JP2000346894A - Inspection device for wiring board and its inspection method - Google Patents

Inspection device for wiring board and its inspection method

Info

Publication number
JP2000346894A
JP2000346894A JP11357562A JP35756299A JP2000346894A JP 2000346894 A JP2000346894 A JP 2000346894A JP 11357562 A JP11357562 A JP 11357562A JP 35756299 A JP35756299 A JP 35756299A JP 2000346894 A JP2000346894 A JP 2000346894A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
conductor
conductor pattern
signal
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11357562A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4277398B2 (en
Inventor
Takaharu Fujita
敬治 藤田
Hisanori Murata
寿憲 村田
Takeo Ogawa
武男 小川
Yutaka Fukui
豊 福井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP35756299A priority Critical patent/JP4277398B2/en
Publication of JP2000346894A publication Critical patent/JP2000346894A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4277398B2 publication Critical patent/JP4277398B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device and an inspection method that can simultaneously inspect the existence of a disconnection of a conductor pattern and the existence of a short circuit of the conductor pattern, in an inspection device for conductor pattern included in a wiring board having external connection terminals at its peripheral edge and an integrated circuit element in its central part. SOLUTION: This inspection device for wiring board comprises a changeover unit 4 for selecting any first electrode 23, an antenna member 5 with a conductor layer 52 facing to second electrode 24 through the insulating layer 51, a voltage impression portion 71 for impressing a test voltage to the selected first electrode 23, a current detecting portion 72 and an insulation determining portion 73 that detect short circuit between conductor patterns based on current flowing through a residual first electrode 23, and a signal receiving portion 74 and a conductor determining portion 75 that receive an input signal from the antenna member 5 and detect a disconnection of the conductor patterns.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は周縁部に外部接続端
子を有し中央部に集積回路素子が搭載される配線板が有
する導体パターンの検査装置に係り、特にそれぞれの導
体パターンの断線の有無と導体パターン間の短絡の有無
を同時に検査できる検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting a conductor pattern of a wiring board having an external connection terminal at a peripheral portion and an integrated circuit element mounted at a center portion, and particularly to the presence or absence of disconnection of each conductor pattern. The present invention relates to an inspection apparatus capable of simultaneously inspecting for the presence or absence of a short circuit between a conductor pattern and a conductor pattern.

【0002】近年の集積回路素子の高密度実装化と高集
積度化に伴いそれを搭載する配線板も導体パターンも高
密度に集積形成され、導体パターンの検査に際して導体
パターンの両端に検査プローブを当接させる等の方法は
実施不可能になりつつある。
With the recent increase in the density and integration of integrated circuit elements, both the wiring board and the conductor pattern on which they are mounted are integrated and formed at a high density. When inspecting the conductor pattern, inspection probes are provided at both ends of the conductor pattern. Methods such as contacting are becoming impractical.

【0003】それに代わり導体パターンの一端から試験
電圧を印加したとき導体パターンから放出される電磁波
を検出することで、導体パターンの両側電極にプローブ
を当接させることなく断線の有無を検出できる装置の採
用が各社で検討されている。
[0003] Instead of this, by detecting an electromagnetic wave emitted from the conductor pattern when a test voltage is applied from one end of the conductor pattern, an apparatus capable of detecting the presence or absence of a disconnection without contacting the probes with both electrodes of the conductor pattern. Recruitment is being considered by each company.

【0004】しかし、従来の検査装置を用いると導体パ
ターンの断線と導体パターン間の短絡とを同時に検査す
ることができない。そこで導体パターンの断線の有無と
導体パターン間の短絡の有無を同時に検査できる検査装
置の開発が要望されている。
However, if a conventional inspection apparatus is used, it is not possible to simultaneously inspect a conductor pattern for disconnection and a short circuit between the conductor patterns. Therefore, there is a demand for the development of an inspection apparatus that can simultaneously inspect the presence / absence of disconnection of a conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between conductor patterns.

【0005】また、単に導体パターンの断線の有無を検
査できればよい場合も従来の検査装置を用いると検査に
長い時間を要する。そこで導体パターンの断線の有無だ
けを検査する場合には比較的短時間で検査できる検査装
置の開発が要望されている。
[0005] In addition, when it is sufficient to simply inspect the presence / absence of disconnection of the conductor pattern, a long time is required for the inspection using a conventional inspection apparatus. Therefore, there is a demand for the development of an inspection apparatus that can inspect in a relatively short time when inspecting only the presence / absence of disconnection of a conductor pattern.

【0006】[0006]

【従来の技術】図4は被検査配線板の一例を示す斜視
図、図5は従来の布線検査機の原理を示す図、図6は従
来の配線板検査装置を示すブロック図、図7は切り換え
ユニットの一例を示す図、図8は従来の配線板検査方法
を示すフローチャートである。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a perspective view showing an example of a wiring board to be inspected, FIG. 5 is a view showing the principle of a conventional wiring inspection machine, FIG. 6 is a block diagram showing a conventional wiring board inspection apparatus, and FIG. FIG. 8 shows an example of a switching unit, and FIG. 8 is a flowchart showing a conventional wiring board inspection method.

【0007】図4において集積回路素子1を搭載する配
線板2は例えば絶縁体21の中に複数の導体パターン22が
放射状に配設され、それぞれの導体パターン22は両端に
絶縁体21の表面に露出するように第1の電極23と第2の
電極24とが形成されている。
In FIG. 4, a wiring board 2 on which an integrated circuit element 1 is mounted has a plurality of conductor patterns 22 radially arranged in, for example, an insulator 21, and each conductor pattern 22 is provided at both ends on the surface of the insulator 21. A first electrode 23 and a second electrode 24 are formed so as to be exposed.

【0008】配線板2の周縁沿いに配列された第1の電
極23はテスト電極或いは外部回路に接続するための接続
端子として用いられ、配線板2の中央部に配列された第
2の電極24はそれぞれ図示省略されたバンプ等を介し集
積回路素子1に接続される。
A first electrode 23 arranged along the periphery of the wiring board 2 is used as a test electrode or a connection terminal for connection to an external circuit, and a second electrode 24 arranged at the center of the wiring board 2 is used. Are connected to the integrated circuit element 1 via bumps and the like, which are not shown.

【0009】プリント配線板の導体パターン検査装置と
して例えば図5(a) に示す布線検査機があり(特許第2
626626号)、布線検査機は発振器31に接続された
アンテナ32と、被検査配線板33の導体パターン34に接続
された受信器35とを有する。
As a conductor pattern inspection apparatus for a printed wiring board, for example, there is a wiring inspection apparatus shown in FIG.
626626), the wiring tester has an antenna 32 connected to the oscillator 31 and a receiver 35 connected to the conductor pattern 34 of the wiring board 33 to be tested.

【0010】検査に際して導体パターン34に近接させた
アンテナ32に発振器31から図5(b)に示すサイン波形の
信号を印加すると、図5(c) に示す信号が導体パターン
34から受信器35に入力されメモリ36に予め格納されてい
る基準データと比較される。
When a signal having a sine waveform shown in FIG. 5B is applied from the oscillator 31 to the antenna 32 close to the conductor pattern 34 at the time of inspection, the signal shown in FIG.
The data is input to the receiver 35 from 34 and compared with reference data stored in the memory 36 in advance.

【0011】比較器37において受信器35に入力された信
号のレベルとメモリ36に格納されている基準データのレ
ベルとが比較され、両方のレベルがほぼ合致すれば導体
パターンは良品と判定されるがレベルが異なると導体パ
ターンは不良と判定される。
In the comparator 37, the level of the signal input to the receiver 35 and the level of the reference data stored in the memory 36 are compared. If both levels substantially match, the conductor pattern is determined to be good. Are different, the conductor pattern is determined to be defective.

【0012】しかし、上記布線検査機は導体パターンの
断線を検出する機能を有するが導体パターン間の短絡を
検出する機能が無い。そこで配線板の検査には図6に示
す如く上記布線検査機の機能に短絡検出機能を付加した
検査装置が用いられている。
However, the above-described wiring inspection machine has a function of detecting disconnection of a conductor pattern, but has no function of detecting a short circuit between conductor patterns. In order to inspect the wiring board, as shown in FIG. 6, an inspection apparatus having a function of detecting a short circuit added to the function of the wiring inspection machine is used.

【0013】即ち、従来の配線板検査装置は、第1の電
極23の全てに接続可能な切り換えユニット4と、絶縁層
51を介し第2の電極24の全てに対向可能な導体層52を有
するアンテナ部材5と、被検査配線板2を検査する測定
回路6とで構成されている。
That is, the conventional wiring board inspection apparatus includes a switching unit 4 that can be connected to all of the first electrodes 23 and an insulating layer
An antenna member 5 having a conductor layer 52 that can face all of the second electrodes 24 via 51 and a measuring circuit 6 for inspecting the wiring board 2 to be inspected.

【0014】測定回路6は検査に際して対象導体パター
ンにサイン波信号を印加する発振器61、および直流電圧
を印加する直流電源62と、断線を検知する信号受信部65
および導通判定部66と、短絡を検知する電流検出部63お
よび絶縁判定部64を有する。
The measuring circuit 6 includes an oscillator 61 for applying a sine wave signal to the conductor pattern to be inspected, a DC power supply 62 for applying a DC voltage, and a signal receiving unit 65 for detecting a disconnection.
And a continuity determination unit 66, a current detection unit 63 for detecting a short circuit, and an insulation determination unit 64.

【0015】切り換えユニット4は例えば図7に示す如
くそれぞれ第1の電極23に接続可能な複数のスイッチ素
子41を具えており、全てのスイッチ素子41は第1の接点
42が発振器61または直流電源62に、第2の接点43が電流
検出部63に接続されている。
The switching unit 4 comprises a plurality of switch elements 41, each of which can be connected to a first electrode 23, for example, as shown in FIG.
42 is connected to the oscillator 61 or the DC power supply 62, and the second contact 43 is connected to the current detection unit 63.

【0016】また、スイッチ素子41のコモン端子44はそ
れぞれ対応する第1の電極23に接続されており、1個の
スイッチ素子41を作動させると任意の第1の電極23(図
では上から2番目)が選択され、残りの第1の電極23は
電流検出部63に接続される。
The common terminals 44 of the switch elements 41 are connected to the corresponding first electrodes 23, respectively. When one switch element 41 is actuated, any one of the first electrodes 23 (in the figure, two electrodes from the top) Is selected, and the remaining first electrodes 23 are connected to the current detection unit 63.

【0017】導体パターンの検査は図8に示す如く選択
された導体パターンに対して断線の検出と短絡の検出と
が直列的に行われ、被検査配線板2上にアンテナ部材5
を載置し切り換えユニット4を第1の電極23に接続する
ことから検査が開始される。
In the inspection of the conductor pattern, detection of disconnection and detection of a short circuit are performed in series on the selected conductor pattern as shown in FIG.
, And the switching unit 4 is connected to the first electrode 23 to start the inspection.

【0018】切り換えユニット4によって選択された第
1の電極23を介し導体パターンに発振器61からサイン波
信号を印加すると、アンテナ部材5に誘起された信号が
信号受信部65に入力され予め設定された基準と比較され
て断線の有無が判定される。
When a sine wave signal is applied from the oscillator 61 to the conductor pattern via the first electrode 23 selected by the switching unit 4, the signal induced in the antenna member 5 is input to the signal receiving unit 65 and preset. The presence / absence of disconnection is determined by comparing with a reference.

【0019】次いで導体パターンに直流電源62から直流
電圧を印加し、互いに短絡させた残りの第1の電極23を
介して流れる電流を測定することにより、電圧が印加さ
れた導体パターンと他の導体パターンとの間の絶縁、即
ち短絡の有無が判定される。
Next, a DC voltage is applied to the conductor pattern from a DC power supply 62, and the current flowing through the remaining first electrodes 23, which are short-circuited to each other, is measured. The insulation between the pattern and the presence or absence of a short circuit is determined.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の配線板
の検査は図8に示す如く、選択された導体パターンに対
して断線の検出と短絡の検出とが直列的に行われ、検査
の対象となる導体パターンの数が増加するに伴って検査
に要する時間が増大するという問題があった。
However, in the conventional inspection of a wiring board, as shown in FIG. 8, disconnection detection and short-circuit detection are performed in series with respect to a selected conductor pattern, and the inspection target is inspected. There is a problem that the time required for inspection increases as the number of conductor patterns to be formed increases.

【0021】また、検査の目的によっては導体パターン
の短絡は検出できなくても断線の有無だけを検査できれ
ばよい場合もあるが、導体パターン毎に導体パターンの
断線や短絡を検査する従来の検査装置は検査に長時間を
要するという問題があった。
Depending on the purpose of the inspection, there may be a case where it is only necessary to inspect the presence / absence of a disconnection even if a short circuit of the conductor pattern cannot be detected, but a conventional inspection apparatus for inspecting the conductor pattern for disconnection or short circuit for each conductor pattern. Has the problem that it takes a long time for inspection.

【0022】本発明の目的は、導体パターンの断線の有
無と導体パターン間の短絡の有無を同時に検査できる検
査装置と検査方法、または導体パターンの断線だけを検
査する場合は比較的短時間で検査できる検査装置と検査
方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and an inspection method capable of simultaneously inspecting the presence / absence of a disconnection of a conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between conductor patterns, or an inspection in a relatively short time when inspecting only a disconnection of a conductor pattern. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus and an inspection method that can be used.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】図1は本発明になる配線
板の検査装置を示すブロック図である。なお全図を通し
同じ対象物は同一記号で表している。
FIG. 1 is a block diagram showing a wiring board inspection apparatus according to the present invention. The same object is denoted by the same symbol throughout the drawings.

【0024】上記課題は第1の電極23および第2の電極
24を具えた導体パターン22が複数形成された配線板2に
ついて、導体パターンの断線および導体パターン間の短
絡を検査する装置であって、任意の第1の電極23を選択
し、残りの第1の電極23を互いに短絡させる切り換えユ
ニット4と、絶縁層51を介して第2の電極24の全てに誘
電的に結合している導体層52を有するアンテナ部材5
と、測定回路7とを具え、測定回路7は、切り換えユニ
ット4によって選択された第1の電極23に、電位が瞬時
に変化する試験電圧、またはパルス波形の試験電圧を印
加する電圧印加部71と、電流検出部72および絶縁判定部
73と、信号受信部74および導通判定部75とを具え、電流
検出部72および絶縁判定部73は、選択された第1の電極
23に試験電圧が印加されたとき、短絡された残りの第1
の電極23を介して流れる電流を検出して、導体パターン
間の短絡の有無を判定する機能を有し、信号受信部74お
よび導通判定部75は、選択された第1の電極23に試験電
圧が印加されたとき、アンテナ部材5から入力される信
号を受信して、導体パターンの断線の有無を判定する機
能を有する配線板の検査装置によって達成される。
The above problem is solved by the first electrode 23 and the second electrode
An apparatus for inspecting a wiring board 2 on which a plurality of conductor patterns 22 having a plurality of conductor patterns 22 are formed for disconnection of the conductor patterns and short-circuits between the conductor patterns, wherein an arbitrary first electrode 23 is selected, and the remaining first electrodes 23 are selected. A switching unit 4 for short-circuiting the electrodes 23 to each other, and an antenna member 5 having a conductor layer 52 dielectrically coupled to all of the second electrodes 24 via an insulating layer 51.
And a measurement circuit 7. The measurement circuit 7 includes a voltage application unit 71 that applies a test voltage whose potential changes instantaneously or a test voltage having a pulse waveform to the first electrode 23 selected by the switching unit 4. And a current detection unit 72 and an insulation determination unit
73, a signal receiving unit 74 and a conduction determining unit 75, and the current detecting unit 72 and the insulation determining unit 73 are connected to the selected first electrode.
When the test voltage is applied to 23, the remaining first short-circuited
The signal receiving unit 74 and the continuity determining unit 75 have a function of detecting a current flowing through the first electrode 23 to determine whether there is a short circuit between the conductor patterns. Is applied, a signal input from the antenna member 5 is received, and this is achieved by a wiring board inspection apparatus having a function of determining the presence / absence of disconnection of a conductor pattern.

【0025】このように選択された第1の電極に例えば
パルス波状の試験電圧を印加する配線板検査装置は、試
験電圧の立ち上がりまたは立ち下がりに同期し、導体パ
ターンの抵抗値に対応した信号が、選択された第1の電
極に対応する導体パターンと第2の電極からアンテナ部
材を介し信号受信部に入力され、信号受信部に入力され
た信号の電圧レベルから導体パターンの断線の有無を判
定することができる。
The wiring board inspection apparatus for applying, for example, a pulse-wave test voltage to the first electrode selected in this manner, synchronizes with the rise or fall of the test voltage and generates a signal corresponding to the resistance value of the conductor pattern. The presence or absence of a break in the conductor pattern is determined from the voltage level of the signal input from the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the second electrode to the signal receiving unit via the antenna member via the antenna member, and input to the signal receiving unit. can do.

【0026】しかも、試験電圧の立ち上がり時に、選択
された第1の電極に対応する導体パターンとその他の導
体パターン間の絶縁抵抗に対応する電流が、短絡された
残りの第1の電極を介して電流検出部に流れ、電流値か
ら導体パターン間の短絡有無を判定することができる。
選択された第1の電極に印加される試験電圧はいずれも
同じ電圧であり、電圧を少なくとも1回不連続に変化さ
せることによって、導体パターンの断線の有無と導体パ
ターン間の短絡有無とを同時に判定できる。
In addition, when the test voltage rises, a current corresponding to the insulation resistance between the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the other conductor patterns passes through the short-circuited first electrode. The current flows to the current detection unit, and the presence or absence of a short circuit between the conductor patterns can be determined from the current value.
The test voltages applied to the selected first electrodes are all the same, and by changing the voltage at least once discontinuously, the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between the conductor patterns are simultaneously determined. Can be determined.

【0027】即ち、導体パターンの断線の有無と導体パ
ターン間の短絡の有無を同時に検査できる検査装置と検
査方法、または導体パターンの断線だけを検査する場合
は比較的短時間で検査できる検査装置と検査方法を実現
することができる。
That is, an inspection apparatus and an inspection method capable of simultaneously inspecting the presence / absence of disconnection of a conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between conductor patterns, or an inspection apparatus capable of inspecting in a relatively short time when inspecting only a disconnection of a conductor pattern. An inspection method can be realized.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】以下添付図により本発明の実施例
について説明する。図2は入力波形と検出波形を示す
図、図3は本発明になる配線板検査方法を示すフローチ
ャート、図9は本発明になる別の検査装置を示すブロッ
ク図、図10は別の検査装置の動作原理を説明する図、図
11は別の検査装置の第1の変形例を示す図、図12は別の
検査装置の第2の変形例を示す図、図13は第2の変形例
の間隔が異なる具体例を示す図、図14は第2の変形例の
面積が異なる具体例を示す図、図15は別の検査装置の第
3の変形例を示す図、図16は本発明になる更に別の検査
装置を示すブロック図、図17は被検査配線板装着部の構
成例を示す側断面図、図18は分割型アンテナ部材の分割
パターンを示す図、図19は分割型アンテナ部材の一実施
例を示す図、図20は分割型アンテナ部材の他の実施例を
示す斜視図、図21は分割型アンテナ部材の簡易構成法を
示す斜視図、図22はアンテナ部材の変形例を示す模式
図、図23は変形例に用いられる判定回路の一例を示す図
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 2 is a diagram showing an input waveform and a detected waveform, FIG. 3 is a flowchart showing a wiring board inspection method according to the present invention, FIG. 9 is a block diagram showing another inspection device according to the present invention, and FIG. Diagrams and diagrams explaining the operation principle of
11 is a diagram showing a first modification of another inspection device, FIG. 12 is a diagram showing a second modification of another inspection device, and FIG. 13 is a diagram showing a specific example of the second modification with different intervals. FIG. 14 is a view showing a specific example in which the area of the second modification is different, FIG. 15 is a view showing a third modification of another inspection apparatus, and FIG. 16 shows still another inspection apparatus according to the present invention. Block diagram, FIG. 17 is a side sectional view showing a configuration example of a wiring board mounting portion to be inspected, FIG. 18 is a diagram showing a division pattern of a divided antenna member, FIG. 19 is a diagram showing an embodiment of a divided antenna member, FIG. 20 is a perspective view showing another embodiment of the split antenna member, FIG. 21 is a perspective view showing a simplified configuration method of the split antenna member, FIG. 22 is a schematic view showing a modification of the antenna member, and FIG. It is a figure showing an example of the judgment circuit used for an example.

【0029】本発明になる配線板の検査装置は図1に示
す如く切り換えユニット4とアンテナ部材5と測定回路
7とを具えており、アンテナ部材5は被検査配線板2に
載置することで絶縁層51を介し第2の電極24の全てに対
向可能な導体層52を有する。
The wiring board inspection apparatus according to the present invention comprises a switching unit 4, an antenna member 5, and a measurement circuit 7 as shown in FIG. 1, and the antenna member 5 is mounted on the wiring board 2 to be inspected. It has a conductor layer 52 that can face all of the second electrodes 24 via the insulating layer 51.

【0030】また、切り換えユニット4は第1の電極23
の全てに接続可能でその中から任意の第1の電極23を1
個選択できる機能と、任意の第1の電極23を選択すると
選択された1個を除き残った第1の電極23を互いに短絡
させる機能とを具えている。
The switching unit 4 includes a first electrode 23
Can be connected to any of them, and an arbitrary first electrode 23 can be connected to one of them.
It has a function of selecting an individual first electrode 23 and a function of short-circuiting the remaining first electrodes 23 except for the selected one when an arbitrary first electrode 23 is selected.

【0031】従来の検査装置とは異なり測定回路7が選
択された第1の電極23にパルス波形の試験電圧を印加す
る電圧印加部71と、短絡を検出する電流検出部72および
絶縁判定部73と、断線を検出する信号受信部74および導
通判定部75とを具えている。
Unlike the conventional inspection apparatus, the measurement circuit 7 applies a pulse waveform test voltage to the selected first electrode 23, a current detection section 72 for detecting a short circuit, and an insulation determination section 73. And a signal receiving section 74 for detecting disconnection and a conduction determining section 75.

【0032】電流検出部72は選択された第1の電極23に
試験電圧が印加されたとき他の第1の電極23を介して流
れる電流を検出し、絶縁判定部73は電流レベルから選択
された電極23に対応する導体パターンと他の導体パター
ンとの短絡有無を判定する。
When a test voltage is applied to the selected first electrode 23, the current detecting section 72 detects a current flowing through the other first electrodes 23, and the insulation judging section 73 is selected from the current level. The presence or absence of a short circuit between the conductor pattern corresponding to the electrode 23 and another conductor pattern is determined.

【0033】また、信号受信部74は選択された第1の電
極23に試験電圧が印加されるとアンテナ部材5から入力
される信号を受信し、導通判定部75が入力信号のレベル
から選択された電極23に対応する導体パターンの抵抗を
検知し断線有無を判定する。
When a test voltage is applied to the selected first electrode 23, the signal receiving section 74 receives a signal input from the antenna member 5, and the continuity determining section 75 is selected from the level of the input signal. By detecting the resistance of the conductor pattern corresponding to the electrode 23, the presence or absence of disconnection is determined.

【0034】即ち、図2(a) に示す如く電圧印加部71か
ら選択された第1の電極23に対しパルス波形の試験電圧
が印加されると、図2(b) に示す如くパルス波形の立ち
上がりと立ち下がりに同期し信号がアンテナ部材5から
信号受信部74に入力される。
That is, when a test voltage having a pulse waveform is applied to the first electrode 23 selected from the voltage application section 71 as shown in FIG. 2A, the pulse waveform has a pulse waveform as shown in FIG. A signal is input from the antenna member 5 to the signal receiving unit 74 in synchronization with the rise and fall.

【0035】アンテナ部材5から信号受信部74に入力さ
れる信号のレベルは試験電圧が印加される導体パターン
の導体抵抗値に比例し、例えば導通判定部75において入
力信号のレベルを基準値と比較することにより断線の有
無を判定することができる。
The level of the signal input from the antenna member 5 to the signal receiving section 74 is proportional to the conductor resistance of the conductor pattern to which the test voltage is applied. For example, the continuity determining section 75 compares the level of the input signal with a reference value. By doing so, the presence / absence of disconnection can be determined.

【0036】また、図2(a) に示す如く電圧印加部71か
ら選択された第1の電極23に対してパルス波形の試験電
圧が印加されると、図2(c) に示す如く選択された第1
の電極、導体パターン、および残りの第1の電極を介し
電流が電流検出部に流れる。
When a test voltage having a pulse waveform is applied to the first electrode 23 selected from the voltage application section 71 as shown in FIG. 2A, the voltage is selected as shown in FIG. 2C. First
The current flows to the current detection unit via the electrodes, the conductor pattern, and the remaining first electrodes.

【0037】試験電圧が印加されたとき電流検出部に流
れる電流のレベルは導体パターン間に介在する絶縁抵抗
値に反比例しており、例えば絶縁判定部73において電流
値の大きさを基準値と比較することにより短絡の有無を
判定することが可能になる。
When the test voltage is applied, the level of the current flowing through the current detecting section is inversely proportional to the insulation resistance value interposed between the conductor patterns. For example, the magnitude of the current value is compared with the reference value in the insulation determination section 73. By doing so, it is possible to determine the presence or absence of a short circuit.

【0038】本発明になる配線板の検査装置は電圧印加
部71から選択された第1の電極23にパルス波形の試験電
圧を印加することで、断線の有無を判定することができ
断線の有無の判定と並行して導体パターン間の短絡の有
無を判定することができる。
The wiring board inspection apparatus according to the present invention can determine the presence / absence of disconnection by applying a test voltage having a pulse waveform to the first electrode 23 selected from the voltage applying unit 71. In parallel with the determination, the presence or absence of a short circuit between the conductor patterns can be determined.

【0039】即ち、選択された導体パターンに対し断線
の検出と短絡の検出とが直列的に行われる従来の配線板
の検査方法と異なり、本発明になる配線板の検査方法は
図3に示す如く断線の検出と短絡の検出とが並行して行
われ試験時間が短縮される。
That is, unlike the conventional method of inspecting a wiring board in which detection of disconnection and detection of a short circuit are performed in series on a selected conductor pattern, the method of inspecting a wiring board according to the present invention is shown in FIG. As described above, the disconnection detection and the short-circuit detection are performed in parallel, and the test time is reduced.

【0040】なお、前記実施例において電圧印加部71か
ら選択された第1の電極に印加される試験電圧はパルス
波形の電圧であるが、必ずしもパルス波形電圧に限定さ
れることなく検査中に直流電圧をオンオフさせても同等
の効果を得ることができる。
In the above embodiment, the test voltage applied to the first electrode selected from the voltage applying unit 71 is a voltage having a pulse waveform, but is not necessarily limited to the pulse waveform voltage. The same effect can be obtained even if the voltage is turned on and off.

【0041】因みに発明者等の実験によれば選択された
導体パターンに試験電圧として 100Vの直流電圧を印加
しオンオフさせると、1V程度の信号電圧が信号受信部
に入力されると共に10μA程度の電流が電流検出部に流
れることが確認されている。
According to experiments by the present inventors, when a DC voltage of 100 V is applied as a test voltage to a selected conductor pattern and turned on and off, a signal voltage of about 1 V is input to the signal receiving unit and a current of about 10 μA is supplied. Has been confirmed to flow to the current detection unit.

【0042】このように選択された第1の電極に例えば
パルス波状の試験電圧を印加する配線板検査装置は、試
験電圧の立ち上がりまたは立ち下がりに同期し、導体パ
ターンの抵抗値に対応した信号が、選択された第1の電
極に対応する導体パターンと第2の電極からアンテナ部
材を介し信号受信部に入力され、信号受信部に入力され
た信号の電圧レベルから導体パターンの断線の有無を判
定することができる。
The wiring board inspection apparatus that applies, for example, a test voltage in the form of a pulse wave to the first electrode selected as described above, synchronizes with the rise or fall of the test voltage and generates a signal corresponding to the resistance value of the conductor pattern. The presence or absence of a break in the conductor pattern is determined from the voltage level of the signal input from the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the second electrode to the signal receiving unit via the antenna member via the antenna member, and input to the signal receiving unit. can do.

【0043】また、試験電圧の立ち上がり時に、選択さ
れた第1の電極に対応する導体パターンとその他の導体
パターン間の絶縁抵抗に対応する電流が、短絡された残
りの第1の電極を介して電流検出部に流れ、電流値から
導体パターン間の短絡有無を判定することができる。選
択された第1の電極に印加される試験電圧はいずれも同
じ電圧であり、電圧を少なくとも1回不連続に変化させ
ることによって、導体パターンの断線の有無と導体パタ
ーン間の短絡有無とを同時に判定できる。
When the test voltage rises, a current corresponding to the insulation resistance between the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the other conductor patterns flows through the short-circuited first electrode. The current flows to the current detection unit, and the presence or absence of a short circuit between the conductor patterns can be determined from the current value. The test voltages applied to the selected first electrodes are all the same, and by changing the voltage at least once discontinuously, the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between the conductor patterns are simultaneously determined. Can be determined.

【0044】配線板の検査は被検査配線板上の全ての導
体パターンに関して断線の有無と短絡有無とを検出でき
ることが望ましいが、検査の目的によっては断線した導
体パターンの特定は困難でも断線の有無が短い時間で検
査できればよい場合もある。
In the inspection of the wiring board, it is desirable to be able to detect the presence / absence of a disconnection and the presence / absence of a short circuit in all the conductor patterns on the wiring board to be inspected. In some cases, it is only necessary to be able to inspect in a short time.

【0045】本発明になる配線板検査装置の別の検査装
置はこのような要望に対処可能に構成された検査装置で
図9(a) に示す如く、第1の電極を介し被検査配線板が
有する全ての導体パターンに同時にサイン波信号を印加
可能な発振器を具えている。
Another inspection apparatus of the wiring board inspection apparatus according to the present invention is an inspection apparatus configured to cope with such a demand, and as shown in FIG. Is provided with an oscillator capable of simultaneously applying a sine wave signal to all the conductor patterns included therein.

【0046】即ち、本発明になる別の検査装置は、例え
ば複数の試験プローブ等を介し第1の電極23の全てに接
続可能な発振器61と、アンテナ部材5と、アンテナ部材
5に接続され断線の有無を検知する信号受信部65および
導通判定部66を具えている。
That is, another inspection apparatus according to the present invention includes an oscillator 61 which can be connected to all of the first electrodes 23 via a plurality of test probes, an antenna member 5, and a disconnection connected to the antenna member 5, for example. And a continuity determination unit 66 for detecting the presence / absence of the signal.

【0047】発振器61は第1の電極23を介し被検査配線
板2の全ての導体パターン22に同時にサイン波信号を印
加可能な機能を有し、アンテナ部材5は被検査配線板2
に載置されると絶縁層51を介し第2の電極24の全てに対
向可能な導体層52を有する。
The oscillator 61 has a function of simultaneously applying a sine wave signal to all the conductor patterns 22 of the wiring board 2 to be inspected via the first electrode 23.
Has a conductor layer 52 that can face all of the second electrodes 24 via the insulating layer 51 when placed on the substrate.

【0048】図10(a) に示す如く2本の導体パターン22
に対して第1の電極23を介し発振器61から個々にサイン
波信号を印加すると、それぞれの導体パターンの第2の
電極24とアンテナ部材5を介して図10(b) 、図10(c) に
示す受信信号が出力される。
As shown in FIG. 10A, two conductor patterns 22
When a sine wave signal is individually applied from the oscillator 61 through the first electrode 23 to the second electrode 24 and the antenna member 5 of each conductor pattern, FIGS. Is output.

【0049】このように発振器61から2本の導体パター
ン22にサイン波信号を個々に印加する場合と異なって同
時に印加する場合、受信信号の電圧レベルは第2の電極
24の数に比例しそれぞれの受信信号の電圧レベルが異な
るときはその合計値になる。
As described above, when the sine wave signals are simultaneously applied from the oscillator 61 to the two conductor patterns 22 differently from the case where the sine wave signals are individually applied, the voltage level of the received signal is changed to the second electrode.
When the voltage level of each received signal is different in proportion to the number of 24, the sum is the total value.

【0050】その結果、例えば個々にサイン波信号が印
加されたときの受信信号の電圧レベルが、図10(b) 、図
10(c) に示す如くそれぞれ 120mV、 100mVとすると、2
本の導体パターン22に同時に印加された場合には図10
(d) に示す如く 220mVになる。
As a result, for example, when the sine wave signal is individually applied, the voltage level of the received signal changes as shown in FIG.
Assuming 120mV and 100mV respectively as shown in 10 (c), 2
When applied simultaneously to the conductor pattern 22 of FIG.
It becomes 220mV as shown in (d).

【0051】したがって、2本の導体パターン22に同時
にサイン波信号が印加されたとき、アンテナ部材5を介
して出力される受信信号の電圧レベルが 120mVまたは 1
00mVであれば、2本の導体パターン22のいずれか1本が
断線していると判定される。
Therefore, when a sine wave signal is applied to the two conductor patterns 22 at the same time, the voltage level of the received signal output via the antenna member 5 is 120 mV or 1 mV.
If it is 00 mV, it is determined that one of the two conductor patterns 22 is disconnected.

【0052】なお、被検査配線板2は第1の電極23と第
2の電極24が1:1で接続された導体パターン22の他に
図9(b) に示す如く、複数の導体パターンが途中で接続
されている導体パターン25や、途中で分岐された導体パ
ターン26を含む場合がある。
In addition, as shown in FIG. 9B, a plurality of conductor patterns are formed on the wiring board 2 to be inspected, in addition to the conductor pattern 22 in which the first electrode 23 and the second electrode 24 are connected 1: 1. It may include a conductor pattern 25 connected in the middle and a conductor pattern 26 branched in the middle.

【0053】このように被検査配線板2が導体パターン
22の他に導体パターン25や導体パターン26を包含してい
る場合であっても、導体パターン22のみを有する被検査
配線板と同様に本発明になる別の検査装置により導体パ
ターンの断線を検知できる。
As described above, the wiring board 2 to be inspected is
Even when the conductor pattern 25 or the conductor pattern 26 is included in addition to the conductor pattern 22, the disconnection of the conductor pattern is detected by another inspection apparatus according to the present invention, similarly to the wiring board having the conductor pattern 22 alone. it can.

【0054】図9に示す検査装置はこのような原理に基
づいたもので検査に際し全ての導体パターン22にサイン
波信号が印加され、全ての第2の電極24から放射される
電磁波はアンテナ部材5により集約され受信信号として
信号受信部65に入力される。
The inspection apparatus shown in FIG. 9 is based on such a principle. In the inspection, a sine wave signal is applied to all the conductor patterns 22 and an electromagnetic wave radiated from all the second electrodes 24 is transmitted to the antenna member 5. And are input to the signal receiving unit 65 as a received signal.

【0055】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において予め格納されてい
る基準値と比較され、受信信号の電圧レベルが基準値よ
り低いとき被検査配線板2に断線した導体パターン22が
含まれていると判定される。
When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with a reference value stored in advance in a conduction determining section 66. When the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the wiring board to be inspected is checked. 2 is determined to include the disconnected conductor pattern 22.

【0056】このように第1の電極を介して全ての導体
パターンに同時にサイン波信号を印加する配線板検査装
置は、アンテナ部材を介し信号受信部に入力される信号
の電圧レベルが第2の電極の数に比例する。したがっ
て、導体パターンに断線があれば断線した導体パターン
の数に比例して信号の電圧レベルが低下し、断線のない
ときの信号の電圧レベルと比較することによって断線の
有無を判定できる。しかも、全ての導体パターンを同時
に検査できるため検査時間が大幅に短縮される。
As described above, in the wiring board inspection apparatus for simultaneously applying a sine wave signal to all the conductor patterns via the first electrode, the voltage level of the signal input to the signal receiving unit via the antenna member is changed to the second level. It is proportional to the number of electrodes. Therefore, if there is a disconnection in the conductor pattern, the voltage level of the signal decreases in proportion to the number of disconnected conductor patterns, and the presence / absence of the disconnection can be determined by comparing with the voltage level of the signal when there is no disconnection. In addition, since all the conductor patterns can be inspected at the same time, the inspection time is greatly reduced.

【0057】なお、図9では発振器61が第1の電極23に
接続され受信信号がアンテナ部材5から信号受信部65に
入力されているが、発振器61をアンテナ部材5に接続し
全ての第1の電極23を信号受信部65に接続して同等の効
果を得ることも可能である。
In FIG. 9, the oscillator 61 is connected to the first electrode 23 and a received signal is input from the antenna member 5 to the signal receiving section 65. However, when the oscillator 61 is connected to the antenna member 5 and all the first It is also possible to obtain the same effect by connecting the electrode 23 to the signal receiving unit 65.

【0058】しかし、図9の検査装置は短時間で導体パ
ターンの断線の有無を検出できるが断線した導体パター
ンを特定できない。次に示す変形例は導体パターンの断
線の有無を短時間で検出すると共に断線した導体パター
ンを特定可能な装置である。
However, the inspection apparatus shown in FIG. 9 can detect the presence / absence of disconnection of the conductor pattern in a short time, but cannot specify the disconnected conductor pattern. The following modified example is an apparatus capable of detecting the presence / absence of disconnection of a conductor pattern in a short time and specifying the disconnected conductor pattern.

【0059】前記検査装置の第1の変形例は図11に示す
如く印加されるサイン波信号の電圧または周波数が導体
パターン毎に異なり、図11(a) に示す変形例は周波数が
同じで電圧の異なるサイン波信号が導体パターン毎に発
振器61から印加されている。
In the first modification of the inspection apparatus, the voltage or frequency of the sine wave signal applied differs for each conductor pattern as shown in FIG. 11, and the modification shown in FIG. Are applied from the oscillator 61 for each conductor pattern.

【0060】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において予め格納されてい
る基準値と比較され、受信信号の電圧レベルが基準値よ
り低いとき被検査配線板2に断線した導体パターン22が
含まれていると判定される。
When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with a reference value stored in advance in a conduction determination section 66, and when the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the wiring board to be inspected. 2 is determined to include the disconnected conductor pattern 22.

【0061】それぞれの導体パターンから得られる受信
信号の電圧レベルは発振器61から印加されたサイン波信
号の電圧にほぼ対応し、基準値と受信信号の電圧レベル
との差から逆算することにより断線した導体パターンを
特定することが可能である。
The voltage level of the received signal obtained from each conductor pattern substantially corresponds to the voltage of the sine wave signal applied from the oscillator 61, and the disconnection was performed by performing an inverse calculation from the difference between the reference value and the voltage level of the received signal. It is possible to specify the conductor pattern.

【0062】また、図11(b) に示す変形例は電圧が同じ
で周波数の異なるサイン波信号が導体パターン毎に発振
器61から印加され、図示省略されているが受信信号が入
力される信号受信部65は周波数毎に電圧レベルを検出す
る周波数弁別回路を有する。
In the modification shown in FIG. 11 (b), a sine wave signal having the same voltage but different frequency is applied from an oscillator 61 for each conductor pattern, and although not shown, a signal reception signal is input to which a reception signal is input. The unit 65 has a frequency discrimination circuit that detects a voltage level for each frequency.

【0063】したがって、導通判定部66において受信信
号の電圧レベルを周波数毎に予め格納されている基準値
と比較することで、導体パターンの断線の有無を検知す
ると共に欠落した周波数から断線した導体パターンの位
置を特定することができる。
Therefore, the conduction determination section 66 compares the voltage level of the received signal with a reference value stored in advance for each frequency to detect the presence or absence of a break in the conductor pattern and to determine whether or not the conductor pattern has been disconnected from the missing frequency. Can be specified.

【0064】図9に示す検査装置は第2の電極と導体層
との間隔および第2の電極のそれぞれと導体層との対向
面積が一定であるが、第2の変形例は第2の電極と導体
層との間隔または第2の電極と導体層との対向面積が異
なるアンテナ部材を有する。
In the inspection apparatus shown in FIG. 9, the distance between the second electrode and the conductor layer and the area of opposition between each of the second electrodes and the conductor layer are constant. The second modification is the second modification. Antenna members having different distances between the second electrode and the conductor layer or opposite areas of the second electrode and the conductor layer.

【0065】図12はその一例でアンテナ部材5は第2の
電極24との間隔gが導体パターン毎に変化するよう導体
層52が段差を有し、段差のある導体層52の上に絶縁層51
を形成することでアンテナ部材5が第2の電極24と当接
する面は平坦になっている。
FIG. 12 shows an example of the antenna member 5 in which the conductor layer 52 has a step so that the distance g from the second electrode 24 changes for each conductor pattern, and the insulating layer is provided on the conductor layer 52 having the step. 51
Is formed, the surface of the antenna member 5 in contact with the second electrode 24 is flattened.

【0066】このように第2の電極24との間隔gを導体
パターン毎に変化させることによって、それぞれの第2
の電極24から放射される電磁波のレベルが同じであって
も、第2の電極24からアンテナ部材5に伝わる受信信号
の電圧レベルに差が生じる。
As described above, by changing the distance g with the second electrode 24 for each conductor pattern, each second g
Even if the level of the electromagnetic wave radiated from the second electrode 24 is the same, a difference occurs in the voltage level of the received signal transmitted from the second electrode 24 to the antenna member 5.

【0067】例えば、それぞれの第2の電極からアンテ
ナ部材に伝わる受信信号の電圧レベルが図13(a) に示す
如く異なっていると、対応する導体パターンの1本が断
線することによって信号受信部に入力される電圧値が図
13(b) に示す如く変化する。
For example, if the voltage levels of the received signals transmitted from the respective second electrodes to the antenna member are different as shown in FIG. 13 (a), one of the corresponding conductor patterns is disconnected and the signal receiving portion is disconnected. The voltage value input to
It changes as shown in 13 (b).

【0068】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において格納されている基
準値と比較されるが、基準値と受信信号の電圧レベルと
の差から逆算することによって断線した導体パターンを
特定することが可能である。
When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with the reference value stored in the conduction determining section 66, but the back calculation is performed from the difference between the reference value and the voltage level of the received signal. This makes it possible to specify the disconnected conductor pattern.

【0069】なお、図示省略されているが第2の電極24
との間隔が導体パターン毎に変化するよう導体層52に段
差を設ける代わりに、平坦な導体層52を傾け第2の電極
24と対向する面が斜面を形成するようにしてもほぼ同等
の効果を得ることができる。
Although not shown, the second electrode 24
Instead of providing a step in the conductive layer 52 so that the distance between the second electrode and
Even if the surface facing 24 forms a slope, substantially the same effect can be obtained.

【0070】また、第2の電極24のそれぞれと導体層52
との対向面積が導体パターン毎に異なるよう導体層52を
形成することにより、サイン波信号の電圧レベルや第2
の電極24と導体層52の間隔gが一定であっても受信信号
の電圧レベルに差が生じる。
Each of the second electrodes 24 and the conductor layer 52
The conductor layer 52 is formed such that the area opposed to the conductor pattern differs for each conductor pattern.
Even if the distance g between the electrode 24 and the conductor layer 52 is constant, a difference occurs in the voltage level of the received signal.

【0071】例えば、それぞれの第2の電極からアンテ
ナ部材に伝わる受信信号の電圧レベルが図14(a) に示す
如く異なっていると、対応する導体パターンの1本が断
線することによって信号受信部に入力される電圧値が図
14(b) に示す如く変化する。
For example, if the voltage level of the received signal transmitted from each second electrode to the antenna member is different as shown in FIG. 14 (a), one of the corresponding conductor patterns is disconnected, and the signal receiving section is disconnected. The voltage value input to
It changes as shown in 14 (b).

【0072】なお、第2の電極24と導体層52との間に介
在する絶縁層51の誘電率が導体パターン毎に異なるよう
形成することにより、それぞれの第2の電極24と導体層
52との間隔あるいは対向面積が同じであっても受信信号
の電圧レベルに差が生じる。
By forming the insulating layer 51 interposed between the second electrode 24 and the conductor layer 52 so that the dielectric constant differs for each conductor pattern, each of the second electrodes 24 and the conductor layer
Even if the interval or the facing area with the same 52 is the same, a difference occurs in the voltage level of the received signal.

【0073】その結果、対向面積を変えたときと同様に
図14(a) に示す如くアンテナ部材に伝わる受信信号の電
圧レベルに差が生じ、対応する導体パターンの1本が断
線することによって信号受信部に入力される電圧値が図
14(b) に示す如く変化する。
As a result, similarly to the case where the facing area is changed, a difference occurs in the voltage level of the received signal transmitted to the antenna member as shown in FIG. 14A, and the signal is broken by disconnection of one of the corresponding conductor patterns. The voltage value input to the receiver is
It changes as shown in 14 (b).

【0074】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において格納されている基
準値と比較されるが、基準値と受信信号の電圧レベルと
の差から逆算することによって断線した導体パターンを
特定することが可能である。
When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with the reference value stored in the conduction determination section 66, but the back calculation is performed from the difference between the reference value and the voltage level of the received signal. This makes it possible to specify the disconnected conductor pattern.

【0075】しかし、第2の電極の面積が小さい配線板
を対象とする場合は導体パターン毎に導体層52との間隔
gを変える方法や、導体パターン毎に導体層との対向面
積あるいは絶縁層の誘電率を変える方法はアンテナ部材
の形成が極めて困難である。
However, in the case of a wiring board having a small area of the second electrode, a method of changing the distance g from the conductor layer 52 for each conductor pattern, an area facing the conductor layer for each conductor pattern, or an insulating layer It is extremely difficult to form an antenna member by changing the dielectric constant of the antenna.

【0076】導体層を微細加工し段差を形成しても受信
信号の電圧レベル差が小さくて断線した導体パターンの
特定が困難になり、同様に導体パターン毎に導体層との
対向面積や絶縁層の誘電率を変える方法も受信信号の電
圧レベル差を拡大できない。
Even if the conductor layer is finely processed to form a step, the difference in voltage level of the received signal is small and it becomes difficult to identify the disconnected conductor pattern. Also, the method of changing the dielectric constant cannot increase the voltage level difference of the received signal.

【0077】そこで図12に示す如く第2の電極24が複数
列に分けて配列された配線板を対象にし導体層52との間
隔gを変えると共に、第2の電極24の列と対向する導体
層52の幅w1 、w2 を変えることにより受信信号の電圧
レベル差拡大が可能になる。
Therefore, as shown in FIG. 12, for a wiring board in which the second electrodes 24 are arranged in a plurality of rows, the distance g with the conductor layer 52 is changed, and the conductors facing the rows of the second electrodes 24 are changed. By changing the widths w 1 and w 2 of the layer 52, the voltage level difference of the received signal can be increased.

【0078】また、図示省略されているが第2の電極24
のそれぞれと導体層52との対向面積を導体パターン毎に
変える代わりに、導体パターン毎に誘電率が異なる絶縁
層51を第2の電極24と導体層52の間に介在させても同等
の効果を得ることができる。
Although not shown, the second electrode 24
The same effect can be obtained by interposing an insulating layer 51 having a different permittivity for each conductor pattern between the second electrode 24 and the conductor layer 52 instead of changing the facing area between each of them and the conductor layer 52 for each conductor pattern. Can be obtained.

【0079】図9に示す検査装置はアンテナ部材5が絶
縁層51を介し第2の電極24の全てに対向可能な導体層52
を具えているが、第3の変形例では図15(a) 、(b) に示
す如くアンテナ部材5がそれぞれ第2の電極24と対向可
能な複数のセル53を有する。
In the inspection device shown in FIG. 9, a conductor layer 52 in which the antenna member 5 can face all of the second electrodes 24 via the insulating layer 51 is provided.
However, in the third modified example, the antenna member 5 has a plurality of cells 53 which can face the second electrode 24 as shown in FIGS. 15 (a) and (b).

【0080】絶縁層51を介し第2の電極24と対向する導
体片からなるセル53と信号受信部65との間に切り換えユ
ニット54が介在し、切り換えユニット54を適宜操作する
ことによって選択された任意のセル53を信号受信部65に
接続することが可能である。
The switching unit 54 is interposed between the signal receiving portion 65 and the cell 53 composed of a conductor piece facing the second electrode 24 via the insulating layer 51, and is selected by appropriately operating the switching unit 54. Any cell 53 can be connected to the signal receiving unit 65.

【0081】したがって、導体パターンの断線検出に際
して全てのセル53を信号受信部65に接続しておき、断線
した導体パターンを含むことが検出されたとき、セル53
を順次信号受信部65から切り放すことによって断線した
導体パターンを特定できる。
Therefore, all the cells 53 are connected to the signal receiving section 65 when the disconnection of the conductor pattern is detected, and when the disconnection of the conductor pattern is detected, the cells 53 are detected.
Are sequentially cut off from the signal receiving unit 65, the disconnected conductor pattern can be specified.

【0082】なお、アンテナ部材5の形成に際して例え
ば被検査配線板2の製造データを変換してそれぞれのセ
ルの作成データとし、被検査配線板2が有する第2の電
極24と1:1で対向可能な複数のセル53を具えたアンテ
ナ部材5を形成してもよい。
When the antenna member 5 is formed, for example, the manufacturing data of the wiring board 2 to be inspected is converted into data for forming each cell, and is opposed to the second electrode 24 of the wiring board 2 to be inspected 1: 1. An antenna member 5 with a plurality of possible cells 53 may be formed.

【0083】本発明の配線板検査装置の更に別の検査装
置は図16(a) に示す如く切り換えユニット4と測定回路
70とを具えており、切り換えユニット4は例えば図7に
示す如くそれぞれ第1の電極23に接続可能な複数のスイ
ッチ素子41を具備している。
As shown in FIG. 16 (a), a further inspection apparatus of the wiring board inspection apparatus of the present invention comprises a switching unit 4 and a measuring circuit.
The switching unit 4 includes a plurality of switch elements 41 connectable to the first electrode 23, for example, as shown in FIG.

【0084】スイッチ素子41のコモン端子44はそれぞれ
対応する第1の電極23に接続されており、1個のスイッ
チ素子41を作動させると任意の第1の電極23(図では上
から2番目)が選択され、残りの第1の電極23は短絡さ
れるように構成されている。
The common terminals 44 of the switch elements 41 are connected to the corresponding first electrodes 23, respectively. When one switch element 41 is operated, an arbitrary first electrode 23 (second from the top in the figure) Is selected, and the remaining first electrode 23 is configured to be short-circuited.

【0085】また、全てのスイッチ素子41は第1の接点
42がサイン波信号を出力可能な発振器61に一括して接続
されており、発振器61から出力されるサイン波信号はス
イッチ素子41および選択された第1の電極23を介して導
体パターン22に印加される。
All the switching elements 41 are connected to the first contact
42 is collectively connected to an oscillator 61 capable of outputting a sine wave signal, and the sine wave signal output from the oscillator 61 is applied to the conductor pattern 22 via the switch element 41 and the selected first electrode 23. Is done.

【0086】測定回路70はサイン波信号を出力可能な発
振器61の他に断線を検知する信号受信部65および導通判
定部66を具えており、全ての第2の電極24から放射され
る電磁波はそれぞれ受信信号としてアンテナ部材5から
信号受信部65に入力される。
The measuring circuit 70 includes a signal receiving section 65 for detecting disconnection and a conduction determining section 66 in addition to the oscillator 61 capable of outputting a sine wave signal, and the electromagnetic waves radiated from all the second electrodes 24 are Each is input from the antenna member 5 to the signal receiving section 65 as a received signal.

【0087】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において予め格納されてい
る基準値と比較され、受信信号の電圧レベルが基準値よ
り低いときサイン波信号の印加された導体パターン22が
断線していると判定される。
When a received signal is input to signal receiving section 65, its voltage level is compared with a reference value stored in advance in conduction determining section 66. When the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the sine wave signal It is determined that the applied conductor pattern 22 is disconnected.

【0088】また、選択された導体パターン22が隣接す
る導体パターン22と短絡している場合は、切り換えユニ
ット4を介して全ての導体パターン22にサイン波信号が
印加され、受信信号の電圧レベルが基準値より高くなる
ことから容易に検出できる。
When the selected conductor pattern 22 is short-circuited with the adjacent conductor pattern 22, a sine wave signal is applied to all the conductor patterns 22 via the switching unit 4, and the voltage level of the received signal is reduced. Since it is higher than the reference value, it can be easily detected.

【0089】なお、図示省略されているが切り換えユニ
ット4により任意の第1の電極23を選択してサイン波信
号を印加すると共に、残った第1の電極23を短絡して関
連する導体パターンの全てを接地回路に接続するように
構成することも可能である。
Although not shown, the switching unit 4 selects an arbitrary first electrode 23 to apply a sine wave signal, and short-circuits the remaining first electrode 23 to form a related conductor pattern. It is also possible to configure so that everything is connected to the ground circuit.

【0090】この場合は受信信号の電圧レベルが基準値
より低いときサイン波信号の印加された導体パターン22
の断線と判定され、隣接する導体パターン22と短絡して
いる場合には受信信号の電圧レベルが接地レベルになる
ことから容易に検出できる。
In this case, when the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the conductor pattern 22 to which the sine wave signal is applied is applied.
Is determined to be disconnected, and when the adjacent conductor pattern 22 is short-circuited, the voltage level of the received signal becomes the ground level, which can be easily detected.

【0091】なお、被検査配線板2は第1の電極23と第
2の電極24が1:1で接続された導体パターン22の他に
図16(b) に示す如く、複数の導体パターンが途中で接続
されている導体パターン25や、途中で分岐された導体パ
ターン26を含む場合がある。
The wiring board 2 to be inspected has a plurality of conductor patterns, as shown in FIG. 16B, in addition to the conductor pattern 22 in which the first electrode 23 and the second electrode 24 are connected at 1: 1. It may include a conductor pattern 25 connected in the middle and a conductor pattern 26 branched in the middle.

【0092】このように被検査配線板2が導体パターン
22の他に導体パターン25や導体パターン26を包含してい
る場合であっても、導体パターン22のみを有する被検査
配線板と同様に本発明の更に別の検査装置により導体パ
ターンの断線を検知できる。
As described above, the wiring board 2 to be inspected is
Even in the case where the conductor pattern 25 or the conductor pattern 26 is included in addition to the conductor pattern 22, the disconnection of the conductor pattern is detected by still another inspection device of the present invention, similarly to the wiring board having the conductor pattern 22 alone. it can.

【0093】上述の如く切り換えユニットを介し個々の
導体パターンにサイン波信号を印加する本発明の更に別
の検査装置は、全ての導体パターンに同時にサイン波信
号を印加する前記本発明の別の検査装置に比べ検査時間
が長くなるが、個々の導体パターンにサイン波信号また
は直流電圧を順次印加して、導体パターンの短絡を検出
する従来の検査装置に比べ検査時間を大幅に短縮でき
る。しかも前記本発明の別の検査装置は断線した導体パ
ターンの特定が困難であるが、本発明の更に別の検査装
置は断線した導体パターンの特定を容易にできるという
特徴を有する。
As described above, still another inspection apparatus of the present invention for applying a sine wave signal to each conductor pattern via the switching unit is another inspection apparatus for applying the sine wave signal to all the conductor patterns simultaneously. Although the inspection time is longer than that of the apparatus, the inspection time can be greatly reduced as compared with the conventional inspection apparatus that sequentially applies a sine wave signal or a DC voltage to each conductor pattern and detects a short circuit of the conductor pattern. Moreover, it is difficult to specify the broken conductor pattern in the another inspection apparatus of the present invention, but the other inspection apparatus of the present invention is characterized in that the broken conductor pattern can be easily specified.

【0094】図16に示す本発明の配線板検査装置の更に
別の検査装置は導体パターンの選択手段として切り換え
ユニットを有するが、切り換えユニットに変えて例えば
発振器61に接続された1本の試験プローブを第1の電極
23に順次接触させてもよい。
A further inspection apparatus of the wiring board inspection apparatus of the present invention shown in FIG. 16 has a switching unit as a means for selecting a conductor pattern. For example, one test probe connected to an oscillator 61 instead of the switching unit. The first electrode
23 may be sequentially contacted.

【0095】しかし、この場合は試験プローブの接触し
た第1の電極23にサイン波信号が印加され導体パターン
の断線は検出されるが、隣接した導体パターンに関する
第1の電極23はフリーになっていて導体パターンの短絡
を検出することができない。
In this case, however, a sine wave signal is applied to the first electrode 23 in contact with the test probe, and the disconnection of the conductor pattern is detected, but the first electrode 23 for the adjacent conductor pattern is free. Therefore, a short circuit of the conductor pattern cannot be detected.

【0096】前述の如く第1の電極23に発振器61を接続
し第2の電極24と対向させたアンテナ部材5から信号を
取り出しているが、図17に示す如く対象となる被検査配
線板2は第1の電極23が表面に露出している場合と裏面
に露出している場合がある。
As described above, the oscillator 61 is connected to the first electrode 23, and the signal is extracted from the antenna member 5 facing the second electrode 24. As shown in FIG. There are cases where the first electrode 23 is exposed on the front surface and where the first electrode 23 is exposed on the back surface.

【0097】図17は第1の電極23が露出している面に関
係なく被検査配線板2を装着できる被検査配線板装着部
8の構成例であって、基台81は被検査配線板2の裏面に
露出した第1の電極23のそれぞれに接触可能な複数の試
験プローブ82を具えている。
FIG. 17 shows an example of the configuration of the wiring board mounting portion 8 to which the wiring board 2 can be mounted regardless of the surface where the first electrode 23 is exposed. 2 includes a plurality of test probes 82 that can contact each of the first electrodes 23 exposed on the back surface of the second probe 2.

【0098】一方、アンテナ部材5は全ての第2の電極
24に対向可能な導体層52の周囲に植設された複数の試験
プローブ83を有し、複数の試験プローブ83は被検査配線
板2の表面に露出した第1の電極23のそれぞれに接触可
能な位置に配置されている。
On the other hand, the antenna member 5 includes all the second electrodes.
It has a plurality of test probes 83 implanted around the conductor layer 52 which can face the 24, and the plurality of test probes 83 can contact each of the first electrodes 23 exposed on the surface of the wiring board 2 to be inspected. It is arranged in a suitable position.

【0099】アンテナ部材5は被検査配線板2の導体パ
ターン22から漏れる電磁波を遮断するため導体からなる
グランド部50を有し、アンテナ部材5に設けられた導体
層52および複数の試験プローブ83は絶縁体を介してグラ
ンド部50に装着されている。
The antenna member 5 has a ground portion 50 made of a conductor for blocking electromagnetic waves leaking from the conductor pattern 22 of the wiring board 2 to be inspected. The conductor layer 52 and the plurality of test probes 83 provided on the antenna member 5 are It is attached to the ground part 50 via an insulator.

【0100】基台81およびアンテナ部材5に設けられた
試験プローブ82、83はそれぞれ切換制御回路84を介して
発振器61に接続され、被検査配線板2に合わせて切換制
御回路84を操作することで表面または裏面の第1の電極
23が発振器61に接続される。
The test probes 82 and 83 provided on the base 81 and the antenna member 5, respectively, are connected to the oscillator 61 via the switching control circuit 84, and operate the switching control circuit 84 in accordance with the wiring board 2 to be inspected. And the first electrode on the front or back side
23 is connected to the oscillator 61.

【0101】なお、対象となる被検査配線板2が表面ま
たは裏面の何れかに第1の電極23が露出しているものに
限定可能であれば、不要な試験プローブを除去すると共
に切換制御回路84の制御対象を縮小して被検査配線板装
着部を専用化してもよい。
If the wiring board 2 to be inspected can be limited to the one in which the first electrode 23 is exposed on either the front surface or the back surface, unnecessary test probes are removed and the switching control circuit is removed. The control target of 84 may be reduced to specialize the wiring board mounting portion to be inspected.

【0102】図15(a) 、(b) に示す本発明の変形例はア
ンテナ部材5がそれぞれ第2の電極24と対向可能な複数
のセル53を有するが、被検査配線板2は搭載される集積
回路素子1により形成される第2の電極24の数や位置、
間隔等が異なることがある。
In the modified example of the present invention shown in FIGS. 15A and 15B, the antenna member 5 has a plurality of cells 53 each of which can face the second electrode 24, but the wiring board 2 to be inspected is mounted. The number and position of the second electrodes 24 formed by the integrated circuit element 1
The intervals etc. may be different.

【0103】したがって、分割型アンテナ部材を用いた
検査装置では全ての第2の電極に対向可能にそれぞれの
セルを形成すると、セルの数や位置、間隔等が被検査配
線板2の有する第2の電極24に適合した専用のアンテナ
部材を準備する必要がある。
Therefore, in the inspection device using the split type antenna member, when each cell is formed so as to be able to face all the second electrodes, the number, position, interval, etc. of the cells are the It is necessary to prepare a dedicated antenna member suitable for the electrode 24.

【0104】以下に示すアンテナ部材5は被検査配線板
が有する第2の電極の数や位置、間隔等が異なっても対
向可能なセルを具え、第2の電極の数や位置、間隔等が
異ななる複数種類の被検査配線板の検査を可能にする共
用型のアンテナ部材である。
The antenna member 5 shown below has a cell which can be opposed even if the number, position, interval, etc. of the second electrodes of the wiring board to be inspected are different. This is a common antenna member that enables inspection of a plurality of different types of wiring boards to be inspected.

【0105】即ち、図18は共用型のアンテナ部材におけ
るセルの分割パターンで、図18(a)のアンテナ部材5は
複数のセル53がマトリックス状に配列されており、第2
の電極と対向可能なセル53を信号受信部に接続し残りの
セル53をGNDに接続する。
That is, FIG. 18 shows a cell division pattern of the common antenna member. The antenna member 5 of FIG. 18A has a plurality of cells 53 arranged in a matrix.
Is connected to the signal receiving unit, and the remaining cells 53 are connected to GND.

【0106】このようにセル53をマトリックス状に配列
することによって例えば配線板上の第2の電極の位置や
間隔が異なっても、セル53のどれかがそれぞれ第2の電
極と対向可能になり同一アンテナ部材を用い複数種類の
被検査配線板を検査できる。
By arranging the cells 53 in a matrix in this manner, even if the positions and the intervals of the second electrodes on the wiring board are different, for example, any of the cells 53 can face the second electrodes. A plurality of types of wiring boards to be inspected can be inspected using the same antenna member.

【0107】なお、被検査配線板の表面に形成された第
2の電極の配列領域がアンテナ部材上のセル53の配列領
域より広い場合は、アンテナ部材5をセル53の配列方向
と平行に移動させることにより第2の電極と対向する領
域を拡張することができる。
When the arrangement area of the second electrodes formed on the surface of the wiring board to be inspected is wider than the arrangement area of the cells 53 on the antenna member, the antenna member 5 is moved in parallel with the arrangement direction of the cells 53. By doing so, the region facing the second electrode can be expanded.

【0108】しかし、マトリックス状に配列されている
セル53のそれぞれを信号受信部またはGNDに接続でき
るよう構成すると、それぞれのセル53に対応するスイッ
チ回路を設ける必要があり切り換えユニットの構成や接
続および制御が複雑になる。
However, if each of the cells 53 arranged in a matrix is configured to be connected to a signal receiving unit or GND, it is necessary to provide a switch circuit corresponding to each of the cells 53. Control becomes complicated.

【0109】図18(b) 、(c) 、(d) に示すアンテナ部材
5はセル53の数を減らすことによって上記の問題点の解
消を図ったもので、図18(b) に示すアンテナ部材5は帯
状に分割され所定のピッチで平行に配列された導体片か
らなるセル53を具えている。
The antenna member 5 shown in FIGS. 18 (b), (c) and (d) solves the above-mentioned problem by reducing the number of cells 53, and the antenna member 5 shown in FIG. 18 (b) The member 5 includes a cell 53 composed of conductor pieces that are divided into strips and arranged in parallel at a predetermined pitch.

【0110】このようなアンテナ部材5はセル53の長さ
方向に配列された第2の電極に対しセル53が1:1で対
向することはないが、X軸方向に配列された第2の電極
に対向させた後で90度回転させY軸方向の第2の電極
に対向させることができる。
In such an antenna member 5, the cell 53 does not face the second electrode arranged in the length direction of the cell 53 at 1: 1 but the second electrode arranged in the X-axis direction. After facing the electrode, it can be rotated 90 degrees to face the second electrode in the Y-axis direction.

【0111】X軸方向およびY軸方向に配列された全て
の第2の電極にセル53を1:1で対向させるには、図18
(a) のアンテナ部材5に比べ検査に要する時間が増大す
るが、切り換えユニットの構成や接続および制御を大幅
に簡略化することができる。
To make the cells 53 face 1: 1 with all the second electrodes arranged in the X-axis direction and the Y-axis direction, FIG.
Although the time required for the inspection is longer than that of the antenna member 5 of (a), the configuration, connection and control of the switching unit can be greatly simplified.

【0112】また、図18(c) に示すアンテナ部材5は所
定のピッチで同心円状に配列された円形の導体片からな
るセル53を具備し、図18(d) に示すアンテナ部材5は同
様に所定のピッチで同心状に配列された四角形の導体片
からなるセル53を具備する。
The antenna member 5 shown in FIG. 18 (c) includes cells 53 composed of circular conductor pieces arranged concentrically at a predetermined pitch, and the antenna member 5 shown in FIG. And a cell 53 composed of rectangular conductor pieces arranged concentrically at a predetermined pitch.

【0113】このようなアンテナ部材5は前記アンテナ
部材5のように第2の電極にセル53を1:1で対向させ
ることは難しいが、例えば一つの導体パターンを選択し
試験信号を印加してその導体パターンを検査する検査装
置等においては有効である。
In such an antenna member 5, it is difficult to make the cell 53 face the second electrode 1: 1 like the antenna member 5, but, for example, by selecting one conductor pattern and applying a test signal. This is effective in an inspection device or the like for inspecting the conductor pattern.

【0114】分割型アンテナ部材の場合は上述の如くセ
ル53と切り換えユニットとの間がそれぞれのセル53に対
応する配線で結ばれ、出力信号の電圧レベルは一体型ア
ンテナ部材の導体層52を介し出力される出力信号の電圧
レベルに比べ極めて小さい。
In the case of the split type antenna member, the cell 53 and the switching unit are connected by the wiring corresponding to each cell 53 as described above, and the voltage level of the output signal is transmitted via the conductor layer 52 of the integrated antenna member. It is extremely smaller than the voltage level of the output signal to be output.

【0115】したがって、接続に際しアンテナ部材5と
切り換えユニットとの間、および切り換えユニットと信
号受信部との間を長いケーブルで接続することは、出力
信号にノイズが重畳される等信頼性を低下させる要因に
なり避けなければならない。
Therefore, connecting the antenna member 5 and the switching unit and the switching unit and the signal receiving unit with long cables during connection lowers the reliability such as noise being superimposed on the output signal. Become a factor and must be avoided.

【0116】そこで分割型アンテナ部材の一実施例は図
19(a) に示す如く切り換えユニット54の直後に信号増幅
用のAMP55を有し、図19(b) に示す如くアンテナ部材
5と切り換えユニット54とAMP55とからなるアンテナ
ユニット9を構成している。
An embodiment of the split type antenna member is shown in FIG.
An AMP 55 for signal amplification is provided immediately after the switching unit 54 as shown in FIG. 19 (a), and an antenna unit 9 comprising the antenna member 5, the switching unit 54 and the AMP 55 as shown in FIG. 19 (b). .

【0117】図示省略されているが切り換えユニット54
は例えばセル53が接続される基板とMOS-FET で構成され
たIC等を有し、AMP55はコネクタ等を介して信号受
信部や制御回路に接続される基板と信号を増幅する少な
くとも1個のICを有する。
Although not shown, the switching unit 54
Has, for example, a substrate to which the cell 53 is connected and an IC constituted by a MOS-FET. The AMP 55 has a substrate connected to a signal receiving unit or a control circuit via a connector or the like and at least one amplifying signal. It has an IC.

【0118】図19に示すアンテナユニット9では第2の
電極と対向可能なセル53を除いて残りのセル53をGND
に接続しているが、図20に示す如く透孔付き導体層91を
有するシールド板92をアンテナユニット9と被検査配線
板との間に挿入してもよい。
In the antenna unit 9 shown in FIG. 19, except for the cell 53 which can face the second electrode, the remaining cell 53 is connected to GND.
However, as shown in FIG. 20, a shield plate 92 having a conductor layer 91 with a hole may be inserted between the antenna unit 9 and the wiring board to be inspected.

【0119】シールド板92は第2の電極と対向する位置
にそれぞれ透孔93が形成された透孔付き導体層91と絶縁
層94とで構成され、透孔付き導体層91は対象となる被検
査配線板が有する第2の電極の数や位置、間隔等に合わ
せ透孔93が形成されている。
The shield plate 92 is composed of a conductor layer 91 having a hole formed with a hole 93 at a position facing the second electrode, and an insulating layer 94. The conductor layer 91 having a hole is covered by the target conductor. Through holes 93 are formed in accordance with the number, position, interval, and the like of the second electrodes included in the inspection wiring board.

【0120】分割型アンテナ部材を被検査配線板に直接
対向させる場合は、被検査配線板の種類が切り換わる
と、切り換えユニット54を制御するデータを交換して、
第2の電極と対向可能なセル53を除いた残りのセル53を
GNDに接続する必要がある。
When the divided antenna member is directly opposed to the wiring board to be inspected, when the type of the wiring board to be inspected is switched, data for controlling the switching unit 54 is exchanged.
The remaining cells 53 except for the cells 53 that can face the second electrode need to be connected to GND.

【0121】しかし、アンテナユニット9と被検査配線
板との間にシールド板92を挿入し透孔付き導体層91をG
NDに接続する場合は、直接対向させる場合と異なり第
2の電極と対向するセル53を除いた残りのセルを全てG
NDに接続する必要がない。
However, the shield plate 92 is inserted between the antenna unit 9 and the wiring board to be inspected, so that the conductor layer 91 with the through hole is G
When connecting to the ND, unlike the case where the cell is directly opposed, all cells except the cell 53 facing the second electrode are set to G.
There is no need to connect to ND.

【0122】したがって、被検査配線板の種類が切り換
わり第2の電極の数や位置が若干ずれても、切り換えユ
ニット54を制御するデータを交換する必要がなく、その
被検査配線板に適したシールド板92を選択し挿入するこ
とにより容易に対応できる。
Therefore, even if the type of the wiring board to be inspected is switched and the number and the position of the second electrodes are slightly shifted, there is no need to exchange data for controlling the switching unit 54, and the circuit suitable for the wiring board to be inspected is not required. It can be easily handled by selecting and inserting the shield plate 92.

【0123】また、左右対象に配列された第2の電極24
を有する被検査配線板2の場合は図21に示す如く被検査
配線板2を裏返し、検査の対象となる被検査配線板2と
対向させることにより被検査配線板2を簡易分割型アン
テナ部材として利用できる。
The second electrodes 24 arranged symmetrically to the left and right
In the case of the wiring board 2 having the inspection, the wiring board 2 to be inspected is turned over as shown in FIG. 21 and is opposed to the wiring board 2 to be inspected so that the wiring board 2 to be tested is a simple split type antenna member. Available.

【0124】その場合は導体パターンから漏れる電磁波
を遮断するため図示の如く被検査配線板2の間にシール
ド板92が挿入され、第2の電極24と対向する領域に透孔
93が形成されている透孔付き導体層91は図示省略されて
いるがGNDに接続される。
In this case, a shield plate 92 is inserted between the wiring boards 2 to be inspected as shown in the figure to block electromagnetic waves leaking from the conductor pattern, and a through hole is formed in a region facing the second electrode 24.
The through-hole conductor layer 91 in which the holes 93 are formed is connected to GND (not shown).

【0125】この場合は図18に示す如く複数のセルを具
えた分割型アンテナ部材を準備する必要がなく、切り換
えユニット54も簡易分割型アンテナ部材のセルを切り換
えるだけであって、残りのセルをGNDに接続する等の
複雑な操作を必要としない。
In this case, as shown in FIG. 18, there is no need to prepare a split antenna member having a plurality of cells, and the switching unit 54 only switches the cells of the simple split antenna member. No complicated operation such as connection to GND is required.

【0126】これまでに述べたアンテナ部材はいずれも
非接触型で導体層と第2の電極とは絶縁体を介して誘電
的に結合しており、導体層に入力される信号の電圧レベ
ルは絶縁体が有する誘電率の影響によって入力信号の電
圧レベルに比べ極めて低い。
Each of the antenna members described so far is a non-contact type, in which the conductor layer and the second electrode are dielectrically coupled via an insulator, and the voltage level of the signal input to the conductor layer is Due to the dielectric constant of the insulator, the voltage level is extremely lower than the voltage level of the input signal.

【0127】導体層を覆う絶縁体を薄くすると共に誘電
率の高い絶縁体を採用することにより信号電圧のレベル
向上は可能であるが、誘電率は絶縁体の材質固有の値で
あり絶縁体の薄型化には限度があってそれだけでは電圧
レベルの向上に限界がある。
Although the level of the signal voltage can be improved by making the insulator covering the conductor layer thinner and employing an insulator having a high dielectric constant, the dielectric constant is a value inherent to the material of the insulator, There is a limit to thinning, which alone limits the improvement of voltage levels.

【0128】図22に示したアンテナ部材の変形例は間に
絶縁体を介在させないで導体層を第2の電極と対向させ
たアンテナ部材で、図22(a) に示すアンテナ部材10は導
体層またはセル53を限りなく第2の電極24に近づけ電圧
レベルの向上を図っている。
A modification of the antenna member shown in FIG. 22 is an antenna member in which a conductor layer is opposed to a second electrode without an intervening insulator, and an antenna member 10 shown in FIG. Alternatively, the cell 53 is brought as close as possible to the second electrode 24 to improve the voltage level.

【0129】即ち、アンテナ部材10は被検査配線板2の
導体パターンから漏れる電磁波を遮断するためグランド
部50を具えており、アンテナ部材10の第2の電極24と対
向可能な位置に配列されたセル53は絶縁体によりグラン
ド部50から絶縁されている。
That is, the antenna member 10 has the ground portion 50 for blocking electromagnetic waves leaking from the conductor pattern of the wiring board 2 to be inspected, and is arranged at a position where it can face the second electrode 24 of the antenna member 10. The cell 53 is insulated from the ground unit 50 by an insulator.

【0130】このように構成されたアンテナ部材10をセ
ル53が限りなく第2の電極24に近づくよう被検査配線板
2上に載置すると、セル53と第2の電極24との間に完全
に接触した状態、不安定な形で接触した状態、および全
く接触しない状態が生じる。
When the antenna member 10 configured as described above is placed on the wiring board 2 to be inspected so that the cell 53 approaches the second electrode 24 as much as possible, a complete gap is formed between the cell 53 and the second electrode 24. Contact, unstable contact, and no contact at all.

【0131】第2の電極24にセル53が接触している場合
のセル53の出力信号レベルは第1の電極23への入力信号
のレベルと等しく、セル53が全く接触していない場合に
セル53から出力される信号レベルは第1の電極23への入
力信号に比べ著しく小さい。
The output signal level of the cell 53 when the cell 53 is in contact with the second electrode 24 is equal to the level of the input signal to the first electrode 23, and when the cell 53 is not in contact at all. The signal level output from 53 is significantly lower than the input signal to first electrode 23.

【0132】また、セル53と第2の電極24とが不安定な
形で接触している場合にセル53から出力される信号のレ
ベルは不定値で、完全に接触しているとき出力される信
号レベルと全く接触していないとき出力される信号レベ
ルとの間において変動する。
When the cell 53 and the second electrode 24 are in contact with each other in an unstable manner, the level of the signal output from the cell 53 is indefinite and is output when the cell 53 is completely in contact. It fluctuates between the signal level and the signal level output when no contact is made.

【0133】しかし、セル53から出力される信号のレベ
ルが不安定であっても、また第1の電極23への入力信号
に比べて小さくても、セル53から信号が出力されている
ということはその導体パターン22が断線していないこと
を意味し良品と判定される。
However, even if the level of the signal output from the cell 53 is unstable or smaller than the input signal to the first electrode 23, the signal is output from the cell 53. Means that the conductor pattern 22 is not broken, and is determined to be non-defective.

【0134】なお、セル53が全く接触していない場合の
出力信号のレベルはその間に介在する空気の誘電率によ
って左右されるが、セル53と第2の電極24との間隔を極
めて小さくできるため間に絶縁体を介在させた場合に比
べて高くすることができる。
Although the level of the output signal when the cell 53 is not in contact at all depends on the dielectric constant of the air interposed therebetween, the distance between the cell 53 and the second electrode 24 can be made extremely small. The height can be increased as compared with a case where an insulator is interposed between the insulators.

【0135】非接触型のアンテナ部材に接続される測定
回路はレベルがほぼ等しいセル53の出力信号を対象とし
て構成されており、このようにセル53の出力信号が著し
く異なるアンテナ部材に接続し導体パターンの良否を判
定することは不可能である。
The measuring circuit connected to the non-contact type antenna member is designed for the output signal of the cell 53 having substantially the same level as described above. It is impossible to determine the quality of the pattern.

【0136】図23(a) に示す判定回路はレベルが著しく
異なるセル53の出力信号から導体パターンの良否を判定
するようしたもので、セル53から出力される信号のピー
ク値保持回路11と接触検査判定回路12と非接触検査判定
回路13とで構成されている。
The judgment circuit shown in FIG. 23 (a) judges the quality of the conductor pattern from the output signal of the cell 53 having a significantly different level. The judgment circuit is in contact with the peak value holding circuit 11 of the signal output from the cell 53. It comprises an inspection determination circuit 12 and a non-contact inspection determination circuit 13.

【0137】セル53から出力される信号のピーク値が保
持されると接触検査判定回路12はピーク値を予め設定さ
れている基準値と比較し、ピーク値が基準値より高けれ
ばその導体パターンを良品と判定し低ければその導体パ
ターンを不良品と判定する。
When the peak value of the signal output from the cell 53 is held, the contact inspection determination circuit 12 compares the peak value with a preset reference value, and if the peak value is higher than the reference value, changes the conductor pattern. When the conductor pattern is determined to be non-defective, the conductor pattern is determined to be defective.

【0138】接触検査判定回路12においてその導体パタ
ーンが不良品と判定されると非接触検査判定回路13はピ
ーク値を基準値と比較し、ピーク値が基準値より高けれ
ばその導体パターンを良品と判定し低ければその導体パ
ターンを不良品と判定する。
If the contact inspection judgment circuit 12 judges that the conductor pattern is defective, the non-contact inspection judgment circuit 13 compares the peak value with a reference value, and if the peak value is higher than the reference value, the conductor pattern is regarded as a non-defective product. If the judgment is low, the conductor pattern is judged to be defective.

【0139】また、図23(b) に示す判定回路はピーク値
検出回路14と接触検査判定回路15と非接触検査判定回路
13とで構成されており、接触検査判定回路15は検出され
たピーク値を基準値と比較して基準値より高ければ導体
パターンを良品と判定する。
The determination circuit shown in FIG. 23 (b) includes a peak value detection circuit 14, a contact inspection determination circuit 15, and a non-contact inspection determination circuit.
The contact inspection determination circuit 15 compares the detected peak value with a reference value, and determines that the conductor pattern is non-defective if higher than the reference value.

【0140】検出されたピーク値を基準値と比較して基
準値より低ければ導体パターンを不良品と判定してスイ
ッチ回路16を閉じる。スイッチ回路16が閉じると非接触
検査判定回路13はセルの出力信号を基準値と比較し導体
パターンを良否を判定する。
The detected peak value is compared with a reference value. If the detected peak value is lower than the reference value, the conductor pattern is determined to be defective and the switch circuit 16 is closed. When the switch circuit 16 is closed, the non-contact inspection determination circuit 13 compares the output signal of the cell with a reference value to determine whether the conductor pattern is good or not.

【0141】図22(a) に示すアンテナ部材10は導体層ま
たはセル53を限りなく第2の電極24に近づけ電圧レベル
の向上を図っているが、図22(b) に示すアンテナ部材10
はセル53と第2の電極24との間に液体を介在させて電圧
レベルの向上を図っている。
The antenna member 10 shown in FIG. 22 (a) has a conductor layer or cell 53 as close as possible to the second electrode 24 to improve the voltage level, but the antenna member 10 shown in FIG.
In order to improve the voltage level, a liquid is interposed between the cell 53 and the second electrode 24.

【0142】即ち、図22(a) の場合と異なりアンテナ部
材10はセル53を上方にして筒状容器17の底部に水密可能
に固定されており、被検査配線板2を筒状容器17の上部
に載置することによりセル53と第2の電極24は予め設定
された間隔を介し対向する。
That is, unlike the case of FIG. 22 (a), the antenna member 10 is fixed to the bottom of the cylindrical container 17 with the cell 53 facing upward in a watertight manner. By being placed on the upper part, the cell 53 and the second electrode 24 face each other at a preset interval.

【0143】絶縁体に代わるものとして少なくとも対向
するセル53と第2の電極24との間に液体(例えば水)18
が充填されており、非接触型のアンテナ部材に用いられ
る絶縁体の代わりにセル53は液体18を介し第2の電極24
と誘電的に結合されている。
As an alternative to the insulator, a liquid (for example, water) 18 is placed between at least the opposing cell 53 and the second electrode 24.
Is filled, and instead of the insulator used for the non-contact type antenna member, the cell 53 is connected to the second electrode 24 via the liquid 18.
And is inductively coupled.

【0144】非接触型のアンテナ部材に用いられる樹脂
等からなる絶縁体の誘電率が3〜10であるのに対し、水
の場合は誘電率が80程度と極めて大きいため、セル53と
第2の電極24の間隔が絶縁体の厚さと同等であれば電圧
レベルの向上が可能である。
The dielectric constant of an insulator made of resin or the like used for a non-contact type antenna member is 3 to 10, whereas the dielectric constant of water is as large as about 80. If the distance between the electrodes 24 is equal to the thickness of the insulator, the voltage level can be improved.

【0145】[0145]

【発明の効果】上述の如く本発明によれば導体パターン
の断線の有無と導体パターン間の短絡の有無を同時に検
査できる、または導体パターンの断線だけを検査する場
合は比較的短時間で検査できる検査装置と検査方法を提
供することができる。
As described above, according to the present invention, the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between the conductor patterns can be inspected simultaneously, or when inspecting only the disconnection of the conductor pattern, the inspection can be performed in a relatively short time. An inspection device and an inspection method can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明になる配線板の検査装置を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a wiring board inspection apparatus according to the present invention.

【図2】 入力波形と検出波形を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an input waveform and a detection waveform.

【図3】 本発明になる配線板検査方法を示すフローチ
ャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a wiring board inspection method according to the present invention.

【図4】 被検査配線板の一例を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing an example of a wiring board to be inspected.

【図5】 従来の布線検査機の原理を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the principle of a conventional wiring inspection machine.

【図6】 従来の配線板検査装置を示すブロック図であ
る。
FIG. 6 is a block diagram showing a conventional wiring board inspection apparatus.

【図7】 切り換えユニットの一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a switching unit.

【図8】 従来の配線板検査方法を示すフローチャート
である。
FIG. 8 is a flowchart showing a conventional wiring board inspection method.

【図9】 本発明になる別の検査装置を示すブロック図
である。
FIG. 9 is a block diagram showing another inspection apparatus according to the present invention.

【図10】 別の検査装置の動作原理を説明する図であ
る。
FIG. 10 is a diagram illustrating the operation principle of another inspection apparatus.

【図11】 別の検査装置の第1の変形例を示す図であ
る。
FIG. 11 is a view showing a first modification of another inspection apparatus.

【図12】 別の検査装置の第2の変形例を示す図であ
る。
FIG. 12 is a view showing a second modified example of another inspection apparatus.

【図13】 第2の変形例の間隔が異なる具体例を示す
図である。
FIG. 13 is a diagram showing a specific example in which the intervals of the second modified example are different.

【図14】 第2の変形例の面積が異なる具体例を示す
図である。
FIG. 14 is a diagram showing a specific example in which the area of the second modified example is different.

【図15】 別の検査装置の第3の変形例を示す図であ
る。
FIG. 15 is a view showing a third modification of another inspection apparatus.

【図16】 本発明になる更に別の検査装置を示すブロ
ック図である。
FIG. 16 is a block diagram showing still another inspection apparatus according to the present invention.

【図17】 被検査配線板装着部の構成例を示す側断面
図である。
FIG. 17 is a side sectional view showing a configuration example of a wiring board mounting portion to be inspected.

【図18】 分割型アンテナ部材の分割パターンを示す
図である。
FIG. 18 is a view showing a division pattern of a division type antenna member.

【図19】 分割型アンテナ部材の一実施例を示す図で
ある。
FIG. 19 is a view showing one embodiment of a split type antenna member.

【図20】 分割型アンテナ部材の他の実施例を示す斜
視図である。
FIG. 20 is a perspective view showing another embodiment of the split type antenna member.

【図21】 分割型アンテナ部材の簡易構成法を示す斜
視図である。
FIG. 21 is a perspective view showing a simplified configuration method of a split antenna member.

【図22】 分割型アンテナ部材の変形例を示す模式図
である。
FIG. 22 is a schematic view showing a modification of the split antenna member.

【図23】 変形例に用いられる判定回路の一例を示す
図である。
FIG. 23 is a diagram illustrating an example of a determination circuit used in a modification.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 被検査配線板 4 切り換えユニット 5 アンテナ部材 7 測定回路 8 被検査配線板装着部 9 アンテナユニット 10 アンテナ部材 11 ピーク値保持回路 12 接触検査判定回路 13 非接触検査判定回路 14 ピーク値検出回路 15 接触検査判定回路 16 スイッチ回路 17 筒状容器 18 液体 22、25、26 導体パターン 23 第1の電極 24 第2の電極 41 スイッチ素子 44 コモン端子 50 グランド部 51 絶縁層 52 導体層 53 セル 54 切り換えユニット 55 AMP 61 発振器 65 信号受信部 66 導通判定部 70 測定回路 71 電圧印加部 72 電流検出部 73 絶縁判定部 74 信号受信部 75 導通判定部 81 基台 82、83 試験プローブ 84 切換制御回路 91 透孔付き導体層 92 シールド板 93 透孔 94 絶縁層 2 Inspection wiring board 4 Switching unit 5 Antenna member 7 Measurement circuit 8 Inspection wiring board mounting part 9 Antenna unit 10 Antenna member 11 Peak value holding circuit 12 Contact inspection judgment circuit 13 Non-contact inspection judgment circuit 14 Peak value detection circuit 15 Contact Inspection judgment circuit 16 Switching circuit 17 Cylindrical container 18 Liquid 22, 25, 26 Conductor pattern 23 First electrode 24 Second electrode 41 Switch element 44 Common terminal 50 Ground part 51 Insulating layer 52 Conductive layer 53 Cell 54 Switching unit 55 AMP 61 Oscillator 65 Signal receiver 66 Conduction detector 70 Test circuit 71 Voltage application unit 72 Current detector 73 Insulation detector 74 Signal receiver 75 Conduction detector 81 Base 82, 83 Test probe 84 Switching control circuit 91 With through hole Conductor layer 92 Shield plate 93 Through hole 94 Insulation layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小川 武男 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 福井 豊 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 Fターム(参考) 2G014 AA02 AA03 AB59 AC07 AC18 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Takeo Ogawa 4-1-1, Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Fujitsu Limited (72) Inventor Yutaka Fukui 4-1-1, Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa No. 1 Fujitsu Limited F term (reference) 2G014 AA02 AA03 AB59 AC07 AC18

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の電極および第2の電極を具えた導
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る装置であって、 任意の該第1の電極を選択し、残りの該第1の電極を互
いに短絡させる切り換えユニットと、絶縁層を介して該
第2の電極の全てに誘電的に結合している導体層を有す
るアンテナ部材と、測定回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットによって選択された
該第1の電極に、電位が瞬時に変化する試験電圧、また
はパルス波形の試験電圧を印加する電圧印加部と、電流
検出部および絶縁判定部と、信号受信部および導通判定
部とを具え、 該電流検出部および該絶縁判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、短絡された残り
の該第1の電極を介して流れる電流を検出して、該導体
パターン間の短絡の有無を判定する機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、該アンテナ部材
から入力される信号を受信して、該導体パターンの断線
の有無を判定する機能を有することを特徴とする配線板
の検査装置。
1. An apparatus for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor patterns and short-circuit between the conductor patterns, Having a switching unit for selecting said first electrode and short-circuiting the remaining first electrodes to each other, and a conductor layer dielectrically coupled to all of said second electrodes via an insulating layer A voltage application unit comprising: a member; and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test voltage whose potential changes instantaneously or a test voltage having a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. , A current detecting unit and an insulation determining unit, and a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the current detecting unit and the insulation determining unit
When the test voltage is applied to the electrodes of the first electrode, a current flowing through the remaining first electrode that has been short-circuited is detected to determine whether there is a short circuit between the conductor patterns. The receiving unit and the continuity determining unit are connected to the selected first terminal.
A wiring board inspection apparatus having a function of receiving a signal input from the antenna member when the test voltage is applied to the electrode and determining whether or not the conductor pattern is disconnected.
【請求項2】 第1の電極および第2の電極を具えた導
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る方法であって、 任意の該第1の電極を選択し、残りの該第1の電極を互
いに短絡させる切り換えユニットと、絶縁層を介して該
第2の電極の全てに誘電的に結合している導体層を有す
るアンテナ部材と、測定回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットによって選択された
該第1の電極に、電位が瞬時に変化する試験電圧、また
はパルス波形の試験電圧を印加する電圧印加部と、電流
検出部および絶縁判定部と、信号受信部および導通判定
部とを具え、 該電流検出部および該絶縁判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、短絡された残り
の該第1の電極を介して流れる電流を検出して、該導体
パターン間の短絡の有無を判定する機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、該アンテナ部材
から入力される信号を受信して、該導体パターンの断線
の有無を判定する機能を有する配線板の検査装置を用い
て、 試験電圧が印加されたとき、該アンテナ部材から信号受
信部に入力される信号のレベルが、基準値を超していれ
ば選択された該第1の電極に対応する導体パターンに断
線が無く、基準値以下であれば該導体パターンに断線が
あると判定し、 短絡された残りの第1の電極を介して流れる電流値が、
基準値を超していれば選択された第1の電極に対応する
導体パターンと他の導体パターンとが短絡し、基準値以
下であれば短絡は無いと判定することを特徴とする配線
板の検査方法。
2. A method for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern and short-circuit between the conductor patterns, Having a switching unit for selecting said first electrode and short-circuiting the remaining first electrodes to each other, and a conductor layer dielectrically coupled to all of said second electrodes via an insulating layer A voltage application unit comprising: a member; and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test voltage whose potential changes instantaneously or a test voltage having a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. , A current detecting unit and an insulation determining unit, and a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the current detecting unit and the insulation determining unit
When the test voltage is applied to the electrodes of the first electrode, a current flowing through the remaining first electrode that has been short-circuited is detected to determine whether there is a short circuit between the conductor patterns. The receiving unit and the continuity determining unit are connected to the selected first terminal.
When the test voltage is applied to the electrodes, a signal input from the antenna member is received, and the test voltage is reduced by using a wiring board inspection apparatus having a function of determining whether or not the conductor pattern is disconnected. When the voltage is applied, if the level of the signal input from the antenna member to the signal receiving portion exceeds the reference value, there is no disconnection in the conductor pattern corresponding to the selected first electrode, and is equal to or less than the reference value. If so, it is determined that there is a break in the conductor pattern, and the value of the current flowing through the short-circuited first electrode is
The conductor pattern corresponding to the selected first electrode is short-circuited with another conductor pattern if the reference value is exceeded, and it is determined that there is no short-circuit if the conductor pattern is less than the reference value. Inspection methods.
【請求項3】 第1の電極および第2の電極を具えた導
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線を検査する装置であって、 発振器と、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電的
に結合している導体層を有するアンテナ部材と、信号受
信部および導通判定部とを具え、 該発振器は、該第1の電極を介して少なくとも1個の該
導体パターンに、サイン波形またはパルス波形の試験用
信号を印加可能な機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、該アンテナ部材か
ら入力される信号を受信して基準電圧と比較し、該導体
パターンの断線の有無を判定する機能を有することを特
徴とする配線板の検査装置。
3. An apparatus for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns each having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern, comprising: an oscillator; An antenna member having a conductor layer inductively coupled to all of the second electrodes; a signal receiving unit and a conduction determining unit; and the oscillator includes at least one of the first and second electrodes via the first electrode. The conductor pattern has a function of applying a test signal of a sine waveform or a pulse waveform, and the signal receiving unit and the continuity determining unit receive a signal input from the antenna member and compare the signal with a reference voltage. A wiring board inspection apparatus having a function of determining whether or not the conductor pattern is disconnected.
【請求項4】 少なくとも1個の導体パターンに印加さ
れる前記試験用信号は、周波数および信号レベルが等し
い信号、または導体パターン毎に周波数若しくは信号レ
ベルが異なる信号である請求項3記載の配線板の検査装
置。
4. The wiring board according to claim 3, wherein the test signal applied to at least one conductor pattern is a signal having the same frequency and signal level, or a signal having a different frequency or signal level for each conductor pattern. Inspection equipment.
【請求項5】 前記アンテナ部材は、第2の電極と導体
層との間隔が導体パターン毎に異なるか、または第2の
電極と導体層との対向面積が導体パターン毎に異なる
か、または第2の電極と導体層との間に介在する絶縁層
の誘電率が、該第2の電極毎に異なるよう形成された請
求項3記載の配線板の検査装置。
5. The antenna member according to claim 1, wherein an interval between the second electrode and the conductor layer is different for each conductor pattern, or a facing area between the second electrode and the conductor layer is different for each conductor pattern. 4. The wiring board inspection apparatus according to claim 3, wherein the dielectric constant of the insulating layer interposed between the second electrode and the conductor layer is different for each of the second electrodes.
【請求項6】 第1の電極および第2の電極を具えた導
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線を検査する方法であって、 発振器と、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電的
に結合している導体層を有するアンテナ部材と、信号受
信部および導通判定部とを具え、 該発振器は、該第1の電極を介して少なくとも1個の該
導体パターンに、サイン波形またはパルス波形の試験用
信号を印加可能な機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、該アンテナ部材か
ら入力される信号を受信して基準電圧と比較し、該導体
パターンの断線の有無を判定する機能を有する配線板の
検査装置を用い、 該第1の電極を介し少なくとも1個の導体パターンにサ
イン波形またはパルス波形の試験用信号を印加すると共
に、第2の電極の全てに対向するよう被検査配線板上に
載置した該アンテナ部材から入力される信号を受信し、 該信号の出力電圧を、該導体パターンに断線がない時の
基準出力電圧と比較して、断線の有無を検知することを
特徴とする配線板の検査方法。
6. A method of inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern, comprising: an oscillator and an insulating layer interposed therebetween. An antenna member having a conductor layer inductively coupled to all of the second electrodes; a signal receiving unit and a conduction determining unit; and the oscillator includes at least one of the first and second electrodes via the first electrode. The conductor pattern has a function of applying a test signal of a sine waveform or a pulse waveform, and the signal receiving unit and the continuity determining unit receive a signal input from the antenna member and compare the signal with a reference voltage. Applying a test signal of a sine waveform or a pulse waveform to at least one conductor pattern via the first electrode, using a wiring board inspection device having a function of determining whether or not the conductor pattern is disconnected; Receiving a signal input from the antenna member mounted on the wiring board to be inspected so as to face all of the two electrodes, and outputting an output voltage of the signal with a reference output voltage when there is no disconnection in the conductor pattern. A method for inspecting a wiring board, comprising detecting the presence or absence of disconnection in comparison.
【請求項7】 第1の電極および第2の電極を具えた導
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る装置であって、 全ての該第1の電極に接続され任意の該第1の電極を選
択すると共に残りの該第1の電極を短絡させる切り換え
ユニットと、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電
的に結合している導体層を有するアンテナ部材と、測定
回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットにより選択された該
第1の電極に、サイン波形またはパルス波形の試験用波
信号を印加する発振器と、信号受信部および導通判定部
とを具え、 該信号受信部および該導通判定部は、該第1の電極に試
験用信号が印加されたとき、該アンテナ部材から入力さ
れる信号を受信して、該導体パターンの断線または短絡
の有無を検知する機能を有することを特徴とする配線板
の検査装置。
7. An apparatus for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns each having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor patterns and short-circuit between the conductor patterns, A switching unit connected to the first electrode for selecting any of the first electrodes and short-circuiting the remaining first electrodes; and a dielectric unit for all of the second electrodes via an insulating layer. An antenna member having a conductor layer coupled thereto, and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test wave signal having a sine waveform or a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. An oscillator, a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the signal receiving unit and the conduction determining unit receive a signal input from the antenna member when a test signal is applied to the first electrode. And the conductor A wiring board inspection device having a function of detecting the presence or absence of disconnection or short circuit of a pattern.
【請求項8】 第1の電極および第2の電極を具えた導
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る方法であって、 全ての該第1の電極に接続され任意の該第1の電極を選
択すると共に残りの該第1の電極を短絡させる切り換え
ユニットと、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電
的に結合している導体層を有するアンテナ部材と、測定
回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットにより選択された該
第1の電極に、サイン波形またはパルス波形の試験用波
信号を印加する発振器と、信号受信部および導通判定部
とを具え、 該信号受信部および該導通判定部は、該第1の電極に試
験用信号が印加されたとき、該アンテナ部材から入力さ
れる信号を受信して、該導体パターンの断線または短絡
の有無を検知する機能を有する配線板の検査装置を用い
て、 該切り換えユニットを介して任意の導体パターンにサイ
ン波形またはパルス波形の試験用信号を印加すると共
に、第2の電極の全てに対向するよう被検査配線板上に
載置した該アンテナ部材を介して入力される信号を受信
し、 導体パターンが断線していれば該信号の出力電圧が低下
し、隣接する導体パターンと短絡していれば該信号の出
力電圧が増大することを利用して、該導体パターンの断
線と短絡の有無を検知することを特徴とする配線板の検
査方法。
8. A method for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern and short-circuit between the conductor patterns, A switching unit connected to the first electrode for selecting any of the first electrodes and short-circuiting the remaining first electrodes; and a dielectric unit for all of the second electrodes via an insulating layer. An antenna member having a conductor layer coupled thereto, and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test wave signal having a sine waveform or a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. An oscillator, a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the signal receiving unit and the conduction determining unit receive a signal input from the antenna member when a test signal is applied to the first electrode. And the conductor A test signal of a sine waveform or a pulse waveform is applied to an arbitrary conductor pattern through the switching unit using a wiring board inspection device having a function of detecting the presence / absence of disconnection or short circuit of the pattern, A signal input through the antenna member placed on the wiring board to be inspected so as to face all of the electrodes is received. If the conductor pattern is broken, the output voltage of the signal decreases, and the adjacent conductor A method for inspecting a wiring board, comprising detecting whether there is a disconnection and a short circuit in the conductor pattern by utilizing an increase in output voltage of the signal if the pattern is short-circuited.
【請求項9】 前記アンテナ部材は、対向する第2の電
極毎に分割された導体片からなる複数のセルを有し、そ
れぞれのセルから個別に信号を取り出すことが可能であ
る請求項3、5または7記載の配線板の検査装置。
9. The antenna member has a plurality of cells each composed of a conductor piece divided for each opposing second electrode, and is capable of individually extracting a signal from each cell. 8. The inspection apparatus for a wiring board according to 5 or 7.
JP35756299A 1999-03-26 1999-12-16 Wiring board inspection equipment Expired - Fee Related JP4277398B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35756299A JP4277398B2 (en) 1999-03-26 1999-12-16 Wiring board inspection equipment

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8368199 1999-03-26
JP11-83681 1999-03-26
JP35756299A JP4277398B2 (en) 1999-03-26 1999-12-16 Wiring board inspection equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000346894A true JP2000346894A (en) 2000-12-15
JP4277398B2 JP4277398B2 (en) 2009-06-10

Family

ID=26424716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35756299A Expired - Fee Related JP4277398B2 (en) 1999-03-26 1999-12-16 Wiring board inspection equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4277398B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194405A (en) * 2000-01-07 2001-07-19 Oht Kk Probe for inspecting substrate and inspection/method for substrate
WO2001075461A1 (en) * 2000-04-03 2001-10-11 Oht Inc. Tester, testing unit and method of manufacturing tester
WO2004072666A1 (en) * 2003-02-14 2004-08-26 Oht Inc. Pattern inspecting sensor and inspecting device and inspecting metod using pattern inspecting sensor
JP2006162525A (en) * 2004-12-10 2006-06-22 Hioki Ee Corp Circuit board inspecting device and circuit board inspection method
JP2007127659A (en) * 2002-11-30 2007-05-24 Oht Inc Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method
JP2010038742A (en) * 2008-08-06 2010-02-18 Fujikura Ltd Device for inspecting circuit disconnection
JP2011112615A (en) * 2009-11-30 2011-06-09 Nidec-Read Corp Substrate inspection device
JP6202452B1 (en) * 2016-06-01 2017-09-27 オー・エイチ・ティー株式会社 Non-contact type substrate inspection apparatus and inspection method thereof

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62237363A (en) * 1986-03-27 1987-10-17 ノーザン・テレコム・リミテッド Electromagnetic radiation inspection method and device
JPH05322959A (en) * 1992-05-26 1993-12-07 Sharp Corp Inspection device of circuit substrate
JPH05343484A (en) * 1992-06-04 1993-12-24 Oputo Syst:Kk Inspecting apparatus for circuit pattern
JPH08278342A (en) * 1995-04-06 1996-10-22 Okano Denki Kk Method and apparatus for inspection of conductor circuit board
JPH09127166A (en) * 1995-10-30 1997-05-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electromagnetic radiation measuring device
JP2626626B2 (en) * 1995-05-29 1997-07-02 富士通株式会社 Wiring inspection method for printed circuit boards
JPH09264919A (en) * 1996-03-28 1997-10-07 Okano Hightech Kk Method and device for inspecting board
JPH09304456A (en) * 1996-05-20 1997-11-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Apparatus for measuring electromagnetic radiation
JPH1062467A (en) * 1996-06-12 1998-03-06 Mitsubishi Electric Corp Unnecessary electromagnetic wave measuring system
JPH10115653A (en) * 1996-10-15 1998-05-06 Okano Hightech Kk Conduction inspection device and inspection method thereof and its inspection probe
JPH10239375A (en) * 1997-02-25 1998-09-11 Nec Corp Inspecting method for circuit substrate
JPH10239371A (en) * 1997-02-28 1998-09-11 Nippon Densan Read Kk Substrate inspection instrument and substrate inspection method
JPH1144724A (en) * 1997-07-25 1999-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit board inspecting device
JP2000241483A (en) * 1999-02-19 2000-09-08 Fujitsu Ltd Inspection method and inspection device of printed board
JP3788129B2 (en) * 1999-03-26 2006-06-21 富士通株式会社 Wiring board inspection apparatus and inspection method

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62237363A (en) * 1986-03-27 1987-10-17 ノーザン・テレコム・リミテッド Electromagnetic radiation inspection method and device
JPH05322959A (en) * 1992-05-26 1993-12-07 Sharp Corp Inspection device of circuit substrate
JPH05343484A (en) * 1992-06-04 1993-12-24 Oputo Syst:Kk Inspecting apparatus for circuit pattern
JPH08278342A (en) * 1995-04-06 1996-10-22 Okano Denki Kk Method and apparatus for inspection of conductor circuit board
JP2626626B2 (en) * 1995-05-29 1997-07-02 富士通株式会社 Wiring inspection method for printed circuit boards
JPH09127166A (en) * 1995-10-30 1997-05-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electromagnetic radiation measuring device
JPH09264919A (en) * 1996-03-28 1997-10-07 Okano Hightech Kk Method and device for inspecting board
JPH09304456A (en) * 1996-05-20 1997-11-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Apparatus for measuring electromagnetic radiation
JPH1062467A (en) * 1996-06-12 1998-03-06 Mitsubishi Electric Corp Unnecessary electromagnetic wave measuring system
JPH10115653A (en) * 1996-10-15 1998-05-06 Okano Hightech Kk Conduction inspection device and inspection method thereof and its inspection probe
JPH10239375A (en) * 1997-02-25 1998-09-11 Nec Corp Inspecting method for circuit substrate
JPH10239371A (en) * 1997-02-28 1998-09-11 Nippon Densan Read Kk Substrate inspection instrument and substrate inspection method
JPH1144724A (en) * 1997-07-25 1999-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit board inspecting device
JP2000241483A (en) * 1999-02-19 2000-09-08 Fujitsu Ltd Inspection method and inspection device of printed board
JP3788129B2 (en) * 1999-03-26 2006-06-21 富士通株式会社 Wiring board inspection apparatus and inspection method

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194405A (en) * 2000-01-07 2001-07-19 Oht Kk Probe for inspecting substrate and inspection/method for substrate
WO2001075461A1 (en) * 2000-04-03 2001-10-11 Oht Inc. Tester, testing unit and method of manufacturing tester
JP2007127659A (en) * 2002-11-30 2007-05-24 Oht Inc Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method
WO2004072666A1 (en) * 2003-02-14 2004-08-26 Oht Inc. Pattern inspecting sensor and inspecting device and inspecting metod using pattern inspecting sensor
JP2004264307A (en) * 2003-02-14 2004-09-24 Oht Inc Sensor for inspecting pattern, and inspecting apparatus and inspection method using the same
JP2006162525A (en) * 2004-12-10 2006-06-22 Hioki Ee Corp Circuit board inspecting device and circuit board inspection method
JP4559204B2 (en) * 2004-12-10 2010-10-06 日置電機株式会社 Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method
JP2010038742A (en) * 2008-08-06 2010-02-18 Fujikura Ltd Device for inspecting circuit disconnection
JP2011112615A (en) * 2009-11-30 2011-06-09 Nidec-Read Corp Substrate inspection device
TWI498570B (en) * 2009-11-30 2015-09-01 Nidec Read Corp Substrate inspection device
JP6202452B1 (en) * 2016-06-01 2017-09-27 オー・エイチ・ティー株式会社 Non-contact type substrate inspection apparatus and inspection method thereof
JP2017215257A (en) * 2016-06-01 2017-12-07 オー・エイチ・ティー株式会社 Contactless circuit board tester and testing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP4277398B2 (en) 2009-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0719418B1 (en) Printed circuit board tester
US5517110A (en) Contactless test method and system for testing printed circuit boards
JP3228982B2 (en) In-circuit test equipment
US6373258B2 (en) Non-contact board inspection probe
US6630832B1 (en) Method and apparatus for the electrical testing of printed circuit boards employing intermediate layer grounding
JPH09152457A (en) Electric wiring inspection method and apparatus
KR19980702943A (en) Manufacturing defect analyzer with improved detection range
US6727712B2 (en) Apparatus and methods for testing circuit boards
JP4277398B2 (en) Wiring board inspection equipment
KR20070083501A (en) Inspecting apparatus, inspecting method and sensor for inspecting apparatus
JP3788129B2 (en) Wiring board inspection apparatus and inspection method
US11372024B2 (en) Probe card test apparatus
EP1415166B1 (en) Apparatus and method for testing bare circuit boards
JP2006200973A (en) Circuit board inspection method and its device
JP3599929B2 (en) Circuit board pattern capacitance measurement method
JPH0964126A (en) Connection ring for wafer prober
JP2000232141A (en) Method for testing conduction of substrate for semiconductor package
JP2002131365A (en) Method and device for inspection
JP2004361249A (en) Substrate inspection device
KR980012185A (en) Electrical test equipment for wafers
JP2002043721A (en) Method and device for inspecting printed wiring board
JPH08110362A (en) Method for inspecting continuity of printed wiring board containing fine pattern
JP3271605B2 (en) Printed board soldering failure detection device
JPH10206484A (en) Noncontact tester
KR20000049651A (en) Test fixture for PCB

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061006

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080811

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080826

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081020

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090217

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090302

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120319

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees