JP2000230909A - Apparatus for inspecting flaw of heat insulating material - Google Patents

Apparatus for inspecting flaw of heat insulating material

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JP2000230909A
JP2000230909A JP11033106A JP3310699A JP2000230909A JP 2000230909 A JP2000230909 A JP 2000230909A JP 11033106 A JP11033106 A JP 11033106A JP 3310699 A JP3310699 A JP 3310699A JP 2000230909 A JP2000230909 A JP 2000230909A
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heat insulating
insulating material
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defect
test
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Japanese (ja)
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Toshiharu Shindo
敏晴 新藤
Yasuo Katogi
保男 加藤木
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Japan Tobacco Inc
JT Engineering Inc
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Japan Tobacco Inc
JT Engineering Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flaw inspecting apparatus capable of efficiently and accurately inspecting a flaw of a heat insulating material, which is formed by molding glass wool by using an adhesive, by image processing. SOLUTION: The flaw inspecting apparatus is constituted so that a test heat insulating material X is supported in parallel to a standard heat insulating material Y (support mechanism 1), the end surfaces of the respective heat insulating materials are caught within the same visual field to be photographed to form images, and the color data of the test heat insulating material is judged on the basis of the color data of the standard heat insulating material in the images to detect a flaw (a camera 2, an end surface image processing part 3, a flaw judging part 4). The peripheral surface images consisting of the blue and red light components of the surface of the test heat insulating material are individually obtained, and the images of respective color components are discriminated on the basis of a predetermined threshold value to respectively detect a discoloration flaw and an uneven flaw (cameras 5,6, peripheral surface image processing parts 8, 9).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、グラスウールを接
着剤を用いて板状または円筒状に成形してなる断熱材の
表面欠陥を、画像処理により効率的に精度良く検査し得
る欠陥検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect inspection apparatus capable of efficiently and accurately inspecting a surface defect of a heat insulating material formed by molding glass wool into a plate or a cylinder using an adhesive by image processing. .

【0002】[0002]

【関連する背景技術】グラスウールを接着剤を用いて板
状または円筒状に成形してなる断熱材(保温剤)は、壁
等に埋め込まれる建築用断熱素材として、或いは配管の
外周を覆う被覆素材として用いられる。ところでこの種
の断熱材にあっては、種々の製造要因に起因してその表
面からのグラスウールの部分的な剥がれが生じたり、ま
た表面から剥がれたグラスウール(切れ端)が他の部位
に付着する等の欠陥が生じることがある。また円筒状の
断熱材にあっては、グラスウールの巻き付きムラに起因
して部分的にしわが生じることがある。このような欠陥
は、凹凸欠陥と称される。
[Related Background Art] A heat insulating material (heat insulating material) formed by molding glass wool into a plate shape or a cylindrical shape using an adhesive is used as a heat insulating material for construction embedded in a wall or the like, or a coating material for covering an outer periphery of a pipe. Used as By the way, in this type of heat insulating material, glass wool is partially peeled off from its surface due to various manufacturing factors, and glass wool (cut pieces) peeled off from the surface adheres to other parts. Defects may occur. In the case of a cylindrical heat insulating material, wrinkles may be partially generated due to uneven winding of glass wool. Such a defect is called an irregularity defect.

【0003】また断熱材の成型時に混入した水分によ
り、その素材であるグラスウールが部分的に固化した
り、その成形に用いた接着剤が局部的な塊をなして固化
する等の欠陥が発生することもある。特に上記水分に起
因するグラスウールの部分的な固化は未焼けと称され、
黄色に着色される断熱材の表面に白色化した色ムラとし
て現れる。また接着剤の固化部分は茶色の色ムラとして
現れる。
[0003] In addition, the moisture mixed during the molding of the heat insulating material causes defects such as partial solidification of the glass wool as the material, and solidification of the adhesive used for the molding in a local lump. Sometimes. In particular, the partial solidification of glass wool caused by the water is called unburned,
Appears as white color unevenness on the surface of the heat insulating material that is colored yellow. The solidified portion of the adhesive appears as brown color unevenness.

【0004】従来、このような凹凸欠陥や色ムラ欠陥を
含む断熱材を不良品として排除するべく、専ら、検査員
による断熱材表面の目視検査が行われている。しかしな
がらその検査には多大な手間と労力が掛かることが否め
ず、検査効率も甚だ悪い。
Conventionally, a visual inspection of the surface of a heat insulating material has been performed exclusively by an inspector in order to exclude a heat insulating material having such unevenness defects and color unevenness defects as defective products. However, the inspection requires a great deal of labor and labor, and the inspection efficiency is extremely poor.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】そこで上記欠陥検査の
自動化の一手法としてカメラを用いて断熱材の表面像を
撮像し、画像処理技術を用いることで上述した欠陥を検
出することが考えられている。しかしながら断熱材の表
面は濃淡のある黄色の繊維模様をなしており、画像上に
おいて上記繊維模様と色ムラ、および凹凸による明暗と
を明確に区別することが困難であると言う問題があっ
た。特に色ムラを強調するべく画像処理を施すと繊維模
様までが強調され、凹凸による明暗との区別が困難とな
る。逆に断熱材表面の凹凸を検出するべく、画像処理に
よって前記繊維模様を消すようにすると、これによって
色ムラの情報までが失われると言う問題があった。
Therefore, as a method of automating the above-mentioned defect inspection, it has been considered that a surface image of the heat insulating material is captured using a camera and the above-described defect is detected by using an image processing technique. I have. However, the surface of the heat insulating material has a dark yellow fiber pattern, and there is a problem that it is difficult to clearly distinguish the fiber pattern from color unevenness and light and dark due to unevenness on an image. In particular, when image processing is performed to enhance color unevenness, even the fiber pattern is emphasized, and it is difficult to distinguish between light and dark due to unevenness. Conversely, if the fiber pattern is erased by image processing in order to detect the irregularities on the surface of the heat insulating material, there is a problem that even the information on the color unevenness is lost.

【0006】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たもので、その目的は、画像処理により断熱材の表面欠
陥を、特にその凹凸欠陥と色ムラ欠陥とを明確に区別し
ながら簡易に精度良く、しかも効率的に検査することの
できる断熱材の欠陥検査装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to easily and easily distinguish surface defects of a heat insulating material by image processing while clearly distinguishing the unevenness defects and color unevenness defects. It is an object of the present invention to provide a heat-insulating-material defect inspection apparatus capable of inspecting accurately and efficiently.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
べく本発明に係る断熱材の欠陥検査装置は、グラスウー
ルを接着剤を用いて板状または円筒状に成形してなる断
熱材の欠陥を画像処理により検査するものであって、検
査に供する試験断熱材(検査品)を、欠陥検査の基準と
なる標準断熱材(良品)と並べて支持する支持機構と、
この支持機構に支持された上記試験断熱材および前記標
準断熱材の各切断端面を同一視野内に捉えて同時に撮像
し、その撮像画像中において検出される前記標準断熱材
の色情報を基準として前記試験断熱材の色情報を判定し
て該試験断熱材における切断端面の欠陥を検出する端面
欠陥検出手段と、前記試験断熱材の表面の青色光成分か
らなる像を撮像することで、正常な表面色である黄色に
対して白色および茶色の変色部分(色ムラ部分)を強調
した画像を得、この青色光成分の画像を所定の閾値で弁
別して前記試験断熱材の表面における変色欠陥(色ムラ
欠陥)を検出する変色欠陥検出手段と、前記試験断熱材
の表面の赤色光成分からなる像を撮像することで、表面
の繊維模様や色ムラに依存することのない凹凸による明
暗を強調した画像を得、この赤色光成分の画像を所定の
閾値で弁別して前記試験断熱材の表面における凹凸欠陥
を検出する凹凸欠陥検出手段とを具備したことを特徴と
している。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above-mentioned object, a defect inspection apparatus for a heat insulating material according to the present invention is designed to detect a defect in a heat insulating material formed by molding glass wool into a plate or a cylinder using an adhesive. A support mechanism for inspecting by image processing, supporting a test insulation material (inspected product) to be inspected side by side with a standard insulation material (non-defective product) serving as a reference for defect inspection;
The cut end faces of the test heat insulating material and the standard heat insulating material supported by the support mechanism are simultaneously captured in the same field of view and imaged at the same time. An end face defect detecting means for judging color information of the test heat insulating material to detect a defect of a cut end face in the test heat insulating material, and capturing an image composed of a blue light component on the surface of the test heat insulating material to obtain a normal surface An image in which white and brown discolored portions (color unevenness portions) are emphasized with respect to yellow as a color is obtained, and the image of the blue light component is discriminated by a predetermined threshold value, and a discoloration defect (color unevenness) on the surface of the test heat insulating material is obtained. (Defect) detecting means for detecting discoloration defect, and an image in which the image composed of red light components on the surface of the test heat insulating material is imaged to emphasize the lightness and darkness due to irregularities that do not depend on the fiber pattern or color unevenness on the surface. Obtained, it is characterized by comprising a concavo-convex defect detecting means for detecting the irregular defect on the surface of the image of the red light component and discrimination at a predetermined threshold value the test insulation.

【0008】好ましくは請求項2に記載するように前記
変色欠陥検出手段においては、例えばカメラに装着され
た青色透過フィルタを介して前記試験断熱材の表面の青
色光成分からなる単色画像(モノクローム画像)を得、
また前記凹凸欠陥検出手段においては、赤色透過フィル
タを介して前記試験断熱材の表面の赤色光成分からなる
単色画像(モノクローム画像)を得ることを特徴として
いる。この場合、青色透過フィルタおよび赤色透過フィ
ルタをそれぞれ装着した2台のカメラにて上記各色成分
の画像を同時に得るようにしても良く、或いはカメラに
装着するフィルタを交換することで、前記各色成分の画
像を順次に得るようにしても良い。
Preferably, in the discoloration defect detecting means, a monochromatic image (monochrome image) composed of a blue light component on the surface of the test heat insulating material is passed through a blue transmission filter mounted on a camera, for example. )
The unevenness defect detecting means is characterized in that a monochromatic image (monochrome image) composed of a red light component on the surface of the test heat insulating material is obtained through a red transmission filter. In this case, two cameras equipped with a blue transmission filter and a red transmission filter, respectively, may simultaneously obtain the images of the respective color components, or by exchanging the filters mounted on the cameras, Images may be obtained sequentially.

【0009】或いは請求項3に記載するように前記変色
欠陥検出手段においては、前記試験断熱材を青色光にて
照明してその表面を撮像することで青色光成分からなる
単色画像(モノクローム画像)を得、前記凹凸欠陥検出
手段においては、前記試験断熱材の表面を赤色光にて照
明してその表面を撮像することで赤色光成分からなる単
色画像(モノクローム画像)を得ることを特徴としてい
る。この場合、試験断熱材を照明する光源を順次に切り
替えながら、前記各色成分の画像をそれぞれ得るように
すれば良い。
Alternatively, in the discoloration defect detecting means, the test heat insulating material is illuminated with blue light and an image of the surface is taken, so that a monochromatic image (monochrome image) composed of a blue light component is obtained. In the uneven defect detecting means, a monochromatic image (monochrome image) composed of a red light component is obtained by illuminating the surface of the test heat insulating material with red light and imaging the surface. . In this case, the images of the respective color components may be obtained while sequentially switching the light source for illuminating the test heat insulating material.

【0010】また本発明の好ましい態様は、請求項4に
記載するように前記支持機構は、円筒状に成形してなる
断熱材の周面を支持し、該断熱材を回転させる回転部
材、例えば2条のローラやV型コンベアを備え、断熱材
を回転させながらその周面の全域を連続して撮像し得る
ように構成することが望ましい。また請求項5に記載す
るように前記各欠陥検出手段においては、前記試験断熱
材の画像中の欠陥が検出された部位を、例えばその表示
色を変える等してそれぞれ識別強調表示する手段を備え
ることが好ましい。
In a preferred aspect of the present invention, the support mechanism supports a peripheral surface of a heat insulating material formed into a cylindrical shape and rotates the heat insulating material, for example, It is desirable to provide two rollers and a V-shaped conveyor so as to be able to continuously take an image of the entire peripheral surface while rotating the heat insulating material. Further, as described in claim 5, each of the defect detection means includes means for identifying and highlighting a portion of the image of the test insulation material where a defect is detected, for example, by changing its display color. Is preferred.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態に係る断熱材の欠陥検査装置について説明す
る。図1は円筒状に成形された断熱材の表面欠陥を検査
するべく構成された欠陥検査装置の概略構成図で、1は
円筒状の試験断熱材Xを載置して欠陥検査に供する支持
機構である。この支持機構1は、例えば平行に配置され
た一対のローラ1a,1b(回転部材)からなり、モー
タ1cにより一方向に回転駆動されてその上部に載置さ
れた試験断熱材Xを回転させながら欠陥検査に供する。
またこの支持機構1の上記ローラ1a,1bの下方位置
には、欠陥検査の基準として用いられる良品の標準断熱
材Y1が、前記ローラ1a,1b上に載置される試験断熱
材Xとその軸方向を揃え、且つその切断端面を揃えて配
置される。換言すれば前記試験断熱材Xは、標準断熱材
Y1とその切断端面位置を合わせて前記ローラ1a,1b
上に載置されて欠陥検査に供せられる。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing a defect inspection apparatus for a heat insulating material according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a defect inspection apparatus configured to inspect a surface defect of a cylindrical heat insulating material, and 1 is a support mechanism for placing a cylindrical test heat insulating material X and performing defect inspection. It is. The support mechanism 1 includes, for example, a pair of rollers 1a and 1b (rotating members) arranged in parallel, and is driven to rotate in one direction by a motor 1c to rotate a test heat insulating material X placed thereon. Provide for defect inspection.
At a position below the rollers 1a and 1b of the support mechanism 1, a non-defective standard heat insulating material Y1 used as a reference for defect inspection includes a test heat insulating material X placed on the rollers 1a and 1b and a shaft thereof. The directions are aligned and the cut end faces are aligned. In other words, the test heat insulating material X is formed by aligning the cut ends of the standard heat insulating material Y1 with the rollers 1a and 1b.
It is placed on the top and subjected to defect inspection.

【0012】また前記支持機構1における上記ローラ1
a,1bの一端側には、上述した如く標準断熱材Y1とそ
の切断端面位置を合わせて前記ローラ1a,1b上に載
置される試験断熱材Xとその軸心を合わせて、欠陥検査
の基準として用いられる良品の標準断熱材Y2が配置さ
れる。これらの各標準断熱材Y1,Y2は、基本的には試
験断熱材Xと同一仕様のものからなるが、その切断端面
および周面(表面)の各状態見本(基準)として用いら
れるものであるので、所定の長さに切断した短尺のもの
であっても良い。
The roller 1 in the support mechanism 1
As described above, one end side of each of the a and 1b is aligned with the standard heat insulating material Y1 and the cut end face thereof, and the test heat insulating material X placed on the rollers 1a and 1b is aligned with the axis thereof to perform the defect inspection. A non-defective standard heat insulating material Y2 used as a reference is arranged. Each of these standard heat insulating materials Y1 and Y2 is basically made of the same specification as the test heat insulating material X, but is used as each state sample (reference) of the cut end surface and the peripheral surface (surface). Therefore, it may be a short one cut to a predetermined length.

【0013】さて上記支持機構1に支持された試験断熱
材X、およびこの試験断熱材Xに並べて配置された標準
断熱材Y1の各切断端部に対向する位置には、これらの
各切断端面を同一視野内に並べて捉え、これらの各端面
を1枚の画像として同時に撮像するカラーカメラ2が設
けられている。尚、上記試験断熱材Xおよび標準断熱材
Y1の各切断端面は、例えば白色光源(図示せず)によ
り一様に照明され、この照明条件下において前記カラー
カメラ2により撮像される。そして上記カラーカメラ2
により撮像された前記試験断熱材Xおよび標準断熱材Y
1の各端面の、例えば図2(a)示すような端面像E(E
x,Ey)は、端面画像処理部3を介して所定の画像処理
が施された後、マイクロプロセッサ等からなる欠陥判定
部4に与えられて後述するように欠陥検査されるように
なっている。
The cut end faces of the test heat insulating material X supported by the support mechanism 1 and the cut end portions of the standard heat insulating material Y1 arranged side by side with the test heat insulator X are located at the positions opposed to the cut end portions. A color camera 2 is provided which captures the respective end faces as one image at the same time by arranging them in the same visual field. Each of the cut end faces of the test heat insulating material X and the standard heat insulating material Y1 is uniformly illuminated by, for example, a white light source (not shown), and is imaged by the color camera 2 under this illumination condition. And the above color camera 2
Test insulation material X and standard insulation material Y imaged by
For example, as shown in FIG. 2A, an end face image E (E
(x, Ey) is subjected to predetermined image processing via an end face image processing unit 3, and then given to a defect determination unit 4 composed of a microprocessor or the like so as to be inspected for defects as described later. .

【0014】一方、前記支持機構1の上方位置には、前
記ローラ1a,1b上で回転する断熱材Xの上面(周
面)と、この試験断熱材Xの軸端部に配置された標準断
熱材Y2とをその軸方向に走査して撮像するライン走査
型の2台のモノクロームカメラ5,6が並べて設けられ
ている。これらのモノクロームカメラ5,6は、そのレ
ンズ部に青色透過フィルタ(図示せず)および赤色透過
フィルタ(図示せず)をそれぞれ装着したもので、試験
断熱材Xおよび標準断熱材Y2の側方に配置された白色
光源7a,7bにより、その側部上方から照明された試
験断熱材Xおよび標準断熱材Y2の各周面を上記各フィ
ルタを介してそれぞれ撮像することで、青色光成分の単
色画像(モノクローム画像)および赤色光成分の単色画
像(モノクローム画像)を得るものとなっている。特に
各モノクロームカメラ5,6は、前述した如くローラ1
a,1b上で回転される試験断熱材Xおよび標準断熱材
Y2の周面を連続的に撮像することで、該試験断熱材X
および標準断熱材Y2の周面を平面的に展開した画像と
して、その周面画像を得るものとなっている。
On the other hand, above the support mechanism 1, the upper surface (peripheral surface) of the heat insulating material X rotating on the rollers 1a and 1b, and the standard heat insulating material X disposed at the end of the shaft of the test heat insulating material X. Two line scanning type monochrome cameras 5 and 6 for scanning the material Y2 in the axial direction and capturing an image are provided side by side. These monochrome cameras 5 and 6 have a blue transmission filter (not shown) and a red transmission filter (not shown) mounted on their lens portions, respectively, and are provided beside the test heat insulating material X and the standard heat insulating material Y2. The peripheral surfaces of the test heat insulating material X and the standard heat insulating material Y2 illuminated from above the side by the arranged white light sources 7a and 7b are imaged through the filters, respectively, so that a monochromatic image of a blue light component is obtained. (Monochrome image) and a monochromatic image (monochrome image) of a red light component. In particular, each of the monochrome cameras 5 and 6 has the roller 1 as described above.
a, 1b, the peripheral surfaces of the test heat insulating material X and the standard heat insulating material Y2 are continuously imaged.
In addition, a peripheral image of the peripheral surface of the standard heat insulating material Y2 is obtained as an image developed in a plane.

【0015】しかして各モノクロームカメラ5,6にて
それぞれ撮像された試験断熱材Xおよび標準断熱材Y2
の周面の上記青色光成分Bおよび赤色光成分Rからな
る、例えば図2(b)(c)にそれぞれ示すような周面画像
Cb(Cbx,Cby),Cr(Crx,Cry)は、周面画像処理
部8,9を介してそれぞれ所定の画像処理(2値化)が
施された後、前記欠陥判定部4に与えられて後述するよ
うに欠陥検査されるようになっている。
Thus, the test insulation X and the standard insulation Y2 imaged by the monochrome cameras 5 and 6, respectively.
For example, the peripheral images Cb (Cbx, Cby) and Cr (Crx, Cry) as shown in FIGS. 2B and 2C, respectively, composed of the blue light component B and the red light component R on the peripheral surface of FIG. After being subjected to predetermined image processing (binarization) via the plane image processing units 8 and 9, the image data is given to the defect determination unit 4 and inspected for defects as described later.

【0016】尚、ここでは2体のモノクロームカメラ
5,6に青色透過フィルタおよび赤色透過フィルタをそ
れぞれ装着して青色光成分Bおよび赤色光成分Rの各周
面画像Cb,Crを得るものとして説明するが、1台のモ
ノクロームカメラだけを用い、該モノクロームカメラに
装着するフィルタを交互に交換することで、青色光成分
Bおよび赤色光成分Rの各周面画像Cb,Crを交互に撮
像入力するようにしても良い。またモノクロームカメラ
に青色透過フィルタおよび赤色透過フィルタを選択的に
装着することに代えて、前記試験断熱材Xおよび標準断
熱材Y2の周面を照明する光自体を、青色光波長の照明
光および赤色光波長の照明光として交互に切り替え、こ
れらの各照明光条件において前述した青色光成分Bおよ
び赤色光成分Rの各周面画像Cb,Crをそれぞれ求める
ようにしても良い。この場合、前述した青色透過フィル
タおよび赤色透過フィルタをそれぞれ併用することも勿
論可能である。
Here, it is assumed that a blue transmission filter and a red transmission filter are attached to the two monochrome cameras 5 and 6, respectively, to obtain peripheral images Cb and Cr of a blue light component B and a red light component R. However, by using only one monochrome camera and alternately exchanging filters attached to the monochrome camera, the peripheral images Cb and Cr of the blue light component B and the red light component R are alternately captured and input. You may do it. Instead of selectively mounting the blue transmission filter and the red transmission filter on the monochrome camera, the light itself for illuminating the peripheral surfaces of the test insulation X and the standard insulation Y2 is changed to illumination light of a blue light wavelength and red light. The illumination light of the light wavelength may be alternately switched, and the peripheral images Cb and Cr of the blue light component B and the red light component R described above may be obtained under these illumination light conditions. In this case, it is of course possible to use the above-mentioned blue transmission filter and red transmission filter together.

【0017】ここで上述した如く撮像される各画像と試
験断熱材Xにおけるに欠陥とについて説明する。断熱材
の表面に生じる色ムラはその主体である繊維模様をなす
黄色に対して、その製造時に含まれる水分に起因して生
じる未焼け部分の白色部分と、その成形に用いた接着剤
の塊をなす茶色部分とからなる。このような白色部分お
よび茶色部分を、その主体をなす黄色領域から検出しよ
うとした場合、例えば全波長領域の白色光での照明条件
下においては白色と黄色との輝度レベル差が小さく、ま
た黄色と茶色との輝度レベル差の小さいので、これらの
変色(色ムラ)部分を確実に検出することが困難であ
る。しかも照明ムラがあったり、その照明条件が変化す
ると、その検出が益々困難となる。
Here, the images picked up as described above and defects in the test heat insulating material X will be described. The color unevenness that occurs on the surface of the heat insulating material is mainly yellow, which is a fibrous pattern, and the white part of the unburned part caused by the moisture contained in the production and the lump of the adhesive used in the molding And a brown part. When trying to detect such a white portion and a brown portion from the yellow region which is the main component, for example, under illumination conditions of white light in the entire wavelength region, the luminance level difference between white and yellow is small, and It is difficult to reliably detect these discolored (color unevenness) portions because the difference in luminance level between the color and the brown is small. Moreover, if there is uneven illumination or the illumination conditions change, it becomes more difficult to detect them.

【0018】そこで本装置においては、前述したように
断熱材周面の青色光成分(青波長領域)だけを単色画像
として取り込むことで、上記白色部分と茶色部分との輝
度レベル差を強調し、これによって白色部分および茶色
部分からなる色ムラを確実に検出し得るようにしてい
る。即ち、白色は全波長領域を含む光成分であり、青色
透過フィルタを介してその青色成分だけを選択的に抽出
したとしても、その輝度レベルが落ち込むことがない。
これに対して茶色は黄色よりも輝度レベルが低い上、赤
色成分を多く含んでおり、青色透過フィルタを介してそ
の青色成分だけを選択的に抽出するとその輝度レベルが
大幅に落ち込む(低下する)。このような白色および茶
色に対して、その主体をなす黄色は、赤色と緑色との中
間波長成分からなり、青色透過フィルタを介してその青
色成分だけを選択的に抽出してもその輝度レベルの落ち
込みは僅かである。
Therefore, in the present apparatus, as described above, only the blue light component (blue wavelength region) on the peripheral surface of the heat insulating material is captured as a single-color image, so that the brightness level difference between the white portion and the brown portion is emphasized. This ensures that color unevenness consisting of a white portion and a brown portion can be detected. That is, white is a light component including the entire wavelength range, and even if only the blue component is selectively extracted through the blue transmission filter, the luminance level does not drop.
On the other hand, brown has a lower luminance level than yellow and contains a lot of red components. When only the blue component is selectively extracted through a blue transmission filter, the luminance level drops significantly (decreases). . In contrast to such white and brown colors, yellow, which is the main component, consists of intermediate wavelength components between red and green. Even if only the blue component is selectively extracted through a blue transmission filter, the luminance level of the yellow component is reduced. The dip is slight.

【0019】従って青色透過フィルタを介して白色、黄
色、茶色の各色成分における青色成分を選択的に抽出す
ると 青[白]>黄>(赤)>茶 の順序でその輝度レベルが変化し、黄色を主体とする断
熱材の表面に対して白色および茶色の変色(色ムラ)部
分が強調されて白色部分が明るく(高輝度)、また茶色
部分が暗く(低輝度)なる。青色透過フィルタを装着し
たモノクロームカメラ5は、このような性質を有する青
色光成分(青色波長領域)Bの周面画像Cbを取り込む
ことで、白色および茶色の変色部分(色ムラ部分)の検
出の容易化を図っている。
Therefore, when the blue component of each of the white, yellow, and brown color components is selectively extracted through the blue transmission filter, the luminance level changes in the order of blue [white]>yellow>(red)> brown, and The color change (color unevenness) of white and brown is emphasized with respect to the surface of the heat insulating material mainly composed of, and the white portion becomes bright (high luminance) and the brown portion becomes dark (low luminance). The monochrome camera 5 equipped with the blue transmission filter captures the peripheral image Cb of the blue light component (blue wavelength region) B having such properties to detect a white and brown discolored portion (color unevenness portion). We are trying to make it easier.

【0020】一方、断熱材の表面に存在する凹凸は、そ
の側方からの照明光による陰影として現れる。しかし凹
凸に起因する陰影は、断熱材の表面に現れる繊維模様と
の区別が付き難い。そこで本装置においては、前述した
ように断熱材周面の赤色光成分(赤波長領域)だけを単
色画像として取り込むことで、凹凸に起因する陰影だけ
を強調した情報とし、その凹凸欠陥を確実に検出し得る
ようにしている。
On the other hand, the unevenness existing on the surface of the heat insulating material appears as a shadow due to the illumination light from the side. However, the shadow caused by the unevenness is difficult to distinguish from the fiber pattern appearing on the surface of the heat insulating material. Therefore, in the present apparatus, as described above, by capturing only the red light component (red wavelength region) on the peripheral surface of the heat insulating material as a single-color image, information emphasizing only the shadow caused by the unevenness is obtained, and the unevenness defect is reliably detected. So that it can be detected.

【0021】即ち、前述した白色は全波長領域を含む光
成分であるから、赤色透過フィルタを介してその赤色成
分だけを選択的に抽出したとしても、その輝度レベルが
落ち込むことがない。また茶色は赤色成分を多く含んだ
ものであるから、赤色透過フィルタを介してその赤色成
分だけを選択的に抽出してもその輝度レベルが落ち込む
ことはない。更にその主体をなす黄色は、赤色と緑色と
の中間波長成分からなり、赤色透過フィルタを介してそ
の赤色成分だけを選択的に抽出してもその輝度レベルの
落ち込みは僅かである。また黄色の繊維模様は薄黄色と
濃黄色からなる色差の少ないものであり、赤色透過フィ
ルタを介してその赤色成分だけを選択的に抽出するとそ
の差が殆ど失われる。
That is, since the white color is a light component including the entire wavelength range, even if only the red component is selectively extracted through the red transmission filter, the luminance level does not drop. Also, since brown contains many red components, even if only the red components are selectively extracted through the red transmission filter, the luminance level does not drop. Further, yellow, which is the main component, has an intermediate wavelength component between red and green. Even if only the red component is selectively extracted through a red transmission filter, the drop in the luminance level is slight. The yellow fiber pattern has a small color difference between light yellow and dark yellow. If only the red component is selectively extracted through a red transmission filter, the difference is almost lost.

【0022】この結果、赤色透過フィルタを介して断熱
材の周面画像Cr(Crx,Cry)を求めると、上述した白
色部分、茶色部分、および繊維模様をなす黄色部分の輝
度レベルがほぼ等しくなり、これらの違いを見分けるこ
とが殆ど不可能になる。その反面、凹凸に起因する陰影
は輝度レベルの差としてそのまま現れるので、これによ
って断熱材表面の凹凸に起因する陰影を強調した画像C
rを得ることが可能となり、色ムラや繊維模様に左右さ
れることなく、その凹凸欠陥を容易に検出することが可
能となる。
As a result, when the peripheral surface image Cr (Crx, Cry) of the heat insulating material is obtained through the red transmission filter, the brightness levels of the white portion, the brown portion, and the yellow portion forming the fiber pattern are substantially equal. , It becomes almost impossible to discern these differences. On the other hand, since the shadow caused by the unevenness appears as a difference in the brightness level, the image C in which the shadow caused by the unevenness on the surface of the heat insulating material is emphasized.
r can be obtained, and the unevenness defect can be easily detected without being affected by color unevenness or fiber pattern.

【0023】これに対して断熱材の切断端面には、グラ
スウールの巻き付けによる黄色の層状の模様が現れる。
そしてこの切断端面には、希に白色の未焼け部分が露出
することがある。しかもこの切断端面における色ムラ
は、前述した断熱材表面の色ムラよりも微妙な色変化と
して現れることが多い。そこで本装置においてはその微
妙な色変化を確実に検出するべく、単色画像よりもより
色情報量が格段に多いカラー画像として切断端面の画像
Eを求め、その輝度情報から白色の変色部分(色ムラ部
分)を検出するものとなっている。特に上記カラー画像
は、その照明条件によって色情報に違いが生じ易いこと
から、標準断熱材Y1の切断端面像Eyと試験断熱材Xの
切断端面画像Exとを1つの画像上に同時に得、上記標
準断熱材Y1の切断端面像Eyの色情報を基準として試験
断熱材Xの切断端面画像Exを判定処理することで、照
明条件の揺らぎに拘わることなくその変色部分(色ムラ
部分)を確実に検出するものとなっている。
On the other hand, on the cut end surface of the heat insulating material, a yellow layered pattern appears due to the winding of glass wool.
A rarely unburned white portion may be exposed on the cut end surface. In addition, the color unevenness on the cut end surface often appears as a more subtle color change than the color unevenness on the heat insulating material surface described above. Therefore, in this apparatus, in order to reliably detect the subtle color change, an image E of the cut end face is obtained as a color image having a much larger amount of color information than a single-color image, and a white discolored portion (color) is obtained from the luminance information. (Uneven portion). In particular, since the color image tends to have a difference in color information depending on the lighting conditions, the cut end face image Ey of the standard heat insulating material Y1 and the cut end face image Ex of the test heat insulating material X are simultaneously obtained on one image. By determining the cut end face image Ex of the test heat insulating material X on the basis of the color information of the cut end face image Ey of the standard heat insulating material Y1, the discolored portion (color unevenness portion) can be surely obtained regardless of the fluctuation of the lighting condition. Is to be detected.

【0024】かくしてこのように構成された装置によれ
ば、前記カラーカメラ2は、例えば図2(a)に示すよう
に標準断熱材Y1および試験断熱材Xの各切断端面を並
べて撮像した端面画像Ey,Exを含む検査画像Eを得る
ことになる。またモノクロームカメラ5,6は前記試験
断熱材Xの回転に伴ってその周面を展開した状態で、例
えば図2(b)に示すような青色光成分の周面画像Cb
(Cbx,Cby)と、図2(c)に示すような赤色光成分の
周面画像Cr(Crx,Cry)とをそれぞれ得ることにな
る。
According to the apparatus thus constructed, the color camera 2 has an end face image obtained by arranging the cut end faces of the standard heat insulating material Y1 and the test heat insulating material X side by side as shown in FIG. An inspection image E including Ey and Ex is obtained. In addition, the monochrome cameras 5 and 6 are developed in a state where the peripheral surface is developed with the rotation of the test heat insulating material X, and for example, a peripheral image Cb of a blue light component as shown in FIG.
(Cbx, Cby) and the peripheral image Cr (Crx, Cry) of the red light component as shown in FIG.

【0025】しかして端面画像処理部3は、図2(a)に
示すように標準断熱材Y1および試験断熱材Xの各端面
画像Ex,Eyを含むRGB3原色のカラー画像を、その
輝度成分V、色彩成分S、および色相成分Hに変換処理
している。そして欠陥判定部4は、特にRGB3原色の
カラー画像中の青成分画像Bと、変換された色彩成分画
像Sおよび色相成分画像Hとに着目し、端面画像Eyか
ら求められる基準に従って端面画像Exを判定し、その
不良部分(白色への変色部分)を検出している。
As shown in FIG. 2 (a), the end face image processing section 3 converts the RGB primary color image including the end face images Ex and Ey of the standard heat insulating material Y1 and the test heat insulating material X into a luminance component V. , A color component S, and a hue component H. The defect determination unit 4 pays attention to the blue component image B in the color image of the three primary colors RGB, the converted color component image S and the hue component image H, and generates the edge image Ex in accordance with the reference obtained from the edge image Ey. Judgment is made and the defective portion (discolored portion to white) is detected.

【0026】より具体的には欠陥判定部4は、上記画像
Eの輝度成分画像Vを、予め仮設定されている閾値Th1
を用いて2値化し、その2値画像に従って前記標準断熱
材Y1を示す端面画像Ey中の検査対象エリアを仮設定す
る。そしてこの検査対象エリアにおける平均輝度値K1
を計算し、この平均輝度値K1に基づいて最適な2値化
閾値Th2を設定する。
More specifically, the defect judging section 4 converts the luminance component image V of the image E into a threshold Th1 which is temporarily set in advance.
, And the inspection target area in the end face image Ey indicating the standard heat insulating material Y1 is provisionally set in accordance with the binary image. And the average luminance value K1 in this inspection target area
Is calculated, and an optimal binarization threshold Th2 is set based on the average luminance value K1.

【0027】このような前処理を経て前記画像Eの輝度
成分画像Vを、再度、上記2値化閾値Th2を用いて2値
化し、その2値化画像から標準断熱材Y1を示す端面画
像Ey中の検査対象エリア、および試験断熱材Xを示す
端面画像Ex中の検査対象エリアをそれぞれ設定する。
しかる後、前記標準断熱材Y1を示す端面画像Ey中の上
述した如く設定された検査対象エリアについて、特にそ
の青成分画像B、色彩成分画像S、および色相成分画像
Hのそれぞれについて、その平均輝度値Kb,Ks,Kh
と、輝度の分散値Db,Ds,Dhとをそれぞれ求める。そ
してこれらの各平均輝度値Kb,Ks,Kh、および各分散
値Db,Ds,Dhに基づき、前記試験断熱材Xを示す端面
画像Ex中の検査対象エリアにおける各部の輝度値Kが Kb−αb・Db ≦K≦Kb−βb・Db (αb,βbは係数) Ks−αs・Ds ≦K≦Ks−βs・Ds (αs,βsは係数) Kh−αh・Dh ≦K≦Kh−βh・Dh (αh,βhは係数) なる条件を満たすか否かを判定する。そして上記条件が
満たされない部分を不良箇所領域Nb,Ns,Nhとして検
出する。この際、上記不良個所を前記端面画像Ex中に
おいて白色表示する等して、他の正常部分と識別強調表
示する。
After such pre-processing, the luminance component image V of the image E is binarized again using the binarization threshold Th2, and an end face image Ey showing the standard heat insulating material Y1 is obtained from the binarized image. The inspection target area in the inside and the inspection target area in the end face image Ex showing the test heat insulating material X are set.
Thereafter, the average brightness of the inspection target area set as described above in the end face image Ey showing the standard heat insulating material Y1, particularly, for each of the blue component image B, the color component image S, and the hue component image H, is obtained. Values Kb, Ks, Kh
And the variances Db, Ds, and Dh of the luminance are obtained. Then, based on the average luminance values Kb, Ks, Kh and the variance values Db, Ds, Dh, the luminance value K of each part in the inspection target area in the end face image Ex showing the test heat insulating material X is represented by Kb−αb. Db ≦ K ≦ Kb−βb · Db (αb and βb are coefficients) Ks−αs · Ds ≦ K ≦ Ks−βs · Ds (αs and βs are coefficients) Kh−αh · Dh ≦ K ≦ Kh−βh · Dh (Αh, βh are coefficients) It is determined whether or not the following condition is satisfied. Then, the portions where the above conditions are not satisfied are detected as defective portion regions Nb, Ns, Nh. At this time, the defective portion is displayed in white in the end face image Ex or the like, and is distinguished and highlighted from other normal portions.

【0028】また更に前記青成分画像B、色彩成分画像
S、および色相成分画像Hにおいて不良個所として検出
された領域Nb,Ns,Nhの各面積(画素数)Ab,As,Ah
をそれぞれ求め、その面積Ab,As,Ahが所定の判定閾
値を超える場合には、これを不良品として判定する。更
にまた前記不良個所の領域Nb,Ns,Nhを、例えば Nbsh =Nb or(Ns and Nh) として論理処理してその全体の不良領域Nbshを求める
と共にその総面積Abshを求め、この総面積Abshが所定
の判定閾値を超える場合にも、これを不良品として判定
する。このようにして判定される不良品情報に従い、試
験断熱材Xの廃棄処理が行われる。
Further, each area (number of pixels) Ab, As, Ah of the regions Nb, Ns, Nh detected as defective portions in the blue component image B, the color component image S, and the hue component image H.
When the areas Ab, As, and Ah exceed predetermined determination thresholds, these are determined as defective. Furthermore, the defective areas Nb, Ns, Nh are logically processed as, for example, Nbsh = Nbor (Ns and Nh) to obtain the entire defective area Nbsh and the total area Absh. Even when the value exceeds a predetermined determination threshold, it is determined as a defective product. In accordance with the defective product information determined in this way, the disposal of the test heat insulating material X is performed.

【0029】一方、図2(b)(c)にそれぞれ示すように
求められた標準断熱材Y2および試験断熱材Xの青色光
成分および赤色光成分の各周面画像Cb,Crについて
は、次のような画像処理を施して欠陥検出がなされる。
即ち、上記周面画像Cb(Cr)については、先ずその輝
度成分(モノクローム画像)を予め仮設定されている閾
値Th1b(Th1r)を用いて2値化し、その2値画像に従
って前記標準断熱材Y2を示す周面画像Cby(Cry)中
の検査対象エリアを仮設定する。そしてこの検査対象エ
リアにおける平均輝度値K1b(K1r)を計算し、この平
均輝度値K1b(K1r)に基づいて最適な2値化閾値Th2
b(Th2r)を設定する。
On the other hand, the peripheral images Cb and Cr of the blue light component and the red light component of the standard heat insulating material Y2 and the test heat insulating material X obtained as shown in FIGS. The defect detection is performed by performing image processing as described above.
That is, with respect to the peripheral image Cb (Cr), first, the luminance component (monochrome image) is binarized using a threshold Th1b (Th1r) provisionally set in advance, and the standard heat insulating material Y2 is used in accordance with the binary image. Is temporarily set in the inspection target area in the peripheral image Cby (Cry). Then, an average luminance value K1b (K1r) in the inspection target area is calculated, and an optimum binarization threshold Th2 is calculated based on the average luminance value K1b (K1r).
Set b (Th2r).

【0030】このような前処理を経て前記周面画像Cb
(Cr)の輝度成分を、新たに設定された2値化閾値Th
2b(Th2r)を用いて再度2値化し、その2値化画像か
ら標準断熱材Y2を示す周面画像Cby(Cry)中の検査
対象エリア、および試験断熱材Xを示す周面画像Cbx
(Crx)中の検査対象エリアをそれぞれ設定する。尚、
周面画像Cbx(Crx)中の検査対象エリアを設定するに
際しては、例えば試験断熱材Xの周面に設けられた切り
込み部を手掛かりとする等して、該試験断熱材Xの1周
分の周面画像だけを切り出す。
After such pre-processing, the peripheral image Cb
The luminance component of (Cr) is converted to a newly set binarization threshold Th.
2b (Th2r), the inspection object area in the peripheral image Cby (Cry) showing the standard heat insulating material Y2, and the peripheral image Cbx showing the test insulating material X from the binarized image.
Each inspection target area in (Crx) is set. still,
When setting the inspection target area in the peripheral surface image Cbx (Crx), for example, a notch provided on the peripheral surface of the test heat insulating material X is used as a clue, for example, for one round of the test heat insulating material X. Cut out only the peripheral image.

【0031】しかる後、前記標準断熱材Y2を示す周面
画像Cby(Cry)中の上述した如く設定された検査対象
エリアについて、その平均輝度値Kby(Kry)およびそ
の分散値Dby(Dry)をそれぞれ求める。そしてこれら
の平均輝度値Kby(Kry)および上記各分散値Dby(D
ry)に基づいて、前記試験断熱材Xを示す周面画像Cbx
(Crx)中の検査対象エリアにおける各部の輝度値Kが Kbx−αbx・Dbx≦K≦Kbx−βbx・Dbx (αbx,βbxは係数) または Krx−αrx・Drx≦K≦Krx−βrx・Drx (αrx,βrxは係数) なる条件を満たすか否かを判定する。そして上記条件が
満たされな部分を不良箇所領域Mb(Mr)として検出
し、検出した領域Mb(Mr)の面積(画素数)Sb(S
r)を求め、その面積Sb(Sr)が所定の判定閾値を超
える場合には、これを不良品として判定する。この際、
上記不良個所を前記周面画像Cbx(Crx)中において青
色(赤色)表示する等して、他の正常部分と識別強調表
示する。そして不良品として判定された試験断熱材Xに
ついては、その廃棄処理を促す。
Thereafter, for the inspection target area set as described above in the peripheral image Cby (Cry) showing the standard heat insulating material Y2, the average luminance value Kby (Kry) and its variance value Dby (Dry) are calculated. Ask for each. Then, the average luminance value Kby (Kry) and the respective variance values Dby (D
ry), the peripheral image Cbx showing the test insulation X
The luminance value K of each part in the inspection target area in (Crx) is Kbx−αbx · Dbx ≦ K ≦ Kbx−βbx · Dbx (αbx and βbx are coefficients) or Krx−αrx · Drx ≦ K ≦ Krx−βrx · Drx ( αrx and βrx are coefficients). Then, a portion where the above condition is not satisfied is detected as a defective portion region Mb (Mr), and the area (number of pixels) Sb (S) of the detected region Mb (Mr) is detected.
r), and if the area Sb (Sr) exceeds a predetermined determination threshold, this is determined as a defective product. On this occasion,
The defective portion is displayed in blue (red) in the peripheral surface image Cbx (Crx) or the like, and is distinguished and highlighted from other normal portions. Then, disposal of the test heat insulating material X determined to be defective is urged.

【0032】かくして上述した如くして欠陥検査を実行
する本装置によれば、断熱材の表面に現れる白色または
茶色の変色(色ムラ)欠陥、および凹凸欠陥をそれぞれ
高精度に検出することができる。しかも断熱材の繊維模
様をなす周面の色情報の影響を受けることなしに、画像
処理を有効に活用してその欠陥検査を行うことができ
る。また前述したように試験断熱材Xの画像を標準断熱
材Y1(Y2)の画像と共に同時に取り込み、標準断熱材
Y1(Y2)の画像情報を基準として試験断熱材Xの画像
を処理するので、例えば照明条件の揺らぎがあっても、
その影響を受けることなく一定の判定基準の下で欠陥検
査を実行することができ、検査精度の向上を図りうる。
従ってその検査処理効率の向上を図ることができ、更に
は照明条件等の試験環境の左右されることなく、常に安
定に一定の品質レベルで欠陥検査を行うことができる等
の実用上多大なる効果が奏せられる。
According to the present apparatus for performing the defect inspection as described above, the white or brown discoloration (color unevenness) defect and the irregularity defect appearing on the surface of the heat insulating material can be detected with high accuracy. . Moreover, the defect inspection can be performed by effectively utilizing the image processing without being affected by the color information of the peripheral surface forming the fiber pattern of the heat insulating material. Further, as described above, the image of the test heat insulating material X is captured simultaneously with the image of the standard heat insulating material Y1 (Y2), and the image of the test heat insulating material X is processed based on the image information of the standard heat insulating material Y1 (Y2). Even if the lighting conditions fluctuate,
The defect inspection can be executed under a certain determination criterion without being affected by the influence, and the inspection accuracy can be improved.
Therefore, the inspection processing efficiency can be improved, and further, the defect inspection can always be stably performed at a constant quality level without being affected by the test environment such as the lighting conditions, and a great effect in practical use. Is played.

【0033】尚、前述した如く1枚の画像として標準断
熱材Y1および試験断熱材Xの端面像Ey,Exを取り込ん
でいるので、例えば標準断熱材Y1の端面像Eyから、そ
の厚み(既知)を画像幅Wyとして求め、この画像幅Wy
を基準として試験断熱材Xの端面像Exにおける画像幅
Wxからその厚みを求めることも可能である。そしてそ
の厚みが所定の許容誤差範囲内にあるか否かを検証し、
これによってその寸法的欠陥についても検査するように
しても良い。
Since the end face images Ey and Ex of the standard heat insulating material Y1 and the test heat insulating material X are taken in as one image as described above, for example, the thickness (known) is obtained from the end face image Ey of the standard heat insulating material Y1. As the image width Wy, and this image width Wy
It is also possible to obtain the thickness from the image width Wx in the end face image Ex of the test heat insulating material X on the basis of. Then, verify whether the thickness is within a predetermined allowable error range,
Thereby, the dimensional defect may be inspected.

【0034】この厚み検査については、前述した端面画
像中の輝度成分画像Vを用い、この成分画像Vを予め仮
設定されている閾値Th1を用いて2値化し、その2値画
像に従って前記標準断熱材Y1を示す端面画像Ey中の検
査対象エリアを仮設定する。そしてこの検査対象エリア
における平均輝度値K1を計算し、この平均輝度値K1に
基づいて最適な2値化閾値Th2を設定する。そして上記
輝度成分画像Vを、新たに設定された2値化閾値Th2を
用いて再度2値化し、その2値化画像から標準断熱材Y
1を示す端面画像Ey中の検査対象エリア、および試験断
熱材Xを示す端面画像Ex中の検査対象エリアをそれぞ
れ設定する。尚、これらの処理については前述した端面
検査により求められる情報をそのまま用いることで、省
略することも可能である。
In this thickness inspection, the luminance component image V in the above-described end face image is used, the component image V is binarized using a threshold value Th1 provisionally set in advance, and the standard thermal insulation is performed according to the binary image. An inspection target area in the end face image Ey showing the material Y1 is provisionally set. Then, an average luminance value K1 in the inspection target area is calculated, and an optimum binarization threshold Th2 is set based on the average luminance value K1. Then, the luminance component image V is binarized again using the newly set binarization threshold Th2, and the standard heat insulating material Y is obtained from the binarized image.
An inspection target area in the end face image Ey indicating 1 and an inspection target area in the end face image Ex indicating the test heat insulating material X are set. Note that these processes can be omitted by using the information obtained by the above-described end face inspection as it is.

【0035】しかる後、端面画像Eyにおける画像幅
(厚み)Wyをその画素数として求め、予め求められて
いる実際の厚みとの対応関係(比)を求める。その上で
同様にして端面画像Exにおける画像幅(厚み)Wxをそ
の画素数として求め、上記比に従って試験断熱材Xの厚
みを算出する。そしてこの厚みWxが、所定の許容誤差
範囲内にあるか否かを判定して、厚み寸法の良否判定を
行うようにすれば良い。
Thereafter, the image width (thickness) Wy of the end face image Ey is obtained as the number of pixels, and the correspondence (ratio) to the actual thickness previously obtained is obtained. Then, similarly, the image width (thickness) Wx in the end face image Ex is determined as the number of pixels, and the thickness of the test heat insulating material X is calculated according to the above ratio. Then, it is sufficient to determine whether or not the thickness Wx is within a predetermined allowable error range, and determine whether or not the thickness dimension is good.

【0036】また上述した画像処理による表面欠陥の検
査を終了した後、前記ローラ1a,1b上に載置されて
いる試験断熱材Xの両端部および中央部の3箇所におい
て、例えば加圧シリンダを用いて所定の押圧力を加え、
これによって弾性的に撓みを生じる試験断熱材Xの周面
の凹み量(シリンダによる押し込み長)をLl,Lc,Lr
としてそれぞれ計測する。そしてこれらの凹み量Ll,L
c,Lrから、例えばその偏差Δl,Δrを Δl =Ll−Lc , Δr =L2−Lc として計算し、これらの偏差Δl,Δrを所定の判定閾値
と比較することで、硬さの偏りを検査するようにしても
良い。また更には支持機構1に重量計を組み込み、ロー
ラ1a,1b上に載置されている試験断熱材Xの重量を
計測してその重量検査を実行するようにすることも可能
である。
After the inspection of the surface defects by the above-mentioned image processing is completed, for example, pressurizing cylinders are placed at three places at both ends and the center of the test heat insulating material X placed on the rollers 1a and 1b. Apply a predetermined pressing force using
The amount of depression (the length pushed by the cylinder) of the peripheral surface of the test heat insulating material X which elastically bends by this is Ll, Lc, Lr.
And each is measured. And these dent amounts Ll, L
From c and Lr, for example, the deviations Δl and Δr are calculated as Δl = Ll−Lc and Δr = L2−Lc, and these deviations Δl and Δr are compared with a predetermined judgment threshold value to check for a deviation in hardness. You may do it. Furthermore, it is also possible to incorporate a weighing scale into the support mechanism 1, measure the weight of the test heat insulating material X placed on the rollers 1a and 1b, and execute the weight inspection.

【0037】尚、上述した如く構成された装置において
は、3台のカメラ2,5,6を用いて試験断熱材(試験
体)Xの端面画像E、その周面の青色光成分の画像Cb
および赤色光成分の画像Crを同時に得たが、前述した
ように照明光の色を変えながら試験断熱材Xの周面の青
色光成分の画像Cbおよび赤色光成分の画像Crを順次に
得る場合には、例えば図3に示す処理手順に従ってその
処理を進めるようにすれば良い。即ち、先ず、前記支持
機構1のローラ1a,1b上に試験断熱材Xが載置され
たな否かを判定する[ステップS1]。そして試験断熱
材Xのセットが確認されたとき、前記モータ2を回転駆
動して上記試験断熱材Xを回転させる[ステップS
2]。
In the apparatus configured as described above, the end image E of the test heat insulating material (test body) X and the image Cb of the blue light component on the peripheral surface thereof are obtained by using three cameras 2, 5, and 6.
And the image Cr of the red light component is obtained at the same time, but the image Cb of the blue light component and the image Cr of the red light component on the peripheral surface of the test insulation X are sequentially obtained while changing the color of the illumination light as described above. For example, the processing may be performed according to the processing procedure shown in FIG. That is, first, it is determined whether or not the test heat insulating material X has been placed on the rollers 1a and 1b of the support mechanism 1 [Step S1]. When the setting of the test heat insulating material X is confirmed, the motor 2 is rotationally driven to rotate the test heat insulating material X [Step S]
2].

【0038】この状態においてカメラ2を介して断熱材
X,Y1の端面像Eを入力し[ステップS3]、その入力
画像中の端面像Eyから色情報を検出し[ステップS
4]、この色情報を基準として試験断熱材Xの端面像E
xの色情報を判定する[ステップS5]。そして前述し
た如く変色した色の異なる部位(変色部位)を欠陥領域
として検出する[ステップS6]。そしてこの欠陥検出
部位を前記端面像Ex上において識別表示する[ステッ
プS7]。しかる後、前記端面画像Ex,Eyから前述し
たように試験断熱材Xの厚みを計測する[ステップS
8]。
In this state, the end face image E of the heat insulating material X, Y1 is input via the camera 2 [Step S3], and color information is detected from the end face image Ey in the input image [Step S3].
4], the end face image E of the test insulation X based on the color information
The color information of x is determined [Step S5]. Then, as described above, a portion having a different color (color changing portion) is detected as a defective region [Step S6]. Then, the defect detection site is identified and displayed on the end face image Ex [Step S7]. Thereafter, the thickness of the test heat insulating material X is measured from the end face images Ex and Ey as described above [Step S].
8].

【0039】その後、先ず前記試験断熱材Xおよび標準
断熱材Y2の周面に青色光(青色波長成分)を照射し
[ステップS11]、前記カメラ5にて断熱材X,Y2の
青色光成分からなる周面画像Cb(Cby,Cbx)を入力す
る[ステップS12]。そしてその入力画像中の周面画
像Cbyからその平均輝度と分散値を求めて2値化閾値を
設定する等の前処理を施した後、前記周面画像Cbxから
1周分の周面画像を切り出し[ステップS13]、前述
した如く閾値処理等を施すことにより変色欠陥部位を検
出する[ステップS14]。そしてその検出した欠陥部
位を識別表示する[ステップS15]。
Thereafter, first, the peripheral surfaces of the test heat insulating material X and the standard heat insulating material Y2 are irradiated with blue light (blue wavelength component) [Step S11], and the camera 5 extracts the blue light components of the heat insulating materials X and Y2. The peripheral image Cb (Cby, Cbx) is input [Step S12]. Then, after performing preprocessing such as setting the binarization threshold by obtaining the average luminance and the variance value from the peripheral image Cby in the input image, the peripheral image for one rotation from the peripheral image Cbx is obtained. The clipping is performed [Step S13], and the discoloration defect portion is detected by performing the threshold processing as described above [Step S14]. Then, the detected defective portion is identified and displayed [Step S15].

【0040】同様にして今度は前記試験断熱材Xおよび
標準断熱材Y2の周面に赤色光を照射し[ステップS2
1]、前記カメラ6にて断熱材X,Y2の赤色光成分から
なる周面画像Cr(Cry,Crx)を撮像入力する[ステッ
プS22]。そして前述した青色光成分の場合と同様に
所定の前処理を施した後、入力画像から1周分の周面画
像Crxを切り出し[ステップS23]、所定の閾値処理
等を施すことにより凹凸欠陥部位を検出する[ステップ
S24]。そしてその検出した欠陥部位を識別表示する
[ステップS25]。
Similarly, the peripheral surfaces of the test insulation X and the standard insulation Y2 are irradiated with red light [Step S2].
1] The camera 6 captures and inputs a peripheral image Cr (Cry, Crx) composed of red light components of the heat insulating materials X and Y2 [Step S22]. Then, after performing a predetermined pre-processing in the same manner as in the case of the blue light component described above, a peripheral image Crx for one round is cut out from the input image [Step S23], and a predetermined threshold value processing or the like is performed to obtain the uneven defect portion. Is detected [Step S24]. Then, the detected defective portion is identified and displayed [Step S25].

【0041】以上の一連した処理を実行したとき、例え
ば前記モータ2を停止させ[ステップS31]、その重
量検査[ステップS32]とその硬さの検査[ステップ
S33]とを実行する。尚、重量検査は前記支持機構1
に組み込まれた重量センサを用いる等して行われる。ま
た硬さの検査は、前述したように加圧シリンダを用いて
行われる。これらの重量計測および硬さ計測は、画像処
理による欠陥検査とは独立に行われることは言うまでも
ない。
When the above series of processing is executed, for example, the motor 2 is stopped [Step S31], and the weight inspection [Step S32] and the hardness inspection [Step S33] are executed. The weight inspection is performed by the support mechanism 1
This is performed by using, for example, a weight sensor incorporated in the device. Inspection of hardness is performed using a pressurized cylinder as described above. It goes without saying that the weight measurement and the hardness measurement are performed independently of the defect inspection by image processing.

【0042】かくして上述した如く構成された本装置に
よれば、断熱材Xに生じた欠陥を単純な画像処理だけ
で、簡易にして確実に検出することができる。特にその
素材であるグラスウールを所定の厚みに巻き込み成形し
た断熱材Xの端部に現れる欠陥と、その周面に生じる欠
陥とをそれぞれ精度良く検出することができる。しかも
標準断熱材の情報を同一撮像条件で同時に取り込みなが
ら、標準断熱材から求められる色(輝度)情報に基づい
て欠陥判定の基準を適切に設定して欠陥検査を行い得る
ので、触手検査や目視検査のような曖昧さがなく、常に
一定の品質評価レベルでの欠陥検査を行い得る等の効果
が奏せられる。この結果、その検査効率の向上を図るこ
とができ、安定した品質管理が可能となる等の実用上多
大なる効果が奏せられる。
Thus, according to the present apparatus configured as described above, a defect occurring in the heat insulating material X can be detected simply and reliably by simple image processing. In particular, it is possible to accurately detect a defect appearing at an end portion of the heat insulating material X formed by winding glass wool as a raw material to a predetermined thickness and a defect occurring on the peripheral surface thereof. Moreover, while simultaneously taking in the information of the standard heat insulating material under the same imaging condition, the defect inspection can be performed by appropriately setting the defect judgment standard based on the color (luminance) information required from the standard heat insulating material. There is an effect that there is no ambiguity as in the inspection and the defect inspection can always be performed at a constant quality evaluation level. As a result, the inspection efficiency can be improved, and a great effect in practical use such as stable quality control can be achieved.

【0043】また前述した如く構成された装置によれ
ば、円筒状の断熱材Xをローラ1a,1b上で回転させ
ながらその端面および周面の画像を取り込むので、簡易
にして効率的にその全周に亘る画像情報を入力すること
ができる。しかもローラ1a,1b上で回転する断熱材
の上面を、その軸方向に走査して画像入力するだけでよ
いので、断熱材の周面の全域を一定の撮像(照明)条件
で安定に撮像することができる。更には標準断熱材の情
報を同一撮像条件で同時に取り込みながら、標準断熱材
から求められる色(輝度)情報を基準として試験断熱材
の画像を処理するので、照明条件の揺らぎ等に拘わるこ
となく常に安定した画像を得て欠陥検出に供し得る等の
効果が奏せられる。
Further, according to the apparatus configured as described above, the image of the end surface and the peripheral surface is taken in while rotating the cylindrical heat insulating material X on the rollers 1a and 1b. Image information over the circumference can be input. In addition, since it is only necessary to scan the upper surface of the heat insulating material rotating on the rollers 1a and 1b in the axial direction and input an image, the entire area of the peripheral surface of the heat insulating material is stably imaged under a constant imaging (illumination) condition. be able to. Furthermore, the image of the test insulation is processed based on the color (luminance) information required from the standard insulation while simultaneously taking in the information of the standard insulation under the same imaging conditions, so that the image is always irrespective of fluctuations in the lighting conditions. The effect is obtained that a stable image can be obtained and used for defect detection.

【0044】尚、本発明は上述した実施形態に限定され
るものではない。例えばグラスウールを平板状に成形し
た断熱材の表面欠陥を検査する場合にも同様に実施する
ことができる。但し、この場合には平板状の断熱材の表
面を2次元走査して、その全面の画像を得るようにすれ
ば良い。また赤色透過フィルタに代えて実質的に赤色と
看做し得る橙色透過フィルタを用いることも可能であ
る。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施することができる。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the present invention can be similarly performed when inspecting a surface defect of a heat insulating material formed of glass wool into a flat plate shape. However, in this case, the surface of the flat heat insulating material may be two-dimensionally scanned to obtain an image of the entire surface. It is also possible to use an orange transmission filter that can be regarded as substantially red instead of the red transmission filter. In addition, the present invention can be variously modified and implemented without departing from the gist thereof.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、断
熱材の表面に生じる変色を伴う欠陥部位や凹凸状の欠陥
を、該断熱材の表面を撮像した画像から簡易に、且つ精
度良く検出することができる。特に主として黄色の繊維
模様をなす断熱材の表面の、青色光成分からなる像と赤
色光成分からなる像とをそれぞれ得ることで、その変色
が強調された画像および凹凸に伴う明度差が強調された
画像を得、これらの各画像から変色欠陥と凹凸欠陥とを
それぞれ検出するので、その検出精度を効果的に高め得
る等の効果が奏せられる。
As described above, according to the present invention, it is possible to easily and accurately detect a defective portion accompanied by discoloration or an uneven defect occurring on the surface of a heat insulating material from an image obtained by imaging the surface of the heat insulating material. Can be detected. In particular, by obtaining an image composed of a blue light component and an image composed of a red light component, respectively, of the surface of the heat insulating material mainly having a yellow fiber pattern, the discoloration-enhanced image and the brightness difference due to unevenness are emphasized. The obtained images are obtained, and the discoloration defect and the unevenness defect are respectively detected from these images, so that the effect of effectively increasing the detection accuracy can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る断熱材の欠陥検査装
置の概略構成図。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a defect inspection apparatus for a heat insulating material according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す欠陥検査装置で求められる断熱材の
端面画像および周面画像の例を模式的に示す図。
FIG. 2 is a view schematically showing an example of an end face image and a peripheral face image of a heat insulating material obtained by the defect inspection apparatus shown in FIG.

【図3】実施例装置における概略的な検査処理手順の一
例を示す図。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a schematic inspection processing procedure in the example apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 支持機構 2 カラーカメラ(端面画像の撮像手段) 3 端面画像処理部 4 欠陥判定部 5,6 モノクロームカメラ(周面画像の撮像手段) 7a,7b 照明光源 8 周面画像処理部 9 周面画像処理部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support mechanism 2 Color camera (edge image capturing means) 3 Edge image processing part 4 Defect determination part 5, 6 Monochrome camera (surround image capturing means) 7a, 7b Illumination light source 8 Perimeter image processing part 9 Perimeter image Processing unit

フロントページの続き (72)発明者 加藤木 保男 東京都港区虎ノ門2丁目2番1号 日本た ばこ産業株式会社エンジニアリング部内 Fターム(参考) 2G020 AA08 DA02 DA03 DA04 DA05 DA13 DA34 DA35 DA52 2G051 AA90 AB06 AB07 AB20 BA04 CA04 CB01 DA05 EA11 EB01 EC03 FA10 Continuation of the front page (72) Inventor Yasuo Katogi 2-2-1 Toranomon, Minato-ku, Tokyo Japan Tobacco Inc. Engineering Department F-term (reference) 2G020 AA08 DA02 DA03 DA04 DA05 DA13 DA34 DA35 DA52 2G051 AA90 AB06 AB07 AB20 BA04 CA04 CB01 DA05 EA11 EB01 EC03 FA10

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 グラスウールを接着剤を用いて板状また
は円筒状に成形してなる断熱材を、欠陥検査の基準とす
る標準断熱材と並べて支持する支持機構と、 この支持機構に支持された上記試験断熱材および前記標
準断熱材の各切断端面を同一視野内に捉えて同時に撮像
し、その撮像画像中の前記標準断熱材の色情報を基準と
して前記試験断熱材の色情報を判定して該試験断熱材に
おける切断端面の欠陥を検出する端面欠陥検出手段と、 前記試験断熱材の表面の青色光成分からなる像を撮像
し、この青色光成分の画像を所定の閾値で弁別して前記
試験断熱材の表面における変色欠陥を検出する変色欠陥
検出手段と、 前記試験断熱材の表面の赤色光成分からなる像を撮像
し、この赤色光成分の画像を所定の閾値で弁別して前記
試験断熱材の表面における凹凸欠陥を検出する凹凸欠陥
検出手段とを具備したことを特徴とする断熱材の欠陥検
査装置。
1. A supporting mechanism for supporting a heat insulating material formed by molding glass wool into a plate shape or a cylindrical shape by using an adhesive along with a standard heat insulating material used as a reference for defect inspection, and supported by the supporting mechanism. The test insulation material and the cut end surfaces of the standard insulation material are captured simultaneously in the same field of view and imaged simultaneously, and the color information of the test insulation material is determined based on the color information of the standard insulation material in the captured image. An end face defect detecting means for detecting a defect of a cut end face in the test heat insulating material; and taking an image of a blue light component on the surface of the test heat insulating material, discriminating the image of the blue light component by a predetermined threshold, and performing the test. A discoloration defect detecting means for detecting discoloration defects on the surface of the heat insulating material, an image of a red light component on the surface of the test heat insulating material is picked up, and the image of the red light component is discriminated by a predetermined threshold value; On the surface of A defect inspection device for a heat insulating material, comprising: a concave / convex defect detecting means for detecting a concave / convex defect in the material.
【請求項2】 前記変色欠陥検出手段は、青色透過フィ
ルタを介して前記試験断熱材の表面の青色光成分からな
る画像を得、前記凹凸欠陥検出手段は、赤色透過フィル
タを介して前記試験断熱材の表面の赤色光成分からなる
画像を得ることを特徴とする請求項1に記載の断熱材の
欠陥検査装置。
2. The discoloration defect detecting means obtains an image composed of a blue light component on the surface of the test heat insulating material via a blue transmission filter, and the unevenness defect detection means obtains the test heat insulating material via a red transmission filter. The defect inspection apparatus for a heat insulating material according to claim 1, wherein an image composed of a red light component on the surface of the material is obtained.
【請求項3】 前記変色欠陥検出手段は、青色光源にて
照明された前記試験断熱材の表面を撮像して青色光成分
からなる画像を得、前記凹凸欠陥検出手段は、赤色光源
にて照明された前記試験断熱材の表面を撮像して赤色光
成分からなる画像を得ることを特徴とする請求項1に記
載の断熱材の欠陥検査装置。
3. The discoloration defect detecting means images a surface of the test heat insulating material illuminated by a blue light source to obtain an image composed of a blue light component. The thermal insulation material defect inspection apparatus according to claim 1, wherein an image composed of a red light component is obtained by imaging the surface of the test thermal insulation material thus obtained.
【請求項4】 前記支持機構は、円筒状に成形してなる
断熱材の周面を支持し、該断熱材を回転させる回転部材
を備えることを特徴とする請求項1に記載の断熱材の欠
陥検査装置。
4. The heat insulating material according to claim 1, wherein the support mechanism includes a rotating member that supports a peripheral surface of the heat insulating material formed into a cylindrical shape and rotates the heat insulating material. Defect inspection equipment.
【請求項5】 前記各欠陥検出手段は、前記試験断熱材
の画像中の欠陥が検出された部位をそれぞれ識別強調表
示する手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の
断熱材の欠陥検査装置。
5. The defect of the heat insulating material according to claim 1, wherein each of the defect detecting means includes means for identifying and highlighting a portion of the test heat insulating material where a defect is detected in the image. Inspection equipment.
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