JP2000266528A - アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法 - Google Patents

アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法

Info

Publication number
JP2000266528A
JP2000266528A JP11070941A JP7094199A JP2000266528A JP 2000266528 A JP2000266528 A JP 2000266528A JP 11070941 A JP11070941 A JP 11070941A JP 7094199 A JP7094199 A JP 7094199A JP 2000266528 A JP2000266528 A JP 2000266528A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum
absorption coefficient
thickness
plate
aluminum alloy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11070941A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Kuroda
雅之 黒田
Osamu Uchida
収 内田
Yukio Sugishita
幸男 杉下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kobe Steel Ltd filed Critical Kobe Steel Ltd
Priority to JP11070941A priority Critical patent/JP2000266528A/ja
Publication of JP2000266528A publication Critical patent/JP2000266528A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アルミニウム板の冷間圧延時において、X線
照射による吸収係数から算出される板厚と、実際に得ら
れるアルミニウム板の板厚との間に発生する誤差を低減
することができるアルミニウム又はアルミニウム合金板
の板厚測定方法を提供する。 【解決手段】 先ず、アルミニウム合金板の冷間圧延時
において、X線入射強度(I0)と、X線出射強度
(I)とを測定すると共に、このときのアルミニウム板
の温度を測定する。次に、アルミニウム合金板の合金成
分を考慮して、吸収係数uを算出すると共に、アルミニ
ウム板の熱膨張による板厚の変化量及び比重の変化量を
考慮して、吸収係数の変化量としての温度補正値rを求
める。次いで、吸収係数uに温度補正値rを考慮して補
正吸収係数wを求め、これによりアルミニウム合金板の
板厚を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は冷間圧延機による圧
延時に使用されるアルミニウム又はアルミニウム合金板
の板厚測定方法に関し、特に、温度による板厚の測定誤
差を低減することができるアルミニウム又はアルミニウ
ム合金板の板厚測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、アルミニウム又はアルミニウ
ム合金板の冷間圧延機による圧延時においては、X線又
はβ線をアルミニウム又はアルミニウム合金板に照射し
て、そのX線吸収係数から板厚が測定されている。以
下、アルミニウム又はアルミニウム合金板を、単にアル
ミニウム板という。冷間圧延機を使用した場合、アルミ
ニウム板の圧延速度は1600(m/分)と高くなるの
で、板厚測定の応答性が高いことが要求される。このた
め、板厚の測定には、X線が多く使用されている。しか
しながら、X線照射によって得られる吸収係数からアル
ミニウム合金板の板厚を算出する場合、X線はアルミニ
ウム合金板の合金成分に対する感度が高いので、合金成
分の含有量が約0.1重量%変動しても、X線吸収係数
が大きく変化する。従って、一般的には、アルミニウム
合金板中の合金成分の分析値に基づいてX線吸収係数を
予測する方法が実施されており、更に、この予測の精度
を高めるために、予測式の成分項を増加させて吸収係数
を算出しているが、この方法によっても、予測の精度を
十分に向上させることができない。そこで、一般的に
は、合金成分に対する感度が低いβ線をX線と併用し
て、吸収係数を予測している。
【0003】このように、従来において、冷間圧延時に
X線照射による吸収係数から板厚を算出する場合には、
アルミニウム合金板の合金成分による板厚測定誤差につ
いての対策がなされている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
板厚測定方法においては、合金成分の相違による板厚測
定誤差の補正を行っても、冷間圧延時にX線照射による
吸収係数から算出した板厚と、実際に得られたアルミニ
ウム板の板厚との間には未だ測定誤差が発生しており、
この板厚測定誤差を十分に低減することはできていな
い。
【0005】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、アルミニウム板の冷間圧延時において、X
線照射による吸収係数から算出される板厚と、実際に得
られるアルミニウム板の板厚との間に発生する誤差を低
減することができるアルミニウム又はアルミニウム合金
板の板厚測定方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るアルミニウ
ム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法は、アルミニ
ウム又はアルミニウム合金板の冷間圧延時にX線を照射
してそのX線吸収係数から板厚を測定する方法であっ
て、前記アルミニウム又はアルミニウム合金板中に含有
される合金成分を考慮した吸収係数に、圧延時に加工熱
によって発生するアルミニウム又はアルミニウム合金板
の熱膨張による温度補正値を考慮して補正吸収係数を求
め、前記補正吸収係数によって前記アルミニウム又はア
ルミニウム合金板の板厚を算出することを特徴とする。
【0007】この温度補正値は、アルミニウム又はアル
ミニウム合金板の熱膨張による板厚の変化量と、比重の
変化量とを考慮することにより得ることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明においては、補正吸収係数
を求め、この値からアルミニウム板の板厚を算出する。
本発明に係るアルミニウム又はアルミニウム合金板の板
厚測定方法について、以下に説明する。
【0009】先ず、従来法と同様に、冷間圧延時にアル
ミニウム板にX線を照射して、アルミニウム板に入射す
る前のX線入射強度(I0)と、アルミニウム板から出
射されるX線出射強度(I)とを測定する。このとき、
アルミニウム板のX線吸収係数をu、アルミニウム板の
板厚をtとすると、X線吸収係数uと、X線の強度I及
びI0とは、下記数式1に示す関係が成立する。
【0010】
【数1】I=I0-ut 上記数式1において、吸収係数uは、測定されるアルミ
ニウム板中の合金成分によって変化する値であるので、
予め、合金成分を考慮して算出している。この吸収係数
uは、例えば下記数式2によって算出することができ
る。
【0011】
【数2】u=[Al]a+[B]b+[C]c+[D]d ここで、[Al]、[B]、[C]及び[D]は、夫
々、測定されるアルミニウム合金板中のAl、B、C及
びD成分の含有量(原子%)である。また、a、b、c
及びdは、各成分の種類により決定される所定の値であ
る。
【0012】従来においては、上記数式1に実際に測定
されたI、I0を代入すると共に、合金成分の含有量か
ら求められる吸収係数uを代入することによって、板厚
tを算出していたが、この方法によっても、高精度で実
際に得られるアルミニウム板の板厚を算出することはで
きなかった。
【0013】そこで、本願発明者等は、冷間圧延時にお
いて、その加工熱によりアルミニウム板が熱膨張するこ
とに着目した。例えば、アルミニウム又はアルミニウム
合金については、熱膨張係数が2.35×10-5(20
〜100℃)乃至2.56×10-5(100〜300
℃)であり、鉄の熱膨張係数1.17×10-5(20
℃)と比較して高い値を有している。
【0014】このように、冷間圧延時において、測定板
の温度が変化することによっても、板厚の測定誤差が発
生する。これは、加工熱によってアルミニウム板が膨張
し、板厚が厚くなって、体積が増加すると共に比重が減
少することにより、吸収係数uが変動することに起因す
る。従って、冷間圧延時に、アルミニウム板の熱膨張に
よって変化する板の比重及び厚さの変化量を十分に考慮
して、板厚を算出することが必要である。即ち、X線照
射による吸収係数から算出される板厚と、実際のアルミ
ニウム板の板厚とのずれ(誤差)を低減するためには、
合金成分及びその含有量による吸収係数の誤差を考慮す
ると共に、熱膨張による吸収係数の誤差を考慮すること
が必要である。
【0015】本発明においては、アルミニウム板の熱膨
張による板厚の変化量及び比重の変化量を考慮して、合
金成分のみを考慮した吸収係数uからの変化量である温
度補正値rを求める。この温度補正値rは、合金成分の
含有量に拘わらず、温度のみに依存する関数で表すこと
ができるので、例えば、下記数式3によって、補正吸収
係数wを求める。
【0016】
【数3】w=u+r 従って、実際に得られるアルミニウム板の板厚tは、下
記数式4を満足するtを算出することによって、求める
ことができる。
【0017】
【数4】I=I0-wt このように、本発明においては、合金成分を考慮した吸
収係数uに、更に温度補正値rを考慮して、補正吸収係
数wを得ている。従って、アルミニウム板の冷間圧延時
の加工熱によって板厚及び比重が変化しても、実際に得
られるアルミニウム合金板の板厚と、圧延時にX線によ
って測定した板厚測定値との間に発生する誤差を低減す
ることができる。
【0018】なお、補正吸収係数は上述の方法により算
出することができるが、例えば、種々の合金成分及び温
度が考慮された表を作成し、この表から、測定するアル
ミニウム板の合金成分及び温度に対応した補正吸収係数
を求めることもできる。
【0019】
【実施例】以下、本発明に係るアルミニウム又はアルミ
ニウム合金板の板厚測定方法の実施例についてその比較
例と比較して具体的に説明する。
【0020】先ず、JIS5086のアルミニウム合金
板を使用して、種々の加工率でこのアルミニウム合金板
を冷間圧延して、圧延時にX線によってX線入射強度
(I0)と、X線出射強度(I)とを測定すると共に、
このときのアルミニウム板の温度を測定した。次に、ア
ルミニウム合金板の合金成分を考慮して、吸収係数uを
算出した。本実施例においては、このように、合金成分
のみを考慮した吸収係数uを100%と設定した。
【0021】次いで、圧延後のアルミニウム合金板の温
度変化による板厚及び比重の変化を考慮して、各温度に
おける温度補正値rを求めた後、吸収係数uに温度補正
値rを加算することにより、補正吸収係数wを算出し、
吸収係数uに対する比率を求めた。これらの冷間圧延加
工率、アルミニウム板温度及び吸収係数u(100%)
に対する補正吸収係数の比率を下記表1に示す。
【0022】
【表1】
【0023】上記表1に示すように、実施例1は、アル
ミニウム合金板の温度が60℃であるので、室温を20
℃とすると、冷間圧延の加工熱によってアルミニウム合
金板が40℃発熱したことになる。従って、この40℃
の発熱によるアルミニウム合金板の熱膨張及び比重の変
化量を考慮して、補正吸収係数wを算出すると、合金成
分のみを考慮した吸収係数uと比較して、0.19%低
いものとなる。
【0024】同様に、実施例2については、60℃の発
熱によるアルミニウム合金板の熱膨張及び比重の変化量
を考慮して、補正吸収係数wを算出すると、合金成分の
みを考慮した吸収係数uと比較して、0.28%低いも
のとなる。更に、実施例3は発熱が80℃であり、吸収
係数uと比較して、補正吸収係数wは0.37%低いも
のとなる。
【0025】次いで、圧延によって得られたアルミニウ
ム合金板の実際の板厚及び比重等を測定し、これらの値
からアルミニウム合金板の実際の吸収係数(実吸収係
数)を算出した。
【0026】図1は吸収係数u、補正吸収係数w及び実
吸収係数とアルミニウム合金板の温度との関係を示すグ
ラフ図である。但し、図1において、室温が20℃であ
って、X線測定時のアルミニウム合金板の温度が20℃
の場合の吸収係数の補正値、即ち、温度を考慮せず、合
金成分のみを考慮した吸収係数uを100%とした。従
って、補正吸収係数w及び実吸収係数は吸収係数uに対
する比率で示す。また、吸収係数u、本実施例方法によ
り得られた補正吸収係数w及びこれにより算出される板
厚等についての具体的な値、並びに実際の板厚との誤差
を下記表2及び3に示す。
【0027】
【表2】
【0028】
【表3】
【0029】図1に示すように、圧延時のアルミニウム
合金板の温度上昇に伴って、実吸収係数は低下してお
り、吸収係数uとの差が大きくなっていく。一方、本実
施例方法によって温度を考慮した補正吸収係数は、実吸
収係数と同様に温度上昇に伴って低下し、実吸収係数と
の差が低減された。
【0030】また、上記表2及び3に示すように、比較
例No.7〜9はX線測定時のアルミニウム合金板の温
度の上昇に伴って、板厚の測定誤差が大きくなってい
る。一方、実施例No.4〜6は温度変化による吸収係
数の補正を実施しているので、アルミニウム合金板の温
度に依存することなく、板厚の測定誤差を低減すること
ができた。
【0031】更に、製品板厚が0.5乃至1.0mmで
あるアルミニウム合金板に対して、従来の吸収係数uに
よって得られた板厚と、実際の板厚との偏差を算出する
と共に、本発明方法による補正吸収係数によって得られ
た板厚と実際の板厚との偏差を算出した。その結果、従
来法による板厚測定誤差の偏差は1.8μmであった
が、本発明方法によると、板厚測定誤差の偏差は1.0
μmとなった。なお、板厚中心値偏差とは、目標板厚と
実際の板厚との差のバラツキをいう。
【0032】このように、本実施例方法による補正吸収
係数によって板厚を算出すると、圧延加工率の上昇によ
ってアルミニウム合金板の温度が変化しても、従来の板
厚測定方法と比較して、板厚の測定誤差の発生を低減す
ることができる。
【0033】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
アルミニウム又はアルミニウム合金板の冷間圧延時にX
線照射による吸収係数から板厚を算出する場合に、合金
成分を考慮した吸収係数に、アルミニウム又はアルミニ
ウム合金板の熱膨張による温度温度補正値を考慮して補
正吸収係数を求め、この補正吸収係数によってアルミニ
ウム又はアルミニウム合金板の板厚を算出するので、冷
間圧延時において、X線照射による吸収係数から算出さ
れる板厚と、実際に得られるアルミニウム板の板厚との
間に発生する誤差を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】縦軸に吸収係数uに対する補正吸収係数w及び
実吸収係数の比率をとり、横軸にX線測定時のアルミニ
ウム合金板温度をとって、種々の場合の吸収係数と、ア
ルミニウム合金板の温度との関係を示すグラフ図であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉下 幸男 栃木県真岡市鬼怒ヶ丘15番地 株式会社神 戸製鋼所真岡製造所内 Fターム(参考) 2F067 AA27 BB12 DD06 FF06 FF07 GG06 HH04 KK06

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アルミニウム又はアルミニウム合金板の
    冷間圧延時にX線を照射してそのX線吸収係数から板厚
    を測定する方法であって、前記アルミニウム又はアルミ
    ニウム合金板中に含有される合金成分を考慮した吸収係
    数に、圧延時に加工熱によって発生するアルミニウム又
    はアルミニウム合金板の熱膨張による温度補正値を考慮
    して補正吸収係数を求め、前記補正吸収係数によって前
    記アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚を算出す
    ることを特徴とするアルミニウム又はアルミニウム合金
    板の板厚測定方法。
  2. 【請求項2】 前記温度補正値は、アルミニウム又はア
    ルミニウム合金板の熱膨張による板厚の変化量と、比重
    の変化量とを考慮したものであることを特徴とする請求
    項1に記載のアルミニウム又はアルミニウム合金板の板
    厚測定方法。
JP11070941A 1999-03-16 1999-03-16 アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法 Pending JP2000266528A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11070941A JP2000266528A (ja) 1999-03-16 1999-03-16 アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11070941A JP2000266528A (ja) 1999-03-16 1999-03-16 アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000266528A true JP2000266528A (ja) 2000-09-29

Family

ID=13446044

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11070941A Pending JP2000266528A (ja) 1999-03-16 1999-03-16 アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000266528A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107702667A (zh) * 2017-10-26 2018-02-16 武钢新日铁(武汉)镀锡板有限公司 一种新型x射线测厚仪材质补偿系统的建立方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107702667A (zh) * 2017-10-26 2018-02-16 武钢新日铁(武汉)镀锡板有限公司 一种新型x射线测厚仪材质补偿系统的建立方法
CN107702667B (zh) * 2017-10-26 2019-12-17 武钢新日铁(武汉)镀锡板有限公司 一种新型x射线测厚仪材质补偿系统的建立方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Capella et al. Evolution of average multiplicities of quark and gluon jets
Bearden X‐Ray Photoeffect Cross Sections in Low‐and Medium‐Z Absorbers for the Energy Range 852 eV to 40 keV
Lloyd-Ronning et al. On the kinetic energy and radiative efficiency of gamma-ray bursts
JP6265070B2 (ja) 誘導結合プラズマ発光分光分析装置を用いた金属元素の濃度分析方法
Hudson et al. Absorption of Light by Potassium Vapor between 2856 and 1150 Å
EP2843362A1 (en) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING Fe-Zn ALLOY PHASE THICKNESS OF HOT-DIP GALVANIZED STEEL SHEET
Suck et al. Dynamical structure factor and frequency distribution of the metallic glass Cu46Zr54 at room temperature
JP2000329712A (ja) 蛍光x線分析用データ処理装置
Andrews et al. Vapor pressure and third-law entropy of ferrocene
Ness et al. An X-ray emission-line spectrum of Nova V382 Velorum 1999
EP3444594A2 (en) X-ray analyzer and spectrum generation method
Batyrbekov et al. K-, L-and M-shell x-ray production cross sections by 1–1.3 áMeV protons
JP2000266528A (ja) アルミニウム又はアルミニウム合金板の板厚測定方法
Beckhoff et al. Determination of fluorescence yields using monochromatized undulator radiation of high spectral purity and well-known flux
Cowan et al. Performance of a high‐energy‐resolution, tender x‐ray synchrotron radiation beamline
Petersen et al. Photoabsorption of atomic Cs in the VUV
Dogan et al. Alloying effect on K shell X-ray fluorescence cross-sections and intensity ratios of Cu and Sn in Cu1Sn1− x alloys using the 59.5 keV gamma rays
Natishan et al. X-ray absorption near edge structure and X-ray photoelectron spectroscopy studies of chloride in passive oxide films
Kutzner et al. Efficient high-repetition-rate fs-laser based X-ray source
Sternemann et al. Influence of lattice dynamics on electron momentum density of lithium
JPH10221047A (ja) 蛍光x線膜厚分析装置及び方法
Reeves XMM-Newton observations of AGN iron line profiles
Chatain et al. Thermodynamic activity measurements of iron in Fe–Zr alloys by high temperature mass spectrometry
Kouptsidis et al. Thermal accommodation of the helium isotopes on clean tungsten surfaces
Kumar et al. L‐shell Coster–Kronig yields for Pb