JP2000314756A - ノイズ試験装置及びその試験方法 - Google Patents
ノイズ試験装置及びその試験方法Info
- Publication number
- JP2000314756A JP2000314756A JP11124802A JP12480299A JP2000314756A JP 2000314756 A JP2000314756 A JP 2000314756A JP 11124802 A JP11124802 A JP 11124802A JP 12480299 A JP12480299 A JP 12480299A JP 2000314756 A JP2000314756 A JP 2000314756A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test signal
- coil
- input
- test
- ring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 所定の周波数を有した試験信号の他系統への
漏洩を、十分に防止することができるようにする。 【解決手段】 電子機器の入出力線に所定の周波数を有
した試験信号を入力するための結合部11と、互いに直列
接続された複数個のリング型のコイルL1,L2,L3,L4 及び
そのコイルL1,L2,L3,L4 に接続されたコンデンサC3,C4
を有し他系統への試験信号の漏洩を防止する減結合部13
と、を備えた構成にしている。
漏洩を、十分に防止することができるようにする。 【解決手段】 電子機器の入出力線に所定の周波数を有
した試験信号を入力するための結合部11と、互いに直列
接続された複数個のリング型のコイルL1,L2,L3,L4 及び
そのコイルL1,L2,L3,L4 に接続されたコンデンサC3,C4
を有し他系統への試験信号の漏洩を防止する減結合部13
と、を備えた構成にしている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器のＡＭ放
送ノイズ耐性を評価するノイズ試験装置に関するもので
ある。
送ノイズ耐性を評価するノイズ試験装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のノイズ試験装置として図
８に示すものが存在する。このものは、結合部X 及び減
結合部Y を備えている。結合部X は、電子機器の入出力
線にＡＭ放送帯周波数を有した試験信号を入力するため
のものである。減結合部Y は、１つのリング型のコイル
Y1及びそのコイルY1に接続されたコンデンサY2からなる
減結合用の回路構成を２組有し、他系統への試験信号の
漏洩を防止する。
８に示すものが存在する。このものは、結合部X 及び減
結合部Y を備えている。結合部X は、電子機器の入出力
線にＡＭ放送帯周波数を有した試験信号を入力するため
のものである。減結合部Y は、１つのリング型のコイル
Y1及びそのコイルY1に接続されたコンデンサY2からなる
減結合用の回路構成を２組有し、他系統への試験信号の
漏洩を防止する。
【０００３】このものは、コイルY1の巻回密度を増加さ
せたり、リング型のコイルY1そのものを大きくして巻回
数を増加することにより、コイルY のインダクタンスを
増大できるので、電子機器の入出力線に入力された試験
信号の他系統への漏洩を防止することができる。
せたり、リング型のコイルY1そのものを大きくして巻回
数を増加することにより、コイルY のインダクタンスを
増大できるので、電子機器の入出力線に入力された試験
信号の他系統への漏洩を防止することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の技術に
あっては、コイルY の巻回密度を増加させたりリング型
のコイルY1そのものを大きくして巻回数を増加すると、
インダクタンスのピーク値が、図９に実線で示した状態
から、同図に破線で示す状態へと、低周波側にシフトし
てしまうので、所望の周波数領域でインダクタンスを増
大させることができす、ひいては、所定の周波数である
ＡＭ放送帯周波数を有した試験信号の他系統への漏洩
を、十分に防止することができないという問題点があっ
た。
あっては、コイルY の巻回密度を増加させたりリング型
のコイルY1そのものを大きくして巻回数を増加すると、
インダクタンスのピーク値が、図９に実線で示した状態
から、同図に破線で示す状態へと、低周波側にシフトし
てしまうので、所望の周波数領域でインダクタンスを増
大させることができす、ひいては、所定の周波数である
ＡＭ放送帯周波数を有した試験信号の他系統への漏洩
を、十分に防止することができないという問題点があっ
た。
【０００５】本発明は、上記の点に着目してなされたも
ので、その目的とするところは、所定の波数を有した試
験信号の他系統への漏洩を、十分に防止することができ
るノイズ試験装置及びその試験方法をを提供することに
ある。
ので、その目的とするところは、所定の波数を有した試
験信号の他系統への漏洩を、十分に防止することができ
るノイズ試験装置及びその試験方法をを提供することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、請求項１記載の発明は、電子機器の入出力線に
所定の周波数を有した試験信号を入力するための結合部
と、互いに直列接続された複数個のリング型のコイル及
びそのコイルに接続されたコンデンサを有し他系統への
前記試験信号の漏洩を防止する減結合部と、を備えた構
成にしている。
ために、請求項１記載の発明は、電子機器の入出力線に
所定の周波数を有した試験信号を入力するための結合部
と、互いに直列接続された複数個のリング型のコイル及
びそのコイルに接続されたコンデンサを有し他系統への
前記試験信号の漏洩を防止する減結合部と、を備えた構
成にしている。
【０００７】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、前記複数個のコイルは、それぞれの磁束が
直交するよう配設された構成にしている。
明において、前記複数個のコイルは、それぞれの磁束が
直交するよう配設された構成にしている。
【０００８】請求項３記載の発明は、請求項１又は請求
項２のいずれかに記載の発明において、入力された前記
試験信号に基づくコモンモード電流を測定する電流測定
部が設けられた構成にしている。
項２のいずれかに記載の発明において、入力された前記
試験信号に基づくコモンモード電流を測定する電流測定
部が設けられた構成にしている。
【０００９】請求項４記載の発明は、電子機器の入出力
線に所定の周波数を有した試験信号を入力するための結
合部と、互いに直列接続された複数個のリング型のコイ
ル及びそのコイルに接続されたコンデンサを有し他系統
への前記試験信号の漏洩を防止する減結合部と、を備え
たノイズ試験装置により、前記電子機器のノイズに関す
る試験を行うノイズ試験装置の試験方法であって、入力
された前記試験信号に基づくコモンモード電流を測定
し、その測定されたコモンモード電流に応じて、前記試
験信号を入力するようにしている。
線に所定の周波数を有した試験信号を入力するための結
合部と、互いに直列接続された複数個のリング型のコイ
ル及びそのコイルに接続されたコンデンサを有し他系統
への前記試験信号の漏洩を防止する減結合部と、を備え
たノイズ試験装置により、前記電子機器のノイズに関す
る試験を行うノイズ試験装置の試験方法であって、入力
された前記試験信号に基づくコモンモード電流を測定
し、その測定されたコモンモード電流に応じて、前記試
験信号を入力するようにしている。
【００１０】請求項５記載の発明は、電子機器の入出力
線に所定の周波数を有した試験信号を入力するための結
合部と、互いに直列接続された複数個のリング型のコイ
ル及びそのコイルに接続されたコンデンサを有し他系統
への前記試験信号の漏洩を防止する減結合部と、を備え
たノイズ試験装置により、前記電子機器のノイズに関す
る試験を行うノイズ試験装置の試験方法であって、前記
電子機器の有するコモンモードインピーダンスに基づい
て、前記試験信号を入力するようにしている。
線に所定の周波数を有した試験信号を入力するための結
合部と、互いに直列接続された複数個のリング型のコイ
ル及びそのコイルに接続されたコンデンサを有し他系統
への前記試験信号の漏洩を防止する減結合部と、を備え
たノイズ試験装置により、前記電子機器のノイズに関す
る試験を行うノイズ試験装置の試験方法であって、前記
電子機器の有するコモンモードインピーダンスに基づい
て、前記試験信号を入力するようにしている。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図１乃至図
７に基づいて以下に説明する。このノイズ試験装置10
は、装置本体1 及びカレントプローブ（電流測定部）2
を備えて構成されている。
７に基づいて以下に説明する。このノイズ試験装置10
は、装置本体1 及びカレントプローブ（電流測定部）2
を備えて構成されている。
【００１２】装置本体1 は、金属製の箱体からなり、２
つの回路ブロックを内方に収容している。これらの２つ
の回路ブロックのうちの一方は、電子機器20の入出力線
30にＡＭ放送帯周波数を有した試験信号を入力するため
の結合部11をなすものであって、第１の抵抗R1、第２の
抵抗R2、第１のコンデンサC1、第２のコンデンサC2から
なる。
つの回路ブロックを内方に収容している。これらの２つ
の回路ブロックのうちの一方は、電子機器20の入出力線
30にＡＭ放送帯周波数を有した試験信号を入力するため
の結合部11をなすものであって、第１の抵抗R1、第２の
抵抗R2、第１のコンデンサC1、第２のコンデンサC2から
なる。
【００１３】第１の抵抗R1は、その一端に接続された第
１のコンデンサC1を介して、電子機器20の一方の入出力
線30a に接続されている。第２の抵抗R2は、その一端に
接続された第２のコンデンサC2を介して、電子機器20の
他方の入出力線30b に接続されるとともに、その他端が
第１の抵抗R1の他端に接続されている。これらの第１の
抵抗R1と第２の抵抗R2との接続部分には、所定の周波数
であるＡＭ放送帯周波数を有した試験信号が入力される
信号入力部12が接続されている。
１のコンデンサC1を介して、電子機器20の一方の入出力
線30a に接続されている。第２の抵抗R2は、その一端に
接続された第２のコンデンサC2を介して、電子機器20の
他方の入出力線30b に接続されるとともに、その他端が
第１の抵抗R1の他端に接続されている。これらの第１の
抵抗R1と第２の抵抗R2との接続部分には、所定の周波数
であるＡＭ放送帯周波数を有した試験信号が入力される
信号入力部12が接続されている。
【００１４】これに対して、装置本体1 に収容された２
つの回路ブロックのうちの他方は、商用電源等の他系統
への前述の試験信号の漏洩を防止する減結合部13をなす
ものであって、第１のコイルL1、第２のコイルL2、第３
のコイルL3、第４のコイルL4、第３のコンデンサC3、第
４のコンデンサC4からなる。なお、第１のコイルL1乃至
第４のコイルL4は、図３に示すように、いずれもフェラ
イトコアC を有するリング型のコイルであって、耐ノイ
ズ試験で使用する水平基準金属板40a との間の容量結合
を小さくするように、装置本体1 から所定の距離を有し
て配設されている。なお、耐ノイズ試験については、詳
しく後述する。
つの回路ブロックのうちの他方は、商用電源等の他系統
への前述の試験信号の漏洩を防止する減結合部13をなす
ものであって、第１のコイルL1、第２のコイルL2、第３
のコイルL3、第４のコイルL4、第３のコンデンサC3、第
４のコンデンサC4からなる。なお、第１のコイルL1乃至
第４のコイルL4は、図３に示すように、いずれもフェラ
イトコアC を有するリング型のコイルであって、耐ノイ
ズ試験で使用する水平基準金属板40a との間の容量結合
を小さくするように、装置本体1 から所定の距離を有し
て配設されている。なお、耐ノイズ試験については、詳
しく後述する。
【００１５】第１のコイルL1は、互いに直列接続された
第２のコイルL2と共に、電子機器20の一方の入出力線30
a に接続されている。第３のコイルL3は、互いに直列接
続された第４のコイルL4と共に、電子機器20の他方の入
出力線30b に接続されている。これらの第１のコイルL1
及び第３のコイルL3は、商用電源等の他系統から電子機
器20の両入出力線30a,30b に電力を入力するための他系
統接続部14が接続されている。これに対して、第２のコ
イルL2及び第４のコイルL4は、他系統接続部14に入力さ
れた電力を、前述の試験信号と共に電子機器20の両入出
力線30a,30b に出力する信号出力部15が接続されてい
る。
第２のコイルL2と共に、電子機器20の一方の入出力線30
a に接続されている。第３のコイルL3は、互いに直列接
続された第４のコイルL4と共に、電子機器20の他方の入
出力線30b に接続されている。これらの第１のコイルL1
及び第３のコイルL3は、商用電源等の他系統から電子機
器20の両入出力線30a,30b に電力を入力するための他系
統接続部14が接続されている。これに対して、第２のコ
イルL2及び第４のコイルL4は、他系統接続部14に入力さ
れた電力を、前述の試験信号と共に電子機器20の両入出
力線30a,30b に出力する信号出力部15が接続されてい
る。
【００１６】また、第１のコイルL1及び第３のコイルL3
は、図２に示すように、第１のコイルブロックLL1 をな
す巻回状態となっている。一方、第２のコイルL2及び第
４のコイルL4は、図２に示すように、第２のコイルブロ
ックLL2 をなす巻回状態となっており、第１のコイルブ
ロックLL1 とは軸方向が互いに直交している。このよう
に、第１のコイルブロックLL1 及び第２のコイルブロッ
クLL2 の軸方向が直交することにより、第１のコイルL1
と第２のコイルL2の磁束が互いに直交するとともに、第
３のコイルL3と第４のコイルL4の磁束が互いに直交する
ようになる。
は、図２に示すように、第１のコイルブロックLL1 をな
す巻回状態となっている。一方、第２のコイルL2及び第
４のコイルL4は、図２に示すように、第２のコイルブロ
ックLL2 をなす巻回状態となっており、第１のコイルブ
ロックLL1 とは軸方向が互いに直交している。このよう
に、第１のコイルブロックLL1 及び第２のコイルブロッ
クLL2 の軸方向が直交することにより、第１のコイルL1
と第２のコイルL2の磁束が互いに直交するとともに、第
３のコイルL3と第４のコイルL4の磁束が互いに直交する
ようになる。
【００１７】第３のコンデンサC3は、その一端が第１の
コイルL1と他系統接続部14との間に接続されるととも
に、他端が装置本体1 に接続されている。第４のコンデ
ンサC4は、その一端が第３のコイルL3と他系統接続部14
との間に接続されるとともに、他端が装置本体1 に接続
されている。
コイルL1と他系統接続部14との間に接続されるととも
に、他端が装置本体1 に接続されている。第４のコンデ
ンサC4は、その一端が第３のコイルL3と他系統接続部14
との間に接続されるとともに、他端が装置本体1 に接続
されている。
【００１８】次に、図４に基づいて、本ノイズ試験装置
10により、電子機器20の耐ノイズ性試験をするための構
成について説明する。耐ノイズ試験がなされる電子機器
20は、本ノイズ試験装置10と共に、接地された水平基準
金属板40a 上に配設された絶縁台40b に載置する。この
電子機器20は、本ノイズ試験装置10の信号出力部15か
ら、他系統からの電力が入力される。ここで、本ノイズ
試験装置10の信号入力部12に、試験信号発生部50a から
発生されたＡＭ放送帯周波数を有する前述の試験信号
が、パワーアンプ50b 及びアッテネータ50c を介して入
力されるとにより、他系統からの電力が入力されるとき
に、前述の試験信号も同時に入力されることになる。
10により、電子機器20の耐ノイズ性試験をするための構
成について説明する。耐ノイズ試験がなされる電子機器
20は、本ノイズ試験装置10と共に、接地された水平基準
金属板40a 上に配設された絶縁台40b に載置する。この
電子機器20は、本ノイズ試験装置10の信号出力部15か
ら、他系統からの電力が入力される。ここで、本ノイズ
試験装置10の信号入力部12に、試験信号発生部50a から
発生されたＡＭ放送帯周波数を有する前述の試験信号
が、パワーアンプ50b 及びアッテネータ50c を介して入
力されるとにより、他系統からの電力が入力されるとき
に、前述の試験信号も同時に入力されることになる。
【００１９】このとき、カレントプローブ（電流測定
部）2 により、前述の試験信号に基づくコモンモード電
流を測定するようにしている。詳しくは、コモンモード
電流に基づいてカレントプローブ2 から出力された信号
電圧を、スペクトラムアナライザ50d によって測定する
ようにしている。
部）2 により、前述の試験信号に基づくコモンモード電
流を測定するようにしている。詳しくは、コモンモード
電流に基づいてカレントプローブ2 から出力された信号
電圧を、スペクトラムアナライザ50d によって測定する
ようにしている。
【００２０】なお、カレントプローブ2 は、定在波の影
響を受けないように、所定の位置に配設されることによ
って、コモンモード電流の安定した測定が可能となって
いる。こうして、測定された測定結果に応じて、パワー
アンプ50b によって、試験信号の入力レベルを調整す
る。
響を受けないように、所定の位置に配設されることによ
って、コモンモード電流の安定した測定が可能となって
いる。こうして、測定された測定結果に応じて、パワー
アンプ50b によって、試験信号の入力レベルを調整す
る。
【００２１】また、本ノイズ試験装置10により耐ノイズ
試験がなされる電子機器20は、それぞれが固有のインピ
ーダンスを有しているから、それぞれが有するインピー
ダンスを測定してから、そのインピーダンスに応じて、
詳しくは、そのインピーダンスに適応したコモンモード
電流を所定の式により計算してから、パワーアンプ50b
によって、試験信号の入力レベルを個々に調整する。
試験がなされる電子機器20は、それぞれが固有のインピ
ーダンスを有しているから、それぞれが有するインピー
ダンスを測定してから、そのインピーダンスに応じて、
詳しくは、そのインピーダンスに適応したコモンモード
電流を所定の式により計算してから、パワーアンプ50b
によって、試験信号の入力レベルを個々に調整する。
【００２２】次に、図６に基づいて、電子機器20のイン
ピーダンスの測定手順について説明する。インピーダン
スの測定される電子機器20は、前述した耐ノイズ試験の
場合と同様に、詳しくは、電子機器20と水平基準金属板
40a との距離を同一として、接地された水平基準金属板
40a 上に配設された絶縁台40b に載置する。さらに、接
地された垂直基準金属板40c に、前述した耐ノイズ試験
の場合と同一の引き回し長さを有するケーブル40d でも
って電子機器20を接続し、例えば、ネットワークアナラ
イザ50e によりインピーダンスを測定する。
ピーダンスの測定手順について説明する。インピーダン
スの測定される電子機器20は、前述した耐ノイズ試験の
場合と同様に、詳しくは、電子機器20と水平基準金属板
40a との距離を同一として、接地された水平基準金属板
40a 上に配設された絶縁台40b に載置する。さらに、接
地された垂直基準金属板40c に、前述した耐ノイズ試験
の場合と同一の引き回し長さを有するケーブル40d でも
って電子機器20を接続し、例えば、ネットワークアナラ
イザ50e によりインピーダンスを測定する。
【００２３】かかるノイズ試験装置10にあっては、互い
に接続されたリング型の第１のコイルC1及び第２のコイ
ルL2は、一つのリング型のコイルに比較して、全体とし
て巻回数が多くなるので、インダクタンスを増大させる
ことができ、電子機器20の両入出力線30a,30b に入力さ
れた試験信号の他系統への漏洩を防止することができ
る。同様に、互いに接続されたリング型の第３のコイル
L3及び第４のコイルL4も、一つのリング型のコイルに比
較して、巻回数が多くなるので、インダクタンスを増大
させることができ、電子機器20の両入出力線30a,30b に
入力された試験信号の他系統への漏洩を防止することが
できる。
に接続されたリング型の第１のコイルC1及び第２のコイ
ルL2は、一つのリング型のコイルに比較して、全体とし
て巻回数が多くなるので、インダクタンスを増大させる
ことができ、電子機器20の両入出力線30a,30b に入力さ
れた試験信号の他系統への漏洩を防止することができ
る。同様に、互いに接続されたリング型の第３のコイル
L3及び第４のコイルL4も、一つのリング型のコイルに比
較して、巻回数が多くなるので、インダクタンスを増大
させることができ、電子機器20の両入出力線30a,30b に
入力された試験信号の他系統への漏洩を防止することが
できる。
【００２４】しかも、従来例とは異なって、リング型の
コイルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルその
ものの径を大きくして巻回数を増加させているわけでは
ないから、図７に実線で示した状態から、同図に破線で
示す状態へと、インダクタンスのピーク値が低周波側に
シフトすることはなく、同図に一点鎖線で示すように、
所望の周波数領域でインダクタンスを増大させることが
できるので、ひいては、ＡＭ放送帯周波数でのインダク
タンスを増大させることができ、試験信号の他系統への
漏洩を、十分に防止することができる。
コイルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルその
ものの径を大きくして巻回数を増加させているわけでは
ないから、図７に実線で示した状態から、同図に破線で
示す状態へと、インダクタンスのピーク値が低周波側に
シフトすることはなく、同図に一点鎖線で示すように、
所望の周波数領域でインダクタンスを増大させることが
できるので、ひいては、ＡＭ放送帯周波数でのインダク
タンスを増大させることができ、試験信号の他系統への
漏洩を、十分に防止することができる。
【００２５】また、試験信号に基づくコモンモード電流
は、それぞれの磁束が直交するよう配設されたリング型
の第１のコイルL1及び第２のコイルL2に流れるととも
に、それぞれの磁束が直交するよう配設されたリング型
の第３のコイルL3及び第４のコイルL4に流れることによ
って、減衰するようになり、電子機器20の両入出力線30
a,30b に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止す
ることができるという効果を一段と奏することができ
る。
は、それぞれの磁束が直交するよう配設されたリング型
の第１のコイルL1及び第２のコイルL2に流れるととも
に、それぞれの磁束が直交するよう配設されたリング型
の第３のコイルL3及び第４のコイルL4に流れることによ
って、減衰するようになり、電子機器20の両入出力線30
a,30b に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止す
ることができるという効果を一段と奏することができ
る。
【００２６】また、カレントプローブ2 でもって、入力
された試験信号に基づくコモンモード電流を測定し、そ
のコモンモード電流の測定結果に応じて、試験信号の入
力を調整することができるので、適切なレベルで試験信
号を入力することができ、ひいては、電子機器20のノイ
ズに関する試験の精度を高くすることができる。
された試験信号に基づくコモンモード電流を測定し、そ
のコモンモード電流の測定結果に応じて、試験信号の入
力を調整することができるので、適切なレベルで試験信
号を入力することができ、ひいては、電子機器20のノイ
ズに関する試験の精度を高くすることができる。
【００２７】また、電子機器20そのものが有するコモン
モードインピーダンスに基づいて、試験信号の入力レベ
ルを調整することができるので、適切なレベルで試験信
号を入力することができ、ひいては、電子機器20のノイ
ズに関する試験の精度を高くすることができる。
モードインピーダンスに基づいて、試験信号の入力レベ
ルを調整することができるので、適切なレベルで試験信
号を入力することができ、ひいては、電子機器20のノイ
ズに関する試験の精度を高くすることができる。
【００２８】なお、本実施形態では、第１のコイルブロ
ックLL1 及び第２のコイルブロックLL2 を形成し、それ
らの両コイルブロックLL1,LL2 が直交することにより、
第１のコイルL1と第２のコイルL2の磁束が互いに直交す
るとともに第３のコイルL3と第４のコイルL4の磁束が互
いに直交するようにしているが、第１のコイルブロック
LL1 及び第２のコイルブロックLL2 を形成することな
く、第１のコイルL1と第２のコイルL2の磁束が互いに直
交するとともに第３のコイルL3と第４のコイルL4の磁束
が互いに直交するようにしても、同様の効果を奏するこ
とができる。
ックLL1 及び第２のコイルブロックLL2 を形成し、それ
らの両コイルブロックLL1,LL2 が直交することにより、
第１のコイルL1と第２のコイルL2の磁束が互いに直交す
るとともに第３のコイルL3と第４のコイルL4の磁束が互
いに直交するようにしているが、第１のコイルブロック
LL1 及び第２のコイルブロックLL2 を形成することな
く、第１のコイルL1と第２のコイルL2の磁束が互いに直
交するとともに第３のコイルL3と第４のコイルL4の磁束
が互いに直交するようにしても、同様の効果を奏するこ
とができる。
【００２９】また、本実施形態では、所定の周波数は、
ＡＭ放送帯周波数であるが、例えば、３００ｋ毎秒〜３
０Ｍ毎秒の中波や短波の周波数であっても、同様の効果
を奏することができる。
ＡＭ放送帯周波数であるが、例えば、３００ｋ毎秒〜３
０Ｍ毎秒の中波や短波の周波数であっても、同様の効果
を奏することができる。
【００３０】
【発明の効果】請求項１記載の発明は、互いに接続され
た複数個のリング型のコイルは、一つのリング型のコイ
ルに比較して、全体として巻回数が多くなるので、イン
ダクタンスを増大させることができ、電子機器の入出力
線に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止するこ
とができる。しかも、従来例とは異なって、リング型の
コイルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルその
ものの径を大きくして巻回数を増加させているわけでは
ないから、インダクタンスのピーク値が低周波側にシフ
トすることはなく、所望の周波数領域でインダクタンス
を増大させることができるので、ひいては、所定の周波
数でのインダクタンスを増大させることができ、試験信
号の他系統への漏洩を、十分に防止することができる。
た複数個のリング型のコイルは、一つのリング型のコイ
ルに比較して、全体として巻回数が多くなるので、イン
ダクタンスを増大させることができ、電子機器の入出力
線に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止するこ
とができる。しかも、従来例とは異なって、リング型の
コイルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルその
ものの径を大きくして巻回数を増加させているわけでは
ないから、インダクタンスのピーク値が低周波側にシフ
トすることはなく、所望の周波数領域でインダクタンス
を増大させることができるので、ひいては、所定の周波
数でのインダクタンスを増大させることができ、試験信
号の他系統への漏洩を、十分に防止することができる。
【００３１】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明の効果に加えて、試験信号に基づくコモンモード電流
は、それぞれの磁束が直交するよう配設された複数個の
リング型のコイルに流れることによって、減衰するよう
になり、電子機器の入出力線に入力された試験信号の他
系統への漏洩を防止することができるという効果を一段
と奏することができる。
明の効果に加えて、試験信号に基づくコモンモード電流
は、それぞれの磁束が直交するよう配設された複数個の
リング型のコイルに流れることによって、減衰するよう
になり、電子機器の入出力線に入力された試験信号の他
系統への漏洩を防止することができるという効果を一段
と奏することができる。
【００３２】請求項３記載の発明は、請求項１記載の発
明の効果に加えて、電流測定部でもって、入力された試
験信号に基づくコモンモード電流を測定し、そのコモン
モード電流の測定結果に応じて、試験信号の入力を調整
することができるので、適切なレベルで試験信号を入力
することができ、ひいては、電子機器のノイズに関する
試験の精度を高くすることができる。
明の効果に加えて、電流測定部でもって、入力された試
験信号に基づくコモンモード電流を測定し、そのコモン
モード電流の測定結果に応じて、試験信号の入力を調整
することができるので、適切なレベルで試験信号を入力
することができ、ひいては、電子機器のノイズに関する
試験の精度を高くすることができる。
【００３３】請求項４記載の発明は、互いに接続された
複数個のリング型のコイルは、一つのリング型のコイル
に比較して、全体として巻回数が多くなるので、インダ
クタンスを増大させることができ、電子機器の入出力線
に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止すること
ができる。しかも、従来例とは異なって、リング型のコ
イルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルそのも
のの径を大きくして巻回数を増加させているわけではな
いから、インダクタンスのピーク値が低周波側にシフト
することはなく、所望の周波数領域でインダクタンスを
増大させることができるので、ひいては、所定の周波数
でのインダクタンスを増大させることができ、試験信号
の他系統への漏洩を、十分に防止することができる。
複数個のリング型のコイルは、一つのリング型のコイル
に比較して、全体として巻回数が多くなるので、インダ
クタンスを増大させることができ、電子機器の入出力線
に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止すること
ができる。しかも、従来例とは異なって、リング型のコ
イルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルそのも
のの径を大きくして巻回数を増加させているわけではな
いから、インダクタンスのピーク値が低周波側にシフト
することはなく、所望の周波数領域でインダクタンスを
増大させることができるので、ひいては、所定の周波数
でのインダクタンスを増大させることができ、試験信号
の他系統への漏洩を、十分に防止することができる。
【００３４】さらに、入力された試験信号に基づくコモ
ンモード電流を測定し、そのコモンモード電流の測定結
果に応じて、試験信号の入力レベルを調整することがで
きるので、適切なレベルで試験信号を入力することがで
き、ひいては、電子機器のノイズに関する試験の精度を
高くすることができる。
ンモード電流を測定し、そのコモンモード電流の測定結
果に応じて、試験信号の入力レベルを調整することがで
きるので、適切なレベルで試験信号を入力することがで
き、ひいては、電子機器のノイズに関する試験の精度を
高くすることができる。
【００３５】請求項５記載の発明は、互いに接続された
複数個のリング型のコイルは、一つのリング型のコイル
に比較して、全体として巻回数が多くなるので、インダ
クタンスを増大させることができ、電子機器の入出力線
に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止すること
ができる。しかも、従来例とは異なって、リング型のコ
イルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルそのも
のの径を大きくして巻回数を増加させているわけではな
いから、インダクタンスのピーク値が低周波側にシフト
することはなく、所望の周波数領域でインダクタンスを
増大させることができるので、ひいては、所定の周波数
でのインダクタンスを増大させることができ、試験信号
の他系統への漏洩を、十分に防止することができる。
複数個のリング型のコイルは、一つのリング型のコイル
に比較して、全体として巻回数が多くなるので、インダ
クタンスを増大させることができ、電子機器の入出力線
に入力された試験信号の他系統への漏洩を防止すること
ができる。しかも、従来例とは異なって、リング型のコ
イルの巻回密度を増加させたりリング型のコイルそのも
のの径を大きくして巻回数を増加させているわけではな
いから、インダクタンスのピーク値が低周波側にシフト
することはなく、所望の周波数領域でインダクタンスを
増大させることができるので、ひいては、所定の周波数
でのインダクタンスを増大させることができ、試験信号
の他系統への漏洩を、十分に防止することができる。
【００３６】さらに、電子機器そのものが有するコモン
モードインピーダンスに基づいて、試験信号の入力レベ
ルを調整することができるので、適切なレベルで試験信
号を入力することができ、ひいては、電子機器のノイズ
に関する試験の精度を高くすることができる。
モードインピーダンスに基づいて、試験信号の入力レベ
ルを調整することができるので、適切なレベルで試験信
号を入力することができ、ひいては、電子機器のノイズ
に関する試験の精度を高くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態の回路図である。
【図２】同上の２つのコイルの斜視図である。
【図３】同上のコイルの巻回状態の説明図である。
【図４】同上によるノイズに関する試験の実施状態を示
す構成図である。
す構成図である。
【図５】同上によるノイズに関する試験の実施状態を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図６】同上によりノイズに関する試験がなされる電子
機器のインピーダンスの測定状態を示す構成図である。
機器のインピーダンスの測定状態を示す構成図である。
【図７】同上のコイルのインダクタンスと周波数との関
係を示す説明図である。
係を示す説明図である。
【図８】従来例の回路図である。
【図９】同上のコイルのインダクタンスと周波数との関
係を示す説明図である。
係を示す説明図である。
11 結合部 13 減結合部 2 カレントプローブ（電流測定部） L1 第１のコイル L2 第２のコイル L3 第３のコイル L4 第４のコイル C3 第３のコンデンサ C4 第４のコンデンサ 10 ノイズ試験装置 20 電子機器 30a 一方の入出力線 30b 他方の入出力線
Claims (5)
- 【請求項１】 電子機器の入出力線に所定の周波数を有
した試験信号を入力するための結合部と、互いに直列接
続された複数個のリング型のコイル及びそのコイルに接
続されたコンデンサを有し他系統への前記試験信号の漏
洩を防止する減結合部と、を備えたことを特徴とするノ
イズ試験装置。 - 【請求項２】 前記複数個のコイルは、それぞれの磁束
が直交するよう配設されたことを特徴とする請求項１記
載のノイズ試験装置。 - 【請求項３】 入力された前記試験信号に基づくコモン
モード電流を測定する電流測定部が設けられたことを特
徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載のノイ
ズ試験装置。 - 【請求項４】 電子機器の入出力線に所定の周波数を有
した試験信号を入力するための結合部と、互いに直列接
続された複数個のリング型のコイル及びそのコイルに接
続されたコンデンサを有し他系統への前記試験信号の漏
洩を防止する減結合部と、を備えたノイズ試験装置によ
り、前記電子機器のノイズに関する試験を行うノイズ試
験装置の試験方法であって、入力された前記試験信号に
基づくコモンモード電流を測定し、その測定されたコモ
ンモード電流に応じて、前記試験信号を入力することを
特徴とするノイズ試験装置の試験方法。 - 【請求項５】 電子機器の入出力線に所定の周波数を有
した試験信号を入力するための結合部と、互いに直列接
続された複数個のリング型のコイル及びそのコイルに接
続されたコンデンサを有し他系統への前記試験信号の漏
洩を防止する減結合部と、を備えたノイズ試験装置によ
り、前記電子機器のノイズに関する試験を行うノイズ試
験装置の試験方法であって、前記電子機器の有するコモ
ンモードインピーダンスに基づいて、前記試験信号を入
力することを特徴とするノイズ試験装置の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11124802A JP2000314756A (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | ノイズ試験装置及びその試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11124802A JP2000314756A (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | ノイズ試験装置及びその試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000314756A true JP2000314756A (ja) | 2000-11-14 |
Family
ID=14894498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11124802A Pending JP2000314756A (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | ノイズ試験装置及びその試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000314756A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005072070A2 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Tdk Corporation | 信号検出装置 |
| WO2005072071A2 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Tdk Corporation | 信号検出装置 |
| JP2012237695A (ja) * | 2011-05-13 | 2012-12-06 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 信号伝送路の評価装置及び評価方法 |
-
1999
- 1999-04-30 JP JP11124802A patent/JP2000314756A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005072070A2 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Tdk Corporation | 信号検出装置 |
| WO2005072071A2 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Tdk Corporation | 信号検出装置 |
| WO2005072070A3 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-10-06 | Tdk Corp | 信号検出装置 |
| WO2005072071A3 (ja) * | 2004-01-30 | 2005-10-06 | Tdk Corp | 信号検出装置 |
| US7405574B2 (en) | 2004-01-30 | 2008-07-29 | Tdk Corporation | Signal detector |
| JP2012237695A (ja) * | 2011-05-13 | 2012-12-06 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 信号伝送路の評価装置及び評価方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103592494B (zh) | 对基于平面的rf传感器技术的改进 | |
| US8040141B2 (en) | Orthogonal radio frequency voltage/current sensor with high dynamic range | |
| US4263549A (en) | Apparatus for determining differential mode and common mode noise | |
| CN1202022A (zh) | 射频功率分配器 | |
| Siddiqui et al. | Novel inductive sensor solutions for on-line partial discharge and power quality monitoring | |
| US6337571B2 (en) | Ultra-high-frequency current probe in surface-mount form factor | |
| US3155897A (en) | Fault detection system having a portable radio signal generator and stationary radio receiver for detecting open circuits in an electrical conductor | |
| JP2010008309A (ja) | 部分放電測定装置 | |
| JP2000314756A (ja) | ノイズ試験装置及びその試験方法 | |
| US5541521A (en) | EMI test system and decoupling network therefor, the decoupling network having series connected resonators with torroidal cores formed from a ferrite Composition | |
| JP2019211422A (ja) | 磁界検出コイルおよびｅｍｉアンテナ | |
| US4763062A (en) | Conductive EMI test system, a decoupling network therefor | |
| US20080191684A1 (en) | Method and configuration for measurement of harmonics in high-voltage networks | |
| US6188227B1 (en) | Bifilar wound isolation network | |
| SE503922C2 (sv) | Mätledning för en koaxialleding för bestämning av genomgående energiflöde och ståendevågförhållande | |
| JPH0420126A (ja) | 擬似通信回路網 | |
| JP2675584B2 (ja) | イミュニティ試験回路 | |
| Kroes et al. | Non intercepting high resolution beam monitors | |
| JP3487626B2 (ja) | 抵抗器 | |
| JPH0727016B2 (ja) | 透磁率測定装置および測定方法 | |
| SU783865A1 (ru) | Широкополосный трансформатор тока | |
| JPH0339272B2 (ja) | ||
| JPS61125215A (ja) | 分岐回路 | |
| JPH0628742U (ja) | プロ−ブ | |
| US20060044077A1 (en) | Bias-feeding device |