JP2000330076A - データ処理装置 - Google Patents
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 膨大なデータ量を有するデータ群間の比較処
理を高速で行なうことのできるデータ処理装置を提供す
る。 【解決手段】 入力手段6から入力されたデータ群と蓄
積手段7に蓄積されたデータ群のそれぞれのデータを制
御回路5は、電気アドレス型SLM1a、1bによりそ
れぞれ所定のレーダチャート画像に変換し、このレーダ
チャート画像の相関性を光アドレス型SLM2を有する
フーリエ光学系(30〜36)で光学的に演算して光検
出器4で相関信号として検出する。
理を高速で行なうことのできるデータ処理装置を提供す
る。 【解決手段】 入力手段6から入力されたデータ群と蓄
積手段7に蓄積されたデータ群のそれぞれのデータを制
御回路5は、電気アドレス型SLM1a、1bによりそ
れぞれ所定のレーダチャート画像に変換し、このレーダ
チャート画像の相関性を光アドレス型SLM2を有する
フーリエ光学系(30〜36)で光学的に演算して光検
出器4で相関信号として検出する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のデータを有
するデータ群間の比較処理を行なうデータ処理装置に関
し、例えば、分光分析で得られたスペクトルデータのよ
うに膨大なデータ量からなるデータ群同士の比較処理を
行なうのに好適なデータ処理装置に関する。
するデータ群間の比較処理を行なうデータ処理装置に関
し、例えば、分光分析で得られたスペクトルデータのよ
うに膨大なデータ量からなるデータ群同士の比較処理を
行なうのに好適なデータ処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】物質の同定及び定性分析方法として、吸
光光度分析、蛍光光度分析、赤外吸収分析、ラマン分光
分析、発光分光分析、電子共鳴分析などの各種の分析方
法が知られている。
光光度分析、蛍光光度分析、赤外吸収分析、ラマン分光
分析、発光分光分析、電子共鳴分析などの各種の分析方
法が知られている。
【0003】これらの分析方法では、分析装置から得ら
れたスペクトルデータのような出力データを既知の物質
について測定したデータと比較することによって物質の
同定、定性分析を行なっている。
れたスペクトルデータのような出力データを既知の物質
について測定したデータと比較することによって物質の
同定、定性分析を行なっている。
【0004】例えば赤外吸収分析は、赤外領域の吸収ス
ペクトルが物質固有、特に、分子内の官能基、それらの
結合状態によって特有の吸収帯を有し、それらが特に指
紋領域と呼ばれる波数800〜1300cm-1の領域に
著しい差異が表れることを利用したものである。
ペクトルが物質固有、特に、分子内の官能基、それらの
結合状態によって特有の吸収帯を有し、それらが特に指
紋領域と呼ばれる波数800〜1300cm-1の領域に
著しい差異が表れることを利用したものである。
【0005】図8(a)〜(e)はいずれもC6H12O
で示される異なる化合物の赤外吸収スペクトルを示して
いる。同じC6H12Oで表される化合物には、2−ヘキ
サノン(CH3CO(CH2)3CH3)、3−ヘキサノン
(CH3CH2CO(CH2)2CH3)、ヘキシルアルコ
ール(CH3(CH2)4CHO)、3−ヘキセン−1−
オール(CH3CH2CH=CHCH2CH2OH)のZ
(シス)体及びE(トランス)体の5種が存在する。
で示される異なる化合物の赤外吸収スペクトルを示して
いる。同じC6H12Oで表される化合物には、2−ヘキ
サノン(CH3CO(CH2)3CH3)、3−ヘキサノン
(CH3CH2CO(CH2)2CH3)、ヘキシルアルコ
ール(CH3(CH2)4CHO)、3−ヘキセン−1−
オール(CH3CH2CH=CHCH2CH2OH)のZ
(シス)体及びE(トランス)体の5種が存在する。
【0006】この5種の化合物の中からシス−3−ヘキ
セン−1−オールを探し出す場合、3300cm-1付近
のOH基による吸収帯、2900cm-1付近と700c
m-1付近のシス構造による吸収帯を目安とする。これに
より、図8(b)のサンプルをシス−3−ヘキセン−1
−オールと判定できる。
セン−1−オールを探し出す場合、3300cm-1付近
のOH基による吸収帯、2900cm-1付近と700c
m-1付近のシス構造による吸収帯を目安とする。これに
より、図8(b)のサンプルをシス−3−ヘキセン−1
−オールと判定できる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように同定対象の
化合物が予め絞り込まれているような場合には、比較的
簡単に同定が可能である。しかしながら、有機化合物の
場合は異性体が多種存在するため、化学式が既知の化合
物であっても同定には時間がかかってしまう。さらに、
全く構造がわからない対象物を同定する場合には、非常
に多くの試行錯誤を繰り返す必要が生じ、分析時間が長
時間化してしまう欠点が有る。主要な官能基、構成の吸
収帯についてのデータをコンピュータに蓄積しておき、
これらと測定データとを比較する手法もあるが、精度良
く分析するには、スペクトルデータの波数分解能を上げ
る必要があり、データ量が膨大になるため計算量が増大
するため、やはり解析には長時間必要となる。
化合物が予め絞り込まれているような場合には、比較的
簡単に同定が可能である。しかしながら、有機化合物の
場合は異性体が多種存在するため、化学式が既知の化合
物であっても同定には時間がかかってしまう。さらに、
全く構造がわからない対象物を同定する場合には、非常
に多くの試行錯誤を繰り返す必要が生じ、分析時間が長
時間化してしまう欠点が有る。主要な官能基、構成の吸
収帯についてのデータをコンピュータに蓄積しておき、
これらと測定データとを比較する手法もあるが、精度良
く分析するには、スペクトルデータの波数分解能を上げ
る必要があり、データ量が膨大になるため計算量が増大
するため、やはり解析には長時間必要となる。
【0008】本発明は上記課題を解決するため、膨大な
データ量を有するデータ群間の比較処理を高速で行なう
ことのできるデータ処理装置を提供することを課題とす
る。
データ量を有するデータ群間の比較処理を高速で行なう
ことのできるデータ処理装置を提供することを課題とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係るデータ処理装置は、複数のデータから
なる所定のデータ群間の比較処理を行なうデータ処理装
置であって、データ群をそれぞれ所定のレーダチャート
画像に変換する変換手段と、この変換手段で変換された
それぞれの画像を表示して投影する表示手段と、表示手
段で投影された画像間で光学的な相関演算を行って相関
度を表す画像を生成する光学的演算手段と、光学的演算
手段で得られた画像からデータ群間の相関度を検出する
検出手段と、を備えていることを特徴とする。
め、本発明に係るデータ処理装置は、複数のデータから
なる所定のデータ群間の比較処理を行なうデータ処理装
置であって、データ群をそれぞれ所定のレーダチャート
画像に変換する変換手段と、この変換手段で変換された
それぞれの画像を表示して投影する表示手段と、表示手
段で投影された画像間で光学的な相関演算を行って相関
度を表す画像を生成する光学的演算手段と、光学的演算
手段で得られた画像からデータ群間の相関度を検出する
検出手段と、を備えていることを特徴とする。
【0010】本発明によれば、変換手段によってデータ
群はレーダチャート画像に変換されるので、膨大な数の
データからなるデータ群であっても変換された画像のサ
イズを抑えることができる。そして、比較対象のデータ
群それぞれについて変換された画像間で光学的な相関演
算を行なうことにより大量のデータ間の比較演算を高速
で行なうことができる。個々のデータ群間の比較を高速
で行なうことができるので、大量のデータ群間の比較処
理も高速化できる。例えば、上述の赤外吸収スペクトル
データの比較処理にも好適である。
群はレーダチャート画像に変換されるので、膨大な数の
データからなるデータ群であっても変換された画像のサ
イズを抑えることができる。そして、比較対象のデータ
群それぞれについて変換された画像間で光学的な相関演
算を行なうことにより大量のデータ間の比較演算を高速
で行なうことができる。個々のデータ群間の比較を高速
で行なうことができるので、大量のデータ群間の比較処
理も高速化できる。例えば、上述の赤外吸収スペクトル
データの比較処理にも好適である。
【0011】変換手段と表示手段は、電子銃を有する電
気アドレス型の空間光変調器により構成されていること
が好ましい。このように構成すれば、簡単な装置構成で
変換精度の良いレーダチャート画像の生成を行なうこと
ができて好ましい。
気アドレス型の空間光変調器により構成されていること
が好ましい。このように構成すれば、簡単な装置構成で
変換精度の良いレーダチャート画像の生成を行なうこと
ができて好ましい。
【0012】また、光学的演算手段は、フーリエ変換光
学系であることが好ましい。フーリエ変換光学系を利用
することで、相関演算を精度良くかつ、簡単な装置構成
で行なうことができるので好ましい。
学系であることが好ましい。フーリエ変換光学系を利用
することで、相関演算を精度良くかつ、簡単な装置構成
で行なうことができるので好ましい。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の好適な実施の形態について詳細に説明する。説明の理
解を容易にするため、各図面において同一の構成要素に
対しては可能な限り同一の参照番号を附し、重複する説
明は省略する。
の好適な実施の形態について詳細に説明する。説明の理
解を容易にするため、各図面において同一の構成要素に
対しては可能な限り同一の参照番号を附し、重複する説
明は省略する。
【0014】図1は、本発明に係るデータ処理装置の全
体構成を示す概略図である。このデータ処理装置は、デ
ータ群情報をそれぞれ変換、表示する手段である電気ア
ドレス型の空間光変調器(SLM)1a及び1bを備え
ており、各SLM1a及び1bには制御回路5が接続さ
れ、制御回路には、新規のデータ群の情報を入力するデ
ータ入力手段6と、入力されたデータ群の情報を蓄積し
て保存するデータ蓄積手段7とが接続されている。
体構成を示す概略図である。このデータ処理装置は、デ
ータ群情報をそれぞれ変換、表示する手段である電気ア
ドレス型の空間光変調器(SLM)1a及び1bを備え
ており、各SLM1a及び1bには制御回路5が接続さ
れ、制御回路には、新規のデータ群の情報を入力するデ
ータ入力手段6と、入力されたデータ群の情報を蓄積し
て保存するデータ蓄積手段7とが接続されている。
【0015】一方、平行なコヒーレント光を生成する読
みだし光源30の光路上にはこの平行光を二分するビー
ムスプリッタ31が配置されており、分岐された光路上
には、分岐光をSLM1a及び1bに導くハーフミラー
32が配置されている。ハーフミラー32を挟んでSL
M1a及び1bの反対側にはレンズ33が配置され、そ
の焦点位置には、光学アドレス型のSLM2が配置され
ている。ビームスプリッタ31の透過光路上には、ミラ
ー34が配置され、その反射光路上でSLM2のレンズ
33と反対側の位置には、ハーフミラー35が配置され
ている。ハーフミラー35を挟んでSLM2と反対の位
置にはレンズ36が配置され、さらにその焦点位置には
光検出器4が配置されている。このように構成すること
で、SLM1a、1bとレンズ33及びSLM2とレン
ズ36とがフーリエ変換光学系を形成している。
みだし光源30の光路上にはこの平行光を二分するビー
ムスプリッタ31が配置されており、分岐された光路上
には、分岐光をSLM1a及び1bに導くハーフミラー
32が配置されている。ハーフミラー32を挟んでSL
M1a及び1bの反対側にはレンズ33が配置され、そ
の焦点位置には、光学アドレス型のSLM2が配置され
ている。ビームスプリッタ31の透過光路上には、ミラ
ー34が配置され、その反射光路上でSLM2のレンズ
33と反対側の位置には、ハーフミラー35が配置され
ている。ハーフミラー35を挟んでSLM2と反対の位
置にはレンズ36が配置され、さらにその焦点位置には
光検出器4が配置されている。このように構成すること
で、SLM1a、1bとレンズ33及びSLM2とレン
ズ36とがフーリエ変換光学系を形成している。
【0016】ここで、SLM1a、1b、2のそれぞれ
の構成について図2〜図4を参照して具体的に説明す
る。図2は、SLM1a、1bの構成を示す断面概略図
であり、図3は、その電子銃部分を説明する図である。
図4は、SLM2の構成を示す断面概略図である。
の構成について図2〜図4を参照して具体的に説明す
る。図2は、SLM1a、1bの構成を示す断面概略図
であり、図3は、その電子銃部分を説明する図である。
図4は、SLM2の構成を示す断面概略図である。
【0017】まず、SLM1a、1bについて説明す
る。両者の構成は全く同一であるため、以下、添字a、
bを略して説明する。図2に示されるように、SLM1
は、真空容器10内にカソード11と電極G1〜G6か
らなるアドレス部たる電子銃12と、メッシュ13と、
誘電体ミラー14と、光変調部たる電気光学結晶15
と、透明導電膜16とがこの順序で配置されて構成され
る。図3は、電子銃12を構成する電極G1〜G6のう
ち、最終段にあたる電極G6の横断面図を示したもので
ある。電極G6はx方向の2つの偏向板G6x+、G6
x-とy方向の2つの偏向板G6y+、G6y-からな
る。
る。両者の構成は全く同一であるため、以下、添字a、
bを略して説明する。図2に示されるように、SLM1
は、真空容器10内にカソード11と電極G1〜G6か
らなるアドレス部たる電子銃12と、メッシュ13と、
誘電体ミラー14と、光変調部たる電気光学結晶15
と、透明導電膜16とがこの順序で配置されて構成され
る。図3は、電子銃12を構成する電極G1〜G6のう
ち、最終段にあたる電極G6の横断面図を示したもので
ある。電極G6はx方向の2つの偏向板G6x+、G6
x-とy方向の2つの偏向板G6y+、G6y-からな
る。
【0018】カソード11から照射された電子は、電子
銃12により偏向・加速されてメッシュ13、誘電体ミ
ラー14を通過して電気光学結晶15に到達する。電子
銃12の各電極G1〜G6の偏光板に印加する電圧を調
整することで、電気光学結晶15に所定の電荷パターン
を形成する。この電荷パターンによる電気光学効果によ
って電気光学結晶15内部の屈折率が位置的に変化す
る。この電気光学結晶15には、透明導電膜16側から
読み出し光が入射されており、この屈折率の位置的な変
化に伴って位相変調を受ける。こうして位相変調を受け
た光が誘電体ミラー14によって反射され、最終的に透
明導電膜16を経て入射面から出射される。
銃12により偏向・加速されてメッシュ13、誘電体ミ
ラー14を通過して電気光学結晶15に到達する。電子
銃12の各電極G1〜G6の偏光板に印加する電圧を調
整することで、電気光学結晶15に所定の電荷パターン
を形成する。この電荷パターンによる電気光学効果によ
って電気光学結晶15内部の屈折率が位置的に変化す
る。この電気光学結晶15には、透明導電膜16側から
読み出し光が入射されており、この屈折率の位置的な変
化に伴って位相変調を受ける。こうして位相変調を受け
た光が誘電体ミラー14によって反射され、最終的に透
明導電膜16を経て入射面から出射される。
【0019】SLM2は、図4に示されるように、光変
調層となる液晶層21を有し、この液晶層21は、配向
層23a、23bにはさまれた矩形枠上のスペーサ22
内に配置されている。そして、配向層23a側には、誘
電体多層膜ミラー24、光アドレス部となるアモルファ
スシリコン(α−Si)層25、透明導電膜26a、ガ
ラス基板27a、反射防止膜28aが積層され、一方、
配向層23b側には、透明導電膜26b、ガラス基板2
7b、反射防止膜28bが積層されている。
調層となる液晶層21を有し、この液晶層21は、配向
層23a、23bにはさまれた矩形枠上のスペーサ22
内に配置されている。そして、配向層23a側には、誘
電体多層膜ミラー24、光アドレス部となるアモルファ
スシリコン(α−Si)層25、透明導電膜26a、ガ
ラス基板27a、反射防止膜28aが積層され、一方、
配向層23b側には、透明導電膜26b、ガラス基板2
7b、反射防止膜28bが積層されている。
【0020】書き込みパターンを画像として含む書き込
み光を反射防止膜28a側から入射させると、この画像
は、α−Si層25へと到達する。透明導電膜26aと
26b間には所定の電圧(例えば3V)の交流電圧が印
加されており、α−Si層25は入射する書き込み光の
光強度分布に応じてそのインピーダンスが変化する。そ
の結果、液晶層21に印加される電圧の分圧が変化し、
液晶層21内の液晶分子の傾きが変化する。この結果、
透明導電膜28b側から入射された読み出し光が位相変
調を受ける。こうして位相変調を受けた光は、誘電体多
層膜ミラー24により反射されて再び透明導電膜28b
側から変調光として出射される。
み光を反射防止膜28a側から入射させると、この画像
は、α−Si層25へと到達する。透明導電膜26aと
26b間には所定の電圧(例えば3V)の交流電圧が印
加されており、α−Si層25は入射する書き込み光の
光強度分布に応じてそのインピーダンスが変化する。そ
の結果、液晶層21に印加される電圧の分圧が変化し、
液晶層21内の液晶分子の傾きが変化する。この結果、
透明導電膜28b側から入射された読み出し光が位相変
調を受ける。こうして位相変調を受けた光は、誘電体多
層膜ミラー24により反射されて再び透明導電膜28b
側から変調光として出射される。
【0021】次に、このデータ処理装置の動作について
図1〜図6を参照して説明する。図8(a)〜(e)に
示される赤外吸収スペクトルデータのような多数のデー
タからなるデータ群を入力手段6から入力する。この入
力はオペレータが手作業により入力しても、分析機器か
らデータを転送してもよい。制御回路5はこのデータを
SLM1aに書き込むことで所定の画像を生成する。例
えば、図5に示されるようなデータが入力されると、制
御回路5は、SLM1の電子銃12を制御して、このデ
ータを図6に示されるようなレーダチャート画像に変換
する。ここで、レーダチャート画像というのは、中心か
らの距離によりデータ値を表したものであり、各データ
をプロットする位置は中心から放射状の異なる方向に存
在することで、多数のデータを同時にプロットすること
ができる。データの周方向の間隔は等間隔でも、対数間
隔でも任意の間隔に設定でき、データの種別、特性に応
じて選択可能である。
図1〜図6を参照して説明する。図8(a)〜(e)に
示される赤外吸収スペクトルデータのような多数のデー
タからなるデータ群を入力手段6から入力する。この入
力はオペレータが手作業により入力しても、分析機器か
らデータを転送してもよい。制御回路5はこのデータを
SLM1aに書き込むことで所定の画像を生成する。例
えば、図5に示されるようなデータが入力されると、制
御回路5は、SLM1の電子銃12を制御して、このデ
ータを図6に示されるようなレーダチャート画像に変換
する。ここで、レーダチャート画像というのは、中心か
らの距離によりデータ値を表したものであり、各データ
をプロットする位置は中心から放射状の異なる方向に存
在することで、多数のデータを同時にプロットすること
ができる。データの周方向の間隔は等間隔でも、対数間
隔でも任意の間隔に設定でき、データの種別、特性に応
じて選択可能である。
【0022】一方、比較対象となるデータ群のデータは
蓄積手段5から読み出されて、制御回路5がこのデータ
をSLM1bに書き込むことで同様に所定のレーダチャ
ート画像が生成される。読みだし光源30から出射され
たレーザ光は一部がビームスプリッタ31で反射され
て、ハーフミラー32によりSLM1a、1bに導か
れ、これらのレーダチャート画像が読み出される。そし
てこれらの画像を含む光はハーフミラー32を透過して
レンズ33によりフーリエ変換されて、合同フーリエ変
換パターンがSLM2のα−Si層25へと書き込まれ
る。
蓄積手段5から読み出されて、制御回路5がこのデータ
をSLM1bに書き込むことで同様に所定のレーダチャ
ート画像が生成される。読みだし光源30から出射され
たレーザ光は一部がビームスプリッタ31で反射され
て、ハーフミラー32によりSLM1a、1bに導か
れ、これらのレーダチャート画像が読み出される。そし
てこれらの画像を含む光はハーフミラー32を透過して
レンズ33によりフーリエ変換されて、合同フーリエ変
換パターンがSLM2のα−Si層25へと書き込まれ
る。
【0023】一方、ビームスプリッタ31を透過したレ
ーザ光は、ミラー34、ハーフミラー35によりSLM
2の液晶層へと入射する。こうしてこのレーザ光は、S
LM2のα−Si層25に書き込まれた2つのレーダチ
ャート画像のフーリエ変換像同士の干渉縞によって形成
された位相格子で回折される。こうして回折を受けた光
は、ハーフミラー35を透過してレンズ36によりフー
リエ変換され、2つのレーダチャート画像の相関値が光
検出器4で検出される。
ーザ光は、ミラー34、ハーフミラー35によりSLM
2の液晶層へと入射する。こうしてこのレーザ光は、S
LM2のα−Si層25に書き込まれた2つのレーダチ
ャート画像のフーリエ変換像同士の干渉縞によって形成
された位相格子で回折される。こうして回折を受けた光
は、ハーフミラー35を透過してレンズ36によりフー
リエ変換され、2つのレーダチャート画像の相関値が光
検出器4で検出される。
【0024】こうして光検出器4で検出されるのは、S
LM1a、1bにそれぞれ書き込まれたデータ(より詳
細には両者で表示されたレーダチャート画像)間の相関
性に基づく相関信号であり、相関値が高い、つまり、両
画像が似ているほどその強度は高く、相関値が低い、つ
まり、両画像が異なるほどその強度は低くなる。したが
って、両画像、ひいては、両データ群のデータ間の相関
性を判定することができる。
LM1a、1bにそれぞれ書き込まれたデータ(より詳
細には両者で表示されたレーダチャート画像)間の相関
性に基づく相関信号であり、相関値が高い、つまり、両
画像が似ているほどその強度は高く、相関値が低い、つ
まり、両画像が異なるほどその強度は低くなる。したが
って、両画像、ひいては、両データ群のデータ間の相関
性を判定することができる。
【0025】本発明のデータ処理装置によれば、データ
群を構成するデータが膨大なものであっても瞬時に比較
処理を行うことができる。特に、データ量が増大しても
レーダチャート画像のサイズが増大することがないの
で、データ量が少ない場合と同様に高速で比較処理を行
うことが可能である。
群を構成するデータが膨大なものであっても瞬時に比較
処理を行うことができる。特に、データ量が増大しても
レーダチャート画像のサイズが増大することがないの
で、データ量が少ない場合と同様に高速で比較処理を行
うことが可能である。
【0026】本発明のデータ処理装置で処理可能なデー
タは、上述の赤外吸収スペクトルデータに限られるもの
ではなく、他の各種の分析データ、計測データのほか、
統計データなどの各種のデータが含まれる。
タは、上述の赤外吸収スペクトルデータに限られるもの
ではなく、他の各種の分析データ、計測データのほか、
統計データなどの各種のデータが含まれる。
【0027】図7(a)〜(e)は、一例として社会的
な統計データを表したものであり、それぞれ1980年
〜1997年における国内総支出、日経平均株価、民間
住宅着工件数、円相場、民間在庫品をそれぞれ規格化し
てレーダチャート画像にしたものである。これらの図か
ら図7(a)〜(c)の国内総支出、日経平均株価、民
間住宅着工件数間には高い相関性があり、一方、図7
(d)の円相場はこれと負の相関が有り、図7(e)に
示される民間在庫品はこれらと相関性がないことが簡単
に判定できる。
な統計データを表したものであり、それぞれ1980年
〜1997年における国内総支出、日経平均株価、民間
住宅着工件数、円相場、民間在庫品をそれぞれ規格化し
てレーダチャート画像にしたものである。これらの図か
ら図7(a)〜(c)の国内総支出、日経平均株価、民
間住宅着工件数間には高い相関性があり、一方、図7
(d)の円相場はこれと負の相関が有り、図7(e)に
示される民間在庫品はこれらと相関性がないことが簡単
に判定できる。
【0028】ここでは、レーダチャート画像に変換する
際にデータ値を中心からの距離として表したが、所定の
数値範囲を圧縮、拡大して画像化すれば、特徴量を抽出
できて好ましい。またレーダチャート画像は円形に限ら
れず楕円形等であってもよい。また、レーダチャート画
像への変換と表示は、コンピュータと液晶ディスプレイ
とを組み合わせて行ってもよい。
際にデータ値を中心からの距離として表したが、所定の
数値範囲を圧縮、拡大して画像化すれば、特徴量を抽出
できて好ましい。またレーダチャート画像は円形に限ら
れず楕円形等であってもよい。また、レーダチャート画
像への変換と表示は、コンピュータと液晶ディスプレイ
とを組み合わせて行ってもよい。
【0029】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
多数のデータからなるデータ群をレーダチャート画像に
変換して変換した画像間で光学的演算処理を行うことで
多数のデータ間の比較処理を高速で行うことが可能であ
る。
多数のデータからなるデータ群をレーダチャート画像に
変換して変換した画像間で光学的演算処理を行うことで
多数のデータ間の比較処理を高速で行うことが可能であ
る。
【図1】本発明に係るデータ処理装置の全体構成を示す
概略図である。
概略図である。
【図2】図1の装置の電子アドレス型SLMの断面構成
図である。
図である。
【図3】図2のSLMの電子銃の構成を示す断面図であ
る。
る。
【図4】図1の装置の光アドレス型SLMの断面構成図
である。
である。
【図5】元データの一例を示す図である。
【図6】図5のデータから生成したレーダチャート画像
を示す図である。
を示す図である。
【図7】統計データをレーダチャート画像に変換した例
を示す図である。
を示す図である。
【図8】赤外吸収スペクトルの例を示す図である。
1…電気アドレス型SLM、2…光アドレス型SLM、
4…光検出器、5…制御回路、6…入力手段、7…蓄積
手段。
4…光検出器、5…制御回路、6…入力手段、7…蓄積
手段。
フロントページの続き (72)発明者 原 勉 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 Fターム(参考) 2G059 AA01 BB04 CC12 EE04 EE05 FF20 GG04 GG10 HH01 JJ11 JJ13 JJ18 JJ19 JJ22 KK01 MM01
Claims (3)
- 【請求項1】 複数のデータからなる所定のデータ群間
の比較処理を行なうデータ処理装置であって、 前記データ群をそれぞれ所定のレーダチャート画像に変
換する変換手段と、 前記変換手段で変換されたそれぞれの画像を表示して投
影する表示手段と、 前記表示手段で投影された画像間で光学的な相関演算を
行って相関度を表す画像を生成する光学的演算手段と、 前記光学的演算手段で得られた画像から前記データ群間
の相関度を検出する検出手段と、 を備えていることを特徴とするデータ処理装置。 - 【請求項2】 前記変換手段と前記表示手段は、電子銃
を有する電気アドレス型の空間光変調器により構成され
ていることを特徴とする請求項1記載のデータ処理装
置。 - 【請求項3】 前記光学的演算手段は、フーリエ変換光
学系であることを特徴とする請求項1あるいは2のいず
れかに記載のデータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13871299A JP2000330076A (ja) | 1999-05-19 | 1999-05-19 | データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13871299A JP2000330076A (ja) | 1999-05-19 | 1999-05-19 | データ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000330076A true JP2000330076A (ja) | 2000-11-30 |
Family
ID=15228373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13871299A Pending JP2000330076A (ja) | 1999-05-19 | 1999-05-19 | データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000330076A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019234842A1 (ja) * | 2018-06-06 | 2019-12-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光測定装置、及び分光測定方法 |
-
1999
- 1999-05-19 JP JP13871299A patent/JP2000330076A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019234842A1 (ja) * | 2018-06-06 | 2019-12-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光測定装置、及び分光測定方法 |
| JPWO2019234842A1 (ja) * | 2018-06-06 | 2021-05-13 | 株式会社日立ハイテク | 分光測定装置、及び分光測定方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060403 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081215 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090106 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090512 |