JP2000288919A - Polishing carrier, polishing method, and manufacture of information recording medium substrate - Google Patents

Polishing carrier, polishing method, and manufacture of information recording medium substrate

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JP2000288919A
JP2000288919A JP9389199A JP9389199A JP2000288919A JP 2000288919 A JP2000288919 A JP 2000288919A JP 9389199 A JP9389199 A JP 9389199A JP 9389199 A JP9389199 A JP 9389199A JP 2000288919 A JP2000288919 A JP 2000288919A
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polishing
holding
polished
carrier
center
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Hironori Yoshikawa
博則 吉川
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Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polishing carrier having high durability and low manufacturing costs, a polishing method, and a method for manufacturing an information recording medium substrate. SOLUTION: In a polishing carrier 1 provided with a polished article holding portion 2 having a plurality of holding holes 2a for holding an article to be polished, and a gear portion 3 provided in the outer periphery of the polished article holding portion 2, coincidence is prevented between straight lines A and B: the straight line A passing through the center of an at least holding hole disposed in the outermost periphery and the center of the polished article holding portion, and the straight line B passing through the center of a holding hole adjacent to the holding hole positioned in the outermost periphery and the center of the polished article holding portion. Alternatively, a distance between the holding holes 2a disposed in the outermost. peripheral side and/or a distance between the holding hole 2a disposed in the outermost periphery and the gear portion 3 is set larger than a distance between the plurality of the holding holes 2a. The concentration of stress applied to the polished article holding portion 2 in the particular part of the holding portion 2 is thereby prevented, and thus the particular part is prevented from being broken.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク用基板、
光ディスク用基板、又はシリコンウエハ、電子デバイス
用基板(フォトマスクブランク用基板、位相シフトマス
クブランク用基板、液晶ディスプレイ用基板)など(被
研磨物)の研磨の際に被研磨体を保持するのに用いる研
磨用キャリア及び該キャリアを用いた研磨方法並びにこ
の研磨方法を用いた情報記録媒体用基板の製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a magnetic disk substrate,
For holding an object to be polished when polishing an optical disk substrate, silicon wafer, electronic device substrate (photomask blank substrate, phase shift mask blank substrate, liquid crystal display substrate), etc. The present invention relates to a polishing carrier to be used, a polishing method using the carrier, and a method for manufacturing a substrate for an information recording medium using the polishing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気ディスク用基板等に使用される円盤
状のガラス基板のポリッシング加工、又は、ラッピング
加工は、円盤状の研磨用キャリアに設けられた複数の円
形の保持孔に、ガラス基板を入れ、下定盤及び上定盤に
よりガラス基板を挟持した状態で、上下定盤を互いに逆
回転させることにより行われる。
2. Description of the Related Art Disc polishing or lapping of a disk-shaped glass substrate used as a substrate for a magnetic disk or the like is performed by inserting a glass substrate into a plurality of circular holding holes provided in a disk-shaped polishing carrier. It is performed by rotating the upper and lower platens in opposite directions while holding the glass substrate between the lower platen and the upper platen.

【0003】ここで、研磨用キャリアの外周部に形成さ
れたギアは、研磨装置のインターナルギア及びサンギア
に噛合されるようになっており、研磨用キャリアは、イ
ンターナルギアとサンギアとの回転数の差により遊星運
動を行い、これによりガラス基板は両面を同時にポリッ
シング又はラッピングされる。
Here, a gear formed on the outer peripheral portion of the polishing carrier is designed to mesh with an internal gear and a sun gear of the polishing apparatus, and the polishing carrier has a rotational speed between the internal gear and the sun gear. The difference causes a planetary motion, whereby the glass substrate is simultaneously polished or wrapped on both sides.

【0004】図4及び図5は従来の研磨用キャリア(ラ
ッピング用)を示す平面図である。これらの図におい
て、研磨用キャリア1は、ガラスエポキシ製であり、磁
気ディスク用ガラス基板等の被研磨体を保持する複数の
保持孔2a,…,2aを有する被研磨体保持部2と、こ
の被研磨体保持部2の外周に設けられたギア部3とを有
する。
FIGS. 4 and 5 are plan views showing a conventional polishing carrier (for lapping). In these figures, a polishing carrier 1 is made of glass epoxy and has a plurality of holding bodies 2 having a plurality of holding holes 2a,..., 2a for holding a body to be polished such as a glass substrate for a magnetic disk. And a gear unit 3 provided on the outer periphery of the polished body holding unit 2.

【0005】前記複数の保持孔2a,…,2aは、前記
被研磨体保持部2の中心を中心とする4つ(図4)ある
いは3つ(図5)の同心円上にそれぞれ複数配置された
ものである。ラッピング装置には、このような研磨用キ
ャリアを5枚内外装着される。したがって、一度に数百
枚の被研磨体をラッピングされ、製造コストの低減が図
られている。近年、磁気ディスク用ガラス基板歯、ノー
ト型パソコンのハードディスクに搭載される2.5イン
チのガラス基板だけでなく、ディスクトップ型パソコン
にも有用であることが確認され、3インチ、3.5イン
チのガラス基板の需要が急速に高まってきている。この
ような背景においても、一度のラッピング工程で非常に
多くのガラス基板を加工できる上述のキャリアは、製造
コストの低減に欠かせないものである。
A plurality of the plurality of holding holes 2a,..., 2a are respectively arranged on four (FIG. 4) or three (FIG. 5) concentric circles centered on the center of the holder 2 to be polished. Things. The lapping device is equipped with five such polishing carriers inside and outside. Therefore, several hundreds of objects to be polished are lapped at a time, and the manufacturing cost is reduced. In recent years, it has been confirmed that the present invention is useful not only for magnetic disk glass substrate teeth and 2.5-inch glass substrates mounted on hard disks of notebook personal computers but also for desktop personal computers. Demand for glass substrates is rapidly increasing. Even in such a background, the above-mentioned carrier capable of processing a very large number of glass substrates in a single lapping step is indispensable for reducing the manufacturing cost.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の研磨用キャリアは、主にラッピング工程でで使用
するが、ラッピング工程は加工速度が約10〜20μm
/min と速く、数時間使用していると、特に最外周側に
配置された保持孔戸、その最外周と隣接して配置された
保持孔間での寸断が見られ、使用している材料の一般的
耐久性から通常期待される寿命に比して、必ずしも十分
な寿命を有するものとはいえないものであった。
However, the above-mentioned conventional polishing carrier is mainly used in the lapping step, but the lapping step requires a processing speed of about 10 to 20 μm.
/ Min, when used for several hours, especially the holding hole door located on the outermost circumference side, and the shredding between the holding hole located adjacent to the outermost circumference and the material used Has not always been able to be said to have a sufficient life as compared with the life normally expected from the general durability.

【0007】本発明は、上述の背景のもとでなされたも
のであり、耐久性に優れ、かつ、製造コストの低減を可
能にする研磨用キャリア及び研磨方法並びに情報記録媒
体用基板の製造方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background, and has excellent durability and a polishing method capable of reducing the manufacturing cost, and a method for manufacturing a substrate for an information recording medium. The purpose is to provide.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに第1の発明は、被研磨体を保持する複数の保持孔を
有する被研磨体保持部と、この被研磨体保持部の外周に
設けられたギア部とを有する研磨用キャリアにおいて、
前記複数の保持孔は、前記被研磨体保持部の中心を中心
とする半径の異なる複数の同心円上に複数配置されたも
のであり、少なくと最外周に配置された保持孔の中心及
び前記被研磨体保持部の中心を通る直線Aと、前記最外
周には位置された保持孔に隣接する保持孔の中心及び前
記被研磨体保持部の中心を通る直線Bとが合致しないよ
うにすることによって、研磨時に被研磨体保持部に加わ
る応力が被研磨体保持部の特定の部分に集中するのを防
止して特定部分が破壊するおそれを防止するようにした
ことを特徴とする研磨用キャリアである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a polishing object holder having a plurality of holding holes for holding a polishing object, and an outer periphery of the polishing object holder. A polishing carrier having a gear portion provided in
The plurality of holding holes are arranged on a plurality of concentric circles having different radii about the center of the polished body holding portion, and at least the center of the holding hole arranged at the outermost periphery and the center of the holding hole. A straight line A passing through the center of the polished body holding portion does not coincide with a straight line B passing through the center of the holding hole adjacent to the holding hole located at the outermost periphery and the center of the polished body holding portion. A polishing carrier, characterized in that stress applied to the object-to-be-polished holding part during polishing is prevented from being concentrated on a specific part of the object-to-be-polished holding part, thereby preventing the specific part from being broken. It is.

【0009】第2の発明は、直線Aと直線Bとのなす角
が1°以上であることを特徴とする第1の発明にかかる
研磨用キャリアである。
A second invention is the polishing carrier according to the first invention, wherein the angle between the straight line A and the straight line B is 1 ° or more.

【0010】第3の発明は、前記最外周側に配置された
保持孔どうしの間の距離及び/又は最外周側に配置され
た保持孔と前記ギア部との間の距離を、前記複数の保持
孔どうしの間の距離よりも大きく設定することを特徴と
する第1又はだい2の発明にかかる研磨用キャリアであ
る。
In a third aspect of the present invention, the distance between the holding holes arranged on the outermost periphery and / or the distance between the holding holes arranged on the outermost periphery and the gear portion is determined by changing the distance between the plurality of holding holes. The polishing carrier according to the first or second invention, wherein the distance is set to be larger than the distance between the holding holes.

【0011】第4の発明は、被研磨体を保持する複数の
保持孔を有する被研磨体保持部と、この被研磨体保持部
の外周に設けられたギア部とを有する研磨用キャリアに
おいて、前記複数の保持孔は、前記被研磨体保持部の中
心を中心とする半径の異なる複数の同心円上に複数配置
され、最外周側に配置された保持孔どうしの間の距離及
び/又は最外周側に配置された保持孔と前記ギア部との
間の距離を、前記複数の保持孔どうしの間の距離よりも
大きく設定することにより、研磨時に被研磨体保持部に
加わる応力が被研磨体保持部の特定の部分に集中するの
を防止して特定部分が疲労破壊するおそれを防止するよ
うにしたことを特徴とする研磨用キャリアである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a polishing carrier having a polished body holding portion having a plurality of holding holes for holding a polished body, and a gear portion provided on an outer periphery of the polished body holding portion. The plurality of holding holes are arranged on a plurality of concentric circles having different radii about the center of the polished body holding portion, and the distance between the holding holes arranged on the outermost periphery and / or the outermost periphery By setting the distance between the holding holes arranged on the side and the gear portion to be larger than the distance between the plurality of holding holes, the stress applied to the holder to be polished during polishing is reduced. A polishing carrier characterized in that the carrier is prevented from concentrating on a specific portion of the holding portion to prevent the specific portion from being fatigued and broken.

【0012】第5の発明は、被研磨体を保持する複数の
保持孔を有する被研磨体保持部とこの被研磨体保持部の
外周に設けられたギア部とを有する研磨用キャリアの保
持孔に被研磨体を入れ、下定盤及び上定盤により前記被
研磨体を挟持した状態で上下定盤を回転させ、前記被研
磨体の主表面にラッピング及び/又はポリッシングを施
して被研磨体を研磨する研磨方法において、前記研磨用
キャリアとして第1乃至第4のいずれかの発明にかかる
研磨用キャリアを用いることを特徴とする研磨方法であ
る。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a polishing carrier holding hole having a plurality of holding holes for holding a member to be polished and a gear provided on the outer periphery of the holding member. , The upper and lower lapping plates are rotated with the lower and upper stools sandwiching the polished body, and the main surface of the polished body is subjected to lapping and / or polishing to polish the polished body. In the polishing method for polishing, the polishing carrier according to any one of the first to fourth inventions is used as the polishing carrier.

【0013】第6の発明は、被研磨体を保持する保持孔
を有する被研磨体保持部とこの被研磨体保持部の外周に
設けられたギア部とを有する研磨用キャリアの保持孔に
情報記録媒体用基板を入れ、下定盤及び上定盤により情
報記録媒体用基板を挟持した状態で上下定盤を回転さ
せ、前記情報記録媒体用基板の主表面にラッピング及び
/又はポリッシングを施して情報記録媒体用基板を研磨
する研磨工程を有する情報記録媒体用基板の製造方法に
おいて、前記研磨用キャリアとして第1乃至第4のいず
れかの発明にかかる研磨用キャリアを用いることを特徴
とする情報記録媒体用基板の製造方法である。
According to a sixth aspect of the present invention, information is provided in a holding hole of a polishing carrier having a holder to be polished having a holding hole for holding a member to be polished and a gear provided on the outer periphery of the holder to be polished. A recording medium substrate is inserted, and the upper and lower platens are rotated while the information recording medium substrate is sandwiched between the lower platen and the upper platen, and the main surface of the information recording medium substrate is subjected to lapping and / or polishing to obtain information. In a method for manufacturing an information recording medium substrate having a polishing step of polishing a recording medium substrate, the information carrier according to any one of the first to fourth inventions is used as the polishing carrier. This is a method for manufacturing a medium substrate.

【0014】上述の構成にすることによって、研磨用キ
ャリアの寿命を著しく長くすることが可能になった。ま
た、研磨中における寸断事故のおそれもほとんどなくな
ったため、寿命期間をフルに活用して使用することが可
能となり、著しいコスト低減が可能になった。
With the above-described structure, the life of the polishing carrier can be significantly prolonged. In addition, since there is almost no risk of a cutting accident during polishing, it is possible to make full use of the service life and use it, thereby enabling a significant cost reduction.

【0015】本発明をなすに至った経過は、以下のとお
りである。すなわち、本発明者等は、従来の研磨用キャ
リアの寸断事故等の事例を詳細に調査研究した。その結
果、寸断箇所が、特定の箇所に集中する傾向の見られる
ことが分かった。すなわち、例えば、最外周に配置され
た保持孔の中心及び前記被研磨体保持部の中心を通る直
線Aと、前記最外周には位置された保持孔に隣接する保
持孔の中心及び前記被研磨体保持部の中心を通る直線B
とが合致するような場合には、これらの保持孔に沿って
その近辺が寸断されやすいことが分かった。特に、周速
の大きい最外周側にその寸断が見られた。
The process leading to the present invention is as follows. That is, the present inventors have conducted detailed investigations and studies on the conventional cases such as the cutting accident of the polishing carrier. As a result, it was found that the cut portions tended to concentrate on a specific portion. That is, for example, a straight line A passing through the center of the holding hole arranged at the outermost periphery and the center of the polished body holding portion, and the center of the holding hole adjacent to the holding hole located at the outermost periphery and the polishing target. Straight line B passing through the center of the body holder
It was found that in the case where と coincides, the vicinity thereof is easily cut along these holding holes. In particular, the fragmentation was observed on the outermost peripheral side where the peripheral speed was high.

【0016】本発明者等の解析によれば、上記寸断事故
の原因の1つとして、保持孔の配置位置が関係している
ことが解明された。本発明は、この解明結果に基づい
て、種々の試行錯誤の結果なされたものである。本発明
においては、上述の構成にすることによって、ラッピン
グ又は研磨装置(上定盤、下定盤、インターナルギア、
サンギア)から研磨用キャリアの保持孔間にかかる応力
を適切に分散し、摩耗や疲労による寸断事故のおそれを
除去するとともに、研磨用キャリアの寿命を著しく向上
させている。
According to the analysis of the present inventors, it has been found that one of the causes of the cutting accident is related to the arrangement position of the holding holes. The present invention has been made as a result of various trials and errors based on the results of this elucidation. In the present invention, by adopting the above configuration, a lapping or polishing apparatus (upper platen, lower platen, internal gear,
In this manner, the stress applied between the holding holes of the polishing carrier from the sun gear) is appropriately dispersed, the risk of breakage due to wear and fatigue is eliminated, and the life of the polishing carrier is significantly improved.

【0017】本発明の研磨用キャリアにおいては、最外
周に配置された保持孔の中心及び前記被研磨体保持部の
中心を通る直線Aと、前記最外周には位置された保持孔
に隣接する保持孔の中心及び前記被研磨体保持部の中心
を通る直線Bとが合致しないようにし、あるいは、最外
周側に配置された保持孔どうしの間の距離及び/又は最
外周側に配置された保持孔と前記ギア部との間の距離
を、複数の保持孔どうしの間の距離よりも大きく設定す
るようにしたものであれば、どのような配置形式でもよ
い。
In the polishing carrier of the present invention, a straight line A passing through the center of the holding hole arranged at the outermost periphery and the center of the holding portion of the object to be polished is adjacent to the holding hole located at the outermost periphery. The center of the holding hole and the straight line B passing through the center of the object-to-be-polished holding part are not matched, or the distance between the holding holes arranged on the outermost side and / or the outermost side is arranged. Any arrangement may be used as long as the distance between the holding hole and the gear portion is set to be larger than the distance between the plurality of holding holes.

【0018】一般的には、複数の保持孔は、被研磨体保
持部の中心を中心とする半径の異なる複数の同心円上に
それぞれ複数配置されたものとする。そして、各同心円
上にある保持孔間の距離を、各同心円毎に異ならせる等
の調整をすることによって、上記配置関係を実現する。
Generally, it is assumed that the plurality of holding holes are respectively arranged on a plurality of concentric circles having different radii from the center of the holding portion of the object-to-be-polished. By adjusting the distance between the holding holes on each concentric circle for each concentric circle or the like, the above-mentioned arrangement relationship is realized.

【0019】保持孔の半径方向の列数(同心円の数)
は、製造する(研磨する)ガラス基板等の被研磨体に応
じて決められる。例えば、一枚のキャリアにつき50枚
ガラス基板を配置するには、3列配置の場合、中心側か
ら第1列目は10個、第2列目は17個、第3列目は2
3個の保持孔が形成される。4列配置の場合、中心側か
ら第1列目は4個、第2列目は10個、第3列目は16
個、第4列目は20個の保持孔が形成される。ラッピン
グ又は研磨装置の定盤には装置によって異なるが、5枚
のキャリアを搭載する場合は、一度のラッピング又は研
磨工程によって5×50=250枚のガラス基板を製造
することができる。なお、本発明で使用する被研磨体保
持部の材質としては、アラミド繊維、FRP(ガラスエ
ポキシ)、PC(ポリカーボネート)などが挙げられ
る。
Number of rows of retaining holes in the radial direction (number of concentric circles)
Is determined according to an object to be polished such as a glass substrate to be manufactured (polished). For example, in order to arrange 50 glass substrates for one carrier, in the case of a three-row arrangement, the first row has 10 pieces, the second row has 17 pieces, and the third row has 2 pieces from the center side.
Three holding holes are formed. In the case of a 4-row arrangement, the first row is 4 pieces, the second row is 10 pieces, and the third row is 16 pieces from the center side.
In the fourth row, twenty holding holes are formed. The lapping or polishing apparatus has a platen which varies depending on the apparatus, but when 5 carriers are mounted, 5 × 50 = 250 glass substrates can be manufactured by one lapping or polishing step. In addition, as a material of the holder for the object to be polished used in the present invention, aramid fiber, FRP (glass epoxy), PC (polycarbonate) and the like can be mentioned.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】(実施例1)図1は本発明の実施
例1にかかる研磨用キャリアの平面図、図2は研磨用キ
ャリアを研磨装置に装着した状態を示す図、図3は図2
における部分断面図である。以下、これらの図面を参照
にしながら実施例1にかかる研磨用キャリア及び研磨方
法並びに情報記録媒体用基板の製造方法を説明する。な
お、この実施例は、4列配置で50枚の被研磨体を搭載
できる研磨用キャリアを用いて、2.5インチ用磁気記
録媒体用ガラス基板(情報記録媒体用ガラス基板=被研
磨体)を製造する場合に本発明を適用する例である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a plan view of a polishing carrier according to Embodiment 1 of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a state where the polishing carrier is mounted on a polishing apparatus, and FIG. FIG.
FIG. Hereinafter, a polishing carrier, a polishing method, and a method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to the first embodiment will be described with reference to these drawings. In this embodiment, a 2.5-inch glass substrate for a magnetic recording medium (glass substrate for an information recording medium = polished object) is used by using a polishing carrier capable of mounting 50 polished objects in a 4-row arrangement. This is an example in which the present invention is applied to the case of manufacturing.

【0021】図1において、研磨用キャリア1は、円板
状の被研磨体保持部2と、被研磨体保持部の外周に設け
られたギア部3とで構成されている。研磨用キャリア1
は、直径が620mm、厚さが0.5−0mmのガラス
エポキシ板で構成されており、表裏に貫通された複数
(この実施例では50個)の被研磨体保持孔2a,…,
2aが形成されている。この被研磨体保持孔2aは、
2.5インチ用磁気記録媒体用ガラス基板4(情報記録
媒体用ガラス基板=被研磨体)を収納できる大きさ(内
径ra ;約65mm)を有するものである。
In FIG. 1, the polishing carrier 1 is composed of a disc-shaped polished body holding section 2 and a gear section 3 provided on the outer periphery of the polished body holding section. Polishing carrier 1
Is made of a glass epoxy plate having a diameter of 620 mm and a thickness of 0.5-0 mm, and a plurality of (50 in this embodiment) polished body holding holes 2a,.
2a is formed. This polished body holding hole 2a is
It has a size (inner diameter ra; about 65 mm) that can accommodate the 2.5-inch glass substrate 4 for magnetic recording medium (glass substrate for information recording medium = polished body).

【0022】保持孔2aは、被研磨体保持部2の中心を
中心とする4つの同心円円上にそれぞれ複数配置されて
いる。すなわち、直径r1 の第1の円上に4個、直径r
2 の第2の円上に10個、直径r3 の第3の円上に16
個、直径r4 の第4の円上に20個、それぞれ位置さ
れ、合計50個配置されている。尚、各同心円どうしの
間隔は同じである。
The plurality of holding holes 2a are respectively arranged on four concentric circles centered on the center of the holder 2 for the object to be polished. That is, four pieces on a first circle having a diameter r 1 and a diameter r 1
10 on 2 of the second circle, on a third circle having a diameter r 3 16
And 20 pieces on the fourth circle having the diameter r 4 , and a total of 50 pieces are arranged. The intervals between the concentric circles are the same.

【0023】また、各同心円上に配置されている保持孔
2aどうしの間隔は第4の円上での間隔間隔d4 =10
mmで、以下第3の円上での間隔d3 、第2の円上での
間隔d2 、第1の円上での間隔d1 が、d4 >d3 >d
2 >d1 (但し、d1 >0)となるようにしてある。ま
た、最外周側に配置された保持孔2aとギア部3(歯
底)との間の距離d0 は、15mm程度である。又、保
持孔の中心と被研磨体保持部の中心を通る直線どうしの
なす角度が少なくとも1°以上となるように各保持孔が
配置されている。
The distance between the holding holes 2a arranged on each concentric circle is the distance d 4 = 10 on the fourth circle.
mm, the distance d 3 on the third circle, the distance d 2 on the second circle, and the distance d 1 on the first circle are d 4 > d 3 > d
2> d 1 (where, d1> 0) are the become so. Further, the distance d 0 between the holding hole 2a arranged on the outermost side and the gear portion 3 (tooth bottom) is about 15 mm. Each holding hole is arranged such that an angle formed between straight lines passing through the center of the holding hole and the center of the holder to be polished is at least 1 ° or more.

【0024】次に、図2、図3を用いて研磨用キャリア
1を研磨装置5に装着し、被研磨体である磁気記録媒体
用ガラス基板4をポリッシング加工、又は、ラッピング
加工を行う研磨工程の概略を説明する。
Next, referring to FIGS. 2 and 3, the polishing carrier 1 is mounted on the polishing apparatus 5, and the polishing or lapping process is performed on the glass substrate 4 for the magnetic recording medium as the object to be polished. Will be described briefly.

【0025】研磨装置5は、それぞれ所定の回転比率で
回転駆動されるインターナルギア51及びサンギア52
を有する研磨用キャリア装着部と、この研磨用キャリア
装着部を挟んで互いに逆回転駆動される上定盤53及び
下定盤54とを有する。
The polishing apparatus 5 has an internal gear 51 and a sun gear 52, each of which is driven to rotate at a predetermined rotation ratio.
And an upper surface plate 53 and a lower surface plate 54 which are driven to rotate in opposite directions with respect to the polishing carrier mounting portion.

【0026】研磨用キャリア装着部に、複数の研磨用キ
ャリア1をセットすると、これら研磨用キャリア1のギ
アがインターナルギア51及びサンギア52と噛合され
るようになっている。各研磨用キャリア1の被研磨体保
持孔2aに被研磨体である磁気記録媒体用ガラス基板4
をセットし、研磨を開始すると、研磨用キャリア1はイ
ンターナルギア51及びサンギア52との回転数の差に
より遊星運動を行う。同時に、上定盤53及び下定盤5
4は互いに逆回転し、それらに設けられた研磨パッド5
3a,54aによって磁気記録媒体用ガラス基板4の表
裏の面がポリッシング又はラッピングされる。
When a plurality of polishing carriers 1 are set in the polishing carrier mounting portion, the gears of these polishing carriers 1 mesh with the internal gear 51 and the sun gear 52. A glass substrate 4 for a magnetic recording medium, which is an object to be polished, is placed in the object holding hole 2a of each polishing carrier 1.
Is set, and polishing is started, the polishing carrier 1 performs planetary motion due to the difference in rotation speed between the internal gear 51 and the sun gear 52. At the same time, upper platen 53 and lower platen 5
4 rotate in opposite directions to each other, and a polishing pad 5
The front and back surfaces of the glass substrate 4 for a magnetic recording medium are polished or wrapped by 3a and 54a.

【0027】一般に、ガラス基板は、荒ずり→ラッピン
グ(砂掛け)→端面鏡面工程→ポリッシングの工程を経
て鏡面仕上げされる。ここで、ラッピング工程は、寸法
精度・形状精度の向上を目的としており、ラップ盤によ
ってガラス基板の主表面を加工する。ポリッシング工程
は、面の平滑さの向上(表面粗さの低減)と加工歪を小
さくすることを目的としており、通常、硬質ポリシャを
使用する第1研磨工程と、軟質ポリシャを使用する第2
研磨工程(ファイナル研磨工程)とからなる。
Generally, a glass substrate is mirror-finished through a process of roughing → lapping (sanding) → end surface mirroring process → polishing process. Here, the lapping step aims at improving dimensional accuracy and shape accuracy, and the main surface of the glass substrate is processed by a lapping machine. The polishing step aims at improving the smoothness of the surface (reducing the surface roughness) and reducing the processing strain, and usually includes a first polishing step using a hard polisher and a second polishing step using a soft polisher.
A polishing step (final polishing step).

【0028】本発明の研磨用キャリアは、上述のいずれ
の工程にも使用することができるが、加工速度が速いラ
ッピング工程に特に有効であるが、加工速度が遅いほか
は効果的には同様であるので、以下では、ポリッシング
加工について具体的に説明する。
The polishing carrier of the present invention can be used in any of the above-mentioned steps, and is particularly effective in a lapping step in which the processing speed is high. Therefore, the polishing process will be specifically described below.

【0029】ポリッシング加工(第1研磨工程、ファイ
ナル研磨工程)を行う際には、研磨用キャリア1の外周
部に形成したギア部3の歯3aを、研磨装置5のサンギ
ア52及び、インターナルギア51と噛合させた状態
で、研磨用キャリア1を研磨装置5の研磨パッド54a
を貼った下定盤54の上にセットする。次に、被研磨体
保持孔2aの中に被研磨体である磁気記録媒体用ガラス
基板4を入れて保持する。
When performing the polishing process (first polishing step, final polishing step), the teeth 3a of the gear portion 3 formed on the outer peripheral portion of the polishing carrier 1 are connected to the sun gear 52 of the polishing device 5 and the internal gear 51. The polishing carrier 1 is brought into contact with the polishing pad 54 a
Is set on the lower platen 54 on which is attached. Next, the glass substrate 4 for a magnetic recording medium, which is the object to be polished, is placed and held in the object-to-be-polished holding hole 2a.

【0030】次に、該ガラス基板4を研磨パッド54a
を貼った下定盤54及び研磨パッド53aを貼った上定
盤53によって挟持し、酸化セリウムなどの砥粒を含む
研磨液を供給しながら下定盤54及び上定盤53を互い
に逆方向に回転させる。これにより、サンギア52及び
インターナルギア51の回転数の差により、研磨用キャ
リア1を自転しつつ公転し、上記ガラス基板4の両面が
同時に研磨加工される。
Next, the glass substrate 4 is placed on a polishing pad 54a.
The lower platen 54 and the upper platen 53 are sandwiched between the lower platen 54 and the upper platen 53 on which the polishing pad 53a is stuck, and the lower platen 54 and the upper platen 53 are rotated in opposite directions while supplying a polishing liquid containing abrasive grains such as cerium oxide. . Thereby, the polishing carrier 1 revolves while rotating by the difference in the rotation speeds of the sun gear 52 and the internal gear 51, and both surfaces of the glass substrate 4 are simultaneously polished.

【0031】なお、研磨パッド53a、54aとして
は、例えば、スウェード、ベロアを素材とする軟質ポリ
シャや、硬質ベロア、ウレタン発砲、ピッチ含浸スウェ
ード等の硬質ポリシャ等が挙げられる。
Examples of the polishing pads 53a and 54a include soft polishers made of suede and velor, and hard polishers made of hard velor, urethane foam, pitch impregnated suede, and the like.

【0032】以下、磁気記録媒体用ガラス基板の製造工
程をより具体的に説明する。 (1) 第1ラッピング工程(第1砂掛け工程) まず、ダウンドロー法で形成したシートガラスから、研
削砥石で直径66mmφ、厚さ1.1mmの円盤状に切
り出したアルミノシリケートガラスからなるガラス基板
を、比較的粗いダイヤモンド砥石で研削加工して、直径
65mm(2.5インチ)φ、厚さ0.6mmに成形し
た。
Hereinafter, the manufacturing process of the glass substrate for a magnetic recording medium will be described more specifically. (1) First Lapping Step (First Sanding Step) First, a glass substrate made of aluminosilicate glass cut into a disk shape having a diameter of 66 mmφ and a thickness of 1.1 mm with a grinding wheel from a sheet glass formed by a downdraw method. Was ground with a relatively coarse diamond grindstone to form a diameter of 65 mm (2.5 inches) φ and a thickness of 0.6 mm.

【0033】この場合、ダウンドロー法の代わりに、溶
融ガラスを上型、下型、胴型を用いてダイレクトプレス
して、円盤状のガラス体を得ても良い。尚、アルミノシ
リケートガラスとしては、モル%表示で、SiO2 を5
7〜74%、ZnO2 を0〜2.8%、Al2 3 を3
〜15%、LiO2 を7〜16%、Na2 Oを4〜14
%、を主成分として含有する化学強化用ガラスを使用し
た。
In this case, instead of the down-draw method, a molten glass may be directly pressed using an upper mold, a lower mold, and a body mold to obtain a disk-shaped glass body. Incidentally, as the aluminosilicate glass, 5% of SiO 2 was expressed in mol%.
7-74%, ZnO 2 is 0-2.8%, Al 2 O 3 is 3
15%, the LiO 2 7 to 16%, a Na 2 O 4 to 14
%, As a main component.

【0034】次いで、ガラス基板にラッピング加工を施
した。このラッピング工程は、寸法精度及び形状精度の
向上を目的としている。ラッピング加工は、ラッピング
装置を用いて行い、キャリアは、ガラスエポキシ製のも
のを使用し、砥粒の粒度を#400として行った。詳し
くは、粒度#400のアルミナ砥粒を用い、荷重Lを1
00kg程度に設定して、サンギアとインターナルギア
を回転させることによって、キャリア内に収納したガラ
ス基板の両面を面精度0〜1μm、表面粗さ(Rma
x)(JIS B 0601で測定)6μm程度にラッ
ピングした。
Next, a lapping process was performed on the glass substrate. This lapping step aims at improving dimensional accuracy and shape accuracy. The lapping process was performed using a lapping apparatus, and a carrier made of glass epoxy was used, and the grain size of abrasive grains was set to # 400. More specifically, a load L of 1 was used by using alumina abrasive grains having a grain size of # 400.
By setting the sun gear and the internal gear to about 00 kg and rotating both the sun gear and the internal gear, both sides of the glass substrate housed in the carrier have a surface accuracy of 0 to 1 μm and a surface roughness (Rma).
x) (measured by JIS B0601) Lapping was performed to about 6 μm.

【0035】次に、円筒状の砥石を用いてガラス基板の
中心部に円孔(直径20mmφ)を開けるとともに、外
周端面及び内周端面に所定の面取り加工を施した。この
ときのガラス基板の内外周端面の表面粗さは、Rmax
で14μm程度であった。
Next, a circular hole (diameter: 20 mmφ) was opened in the center of the glass substrate using a cylindrical grindstone, and a predetermined chamfering process was performed on the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface. At this time, the surface roughness of the inner and outer peripheral end faces of the glass substrate is Rmax
Was about 14 μm.

【0036】(2) 端面研磨工程 次いで、スラリーを使用したブラシ研磨により、ガラス
基板を回転させながらガラス基板の端面部分(角張った
部位、側面及び面取部)の研磨を行い、角張った部位を
半径0.2〜10mmの曲面とするとともに、それらの
表面粗さをRmaxで1μm、Raで0.3μm程度と
した。上記端面研磨工程を終えたガラス基板の表面を水
洗浄した。
(2) Edge Polishing Step Next, by polishing the edge of the glass substrate (angular portion, side surface and chamfered portion) while rotating the glass substrate by brush polishing using a slurry, the angular portion is polished. The curved surfaces had a radius of 0.2 to 10 mm, and their surface roughness was about 1 μm in Rmax and about 0.3 μm in Ra. The surface of the glass substrate after the end face polishing step was washed with water.

【0037】(3) 第2ラッピング工程(第2砂掛け
工程) 次に、ラッピング装置を用い、ガラスエポキシからなる
実施例1のキャリアを使用し、粒度#1000のアルミ
ナ砥粒、荷重Lを100kg程度に設定して、サンギア
とインターナルギアを回転させることによって、ラッピ
ングを行い、ガラス基板の両面の表面粗さ(Rmax)
を2μm程度とした。上記第2ラッピング工程を終えた
ガラス基板を、中性洗剤、水の各洗浄槽に順次浸漬し
て、洗浄した。
(3) Second Lapping Step (Second Sanding Step) Next, using a carrier of Example 1 made of glass epoxy using a lapping apparatus, alumina abrasive grains having a particle size of # 1000 and a load L of 100 kg The lapping is performed by rotating the sun gear and the internal gear at a predetermined degree, and the surface roughness (Rmax) of both surfaces of the glass substrate
Was set to about 2 μm. The glass substrate after the second lapping step was washed by sequentially immersing the glass substrate in a neutral detergent and water washing tank.

【0038】(4) 第1ポリッシング工程(第1研磨
工程) 次に、第1ポリッシング工程を施した。この第1ポリッ
シング工程は、上述したラッピング工程で残留した傷
や、歪みの除去を目的とするもので、ポリッシング装置
を用いて行った。詳しくは、研磨パッド(研磨布)とし
て硬質ポリシャ(セリウムパッドMHC15:スピード
ファム社製)を用い、ガラスエポキシ製の実施例1のキ
ャリアを使用し、以下のポリッシング条件で第1ポリッ
シング工程を実施した。
(4) First Polishing Step (First Polishing Step) Next, a first polishing step was performed. This first polishing step is intended to remove scratches and distortion remaining in the above-described lapping step, and was performed using a polishing apparatus. More specifically, the first polishing step was performed under the following polishing conditions using a hard polisher (cerium pad MHC15: manufactured by Speed Fam) as a polishing pad (polishing cloth) and using the carrier of Example 1 made of glass epoxy. .

【0039】 研磨液:酸化セリウム(平均粒径;1.3μm)+水 荷重:300kg/cm2(L=238kg) 研磨時間:15分 除去量:30μm 下定盤回転数:40rpm 上定盤回転数:35rpm サンギア回転数:14rpm インターナルギア回転数:29rpm 上記第1ポリッシング工程を終えたガラス基板を、中性
洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコー
ル)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、
洗浄した。
Polishing liquid: cerium oxide (average particle size: 1.3 μm) + water Load: 300 kg / cm 2 (L = 238 kg) Polishing time: 15 minutes Removal amount: 30 μm Lower platen rotation speed: 40 rpm Upper platen rotation speed: 35 rpm Sun gear rotation speed: 14 rpm Internal gear rotation speed: 29 rpm The glass substrate that has been subjected to the first polishing step is placed in a cleaning tank of a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying). Soak sequentially,
Washed.

【0040】(5) 第2ポリッシング工程(ファイナ
ル研磨工程) 次に、第1ポリッシング工程で使用したポリッシング装
置を用い、研磨パッドを硬質ポリシャから軟質ポリシャ
(ポリラックス:スピードファム社製)に替え、ガラス
エポキシ製の実施例1のキャリアを使用し、第2ポリッ
シング工程を実施した。研磨条件は、研磨液:酸化セリ
ウム(平均粒径;0.8μm)+水、荷重100g/c
m2 、研磨時間を5分、除去量を5μmとしたこと以外
は、第1ポリッシング工程と同様とした。上記第2ポリ
ッシング工程を終えたガラス基板を、中性洗剤、中性洗
剤、純水、純水、IPA(イソプロピルアルコール)、
IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄し
た。尚、各洗浄槽には超音波を印加した。
(5) Second Polishing Step (Final Polishing Step) Next, using the polishing apparatus used in the first polishing step, the polishing pad was changed from a hard polisher to a soft polisher (Porelax: manufactured by Speed Fam). The second polishing step was performed using the carrier of Example 1 made of glass epoxy. The polishing conditions were as follows: polishing liquid: cerium oxide (average particle size: 0.8 μm) + water, load 100 g / c
m2, the polishing time was 5 minutes, and the removal amount was 5 μm. After the second polishing step, the glass substrate is subjected to a neutral detergent, a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol),
It was immersed in each washing tank of IPA (steam drying) in order and washed. In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

【0041】(6) 化学強化工程 次に、上記ラッピング、ポリッシング工程を終えたガラ
ス基板に化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム
(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学
強化溶液を用意し、この化学強化溶液を400℃に加熱
し、300℃に予熱された洗浄済みのガラス基板を約3
時間浸漬して行った。この浸漬の際に、ガラス基板の表
面全体が化学強化されるようにするため、複数のガラス
基板が端面で保持されるようにホルダーに収納した状態
で行った。
(6) Chemical Strengthening Step Next, the glass substrate after the lapping and polishing steps was chemically strengthened. For the chemical strengthening, a chemical strengthening solution in which potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) are mixed is prepared, and the chemical strengthening solution is heated to 400 ° C., and the cleaned glass substrate preheated to 300 ° C. is washed. 3
It was carried out by soaking for a time. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the immersion was performed in a state where a plurality of glass substrates were housed in a holder so as to be held at end faces.

【0042】このように、化学強化溶液に浸漬処理する
ことによって、ガラス基板表層のリチウムイオン、ナト
リウムイオンは、化学強化溶液中のナトリウムイオン、
カリウムイオンにそれぞれ置換されガラス基板は強化さ
れる。ガラス基板の表そうに形成された圧縮応力層の厚
さは、約100〜200μmであった。上記化学強化を
終えたガラス基板を、20℃の水槽に浸漬して急冷し、
約10分間維持した。上記急冷を終えたガラス基板を、
約40℃に加熱した濃硫酸に浸漬して洗浄を行った。さ
らに上記硫酸洗浄を終えたガラス基板を、純水、純水、
IPA(イソプロピルアルコール)、IPA(蒸気乾
燥)の各洗浄槽に順次浸漬して、洗浄した。尚、各洗浄
槽には超音波を印加した。
As described above, by performing the immersion treatment in the chemical strengthening solution, the lithium ions and the sodium ions on the surface layer of the glass substrate become the sodium ions in the chemical strengthening solution,
The glass substrate is strengthened by being respectively substituted by potassium ions. The thickness of the compressive stress layer formed on the surface of the glass substrate was about 100 to 200 μm. The glass substrate after the chemical strengthening is immersed in a water bath at 20 ° C. and rapidly cooled,
Maintained for about 10 minutes. After the quenched glass substrate,
Washing was performed by immersion in concentrated sulfuric acid heated to about 40 ° C. Further, the glass substrate after the sulfuric acid cleaning is purified water, pure water,
Washing was performed by sequentially immersing in each of IPA (isopropyl alcohol) and IPA (steam drying) washing tanks. In addition, ultrasonic waves were applied to each cleaning tank.

【0043】(評価)上記の工程を経て得られた磁気記
録媒体用ガラス基板の主表面の表面粗さは、Rmaxで
3.2nm、Raで0.3nmであった(AFM(原子
間力顕微鏡)で測定)であった。また、本発明の研磨用
キャリアをラッピング工程で100時間以上に渡って使
用したが、摩耗による保持孔間での寸断はなく、ガラス
基板の破壊も発生しなかった。
(Evaluation) The surface roughness of the main surface of the glass substrate for a magnetic recording medium obtained through the above steps was 3.2 nm in Rmax and 0.3 nm in Ra (AFM (atomic force microscope) )). When the polishing carrier of the present invention was used in the lapping step for 100 hours or more, there was no breakage between the holding holes due to abrasion, and no breakage of the glass substrate occurred.

【0044】(比較例1)第2ラッピング工程におい
て、使用するキャリアを図5に示した従来のキャリアに
した以外は、実施例1と同様にして磁気記録媒体用ガラ
ス基板を作製した。その結果、得られるガラス基板の主
表面の表面粗さは同程度であった。しかし、ラッピング
工程を複数回行い、約10時間を経過した時点で、中心
方向に一列に並んだ箇所(各保持孔の中心と被研磨体保
持部の中心とを通る直線が合致、すなわち、互いのなす
角度が0)の保持孔間が摩耗により寸断され、保持孔か
ら逸脱したガラス基板は破壊されるという事故がおきた
例があった。
Comparative Example 1 A glass substrate for a magnetic recording medium was produced in the same manner as in Example 1 except that the carrier used in the second lapping step was the conventional carrier shown in FIG. As a result, the surface roughness of the main surface of the obtained glass substrate was almost the same. However, when the lapping process is performed a plurality of times and about 10 hours have passed, the points aligned in the center direction (the straight lines passing through the center of each holding hole and the center of the holder to be polished coincide with each other; In some cases, the gap between the holding holes having an angle of 0) is broken by abrasion, and the glass substrate deviating from the holding holes is broken.

【0045】以上、好ましい実施例を挙げて本発明を説
明したが、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるも
のではない。例えば、被研磨体の材質としてガラスを挙
げたが、これに限らず、ガラスセラミックス、セラミッ
クス、シリコン、カーボン等の脆性材料や、アルミニウ
ムなどの金属などを材料とするものであっても構わな
い。また、被研磨体の形状として円盤状の基板を挙げた
が、これに限らず、矩形状のものでも良い。この場合、
キャリアの保持孔は略同一の大きさの矩形状とする。ま
た、基板状に限らず、ブロック状のものであっても良
い。
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiments, the present invention is not necessarily limited to the above embodiments. For example, although the glass is mentioned as the material of the object to be polished, the material is not limited to this, and a brittle material such as glass ceramics, ceramics, silicon, carbon, or a metal such as aluminum may be used. In addition, although a disc-shaped substrate has been described as the shape of the object to be polished, the shape is not limited to this and may be a rectangular shape. in this case,
The holding hole of the carrier has a rectangular shape having substantially the same size. Further, the shape is not limited to the substrate shape, and may be a block shape.

【0046】また、以上の例では、本発明の研磨用キャ
リアをラッピング工程及びポリッシング工程の良好底で
実施する例を掲げたが、これに限らず、加工速度が速い
ラッピング工程のみで使用してもよい。又、少なくと
も、最外周に配置された保持孔の中心及び前記被研磨体
保持部の中心を通る直線Aと、前記最外周には位置され
た保持孔に隣接する保持孔の中心及び前記被研磨体保持
部の中心を通る直線Bとが合致しなければ、被研磨体保
持孔の円周側で合致してもよい。
In the above example, the polishing carrier of the present invention is embodied at a good bottom of the lapping step and the polishing step. However, the present invention is not limited to this, and the polishing carrier is used only in the lapping step having a high processing speed. Is also good. In addition, at least a straight line A passing through the center of the holding hole arranged at the outermost periphery and the center of the polished body holding portion, and the center of the holding hole adjacent to the holding hole located at the outermost periphery and the polished object. If the straight line B passing through the center of the body holding portion does not match, it may be matched on the circumferential side of the polished body holding hole.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明は、少なく
と最外周に配置された保持孔の中心及び前記被研磨体保
持部の中心を通る直線Aと、前記最外周には位置された
保持孔に隣接する保持孔の中心及び前記被研磨体保持部
の中心を通る直線Bとが合致しないようにし、あるい
は、最外周側に配置された保持孔どうしの間の距離及び
/又は最外周側に配置された保持孔と前記ギア部との間
の距離を、複数の保持孔どうしの間の距離よりも大きく
設定するようにしたもので、これにより、耐久性に優
れ、かつ、製造コストの低減を可能にする研磨用キャリ
ア及び研磨方法並びに情報記録媒体用基板の製造方法を
得ている。
As described in detail above, the present invention is characterized in that a straight line A passing through the center of the holding hole arranged at least on the outermost periphery and the center of the holder for the object to be polished is located on the outermost periphery. The center of the holding hole adjacent to the holding hole and the straight line B passing through the center of the polished body holding portion, or the distance and / or the distance between the holding holes arranged on the outermost peripheral side. The distance between the holding hole arranged on the outer peripheral side and the gear portion is set to be larger than the distance between the plurality of holding holes, thereby providing excellent durability and manufacturing. A polishing carrier, a polishing method, and a method of manufacturing a substrate for an information recording medium, which can reduce costs, have been obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1にかかる研磨用キャリアの平
面図である。
FIG. 1 is a plan view of a polishing carrier according to Example 1 of the present invention.

【図2】研磨用キャリアを研磨装置に装着した状態を示
す図である。
FIG. 2 is a view showing a state in which a polishing carrier is mounted on a polishing apparatus.

【図3】図3における部分断面図である。FIG. 3 is a partial sectional view of FIG.

【図4】従来の研磨用キャリアを示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing a conventional polishing carrier.

【図5】従来の研磨用キャリアを示す平面図である。FIG. 5 is a plan view showing a conventional polishing carrier.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…研磨用キャリア、2…被研磨体保持部、3…ギア
部、4…磁気記録媒体用ガラス基板、5…研磨装置、2
a…被研磨体保持孔。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Polishing carrier, 2 ... Polishing object holding part, 3 ... Gear part, 4 ... Glass substrate for magnetic recording media, 5 ... Polishing device, 2
a ... Polishing object holding hole.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被研磨体を保持する複数の保持孔を有す
る被研磨体保持部と、この被研磨体保持部の外周に設け
られたギア部とを有する研磨用キャリアにおいて、 前記複数の保持孔は、前記被研磨体保持部の中心を中心
とする半径の異なる複数の同心円上に複数配置されたも
のであり、 少なくと最外周に配置された保持孔の中心及び前記被研
磨体保持部の中心を通る直線Aと、前記最外周には位置
された保持孔に隣接する保持孔の中心及び前記被研磨体
保持部の中心を通る直線Bとが合致しないようにするこ
とによって、研磨時に被研磨体保持部に加わる応力が被
研磨体保持部の特定の部分に集中するのを防止して特定
部分が破壊するおそれを防止するようにしたことを特徴
とする研磨用キャリア。
1. A polishing carrier having a polished body holding portion having a plurality of holding holes for holding a polished body, and a gear portion provided on an outer periphery of the polished body holding portion, wherein: The plurality of holes are arranged on a plurality of concentric circles having different radii about the center of the polished body holding portion, and at least the center of the holding hole arranged at the outermost periphery and the polished body holding portion. And the straight line A passing through the center of the holding member adjacent to the holding hole positioned at the outermost periphery and the center of the holding portion of the object-to-be-polished, so that the straight line A does not coincide with the center of the holding member. A polishing carrier, characterized in that stress applied to a holder to be polished is prevented from being concentrated on a specific portion of the holder, and a possibility of destruction of the specific portion is prevented.
【請求項2】 直線Aと直線Bとのなす角が1°以上で
あることを特徴とする請求項1記載の研磨用キャリア。
2. The polishing carrier according to claim 1, wherein the angle between the straight line A and the straight line B is 1 ° or more.
【請求項3】 前記最外周側に配置された保持孔どうし
の間の距離及び/又は最外周側に配置された保持孔と前
記ギア部との間の距離を、前記複数の保持孔どうしの間
の距離よりも大きく設定することを特徴とする請求項1
又は2記載の研磨用キャリア。
3. The distance between the holding holes arranged on the outermost periphery and / or the distance between the holding holes arranged on the outermost periphery and the gear portion may be determined by changing the distance between the plurality of holding holes. 2. The distance set to be larger than the distance between the two.
Or the polishing carrier according to 2.
【請求項4】 被研磨体を保持する複数の保持孔を有す
る被研磨体保持部と、この被研磨体保持部の外周に設け
られたギア部とを有する研磨用キャリアにおいて、 前記複数の保持孔は、前記被研磨体保持部の中心を中心
とする半径の異なる複数の同心円上に複数配置され、最
外周側に配置された保持孔どうしの間の距離及び/又は
最外周側に配置された保持孔と前記ギア部との間の距離
を、前記複数の保持孔どうしの間の距離よりも大きく設
定することにより、研磨時に被研磨体保持部に加わる応
力が被研磨体保持部の特定の部分に集中するのを防止し
て特定部分が疲労破壊するおそれを防止するようにした
ことを特徴とする研磨用キャリア。
4. A polishing carrier having a polished body holding portion having a plurality of holding holes for holding a polished body, and a gear portion provided on an outer periphery of the polished body holding portion, wherein the plurality of holding members are provided. A plurality of holes are arranged on a plurality of concentric circles having different radii about the center of the object-to-be-polished body holding portion, and are arranged at a distance between holding holes arranged at the outermost periphery and / or at an outermost periphery. By setting the distance between the holding hole and the gear portion larger than the distance between the plurality of holding holes, the stress applied to the polished body holding portion during polishing can specify the polished body holding portion. A polishing carrier characterized in that the carrier is prevented from concentrating on the portion, thereby preventing the specific portion from being fatigue-ruptured.
【請求項5】 被研磨体を保持する複数の保持孔を有す
る被研磨体保持部とこの被研磨体保持部の外周に設けら
れたギア部とを有する研磨用キャリアの保持孔に被研磨
体を入れ、下定盤及び上定盤により前記被研磨体を挟持
した状態で上下定盤を回転させ、前記被研磨体の主表面
にラッピング及び/又はポリッシングを施して被研磨体
を研磨する研磨方法において、 前記研磨用キャリアとして請求項1乃至4のいずれかに
記載の研磨用キャリアを用いることを特徴とする研磨方
法。
5. A polishing body holding portion having a plurality of holding holes for holding a body to be polished and a gear portion provided on an outer periphery of the polishing body holding portion. A polishing method in which the upper and lower lapping plates are placed and the upper and lower lapping plates are sandwiched between the upper and lower lapping plates, and the upper and lower lapping plates are rotated to lap and / or polish the main surface of the lapping target members to polish the polished polishing members. 5. The polishing method according to claim 1, wherein the polishing carrier according to claim 1 is used as the polishing carrier.
【請求項6】 被研磨体を保持する保持孔を有する被研
磨体保持部とこの被研磨体保持部の外周に設けられたギ
ア部とを有する研磨用キャリアの保持孔に情報記録媒体
用基板を入れ、下定盤及び上定盤により情報記録媒体用
基板を挟持した状態で上下定盤を回転させ、前記情報記
録媒体用基板の主表面にラッピング及び/又はポリッシ
ングを施して情報記録媒体用基板を研磨する研磨工程を
有する情報記録媒体用基板の製造方法において、 前記研磨用キャリアとして請求項1乃至4のいずれかに
記載の研磨用キャリアを用いることを特徴とする情報記
録媒体用基板の製造方法。
6. An information recording medium substrate in a holding hole of a polishing carrier having a polished body holding portion having a holding hole for holding a polished body and a gear portion provided on an outer periphery of the polished body holding portion. And the upper and lower platens are rotated while the lower and upper platens sandwich the information recording medium substrate, and the main surface of the information recording medium substrate is subjected to lapping and / or polishing to perform the information recording medium substrate. A method for producing a substrate for an information recording medium, comprising: a polishing step of polishing a substrate for an information recording medium, wherein the carrier for polishing according to any one of claims 1 to 4 is used as the carrier for polishing. Method.
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