JP2001045219A - Image sensor - Google Patents

Image sensor

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JP2001045219A
JP2001045219A JP11211611A JP21161199A JP2001045219A JP 2001045219 A JP2001045219 A JP 2001045219A JP 11211611 A JP11211611 A JP 11211611A JP 21161199 A JP21161199 A JP 21161199A JP 2001045219 A JP2001045219 A JP 2001045219A
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differential amplifier
photodiodes
signal
bias
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俊光 玉川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an accurate image reading output by removing an error in a photoelectric conversion output due to the dispersion of light receiving elements such as photodiodes. SOLUTION: A dummy diode D0 is prepared in addition to plural photodiodes D1 to Dn, biases are repeatedly applied to the dummy diode D0 at a prescribed period and biases are successively applied to plural photodiodes D1 to Dn by a prescribed cycle. Output signals from the photodiodes D1 to Dn are successively amplified by a differential amplifier 10 so as to obtain differences between the output signals and an output signal from the dummy diode D0.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は画像を読み取るイメ
ージセンサに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image sensor for reading an image.

【0002】[0002]

【従来の技術】原稿画像を読み取るイメージセンサは複
数のフォトダイオード(光電変換素子)を一列に有する
半導体チップを複数個配置している。
2. Description of the Related Art An image sensor for reading a document image includes a plurality of semiconductor chips having a plurality of photodiodes (photoelectric conversion elements) arranged in a line.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フォト
ダイオードは半導体チップごとに製造バラツキをもって
いるので、出力される光電変換信号には各チップ間のバ
ラツキによる誤差が生じる。
However, since the photodiode has a manufacturing variation for each semiconductor chip, an error occurs in the output photoelectric conversion signal due to the variation between the chips.

【0004】本発明はこのような問題を克服するように
したイメージセンサを提供することを目的とする。
[0004] It is an object of the present invention to provide an image sensor which can overcome such a problem.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明のイメージセンサは、画像読み取り用の複数のフ
ォトダイオードと;ダミーフォトダイオードと;所定の
周期で前記ダミーフォトダイオードに繰り返しバイアス
を与える第1のバイアス手段と;前記複数のフォトダイ
オードに所定のサイクルで順番にバイアスを与える第2
のバイアス手段と;前記複数のフォトダイオードの出力
信号を順番に差動増幅器の第1入力端子に導く手段と;
前記ダミーフォトダイオードの出力信号を前記差動増幅
器の第2入力端子に導く手段とから成っている。
In order to achieve the above object, an image sensor according to the present invention comprises a plurality of photodiodes for reading an image; a dummy photodiode; and a bias that is repeatedly applied to the dummy photodiode at a predetermined cycle. First bias means; and second bias means for sequentially applying a bias to the plurality of photodiodes in a predetermined cycle.
Bias means; and means for sequentially guiding output signals of the plurality of photodiodes to a first input terminal of a differential amplifier;
Means for guiding an output signal of the dummy photodiode to a second input terminal of the differential amplifier.

【0006】この場合、更に、前記差動増幅器の出力を
直流カットする手段と、その直流カットされた出力に新
たな直流電圧を与える手段とを有すると、増幅等で生じ
るオフセットの影響を回避できる。
In this case, if the output of the differential amplifier is provided with a means for cutting a direct current and a means for applying a new direct current voltage to the output from which the direct current is cut, the influence of an offset caused by amplification or the like can be avoided. .

【0007】また、前記差動増幅器の出力信号が出力端
子に至る前に通る出力スイッチと、前記スイッチを全て
のフォトダイオードの出力信号が通過するまで導通させ
る出力制御手段と、各フォトダイオードの出力を前記差
動増幅器へ導くために用いるパルスをクロックに基づい
て作成する手段とを備え、前記出力制御手段はその通過
制御信号を前記クロックから形成するとともに前記通過
制御信号を引き延ばす遅延手段を設けると、信号経路に
おける遅延による不具合(最後のフォトダイオードの光
電変換信号が出力される前にスイッチが閉じられるとい
う不具合)を避けることができる。
Further, an output switch through which the output signal of the differential amplifier passes before reaching the output terminal, output control means for conducting the switch until the output signals of all the photodiodes pass, and an output of each photodiode. Means for generating a pulse used for guiding the differential amplifier to the differential amplifier based on a clock, and the output control means includes a delay means for forming the passage control signal from the clock and extending the passage control signal. In addition, it is possible to avoid a problem due to a delay in a signal path (a problem that a switch is closed before a photoelectric conversion signal of the last photodiode is output).

【0008】なお、上記の構成をワンチップに搭載し
て、画像読み取り用の複数の光電変換素子を一列に有す
る半導体チップを複数個ライン状に配置したイメージセ
ンサを形成できる。この場合、各半導体チップにダミー
の光電変換素子が設けられ、各半導体チップごとに前記
ダミーの光電変換素子の出力と画像読み取り用の各光電
変換素子の出力の差をとった光電変換信号が出力され
る。
By mounting the above configuration on one chip, an image sensor can be formed in which a plurality of semiconductor chips having a plurality of photoelectric conversion elements for reading an image in a line are arranged in a line. In this case, a dummy photoelectric conversion element is provided in each semiconductor chip, and a photoelectric conversion signal which is the difference between the output of the dummy photoelectric conversion element and the output of each photoelectric conversion element for image reading is output for each semiconductor chip. Is done.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】イメージセンサは図1に示すよう
に、19個のICチップK1、K2、K3、・・・、K
19を印刷配線ボード(図示せず)上に一列に配置実装
して成る。これらの各チップK1、K2、K3、・・
・、K19の出力は順番に出力され、A/D変換器1で
デジタル信号に変換されて出力端子2へ導出される。チ
ップK1、K2、K3、・・・、K19はいずれも同一
の構成であるが、そのうちチップK1を図2に示し、説
明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As shown in FIG. 1, an image sensor has 19 IC chips K1, K2, K3,.
19 are arranged and mounted in a line on a printed wiring board (not shown). Each of these chips K1, K2, K3,.
, K19 are sequentially output, converted into digital signals by the A / D converter 1, and led to the output terminal 2. Each of the chips K1, K2, K3,..., K19 has the same configuration. Among them, the chip K1 is shown in FIG.

【0010】図2において、D0は他のフォトダイオー
ドと同じ形状で動作するタイミングのみ異なるダミーの
フォトダイオードであり、D1〜Dnは画像読み取り用
のフォトダイオードである。これらのフォトダイオード
のアノードはグランドに接続され、カソードは対応する
増幅用のPチャンネル型MOSトランジスタA0、A
1、A2、・・・、Anのゲートにそれぞれ接続されて
いる。増幅トランジスタA0〜Anのソースは対応する
定電流源I0〜Inにそれぞれ接続されている。
In FIG. 2, D0 is a dummy photodiode which differs only in the timing of operating in the same shape as the other photodiodes, and D1 to Dn are image reading photodiodes. The anodes of these photodiodes are connected to the ground, and the cathodes are the corresponding amplifying P-channel MOS transistors A0 and A0.
, A2,..., An. The sources of the amplification transistors A0 to An are connected to the corresponding constant current sources I0 to In, respectively.

【0011】B0〜Bnは対応するトランジスタA0〜
Anのゲートとバイアス電圧供給回路3との間に接続さ
れたスイッチ用のPチャンネル型MOSトランジスタで
あって、そのトランジスタB0のゲートはロジック回路
4に接続され、トランジスタB1、B2、・・・、Bn
のゲートはシフトレジスタ5の出力端子M1、M2、・
・・、Mnにそれぞれ接続されている。これらのトラン
ジスタB1、B2、・・・、Bnは順番にONされる。
B0 to Bn are corresponding transistors A0 to A0.
A switching P-channel MOS transistor connected between the gate of An and the bias voltage supply circuit 3, and the gate of the transistor B0 is connected to the logic circuit 4, and the transistors B1, B2,. Bn
Are output terminals M1, M2,.
.., Mn. These transistors B1, B2,..., Bn are sequentially turned on.

【0012】C1、C2、・・・、Cnはフォトダイオ
ードD1、D2、・・・、Dnで得られた光電変換信号
を増幅トランジスタA1、A2、・・・、Anでそれぞ
れ増幅した後で取り出すスイッチ用のPチャンネル型M
OSトランジスタであり、そのソースは対応する増幅ト
ランジスタA1、A2、・・・、Anのソースに接続さ
れ、ドレインはNチャンネル型MOSトランジスタより
成る第1ソースフォロアトランジスタT1のゲートに共
通に接続されている。
, Cn are obtained by amplifying the photoelectric conversion signals obtained by the photodiodes D1, D2,..., Dn by the amplification transistors A1, A2,. P-channel type M for switch
An OS transistor whose source is connected to the sources of the corresponding amplification transistors A1, A2,..., An, and whose drain is commonly connected to the gate of a first source follower transistor T1 composed of an N-channel MOS transistor. I have.

【0013】また、これらのスイッチ用トランジスタC
1、C2、・・・、Cnのゲートはシフトレジスタ5の
出力端子01、O2、・・・、Onに接続されていて、
順番にONされる。ダミーのフォトダイオードD0に関
する増幅トランジスタA0のソースはスイッチ用トラン
ジスタを介することなく、NチャンネルMOSトランジ
スタより成る第2ソースフォロアトランジスタT2のゲ
ートに直接接続されている。
The switching transistors C
, Cn are connected to output terminals 01, O2,..., On of the shift register 5,
They are turned on in order. The source of the amplifying transistor A0 relating to the dummy photodiode D0 is directly connected to the gate of the second source follower transistor T2 composed of an N-channel MOS transistor without passing through a switching transistor.

【0014】6、7はソースフォロアトランジスタT
1、T2のソースに接続された定電流源であり、他端は
グランドに接続されている。8、9はソースフォロアト
ランジスタT1、T2の出力を増幅するバッファアンプ
であり、それらの出力は抵抗R1、R2を通して差動増
幅器10の非反転入力端子(+)、反転入力端子(−)
へそれぞれ供給される。尚、差動増幅器10の出力端子
は帰還抵抗R3を介して反転入力端子(−)に接続され
ている。非反転入力端子(+)にはチップK1の端子V
REF1から抵抗R4を通して外部からの基準電圧が印加さ
れるようになっている。
6 and 7 are source follower transistors T
1, a constant current source connected to the source of T2, and the other end connected to ground. Reference numerals 8 and 9 denote buffer amplifiers for amplifying the outputs of the source follower transistors T1 and T2, the outputs of which are supplied to the non-inverting input terminal (+) and the inverting input terminal (-) of the differential amplifier 10 through resistors R1 and R2.
Respectively. The output terminal of the differential amplifier 10 is connected to the inverting input terminal (-) via the feedback resistor R3. The non-inverting input terminal (+) has the terminal V of the chip K1.
An external reference voltage is applied from REF1 through a resistor R4.

【0015】差動増幅器10の出力は直流カット用コン
デンサ11を介して次段のバッファアンプ12の非反転
入力端子(+)へ与えられる。尚、このバッファアンプ
12の出力端子と反転入力端子(−)は短絡されてい
る。また、バッファアンプ12の非反転入力端子(+)
にはスイッチ用のアナログスイッチT3を介して端子V
REF1から基準電圧が入力されるようになっている。
The output of the differential amplifier 10 is supplied to a non-inverting input terminal (+) of a buffer amplifier 12 at the next stage via a DC cut capacitor 11. The output terminal of the buffer amplifier 12 and the inverting input terminal (-) are short-circuited. The non-inverting input terminal (+) of the buffer amplifier 12
Is connected to a terminal V via an analog switch T3 for switching.
A reference voltage is input from REF1 .

【0016】アナログスイッチT3はロジック回路4に
接続されていて、チップK1の全フォトダイオードの信
号を読み出し終了するまでロジック回路4からのスイッ
チング電圧によってONされるようになっている。バッ
ファアンプ12の出力はアナログスイッチ(出力スイッ
チ)13を介してチップK1の出力端子VO1へ導出され
る。アナログスイッチ13はトランスミッションゲート
型のスイッチとなっており、その一方のゲートに他方の
ゲートとは極性の異なるスイッチング電圧を与えるため
のインバータ14が接続されている。端子SI1にはス
タートトリガが外部より入力され、端子CLK1には外
部からのクロックが入力される。これらのスタートトリ
ガとクロックはいずれもロジック回路4へ導かれる。
The analog switch T3 is connected to the logic circuit 4, and is turned on by the switching voltage from the logic circuit 4 until the reading of the signals of all the photodiodes of the chip K1 is completed. The output of the buffer amplifier 12 is led to an output terminal V O1 of the chip K1 via an analog switch (output switch) 13. The analog switch 13 is a transmission gate type switch, and one of the gates is connected to an inverter 14 for applying a switching voltage having a polarity different from that of the other gate. Start trigger to the terminal SI 1 is inputted from the outside, the terminal CLK 1 clock is inputted from the outside. Both the start trigger and the clock are guided to the logic circuit 4.

【0017】チップK2、・・・、K19のクロック端
子CLK2、・・・、CLK19にも外部からクロックが
与えられるが、これらのチップK2、・・・、K19の
スタートトリガ端子SI2、・・・、SI19には1つ前
のチップのシフトレジスタから出力されるパルスがトリ
ガとして与えられる。例えば、第2チップK2のスター
トトリガ端子SI2には、第1チップK1の端子SO1
らシフトレジスタ5で発生したパルスが与えられる。こ
のパルスはシフトレジスタ5の出力端子O1、O2、・
・・、Onのうち出力端子Onにパルスが発生した後に
発生する。つまり、第1チップK1の全画素の出力の取
り出しが終了した後に第2チップK2のためのスタート
トリガが発生する。
The clock terminals CLK 2 ,..., CLK 19 of the chips K 2,..., K 19 are also supplied with a clock from outside, but the start trigger terminals SI 2 , ..., a pulse output from the shift register of the immediately preceding chip is given to SI 19 as a trigger. For example, the start trigger terminal SI 2 of the second chip K2, pulses generated by the shift register 5 from the terminal SO 1 of the first chip K1 is given. This pulse is output from the output terminals O1, O2,.
..., On occurs after a pulse is generated at the output terminal On. That is, the start trigger for the second chip K2 is generated after the output of all the pixels of the first chip K1 has been taken out.

【0018】図3において、(イ)は端子CLK1から
入力されるクロックを示している。このクロックはロジ
ック回路4で反転されて図3(ロ)に示すスイッチング
パルスとなってトランジスタB0のゲートに印加され
る。トランジスタB0はスイッチングパルス(ロ)の各
ローレベル期間t2〜t3、t4〜t5、t6〜t7、
・・・でONする。このONにより、ダミーフォトダイ
オードD0はバイアス回路3に結合され、バイアスが与
えられることになる。このバイアスは正の電圧である。
[0018] In FIG. 3, (a) shows the clock input from the terminal CLK 1. This clock is inverted by the logic circuit 4 to become a switching pulse shown in FIG. 3B and applied to the gate of the transistor B0. The transistor B0 is connected to each of the low level periods t2 to t3, t4 to t5, t6 to t7 of the switching pulse (b),
Turn on with. By this ON, the dummy photodiode D0 is coupled to the bias circuit 3, and a bias is applied. This bias is a positive voltage.

【0019】前記クロックは、また、ロジック回路4を
通してシフトレジスタ5に入力され、図3(ハ)(ホ)
に一部波形を示すように1/2分周された形のパルスと
なってシフトレジスタ5の端子O1、O2、・・・、O
nから、それぞれ対応するトランジスタC1、C2、・
・・、Cnのゲートに与えられる。より具体的にいえ
ば、シフトレジスタ5はt1〜t3の期間に負パルスを
端子O1から出力し、t3〜t5の期間に負パルスを端
子O2から出力する如く、クロックの1周期分の幅に相
当する負パルスをシーケンシャルに端子O1、O2、・
・・、Onから出力する。
The clock is also input to the shift register 5 through the logic circuit 4, and the clock shown in FIGS.
, O, O2,..., O
n, the corresponding transistors C1, C2,.
.., Provided to the gate of Cn. More specifically, the shift register 5 outputs a negative pulse from the terminal O1 during the period from t1 to t3, and outputs a negative pulse from the terminal O2 during the period from t3 to t5. The corresponding negative pulses are sequentially applied to terminals O1, O2,.
···, output from On

【0020】シフトレジスタ5は、また、クロックパル
スの入力によって図3(ニ)(ヘ)に一部波形を示すパ
ルスを端子M1、M2、・・・、Mnに出力する。より
具体的にいえば、t2〜t4の期間に負パルスを端子M
1から出力し、t4〜t6の期間の負パルスを端子M2
から出力する如く、クロックの1周期分の幅に相当する
負パルスをシーケンシャルに端子M1、M2、・・・、
Mnから出力する。図2において、15は電流源IO
1、I2、・・・、In及び6、7を駆動する回路であ
る。
The shift register 5 also outputs pulses having partial waveforms shown in FIGS. 3 (d) and (f) to the terminals M1, M2,. More specifically, a negative pulse is applied to the terminal M during the period from t2 to t4.
1 and outputs a negative pulse during the period from t4 to t6 to the terminal M2.
, A negative pulse corresponding to the width of one cycle of the clock is sequentially output to the terminals M1, M2,.
Output from Mn. In FIG. 2, reference numeral 15 denotes a current source I O ,
A circuit for driving I 1 , I 2 ,..., In and 6, 7.

【0021】次に、図2の回路の動作を説明する。図3
(ハ)において、t1〜t3の期間はトランジスタC1
がONしてフォトダイオードD1に蓄積された信号の読
み出しが行なわれるが、t2〜t4の期間にトランジス
タB1がONしてフォトダイオードD1からの信号はバ
イアス電圧にリセットバイアス(以下「リセット」とい
う)されるので、フォトダイオードD1から読み出した
信号は、t1〜t2の期間に読み出した信号のみが有効
となる。この期間t1〜t2に読み出された信号はソー
スフォロアトランジスタT1、バッファアンプ8、抵抗
R1を通して差動増幅器10の非反転入力端子(+)へ
導かれる。
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 2 will be described. FIG.
In (c), during the period from t1 to t3, the transistor C1
Is turned on to read out the signal stored in the photodiode D1, but the transistor B1 is turned on during the period from t2 to t4, and the signal from the photodiode D1 is reset to a bias voltage by a reset bias (hereinafter referred to as “reset”). Therefore, as for the signal read from the photodiode D1, only the signal read during the period from t1 to t2 is valid. The signal read during this period t1 to t2 is guided to the non-inverting input terminal (+) of the differential amplifier 10 through the source follower transistor T1, the buffer amplifier 8, and the resistor R1.

【0022】一方、トランジスタB0はt2〜t3の期
間にONしてダミーフォトダイオードD0をリセットす
るが、増幅トランジスタA0の出力は常にソースフォロ
アトランジスタT2、バッファアンプ9、抵抗R2を通
して差動増幅器10の反転入力端子(−)に与えられて
いる。尚、図3(ロ)に示す負パルスのうち、t1〜t
2の期間の直前の負パルスによってもトランジスタB0
はONし、ダミーフォトダイオードD0の出力信号をバ
イアス電圧にリセットしている。そして、このリセット
後の期間t1〜t2において出力されるダミーフォトダ
イオードD0の信号と、同じ期間t1〜t2に読み出さ
れるフォトダイオードD1の信号が差動増幅器10で差
動増幅されることになる。
On the other hand, the transistor B0 is turned on during the period from t2 to t3 to reset the dummy photodiode D0, but the output of the amplifying transistor A0 is always output from the differential amplifier 10 It is given to the inverting input terminal (-). Note that, among the negative pulses shown in FIG.
The transistor B0 is also driven by the negative pulse immediately before the period of 2.
Is ON, and the output signal of the dummy photodiode D0 is reset to the bias voltage. Then, the signal of the dummy photodiode D0 output in the period t1 to t2 after the reset and the signal of the photodiode D1 read in the same period t1 to t2 are differentially amplified by the differential amplifier 10.

【0023】この差動増幅動作によってフォトダイオー
ドD1のバラツキによる誤差分(フォトダイオードD1
の出力信号に含まれる誤差分)は除去されることにな
る。これはダミーフォトダイオードD0の出力信号が同
じ誤差成分を持っている(より正確にいえば、ダミーフ
ォトダイオードD0の出力信号は誤差成分のみからなっ
ている)からであり、それらが差動増幅動作においてキ
ャンセルされるからである。
Due to the differential amplification operation, an error due to the variation of the photodiode D1 (photodiode D1
) Is removed. This is because the output signal of the dummy photodiode D0 has the same error component (more precisely, the output signal of the dummy photodiode D0 is composed only of the error component), and they are differentially amplified. Is canceled at

【0024】前記差動増幅器10の出力は直流カット用
コンデンサ11を通して次段のバッファアンプ12へ入
力される。このとき、アナログスイッチT3はONされ
ており、端子VREF1から直流電圧(バイアス電圧)が与
えられる。差動増幅器10の出力には直流電圧のオフセ
ットがかなりの大きさで生じているが、この直流電圧を
コンデンサ11でカットし、新たに所定の直流電圧を外
部から端子VREF1及びアナログスイッチT3を通して取
り入れる。このため、バッファアンプ12を経由するこ
とにより信号は前記直流電圧を基準とした信号となる。
The output of the differential amplifier 10 is input to a buffer amplifier 12 of the next stage through a DC cut capacitor 11. At this time, the analog switch T3 is ON, and a DC voltage (bias voltage) is supplied from the terminal V REF1 . The output of the differential amplifier 10 has a considerable DC voltage offset, but this DC voltage is cut by the capacitor 11 and a predetermined DC voltage is newly applied from the outside through the terminal V REF1 and the analog switch T3. Take in. Therefore, the signal becomes a signal based on the DC voltage by passing through the buffer amplifier 12.

【0025】このようにオフセットを除去した信号は、
次に、出力スイッチ13を通して出力端子VO1へ導出さ
れる。この導出された信号は図1に示すようにA/D変
換器1によってディジタル信号に変換される。A/D変
換器1の基準電圧と前記バッファアンプ12で外部から
入力された直流電圧は合致するように選ばれている。以
上のようにして期間t1〜t2においてフォトダイオー
ドD1の信号の読み出しと処理が行なわれる。
The signal from which the offset has been removed is
Next, it is led to the output terminal V O1 through the output switch 13. The derived signal is converted into a digital signal by the A / D converter 1 as shown in FIG. The reference voltage of the A / D converter 1 and the DC voltage externally input by the buffer amplifier 12 are selected so as to match. As described above, the reading and processing of the signal of the photodiode D1 are performed in the periods t1 to t2.

【0026】次に、t2〜t3の期間にトランジスタB
0のONによってダミーフォトダイオードD0の出力信
号はバイアス電圧にリセットされ、また、トランジスタ
B1のONによってフォトダイオードD1の出力信号も
バイアス電圧にリセットされる。次の期間t3〜t4で
は、ダミーフォトダイオードB0のリセットは解除され
ており、一方、フォトダイオードD1の読み出しも終了
している。期間t3〜t4では、フォトダイオードD1
のリセットが引続き行なわれており、そのリセット状態
は、t4で解除される。また、この期間は次のフォトダ
イオードPD2の信号が出力される。フォトダイオード
D1の信号が次に読み出されるのは、チップK1のフォ
トダイオードD2、・・・、Dn及びチップK2、・・
・、K19のフォトダイオードの全ての読み出しが終了
して再びチップK1の読み出しに戻ったときである。
Next, during the period from t2 to t3, the transistor B
When 0 is turned on, the output signal of the dummy photodiode D0 is reset to the bias voltage, and when the transistor B1 is turned on, the output signal of the photodiode D1 is also reset to the bias voltage. In the next period t3 to t4, the reset of the dummy photodiode B0 has been released, and the reading of the photodiode D1 has also been completed. In the period t3 to t4, the photodiode D1
Are continuously performed, and the reset state is released at t4. In this period, the next signal of the photodiode PD2 is output. Next, the signal of the photodiode D1 is read out from the photodiodes D2,..., Dn of the chip K1 and the chip K2,.
.., When all reading of the photodiode of K19 is completed and the process returns to reading of the chip K1 again.

【0027】このようにして、チップK1のフォトダイ
オードD1〜Dnの読み出しが終了すると、シフトレジ
スタ5の端子SO1からパルスが出力されるが、このパ
ルスは次のチップK2のスタートトリガ信号となる。こ
れにより信号の読み出し動作はチップK2に移る。チッ
プK1の読み出し動作は出力スイッチ13をOFFする
ことにより終了する。出力スイッチ13を制御する電圧
はロジック回路4から与えられるが、ロジック回路4に
おいて、この電圧は入力されるクロックに基づいて形成
される。
[0027] In this way, the reading of the photodiode D1~Dn chips K1 is completed, the pulse from terminal SO 1 of the shift register 5 is outputted, the pulse becomes a start trigger signal for the next chip K2 . As a result, the signal read operation shifts to the chip K2. The read operation of the chip K1 ends when the output switch 13 is turned off. The voltage for controlling the output switch 13 is provided from the logic circuit 4, and in the logic circuit 4, this voltage is formed based on an input clock.

【0028】図4において、(a)はロジック回路4に
入力されるクロックを示しており、(b)は出力スイッ
チ13の制御電圧を示している。制御電圧はローレベル
で出力スイッチ13をONし、ハイレベルで出力スイッ
チ13をOFFする。チップK1の読み出し終了のため
にはクロックのパルスLの立ち下がりで制御電圧はロー
レベルからハイレベルに遷移する。
FIG. 4A shows a clock input to the logic circuit 4 and FIG. 4B shows a control voltage of the output switch 13. When the control voltage is low, the output switch 13 is turned on, and when the control voltage is high, the output switch 13 is turned off. In order to complete the reading of the chip K1, the control voltage changes from the low level to the high level at the fall of the clock pulse L.

【0029】ところで、図2の回路において、フォトダ
イオードの信号処理のための経路では増幅器等を含んで
いて、信号の遅れが生じる。一方、制御電圧はクロック
を基にロジック回路4で形成されるので、クロックに対
する遅延は殆ど生じない。出力端子に得られる信号は図
4(d)のようなものであるが、この信号のP点のレベ
ル情報がA/D変換回路1で用いられるとしたとき、図
4(b)の制御電圧では、チップK1の最終段のフォト
ダイオードDnの信号のP点部分がチップK1から出力
されないことになってしまう。
In the circuit shown in FIG. 2, the signal processing path of the photodiode includes an amplifier and the like, and a signal delay occurs. On the other hand, since the control voltage is formed by the logic circuit 4 based on the clock, there is almost no delay with respect to the clock. The signal obtained at the output terminal is as shown in FIG. 4D. When the level information at the point P of this signal is used in the A / D conversion circuit 1, the control voltage shown in FIG. In this case, the point P of the signal of the photodiode Dn at the last stage of the chip K1 is not output from the chip K1.

【0030】そこで、本実施形態では、ロジック回路4
に遅延回路4aを設けて出力スイッチ13の制御電圧を
図4に示す如く時間Wだけ遅延させて出力するようにし
ている。従って、本実施形態で出力スイッチ13を制御
する電圧は図4(c)に示すものとなる。これによれ
ば、確実に所望の信号情報を出力することができる。
尚、図4において、(c)の制御電圧がハイレベルにな
った後に、(d)において示されている信号はチップK
2の最初のフォトダイオードの信号である。
Therefore, in this embodiment, the logic circuit 4
A delay circuit 4a is provided to delay the control voltage of the output switch 13 by a time W as shown in FIG. Accordingly, the voltage for controlling the output switch 13 in the present embodiment is as shown in FIG. According to this, it is possible to reliably output desired signal information.
Note that in FIG. 4, after the control voltage of (c) becomes high level, the signal shown in (d)
2 is the first photodiode signal.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、フ
ォトダイオード等の受光素子のバラツキによる光電変換
出力の誤差が解消されるので、正確な画像読み取り出力
を得ることができる。
As described above, according to the present invention, errors in photoelectric conversion output due to variations in light receiving elements such as photodiodes can be eliminated, so that accurate image reading output can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係るイメージセンサの全体
の概略構成を示す図
FIG. 1 is a diagram showing an overall schematic configuration of an image sensor according to an embodiment of the present invention.

【図2】その1つの半導体チップにおける内部回路を示
す回路図
FIG. 2 is a circuit diagram showing an internal circuit of the one semiconductor chip;

【図3】図2の回路の動作を説明するための波形図FIG. 3 is a waveform chart for explaining the operation of the circuit of FIG. 2;

【図4】同じく図2の回路の動作を説明するための波形
FIG. 4 is a waveform chart for explaining the operation of the circuit of FIG. 2;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

K1〜K19 ICチップ(半導体チップ) D0 ダミーフォトダイオード D1〜Dn 画像読み取り用のフォトダイオード A0〜An 増幅トランジスタ B0〜Bn スイッチ用のPチャンネル型MOSト
ランジスタ C1〜Cn スイッチ用のPチャンネル型MOSト
ランジスタ 1 A/D変換器 3 バイアス回路 4 ロジック回路 5 シフトレジスタ 10 差動増幅器 11 直流カット用コンデンサ 13 出力スイッチ VO1 出力端子
K1 to K19 IC chip (semiconductor chip) D0 Dummy photodiode D1 to Dn Image reading photodiode A0 to Amplification transistor B0 to Bn Switch P-channel MOS transistor C1 to Cn Switch P-channel MOS transistor 1 A / D converter 3 Bias circuit 4 Logic circuit 5 Shift register 10 Differential amplifier 11 DC cut capacitor 13 Output switch VO1 output terminal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4M118 AA06 AB10 BA04 BA14 CA02 CA17 DD09 DD10 FA08 5C024 AA01 CA14 FA01 FA02 FA11 GA01 HA18 JA21 5C051 AA01 BA04 DA03 DB01 DB04 DB07 DB08 DB12 DB15 DC02 DE01 DE13 DE17  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4M118 AA06 AB10 BA04 BA14 CA02 CA17 DD09 DD10 FA08 5C024 AA01 CA14 FA01 FA02 FA11 GA01 HA18 JA21 5C051 AA01 BA04 DA03 DB01 DB04 DB07 DB08 DB12 DB15 DC02 DE01 DE13 DE17

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】画像読み取り用の複数のフォトダイオード
と、 ダミーフォトダイオードと、 所定の周期で前記ダミーフォトダイオードに繰り返しバ
イアスを与える第1のバイアス手段と、 前記複数のフォトダイオードに所定のサイクルで順番に
バイアスを与える第2のバイアス手段と、 前記複数のフォトダイオードの出力信号を順番に差動増
幅器の第1入力端子に導く手段と、 前記ダミーフォトダイオードの出力信号を前記差動増幅
器の第2入力端子に導く手段と、 から成るイメージセンサ。
A plurality of photodiodes for reading an image; a dummy photodiode; first bias means for repeatedly applying a bias to the dummy photodiode at a predetermined cycle; and a predetermined cycle to the plurality of photodiodes. Second bias means for sequentially applying a bias; means for sequentially guiding output signals of the plurality of photodiodes to a first input terminal of a differential amplifier; and outputting the output signal of the dummy photodiode to a first input terminal of the differential amplifier. Means for guiding to two input terminals;
【請求項2】更に、前記差動増幅器の出力を直流カット
する手段と、その直流カットされた出力に新たな直流電
圧を与える手段とを有することを特徴とする請求項1に
記載のイメージセンサ。
2. The image sensor according to claim 1, further comprising: means for cutting the output of said differential amplifier with a direct current, and means for applying a new direct current voltage to the output from which the direct current has been cut. .
【請求項3】前記差動増幅器の出力信号が出力端子に至
る前に通る出力スイッチと、前記出力スイッチを全ての
フォトダイオードの出力信号が通過するまで導通させる
出力制御手段と、各フォトダイオードの出力を前記差動
増幅器へ導くために用いるパルスをクロックに基づいて
作成する手段とを備え、前記出力制御手段はその通過制
御信号を前記クロックから形成するとともに前記通過制
御信号を引き延ばす遅延手段を有することを特徴とする
請求項1又は2に記載のイメージセンサ。
3. An output switch through which an output signal of the differential amplifier passes before reaching an output terminal; output control means for conducting the output switch until output signals of all photodiodes pass; Means for generating a pulse based on a clock for use in guiding an output to the differential amplifier, wherein the output control means includes a delay means for forming the passage control signal from the clock and extending the passage control signal. The image sensor according to claim 1, wherein:
【請求項4】画像読み取り用の複数の光電変換素子を一
列に有する半導体チップを複数個ライン状に配置したイ
メージセンサにおいて、 各半導体チップにダミーの光電変換素子を設け、各半導
体チップごとに前記ダミーの光電変換素子の出力と画像
読み取り用の各光電変換素子の出力の差をとった光電変
換信号を出力することを特徴とするイメージセンサ。
4. An image sensor in which a plurality of semiconductor chips having a plurality of photoelectric conversion elements for reading an image in a line are arranged in a line, and a dummy photoelectric conversion element is provided for each semiconductor chip, and the semiconductor chip is provided for each semiconductor chip. An image sensor for outputting a photoelectric conversion signal obtained by calculating a difference between an output of a dummy photoelectric conversion element and an output of each photoelectric conversion element for image reading.
【請求項5】前記各半導体チップは、 複数のフォトダイオードと、 ダミーフォトダイオードと、 所定の周期で前記ダミーフォトダイオードに繰り返しバ
イアスを与える第1のバイアス手段と、 前記複数のフォトダイオードに所定のサイクルで順番に
バイアスを与える第2のバイアス手段と、 前記複数のフォトダイオードの出力信号を順番に差動増
幅器の第1入力端子に導く手段と、 前記ダミーフォトダイオードの出力信号を前記差動増幅
器の第2入力端子に導く手段と、 を有していることを特徴とする請求項4に記載のイメー
ジセンサ。
5. Each of the semiconductor chips comprises: a plurality of photodiodes; a dummy photodiode; first bias means for repeatedly applying a bias to the dummy photodiode at a predetermined cycle; Second bias means for sequentially applying a bias in a cycle; means for sequentially guiding output signals of the plurality of photodiodes to a first input terminal of a differential amplifier; and outputting the output signal of the dummy photodiode to the differential amplifier. The image sensor according to claim 4, further comprising: means for guiding to the second input terminal.
【請求項6】更に、前記差動増幅器の出力を直流カット
する手段と、その直流カットされた出力に新たな直流電
圧を与える手段とを有することを特徴とする請求項5に
記載のイメージセンサ。
6. The image sensor according to claim 5, further comprising: means for cutting the output of said differential amplifier with a direct current, and means for applying a new direct current voltage to the output from which the direct current has been cut. .
【請求項7】前記差動増幅器の出力信号が出力端子に至
る前に通る出力スイッチと、前記スイッチを全てのフォ
トダイオードの出力信号が通過するまで導通させる出力
制御手段と、各フォトダイオードの出力を前記差動増幅
器へ導くために用いるパルスをクロックに基づいて作成
する手段とを備え、前記出力制御手段はその通過制御信
号を前記クロックから形成するとともに前記通過制御信
号を引き延ばす遅延手段を有することを特徴とする請求
項5又は6に記載のイメージセンサ。
7. An output switch through which an output signal of the differential amplifier passes before reaching an output terminal, output control means for conducting the switch until output signals of all photodiodes pass, and an output of each photodiode. Means for generating a pulse based on a clock for guiding the signal to the differential amplifier, wherein the output control means has a delay means for forming the passage control signal from the clock and extending the passage control signal. The image sensor according to claim 5, wherein:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006270613A (en) * 2005-03-24 2006-10-05 Rohm Co Ltd Input unit and semiconductor device configuring it
US8239964B2 (en) 2005-07-14 2012-08-07 International Business Machines Corporation On-demand physically secure data storage
JP2017139816A (en) * 2011-05-12 2017-08-10 キヤノン株式会社 Solid-state imaging apparatus, driving method of the same, and solid-state imaging system

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