JP2001041869A - 塗膜等の膜体試験用材料試験機 - Google Patents

塗膜等の膜体試験用材料試験機

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JP2001041869A
JP2001041869A JP11219054A JP21905499A JP2001041869A JP 2001041869 A JP2001041869 A JP 2001041869A JP 11219054 A JP11219054 A JP 11219054A JP 21905499 A JP21905499 A JP 21905499A JP 2001041869 A JP2001041869 A JP 2001041869A
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film
crack
coating film
circuit pattern
load
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JP11219054A
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Jun Horikawa
純 堀川
Masatomo Ibaraki
正智 茨木
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 塗膜等の低剛性の膜体に亀裂が発生したこと
を検知して、負荷機構を自動的に停止することのできる
膜体試験用材料試験機を提供する。 【解決手段】 試験対象膜体102の亀裂発生予想領域
の表面に、一端から他端まで直列的に繋がったパターン
の導電性薄膜からなる回路パターン103を形成し、そ
の回路パターン103の両端に、当該回路パターン10
3の両端間の導通の有無を検出することによって膜体1
02への亀裂発生を検知する亀裂発生検知手段37を設
け、亀裂発生を検知した時点で負荷機構14を自動的に
停止させることで、塗膜等の膜体に対して、物性に影響
を与えることなく疲労試験等を行うことを可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗膜等の膜体の疲
労寿命等の物性を調査するための材料試験機に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば自動車のボディは、一般に、その
外面に塗装が施されるが、ボディの場所によっては、図
4に模式的断面図を示すように、鋼板Iaと鋼板Ibの
繋ぎ目にシール材Sが用いられるとともに、鋼板Ia,
Ibおよびシール材Sを含めてその表面に一様な塗膜P
が形成される場合がある。このような構造によると、特
に寒冷地においては、鋼板Ia,Ibとシール材Sの熱
膨張率の違いに起因して、寒暖の温度差の繰り返しによ
って、図中Bで示す部分等において塗膜Pに亀裂が生じ
ることがある。また、このような塗膜Pの亀裂は、自動
車の走行時の振動による疲労によっても生じる可能性が
ある。
【0003】このような疲労による亀裂発生に対して
は、一般に、疲労試験によりその材料に亀裂が発生する
までの負荷の繰り返し数や、亀裂発生に至る過程の種々
の変化を調査するなど、その材料の物性を評価すること
が有効である。上記のような塗膜Pの疲労試験に際して
は、実際の使用状態、つまり鋼板Ia,Ibおよびシー
ル材Sの各表面に跨がるように塗膜Pを形成した状態
で、伸び制御による疲労試験に供することが有効である
と考えられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な鋼板Ia,Ibおよびシール材Sからなる母材の表面
に形成された塗膜Pの疲労試験を行うためには、塗膜P
に亀裂が発生したことを検知する手段が必要となる。通
常の金属材料や樹脂材料等の疲労試験においては、伸び
制御により繰り返し負荷を与えている状態で、試験片に
亀裂ないしは破壊が生じると試験片に作用する荷重の低
下が見られ、その荷重低下を検知して亀裂ないしは破壊
の発生を自動的に検知することができるのであるが、図
3に示したような試験片において、その塗膜Pのみに亀
裂または破壊が発生しても、荷重の変化を検出すること
ができず、亀裂発生を検知することはできない。
【0005】なお、一般に亀裂の発生を検知する手段と
して、クラックゲージと称されるゲージが知られている
が、このクラックゲージは、対称物に接着した抵抗線材
の断線により亀裂の発生を検知するものであり、線材は
塗膜よりも剛性が高いため、塗膜等の低剛性材料の亀裂
発生を検知することはできない。
【0006】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、塗膜等の低剛性の膜体に亀裂が発生したことを
検知して、負荷機構を自動的に停止することのできる膜
体試験用材料試験機の提供を目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の塗膜等の膜体試験用材料試験機は、塗膜等
の膜体の物性を調査する材料試験機であって、膜体に対
して負荷を加える負荷機構と、その負荷機構による負荷
があらかじめ設定された目標値と一致するように当該負
荷機構を制御する制御部と、負荷による膜体の亀裂発生
予想領域の表面に、一端から他端まで直列的に繋がった
パターンに形成された導電性薄膜からなる回路パターン
の両端に接続され、当該回路パターンの両端間の導通の
有無を検出することによって膜体への亀裂発生の有無を
検知する亀裂発生検知手段を有し、上記制御部は、亀裂
発生検知手段により膜体の亀裂発生を検知した時点で負
荷機構を自動的に停止させるよう構成されていることに
よって特徴づけられる(請求項1)。
【0008】ここで、本発明においては、上記導電性薄
膜の形態は特に限定されるものではないが、試験対象と
なる膜体が非導電性の膜体である場合には、導電性材料
からなる蒸着膜を好適に用いることができる(請求項
2)。
【0009】本発明は、塗膜等の低剛性膜体への亀裂の
発生を、その膜体表面に形成した導電性薄膜による回路
パターンの切断によって検知することで、所期の目的を
達成しようとするものである。
【0010】すなわち、膜体に亀裂が発生すると、膜体
表面に形成されている導電性薄膜からなる回路パターン
のうち、その亀裂を横切っている箇所が切断される。こ
の回路パターンを、一端から他端まで直列的に繋がった
パターンとしておけば、回路パターンの両端の導通の有
無を検出することによって、亀裂の発生を検知すること
ができる。そして、この回路パターンの導通の有無の検
出による亀裂発生の検知結果により、負荷機構を自動的
に停止させれば、前記したような母材表面に膜体が形成
されてなる試験片を用いて、膜体の疲労試験を実現する
ことができる。そして、この回路パターンは薄膜による
ものであるため、塗膜等の低剛性膜体の表面に形成して
もその物性に影響を与えることがなく、正確な疲労試験
を行うことができる。
【0011】また、塗膜等の導電性を有さない膜体の試
験に際しては、回路パターンを形成する薄膜として蒸着
膜を用いると、試験対象である膜体の物性に及ぼす影響
は実質的に皆無と見なすことができ、上記の効果はより
一層確実なものとなる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図1は本発明の実施の形
態の構成図で、機械的構成を表す模式図と、電気的構成
を表すブロック図を併記して示す図である。また、図2
は、この実施の形態を用いて塗膜の疲労試験に供される
試験片100の構成例を示す斜視図である。
【0013】試験機本体1は、テーブル11およびその
上面から鉛直方向に伸びる2本のコラム12a,12b
と、そのコラム12a,12bに両端が支承されたクロ
スヘッド13を備えた構造を有し、テーブル11の下面
には負荷用の油圧アクチュエータ14が設けられてお
り、その油圧アクチュエータ14の出力軸14aはテー
ブル11を貫通してその先端がテーブル11の上面に臨
んでいる。そして、その出力軸14aの先端部に下側掴
み具15aが取り付けられているとともに、クロスヘッ
ド13の下面には、ロードセル16を介して上側掴み具
15bが取り付けられ、試験に供される試験片100は
こられの掴み具15a,15bにその両端部が把持さ
れ、その状態で油圧アクチュエータ14を駆動すること
によって、試験片100に負荷が加えられる。
【0014】油圧アクチュエータ14は、油圧源21か
らの圧油がサーボ弁22を介して供給されることによっ
て駆動制御される。この油圧アクチュエータ14の駆動
により試験片100に作用する荷重はロードセル16に
よって検出されるとともに、油圧アクチュエータ14の
出力軸14aの変位はストローク検出器17によって検
出され、更に、試験片100に装着された伸び計18に
よって試験片100の伸びが検出される。これらのロー
ドセル16、ストローク検出器17および伸び計18の
出力は、それぞれ荷重計測用アンプ31、変位計測用ア
ンプ32および伸び計測用アンプ33によって増幅され
た後、それぞれA−D変換器34a、34bおよび34
cによってデジタル化された後、CPUを主体とする制
御部35に取り込まれる。
【0015】制御部35は、以上の荷重、変位、および
伸びのうちの任意の量を制御量として、サーボ弁22の
弁開度を刻々と調節し、油圧アクチュエータ14をフィ
ードバック制御することができる。すなわち、例えば試
験片100の伸びが制御量として選択されている場合に
は、A−D変換器24cを介して刻々と取り込んだ伸び
データが、あらかじめ設定されている伸びの目標値と一
致するよう、D−A変換器36を介してサーボ弁22に
弁開度の制御信号を供給する。疲労試験の場合には、試
験片100の伸びの目標値として、例えば経時的に正弦
波状に変化する目標値が設定され、これにより、試験片
100には繰り返し負荷が加えられる。
【0016】さて、この例における試験片100には、
以下に示すように、母材101の表面に試験対象である
塗膜102を形成したものであり、その塗膜102の表
面には導電性材料を蒸着してなる薄膜回路パターン10
3が形成されている。そして、その薄膜回路パターン1
03の両端部に設けられたパッド部103b,103c
が亀裂発生検知回路37に接続される。この亀裂発生検
知回路37は、薄膜回路パターン103の両端間の抵抗
値をモニタする等の手法により、薄膜回路パターン10
3の導通の有無を検出することにより、塗膜102に亀
裂が発生したことを検知するものであって、その検知結
果は制御部35に取り込まれる。制御部35では、その
亀裂発生検知回路37が塗膜102の亀裂発生を検知し
た時点で、油圧アクチュエータ14を停止させる。
【0017】図2に試験片100の斜視図を示す。この
例における試験片100は、母材101の片面に試験対
象である塗膜102を形成したものであり、母材101
は、上下方向略中央部分に凹所Dが形成された鋼板10
1aと、その鋼板101aの凹所Dを埋めるように取り
付けられたシール材101bからなり、塗膜102はこ
れらに跨がって一様に形成され、上下両端所定領域が鋼
板101aの表面に、その中間領域がシール材101b
の表面に形成されている。そして、塗膜102の表面に
は、金またはカーボン等の導電性材料を蒸着してなる薄
膜回路パターン103が形成されている。この例におけ
る薄膜回路パターン103は、疲労試験によって塗膜1
02に亀裂が発生すると予想される部位、鋼板101a
とシール材101bとの上下の境界部分に対応する部
位、を横切るように負荷方向(上下方向)に伸びる複数
本の略平行線の各上下端部を、上下交互に接続してなる
ジグザグ状の1本の線103aによって構成され、その
線103aの両端に、亀裂発生検知回路37に対して接
続するためのパッド部103b,103cが形成されて
いる。
【0018】以上のような薄膜回路パターン103は、
所要のパターンと同形状の開口部を有するマスクを試験
100の塗膜102上に配置し、真空蒸着装置等を用い
て金等の導電性材料を蒸着させることにより、再現性よ
く形成することができる。
【0019】本発明の実施の形態により、例えば伸び制
御によって試験片100に対して繰り返し負荷を与える
と、やがて塗膜102の疲労によって、通常は鋼板10
1aとシール材101bとの境界部分に相当する部位に
亀裂が生じる。このとき、図3に模式的に示すように、
塗膜102の表面に形成されている薄膜回路パターン1
03の線103aが、亀裂Cと交差している部位におい
て切断され、パッド部103b,103c間の導通がな
くなるため、この亀裂の発生は亀裂発生検知回路37に
よって確実に検知される。この亀裂発生検知により、制
御部35は油圧アクチュエータ14を直ちに停止させ、
亀裂発生と同時に試験を自動的に終了させることができ
る。
【0020】そして、塗膜102の亀裂を検知するため
の薄膜回路パターン103は、蒸着膜によって形成され
ているが故に、疲労試験に際して塗膜102の物性に何
ら影響を与えることがなく、塗膜102の物性を正しく
調査することができる。
【0021】なお、以上の実施の形態においては、塗膜
102を試験対象とした例を示したが、本発明はこれに
限定されることなく、任意の低剛性の膜体を試験対象と
することができることは勿論である。
【0022】また、以上の実施の形態においては、試験
対象膜体である塗膜を、鋼板およびシール材からなる母
材の表面に形成した試験片を用いたが、母材の構造はこ
のような構造に限られることなく、例えば一様な板材と
してもよい。ただし、薄膜回路パターン103は、試験
対象膜体亀裂発生予想領域に形成する必要があるため、
一様な板材を母材とする場合には、例えば負荷方向に沿
った線をジグザグ状に繋げたパターンを、試験対象膜体
の全表面をカバーするように形成する必要がある。
【0023】更に、薄膜回路パターンのパターン形状は
上記のようにジグザグ状のものに限定されず、例えば亀
裂発生予想領域の幅が狭かったり、あるいは亀裂が試験
片の横断方向に一挙に出現するような膜体の試験に際し
ては、負荷方向に沿った1本の線としてもよく、要は、
亀裂の発生によりパターンの一部が切断されてその両端
間の導通がなくなるものであれば、任意のパターン形状
とし得ることは勿論である。
【0024】更にまた、以上の実施の形態においては、
薄膜回路パターンを蒸着膜によって形成した例を示した
が、試験対象膜体に影響を与えることがなければ、導電
性材料からなる膜を適宜のパターンに形成しなるシール
状のものを用い、試験対象膜体の表面に貼り付けてもよ
い。
【0025】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、塗膜等
の膜体の試験による亀裂発生予想領域の表面に、一端か
ら他端まで直列的に繋がった導電性材料の薄膜からなる
回路パターンを形成するとともに、その回路パターンの
両端の導通の有無を検出して膜体への亀裂発生を検知
し、その亀裂発生検知によって負荷機構を停止させるか
ら、塗膜等の脆弱な膜体の亀裂の発生を自動的に検知し
て試験を終了することが可能となり、しかも、亀裂発生
を検知するための回路パターンは試験対象膜体の物性に
対して影響を与えることがなく、従来不可能であった塗
膜等の正確な疲労試験を実現することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を
表す模式図と電気的構成を表すブロック図とを併記して
示す図である。
【図2】本発明の実施の形態に用いられる試験片100
の構造例を示す斜視図である。
【図3】図2の試験片100の塗膜102に亀裂が発生
したときに薄膜回路パターン103が切断される様子を
示す模式図である。
【図4】自動車のボディ等において塗膜に亀裂の生じや
すい部位の例を示す模式的断面図である。
【符号の説明】
1 試験機本体 11 テーブル 12a,12b コラム 13 クロスヘッド 14 油圧アクチュエータ 14a 出力軸14a 15a,15b 掴み具 16 ロードセル 17 ストローク検出器 18 伸び計 21 油圧源 22 サーボ弁 31 荷重計測用アンプ 32 変位計測用アンプ 33 伸び計測用アンプ 34a,34b,34c A−D変換器 35 制御部35 36 D−A変換器 37 亀裂発生検知回路 100 試験片 101 母材 101a 鋼板 101b シール材 102 塗膜 103 薄膜回路パターン 103a 線 103b,103c パッド部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 塗膜等の膜体の物性を調査する材料試験
    機であって、膜体に対して負荷を加える負荷機構と、そ
    の負荷機構による負荷があらかじめ設定された目標値と
    一致するように当該負荷機構を制御する制御部と、負荷
    による膜体の亀裂発生予想領域の表面に、一端から他端
    まで直列的に繋がったパターンに形成された導電性薄膜
    からなる回路パターンの両端に接続され、当該回路パタ
    ーンの両端間の導通の有無を検出することによって膜体
    への亀裂発生の有無を検知する亀裂発生検知手段を有
    し、上記制御部は、上記亀裂発生検知手段により膜体の
    亀裂発生を検知した時点で負荷機構を自動的に停止させ
    るよう構成されていることを特徴とする塗膜等の膜体試
    験用材料試験機。
  2. 【請求項2】 上記導電性薄膜が、導電性材料からなる
    蒸着膜であることを特徴とする請求項1に記載の塗膜等
    の膜体試験用材料試験機。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101006083B1 (ko) 2009-04-20 2011-01-06 이창우 박막용 피로 시험기
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