JP2001021700A - Electron beam irradiation device - Google Patents

Electron beam irradiation device

Info

Publication number
JP2001021700A
JP2001021700A JP11192979A JP19297999A JP2001021700A JP 2001021700 A JP2001021700 A JP 2001021700A JP 11192979 A JP11192979 A JP 11192979A JP 19297999 A JP19297999 A JP 19297999A JP 2001021700 A JP2001021700 A JP 2001021700A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filament assembly
filament
shield electrode
electron beam
assembly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11192979A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsunobu Sugita
達信 杉田
Yoshiharu Shimaoka
義治 島岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin High Voltage Co Ltd
Original Assignee
Nissin High Voltage Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin High Voltage Co Ltd filed Critical Nissin High Voltage Co Ltd
Priority to JP11192979A priority Critical patent/JP2001021700A/en
Publication of JP2001021700A publication Critical patent/JP2001021700A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the uniformity of electron dose distribution from worsening by the warping of a filament assembly by the heat from a filament. SOLUTION: Near the middle of a filament assembly 8 in Y-direction having a filament 10 is fixed onto a shield electrode 4. Both ends of the filament assembly 8 in Y-direction are fixed to the shield electrode 4 by a fixing means 32 allowing extension of the both ends in Y-direction and disturbing the motion in up and down directions. The fixing means 32 is constituted of a connection plate 34 having a long hole 36, male screws 38 having a column part 42 of length C which is a little longer than the plate thickness B, etc.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、シールド電極内
にフィラメントアセンブリ(フィラメント組立体)を取
り付けた構造のものであって、被照射物に電子線を照射
して架橋、硬化、改質等の処理を施す電子線照射装置に
関し、より具体的には、フィラメントからの熱によって
フィラメントアセンブリが反り上がって電子線量分布の
均一性が悪化することを防止する手段に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a structure in which a filament assembly (filament assembly) is mounted in a shield electrode. The present invention relates to an electron beam irradiation apparatus for performing a process, and more particularly, to a means for preventing the filament assembly from warping due to heat from the filament and deteriorating the uniformity of the electron dose distribution.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3に、例えば特開昭62−18730
0号公報に記載されているような電子線照射装置の一例
を示す。この電子線照射装置は、電子線22を走査しな
い非走査型(またはエリア型)と呼ばれるものであり、
一定の方向(この明細書ではY方向)に長い円筒状の真
空容器2と、この真空容器2内に収納されたシールド電
極4と、このシールド電極4内に取り付けられたフィラ
メントアセンブリ8等を備えている。
2. Description of the Related Art FIG.
1 shows an example of an electron beam irradiation apparatus as described in Japanese Patent Application Publication No. 0-205. This electron beam irradiation apparatus is called a non-scan type (or area type) which does not scan the electron beam 22,
It includes a cylindrical vacuum vessel 2 that is long in a certain direction (Y direction in this specification), a shield electrode 4 housed in the vacuum vessel 2, a filament assembly 8 mounted in the shield electrode 4, and the like. ing.

【0003】シールド電極4は、断面が丸くて(例えば
半円形状、半楕円形状等)、Y方向に長い筒状のもので
あり、その下面に、Y方向に長い矩形の開口部6を有し
ている。このシールド電極4は、真空容器2とフィラメ
ントアセンブリ8との間に印加される加速電圧による電
界の集中を緩和する作用をする。
[0003] The shield electrode 4 has a round cross section (for example, a semicircular shape, a semielliptical shape, etc.) and a cylindrical shape long in the Y direction, and has a rectangular opening 6 long in the Y direction on the lower surface thereof. are doing. The shield electrode 4 acts to reduce the concentration of the electric field due to the acceleration voltage applied between the vacuum vessel 2 and the filament assembly 8.

【0004】フィラメントアセンブリ8は、この例では
左右二つの断面コ字状の支持体16の間の空間に複数本
の線状(棒状とも言える)のフィラメント10をY方向
に並べて支持した構造をしている。このフィラメントア
センブリ8の平面形状は、Y方向に長い矩形をしてい
る。
In this example, the filament assembly 8 has a structure in which a plurality of linear (or rod-shaped) filaments 10 are supported in a space between two right and left supporters 16 having a U-shaped cross section in the Y direction. ing. The planar shape of the filament assembly 8 is a rectangle that is long in the Y direction.

【0005】各フィラメント10の支持構造は種々ある
が、この例では一例として、絶縁台14に立設された2
枚の支持板12間にフィラメント10を支持した構造を
している。絶縁台14は、支持体16の上部に取り付け
られている。特開平11−133197号公報に記載さ
れているようなフィラメント支持構造を用いても良い。
[0005] There are various support structures for each filament 10, but in this example, as an example, 2
The structure is such that the filament 10 is supported between the support plates 12. The insulating base 14 is mounted on the support 16. A filament support structure as described in JP-A-11-133197 may be used.

【0006】更にこの例では、枠体18に支持された引
出し電極20を、フィラメントアセンブリ8の下部に取
り付けている。引出し電極20は、例えば、メッシュ
状、棒状または線状の電極をすだれ状または格子状に
組み合わせた構造、等の構造をしている。
Further, in this example, the extraction electrode 20 supported by the frame 18 is attached to the lower portion of the filament assembly 8. The extraction electrode 20 has, for example, a structure in which mesh, rod, or linear electrodes are combined in a blind or grid shape.

【0007】上記フィラメントアセンブリ8は、従来
は、その下部の枠体18をシールド電極4の開口部6に
上から嵌め込み、かつこのフィラメントアセンブリ8の
Y方向の中央部付近を2本の固定ねじ30(図4も参
照)によってシールド電極4の下面に固定することによ
って、シールド電極4に取り付けている。このようにし
て、シールド電極4、フィラメントアセンブリ8および
引出し電極20は互いに同電位にされている。
Conventionally, the filament assembly 8 has a lower frame 18 fitted into the opening 6 of the shield electrode 4 from above, and two fixing screws 30 near the center of the filament assembly 8 in the Y direction. It is attached to the shield electrode 4 by being fixed to the lower surface of the shield electrode 4 by (see also FIG. 4). Thus, the shield electrode 4, the filament assembly 8, and the extraction electrode 20 are set to the same potential.

【0008】各フィラメント10から放出させた電子
は、シールド電極4等と真空容器2との間に印加される
加速電圧によって、引出し電極20を通して電子線22
として加速して引き出される。この電子線22は、真空
容器2の開口部に設けられていて、真空容器の内外の雰
囲気を分離する窓箔26を有する照射窓24を透過させ
て真空容器2外に引き出され、被照射物28に照射さ
れ、それの改質等の処理に供される。
Electrons emitted from each filament 10 are passed through an extraction electrode 20 by an electron beam 22 by an acceleration voltage applied between the shield electrode 4 and the like and the vacuum vessel 2.
As it is accelerated and pulled out. The electron beam 22 is provided at the opening of the vacuum vessel 2, passes through an irradiation window 24 having a window foil 26 for separating the atmosphere inside and outside the vacuum vessel, is drawn out of the vacuum vessel 2, Irradiated at 28 and is subjected to processing such as reforming.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上記電子線照射装置に
おいては、前述したようにフィラメントアセンブリ8は
Y方向の中央部付近の2本の固定ねじ30によってシー
ルド電極4に固定されているだけなので、各フィラメン
ト10からの熱によって支持体16の温度が上昇する
と、例えば図4に示すように、フィラメントアセンブリ
8の両端部がシールド電極4から離れて反り上がる。例
えば、フィラメントアセンブリ8のY方向の長さが約2
mの場合、フィラメントアセンブリ8の両端部の反り上
がり量Aは、約15mmにもなる場合がある。
In the above-described electron beam irradiation apparatus, the filament assembly 8 is merely fixed to the shield electrode 4 by the two fixing screws 30 near the center in the Y direction as described above. When the temperature of the support 16 increases due to the heat from the filaments 10, both ends of the filament assembly 8 separate from the shield electrode 4 and warp as shown in FIG. 4, for example. For example, the length of the filament assembly 8 in the Y direction is about 2
In the case of m, the amount A of warpage at both ends of the filament assembly 8 may be as large as about 15 mm.

【0010】そうなると、フィラメントアセンブリ8の
反り上がった部分から引き出される電子線22は外側に
広がるので、電子線22のY方向における両端部付近で
の線量が低下し、Y方向における電子線量分布の均一性
が悪化する。その結果、このような電子線22を用いた
被照射物28の処理の均一性も悪化する。
In this case, since the electron beam 22 drawn from the warped portion of the filament assembly 8 spreads outward, the dose near the both ends of the electron beam 22 in the Y direction decreases, and the electron dose distribution in the Y direction becomes uniform. The sex worsens. As a result, the uniformity of the treatment of the irradiation object 28 using such an electron beam 22 also deteriorates.

【0011】そこでこの発明は、フィラメントからの熱
によってフィラメントアセンブリが反り上がって電子線
量分布の均一性が悪化することを防止することを主たる
目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to prevent the uniformity of the electron dose distribution from being deteriorated due to the warpage of the filament assembly caused by the heat from the filament.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この発明の電子線照射装
置は、前記フィラメントアセンブリのY方向の中央部付
近を前記シールド電極に固定し、かつ前記フィラメント
アセンブリのY方向の両端部を、当該両端部のY方向の
伸縮を許容しかつ上下方向の移動を阻止する固定手段に
よって前記シールド電極に固定していることを特徴とし
ている。
According to the present invention, there is provided an electron beam irradiating apparatus, wherein a portion near the center of the filament assembly in the Y direction is fixed to the shield electrode, and both ends of the filament assembly in the Y direction are connected to the both ends. The portion is fixed to the shield electrode by fixing means for allowing expansion and contraction of the portion in the Y direction and preventing movement in the vertical direction.

【0013】上記構成によれば、フィラメントアセンブ
リの中央部付近を固定するだけでなく、Y方向の両端部
をも、その上下方向の移動を阻止する固定手段によって
シールド電極に固定しているので、フィラメントからの
熱によってフィラメントアセンブリが反り上がることを
防止することができる。
According to the above construction, not only the vicinity of the center of the filament assembly is fixed, but also both ends in the Y direction are fixed to the shield electrode by the fixing means for preventing the vertical movement thereof. It is possible to prevent the filament assembly from warping due to heat from the filament.

【0014】しかも、上記固定手段は、フィラメントア
センブリの両端部のY方向の伸縮は許容するので、フィ
ラメントからの熱によってフィラメントアセンブリがY
方向に熱膨張しても、それを拘束せずに逃がすことがで
きる。従って、フィラメントアセンブリがY方向におい
て波打つような変形を防止することもできる。
In addition, since the fixing means allows both ends of the filament assembly to expand and contract in the Y direction, the filament assembly is moved by the heat from the filament.
Even if thermal expansion occurs in the direction, it can escape without restraining it. Therefore, it is possible to prevent the filament assembly from waving in the Y direction.

【0015】その結果、フィラメントからの熱によって
フィラメントアセンブリの温度が上昇しても、フィラメ
ントアセンブリの変形を防止することができるので、電
子線量分布の均一性悪化を防止することができる。
As a result, even if the temperature of the filament assembly rises due to the heat from the filament, the deformation of the filament assembly can be prevented, so that the uniformity of the electron dose distribution can be prevented from deteriorating.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図1は、この発明に係る電子線照
射装置のシールド電極周りの一例を示す概略側面図であ
る。図2は、図1中のシールド電極およびフィラメント
アセンブリの端部付近の一例を拡大かつ分解して示す斜
視図である。図3に示した従来例と同一または相当する
部分には同一符号を付し、以下においては当該従来例と
の相違点を主に説明する。また、電子線照射装置全体の
構成は、例えば図3と同様であるので、当該図面および
その前記説明を参照するものとし、ここでは重複説明を
省略する。
FIG. 1 is a schematic side view showing an example of the periphery of a shield electrode of an electron beam irradiation apparatus according to the present invention. FIG. 2 is an enlarged and exploded perspective view showing an example of the vicinity of an end of the shield electrode and the filament assembly in FIG. Parts that are the same as or correspond to those of the conventional example shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and differences from the conventional example will be mainly described below. The configuration of the entire electron beam irradiation apparatus is, for example, the same as that shown in FIG.

【0017】この電子線照射装置においては、前記フィ
ラメントアセンブリ8のY方向の中央部付近を、2本の
固定ねじ30によってシールド電極4に固定している。
これは従来例と同様である。
In this electron beam irradiation apparatus, the vicinity of the center of the filament assembly 8 in the Y direction is fixed to the shield electrode 4 by two fixing screws 30.
This is the same as the conventional example.

【0018】更に、フィラメントアセンブリ8のY方向
の両端部を、当該両端部のY方向の伸縮を許容しかつ上
下方向の移動を阻止する固定手段32によってシールド
電極4に固定している。
Further, both ends of the filament assembly 8 in the Y direction are fixed to the shield electrode 4 by fixing means 32 which permits expansion and contraction of the both ends in the Y direction and prevents movement in the vertical direction.

【0019】この固定手段32の具体例を、図2を参照
して説明する。但し、図2においては、フィラメント1
0の支持構造および引出し電極20等は図示を省略して
いる。
A specific example of the fixing means 32 will be described with reference to FIG. However, in FIG.
The illustration of the support structure of 0, the extraction electrode 20, and the like are omitted.

【0020】前記左右二つの支持体16は、そのY方向
の両端部において、連結板34によって互いに連結され
ている。但し、この連結板34と各支持体16とを固定
する手段は、公知の手段(例えばねじ)で良いので、こ
こではその図示を省略している。これらの支持体16お
よび連結板34は、全体として、立体的な枠状の構造体
を形成している。
The two right and left supports 16 are connected to each other by connecting plates 34 at both ends in the Y direction. However, the means for fixing the connecting plate 34 to each support 16 may be a known means (for example, a screw), and is not shown here. The support 16 and the connecting plate 34 form a three-dimensional frame-like structure as a whole.

【0021】連結板34には、この例では二つのY方向
に長い長穴(長円状の穴)36が形成されており、二つ
の雄ねじ38をこの各長穴36にそれぞれ通して、その
下のシールド電極4の対応する位置に設けられた二つの
雌ねじ部46にそれぞれ螺合させている。雌ねじ部46
には、必要に応じて、板厚を増す補強板等を設けても良
い。
In this example, two long holes (elliptical holes) 36 are formed in the connecting plate 34 in the Y direction, and two male screws 38 are passed through each of the long holes 36, respectively. Two female screw portions 46 provided at corresponding positions of the lower shield electrode 4 are screwed respectively. Female thread 46
May be provided with a reinforcing plate or the like that increases the thickness as necessary.

【0022】各雄ねじ38は、その頭部40とねじ部4
4との間に、ねじの切られていない円柱部42を有して
いる。長穴36の短径Dは、当然、円柱部42の外径よ
りも若干大きい。ねじ部44と雌ねじ部46とが螺合す
る。しかし、円柱部42の直径は、ねじ部44およびそ
れに螺合する雌ねじ部46の直径よりも大きいので、円
柱部42の下端面が雌ねじ部46の上端面に当接する
と、それ以上は雄ねじ38をねじ込むことはできない。
しかも、円柱部42の長さCは、連結板34の長穴36
の部分の板厚Bよりも僅かに大きくしている。例えば、
C−B≒0.5mm程度にしている。
Each male screw 38 has a head 40 and a screw 4
4 and has an unthreaded cylindrical portion 42. The short diameter D of the long hole 36 is, of course, slightly larger than the outer diameter of the cylindrical portion 42. The screw portion 44 and the female screw portion 46 are screwed. However, since the diameter of the cylindrical portion 42 is larger than the diameter of the screw portion 44 and the female screw portion 46 screwed thereto, when the lower end surface of the cylindrical portion 42 contacts the upper end surface of the female screw portion 46, the male screw 38 is further increased. Can not be screwed.
In addition, the length C of the cylindrical portion 42 is
Is slightly larger than the thickness B of the portion. For example,
C−B is about 0.5 mm.

【0023】従って、雄ねじ38を締め付けても、その
頭部40の下面と連結板34の上面との間にはC−Bに
相当する距離の遊びが生じる。しかも連結板34の穴は
長穴36である。従って、連結板34のY方向の移動、
即ちフィラメントアセンブリ8のY方向の伸縮を許容す
ることができる。しかも連結板34の上下方向の移動
を、即ちフィラメントアセンブリ8の反り上がりを、C
−Bの距離以下に阻止することができる。
Therefore, even if the male screw 38 is tightened, a play corresponding to the distance CB occurs between the lower surface of the head 40 and the upper surface of the connecting plate 34. Moreover, the hole of the connecting plate 34 is a long hole 36. Therefore, the movement of the connecting plate 34 in the Y direction,
That is, expansion and contraction of the filament assembly 8 in the Y direction can be allowed. In addition, the vertical movement of the connecting plate 34, that is, the rising of the filament assembly 8,
-B or less.

【0024】上記のような長穴36を有する連結板3
4、円柱部42を有する雄ねじ38およびシールド電極
4に設けた雌ねじ部46によって、この例では上記固定
手段32を構成している。
The connecting plate 3 having the long hole 36 as described above.
In this example, the fixing means 32 is constituted by a male screw 38 having a cylindrical portion 42 and a female screw portion 46 provided on the shield electrode 4.

【0025】上記構成によれば、フィラメントアセンブ
リ8の中央部付近を固定ねじ30によってシールド電極
4に固定するだけでなく、フィラメントアセンブリ8の
Y方向の両端部をも、その上下方向の移動を阻止する固
定手段32によってシールド電極4に固定しているの
で、フィラメント10からの熱によってフィラメントア
センブリ8が反り上がることを防止することができる。
即ち、この反り上がりは、この例では上記C−B≒0.
5mm以下に制限することができる。C−Bをより小さ
くすれば、より小さく制限することができる。即ち、上
記反り上がりをほぼ0にすることもできる。
According to the above configuration, not only the vicinity of the center of the filament assembly 8 is fixed to the shield electrode 4 by the fixing screw 30, but also the both ends in the Y direction of the filament assembly 8 are prevented from moving in the vertical direction. Since the filament assembly 8 is fixed to the shield electrode 4 by the fixing means 32, it is possible to prevent the filament assembly 8 from warping due to heat from the filament 10.
That is, in this example, the warpage is equal to the above-mentioned CB ≒ 0.
It can be limited to 5 mm or less. If CB is made smaller, it can be further reduced. That is, the warpage can be reduced to almost zero.

【0026】しかも、上記固定手段32は、フィラメン
トアセンブリ8の両端部のY方向の伸縮は許容するの
で、フィラメント10からの熱によってフィラメントア
センブリ8がY方向に熱膨張しても、それを拘束せずに
逃がすことができる。従って、フィラメントアセンブリ
8がY方向において波打つような変形を防止することも
できる。
Furthermore, since the fixing means 32 allows the ends of the filament assembly 8 to expand and contract in the Y direction, even if the filament assembly 8 thermally expands in the Y direction due to the heat from the filament 10, it is restrained. You can escape without it. Therefore, it is possible to prevent the filament assembly 8 from being deformed in the Y direction.

【0027】その結果、フィラメント10からの熱によ
ってフィラメントアセンブリ8の温度が上昇しても、フ
ィラメントアセンブリ8の変形を防止することができる
ので、電子線22のY方向における線量分布の均一性悪
化を防止することができる。即ち、線量分布の均一性の
高い電子線22を引き出すことができる。従って、被照
射物28(図3参照)に対する処理の均一性も向上す
る。
As a result, even if the temperature of the filament assembly 8 rises due to the heat from the filament 10, the deformation of the filament assembly 8 can be prevented, so that the uniformity of the dose distribution of the electron beam 22 in the Y direction is reduced. Can be prevented. That is, the electron beam 22 with high uniformity of the dose distribution can be extracted. Therefore, the uniformity of the processing for the irradiation object 28 (see FIG. 3) is also improved.

【0028】なお、フィラメントアセンブリ8を構成す
る各支持体16は、この例のように断面コ字状にする方
が、強度向上が容易であるので好ましいけれども、それ
以外の形状、例えば断面L字状、または単なる板状等で
も良い。
Although it is preferable that each support 16 constituting the filament assembly 8 has a U-shaped cross section as in this example, since the strength can be easily improved, other shapes such as an L-shaped cross section are preferable. Shape or a simple plate shape.

【0029】また、上記二つの支持体16および二つの
連結板34の代わりに、例えば、上下に配置された二つ
の枠体とこの両枠体間を間隔をあけて支持する支持体等
を用いて構成しても良い。
In place of the two supports 16 and the two connecting plates 34, for example, two frames arranged vertically and a support which supports the two frames at an interval are used. It may be constituted by.

【0030】また、上記枠体18および引出し電極20
の固定方法は任意であり、例えば、この例のようにフィ
ラメントアセンブリ8の下面に固定する代わりに、シー
ルド電極4の開口部6に固定しておいても良い。
The frame 18 and the extraction electrode 20
May be fixed to the opening 6 of the shield electrode 4 instead of the lower surface of the filament assembly 8 as in this example.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、フィラ
メントアセンブリの中央部付近を固定するだけでなく、
Y方向の両端部をも、その上下方向の移動を阻止する固
定手段によってシールド電極に固定しているので、フィ
ラメントからの熱によってフィラメントアセンブリが反
り上がることを防止することができる。しかも、上記固
定手段は、フィラメントアセンブリの両端部のY方向の
伸縮は許容するので、フィラメントアセンブリがY方向
において波打つような変形を防止することもできる。そ
の結果、フィラメントからの熱によってフィラメントア
センブリの温度が上昇しても、フィラメントアセンブリ
の変形を防止することができるので、電子線量分布の均
一性悪化を防止することができる。
As described above, according to the present invention, not only is the vicinity of the center of the filament assembly fixed,
Since both ends in the Y direction are also fixed to the shield electrode by fixing means for preventing the movement in the vertical direction, it is possible to prevent the filament assembly from warping due to heat from the filament. In addition, since the fixing means allows both ends of the filament assembly to expand and contract in the Y direction, it is possible to prevent the filament assembly from waving in the Y direction. As a result, even if the temperature of the filament assembly rises due to the heat from the filament, the deformation of the filament assembly can be prevented, so that the uniformity of the electron dose distribution can be prevented from deteriorating.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係る電子線照射装置のシールド電極
周りの一例を示す概略側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view showing an example around a shield electrode of an electron beam irradiation apparatus according to the present invention.

【図2】図1中のシールド電極およびフィラメントアセ
ンブリの端部付近の一例を拡大かつ分解して示す斜視図
である。
2 is an enlarged and exploded perspective view showing an example of the vicinity of an end of a shield electrode and a filament assembly in FIG. 1;

【図3】電子線照射装置の一例を示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing an example of an electron beam irradiation device.

【図4】従来の電子線照射装置のシールド電極周りの一
例を示す概略側面図である。
FIG. 4 is a schematic side view showing an example around a shield electrode of a conventional electron beam irradiation apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 シールド電極 6 開口部 8 フィラメントアセンブリ 10 フィラメント 16 支持体 20 引出し電極 22 電子線 30 固定ねじ 32 固定手段 34 連結板 38 雄ねじ 46 雌ねじ部 Reference Signs List 4 shield electrode 6 opening 8 filament assembly 10 filament 16 support 20 extraction electrode 22 electron beam 30 fixing screw 32 fixing means 34 connecting plate 38 male screw 46 female screw

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 断面が丸くてY方向に長い筒状のもので
あってその下面にY方向に長い矩形の開口部を有するシ
ールド電極と、左右の支持体の間の空間に複数本の線状
のフィラメントをY方向に並べて支持していて平面形状
がY方向に長い矩形のフィラメントアセンブリとを備え
ていて、このフィラメントアセンブリを前記シールド電
極内に入れてその開口部に取り付けた構造の電子線照射
装置において、前記フィラメントアセンブリのY方向の
中央部付近を前記シールド電極に固定し、かつ前記フィ
ラメントアセンブリのY方向の両端部を、当該両端部の
Y方向の伸縮を許容しかつ上下方向の移動を阻止する固
定手段によって前記シールド電極に固定していることを
特徴とする電子線照射装置。
1. A shield electrode having a round section and a cylindrical shape elongated in the Y direction and having a rectangular opening on the lower surface thereof elongated in the Y direction, and a plurality of wires in a space between the left and right supports. And a rectangular filament assembly having a planar shape elongated in the Y direction and supporting the filaments arranged in the Y direction, and the filament assembly is inserted into the shield electrode and attached to the opening thereof. In the irradiation device, the vicinity of the center of the filament assembly in the Y direction is fixed to the shield electrode, and both ends of the filament assembly in the Y direction are allowed to expand and contract in the Y direction and are vertically moved. An electron beam irradiating device fixed to the shield electrode by fixing means for preventing the electron beam irradiation.
JP11192979A 1999-07-07 1999-07-07 Electron beam irradiation device Pending JP2001021700A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11192979A JP2001021700A (en) 1999-07-07 1999-07-07 Electron beam irradiation device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11192979A JP2001021700A (en) 1999-07-07 1999-07-07 Electron beam irradiation device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001021700A true JP2001021700A (en) 2001-01-26

Family

ID=16300229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11192979A Pending JP2001021700A (en) 1999-07-07 1999-07-07 Electron beam irradiation device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001021700A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013004565A1 (en) * 2011-07-04 2013-01-10 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. An electron beam device and a method of manufacturing said electron beam device
JP7549168B2 (en) 2020-04-13 2024-09-10 浜松ホトニクス株式会社 Energy beam irradiation equipment

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013004565A1 (en) * 2011-07-04 2013-01-10 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. An electron beam device and a method of manufacturing said electron beam device
US9202661B2 (en) 2011-07-04 2015-12-01 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. Electron beam device for shaping an electric field and a method of manufacturing said electron beam device the same
JP7549168B2 (en) 2020-04-13 2024-09-10 浜松ホトニクス株式会社 Energy beam irradiation equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100190476B1 (en) Grid apparatus for use with a color cathode-ray tube and manufacture thereof
JP2001021700A (en) Electron beam irradiation device
US6407488B1 (en) Color picture tube having a low expansion tension mask
JP2840616B2 (en) Indirectly heated X-ray tube with flat cathode
KR100390270B1 (en) Cathode ray tube
JP2996242B1 (en) Extraction electrode
JPH05114366A (en) Ion source
JP4127244B2 (en) Electron source for electron beam irradiation equipment
JPH11191383A (en) Flat image display device
JP3896809B2 (en) Electron beam irradiation device
JPH02295032A (en) Getter device
JP4249842B2 (en) Fluorescent display tube
JPH08102275A (en) Image display device
JP3106799B2 (en) Flat panel image display
JPS5920957A (en) Electron beam irradiator
JP2006003180A (en) Electron beam irradiator
JPH03285232A (en) Wire getter support structure
JP2000249798A (en) Electron beam irradiation device
JP2000266900A (en) Filament support structure
KR910007943Y1 (en) Ennershield frame assembly of cathode ray tube
KR100475174B1 (en) Field emission display
JPH06349416A (en) Color selecting electrode and manufacture thereof
JP2001116898A (en) Electron ray irradiation apparatus
JPH09219140A (en) Image receiving tube
KR930004794Y1 (en) Electron gun for cathode-ray tube