JP2000314672A - 衝撃風洞試験装置 - Google Patents
衝撃風洞試験装置Info
- Publication number
- JP2000314672A JP2000314672A JP11125427A JP12542799A JP2000314672A JP 2000314672 A JP2000314672 A JP 2000314672A JP 11125427 A JP11125427 A JP 11125427A JP 12542799 A JP12542799 A JP 12542799A JP 2000314672 A JP2000314672 A JP 2000314672A
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- Japan
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- flow
- glass
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- Aerodynamic Tests, Hydrodynamic Tests, Wind Tunnels, And Water Tanks (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】衝撃風洞試験装置において、試験時の覗き窓へ
の粒子の付着を防止する装置、あるいは付着した粒子を
容易に除去する装置を提供する。 【解決手段】衝撃風洞試験装置において、貯気槽内の空
間を粒子発生装置を含む部屋と粒子発生装置を含まない
部屋に区分する仕切板を設け、かつその仕切板を粒子発
生装置を含まない部屋からの粒子を含まない流れがカメ
ラ設置側の覗き窓の内面に沿って流れるように配置す
る。
の粒子の付着を防止する装置、あるいは付着した粒子を
容易に除去する装置を提供する。 【解決手段】衝撃風洞試験装置において、貯気槽内の空
間を粒子発生装置を含む部屋と粒子発生装置を含まない
部屋に区分する仕切板を設け、かつその仕切板を粒子発
生装置を含まない部屋からの粒子を含まない流れがカメ
ラ設置側の覗き窓の内面に沿って流れるように配置す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、蒸気タービン等の
タービン静翼々列等の性能を試験・計測するための衝撃
風洞試験装置に関する。
タービン静翼々列等の性能を試験・計測するための衝撃
風洞試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】蒸気タービン開発において、タービン動
翼及び静翼はその性能を左右する重要な要素である。従
来、タービン静翼の翼単独での性能試験は、衝撃風洞試
験装置を用いて、翼列通路内の流体の流れを把握するこ
とで行われている。
翼及び静翼はその性能を左右する重要な要素である。従
来、タービン静翼の翼単独での性能試験は、衝撃風洞試
験装置を用いて、翼列通路内の流体の流れを把握するこ
とで行われている。
【０００３】本試験での計測は、貯気槽に供給された液
体粒子（粒子径数μｍ）が翼列通路に流れる際の挙動を
カメラにより覗き窓から撮影することによって行われ、
得られた画像を解析することにより翼列通路内の流体の
流れを把握する。従って、粒子の挙動の撮影時における
覗き窓（ガラス）の汚れは画像解析上の大きなエラーと
なり、正確な流れの把握に支障をきたすことになる。
体粒子（粒子径数μｍ）が翼列通路に流れる際の挙動を
カメラにより覗き窓から撮影することによって行われ、
得られた画像を解析することにより翼列通路内の流体の
流れを把握する。従って、粒子の挙動の撮影時における
覗き窓（ガラス）の汚れは画像解析上の大きなエラーと
なり、正確な流れの把握に支障をきたすことになる。
【０００４】図３、図４、および図５に、従来の衝撃風
洞試験装置の構成を示している。図３はその側面図、第
４図は平面図、図５は翼列を配した供試部０４の平面拡
大図である。本衝撃風洞試験装置は、大きく真空槽０
１、衝撃波管０２、隔膜０３、供試部０４、および貯気
槽０５から構成されている。
洞試験装置の構成を示している。図３はその側面図、第
４図は平面図、図５は翼列を配した供試部０４の平面拡
大図である。本衝撃風洞試験装置は、大きく真空槽０
１、衝撃波管０２、隔膜０３、供試部０４、および貯気
槽０５から構成されている。
【０００５】供試部０４は、ガラス０６（覗き窓）、ガ
ラス枠０７、供試翼列０８、および流れをガイドする木
型０９からなり、粒子挙動撮影のためレーザ光０１０、
カメラ０１１を配置している。また、貯気槽０５内部に
粒子発生装置０１２を設置しており、この装置で貯気槽
０５内に粒子０１３を供給する。
ラス枠０７、供試翼列０８、および流れをガイドする木
型０９からなり、粒子挙動撮影のためレーザ光０１０、
カメラ０１１を配置している。また、貯気槽０５内部に
粒子発生装置０１２を設置しており、この装置で貯気槽
０５内に粒子０１３を供給する。
【０００６】本衝撃風洞試験は、真空槽０１を絶対真空
まで負圧にセットし、予め貯気槽０５に充満された粒子
０１３が、隔膜０３の破膜によって生じる真空槽０１と
貯気槽０５との圧力差により供試翼列０８の通路を流れ
ることで行われる。その際のカメラ０１１による撮影
は、破膜と同期させ、計測断面０１４を写している。
まで負圧にセットし、予め貯気槽０５に充満された粒子
０１３が、隔膜０３の破膜によって生じる真空槽０１と
貯気槽０５との圧力差により供試翼列０８の通路を流れ
ることで行われる。その際のカメラ０１１による撮影
は、破膜と同期させ、計測断面０１４を写している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
衝撃風洞試験においては、１回の破膜（試験）でガラス
０６へ粒子０１３が付着してしまい、そのままの状態で
は次の試験時にカメラ０１１による良好な撮影が不可能
となる。
衝撃風洞試験においては、１回の破膜（試験）でガラス
０６へ粒子０１３が付着してしまい、そのままの状態で
は次の試験時にカメラ０１１による良好な撮影が不可能
となる。
【０００８】このため1回の試験毎にガラス０６の清拭
清掃を行う必要があり、かつこの清拭作業が非常に面倒
であるため、その作業に手間と時間を要し、よって試験
時間が増加してしまうという問題がある。
清掃を行う必要があり、かつこの清拭作業が非常に面倒
であるため、その作業に手間と時間を要し、よって試験
時間が増加してしまうという問題がある。
【０００９】本発明は、前記の点に鑑み、破膜（試験）
時のガラス０６への粒子０１３の付着を防止する装置、
あるいは付着した粒子０１３を容易に除去する装置を提
供することを目的とする。
時のガラス０６への粒子０１３の付着を防止する装置、
あるいは付着した粒子０１３を容易に除去する装置を提
供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した衝撃
風洞試験装置において、貯気槽内の空間を粒子発生装置
を含む部屋と粒子発生装置を含まない部屋に区分する仕
切板を配置し、その仕切板が、粒子発生装置を含まない
部屋からの粒子を含まない流れがカメラ設置側の覗き窓
の内面に沿って流れるようにガイドするよう設けらてい
ることを特徴としている。
風洞試験装置において、貯気槽内の空間を粒子発生装置
を含む部屋と粒子発生装置を含まない部屋に区分する仕
切板を配置し、その仕切板が、粒子発生装置を含まない
部屋からの粒子を含まない流れがカメラ設置側の覗き窓
の内面に沿って流れるようにガイドするよう設けらてい
ることを特徴としている。
【００１１】また、本発明は、上述した衝撃風洞試験装
置において、上述のカメラ設置側の覗き窓を相互に間隙
を有する２枚のガラスからなる二重構造とし、その間隙
に高温のエアーを送給して覗き窓のガラスを加熱するよ
うにしたことを特徴としている。
置において、上述のカメラ設置側の覗き窓を相互に間隙
を有する２枚のガラスからなる二重構造とし、その間隙
に高温のエアーを送給して覗き窓のガラスを加熱するよ
うにしたことを特徴としている。
【００１２】さらに、前記の仕切板と覗き窓の加熱装置
の両方を組合せて設置した衝撃風洞試験装置としてもよ
い。
の両方を組合せて設置した衝撃風洞試験装置としてもよ
い。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき、本
発明の実施の形態を具体的に説明する。ここに、図１は
本発明の第一の実施例に係る衝撃風洞試験装置の平面図
であり、貯気槽１５から隔膜１３までの構成を示してい
る。真空槽は、図示を省略している。
発明の実施の形態を具体的に説明する。ここに、図１は
本発明の第一の実施例に係る衝撃風洞試験装置の平面図
であり、貯気槽１５から隔膜１３までの構成を示してい
る。真空槽は、図示を省略している。
【００１４】本実施例では、貯気槽１５から供試部１４
入口までを二つの空間に区別するように仕切板１１５を
配置し、その仕切板１１５によって分割された貯気槽１
５のカメラ１１１側（図１において下側）の空間を大気
槽１１７、その反対側（図１において上側）の空間を粒
子供給槽１１６としている。また、粒子供給槽１１６に
粒子発生装置１１２を設置している。その他の部分につ
いては、従来の衝撃風洞試験装置と同様である。
入口までを二つの空間に区別するように仕切板１１５を
配置し、その仕切板１１５によって分割された貯気槽１
５のカメラ１１１側（図１において下側）の空間を大気
槽１１７、その反対側（図１において上側）の空間を粒
子供給槽１１６としている。また、粒子供給槽１１６に
粒子発生装置１１２を設置している。その他の部分につ
いては、従来の衝撃風洞試験装置と同様である。
【００１５】以上のような構成にすることにより、破膜
時には、粒子供給槽１１６からの粒子を含む流れ１１９
と大気槽１１７からの粒子を含まない流れ１２０が形成
され、供試部１４へ流れ込む。このとき粒子を含まない
流れ１２０が、カメラ１１１側のガラス１６面に沿って
流れ込むように仕切板１１５が配置されている。
時には、粒子供給槽１１６からの粒子を含む流れ１１９
と大気槽１１７からの粒子を含まない流れ１２０が形成
され、供試部１４へ流れ込む。このとき粒子を含まない
流れ１２０が、カメラ１１１側のガラス１６面に沿って
流れ込むように仕切板１１５が配置されている。
【００１６】したがって試験の際には、カメラ１１１側
のガラス１６面付近には粒子１１３が流れることがな
く、よってガラス１６面への粒子１１３の付着は殆ど発
生しなくなる。これによりガラス１６面の清拭作業は不
要となる。
のガラス１６面付近には粒子１１３が流れることがな
く、よってガラス１６面への粒子１１３の付着は殆ど発
生しなくなる。これによりガラス１６面の清拭作業は不
要となる。
【００１７】なお、本装置は大気吸い込み式衝撃風洞で
あるため、貯気槽１５を２つに区別しても吸い込み方に
何らの影響を与えることはなく、またカメラ１１１と反
対側のガラス１１８面に粒子が付着しても撮影および画
像解析上何ら問題は生じないため、本実施例の装置にす
ることによる衝撃風洞試験および計測への悪影響はな
い。
あるため、貯気槽１５を２つに区別しても吸い込み方に
何らの影響を与えることはなく、またカメラ１１１と反
対側のガラス１１８面に粒子が付着しても撮影および画
像解析上何ら問題は生じないため、本実施例の装置にす
ることによる衝撃風洞試験および計測への悪影響はな
い。
【００１８】次に本発明の第二の実施例について説明す
る。ここに、図２は本発明の第二の実施例に係る衝撃風
洞試験装置の平面図であり、貯気槽２５から隔膜２３ま
での構成を示している。真空槽は、図示を省略してい
る。
る。ここに、図２は本発明の第二の実施例に係る衝撃風
洞試験装置の平面図であり、貯気槽２５から隔膜２３ま
での構成を示している。真空槽は、図示を省略してい
る。
【００１９】本実施例は、図２に示すとおり、第一の実
施例で説明した装置にカメラ２１１側ガラス２６１の加
熱装置を設置したものであり、その他の構成については
第一の実施例と同様である。
施例で説明した装置にカメラ２１１側ガラス２６１の加
熱装置を設置したものであり、その他の構成については
第一の実施例と同様である。
【００２０】本衝撃風洞試験装置において、カメラ２１
１側の覗き窓は、相互に間隙を有する２枚のガラス２６
１、２６２からなる二重構造となっている。そのガラス
２６１、２６２の間にヒーター２２１により熱せられた
高温エアー２２２を供給し、ガラス２６１、２６２を加
熱するようになっている。
１側の覗き窓は、相互に間隙を有する２枚のガラス２６
１、２６２からなる二重構造となっている。そのガラス
２６１、２６２の間にヒーター２２１により熱せられた
高温エアー２２２を供給し、ガラス２６１、２６２を加
熱するようになっている。
【００２１】第一の実施例と同様、貯気槽２５は仕切板
２１５により粒子供給槽２１６と大気槽２１７に区別さ
れており、破膜時には粒子を含む流れ２１９と粒子を含
まない流れ２２０が形成され、カメラ２１１側のガラス
２６１面には粒子を含まない流れ２２０が流れるように
なっている。
２１５により粒子供給槽２１６と大気槽２１７に区別さ
れており、破膜時には粒子を含む流れ２１９と粒子を含
まない流れ２２０が形成され、カメラ２１１側のガラス
２６１面には粒子を含まない流れ２２０が流れるように
なっている。
【００２２】しかし、万一ガラス２６１面に微量の粒子
２１３が付着した場合は、上述した加熱装置によりガラ
ス２６１面は試験中常に加温されているため、その熱に
よって付着した粒子はすぐに気化され、除去されること
になる。通常、粒子の液体としては、多価アルコールが
使用されており、その沸点が約１８０℃であることか
ら、ガラス２６１の内面を２００℃程度に加熱すること
により粒子は除去される。
２１３が付着した場合は、上述した加熱装置によりガラ
ス２６１面は試験中常に加温されているため、その熱に
よって付着した粒子はすぐに気化され、除去されること
になる。通常、粒子の液体としては、多価アルコールが
使用されており、その沸点が約１８０℃であることか
ら、ガラス２６１の内面を２００℃程度に加熱すること
により粒子は除去される。
【００２３】以上により、ガラス２６１面を常にきれい
な状態に保つことができ、試験の都度行っているガラス
２６１面の清拭作業が不要となる。
な状態に保つことができ、試験の都度行っているガラス
２６１面の清拭作業が不要となる。
【００２４】
【発明の効果】以上添付図にしたがって説明したよう
に、本発明では以下のような効果を有する。
に、本発明では以下のような効果を有する。
【００２５】第一に、衝撃風洞試験装置の貯気槽を粒子
発生装置を含む部屋と粒子発生装置を含まない部屋に区
分し、粒子発生装置を含まない部屋からの粒子を含まな
い流れがカメラ設置側の覗き窓のガラス面に沿って流れ
るようにする仕切板を設置することにより、試験時にガ
ラス面への粒子の付着を防止することができる。このこ
とにより、試験の都度の清拭作業が不要となり、全体の
試験時間を短縮できる効果がある。
発生装置を含む部屋と粒子発生装置を含まない部屋に区
分し、粒子発生装置を含まない部屋からの粒子を含まな
い流れがカメラ設置側の覗き窓のガラス面に沿って流れ
るようにする仕切板を設置することにより、試験時にガ
ラス面への粒子の付着を防止することができる。このこ
とにより、試験の都度の清拭作業が不要となり、全体の
試験時間を短縮できる効果がある。
【００２６】第二に、衝撃風洞試験装置において、カメ
ラ設置側の覗き窓を相互に間隙を有する２枚のガラスか
らなる二重構造とし、その間隙に高温のエアーを送給し
覗き窓のガラスを試験中常に加熱することにより、試験
時にガラス面に付着した粒子をガラス面の熱により気化
させ除去することができる。このことにより、試験の都
度の清拭作業が省略でき、全体の試験時間を短縮できる
効果がある。
ラ設置側の覗き窓を相互に間隙を有する２枚のガラスか
らなる二重構造とし、その間隙に高温のエアーを送給し
覗き窓のガラスを試験中常に加熱することにより、試験
時にガラス面に付着した粒子をガラス面の熱により気化
させ除去することができる。このことにより、試験の都
度の清拭作業が省略でき、全体の試験時間を短縮できる
効果がある。
【００２７】第三に、衝撃風洞試験装置に前記の仕切板
と覗き窓の加熱装置の両方を組合せて設置することによ
り、試験時のガラス面への粒子の付着を防止できるとと
もに、完全に付着を防止できなかった粒子をガラス面の
熱により気化、除去できるので、常にきれいなガラス面
を保つことができる。よって試験の都度の清拭作業が不
要となり、全体の試験時間を短縮できる効果がある。
と覗き窓の加熱装置の両方を組合せて設置することによ
り、試験時のガラス面への粒子の付着を防止できるとと
もに、完全に付着を防止できなかった粒子をガラス面の
熱により気化、除去できるので、常にきれいなガラス面
を保つことができる。よって試験の都度の清拭作業が不
要となり、全体の試験時間を短縮できる効果がある。
【図１】本発明の第一の実施例に係る衝撃風洞試験装置
の平面図である。
の平面図である。
【図２】本発明の第二の実施例に係る衝撃風洞試験装置
の平面図である。
の平面図である。
【図３】従来の衝撃風洞試験装置の側面図である。
【図４】従来の衝撃風洞試験装置の平面図である。
【図５】従来の衝撃風洞試験装置の供試部の拡大平面図
である。
である。
０１．真空槽 ０２．衝撃波管 ０３．隔膜 ０４．供試部 ０５．貯気槽 ０６．ガラス ０７．ガラス枠 ０８．供試翼列 ０９．木型 ０１０．レーザ光 ０１１．カメラ ０１２．粒子発生装置 ０１３．粒子 ０１４．計測断面 １３．隔膜 １４．供試部 １５．貯気槽 １６．カメラ側のガラス １７．ガラス枠 １８．供試翼列 １１１．カメラ １１２．粒子発生装置 １１３．粒子 １１４．計測断面 １１５．仕切板 １１６．粒子供給槽 １１７．大気槽 １１８．カメラと反対側のガラス １１９．粒子を含む流れ １２０．粒子を含まない流れ ２３．隔膜 ２４．供試部 ２５．貯気槽 ２６１．２６２．カメラ側のガラス ２７．ガラス枠 ２８．供試翼列 ２１１．カメラ ２１２．粒子発生装置 ２１３．粒子 ２１４．計測断面 ２１５．仕切板 ２１６．粒子供給槽 ２１７．大気槽 ２１８．カメラと反対側のガラス ２１９．粒子を含む流れ ２２０．粒子を含まない流れ ２２１．ヒーター ２２２．高温エアー
Claims (3)
- 【請求項１】真空槽、衝撃波管、隔膜、供試部、および
貯気槽から構成される衝撃風洞試験装置において、 該供試部に設置された覗き窓と、 該貯気槽内に設置された粒子発生装置と、 該貯気槽内の空間を該粒子発生装置を含む部屋と該粒子
発生装置を含まない部屋に区分し、かつ該粒子発生装置
を含まない部屋からの気体の流れが該覗き窓の内面に沿
って流れるように配置した仕切板を有することを特徴と
する衝撃風洞試験装置。 - 【請求項２】真空槽、衝撃波管、隔膜、供試部、および
貯気槽から構成される衝撃風洞試験装置において、 該供試部に設置され、相互に間隙を有する２枚のガラス
からなる二重構造の覗き窓と、 該覗き窓の２枚のガラスの間隙に高温のエアーを送給す
る装置を有することを特徴とする衝撃風洞試験装置。 - 【請求項３】請求項１に記載の衝撃風洞試験装置におい
て、 前記覗き窓は相互に間隙を有する２枚のガラスからなる
二重構造を有し、更に、 該覗き窓の２枚のガラスの間隙に高温のエアーを送給す
る装置を有することを特徴とする衝撃風洞試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11125427A JP2000314672A (ja) | 1999-05-06 | 1999-05-06 | 衝撃風洞試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11125427A JP2000314672A (ja) | 1999-05-06 | 1999-05-06 | 衝撃風洞試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000314672A true JP2000314672A (ja) | 2000-11-14 |
Family
ID=14909840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11125427A Withdrawn JP2000314672A (ja) | 1999-05-06 | 1999-05-06 | 衝撃風洞試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000314672A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103759914A (zh) * | 2014-01-24 | 2014-04-30 | 北京师范大学 | 一种全方位分层地表沙尘收集器 |
| CN106840580A (zh) * | 2016-12-07 | 2017-06-13 | 中国航天空气动力技术研究院 | 一种膜片定位夹紧装置 |
| CN107976294A (zh) * | 2017-11-08 | 2018-05-01 | 武汉理工大学 | 一种减弱氢氧爆轰激波管稀疏波的装置及方法 |
| CN113092054A (zh) * | 2021-04-19 | 2021-07-09 | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 | 一种风洞金属膜片夹紧装置 |
-
1999
- 1999-05-06 JP JP11125427A patent/JP2000314672A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103759914A (zh) * | 2014-01-24 | 2014-04-30 | 北京师范大学 | 一种全方位分层地表沙尘收集器 |
| CN106840580A (zh) * | 2016-12-07 | 2017-06-13 | 中国航天空气动力技术研究院 | 一种膜片定位夹紧装置 |
| CN106840580B (zh) * | 2016-12-07 | 2019-01-15 | 中国航天空气动力技术研究院 | 一种膜片定位夹紧装置 |
| CN107976294A (zh) * | 2017-11-08 | 2018-05-01 | 武汉理工大学 | 一种减弱氢氧爆轰激波管稀疏波的装置及方法 |
| CN113092054A (zh) * | 2021-04-19 | 2021-07-09 | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 | 一种风洞金属膜片夹紧装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060801 |