JP2000251519A - 画像処理検査用照明装置 - Google Patents
画像処理検査用照明装置Info
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- JP2000251519A JP2000251519A JP11050222A JP5022299A JP2000251519A JP 2000251519 A JP2000251519 A JP 2000251519A JP 11050222 A JP11050222 A JP 11050222A JP 5022299 A JP5022299 A JP 5022299A JP 2000251519 A JP2000251519 A JP 2000251519A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被写体通過領域において、被写界深度を有
し、平面物の他立体物の撮像面を平均的に照明し、また
発熱による温度上昇が小さく正確に被検査物を検査する
ことができる画像処理検査用照明装置を提供することを
目的とする。 【解決手段】 前面に透光板を有する画像処理用の照明
装置本体１１の内部に、長焦点楕円形状の反射鏡１５を
配置し、また反射鏡の一次焦点位置に線状の高圧放電ラ
ンプ１６を装着してある。また照明装置本体の一方の横
側壁に冷却器１７を配置し、内部の高圧放電ランプを冷
却し、さらに反射鏡の内面は拡散面に構成し、二次焦点
位置を通過する被写体通過領域において被写界深度領域
を有して構成してある。
し、平面物の他立体物の撮像面を平均的に照明し、また
発熱による温度上昇が小さく正確に被検査物を検査する
ことができる画像処理検査用照明装置を提供することを
目的とする。 【解決手段】 前面に透光板を有する画像処理用の照明
装置本体１１の内部に、長焦点楕円形状の反射鏡１５を
配置し、また反射鏡の一次焦点位置に線状の高圧放電ラ
ンプ１６を装着してある。また照明装置本体の一方の横
側壁に冷却器１７を配置し、内部の高圧放電ランプを冷
却し、さらに反射鏡の内面は拡散面に構成し、二次焦点
位置を通過する被写体通過領域において被写界深度領域
を有して構成してある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は画像処理検査用照明
装置の改良に関する。
装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、紙，フィルム，ゴム，繊維等の平
面物、あるいはビン，缶，ペットボトル等の立体物の欠
陥検査あるいは郵便物・配送品等の仕分けのために画像
処理検査装置が使用されている。画像処理検査用照明装
置としては、例えば図５に示すように、被検査物１を例
えばコンベアー２で搬送しながら、被検査物に蛍光ラン
プ３の光を照射し、被検査物１の斜め上方に配置したセ
ンサーカメラ４で被検査物１を撮像し、被検査物の欠陥
を検査することが実施されている。
面物、あるいはビン，缶，ペットボトル等の立体物の欠
陥検査あるいは郵便物・配送品等の仕分けのために画像
処理検査装置が使用されている。画像処理検査用照明装
置としては、例えば図５に示すように、被検査物１を例
えばコンベアー２で搬送しながら、被検査物に蛍光ラン
プ３の光を照射し、被検査物１の斜め上方に配置したセ
ンサーカメラ４で被検査物１を撮像し、被検査物の欠陥
を検査することが実施されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、被検査物の
欠陥を正確に検査するには、被検査物に通常３，０００
ルックス程度の光を照射する必要がある。しかし平面物
と立体物では、照明装置までの距離が異なり、照度が変
わり均一な検査をすることができない欠点がある。特に
光源として蛍光ランプを用いた装置によると、被検査物
と照明装置の距離が大きい場合は、光量不足となり正確
な検査をすることができない欠点がある。またセンサー
カメラ側への光路中に、凹凸レンズや偏光フィルター等
の光路変換素子等が含まれる場合は、センサーカメラ側
に光量が入りずらく、この場合は光量を増大する必要が
あるため、照射器の消費電力や発熱量が大きくなる欠点
がある。
欠陥を正確に検査するには、被検査物に通常３，０００
ルックス程度の光を照射する必要がある。しかし平面物
と立体物では、照明装置までの距離が異なり、照度が変
わり均一な検査をすることができない欠点がある。特に
光源として蛍光ランプを用いた装置によると、被検査物
と照明装置の距離が大きい場合は、光量不足となり正確
な検査をすることができない欠点がある。またセンサー
カメラ側への光路中に、凹凸レンズや偏光フィルター等
の光路変換素子等が含まれる場合は、センサーカメラ側
に光量が入りずらく、この場合は光量を増大する必要が
あるため、照射器の消費電力や発熱量が大きくなる欠点
がある。
【０００４】本発明は上記の点に鑑み発明したものであ
って、被写体通過領域において、被写界深度領域を有
し、立体物の撮像面を平均的に照明し、また発熱よる温
度上昇は小さく正確に検査することができる画像処理検
査用照明装置を提供することを目的とする。
って、被写体通過領域において、被写界深度領域を有
し、立体物の撮像面を平均的に照明し、また発熱よる温
度上昇は小さく正確に検査することができる画像処理検
査用照明装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の課題を解
決するために次の構成とする。請求項１に記載の発明
は、前面に透光板を有する画像処理用の照明装置本体の
内部に、長焦点楕円形状の反射鏡を配置し、また同反射
鏡の一次焦点位置に線状の高圧放電ランプを配置してな
る画像処理検査用照明装置に関する。また照明装置本体
の一方の横側壁に冷却器を配置し、同冷却器からの冷却
風を照明装置本体の一方の横側壁に送り、他側の横側壁
から排風し、反射鏡の一次焦点位置に配置した線状の高
圧放電ランプを冷却するように構成してある。また反射
鏡の内面は拡散面に構成して、さらに二次焦点位置を通
過する被写体領域において、被写界深度領域を有するよ
うに構成してある。
決するために次の構成とする。請求項１に記載の発明
は、前面に透光板を有する画像処理用の照明装置本体の
内部に、長焦点楕円形状の反射鏡を配置し、また同反射
鏡の一次焦点位置に線状の高圧放電ランプを配置してな
る画像処理検査用照明装置に関する。また照明装置本体
の一方の横側壁に冷却器を配置し、同冷却器からの冷却
風を照明装置本体の一方の横側壁に送り、他側の横側壁
から排風し、反射鏡の一次焦点位置に配置した線状の高
圧放電ランプを冷却するように構成してある。また反射
鏡の内面は拡散面に構成して、さらに二次焦点位置を通
過する被写体領域において、被写界深度領域を有するよ
うに構成してある。
【０００６】請求項１に記載の発明によると、被写体通
過領域において、被写界深度領域を有するので、立体物
の撮像面を平均的に照明することができ、また発熱によ
る温度上昇は小さく被検査物を正確に検査することがで
きる。
過領域において、被写界深度領域を有するので、立体物
の撮像面を平均的に照明することができ、また発熱によ
る温度上昇は小さく被検査物を正確に検査することがで
きる。
【０００７】請求項２に記載の発明は、請求項１におけ
る画像処理検査用照明装置において、被写界深度領域
は、線状の高圧放電ランプと二次焦点位置の間で且つ基
点を中心に照度差が１５％以内として構成してある。
る画像処理検査用照明装置において、被写界深度領域
は、線状の高圧放電ランプと二次焦点位置の間で且つ基
点を中心に照度差が１５％以内として構成してある。
【０００８】請求項２に記載の発明によると、被写界深
度領域における照度差が小さく、平面物と立体物双方の
撮像面を正確に検査することができる。
度領域における照度差が小さく、平面物と立体物双方の
撮像面を正確に検査することができる。
【０００９】請求項３に記載の発明は、請求項１と請求
項２における画像処理検査用照明装置の透光板の中央付
近に照射光の透過率を調整するフロスト処理を施して構
成してある。
項２における画像処理検査用照明装置の透光板の中央付
近に照射光の透過率を調整するフロスト処理を施して構
成してある。
【００１０】請求項３に記載の発明によると、透光板に
より中央付近の光の透過率を制御し、被写界深度領域に
おける照度差は小さく、平面物と立体物双方の撮像面を
正確に検査することができる。
より中央付近の光の透過率を制御し、被写界深度領域に
おける照度差は小さく、平面物と立体物双方の撮像面を
正確に検査することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下本発明を図１乃至図４につい
て説明する。図１及び図２において、１１は照明装置本
体であって、例えば鋼板で箱形に構成してある。１２は
照明装置本体１１の透光部に支持してなる透光板であっ
て、例えば硬質ガラスで構成してある。また同透光板１
２の中央付近には照射光の透過率を調整するフロスト処
理を施して構成してある。このフロスト処理を施すこと
により照射領域の照度分布の均一化を図ることができ
る。１３は照明装置本体１１の一方の横側壁に形成した
送風口である。１４は照明装置本体１１の他方の横側壁
に形成した排風口であって、送風口１３に対応する位置
に形成してある。
て説明する。図１及び図２において、１１は照明装置本
体であって、例えば鋼板で箱形に構成してある。１２は
照明装置本体１１の透光部に支持してなる透光板であっ
て、例えば硬質ガラスで構成してある。また同透光板１
２の中央付近には照射光の透過率を調整するフロスト処
理を施して構成してある。このフロスト処理を施すこと
により照射領域の照度分布の均一化を図ることができ
る。１３は照明装置本体１１の一方の横側壁に形成した
送風口である。１４は照明装置本体１１の他方の横側壁
に形成した排風口であって、送風口１３に対応する位置
に形成してある。
【００１２】１５は照明装置本体１１の内部に支持して
なる長焦点楕円形状の反射鏡であって、例えばアルミニ
ウムで構成してある。また同反射鏡１５の反射鏡の内面
は、拡散面に構成してある。反射鏡の内面の拡散率は７
０％±２０％以内で構成してある。１６は反射鏡１５の
一次焦点位置に位置して装着してなる線状の高圧放電ラ
ンプであって、例えば消費電力１５０ワットの高圧ナト
リウムランプを用いて構成してある。１７は照明装置本
体１１の送風口１３の外側に位置して配置してなる冷却
器であって、ブロアーモータを用いて構成してある。同
冷却器１７を配置すると、線状の高圧放電ランプが直接
冷却されるので、温度上昇が小さく、照明装置を小型に
構成することができる。
なる長焦点楕円形状の反射鏡であって、例えばアルミニ
ウムで構成してある。また同反射鏡１５の反射鏡の内面
は、拡散面に構成してある。反射鏡の内面の拡散率は７
０％±２０％以内で構成してある。１６は反射鏡１５の
一次焦点位置に位置して装着してなる線状の高圧放電ラ
ンプであって、例えば消費電力１５０ワットの高圧ナト
リウムランプを用いて構成してある。１７は照明装置本
体１１の送風口１３の外側に位置して配置してなる冷却
器であって、ブロアーモータを用いて構成してある。同
冷却器１７を配置すると、線状の高圧放電ランプが直接
冷却されるので、温度上昇が小さく、照明装置を小型に
構成することができる。
【００１３】また反射鏡の内面の拡散率を７０％±２０
％以内に構成すると、長焦点楕円形状の反射鏡の二次焦
点位置において、被写体領域において、被写界深度領域
を形成することができる。つまり長焦点楕円形状の反射
鏡は、全体的には二次焦点位置に反射光は集光するが、
反射鏡の内面を拡散面に構成してあるので、反射光の一
部が被写体が通過する範囲において拡散し、所定の高さ
方向において、照度のバラツキが小さく、立体的な被検
査物に対して所定量の反射光が照射される。また有効な
被写界深度領域は、線状の高圧放電ランプと二次焦点位
置の間で且つ図３における基点０を中心に照度差が１５
％以内である。これは画像処理検査用装置の分野で通常
使用されているＣＣＤカメラにより、有効に検査するこ
とができる範囲である。また基点０は線状の高圧放電ラ
ンプと二次焦点位置の間における最大照度点である。同
画像処理検査用装置によると、有効な被写界深度領域は
拡大し、平面物の他、ビン，缶，ペットボトル等の被検
査物２２を正確に検査することができる。
％以内に構成すると、長焦点楕円形状の反射鏡の二次焦
点位置において、被写体領域において、被写界深度領域
を形成することができる。つまり長焦点楕円形状の反射
鏡は、全体的には二次焦点位置に反射光は集光するが、
反射鏡の内面を拡散面に構成してあるので、反射光の一
部が被写体が通過する範囲において拡散し、所定の高さ
方向において、照度のバラツキが小さく、立体的な被検
査物に対して所定量の反射光が照射される。また有効な
被写界深度領域は、線状の高圧放電ランプと二次焦点位
置の間で且つ図３における基点０を中心に照度差が１５
％以内である。これは画像処理検査用装置の分野で通常
使用されているＣＣＤカメラにより、有効に検査するこ
とができる範囲である。また基点０は線状の高圧放電ラ
ンプと二次焦点位置の間における最大照度点である。同
画像処理検査用装置によると、有効な被写界深度領域は
拡大し、平面物の他、ビン，缶，ペットボトル等の被検
査物２２を正確に検査することができる。
【００１４】次に上記した画像処理検査用照明装置の使
用例を図３について説明する。 照明装置本体１１の大きさは、例えば縦２００ｍｍ，
横１２０ｍｍ、高さ７０ｍｍに構成し、反射鏡は長さ１
５０ｍｍ、高さ５０ｍｍの長焦点楕円形状で、拡散反射
率７０％のものを用いて構成してある。また線状の高圧
放電ランプは、１５０ワットの高圧ナトリウムランプを
用いて構成してある。同線状の高圧放電ランプの長さは
５０ｍｍである。このように構成した照明装置を図３に
示すように、被検査物の斜め上方の対称位置に一対配置
する。 そして、反射鏡の二次焦点位置を含む被写体通過領域
内に高さＡ，Ｂ，Ｃの異なる搬送物２２を被検査物とし
て、配置して構成してある。また線状の高圧放電ランプ
から被検査物の基点０までの距離は２５０ｍｍ、線状の
高圧放電ランプから被検査物の上面までの距離はＡ面か
らＣ面までの高さで異なり、実施例では２２０乃至２８
０ｍｍまでとなっている。 同条件に基づき検査すると、被検査物が位置する被写
界深度領域における照度変化を表わすと図４に示すとお
りとなる。つまり基点０点を含むＢ面での最高照度を１
００％（１２５，０００ルックス）とした場合、被写界
深度±５０ｍｍのＡＣ面での照度は、８８％（１１０，
０００ルックス）となる。このように、被写界深度領域
における照度差が１５％以内であると画像処理検査用装
置の分野で通常使用されているＣＣＤカメラ感度の補正
範囲となり、正確に検査することができる。またカメラ
の位置は使用するカメラの性能、撮像エリア等の条件に
より設定され調整される。 またセンサーカメラが被検査物の異常を感知すると、
選別工程において、良品と不良品を選別することとな
る。 また上記した冷却器を設けて線状の高圧放電ランプを
冷却すると、ランプシール部の温度上昇は１８０ｄｅｇ
以下であるが、同じ条件で冷却器を設けないで線状の高
圧放電ランプを点灯すると、同部の温度上昇は２４０ｄ
ｅｇ以上となる。一般に温度上昇が２００ｄｅｇ以上と
大きい場合、シール部モリブ箔の酸化を招き、ランプが
短寿命となり使用することができないことが確認されて
いる。
用例を図３について説明する。 照明装置本体１１の大きさは、例えば縦２００ｍｍ，
横１２０ｍｍ、高さ７０ｍｍに構成し、反射鏡は長さ１
５０ｍｍ、高さ５０ｍｍの長焦点楕円形状で、拡散反射
率７０％のものを用いて構成してある。また線状の高圧
放電ランプは、１５０ワットの高圧ナトリウムランプを
用いて構成してある。同線状の高圧放電ランプの長さは
５０ｍｍである。このように構成した照明装置を図３に
示すように、被検査物の斜め上方の対称位置に一対配置
する。 そして、反射鏡の二次焦点位置を含む被写体通過領域
内に高さＡ，Ｂ，Ｃの異なる搬送物２２を被検査物とし
て、配置して構成してある。また線状の高圧放電ランプ
から被検査物の基点０までの距離は２５０ｍｍ、線状の
高圧放電ランプから被検査物の上面までの距離はＡ面か
らＣ面までの高さで異なり、実施例では２２０乃至２８
０ｍｍまでとなっている。 同条件に基づき検査すると、被検査物が位置する被写
界深度領域における照度変化を表わすと図４に示すとお
りとなる。つまり基点０点を含むＢ面での最高照度を１
００％（１２５，０００ルックス）とした場合、被写界
深度±５０ｍｍのＡＣ面での照度は、８８％（１１０，
０００ルックス）となる。このように、被写界深度領域
における照度差が１５％以内であると画像処理検査用装
置の分野で通常使用されているＣＣＤカメラ感度の補正
範囲となり、正確に検査することができる。またカメラ
の位置は使用するカメラの性能、撮像エリア等の条件に
より設定され調整される。 またセンサーカメラが被検査物の異常を感知すると、
選別工程において、良品と不良品を選別することとな
る。 また上記した冷却器を設けて線状の高圧放電ランプを
冷却すると、ランプシール部の温度上昇は１８０ｄｅｇ
以下であるが、同じ条件で冷却器を設けないで線状の高
圧放電ランプを点灯すると、同部の温度上昇は２４０ｄ
ｅｇ以上となる。一般に温度上昇が２００ｄｅｇ以上と
大きい場合、シール部モリブ箔の酸化を招き、ランプが
短寿命となり使用することができないことが確認されて
いる。
【００１５】
【発明の効果】上記した請求項１に記載の発明による
と、被写体通過領域において、被写界深度領域を有する
こととなり、平面物のほか立体物をも正確に検査するこ
とができ、また発熱による温度上昇を低減でき装置の小
型化も図ることができる特別な効果がある。
と、被写体通過領域において、被写界深度領域を有する
こととなり、平面物のほか立体物をも正確に検査するこ
とができ、また発熱による温度上昇を低減でき装置の小
型化も図ることができる特別な効果がある。
【００１６】上記した請求項２に記載の発明によると、
被写界深度領域における照度差が小さく、平面物と立体
物双方の撮像面を正確に検査することができる特別な効
果がある。
被写界深度領域における照度差が小さく、平面物と立体
物双方の撮像面を正確に検査することができる特別な効
果がある。
【００１７】上記した請求項３に記載の発明によると、
透光板により光の透過率を制御し、被写界深度領域にお
ける照度差を小さくすることができ、平面物と立体物を
正確に検査することができる。
透光板により光の透過率を制御し、被写界深度領域にお
ける照度差を小さくすることができ、平面物と立体物を
正確に検査することができる。
【図１】本発明に係る画像処理検査用照明装置の照射器
の斜視図。
の斜視図。
【図２】本発明に係る画像処理検査用照明装置の照射器
の正面図。
の正面図。
【図３】本発明に係る画像処理検査用照明装置の照射器
の実施例図。
の実施例図。
【図４】本発明における被写界深度領域における照度変
化図。
化図。
【図５】従来の画像処理検査用照明装置の使用例を示す
正面図。
正面図。
１１ 照明装置本体 １２ 透光板 １３ 送風口 １４ 排風口 １５ 反射鏡 １６ 線状の高圧放電ランプ １７ 冷却器 ２１ カメラ ２２ 被検査物
Claims (3)
- 【請求項１】前面に透光板を有する画像処理用の照明装
置本体の内部に、長焦点楕円形状の反射鏡を配置し、ま
た同反射鏡の一次焦点位置に線状の高圧放電ランプを配
置してなる画像処理検査用照明装置において、照明装置
本体の一方の横側壁に冷却器を配置し、同冷却器からの
冷却風を照明装置本体の一方の横側壁に送り、他側の横
側壁から排風して、反射鏡の一次焦点位置に配置した線
状の高圧放電ランプを冷却し、また反射鏡の内面は拡散
面に構成して、二次焦点位置を通過する被写体領域にお
いて、被写界深度領域を有することを特徴とする画像処
理検査用照明装置。 - 【請求項２】被写界深度領域は、線状の高圧放電ランプ
と二次焦点位置の間で且つ基点を中心に照度差が１５％
以内としたことを特徴とする請求項１記載の画像処理検
査用照明装置。 - 【請求項３】透光板の中央付近に照射光の透過率を調整
するフロスト処理を施したことを特徴とする請求項１記
載または請求項２記載の画像処理検査用照明装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11050222A JP2000251519A (ja) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | 画像処理検査用照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11050222A JP2000251519A (ja) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | 画像処理検査用照明装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000251519A true JP2000251519A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=12853032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11050222A Pending JP2000251519A (ja) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | 画像処理検査用照明装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000251519A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018036122A (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | ケイミュー株式会社 | 色調検査装置及び色調検査方法 |
-
1999
- 1999-02-26 JP JP11050222A patent/JP2000251519A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018036122A (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | ケイミュー株式会社 | 色調検査装置及び色調検査方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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|
| A977 | Report on retrieval |
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