JP2001066718A - Image information reading method and device thereof - Google Patents

Image information reading method and device thereof

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JP2001066718A
JP2001066718A JP24287299A JP24287299A JP2001066718A JP 2001066718 A JP2001066718 A JP 2001066718A JP 24287299 A JP24287299 A JP 24287299A JP 24287299 A JP24287299 A JP 24287299A JP 2001066718 A JP2001066718 A JP 2001066718A
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JP
Japan
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light
image information
light beam
linear electrodes
image
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JP24287299A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshitaka Agano
俊孝 阿賀野
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form line light which is satisfactory in light utilization efficiency in an image information reading method and a device thereof, using a radiation solid body detector of an optical readout system having a stripe electrode. SOLUTION: A long-length type reflecting mirror 96, constituted by linearly arraying many minute projecting surfaces 98 in the length direction of the mirror 96 on its reflection surface 96a, is arranged so that the surface 96a may be opposed to the surface of a detector 30 and form a prescribed angle to the surface. A cylindrical lens 95 is arranged between the mirror 96 and the detector 30, so that a bus is in the same direction as that of the array of an element. A light beam P is made incident on the surface 96a from the side surface of the detector 30 and reflected toward the detector 30 by the surfaces 98, and by having the reflected light beam P converge on the detector 30 by the lens 95, a line light obtained by extending the light beam P in the array direction of the element of the detector 30 is formed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、照射された記録光
の量に応じた量の電荷を潜像電荷として蓄積する蓄電部
を有する光読出方式の画像検出器を使用して、前記蓄電
部に静電潜像として記録された画像情報を読み取る方法
および装置に関するものである。
The present invention relates to an optical reading type image detector having an electric storage unit for accumulating an amount of electric charge corresponding to the amount of irradiated recording light as a latent image charge. And a method and apparatus for reading image information recorded as an electrostatic latent image on an image.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、画像検出器を用いた装置、例
えばファクシミリ、複写機或いは放射線撮像装置などが
知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, apparatuses using an image detector, such as a facsimile, a copying machine, and a radiation imaging apparatus, are known.

【0003】例えば、医療用放射線撮像装置などにおい
ては、被験者の受ける被爆線量の減少、診断性能の向上
などのために、X線などの放射線に感応するセレン板な
どの光導電体(層)を有する光読出方式の放射線固体検
出器(静電記録体)を画像検出器として用い、該放射線
固体検出器にX線を照射し、照射されたX線の線量に応
じた量の電荷を放射線固体検出器内の蓄電部に潜像電荷
として蓄積させることにより、放射線画像情報を蓄電部
に静電潜像として記録すると共に、レーザビーム或いは
ライン状の光ビームで放射線画像情報が記録された放射
線固体検出器を走査することにより、該放射線固体検出
器から放射線画像情報を読み取る方法が知られている
(例えば、米国特許5268569号、国際公開199
8年第59261号、特開平9−5906号、本願出願
人による特願平10−271374号および同11−8
7922号など)。
For example, in a medical radiation imaging apparatus or the like, a photoconductor (layer) such as a selenium plate which is sensitive to radiation such as X-rays is provided in order to reduce a radiation dose received by a subject and improve diagnostic performance. An X-ray radiation solid state detector (electrostatic recording medium) having an optical readout method is used as an image detector, and the solid state radiation detector is irradiated with X-rays. The radiation image information is recorded as an electrostatic latent image in the power storage unit by accumulating the latent image charge in the power storage unit in the detector, and the radiation image information is recorded with the laser beam or the linear light beam. A method of reading radiation image information from the solid-state radiation detector by scanning the detector is known (for example, US Pat. No. 5,268,569, International Publication 199).
No. 59261, JP-A-9-5906, and Japanese Patent Application Nos. 10-271374 and 11-8 by the present applicant.
No. 7922).

【0004】ここで、本願出願人による特願平10−2
71374号および同11−87922号に記載の放射
線固体検出器とは、記録用の放射線に対して透過性を有
する第1電極層、該第1導電体層を透過した記録用の放
射線の照射を受けることにより導電性を呈する記録用光
導電層、第1電極層に帯電される電荷と同極性の電荷に
対しては略絶縁体として作用し、かつ、該同極性の電荷
と逆極性の電荷に対しては略導電体として作用する電荷
輸送層、読取用の電磁波の照射を受けることにより導電
性を呈する読取用光導電層、読取用の電磁波に対して透
過性を有する第2電極層を、この順に積層して成るもの
であり、記録用光導電層と電荷輸送層との界面に形成さ
れる蓄電部に、画像情報を担持する信号電荷(潜像電
荷)を蓄積するものである。
[0004] Here, Japanese Patent Application No. 10-2 filed by the present applicant.
The radiation solid-state detectors described in JP-A-71374 and JP-A-11-87922 are: a first electrode layer having transparency to recording radiation, and irradiation of recording radiation transmitted through the first conductor layer. The recording photoconductive layer, which exhibits conductivity when received, acts substantially as an insulator for charges of the same polarity as the charges charged on the first electrode layer, and has a charge of the opposite polarity to the charges of the same polarity. In contrast, a charge transport layer that acts as a substantially conductive material, a reading photoconductive layer that exhibits conductivity by being irradiated with reading electromagnetic waves, and a second electrode layer that is transparent to reading electromagnetic waves. The signal charges (latent image charges) carrying image information are stored in a power storage unit formed at the interface between the recording photoconductive layer and the charge transport layer.

【0005】なお、この検出器において信号電荷を読み
出す方式としては、例えば第2電極層の電極(以下読取
電極ともいう)を平板状のものとし、この読取電極側に
レーザなどのスポット状の読取光(読取用の電磁波の一
態様)を走査して信号電荷を検出する方式と、読取電極
を多数の線状電極からなるストライプ電極とし、線状電
極の長手方向と略直角な方向、即ち線状電極の並び方向
に延びたライン光(ライン状の読取光)を前記線状電極
の長手方向に走査して信号電荷を検出する方式がある。
[0005] As a method of reading out signal charges in this detector, for example, an electrode (hereinafter also referred to as a reading electrode) of a second electrode layer has a plate-like shape, and a spot-like reading of laser or the like is performed on the reading electrode side. A method of detecting signal charges by scanning light (one mode of electromagnetic waves for reading), and a method of forming a reading electrode as a stripe electrode composed of a number of linear electrodes, in a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the linear electrodes, ie, a line. There is a method of detecting signal charges by scanning line light (line-shaped reading light) extending in the direction in which the linear electrodes are arranged in the longitudinal direction of the linear electrodes.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ここで、読取電極とし
てのストライプ電極を有する光読出方式の画像検出器を
使用する場合において、例えばランプやLEDなどを用
いた非コヒーレント光源でライン光を形成し、画像検出
器に該ライン光を照射して蓄電部に蓄積された潜像電荷
の量に応じた画像信号を取得しようとすると、光の収束
が難しく、光の利用効率が悪く、十分な強度のライン光
とするためには大きな電力を必要とするという問題があ
る。
Here, in the case of using an optical reading type image detector having a stripe electrode as a reading electrode, a line light is formed by a non-coherent light source using, for example, a lamp or an LED. When the image detector is irradiated with the line light to obtain an image signal corresponding to the amount of the latent image charge stored in the power storage unit, it is difficult to converge the light, the light use efficiency is poor, and the intensity is sufficient. However, there is a problem that a large amount of electric power is required to obtain the line light.

【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、ストライプ電極を有する光読出方式の画像検出器
にライン光を照射する場合において、光の収束を容易に
行い、光の利用効率を向上させることができる画像情報
読取方法および装置を提供することを目的とするもので
ある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and when irradiating a line light to an optical reading type image detector having a stripe electrode, the light is easily converged and the light utilization efficiency is improved. It is an object of the present invention to provide an image information reading method and apparatus which can be improved.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明による画像情報読
取方法は、画像情報を担持する電荷を潜像電荷として蓄
積する2次元状に分布した蓄電部、および該蓄電部に蓄
積された潜像電荷の量に応じたレベルの電気信号を取り
出すための線状電極を多数略平行に配してなる光読出方
式の画像検出器を使用して、線状電極の並び方向に延び
たライン状の読取光(ライン光)を該線状電極の長手方
向に走査して、該走査により線状電極毎に出力される電
気信号を取得することにより、画像情報が蓄電部に静電
潜像として記録された画像検出器から画像情報を読み取
る画像情報読取方法であって、光ビームを線状電極の並
び方向には拡大し且つ前記走査の方向には収束させてラ
イン状の読取光(ライン光)を形成することを特徴とす
るものである。
According to the present invention, there is provided an image information reading method, comprising: a two-dimensionally distributed power storage unit for storing charges carrying image information as latent image charges; and a latent image stored in the power storage unit. Using a light-reading type image detector in which a large number of linear electrodes for extracting electric signals of a level corresponding to the amount of electric charges are arranged substantially in parallel, a linear electrode extending in the direction in which the linear electrodes are arranged is used. Scanning the reading light (line light) in the longitudinal direction of the linear electrode, and acquiring an electric signal output for each linear electrode by the scanning, the image information is recorded as an electrostatic latent image in the power storage unit. An image information reading method for reading image information from a selected image detector, wherein a light beam is expanded in the direction in which the linear electrodes are arranged and converged in the scanning direction to obtain a linear read light (line light). Is formed.

【0009】本発明による画像情報読取方法において
は、多数の微小凸面が直線状に配列されてなる長尺型反
射ミラーを、線状電極の並び方向と平行で且つ画像検出
器の表面に垂直な面内に、微小凸面が該表面に対向する
ようにして該表面に対して所定の角度をなすように配置
し、光ビームの光軸が前記並び方向と同じとなるよう
に、該光ビームを該長尺型反射ミラーに入射させて該光
ビームを前記微小凸面で反射させることにより前記光ビ
ームを線状電極の並び方向に拡大するようにするとよ
い。
In the image information reading method according to the present invention, a long reflecting mirror having a large number of minute convex surfaces arranged in a straight line is provided so as to be parallel to the arrangement direction of the linear electrodes and perpendicular to the surface of the image detector. In the plane, the micro-convex surface is arranged so as to face the surface so as to form a predetermined angle with respect to the surface, and the light beam is arranged so that the optical axis of the light beam is the same as the alignment direction. It is preferable that the light beam is expanded in the direction in which the linear electrodes are arranged by making the light beam incident on the long reflecting mirror and reflecting the light beam on the minute convex surface.

【0010】本発明による画像情報読取方法において
は、シリンドリカル光学部材を、該シリンドリカル光学
部材の母線が線状電極の並び方向と同じとなるように配
置し、線状電極の並び方向に拡大された光ビームを該シ
リンドリカル光学部材に入射させることによりライン状
の読取光(ライン光)を形成するようにするのが望まし
い。
In the image information reading method according to the present invention, the cylindrical optical member is arranged so that the generatrix of the cylindrical optical member is the same as the direction in which the linear electrodes are arranged, and is enlarged in the direction in which the linear electrodes are arranged. It is desirable that a light beam is incident on the cylindrical optical member to form a linear reading light (line light).

【0011】本発明による画像情報読取方法において
は、ライン状の読取光(ライン光)の線状電極の並び方
向の強度分布に起因する、読み取られた画像情報のムラ
を補正するようにするのが望ましい。
In the image information reading method according to the present invention, the unevenness of the read image information due to the intensity distribution of the linear read light (line light) in the direction in which the linear electrodes are arranged is corrected. Is desirable.

【0012】本発明による画像情報読取装置は、上記画
像情報読取方法を実現する装置、即ち、画像情報を担持
する電荷を潜像電荷として蓄積する2次元状に分布した
蓄電部、および該蓄電部に蓄積された潜像電荷の量に応
じたレベルの電気信号を取り出すための線状電極を多数
略平行に配してなる光読出方式の画像検出器と、線状電
極の並び方向に延びたライン状の読取光(ライン光)を
該線状電極の長手方向に走査して画像検出器の略全面を
照射する読取光照射手段と、該走査により線状電極毎に
出力される電気信号を取得する画像信号取得手段とを備
えた画像情報読取装置であって、読取光照射手段が、光
ビームを線状電極の並び方向には拡大し且つ前記走査の
方向には収束させてライン状の読取光(ライン光)を形
成する光学系を備えたものであることを特徴とするもの
である。
An image information reading apparatus according to the present invention is an apparatus for realizing the above-described image information reading method, that is, a two-dimensionally distributed power storage unit for storing charges carrying image information as latent image charges, and the power storage unit An optical readout image detector in which a large number of linear electrodes for extracting an electric signal at a level corresponding to the amount of latent image charges accumulated in the optical readout system and a linear electrode extend in the direction in which the linear electrodes are arranged. Reading light irradiating means for scanning a line-shaped reading light (line light) in the longitudinal direction of the linear electrode to irradiate substantially the entire surface of the image detector; and outputting an electric signal output for each linear electrode by the scanning. An image information reading apparatus comprising: an image signal obtaining unit that obtains an image signal, wherein a reading light irradiation unit expands a light beam in a direction in which the linear electrodes are arranged and converges the light beam in the scanning direction to form a line. Equipped with an optical system that forms reading light (line light) It is characterized in that those were.

【0013】本発明による画像情報読取装置において
は、前記光学系を、多数の微小凸面が直線状に配列され
て成り、線状電極の並び方向と平行で且つ画像検出器の
表面に垂直な面内に、微小凸面が該表面に対向するよう
にして該表面に対して所定の角度をなすように配置され
た長尺型反射ミラーを有して成り、光軸が前記並び方向
と同じとなるように該長尺型反射ミラーに入射された光
ビームを微小凸面で反射させることにより光ビームを線
状電極の並び方向に拡大するものとするのが望ましい。
In the image information reading apparatus according to the present invention, the optical system includes a plurality of minute convex surfaces which are linearly arranged, and which is parallel to the arrangement direction of the linear electrodes and perpendicular to the surface of the image detector. Inside, it has a long reflective mirror arranged so that a small convex surface faces the surface and forms a predetermined angle with respect to the surface, and the optical axis is the same as the alignment direction As described above, it is preferable that the light beam incident on the long reflecting mirror is reflected by the minute convex surface to expand the light beam in the direction in which the linear electrodes are arranged.

【0014】本発明による画像情報読取装置において
は、前記光学系を、母線が線状電極の並び方向と同じと
なるように配置され、入射された線状電極の並び方向に
拡大された光ビームをライン状に形成するシリンドリカ
ル光学部材を有して成るものとするのが望ましい。
In the image information reading apparatus according to the present invention, the optical system is arranged such that the generatrix is arranged in the same direction as the arrangement of the linear electrodes, and the light beam expanded in the arrangement direction of the incident linear electrodes. It is desirable to have a cylindrical optical member for forming a linear optical element.

【0015】本発明による画像情報読取装置において
は、読取光照射手段を、光ビームを発する半導体レーザ
またはレーザダイオード励起固体レーザを有して成るも
のとするのが望ましい。
In the image information reading apparatus according to the present invention, it is desirable that the reading light irradiating means includes a semiconductor laser emitting a light beam or a laser diode-pumped solid-state laser.

【0016】本発明による画像情報読取装置において
は、ライン状の読取光(ライン光)の線状電極の並び方
向の強度分布に起因する、画像信号取得手段により取得
された電気信号が担持する画像情報のムラを補正する補
正手段をさらに備えたものとするのが望ましい。
In the image information reading apparatus according to the present invention, the image carried by the electric signal acquired by the image signal acquiring means is caused by the intensity distribution of the line-shaped reading light (line light) in the arrangement direction of the linear electrodes. It is desirable to further include a correction unit for correcting unevenness of information.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明による画像情報読取方法および装
置によれば、レーザ光源から発せられる光ビームを線状
電極の並び方向には拡大し且つ前記走査の方向には収束
させてライン光を形成するようにしたので、光の収束が
容易となり、光の利用効率を向上させることができる。
According to the image information reading method and apparatus of the present invention, the light beam emitted from the laser light source is expanded in the direction in which the linear electrodes are arranged and converged in the scanning direction to form line light. Therefore, the convergence of light is facilitated, and the light use efficiency can be improved.

【0018】また、多数の微小凸面が直線状に配列され
てなる長尺型反射ミラーを上述のように配置して、光ビ
ームを微小凸面で反射させることにより光ビームを線状
電極の並び方向に拡大するようにすれば、コンパクトな
光学系を構成することができる。
In addition, a long reflecting mirror having a large number of minute convex surfaces arranged in a straight line is arranged as described above, and the light beam is reflected by the minute convex surface so that the light beam is aligned in the direction in which the linear electrodes are arranged. If the optical system is expanded to a smaller size, a compact optical system can be configured.

【0019】また、光ビームを発するレーザ光源として
半導体レーザやレーザダイオード励起固体レーザを有し
て成るものを使用すれば、比較的小さな電力で十分な強
度のライン光を形成することができる。
If a laser light source having a semiconductor laser or a laser-diode-pumped solid-state laser is used as a laser light source for emitting a light beam, line light having sufficient intensity can be formed with relatively small power.

【0020】さらに、ライン光の線状電極の並び方向の
強度分布に起因する、読み取られた画像情報のムラを補
正するようにすれば、光ビームをライン状に形成して
も、光の強度分布に起因する画像ムラが生じる虞れがな
くなる。
Further, if the unevenness of the read image information due to the intensity distribution of the line light in the direction in which the linear electrodes are arranged is corrected, even if the light beam is formed in a line shape, the light intensity can be reduced. This eliminates the possibility that image unevenness due to distribution occurs.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0022】図1は本発明の第1の実施の形態による画
像情報読取装置の概略構成を示す図である。図2は、レ
ーザダイオード励起固体レーザの一例を示す図である。
図3は図1に示す画像情報読取装置に使用される読取光
照射手段の詳細を示す図であって、正面図(A)、左側
面図(B)および光ビームの強度分布を正面図(A)に
対応させて示した図(C1)〜(C3)である。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an image information reading apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a laser diode pumped solid-state laser.
FIG. 3 is a diagram showing details of a reading light irradiating means used in the image information reading apparatus shown in FIG. 1, wherein a front view (A), a left side view (B), and an intensity distribution of a light beam are shown in a front view ( (C1)-(C3) shown corresponding to (A).

【0023】第1の実施の形態による画像情報読取装置
1は、図1に示すように、画像検出器としての放射線固
体検出器30、画像信号取得手段としての電流検出回路
70、および読取光照射手段80からなる。
As shown in FIG. 1, the image information reading apparatus 1 according to the first embodiment has a solid-state radiation detector 30 as an image detector, a current detection circuit 70 as an image signal acquisition means, and a reading light irradiation. Means 80.

【0024】放射線固体検出器30は、図1に示すよう
に、多数のエレメント(線状電極)16a,17aが交
互にストライプ状に配列された電極層を有している。エ
レメント16aとしては、読取光L2に対して透過性を有
する材質および厚さのものが使用される。エレメント1
7aは、放射線固体検出器30内の記録用光導電層と電
荷輸送層との略界面に形成される蓄電部に蓄積された潜
像電荷の量に応じたレベルの電気信号を出力させるため
のものである。このエレメント17aとしては、読取光
L2に対して遮光性を有する材質および厚さのものが使用
され、エレメント17aに対応する読取用光導電層14
内では、信号取出しのための電荷対を発生させないよう
にしている(本願出願人による特願平11−87922
号参照)。
As shown in FIG. 1, the radiation solid state detector 30 has an electrode layer in which a number of elements (linear electrodes) 16a and 17a are alternately arranged in a stripe shape. As the element 16a, a material and a thickness having transparency to the reading light L2 are used. Element 1
7a is for outputting an electric signal of a level corresponding to the amount of latent image charges stored in the power storage unit formed substantially at the interface between the recording photoconductive layer and the charge transport layer in the solid-state radiation detector 30. Things. As the element 17a, a reading light
A material having a light-shielding property and a thickness for L2 is used, and the reading photoconductive layer 14 corresponding to the element 17a is used.
In this case, a charge pair for signal extraction is not generated (Japanese Patent Application No. 11-87922 filed by the present applicant).
No.).

【0025】読取光照射手段80は、放射線固体検出器
30の側面に配置されたレーザ光源81と、レーザ光源
81から発せられた光ビームを画像検出器としての放射
線固体検出器30に照射する読取光光学系90とを備え
ている。
The reading light irradiating means 80 reads a laser light source 81 disposed on the side surface of the solid-state radiation detector 30 and irradiates the solid-state radiation detector 30 as an image detector with a light beam emitted from the laser light source 81. An optical optical system 90 is provided.

【0026】レーザ光源81としては、半導体レーザま
たはレーザダイオード励起固体レーザを有して成るもの
を使用する。また、放射線固体検出器30の光導電層が
a−Seであるのに対応して、ピーク波長が400nm
の青紫色光を発するものを使用する。
As the laser light source 81, one having a semiconductor laser or a laser diode-pumped solid-state laser is used. Further, the peak wavelength is 400 nm corresponding to the photoconductive layer of the solid-state radiation detector 30 being a-Se.
The one that emits blue-violet light is used.

【0027】ここで、半導体レーザとしては、縦シング
ルモード型の半導体レーザ或いは縦マルチモード型の半
導体レーザのいずれを使用してもよい。また、縦シング
ルモード型の半導体レーザを高周波重畳電流で駆動する
ことにより縦マルチモード発振させるようにしてもよ
い。
Here, as the semiconductor laser, either a vertical single mode semiconductor laser or a vertical multimode semiconductor laser may be used. Further, a vertical multi-mode oscillation may be performed by driving a vertical single-mode type semiconductor laser with a high frequency superimposed current.

【0028】また、レーザダイオード励起固体レーザと
しては、例えば特開昭62−189783号に示される
ように、ネオジウム等の希土類が添加された固体レーザ
結晶を、レーザダイオードから発せられた光(レーザビ
ーム)によって励起するものの他、より短波長のレーザ
ビームを得るように、その共振器内に非線形光学結晶を
配置して、固体レーザビームを第2高調波(SHG;Se
cond Harmonic Generation)に波長変換するようにした
SHGレーザを用いてもよい。
As a laser-diode-pumped solid-state laser, a solid-state laser crystal to which a rare earth element such as neodymium is added, as shown in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-189783, is a light (laser beam) emitted from a laser diode. ), A nonlinear optical crystal is arranged in the resonator so as to obtain a laser beam having a shorter wavelength, and the solid-state laser beam is converted into a second harmonic (SHG; Se).
An SHG laser configured to perform wavelength conversion to cond harmonic generation may be used.

【0029】さらに、このSHGレーザとしては、図2
(A)に示すように、シングルモード半導体レーザ10
0から発せられた波長720nm〜900nmの半導体
レーザ光を波長選択素子101を介してMgO-LiNbO3ドメ
イン反転バルク結晶からなるバルク型の波長変換素子1
02に入射し、波長変換素子102内にて共振させ、も
しくは、1パスで通過させ、半導体レーザ光を半分の波
長の360nm〜450nmの紫外〜青の波長帯の第2
高調波に変換し短波長レーザ光を得るようにしたバルク
直接変換SHGレーザを使用できる。このバルク直接変
換SHGレーザの出力は、半導体レーザ100の出力に
応じて変えることができ、例えば1mW〜100mWの
出力を得ることが可能である。特にバルクドメイン反転
結晶を用いれば、反転周期を変えることによって、任意
の波長のSHG光を得ることが可能である。また、通常
の半導体レーザとは異なり、SHG光が半導体レーザに
戻っても、戻り光は半導体レーザ光とは波長が異なるの
で、半導体レーザ100は、戻り光による不安定性によ
るノイズを生じることがないので、該SHG光を読取光
L2として使用すれば、安定な画像読取りが可能となる。
Further, as this SHG laser, FIG.
As shown in FIG.
The semiconductor laser light having a wavelength of 720 nm to 900 nm emitted from 0 is converted into a bulk type wavelength conversion element 1 made of an MgO—LiNbO 3 domain inverted bulk crystal via a wavelength selection element 101.
02, and is resonated in the wavelength conversion element 102 or passed in one pass, and the semiconductor laser light is irradiated with the second wavelength in the ultraviolet to blue wavelength band of 360 nm to 450 nm of half the wavelength.
It is possible to use a bulk direct conversion SHG laser which is converted into a harmonic to obtain a short wavelength laser beam. The output of the bulk direct conversion SHG laser can be changed according to the output of the semiconductor laser 100, and for example, an output of 1 mW to 100 mW can be obtained. In particular, if a bulk domain inversion crystal is used, it is possible to obtain SHG light of an arbitrary wavelength by changing the inversion period. Also, unlike a normal semiconductor laser, even if the SHG light returns to the semiconductor laser, the return light has a different wavelength from the semiconductor laser light, so that the semiconductor laser 100 does not generate noise due to instability due to the return light. So, read the SHG light
When used as L2, stable image reading is possible.

【0030】または図2(B)に示すように、500m
W〜2W程度の赤外(809nm)〜赤色(680n
m)のブロードエリア型の半導体レーザ110によって
固体レーザ結晶(Nd:YAGやCr:LiCAFな
ど)102を励起し、固体レーザ結晶片端面とミラー1
06によって共振器を構成し、固体レーザ光を発振さ
せ、その共振器内部にMgO-LiNbO3ドメイン反転バルク型
波長変換素子103、ブリュースター板104、エタロ
ン105などを挿入することにより、固体レーザ光をS
HG光に波長変換し、紫外〜青の波長帯の発振を得るよ
うにしたSHG固体レーザを使用することもできる。こ
のSHG固体レーザは、高出力の励起半導体レーザを用
いることができるので、10mW〜300mWの出力が
得られる。また、上記バルク直接変換SHGレーザと同
様に、戻り光による不安定性によるノイズを生じること
がない。
Alternatively, as shown in FIG.
Infrared (809 nm) of about W to 2 W to red (680 n
m), the solid-state laser crystal (Nd: YAG, Cr: LiCAF, etc.) 102 is excited by the broad-area semiconductor laser 110, and one end face of the solid-state laser crystal and the mirror 1 are excited.
06, a solid-state laser beam is oscillated, and a solid-state laser beam is oscillated by inserting a MgO-LiNbO3 domain-inverted bulk type wavelength conversion element 103, a Brewster plate 104, an etalon 105, etc. inside the resonator. S
It is also possible to use an SHG solid-state laser that converts the wavelength into HG light and obtains oscillation in the ultraviolet to blue wavelength band. As this SHG solid-state laser, a high-output pumped semiconductor laser can be used, so that an output of 10 mW to 300 mW is obtained. Further, similarly to the bulk direct conversion SHG laser, noise due to instability due to return light does not occur.

【0031】或いは図2(C)に示すように、波長ロッ
クし更に波長チューニング可能な構造(分布ブラッグ型
DBR:Distributed Bragg Reflector 、分布帰還型D
FB:distributed feedback)を有する、オフカットMg
O-LiNbO3(特開平9−218431参照)により作製さ
れた半導体レーザを励起半導体レーザ120として使用
し、該励起半導体レーザ120の波長が800〜100
0nmで、出力が100〜200mWの時、波長400
〜500nmで数十mWのSHG光を得るようにした導
波路型SHGレーザを使用することもできる。この導波
路型SHGレーザは、導波路周期反転ドメインSHG1
21の位相整合波長に発振波長を調整可能なため、SH
G効率の最大値に調整でき、結果として、出力光量を最
大にできるので、パワーの大きな光源を構成することが
できる。
Alternatively, as shown in FIG. 2C, a structure in which the wavelength is locked and the wavelength can be tuned (distributed Bragg DBR: Distributed Bragg Reflector, distributed feedback D
Off-cut Mg with FB (distributed feedback)
A semiconductor laser produced by O-LiNbO3 (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-218431) is used as the pumping semiconductor laser 120, and the wavelength of the pumping semiconductor laser 120 is 800 to 100.
When the output is 100 to 200 mW at 0 nm, the wavelength 400
A waveguide-type SHG laser capable of obtaining SHG light of several tens of mW at up to 500 nm can also be used. This waveguide type SHG laser has a waveguide period inversion domain SHG1.
Since the oscillation wavelength can be adjusted to 21 phase matching wavelengths, SH
Since the G efficiency can be adjusted to the maximum value and, as a result, the amount of output light can be maximized, a light source with high power can be configured.

【0032】一方、この第1の実施の形態において使用
する読取光光学系90は、図3に示すように、長尺型反
射ミラー96とシリンドリカルレンズ95とを有してい
る。長尺型反射ミラー96は、エレメント16a,17
aの並び方向と平行で且つ検出器30の表面に垂直な面
内に、その反射面96aが検出器30の表面に対向する
ようにして該表面に対して所定の角度をなすように配置
されている。シリンドリカルレンズ95は、長尺型反射
ミラー96と検出器30との間に、その母線がエレメン
ト16a,17aの並び方向と同じとなるように配置さ
れている。なお、レーザ光源81と長尺型反射ミラー9
6との間に、レーザ光源81から発せられた光ビームP
を略平行光束にして長尺型反射ミラー96に入射させる
コリメータレンズ(不図示)を配するようにしてもよ
い。
On the other hand, the reading light optical system 90 used in the first embodiment has a long reflecting mirror 96 and a cylindrical lens 95 as shown in FIG. The long-type reflection mirror 96 includes the elements 16a and 17
a in a plane parallel to the direction in which the detectors 30 are arranged and perpendicular to the surface of the detector 30 so that the reflection surface 96a faces the surface of the detector 30 at a predetermined angle to the surface. ing. The cylindrical lens 95 is arranged between the long reflective mirror 96 and the detector 30 so that the generatrix is in the same direction as the arrangement direction of the elements 16a and 17a. The laser light source 81 and the long reflecting mirror 9
6, the light beam P emitted from the laser light source 81
May be provided with a collimator lens (not shown) for converting the light into a substantially parallel light flux and entering the long reflection mirror 96.

【0033】長尺型反射ミラー96の反射面96aに
は、図3(B)にその拡大図を示すように、多数の微小
凸面98がその長さ方向に直線状に配列されている。こ
の微小凸面98としては、軸方向がエレメント16,1
7aと平行となるように形成された凸状の円筒面であっ
てもよいし、凸状の円球面であってもよい。微小凸面9
8の曲率は、該微小凸面98で反射した光ビームPがシ
リンドリカルレンズ95を通過して検出器30に入射す
るような値に設定される。
On the reflection surface 96a of the long reflection mirror 96, as shown in an enlarged view of FIG. 3B, a large number of minute convex surfaces 98 are linearly arranged in the length direction. The axial direction of the minute convex surface 98 is the element 16, 1
It may be a convex cylindrical surface formed so as to be parallel to 7a, or a convex spherical surface. Small convex surface 9
The curvature of 8 is set to a value such that the light beam P reflected by the minute convex surface 98 passes through the cylindrical lens 95 and enters the detector 30.

【0034】この第1の実施の形態による読取光光学系
90は、後述する第2の実施の形態による読取光光学系
90(図4参照)と比べて、非常にコンパクトな構造を
なしている。
The reading light optical system 90 according to the first embodiment has a very compact structure as compared with a reading light optical system 90 (see FIG. 4) according to a second embodiment described later. .

【0035】また読取光照射手段80には、レーザ光源
81と読取光光学系90とを一体的にエレメント16
a,17aの長手方向に相対的に機械的に移動(メカニ
カルスキャン)させる不図示の移動(走査)手段が設け
られている。これにより、図1に示すように、読取光照
射手段80は、ライン状に収束された読取光L2をエレメ
ント16a,17aと概略直交させつつ、エレメント1
6a,17aの長手方向(図1(A)中の矢印Y方向)
に走査露光するように構成されている。この読取光L2に
よる走査露光は副走査に対応する。
The reading light irradiation means 80 includes a laser light source 81 and a reading light optical system 90 integrated with the element 16.
A moving (scanning) means (not shown) for mechanically moving (mechanical scanning) relatively in the longitudinal direction of a and 17a is provided. As a result, as shown in FIG. 1, the reading light irradiating means 80 makes the reading light L2 converged in a line shape substantially orthogonal to the elements 16a and 17a, and
Longitudinal direction of 6a, 17a (arrow Y direction in FIG. 1A)
Is configured to perform scanning exposure. The scanning exposure with the reading light L2 corresponds to sub-scanning.

【0036】このようにして構成された読取光光学系9
0においては、レーザ光源81から発せられた光ビーム
Pの光軸がエレメント16,17aの並び方向と同じと
なるように、該光ビームPを検出器30の側面から長尺
型反射ミラー96の反射面96aに入射させると、入射
した光ビームPは各微小凸面98で所定の拡がり角をな
して検出器30側に反射するので、光ビームPがエレメ
ント16,17aの並び方向に拡大しながらシリンドリ
カルレンズ95に入射する。
The reading light optical system 9 constructed as described above
0, the light beam P is emitted from the side face of the detector 30 to the long reflective mirror 96 so that the optical axis of the light beam P emitted from the laser light source 81 is the same as the direction in which the elements 16 and 17a are arranged. When the light beam P is incident on the reflection surface 96a, the light beam P is reflected at the minute convex surface 98 at a predetermined divergent angle to the detector 30 side, so that the light beam P expands in the direction in which the elements 16 and 17a are arranged. The light enters the cylindrical lens 95.

【0037】なお、微小凸面98として前記凸状の円筒
面を用いたときには、光ビームPはエレメント16,1
7aの長さ方向には殆ど拡がらないが、微小凸面98と
して前記凸状の円球面を用いたときには、光ビームPは
エレメント16,17aの長さ方向に若干拡がる。
When the convex cylindrical surface is used as the minute convex surface 98, the light beam P is applied to the elements 16, 1
Although the light beam P hardly spreads in the length direction of the element 7a, when the convex spherical surface is used as the minute convex surface 98, the light beam P slightly spreads in the length direction of the elements 16, 17a.

【0038】ここで、前述のように、シリンドリカルレ
ンズ95は、その母線がエレメント16a,17aの並
び方向と同じとなるように配置されているので、シリン
ドリカルレンズ95に入射した光ビームPは、少なくと
もエレメント16a,17aの並び方向には、微小凸面
98によって反射された光ビームPがなす拡がり角を維
持したままシリンドリカルレンズ95を通過して検出器
30に入射する。これにより、長尺型反射ミラー96に
よってエレメント16,17aの並び方向に拡大された
光ビームPは、少なくともエレメント16a,17aの
並び方向には、その拡大された状態が維持される。
As described above, since the cylindrical lens 95 is arranged so that its generatrix is in the same direction as the arrangement direction of the elements 16a and 17a, the light beam P incident on the cylindrical lens 95 is at least In the direction in which the elements 16a and 17a are arranged, the light beam P reflected by the minute convex surface 98 passes through the cylindrical lens 95 and enters the detector 30 while maintaining the spread angle formed by the light beam P. Accordingly, the light beam P expanded in the direction in which the elements 16 and 17a are arranged by the long reflective mirror 96 is maintained in the expanded state at least in the direction in which the elements 16a and 17a are arranged.

【0039】一方、シリンドリカルレンズ95は、その
母線がエレメント16a,17aの並び方向と同じとな
るように配置されているので、エレメント16a,17
aの長さ方向(即ち副走査方向)については、光ビーム
Pが検出器30上において収束する。これにより、検出
器30上において、エレメント16a,17aの並び方
向に拡大され副走査方向に収束されたライン状の光ビー
ムPが形成される。
On the other hand, since the cylindrical lens 95 is arranged so that its generatrix is in the same direction as the arrangement direction of the elements 16a and 17a, the elements 16a and 17a are arranged.
The light beam P converges on the detector 30 in the length direction of a (that is, the sub-scanning direction). As a result, on the detector 30, a linear light beam P that is enlarged in the direction in which the elements 16a and 17a are arranged and converged in the sub-scanning direction is formed.

【0040】これにより、レーザ光源81から発せられ
た光ビームPは、略全ての光束が検出器30にライン状
に入射するようになるので、光の利用効率がよくなる。
また、シリンドリカルレンズ95を用いているので、微
小凸面98として前記凸状の円筒面を用いるか、前記凸
状の円球面を用いるかに拘わらず、副走査方向におい
て、光ビームPを収束させるのは容易である。
As a result, the light beam P emitted from the laser light source 81 has almost all the light beams incident on the detector 30 in a linear manner, so that the light use efficiency is improved.
In addition, since the cylindrical lens 95 is used, the light beam P is converged in the sub-scanning direction regardless of whether the convex cylindrical surface is used as the minute convex surface 98 or the convex spherical surface is used. Is easy.

【0041】なお、ライン状に形成された光ビームP
は、実際には、図3(C2)に示すように、エレメント
16a,17aの並び方向に延びた楕円形を呈すると共
に、図3(C3)に示すような強度分布を有するように
なる。
Note that the light beam P formed in a line is
Actually has an elliptical shape extending in the direction in which the elements 16a and 17a are arranged as shown in FIG. 3C2, and has an intensity distribution as shown in FIG. 3C3.

【0042】他方、図1に示すように、エレメント17
aには電流検出回路70が接続されている。この電流検
出回路70は、検出器30内の蓄電部に蓄積された潜像
電荷に対応する電荷を、各エレメント17a毎に読み出
すことにより、潜像電荷の量に応じたレベルの画像信号
を各エレメント17a毎に検出するものである。この電
流検出回路70の構成は、蓄電部に蓄積された潜像電荷
の量に応じたレベルの画像信号を取得できるものである
限り、どのようなものであってもよい(例えば、本願出
願人による特願平10−232824号や同10−27
1374号参照)。
On the other hand, as shown in FIG.
The current detection circuit 70 is connected to a. The current detection circuit 70 reads out the charge corresponding to the latent image charge stored in the power storage unit in the detector 30 for each element 17a, and outputs an image signal having a level corresponding to the amount of the latent image charge. This is detected for each element 17a. The configuration of the current detection circuit 70 may be any configuration as long as an image signal of a level corresponding to the amount of latent image charge stored in the power storage unit can be obtained (for example, the applicant of the present application). Japanese Patent Application Nos. 10-232824 and 10-27
No. 1374).

【0043】電流検出回路70には、エレメント17a
毎に画像信号Sが入力される電流検出アンプ71と読取
光L2の強度分布に起因する画像のムラを軽減するための
補正手段74とが設けられている。補正手段74には、
電流検出アンプ71から出力された画像データを一旦格
納するメモリ75と、補正データを格納するメモリ76
と、メモリ76に格納された補正データD1を参照し
て、メモリ75から読み出した画像データD0に対し
て、図3(C3)に示す光ビームPの強度分布に起因す
る画像のムラを補正する処理を行う演算手段77が設け
られていている。
The current detecting circuit 70 includes an element 17a
A current detection amplifier 71 to which an image signal S is input every time and a correction unit 74 for reducing unevenness of an image due to the intensity distribution of the reading light L2 are provided. The correction means 74 includes
A memory 75 for temporarily storing the image data output from the current detection amplifier 71, and a memory 76 for storing the correction data
Then, referring to the correction data D1 stored in the memory 76, the image data D0 read from the memory 75 is corrected for the unevenness of the image caused by the intensity distribution of the light beam P shown in FIG. Arithmetic means 77 for performing processing is provided.

【0044】上述のようにして構成された読取光照射手
段80を用いて、放射線画像情報が静電潜像として記録
された放射線固体検出器30から画像情報を読み取る際
には、放射線固体検出器30に対して、レーザ光源81
より光ビームPを発し、読取光光学系90により、上述
のようにして該光ビームPをライン状の読取光L2として
形成し、検出器30に照射しながら、レーザ光源81と
読取光光学系90をエレメント16a,17aの長手方
向(図1(A)中のY方向)に検出器30に対して相対
的に移動させる。
When reading the image information from the solid-state radiation detector 30 in which the radiation image information is recorded as an electrostatic latent image by using the reading light irradiation means 80 configured as described above, the radiation solid-state detector 30 is used. 30 and the laser light source 81
A light beam P is emitted, and the reading light optical system 90 forms the light beam P as a linear reading light L2 as described above, and irradiates the detector 30 with the laser light source 81 and the reading light optical system. 90 is moved relatively to the detector 30 in the longitudinal direction of the elements 16a and 17a (the Y direction in FIG. 1A).

【0045】これにより、検出器30から潜像電荷に応
じた電流が流れ出すので、電流検出回路70において
は、この電流を各エレメント17a毎に同時に検出する
ことによって静電潜像を表す画像信号を得る、つまり放
射線画像情報を読み取る。
As a result, a current corresponding to the latent image charge flows out of the detector 30, and the current detection circuit 70 detects the current simultaneously for each element 17a to generate an image signal representing the electrostatic latent image. Obtain, that is, read the radiation image information.

【0046】ところで、レーザ光源81から発せられた
光ビームPを検出器30上においてライン状に形成する
と、その強度分布は、図3(C)に示したように、エレ
メント16a,17aの配列方向X2において、検出器
30の両端部では弱く、中央部が強い状態となる。
By the way, when the light beam P emitted from the laser light source 81 is formed in a line on the detector 30, the intensity distribution is, as shown in FIG. 3C, the arrangement direction of the elements 16a and 17a. At X2, both ends of the detector 30 are weak and the center is strong.

【0047】電流検出回路70において検出される画像
信号レベルは、読取光L2の強度に依存するので、読取光
L2が有する前記強度分布と略同じような分布をなす画像
信号が検出されるようになる。つまり、各エレメント1
7a毎に検出された画像信号としては、検出器30の両
端部に配されたエレメント17aについての信号レベル
は小さく、検出器30の中央部に配されたエレメント1
7aについての信号レベルは大きくなる。したがって、
読取光L2で検出器30の全面を走査して得られた画像信
号に基づいて、そのまま画像を再生すると、前記強度分
布と略同じような分布をなす画像のムラが生じる。
The level of the image signal detected by the current detection circuit 70 depends on the intensity of the reading light L2.
An image signal having a distribution substantially similar to the intensity distribution of L2 is detected. That is, each element 1
As the image signal detected for each 7a, the signal level of the elements 17a arranged at both ends of the detector 30 is small, and the element 1 arranged at the center of the detector 30
The signal level for 7a increases. Therefore,
When an image is reproduced as it is based on an image signal obtained by scanning the entire surface of the detector 30 with the reading light L2, unevenness of the image having a distribution substantially similar to the intensity distribution occurs.

【0048】一方、本実施の形態においては、図1に示
すように、前記強度分布に起因する画像のムラを軽減す
ることができるように、補正手段74が設けられてい
る。補正手段74を構成するメモリ76には、該強度分
布に起因する画像のムラを軽減するための補正データが
格納されている。この補正データとしては各エレメント
17a毎に用意されている。演算手段77は、メモリ7
6から読み出した補正データD1を用いて、前記強度分
布に起因する画像ムラが軽減されるように、メモリ75
から読み出した画像データD0に対して補正データD1
を加算する補正演算を行う。これにより、補正後の画像
データD2に基づいて画像を再生すると、強度分布に起
因する画像ムラという問題を軽減することができる。
On the other hand, in the present embodiment, as shown in FIG. 1, a correction means 74 is provided so as to reduce the unevenness of the image caused by the intensity distribution. The memory 76 constituting the correction means 74 stores correction data for reducing unevenness of the image caused by the intensity distribution. The correction data is prepared for each element 17a. The calculating means 77 is provided in the memory 7
6 using the correction data D1 read from the memory 75 so that image unevenness due to the intensity distribution is reduced.
Correction data D1 for the image data D0 read from
Is performed. Thereby, when an image is reproduced based on the corrected image data D2, the problem of image unevenness due to the intensity distribution can be reduced.

【0049】なお、補正データとしては、強度分布の情
報そのものを格納しておき、演算手段77において、強
度分布の影響が軽減されるような補正演算を行うように
してもよい。
As the correction data, the information of the intensity distribution itself may be stored, and the calculating means 77 may perform a correction operation to reduce the influence of the intensity distribution.

【0050】また、補正データを各エレメント17a毎
に用意するのではなく、所定間隔毎のエレメント17a
についてのみの補正データを用意して、演算手段77に
おける補正演算の際に、補正データが用意されていない
エレメント17aについては補間演算を行うようにして
もよい。
Also, the correction data is not prepared for each element 17a, but for each element 17a.
, Only the correction data may be prepared, and at the time of the correction calculation by the calculation means 77, the interpolation calculation may be performed for the element 17a for which no correction data is prepared.

【0051】なお、凸面の配置密度を中央部と両端部で
変える、或いは凸面の曲率を中央部と両端部で変えるな
どして、強度分布のムラを低減することにより、補正演
算に依ることなく、画像ムラを軽減することもできる。
The unevenness of the intensity distribution is reduced by changing the arrangement density of the convex surface between the center and both ends, or by changing the curvature of the convex surface between the center and both ends, so that the correction calculation is not performed. Also, image unevenness can be reduced.

【0052】次に、本発明を適用した第2の実施の形態
による画像情報読取装置について説明する。
Next, an image information reading apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described.

【0053】図4は本発明の第2の実施の形態による画
像情報読取装置の概略構成を示す図であって、ライン状
の読取光を幅方向で示した断面図(A)、ライン状の読
取光を長さ方向で示した断面図(B)、およびライン状
の読取光を示した図(C)である。
FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of an image information reading apparatus according to a second embodiment of the present invention. FIG. 4 is a sectional view (A) showing a line-shaped reading light in the width direction, and FIG. It is sectional drawing (B) which showed reading light in the length direction, and figure (C) which showed linear reading light.

【0054】この第2の実施の形態による画像情報読取
装置1は、第1の実施の形態において使用したものと同
じ電流検出回路70を備えているが、読取光照射手段8
0が上述の第1の実施の形態による画像情報読取装置1
において使用したものと異なる。放射線固体検出器30
は、ガラス基板20の上面20a上にデバイス部10が
積層されたものであり、デバイス部10のガラス基板2
0の上面20a側には、上述の第1の実施の形態におい
て使用した放射線固体検出器30と同様に、図4(A)
中のY方向が長手方向となるように、多数のエレメント
16a,17a(不図示)が交互にストライプ状に配列
された電極層が設けられている。
The image information reading apparatus 1 according to the second embodiment has the same current detection circuit 70 as that used in the first embodiment, but the reading light irradiating means 8
0 is the image information reading apparatus 1 according to the first embodiment described above.
Is different from that used in Radiation solid state detector 30
Is a device in which the device unit 10 is laminated on the upper surface 20 a of the glass substrate 20.
0 on the upper surface 20a side as in the case of the solid-state radiation detector 30 used in the first embodiment described above.
An electrode layer is provided in which a number of elements 16a, 17a (not shown) are alternately arranged in a stripe shape such that the middle Y direction is the longitudinal direction.

【0055】この第2の実施の形態による画像情報読取
装置1において使用する読取光照射手段80は、図4に
示すように、光ビームPを発するレーザ光源81と、レ
ーザ光源81から発せられた光ビームPを画像検出器と
しての放射線固体検出器30に照射する読取光光学系9
0とを備えている。
The reading light irradiating means 80 used in the image information reading apparatus 1 according to the second embodiment is, as shown in FIG. 4, a laser light source 81 for emitting a light beam P and a laser light source 81 for emitting a light beam P. Reading light optical system 9 for irradiating light beam P to radiation solid state detector 30 as an image detector
0.

【0056】レーザ光源81としては、第1の実施の形
態において使用したものと同じく、半導体レーザまたは
レーザダイオード励起固体レーザを有して成るものを使
用する。
As the laser light source 81, a laser light source having a semiconductor laser or a laser-diode-pumped solid-state laser is used similarly to the laser light source used in the first embodiment.

【0057】読取光光学系90は、レーザ光源81と放
射線固体検出器30のガラス基板20側との間に、レー
ザ光源81側から順に、レーザ光源81から発せられた
光ビームPを集光する凸レンズ91、光ビームPの一部
をフォトダイオード88の検出面に向けて反射し残りを
透過させるハーフミラー92、集光された光ビームPを
通過させるピンホール若しくはスリットが設けられたス
リット板93、スリット板93を通過した光ビームPの
拡がり幅を所定のサイズに制御する凸レンズ94、母線
がエレメント16aの並び方向と同じとなるように配置
されたシリンドリカルレンズ95を有して成る。凸レン
ズ91,94としては、光ビームPがスリット板93の
ピンホール若しくはスリット部に一度収束され、その後
シリンドリカルレンズ95に所定の拡がり角をもって、
且つ少なくとも該シリンドリカルレンズ95の軸方向の
幅内で所定の幅をなして入射するように、光ビームPの
拡がり幅を制御するものである。
The reading light optical system 90 condenses the light beam P emitted from the laser light source 81 between the laser light source 81 and the glass substrate 20 side of the radiation solid state detector 30 in order from the laser light source 81 side. A convex lens 91, a half mirror 92 that reflects a part of the light beam P toward the detection surface of the photodiode 88 and transmits the rest, and a slit plate 93 provided with a pinhole or a slit for passing the collected light beam P , A convex lens 94 for controlling the spread width of the light beam P passing through the slit plate 93 to a predetermined size, and a cylindrical lens 95 arranged so that the generatrix is in the same direction as the arrangement direction of the elements 16a. As the convex lenses 91 and 94, the light beam P is once converged on a pinhole or a slit portion of the slit plate 93, and then the cylindrical lens 95 has a predetermined divergence angle.
Further, the spread width of the light beam P is controlled so that the light beam P enters at a predetermined width within at least the axial width of the cylindrical lens 95.

【0058】これにより、レーザ光源81から光ビーム
Pが所定の拡がり角をなして出射されたとき、光ビーム
Pは1度集光され、ピンホール若しくはスリットを通過
する(空間フィルタリング)ことにより、レーザ光源8
1から発せられた光ビームPに含まれる自然発光光成分
(フォーカス面で絞られないフレア成分)がカットされ
る。
Thus, when the light beam P is emitted from the laser light source 81 at a predetermined divergence angle, the light beam P is converged once and passes through a pinhole or a slit (spatial filtering). Laser light source 8
A natural light component (a flare component that cannot be stopped down on the focus surface) included in the light beam P emitted from 1 is cut off.

【0059】また、前述のように、シリンドリカルレン
ズ95は、その母線がエレメント16aの並び方向と同
じとなるように配置されているので、シリンドリカルレ
ンズ95に入射した光ビームPは、少なくともエレメン
ト16aの並び方向には、制御用レンズ91による拡が
り角を維持したままシリンドリカルレンズ95を通過し
て検出器30に入射する。これにより、レーザ光源81
から発せられた光ビームPは、少なくともエレメント1
6aの並び方向には拡大されたこととなる。
Further, as described above, since the cylindrical lens 95 is arranged so that its generatrix is in the same direction as the arrangement direction of the elements 16a, the light beam P incident on the cylindrical lens 95 can emit at least the element 16a. In the arrangement direction, the light enters the detector 30 through the cylindrical lens 95 while maintaining the divergence angle of the control lens 91. Thereby, the laser light source 81
The light beam P emitted from the
6a is enlarged in the arrangement direction.

【0060】一方、シリンドリカルレンズ95は、その
母線がエレメント16aの並び方向と同じとなるように
配置されているので、エレメント16aの長さ方向(副
走査方向と同じ)については、光ビームPが検出器30
上において収束する。これにより、検出器30デバイス
10上において、エレメント16aの並び方向に拡大さ
れ副走査方向に収束されたライン状の光ビームPが形成
される。
On the other hand, since the cylindrical lens 95 is arranged so that its generatrix is in the same direction as the arrangement direction of the elements 16a, the light beam P is transmitted in the length direction of the element 16a (same as the sub-scanning direction). Detector 30
Converges on As a result, on the detector 30 device, a linear light beam P that is enlarged in the arrangement direction of the elements 16a and converged in the sub-scanning direction is formed.

【0061】これにより、レーザ光源81から発せられ
た光ビームPは、略全ての光束が検出器30のガラス基
板20の下面20bに入射した後、デバイス部10上に
ライン状に入射するようになるので、光の利用効率がよ
くなる。また、シリンドリカルレンズ95を用いている
ので、光ビームPを副走査方向に収束させるのは容易で
ある。また、光源として、半導体レーザを使用している
ので、少ない電力で、十分な光強度を確保することも可
能である。
Thus, the light beam P emitted from the laser light source 81 is such that almost all of the light flux enters the lower surface 20 b of the glass substrate 20 of the detector 30 and then enters the device section 10 in a linear manner. Therefore, light use efficiency is improved. Further, since the cylindrical lens 95 is used, it is easy to converge the light beam P in the sub-scanning direction. Further, since a semiconductor laser is used as a light source, it is possible to secure sufficient light intensity with a small amount of power.

【0062】このようにしてデバイス部10上にライン
状に収束された光ビームPのビーム形状は、図1(C)
に示すように、その長さX2がデバイス部10のエレメ
ント16aの並び幅X1と略等しくなり、その幅X3が
読取りの際の解像可能な副走査方向の画素サイズと等し
く、或いは副走査方向(図1(A)の矢印Y方向)の走
査ピッチ以下となるようにするのが望ましい。このよう
にして、ライン状に形成された光ビームPは読取光L2と
して使用される。
The beam shape of the light beam P converged in a line on the device section 10 in this manner is shown in FIG.
As shown in the figure, the length X2 is substantially equal to the arrangement width X1 of the elements 16a of the device section 10, and the width X3 is equal to the resolvable pixel size in the sub-scanning direction at the time of reading, or It is desirable that the scanning pitch be equal to or less than the scanning pitch (in the direction of arrow Y in FIG. 1A). The light beam P thus formed in a line is used as the reading light L2.

【0063】また読取光照射手段80には、レーザ光源
81と読取光光学系90とを一体的に図4(A)中のY
方向に相対的に移動(メカニカルスキャン)させる不図
示の機械的な移動(走査)手段が設けられている。これ
により、読取光照射手段80は、ライン状に収束された
読取光L2を図4(A)中の矢印Y方向(第1の実施の形
態と同じように、不図示のエレメント16a,17aの
長手方向と概略直交させつつ、エレメント16a,17
aの長手方向)に走査露光するように構成されている。
この読取光L2による走査露光も副走査に対応する。
The reading light irradiating means 80 integrally includes a laser light source 81 and a reading light optical system 90 as shown in FIG.
A mechanical moving (scanning) means (not shown) for relatively moving (mechanical scanning) in the direction is provided. As a result, the reading light irradiating means 80 applies the reading light L2 converged in a line shape to the direction of the arrow Y in FIG. 4A (similar to the first embodiment, the elements 16a and 17a not shown). While being substantially perpendicular to the longitudinal direction, the elements 16a, 17
(longitudinal direction a).
The scanning exposure using the reading light L2 also corresponds to the sub-scanning.

【0064】このようにして構成された第2の実施の形
態による読取光照射手段80を用いて、放射線画像情報
が静電潜像として記録された放射線固体検出器30から
画像情報を読み取る方法は、上記第1の実施の形態によ
る読取光照射手段80を用いる場合と同様である。
The method of reading image information from the solid-state radiation detector 30 on which radiation image information is recorded as an electrostatic latent image by using the reading light irradiation means 80 according to the second embodiment configured as described above is as follows. This is the same as the case where the reading light irradiation means 80 according to the first embodiment is used.

【0065】また、この第2の実施の形態による読取光
照射手段80を用いた場合においても、ライン状に形成
された光ビームPは、上述したように、図4(C)に示
すような強度分布を有するが、第1の実施の形態と同様
に補正処理を施すことにより、強度分布に起因する画像
ムラを軽減することができる。
In the case where the reading light irradiating means 80 according to the second embodiment is used, the light beam P formed in a line shape as shown in FIG. Although it has an intensity distribution, by performing correction processing in the same manner as in the first embodiment, image unevenness due to the intensity distribution can be reduced.

【0066】以上本発明による画像情報読取方法および
装置の好ましい実施の形態について説明したが、本発明
は必ずしも上述した実施の形態に限定されるものではな
い。
Although the preferred embodiments of the image information reading method and apparatus according to the present invention have been described above, the present invention is not necessarily limited to the above-described embodiments.

【0067】例えば、上述の説明は、画像検出器とし
て、放射線固体検出器を使用するものについて説明した
ものであるが、画像検出器は、放射線固体検出器に限定
されるものではなく、画像情報を担持する電荷を潜像電
荷として蓄積する2次元状に分布した蓄電部および該蓄
電部に蓄積された潜像電荷の量に応じたレベルの電気信
号を取り出すための線状電極を多数略平行に配してなる
光読出方式の画像検出器であれば、どのようなものを使
用してもよく、例えばサブ電極が設けられていないスト
ライプ電極のみからなるものであってもよい。
For example, the above description has been made on the case where the solid-state radiation detector is used as the image detector. However, the image detector is not limited to the solid-state radiation detector, and the image information is not limited to the solid-state radiation detector. And a plurality of linear electrodes for extracting electric signals of a level corresponding to the amount of the latent image charges stored in the two-dimensionally-stored charge storing the electric charges carrying as the latent image charges. Any optical reading type image detector may be used. For example, it may be composed of only stripe electrodes without sub-electrodes.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態による画像情報読取
装置の概略構成を示す図
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an image information reading device according to a first embodiment of the present invention;

【図2】レーザダイオード励起固体レーザの一例を示す
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a laser diode-pumped solid-state laser.

【図3】図1に示す画像情報読取装置に使用される読取
光照射手段の詳細を示す図であって、正面図(A)、左
側面図(B)および光ビームの強度分布を正面図(A)
に対応させて示した図(C1)〜(C3)
FIG. 3 is a view showing details of a reading light irradiation unit used in the image information reading apparatus shown in FIG. 1, and is a front view (A), a left side view (B), and a front view showing a light beam intensity distribution. (A)
(C1) to (C3) shown corresponding to FIG.

【図4】本発明の第2の実施の形態による画像情報読取
装置の概略構成を示す図であって、ライン状の読取光を
幅方向で示した断面図(A)およびライン状の読取光を
長さ方向で示した断面図(B)、ライン状の読取光を示
した図(C)
FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of an image information reading apparatus according to a second embodiment of the present invention, and is a sectional view (A) showing a line-shaped reading light in a width direction and a line-shaped reading light. (B) in a longitudinal direction, and (C) in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 画像情報読取装置 10 デバイス部 20 ガラス基板 20a 上面 20b 下面 30 画像検出器としての放射線固体検出器 70 電流検出回路 74 補正手段 80 読取光照射手段 90 読取光光学系 96 長尺型反射ミラー 98 微小凸面 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Image information reading apparatus 10 Device part 20 Glass substrate 20a Upper surface 20b Lower surface 30 Solid-state radiation detector as an image detector 70 Current detection circuit 74 Correction means 80 Reading light irradiation means 90 Reading light optical system 96 Elongated reflection mirror 98 Micro convex

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 5/02 H01S 5/02 H04N 1/04 H04N 1/04 E Fターム(参考) 2H013 AC01 AC05 2H045 AG09 5C072 AA01 BA06 BA17 CA06 DA03 DA04 HA02 HB10 RA12 VA01 5F072 AB02 KK12 MM08 QQ02 RR03 YY15 5F073 AB23 AB27 BA04 EA07 EA15 EA27 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01S 5/02 H01S 5/02 H04N 1/04 H04N 1/04 EF term (Reference) 2H013 AC01 AC05 2H045 AG09 5C072 AA01 BA06 BA17 CA06 DA03 DA04 HA02 HB10 RA12 VA01 5F072 AB02 KK12 MM08 QQ02 RR03 YY15 5F073 AB23 AB27 BA04 EA07 EA15 EA27

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 画像情報を担持する電荷を潜像電荷とし
て蓄積する2次元状に分布した蓄電部、および該蓄電部
に蓄積された前記潜像電荷の量に応じたレベルの電気信
号を取り出すための線状電極を多数略平行に配してなる
光読出方式の画像検出器を使用して、前記線状電極の並
び方向に延びたライン状の読取光を該線状電極の長手方
向に走査して、該走査により前記線状電極毎に出力され
る電気信号を取得することにより、前記画像情報が前記
蓄電部に静電潜像として記録された前記画像検出器から
前記画像情報を読み取る画像情報読取方法において、 光ビームを前記線状電極の並び方向には拡大し且つ前記
走査の方向には収束させて前記ライン状の読取光を形成
することを特徴とする画像情報読取方法。
1. A two-dimensionally distributed power storage unit for storing charges carrying image information as latent image charges, and an electric signal of a level corresponding to the amount of the latent image charges stored in the power storage unit is taken out. Using a light reading type image detector in which a large number of linear electrodes are arranged substantially parallel to each other, a linear read light extending in the direction in which the linear electrodes are arranged is transmitted in the longitudinal direction of the linear electrodes. Scanning, and acquiring the electric signal output for each of the linear electrodes by the scanning, thereby reading the image information from the image detector in which the image information is recorded as an electrostatic latent image in the power storage unit. In the image information reading method, the light beam is expanded in the direction in which the linear electrodes are arranged and converged in the scanning direction to form the linear reading light.
【請求項2】 多数の微小凸面が直線状に配列されてな
る長尺型反射ミラーを、前記線状電極の並び方向と平行
で且つ前記画像検出器の表面に垂直な面内に、前記微小
凸面が該表面に対向するようにして該表面に対して所定
の角度をなすように配置し、前記光ビームの光軸が前記
並び方向と同じとなるように、該光ビームを該長尺型反
射ミラーに入射させて該光ビームを前記微小凸面で反射
させることにより前記光ビームを前記線状電極の並び方
向に拡大することを特徴とする請求項1記載の画像情報
読取方法。
2. An elongated reflecting mirror having a large number of minute convex surfaces arranged in a straight line, wherein said minute reflecting mirror is arranged in a plane parallel to a direction in which said linear electrodes are arranged and perpendicular to a surface of said image detector. The light beam is disposed in such a manner that the convex surface faces the surface and forms a predetermined angle with respect to the surface, and the light beam is elongated so that the optical axis of the light beam is the same as the arrangement direction. 2. The image information reading method according to claim 1, wherein the light beam is expanded in a direction in which the linear electrodes are arranged by making the light beam incident on a reflection mirror and reflecting the light beam on the minute convex surface.
【請求項3】 シリンドリカル光学部材を、該シリンド
リカル光学部材の母線が前記線状電極の並び方向と同じ
となるように配置し、前記線状電極の並び方向に拡大さ
れた光ビームを該シリンドリカル光学部材に入射させる
ことにより前記ライン状の読取光を形成することを特徴
とする請求項1または2記載の画像情報読取方法。
3. The cylindrical optical member is arranged such that the generatrix of the cylindrical optical member is in the same direction as the direction in which the linear electrodes are arranged, and the light beam expanded in the direction in which the linear electrodes are arranged is subjected to the cylindrical optical member. 3. The image information reading method according to claim 1, wherein the line-shaped reading light is formed by being incident on a member.
【請求項4】 前記ライン状の読取光の前記線状電極の
並び方向の強度分布に起因する、読み取られた前記画像
情報のムラを補正することを特徴とする請求項1から3
いずれか1項記載の画像情報読取方法。
4. The apparatus according to claim 1, wherein the unevenness of the read image information due to the intensity distribution of the linear read light in the direction in which the linear electrodes are arranged is corrected.
The image information reading method according to claim 1.
【請求項5】 画像情報を担持する電荷を潜像電荷とし
て蓄積する2次元状に分布した蓄電部、および該蓄電部
に蓄積された前記潜像電荷の量に応じたレベルの電気信
号を取り出すための線状電極を多数略平行に配してなる
光読出方式の画像検出器と、前記線状電極の並び方向に
延びたライン状の読取光を該線状電極の長手方向に走査
して前記画像検出器の略全面を照射する読取光照射手段
と、該走査により前記線状電極毎に出力される電気信号
を取得する画像信号取得手段とを備えた画像情報読取装
置において、 前記読取光照射手段が、光ビームを前記線状電極の並び
方向には拡大し且つ前記走査の方向には収束させて前記
ライン状の読取光を形成する光学系を備えたものである
ことを特徴とする画像情報読取装置。
5. A two-dimensionally distributed power storage unit for storing charges carrying image information as latent image charges, and extracting an electric signal at a level corresponding to the amount of the latent image charges stored in the power storage unit. An image sensor of an optical reading system in which a large number of linear electrodes are arranged substantially in parallel, and a linear read light extending in the direction in which the linear electrodes are arranged is scanned in the longitudinal direction of the linear electrodes. An image information reading apparatus comprising: a reading light irradiation unit that irradiates substantially the entire surface of the image detector; and an image signal obtaining unit that obtains an electric signal output for each of the linear electrodes by the scanning. The irradiating means includes an optical system for expanding the light beam in the direction in which the linear electrodes are arranged and converging the light beam in the scanning direction to form the linear read light. Image information reading device.
【請求項6】 前記光学系が、多数の微小凸面が直線状
に配列されて成り、前記線状電極の並び方向と平行で且
つ前記画像検出器の表面に垂直な面内に、前記微小凸面
が該表面に対向するようにして該表面に対して所定の角
度をなすように配置された長尺型反射ミラーを有して成
り、光軸が前記並び方向と同じとなるように該長尺型反
射ミラーに入射された光ビームを前記微小凸面で反射さ
せることにより前記光ビームを前記線状電極の並び方向
に拡大するものであることを特徴とする請求項5記載の
画像情報読取装置。
6. The optical system according to claim 1, wherein the plurality of minute convex surfaces are linearly arranged, and the minute convex surface is formed in a plane parallel to a direction in which the linear electrodes are arranged and perpendicular to a surface of the image detector. Comprises a long reflecting mirror arranged at a predetermined angle to the surface so as to face the surface, and the long reflecting mirror is arranged so that the optical axis is the same as the alignment direction. 6. The image information reading apparatus according to claim 5, wherein the light beam is expanded in the direction in which the linear electrodes are arranged by reflecting the light beam incident on the reflection mirror on the minute convex surface.
【請求項7】 前記光学系が、母線が前記線状電極の並
び方向と同じとなるように配置され、入射された前記線
状電極の並び方向に拡大された光ビームを前記ライン状
に形成するシリンドリカル光学部材を有して成るもので
あることを特徴とする請求項5または6記載の画像情報
読取装置。
7. The optical system is arranged such that a generatrix is arranged in the same direction as the arrangement of the linear electrodes, and forms an incident light beam expanded in the arrangement direction of the linear electrodes into the line. 7. The image information reading device according to claim 5, wherein the image information reading device has a cylindrical optical member.
【請求項8】 前記読取光照射手段が、前記光ビームを
発する半導体レーザまたはレーザダイオード励起固体レ
ーザを有して成るものであることを特徴とする請求項5
から7いずれか1項記載の画像情報読取装置。
8. The apparatus according to claim 5, wherein said reading light irradiating means includes a semiconductor laser or a laser diode pumped solid-state laser for emitting said light beam.
8. The image information reading device according to any one of claims 1 to 7.
【請求項9】 前記ライン状の読取光の前記線状電極の
並び方向の強度分布に起因する、前記画像信号取得手段
により取得された電気信号が担持する前記画像情報のム
ラを補正する補正手段をさらに備えたことを特徴とする
請求項5から8いずれか1項記載の画像情報読取装置。
9. A correcting means for correcting unevenness of the image information carried by the electric signal acquired by the image signal acquiring means, which is caused by the intensity distribution of the linear reading light in the direction in which the linear electrodes are arranged. 9. The image information reading apparatus according to claim 5, further comprising:
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