JP2001050852A - Sniffer probe and gas leak testing method using the same - Google Patents

Sniffer probe and gas leak testing method using the same

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JP2001050852A
JP2001050852A JP11221220A JP22122099A JP2001050852A JP 2001050852 A JP2001050852 A JP 2001050852A JP 11221220 A JP11221220 A JP 11221220A JP 22122099 A JP22122099 A JP 22122099A JP 2001050852 A JP2001050852 A JP 2001050852A
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JP
Japan
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gas
probe
sniffer
sniffer probe
helium
Prior art date
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Application number
JP11221220A
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Japanese (ja)
Inventor
Takehiko Nishigaya
健彦 西ヶ谷
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JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
Application filed by NKK Corp, Nippon Kokan Ltd filed Critical NKK Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sniffer probe and gas leak testing method using the same whereby, if the scan speed varies or the defect-probe distance is long, the detecting limit (min. detectable value) of He leakage can be improved. SOLUTION: The sniffer probe 11a has a gas intake hole 12 at the top of a gas intake pipe and a handle 13 at the base. The gas intake pipe has a cylindrical cover 15 surrounding the gas intake 12 hole with its closed base end fixed to the gas intake pipe and its open base end surrounding the gas intake hole 12. The top end of the cylindrical cover 15 is made flush with the gas intake hole end whereby, if the gap between a sample under test and the gas intake hole 12 is about 10 mm, a leaking gas can be detected accurately.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スニッファープロ
ーブ及びそれを用いたガス漏れ試験方法に関する。
The present invention relates to a sniffer probe and a gas leak test method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】冷凍機のコンプレッサー、自動車のラジ
ェーター等の気密を要する機器(以下総称して被試験体
という)の欠陥検査に、スニッファー法によるガス漏れ
試験が多く採用されている。
2. Description of the Related Art A gas leak test by a sniffer method is often employed for defect inspection of a device requiring airtightness (hereinafter referred to as a "test object") such as a compressor of a refrigerator and a radiator of an automobile.

【0003】スニッファー法(吸込み法)では、被試験
体の内部にプローブガスを導入して加圧する。プローブ
ガスは殆どヘリウムガスしか使用されていない。一般
に、ヘリウムガスと空気等との混合ガスが使用されてい
るが、以下では、便宜上、ヘリウムガスとして説明す
る。
In the sniffer method (suction method), a probe gas is introduced into a test object and pressurized. Almost only helium gas is used as the probe gas. Generally, a mixed gas of helium gas and air or the like is used, but hereinafter, it will be described as helium gas for convenience.

【0004】被試験体の漏れ箇所から外部に漏れたヘリ
ウムガスを、スニッファープローブで吸引し、ヘリウム
リークディテクタでヘリウムを検出する(JIS Z2
331「ヘリウム洩れ試験方法」)。
The helium gas leaked outside from the leak location of the test object is sucked by a sniffer probe, and helium is detected by a helium leak detector (JIS Z2).
331 "Helium leak test method").

【0005】図6は従来のリークディテクタの一例を示
す構成図である。被試験体1の内部はヘリウムガスで加
圧される。漏れ箇所1aがあるとヘリウムガスが外部へ
漏れるので、そのヘリウムガスをスニッファープローブ
2で吸引し、スニッファープローブ2と接続されたリー
クディテクタ3aで、そのヘリウムガスを検出する。
FIG. 6 is a configuration diagram showing an example of a conventional leak detector. The inside of the DUT 1 is pressurized with helium gas. Since the helium gas leaks to the outside if there is a leak portion 1a, the helium gas is sucked by the sniffer probe 2, and the helium gas is detected by the leak detector 3a connected to the sniffer probe 2.

【0006】リークディテクタ3aは、スニッファープ
ローブ2で吸引したヘリウムガスを逆拡散して質量分析
管4へ流れるようにしている。
The leak detector 3 a reversely diffuses the helium gas sucked by the sniffer probe 2 so as to flow to the mass spectrometer tube 4.

【0007】即ち、スニッファープローブ2で吸引した
大部分のヘリウムガスをロータリポンブ6で排気し、一
部のヘリウムガスを二次ポンプのターボ分子ポンプ5の
排気口から質量分析管4へ逆拡散させる。質量分析管4
としては磁気偏向型質量分析管や四重極型質量分析管が
使用される。符号8は粗引バルブ、符号9はフォアバル
ブ、符号10はテストバルブである。
That is, most of the helium gas sucked by the sniffer probe 2 is exhausted by the rotary pump 6 and a part of the helium gas is diffused back into the mass analysis tube 4 from the exhaust port of the turbo molecular pump 5 as a secondary pump. . Mass spectrometer tube 4
A magnetic deflection type mass spectrometer or a quadrupole type mass spectrometer is used. Reference numeral 8 is a roughing valve, reference numeral 9 is a fore valve, and reference numeral 10 is a test valve.

【0008】ターボ分子ポンプ5を逆拡散して質量分析
管4に到達したヘリウムガスは、イオンチャンバ内でフ
ィラメントからの電子ビームによってイオン化される。
放出されたヘリウムイオンは、質量、磁気強度、飛行速
度で決まる円軌道に沿って飛行する。ヘリウムイオンの
飛行する軌道に合わせて設置されたイオンコレクタに、
ヘリウムイオンだけが集められ、更にイオン電流増幅器
で増幅して電流の形で検出される。
The helium gas that reaches the mass spectrometer tube 4 by back-diffusing the turbo molecular pump 5 is ionized by an electron beam from a filament in the ion chamber.
The released helium ions fly in a circular orbit determined by mass, magnetic intensity, and flight speed. In the ion collector installed according to the trajectory of helium ions,
Only helium ions are collected and amplified by an ion current amplifier and detected in the form of current.

【0009】しかし、スニッファー法では、以下の問題
がある。スニッファー法でガス漏れを検出する被試験体
は、一般に形状が複雑である。被試験体の外面に凹凸が
ある場合には、スニッファープローブを被試験体の外面
に近づけることが難しく、吸引量を大きくしないと漏れ
の検出ができない。しかし、微小なガス漏れを検出する
場合は、吸引量を小さくしなければ高感度に検出できな
い。
However, the sniffer method has the following problems. A test object for detecting a gas leak by the sniffer method generally has a complicated shape. When the outer surface of the DUT has irregularities, it is difficult to bring the sniffer probe close to the outer surface of the DUT, and the leak cannot be detected unless the suction amount is increased. However, when detecting minute gas leaks, high sensitivity cannot be detected unless the suction amount is reduced.

【0010】このように、スニッファープローブの吸引
量と検出可能最小値(感度)は互いに相反する項目で、
吸引量を増大させると検出可能最小値が大きくなり、検
出可能最小値を小さくしたい場合は、吸引量を小さくせ
ざるを得ない。
As described above, the suction amount of the sniffer probe and the minimum detectable value (sensitivity) are mutually contradictory items.
Increasing the suction amount increases the minimum detectable value. If it is desired to reduce the minimum detectable value, the suction amount must be reduced.

【0011】このような対策の一つとして、特開平8−
145835号公報には、図7に示すように、スニッフ
ァー用ヘリウムリークディデクタ3bとして、ターボ分
子ポンプ5とロータリポンブ6との接続配管内の圧力を
計測する圧力計7を備えたものが提案されている。同公
報によれば、このようなヘリウムリークディデクタ3b
では、ターボ分子ポンプ5のフォアライン圧力Pfを圧
力計7で測定し、ヘリウムイオン電流IHeを測定するこ
とによって、圧力計7の出力と、ヘリウムリークディテ
クタ3bの質量分析管4で検出したイオン電流値とか
ら、漏れ量を演算する手段によって、スニッファープロ
ーブの吸引量に関係なく漏れ量が算出できる旨が記載さ
れている。
As one of such measures, Japanese Patent Laid-Open No.
JP-A-145835 proposes, as shown in FIG. 7, a sniffer helium leak detector 3b provided with a pressure gauge 7 for measuring a pressure in a connection pipe between a turbo molecular pump 5 and a rotary pump 6. ing. According to the publication, such a helium leak detector 3b
Then, the foreline pressure Pf of the turbo-molecular pump 5 is measured by the pressure gauge 7 and the helium ion current I He is measured, whereby the output of the pressure gauge 7 and the ions detected by the mass spectrometer tube 4 of the helium leak detector 3b are measured. It is described that the amount of leakage can be calculated by means for calculating the amount of leakage from the current value irrespective of the amount of suction of the sniffer probe.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
8−145835号公報に開示された技術は、以下の点
で問題がある。
However, the technology disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-145835 has the following problems.

【0013】上記スニッファー用ヘリウムリークディデ
クタ3bは、ロータリポンブの排気速度、質量分析管感
度、ターボ分子ポンプのヘリウムガスに対する圧縮比が
ヘリウムリークディデクタ3bで使用する範囲内ではほ
ぼ一定として、関係式によって、圧力計7の出力と、ヘ
リウムリークディデクタ3bの質量分析管4で検出した
イオン電流値とから、漏れ量を演算するものである。
The sniffer helium leak detector 3b is configured such that the pumping speed of the rotary pump, the sensitivity of the mass spectrometer tube, and the compression ratio of the turbo molecular pump to helium gas are substantially constant within the range used by the helium leak detector 3b. The amount of leakage is calculated from the output of the pressure gauge 7 and the ion current value detected by the mass spectrometer tube 4 of the helium leak detector 3b using a relational expression.

【0014】しかし、スニッファー用ヘリウムリークデ
ィデクタ3bによる被試験体の漏れ試験では、漏れ量の
吸引は一般に欠陥部を走査して行うものであり、微小な
ガス漏れを高感度で検出する場合は、吸引量だけでな
く、プローブの走査速度の変化や欠陥・プローブ間の距
離の変動も検出精度を左右する大きな要因になる。
However, in the leak test of the DUT by the sniffer helium leak detector 3b, the leak amount is generally suctioned by scanning a defective portion, and when a small gas leak is detected with high sensitivity. In addition, not only the amount of suction but also a change in the scanning speed of the probe and a change in the distance between the defect and the probe are major factors that affect the detection accuracy.

【0015】従って、特開平8−145835号公報に
開示された技術では、プローブの走査速度が変化する等
の漏れ試験では、微小なガス漏れを高感度で検出するこ
とが困難な場合がある。
Therefore, in the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-145835, it may be difficult to detect a small gas leak with high sensitivity in a leak test in which the scanning speed of the probe changes.

【0016】本発明は、上記のような問題点の解決を図
ったものであり、走査速度が変化した場合や欠陥部・プ
ローブ間距離が離れている場合でも、ヘリウムガスの洩
れに対する検出限界(検出可能最小値)を向上させるこ
とができるスニッファープローブ及びそれを用いたガス
洩れ試験方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and the detection limit (for the helium gas leakage) can be obtained even when the scanning speed is changed or the distance between the defective portion and the probe is large. An object of the present invention is to provide a sniffer probe capable of improving the minimum detectable value and a gas leak test method using the same.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るための本願の請求項1の発明は、スニッファー法に用
いるプローブであって、プローブの吸込み口を囲むカバ
ーを取付けたことを特徴とするスニッファープローブで
ある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a probe for use in a sniffer method, wherein a cover surrounding a suction port of the probe is attached. Sniffer probe.

【0018】又、本願の請求項2の発明は、スニッファ
ープローブを用いたプローブガスリークディテクタによ
るガス漏れ試験方法であって、被試験体の内部にプロー
ブガスを導入して加圧し、その試験体の漏れ箇所から外
部に漏れるプローブガスを、吸込み口を囲むカバーを取
付けたスニッファープローブで吸引し、プローブガスリ
ークディテクタでプローブガスを検出することを特徴と
するスニッファープローブを用いたガス漏れ試験方法で
ある。
Further, the invention of claim 2 of the present application is a gas leak test method using a probe gas leak detector using a sniffer probe, in which a probe gas is introduced into a test object and pressurized, and the test sample is pressurized. A gas leak test method using a sniffer probe, wherein a probe gas leaking outside from a leak location of the probe is sucked by a sniffer probe having a cover surrounding the suction port, and the probe gas is detected by a probe gas leak detector. It is.

【0019】本発明によれば、スニッファープローブの
吸込み口をカバーで囲うだけの簡単な構造によって、ガ
ス漏れ検出限界(以下検出可能最小値という)の向上が
可能となる。
According to the present invention, the gas leak detection limit (hereinafter referred to as the minimum detectable value) can be improved by a simple structure in which the suction port of the sniffer probe is simply surrounded by the cover.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳述する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0021】図1は本発明のスニッファープローブの一
実施形態を示す斜視図である。スニッファープローブ1
1aはガス吸込み管の先端にガス吸込み口12が設けら
れ、ガス吸込み管の基端部側にハンドル13が設けられ
ている。ガス吸込み管にはガス吸込み口12を囲む円筒
状カバー15が設けられている。この円筒状カバー15
は、閉塞した基端部がガス吸込み管に固定され、開放し
た先端側がガス吸込み口12を囲んでいる。ガス吸込み
管の基端部にはディテクタ本体に接続するチューブ14
が取付けられる。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the sniffer probe of the present invention. Sniffer probe 1
In 1a, a gas suction port 12 is provided at a distal end of a gas suction pipe, and a handle 13 is provided at a base end side of the gas suction pipe. The gas suction pipe is provided with a cylindrical cover 15 surrounding the gas suction port 12. This cylindrical cover 15
The closed base end is fixed to the gas suction pipe, and the open distal end surrounds the gas suction port 12. A tube 14 connected to the detector body is provided at the base end of the gas suction pipe.
Is attached.

【0022】被試験体とスニッファープローブ11bの
ガス吸込み口12の間隔は3mm以下にして試験するの
が好ましいが、その間隔にできない場合でも、本発明で
は円筒状カバー15でガス吸込み口12を囲んで、欠陥
部から漏れるガスを円筒状カバー15内に集めることが
できるので、ガス漏れ検出可能最小値を向上させるもの
である。
It is preferable that the distance between the test object and the gas inlet 12 of the sniffer probe 11b is 3 mm or less for the test. However, even if the distance cannot be set, the gas inlet 12 is closed by the cylindrical cover 15 in the present invention. Since the gas leaking from the defective portion can be collected inside the cylindrical cover 15, the minimum value at which gas leakage can be detected is improved.

【0023】円筒状カバー15の先端とガス吸込み口と
を同じ程度の位置にして、被試験体とガス吸込み口12
の間隔が10mm程度になっても漏洩したガスを、精度
よく検出できる。
The tip of the cylindrical cover 15 and the gas inlet are located at approximately the same position, and the device under test and the gas inlet 12 are positioned.
The leaked gas can be detected with high accuracy even if the distance between them becomes about 10 mm.

【0024】円筒状カバー15は円筒状アクリル樹脂製
カバー(例えばガス吸込み口の口径が5mmの場合、断
面の内径が3cm、長さが5cm)が用いられている。
The cylindrical cover 15 is a cylindrical acrylic resin cover (for example, when the diameter of the gas suction port is 5 mm, the inner diameter of the cross section is 3 cm and the length is 5 cm).

【0025】カバーの形状については円筒状に限定され
るものではなく、先端拡径の円錐状ガバー等を用いるこ
とができる。
The shape of the cover is not limited to a cylindrical shape, and a conical gabber having an enlarged end can be used.

【0026】また、断面径等の寸法についても適宜選択
することができる。図2は本発明による他の実施の形態
を示す斜視図である。図1と共通する構成は同じ符号を
付けて、説明の一部を省略した。
The dimensions such as the cross-sectional diameter can also be appropriately selected. FIG. 2 is a perspective view showing another embodiment according to the present invention. 1 are given the same reference numerals, and a part of the description is omitted.

【0027】この例では図1の円筒状カバーに代えて、
ガス吸込み口12を囲む先端拡径の円錐状ガバー19を
設けたものである。
In this example, instead of the cylindrical cover of FIG.
A conical gabber 19 having an enlarged diameter at the end surrounding the gas inlet 12 is provided.

【0028】この例のスニッファープローブ11bによ
れば、被試験体の欠陥部に近接させることが困難な場合
でも、欠陥部から漏れるガスを円錐状ガバー19内に集
めることができるので、ガス漏れ検出最小値の向上が可
能である。
According to the sniffer probe 11b of this example, even if it is difficult to approach the defect of the test object, the gas leaking from the defect can be collected in the conical gabber 19, so that the gas leakage It is possible to improve the minimum detection value.

【0029】次に、本発明のスニッファープローブを用
いたヘリウムガスリークディテクタによるヘリウムガス
漏れ試験方法について詳述する。
Next, a helium gas leak test method using a helium gas leak detector using the sniffer probe of the present invention will be described in detail.

【0030】ヘリウムガス漏れ試験方法はJIS Z2
331「ヘリウム洩れ試験方法」に準じて行われる。
Helium gas leak test method is JIS Z2
331 is performed in accordance with “Helium leak test method”.

【0031】ヘリウムガスが被試験体の内部に導入さ
れ、加圧される。ヘリウムガスが被試験体から外部に漏
れた場合、そのガス漏れした箇所に、吸込み口を囲むカ
バーを取付けたスニッファープローブを近接させ、漏れ
たヘリウムガスを吸引し、ヘリウムガスリークディテク
タでヘリウムガスを検出する。
Helium gas is introduced into the test object and pressurized. When helium gas leaks from the test object to the outside, a sniffer probe with a cover surrounding the suction port is approached to the leaked location, the leaked helium gas is sucked, and the helium gas is leaked by the helium gas leak detector. To detect.

【0032】検出方法については、一般に知られている
ように、リークディテクタの質量分析管に到達したヘリ
ウムガスは、イオンチャンバ内でフィラメントからの電
子ビームによってイオン化される。放出されたヘリウム
イオンは、質量、磁気強度、飛行速度で決まる円軌道に
沿って飛行する。ヘリウムイオンの飛行する軌道に合わ
せて設置されたイオンコレクタに、ヘリウムイオンだけ
が集められ、更にイオン電流増幅器で増幅して電流の形
で検出される。
As for the detection method, as is generally known, helium gas reaching the mass spectrometer tube of the leak detector is ionized by an electron beam from a filament in an ion chamber. The released helium ions fly in a circular orbit determined by mass, magnetic intensity, and flight speed. Only helium ions are collected by an ion collector installed in accordance with the trajectory of the helium ions, and are amplified by an ion current amplifier and detected in the form of current.

【0033】被試験体としては、冷凍機のコンプレッサ
ー、自動車のラジェーター等の気密を要する機器が対象
になる。
The test object is an airtight device such as a compressor of a refrigerator or a radiator of an automobile.

【0034】従来、スニッファープローブは、吸込み口
と被験体の間隔を3mm以下にして被試験体のガス漏れ
試験が行われるが、本発明では、通常の試験条件で、所
定の走査速度で、吸込み口と被験体の間隔を3mm以上
(例えば10mm)にしても良好な検出精度でガス漏れ
試験を行うことができる。
Conventionally, a sniffer probe is used to perform a gas leak test on a test object with the distance between the suction port and the test object being 3 mm or less. However, in the present invention, under normal test conditions, at a predetermined scanning speed, Even if the distance between the suction port and the subject is 3 mm or more (for example, 10 mm), a gas leak test can be performed with good detection accuracy.

【0035】従って、本発明の方法によれば、走査速度
が変化した場合や欠陥部・プローブ間距離が離れている
場合でも、ヘリウム洩れに対する検出限界(検出可能最
小値)を向上させることができる。
Therefore, according to the method of the present invention, the detection limit (minimum detectable value) for helium leakage can be improved even when the scanning speed changes or when the distance between the defective portion and the probe is large. .

【0036】図3は本発明のスニッファープローブを用
いた実験例を示す概念図である。この例では図1に示し
たスニッファープローブ11aを用いて実験を行った。
この実験では、被試験体として、ヘリウムガスの導入や
排気可能とした円筒状の実験用真空容器16を用いた。
この実験用容器16には疑似欠陥部分16aを設けると
ともに、圧力センサー17を設置し、実験用容器16内
に所望の圧力及び濃度のヘリウムガスを充填した。ヘリ
ウムガスは空気、窒素等と混合したものである。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an experimental example using the sniffer probe of the present invention. In this example, an experiment was performed using the sniffer probe 11a shown in FIG.
In this experiment, a cylindrical experimental vacuum vessel 16 capable of introducing and exhausting helium gas was used as a test object.
The experimental vessel 16 was provided with a pseudo defect portion 16a, a pressure sensor 17 was installed, and the experimental vessel 16 was filled with helium gas at a desired pressure and concentration. Helium gas is a mixture of air and nitrogen.

【0037】その後、スニッファープローブ11aを疑
似欠陥部分16aから所望の距離に設置し、疑似欠陥部
分16a上を所望の速さで走査させ、疑似欠陥部分16
aから漏洩したヘリウムガスをディテクタ18で検出し
た。また、比較例としてカバー未装着のスニッファープ
ローブを用い、カバー未装着以外の条件は同じにして実
験を行った。試験結果を図4,図5に示す。
Thereafter, the sniffer probe 11a is set at a desired distance from the pseudo defect portion 16a, and the pseudo defect portion 16a is scanned at a desired speed.
Helium gas leaked from a was detected by the detector 18. As a comparative example, an experiment was performed using a sniffer probe without a cover, under the same conditions except that the cover was not mounted. The test results are shown in FIGS.

【0038】図4は本発明のスニッファープローブと比
較例のスニッファープローブを用いた場合について、検
出可能最小値とスニッファープローブの走査速度との関
係を示したものである。
FIG. 4 shows the relationship between the minimum detectable value and the scanning speed of the sniffer probe when the sniffer probe of the present invention and the sniffer probe of the comparative example are used.

【0039】なお、本実験例における主な実験条件は以
下のとおりである。 ディテクタ・欠陥距離=5mm、疑似欠陥径=5μm、
疑似欠陥深さ=13μm、Heガス濃度=20%、He
ガス圧力150mbar 図4の結果によれば、本発明によるカバーを装着させた
スニッファープローブを用いた場合は、比較例によるカ
バーなしのスニッファープローブを用いた場合に対し
て、いずれの走査速度(m/分)でも検出可能最小値を
小さくすることができ向上させることができた。
The main experimental conditions in this experimental example are as follows. Detector / defect distance = 5 mm, pseudo defect diameter = 5 μm,
Pseudo defect depth = 13 μm, He gas concentration = 20%, He
Gas pressure 150 mbar According to the results of FIG. 4, when the sniffer probe equipped with the cover according to the present invention was used, any scan speed (with respect to the case where the sniffer probe without the cover according to the comparative example was used) was used. m / min), the minimum detectable value could be reduced and improved.

【0040】即ち、本発明では、検出可能最小値が比較
例に比して約3×10-5〔torrl/s〕減少し、検
出精度が向上した。
That is, in the present invention, the minimum detectable value was reduced by about 3 × 10 −5 [torrl / s] as compared with the comparative example, and the detection accuracy was improved.

【0041】図5は本発明によるスニッファープローブ
と比較例によるスニッファープローブの場合の別の例に
ついて、検出可能最小値とスニッファープローブの走査
速度との関係を示したものである。
FIG. 5 shows the relationship between the minimum detectable value and the scanning speed of the sniffer probe in another example of the sniffer probe according to the present invention and the sniffer probe according to the comparative example.

【0042】ディテクタ・欠陥距離=10mmとし、他
の条件は図4の場合と同じにした。図5の結果によれ
ば、本発明によるカバーを装着させたスニッファープロ
ーブ11aを用いた場合は、比較例によるカバーなしの
スニッファープローブを用いた場合に対し、検出可能最
小値が約5×10-5〔torr l/s〕減少し、検出
精度が向上した。
The detector / defect distance was set to 10 mm, and the other conditions were the same as those in FIG. According to the results of FIG. 5, when the sniffer probe 11a with the cover according to the present invention is used, the minimum detectable value is about 5 × as compared with the case where the sniffer probe without the cover according to the comparative example is used. 10 -5 [torr l / s] was reduced, and the detection accuracy was improved.

【0043】図2に示すスニッファープローブを用い
て、図3に示すような実験を行った結果、図1に示すス
ニッファープローブと同様に、検出可能最小値がガバー
なしの比較例に比して、約3〜5×10-5〔torr
l/s〕減少し、検出精度が向上した。
An experiment as shown in FIG. 3 was performed using the sniffer probe shown in FIG. 2, and as a result, similar to the sniffer probe shown in FIG. 1, the minimum detectable value was lower than that of the comparative example without gabber. About 3-5 × 10 -5 [torr
1 / s], and the detection accuracy has improved.

【0044】[0044]

【発明の効果】本発明は、スニッファープローブの構造
を簡単に改良にすることによって、走査速度が変化した
場合や欠陥部・プローブ間距離が離れている場合でも、
ヘリウムの洩れに対する検出限界(検出可能最小値)の
向上ができる。
According to the present invention, the structure of the sniffer probe can be easily improved so that even if the scanning speed is changed or the distance between the defective portion and the probe is large, the structure can be improved.
The detection limit (minimum detectable value) for helium leakage can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるスニッファープローブの一実施形
態を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing one embodiment of a sniffer probe according to the present invention.

【図2】本発明によるスニッファープローブの他の実施
形態を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing another embodiment of the sniffer probe according to the present invention.

【図3】本発明及び比較例のスニッファープローブを用
いた実験例を示す概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an experimental example using sniffer probes of the present invention and a comparative example.

【図4】図3の実験で得られた一検出例について、検出
可能最小値と走査速度との関係を示すグラフである。
FIG. 4 is a graph showing a relationship between a minimum detectable value and a scanning speed in one detection example obtained in the experiment of FIG. 3;

【図5】図3の実験で得られた他の検出例について、検
出可能最小値と走査速度との関係を示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing a relationship between a minimum detectable value and a scanning speed in another detection example obtained in the experiment of FIG. 3;

【図6】従来のリークディテクタの一例を示す構成図で
ある。
FIG. 6 is a configuration diagram illustrating an example of a conventional leak detector.

【図7】従来のリークディテクタの他例を示す構成図で
ある。
FIG. 7 is a configuration diagram showing another example of a conventional leak detector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11a、11b スニッファープローブ 12 ガス吸込み口 13 ハンドル 14 チューブ 15 円筒状カバー 16 実験用容器 16a 疑似欠陥部分 17 圧力センサー 18 ヘリウムリークディテクタ 19 円錐状カバー 11a, 11b Sniffer Probe 12 Gas Inlet 13 Handle 14 Tube 15 Cylindrical Cover 16 Laboratory Vessel 16a Pseudo-Defective Part 17 Pressure Sensor 18 Helium Leak Detector 19 Conical Cover

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 スニッファー法に用いるプローブであっ
て、プローブの吸込み口を囲むカバーを取付けたことを
特徴とするスニッファープローブ。
1. A sniffer probe for use in the sniffer method, wherein a cover surrounding a suction port of the probe is attached.
【請求項2】 スニッファープローブを用いたプローブ
ガスリークディテクタによるガス漏れ試験方法であっ
て、被試験体の内部にプローブガスを導入して加圧し、
その試験体の漏れ箇所から外部に漏れるプローブガス
を、吸込み口を囲むカバーを取付けたスニッファープロ
ーブで吸引し、プローブガスリークディテクタでプロー
ブガスを検出することを特徴とするスニッファープロー
ブを用いたガス漏れ試験方法。
2. A gas leak test method using a probe gas leak detector using a sniffer probe, wherein a probe gas is introduced into a test object and pressurized.
A gas using a sniffer probe, wherein a probe gas leaking outside from a leak portion of the test piece is sucked by a sniffer probe provided with a cover surrounding a suction port, and the probe gas is detected by a probe gas leak detector. Leak test method.
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