JP2000266687A - Device and method for visual inspection - Google Patents

Device and method for visual inspection

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JP2000266687A
JP2000266687A JP11068728A JP6872899A JP2000266687A JP 2000266687 A JP2000266687 A JP 2000266687A JP 11068728 A JP11068728 A JP 11068728A JP 6872899 A JP6872899 A JP 6872899A JP 2000266687 A JP2000266687 A JP 2000266687A
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inspection target
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image signal
inspection
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良治 野上
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賢志 坂本
Kazuaki Yamada
和明 山田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make appropriately discriminable a mark from a defective part being executed to a target surface by detecting a mark candidate line and the number of continuous lines by scanning the main scanning line of the binary image of the surface to be inspected. SOLUTION: The image of an end face RA of an outer track ring R is picked up by a CCD camera 3, and an image signal is converted to binary image data. Then, in the binary image, scanning is made along the radial direction of the outer track ring R with a specific interval over the entire periphery of the end face RA. In this process, when a mark candidate line that is a main scanning line including a black pixel is detected, the number of continuous mark candidate lines is examined. Then, if the value is within the range of the maximum and minimum values of the number of lines where the mark spans, it is judged that the mark is provided at the region of the mark candidate line. Otherwise, it is judged that a defective part exists at the region, thus drastically reducing inspection time since it is not necessary to recognize the shape of each region represented by a black pixel.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、検査対象物の外
観を検査するための外観検査装置および外観検査方法に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method for inspecting the appearance of an inspection object.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば、ベアリングの製品検査におい
ては、ベアリングの外軌道輪や内軌道輪の端面または周
面に、傷や錆、黒皮残り(外軌道輪または内軌道輪を熱
処理した後の変色表面の研磨面への残留)などの欠陥部
分が生じていないか否かを自動で検査する外観検査装置
が用いられる。
2. Description of the Related Art For example, in a product inspection of a bearing, scratches, rust, black scale residue (after heat treatment of an outer race or an inner race) is formed on an end surface or a peripheral surface of an outer race or an inner race of a bearing. An appearance inspection device that automatically inspects whether or not a defective portion such as a discolored surface remaining on a polished surface) is used.

【0003】この外観検査装置を用いた検査では、検査
対象面がCCDカメラによって撮像されて、この撮像さ
れた検査対象面に対応する画像信号がCCDカメラから
出力される。そして、CCDカメラから出力された画像
信号が、一定のしきい値で2値化されることにより2値
画像データに変換され、この2値画像データに基づい
て、検査対象面における欠陥部分の有無が判定される。
In an inspection using this appearance inspection apparatus, an inspection target surface is imaged by a CCD camera, and an image signal corresponding to the imaged inspection target surface is output from the CCD camera. Then, the image signal output from the CCD camera is converted into binary image data by binarizing the image signal with a certain threshold value. Based on the binary image data, the presence or absence of a defective portion on the inspection target surface is determined. Is determined.

【0004】たとえば、変換後の2値画像データに基づ
いて得られる2値画像において、欠陥部分は黒画素で表
され、欠陥部分以外の領域は白画素で表されるから、検
査対象面における欠陥部分の有無を判定することができ
る。
For example, in a binary image obtained based on the converted binary image data, a defective portion is represented by a black pixel and an area other than the defective portion is represented by a white pixel. The presence or absence of the part can be determined.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、ベアリング
の外軌道輪の端面などの検査対象面には、たとえば製造
国名や製造業者名、製造型番などを表す刻印が施されて
いることが多い。この刻印が検査対象面に施されている
場合、上述した従来の外観検査装置では、刻印と欠陥部
分とを識別することが困難であるため、欠陥部分の有無
を正確に判定できないといった問題があった。
By the way, the surface to be inspected, such as the end surface of the outer race of the bearing, is often engraved with, for example, the name of the country of manufacture, the name of the manufacturer, and the model number. If the mark is applied to the surface to be inspected, it is difficult for the conventional visual inspection apparatus described above to distinguish between the mark and the defective portion, so that the presence or absence of the defective portion cannot be accurately determined. Was.

【0006】そこで、検査対象面に刻印が施されている
場合には、検査対象面の2値画像から、黒画素で表され
る各領域の形状を認識し、検査対象面に実際に施されて
いる刻印の形状以外の形状を有する領域を欠陥部分と判
断する、いわゆるパターンサーチを行うことが考えられ
る。しかしながら、このパターンサーチでは、黒画素で
表される各領域の形状を認識しなければならないので、
検査時間が長くかかってしまう。また、刻印の品質が低
い場合には、刻印を欠陥部分と誤って判断してしまうお
それもある。
Therefore, when a mark is applied to the surface to be inspected, the shape of each region represented by black pixels is recognized from the binary image of the surface to be inspected, and the shape is actually applied to the surface to be inspected. It is conceivable to perform a so-called pattern search in which an area having a shape other than the shape of the stamp is determined as a defective portion. However, in this pattern search, it is necessary to recognize the shape of each area represented by black pixels.
Inspection time is long. If the quality of the stamp is low, the stamp may be erroneously determined as a defective portion.

【0007】そこで、この発明の目的は、上述の技術的
課題を解決し、検査対象面に施された刻印と欠陥部分と
を良好に識別できる外観検査装置および外観検査方法を
提供することである。また、この発明の他の目的は、検
査対象面の良否を良好に判定できる外観検査装置および
外観検査方法を提供することである。
It is an object of the present invention to solve the above-mentioned technical problems and to provide an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method capable of satisfactorily discriminating a mark and a defective portion formed on a surface to be inspected. . Another object of the present invention is to provide a visual inspection apparatus and a visual inspection method capable of satisfactorily determining the quality of a surface to be inspected.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段および発明の効果】上記の
目的を達成するための請求項1記載の発明は、刻印が施
された検査対象面を有する物体の外観を検査するための
外観検査装置であって、上記検査対象面を撮像し、その
撮像した検査対象面に対応する画像信号を出力する撮像
手段と、この撮像手段から出力される画像信号を2値化
して2値画像データに変換する変換手段と、この変換手
段により生成される2値画像データにより表される上記
検査対象面の2値画像において、所定の副走査方向にほ
ぼ等間隔で設定された複数の主走査ラインを順に走査し
て、予め定める値の2値画像データの画素を含む主走査
ラインである刻印候補ラインを検出する走査検出手段
と、この走査検出手段によって検出された刻印候補ライ
ンの連続数を検出するライン数検出手段と、このライン
数検出手段によって検出された刻印候補ライン連続数に
基づいて、この連続する刻印候補ラインの領域に、刻印
が施されているか欠陥部分が生じているかを識別する識
別手段とを含むことを特徴とする外観検査装置である。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an appearance inspection apparatus for inspecting the appearance of an object having an engraved inspection object surface. An imaging unit that images the inspection target surface and outputs an image signal corresponding to the imaged inspection target surface, and binarizes the image signal output from the imaging unit and converts the image signal into binary image data And a plurality of main scanning lines set at substantially equal intervals in a predetermined sub-scanning direction in the binary image of the inspection target surface represented by the binary image data generated by the converting unit. Scanning detecting means for scanning and detecting a marking candidate line which is a main scanning line including pixels of binary image data having a predetermined value; and detecting a continuous number of marking candidate lines detected by the scanning detecting means. Identification for identifying whether a mark is applied or a defective portion is formed in the area of the continuous marking candidate line based on the number of consecutive marking candidate lines detected by the line number detecting means and the number of marking candidate lines detected by the line number detecting means. Means for visual inspection.

【0009】この発明によれば、検査対象面の2値画像
において所定の副走査方向にほぼ等間隔で設定された複
数の主走査ラインを順に走査して、予め定める値の2値
画像データの画素を含む主走査ラインである刻印候補ラ
インを検出し、さらにその刻印候補ラインの連続数を検
出することにより、その検出した刻印候補ライン連続数
に基づいて、連続する刻印候補ラインの領域に刻印が施
されているか欠陥部分が生じているかを判定できる。し
たがって、黒画素で表される各領域の形状を認識し、検
査対象面に実際に施されている刻印の形状以外の形状を
有する領域を欠陥部分と判断するパターンサーチとは異
なり、黒画素で表される各領域の形状を認識する必要が
ないので、検査時間を大幅に短縮することができる。ま
た、刻印の品質が低い場合であっても、刻印と欠陥部分
との識別を良好に行うことができる。
According to the present invention, a plurality of main scanning lines set at substantially equal intervals in a predetermined sub-scanning direction are sequentially scanned in a binary image of a surface to be inspected, and binary image data of a predetermined value is obtained. By detecting an engraving candidate line which is a main scanning line including pixels, and further detecting the continuous number of the engraving candidate line, the area of the continuous engraving candidate line is engraved based on the detected number of consecutive engraving candidate lines. Can be determined as to whether or not a defect has occurred. Therefore, unlike the pattern search in which the shape of each region represented by a black pixel is recognized and the region having a shape other than the shape of the mark actually applied to the inspection target surface is determined as a defective portion, the pattern search is performed using the black pixel. Since it is not necessary to recognize the shape of each region represented, the inspection time can be greatly reduced. Further, even when the quality of the marking is low, it is possible to satisfactorily distinguish between the marking and the defective portion.

【0010】なお、上記識別手段は、上記ライン数検出
手段によって検出されたライン数が予め定める数値範囲
以内であれば、上記走査検出手段によって検出された領
域には刻印が施されていると判断し、上記ライン数検出
手段によって検出されたライン数が上記予め定める数値
範囲外であれば、上記走査検出手段によって検出された
領域には欠陥部分が生じていると判断するものであるの
が好ましい。
If the number of lines detected by the line number detecting means is within a predetermined numerical range, the identifying means determines that the area detected by the scanning detecting means is marked. If the number of lines detected by the line number detecting means is out of the predetermined numerical range, it is preferable that it is determined that a defective portion has occurred in the area detected by the scanning detecting means. .

【0011】また、上記主走査ラインは、上記検査対象
面における刻印の正立方向(主走査方向)に沿って、上
記副走査方向とほぼ直交したラインであることが好まし
い。たとえば、複数個の刻印が円弧状の検査対象面に並
んで形成されている場合には、個々の刻印は円弧状検査
対象面の径方向に沿って施されているから、円弧状検査
対象面の径方向が上記主走査方向となり、これにほぼ直
交する周方向が上記副走査方向となる。
Preferably, the main scanning line is a line substantially perpendicular to the sub-scanning direction along an erect direction (main scanning direction) of the mark on the inspection target surface. For example, when a plurality of inscriptions are formed side by side on an arc-shaped inspection target surface, the individual inscriptions are provided along the radial direction of the arc-shaped inspection target surface, and thus the arc-shaped inspection target surface is formed. Is the main scanning direction, and the circumferential direction substantially orthogonal to the main scanning direction is the sub-scanning direction.

【0012】請求項2記載の発明は、上記検査対象面に
実際に施されているべき刻印の数を記憶する記憶手段
と、上記識別手段で識別された刻印の数をカウントし
て、上記検査対象面の全域に施されている刻印の数を検
出する刻印数検出手段と、上記記憶手段に記憶されてい
る刻印の数と上記刻印数検出手段によって検出された刻
印の数とを比較して、上記検査対象面が良品面であるか
不良品面であるかを判定する良否判定手段とをさらに含
むことを特徴とする請求項1記載の外観検査装置であ
る。
According to a second aspect of the present invention, the inspection is performed by storing the number of inscriptions to be actually applied to the inspection target surface, and counting the number of inscriptions identified by the identification means. The number of markings detecting means for detecting the number of markings applied to the entire area of the target surface, and comparing the number of markings stored in the storage means with the number of markings detected by the number of markings detecting means 2. The appearance inspection apparatus according to claim 1, further comprising a quality judgment unit for judging whether the inspection target surface is a non-defective product surface or a defective product surface.

【0013】この発明によれば、記憶手段に記憶されて
いる刻印数と刻印数検出手段によって検出された刻印数
とが比較されて、たとえば、両刻印数が一致すれば、検
査対象面は良品面であると判定され、両刻印数が一致し
なければ、検査対象面は不良品面と判定される。これに
より、識別手段によって欠陥部分が刻印であると誤って
判断された場合であっても、検査対象面の良否が誤って
判定されるおそれがない。
According to the present invention, the number of stamps stored in the storage unit is compared with the number of stamps detected by the stamp number detecting unit. If the numbers are not the same, the inspection target surface is determined to be defective. Thus, even if the identification unit erroneously determines that the defective portion is a stamp, there is no possibility that the quality of the inspection target surface is erroneously determined.

【0014】請求項3記載の発明は、上記変換手段は、
上記撮像手段から出力される画像信号に基づいて得られ
る上記検査対象面の濃淡画像を複数の領域に分割し、こ
の複数の領域に含まれる画素に対応する画像信号を、各
領域ごとに設定したしきい値でそれぞれ2値化すること
により、上記撮像手段から出力される画像信号を2値画
像データに変換するものであることを特徴とする請求項
1または2記載の外観検査装置である。
According to a third aspect of the present invention, the conversion means includes:
The grayscale image of the inspection target surface obtained based on the image signal output from the imaging unit was divided into a plurality of regions, and image signals corresponding to pixels included in the plurality of regions were set for each region. 3. The visual inspection apparatus according to claim 1, wherein the image signal output from the image pickup means is converted into binary image data by binarizing the image data with a threshold value.

【0015】この発明によれば、検査対象面に照明むら
などが生じている場合であっても、その検査対象面の濃
淡画像を複数の領域に分割して、各領域ごとに適切に定
めたしきい値に基づいて、撮像手段から出力される画像
信号を2値化することにより、検査対象面の良好な2値
画像を得ることができる。これにより、検査対象面の良
否判定をより正確に行うことができる。
According to the present invention, even when unevenness of illumination or the like occurs on the inspection target surface, the grayscale image of the inspection target surface is divided into a plurality of regions, and each region is appropriately determined. By binarizing the image signal output from the imaging unit based on the threshold value, a good binary image of the inspection target surface can be obtained. Thereby, the quality of the inspection target surface can be more accurately determined.

【0016】請求項4記載の発明は、検査対象面を有す
る物体の外観を検査するための外観検査装置であって、
上記検査対象面を撮像し、その撮像した検査対象面に対
応する画像信号を出力する撮像手段と、この撮像手段か
ら出力される画像信号に基づいて得られる上記検査対象
面の濃淡画像を複数の領域に分割し、この複数の領域に
含まれる画素に対応する画像信号を、各領域ごとに設定
したしきい値でそれぞれ2値化して2値画像データに変
換する変換手段と、この変換手段による変換後の2値画
像データに基づいて、上記検査対象面が良品面であるか
不良品面であるかを判定する良否判定手段とを含むこと
を特徴とする外観検査装置である。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an appearance inspection apparatus for inspecting the appearance of an object having a surface to be inspected,
An imaging unit that images the inspection target surface and outputs an image signal corresponding to the imaged inspection target surface; and a plurality of grayscale images of the inspection target surface obtained based on the image signal output from the imaging unit. Converting means for dividing the image signal corresponding to the pixels included in the plurality of areas into binarized data by using a threshold value set for each area and converting the image signal into binary image data; An appearance inspection apparatus characterized by including a pass / fail determination unit that determines whether the inspection target surface is a non-defective surface or a defective surface based on the converted binary image data.

【0017】この発明によれば、検査対象面に照明むら
などが生じている場合であっても、その検査対象面の濃
淡画像を複数の領域に分割して、各領域ごとに適切に定
めたしきい値に基づいて、撮像手段から出力される画像
信号を2値化することにより、検査対象面に対応した良
好な2値画像データを得ることができる。これにより、
検査対象面の良否判定をより正確に行うことができる。
According to the present invention, even when unevenness of illumination or the like occurs on the surface to be inspected, the grayscale image of the surface to be inspected is divided into a plurality of regions, and each region is appropriately determined. By binarizing the image signal output from the imaging unit based on the threshold value, good binary image data corresponding to the inspection target surface can be obtained. This allows
The quality of the inspection target surface can be more accurately determined.

【0018】請求項5記載の発明は、刻印が施された検
査対象面を有する物体の外観を検査するための外観検査
方法であって、上記検査対象面を撮像し、その撮像した
検査対象面に対応する画像信号を取得する撮像ステップ
と、この撮像ステップで取得された画像信号を2値化し
て2値画像データに変換する変換ステップと、この変換
後の2値画像データにより表される上記検査対象面の2
値画像において、所定の副走査方向にほぼ等間隔で設定
された複数の主走査ラインを順に走査して、予め定める
値の2値画像データの画素を含む主走査ラインである刻
印候補ラインを検出する走査検出ステップと、この走査
検出ステップで検出された刻印候補ラインの連続数を検
出するライン数検出ステップと、このライン数検出ステ
ップで検出された刻印候補ライン連続数に基づいて、こ
の連続する刻印候補ラインの領域に、刻印が施されてい
るか欠陥部分が生じているかを識別する識別ステップと
を含むことを特徴とする外観検査方法である。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an appearance inspection method for inspecting the appearance of an object having an engraved inspection object surface, wherein the inspection object surface is imaged and the imaged inspection object surface is taken. , An image signal acquired in the imaging step, a conversion step of binarizing the image signal and converting the image signal into binary image data, and an image signal represented by the converted binary image data. Inspection surface 2
In the value image, a plurality of main scanning lines set at substantially equal intervals in a predetermined sub-scanning direction are sequentially scanned to detect a marking candidate line which is a main scanning line including pixels of binary image data having a predetermined value. A scanning detection step, a line number detection step for detecting the continuous number of the marking candidate lines detected in the scanning detection step, and the continuous number of the marking candidate lines detected in the line number detecting step. An identification step of identifying whether an inscription or a defective portion has occurred in the area of the inscription candidate line.

【0019】この方法によれば、請求項1の発明と同様
な効果を得ることができる。請求項6記載の発明は、上
記検査対象面に実際に施されているべき刻印の数を記憶
手段に記憶させる記憶ステップと、上記識別ステップで
識別された刻印の数をカウントして、上記検査対象面の
全域に施されている刻印の数を検出する刻印数検出ステ
ップと、上記記憶手段に記憶されている刻印の数と上記
刻印数検出ステップで検出された刻印の数とを比較し
て、上記検査対象面が良品面であるか不良品面であるか
を判定する良否判定ステップとをさらに含むことを特徴
とする請求項5記載の外観検査方法である。
According to this method, the same effect as that of the first aspect can be obtained. According to a sixth aspect of the present invention, in the inspection, the number of inscriptions to be actually applied to the surface to be inspected is stored in a storage means, and the number of inscriptions identified in the identification step is counted. An engraving number detecting step for detecting the number of engravings applied to the entire area of the target surface, and comparing the number of engravings detected in the engraving number detecting step with the number of engravings stored in the storage means. 6. The appearance inspection method according to claim 5, further comprising: a quality determination step of determining whether the inspection target surface is a non-defective product surface or a defective product surface.

【0020】この方法によれば、請求項2の発明と同様
な効果を得ることができる。請求項7記載の発明は、上
記変換ステップでは、上記撮像ステップで取得された画
像信号に基づいて得られる上記検査対象面の濃淡画像を
複数の領域に分割し、この複数の領域に含まれる画素に
対応する画像信号を、各領域ごとに設定したしきい値で
それぞれ2値化することにより、上記撮像ステップで取
得された画像信号が2値画像データに変換されることを
特徴とする請求項5または6記載の外観検査方法であ
る。
According to this method, the same effect as that of the second aspect can be obtained. According to a seventh aspect of the present invention, in the conversion step, the grayscale image of the inspection target surface obtained based on the image signal obtained in the imaging step is divided into a plurality of regions, and pixels included in the plurality of regions are divided. The image signal obtained in the imaging step is converted into binary image data by binarizing the image signal corresponding to the image data with a threshold value set for each region. An appearance inspection method according to 5 or 6.

【0021】この方法によれば、請求項3の発明と同様
な効果を得ることができる。請求項8記載の発明は、検
査対象面を有する物体の外観を検査するための外観検査
方法であって、上記検査対象面を撮像し、その撮像した
検査対象面に対応する画像信号を取得する撮像ステップ
と、この撮像ステップで取得された画像信号に基づいて
得られる上記検査対象面の濃淡画像を複数の領域に分割
し、この複数の領域に含まれる画素に対応する画像信号
を、各領域ごとに設定したしきい値でそれぞれ2値化し
て2値画像データに変換する変換ステップと、この変換
後の2値画像データに基づいて、上記検査対象面が良品
面であるか不良品面であるかを判定する良否判定ステッ
プとを含むことを特徴とする外観検査方法である。
According to this method, the same effect as that of the third aspect can be obtained. The invention according to claim 8 is an appearance inspection method for inspecting the appearance of an object having an inspection target surface, wherein the inspection target surface is imaged, and an image signal corresponding to the imaged inspection target surface is acquired. An imaging step and dividing the grayscale image of the inspection target surface obtained based on the image signal acquired in the imaging step into a plurality of regions, and converting an image signal corresponding to a pixel included in the plurality of regions into each region. A conversion step of binarizing the image data with a threshold value set for each of them, and converting the image data into binary image data; and, based on the converted binary image data, determining whether the inspection target surface is a non-defective surface or a defective surface. A quality determination step of determining whether or not there is a visual inspection.

【0022】この方法によれば、請求項4の発明と同様
な効果を得ることができる。
According to this method, the same effect as that of the fourth aspect can be obtained.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下では、この発明の実施の形態
を、添付図面を参照して詳細に説明する。図1は、この
発明の一実施形態に係る外観検査装置の構成を簡略化し
て示す断面図である。この外観検査装置は、たとえば、
ベアリングの外軌道輪Rの端面RAを検査するための装
置であり、外軌道輪Rを保持するためのホルダ1を有し
ている。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a simplified configuration of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. This visual inspection device is, for example,
This is a device for inspecting the end face RA of the outer race R of the bearing, and has a holder 1 for holding the outer race R.

【0024】ホルダ1は、外軌道輪Rを嵌め込むことの
できる凹部11を有しており、外軌道輪Rは、端面RA
を上方に向けて凹部11に嵌め込まれて、端面RAを水
平面にほぼ沿わせた状態に保持されるようになってい
る。ホルダ1の上方には、ホルダ1に保持された外軌道
輪Rの端面RAを照明するための照明光学系2が配設さ
れている。照明光学系2には、たとえば複数個のLED
を円環状に並べて構成された光源21と、この光源21
からの照明光を拡散させて、ホルダ1に保持された外軌
道輪Rの端面RAに導くための拡散板22とが備えられ
ている。
The holder 1 has a recess 11 into which the outer race R can be fitted.
Is fitted into the recess 11 with the end face upward, and the end face RA is held in a state of being substantially along the horizontal plane. An illumination optical system 2 for illuminating the end face RA of the outer race R held by the holder 1 is disposed above the holder 1. The illumination optical system 2 includes, for example, a plurality of LEDs.
Are arranged in an annular shape, and a light source 21
And a diffusing plate 22 for diffusing the illumination light from the outside and guiding it to the end surface RA of the outer race R held by the holder 1.

【0025】照明光学系2のさらに上方には、ホルダ1
に載置された外軌道輪Rの中心軸上に、外軌道輪Rの端
面RAからの反射光を光電変換して画像信号を出力する
CCDカメラ3が配設されている。このCCDカメラ3
から出力される画像信号は、たとえばCPU、ROMお
よびRAMを含むマイクロコンピュータで構成される画
像処理部4に与えられるようになっている。
Further above the illumination optical system 2, a holder 1
On the central axis of the outer race R mounted on the camera, a CCD camera 3 that photoelectrically converts reflected light from the end surface RA of the outer race R and outputs an image signal is disposed. This CCD camera 3
Is supplied to an image processing unit 4 composed of a microcomputer including a CPU, a ROM and a RAM, for example.

【0026】画像処理部4には、変換処理部41と良否
判定部42とが含まれている。CCDカメラ3から画像
処理部4に与えられた画像信号は、まず、変換処理部4
1に入力される。変換処理部41は、入力された画像信
号を、所定のしきい値で2値化することにより2値画像
データに変換し、その変換後の2値画像データを、画像
処理部4に内蔵されたRAMに格納する。良否判定部4
2は、RAMに格納された2値画像データに基づいて、
外軌道輪Rの端面RAが良品面であるか不良品面である
かを判定する。
The image processing section 4 includes a conversion processing section 41 and a pass / fail judgment section 42. First, the image signal given from the CCD camera 3 to the image processing unit 4 is first converted by the conversion processing unit 4.
1 is input. The conversion processing unit 41 converts the input image signal into binary image data by binarizing the input image signal with a predetermined threshold, and converts the converted binary image data into the image processing unit 4. Stored in the RAM. Pass / fail judgment unit 4
2 is based on the binary image data stored in the RAM,
It is determined whether the end surface RA of the outer race R is a non-defective product surface or a defective product surface.

【0027】また、画像処理部4は、RAMに格納され
た2値画像データに基づいて、外軌道輪Rの端面RAの
2値画像をモニタ5に表示させる。これにより、モニタ
5には、外軌道輪Rの端面RAを表す円環状の白黒画像
が映し出される。図2は、良否判定部42によって実行
される良否判定処理の流れを示すフローチャートであ
る。また、図3は、図2に示す良否判定処理について説
明するための図である。この良否判定処理は、たとえば
製造国名や製造業者名、製造型番などを表す刻印が施さ
れている外軌道輪Rの端面RAが、たとえば傷、錆また
は黒皮残りなどの欠陥部分を有していない良品面である
か、欠陥部分を有している不良品面であるかを判定する
ための処理である。
Further, the image processing section 4 displays a binary image of the end face RA of the outer race R on the monitor 5 based on the binary image data stored in the RAM. Thus, an annular black and white image representing the end surface RA of the outer race R is displayed on the monitor 5. FIG. 2 is a flowchart illustrating the flow of the pass / fail determination process executed by the pass / fail determination unit 42. FIG. 3 is a diagram for explaining the pass / fail determination processing shown in FIG. In this pass / fail determination process, the end surface RA of the outer race R which is engraved with, for example, the name of the manufacturing country, the name of the manufacturer, and the manufacturing model number has a defective portion such as a scratch, rust or black scale residue. This is a process for determining whether the surface is a non-defective surface or a defective surface having a defective portion.

【0028】なお、以下の説明において、走査ラインS
L1〜SLnとは、図3に示すように、2値画像データ
により表される外軌道輪Rの端面RAの2値画像におい
て、外軌道輪Rの径方向(主走査方向)に沿ったライン
をいう。この走査ラインSL1〜SLnは、外軌道輪R
の周方向(副走査方向)に予め定める間隔(たとえば
0.5°間隔)で、端面RAの全周にわたって設定され
ている。
In the following description, the scanning line S
L1 to SLn are lines along the radial direction (main scanning direction) of the outer race R in the binary image of the end face RA of the outer race R represented by the binary image data, as shown in FIG. Say. The scanning lines SL1 to SLn are
Are set over the entire circumference of the end face RA at predetermined intervals (for example, 0.5 ° intervals) in the circumferential direction (sub-scanning direction).

【0029】良否判定処理が開始されると、まず、予め
定める回転方向位置の走査ラインSL1の走査(径方向
走査)が行われて(ステップS1)、この走査ラインS
L1に含まれる画素が、すべて白画素であるか否かが判
断される(ステップS2)。具体的には、走査ラインS
L1に含まれる画素の2値画像データがRAMから読み
出されて、この読み出された2値画像データが、すべて
白画素を表すデータであるか否かが判断される。さらに
言い換えれば、RAMから読み出された2値画像データ
中に、黒画素を表すデータが含まれているか否かが判断
される。
When the pass / fail judgment process is started, first, a scan (radial scan) of a scan line SL1 at a predetermined rotational direction position is performed (step S1).
It is determined whether all the pixels included in L1 are white pixels (step S2). Specifically, the scanning line S
The binary image data of the pixels included in L1 is read from the RAM, and it is determined whether or not all the read binary image data is data representing white pixels. In other words, it is determined whether or not the binary image data read from the RAM includes data representing a black pixel.

【0030】なお、最初に走査される走査ラインSL1
は、必ず黒画素を含まない走査ラインSLに設定され
る。たとえば、任意に抽出した走査ラインSLの走査を
行って、その走査ラインSL中に黒画素が含まれていた
場合には、この走査ラインSLは走査ラインSL1とせ
ず、上記抽出した走査ラインSLとは異なる走査ライン
SLの走査を行う。そして、この走査ラインSLに黒画
素が含まれているか否かを調べ、この走査ラインSLに
も黒画素が含まれている場合には、さらに異なる走査ラ
インSLの走査を行うといったようにして、黒画素を含
まない走査ラインSLが見つけ出され、この見つけ出さ
れた走査ラインSLが走査ラインSL1に設定される。
したがって、このとき、走査ラインSL1に含まれる画
素がすべて白画素であるか否かの判断は肯定される。
The first scanning line SL1 is scanned.
Is always set to a scanning line SL that does not include black pixels. For example, when the scanning line SL arbitrarily extracted is scanned and a black pixel is included in the scanning line SL, the scanning line SL is not set to the scanning line SL1, but is set to the scanning line SL. Scans different scan lines SL. Then, it is checked whether or not the scan line SL includes a black pixel. If the scan line SL also includes a black pixel, another scan line SL is scanned. A scan line SL that does not include black pixels is found, and the found scan line SL is set as the scan line SL1.
Therefore, at this time, the determination as to whether all the pixels included in the scanning line SL1 are white pixels is affirmed.

【0031】次に、たとえばRAM内に設けられたライ
ン数カウンタのカウント値Lが調べられて、このカウン
ト値Lが条件Lmin ≦L≦Lmax (Lmin,Lmax は自然
数)を満たしているか否かが判断される(ステップS
3)。上記の数値Lmin,Lmaxは、それぞれ外軌道輪R
の端面RAに実際に施されている刻印の周方向の幅、つ
まり刻印が跨っている走査ラインSLのライン数の最小
値および最大値に基づいて設定され、たとえば、図3に
示すような刻印が施されている場合には、数値Lmin は
「3(刻印「N」が跨っている走査ラインSLのライン
数)」に設定され、数値Lmax は「5(刻印「A」が跨
っている走査ラインSLのライン数)」に設定される。
また、ライン数カウンタは、良否判定処理の開始時に
「0」にリセットされている。したがって、このとき、
ライン数カウンタのカウント値Lが上記条件を満たして
いるか否かの判断は否定される。
Next, for example, the count value L of a line number counter provided in the RAM is examined, and it is determined whether or not this count value L satisfies a condition Lmin ≦ L ≦ Lmax (Lmin and Lmax are natural numbers). Is determined (step S
3). The above numerical values Lmin and Lmax are respectively the outer raceway R
Is set based on the circumferential width of the marking actually applied to the end face RA, that is, the minimum value and the maximum value of the number of scanning lines SL straddling the marking, for example, as shown in FIG. Is applied, the numerical value Lmin is set to "3 (the number of scanning lines SL straddling the engraving" N ")", and the numerical value Lmax is set to "5 (scanning straddling the engraving" A "). Line SL).
Further, the line number counter is reset to “0” at the start of the pass / fail determination processing. Therefore, at this time,
The determination whether the count value L of the line number counter satisfies the above condition is denied.

【0032】カウント値Lが上記条件を満たしているか
否かの判断が否定されると、カウント値Lが「0」であ
るか否かが判断される(ステップS4)。カウント値L
が「0」であれば、次に、すべての走査ラインSL1〜
SLnが走査されたか否かが判断される(ステップS
5)。そして、すべての走査ラインSL1〜SLnが走
査されていない場合には、走査ラインSL1に隣接する
走査ラインSL2の走査が行われて(ステップS6)、
処理はステップS2に戻り、走査ラインSL2に含まれ
る画素がすべて白画素であるか否かが判断される。その
後、黒画素を含む径方向ラインSLが検出されるまで、
上述のステップS2〜S6の処理が繰り返されて、走査
ラインSL2以降の走査ラインSLが1ラインずつ順に
走査されていく。
If the determination as to whether or not the count value L satisfies the above condition is denied, it is determined whether or not the count value L is "0" (step S4). Count value L
Is "0", then all the scanning lines SL1 to SL1
It is determined whether or not SLn has been scanned (step S).
5). If all the scanning lines SL1 to SLn have not been scanned, the scanning of the scanning line SL2 adjacent to the scanning line SL1 is performed (step S6).
The process returns to step S2, and it is determined whether or not all the pixels included in the scanning line SL2 are white pixels. After that, until the radial line SL including the black pixel is detected,
The processing of steps S2 to S6 described above is repeated, and the scanning lines SL after the scanning line SL2 are sequentially scanned one by one.

【0033】たとえば、図3(a) に示す2値画像に対応
する端面RAの良否判定においては、走査ラインSLが
1ラインずつ順に走査されていく過程で、黒画素を含む
走査ラインSL7が刻印候補ラインとして検出される
(ステップS2でNO)。走査ラインSL7が検出され
ると、ライン数カウンタのカウント値Lがインクリメン
ト(+1)される(ステップS7)。そして、ステップ
S5へと進み、すべての走査ラインSL1〜SLnが走
査されたか否かの判断が否定された後、次の走査ライン
SL8の走査が行われる(ステップS6)。つづいて、
この走査ラインSL8に含まれる画素がすべて白画素で
あるか否かが判断される(ステップS2)。図3(a) に
示す2値画像では、走査ラインSL7〜SL10に黒画素
が含まれているから、ステップS2で黒画素を含まない
走査ラインSL11が検出されるまで、上述のステップS
2,S7,S5,S6の処理が繰り返される。
For example, in the pass / fail judgment of the end face RA corresponding to the binary image shown in FIG. 3A, the scanning line SL7 including the black pixels is engraved while the scanning line SL is sequentially scanned one by one. It is detected as a candidate line (NO in step S2). When the scanning line SL7 is detected, the count value L of the line number counter is incremented (+1) (step S7). Then, the process proceeds to step S5, and after determining that all the scanning lines SL1 to SLn have been scanned is denied, scanning of the next scanning line SL8 is performed (step S6). Then,
It is determined whether all the pixels included in the scan line SL8 are white pixels (step S2). In the binary image shown in FIG. 3A, since the scanning lines SL7 to SL10 include black pixels, the above-described steps S1 to S4 until a scanning line SL11 containing no black pixels is detected in step S2.
Steps S2, S7, S5, and S6 are repeated.

【0034】黒画素を含まない走査ラインSL11が検出
されると(ステップS2でYES)、ライン数カウンタ
のカウント値Lが調べられて、このカウント値Lが上記
条件Lmin ≦L≦Lmax を満たしているか否かが判断さ
れる(ステップS3)。このとき、ステップS2,S
7,S5,S6の処理が繰り返されて、刻印候補ライン
として黒画素を含む走査ラインSL7〜SL10が検出さ
れたことにより、ライン数カウンタのカウント値Lは
「4」になっているから、カウント値Lは上記条件Lmi
n ≦L≦Lmax を満たしていると判断される(ステップ
S3でYES)。これにより、刻印候補ラインとして検
出された走査ラインSL7〜SL10上には刻印が施され
ていると判断され、たとえばRAM内に設けられた刻印
数カウンタのカウント値Nがインクリメント(+1)さ
れる(ステップS8)。その後、ライン数カウンタのカ
ウント値Lが「0」にクリアされて(ステップS9)、
ステップS5に進み、すべての走査ラインSLが走査さ
れたか否かが判断される。このとき、すべての走査ライ
ンSLの走査は完了していないから、ステップS6へ進
み、走査ラインSL11以降の走査ラインSLの走査が行
われる。
When the scanning line SL11 containing no black pixel is detected (YES in step S2), the count value L of the line number counter is checked, and the count value L satisfies the above condition Lmin ≦ L ≦ Lmax. It is determined whether or not there is (step S3). At this time, steps S2 and S
The processing of steps S7, S5, and S6 is repeated, and scanning lines SL7 to SL10 including black pixels are detected as marking candidate lines, so that the count value L of the line number counter is "4". The value L is the above condition Lmi
It is determined that n ≦ L ≦ Lmax is satisfied (YES in step S3). As a result, it is determined that the marking is performed on the scanning lines SL7 to SL10 detected as the marking candidate lines, and the count value N of the marking number counter provided in the RAM is incremented (+1) (for example). Step S8). Thereafter, the count value L of the line number counter is cleared to "0" (step S9),
Proceeding to step S5, it is determined whether all the scanning lines SL have been scanned. At this time, since scanning of all the scanning lines SL has not been completed, the process proceeds to step S6, and scanning of the scanning lines SL after the scanning line SL11 is performed.

【0035】こうして、走査ラインSLが1ラインずつ
順に走査されて、端面RAに施されている刻印が次々に
検出されていく。そして、すべての走査ラインSL1〜
SLnの走査が行われると(ステップS5でYES)、
刻印数カウンタのカウント値Nが調べられ、このカウン
ト値Nが「0」であるか否かが判断される(ステップS
10)。カウント値Nが「0」でなければ(ステップS
10でNO)、次に、カウント値Nが外軌道輪Rの端面
RAに実際に施されている刻印の数(以下、「実刻印
数」という。)と一致するか否かが判断される(ステッ
プS11)。この実刻印数は、この良否判定処理の開始
前に入力されて、たとえばRAMに記憶されている。
As described above, the scanning lines SL are sequentially scanned one by one, and the engraved marks on the end face RA are detected one after another. Then, all the scanning lines SL1 to SL1
When scanning of SLn is performed (YES in step S5),
The count value N of the stamp number counter is checked, and it is determined whether or not this count value N is "0" (step S).
10). If the count value N is not “0” (step S
Next, it is determined whether or not the count value N matches the number of stamps actually applied to the end face RA of the outer race R (hereinafter, referred to as “actual stamp number”). (Step S11). The actual engraved number is input before the start of the pass / fail judgment processing, and is stored in, for example, a RAM.

【0036】カウント値Nと実刻印数とが一致する場合
には(ステップS11でYES)、外軌道輪Rの端面R
Aは良品面であると判定される(ステップS12)。カ
ウント値Nと実刻印数とが一致しない場合には(ステッ
プS11でNO)、外軌道輪Rの端面RAに生じている
欠陥部分と刻印とが誤って識別されたと判断し、この端
面RAは不良品面であると判定される(ステップS1
3)。
If the count value N matches the actual engraved number (YES in step S11), the end face R of the outer race R
A is determined to be a non-defective product (step S12). If the count value N does not match the actual engraved number (NO in step S11), it is determined that the engraved part has been erroneously identified as a defective portion occurring on the end face RA of the outer race R, and this end face RA is It is determined that the surface is defective (Step S1)
3).

【0037】たとえば、図3(b) に示す2値画像では、
4本の走査ラインSL2〜SL5上に欠陥部分D1が存
在している。したがって、この図3(b) に示す2値画像
に対応する端面RAの良否判定においては、上述したス
テップS3でライン数カウンタのカウント値Lが上記条
件Lmin ≦L≦Lmax を満たしていると判断され、走査
ラインSL2〜SL5上の欠陥部分D1は刻印であると
誤って判断されてしまう。そして、刻印数カウンタのカ
ウント値Nがインクリメント(+1)され、その結果、
すべての走査ラインSL1〜SLnの走査が完了した時
点で、刻印数カウンタのカウント値Nは実刻印数よりも
多くなってしまう。そこで、カウント値Nと実刻印数と
が一致しない場合は、端面RAは不良品面であると判定
することにより、欠陥部分D1のように比較的大きな欠
陥部分が端面RAに生じている場合に、端面RAが良品
面であると誤って判定されるおそれをなくすことができ
る。
For example, in the binary image shown in FIG.
A defective portion D1 exists on the four scanning lines SL2 to SL5. Therefore, in the pass / fail determination of the end face RA corresponding to the binary image shown in FIG. 3B, it is determined in step S3 that the count value L of the line number counter satisfies the above condition Lmin ≦ L ≦ Lmax. Thus, the defective portion D1 on the scanning lines SL2 to SL5 is erroneously determined to be a mark. Then, the count value N of the engraved number counter is incremented (+1), and as a result,
When the scanning of all the scanning lines SL1 to SLn is completed, the count value N of the marking number counter becomes larger than the actual marking number. Therefore, when the count value N does not match the actual engraved number, the end surface RA is determined to be a defective surface, and a relatively large defective portion such as the defective portion D1 is generated on the end surface RA. In addition, it is possible to eliminate the possibility that the end surface RA is erroneously determined to be a good surface.

【0038】また、すべての走査ラインSL1〜SLn
の走査が完了した時点で、カウント値Nが「0」である
場合には、外軌道輪Rの端面RAは刻印の施されていな
い無刻印面であると判定される(ステップS14)。一
方、たとえば、図3(c) に示す2値画像に対応する端面
RAの良否判定においては、走査ラインSLが1ライン
ずつ順に走査されていく過程で、黒画素を含む走査ライ
ンSL5が刻印候補ラインとして検出される(ステップ
S2でNO)。走査ラインSL5が検出されると、ライ
ン数カウンタのカウント値Lがインクリメント(+1)
される(ステップS7)。そして、ステップS5へと進
み、すべての走査ラインSL1〜SLnが走査されたか
否かが判断される。すべての走査ラインSL1〜SLn
の走査が行われていない場合には、次の走査ラインSL
6の走査が行われて(ステップS6)、ステップS2に
戻り、この走査ラインSL6に含まれる画素がすべて白
画素であるか否かが判断される。
Further, all the scanning lines SL1 to SLn
If the count value N is "0" at the time when the scanning is completed, it is determined that the end face RA of the outer race R is a non-marked face on which no marking is performed (step S14). On the other hand, for example, in the pass / fail judgment of the end face RA corresponding to the binary image shown in FIG. 3C, the scanning line SL5 including the black pixel is used as the marking candidate in the process of sequentially scanning the scanning line SL line by line. It is detected as a line (NO in step S2). When the scanning line SL5 is detected, the count value L of the line number counter is incremented (+1).
Is performed (step S7). Then, the process proceeds to step S5, where it is determined whether or not all the scanning lines SL1 to SLn have been scanned. All scan lines SL1 to SLn
Is not performed, the next scanning line SL
6 are performed (step S6), and the process returns to step S2 to determine whether all the pixels included in the scan line SL6 are white pixels.

【0039】図3(c) に示す2値画像では、走査ライン
SL6には黒画素が含まれていないから、ステップS2
で走査ラインSL6に含まれる画素はすべて白画素であ
ると判断され、次いで、ライン数カウンタのカウント値
Lが上記条件Lmin ≦L≦Lmax を満たしているか否か
が判断される(ステップS3)。このとき、ライン数カ
ウンタのカウント値Lは「1」であるから、カウント値
Lは上記条件Lmin ≦L≦Lmax を満たしていないと判
断され(ステップS3でNO)、カウント値Lが「0」
であるか否かが判断される(ステップS4)。そして、
このカウント値Lが「0」か否かの判断も否定され、こ
れにより、刻印候補ラインとして検出された黒画素を含
む走査ラインSL5上には欠陥部分D2が生じていると
判断されて、外軌道輪Rの端面RAは不良品面であると
判定される(ステップS13)。
In the binary image shown in FIG. 3C, since the scanning line SL6 does not include a black pixel, step S2
It is determined that all the pixels included in the scan line SL6 are white pixels, and then it is determined whether or not the count value L of the line number counter satisfies the above condition Lmin ≦ L ≦ Lmax (step S3). At this time, since the count value L of the line number counter is “1”, it is determined that the count value L does not satisfy the above condition Lmin ≦ L ≦ Lmax (NO in step S3), and the count value L is “0”.
Is determined (step S4). And
The determination as to whether or not the count value L is "0" is also denied, whereby it is determined that a defective portion D2 has occurred on the scanning line SL5 including the black pixel detected as the marking candidate line, and The end surface RA of the bearing ring R is determined to be a defective surface (step S13).

【0040】以上のように、この実施形態では、外軌道
輪Rの端面RAがCCDカメラ3で撮像され、このCC
Dカメラ3から出力される画像信号が、2値化されるこ
とにより2値画像データに変換される。そして、この2
値画像データにより表される端面RAの2値画像におい
て、外軌道輪Rの径方向に沿った走査(径方向走査)
が、周方向に予め定める間隔(たとえば0.5°間隔)
で端面RAの全周にわたって行われる。この過程で、黒
画素を含む主走査ラインである刻印候補ラインが検出さ
れると、その刻印候補ラインの連続数Lが調べられる。
そして、このライン連続数Lが上記条件Lmin ≦L≦L
max を満たしていれば、その連続する刻印候補ラインの
領域に刻印が施されていると判断される。一方、ライン
連続数Lが上記条件Lmin ≦L≦Lmax を満たしていな
ければ、その領域には欠陥部分が生じていると判断さ
れ、端面RAは不良品面であると判定される。
As described above, in this embodiment, the end surface RA of the outer race R is imaged by the CCD camera 3, and
The image signal output from the D camera 3 is converted into binary image data by binarization. And this 2
Scanning along the radial direction of the outer race R in the binary image of the end face RA represented by the value image data (radial scanning)
Is a predetermined interval in the circumferential direction (for example, 0.5 ° interval)
Is performed over the entire circumference of the end face RA. In this process, when a marking candidate line that is a main scanning line including a black pixel is detected, the number L of consecutive marking marking lines is checked.
Then, this line continuation number L is equal to the above condition Lmin ≦ L ≦ L
If max is satisfied, it is determined that the continuous marking candidate line area has been marked. On the other hand, if the line continuation number L does not satisfy the above condition Lmin ≦ L ≦ Lmax, it is determined that a defective portion has occurred in that area, and the end surface RA is determined to be a defective surface.

【0041】したがって、黒画素で表される各領域の形
状を認識し、検査対象面に実際に施されている刻印の形
状以外の形状を有する領域を欠陥部分と判断するパター
ンサーチとは異なり、黒画素で表される各領域の形状を
認識する必要がないので、検査時間を大幅に短縮するこ
とができる。また、刻印の品質が低い場合であっても、
刻印と欠陥部分との識別を良好に行うことができる。
Therefore, unlike the pattern search in which the shape of each area represented by black pixels is recognized and an area having a shape other than the shape of the mark actually applied to the inspection target surface is determined as a defective portion, Since there is no need to recognize the shape of each region represented by black pixels, the inspection time can be significantly reduced. Also, even if the quality of the engraving is low,
It is possible to satisfactorily distinguish between the stamp and the defective portion.

【0042】また、この実施形態では、すべての走査ラ
インSL1〜SLnの走査が完了した時点で、刻印と判
断された領域の数が実刻印数と一致すれば、外軌道輪R
の端面RAは良品面であると判定され、一致しない場合
には、外軌道輪Rの端面RAは不良品面と判定される。
これにより、欠陥部分が比較的大きいために、刻印であ
ると誤って判断された場合であっても、端面RAの良否
が誤って判定されるおそれがない。
In this embodiment, if the number of areas determined to be engraved matches the actual engraved number at the time when scanning of all the scanning lines SL1 to SLn is completed, the outer raceway R
Is determined to be a non-defective surface, and if they do not match, the end surface RA of the outer race R is determined to be a defective surface.
Accordingly, even if the defective portion is relatively large, and the mark is erroneously determined to be a stamp, there is no possibility that the quality of the end face RA is erroneously determined.

【0043】なお、検査対象面の良否判定方法は、刻印
と判断された領域の数と実刻印数とが一致するか否かを
判断して、検査対象面の良否を判定する上述の方法に限
定される必要はない。たとえば、図4に示す検査対象面
の良否判定においては、検査対象面に実際に施されてい
る刻印列の数(この場合、刻印列の数=3)と、各刻印
列に含まれる刻印の数(この場合、刻印列S1の刻印数
=5、刻印列S2の刻印数=5、刻印列S3の刻印数=
3)とを予め入力しておく。そして、走査ラインSL1
〜SLnの走査の過程で、刻印と判断された領域と次に
刻印と判断された領域との間隔が所定間隔よりも小さけ
れば、それらの領域は一連の刻印列であると判断して、
刻印列数と各刻印列に含まれる刻印数とを検出する。そ
して、すべての走査ラインSL1〜SLnの走査が完了
した時点で、検出された刻印列数および各刻印列の刻印
数と予め入力されている刻印列数および各刻印列の刻印
数とがそれぞれ一致すれば、検査対象面は良品面である
と判定し、一致しなければ、検査対象面は不良品面であ
ると判定してもよい。
The quality of the inspection target surface is determined by determining whether or not the number of regions determined to be engraved matches the actual engraved number, and determining whether the inspection target surface is good or not. It need not be limited. For example, in the pass / fail judgment of the inspection target surface shown in FIG. 4, the number of the marking lines actually applied to the inspection target surface (in this case, the number of the marking lines = 3) and the number of the marking lines included in each of the marking lines are determined. Number (in this case, the number of stamps on the stamp row S1 = 5, the number of stamps on the stamp row S2 = 5, the number of stamps on the stamp row S3 =
3) is input in advance. Then, the scanning line SL1
In the scanning process of ~ SLn, if the interval between the area determined to be engraved and the area next determined to be engraved is smaller than the predetermined interval, it is determined that those areas are a series of engraved rows,
The number of stamp lines and the number of stamps included in each stamp line are detected. When the scanning of all the scanning lines SL1 to SLn is completed, the detected number of engraved lines and the number of engraved lines of each engraved line coincide with the previously input number of engraved lines and the number of engraved lines of each engraved line, respectively. Then, the inspection target surface may be determined to be a non-defective product, and if they do not match, the inspection target surface may be determined to be a defective product surface.

【0044】また、この実施形態では、ベアリングの外
軌道輪Rの端面RAを検査対象面としたが、たとえば、
外軌道輪Rの外周面または内周面が検査対象面とされて
もよい。なお、外軌道輪Rの外周面または内周面が検査
対象面である場合には、それぞれ図5または図6に示す
外観検査装置が用いられるとよい。図5は、外軌道輪R
の外周面を検査するための外観検査装置の構成を簡略化
して示す断面図である。なお、この図5において、上述
した図1の各部に対応する部分には、図1の場合と同一
の参照符号を付して示す。
In this embodiment, the end surface RA of the outer race R of the bearing is set as the inspection target surface.
The outer peripheral surface or the inner peripheral surface of the outer race R may be the inspection target surface. When the outer peripheral surface or the inner peripheral surface of the outer race R is the inspection target surface, the appearance inspection device shown in FIG. 5 or FIG. 6 may be used. FIG. 5 shows the outer race R
FIG. 2 is a simplified cross-sectional view showing a configuration of a visual inspection device for inspecting an outer peripheral surface of the device. In FIG. 5, portions corresponding to the respective portions in FIG. 1 described above are denoted by the same reference numerals as in FIG.

【0045】この外観検査装置には、ホルダ1による外
軌道輪Rの保持位置の側方を取り囲むように、逆円錐状
の反射面61を有する反射ミラー6が配置されている。
これにより、照明光学系2からの照明光は、反射ミラー
6の反射面61で反射されて、ホルダ1に保持された外
軌道輪Rの外周面ROに導かれる。そして、この外軌道
輪Rの外周面ROで反射された光が、さらに反射ミラー
6の反射面61で反射されて散乱光となり、その散乱光
の一部がCCDカメラ3にとらえられることにより、モ
ニタ5に外軌道輪Rの外周面ROを表す円環状の白黒画
像が映し出される。
In this appearance inspection apparatus, a reflection mirror 6 having an inverted conical reflection surface 61 is arranged so as to surround the side of the holding position of the outer race R by the holder 1.
As a result, the illumination light from the illumination optical system 2 is reflected by the reflection surface 61 of the reflection mirror 6 and guided to the outer peripheral surface RO of the outer race R held by the holder 1. The light reflected by the outer peripheral surface RO of the outer race R is further reflected by the reflection surface 61 of the reflection mirror 6 to become scattered light, and a part of the scattered light is captured by the CCD camera 3. An annular black and white image representing the outer circumferential surface RO of the outer race R is displayed on the monitor 5.

【0046】図6は、外軌道輪Rの内周面を検査するた
めの外観検査装置の構成を簡略化して示す断面図であ
る。なお、この図6において、上述した図1の各部に対
応する部分には、図1の場合と同一の参照符号を付して
示す。この外観検査装置では、照明光学系2がホルダ1
の下方に配置されており、この照明光学系2からの照明
光によって、ホルダ1に保持された外軌道輪Rの内周面
RIが照明されるようになっている。そして、外軌道輪
Rの内周面RIで反射された光がCCDカメラ3にとら
えられることにより、モニタ5に外軌道輪Rの内周面R
Iを表す円環状の白黒画像が映し出されるようになって
いる。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a simplified configuration of an appearance inspection device for inspecting the inner peripheral surface of the outer race R. In FIG. 6, portions corresponding to the respective portions in FIG. 1 described above are denoted by the same reference numerals as in FIG. In this visual inspection device, the illumination optical system 2 is
The inner peripheral surface RI of the outer race R held by the holder 1 is illuminated by the illumination light from the illumination optical system 2. Then, the light reflected on the inner peripheral surface RI of the outer race R is captured by the CCD camera 3, and the monitor 5 displays the inner peripheral surface R of the outer race R on the monitor 5.
An annular black-and-white image representing I is projected.

【0047】図7は、この発明のさらに好ましい実施形
態について説明するための図である。たとえば、検査対
象面の面積が比較的大きい場合には、その検査対象面に
おいて照明光学系2による照明のむらを生じるおそれが
ある。また、外軌道輪Rの外周面ROを検査するための
外観検査装置では、図5に示すように外周面ROの下端
部付近が陰になり、その結果、CCDカメラ3から出力
される画像信号に基づいて得られる外周面ROの濃淡画
像は、内周付近の濃度が外周付近の濃度に比べて高くな
ってしまう。そのため、CCDカメラ3から出力される
画像信号を一定のしきい値で2値化した場合、外周面R
Oの濃淡画像の内周付近の画素が黒画素とされ、上述し
た良否判定処理で外周面ROが不良品面であると判定さ
れるおそれがある。
FIG. 7 is a diagram for explaining a further preferred embodiment of the present invention. For example, when the area of the inspection target surface is relatively large, there is a possibility that the illumination optical system 2 may cause uneven illumination on the inspection target surface. Further, in the appearance inspection device for inspecting the outer peripheral surface RO of the outer race R, the vicinity of the lower end of the outer peripheral surface RO is shaded as shown in FIG. In the grayscale image of the outer peripheral surface RO obtained based on the above, the density near the inner circumference becomes higher than the density near the outer circumference. Therefore, when the image signal output from the CCD camera 3 is binarized with a certain threshold value, the outer peripheral surface R
Pixels near the inner periphery of the O grayscale image are determined as black pixels, and there is a possibility that the outer peripheral surface RO is determined to be a defective product surface in the above-described quality determination processing.

【0048】そこで、この図7に示すように、外周面R
Oの濃淡画像を、内周付近の領域A1と外周付近の領域
A2とに分割して、各領域A1,A2ごとに適切な2値
化しきい値を設定する。そして、各領域A1,A2に含
まれる画素に対応する画像信号を、それぞれ個別に設定
された2値化しきい値で2値化することにより2値画像
データに変換する。これにより、CCDカメラ3から出
力される画像信号の2値化を良好に行うことができ、良
否判定処理における外周面ROの良否判定をより正確に
行うことができる。
Therefore, as shown in FIG.
The O grayscale image is divided into an area A1 near the inner circumference and an area A2 near the outer circumference, and an appropriate binarization threshold is set for each of the areas A1 and A2. Then, the image signals corresponding to the pixels included in each of the areas A1 and A2 are converted into binary image data by binarizing the image signals with binarization thresholds individually set. Thereby, the binarization of the image signal output from the CCD camera 3 can be favorably performed, and the quality determination of the outer peripheral surface RO in the quality determination processing can be performed more accurately.

【0049】なお、この実施形態では、外周面ROの濃
淡画像が2つの領域A1,A2に分割されて2値化が行
われるとしたが、外周面ROの濃淡画像が3つ以上の領
域に分割されて、各領域ごとに設定されたしきい値に基
づいて、CCDカメラ3から出力される画像信号の2値
化が行われてもよい。以上、この発明のいくつかの実施
形態について説明したが、この発明は、上述の実施形態
に限定されるものではない。たとえば、上述の実施形態
では、ベアリングの外軌道輪の端面、外周面または内周
面が検査対象面とされた例を取り上げたが、ベアリング
の外軌道輪には限定されず、ベアリングの内軌道輪の端
面、外周面または内周面が検査対象面とされてもよい。
また、ベアリングの完成品の端面、外周面または内周面
が検査対象面とされてもよい。
In this embodiment, the grayscale image of the outer peripheral surface RO is divided into two regions A1 and A2 and binarized. However, the grayscale image of the outer peripheral surface RO is divided into three or more regions. The image signal output from the CCD camera 3 may be binarized based on a threshold value set for each of the divided areas. Although some embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the above-described embodiment, an example is described in which the end surface, the outer peripheral surface, or the inner peripheral surface of the outer race of the bearing is set as the inspection target surface. However, the present invention is not limited to the outer race of the bearing. The end surface, the outer peripheral surface, or the inner peripheral surface of the ring may be the inspection target surface.
Further, the end surface, the outer peripheral surface, or the inner peripheral surface of the completed bearing may be the inspection target surface.

【0050】さらに、ベアリングの端面のような円環状
の表面に限らず、撮像手段によって2次元画像として撮
像できれば、任意の形状の表面を検査対象面とすること
ができる。その他、特許請求の範囲に記載された事項の
範囲内で、種々の設計変更を施すことが可能である。
Furthermore, the surface to be inspected is not limited to an annular surface such as an end surface of a bearing, but any surface of any shape can be used as the surface to be inspected as long as it can be imaged as a two-dimensional image by the imaging means. In addition, various design changes can be made within the scope of the matters described in the claims.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施形態に係る外観検査装置の構
成を簡略化して示す断面図である。
FIG. 1 is a simplified cross-sectional view showing a configuration of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】良否判定処理の流れを示すフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a flow of a pass / fail determination process.

【図3】良否判定処理について説明するための図であ
る。
FIG. 3 is a diagram for explaining pass / fail judgment processing;

【図4】他の良否判定方法について説明するための図で
ある。
FIG. 4 is a diagram for explaining another pass / fail judgment method.

【図5】外軌道輪の外周面を検査するための外観検査装
置の構成を簡略化して示す断面図である。
FIG. 5 is a simplified cross-sectional view showing a configuration of an appearance inspection device for inspecting an outer peripheral surface of an outer race.

【図6】外軌道輪の内周面を検査するための外観検査装
置の構成を簡略化して示す断面図である。
FIG. 6 is a simplified cross-sectional view showing a configuration of an appearance inspection device for inspecting an inner peripheral surface of an outer race.

【図7】この発明のさらに好ましい実施形態について説
明するための図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining a further preferred embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 CCDカメラ 4 画像処理部 41 変換処理部(変換手段) 42 良否判定部(走査検出手段、ライン数検出手
段、識別手段、記憶手段、刻印数検出手段、良否判定手
段) A1,A2 領域 D1,D2 欠陥部分 R 外軌道輪(物体) RA 端面(検査対象面) RI 内周面(検査対象面) RO 外周面(検査対象面) SL1〜SLn 走査ライン(主走査ライン)
3 CCD camera 4 Image processing section 41 Conversion processing section (conversion means) 42 Pass / fail judgment section (scanning detection means, line number detection means, identification means, storage means, stamp number detection means, pass / fail judgment means) A1, A2 area D1, D2 Defective part R Outer ring (object) RA End surface (surface to be inspected) RI Inner surface (surface to be inspected) RO Outer surface (surface to be inspected) SL1 to SLn Scan line (main scanning line)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坂本 賢志 大阪市中央区南船場三丁目5番8号 光洋 精工株式会社内 (72)発明者 山田 和明 大阪市中央区南船場三丁目5番8号 光洋 精工株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA49 BB05 CC00 DD06 FF42 GG07 GG17 HH12 HH14 JJ03 JJ09 JJ26 MM22 QQ05 QQ24 QQ25 QQ51 RR08 SS02 SS13 2G051 AA90 AB02 AB07 BA02 BB02 CA04 CB01 CD03 EA11 EA14 EB01 ED09 5B047 AA11 AB01 BB04 DB04 5B057 AA01 BA02 CA08 CA12 CA16 CB06 CB12 CB16 CC01 CC03 DA03 DA08 DA13 DB02 DB08 5L096 AA06 AA07 BA03 CA02 DA03 EA43 FA52 FA53 FA73 GA28 GA51 JA28  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kenshi Sakamoto 3-5-8 Minamisenba, Chuo-ku, Osaka-shi Inside Koyo Seiko Co., Ltd. (72) Inventor Kazuaki Yamada 3-58-8 Minamisenba, Chuo-ku, Osaka-shi F-term (reference) in Seiko Co., Ltd. BA02 CA08 CA12 CA16 CB06 CB12 CB16 CC01 CC03 DA03 DA08 DA13 DB02 DB08 5L096 AA06 AA07 BA03 CA02 DA03 EA43 FA52 FA53 FA73 GA28 GA51 JA28

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】刻印が施された検査対象面を有する物体の
外観を検査するための外観検査装置であって、 上記検査対象面を撮像し、その撮像した検査対象面に対
応する画像信号を出力する撮像手段と、 この撮像手段から出力される画像信号を2値化して2値
画像データに変換する変換手段と、 この変換手段により生成される2値画像データにより表
される上記検査対象面の2値画像において、所定の副走
査方向にほぼ等間隔で設定された複数の主走査ラインを
順に走査して、予め定める値の2値画像データの画素を
含む主走査ラインである刻印候補ラインを検出する走査
検出手段と、 この走査検出手段によって検出された刻印候補ラインの
連続数を検出するライン数検出手段と、 このライン数検出手段によって検出された刻印候補ライ
ン連続数に基づいて、この連続する刻印候補ラインの領
域に、刻印が施されているか欠陥部分が生じているかを
識別する識別手段とを含むことを特徴とする外観検査装
置。
An appearance inspection device for inspecting the appearance of an object having an engraved inspection target surface, wherein the inspection target surface is imaged, and an image signal corresponding to the imaged inspection target surface is generated. Imaging means for outputting; converting means for binarizing an image signal output from the imaging means to convert the image signal into binary image data; and the inspection object surface represented by the binary image data generated by the conversion means In the binary image, a plurality of main scanning lines set at substantially equal intervals in a predetermined sub-scanning direction are sequentially scanned, and a marking candidate line which is a main scanning line including a pixel of binary image data having a predetermined value. Scanning detecting means for detecting the number of lines of engraving candidate lines detected by the scanning detecting means, and the number of lines of engraving candidate lines detected by the line number detecting means. Based on the number, the area of the continuous stamping candidate lines, the appearance inspection apparatus characterized by comprising identifying means for identifying whether stamped Do defect has been subjected has occurred.
【請求項2】上記検査対象面に実際に施されているべき
刻印の数を記憶する記憶手段と、 上記識別手段で識別された刻印の数をカウントして、上
記検査対象面の全域に施されている刻印の数を検出する
刻印数検出手段と、 上記記憶手段に記憶されている刻印の数と上記刻印数検
出手段によって検出された刻印の数とを比較して、上記
検査対象面が良品面であるか不良品面であるかを判定す
る良否判定手段とをさらに含むことを特徴とする請求項
1記載の外観検査装置。
2. A storage means for storing the number of inscriptions to be actually applied to the inspection object surface, and counting the number of inscriptions identified by the identification means, and applying the number to the entire area of the inspection object surface. Comparing the number of stamps stored in the storage unit with the number of stamps detected by the stamp number detection unit, and comparing the number of stamps detected by the stamp number detection unit with the number of stamps detected by the stamp detection unit. 2. The visual inspection apparatus according to claim 1, further comprising a quality judgment unit for judging whether the surface is a non-defective product or a defective product.
【請求項3】上記変換手段は、上記撮像手段から出力さ
れる画像信号に基づいて得られる上記検査対象面の濃淡
画像を複数の領域に分割し、この複数の領域に含まれる
画素に対応する画像信号を、各領域ごとに設定したしき
い値でそれぞれ2値化することにより、上記撮像手段か
ら出力される画像信号を2値画像データに変換するもの
であることを特徴とする請求項1または2記載の外観検
査装置。
3. The conversion means divides a grayscale image of the inspection target surface obtained based on an image signal output from the imaging means into a plurality of regions, and corresponds to pixels included in the plurality of regions. 2. An image signal output from the image pickup means is converted into binary image data by binarizing the image signal with a threshold value set for each region. Or the visual inspection device according to 2.
【請求項4】検査対象面を有する物体の外観を検査する
ための外観検査装置であって、 上記検査対象面を撮像し、その撮像した検査対象面に対
応する画像信号を出力する撮像手段と、 この撮像手段から出力される画像信号に基づいて得られ
る上記検査対象面の濃淡画像を複数の領域に分割し、こ
の複数の領域に含まれる画素に対応する画像信号を、各
領域ごとに設定したしきい値でそれぞれ2値化して2値
画像データに変換する変換手段と、 この変換手段による変換後の2値画像データに基づい
て、上記検査対象面が良品面であるか不良品面であるか
を判定する良否判定手段とを含むことを特徴とする外観
検査装置。
4. An appearance inspection apparatus for inspecting the appearance of an object having an inspection target surface, comprising: an imaging unit which images the inspection target surface and outputs an image signal corresponding to the imaged inspection target surface. Dividing the grayscale image of the inspection target surface obtained based on the image signal output from the imaging means into a plurality of regions, and setting an image signal corresponding to a pixel included in the plurality of regions for each region; Conversion means for converting the image data into binary image data by converting the image data into binary image data based on the threshold values, and converting the inspection target surface into a non-defective product surface or a defective product surface based on the binary image data converted by the conversion device. A visual quality inspection device, comprising: a pass / fail judgment means for judging whether or not there is an object.
【請求項5】刻印が施された検査対象面を有する物体の
外観を検査するための外観検査方法であって、 上記検査対象面を撮像し、その撮像した検査対象面に対
応する画像信号を取得する撮像ステップと、 この撮像ステップで取得された画像信号を2値化して2
値画像データに変換する変換ステップと、 この変換後の2値画像データにより表される上記検査対
象面の2値画像において、所定の副走査方向にほぼ等間
隔で設定された複数の主走査ラインを順に走査して、予
め定める値の2値画像データの画素を含む主走査ライン
である刻印候補ラインを検出する走査検出ステップと、 この走査検出ステップで検出された刻印候補ラインの連
続数を検出するライン数検出ステップと、 このライン数検出ステップで検出された刻印候補ライン
連続数に基づいて、この連続する刻印候補ラインの領域
に、刻印が施されているか欠陥部分が生じているかを識
別する識別ステップとを含むことを特徴とする外観検査
方法。
5. An appearance inspection method for inspecting an appearance of an object having an engraved inspection target surface, wherein the inspection target surface is imaged, and an image signal corresponding to the imaged inspection target surface is obtained. An image capturing step to be obtained, and an image signal obtained in this image capturing step is binarized to 2
A plurality of main scanning lines set at substantially equal intervals in a predetermined sub-scanning direction in a binary image of the inspection target surface represented by the converted binary image data. In order to detect a marking candidate line which is a main scanning line including pixels of binary image data having a predetermined value, and a continuous number of marking candidate lines detected in the scanning detection step. Based on the line number detecting step to be performed and the number of consecutive marking candidate lines detected in the line number detecting step, it is determined whether the area of the continuous marking candidate line has been marked or has a defective portion. And an identification step.
【請求項6】上記検査対象面に実際に施されているべき
刻印の数を記憶手段に記憶させる記憶ステップと、 上記識別ステップで識別された刻印の数をカウントし
て、上記検査対象面の全域に施されている刻印の数を検
出する刻印数検出ステップと、 上記記憶手段に記憶されている刻印の数と上記刻印数検
出ステップで検出された刻印の数とを比較して、上記検
査対象面が良品面であるか不良品面であるかを判定する
良否判定ステップとをさらに含むことを特徴とする請求
項5記載の外観検査方法。
6. A storage step of storing in a storage means the number of inscriptions to be actually performed on the inspection target surface, and counting the number of inscriptions identified in the identification step, and An engraving number detecting step of detecting the number of engravings applied to the entire area; and comparing the number of engravings stored in the storage means with the number of engravings detected in the engraving number detecting step. 6. The appearance inspection method according to claim 5, further comprising: a quality determination step of determining whether the target surface is a non-defective surface or a defective surface.
【請求項7】上記変換ステップでは、上記撮像ステップ
で取得された画像信号に基づいて得られる上記検査対象
面の濃淡画像を複数の領域に分割し、この複数の領域に
含まれる画素に対応する画像信号を、各領域ごとに設定
したしきい値でそれぞれ2値化することにより、上記撮
像ステップで取得された画像信号が2値画像データに変
換されることを特徴とする請求項5または6記載の外観
検査方法。
7. The converting step divides a grayscale image of the inspection target surface obtained based on the image signal obtained in the imaging step into a plurality of areas, and corresponds to pixels included in the plurality of areas. 7. The image signal obtained in the imaging step is converted into binary image data by binarizing the image signal with a threshold value set for each region. Visual inspection method described.
【請求項8】検査対象面を有する物体の外観を検査する
ための外観検査方法であって、 上記検査対象面を撮像し、その撮像した検査対象面に対
応する画像信号を取得する撮像ステップと、 この撮像ステップで取得された画像信号に基づいて得ら
れる上記検査対象面の濃淡画像を複数の領域に分割し、
この複数の領域に含まれる画素に対応する画像信号を、
各領域ごとに設定したしきい値でそれぞれ2値化して2
値画像データに変換する変換ステップと、 この変換後の2値画像データに基づいて、上記検査対象
面が良品面であるか不良品面であるかを判定する良否判
定ステップとを含むことを特徴とする外観検査方法。
8. An appearance inspection method for inspecting the appearance of an object having an inspection target surface, comprising: an imaging step of imaging the inspection target surface and acquiring an image signal corresponding to the imaged inspection target surface; Dividing the grayscale image of the inspection target surface obtained based on the image signal obtained in this imaging step into a plurality of regions,
Image signals corresponding to the pixels included in the plurality of regions are
Binarize with the threshold set for each area
A converting step of converting the image data into value image data; and a quality determining step of determining whether the inspection target surface is a non-defective product surface or a defective product surface based on the converted binary image data. Appearance inspection method.
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