JP2000346813A - Inspection device for surface of article - Google Patents

Inspection device for surface of article

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JP2000346813A
JP2000346813A JP11159209A JP15920999A JP2000346813A JP 2000346813 A JP2000346813 A JP 2000346813A JP 11159209 A JP11159209 A JP 11159209A JP 15920999 A JP15920999 A JP 15920999A JP 2000346813 A JP2000346813 A JP 2000346813A
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JP
Japan
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image
article
inspected
inspection
imaging
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JP11159209A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuhiro Minami
充弘 南
Norio Taneda
規男 種田
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Kanebo Ltd
Original Assignee
Kanebo Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable a high-speed inspection of two or more different thickness surfaces on a conveyer to be performed by picking up an image of reflection light from a surface to be inspected by the use of an optical lens whose image angle is 0 degree. SOLUTION: When an article to be inspected 2 is conveyed to a position of an inspection device 1 by a linear conveyer, an image picked up by an image picking-up mechanism 20 is stored in a memory. Then, the image is image- processed by a processing mechanism 20 so that dirtiness of two surfaces 2a' to 2d' of the article 2 or mixed-in condition of foreign matters can be detected. In this case, a lens whose image angle is 0 degree is used for an optical lens part of an optical part 25, and thereby a side surface 2e' is not detected by a CCD image sensor 22. Accordingly, there is no need of processing such as making in an image processing part and the inspection can be made without dead angle. Consequently, it is possible to perform the inspection with one image picking-up mechanism and to incorporate the inspection process on the way of conveying process, and further to enable high speed processing with an inexpensive system.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、医薬用のバイアル
瓶のような中空の瓶形状の物品や、前記バイアル瓶のゴ
ム栓等の微小物品であって、撮像方向に厚みを有する被
検査物品の2以上の厚みが異なる表面を検査する装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an article in the form of a hollow bottle, such as a vial for medicine, or a small article, such as a rubber stopper of the vial, which has a thickness in an imaging direction. The present invention relates to an apparatus for inspecting two or more surfaces having different thicknesses.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば、医療用のバイアル瓶やそ
の瓶用のゴム栓は、医療用途であることから全品外観検
査を行なう必要があり、目視検査のほか、一部において
は自動検査装置の開発もなされてきた。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, medical vials and rubber stoppers for the bottles need to be inspected for their appearance because they are used for medical purposes. Has also been developed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】前記バイアル瓶用のゴ
ム栓は非常に複雑な形状を有しており、撮像方向に厚み
を有しかつその形状が段付き形状であるため、2以上の
高さが異なる表面を撮像することとなり、その全ての表
面に同時かつ均一な照明をすることは困難であった。特
に前記バイアル瓶用のゴム栓は溝部の下部に微小な凹部
を有するため、その底面部の照明は非常に困難であっ
た。これを解決すべく、それぞれの面に個別の照明装置
及び撮像カメラを配置することも考えられるが、これで
は複数の撮像カメラにて自動検査を行う必要があり、撮
像した画像の判定処理が複雑になり、装置価格が高騰す
る。また、前記バイアル瓶用のゴム栓のように、表面と
側面がある形状の物品を通常のレンズを通して撮像カメ
ラで撮影すると、レンズの画角が0度ではないため、物
品の側面の映像が表面映像と同時に撮影され、その側面
の映像は通常照明光が十分に当たらず表面より明度が低
くなり、判定処理部での画像処理が複雑になり、装置価
格が高騰する。
The rubber stopper for the vial has a very complicated shape, has a thickness in the imaging direction, and has a stepped shape. Therefore, it is difficult to simultaneously and uniformly illuminate all the surfaces. Particularly, since the rubber stopper for the vial has a minute concave portion below the groove portion, it is very difficult to illuminate the bottom portion thereof. In order to solve this problem, it is conceivable to dispose an individual lighting device and an imaging camera on each surface. However, this requires automatic inspection with a plurality of imaging cameras, and the determination process of a captured image is complicated. And the price of the equipment rises. In addition, when an article having a shape having a surface and a side face, such as the rubber stopper for the vial bottle, is photographed by an imaging camera through a normal lens, since the angle of view of the lens is not 0 °, an image of the side face of the article is displayed on the surface. The image of the side is taken simultaneously with the image, and the image of the side is usually not sufficiently illuminated and the brightness is lower than that of the surface, so that the image processing in the judgment processing unit becomes complicated and the price of the apparatus rises.

【0004】そこで、本願発明は、上述の問題点を解決
し、主として撮像方向に厚みを有する被検査物品の2以
上の厚みが異なる表面を、搬送コンベア上で高速に検査
する安価な装置を提供することにある。
Accordingly, the present invention solves the above-mentioned problems and provides an inexpensive apparatus for inspecting a surface of an article to be inspected having a thickness mainly in an imaging direction having two or more different thicknesses at high speed on a conveyor. Is to do.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本願発明の請求項1にか
かる発明は、撮像方向に厚みを有する被検査物品の2以
上の厚みが異なる表面を検査する装置であって、被検査
物品の検査面に平行光を照射する照明機構と、前記検査
面からの反射光を撮像する撮像機構と、前記撮像機構か
らの映像信号を処理する処理機構とから構成され、前記
撮像機構は画角が0度である光学レンズ部と2次元カメ
ラ部とから構成された検査装置である。また、請求項2
にかかる発明は、照明機構は光源部と集光レンズ部と偏
光板1とから構成されるとともに、撮像機構の2次元カ
メラ部と被検査物品との間に偏光板2を設け、偏光板1
と偏光板2とを互いに偏光角度が直角となるように設置
したものである請求項1記載の検査装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a surface of an article to be inspected having a thickness in an imaging direction having two or more different thicknesses. An illumination mechanism for irradiating the surface with parallel light, an imaging mechanism for imaging reflected light from the inspection surface, and a processing mechanism for processing a video signal from the imaging mechanism, wherein the imaging mechanism has a field angle of 0. This is an inspection device including an optical lens unit and a two-dimensional camera unit. Claim 2
According to the invention, the illumination mechanism includes a light source unit, a condensing lens unit, and a polarizing plate 1, and the polarizing plate 2 is provided between the two-dimensional camera unit of the imaging mechanism and the article to be inspected.
2. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the polarizing plate and the polarizing plate are installed so that their polarization angles are perpendicular to each other.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態の一
について図面を用いて説明する。なお、図中同一符号は
同一または相当部分を示す。また、今回開示された実施
の形態はすべての点で例示であって制限的なものではな
いと考えられるべきである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. The embodiments disclosed this time are to be considered in all respects as illustrative and not restrictive.

【0007】図1に本願発明にかかる検査装置(1)の
全体構成図を側面から見た図を示す。図1において被検
査物品(2)は矢示X方向に搬送されるものとする。ま
た、図2に本願発明にかかる検査装置(1)の全体構成
図を斜め上方から見た図を示す。図2において被検査物
品(2)は矢示Y方向に搬送されるものとする。
FIG. 1 shows a side view of the overall configuration of an inspection apparatus (1) according to the present invention. In FIG. 1, the article to be inspected (2) is transported in the direction indicated by the arrow X. FIG. 2 is a diagram showing the entire configuration of the inspection apparatus (1) according to the present invention as viewed obliquely from above. In FIG. 2, the article to be inspected (2) is transported in the direction indicated by the arrow Y.

【0008】図1および図2からわかるように、本願発
明の検査装置(1)は、撮像方向に厚みを有する被検査
物品(2)の4つの厚みが異なる表面(2a)、(2
b)、(2c)および(2d)を検査する装置であっ
て、照明機構(10)と撮像機構(20)と処理機構
(30)とから構成されるものである。そして、照明機
構(10)は光源部(11)と集光レンズ部(12)と
偏光板1(13)とから構成され、撮像機構(20)
は、光学レンズ部(21)と2次元カメラ部(22)と
開口絞り部(23)、偏光板2(14)を含んで構成さ
れている。
As can be seen from FIG. 1 and FIG. 2, the inspection apparatus (1) of the present invention has four surfaces (2a), (2) of an object to be inspected (2) having a thickness in the imaging direction.
(b) An apparatus for inspecting (2c) and (2d), comprising an illumination mechanism (10), an imaging mechanism (20), and a processing mechanism (30). The illumination mechanism (10) includes a light source section (11), a condenser lens section (12), and a polarizing plate 1 (13), and an imaging mechanism (20).
Is configured to include an optical lens unit (21), a two-dimensional camera unit (22), an aperture stop unit (23), and a polarizing plate 2 (14).

【0009】次に、図3に照明機構(10)と撮像機構
(20)の断面図を示す。図1から図3に示すように、
照明光はハーフミラー(24)により例えば水平方向か
ら鉛直下向きに方向を変えて被検査物品(2)に落射照
明されるように構成されている。また、被検査物品から
の反射光は、前記ハーフミラー(24)を透過して光学
レンズ部(21)に到達するように構成されている。す
なわち、撮像機構(20)においては、光源部(11)
から照射された照射光は、ハーフミラー(24)で反射
されて、搬送コンベア(3)上に載置されて搬送された
被検査物品(2)の表面(2a)、(2b)、(2c)
および(2d)にその鉛直上方より落射照明される。こ
の被検査物品の当該表面(2a)、(2b)、(2c)
および(2d)からの反射光は、照射光とは逆方向に進
みハーフミラー(24)を透過し、撮像機構(2)の画
角が0度の光学レンズ部(21)で集光されるとともに
開口絞り(23)を通過して、2次元カメラ(22)で
画像として検出される。図3に反射光の光路(17)を
示す。この場合、光学レンズ部(21)と被検査物品
(2)との間には反射光を集束させるためのレンズがな
く、被写界距離を大きくすることができる結果、被写界
深度が深くなる。このため、フォーカスの合う範囲が広
くなるので、被検査物品の表面に高低差があっても、被
検査物品の表面全体がフォーカスの合う範囲内になるよ
うに設計されている。
Next, FIG. 3 shows a sectional view of the illumination mechanism (10) and the image pickup mechanism (20). As shown in FIGS. 1 to 3,
The illuminating light is configured to change its direction from, for example, a horizontal direction to a vertically downward direction by a half mirror (24) and to be incidentally illuminated on the inspection object (2). Further, the reflected light from the inspection object is configured to pass through the half mirror (24) and reach the optical lens unit (21). That is, in the imaging mechanism (20), the light source unit (11)
Are reflected by the half mirror (24), and the surfaces (2a), (2b), and (2c) of the inspected article (2) placed and transported on the transport conveyor (3). )
And (2d) are illuminated from above vertically. The surface (2a), (2b), (2c) of the inspected article
The reflected light from (2d) travels in the opposite direction to the irradiation light, passes through the half mirror (24), and is condensed by the optical lens unit (21) having an image angle of 0 ° of the imaging mechanism (2). And passes through the aperture stop (23) and is detected as an image by the two-dimensional camera (22). FIG. 3 shows the optical path (17) of the reflected light. In this case, there is no lens for converging the reflected light between the optical lens portion (21) and the article to be inspected (2), so that the field distance can be increased and the depth of field is deep. Become. For this reason, the focused range is widened, so that even if the surface of the article to be inspected has a height difference, the entire surface of the article to be inspected is designed to be within the focused range.

【0010】照明機構(10)は、検査対象面である被
検査物品(2)の上部表面を均一に照明する照明装置で
あり、被検査物品の上方に載置されたハーフミラー(2
4)、白色光源であるハロゲンランプ(11)、平行光
とする集光レンズ(12)、偏光板1(13)、偏光板
2(14)、ランプの熱線をカットするフィルタ(1
5)から構成される。図3に照射光の光路(16)を示
す。偏光板1(13)および偏光板2(14)とは、そ
の偏光角度が互いに直角となる構成を有する。この場
合、照射される照明光は検査対象である面に対して鉛直
上方からの平行光であるため、表面(2a)、(2
b)、(2c)および(2d)面のように各面に高低差
があり、複雑な形状を有している場合であっても、すべ
ての面で明度差なく均一な撮像画像を得ることができ
る。すなわち、従来は被検査物品(2)の上方にリング
照明を配置しており、このような均一な撮像画像を得る
ことができず、撮影画像は図5のようになっていた。こ
の図5からわかるように、被検査物品(2)が複雑な凹
凸形状を有する場合、表面の画像に大きく明暗部分がで
きてしまう。最も明るく撮像されるのは被検査物品
(2)の表面(2a)の部分を撮像した部分(51)で
あり、次に明るいのが表面(2b)の部分を撮像した部
分(52)であり、次に明るいのが表面(2c)の部分
を撮像した部分(53)であり、下部の微小な凹部底面
の表面(2d)は、照明光が届かず暗映像(55)とな
る。
The illumination mechanism (10) is an illumination device for uniformly illuminating the upper surface of the article (2) to be inspected, and includes a half mirror (2) placed above the article to be inspected.
4), a halogen lamp (11) as a white light source, a condensing lens (12) for parallel light, a polarizing plate 1 (13), a polarizing plate 2 (14), and a filter (1) for cutting off heat rays of the lamp.
5). FIG. 3 shows an optical path (16) of irradiation light. The polarizing plate 1 (13) and the polarizing plate 2 (14) have a configuration in which the polarization angles are perpendicular to each other. In this case, the illuminating light to be irradiated is parallel light from above vertically to the surface to be inspected, so that the surfaces (2a), (2)
(b) Even if each surface has a height difference such as the (2c) and (2d) surfaces and has a complicated shape, it is possible to obtain a uniform captured image without a brightness difference on all surfaces. Can be. That is, conventionally, a ring illumination is arranged above the inspected article (2), and such a uniform captured image cannot be obtained, and the captured image is as shown in FIG. As can be seen from FIG. 5, when the article to be inspected (2) has a complicated uneven shape, large bright and dark portions are formed in the surface image. The brightest image is the portion (51) obtained by imaging the surface (2a) of the inspected article (2), and the brightest image is the portion (52) obtained by imaging the surface (2b). The next brightest part is the part (53) obtained by imaging the part of the surface (2c), and the surface (2d) of the bottom surface of the minute concave part at the bottom becomes dark image (55) because illumination light does not reach.

【0011】撮像機構(20)は、2次元カメラ部であ
るCCDイメージセンサ(22)とそのレンズ(26)
および光学部(25)から構成されており、光学部(2
5)には、光学レンズ部(21)、開口絞り(23)、
ハーフミラー(24)を内蔵する。また、CCDイメー
ジセンサ(22)はそのレンズ(26)によりハーフミ
ラー(24)が視野内に入るように、かつ、本実施の形
態ではレンズ(26)が鉛直下向きになるように配設さ
れている。また、CCDイメージセンサ(22)は、例
えば512×480画素のCCDにより構成され、被検
査物品(2)の表面(2a)、(2b)、(2c)およ
び(2d)の状態に対応する2次元的な明暗パターンを
撮影するものである。
The image pickup mechanism (20) includes a CCD image sensor (22) as a two-dimensional camera unit and a lens (26) thereof.
And an optical unit (25).
5) includes an optical lens unit (21), an aperture stop (23),
A half mirror (24) is built in. Further, the CCD image sensor (22) is disposed so that the half mirror (24) enters the field of view by its lens (26), and in the present embodiment, the lens (26) faces vertically downward. I have. The CCD image sensor (22) is composed of, for example, a CCD of 512 × 480 pixels, and corresponds to the states of the surfaces (2a), (2b), (2c) and (2d) of the inspected article (2). It captures a dimensional light-dark pattern.

【0012】図6に画角が0度ではない光学レンズを用
いて上記被検査物品(2)を撮影した場合の映像画像の
一例を示す。この図6に示すように被検査物品(2)の
表面(2a)の映像(61)、表面(2b)の映像(6
2)、表面(2c)の映像(63)、表面(2d)の映
像(64)だけではなく、溝部を形成する側面(2e)
の影(65)により必要な映像(63)の一部が欠落
し、微小凹部側面の影(66)により必要な映像(6
4)の一部が欠落することになる。このように通常のレ
ンズでは無限遠望遠にしない限り被検査物品(2)の表
面を画像として撮影することができない。本発明の場
合、光学レンズ部(21)は、画角(撮影される範囲を
角度で表したもの)が0度であるレンズを用いており、
被検査物品(2)からの反射光の主光線(17)が光軸
に平行となるものである。このように、本発明では画角
が0度であることにより側面(2e)がCCDイメージ
センサ(22)に検出されることがないため、画像処理
部においてマスキング等の処理が不要となるとともに死
角のなく検査できるため、検査装置の構成が簡易とな
る。
FIG. 6 shows an example of a video image when the object to be inspected (2) is photographed using an optical lens having an angle of view other than 0 °. As shown in FIG. 6, an image (61) of the surface (2a) of the inspected article (2) and an image (6) of the surface (2b)
2) Not only the image (63) of the surface (2c) and the image (64) of the surface (2d), but also the side surface (2e) forming the groove.
A part of the necessary image (63) is missing due to the shadow (65) of the image, and the necessary image (6) is
Part of 4) will be missing. As described above, the surface of the article to be inspected (2) cannot be photographed as an image unless a normal lens is used at infinity telephoto. In the case of the present invention, the optical lens unit (21) uses a lens having an angle of view (a range in which an image is captured is represented by an angle) of 0 degree.
The principal ray (17) of the reflected light from the inspected article (2) is parallel to the optical axis. As described above, according to the present invention, since the angle of view is 0 degree, the side surface (2e) is not detected by the CCD image sensor (22). Since the inspection can be performed without any trouble, the configuration of the inspection apparatus is simplified.

【0013】ハーフミラー(24)は、照射光の光路
(16)に対して45°傾けられ、照明機構(10)か
らの照明光の50%を反射してコンベア(3)上の被検
査物品(2)に照射する。また、ハーフミラー(24)
は、被検査物品(2)の検査面である表面(2a)、
(2b)、(2c)および(2d)で反射された反射光
の50%を光学レンズ(21)に到達させるべく透過さ
せる。
The half mirror (24) is inclined by 45 ° with respect to the optical path (16) of the illuminating light, reflects 50% of the illuminating light from the illuminating mechanism (10) and reflects the object to be inspected on the conveyor (3). Irradiate (2). Half mirror (24)
Is a surface (2a) which is an inspection surface of the article to be inspected (2);
50% of the reflected light reflected in (2b), (2c) and (2d) is transmitted to reach the optical lens (21).

【0014】開口絞り(23)は、その可動部を動作さ
せることにより、その円形形状を有する開口直径をほぼ
連続的に変化させることができるように構成されてい
る。この円形の開口直径を変化させ、被検査物品(2)
の検査面である表面(2a)、(2b)、(2c)およ
び(2d)との高低差に応じて開口直径を絞り込むこと
ができる。このようにすることより、検査に適した撮像
が光学レンズ(21)を介してCCDイメージセンサ
(22)に結像されることとなる。なお、照明機構(1
0)のハロゲンランプ(11)には大光量のランプを用
いて開口部の絞りを小さくするようにしている。
The aperture stop (23) is configured so that its circular opening can be changed substantially continuously by operating its movable part. By changing the diameter of this circular opening, the inspected article (2)
The aperture diameter can be narrowed according to the height difference from the surfaces (2a), (2b), (2c), and (2d), which are the inspection surfaces. By doing so, an image suitable for inspection is formed on the CCD image sensor (22) via the optical lens (21). The lighting mechanism (1
As the halogen lamp (11) of (0), a large light amount lamp is used to reduce the aperture at the opening.

【0015】次に、処理機構(30)について説明す
る。処理機構(30)は、撮像画像データを処理、判定
するものであり、画像の特徴データを抽出する画像処理
部、良品物品の特徴データを蓄えておくメモリ、良品物
品と撮像画像の特徴を比較し良、不良を判定する判定部
から構成される。
Next, the processing mechanism (30) will be described. A processing mechanism (30) for processing and determining the captured image data; an image processing unit for extracting characteristic data of the image; a memory for storing characteristic data of non-defective products; It is composed of a judgment unit for judging good or bad.

【0016】次に、本願発明の検査装置(1)を用いて
被検査物品(2)の4つの厚みが異なる表面(2a)、
(2b)、(2c)および(2d)を検査する際の動作
を説明する。
Next, using the inspection apparatus (1) of the present invention, the surface (2a) of the object to be inspected (2) having four different thicknesses,
The operation at the time of inspecting (2b), (2c) and (2d) will be described.

【0017】まず、被検査物品(2)は、その上下方向
を図2に示す方向にして、搬送機構である直線上のコン
ベア(3)に載置されて検査装置(1)の位置まで矢示
Y方向に搬送される。
First, the article to be inspected (2) is placed on a linear conveyor (3), which is a transport mechanism, with its vertical direction as shown in FIG. 2, and is moved to the position of the inspection apparatus (1). The sheet is conveyed in the indicated Y direction.

【0018】次いで、コンベア(3)上の被検査物品
(2)の検知手段、例えば光電センサ(図示しない)に
より、被検査物品(2)が検査装置(1)エリアに入っ
たことを検知し、その信号を処理機構(30)に入力す
る。処理機構(30)においては、前記光電センサから
の信号を受けて撮像機構(20)で撮像した撮像画像を
画像メモリに蓄積する。なお、搬送コンベア(3)は間
歇運転するものでも連続運転するものでも構わないが、
処理能力向上のためには連続運転するほうが好ましい。
Next, the detection of the article (2) on the conveyor (3), for example, a photoelectric sensor (not shown), detects that the article (2) has entered the area of the inspection apparatus (1). , Is input to the processing mechanism (30). The processing mechanism (30) receives a signal from the photoelectric sensor and accumulates an image captured by the imaging mechanism (20) in an image memory. The conveyor (3) may be operated intermittently or continuously.
It is preferable to operate continuously to improve the processing capacity.

【0019】CCDイメージセンサ(22)を介して蓄
積された画像の一例を図4に示す。図4においては被検
査物品(2)の表面(2a)、(2b)、(2c)およ
び(2d)が撮影されているが、側面(2e)は撮影さ
れていないことがわかる。この場合、被検査物品(2)
からの反射光は、ハーフミラー(24)を通過して光学
レンズ(21)に入射し、その出射光がCCDイメージ
センサ上に結像する。
FIG. 4 shows an example of an image stored through the CCD image sensor (22). In FIG. 4, it can be seen that the surface (2a), (2b), (2c) and (2d) of the inspected article (2) are photographed, but the side surface (2e) is not photographed. In this case, the inspected article (2)
The reflected light from the lens passes through the half mirror (24) and enters the optical lens (21), and the emitted light forms an image on the CCD image sensor.

【0020】この撮像機構(20)における撮像画像
を、処理機構(30)にて2次元画像を画像処理するこ
とにより、被検査物品(2)の表面(2a)、(2
b)、(2c)および(2d)の汚れ、異物混入などの
欠点を検出することができるものとなる。
The image picked up by the image pick-up mechanism (20) is subjected to image processing of a two-dimensional image by the processing mechanism (30), whereby the surfaces (2a), (2)
Defects such as b), (2c) and (2d) can be detected, such as contamination and foreign matter.

【0021】処理機構(30)にて被検査物品(2)の
表面(2a)、(2b)、(2c)および(2d)の検
査が終わり、該検査結果として表面に異常がある不良品
は不良品排出工程に排出される。この工程は例えば空気
ノズルとシュートとから構成されるもので、該不良品が
シュート位置に来ると空気ノズルから圧縮空気を排出
し、該不良品をシュートに導くものである。一方検査結
果が正常であった被検査物品(2)に対してはかかる空
気ノズルは作動せず、搬送コンベア上を次工程に進んで
行くこととなる。
Inspection of the surface (2a), (2b), (2c) and (2d) of the article (2) to be inspected by the processing mechanism (30) is completed. It is discharged to the defective product discharge process. This step comprises, for example, an air nozzle and a chute. When the defective product comes to the chute position, the compressed air is discharged from the air nozzle to guide the defective product to the chute. On the other hand, the air nozzle does not operate for the inspected article (2) for which the inspection result is normal, and proceeds to the next step on the conveyor.

【0022】[0022]

【発明の効果】本願発明の請求項1にかかる検査装置で
は、照明機構から平行光を被検査物品に鉛直上方から照
射すると、2つ以上の高さが異なる表面を持ち複雑な形
状をしている物品でも、全ての表面を同時に均一な照明
をする事ができる。また、画角が0度のレンズを用いて
いるため、物品の側面の映像が表面映像と同時に撮影さ
れることがない。従って、被検査物品が撮像方向に厚み
を有するものであっても、1台の撮像機構で搬送途中に
検査することができ、搬送工程途中に検査工程を組み込
むことができ、かつ、安価なシステムで高速に処理でき
ることとなる。
In the inspection apparatus according to the first aspect of the present invention, when a parallel light is radiated from above the illumination device to the inspection object from above vertically, the inspection device has a complicated shape having two or more surfaces having different heights. Even objects can be uniformly illuminated on all surfaces simultaneously. Further, since a lens having an angle of view of 0 degrees is used, the image of the side surface of the article is not photographed at the same time as the surface image. Therefore, even if the article to be inspected has a thickness in the imaging direction, it can be inspected during transportation by one imaging mechanism, and the inspection step can be incorporated in the transportation step, and an inexpensive system can be used. And can be processed at high speed.

【0023】また、本願発明の請求項2にかかる検査装
置では、被検査物品の表面が艶のある場合であっても第
1偏光板と第2偏光板の偏光角度が直角であるため直接
反射光がカメラに入ることが無く、均一な映像を得るこ
とができ、検査精度の向上が図ることができる。
In the inspection apparatus according to the second aspect of the present invention, even if the surface of the article to be inspected is glossy, the first polarizing plate and the second polarizing plate have a right angle of polarization, so that direct reflection occurs. Light does not enter the camera, a uniform image can be obtained, and inspection accuracy can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本願発明にかかる検査装置の全体構成図であ
る。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of an inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本願発明にかかる検査装置の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of an inspection device according to the present invention.

【図3】照明機構および撮像機構の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a lighting mechanism and an imaging mechanism.

【図4】撮像された画像の一例である。FIG. 4 is an example of a captured image.

【図5】従来の照明装置により撮像された画像の一例で
ある。
FIG. 5 is an example of an image captured by a conventional lighting device.

【図6】従来の撮像レンズにより撮像された画像の一例
である。
FIG. 6 is an example of an image captured by a conventional imaging lens.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査装置 2 被検査物品 3 搬送コンベア 10 照明機構 20 撮像機構 30 処理機構 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 2 Inspected article 3 Conveyor 10 Illumination mechanism 20 Imaging mechanism 30 Processing mechanism

フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA49 BB05 BB15 CC00 FF42 FF49 GG02 HH03 HH13 JJ03 JJ09 JJ26 LL00 LL04 LL21 LL30 LL33 PP15 QQ23 QQ24 QQ31 RR08 TT03 2G051 AA18 AA90 AB07 BB03 BB11 BB20 CC20 DA06 5B047 AA11 BA01 BB01 BC04 BC05 BC09 BC11 Continued on the front page F term (reference) 2F065 AA49 BB05 BB15 CC00 FF42 FF49 GG02 HH03 HH13 JJ03 JJ09 JJ26 LL00 LL04 LL21 LL30 LL33 PP15 QQ23 QQ24 QQ31 RR08 TT03 2G051 AA18 AA90 AB07 BB03 BC01 BC07 BC07 BC07 BC07

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 撮像方向に厚みを有する被検査物品の2
以上の厚みが異なる表面を検査する装置であって、被検
査物品の検査面に平行光を照射する照明機構と、前記検
査面からの反射光を撮像する撮像機構と、前記撮像機構
からの映像信号を処理する処理機構とから構成され、前
記撮像機構は画角が0度である光学レンズ部と2次元カ
メラ部とから構成された検査装置。
1. An inspection object 2 having a thickness in an imaging direction.
An apparatus for inspecting surfaces having different thicknesses as described above, an illumination mechanism for irradiating parallel light to an inspection surface of an inspected article, an imaging mechanism for imaging reflected light from the inspection surface, and an image from the imaging mechanism. A testing mechanism configured to process a signal, wherein the imaging mechanism includes an optical lens unit having an angle of view of 0 degrees and a two-dimensional camera unit.
【請求項2】 照明機構は光源部と集光レンズ部と偏光
板1とから構成されるとともに、撮像機構の2次元カメ
ラ部と被検査物品との間に偏光板2を設け、偏光板1と
偏光板2とを互いに偏光角度が直角となるように設置し
たものである請求項1記載の検査装置。
The illumination mechanism includes a light source unit, a condenser lens unit, and a polarizing plate, and a polarizing plate is provided between a two-dimensional camera unit of the imaging mechanism and an article to be inspected. 2. The inspection device according to claim 1, wherein the polarizing plate and the polarizing plate are installed so that the polarization angles are perpendicular to each other.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6628379B1 (en) * 1998-09-30 2003-09-30 Daiko Seiko Ltd. Method and apparatus for inspection of rubber product
JP2016122913A (en) * 2014-12-24 2016-07-07 日本電信電話株式会社 Image acquisition device
JP2016122912A (en) * 2014-12-24 2016-07-07 日本電信電話株式会社 Image acquisition device
US10126247B2 (en) 2015-07-30 2018-11-13 Zeon Chemicals L.P. Rubber crumb inspection system
JP2020051762A (en) * 2018-09-25 2020-04-02 株式会社Screenホールディングス Three-dimensional shape inspection device, three-dimensional shape inspection method, three-dimensional shape inspection program, and computer
EP4075122A1 (en) * 2021-04-14 2022-10-19 Krones AG Method and device for inspecting containers

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6628379B1 (en) * 1998-09-30 2003-09-30 Daiko Seiko Ltd. Method and apparatus for inspection of rubber product
JP2016122913A (en) * 2014-12-24 2016-07-07 日本電信電話株式会社 Image acquisition device
JP2016122912A (en) * 2014-12-24 2016-07-07 日本電信電話株式会社 Image acquisition device
US10126247B2 (en) 2015-07-30 2018-11-13 Zeon Chemicals L.P. Rubber crumb inspection system
JP2020051762A (en) * 2018-09-25 2020-04-02 株式会社Screenホールディングス Three-dimensional shape inspection device, three-dimensional shape inspection method, three-dimensional shape inspection program, and computer
WO2020066415A1 (en) * 2018-09-25 2020-04-02 株式会社Screenホールディングス Three-dimensional shape inspection device, three-dimensional shape inspection method, three-dimensional shape inspection program, and computer
JP7153514B2 (en) 2018-09-25 2022-10-14 株式会社Screenホールディングス 3D shape inspection device, 3D shape inspection method, 3D shape inspection program, computer
EP4075122A1 (en) * 2021-04-14 2022-10-19 Krones AG Method and device for inspecting containers
US20220334066A1 (en) * 2021-04-14 2022-10-20 Krones Ag Apparatus and method for inspecting cans

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