JP2001056860A - Image processor - Google Patents

Image processor

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JP2001056860A
JP2001056860A JP11233774A JP23377499A JP2001056860A JP 2001056860 A JP2001056860 A JP 2001056860A JP 11233774 A JP11233774 A JP 11233774A JP 23377499 A JP23377499 A JP 23377499A JP 2001056860 A JP2001056860 A JP 2001056860A
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JP
Japan
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image
value
luminance value
measurement
frequency component
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JP11233774A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomomi Morino
知視 森野
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the erroneous detection of a background area by calculating a luminance value to become an extremal value by calculating the ratio of numbers of significant pixels for each luminance value from the number of significant pixels when a measured image is binarized for each luminance value, and defining the luminance value of the extreme value close to '1' as a threshold value. SOLUTION: A first histogram measuring circuit 8a measures the frequency of generation for each luminance value of the measured image, a low-pass filter circuit 20 extracts the low frequency component of the measured value and outputs it as a low frequency component image and a second histogram measuring circuit 8b measures the frequency of generation for each luminance value of a low frequency component image 21. A significant pixel number ratio calculating circuit 22 calculates the ratio of numbers of significant pixels for each luminance value from the number of significant pixels when the measured value of the first histogram measuring circuit 8a is inputted and a measured image 7 is binarized for each luminance value and the number of significant pixels when the measured value of the second histogram measuring circuit 8b is inputted and the measured image 7 is binarized for each luminance value. A first threshold value selecting circuit 23 calculates the luminance value having the extreme value of the significant pixel number ratio and selects the luminance value of the extreme value close to '1' as a threshold value 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は,航空機や艦船等
に搭載して,艦船、航空機等の目標を赤外線画像を用い
て検出する画像処理装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image processing apparatus mounted on an aircraft or a ship to detect a target of the ship or the aircraft using an infrared image.

【0002】[0002]

【従来の技術】まず、この種の画像処理装置を図9を用
いて説明する。図9において、1はこの種の画像処理装
置を搭載している航空機、2は画像処理装置、3は目標
で、例えば海上を走行している艦船である。図10は図
9において画像処理装置2の構成を示すブロック図であ
り、図10においては、4は赤外線の放射強度に応じて
変化する電圧値を画素毎に濃淡画像として出力する赤外
線撮像回路,5は濃淡画像,6は濃淡画像5に計測領域
を設定し計測画像として出力するゲート設定回路、7は
計測画像、8aは計測画像の輝度値毎に発生頻度を計測
する第1のヒストグラム計測回路、9は第1のヒストグ
ラム計測回路8aの計測結果から閾値を算出する閾値算
出回路、10は閾値、11aは計測画像7の輝度値と閾
値10とを比較して二値画像を出力する第1の二値化回
路、12は二値画像、13は二値画像12の有意画素の
連結状態を判別し重心位置を算出する重心値算出回路、
14は重心値算出回路13が算出する重心値である。
2. Description of the Related Art First, an image processing apparatus of this type will be described with reference to FIG. In FIG. 9, reference numeral 1 denotes an aircraft equipped with this type of image processing device, reference numeral 2 denotes an image processing device, and reference numeral 3 denotes a target, for example, a ship running on the sea. FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of the image processing device 2 in FIG. 9, and in FIG. 10, reference numeral 4 denotes an infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the intensity of infrared radiation as a grayscale image for each pixel; Reference numeral 5 denotes a gray-scale image, 6 denotes a gate setting circuit that sets a measurement area in the gray-scale image 5 and outputs the measurement image, 7 denotes a measurement image, and 8a denotes a first histogram measurement circuit that measures an occurrence frequency for each luminance value of the measurement image. , 9 is a threshold value calculation circuit for calculating a threshold value from the measurement result of the first histogram measurement circuit 8a, 10 is a threshold value, 11a is a first value for comparing the luminance value of the measurement image 7 with the threshold value 10 and outputting a binary image. 12 is a binary image, 13 is a barycentric value calculating circuit that determines the connection state of significant pixels of the binary image 12 and calculates the barycentric position,
Reference numeral 14 denotes a center of gravity value calculated by the center of gravity value calculation circuit 13.

【0003】従来の画像処理装置は前記のように構成さ
れ,赤外線撮像回路4は赤外線の放射強度に応じて変化
する電圧値を画素毎に濃淡画像5として出力する。ゲー
ト設定回路6は濃淡画像5中に計測領域を設定し、処理
領域を限定した計測画像7を出力する。第1のヒストグ
ラム計測回路8は計測画像7のヒストグラム計測を行
う。
The conventional image processing apparatus is configured as described above, and the infrared imaging circuit 4 outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity of the infrared light as a grayscale image 5 for each pixel. The gate setting circuit 6 sets a measurement area in the grayscale image 5 and outputs a measurement image 7 in which the processing area is limited. The first histogram measurement circuit 8 measures the histogram of the measurement image 7.

【0004】閾値算出回路9は、ヒストグラム計測値か
ら有意領域と背景領域の2つのクラスに分けたとき、ク
ラス間の平均値がなるべく大きく、且つクラス内の分散
がなるべく小さくなるように閾値10を算出する。(1
980年に電子情報通信学会から発行された,信学論
(D),J63-D,pp.346-356「判別および最小2乗基準に基
づく自動しきい値判定法」を参照。)
When the threshold value calculating circuit 9 divides the histogram measurement value into two classes of a significant region and a background region, it sets a threshold value 10 so that the average value between the classes is as large as possible and the variance within the class is as small as possible. calculate. (1
IEICE published in 980 by IEICE
(D), J63-D, pp. 346-356, "Automatic threshold decision method based on discrimination and least square criterion". )

【0005】第1の二値化回路11aは、例えば“数
1”に示すような動作により、計測画像7を閾値10で
二値化し,二値画像12を出力する。
The first binarizing circuit 11a binarizes the measured image 7 with a threshold value 10 and outputs a binary image 12 by an operation shown in, for example, "Equation 1".

【0006】[0006]

【数1】 (Equation 1)

【0007】但し、B(I,J)は位置(I,J)における計
測画像7の輝度値、Threshは閾値10、Bin1(I,J)は二
値画像12である。
Here, B (I, J) is the luminance value of the measurement image 7 at the position (I, J), Thresh is the threshold value 10, and Bin1 (I, J) is the binary image 12.

【0008】第1の二値化回路11aは、例えば、計測
画像7の輝度値が閾値12より大きい画素は有意画素と
して“1”を出力し,小さい画素は有意でないとして
“0”を出力する。重心値算出回路13は,二値画像1
2を入力して,各有意画素の連結状態を判別し連結領域
毎の重心値14を目標位置として出力する。
The first binarization circuit 11a outputs, for example, "1" as a significant pixel if the luminance value of the measured image 7 is larger than the threshold value 12, and outputs "0" as a small pixel is not significant. . The center-of-gravity value calculation circuit 13 calculates the binary image 1
2, the connected state of each significant pixel is determined, and the center of gravity value 14 for each connected area is output as a target position.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】従来の装置は以上の様
に構成されているので,図9に示すように,航空機1に
搭載して目標3を赤外線撮像回路5で撮像した場合、閾
値算出回路9は第1のヒストグラム算出回路8aで計測
されたヒストグラムから物体と背景の2つのクラスに分
けた場合、クラス間の平均値がなるべく大きく、クラス
内の分散がなるべく小さくなるように閾値を算出するの
で、背景領域の画素数と目標領域の画素数とに差異があ
る場合、閾値10が背景領域を構成する輝度値に設定さ
れてしまう。
Since the conventional apparatus is configured as described above, as shown in FIG. 9, when the target 3 is mounted on the aircraft 1 and imaged by the infrared imaging circuit 5, the threshold value is calculated. When the circuit 9 divides the histogram measured by the first histogram calculation circuit 8a into two classes, an object and a background, it calculates a threshold value so that the average value between the classes is as large as possible and the variance within the class is as small as possible. Therefore, if there is a difference between the number of pixels in the background area and the number of pixels in the target area, the threshold value 10 is set to a luminance value forming the background area.

【0010】図11は図9で得られる濃淡画像5の例を
示したものである。15はゲート設定回路6で設定され
る計測領域を示す。16は目標領域,17は背景領域で
ある。
FIG. 11 shows an example of the gray image 5 obtained in FIG. Reference numeral 15 denotes a measurement area set by the gate setting circuit 6. 16 is a target area, and 17 is a background area.

【0011】図12は第1のヒストグラム計測回路8a
の計測例を示している。18は背景領域17の発生頻度
分布,19は目標領域16の発生頻度分布例である。
FIG. 12 shows a first histogram measuring circuit 8a.
2 shows a measurement example. Reference numeral 18 denotes an occurrence frequency distribution of the background area 17, and 19 denotes an example of the occurrence frequency distribution of the target area 16.

【0012】閾値算出回路9において、目標領域と背景
領域の画素数に差があると、クラス内の分散を小さくし
ようとする作用により、背景画素の輝度分散を小さくす
るように閾値10を算出する。例えば、図12に示すよ
うなA点を閾値10として算出する。
When there is a difference between the number of pixels in the target area and the number of pixels in the background area, the threshold value calculating circuit 9 calculates the threshold value 10 so as to reduce the luminance variance of the background pixels by the action of reducing the variance in the class. . For example, a point A as shown in FIG.

【0013】よって、二値画像12の有意画素に背景領
域17の一部が含まれ、背景領域17の一部を目標とし
て誤検出する問題があった。
Therefore, there is a problem that a significant part of the binary image 12 includes a part of the background area 17 and a part of the background area 17 is erroneously detected as a target.

【0014】この発明は、かかる課題を解決するために
なされたものであり、背景領域の誤検出を防ぐことがで
きる画像処理装置を提供するものである。
The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an image processing apparatus capable of preventing erroneous detection of a background area.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】第1の発明による画像処
理装置は、計測画像の輝度値毎に発生頻度を計測する第
1のヒストグラム計測手段と、上記計測画像の低周波成
分を抽出し低域成分画像として出力する低域成分画像抽
出手段と、上記低域成分画像の輝度値毎に発生頻度を計
測する第2のヒストグラム計測手段と、上記第1のヒス
トグラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を輝
度値毎に二値化した場合の有意画素数と上記第2のヒス
トグラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を輝
度値毎に二値化した場合の有意画素数とから輝度値毎の
有意画素数比を算出する有意画素数比算出手段と、上記
有意画素数比が極値となる輝度値を算出し、極値が1に
近い輝度値を閾値として選定する閾値選定手段とを備え
たものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an image processing apparatus comprising: first histogram measuring means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of a measured image; A low-frequency component image extracting unit that outputs a low-frequency component image, a second histogram measuring unit that measures the frequency of occurrence for each luminance value of the low-frequency component image, and a measurement value of the first histogram measurement unit. The number of significant pixels when the measurement image is binarized for each luminance value and the measurement value of the second histogram measurement unit are input, and the number of significant pixels when the measurement image is binarized for each luminance value And a significant pixel number ratio calculating means for calculating a significant pixel number ratio for each brightness value, calculating a brightness value at which the significant pixel number ratio is an extreme value, and selecting a brightness value at which the extreme value is close to 1 as a threshold value And a threshold selecting means.

【0016】第2の発明による画像処理装置は、計測画
像の輝度値毎に発生頻度を計測する第1のヒストグラム
計測手段と、上記計測画像の低周波成分を抽出し低域成
分画像として出力する低域成分画像抽出手段と、上記低
域成分画像の輝度値毎に発生頻度を計測する第2のヒス
トグラム計測手段と、上記第1のヒストグラム計測手段
の計測値を入力し、上記計測画像を輝度値毎に二値化し
た場合の有意画素数と上記第2のヒストグラム計測手段
の計測値を入力し、上記計測画像を輝度値毎に二値化し
た場合の有意画素数とから輝度値毎の有意画素数比を算
出する有意画素数比算出手段と、パラメータ値と上記有
意画素数比の極値を比較し、パラメータ値を超えない、
且つ1に近い極値の輝度値を閾値として選定する閾値選
定手段とを備えたものである。
An image processing apparatus according to a second aspect of the present invention includes a first histogram measuring means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of a measurement image, and a low-frequency component of the measurement image, which is output as a low-frequency component image. A low-frequency component image extracting means, a second histogram measuring means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the low-frequency component image, and a measurement value of the first histogram measuring means, and The number of significant pixels when binarized for each value and the measurement value of the second histogram measuring unit are input, and the number of significant pixels when the measured image is binarized for each luminance value is calculated for each luminance value. A significant pixel number ratio calculating means for calculating a significant pixel number ratio, comparing the parameter value with the extreme value of the significant pixel number ratio, and not exceeding the parameter value;
And a threshold value selecting means for selecting an extreme luminance value close to 1 as a threshold value.

【0017】第3の発明による画像処理装置は、計測画
像の輝度値毎に発生頻度を計測する第1のヒストグラム
計測手段と、上記計測画像の低周波成分を抽出し低域成
分画像として出力する低域成分画像抽出手段と、上記低
域成分画像の輝度値毎に発生頻度を計測する第2のヒス
トグラム計測手段と、上記第1のヒストグラム計測手段
の計測値を入力し、上記計測画像を輝度値毎に二値化し
た場合の背景画素数と上記第2のヒストグラム計測手段
の計測値を入力し、上記計測画像を輝度値毎に二値化し
た場合の背景画素数とから輝度値毎の背景画素数比を算
出する背景画素数比算出手段と、上記背景画素数比が極
値となる輝度値を算出し、極値が1に近い輝度値を閾値
として選定する閾値選定手段とを備えたものである。
An image processing apparatus according to a third aspect of the present invention has a first histogram measuring means for measuring the frequency of occurrence for each luminance value of a measured image, and extracts a low-frequency component of the measured image and outputs it as a low-frequency component image. A low-frequency component image extracting means, a second histogram measuring means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the low-frequency component image, and a measurement value of the first histogram measuring means, and The number of background pixels when binarized for each value and the measurement value of the second histogram measuring means are input, and the number of background pixels when the measurement image is binarized for each luminance value is calculated for each luminance value. A background pixel number ratio calculating unit that calculates a background pixel number ratio; and a threshold value selecting unit that calculates a luminance value at which the background pixel number ratio is an extreme value and selects a luminance value whose extreme value is close to 1 as a threshold value. It is a thing.

【0018】第4の発明による画像処理装置は、計測画
像の輝度値毎に発生頻度を計測する第1のヒストグラム
計測手段と、上記計測画像の低周波成分を抽出し低域成
分画像として出力する低域成分画像抽出手段と、上記低
域成分画像の輝度値毎に発生頻度を計測する第2のヒス
トグラム計測手段と、上記第1のヒストグラム計測手段
の計測値を入力し、上記計測画像を輝度値毎に二値化し
た場合の背景画素数と上記第2のヒストグラム計測手段
の計測値を入力し、上記計測画像を輝度値毎に二値化し
た場合の背景画素数とから輝度値毎の背景画素数比を算
出する背景画素数比算出手段と、パラメータ値と上記背
景画素数比の極値を比較し、パラメータ値を超えない、
且つ1に近い極値の輝度値を閾値として選定する閾値選
定手段とを備えたものである。
An image processing apparatus according to a fourth aspect of the present invention includes a first histogram measuring means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of a measured image, and a low frequency component of the measured image is extracted and output as a low-frequency component image. A low-frequency component image extracting means, a second histogram measuring means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the low-frequency component image, and a measurement value of the first histogram measuring means, and The number of background pixels when binarized for each value and the measurement value of the second histogram measuring means are input, and the number of background pixels when the measurement image is binarized for each luminance value is calculated for each luminance value. Background pixel number ratio calculating means for calculating the background pixel number ratio, comparing the parameter value with the extreme value of the background pixel number ratio, and does not exceed the parameter value;
And a threshold value selecting means for selecting an extreme luminance value close to 1 as a threshold value.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は実施の形態
1を示す構成図である。図1において、20は計測画像
の低周波成分を抽出し低域成分画像として出力する低域
フィルタ回路、21は低域成分画像、8bは低域成分画
像21の輝度値毎に発生頻度を計測する第2のヒストグ
ラム計測回路、22は第1のヒストグラム計測回路8a
の計測値を入力し計測画像7を輝度値毎に二値化した場
合の有意画素数と第2のヒストグラム計測回路8bの計
測値を入力し計測画像7を輝度値毎に二値化した場合の
有意画素数とから輝度値毎の有意画素数比を算出する有
意画素数比算出回路と、23は有意画素数比が極大値と
なる輝度値を算出し、極大値が1に近い輝度値を閾値1
0として選定する第1の閾値選定回路である。4から
7、8a、10、11a、12から14は図10におけ
るものと同等である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a configuration diagram showing the first embodiment. In FIG. 1, reference numeral 20 denotes a low-pass filter circuit for extracting a low-frequency component of the measurement image and outputting the extracted low-frequency component as a low-pass component image; 21, a low-pass component image; The second histogram measurement circuit 8a, the first histogram measurement circuit 8a
When the measured image is input and the measured image 7 is binarized for each luminance value, and the number of significant pixels and the measured value of the second histogram measuring circuit 8b are input and the measured image 7 is binarized for each luminance value A significant pixel number ratio calculating circuit that calculates a significant pixel number ratio for each luminance value from the significant pixel number of the luminance value; and 23 calculates a luminance value at which the significant pixel number ratio has a maximum value, and a luminance value at which the maximum value is close to 1 To threshold 1
It is a first threshold value selection circuit that is selected as 0. 4 to 7, 8a, 10, 11a and 12 to 14 are equivalent to those in FIG.

【0020】有意画素数比算出回路22は、まず“数
2”と“数3”により計測画像7を輝度値毎に二値化し
た場合の有意画素数と低域成分画像21を輝度値毎に二
値化した場合の有意画素数とを求める。
The significant pixel number ratio calculating circuit 22 first converts the number of significant pixels and the low-frequency component image 21 when the measured image 7 is binarized for each luminance value by using “Expression 2” and “Expression 3”. And the number of significant pixels when binarized.

【0021】[0021]

【数2】 (Equation 2)

【0022】[0022]

【数3】 (Equation 3)

【0023】SUM_all_w(B) 但し、“数2”のは計測画
像7を輝度値Bで二値化した場合
SUM_all_w (B) where “Expression 2” indicates that the measured image 7 is binarized by the luminance value B.

【0024】有意画素数比算出回路22において計測画
像7と低域成分画像21をそれぞれ同じ輝度値で二値化
した場合の有意画素数比を求める。“数4”は有意画素
数比の算出例である。
A significant pixel number ratio calculating circuit 22 calculates a significant pixel number ratio when the measured image 7 and the low-frequency component image 21 are respectively binarized at the same luminance value. “Equation 4” is an example of calculating the significant pixel number ratio.

【0025】[0025]

【数4】 (Equation 4)

【0026】Est_w(B) 但し、“数4”のは、有意画素
数比を表す。
Est_w (B) where “Equation 4” represents the ratio of significant pixels.

【0027】“数4”の有意画素数比の変化例を図2に
示す。図2(a)は図11における計測画像7の目標領
域16付近の輝度分布状態、図2(b)は図11におけ
る低域成分画像21の目標領域16付近の輝度分布状態
を示す。図2(c)は“数4”の有意画素数比と輝度値
の変化を示したものである。
FIG. 2 shows an example of a change in the ratio of the number of significant pixels in "Equation 4". 2A shows a luminance distribution state near the target area 16 of the measurement image 7 in FIG. 11, and FIG. 2B shows a luminance distribution state near the target area 16 of the low-frequency component image 21 in FIG. FIG. 2C shows a change in the significant pixel number ratio and the luminance value in “Equation 4”.

【0028】図2(a)の範囲内の閾値で計測画像7
を二値化した場合、有意画素が発生する。一方、低域成
分画像21ではノイズによる高周波成分が除去されてい
るので、同値の閾値で二値化しても有効画素が発生しな
い。よって、“数2”より“数3”が大きくなり、“数
4”の有意画素数比は“1”より大きくなる。
The measured image 7 with the threshold value within the range of FIG.
Is binarized, significant pixels are generated. On the other hand, in the low-frequency component image 21, high-frequency components due to noise have been removed, so that no effective pixels are generated even if binarization is performed using the same threshold value. Therefore, "Equation 3" becomes larger than "Equation 2", and the ratio of the number of significant pixels of "Equation 4" becomes larger than "1".

【0029】閾値が図2(a)の範囲内の場合、低域
成分画像21を二値化した場合の有意画素数が大きくな
り、“数4”による有意画素数比が下降し、極小点を形
成する。
When the threshold value is within the range shown in FIG. 2A, the number of significant pixels when the low-frequency component image 21 is binarized increases, the ratio of the number of significant pixels according to "Equation 4" decreases, and the minimum point To form

【0030】閾値が図2(a)の範囲内の場合、目標
エッジ部分の高周波成分の影響により低域成分画像21
での“数3”の有意画素数が計測画像での“数2”の有
意画素数より少なくなり、“数4”の有意画素数比が増
大する。
When the threshold value is within the range of FIG. 2A, the low-frequency component image 21 is affected by the high-frequency component of the target edge portion.
Is smaller than the number of significant pixels of “Expression 2” in the measurement image, and the ratio of the number of significant pixels of “Expression 4” is increased.

【0031】閾値が図2(a)の範囲内の場合、計測
画像と低域成分画像との有意画素数が同等になり、“数
4”の有意画素数比が“1”付近まで下降する。
When the threshold value is within the range shown in FIG. 2A, the number of significant pixels of the measured image and the low-frequency component image becomes equal, and the ratio of the number of significant pixels in "Equation 4" drops to around "1". .

【0032】閾値が図2(a)の範囲内の場合、背景
領域のノイズ成分が高周波成分となるため、計測画像の
有意画素数が大きくなり、“数4”の有意画素数比が増
大する。
When the threshold value is within the range shown in FIG. 2A, the noise component in the background region is a high-frequency component, so that the number of significant pixels of the measured image increases, and the ratio of the number of significant pixels in "Equation 4" increases. .

【0033】閾値が図2(a)の範囲内の場合、低域
成分画像の方が有意画素数が大きくなり、“数4”の有
意画素数比が下降し極小点を形成する。
When the threshold value is within the range shown in FIG. 2A, the number of significant pixels is larger in the low-frequency component image, and the significant pixel number ratio of "Equation 4" is reduced to form a minimum point.

【0034】閾値が図2(a)の範囲内の場合、低域
成分画像を二値化した場合と計測成分画像を二値化した
場合の有意画素数比がほぼ同値となるので、“数4”の
有意画素数比がほぼ“1”となる。
When the threshold value is within the range of FIG. 2A, the ratio of the number of significant pixels between the case where the low-frequency component image is binarized and the case where the measured component image is binarized becomes substantially the same value. The significant pixel number ratio of “4” is almost “1”.

【0035】計測画像7の目標エッジの高周波成分、ノ
イズによる高周波成分により、“数4”の有意画素数比
が極大点を形成する。ノイズの高周波成分による極大点
付近の輝度値Bでは、低域成分画像で二値化されない画
素が計測画像7で有意画素として多数発生し、目標領域
のエッジによる極大点の有意画素数比より大きくなる。
よって、第1の閾値選定回路23では、有意画素数比が
“1”に近い極大点を選択することにより、背景領域と
微小な目標領域が分離できる閾値を算出することが可能
となる。例えば、図2に示す閾値Aを選択することによ
り、誤検出することなく目標位置を検出できる。
The high-frequency component of the target edge of the measurement image 7 and the high-frequency component due to noise form the maximum point in the ratio of the number of significant pixels in “Equation 4”. In the luminance value B near the maximum point due to the high frequency component of the noise, many pixels that are not binarized in the low-frequency component image occur as significant pixels in the measurement image 7 and are larger than the significant pixel ratio of the maximum point due to the edge of the target area. Become.
Therefore, the first threshold value selection circuit 23 can calculate a threshold value at which the background region and the minute target region can be separated by selecting the local maximum point whose significant pixel ratio is close to “1”. For example, by selecting the threshold A shown in FIG. 2, the target position can be detected without erroneous detection.

【0036】実施の形態2.図3は実施の形態2を示す
構成図である。図において、24は有意画素数比の極値
の内、パラメータ値を超えない極値の内で“1”に近い
輝度値を閾値として選定する第2の閾値選定回路であ
る。25はパラメータ値である。
Embodiment 2 FIG. 3 is a configuration diagram showing the second embodiment. In the figure, reference numeral 24 denotes a second threshold value selection circuit for selecting a luminance value close to "1" as a threshold value among the extreme values of the significant pixel number ratio that do not exceed the parameter value. 25 is a parameter value.

【0037】図4は、目標領域が計測画像7中にない場
合の有意画素数比の変化例を示したものである。図4
(a)は計測画像7の輝度分布、図4(b)は低域成分
画像21の輝度分布、図4(c)は“数4”による有意
画素数比の変化を示したものである。
FIG. 4 shows an example of a change in the ratio of the number of significant pixels when the target area is not present in the measurement image 7. FIG.
4A shows the luminance distribution of the measurement image 7, FIG. 4B shows the luminance distribution of the low-frequency component image 21, and FIG. 4C shows the change in the ratio of the significant pixels according to "Equation 4".

【0038】背景領域のノイズによる高周波成分の分布
によっては、図4(c)の点Aのような有意画素数比に
極値を形成してしまう場合がある。
Depending on the distribution of high frequency components due to noise in the background area, an extreme value may be formed at a significant pixel ratio as shown at point A in FIG. 4C.

【0039】目標領域が存在しない計測画像7において
誤検出を防ぐために、パラメータ値25と意画素数比の
極値を比較し、パラメータ値25を超えない、且つ
“1”に近い極値の輝度値を閾値として選定する。
In order to prevent erroneous detection in the measurement image 7 in which the target area does not exist, the parameter value 25 is compared with the extreme value of the ratio of the number of pixels, and the brightness of the extreme value which does not exceed the parameter value 25 and is close to "1" Choose the value as the threshold.

【0040】実施の形態3.図5は実施の形態3を示す
構成図である。図5において、26は第1のヒストグラ
ム計測回路8aの計測値を入力し計測画像7を輝度値毎
に二値化した場合の背景画素数と第2のヒストグラム計
測回路8bの計測値を入力し計測画像を輝度値毎に二値
化した場合の背景画素数とから輝度値毎の背景画素数比
を算出する背景画素数比算出回路、11bは、計測画像
7の輝度値と閾値10とを比較して閾値より低い輝度値
をもつ画素を二値画像12として出力する第2の二値化
回路である。
Embodiment 3 FIG. 5 is a configuration diagram showing the third embodiment. In FIG. 5, reference numeral 26 denotes the input of the measurement value of the first histogram measurement circuit 8a and the number of background pixels when the measurement image 7 is binarized for each luminance value and the measurement value of the second histogram measurement circuit 8b. A background pixel number ratio calculation circuit that calculates a background pixel number ratio for each luminance value from the number of background pixels when the measurement image is binarized for each luminance value, and 11b calculates the luminance value of the measurement image 7 and the threshold value 10 This is a second binarizing circuit that outputs a pixel having a luminance value lower than a threshold value as a binary image 12 in comparison.

【0041】背景画素数比算出回路26は、第1のヒス
トグラム計測回路8aの計測ヒストグラムから“数5”
に示すように計測画像を輝度値B毎に二値化した場合の
背景画素数と、第2のヒストグラム計測回路8bの計測
ヒストグラムから“数6”に示すように低域成分画像2
1を輝度値B毎に二値化した場合の背景画素数とを求め
る。
The background pixel number ratio calculating circuit 26 calculates "Equation 5" from the measured histogram of the first histogram measuring circuit 8a.
And the number of background pixels when the measurement image is binarized for each luminance value B as shown in FIG. 8 and the low-frequency component image 2 as shown in “Expression 6” from the measurement histogram of the second histogram measurement circuit 8b.
The number of background pixels when 1 is binarized for each luminance value B is obtained.

【0042】[0042]

【数5】 (Equation 5)

【0043】[0043]

【数6】 (Equation 6)

【0044】SUM_all_b(B) 但し、“数5”のは、輝度
値Bで計測画像7を二値化した場合
SUM_all_b (B) where “Equation 5” indicates that the measured image 7 is binarized by the luminance value B

【0045】次に、計測画像7と低域成分画像21をそ
れぞれ輝度値Bで二値化した場合の背景画素数比を求め
る。“数7”は背景画素数比の算出例である。
Next, the ratio of the number of background pixels when the measured image 7 and the low-frequency component image 21 are respectively binarized by the luminance value B is obtained. "Equation 7" is an example of calculating the background pixel number ratio.

【0046】[0046]

【数7】 (Equation 7)

【0047】Est_b(B) 但し、“数7“のは背景画素数
比を表す。
Est_b (B) Here, “Equation 7” represents the ratio of the number of background pixels.

【0048】“数8”は、第2の二値化回路11bの動
作例を示すものである。
"Equation 8" shows an operation example of the second binarization circuit 11b.

【0049】[0049]

【数8】 (Equation 8)

【0050】但し、Bin2(I,J)は位置(I,J)における
二値画像12を表す。
However, Bin2 (I, J) represents the binary image 12 at the position (I, J).

【0051】Est_b(B) 図6に“数7”の背景画素数比
の変化を示す。図6(a)は、計測
FIG. 6 shows the change in the ratio of the number of background pixels in "Equation 7". FIG. 6A shows the measurement.

【0052】図6に示すように、背景画素数比算出回路
26の作用は有意画素数比算出回路22と同等であるの
で、図2(c)と同様に極大値が発生する。図2と同様
に、背景画素数比が“1”に近い極大点である図6
(c)に示す点Aを選択することにより、目標領域の輝
度値が背景領域の輝度値よりも低い場合であっても、目
標領域のエッジ高周波により極大点が発生するので,目
標領域のみを安定に抽出することができる。
As shown in FIG. 6, the operation of the background pixel number ratio calculating circuit 26 is equivalent to that of the significant pixel number ratio calculating circuit 22, so that a local maximum occurs as in FIG. 2 (c). As in FIG. 2, FIG. 6 shows a local maximum point where the ratio of the number of background pixels is close to “1”.
By selecting the point A shown in (c), even when the luminance value of the target area is lower than the luminance value of the background area, a maximum point occurs due to the high frequency of the edge of the target area. It can be extracted stably.

【0053】実施の形態4.図7は実施の形態4を示す
構成図である。24と25は図3、26は図5と同等の
ものである。
Embodiment 4 FIG. 7 is a configuration diagram showing the fourth embodiment. 24 and 25 are the same as FIG. 3 and 26 are the same as FIG.

【0054】図8は計測画像7に目標領域が存在しない
場合の背景画素数比算出回路26の動作を示したもので
ある。パラメータ値25の作用は実施の形態2で示した
ものと同等のものであるため、第2の閾値選定回路24
はパラメータ値25と背景画素数比の極値を比較し、パ
ラメータ値25を超えない、且つ“1”に近い極値の輝
度値を閾値として選定する。
FIG. 8 shows the operation of the background pixel ratio calculating circuit 26 when the target area does not exist in the measurement image 7. Since the operation of the parameter value 25 is equivalent to that described in the second embodiment, the second threshold value selection circuit 24
Compares the parameter value 25 with the extreme value of the ratio of the number of background pixels, and selects a luminance value of the extreme value that does not exceed the parameter value 25 and is close to “1” as the threshold value.

【0055】背景画素数比算出回路26を備えた場合で
も、パラメータ値25を入力して閾値を選定するので、
計測画像7に目標領域が存在しなくても、背景領域の誤
検出を防ぐ。
Even when the background pixel number ratio calculating circuit 26 is provided, the threshold value is selected by inputting the parameter value 25.
Even if the target area does not exist in the measurement image 7, erroneous detection of the background area is prevented.

【0056】[0056]

【発明の効果】第1の発明によれば、目標領域が背景領
域に比べて小さい場合でも、目標領域と背景領域のエッ
ジの高周波成分が有意画素数比に現れるので、有意画素
数比を評価することにより目標領域のみを安定に抽出す
ることができる。
According to the first aspect of the present invention, even when the target area is smaller than the background area, the high-frequency components of the edges of the target area and the background area appear in the significant pixel number ratio. By doing so, only the target area can be stably extracted.

【0057】第2の発明によれば、パラメータ値により
背景領域のエッジの高周波成分による有意画素数比の極
値を取り除くことができ、目標領域が計測画像に存在し
ていない場合においても背景領域の誤検出を防ぐことが
できる。
According to the second aspect, the extreme value of the ratio of the number of significant pixels due to the high-frequency component of the edge of the background area can be removed by the parameter value, and the background area can be removed even when the target area does not exist in the measurement image. Can be prevented from being erroneously detected.

【0058】第3の発明によれば、目標領域が背景領域
の輝度値より低い場合でも、目標領域と背景領域のエッ
ジの高周波成分が背景画素数比に現れるので、背景画素
数比を評価することにより目標領域のみを安定に抽出す
ることができる。
According to the third aspect, even when the luminance value of the target area is lower than the luminance value of the background area, the high-frequency components of the edges of the target area and the background area appear in the background pixel number ratio. Thus, only the target area can be stably extracted.

【0059】第4の発明によれば、背景画素数比を評価
する場合においても、パラメータ値を入力することによ
り背景領域のエッジの高周波成分による背景画素数比の
極値を取り除くことができ、目標領域が計測画像に存在
していない場合においても背景領域の誤検出を防ぐこと
ができる。
According to the fourth aspect, even when the background pixel number ratio is evaluated, the extreme value of the background pixel number ratio due to the high frequency component of the edge of the background area can be removed by inputting the parameter value. Even when the target area does not exist in the measurement image, erroneous detection of the background area can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明による画像処理装置の実施の形態1
の構成を示す構成図である。
FIG. 1 is a first embodiment of an image processing apparatus according to the present invention;
FIG. 2 is a configuration diagram showing the configuration of FIG.

【図2】 この発明の実施の形態1の有意画素数比算出
回路の動作を説明する図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the significant pixel number ratio calculating circuit according to the first embodiment of the present invention;

【図3】 この発明による画像処理装置の実施の形態2
の構成を示す構成図である。
FIG. 3 is a second embodiment of the image processing apparatus according to the present invention;
FIG. 2 is a configuration diagram showing the configuration of FIG.

【図4】 この発明の実施の形態2の有意画素数比算出
回路と第2の閾値選定回路の動作を説明する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating operations of a significant pixel number ratio calculation circuit and a second threshold value selection circuit according to the second embodiment of the present invention.

【図5】 この発明による画像処理装置の実施の形態3
の構成を示す構成図である。
FIG. 5 is a third embodiment of the image processing apparatus according to the present invention;
FIG. 2 is a configuration diagram showing the configuration of FIG.

【図6】 この発明の実施の形態3の背景画素数比算出
回路の動作を説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating an operation of a background pixel number ratio calculation circuit according to Embodiment 3 of the present invention.

【図7】 この発明による画像処理装置の実施の形態4
の構成を示す構成図である。
FIG. 7 is a fourth embodiment of the image processing apparatus according to the present invention;
FIG. 2 is a configuration diagram showing the configuration of FIG.

【図8】 この発明の実施の形態4の背景画素数比算出
回路と第2の閾値選定回路の動作を説明する図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating operations of a background pixel number ratio calculation circuit and a second threshold value selection circuit according to Embodiment 4 of the present invention.

【図9】 従来の画像処理装置の運用形態を示す図であ
る。
FIG. 9 is a diagram illustrating an operation mode of a conventional image processing apparatus.

【図10】 従来の画像処理装置の構成を示す図であ
る。
FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration of a conventional image processing apparatus.

【図11】 従来の画像処理装置による濃淡画像の一例
を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of a grayscale image by a conventional image processing apparatus.

【図12】 従来の画像処理装置による計測画像のヒス
トグラム計測分布の一例を示す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a histogram measurement distribution of a measurement image by a conventional image processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 航空機、2 画像処理装置、3 目標、4 赤外線
撮像回路、6 ゲート設定回路、8 ヒストグラム計測
回路、9 閾値算出回路、11 二値化回路、13 重
心値算出回路、20 低域フィルタ回路、21 有意画
素数比算出回路、23 第1の閾値選定回路、24 第
2の閾値選定回路、26 背景画素数比算出回路。
REFERENCE SIGNS LIST 1 aircraft, 2 image processing device, 3 target, 4 infrared imaging circuit, 6 gate setting circuit, 8 histogram measurement circuit, 9 threshold value calculation circuit, 11 binarization circuit, 13 center of gravity value calculation circuit, 20 low-pass filter circuit, 21 Significant pixel number ratio calculation circuit, 23 first threshold value selection circuit, 24 second threshold value selection circuit, 26 background pixel number ratio calculation circuit.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 赤外線の放射強度に応じて変化する電圧
値を画素毎に濃淡画像として出力する赤外線撮像手段
と、上記赤外線撮像手段から出力される濃淡画像中に計
測領域を設定し、計測画像として出力する計測領域設定
手段と、上記計測画像の輝度値毎に発生頻度を計測する
第1のヒストグラム計測手段と、上記計測画像の低周波
成分を抽出し、低域成分画像として出力する低域成分画
像抽出手段と、上記低域成分画像の輝度値毎に発生頻度
を計測する第2のヒストグラム計測手段と、上記第1の
ヒストグラム計測手段の計測値を入力し上記計測画像を
輝度値毎に二値化した場合の有意画素数と上記第2のヒ
ストグラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を
輝度値毎に二値化した場合の有意画素数とから輝度値毎
の有意画素数比を算出する有意画素数比算出手段と、上
記有意画素数比が極値となる輝度値を算出し、極値が1
に近い輝度値を閾値として選定する閾値選定手段と、上
記計測画像の輝度値と上記閾値とを比較して二値画像を
出力する二値化手段とを備えたことを特徴とする画像処
理装置。
1. An infrared imaging means for outputting a voltage value that varies according to the intensity of infrared radiation as a grayscale image for each pixel, and a measurement area is set in the grayscale image output from the infrared imaging means. Measurement area setting means for outputting the measurement frequency, first histogram measurement means for measuring the frequency of occurrence for each luminance value of the measurement image, and low-frequency component for extracting the low-frequency component of the measurement image and outputting it as a low-frequency component image A component image extracting unit, a second histogram measuring unit that measures the frequency of occurrence for each luminance value of the low-frequency component image, and a measurement value of the first histogram measuring unit that is input and the measured image is divided for each luminance value. The number of significant pixels in the case of binarization and the measured value of the second histogram measuring means are input, and the number of significant pixels in each luminance value is calculated from the number of significant pixels in the case where the measured image is binarized for each luminance value. Calculate ratio Means for calculating a significant pixel number ratio, and calculating a luminance value at which the significant pixel number ratio becomes an extreme value.
An image processing apparatus comprising: a threshold value selecting unit that selects a luminance value close to the threshold value as a threshold value; and a binarizing unit that compares the luminance value of the measurement image with the threshold value and outputs a binary image. .
【請求項2】 赤外線の放射強度に応じて変化する電圧
値を画素毎に濃淡画像として出力する赤外線撮像手段
と、上記赤外線撮像手段から出力される濃淡画像中に計
測領域を設定し、計測画像として出力する計測領域設定
手段と、上記計測画像の輝度値毎に発生頻度を計測する
第1のヒストグラム計測手段と、上記計測画像の低周波
成分を抽出し、低域成分画像として出力する低域成分画
像抽出手段と、上記低域成分画像の輝度値毎に発生頻度
を計測する第2のヒストグラム計測手段と、上記第1の
ヒストグラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像
を輝度値毎に二値化した場合の有意画素数と上記第2の
ヒストグラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像
を輝度値毎に二値化した場合の有意画素数とから輝度値
毎の有意画素数比を算出する有意画素数比算出手段と、
パラメータ値と有意画素数比の極値を比較し、上記パラ
メータ値を超えない、且つ1に近い極値の輝度値を閾値
として選定する閾値選定手段と、上記計測画像の輝度値
と上記閾値とを比較して二値画像を出力する二値化手段
とを備えたことを特徴とする画像処理装置。
2. An infrared imaging means for outputting a voltage value that changes according to the intensity of infrared radiation as a gray image for each pixel, and a measurement area is set in the gray image output from the infrared imaging means. Measurement area setting means for outputting the measurement frequency, first histogram measurement means for measuring the frequency of occurrence for each luminance value of the measurement image, and low-frequency component for extracting the low-frequency component of the measurement image and outputting it as a low-frequency component image A component image extracting means, a second histogram measuring means for measuring the frequency of occurrence for each luminance value of the low-frequency component image, and a measured value of the first histogram measuring means, and the measured image is divided by the luminance value. The number of significant pixels when binarized and the measured value of the second histogram measuring means are input, and the number of significant pixels when the measured image is binarized for each luminance value is converted to a significant pixel for each luminance value. Calculate number ratio Means for calculating the ratio of significant pixels to be output,
Comparing a parameter value with an extreme value of the ratio of significant pixels, and selecting a brightness value of an extreme value that does not exceed the parameter value and is close to 1 as a threshold value, and a brightness value of the measurement image and the threshold value. And a binarizing unit that outputs a binary image by comparing the two.
【請求項3】 赤外線の放射強度に応じて変化する電圧
値を画素毎に濃淡画像として出力する赤外線撮像手段
と、上記赤外線撮像手段から出力される濃淡画像中に計
測領域を設定し、計測画像として出力する領域設定手段
と、上記計測画像の輝度値毎に発生頻度を計測する第1
のヒストグラム計測手段と、上記計測画像の低周波成分
を抽出し低域成分画像として出力する低域成分画像抽出
手段と、上記低域成分画像の輝度値毎に発生頻度を計測
する第2のヒストグラム計測手段と、上記第1のヒスト
グラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を輝度
値毎に二値化した場合の背景画素数と上記第2のヒスト
グラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を輝度
値毎に二値化した場合の背景画素数とから輝度値毎の背
景画素数比を算出する背景画素数比算出手段と、上記背
景画素数比が極値となる輝度値を算出し、極値が1に近
い輝度値を閾値として選定する閾値選定手段と、上記計
測画像の輝度値が上記閾値より小さい画素を二値画像と
して出力する二値化手段とを備えたことを特徴とする画
像処理装置。
3. An infrared imaging means for outputting a voltage value that changes according to the radiation intensity of infrared rays as a grayscale image for each pixel, and a measurement area is set in the grayscale image output from the infrared imaging means. Area setting means for outputting as an image, and a first means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the measurement image.
A low-frequency component image extracting means for extracting a low-frequency component of the measurement image and outputting the low-frequency component image as a low-frequency component image, and a second histogram for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the low-frequency component image Measuring means, inputting the measured value of the first histogram measuring means, inputting the number of background pixels when the measured image is binarized for each luminance value, and inputting the measured value of the second histogram measuring means; Background pixel number ratio calculating means for calculating a background pixel number ratio for each luminance value from the number of background pixels when the measurement image is binarized for each luminance value, and a luminance value at which the background pixel number ratio is an extreme value And a binarizing unit that outputs a pixel whose luminance value of the measurement image is smaller than the threshold value as a binary image. An image processing apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項4】 赤外線の放射強度に応じて変化する電圧
値を画素毎に濃淡画像として出力する赤外線撮像手段
と、上記赤外線撮像手段から出力される濃淡画像中に計
測領域を設定し、計測画像として出力する領域設定手段
と、上記計測画像の輝度値毎に発生頻度を計測する第1
のヒストグラム計測手段と、上記計測画像の低周波成分
を抽出し低域成分画像として出力する低域成分画像抽出
手段と、上記低域成分画像の輝度値毎に発生頻度を計測
する第2のヒストグラム計測手段と、上記第1のヒスト
グラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を輝度
値毎に二値化した場合の背景画素数と上記第2のヒスト
グラム計測手段の計測値を入力し、上記計測画像を輝度
値毎に二値化した場合の背景画素数とから輝度値毎の背
景画素数比を算出する背景画素数比算出手段と、パラメ
ータ値と背景画素数比の極値を比較し、上記パラメータ
値を超えない、且つ1に近い極値の輝度値を閾値として
選定する閾値選定手段と、上記計測画像の輝度値が上記
閾値より小さい画素を二値画像として出力する二値化手
段とを備えたことを特徴とする請求項3記載の画像処理
装置。
4. An infrared imaging means for outputting a voltage value changing according to an infrared radiation intensity as a grayscale image for each pixel, and a measurement area is set in the grayscale image output from the infrared imaging means. Area setting means for outputting as an image, and a first means for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the measurement image.
A low-frequency component image extracting means for extracting a low-frequency component of the measurement image and outputting the low-frequency component image as a low-frequency component image, and a second histogram for measuring an occurrence frequency for each luminance value of the low-frequency component image Measuring means, inputting the measured value of the first histogram measuring means, inputting the number of background pixels when the measured image is binarized for each luminance value, and inputting the measured value of the second histogram measuring means; Background pixel number ratio calculating means for calculating a background pixel ratio for each luminance value from the number of background pixels when the measurement image is binarized for each luminance value, and comparing an extreme value of the parameter value and the background pixel ratio. Threshold value selecting means for selecting, as a threshold, an extreme luminance value which does not exceed the parameter value and is close to 1, and binarization for outputting a pixel whose luminance value of the measurement image is smaller than the threshold value as a binary image Having means The image processing apparatus according to claim 3, wherein.
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