JP2000251817A - Electron microscope - Google Patents
Electron microscopeInfo
- Publication number
- JP2000251817A JP2000251817A JP11055667A JP5566799A JP2000251817A JP 2000251817 A JP2000251817 A JP 2000251817A JP 11055667 A JP11055667 A JP 11055667A JP 5566799 A JP5566799 A JP 5566799A JP 2000251817 A JP2000251817 A JP 2000251817A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base plate
- housing
- electron microscope
- gantry
- vibration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Vibration Prevention Devices (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子顕微鏡に係
り、鏡筒部への振動を改善した架台筐体の構造に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron microscope and, more particularly, to a structure of a gantry housing in which vibration to a lens barrel is improved.
【0002】[0002]
【従来の技術】図3は従来の電子顕微鏡、例えば透過型
電子顕微鏡の鏡筒及びそれを支持する架台を説明するた
めの正面図である。図において、1は架台筐体で、架台
筐体1の上面に配置された4つの防振マウント2の上に
は、ベースプレート3が設けられ、このベースプレート
3の上に観察室5を備えた鏡筒部4が載置されている。2. Description of the Related Art FIG. 3 is a front view for explaining a conventional electron microscope, for example, a lens barrel of a transmission electron microscope and a mount for supporting the same. In the figure, reference numeral 1 denotes a gantry housing, a base plate 3 is provided on four anti-vibration mounts 2 arranged on the upper surface of the gantry housing 1, and a mirror provided with an observation room 5 on the base plate 3. The tube part 4 is mounted.
【0003】一般に、設置室の入り口の間口は、850
mm〜900mmの寸法で用いられている。従って、通
常、架台筐体の幅Wは、搬入時の作業性を考慮して設置
室の入り口の間口の寸法より若干狭い一片が約800m
m以下になるよう設計製作されている。[0003] Generally, the frontage of the entrance of the installation room is 850.
mm to 900 mm. Therefore, the width W of the gantry housing is usually about 800 m, which is slightly smaller than the width of the entrance of the installation room in consideration of workability at the time of carrying in.
m.
【0004】この構造において、設置室の床振動は、架
台筐体1及び防振マウント2を介してベースプレート3
と鏡筒部4へ伝わり、図中の破線のようなロッキングモ
ードの揺れが生じる。このロッキングモードは、防振マ
ウント2の2次の固有モードの特性として、防振マウン
ト2に伝わる振動エネルギーと、防振マウント2間の距
離と鏡筒部4の重量および重心等により揺れの大きさが
決まる。In this structure, floor vibrations in the installation room are transmitted to the base plate 3 via the gantry housing 1 and the anti-vibration mount 2.
And rocking mode swings as indicated by the broken line in the figure. The rocking mode has a characteristic of the second-order natural mode of the anti-vibration mount 2, a vibration energy transmitted to the anti-vibration mount 2, a magnitude of shaking due to a distance between the anti-vibration mounts 2, a weight of the lens barrel 4, a center of gravity, and the like. Is determined.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
鏡筒部4のロッキングモードの揺れは、電子線と試料お
よび各レンズ系との相対的な位置ずれを生じ、観察像に
振動による滲みが生じ、像全体のシャープさを損ない分
解能の低下が生じる。一方、このロッキングモードは防
振マウント3の設置距離を広げるほど揺れが小さくなる
特性を持っている。しかし、上述したように、架台筐体
の幅Wは約800mm以下の制約により、従来の防振マ
ウント間の距離は、更にこれより小さくなり約700m
m以下となっている。However, such a fluctuation of the locking mode of the lens barrel 4 causes a relative displacement between the electron beam, the sample, and each lens system, and blurring of the observed image due to the vibration occurs. As a result, the sharpness of the entire image is impaired and the resolution is reduced. On the other hand, the rocking mode has a characteristic that the shaking becomes smaller as the installation distance of the anti-vibration mount 3 is increased. However, as described above, the width W of the gantry housing is limited to about 800 mm or less, so that the distance between the conventional anti-vibration mounts is further reduced to about 700 m.
m or less.
【0006】本発明は、上述した問題を解決するもので
あって、搬入時には設置室の入り口の間口の制限以内で
ありながら、設置室に装置を据え付けた時には、防振マ
ウント間の設置距離を搬入時よりも広げることができる
構造によって、ロッキングモードの振動に強い電子顕微
鏡を提供することを目的としている。The present invention solves the above-mentioned problem. When the apparatus is installed in an installation room, the distance between the anti-vibration mounts is reduced when the apparatus is installed within the installation room. An object of the present invention is to provide an electron microscope that is resistant to vibration in a rocking mode by a structure that can be wider than that at the time of loading.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の本発明は、鏡筒部と、観察室と、カメラ室と、鏡筒排
気系装置とが載置されたベースプレートと、架台筐体と
により構成される電子顕微鏡において、前記架台筐体
は、中央架台筐体と、該中央架台筐体の左右に設けられ
る側部架台筐体から構成され、該側部架台筐体の上面に
防振マウントが備えられて、該防振マウントの上部に、
前記ベースプレートを載置したベースプレート載置板を
介して架台筐体に支持されていることを特徴とする。According to the present invention, there is provided a base plate on which a lens barrel, an observation room, a camera room, a lens barrel exhaust system are mounted, and a frame housing. In the electron microscope configured by the above, the gantry housing is composed of a central gantry housing, and side gantry housings provided on the left and right of the central gantry housing, and is provided on the upper surface of the side gantry housing. A vibration mount is provided, on top of the vibration isolation mount,
It is characterized by being supported by a gantry housing via a base plate mounting plate on which the base plate is mounted.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0009】図1は、本発明の鏡筒部を支える架台筐体
の一実施形態を示す構成図である。図2は、搬入時の鏡
筒部と架台筐体を示す構成図である。図1,2におい
て、図3の説明図と同一番号は同一構成を示す。なお、
図1、2において、10は正面の幅Wが間口制限幅(例
えば約800mm)以下に選定された中央架台筐体、こ
の中央架台筐体10の左右の側面に側部架台筐体11,
12が固定され、14はベースプレート3を固定するた
めのベースプレート載置板、15はカメラ室である。図
2において、20は中央架台筐体10とベースプレート
3を輸送時に固定するための輸送用固定台、21はその
固定ネジである。このような構成の動作について次に説
明する。FIG. 1 is a structural view showing an embodiment of a gantry housing for supporting a lens barrel according to the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram showing the lens barrel and the gantry housing at the time of carry-in. 1 and 2, the same numbers as those in the explanatory diagram of FIG. 3 indicate the same components. In addition,
1 and 2, reference numeral 10 denotes a central gantry housing in which a front width W is selected to be equal to or less than a frontage limit width (for example, about 800 mm), and side gantry housings 11 on right and left sides of the central gantry housing 10.
Reference numeral 12 is fixed, 14 is a base plate mounting plate for fixing the base plate 3, and 15 is a camera room. In FIG. 2, reference numeral 20 denotes a transportation fixing base for fixing the center frame housing 10 and the base plate 3 during transportation, and reference numeral 21 denotes a fixing screw thereof. The operation of such a configuration will now be described.
【0010】まず、図1の本発明の一実施形態による配
置構成について説明する。中央架台筐体10の左右に側
部架台筐体11,12が配置され、固定ネジ(図示せ
ず)によって中央架台筐体10に固定される。側部架台
筐体11,12の上面に配置された4個(2個は陰によ
り図示せず)の防振マウント2の上には、ベースプレー
ト載置板14が設けられている。鏡筒排気系装置13を
含む鏡筒部4は、ベースプレート3に載置され、このベ
ースプレート3はベースプレート載置板14に固定さ
れ、防振マウント2を介して側部架台筐体11,12に
支持されている。また、ベースプレート3の下部にはカ
メラ室が設けられている。First, an arrangement according to an embodiment of the present invention shown in FIG. 1 will be described. Side frame housings 11 and 12 are arranged on the left and right of the center frame housing 10, and are fixed to the center frame housing 10 with fixing screws (not shown). A base plate mounting plate 14 is provided on four (two are not shown by shading) anti-vibration mounts 2 disposed on the upper surfaces of the side frame housings 11 and 12. The lens barrel unit 4 including the lens barrel exhaust system device 13 is mounted on the base plate 3, and the base plate 3 is fixed to the base plate mounting plate 14, and is attached to the side frame housings 11 and 12 via the anti-vibration mount 2. Supported. A camera room is provided below the base plate 3.
【0011】本発明の実施例による防振マウント2の間
隔は、側部架台筐体11,12により支持することによ
り、従来での中央架台筐体10で支持した場合より側部
架台筐体に移行する距離を広げて設けることができる。
従って、本構造による電子顕微鏡は、防振マウント2の
間隔を中央架台筐体10の幅W800mmより大きく
(例えば約1000mm以上)することができ、床より
の振動の伝達を従来よりも抑えることができる。前述し
たように、防振マウント2の2次の固有モードのロッキ
ングモードは、防振マウント2の間隔を広げるほど揺れ
がが少なくなる特性を持っている。これにより、鏡筒部
4に対する振動のロッキングモードの振動を従来より抑
制効果を向上させることができる。The distance between the vibration isolating mounts 2 according to the embodiment of the present invention is set by the side frame housings 11 and 12 so that the distance between the vibration mount 2 and the vibration isolation mount 2 is smaller than that by the conventional center frame housing 10. The transition distance can be increased.
Therefore, in the electron microscope according to the present structure, the interval between the anti-vibration mounts 2 can be made larger than the width W800 mm of the central gantry housing 10 (for example, about 1000 mm or more), and transmission of vibration from the floor can be suppressed more than before. it can. As described above, the rocking mode of the second-order eigenmode of the anti-vibration mount 2 has a characteristic that as the distance between the anti-vibration mounts 2 is increased, the vibration is reduced. This makes it possible to improve the effect of suppressing the vibration in the locking mode of the vibration with respect to the lens barrel 4 as compared with the related art.
【0012】一方、本構造による電子顕微鏡は、搬入の
際、中央架台筐体10と側部架台筐体11,12とを固
定する固定ネジをはずすことにより3つの筐体に分割が
できる。そして搬入の際は、図2で示すように、中央架
台筐体10の上面に配置された4つの輸送用固定金具2
0(2個は陰により図示せず)を介してベースプレート
3を固定ネジ21で固定する。なお、このベースプレー
ト3は中央架台筐体の幅Wと同様に間口制限幅(例えば
800mm)以下とする。従って、搬入時の形態では、
図2に示すように幅Wが800mm以下にでき、設置室
の入力の間口の寸法850mm以内にすることができ、
従来と同様な搬入作業を行うことができる。On the other hand, the electron microscope according to the present structure can be divided into three housings by removing fixing screws for fixing the center mounting housing 10 and the side mounting housings 11 and 12 at the time of loading. At the time of loading, as shown in FIG. 2, four transport fixing brackets 2 arranged on the upper surface of the central gantry housing 10.
The base plate 3 is fixed with fixing screws 21 via 0 (two are not shown by shadow). The width of the base plate 3 is equal to or smaller than the frontage limited width (for example, 800 mm), similarly to the width W of the center frame housing. Therefore, in the form at the time of carrying in,
As shown in FIG. 2, the width W can be 800 mm or less, and the width of the frontage of the installation room can be within 850 mm.
A carrying-in operation similar to the conventional one can be performed.
【0013】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明は上記に限定されるものではなく、種々の変
形が可能である。例えば、中央架台筐体10の左右の一
方に側部架台筐体を設けてもよい、また、側部架台筐体
11、12を中央架台筐体10の内部にスライドする機
構としてもよい、また、側部架台筐体11,12の代わ
りに通常の中央架台筐体の左右の操作部架台筐体を用い
てもよい。Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above, and various modifications are possible. For example, a side frame housing may be provided on one of the left and right sides of the center frame housing 10, and a mechanism for sliding the side frame housings 11 and 12 into the center frame housing 10 may be used. Instead of the side frame housings 11 and 12, the left and right operation unit frame housings of the normal center frame housing may be used.
【0014】[0014]
【発明の効果】以上の説明からあきらかなように、本発
明においては、鏡筒部と、観察室と、カメラ室と、鏡筒
排気系装置とが載置されたベースプレートと、架台筐体
とにより構成される電子顕微鏡において、前記架台筐体
は、中央架台筐体と、該中央架台筐体の左右に設けられ
る側部架台筐体から構成され、該側部架台筐体の上面に
防振マウントが備えられて、該防振マウントの上部に、
ベースプレート載置板を介して前記ベースプレートを架
台筐体に支持する。その結果、防振マウント間の設置距
離を、搬入時の間口制限幅に制約されずに広げることが
でき、ロッキングモードの振動に強い機構を備えること
ができ、また、搬入時においては、架台筐体の寸法を間
口制限幅以下にできることにより従来と同様により搬入
作業を行うことができる。As is apparent from the above description, according to the present invention, a base plate on which a lens barrel, an observation room, a camera room, a lens barrel exhaust system is mounted, a gantry housing, Wherein the gantry housing is composed of a central gantry housing and side gantry housings provided on the left and right of the central gantry housing, and a vibration isolator is provided on an upper surface of the side gantry housing. A mount is provided on top of the anti-vibration mount,
The base plate is supported on the gantry housing via the base plate mounting plate. As a result, the installation distance between the anti-vibration mounts can be increased without being restricted by the width limit of the opening at the time of carrying in, and a mechanism that is resistant to vibration in the locking mode can be provided. Can be carried out in the same manner as in the related art by making the size of the width smaller than the width of the frontage.
【0015】[0015]
【図1】本発明の鏡筒部を支える架台筐体の一実施形態
を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a gantry housing for supporting a lens barrel according to the present invention.
【図2】本発明の搬入時の鏡筒部と架台筐体を示す構成
図である。FIG. 2 is a configuration diagram showing a lens barrel unit and a gantry housing during loading according to the present invention.
【図3】従来の鏡筒及び架台筐体を説明するための正面
図である。FIG. 3 is a front view for explaining a conventional lens barrel and a gantry housing.
1…架台筐体、2…防振マウント、3…ベースプレー
ト、4…鏡筒部、5…観察室、10…中央架台筐体、1
1,12…側部架台筐体部、13…鏡筒排気系装置、1
4…ベースプレート載置板、15…カメラ室、20…輸
送用固定台、21…固定ネジDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Stand housing, 2 ... Anti-vibration mount, 3 ... Base plate, 4 ... Lens barrel part, 5 ... Observation room, 10 ... Central mount housing, 1
1, 12 ... side frame housing part, 13 ... lens barrel exhaust system device, 1
4 ... Base plate mounting plate, 15 ... Camera room, 20 ... Transportation fixing stand, 21 ... Fixing screw
Claims (3)
気系装置とが載置されたベースプレートと、架台筐体と
により構成される電子顕微鏡において、前記架台筐体
は、中央架台筐体と、該中央架台筐体の左右に設けられ
る側部架台筐体から構成され、該側部架台筐体の上面に
防振マウントが備えられて、該防振マウントの上部に、
ベースプレート載置板を介して前記ベースプレートを架
台筐体に支持されていることを特徴とする電子顕微鏡。1. An electron microscope comprising a lens barrel, an observation room, a camera room, a base plate on which a lens barrel exhaust system is mounted, and a frame housing, wherein the frame housing includes: A central gantry housing, and a side gantry housing provided on the left and right of the central gantry housing, a vibration proof mount is provided on an upper surface of the side gantry housing, and an upper part of the vibration proof mount is provided,
An electron microscope, wherein the base plate is supported by a gantry housing via a base plate mounting plate.
台筐体とは、固定機構により固定され、該固定機構をは
ずすことにより、3つに分割されることを特徴とする請
求項1記載の電子顕微鏡。2. The gantry case is characterized in that the center gantry case and the side gantry case are fixed by a fixing mechanism, and are separated into three parts by removing the fixing mechanism. The electron microscope according to claim 1.
は、正面の幅寸法800mm以内に形成されていること
を特徴とする請求項1または2記載の電子顕微鏡。3. The electron microscope according to claim 1, wherein the central gantry housing and the base plate are formed within a front width of 800 mm.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11055667A JP2000251817A (en) | 1999-03-03 | 1999-03-03 | Electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11055667A JP2000251817A (en) | 1999-03-03 | 1999-03-03 | Electron microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000251817A true JP2000251817A (en) | 2000-09-14 |
Family
ID=13005222
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11055667A Withdrawn JP2000251817A (en) | 1999-03-03 | 1999-03-03 | Electron microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000251817A (en) |
-
1999
- 1999-03-03 JP JP11055667A patent/JP2000251817A/en not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100565797C (en) | Bracing or strutting arrangement and its manufacture method, mounting table device and exposure device | |
US20070020120A1 (en) | Fan assembly to dampen fan vibration | |
JP2005315426A (en) | Vibration insulating system, vibration insulating method, lithography device, and method for manufacturing the device | |
JP4265257B2 (en) | Exposure apparatus, exposure method, and film structure | |
JP2000251817A (en) | Electron microscope | |
JP2003130128A (en) | Active vibration-free apparatus | |
MXPA00006902A (en) | Lift installation. | |
JP2008052946A (en) | Beam applying device | |
JP2004187271A (en) | Display apparatus | |
US6870562B2 (en) | Vibration isolation system | |
JP2002122788A (en) | Vibration attenuator for microscope, and microscope having vibration attenuator | |
JPH0973039A (en) | Optical deflection device | |
JP2001093456A (en) | Charged particle beam device | |
JPH0992192A (en) | Charge particulate beam device | |
WO2015053209A1 (en) | Charged particle device | |
JP2007518261A (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method | |
JP2003242919A (en) | Vacuum evacuating device | |
JPH06176729A (en) | Scanning type electron microscope and similar device | |
JP2001076660A (en) | Charged-particle beam apparatus | |
JP2008020777A (en) | Plasma display apparatus | |
JPH079486Y2 (en) | Rear projector | |
JPH07306448A (en) | Finder device | |
JP2563222Y2 (en) | Rear projector | |
JP2002221251A (en) | Damping apparatus | |
JP3103099B2 (en) | CRT anti-vibration support device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060509 |