JP2000228069A - ディスク媒体の欠陥領域の記録方法 - Google Patents
ディスク媒体の欠陥領域の記録方法Info
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- JP2000228069A JP2000228069A JP11028413A JP2841399A JP2000228069A JP 2000228069 A JP2000228069 A JP 2000228069A JP 11028413 A JP11028413 A JP 11028413A JP 2841399 A JP2841399 A JP 2841399A JP 2000228069 A JP2000228069 A JP 2000228069A
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- G—PHYSICS
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- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 １つの欠陥リスト入力に可変数の欠陥領域を
記録することの出来るディスク媒体の欠陥領域の効率的
な記録方法を提供する。 【解決手段】 多数の連続した欠陥領域が発生する可能
性のある一回のみ書込み可能な光ディスク及び再書込み
可能な光ディスクのようなディスク媒体中の欠陥領域の
記録方法。媒体中で、ランレングスリミットコードのよ
うなタイプのコードで欠陥領域のアドレスを記録する。
例えば、光ディスクの欠陥管理領域の主欠陥リストに
は、連続する領域番号のグループが（Ｎ，Ｌ）フォーマ
ットを用いて記録される。Ｎは連続する領域のグループ
の開始領域番号を、Ｌは連続する領域番号のグループの
長さを表わす。本方法によりより多くの欠陥領域を記録
することが出来る。本コーディングモードによって欠陥
管理領域を増やすことなく、より高容量ディスク媒体の
欠陥を管理することが可能となる。
記録することの出来るディスク媒体の欠陥領域の効率的
な記録方法を提供する。 【解決手段】 多数の連続した欠陥領域が発生する可能
性のある一回のみ書込み可能な光ディスク及び再書込み
可能な光ディスクのようなディスク媒体中の欠陥領域の
記録方法。媒体中で、ランレングスリミットコードのよ
うなタイプのコードで欠陥領域のアドレスを記録する。
例えば、光ディスクの欠陥管理領域の主欠陥リストに
は、連続する領域番号のグループが（Ｎ，Ｌ）フォーマ
ットを用いて記録される。Ｎは連続する領域のグループ
の開始領域番号を、Ｌは連続する領域番号のグループの
長さを表わす。本方法によりより多くの欠陥領域を記録
することが出来る。本コーディングモードによって欠陥
管理領域を増やすことなく、より高容量ディスク媒体の
欠陥を管理することが可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はディスク媒体中の欠
陥領域の記録方法に係り、より詳しくは繰り返し記録に
よって品質劣化のおこったディスク媒体の連続欠陥領域
を記録するためのＲＬＬコードの概念を提供することに
関する。
陥領域の記録方法に係り、より詳しくは繰り返し記録に
よって品質劣化のおこったディスク媒体の連続欠陥領域
を記録するためのＲＬＬコードの概念を提供することに
関する。
【０００２】
【従来の技術】再書込み可能な光ディスクのような従来
のディスク媒体では、データ記録領域中の欠陥領域又は
ブロックを記録する欠陥管理領域（ＤＭＡ）が必要であ
る。光ディスクの情報領域にはデータ交換に関連する全
情報を含んでいなければならない。
のディスク媒体では、データ記録領域中の欠陥領域又は
ブロックを記録する欠陥管理領域（ＤＭＡ）が必要であ
る。光ディスクの情報領域にはデータ交換に関連する全
情報を含んでいなければならない。
【０００３】図２は従来の光ディスクにおけるディスク
フォーマットを示したものである。図２（Ａ）に示すよ
うに、従来の再書込み可能な光ディスクの情報領域は３
つの部分、リードイン領域、データ領域およびリードア
ウト領域、に分割することが出来る。データ領域は、使
用者書込みデータを記録する。リードインとリードアウ
ト領域に含まれる主な情報は、データ領域中の欠陥領域
のアドレスを記載する欠陥管理情報である。光ディスク
のリードインとリードアウト領域にはＤＭＡ１，ＤＭＡ
２，ＤＭＡ３，ＤＭＡ４の４つのＤＭＡが形成されてい
る。欠陥管理に関する情報を格納する４つのＤＭＡの内
容は全て同一である。各ＤＭＡ１〜４に同じ情報を格納
することにより、ＤＭＡ１〜４自身に欠陥が発生した場
合を保護している。図２（Ｂ）に示すように、ＤＭＡは
２つのセクションから構成される。
フォーマットを示したものである。図２（Ａ）に示すよ
うに、従来の再書込み可能な光ディスクの情報領域は３
つの部分、リードイン領域、データ領域およびリードア
ウト領域、に分割することが出来る。データ領域は、使
用者書込みデータを記録する。リードインとリードアウ
ト領域に含まれる主な情報は、データ領域中の欠陥領域
のアドレスを記載する欠陥管理情報である。光ディスク
のリードインとリードアウト領域にはＤＭＡ１，ＤＭＡ
２，ＤＭＡ３，ＤＭＡ４の４つのＤＭＡが形成されてい
る。欠陥管理に関する情報を格納する４つのＤＭＡの内
容は全て同一である。各ＤＭＡ１〜４に同じ情報を格納
することにより、ＤＭＡ１〜４自身に欠陥が発生した場
合を保護している。図２（Ｂ）に示すように、ＤＭＡは
２つのセクションから構成される。
【０００４】第１セクションは主欠陥リスト（ＰＤＬ）
と呼ばれ、製造中に定義されるか、認証手順中に発見さ
れるか又は第２セクションから転送される欠陥領域を記
録する。第２セクションは第２欠陥リスト（ＳＤＬ）と
呼ばれ、フォーマット化が終了した後に発見された欠陥
ブロックを記録する。ＰＤＬの各入力名簿（以下単に入
力という）は、図３に示すフォーマットのように１つの
欠陥領域を記録している。１６の欠陥領域を含む欠陥ブ
ロックを記録するＳＤＬの各入力については仕様に定め
られている。以下の説明は、主としてＰＤＬに用いられ
る記録アルゴリズムについて行なう。
と呼ばれ、製造中に定義されるか、認証手順中に発見さ
れるか又は第２セクションから転送される欠陥領域を記
録する。第２セクションは第２欠陥リスト（ＳＤＬ）と
呼ばれ、フォーマット化が終了した後に発見された欠陥
ブロックを記録する。ＰＤＬの各入力名簿（以下単に入
力という）は、図３に示すフォーマットのように１つの
欠陥領域を記録している。１６の欠陥領域を含む欠陥ブ
ロックを記録するＳＤＬの各入力については仕様に定め
られている。以下の説明は、主としてＰＤＬに用いられ
る記録アルゴリズムについて行なう。
【０００５】図３を参照すると、ＰＤＬはフォーマット
時に特定されたすべての欠陥領域の入力を含んでいる。
各入力は、入力タイプと対応欠陥領域のアドレスとを特
定する３つの領域を含んでいる。再書込み可能な光ディ
スクの現在の仕様によると、従来のＰＤＬ入力フォーマ
ットでは１つの欠陥領域だけを１つのＰＤＬ入力に記録
する。仮にフォーマット工程中に連続する欠陥領域が発
見された場合、欠陥領域を記録する対応する数のＰＤＬ
入力をそれぞれ必要とする。例えば、各ＳＤＬから転送
された欠陥領域を記録するために１６ＰＤＬ入力を必要
とする。
時に特定されたすべての欠陥領域の入力を含んでいる。
各入力は、入力タイプと対応欠陥領域のアドレスとを特
定する３つの領域を含んでいる。再書込み可能な光ディ
スクの現在の仕様によると、従来のＰＤＬ入力フォーマ
ットでは１つの欠陥領域だけを１つのＰＤＬ入力に記録
する。仮にフォーマット工程中に連続する欠陥領域が発
見された場合、欠陥領域を記録する対応する数のＰＤＬ
入力をそれぞれ必要とする。例えば、各ＳＤＬから転送
された欠陥領域を記録するために１６ＰＤＬ入力を必要
とする。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述したＰＤＬ記録モ
ードは、特に多数のＳＤＬがＰＤＬに転送される場合に
は明らかに効率的ではない。ＰＤＬに記録される多くの
欠陥領域数は連続的であり、特にＳＤＬから転送される
領域においては連続的である。一つの欠陥領域を１つの
ＰＤＬ入力に記録するのはぜいたくである。従って、本
発明の目的は、１つの欠陥リスト入力に可変数の欠陥領
域を記録することの出来るディスク媒体の欠陥領域の効
率的な記録方法を提供することにある。この記録方法を
使用することにより、媒体中に必要とされるメモリ空間
と欠陥リストを管理する制御回路とを削減することが出
来る。
ードは、特に多数のＳＤＬがＰＤＬに転送される場合に
は明らかに効率的ではない。ＰＤＬに記録される多くの
欠陥領域数は連続的であり、特にＳＤＬから転送される
領域においては連続的である。一つの欠陥領域を１つの
ＰＤＬ入力に記録するのはぜいたくである。従って、本
発明の目的は、１つの欠陥リスト入力に可変数の欠陥領
域を記録することの出来るディスク媒体の欠陥領域の効
率的な記録方法を提供することにある。この記録方法を
使用することにより、媒体中に必要とされるメモリ空間
と欠陥リストを管理する制御回路とを削減することが出
来る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、ディスク媒体中の欠陥領域を記録するためのランレ
ングスリミット（Ｒｕｎ−Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔ：
ＲＬＬ）コードの概念が開示されている。従来の（ｄ，
ｋ）ＲＬＬコードの長さの定義が、記録効率を改善する
ために、欠陥領域の連続する８進数を記録することに拡
大されている。
に、ディスク媒体中の欠陥領域を記録するためのランレ
ングスリミット（Ｒｕｎ−Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔ：
ＲＬＬ）コードの概念が開示されている。従来の（ｄ，
ｋ）ＲＬＬコードの長さの定義が、記録効率を改善する
ために、欠陥領域の連続する８進数を記録することに拡
大されている。
【０００８】（ｄ，ｋ）ＲＬＬ数の定義は（Ｎ，Ｌ）と
してフォーマット化され、有限長の８進数連鎖を表わし
ている。少なくともｄ個の連続８進数は（Ｎ，Ｌ）とし
て表わされ、多くともｋ個の連続８進数は（Ｎ，Ｌ）と
して表わされる。ここで、Ｎは連続領域のグループの開
始領域番号を、Ｌは連続領域番号のグループの長さを表
わす。例えば、連続欠陥領域の最大長（ｋ）と最小長
（ｄ）で入力タイプを特定することによりＰＤＬ入力フ
ォーマットを決めることが出来、１つのＰＤＬ入力に多
くてｋ個の連続欠陥領域を記録することが出来る。
してフォーマット化され、有限長の８進数連鎖を表わし
ている。少なくともｄ個の連続８進数は（Ｎ，Ｌ）とし
て表わされ、多くともｋ個の連続８進数は（Ｎ，Ｌ）と
して表わされる。ここで、Ｎは連続領域のグループの開
始領域番号を、Ｌは連続領域番号のグループの長さを表
わす。例えば、連続欠陥領域の最大長（ｋ）と最小長
（ｄ）で入力タイプを特定することによりＰＤＬ入力フ
ォーマットを決めることが出来、１つのＰＤＬ入力に多
くてｋ個の連続欠陥領域を記録することが出来る。
【０００９】着脱可能な光ディスクはしばしば予期しな
い衝突やこすれによって傷を受け、このような衝突やこ
すれによって引き起こされる欠陥領域は常に連続的であ
るので、前述のＲＬＬコードで連続欠陥領域を記録すれ
ば、特にＳＤＬから多数のＰＤＬが転送される場合には
光ディスクにＰＤＬを記録するに際して必要となるメモ
リ空間や制御回路を削減することが出来る。このタイプ
のＰＤＬ入力では１つのグループの連続欠陥領域を１つ
のＰＤＬ入力に記録することが出来る。新しいタイプの
ＰＤＬ入力を用いてＳＤＬから転送されたＰＤＬを記録
するのに必要となるメモリ空間は従来のタイプで必要と
なるメモリ空間の約１／１６である。異なるタイプのＰ
ＤＬを記録するのに必要となるメモリ空間は、この種の
欠陥領域の分布に応じて削減することが可能である。上
記概略説明と以下の詳細な説明は、例示かつ説明のみで
あり、特許請求の範囲の発明を限定するものではない。
い衝突やこすれによって傷を受け、このような衝突やこ
すれによって引き起こされる欠陥領域は常に連続的であ
るので、前述のＲＬＬコードで連続欠陥領域を記録すれ
ば、特にＳＤＬから多数のＰＤＬが転送される場合には
光ディスクにＰＤＬを記録するに際して必要となるメモ
リ空間や制御回路を削減することが出来る。このタイプ
のＰＤＬ入力では１つのグループの連続欠陥領域を１つ
のＰＤＬ入力に記録することが出来る。新しいタイプの
ＰＤＬ入力を用いてＳＤＬから転送されたＰＤＬを記録
するのに必要となるメモリ空間は従来のタイプで必要と
なるメモリ空間の約１／１６である。異なるタイプのＰ
ＤＬを記録するのに必要となるメモリ空間は、この種の
欠陥領域の分布に応じて削減することが可能である。上
記概略説明と以下の詳細な説明は、例示かつ説明のみで
あり、特許請求の範囲の発明を限定するものではない。
【００１０】
【発明の実施の形態】ランレングスリミット（ＲＬＬ）
コードを用いた２進チャネルデータの記録効率を改善す
る研究が多くなされている。本発明はＲＬＬコードの新
規な長さの定義を与えるもので、ディスク媒体の欠陥リ
ストの記録効率を改善するための連続１６進数のような
記録への適用を拡大するものである。従来の（ｄ，ｋ）
ＲＬＬコードは次のような制限を満たす有限長２進数の
連鎖を表わしている。即ち、（１）どんな２つの連続数
の間にも少なくともｄ個の零が存在する。（２）どんな
２つの連続数の間にも多くてｋ個の零が存在する。
コードを用いた２進チャネルデータの記録効率を改善す
る研究が多くなされている。本発明はＲＬＬコードの新
規な長さの定義を与えるもので、ディスク媒体の欠陥リ
ストの記録効率を改善するための連続１６進数のような
記録への適用を拡大するものである。従来の（ｄ，ｋ）
ＲＬＬコードは次のような制限を満たす有限長２進数の
連鎖を表わしている。即ち、（１）どんな２つの連続数
の間にも少なくともｄ個の零が存在する。（２）どんな
２つの連続数の間にも多くてｋ個の零が存在する。
【００１１】例えば、１０進数１ｄ，５ｄ，６４ｄ，１
００ｄ，１２０ｄを表わすために使用される１４ビット
（２，１０）ＲＬＬコードの組は次のように書き表わさ
れる。 １ｄ＝10000100000000b ， ５ｄ＝100000100010000b 64ｄ＝01001000100100b ， 100ｄ＝01000100100010 120ｄ＝０１００１０００００００１０ｂ （ｄ，ｋ）ＲＬＬ数の定義は次のような制限を満たす有
限長１６進数の連鎖を表わす（Ｎ，Ｌ）でフォーマット
化される。即ち、 （１）少なくともｄ個の連続１６進数が（Ｎ，Ｌ）とし
て表わされる。ここでＮは開始番号を、Ｌは数連鎖の長
さを表わす。 （２）多くともｋ個の連続１６進数が（Ｎ，Ｌ）として
表わされる。ここでＮは開始番号を、Ｌは数連鎖の長さ
を表わす。
００ｄ，１２０ｄを表わすために使用される１４ビット
（２，１０）ＲＬＬコードの組は次のように書き表わさ
れる。 １ｄ＝10000100000000b ， ５ｄ＝100000100010000b 64ｄ＝01001000100100b ， 100ｄ＝01000100100010 120ｄ＝０１００１０００００００１０ｂ （ｄ，ｋ）ＲＬＬ数の定義は次のような制限を満たす有
限長１６進数の連鎖を表わす（Ｎ，Ｌ）でフォーマット
化される。即ち、 （１）少なくともｄ個の連続１６進数が（Ｎ，Ｌ）とし
て表わされる。ここでＮは開始番号を、Ｌは数連鎖の長
さを表わす。 （２）多くともｋ個の連続１６進数が（Ｎ，Ｌ）として
表わされる。ここでＮは開始番号を、Ｌは数連鎖の長さ
を表わす。
【００１２】例えば、次の（１，１６）ＲＬＬ数は次の
ような１６進数の種々の連鎖を表わす。 （１５ｈ，５）＝１５ｈ，１６ｈ，１７ｈ，１８ｈ，１
９ｈ （２５ｈ，１２）＝２５ｈ，２６ｈ，２７ｈ，２８ｈ，
２９ｈ，２ａｈ，２ｂｈ，２ｃｈ，２ｄｈ，２ｅｈ，２
ｆｈ，３０ｈ （ａ０ｈ，８）＝ａ０ｈ，ａ１ｈ，ａ２ｈ，ａ３ｈ，ａ
４ｈ，ａ５ｈ，ａ６ｈ，ａ７ｈ 例えば光学ディスクの場合、欠陥管理領域の主欠陥リス
トにはフォーマット時に特定された総ての欠陥領域の入
力が含まれている。
ような１６進数の種々の連鎖を表わす。 （１５ｈ，５）＝１５ｈ，１６ｈ，１７ｈ，１８ｈ，１
９ｈ （２５ｈ，１２）＝２５ｈ，２６ｈ，２７ｈ，２８ｈ，
２９ｈ，２ａｈ，２ｂｈ，２ｃｈ，２ｄｈ，２ｅｈ，２
ｆｈ，３０ｈ （ａ０ｈ，８）＝ａ０ｈ，ａ１ｈ，ａ２ｈ，ａ３ｈ，ａ
４ｈ，ａ５ｈ，ａ６ｈ，ａ７ｈ 例えば光学ディスクの場合、欠陥管理領域の主欠陥リス
トにはフォーマット時に特定された総ての欠陥領域の入
力が含まれている。
【００１３】従来、入力フォーマット（図３参照）は単
に入力タイプと対応する欠陥領域の領域番号とを特定す
るようになっていた。このフォーマットでは、１つの欠
陥領域を１つのＰＤＬ入力に記録する。ＰＤＬに記録さ
れるアドレスは１６進数の連鎖である。ＰＤＬに記録さ
れるアドレス連鎖には連続する１６進数が多数存在す
る。連続１６進数はフォーマットが（Ｎ，Ｌ）である
（ｄ，ｋ）ＲＬＬ１６進数に転送することが出来る。仮
にｄ＝１と定義すると、ＰＤＬに記録されているすべて
のアドレス数は（１，ｋ）ＲＬＬ１６進数の連鎖に転送
することが出来る。図３に示す４バイトＰＤＬ入力フォ
ーマットを図４に示す入力フォーマットに変更すること
が出来る。
に入力タイプと対応する欠陥領域の領域番号とを特定す
るようになっていた。このフォーマットでは、１つの欠
陥領域を１つのＰＤＬ入力に記録する。ＰＤＬに記録さ
れるアドレスは１６進数の連鎖である。ＰＤＬに記録さ
れるアドレス連鎖には連続する１６進数が多数存在す
る。連続１６進数はフォーマットが（Ｎ，Ｌ）である
（ｄ，ｋ）ＲＬＬ１６進数に転送することが出来る。仮
にｄ＝１と定義すると、ＰＤＬに記録されているすべて
のアドレス数は（１，ｋ）ＲＬＬ１６進数の連鎖に転送
することが出来る。図３に示す４バイトＰＤＬ入力フォ
ーマットを図４に示す入力フォーマットに変更すること
が出来る。
【００１４】図４のＰＤＬ入力フォーマットでは、図３
の場合と同じように３０ビット〜３１ビットに入力タイ
プが特定され、連続する欠陥領域の１グループの長さと
開始アドレスが２４ビット〜２９ビットおよび０ビット
〜３ビットにそれぞれ記録される。ＳＤＬから転送され
たＰＤＬは１６個の連続する１６進数の連鎖であること
から、好ましくはｋ＝１６と定義する。従って“長さ”
を記録するために使用されるビット数は４に等しい。こ
の新しいフォーマットを使用して、ＰＤＬは欠陥領域ア
ドレスを（１，１６）ＲＬＬ１６進数に記録することが
出来る。
の場合と同じように３０ビット〜３１ビットに入力タイ
プが特定され、連続する欠陥領域の１グループの長さと
開始アドレスが２４ビット〜２９ビットおよび０ビット
〜３ビットにそれぞれ記録される。ＳＤＬから転送され
たＰＤＬは１６個の連続する１６進数の連鎖であること
から、好ましくはｋ＝１６と定義する。従って“長さ”
を記録するために使用されるビット数は４に等しい。こ
の新しいフォーマットを使用して、ＰＤＬは欠陥領域ア
ドレスを（１，１６）ＲＬＬ１６進数に記録することが
出来る。
【００１５】上述の方法によれば、本発明の欠陥領域記
録方法（図１参照）は次のステップを含む。 ステップ１：ディスクドライバでＰＤＬ欠陥領域の各ア
ドレスを取出す。 ステップ２：連続する欠陥領域の各グループの長さと開
始アドレスとを見出す。 ステップ３：各ＰＤＬ入力中に開始アドレスと長さとを
記録する。
録方法（図１参照）は次のステップを含む。 ステップ１：ディスクドライバでＰＤＬ欠陥領域の各ア
ドレスを取出す。 ステップ２：連続する欠陥領域の各グループの長さと開
始アドレスとを見出す。 ステップ３：各ＰＤＬ入力中に開始アドレスと長さとを
記録する。
【００１６】さらに本発明では、少なくとも１つの連続
欠陥領域の長さと開始アドレスとを記録した欠陥リスト
を持ったディスク媒体が提供される。光ディスクのよう
なディスク媒体では、ＰＤＬに記録される欠陥領域は３
つのタイプを含んでいる。 Ｐリスト：ディスク製造者によって定義された欠陥領域
を表わす。 Ｇ１ リスト：認証手順中に発見された欠陥領域を表わ
す。 Ｇ2 リスト：ＳＤＬから転送される欠陥領域を表わす。 これに対し、従来のＰＤＬ入力フォーマット（図３に示
される再書込み可能な光ディスクの現在の仕様）では、
１つの欠陥領域を１つのＰＤＬ入力に記録する。本発明
のＰＤＬ入力フォーマット（図４参照）では複数の欠陥
領域を１つのＰＤＬ入力に記録することが出来る。
欠陥領域の長さと開始アドレスとを記録した欠陥リスト
を持ったディスク媒体が提供される。光ディスクのよう
なディスク媒体では、ＰＤＬに記録される欠陥領域は３
つのタイプを含んでいる。 Ｐリスト：ディスク製造者によって定義された欠陥領域
を表わす。 Ｇ１ リスト：認証手順中に発見された欠陥領域を表わ
す。 Ｇ2 リスト：ＳＤＬから転送される欠陥領域を表わす。 これに対し、従来のＰＤＬ入力フォーマット（図３に示
される再書込み可能な光ディスクの現在の仕様）では、
１つの欠陥領域を１つのＰＤＬ入力に記録する。本発明
のＰＤＬ入力フォーマット（図４参照）では複数の欠陥
領域を１つのＰＤＬ入力に記録することが出来る。
【００１７】本ＰＤＬ記録方法によって記録された欠陥
メモリサイズは従来のフォーマットの１〜１６倍であ
る。効率は欠陥領域の分布に依存する。図５は、１０，
０００データ領域内にランダムに分布した欠陥領域を記
録するために必要なメモリ空間を比較したものである。
Ｘ軸及びＹ軸は、それぞれ、欠陥領域の数及びＰＤＬ入
力数を示したものである。図から明らかなように、実線
で示す本発明の記録効率の方が破線で示す従来の記録フ
ォーマットによるよりは優れている。本発明の他の実施
の形態は明細書を参照し、前述した本発明を実施するこ
とにより当業者に明らかとなろう。明細書と実施例とは
例示であって本発明の権利範囲は特許請求の範囲に基づ
いて定められなければならない。
メモリサイズは従来のフォーマットの１〜１６倍であ
る。効率は欠陥領域の分布に依存する。図５は、１０，
０００データ領域内にランダムに分布した欠陥領域を記
録するために必要なメモリ空間を比較したものである。
Ｘ軸及びＹ軸は、それぞれ、欠陥領域の数及びＰＤＬ入
力数を示したものである。図から明らかなように、実線
で示す本発明の記録効率の方が破線で示す従来の記録フ
ォーマットによるよりは優れている。本発明の他の実施
の形態は明細書を参照し、前述した本発明を実施するこ
とにより当業者に明らかとなろう。明細書と実施例とは
例示であって本発明の権利範囲は特許請求の範囲に基づ
いて定められなければならない。
【図１】ディスク媒体内の欠陥領域を記録する本発明の
フローチャート。
フローチャート。
【図２】従来の、光ディスクのディスクフォーマットの
一例を示す図。
一例を示す図。
【図３】再書込可能な光ディスクの従来のＰＤＬ入力フ
ォーマットを示す図。
ォーマットを示す図。
【図４】ランレングスリミット番号を記録する本発明の
ＰＤＬ入力フォーマットを示す図。
ＰＤＬ入力フォーマットを示す図。
【図５】従来のフォーマットとＲＬＬフォーマットとの
間での記録効率の比較を示す図。
間での記録効率の比較を示す図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 596170000 Ｎｏ．195，Ｃｈｕｎｇ Ｈｓｉｎｇ Ｒ ｏａｄ，Ｓｅｃ．４，Ｃｈｕｔｕｎｇ，Ｈ ｓｉｎｃｈｕ 31015， Ｔａｉｗａｎ, Ｒ．Ｏ．Ｃ. (72)発明者 喬 作 文 台湾新竹市明湖路400巷64弄20號 (72)発明者 ▲黄▼ 得 瑞 台湾新竹市光明新村62號３Ｆ Ｆターム(参考） 5D044 BC02 CC04 DE38 DE52 DE61 DE64 5D090 AA01 CC01 FF38
Claims (14)
- 【請求項１】 ディスクドライバで欠陥領域の各アドレ
スを抽出するステップと、 抽出された連続する欠陥領域の各組の長さと開始アドレ
スとを見出すステップと、 前記開始アドレスと前記長さとを欠陥リスト入力名簿に
記録するステップと、を備えたことを特徴とするディス
ク媒体の欠陥リストに欠陥領域を記録する方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の記録方法において、 前記ディスク媒体が光学ディスクであり、前記欠陥リス
トが前記ディスク媒体のＰＤＬであることを特徴とする
記録方法。 - 【請求項３】 請求項１に記載の記録方法において、 前記欠陥領域はディスク製造者によって定義されること
を特徴とする記録方法。 - 【請求項４】 請求項１に記載の記録方法において、 前記欠陥領域は認証手順中に発見されることを特徴とす
る記録方法。 - 【請求項５】 請求項１に記載の記録方法において、 前記欠陥領域は光学ディスクのＳＤＬから転送されるこ
とを特徴とする記録方法。 - 【請求項６】 請求項１に記載の記録方法において、 前記開始アドレスはＰＤＬ名簿の０〜２３ビットに記録
され、前記長さは２４〜２９ビットに記録されることを
特徴とする記録方法。 - 【請求項７】 請求項１に記載の記録方法において、 前記連続する欠陥領域の各組の長さは１６以内であるこ
とを特徴とする記録方法。 - 【請求項８】 データを格納するデータ領域と、 連続する欠陥領域の各組の長さと開始アドレスとを記録
した欠陥リストを有し、前記データ領域の欠陥領域を記
録する少なくとも１つの欠陥管理領域と、を備えたこと
を特徴とする欠陥領域を記録した欠陥リストを有するデ
ィスク媒体。 - 【請求項９】 請求項８に記載のディスク媒体におい
て、 前記ディスク媒体が光学ディスクであり、前記欠陥リス
トが前記ディスク媒体 のＰＤＬであることを特徴とする記録方法。 - 【請求項１０】 請求項８に記載のディスク媒体におい
て、 前記欠陥領域はディスク製造者によって定義されること
を特徴とする記録方法。 - 【請求項１１】 請求項８に記載のディスク媒体におい
て、 前記欠陥領域は認証手順中に発見されることを特徴とす
る記録方法。 - 【請求項１２】 請求項８に記載のディスク媒体におい
て、 前記欠陥領域は光学ディスクのＳＤＬから転送されるこ
とを特徴とする記録方法。 - 【請求項１３】 請求項８に記載のディスク媒体におい
て、 前記開始アドレスはＰＤＬ名簿の０〜２３ビットに記録
され、前記長さは２４〜２９ビットに記録されることを
特徴とする記録方法。 - 【請求項１４】 請求項８に記載のディスク媒体におい
て、 前記連続する欠陥領域の各組の長さは１６以内であるこ
とを特徴とする記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11028413A JP2000228069A (ja) | 1999-02-05 | 1999-02-05 | ディスク媒体の欠陥領域の記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11028413A JP2000228069A (ja) | 1999-02-05 | 1999-02-05 | ディスク媒体の欠陥領域の記録方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000228069A true JP2000228069A (ja) | 2000-08-15 |
Family
ID=12247977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11028413A Pending JP2000228069A (ja) | 1999-02-05 | 1999-02-05 | ディスク媒体の欠陥領域の記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000228069A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6654904B1 (en) | 1999-06-29 | 2003-11-25 | International Business Machines Corporation | Method for registering, in a defect map, addresses of defective sectors of a data recording medium |
| JP2007518204A (ja) * | 2004-01-05 | 2007-07-05 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 光記録情報記録媒体、記録／再生装置及び記録／再生方法 |
-
1999
- 1999-02-05 JP JP11028413A patent/JP2000228069A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6654904B1 (en) | 1999-06-29 | 2003-11-25 | International Business Machines Corporation | Method for registering, in a defect map, addresses of defective sectors of a data recording medium |
| JP2007518204A (ja) * | 2004-01-05 | 2007-07-05 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 光記録情報記録媒体、記録／再生装置及び記録／再生方法 |
| US7869319B2 (en) | 2004-01-05 | 2011-01-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical recording medium, recording/reproducing apparatus and recording/reproducing method |
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