものを認識番号S00
とする。次に、認識番号S00を構成要素とし、これを
X軸方向に2つ並べたものを認識番号S10とする。最
後に、認識番号S10を構成要素とし、これをY軸方向
に2つ並べたものを認識番号S20とする。
Further, the same grouping is performed on the grouped coordinate conversion table shown in FIG. 18, and this is repeated until the grouping becomes impossible. FIG. 19 shows the state of grouping. First, the basic pattern P0 is used as a component, and four of these are arranged in the Y-axis direction.
And Next, the identification number S00 is used as a constituent element, and two of these are arranged in the X-axis direction as an identification number S10. Finally, the identification number S10 is used as a component, and two of these are arranged in the Y-axis direction to be an identification number S20.

【0041】同様に、基本パターンP1を構成要素と
し、これをY軸方向に4つ並べたものを認識番号S01
とする。次に、認識番号S01を構成要素とし、これを
X軸方向に2つ並べたものを認識番号S11とする。最
後に、認識番号S11を構成要素とし、これをY軸方向
に2つ並べたものを認識番号S21とする。この結果、
最終的にまとめ上げパターン一覧は、図20のように、
座標変換テーブルは図21のようになる。
Similarly, the basic pattern P1 is used as a constituent element, and four basic patterns are arranged in the Y-axis direction.
And Next, the identification number S01 is used as a component, and two of these are arranged in the X-axis direction to be an identification number S11. Finally, the identification number S11 is used as a component, and two of these are arranged in the Y-axis direction to be an identification number S21. As a result,
Finally, the list of assembled patterns is as shown in FIG.
The coordinate conversion table is as shown in FIG.

【0042】次に、図20のまとめ上げパターン一覧と
図21の座標変換テーブルを利用して、物理アドレスか
ら物理座標への変換を説明する。
Next, conversion from a physical address to physical coordinates will be described with reference to the grouped pattern list shown in FIG. 20 and the coordinate conversion table shown in FIG.

【0043】例えば物理アドレス(X,Y)=(3,2
5)から物理座標への変換の場合、物理アドレス(3,
25)は(2,0)から(3,31)までの範囲内にあ
るため、図21中のNo.17に対応するので、S21
で構成されていることがわかる。また、物理アドレス
(0,0)のセルから目的のセル(図22に示すセル2
201)を含むグループS21の原点までの相対物理座
標2202は(160,0)であることがわかる。
For example, the physical address (X, Y) = (3, 2)
In the case of conversion from 5) to physical coordinates, the physical address (3,
No. 25) is in the range from (2, 0) to (3, 31), and thus No. 25 in FIG. 17 corresponds to step S21.
It can be seen that it is composed of Further, the cell of the physical address (0,0) is changed from the cell of the target (the cell 2 shown in FIG. 22).
It can be seen that the relative physical coordinates 2202 to the origin of the group S21 including (201) is (160, 0).

【0044】次に、S21内のローカルな物理アドレス
を求める。S21のローカルな物理アドレスとは、図2
3に示すセル2301を原点としたときのセル2302
の物理アドレスである。これは、セル2302の物理ア
ドレスから、セル2301の物理アドレスを減算する事
により求まる。
Next, a local physical address in S21 is obtained. FIG. 2 shows the local physical address in S21.
Cell 2302 when cell 2301 shown in FIG.
Physical address. This is obtained by subtracting the physical address of the cell 2301 from the physical address of the cell 2302.

【0045】 セル2302の物理アドレス (3,25)−)グループの原点2301の物理アドレス (2,0) S21グループ内のローカルな物理アドレス(2303)(1,25) グルーピングに使用した構成パターンはS21であるた
め図20のテーブルを参照すると、連なっている又はま
とめ上げている行もしくは列はY方向に2個、その物理
的間隔は300、構成パターンはS11、そのパターン
に存在しているセル数=(2,16)ということがわか
る。この情報を用いて目的のセルの含まれる下位のパタ
ーンを特定する。
Physical address of cell 2302 (3,25) -) Physical address of origin 2301 of group (2,0) Local physical address in group S21 (2303) (1,25) The configuration pattern used for grouping is Referring to the table of FIG. 20 because of S21, two rows or columns that are continuous or grouped in the Y direction, the physical interval is 300, the constituent pattern is S11, and the cells existing in the pattern It can be seen that the number = (2, 16). Using this information, a lower-level pattern including the target cell is specified.

【0046】S21を構成しているパターンは、S11
でこれは(2*16)のセルを含んでいる。Y方向には
16個のセルがあるため、Yアドレスが16個増える毎
に次のS11になることを示している。つまり、(グル
ープ内のローカルな物理アドレスのY座標/16)の商
とS11が連なっている間隔の積が、S21の原点24
01から目的のセルを含むS11の原点2402までの
相対的な物理座標2403を示している。S11の連な
りはY方向にのびているため、X方向の物理座標は変化
しない。そのため、X=0でY方向のみ相対物理座標の
計算を行う。なお、「商」とは除算を行った結果の整数
部分のこととして使用している。
The pattern constituting S21 is S11
This includes (2 * 16) cells. Since there are 16 cells in the Y direction, the next step S11 is shown every time the Y address increases by 16 cells. In other words, the product of the quotient of (Y coordinate of local physical address in the group / 16) and the interval in which S11 continues is the origin 24 of S21.
The relative physical coordinates 2403 from 01 to the origin 2402 of S11 including the target cell are shown. Since the series of S11 extends in the Y direction, the physical coordinates in the X direction do not change. Therefore, the relative physical coordinates are calculated only in the Y direction when X = 0. The "quotient" is used as the integer part of the result of the division.

【0047】S21の原点2401から目的のセル24
04を含んだS11の原点2402までの相対物理座標
2403を求めると以下のようになる。グループの連な
っている方向がY方向なので、Y方向のみ計算を行い、
Xは0とする。
From the origin 2401 of S21, the target cell 24
The relative physical coordinates 2403 up to the origin 2402 of S11 including S04 are obtained as follows. Since the direction in which the groups are connected is the Y direction, only the Y direction is calculated,
X is 0.

【0048】X=0 Y=(S21グループ内のローカルな物理アドレスY2
303/S11パターン内に存在するY方向のセル24
07の個数 )の商*物理的間隔2408=(25/1
6)の商*300=1*300=300 よって、相対物理座標2403は(0,300)とな
る。
X = 0 Y = (S21 Local physical address Y2 in the group
Cell 24 in Y direction existing in 303 / S11 pattern
07 number) quotient * physical interval 2408 = (25/1
6) The quotient * 300 = 1 * 300 = 300 Therefore, the relative physical coordinates 2403 are (0,300).

【0049】次に、S11内のローカルな物理アドレス
2405を求める。行もしくは列の連なっている方向に
ついて、(S21グループ内のローカルな物理アドレス
/S11のパターン内に存在するセルの個数)の剰余
が、S11のローカルな物理アドレス2405を示して
いる.また,行もしくは列の連なっている方向について
のみ演算を行う。この例ではY方向となっているため、 X=1 (物理アドレス2303のX成分。演算を行わ
ない。) Y=(S21グループ内のローカルな物理アドレスY
((2501)のY成分)/S11パターン内に存在す
るY方向のセルの個数2407の剰余=(25/16)
の剰余=9 よって、S11グループ内のローカルな物理アドレス2
405は(1,9)となる。
Next, a local physical address 2405 in S11 is obtained. The remainder of (the local physical address in the S21 group / the number of cells existing in the pattern of the S11) indicates the local physical address 2405 of the S11 in the direction in which the rows or columns are connected. The calculation is performed only in the direction in which the rows or columns are continuous. In this example, since the direction is the Y direction, X = 1 (X component of the physical address 2303; no calculation is performed) Y = (Local physical address Y in the S21 group)
(Y component of (2501)) / Remainder of the number of cells 2407 in the Y direction existing in the S11 pattern = (25/16)
Remainder = 9 Therefore, the local physical address 2 in the S11 group
405 becomes (1, 9).

【0050】同様にS11の原点2501から目的のセ
ル2504を含むS01の原点2502までの相対物理
座標2503は、連なっている方向がX方向であるから X=(S11グループ内のローカルな物理アドレスX
((2405)のX成分)/S01パターン内に存在するX
方向のセルの個数)の商*物理的間隔=(1/1)の商
*40=1*40=40 Y=0 よって、相対物理座標2503は(40,0)となる。
Similarly, since the relative physical coordinates 2503 from the origin 2501 of S11 to the origin 2502 of S01 including the target cell 2504 are continuous in the X direction, X = (local physical address X in the S11 group)
(X component of (2405)) / X existing in S01 pattern
The quotient of the number of cells in the direction) * the physical interval = the quotient of (1/1) * 40 = 1 * 40 = 40 Y = 0 Therefore, the relative physical coordinates 2503 are (40, 0).

【0051】S01内のローカルなアドレス2505
は、 X=(S11グループ内のローカルな物理アドレスX
((2405)のX成分/S01パターン内に存在する
X方向のセルの個数)の剰余=(1/1)の剰余=0 Y=9((2405)のY成分。演算を行わない。) よって、S01グループ内のローカルな物理アドレス2
505は(0,9)となる。
The local address 2505 in S01
X = (local physical address X in the S11 group
(Remainder of (X component of (2405) / number of cells in X direction existing in S01 pattern) = Remainder of (1/1) = 0 Y = 9 (Y component of (2405). No calculation is performed.) Therefore, the local physical address 2 in the S01 group
505 becomes (0, 9).

【0052】同様にS01の原点2601から目的のセ
ル2604を含むP1の原点2602までの相対物理座
標2603は、連なっている方向がY方向であるから X=0 Y=(S01グループ内のローカルな物理アドレスY
((2505)のY成分)/P1パターン内に存在する
Y方向のセルの個数 )の商*物理的間隔=(9/4)の
商*60=2*60=120 よって、相対物理座標2603は(0,120)とな
る。
Similarly, since the relative physical coordinates 2603 from the origin 2601 of S01 to the origin 2602 of P1 including the target cell 2604 are continuous in the Y direction, X = 0 Y = (local in the S01 group). Physical address Y
(Y component of (2505)) / (number of cells in Y direction existing in P1 pattern) quotient * physical interval = quotient of (9/4) * 60 = 2 * 60 = 120 Therefore, relative physical coordinates 2603 Becomes (0,120).

【0053】P1グループ内のローカルなアドレス26
05は X=0((2505)のX成分。演算を行わない。) Y=(S01グループ内のローカルな物理アドレスY
((2505)のY成分) /P01パターン内に存在
するY方向のセルの個数)の剰余=(9/4)の剰余=
1 よって、P1内のローカルな物理アドレス2605は
(0,1)となる。
The local address 26 in the P1 group
05 is X = 0 (X component of (2505). No calculation is performed.) Y = (Local physical address Y in S01 group
The remainder of (Y component of (2505)) / the number of cells in the Y direction existing in the P01 pattern = the remainder of (9/4) =
1 Therefore, the local physical address 2605 in P1 is (0, 1).

【0054】ここで、図8のテーブル802を参照する
と、P1の原点から目的のセルの相対物理座標は、(−
20,10)となる。
Here, referring to the table 802 in FIG. 8, the relative physical coordinates of the target cell from the origin of P1 are (−).
20, 10).

【0055】最後に、それぞれの過程で算出された相対
的物理座標を加算して、物理アドレス(0,0)のセル
から目的のセルまでの物理座標を求める。
Finally, the relative physical coordinates calculated in each process are added to determine the physical coordinates from the cell at the physical address (0, 0) to the target cell.

【0056】 よって、目的のセルの物理座標は(180,430)と
なる。以上により、簡略化された座標変換テーブルを用
いて物理アドレスを物理座標に変換することができる。
[0056] Therefore, the physical coordinates of the target cell are (180, 430). As described above, the physical address can be converted into the physical coordinates using the simplified coordinate conversion table.

【0057】図28は、本実施形態におけるまとめ上げ
の処理の流れを示すフローチャートである。同図に示す
ように、まず同一基本パターンが等間隔で配置されてい
る領域を検出する(ステップS201)。
FIG. 28 is a flowchart showing the flow of the grouping process in this embodiment. As shown in the figure, first, an area where the same basic patterns are arranged at equal intervals is detected (step S201).

【0058】次に、同一基本パターンが等間隔で配置さ
れている領域をまとめ上げパターンとして記録し、該当
領域をまとめ上げパターンで置き換える。(ステップS
203)。本実施形態においては、基本パターンP0が
Y軸方向に4個配置されている領域をまとめ上げパター
ンS00としている。
Next, an area in which the same basic pattern is arranged at equal intervals is recorded as a collective pattern, and the corresponding area is replaced with the collective pattern. (Step S
203). In the present embodiment, an area in which four basic patterns P0 are arranged in the Y-axis direction is collectively referred to as a pattern S00.

【0059】次に、まとめ上げパターンが同一間隔で配
置されている領域を新たなまとめ上げパターンとして記
録し、該当領域を新たなまとめ上げパターンで置き換え
る(ステップS205)。本実施形態においては、まと
め上げパターンS00がX軸方向に2個配置されている
領域をまとめ上げパターンS10としている。
Next, an area where the grouping patterns are arranged at the same interval is recorded as a new grouping pattern, and the corresponding area is replaced with a new grouping pattern (step S205). In the present embodiment, a region where two grouping patterns S00 are arranged in the X-axis direction is defined as a grouping pattern S10.

【0060】新たなまとめ上げが不可能になるまでステ
ップS205を繰り返す(ステップS207)。本実施
形態においては、まとめ上げパターンS10がY軸方向
に2個配置されている領域をまとめ上げパターンS20
とするまで、ステップ205を繰り返している。
Step S205 is repeated until new grouping becomes impossible (step S207). In the present embodiment, an area where two grouping patterns S10 are arranged in the Y-axis direction is defined as a grouping pattern S20.
Step 205 is repeated until.

【0061】そして、まとめ上げパターンとまとめ上げ
られた座標変換テーブルを作成し(ステップS20
9)、まとめ上げパターンとまとめ上げられた座標変換
テーブルを使用して、物理アドレスを物理座標に変換す
る(ステップS211)。
Then, a grouping pattern and a grouped coordinate conversion table are created (step S20).
9) The physical address is converted into physical coordinates using the grouping pattern and the coordinate conversion table thus grouped (step S211).

【0062】上記の如く、本実施形態により、一般的に
メモリセルは繰り返しパターンが多いという特徴を利用
して、座標変換テーブルを簡略化することができる。
As described above, according to the present embodiment, the coordinate conversion table can be simplified by taking advantage of the fact that memory cells generally have many repetitive patterns.

【0063】図29は、記録媒体に格納されたプログラ
ムを読み取り、そこに記述された手順に従って本発明を
実現するコンピュータシステムの一例を示す外観図であ
る。このコンピュータシステム80の本体前面には、磁
気ディスク装置としてのフロッピーディスクドライブ8
1、及び光ディスク装置としてのCD−ROMドライブ
82が設けられており、フロッピーディスク83、また
はCD−ROM84を各ドライブ入口から挿入し、所定
の読み出し操作を行うことにより、これらの記録媒体に
格納されているプログラムをシステム内に取り込むこと
ができる。また、所定のドライブ装置を接続することに
より、例えばメモリ装置としてのROM85や、磁気テ
ープ装置としてのカセットテープ86を用いることもで
きる。
FIG. 29 is an external view showing an example of a computer system which reads a program stored in a recording medium and implements the present invention in accordance with the procedures described therein. On the front of the main body of the computer system 80, a floppy disk drive 8 as a magnetic disk device is provided.
1, a CD-ROM drive 82 as an optical disk device is provided, and a floppy disk 83 or a CD-ROM 84 is inserted from each drive entrance and a predetermined read operation is performed to store the data in these recording media. Programs can be imported into the system. Further, by connecting a predetermined drive device, for example, a ROM 85 as a memory device and a cassette tape 86 as a magnetic tape device can be used.

【0064】[0064]

【発明の効果】上記の如く本発明によれば、半導体製造
過程の欠陥検査工程で得られる欠陥データと、テスト工
程で得られる電気的な不良を示すFBMデータの座標比
較を行う際、設計データより作成された変換テーブルを
使用して座標変換を行うことにより、座標変換システム
の設定が容易となり、設定の時間短縮、人為的ミスの低
減、品種展開の容易化、誤設定の低減が可能となる。
As described above, according to the present invention, when comparing the coordinates of the defect data obtained in the defect inspection step in the semiconductor manufacturing process with the FBM data indicating the electrical defect obtained in the test step, the design data is obtained. By performing coordinate conversion using the conversion table created from the above, it is easy to set up the coordinate conversion system, shortening the setting time, reducing human errors, facilitating product type development, and reducing erroneous settings. Become.

【0065】また、一般的にメモリセルは繰り返しパタ
ーンが多いという特徴を利用して、座標変換テーブルを
簡略化することができる。
In general, the coordinate conversion table can be simplified by taking advantage of the feature that memory cells have many repetitive patterns.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態を示し、システム構成を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a system configuration according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態を示し、FBMのモード
分類の例を示す図である。
FIG. 2 illustrates the first embodiment of the present invention, and is a diagram illustrating an example of FBM mode classification.

【図3】本発明の第1実施形態を示し、FBMの物理ア
ドレスを説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a physical address of an FBM according to the first embodiment of this invention.

【図4】本発明の第1実施形態を示し、FBMアドレス
と物理座標の関係を示す図である。
FIG. 4 illustrates the first embodiment of the present invention and illustrates a relationship between an FBM address and physical coordinates.

【図5】本発明の第1実施形態を示し、設計データに基
づいて端末の画面に表示された本体セルアレイ等の位置
関係を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the first embodiment of the present invention and showing a positional relationship of a main body cell array and the like displayed on a screen of a terminal based on design data.

【図6】本発明の第1実施形態を示し、セルの物理的配
置の繰り返しパターンを説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating the first embodiment of the present invention and illustrating a repetition pattern of a physical arrangement of cells.

【図7】本発明の第1実施形態を示し、基本パターン内
に存在するセルのローカルな物理アドレスと物理座標を
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a first embodiment of the present invention and showing local physical addresses and physical coordinates of cells existing in a basic pattern.

【図8】本発明の第1実施形態を示し、基本パターン内
に存在するセルのローカルな物理アドレスと物理座標の
関係を示すテーブルを示す図である。
FIG. 8 shows the first embodiment of the present invention, and is a view showing a table indicating a relationship between local physical addresses and physical coordinates of cells existing in a basic pattern.

【図9】本発明の第1実施形態を示し、基本パターンと
グルーピングの関係を示す図である。
FIG. 9 shows the first embodiment of the present invention and is a diagram showing a relationship between a basic pattern and grouping.

【図10】本発明の第1実施形態を示し、座標変換テー
ブルを示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a coordinate conversion table according to the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1実施形態を示し、物理アドレス
(0,0)のセルから目的のセルを含むグループの原点
までの物理座標及びローカルな物理座標の関係を示す図
である。
FIG. 11 shows the first embodiment of the present invention, and is a diagram illustrating a relationship between physical coordinates and local physical coordinates from a cell at a physical address (0, 0) to the origin of a group including a target cell.

【図12】本発明の第2実施形態を示し、等間隔に配置
されている基本パターンをX軸方向とY軸方向について
それぞれ検索した結果を示す図である。
FIG. 12 shows the second embodiment of the present invention and is a diagram illustrating a result of searching for basic patterns arranged at equal intervals in the X-axis direction and the Y-axis direction.

【図13】本発明の第2実施形態を示し、等間隔に配置
されている基本パターンが多いY軸方向をまとめ上げパ
ターンとすることを示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing the second embodiment of the present invention and showing that the Y-axis direction having many basic patterns arranged at equal intervals is a combined pattern.

【図14】本発明の第2実施形態を示し、まとめ上げパ
ターン一覧を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a grouping pattern list according to the second embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第2実施形態を示し、座標変換テー
ブルを示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating a coordinate conversion table according to the second embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第2実施形態を示し、等間隔に配置
されている基本パターンをX軸方向とY軸方向について
それぞれ検索した結果を示す図である。
FIG. 16 shows the second embodiment of the present invention, and is a diagram illustrating a result of searching for basic patterns arranged at equal intervals in the X-axis direction and the Y-axis direction.

【図17】本発明の第2実施形態を示し、新たなまとめ
上げパターンが追加されたまとめ上げパターン一覧を示
す図である。
FIG. 17 shows the second embodiment of the present invention, and is a diagram showing a list of grouping patterns to which a new grouping pattern has been added.

【図18】本発明の第2実施形態を示し、まとめ上げら
れた座標変換テーブルを示す図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating a coordinate conversion table compiled according to the second embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第2実施形態を示し、まとめ上げが
不可能になるまでまとめ上げを繰り返す様子を示す図で
ある。
FIG. 19 is a diagram illustrating a second embodiment of the present invention and showing a state in which grouping is repeated until grouping becomes impossible.

【図20】本発明の第2実施形態を示し、新たなまとめ
上げパターンがさらに追加されたまとめ上げパターン一
覧を示す図である。
FIG. 20 shows the second embodiment of the present invention, and is a diagram showing a grouping pattern list to which a new grouping pattern is further added.

【図21】本発明の第2実施形態を示し、さらにまとめ
上げられた座標変換テーブルを示す図である。
FIG. 21 shows the second embodiment of the present invention, and is a diagram showing a coordinate conversion table further compiled.

【図22】本発明の第2実施形態を示し、物理アドレス
(0,0)のセルから目的のセルを含むグループの原点
までの物理座標及びローカルな物理座標を示す図であ
る。
FIG. 22 shows the second embodiment of the present invention and is a diagram showing physical coordinates and local physical coordinates from a cell at a physical address (0, 0) to the origin of a group including a target cell.

【図23】本発明の第2実施形態を示し、S21の原点
のセルから目的のセルまでの物理座標を示す図である。
FIG. 23 shows the second embodiment of the present invention and is a diagram showing physical coordinates from a cell at the origin of S21 to a target cell.

【図24】本発明の第2実施形態を示し、S21の原点
のセルから目的のセルを含むグループの原点までの物理
座標及びローカルな物理座標を示す図である。
FIG. 24 shows the second embodiment of the present invention, and is a diagram showing physical coordinates and local physical coordinates from the cell at the origin in S21 to the origin of the group including the target cell.

【図25】本発明の第2実施形態を示し、S11の原点
のセルから目的のセルを含むグループの原点までの物理
座標及びローカルな物理座標を示す図である。
FIG. 25 shows the second embodiment of the present invention and is a diagram showing physical coordinates and local physical coordinates from the cell at the origin in S11 to the origin of the group including the target cell.

【図26】本発明の第2実施形態を示し、S01の原点
のセルから目的のセルを含むグループの原点までの物理
座標及びローカルな物理座標を示す図である。
FIG. 26 shows the second embodiment of the present invention and is a diagram showing physical coordinates and local physical coordinates from the cell at the origin of S01 to the origin of the group including the target cell.

【図27】本発明の第1実施形態を示し、設計データの
読み込みから、作成された変換テーブルを用いて物理ア
ドレスを物理座標に変換するまでの処理の流れを示すフ
ローチャートである。
FIG. 27 is a flowchart illustrating a flow of processing from reading design data to converting a physical address into physical coordinates using a created conversion table according to the first embodiment of this invention.

【図28】本発明の第2実施形態を示し、同一基本パタ
ーンが等間隔で配置されている領域の検出から、まとめ
上げパターンとまとめ上げられた変換テーブルを用いて
物理アドレスを物理座標に変換するまでの処理の流れを
示すフローチャートである。
FIG. 28 shows a second embodiment of the present invention, in which a physical address is converted into physical coordinates by using a grouped pattern and a grouped conversion table from detection of an area where the same basic pattern is arranged at equal intervals. 6 is a flowchart showing a flow of processing until the processing is performed.

【図29】記録媒体に格納されたプログラムを読み取
り、そこに記述された手順に従って本発明を実現するコ
ンピュータシステムの一例を示す外観図である。
FIG. 29 is an external view showing an example of a computer system that reads a program stored in a recording medium and implements the present invention in accordance with the procedures described therein.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 欠陥検査装置 102 欠陥データベース 103 欠陥分類装置 104 テスタ 105 FBMデータベース 106 FBM分類システム 107 座標比較システム 108 座標比較結果データベース 109 設計データ 110 座標変換テーブル作成システム 111 端末 DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Defect inspection apparatus 102 Defect database 103 Defect classification apparatus 104 Tester 105 FBM database 106 FBM classification system 107 Coordinate comparison system 108 Coordinate comparison result database 109 Design data 110 Coordinate conversion table creation system 111 Terminal

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 メモリセルの物理アドレスを物理座標へ
変換するシステムであって、 前記メモリセルの配置パターンであって複数回繰り返さ
れるパターンを基本パターンとして定義する基本パター
ン定義部と、 前記基本パターンに基づいて前記メモリセルをグルーピ
ングするメモリセルグルーピング部と、 全メモリセルの原点を基準として前記基本パターンの原
点の物理アドレス及び物理座標を管理し、かつ前記基本
パターンの原点を基準として前記基本パターン内メモリ
セルのローカルな物理アドレス及び物理座標を管理する
アドレス座標管理部と、 を有することを特徴とする座標変換システム。
1. A system for converting a physical address of a memory cell into physical coordinates, comprising: a basic pattern definition unit for defining a pattern, which is an arrangement pattern of the memory cell, that is repeated a plurality of times, as a basic pattern; A memory cell grouping unit for grouping the memory cells based on the basic pattern and the physical address and physical coordinates of the origin of the basic pattern with reference to the origin of all memory cells, and the basic pattern with reference to the origin of the basic pattern. An address coordinate management unit for managing local physical addresses and physical coordinates of internal memory cells.
【請求項2】 請求項1に記載の座標変換システムであ
って、さらに、 前記基本パターンの配置パターンであって複数回繰り返
されるパターンをまとめ上げパターンとして定義するま
とめ上げパターン定義部と、 前記まとめ上げパターンに基づいて前記基本パターンを
グルーピングする基本パターングルーピング部と、を含
み、 前記まとめ上げパターン定義部は、さらに、前記まとめ
上げパターンの配置パターンであって複数回繰り返され
るパターンを新たなまとめ上げパターンとして定義し、
新たなまとめ上げパターンの作成が不可能になるまで繰
り返し、最終的に得られたまとめ上げパターンをn番目
(nは自然数)のまとめ上げパターンと定義する機能を
有し、 前記アドレス座標管理部は、さらに、全メモリセルの原
点を基準として求められた前記n番目のまとめ上げパタ
ーンの原点の物理アドレス及び物理座標を管理し、前記
n番目のまとめ上げパターンの原点を基準とする(n−
1)番目のまとめ上げパターンの原点の物理アドレス及
び物理座標を管理し、 n番目のまとめ上げパターンの原点と(n−1)番目の
まとめ上げパターンの原点との関連づけを(n−1)番
目のまとめ上げパターンが基本パターンとなるまで繰り
返すことを特徴とする座標変換システム。
2. The coordinate conversion system according to claim 1, further comprising: a grouping pattern definition unit that defines a pattern, which is an arrangement pattern of the basic pattern, that is repeated a plurality of times, as a grouping pattern. A basic pattern grouping unit for grouping the basic patterns based on a raised pattern, wherein the collective pattern defining unit further includes a new collective arrangement pattern that is the arrangement pattern of the collective pattern and that is repeated a plurality of times. Defined as a pattern,
The address coordinate management unit has a function of repeating until a new grouping pattern cannot be created, and defining the finally obtained grouping pattern as an n-th (n is a natural number) grouping pattern. Further, the physical address and physical coordinates of the origin of the n-th combined pattern obtained with reference to the origin of all the memory cells are managed, and the origin of the n-th combined pattern is set as a reference (n-
1) manages the physical address and physical coordinates of the origin of the first combined pattern, and associates the origin of the n-th combined pattern with the origin of the (n-1) th combined pattern by the (n-1) th A coordinate conversion system characterized by repeating until a grouping pattern of the above becomes a basic pattern.
【請求項3】 メモリセルの物理アドレスを物理座標へ
変換する方法であって、 前記メモリセルの配置パターンであって複数回繰り返さ
れるパターンを基本パターンとして定義するステップ
と、 前記メモリセルのローカルな物理アドレスと物理座標と
を関連づけるステップと、 前記基本パターンに基づいて前記メモリセルをグルーピ
ングするステップと、 全メモリセルの原点を基準とする前記基本パターンの原
点の物理アドレスと物理座標とを関連づけるステップ
と、 を含むことを特徴とする座標変換方法。
3. A method for converting a physical address of a memory cell into a physical coordinate, comprising: defining a layout pattern of the memory cell, which is repeated a plurality of times, as a basic pattern; Associating physical addresses with physical coordinates; grouping the memory cells based on the basic pattern; associating physical addresses and physical coordinates of the origin of the basic pattern with reference to the origins of all memory cells. And a coordinate transformation method comprising:
【請求項4】 請求項3に記載の座標変換方法であっ
て、さらに、 前記基本パターンの配置パターンであって複数回繰り返
されるパターンをまとめ上げパターンとして定義するス
テップと、 前記まとめ上げパターンに基づいて前記基本パターンを
グルーピングするステップと、 前記まとめ上げパターンの配置パターンであって複数回
繰り返されるパターンを新たなまとめ上げパターンとし
て定義するステップと、を含み、さらに、 前記各ステップを新たなまとめ上げパターンの作成が不
可能になるまで繰り返し、最終的に得られたまとめ上げ
パターンをn番目(nは自然数)のまとめ上げパターン
とし、 全メモリセルの原点を基準とする前記n番目のまとめ上
げパターンの原点の物理アドレスと物理座標とを関連づ
けるステップと、 前記n番目のまとめ上げパターンの原点を基準とする
(n−1)番目のまとめ上げパターンの原点の物理アド
レス及び物理座標とを関連づけるステップと、を含み、
さらに、 n番目のまとめ上げパターンの原点と(n−1)番目の
まとめ上げパターンの原点とを関連づける前記ステップ
を(n−1)番目のまとめ上げパターンが基本パターン
となるまで繰り返すことを特徴とする座標変換方法。
4. The coordinate transformation method according to claim 3, further comprising: defining a pattern that is an arrangement pattern of the basic pattern and that is repeated a plurality of times as a grouping pattern, based on the grouping pattern. Grouping the basic pattern with the grouping pattern, and defining a pattern that is a layout pattern of the grouping pattern that is repeated a plurality of times as a new grouping pattern. Iterates until it becomes impossible to create a pattern, and sets the finally obtained grouped pattern as an n-th (n is a natural number) grouped pattern, and the n-th grouped pattern based on the origin of all memory cells. Associating the physical address of the origin with the physical coordinates; Associating the physical address and the physical coordinates of the origin of the (n-1) th combined pattern with reference to the origin of the first combined pattern,
Further, the step of associating the origin of the n-th combined pattern with the origin of the (n-1) -th combined pattern is repeated until the (n-1) -th combined pattern becomes a basic pattern. Coordinate conversion method to be used.
【請求項5】 メモリセルの配置パターンであって複数
回繰り返されるパターンを基本パターンとして定義する
ステップと、 前記メモリセルのローカルな物理アドレスと物理座標と
を関連づけるステップと、 前記基本パターンに基づいて前記メモリセルをグルーピ
ングするステップと、 全メモリセルの原点を基準として前記基本パターンの原
点の物理アドレスと物理座標とを関連づけるステップ
と、を含み、 これらの処理をコンピュータに実行させることを特徴と
する座標変換プログラムを格納したコンピュータ読み取
り可能な記録媒体。
5. A step of defining, as a basic pattern, an arrangement pattern of memory cells which is repeated a plurality of times, a step of associating a local physical address of the memory cell with physical coordinates, and Grouping the memory cells, and associating physical addresses and physical coordinates of the origin of the basic pattern with reference to the origins of all memory cells, and causing a computer to execute these processes. A computer-readable recording medium storing a coordinate conversion program.
【請求項6】 請求項5に記載の記録媒体であって、さ
らに、 前記基本パターンの配置パターンであって複数回繰り返
されるパターンをまとめ上げパターンとして定義するス
テップと、 前記まとめ上げパターンに基づいて前記基本パターンを
グルーピングするステップと、 前記まとめ上げパターンの配置パターンであって複数回
繰り返されるパターンを新たなまとめ上げパターンとし
て定義するステップと、を含み、さらに、 前記各ステップを新たなまとめ上げパターンの作成が不
可能になるまで繰り返し、最終的に得られたまとめ上げ
パターンをn番目(nは自然数)のまとめ上げパターン
とし、 全メモリセルの原点を基準として求められた前記n番目
のまとめ上げパターンの原点の物理アドレスと物理座標
とを関連づけるステップと、 前記n番目のまとめ上げパターンの原点を基準とする
(n−1)番目のまとめ上げパターンの原点の物理アド
レスと物理座標とを関連づけるステップと、を含み、さ
らに、 n番目のまとめ上げパターンの原点と(n−1)番目の
まとめ上げパターンの原点とを関連づける前記ステップ
を(n−1)番目のまとめ上げパターンが基本パターン
となるまで繰り返す、 これらの処理をコンピュータに実行させることを特徴と
する座標変換プログラムを格納したコンピュータ読み取
り可能な記録媒体。
6. The recording medium according to claim 5, further comprising: a step of defining a pattern which is an arrangement pattern of the basic pattern and is repeated a plurality of times as a grouping pattern; Grouping the basic pattern, and defining a pattern which is the arrangement pattern of the grouping pattern and is repeated a plurality of times as a new grouping pattern, further comprising: Is repeated until it becomes impossible to generate the n-th grouping pattern obtained by using the finally obtained grouping pattern as an n-th (n is a natural number) grouping pattern with reference to the origin of all memory cells. Associating a physical address of the origin of the pattern with physical coordinates; Associating the physical address and the physical coordinate of the origin of the (n-1) th combined pattern with the origin of the nth combined pattern as a reference, further comprising the origin of the nth combined pattern And the step of associating the (n-1) th combined pattern with the origin of the (n-1) th combined pattern is repeated until the (n-1) th combined pattern becomes a basic pattern. A computer-readable recording medium storing a coordinate conversion program.
JP26449999A 1999-09-17 1999-09-17 Physical coordinate transformation system of physical address of memory cell, coordinate transformation method and recording medium storing coordinate transformation program Pending JP2001084793A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6721935B2 (en) 2001-04-05 2004-04-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Coordinate transformation system for semiconductor device, coordinate transformation method and coordinate transformation program
CN115932532A (en) * 2023-03-09 2023-04-07 长鑫存储技术有限公司 Method, apparatus, device and storage medium for testing semiconductor device

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