JP2001074627A - Material-testing method and device - Google Patents

Material-testing method and device

Info

Publication number
JP2001074627A
JP2001074627A JP24693299A JP24693299A JP2001074627A JP 2001074627 A JP2001074627 A JP 2001074627A JP 24693299 A JP24693299 A JP 24693299A JP 24693299 A JP24693299 A JP 24693299A JP 2001074627 A JP2001074627 A JP 2001074627A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
load
sample
frequency
signal
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP24693299A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Uno
博 宇野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Saginomiya Seisakusho Inc
Original Assignee
Saginomiya Seisakusho Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Saginomiya Seisakusho Inc filed Critical Saginomiya Seisakusho Inc
Priority to JP24693299A priority Critical patent/JP2001074627A/en
Publication of JP2001074627A publication Critical patent/JP2001074627A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate the influence of the inertia force of a movable part in a high-cycle bending test. SOLUTION: First, a selection part 13 is set to a side B, frequency is swept with a sinusoidal wave at a small, constant amplitude and at the same time a sample 1 is vibrated by displacement control, and a frequency where the output of a load sensor 6 reaches zero is obtained and is determined as a natural frequency f0 of a system. Based on the natural frequency f0, the frequency characteristics of the ratio of a load signal being applied to a sample to force being actually applied to the sample are determined, thus obtaining an attenuation ratio Δy of a load signal corresponding to a vibration frequency fx in a test. An operation control part 14 controls the amplitude of a vibration signal to be generated from a waveform generation part 15 so that the attenuation ratio Δy can be cancelled out.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、材料試験方法およ
び装置に関し、特に、大型の試料に対して高サイクルで
曲げ試験を行う場合に適用して好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for testing a material, and more particularly, to a method and an apparatus suitable for performing a bending test on a large sample at a high cycle.

【0002】[0002]

【従来の技術】試料を2点で支え、その中ほどに荷重を
加えて、試料に曲げモーメントを加える曲げ試験が行わ
れている。この曲げ試験は、従来、静的領域においての
み行われていたが、近年、試験時間の節約などのため、
試料に所定の周波数の繰り返し荷重を加え、動的域で行
われるようになっている。
2. Description of the Related Art A bending test is performed in which a sample is supported at two points, a load is applied in the middle thereof, and a bending moment is applied to the sample. Conventionally, this bending test was performed only in a static region, but recently, for saving test time,
A repetitive load of a predetermined frequency is applied to the sample, and the test is performed in a dynamic range.

【0003】図4は曲げ試験の様子を示す図である。こ
の図において、1は試料(試験片)、2はアクチュエー
タ、3はサーボバルブであり、サーボバルブ3によりア
クチュエータ2を駆動して試料1の加力点4を負荷して
いる。5はアクチュエータ2のピストンの変位(すなわ
ち試料1の変位)を検出するピストン変位計などの変位
センサ、6は試料に負荷される荷重を測定するロードセ
ルなどの荷重センサ、7は前記変位センサ5の出力ある
いは前記荷重センサ6の出力が所定の値となるように前
記サーボバルブ3に供給する駆動信号を制御する制御部
である。このような構成において、制御部7から前記サ
ーボバルブ3に駆動信号を印加して、アクチュエータ2
を駆動し、試料1の加力点を負荷している。そして、前
記荷重センサ6からの試料に加力される力に対応する荷
重信号および前記変位センサ5からの試料の変位に対応
する変位信号を観測するようにしている。
FIG. 4 is a view showing a state of a bending test. In this figure, 1 is a sample (test piece), 2 is an actuator, and 3 is a servo valve. The actuator 2 is driven by the servo valve 3 to apply a force point 4 of the sample 1. Reference numeral 5 denotes a displacement sensor such as a piston displacement meter that detects the displacement of the piston of the actuator 2 (that is, the displacement of the sample 1), 6 denotes a load sensor such as a load cell that measures the load applied to the sample, and 7 denotes the displacement sensor. The control unit controls a drive signal supplied to the servo valve 3 so that an output or an output of the load sensor 6 becomes a predetermined value. In such a configuration, a drive signal is applied from the control unit 7 to the servo valve 3 so that the actuator 2
Is driven to apply the applied point of the sample 1. Then, a load signal corresponding to the force applied to the sample from the load sensor 6 and a displacement signal corresponding to the displacement of the sample from the displacement sensor 5 are observed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このような曲げ試験を
行うときに、前記加力点4に加える荷重を徐々に増加さ
せる、いわゆる静的な試験を行うときには、前記荷重セ
ンサ6の計測値は真の加力点荷重を計測しているものと
いうことができる。しかしながら、高周波数の繰り返し
荷重を印加して高サイクルで運転する場合には、試料に
加力される力を計測する荷重センサの計測値と試料に発
生する応力との間に差が発生する。この差は、可動部分
の質量により発生する慣性力に起因するものであり、周
波数の関数となっている。従って、荷重センサの計測値
から得られる値は、試料からみて真の応力として観測で
きないという問題点があり、慣性力を推定してロードセ
ル観測値を補正することが必要となる。
In performing such a bending test, when performing a so-called static test in which the load applied to the force applying point 4 is gradually increased, the measured value of the load sensor 6 is true. It can be said that the applied point load is measured. However, when the operation is performed in a high cycle by applying a high-frequency repetitive load, a difference is generated between the measured value of the load sensor that measures the force applied to the sample and the stress generated in the sample. This difference is due to the inertial force generated by the mass of the moving part and is a function of frequency. Therefore, there is a problem that the value obtained from the measurement value of the load sensor cannot be observed as a true stress from the viewpoint of the sample, and it is necessary to estimate the inertial force and correct the load cell observation value.

【0005】そこで本発明は、可動部分の慣性力の影響
を除去し、目的とする応力を試料に与えることのできる
材料試験方法および装置を提供することを目的としてい
る。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a material testing method and apparatus capable of removing the influence of the inertial force of a movable portion and applying a desired stress to a sample.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の材料試験方法は、所定の周波数を有する目
標負荷信号を用いて試料に荷重を負荷する材料試験方法
であって、小振幅の正弦波を目標変位信号として、その
周波数を掃引しながら試料を加振し、試料に負荷される
荷重を観測することにより系の固有周波数を求めるステ
ップ、前記固有周波数に基づき、前記所定の周波数に対
応する減衰値を算出するステップ、および、前記減衰値
に対応して補正された前記所定の周波数の目標荷重信号
を用いて、試料を加振するステップを有するものであ
る。
According to the present invention, there is provided a material testing method for applying a load to a sample using a target load signal having a predetermined frequency. As a target displacement signal, the sine wave of the amplitude is used to vibrate the sample while sweeping its frequency, and to obtain the natural frequency of the system by observing the load applied to the sample, based on the natural frequency, Calculating an attenuation value corresponding to the frequency; and exciting the sample using the target load signal of the predetermined frequency corrected in accordance with the attenuation value.

【0007】また、本発明の材料試験装置は、所定の周
波数を有する目標負荷信号を用いて試料に荷重を負荷す
る材料試験装置であって、目標負荷信号を発生する波形
発生部と、前記波形発生部からの目標負荷信号と変位セ
ンサあるいは荷重センサからの信号との差を算出する加
算部と、前記加算部の出力に基づいて試料を負荷する負
荷装置と、前記試料に印加される荷重を検出する荷重セ
ンサと、前記試料の変位を検出する変位センサと、系の
固有周波数に基づいて算出された前記所定の周波数にお
ける荷重センサ出力の減衰量に基づいて前記波形発生部
からの目標負荷信号出力を補正する演算処理部とを有す
るものである。
A material testing apparatus according to the present invention is a material testing apparatus for applying a load to a sample using a target load signal having a predetermined frequency, comprising: a waveform generator for generating a target load signal; An addition unit that calculates a difference between a target load signal from the generation unit and a signal from the displacement sensor or the load sensor, a load device that loads the sample based on an output of the addition unit, and a load applied to the sample. A load sensor for detecting, a displacement sensor for detecting displacement of the sample, and a target load signal from the waveform generator based on an attenuation of the load sensor output at the predetermined frequency calculated based on a natural frequency of the system. And an arithmetic processing unit for correcting the output.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の材料試験方法が
適用される材料試験装置の一実施の形態の構成を示すブ
ロック図である。この図において、試料1、アクチュエ
ータ2、サーボバルブ3、加力点4、変位センサ5およ
び荷重センサ6は、前記図4に示したものと同様であ
り、これらにより、試験機部が構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a material testing apparatus to which the material testing method of the present invention is applied. In this figure, a sample 1, an actuator 2, a servo valve 3, an applied point 4, a displacement sensor 5, and a load sensor 6 are the same as those shown in FIG. 4, and these constitute a testing machine section. .

【0009】また、制御部において、11は前記変位セ
ンサ5の出力を増幅するとともに必要に応じてA/D変
換して出力する変位用アンプ、12は前記荷重センサ6
の出力を増幅するとともに必要に応じてA/D変換して
出力する荷重用アンプ、13は前記変位用アンプ11の
出力あるいは前記荷重用アンプ12の出力を選択して加
算部16の減算入力に供給する選択部、14は前記変位
用アンプ11の出力および前記荷重用アンプ12の出力
が入力され、波形発生部15に対する制御信号を出力す
る演算処理部、15は前記演算処理部14の出力に応じ
た目標負荷信号波形を生成出力する波形発生部、16は
前記波形発生部15からの目標負荷信号と前記選択部1
3から供給される前記変位用アンプ11あるいは前記荷
重用アンプ12の出力との偏差信号を発生する加算部、
17は前記加算部16からの偏差信号が入力され、比
例、積分等の処理を行うPID調節部であり、このPI
D調節部17の出力が前記サーボバルブ3に駆動信号と
して供給される。
In the control section, reference numeral 11 denotes a displacement amplifier for amplifying the output of the displacement sensor 5 and performing A / D conversion as necessary and outputting the amplified signal.
The load amplifier 13 amplifies the output of the load amplifier and A / D converts and outputs the output as necessary. The load amplifier 13 selects the output of the displacement amplifier 11 or the output of the load amplifier 12 and supplies it to the subtraction input of the adder 16. A selection unit 14 for supplying an arithmetic processing unit to which the output of the displacement amplifier 11 and the output of the load amplifier 12 are input and outputs a control signal to the waveform generation unit 15, A waveform generator for generating and outputting a target load signal waveform corresponding to the target load signal from the waveform generator 15 and the selector 1
An adding unit for generating a deviation signal from the output of the displacement amplifier 11 or the output of the load amplifier 12 supplied from the output unit 3;
Reference numeral 17 denotes a PID adjusting unit to which a deviation signal from the adding unit 16 is input and performs processing such as proportionality and integration.
The output of the D adjuster 17 is supplied to the servo valve 3 as a drive signal.

【0010】このように構成された材料試験装置におい
て、図から明らかなようにフィードバック制御系が構成
されており、前記選択部13がA側に接続され前記荷重
用アンプ12の出力が選択されているときには荷重フィ
ードバックとされ、B側に接続されて前記変位用アンプ
11の出力が前記加算部16に供給されているときは変
位フィードバックとされる。
[0010] In the material testing apparatus thus configured, a feedback control system is configured as is apparent from the figure, and the selector 13 is connected to the A side to select the output of the load amplifier 12. When the output is connected to the B side and the output of the displacement amplifier 11 is supplied to the adder 16, the load feedback is provided.

【0011】このような構成とされた材料試験装置にお
いて実行される本発明の材料試験方法の原理について説
明する。なお、以下の議論では、次の条件下で試験が行
われることを前提とする。 (1)試験機の運転波形(目標負荷信号波形)は、正弦
波であるとする。 (2)試験は荷重フィードバックで実行される。 (3)質量、バネ定数の共振周波数は、運転周波数(加
振周波数)より数倍以上、上側にあるものとする。 (4)高サイクル運転のために、荷重−変位間のヒステ
リシスは小さく、ほぼ見掛け上弾性的挙動を示す領域で
試験が行われるものとする。
The principle of the material test method of the present invention executed in the material test apparatus having such a configuration will be described. In the following discussion, it is assumed that the test is performed under the following conditions. (1) The operation waveform (target load signal waveform) of the tester is assumed to be a sine wave. (2) The test is performed with load feedback. (3) The resonance frequency of the mass and the spring constant is several times or more higher than the operation frequency (excitation frequency). (4) For high cycle operation, the hysteresis between load and displacement is small, and the test shall be performed in a region that shows almost apparent elastic behavior.

【0012】図2は、前記図1あるいは図4に示した試
験機部の力学的モデルを示す図である。この図におい
て、Mは可動部の質量であり、直接に観測することはで
きない。また、Kは試料のバネ定数、Cは粘性抵抗、x
(t)はピストンの変位量、f(t)は試料に負荷される加力
値である。ここで、前記(4)のようにヒステリシスを
無視することができるとすれば、粘性抵抗Cはほとんど
存在しない値(=0)となる。
FIG. 2 is a diagram showing a mechanical model of the test device shown in FIG. 1 or FIG. In this figure, M is the mass of the movable part and cannot be observed directly. K is the spring constant of the sample, C is the viscous resistance, x
(t) is the displacement of the piston, and f (t) is the applied value applied to the sample. Here, if the hysteresis can be neglected as in the above (4), the viscous resistance C is a value that hardly exists (= 0).

【0013】このモデルの運動方程式は次の式(1)で
表わすことができる。
The equation of motion of this model can be expressed by the following equation (1).

【数1】 この式(1)をラプラス変換し、s領域で示すと次の式
(2)となる。
(Equation 1) The following equation (2) is obtained by Laplace transforming the equation (1) and expressing it in the s region.

【数2】 また、この系の固有周波数(共振周波数)ω0(=2π
0)は次の式(3)で示される。
(Equation 2) Also, the natural frequency (resonant frequency) ω 0 (= 2π) of this system
f 0 ) is represented by the following equation (3).

【数3】 (Equation 3)

【0014】前記式(2)において、s=jωとおき、
横軸に系の固有周波数ω0(=2πf0)で正規化した周
波数ωを対数目盛でとり、縦軸に20log|F(jω)/K・
X(jω)|をとって表示した周波数特性は、図3のように
表わされる。なお、この図はC=0とした場合の周波数
特性を示している。ここで、F(jω)は荷重センサによ
り検出される力(試料に負荷される力)、K・X(jω)
(Kはバネ定数、X(jω)は変位センサの出力)は試料
に発生する力(応力)を示している。従って、C≒0の
仮定が成立するとすれば、固有周波数f0を求めること
により、前記式(3)における√(K/M)を決定する
ことができ、前記式(2)すなわち図3に示した曲線を
決定することができる。
In equation (2), s = jω,
The horizontal axis represents the frequency ω normalized on the natural frequency ω 0 (= 2πf 0 ) of the system on a logarithmic scale, and the vertical axis represents 20 log | F (jω) / K ·
The frequency characteristic expressed by taking X (jω) | is expressed as shown in FIG. This figure shows frequency characteristics when C = 0. Here, F (jω) is the force detected by the load sensor (the force applied to the sample), K · X (jω)
(K is the spring constant, X (jω) is the output of the displacement sensor) indicates the force (stress) generated in the sample. Accordingly, assuming that the assumption of C ≒ 0 holds, the 周波 数 (K / M) in the equation (3) can be determined by obtaining the natural frequency f 0, and the equation (2), ie, FIG. The curve shown can be determined.

【0015】図3の周波数特性において、ω≪ω0(f
≪f0)のときには、20log|F(jω)/K・X(jω)|は、
ほぼ0dBとなりF(jω)とK・X(jω)とはほぼ等しく
なる。しかしながら、f<f0でfがf0に近づくに従っ
て、20log|F(jω)/K・X(jω)|の値は急速に減少す
る。一方、f>f0の領域では、急激に増加している。
高サイクルの曲げ試験をおこなうときの試料への加振周
波数をfxとしたとき、fx≪f0であることが望ましい
が、実際にはfx<f0であるため、図中に示すΔyを実
用上無視することができない。そこで、このΔyの値で
補正した信号を用いて試料を加振することにより、目的
とする応力K・X(jω)を試料に与えることが可能とな
る。
In the frequency characteristic of FIG. 3, ω≪ω 0 (f
In the case of {f 0 ), 20log | F (jω) / K · X (jω) |
It becomes almost 0 dB, and F (jω) becomes almost equal to K · X (jω). However, f in f <f 0 is toward the f 0, 20log | F (jω ) / K · X (jω) | value decreases rapidly. On the other hand, in the region of f> f 0 , the value sharply increases.
When the vibration frequency of the sample when performing the bending test of high cycle was f x, it is desirable that f x «f 0, since in practice a f x <f 0, shown in FIG. Δy cannot be ignored in practical use. Then, by vibrating the sample using the signal corrected with the value of Δy, it becomes possible to give the target stress K · X (jω) to the sample.

【0016】本発明の材料試験方法は、以上の考察に基
づくものであり、まず、系の固有周波数f0を求め、こ
れに基づいて、前記式(2)すなわち前記図3に示した
周波数特性曲線を決定し、これに基づいて、試験に使用
する加振周波数fxに対応する補正量Δyを求める。そ
して、前記波形発生部15より発生される目標負荷信号
を補正量Δyにより補正して供給するようにしている。
The material testing method of the present invention is based on the above considerations. First, the natural frequency f 0 of the system is obtained, and based on this, the frequency characteristic shown in the above equation (2), ie, FIG. determine the curve, based on this, obtains the correction amount Δy corresponding to the excitation frequency f x used for testing. Then, the target load signal generated by the waveform generator 15 is corrected by the correction amount Δy and supplied.

【0017】まず、系の固有周波数f0を求めるため
に、本発明では、変位フィードバック制御状態におい
て、一定の小振幅を有する正弦波により加振周波数を上
昇変化させながら、試料に加振し、荷重センサ出力の観
測値がゼロあるいは最小値になる周波数を求める。すな
わち、前記図1に示すブロック図において、選択部13
をB側に切り替えて変位信号をフィードバック信号とす
る構成とし、波形発生器15から小振幅の正弦波信号を
その周波数を低周波数から高周波数に(あるいは、高周
波数から低周波数に)掃引させながら出力させる。そし
て、このときの前記荷重用アンプ12の出力を観測し、
該出力がゼロあるいは最低値となる周波数を求め、この
周波数を系の固有周波数f0と決定する。なお、このよ
うに、小振幅の正弦波により駆動することにより試料の
損傷を防止することができる。
First, in order to obtain the natural frequency f 0 of the system, according to the present invention, in the displacement feedback control state, the vibration is applied to the sample while increasing the excitation frequency by a sine wave having a constant small amplitude. The frequency at which the observed value of the load sensor output becomes zero or the minimum value is obtained. That is, in the block diagram shown in FIG.
Is switched to the B side, and the displacement signal is used as a feedback signal. The waveform generator 15 sweeps the small amplitude sine wave signal from a low frequency to a high frequency (or from a high frequency to a low frequency). Output. Then, the output of the load amplifier 12 at this time is observed,
A frequency at which the output becomes zero or the lowest value is obtained, and this frequency is determined as a natural frequency f 0 of the system. In this manner, the sample can be prevented from being damaged by driving with a small amplitude sine wave.

【0018】次に、このようにして求めた固有周波数f
0から√(M/K)を求め、前記式(2)すなわち前記
図3に示した特性曲線を決定する。そして、該決定した
特性曲線において、試験に使用する加振周波数fxに対
応する減衰量Δyを求める。そして、前記図1における
選択部13をA側に切替え、荷重フィードバック制御に
切り替えた後、前記波形発生部15から所望の荷重目標
信号波形を発生させ、試験を行う。このとき、前記波形
発生器15から出力される荷重目標信号波形の振幅を前
記減衰量Δyの値に対応する量だけ補正して出力させ
る。
Next, the natural frequency f obtained in this way is
√ (M / K) is obtained from 0 , and the above equation (2), that is, the characteristic curve shown in FIG. 3 is determined. Then, in the determined characteristic curve, determining the attenuation Δy corresponding to the excitation frequency f x used for testing. Then, after switching the selector 13 in FIG. 1 to the A side and switching to the load feedback control, the waveform generator 15 generates a desired load target signal waveform and performs a test. At this time, the amplitude of the load target signal waveform output from the waveform generator 15 is corrected and output by an amount corresponding to the value of the attenuation amount Δy.

【0019】実際には、前記演算制御部14において、
前記固有周波数f0により決定された式(2)を用い
て、減衰量すなわち補正量Δyを算出し、試料に発生す
る力K・X(s)が目標値となるように前記波形発生部1
5から発生される目標負荷信号の振幅を補正する制御信
号を前記波形発生部15に出力する。これにより、目標
とする応力(K・X(jω))を試料1に発生させること
ができる。
In practice, in the arithmetic control unit 14,
Using the equation (2) determined by the natural frequency f 0 , an attenuation amount, that is, a correction amount Δy is calculated, and the waveform generator 1 is set so that the force K · X (s) generated in the sample becomes a target value.
The control signal for correcting the amplitude of the target load signal generated from the control signal 5 is output to the waveform generator 15. Thereby, a target stress (K · X (jω)) can be generated in the sample 1.

【0020】なお、以上の説明においては、曲げ試験を
例にとって説明したが、本発明の材料試験方法および装
置は、曲げ試験に限らず、可動部分の質量により発生す
る慣性力の影響がある試験の場合に同様に適用すること
ができる。
In the above description, the bending test has been described as an example. However, the material testing method and apparatus of the present invention are not limited to the bending test, but may be a test having an effect of an inertial force generated by the mass of the movable part. The same can be applied in the case of.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の材料試験
方法および装置によれば、高サイクル運転を行う場合
に、可動部分の質量により発生する慣性力による影響を
除去して、高精度の曲げ試験を実行することが可能とな
る。
As described above, according to the material testing method and apparatus of the present invention, when performing a high cycle operation, the influence of the inertial force generated by the mass of the movable portion is eliminated, and the high accuracy is achieved. A bending test can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の材料試験方法が適用された材料試験
装置の一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of an embodiment of a material testing apparatus to which a material testing method of the present invention is applied.

【図2】 試験機部の力学的モデルを示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a mechanical model of a test machine section.

【図3】 図2に示した力学的モデルの周波数特性を示
す図である。
FIG. 3 is a diagram showing frequency characteristics of the mechanical model shown in FIG. 2;

【図4】 曲げ試験について説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining a bending test.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 試料 2 アクチュエータ 3 サーボバルブ 4 加力点 5 変位センサ 6 荷重センサ 7 制御部 11 変位用アンプ 12 荷重用アンプ 13 選択部 14 演算処理部 15 波形発生部 16 加算部 17 PID調節部 Reference Signs List 1 Sample 2 Actuator 3 Servo valve 4 Force point 5 Displacement sensor 6 Load sensor 7 Control unit 11 Displacement amplifier 12 Load amplifier 13 Selection unit 14 Operation processing unit 15 Waveform generation unit 16 Addition unit 17 PID adjustment unit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の周波数を有する目標負荷信号を用
いて試料に荷重を負荷する材料試験方法であって、 小振幅の正弦波を目標変位信号として、その周波数を掃
引しながら試料を加振し、試料に負荷される荷重を観測
することにより系の固有周波数を求めるステップ、 前記固有周波数に基づき、前記所定の周波数に対応する
減衰値を算出するステップ、および、 前記減衰値に対応して補正された前記所定の周波数の目
標荷重信号を用いて、試料を加振するステップを有する
ことを特徴とする材料試験方法。
1. A material testing method for applying a load to a sample using a target load signal having a predetermined frequency, wherein the sample is vibrated while sweeping the frequency using a small amplitude sine wave as a target displacement signal. Obtaining a natural frequency of the system by observing a load applied to the sample, calculating an attenuation value corresponding to the predetermined frequency based on the natural frequency, and corresponding to the attenuation value. Vibrating the sample using the corrected target load signal having the predetermined frequency.
【請求項2】 所定の周波数を有する目標負荷信号を用
いて試料に荷重を負荷する材料試験装置であって、 目標負荷信号を発生する波形発生部と、 前記波形発生部からの目標負荷信号と変位センサあるい
は荷重センサからの信号との差を算出する加算部と、 前記加算部の出力に基づいて試料を負荷する負荷装置
と、 前記試料に印加される荷重を検出する荷重センサと、 前記試料の変位を検出する変位センサと、 系の固有周波数に基づいて算出された前記所定の周波数
における荷重センサ出力の減衰量に基づいて前記波形発
生部からの目標負荷信号出力を補正する演算処理部とを
有することを特徴とする材料試験装置。
2. A material testing apparatus for applying a load to a sample using a target load signal having a predetermined frequency, comprising: a waveform generator for generating a target load signal; and a target load signal from the waveform generator. An addition unit that calculates a difference from a signal from a displacement sensor or a load sensor; a load device that loads a sample based on an output of the addition unit; a load sensor that detects a load applied to the sample; A displacement sensor for detecting a displacement of the load sensor; and an arithmetic processing unit for correcting a target load signal output from the waveform generating unit based on an attenuation amount of a load sensor output at the predetermined frequency calculated based on a natural frequency of the system. A material testing device comprising:
JP24693299A 1999-09-01 1999-09-01 Material-testing method and device Withdrawn JP2001074627A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24693299A JP2001074627A (en) 1999-09-01 1999-09-01 Material-testing method and device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24693299A JP2001074627A (en) 1999-09-01 1999-09-01 Material-testing method and device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001074627A true JP2001074627A (en) 2001-03-23

Family

ID=17155904

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24693299A Withdrawn JP2001074627A (en) 1999-09-01 1999-09-01 Material-testing method and device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001074627A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009044747A1 (en) * 2007-10-01 2009-04-09 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Fatigue test device
JP2009085849A (en) * 2007-10-01 2009-04-23 Kokusai Keisokki Kk Fatigue testing equipment
JP2009085850A (en) * 2007-10-01 2009-04-23 Kokusai Keisokki Kk Fatigue testing equipment
CN104034602A (en) * 2014-05-23 2014-09-10 浙江大学 Concrete beam flexure testing device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009044747A1 (en) * 2007-10-01 2009-04-09 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Fatigue test device
JP2009085849A (en) * 2007-10-01 2009-04-23 Kokusai Keisokki Kk Fatigue testing equipment
JP2009085850A (en) * 2007-10-01 2009-04-23 Kokusai Keisokki Kk Fatigue testing equipment
CN104034602A (en) * 2014-05-23 2014-09-10 浙江大学 Concrete beam flexure testing device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101506639B (en) Adaptive control of materials testing machine with tuning of initial control parameters
JPH1011103A (en) Control device for actuator and method for calculating feedback gain
JP5650052B2 (en) Vibration test apparatus and control method thereof
WO1997011344A1 (en) Vibrating table system and control method therefor
JPH04164231A (en) Device for testing fatigue of blade
JP2011027669A (en) Device and method for testing vibration
JP2001074627A (en) Material-testing method and device
JPWO2011086879A1 (en) Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus
JP2002156308A (en) Shaking table and its control device and control method
JP5831904B2 (en) Viscoelasticity measuring method and viscoelasticity measuring device
JP3570056B2 (en) Material testing machine
US8125280B2 (en) Method for regulating an excited oscillation
JP4092878B2 (en) Shaking table, control device therefor, and control method
JP2002148169A (en) Output pressure measurement method and measurement device for fixed cross-sectional operation body
JPH07311124A (en) Vibration controller
JP5999680B2 (en) Linear elastic modulus measuring method and linear elastic modulus measuring apparatus
JP3730197B2 (en) Fatigue testing machine and variable gain calibration method thereof
JP2001056276A (en) Loading test device and its force control method
JP3223852B2 (en) Aerodynamic force measuring device and lift / moment measuring system device using the measuring device
JPH0843185A (en) Mass measuring method and device
JP2003114165A (en) Vibration tester
JP2001050881A (en) Method and device for controlling material-testing machine for fatigue crack growth test
JP3802200B2 (en) Fruit ripeness measuring method and ripeness measuring device
JP4801134B2 (en) Vibration test apparatus and vibration test method
JPS6229948Y2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20061107