JP2000343049A - Washing device and washing method - Google Patents

Washing device and washing method

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JP2000343049A
JP2000343049A JP11160171A JP16017199A JP2000343049A JP 2000343049 A JP2000343049 A JP 2000343049A JP 11160171 A JP11160171 A JP 11160171A JP 16017199 A JP16017199 A JP 16017199A JP 2000343049 A JP2000343049 A JP 2000343049A
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JP
Japan
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cleaning
temperature
tank
chamber
moving path
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JP11160171A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiaki Kikuchi
俊晃 菊池
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the cleaning degree of material having a specified linear expansion coefficient or above by adjusting the temperature of a washing medium and the temperature of the atmosphere in a washing chamber based on a signal of each temperature sensor and connecting an ultraviolet light washing chamber to the washing chamber thereby arranging them. SOLUTION: The temperature of the atmosphere in first - fifth washing chambers 23, 33, 34, 37, 39 and in slow cooling chambers 41, 42, 43, the temperature of liquid jetted from water jet devices of transfer paths 27, 56, 57, 58, and the temperature of the washing medium in first - fifth washing tanks 24, 35, 36, 38, 40 are subjected to feedback control by a temperature controller 30 so that the temperature measured by temperature sensors 29a-29i becomes the set temperature. An ultraviolet light washing chamber 48 is connected to the fifth washing chamber 39 of the final process to arrange them, and in the washing chamber 48, material to be washed 20f is subjected to ultraviolet washing by an ultraviolet lamp 49.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、紫外線領域で使用
可能な光学材料のうち線膨張率が高く破壊強度が弱い材
料、例えばフッ化物結晶、フッ化ガラス等を洗浄するの
に適した洗浄装置および洗浄方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cleaning apparatus suitable for cleaning optical materials which can be used in the ultraviolet region and which have a high linear expansion coefficient and a low breaking strength, for example, fluoride crystals, fluoride glass, etc. And a cleaning method.

【0002】[0002]

【従来の技術】洗浄方法は液体を用いる湿式洗浄法と、
液体を一切用いない乾式洗浄法に分類することができ
る。湿式洗浄法を行っている代表的なものとして光学部
品の洗浄がある。光学部品は研磨工程後に洗浄され、対
象とする汚れは、研磨時の光学部品固定用のやといであ
り、主にアスファルト系ピッチやミツロウ等が挙げられ
る。
2. Description of the Related Art A cleaning method is a wet cleaning method using a liquid,
It can be classified as a dry cleaning method that does not use any liquid. A typical example of wet cleaning is cleaning of optical components. The optical component is washed after the polishing step, and the target dirt is used for fixing the optical component at the time of polishing, and mainly includes asphalt pitch and beeswax.

【0003】図3は従来の光学部品の洗浄装置を示す構
成図である。従来の光学部品の洗浄装置1においては、
まず、対象の汚れを第一洗浄槽2のフロン、トリクロロ
エタン、トリクレンのいずれかで洗い落とす。ところ
で、近年環境汚染の関係上これらの薬品に替えて、類似
の化学特性を有しながら、環境を汚染することのない薬
品を使用しつつある。第一洗浄槽ではこのような薬品
(以下、代替え溶液と称す)を使用することもある。第
二洗浄槽3のアルカリ性洗浄液あるいは中性洗浄液によ
る洗浄、第三洗浄槽4の市水リンス、第四洗浄槽5の純
水リンスを行い、第五洗浄槽6のイソプロピルアルコー
ル(IPA)で置換した後、第六洗浄槽7のIPA蒸気
洗浄(IPAベーパー洗浄)で仕上げる。また、第二洗
浄槽3や第三洗浄槽4等は、超音波発生器8や液温制御
装置9を装着し、洗浄槽で超音波洗浄を行ったり、洗浄
槽内の液体を加熱してもよい。
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional optical component cleaning apparatus. In the conventional cleaning device 1 for optical parts,
First, the target dirt is washed off with one of freon, trichloroethane, and trichlorene in the first cleaning tank 2. In recent years, due to environmental pollution, chemicals that have similar chemical properties and do not pollute the environment are being used instead of these chemicals. In the first cleaning tank, such a chemical (hereinafter, referred to as an alternative solution) may be used. The second washing tank 3 is washed with an alkaline washing solution or a neutral washing solution, the third washing tank 4 is rinsed with city water, the fourth washing tank 5 is rinsed with pure water, and the fifth washing tank 6 is replaced with isopropyl alcohol (IPA). After that, the sixth cleaning tank 7 is finished by IPA vapor cleaning (IPA vapor cleaning). The second cleaning tank 3 and the third cleaning tank 4 are equipped with an ultrasonic generator 8 and a liquid temperature control device 9 to perform ultrasonic cleaning in the cleaning tank or to heat the liquid in the cleaning tank. Is also good.

【0004】しかし、一般の光学部品の材料と違い線膨
張率の高い材料、特に紫外線領域で使用可能な光学材料
は、温度変化により物性値が変化したり破損したりす
る。そのため、このような材料の光学部品の洗浄は、洗
浄装置1を使用しないで図4に示す手拭き洗浄を行って
いる。適切な拭き布10にアルコール類等の有機溶剤を
塗布して指先11で押さえる。被洗浄物12bを任意に
回転可能な回転テーブル13に置き、中心部から外周に
向かって手拭きで拭き上げる。このように手で行う作業
のため、線膨張率が高い材料の洗浄は、熟練作業者の技
能を必要とされる。よって表面の清浄度は、作業者の熟
練度や被洗浄物の汚れの度合い等によるばらつきが大き
く、非常に不安定である。さらに、この洗浄方法では汚
れを完全に除去することは困難である。
However, unlike materials for general optical parts, materials having a high coefficient of linear expansion, particularly optical materials usable in the ultraviolet region, change physical properties or break due to temperature changes. Therefore, the cleaning of the optical components made of such a material is performed by hand wiping shown in FIG. 4 without using the cleaning device 1. An organic solvent such as alcohol is applied to an appropriate wiping cloth 10 and pressed with a fingertip 11. The object to be cleaned 12b is placed on a rotatable table 13 which can be arbitrarily rotated, and is wiped by hand from the center toward the outer periphery. Since the work is performed by hand as described above, cleaning of a material having a high coefficient of linear expansion requires skill of a skilled worker. Therefore, the degree of cleanliness of the surface varies greatly depending on the skill of the worker, the degree of contamination of the object to be cleaned, and the like, and is very unstable. Furthermore, it is difficult to completely remove dirt by this cleaning method.

【0005】また、半導体デバイス製造業界で行われて
いるウェーハの洗浄技術の例として、特開平6−612
14号公報に記載されている従来のウェット処理装置の
構成図を図5に示す。まず、薬液15の温度と同程度の
温度に加熱する加熱室16を設け、加熱室16には、温
風導入口18と排気口19があり、温風導入口18から
任意の温度に調整されたN2が導入される。ウェーハ1
4及びキャリア17を薬液15に浸す前に、ウェーハ1
4及びキャリア17を加熱室16に入れ、加熱室16で
ウェーハ14及びキャリア17を薬液15の温度と同じ
温度にしてから薬液15に浸す。これによって、薬液1
5の温度は変動しないことから、一定温度にするための
無駄な時間を浪費することなく常にウェーハ14の均一
処理ができる。
As an example of a wafer cleaning technique used in the semiconductor device manufacturing industry, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-612.
FIG. 5 shows a configuration diagram of a conventional wet processing apparatus described in Japanese Patent Application Publication No. 14-142. First, a heating chamber 16 for heating to the same temperature as the temperature of the chemical solution 15 is provided. The heating chamber 16 has a hot air inlet 18 and an exhaust port 19, and is adjusted to an arbitrary temperature from the hot air inlet 18. N 2 is introduced. Wafer 1
Before immersing the carrier 4 and the carrier 17 in the chemical solution 15, the wafer 1
The wafer 4 and the carrier 17 are placed in the heating chamber 16, and the wafer 14 and the carrier 17 are heated to the same temperature as the temperature of the chemical solution 15 in the heating chamber 16, and then immersed in the chemical solution 15. Thereby, the chemical solution 1
Since the temperature of No. 5 does not fluctuate, uniform processing of the wafer 14 can be always performed without wasting time for making the temperature constant.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、図3に示す従
来の洗浄装置1では洗浄槽内の液体(洗浄液)の温度と
洗浄室内の雰囲気の温度の差が大きく、被洗浄物12a
として紫外線領域で使用可能な光学材料のうち線膨張率
が高く破壊強度が弱い材料を用いた場合、特に線膨張率
が15×10-6以上の材料を用いた場合は被洗浄物12
aが破壊される可能性がある。特に、第六洗浄槽7のI
PAベーパー洗浄からの温度差が非常に大きく、前記材
料が破壊される可能性が一番高いところである。
However, in the conventional cleaning apparatus 1 shown in FIG. 3, the difference between the temperature of the liquid (cleaning liquid) in the cleaning tank and the temperature of the atmosphere in the cleaning chamber is large, and the cleaning target 12a
In the case where a material having a high linear expansion coefficient and a low breaking strength among optical materials usable in the ultraviolet region is used, particularly, a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 −6 or more is used,
a may be destroyed. In particular, I of the sixth cleaning tank 7
The temperature difference from the PA vapor cleaning is very large and the material is most likely to be destroyed.

【0007】また、図4に示す手拭き洗浄では前記材料
が破壊されることは無いが、表面の汚れの除去を完全に
行うことができない。また、図5に示すウェット処理装
置を洗浄装置として用いた場合は、温度差により前記材
料が破壊することは無いが、薬液(洗浄液)が入ってい
る洗浄槽が1個しかないため、使用する洗浄液が限られ
るので、表面の汚れの除去を完全に行うことができな
い。
Further, the material is not destroyed by the manual wiping shown in FIG. 4, but it is impossible to completely remove the dirt on the surface. When the wet processing apparatus shown in FIG. 5 is used as a cleaning apparatus, the material is not destroyed due to a temperature difference, but is used because there is only one cleaning tank containing a chemical solution (cleaning liquid). Since the cleaning liquid is limited, it is not possible to completely remove surface dirt.

【0008】本発明は、紫外線領域で使用可能な光学材
料のうち線膨張率が高く破壊強度が弱い材料、特に線膨
張率が15×10-6以上の材料の清浄度を向上させる洗
浄装置および洗浄方法を提供することを目的としてい
る。
The present invention provides a cleaning apparatus for improving the cleanliness of a material having a high linear expansion coefficient and a low breaking strength, particularly a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 -6 or more among optical materials usable in the ultraviolet region. It is intended to provide a cleaning method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係る洗浄装置は、被洗浄物を洗浄する洗浄
媒体を有する複数の洗浄槽と、前記洗浄槽が設置された
洗浄室と、前記洗浄槽の中の所定の洗浄槽内の洗浄媒体
の温度および前記洗浄室内の雰囲気の温度をそれぞれ測
定する各温度センサーと、前記各温度センサーの信号に
基づき前記洗浄媒体の温度および前記洗浄室内の雰囲気
の温度を調整する温度調整手段と、前記洗浄槽の中で最
終洗浄工程で用いる洗浄槽に隣接するように最終洗浄工
程で用いる洗浄槽に係る洗浄室に連結して配置された紫
外線光洗浄室と、を有する(請求項1)。
In order to solve the above problems, a cleaning apparatus according to the present invention comprises a plurality of cleaning tanks having a cleaning medium for cleaning an object to be cleaned, and a cleaning chamber in which the cleaning tanks are installed. A temperature sensor for measuring a temperature of a cleaning medium in a predetermined cleaning tank and a temperature of an atmosphere in the cleaning chamber in the cleaning tank; and a temperature of the cleaning medium and the cleaning based on signals from the temperature sensors. Temperature adjusting means for adjusting the temperature of the atmosphere in the room, and ultraviolet rays connected to a cleaning chamber related to the cleaning tank used in the final cleaning step so as to be adjacent to the cleaning tank used in the final cleaning step in the cleaning tank. A light cleaning chamber (claim 1).

【0010】前記洗浄装置によれば、前記洗浄槽の中の
所定の洗浄槽内の洗浄媒体の温度および前記洗浄室内の
雰囲気の温度は、温度センサーで測定され、温度調整手
段で調整されているので、洗浄槽内の洗浄媒体の温度と
前記洗浄室内の雰囲気の温度の差を制御し、小さくする
ことにより、洗浄工程中に紫外線領域で使用可能な光学
材料のうち線膨張率が高く破壊強度が弱い材料は、破損
することが無く、しかも、前記洗浄槽の中で最終洗浄工
程で用いる洗浄槽に隣接するように前記洗浄室に連結し
て紫外線光洗浄室が配置されているので、紫外線光洗浄
を行うことにより、清浄度が向上するという利点があ
る。
According to the cleaning apparatus, the temperature of the cleaning medium in the predetermined cleaning tank in the cleaning tank and the temperature of the atmosphere in the cleaning chamber are measured by the temperature sensor and adjusted by the temperature adjusting means. Therefore, by controlling and reducing the difference between the temperature of the cleaning medium in the cleaning tank and the temperature of the atmosphere in the cleaning chamber, the linear expansion coefficient of the optical material that can be used in the ultraviolet region during the cleaning process is high, and the breaking strength is high. The weak material is not damaged, and furthermore, the ultraviolet light cleaning chamber is connected to the cleaning chamber so as to be adjacent to the cleaning tank used in the final cleaning step in the cleaning tank. By performing the optical cleaning, there is an advantage that the cleanliness is improved.

【0011】また、前記各洗浄室の間に被洗浄物が移動
する移動路と、前記洗浄室と前記移動路の間に設置され
た開閉シャッターと、前記洗浄室と前記紫外線光洗浄室
の間に設置された開閉シャッターと、前記洗浄室と前記
紫外線光洗浄室の間に設置された被洗浄物を冷却する徐
冷室と、をさらに設けること(請求項2)が好ましい。
これにより、洗浄槽と洗浄槽の間および洗浄槽と紫外線
光洗浄室の間に仕切を設けることで洗浄槽の保温効果を
高め、温度勾配を制御し易くすることができる。さらに
被洗浄物の移動路および徐冷室を設けることで、洗浄槽
間の薬液の持ち込みを防止したり、被洗浄物に所望の温
度勾配を付けることができ、効率良く高い清浄度を得る
ことができる。
A moving path through which an object to be cleaned moves between the cleaning chambers; an opening / closing shutter provided between the cleaning chamber and the moving paths; and a shutter between the cleaning chamber and the ultraviolet light cleaning chamber. It is preferable to further provide an opening / closing shutter installed in the cleaning chamber and a slow cooling chamber installed between the cleaning chamber and the ultraviolet light cleaning chamber for cooling an object to be cleaned (Claim 2).
By providing partitions between the cleaning tanks and between the cleaning tanks and between the cleaning tanks and the ultraviolet light cleaning chamber, it is possible to enhance the heat retaining effect of the cleaning tanks and easily control the temperature gradient. In addition, by providing a moving path for the object to be cleaned and a slow cooling chamber, it is possible to prevent a chemical solution from being brought in between the cleaning tanks and to impart a desired temperature gradient to the object to be cleaned, thereby efficiently obtaining high cleanliness. Can be.

【0012】また、前記移動路内の温度および前記徐冷
室内の雰囲気の温度を測定する温度センサーと、前記温
度センサーの信号に基づき前記移動路内の温度および前
記徐冷室内の雰囲気の温度を調整する温度調整手段と、
前記洗浄室、前記洗浄槽、前記移動路、前記徐冷室およ
び前記紫外線光洗浄室で被洗浄物を移動させる搬送手段
と、をさらに設けること(請求項3)が好ましい。これ
により、温度調整手段で前記移動路内の温度および前記
徐冷室の雰囲気の温度は、温度センサーで測定され、温
度調整手段で調整されているので、被洗浄物に所望の温
度勾配を付けることができ、さらに、被洗浄物を移動さ
せる搬送手段を設け、自動化することによりコスト低減
を実現することができる。
A temperature sensor for measuring a temperature in the moving path and an atmosphere in the annealing room; and a temperature sensor in the moving path and an atmosphere in the annealing room based on a signal from the temperature sensor. Temperature adjusting means for adjusting;
It is preferable to further provide conveying means for moving an object to be cleaned in the cleaning chamber, the cleaning tank, the moving path, the annealing chamber, and the ultraviolet light cleaning chamber (Claim 3). With this, the temperature in the moving path and the temperature of the atmosphere in the annealing room are measured by the temperature sensor and adjusted by the temperature adjusting means, so that a desired temperature gradient is applied to the object to be cleaned. Further, cost reduction can be realized by providing a conveying means for moving the object to be cleaned and automating the same.

【0013】また、前記各々の移動路は、ウォーターマ
ークを防止する装置を備え、前記洗浄槽の中の所定の洗
浄槽は、超音波洗浄を行う超音波発生器を備えているこ
と(請求項4)が好ましい。これにより、液滴の乾燥に
よる清浄性の低下を防止することができ、さらに、超音
波洗浄を行うことにより、清浄度が向上する。また、前
記ウォーターマークを防止する装置は、ウォータージェ
ット装置であり、前記移動路の温度調整手段は、前記ウ
ォータージェット装置で使用する液体の温度を変化させ
る熱交換器であり、前記洗浄室および前記徐冷室の温度
調整手段は、前記洗浄室および前記徐冷室に送られる気
体の温度を変化させる空調装置であること(請求項5)
が好ましい。これにより、液滴の乾燥による清浄性の低
下を防止すると共にリンス洗浄を兼ねさせることによ
り、洗浄槽の槽数を低減することができ、さらに被洗浄
物に所望の温度勾配を付けることができ、効率良く高い
清浄度を得ることができる。
Each of the moving paths includes a device for preventing a watermark, and a predetermined cleaning tank in the cleaning tank includes an ultrasonic generator for performing ultrasonic cleaning. 4) is preferred. Thus, it is possible to prevent a decrease in cleanliness due to drying of the droplets, and to further improve the cleanliness by performing ultrasonic cleaning. Further, the device for preventing the watermark is a water jet device, the temperature adjusting means of the moving path is a heat exchanger for changing the temperature of the liquid used in the water jet device, the washing chamber and the The temperature control means of the annealing room is an air conditioner for changing the temperature of the gas sent to the cleaning room and the annealing room.
Is preferred. This can prevent a decrease in cleanliness due to the drying of the droplets, and can also reduce the number of cleaning tanks by also performing rinsing cleaning, and can impart a desired temperature gradient to the object to be cleaned. Thus, high cleanliness can be obtained efficiently.

【0014】また、前記複数の洗浄槽の各々の内部に
は、塩化メチレン、N−メチル−2−ピロリドン(NM
P)と添加剤と純水の混合溶液、アルカリ性水溶液、中
性洗浄液、酸性洗浄液またはイソプロピルアルコールの
中の1つの液体またはイソプロピルアルコールの蒸気が
使用され、前記ウォータージェット装置で使用する液体
は、水、電解イオン溶液、有機溶剤またはO3水溶液の
中の1つであり、前記洗浄室および前記徐冷室に送られ
る気体は、クリーンエアー、活性酸素またはN2の中の
1つであること(請求項6)が好ましい。これにより、
効率良く高い清浄度を得ることができる。
Further, methylene chloride, N-methyl-2-pyrrolidone (NM)
One liquid among a mixed solution of P), an additive and pure water, an alkaline aqueous solution, a neutral cleaning solution, an acidic cleaning solution, or isopropyl alcohol or isopropyl alcohol vapor is used, and the liquid used in the water jet device is water. One of an electrolytic ion solution, an organic solvent or an O 3 aqueous solution, and the gas sent to the cleaning chamber and the slow cooling chamber is one of clean air, active oxygen or N 2 ( Claim 6) is preferred. This allows
High cleanliness can be obtained efficiently.

【0015】また、前記洗浄槽および前記移動路は、5
個の洗浄槽とそれぞれの洗浄槽の間に配置された4個の
移動路で構成され、前記5個の洗浄槽および前記4個の
移動路は、洗浄工程の順に第一洗浄槽、第一移動路、第
二洗浄槽、第二移動路、第三洗浄槽、第三移動路、第四
洗浄槽、第四移動路、第五洗浄槽と配置され、第一洗浄
槽は槽内で使用する洗浄媒体が塩化メチレンまたはN−
メチル−2−ピロリドン(NMP)と添加剤と純水の混
合溶液である洗浄槽であり、第二洗浄槽は槽内で使用す
る洗浄媒体がアルカリ性水溶液または中性洗浄液である
洗浄槽であり、第三洗浄槽は槽内で使用する洗浄媒体が
酸性洗浄液である洗浄槽であり、第四洗浄槽は槽内で使
用する洗浄媒体がイソプロピルアルコールである洗浄槽
であり、第五洗浄槽はイソプロピルアルコール蒸気洗浄
槽であり、第一移動路のウォータージェット装置で使用
する液体は有機溶剤であり、第二移動路のウォータージ
ェット装置で使用する液体は水または電解イオン溶液で
あり、第三移動路のウォータージェット装置で使用する
液体は水または電解イオン溶液であり、第四移動路のウ
ォータージェット装置で使用する液体はO3水溶液であ
ること(請求項7)が好ましい。これにより、効率良く
高い清浄度を得ることができる。
Further, the cleaning tank and the moving path are provided with 5
Cleaning tanks and four moving paths arranged between the respective cleaning tanks. The five cleaning tanks and the four moving paths comprise a first cleaning tank, A moving path, a second cleaning tank, a second moving path, a third cleaning tank, a third moving path, a fourth cleaning tank, a fourth moving path, and a fifth cleaning tank are arranged, and the first cleaning tank is used in the tank. The washing medium used is methylene chloride or N-
A washing tank that is a mixed solution of methyl-2-pyrrolidone (NMP), an additive, and pure water; a second washing tank is a washing tank in which a washing medium used in the tank is an alkaline aqueous solution or a neutral washing solution; The third cleaning tank is a cleaning tank in which the cleaning medium used in the tank is an acidic cleaning liquid, the fourth cleaning tank is a cleaning tank in which the cleaning medium used in the tank is isopropyl alcohol, and the fifth cleaning tank is isopropyl alcohol. The liquid used in the water jet device in the first moving path is an organic solvent, and the liquid used in the water jet device in the second moving path is water or an electrolytic ionic solution. water liquid used in jet device is water or an electrolytic ion solution, a fourth that liquid used in a water jet device of the mobile channel is O 3 aqueous solution (claim 7 It is preferred. Thereby, high cleanliness can be obtained efficiently.

【0016】また、前記被洗浄物は紫外線領域で使用可
能な光学材料のうち線膨張率が15×10-6以上の材料
であること(請求項8)が好ましい。これにより、紫外
線領域で使用可能な光学材料のうち線膨張率が15×1
-6以上の材料を破損することなく洗浄することができ
る。また、このような材料の代表的な物質にフッ化物結
晶またはフッ化物ガラスがある(請求項9)。これによ
り、フッ化物結晶またはフッ化物ガラスを破損すること
なく洗浄することができる。
It is preferable that the object to be cleaned is a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 −6 or more among optical materials usable in the ultraviolet region. As a result, of the optical materials usable in the ultraviolet region, the coefficient of linear expansion is 15 × 1
0 -6 or more materials can be cleaned without damaging the. A typical example of such a material is a fluoride crystal or a fluoride glass (claim 9). Thereby, the fluoride crystal or the fluoride glass can be cleaned without being damaged.

【0017】また、本発明に係る洗浄方法は、紫外線領
域で使用可能な光学材料のうち線膨張率が15×10-6
以上の材料を洗浄する洗浄方法において、前記光学部材
は洗浄液を有する複数の洗浄槽の各々で洗浄され、最終
洗浄工程では紫外線光洗浄を行い、かつ、前記洗浄液の
温度と前記洗浄槽の近傍の雰囲気の温度の差は、±10
℃以内である(請求項10)。
In the cleaning method according to the present invention, among the optical materials usable in the ultraviolet region, the coefficient of linear expansion is 15 × 10 −6.
In the above-described cleaning method for cleaning the material, the optical member is cleaned in each of a plurality of cleaning tanks having a cleaning liquid, and in the final cleaning step, ultraviolet light cleaning is performed, and the temperature of the cleaning liquid and the vicinity of the cleaning tank. Atmospheric temperature difference is ± 10
It is within ° C (claim 10).

【0018】上記洗浄方法によれば、洗浄液の温度と洗
浄槽の近傍の雰囲気の温度の差が小さいため、紫外線領
域で使用可能な光学材料のうち線膨張率が15×10-6
以上の材料が破損することが無く、しかも、紫外線光洗
浄を行うことにより、清浄度が向上するという利点があ
る。また、前記洗浄槽で洗浄を行う時には、超音波洗浄
を行い、超音波の振動数は、10kHz〜50kHzの
範囲内であり、かつ、洗浄時間は10秒〜5分以内であ
ること(請求項11)が好ましい。これにより、超音波
洗浄により被洗浄物表面にエッチピットが発生すること
を防ぐことができる。
According to the above-described cleaning method, since the difference between the temperature of the cleaning liquid and the temperature of the atmosphere near the cleaning tank is small, the linear expansion coefficient of the optical material usable in the ultraviolet region is 15 × 10 −6.
There is an advantage that the above materials are not damaged, and that the cleanliness is improved by performing the ultraviolet light cleaning. When cleaning is performed in the cleaning tank, ultrasonic cleaning is performed, the frequency of the ultrasonic wave is within a range of 10 kHz to 50 kHz, and the cleaning time is within 10 seconds to 5 minutes. 11) is preferred. Thus, it is possible to prevent the generation of etch pits on the surface of the object to be cleaned due to the ultrasonic cleaning.

【0019】また、イソプロピルアルコール蒸気洗浄を
加えること(請求項12)が好ましい。これにより、高
い清浄度を得ることができる。また、このような材料の
代表的な物質にフッ化物結晶またはフッ化物ガラスがあ
る(請求項13)。これにより、フッ化物結晶またはフ
ッ化物ガラスを破損することなく洗浄することができ
る。
Preferably, isopropyl alcohol vapor cleaning is added (claim 12). Thereby, high cleanliness can be obtained. A typical example of such a material is a fluoride crystal or a fluoride glass (claim 13). Thereby, the fluoride crystal or the fluoride glass can be cleaned without being damaged.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】本発明は紫外線領域で使用可能な
光学材料のうち線膨張率が高く破壊強度が弱い材料、特
に線膨張率が15×10-6以上の材料の洗浄装置および
洗浄方法に関するものであり、材料の例としてはフッ化
物結晶、フッ化ガラス等が上げられる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention relates to a cleaning apparatus and a cleaning method for a material having a high linear expansion coefficient and a low breaking strength among optical materials usable in the ultraviolet region, particularly a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 -6 or more. And examples of the material include fluoride crystals and fluoride glass.

【0021】以下に本発明の実施の形態を図1と図2に
基づき説明する。図1と図2は、本発明の洗浄装置を示
す構成図で、図中のA−Bの部分で連結していて、1台
の装置となっている。図1と図2の洗浄装置は、前室2
1と、第一洗浄室23、第二洗浄室33、第三洗浄室3
4、第四洗浄室37、第五洗浄室39と、各々の洗浄室
に設置されている第一洗浄槽24、第二洗浄槽35、第
三洗浄槽36、第四洗浄槽38、第五洗浄槽40と、各
々の洗浄室を区切るように洗浄室の間に設置されている
第一移動路27、第二移動路56、第三移動路57、第
四移動路58と、第一徐冷室41、第二徐冷室42、第
三徐冷室43と、ホルダー設置室45と、紫外線光洗浄
室48と、後室50とから構成されている。各洗浄槽に
は被洗浄物を洗浄するための洗浄媒体が入れられてい
る。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 and FIG. 2 are configuration diagrams showing a cleaning apparatus of the present invention, and are connected at a portion A-B in the figure to form one apparatus. The cleaning apparatus shown in FIGS.
1, the first cleaning chamber 23, the second cleaning chamber 33, the third cleaning chamber 3
4, a fourth cleaning chamber 37, a fifth cleaning chamber 39, and a first cleaning tank 24, a second cleaning tank 35, a third cleaning tank 36, a fourth cleaning tank 38, A first moving path 27, a second moving path 56, a third moving path 57, a fourth moving path 58 provided between the cleaning tank 40 and the cleaning chamber so as to separate the respective cleaning chambers; The cooling room 41 includes a cooling room 41, a second annealing room 42, a third annealing room 43, a holder installation room 45, an ultraviolet light cleaning room 48, and a rear room 50. Each cleaning tank contains a cleaning medium for cleaning an object to be cleaned.

【0022】各移動路27、56、57、58には、リ
ンス洗浄を行いウォーターマークを防止するため、温度
調整手段としてウォータージェット装置に使用する液体
の温度調整が可能な熱交換器を兼ね備えたウォータージ
ェット装置32a、32b、32c、32dが設置され
ている。ウォータージェット装置には、ノズルから高圧
の液体を噴射して機械部品の穴等の洗浄を行うものもあ
るが、本装置のウォータージェット装置は、リンス洗浄
を行ないウォーターマークを防止するのが目的であるの
で、ノズルから噴射する液体に高圧を加える必要はな
い。ウォータージェット装置32a、32b、32c、
32dの液体としては、水、電解イオン溶液、有機溶
剤、O3(オゾン)水溶液を使い分ける。ウォータージ
ェット装置32a、32b、32c、32dの液体は、
温度調整手段である図示しない熱交換器により温度が調
整されている。
Each of the moving paths 27, 56, 57 and 58 is provided with a heat exchanger capable of adjusting the temperature of the liquid used in the water jet device as a temperature adjusting means in order to perform rinsing and prevent a watermark. Water jet devices 32a, 32b, 32c, 32d are provided. Some water jet devices wash high-pressure liquid from nozzles to clean holes in machine parts.The water jet device of this device is used for rinsing to prevent watermarks. Therefore, it is not necessary to apply high pressure to the liquid ejected from the nozzle. Water jet devices 32a, 32b, 32c,
As the liquid of 32d, water, an electrolytic ion solution, an organic solvent, and an O 3 (ozone) aqueous solution are selectively used. The liquid of the water jet devices 32a, 32b, 32c, 32d is
The temperature is adjusted by a heat exchanger (not shown) which is a temperature adjusting means.

【0023】前室、各洗浄室、各徐冷室の雰囲気の温度
を調整する温度調整手段としては、送られる気体の温度
を調整する空調装置が用いられる。前室、各洗浄室、各
徐冷室、後室へ送られる気体はクリーンエアー、活性酸
素、N2の中の1つである。各洗浄槽に用いられる洗浄
媒体は、塩化メチレン、N−メチル−2−ピロリドン
(NMP)と添加剤と純水の混合溶液、アルカリ性洗浄
液、中性洗浄液、酸性洗浄液またはイソプロピルアルコ
ール(IPA)の中の1つの液体またはIPAの蒸気が
使用される。
As a temperature adjusting means for adjusting the temperature of the atmosphere in the front room, each washing room and each slow cooling room, an air conditioner for adjusting the temperature of the gas to be sent is used. The gas sent to the front room, each cleaning room, each slow cooling room, and the rear room is one of clean air, active oxygen, and N 2 . The cleaning medium used for each cleaning tank is a mixed solution of methylene chloride, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), an additive and pure water, an alkaline cleaning solution, a neutral cleaning solution, an acidic cleaning solution or isopropyl alcohol (IPA). One liquid or IPA vapor is used.

【0024】各移動路には洗浄室との境に開閉シャッタ
ー28a、28b、28c、28d、28e、28f、
28g、28hが設けられている。また、第五洗浄室3
9と第一徐冷室41の間には開閉シャッター28iが設
けられている。これらの開閉シャッターにより洗浄槽の
保温効果が高まり、温度勾配の制御が容易となる。紫外
線光洗浄室48と、ホルダー設置室45および後室50
の間には開閉シャッター28j、28kが設けられてい
る。
Each of the moving paths includes shutters 28a, 28b, 28c, 28d, 28e, 28f,
28g and 28h are provided. Fifth cleaning room 3
An opening / closing shutter 28i is provided between the first cooling room 9 and the first cooling room 41. These opening / closing shutters enhance the heat retaining effect of the cleaning tank, and facilitate control of the temperature gradient. UV light cleaning room 48, holder installation room 45 and rear room 50
Opening / closing shutters 28j and 28k are provided therebetween.

【0025】第一洗浄槽24、第二洗浄槽35、第三洗
浄槽36、第四洗浄槽38には、各洗浄槽で超音波洗浄
を行うために超音波発生器62a、62b、62c、6
2dが装着されている。前室21を含め各洗浄室23、
33、34、37、39と各徐冷室41、42、43に
は温度センサー29a、29b、29c、29d、29
e、29f、29g、29h、29iが備えられてい
る。第一洗浄槽24、第二洗浄槽35、第三洗浄槽36
には洗浄液の液温を測定する温度センサー(不図示)が
備えられている。各温度センサーからの信号は温度制御
装置30に送信される。各洗浄室23、33、34、3
7、39内および各徐冷室41、42、43内の雰囲気
の温度、各移動路27、56、57、58のウォーター
ジェット装置から噴射する液体の温度、各洗浄槽24、
35、36、38、40内の洗浄媒体の温度は、各温度
センサーで測定される温度が設定温度になるように温度
制御装置30によりフィードバック制御される。第一洗
浄槽24、第二洗浄槽35、第三洗浄槽36、第四洗浄
槽38内の洗浄媒体の温度と各洗浄槽が設置されている
各洗浄室内の雰囲気の温度の差は、±10℃以内とす
る。
The first cleaning tank 24, the second cleaning tank 35, the third cleaning tank 36, and the fourth cleaning tank 38 include ultrasonic generators 62a, 62b, 62c for performing ultrasonic cleaning in each cleaning tank. 6
2d is attached. Each washing room 23 including the front room 21,
Temperature sensors 29a, 29b, 29c, 29d, and 29 are provided in 33, 34, 37, and 39 and the respective slow cooling chambers 41, 42, and 43.
e, 29f, 29g, 29h, and 29i. First cleaning tank 24, second cleaning tank 35, third cleaning tank 36
Is provided with a temperature sensor (not shown) for measuring the temperature of the cleaning liquid. A signal from each temperature sensor is transmitted to the temperature control device 30. Each cleaning room 23, 33, 34, 3
7, 39 and the temperature of the atmosphere in each of the slow cooling chambers 41, 42, 43, the temperature of the liquid jetted from the water jet device in each of the moving paths 27, 56, 57, 58,
The temperature of the cleaning medium in 35, 36, 38, 40 is feedback-controlled by the temperature control device 30 so that the temperature measured by each temperature sensor becomes the set temperature. The difference between the temperature of the cleaning medium in the first cleaning tank 24, the second cleaning tank 35, the third cleaning tank 36, and the temperature of the atmosphere in each cleaning chamber in which each cleaning tank is installed is ± It shall be within 10 ° C.

【0026】洗浄装置22には被洗浄物を移動する搬送
手段として搬送部26a、26b、26c、26d、2
6e、オートローダ31a、31b、31c、31d、
31e、31fが設けられており、これらは、時間制御
により任意の速度で前室、各洗浄室、各洗浄槽、各移動
路、各徐冷室、ホルダー設置室、紫外光洗浄室、後室に
洗浄ホルダーを移動するように制御されている。
The cleaning device 22 includes transport units 26a, 26b, 26c, 26d, and 2 as transport means for moving the object to be cleaned.
6e, autoloaders 31a, 31b, 31c, 31d,
31e, 31f are provided, and these are anterior chamber, each washing room, each washing tank, each moving path, each slow cooling room, holder installation room, ultraviolet light washing room, rear room at an arbitrary speed by time control. The cleaning holder is controlled to move.

【0027】以下、洗浄工程順に本発明による洗浄装置
および洗浄方法を説明する。被洗浄物20a、20b、
20c、20d、20eは、洗浄装置での移動を簡単に
行うために、各々洗浄ホルダー25a、25b、25
c、25d、25eに載せられている。本発明の実施の
形態では、被洗浄物20a、20b、20c、20d、
20e、20fは、真空紫外線領域で使用される結晶材
料の蛍石レンズである。なお、図1の洗浄装置22の矢
印は被洗浄物の移動経路を示している。
Hereinafter, a cleaning apparatus and a cleaning method according to the present invention will be described in the order of cleaning steps. Objects to be cleaned 20a, 20b,
20c, 20d, and 20e are cleaning holders 25a, 25b, and 25e, respectively, for easy movement in the cleaning device.
c, 25d, and 25e. In the embodiment of the present invention, the objects to be cleaned 20a, 20b, 20c, 20d,
Reference numerals 20e and 20f denote fluorite lenses made of a crystalline material used in the vacuum ultraviolet region. The arrow of the cleaning device 22 in FIG. 1 indicates the movement path of the object to be cleaned.

【0028】まず、被洗浄物20aは洗浄装置22に搬
送され前室21で第一洗浄室23内の雰囲気の温度に対
し、−10℃程度まで温められる。第一洗浄槽24の洗
浄媒体は、トリクレンの代替え溶液またはトリクロロエ
タンの代替え溶液またはフロンの代替え溶液である。具
体的には例えば塩化メチレンや、N−メチル−2−ピロ
リドン(NMP)と添加剤と純水の混合溶液等があり、
本装置では塩化メチレンを用いている。第一洗浄槽24
は、研磨時のレンズ固定用のピッチや、研磨後にレンズ
を研磨冶具から外す時にレンズ表面に塗る保護膜を除去
する目的がある。例えば、第一洗浄槽24の液温が50
℃の場合、第一洗浄室23内の雰囲気の温度は、40℃
〜50℃に制御され、前室21内の雰囲気の温度は、3
0℃〜40℃に制御される。前室21で約30℃〜40
℃まで加熱された被洗浄物20aは、載せられている洗
浄ホルダー25aごと、搬送部26aにより前室21か
ら第一洗浄室23に、次いで第一洗浄室23から第一洗
浄槽24に移動させられる。
First, the object to be cleaned 20a is conveyed to the cleaning device 22, and is heated in the front chamber 21 to about -10 ° C. with respect to the temperature of the atmosphere in the first cleaning chamber 23. The cleaning medium of the first cleaning tank 24 is a substitute solution of tricrene, a substitute solution of trichloroethane, or a substitute solution of chlorofluorocarbon. Specifically, for example, there is a mixed solution of methylene chloride, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), an additive and pure water, and the like.
This apparatus uses methylene chloride. First cleaning tank 24
The object of the present invention is to remove a pitch for fixing the lens at the time of polishing and a protective film applied to the lens surface when the lens is removed from the polishing jig after the polishing. For example, if the liquid temperature of the first cleaning tank 24 is 50
℃, the temperature of the atmosphere in the first cleaning chamber 23 is 40 ℃
To 50 ° C., and the temperature of the atmosphere in the front chamber 21 is 3
It is controlled at 0 ° C to 40 ° C. Approximately 30 ° C-40 in front room 21
The object to be cleaned 20a heated to ° C. is moved together with the mounted cleaning holder 25a from the front chamber 21 to the first cleaning chamber 23 and then from the first cleaning chamber 23 to the first cleaning tank 24 by the transport unit 26a. Can be

【0029】第一洗浄槽24で研磨時に発生した汚染
物、主にピッチや保護膜を除去した後、被洗浄物は搬送
部26aにより第一洗浄槽24から第一洗浄室に引き上
げられ、搬送部26aが第一移動路27の前に停止す
る。そして、開閉シャッター28aが開き、被洗浄物2
0aは、オートローダ31aで第一移動路27に搬送さ
れる。第一移動路27にはウォータージェット装置が配
置されている。このウォータージェット装置32aの液
体は、有機溶剤、例えばIPA、メタノール等が好適で
ある。本装置ではIPAを用いている。IPAの温度
は、40℃〜50℃に制御される。一定時間ウォーター
ジェット装置32aからIPAを被洗浄物20aに放射
した後、オートローダ31aが動き、開閉シャッター2
8bが開く。
After the contaminants generated during polishing, mainly the pitch and the protective film, are removed in the first cleaning tank 24, the object to be cleaned is lifted from the first cleaning tank 24 to the first cleaning chamber by the transport section 26a and transported. The part 26a stops before the first moving path 27. Then, the opening / closing shutter 28a is opened, and
0a is conveyed to the first moving path 27 by the autoloader 31a. A water jet device is arranged in the first moving path 27. The liquid of the water jet device 32a is preferably an organic solvent, for example, IPA, methanol or the like. This apparatus uses IPA. The temperature of the IPA is controlled between 40C and 50C. After radiating IPA from the water jet device 32a to the object to be cleaned 20a for a certain period of time, the autoloader 31a moves and the open / close shutter 2 is opened.
8b opens.

【0030】被洗浄物20aが載せられている洗浄ホル
ダー25aは、搬送部26bに取り付けられる。搬送部
26bは第二洗浄室33を移動する。洗浄ホルダー25
aに載せられている被洗浄物20aは、第二洗浄槽35
に浸漬される。第二洗浄槽35の洗浄媒体としては、ア
ルカリ性洗浄液または中性洗浄液が好適である。本装置
ではアルカリ性洗浄液を用いて、その液温は50℃程度
とする。また、第二洗浄槽35には超音波発生器62b
が設置され、これにより10kHz〜50kHzの振動
数の超音波を与え超音波洗浄を行う。洗浄時間は10秒
〜5分以内とする。洗浄時間が10秒未満では汚れが完
全には落ちず、洗浄時間が5分を超える場合は被洗浄物
が破損する恐れがある。第二洗浄室33内の雰囲気の温
度は、40℃〜50℃に制御される。
The cleaning holder 25a on which the object to be cleaned 20a is placed is attached to the transport section 26b. The transport section 26b moves in the second cleaning chamber 33. Cleaning holder 25
The object to be cleaned 20a placed on the second cleaning tank 35
Immersed in As a cleaning medium for the second cleaning tank 35, an alkaline cleaning liquid or a neutral cleaning liquid is preferable. In this apparatus, an alkaline cleaning liquid is used, and the liquid temperature is set to about 50 ° C. The second cleaning tank 35 has an ultrasonic generator 62b.
Is provided, thereby applying ultrasonic waves having a frequency of 10 kHz to 50 kHz to perform ultrasonic cleaning. The cleaning time is within 10 seconds to 5 minutes. If the cleaning time is less than 10 seconds, the dirt is not completely removed, and if the cleaning time is more than 5 minutes, the object to be cleaned may be damaged. The temperature of the atmosphere in the second cleaning chamber 33 is controlled at 40 ° C to 50 ° C.

【0031】洗浄終了後、搬送部26bが第二移動路5
6の前まで移動し、開閉シャッター28cが開き、被洗
浄物が載せられた洗浄ホルダーは、オートローダ31b
に置かれる。第二移動路56には第一移動路27と同
様、ウォータージェット装置32bが配置される。ウォ
ータージェット装置32bの液体としては、水または、
電解イオン溶液が好適である。本装置では水を使用し、
その液温は40℃〜50℃に制御される。被洗浄物が第
二移動路56に任意に設定した時間停止後、オートロー
ダ31bが動き開閉シャッター28dが開く。そして被
洗浄物20bが載せられている洗浄ホルダー25bは、
搬送部26cに取り付けられる。
After the washing is completed, the transport section 26b is moved to the second moving path 5
6, the opening / closing shutter 28c is opened, and the cleaning holder on which the object to be cleaned is placed is placed on the autoloader 31b.
To be placed. The water jet device 32b is disposed in the second moving path 56, as in the first moving path 27. As the liquid of the water jet device 32b, water or
Electrolytic ionic solutions are preferred. This device uses water,
The liquid temperature is controlled at 40 ° C to 50 ° C. After the object to be cleaned stops on the second moving path 56 for an arbitrarily set time, the autoloader 31b moves and the opening / closing shutter 28d opens. The cleaning holder 25b on which the object to be cleaned 20b is placed is
It is attached to the transport section 26c.

【0032】搬送部26cは第三洗浄室34を移動し、
洗浄ホルダー25bに載せられている被洗浄物20bを
第三洗浄槽36に浸漬させる。第三洗浄槽36の洗浄媒
体は、被洗浄物20bである蛍石レンズをエッチングす
ることのできる酸性洗浄液、例えば希硝酸、希硫酸、希
塩酸等の水溶液が好適である。本装置では希塩酸を使用
し、その液温は50℃である。第二洗浄槽35同様に超
音波発生器62cにより10kHz〜50kHzの振動
数の超音波を与え、超音波洗浄を行う。洗浄時間は10
秒〜5分程度である。洗浄時間が10秒未満では、汚れ
が完全には落ちず、洗浄時間が5分を超える場合は、被
洗浄物が破損する恐れがある。各洗浄槽に装着されてい
る超音波発生器62a、62b、62c、62dは、振
動数を最大100kHzまで上げることができる。蛍石
等の結晶材料では、超音波洗浄のキャビテーション(気
泡)の影響で表面にエッチピットが発生し、エッチピッ
トによりレンズ表面で光が散乱し、不具合が生じること
があるので、超音波の振動数の値を抑えて洗浄を行うの
が好ましい。なお、第三洗浄室34内の雰囲気の温度
は、35℃〜45℃に制御される。
The transport section 26c moves in the third cleaning chamber 34,
The object to be cleaned 20b placed on the cleaning holder 25b is immersed in the third cleaning tank 36. The cleaning medium in the third cleaning tank 36 is preferably an acidic cleaning liquid capable of etching the fluorite lens as the cleaning object 20b, for example, an aqueous solution of dilute nitric acid, dilute sulfuric acid, dilute hydrochloric acid, or the like. In this apparatus, dilute hydrochloric acid is used, and the liquid temperature is 50 ° C. Similarly to the second cleaning tank 35, ultrasonic waves having a frequency of 10 kHz to 50 kHz are given by the ultrasonic generator 62c to perform ultrasonic cleaning. Washing time is 10
It is about seconds to 5 minutes. If the cleaning time is less than 10 seconds, the dirt is not completely removed, and if the cleaning time exceeds 5 minutes, the object to be cleaned may be damaged. The ultrasonic generators 62a, 62b, 62c, and 62d attached to each cleaning tank can increase the frequency up to 100 kHz. In the case of crystalline materials such as fluorite, etch pits are generated on the surface due to the cavitation (bubbles) of the ultrasonic cleaning, and light is scattered on the lens surface by the etch pits. It is preferable to carry out the washing while suppressing the value of the number. Note that the temperature of the atmosphere in the third cleaning chamber 34 is controlled at 35 ° C to 45 ° C.

【0033】第三洗浄槽34での洗浄終了後に搬送部2
6cが第三移動路57の前まで移動し、開閉シャッター
28eが開き、被洗浄物20bが載せられた洗浄ホルダ
ー28eは、オートローダ31cに置かれる。第三移動
路57のウォータージェット装置32cの液体として
は、水または、電解イオン溶液が好適である。本装置で
は水を使用し、その液温は40℃〜50℃に制御され
る。被洗浄物20bが第三移動路57に任意に設定した
時間停止後、オートローダ31cが動き開閉シャッター
28fが開く。そして被洗浄物20bが載せられている
洗浄ホルダー25bは、搬送部26dに取り付けられ
る。
After the completion of cleaning in the third cleaning tank 34, the transport unit 2
6c moves to the front of the third moving path 57, the opening / closing shutter 28e opens, and the cleaning holder 28e on which the object 20b is placed is placed on the autoloader 31c. As the liquid of the water jet device 32c of the third moving path 57, water or an electrolytic ionic solution is preferable. In this apparatus, water is used, and the liquid temperature is controlled at 40 ° C to 50 ° C. After the object to be cleaned 20b stops on the third moving path 57 for an arbitrarily set time, the autoloader 31c moves to open the opening / closing shutter 28f. Then, the cleaning holder 25b on which the object to be cleaned 20b is placed is attached to the transport section 26d.

【0034】搬送部26dは第四洗浄室37を移動し、
被洗浄物20bを第四洗浄槽38に浸漬させる。第四洗
浄室37内の雰囲気の温度は、25℃〜35℃に制御さ
れる。第四洗浄槽38の洗浄媒体は、IPAを使用し、
その液温は常温とする。洗浄時間は10秒〜5分程度で
ある。洗浄終了後、搬送部26dが第四移動路58の前
まで移動し、開閉シャッター28gが開き、被洗浄物が
載せられた洗浄ホルダーは、オートローダ31dに置か
れる。第四移動路58のウォータージェット装置32d
の液体としては、O3水溶液が好適である。O3水溶液の
液温は、最初35℃〜50℃程度とし、40℃〜60℃
まで徐々に液温を上げていく。第四移動路58に任意に
設定した時間停止後、オートローダ31dが動き開閉シ
ャッター28hが開き、被洗浄物20bが載せられてい
る洗浄ホルダー25bは、搬送部26eに取り付けられ
る。
The transport section 26d moves in the fourth cleaning chamber 37,
The object to be cleaned 20b is immersed in the fourth cleaning tank. The temperature of the atmosphere in the fourth cleaning chamber 37 is controlled at 25 ° C to 35 ° C. The cleaning medium of the fourth cleaning tank 38 uses IPA,
The liquid temperature is normal temperature. The cleaning time is about 10 seconds to 5 minutes. After the cleaning, the transport unit 26d moves to the position before the fourth moving path 58, the opening / closing shutter 28g opens, and the cleaning holder on which the object to be cleaned is placed is placed on the autoloader 31d. The water jet device 32d of the fourth moving path 58
As the liquid, an O 3 aqueous solution is preferable. The liquid temperature of the O 3 aqueous solution is initially about 35 ° C. to 50 ° C., and 40 ° C. to 60 ° C.
Gradually increase the liquid temperature until After stopping for an arbitrarily set time in the fourth moving path 58, the autoloader 31d moves to open and close the shutter 28h, and the cleaning holder 25b on which the object 20b is mounted is attached to the transport unit 26e.

【0035】搬送部26eは第五洗浄室39を移動し、
被洗浄物20cを第五洗浄槽40に浸漬させる。第五洗
浄室39内の雰囲気の温度は、50℃〜60℃に制御
し、第五洗浄槽40の洗浄媒体は、IPA蒸気であり、
第五洗浄槽40はIPA蒸気洗浄(IPAベーパー洗
浄)を行うIPA蒸気洗浄槽である。IPA蒸気の温度
は、80℃〜85℃程度である。洗浄時間は10秒〜5
分程度である。洗浄時間が10秒未満では、汚れが完全
には落ちず、洗浄時間が5分を超える場合は、被洗浄物
が破損する恐れがある。
The transport section 26e moves in the fifth cleaning chamber 39,
The object to be cleaned 20c is immersed in the fifth cleaning tank 40. The temperature of the atmosphere in the fifth cleaning chamber 39 is controlled at 50 ° C. to 60 ° C., and the cleaning medium of the fifth cleaning tank 40 is IPA vapor,
The fifth cleaning tank 40 is an IPA vapor cleaning tank that performs IPA vapor cleaning (IPA vapor cleaning). The temperature of the IPA vapor is about 80C to 85C. Cleaning time is 10 seconds to 5
Minutes. If the cleaning time is less than 10 seconds, the dirt is not completely removed, and if the cleaning time exceeds 5 minutes, the object to be cleaned may be damaged.

【0036】洗浄終了後、被洗浄物を冷却するための第
一徐冷室41の前まで搬送部26eが移動し、開閉シャ
ッター28iが開き、被洗浄物20dが載せられている
洗浄ホルダー25dは、オートローダ31eに置かれ
る。第一徐冷室41内の雰囲気の温度は、70℃〜60
℃とし、被洗浄物は第一徐冷室41、第二徐冷室42、
第三徐冷室43を通り、被洗浄物の温度が30℃程度に
なるまで徐々に冷却される。
After the cleaning is completed, the transport section 26e moves to a position before the first slow cooling chamber 41 for cooling the object to be cleaned, the opening / closing shutter 28i is opened, and the cleaning holder 25d on which the object to be cleaned 20d is placed is moved. , Is placed on the autoloader 31e. The temperature of the atmosphere in the first annealing room 41 is 70 ° C to 60 ° C.
° C., the object to be cleaned is a first annealing room 41, a second annealing room 42,
After passing through the third slow cooling chamber 43, the object to be cleaned is gradually cooled until the temperature thereof reaches about 30 ° C.

【0037】次に、ホルダー設置室45にて、洗浄ホル
ダー保管室44から上部ホルダー46を搬送し、ホルダ
ー設置装置47で、上部ホルダー46は被洗浄物20e
が載せられている洗浄ホルダー25eに被せるように取
り付けられる。また、ホルダー設置室45にて被洗浄物
の上下に設けられた洗浄ホルダーは、90゜回転させら
れ、オートローダ31fに置かれる。そして、開閉シャ
ッター28jが開き、被洗浄物20fは紫外線光洗浄室
(UV洗浄室)48に移動される。UV洗浄室48で被
洗浄物20fが停止し、UVランプ49が点灯し被洗浄
物20fは、UV洗浄される。洗浄時間は1分〜30分
程度とする。洗浄時間が1分未満では、汚れが完全には
落ちず、洗浄時間が30分あれば、汚れは十分に落ち
る。UV洗浄室48上部には酸素ボンベ51bが備えら
れている。UV洗浄中に酸素導入口59から活性酸素を
送り込むことにより、被洗浄物20fである蛍石レンズ
表面に付着している有機系の汚れは、除去され、蛍石レ
ンズ表面は活性化される。UV洗浄室内の余剰の気体
は、排気口61から排気される。ホルダー設置室45で
洗浄ホルダーを90゜回転させる理由は、UV洗浄室4
8の上部に設置されているUVランプ49から照射され
るUV光を効率良く被洗浄物に照射させるためである。
洗浄後、開閉シャッター28kが開き、洗浄ホルダーは
後室50に搬送される。
Next, the upper holder 46 is transported from the cleaning holder storage chamber 44 in the holder installation chamber 45, and the upper holder 46 is moved to the object 20e to be cleaned by the holder installation device 47.
Is mounted so as to cover the cleaning holder 25e on which the is mounted. The cleaning holders provided above and below the object to be cleaned in the holder installation chamber 45 are rotated by 90 ° and placed on the autoloader 31f. Then, the opening / closing shutter 28j is opened, and the object 20f is moved to the ultraviolet light cleaning chamber (UV cleaning chamber) 48. The object 20f to be cleaned is stopped in the UV cleaning chamber 48, the UV lamp 49 is turned on, and the object 20f to be cleaned is subjected to UV cleaning. The cleaning time is about 1 minute to 30 minutes. If the cleaning time is less than 1 minute, the dirt is not completely removed, and if the cleaning time is 30 minutes, the dirt is sufficiently removed. An oxygen cylinder 51b is provided above the UV cleaning chamber 48. By feeding active oxygen from the oxygen inlet 59 during the UV cleaning, organic dirt adhering to the surface of the fluorite lens which is the object to be cleaned 20f is removed, and the surface of the fluorite lens is activated. Excess gas in the UV cleaning chamber is exhausted from the exhaust port 61. The reason for rotating the cleaning holder by 90 ° in the holder installation room 45 is that the UV cleaning room 4
This is for efficiently irradiating the object to be cleaned with UV light emitted from the UV lamp 49 installed on the upper part of the cleaning object 8.
After the cleaning, the opening / closing shutter 28k is opened, and the cleaning holder is transported to the rear chamber 50.

【0038】前室内、各洗浄室内、各徐冷室内、後室内
には、クリンエアー、または酸素ボンベ51aからの活
性酸素、または窒素ボンベ55からのN2が、前室、各
洗浄室、各徐冷室、後室の上部に設置されている空調装
置52a、52b、52c、52d、52e、52f、
52g、52h、52iで好適な温度に制御されて、送
風される。空調装置52はエアー配管53と連結されて
いる。エアー配管53はクリンエアー装置54、酸素ボ
ンベ51a、窒素ボンベ55と連結している。クリンエ
アー装置54は外気を取り込み、取り込んだ外気は、内
蔵しているエアーフィルター等でホコリ等が除去され、
風量を調整されて空調装置52に送られる。また、前
室、各洗浄室、各徐冷室、後室は、0.1μmのパーテ
ィクルを99.99%以上の集塵効率で、クラス100
以下の清浄度を保つ雰囲気にされていて、活性酸素やN
2で充填されている。このように常にクリーンな環境が
保持されているため、被洗浄物の表面の汚染は抑えられ
る。
In the front room, each cleaning room, each cooling room, and the rear room, clean air, active oxygen from the oxygen cylinder 51a, or N 2 from the nitrogen cylinder 55 is supplied to the front room, each cleaning room, Air conditioners 52a, 52b, 52c, 52d, 52e, 52f,
The air is blown while being controlled to a suitable temperature at 52g, 52h, and 52i. The air conditioner 52 is connected to an air pipe 53. The air pipe 53 is connected to a clean air device 54, an oxygen cylinder 51a, and a nitrogen cylinder 55. The clean air device 54 takes in outside air, and the taken-in outside air is removed of dust and the like by a built-in air filter and the like.
The air volume is adjusted and sent to the air conditioner 52. In addition, the front room, each cleaning room, each slow cooling room, and the rear room have a dust collection efficiency of 99.99% or more for particles of 0.1 μm and a class 100.
The atmosphere is to keep the following cleanliness,
Filled with two . Since the clean environment is always maintained, contamination of the surface of the object to be cleaned is suppressed.

【0039】好ましくは、搬送部26a、26b、26
c、26d、26e、オートローダ31a、31b、3
1c、31d、31e、31f、開閉シャッター28
a、28b、28c、28d、28e、28f、28
g、28h、28i、28j、28kを自動制御とする
ことにより、洗浄の自動化によるコスト低減が実現され
る。
Preferably, the transport units 26a, 26b, 26
c, 26d, 26e, autoloaders 31a, 31b, 3
1c, 31d, 31e, 31f, open / close shutter 28
a, 28b, 28c, 28d, 28e, 28f, 28
By automatically controlling g, 28h, 28i, 28j, and 28k, the cost can be reduced by automating the cleaning.

【0040】[0040]

【発明の効果】このように本発明の洗浄装置は、複数の
洗浄槽で構成され、所定の洗浄槽内の洗浄媒体および洗
浄室内の雰囲気の温度を測定する温度センサーと、温度
センサーの信号に基づき洗浄槽内の洗浄媒体および洗浄
室内の雰囲気の温度を調整する温度調整手段を備え、温
度差による破損を無くすように被洗浄物が全洗浄工程に
渡って一定の温度範囲あるいは所定の温度勾配に保つこ
とを可能とする。洗浄室内の雰囲気および洗浄槽内の液
体(洗浄液)の温度を測定して、これらの差を±10℃
以内となるようにすると、被洗浄物として紫外線領域で
使用可能な光学材料のうち線膨張率が15×10-6以上
の材料を用いても温度差による破損を無くすことができ
る。また、紫外線光洗浄を施すことにより、高い清浄度
を得ることができる。本発明は洗浄装置により洗浄が行
われるために手拭きの熟練した技能を必要としない。
As described above, the cleaning apparatus of the present invention comprises a plurality of cleaning tanks, a temperature sensor for measuring the temperature of the cleaning medium in a predetermined cleaning tank and the atmosphere in the cleaning chamber, and a signal from the temperature sensor. Temperature control means for controlling the temperature of the cleaning medium in the cleaning tank and the atmosphere in the cleaning chamber based on the temperature of the object to be cleaned in a certain temperature range or a predetermined temperature gradient throughout the entire cleaning process so as to eliminate damage due to the temperature difference. It is possible to keep in. The temperature of the atmosphere in the cleaning chamber and the temperature of the liquid (cleaning liquid) in the cleaning tank are measured, and the difference between them is ± 10 ° C.
Within this range, breakage due to a temperature difference can be eliminated even when a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 −6 or more among optical materials usable in the ultraviolet region as the object to be cleaned. In addition, high cleanliness can be obtained by performing ultraviolet light cleaning. The present invention does not require the skill of hand wiping because the cleaning is performed by the cleaning device.

【0041】洗浄槽と洗浄槽の間に移動路、開閉シャッ
ターを設け、区切ることで洗浄槽の保温効果を高め、温
度勾配を制御し易くすることができる。さらに被洗浄物
の移動路を設けることで、洗浄槽間の薬液の持ち込みを
防止することができ、効率良く高い清浄度を得ることが
できる。さらに最終洗浄槽と紫外線光洗浄室の間に被洗
浄物の温度を徐々に下げる徐冷室を設けることにより、
被洗浄物として紫外線領域で使用可能な光学材料のうち
線膨張率が15×10-6以上の材料を用いても温度の急
激な低下による破損を無くすことができる。
By providing a moving path and an opening / closing shutter between the cleaning tanks and separating them, the heat retaining effect of the cleaning tank can be enhanced and the temperature gradient can be easily controlled. Further, by providing a moving path for the object to be cleaned, it is possible to prevent a chemical solution from being brought into between the cleaning tanks, and it is possible to efficiently obtain high cleanliness. Furthermore, by providing a slow cooling chamber that gradually lowers the temperature of the object to be cleaned between the final cleaning tank and the ultraviolet light cleaning chamber,
Even if an optical material that can be used in the ultraviolet region as the object to be cleaned has a linear expansion coefficient of 15 × 10 −6 or more, breakage due to a sharp decrease in temperature can be eliminated.

【0042】また、移動路にウォーターマークを防止す
る装置を設け、液滴の乾燥による清浄性の低下を防止す
ると共にリンス洗浄を兼ねさせることにより、洗浄槽の
数を低減する効果もある。さらに、所定の洗浄槽に超音
波洗浄を行う超音波発生器を設けることにより、洗浄効
率を上げることができる。しかしながら、紫外線領域で
使用可能な光学材料のうち線膨張率が15×10-6以上
の材料を被洗浄物とするなら、これらの光学材料は破壊
強度が弱いため、洗浄条件は超音波の振動数は10kH
z〜50kHzの範囲内で、かつ洗浄時間は10秒〜5
分以内とするのが好ましい。
In addition, a device for preventing watermarks is provided in the moving path to prevent a decrease in cleanliness due to drying of the droplets and also to perform the rinsing cleaning, thereby providing an effect of reducing the number of cleaning tanks. Further, by providing an ultrasonic generator for performing ultrasonic cleaning in a predetermined cleaning tank, the cleaning efficiency can be increased. However, if the material to be cleaned is a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 −6 or more among the optical materials that can be used in the ultraviolet region, these optical materials have low destructive strength. Number is 10 kh
Within a range of z to 50 kHz, and a cleaning time of 10 seconds to 5 seconds.
It is preferably within minutes.

【0043】本発明の実施の形態の洗浄装置および洗浄
方法を適用することにより、従来問題になっていた問題
点を克服し、蛍石レンズ表面の清浄度が向上するため、
表面の汚れによる光の散乱や吸収が大幅に低減されるの
で、光学特性(透過率)をより向上させることができ、
かつ、蛍石レンズ表面が活性化することにより反射防止
膜等の光学薄膜をコーティングする際に、蛍石レンズ表
面への光学薄膜の密着性が向上するという効果がある。
また、温度制御を行うことにより蛍石レンズの破損を低
減し、歩留まりを向上させ、コスト低減を実現すること
ができるという効果がある。
By applying the cleaning apparatus and the cleaning method according to the embodiment of the present invention, the conventional problems can be overcome and the cleanliness of the fluorite lens surface can be improved.
Since scattering and absorption of light due to surface contamination are greatly reduced, optical characteristics (transmittance) can be further improved,
In addition, when the optical thin film such as an antireflection film is coated by activating the surface of the fluorite lens, there is an effect that the adhesion of the optical thin film to the surface of the fluorite lens is improved.
Further, by performing the temperature control, there is an effect that damage to the fluorite lens can be reduced, the yield can be improved, and the cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の洗浄装置を示す構成図。FIG. 1 is a configuration diagram showing a cleaning apparatus of the present invention.

【図2】 本発明の洗浄装置を示す構成図FIG. 2 is a configuration diagram showing a cleaning apparatus of the present invention.

【図3】 従来の光学部品の洗浄装置を示す構成図FIG. 3 is a configuration diagram showing a conventional optical component cleaning apparatus.

【図4】 従来の光学部品の手拭き洗浄の洗浄方法を示
す図。
FIG. 4 is a view showing a conventional cleaning method for manually wiping optical components.

【図5】 従来のウェット処理装置の構成図。FIG. 5 is a configuration diagram of a conventional wet processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 洗浄装置 2 第一洗浄槽 3 第二洗浄槽 4 第三洗浄槽 5 第四洗浄槽 6 第五洗浄槽 7 第六洗浄槽 8 超音波発生器 9 液温制御装置 10 拭き布 11 指先 12a、12b 被洗浄物 13 回転テーブル 14 ウェーハ 15 薬液 16 加熱室 17 キャリア 18 温風導入口 19 排気口 20a、20b、20c、20d、20e、20f 蛍
石レンズ 21 前室 22 洗浄装置 23 第一洗浄室 24 第一洗浄槽 25a、25b、25c、25d、25e 洗浄ホルダ
ー 26a、26b、26c、26d、26e 搬送部 27 第一移動路 28a、28b、28c、28d、28e、28f、2
8g、28h、28i、28j、28k 開閉シャッ
ター 29a、29b、29c、29d、29e、29f、2
9g、29h、29i温度センサー 30 温度制御装置 31a、31b、31c、31d、31e、31f
オートローダ 32a、32b、32c、32d ウォータージェット
装置 33 第二洗浄室 34 第三洗浄室 35 第二洗浄槽 36 第三洗浄槽 37 第四洗浄室 38 第四洗浄槽 39 第五洗浄室 40 第五洗浄槽 41 第一徐冷室 42 第二徐冷室 43 第三徐冷室 44 洗浄ホルダー保管室 45 ホルダー設置室 46 上部ホルダー 47 ホルダー設置装置 48 紫外線光洗浄室 49 UVランプ 50 後室 51a、51b 酸素ボンベ 52a、52b、52c、52d、52e、52f、5
2g、52h、52i空調装置 53 エアー配管 54 クリンエアー装置 55 窒素ボンベ 56 第二移動路 57 第三移動路 58 第四移動路 59 酸素導入口 60 排気弁 61 排気口 62a、62b、62c、62d 超音波発生器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cleaning apparatus 2 First cleaning tank 3 Second cleaning tank 4 Third cleaning tank 5 Fourth cleaning tank 6 Fifth cleaning tank 7 Sixth cleaning tank 8 Ultrasonic generator 9 Liquid temperature control device 10 Wiping cloth 11 Fingertip 12a 12b Object to be cleaned 13 Rotary table 14 Wafer 15 Chemical solution 16 Heating chamber 17 Carrier 18 Warm air inlet 19 Exhaust port 20a, 20b, 20c, 20d, 20e, 20f Fluorite lens 21 Front chamber 22 Cleaning device 23 First cleaning chamber 24 First cleaning tank 25a, 25b, 25c, 25d, 25e Cleaning holder 26a, 26b, 26c, 26d, 26e Transport unit 27 First moving path 28a, 28b, 28c, 28d, 28e, 28f, 2
8g, 28h, 28i, 28j, 28k Open / close shutter 29a, 29b, 29c, 29d, 29e, 29f, 2
9g, 29h, 29i Temperature sensor 30 Temperature controller 31a, 31b, 31c, 31d, 31e, 31f
Autoloader 32a, 32b, 32c, 32d Water jet device 33 Second cleaning chamber 34 Third cleaning chamber 35 Second cleaning tank 36 Third cleaning tank 37 Fourth cleaning chamber 38 Fourth cleaning tank 39 Fifth cleaning chamber 40 Fifth cleaning Tank 41 First annealing room 42 Second annealing room 43 Third annealing room 44 Cleaning holder storage room 45 Holder installation room 46 Upper holder 47 Holder installation device 48 Ultraviolet light cleaning room 49 UV lamp 50 Rear room 51a, 51b Oxygen Cylinders 52a, 52b, 52c, 52d, 52e, 52f, 5
2g, 52h, 52i Air conditioner 53 Air piping 54 Clean air device 55 Nitrogen cylinder 56 Second moving path 57 Third moving path 58 Fourth moving path 59 Oxygen inlet 60 Exhaust valve 61 Exhaust outlet 62a, 62b, 62c, 62d Sound wave generator

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被洗浄物を洗浄する洗浄媒体を有する複数
の洗浄槽と、 前記洗浄槽が設置された洗浄室と、 前記洗浄槽の中の所定の洗浄槽内の洗浄媒体の温度およ
び前記洗浄室内の雰囲気の温度をそれぞれ測定する各温
度センサーと、 前記各温度センサーの信号に基づき前記洗浄媒体の温度
および前記洗浄室内の雰囲気の温度を調整する温度調整
手段と、 前記洗浄槽の中で最終洗浄工程で用いる洗浄槽に隣接す
るように最終洗浄工程で用いる洗浄槽に係る洗浄室に連
結して配置された紫外線光洗浄室と、 を有する洗浄装置。
A cleaning chamber having a cleaning medium for cleaning an object to be cleaned; a cleaning chamber in which the cleaning tank is installed; a temperature of a cleaning medium in a predetermined cleaning tank in the cleaning tank; Temperature sensors for measuring the temperature of the atmosphere in the cleaning chamber, temperature adjusting means for adjusting the temperature of the cleaning medium and the temperature of the atmosphere in the cleaning chamber based on signals from the temperature sensors, A cleaning apparatus comprising: an ultraviolet light cleaning chamber disposed adjacent to a cleaning tank used in the final cleaning step and connected to a cleaning chamber related to the cleaning tank used in the final cleaning step.
【請求項2】請求項1に記載の洗浄装置において、 前記各洗浄室の間に被洗浄物が移動する移動路と、 前記洗浄室と前記移動路の間に設置された開閉シャッタ
ーと、 前記洗浄室と前記紫外線光洗浄室の間に設置された開閉
シャッターと、 前記洗浄室と前記紫外線光洗浄室の間に設置された被洗
浄物を冷却する徐冷室と、 をさらに設けたことを特徴とする洗浄装置。
2. The cleaning apparatus according to claim 1, wherein a moving path through which an object to be cleaned moves between each of the cleaning chambers, an opening / closing shutter provided between the cleaning chamber and the moving paths, An opening / closing shutter provided between a cleaning room and the ultraviolet light cleaning room; and a slow cooling room provided between the cleaning room and the ultraviolet light cleaning room for cooling an object to be cleaned. Characterized cleaning equipment.
【請求項3】請求項2に記載の洗浄装置において、 前記移動路内の温度および前記徐冷室内の雰囲気の温度
を測定する温度センサーと、 前記温度センサーの信号に基づき前記移動路内の温度お
よび前記徐冷室内の雰囲気の温度を調整する温度調整手
段と、 前記洗浄室、前記洗浄槽、前記移動路、前記徐冷室およ
び前記紫外線光洗浄室で被洗浄物を移動させる搬送手段
と、 をさらに設けたことを特徴とする洗浄装置。
3. The cleaning device according to claim 2, wherein a temperature sensor for measuring a temperature in the moving path and a temperature of an atmosphere in the cooling room, and a temperature in the moving path based on a signal from the temperature sensor. And a temperature adjusting unit that adjusts the temperature of the atmosphere in the annealing room; and a transport unit that moves an object to be cleaned in the cleaning room, the cleaning tank, the moving path, the annealing room, and the ultraviolet light cleaning room, A cleaning device, further comprising:
【請求項4】請求項3に記載の洗浄装置において、 前記各々の移動路は、ウォーターマークを防止する装置
を備え、 前記洗浄槽の中の所定の洗浄槽は、超音波洗浄を行う超
音波発生器を備えていることを特徴とする洗浄装置。
4. The cleaning apparatus according to claim 3, wherein each of the moving paths includes a device for preventing a watermark, and a predetermined cleaning tank in the cleaning tank performs ultrasonic cleaning. A cleaning device comprising a generator.
【請求項5】請求項4に記載の洗浄装置において、 前記ウォーターマークを防止する装置は、ウォータージ
ェット装置であり、 前記移動路の温度調整手段は、前記ウォータージェット
装置で使用する液体の温度を変化させる熱交換器であ
り、 前記洗浄室および前記徐冷室の温度調整手段は、前記洗
浄室および前記徐冷室に送られる気体の温度を変化させ
る空調装置であることを特徴とする洗浄装置。
5. The cleaning device according to claim 4, wherein the device for preventing the watermark is a water jet device, and the temperature adjustment means of the moving path adjusts a temperature of a liquid used in the water jet device. A cleaning device, wherein the temperature control means of the cleaning chamber and the annealing chamber is an air conditioner for changing a temperature of gas sent to the cleaning chamber and the annealing chamber. .
【請求項6】請求項5に記載の洗浄装置において、 前記複数の洗浄槽の各々の内部には、塩化メチレン、N
−メチル−2−ピロリドン(NMP)と添加剤と純水の
混合溶液、アルカリ性洗浄液、中性洗浄液、酸性洗浄液
またはイソプロピルアルコールの中の1つの液体または
イソプロピルアルコールの蒸気が使用され、 前記ウォータージェット装置で使用する液体は、水、電
解イオン溶液、有機溶剤またはO3水溶液の中の1つで
あり、 前記洗浄室および前記徐冷室に送られる気体は、クリー
ンエアー、活性酸素またはN2の中の1つであることを
特徴とする洗浄装置。
6. The cleaning apparatus according to claim 5, wherein methylene chloride, N
A liquid solution of a mixture of methyl-2-pyrrolidone (NMP), an additive and pure water, an alkaline cleaning solution, a neutral cleaning solution, an acidic cleaning solution, or isopropyl alcohol, or vapor of isopropyl alcohol; Is one of water, an electrolytic ion solution, an organic solvent or an O 3 aqueous solution, and the gas sent to the cleaning chamber and the slow cooling chamber is clean air, active oxygen or N 2 . A cleaning device, characterized by being one of the following.
【請求項7】請求項6に記載の洗浄装置において、 前記洗浄槽および前記移動路は、5個の洗浄槽とそれぞ
れの洗浄槽の間に配置された4個の移動路で構成され、 前記5個の洗浄槽および前記4個の移動路は、洗浄工程
の順に第一洗浄槽、第一移動路、第二洗浄槽、第二移動
路、第三洗浄槽、第三移動路、第四洗浄槽、第四移動
路、第五洗浄槽と配置され、 第一洗浄槽は槽内で使用する洗浄媒体が塩化メチレン、
またはN−メチル−2−ピロリドン(NMP)と添加剤
と純水の混合溶液である洗浄槽であり、 第二洗浄槽は槽内で使用する洗浄媒体がアルカリ性洗浄
液または中性洗浄液である洗浄槽であり、 第三洗浄槽は槽内で使用する洗浄媒体が酸性洗浄液であ
る洗浄槽であり、 第四洗浄槽は槽内で使用する洗浄媒体がイソプロピルア
ルコールである洗浄槽であり、 第五洗浄槽はイソプロピルアルコール蒸気洗浄槽であ
り、 第一移動路のウォータージェット装置で使用する液体
は、有機溶剤であり、 第二移動路のウォータージェット装置で使用する液体
は、水または電解イオン溶液であり、 第三移動路のウォータージェット装置で使用する液体
は、水または電解イオン溶液であり、 第四移動路のウォータージェット装置で使用する液体
は、O3水溶液であることを特徴とする洗浄装置。
7. The cleaning apparatus according to claim 6, wherein the cleaning tank and the moving path include five cleaning tanks and four moving paths disposed between the respective cleaning tanks. The five cleaning tanks and the four moving paths are, in order of the cleaning process, a first cleaning tank, a first moving path, a second cleaning tank, a second moving path, a third cleaning tank, a third moving path, a fourth moving path. A cleaning tank, a fourth moving path, and a fifth cleaning tank are arranged. The first cleaning tank uses methylene chloride as a cleaning medium in the tank.
Alternatively, the washing tank is a mixed solution of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), an additive and pure water, and the second washing tank is a washing tank in which the washing medium used in the tank is an alkaline washing solution or a neutral washing solution. The third cleaning tank is a cleaning tank in which the cleaning medium used in the tank is an acidic cleaning liquid, the fourth cleaning tank is a cleaning tank in which the cleaning medium used in the tank is isopropyl alcohol, and the fifth cleaning tank. The tank is an isopropyl alcohol vapor washing tank. The liquid used in the water jet device on the first moving path is an organic solvent, and the liquid used in the water jet device on the second moving path is water or an electrolytic ionic solution. The liquid used in the water jet device on the third moving path is water or an electrolytic ionic solution, and the liquid used in the water jet device on the fourth moving path is O 3 aqueous solution. A cleaning device characterized by being a liquid.
【請求項8】請求項1から請求項7のいずれかに記載の
洗浄装置において、 前記被洗浄物は紫外線領域で使用可能な光学材料のうち
線膨張率が15×10 -6以上の材料であることを特徴と
する洗浄装置。
8. The method according to claim 1, wherein
In the cleaning apparatus, the object to be cleaned is an optical material usable in an ultraviolet region.
Linear expansion coefficient is 15 × 10 -6Characterized by the above materials
Cleaning equipment.
【請求項9】請求項8に記載の洗浄装置において、 前記被洗浄物はフッ化物結晶またはフッ化物ガラスであ
ることを特徴とする洗浄装置。
9. The cleaning apparatus according to claim 8, wherein the object to be cleaned is a fluoride crystal or a fluoride glass.
【請求項10】紫外線領域で使用可能な光学材料のうち
線膨張率が15×10-6以上の材料を洗浄する洗浄方法
において、 前記光学材料は洗浄液を有する複数の洗浄槽の各々で洗
浄され、 最終洗浄工程では紫外線光洗浄を行い、 かつ、前記洗浄液の温度と前記洗浄槽の近傍の雰囲気の
温度の差は、±10℃以内であることを特徴とする洗浄
方法。
10. A cleaning method for cleaning a material having a linear expansion coefficient of 15 × 10 −6 or more among optical materials usable in an ultraviolet region, wherein the optical material is cleaned in each of a plurality of cleaning tanks having a cleaning liquid. A cleaning method, wherein ultraviolet light cleaning is performed in a final cleaning step, and a difference between a temperature of the cleaning liquid and a temperature of an atmosphere near the cleaning tank is within ± 10 ° C.
【請求項11】請求項10に記載の洗浄方法において、 前記洗浄槽で洗浄を行う時には、超音波洗浄を行い、 超音波の振動数は、10kHz〜50kHzの範囲内で
あり、 かつ、洗浄時間は10秒〜5分以内であることを特徴と
する洗浄方法。
11. The cleaning method according to claim 10, wherein when cleaning is performed in the cleaning tank, ultrasonic cleaning is performed, a frequency of ultrasonic waves is in a range of 10 kHz to 50 kHz, and a cleaning time is set. Is a cleaning method characterized by being within 10 seconds to 5 minutes.
【請求項12】請求項10または11に記載の洗浄方法
において、 イソプロピルアルコール蒸気洗浄を加えたことを特徴と
する洗浄方法。
12. The cleaning method according to claim 10, wherein isopropyl alcohol vapor cleaning is added.
【請求項13】請求項10から請求項12のいずれかに
記載の洗浄方法において、 前記光学材料はフッ化物結晶またはフッ化物ガラスであ
ることを特徴とする洗浄方法。
13. The cleaning method according to claim 10, wherein the optical material is a fluoride crystal or a fluoride glass.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2004050266A1 (en) * 2002-12-03 2006-03-30 株式会社ニコン Contaminant removal method and apparatus, and exposure method and apparatus
CN107413756A (en) * 2017-04-26 2017-12-01 江苏浙宏科技股份有限公司 A kind of BGA soldered balls cleaning device
CN113926789A (en) * 2021-10-29 2022-01-14 智程半导体设备科技(昆山)有限公司 Ultrasonic cleaning temperature control system

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