JP2000195920A - Substrate carrying system and device for manufacturing semiconductor - Google Patents

Substrate carrying system and device for manufacturing semiconductor

Info

Publication number
JP2000195920A
JP2000195920A JP36825698A JP36825698A JP2000195920A JP 2000195920 A JP2000195920 A JP 2000195920A JP 36825698 A JP36825698 A JP 36825698A JP 36825698 A JP36825698 A JP 36825698A JP 2000195920 A JP2000195920 A JP 2000195920A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrates
substrate
cassette
lock
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP36825698A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4227235B2 (en
Inventor
Kazuto Watanabe
和人 渡邊
Masahito Ishihara
雅仁 石原
Nobuyuki Takahashi
信行 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Anelva Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anelva Corp filed Critical Anelva Corp
Priority to JP36825698A priority Critical patent/JP4227235B2/en
Publication of JP2000195920A publication Critical patent/JP2000195920A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4227235B2 publication Critical patent/JP4227235B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a practical carrying system of substrate which can effectively reduce the time necessary for carrying substrates. SOLUTION: An autoloader which carries substrates 9 en block between an outer cassette 5 and a cassette 31 in a lock, which accommodate 25 sheets of substrate 9 by similar structures, is equipped with a first holding unit 44A which simultaneously holds 12 sheets of the substrate 9 and a second holding unit 44B for holding one sheet of the substrate 9. By driving the first holding unit 44A two times and driving the second holding unit 44B one time, 25 sheets of the substrate 9 are carried. The substrates 9 are temporarily moored on a mooring shelf 48 which is installed between the outer cassette 5 and a load lock chamber 3. By means of the second holding unit 44B, the substrates 9 are carried one by one to a positioning apparatus 43, and positioned.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本願の発明は、各種半導体デ
バイスを製作する際に使用される半導体製造装置、特
に、装置に使用される基板搬送システムの構成に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus used for manufacturing various semiconductor devices, and more particularly to a configuration of a substrate transfer system used for the apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】LSIを始めとする各種半導体デバイス
は、基板に対する多くの表面処理を経て製作される。こ
のようなプロセスを行う装置は半導体製造装置と総称さ
れ、この中には、スパッタリングや化学蒸着(CVD)
等の薄膜作成を行う装置や、エッチングや不純物注入等
の表面処理を行う装置等が含まれる。このような半導体
製造装置には、処理チャンバー内に基板を搬入したり、
処理後の基板を処理チャンバーから搬出したりすること
が必要であり、多くの場合、基板搬送システムを備えて
いる。この基板搬送システムについて、マルチチャンバ
ータイプのスパッタリング装置の場合を例にして説明す
る。
2. Description of the Related Art Various semiconductor devices such as LSIs are manufactured through many surface treatments for substrates. An apparatus for performing such a process is collectively referred to as a semiconductor manufacturing apparatus, and includes sputtering and chemical vapor deposition (CVD).
And a device for performing a surface treatment such as etching and impurity implantation. In such a semiconductor manufacturing apparatus, a substrate is loaded into a processing chamber,
It is necessary to carry out the processed substrate from the processing chamber or the like, and in many cases, a substrate transfer system is provided. The substrate transfer system will be described using a multi-chamber type sputtering apparatus as an example.

【0003】図4は、マルチチャンバータイプのスパッ
タリング装置の従来の構成を説明する平面概略図であ
る。図4に示すスパッタリング装置では、中央に配置さ
れたセパレーションチャンバー1と、セパレーションチ
ャンバーの周囲に設けられた複数の処理チャンバー2及
び二つのロードロックチャンバー3とからなるチャンバ
ー配置になっている。各チャンバー1,2,3は、専用
又は兼用の排気系によって排気される真空容器である。
各チャンバー1,2,3同士の接続個所には不図示のゲ
ートバルブが設けられている。
FIG. 4 is a schematic plan view illustrating a conventional structure of a multi-chamber type sputtering apparatus. The sputtering apparatus shown in FIG. 4 has a chamber arrangement including a separation chamber 1 arranged at the center, a plurality of processing chambers 2 provided around the separation chamber, and two load lock chambers 3. Each of the chambers 1, 2, and 3 is a vacuum container that is evacuated by a dedicated or shared exhaust system.
A gate valve (not shown) is provided at a connection point between the chambers 1, 2, and 3.

【0004】セパレーションチャンバー1は、各処理チ
ャンバー2を相互に気密に分離して内部雰囲気の相互汚
染を防止するとともに、各処理チャンバー1やロードロ
ックチャンバー3への基板搬送の経由空間となるもので
ある。即ち、セパレーションチャンバー1内には、搬送
ロボット11が設けられている。搬送ロボット11は、
いずれか一方のロードロックチャンバー3から基板を一
枚ずつ取り出し、各処理チャンバー2に送って順次処理
を行うことになっている。そして、最後の処理を終了し
た後、いずれか一方のロードロックチャンバー1に戻す
ようになっている。
[0004] The separation chamber 1 separates the processing chambers 2 from each other in a gas-tight manner to prevent cross-contamination of the internal atmosphere, and serves as a space for transporting substrates to the processing chambers 1 and the load lock chamber 3. is there. That is, the transfer robot 11 is provided in the separation chamber 1. The transfer robot 11
The substrates are taken out one by one from one of the load lock chambers 3 and sent to each of the processing chambers 2 to sequentially perform the processing. Then, after the last processing is completed, the processing is returned to one of the load lock chambers 1.

【0005】処理チャンバー2の一つは、所定のスパッ
タリングを行うスパッタチャンバー2Aとして構成され
る。スパッタチャンバー2A内には、成膜する材料より
なるターゲット、ターゲットをスパッタするための電力
印加機構やガス導入手段、マグネトロンスパッタリング
のための磁石機構、所定位置に基板を保持する基板ホル
ダー等が設けられている。また、他の処理チャンバー2
の一つは、スパッタリングの前に基板9を予備加熱する
プリヒートチャンバー2Bとして構成され、さらに他の
処理チャンバーの一つは、スパッタリング後に基板9を
冷却する冷却チャンバー2C等として構成される。ま
た、ロードロックチャンバー3の外側には、オートロー
ダ4が設けられている。オートローダ4は、ロードロッ
クチャンバー3の外側に設けられた外部カセット5と、
ロードロックチャンバー3内のロック内カセット31と
の間で基板9を搬送する機構である。
[0005] One of the processing chambers 2 is configured as a sputtering chamber 2A for performing predetermined sputtering. In the sputtering chamber 2A, there are provided a target made of a material to be formed into a film, a power application mechanism for sputtering the target, gas introducing means, a magnet mechanism for magnetron sputtering, a substrate holder for holding a substrate at a predetermined position, and the like. ing. Another processing chamber 2
One is configured as a preheat chamber 2B for preheating the substrate 9 before sputtering, and the other processing chamber is configured as a cooling chamber 2C for cooling the substrate 9 after sputtering. An autoloader 4 is provided outside the load lock chamber 3. The autoloader 4 includes an external cassette 5 provided outside the load lock chamber 3,
This is a mechanism for transporting the substrate 9 to and from the in-lock cassette 31 in the load lock chamber 3.

【0006】さて、本願発明の対象である基板搬送シス
テムとは、半導体製造装置において基板を搬送する機構
部分の総称であるから、上記装置においては、セパレー
ションチャンバー1に設けられた搬送ロボット11や外
部カセット5とロードロックチャンバー1との間で基板
を搬送するオートローダ4等が基板搬送システムに該当
している。このうち、以下の説明では、オートローダ4
の場合を例にして説明する。図4に示すオートローダ4
は、一枚の基板9を保持する保持フィンガ41と、保持
フィンガ41を移動させる移動機構42とから構成され
ている。保持フィンガ41は、略U字状に形成された板
部材であり、上面に基板9を載せて保持するよう構成さ
れる。また、移動機構42は、多くの場合、鉛直な回転
軸の周りに回転可能なアームを備えた多関節ロボットが
採用される。
The substrate transfer system, which is the subject of the present invention, is a general term for a mechanism for transferring a substrate in a semiconductor manufacturing apparatus. Therefore, in the above-described apparatus, the transfer robot 11 provided in the separation chamber 1 and an external The autoloader 4 that transports substrates between the cassette 5 and the load lock chamber 1 corresponds to the substrate transport system. Of these, in the following description, the autoloader 4
An example will be described. Autoloader 4 shown in FIG.
Is composed of a holding finger 41 that holds one substrate 9 and a moving mechanism 42 that moves the holding finger 41. The holding finger 41 is a substantially U-shaped plate member, and is configured to hold the substrate 9 on the upper surface. In many cases, the moving mechanism 42 employs an articulated robot having an arm that can rotate around a vertical rotation axis.

【0007】上記オートローダは、位置出し器43を有
している。位置出し器43は、外部カセット5からロッ
ク内カセット31に未処理の基板9を搬入する際、また
は、ロック内カセット31から外部カセット5に処理済
みの基板9を搬出する際に、基板9の位置出しに使用さ
れるものである。
The autoloader has a positioning device 43. The positioner 43 transfers the unprocessed substrate 9 from the external cassette 5 to the lock-in cassette 31 or unloads the processed substrate 9 from the lock-in cassette 31 to the external cassette 5. It is used for positioning.

【0008】外部カセット5からオートローダ4によっ
て取り出されて搬送される際、オートローダ4の保持フ
ィンガ41の中心と基板9の中心とがずれていると、こ
のずれは基板9がセパレーションチャンバー1内の搬送
ロボット11に受け渡された際にも維持される。この結
果、処理チャンバー2内の基板ホルダーに基板9が載置
された際も、基板9の中心と基板ホルダーの中心とがず
れていることになる。ここで、基板ホルダーと基板9と
の接触性を高めるため、基板9の周縁の部分をクランパ
と呼ばれるリング状の押さえ部材で押さえることが行わ
れる。この場合、基板ホルダーの中心からずれて基板9
が載置されると、クランパも基板9の周縁から外れてし
まって周縁を正常に押圧せず、基板ホルダーに対する基
板9の接触性が不十分となる。また、クランパが基板9
の厚さ分だけ下に落ちてしまうので、クランパと基板9
との間に連続して薄膜が堆積してしまい、基板9とクラ
ンパとが癒着してしまう結果となる。基板9とクランパ
とが癒着すると、クランパの解除が困難になり、基板9
の搬送ができなくなってしまう。このため、オートロー
ダ4は、外部カセット5からロック内カセット31に基
板9を搬送する際、基板9の中心を所定の基準点(以
下、中心基準点)に一致させる動作(以下、中心出し)
を行う。
When the center of the holding finger 41 of the autoloader 4 is displaced from the center of the substrate 9 when the substrate is taken out of the external cassette 5 by the autoloader 4 and conveyed, the deviation is caused by the conveyance of the substrate 9 in the separation chamber 1. It is also maintained when it is delivered to the robot 11. As a result, even when the substrate 9 is placed on the substrate holder in the processing chamber 2, the center of the substrate 9 is shifted from the center of the substrate holder. Here, in order to enhance the contact between the substrate holder and the substrate 9, a peripheral portion of the substrate 9 is pressed by a ring-shaped pressing member called a clamper. In this case, the substrate 9 is shifted from the center of the substrate holder.
Is mounted, the clamper also comes off the peripheral edge of the substrate 9 and does not normally press the peripheral edge, so that the contact property of the substrate 9 with the substrate holder becomes insufficient. Further, the clamper is mounted on the substrate 9.
The clamper and the substrate 9
Between the substrate 9 and the clamper, resulting in adhesion between the substrate 9 and the clamper. When the substrate 9 and the clamper adhere to each other, it becomes difficult to release the clamper.
Cannot be transported. Therefore, when the autoloader 4 conveys the substrate 9 from the external cassette 5 to the in-lock cassette 31, the autoloader 4 matches the center of the substrate 9 with a predetermined reference point (hereinafter, center reference point) (hereinafter, centering).
I do.

【0009】また、処理済みの基板9をロードロックチ
ャンバー3に回収する際、基板9の中心がオートローダ
4の保持フィンガ41の中心からずれていると、外部カ
セット5に収容する際、外部カセット5の縁等に衝突し
たり、外部カセット5の内面にこすれたりする問題があ
る。このため、外部カセット5への収容の際にも必要に
応じて基板9の中心出しが行われる。また特に、基板9
の管理を行うため、基板9に周縁のマージンの部分に設
けられた基板ID番号を処理済みに読み出すことが行わ
れることがある。基板ID番号の読み出しは、固定され
たイメージセンサに対して基板9を所定位置に配置する
ことにより行われる。このため、中心出しのみならず、
基板9の周縁の特異点を所定の回転方向の基準点(以
下、回転基準点)に一致させる動作(以下、回転位置出
し)を処理後に行う必要がある場合がある。
When the processed substrate 9 is collected in the load lock chamber 3 and the center of the substrate 9 is displaced from the center of the holding finger 41 of the autoloader 4, when the substrate 9 is stored in the external cassette 5, And rubs against the inner surface of the external cassette 5. For this reason, the centering of the substrate 9 is performed as necessary even when the substrate 9 is accommodated in the external cassette 5. In particular, the substrate 9
In some cases, the board ID number provided in the margin of the peripheral edge of the board 9 is read out after processing. The reading of the board ID number is performed by arranging the board 9 at a predetermined position with respect to the fixed image sensor. For this reason, not only centering,
In some cases, it is necessary to perform an operation (hereinafter, referred to as a rotational position determination) for matching a singular point on the periphery of the substrate 9 with a reference point in a predetermined rotation direction (hereinafter, referred to as a rotation reference point) after the processing.

【0010】基板9の中心出し及び回転位置出し(本明
細書において位置出しと総称する)は、以下のような構
成により行われる。図5は、図4に示された位置出し器
43のより詳細な構成を説明する斜視概略図である。位
置出し器43は、基板9が載置されるステージ431
と、ステージ431を支える支柱432と、支柱432
を回転させる回転機構433と、ステージ431、支柱
432及び回転機構433を一体に支持している支持台
434と、支持台434をX方向に移動させるX方向移
動機構435と、支持台434をY方向に移動させるY
方向移動機構436と、基板の位置を検出する不図示の
センサと、センサからの信号に従ってX方向移動機構4
35及びY方向移動機構436を制御する不図示の制御
部とから主に構成されている。
[0010] Centering and rotational positioning of the substrate 9 (collectively referred to as positioning in this specification) are performed by the following configuration. FIG. 5 is a schematic perspective view illustrating a more detailed configuration of the positioner 43 shown in FIG. The positioner 43 includes a stage 431 on which the substrate 9 is placed.
And a support 432 supporting the stage 431, and a support 432
, A support 434 that integrally supports the stage 431, the support 432, and the rotation mechanism 433; an X-direction moving mechanism 435 that moves the support 434 in the X direction; Y to move in the direction
Direction moving mechanism 436, a sensor (not shown) for detecting the position of the substrate, and X direction moving mechanism 4 in accordance with a signal from the sensor.
35 and a control unit (not shown) for controlling the Y-direction moving mechanism 436.

【0011】ステージ431は、基板9よりも小さな円
板状である。また、保持フィンガ41は、内側の幅がス
テージ431の直径よりも大きな略U字状であり、基板
9をステージ431に載置する際、ステージ431が保
持フィンガ41のUの字の内側に位置する状態となる。
尚、基板9をステージ431に載置する際、保持フィン
ガ41の中心は、ステージ431の中心軸(ステージ4
31の中心を通る鉛直な線)上に位置した状態となる。
The stage 431 has a disk shape smaller than the substrate 9. The holding finger 41 has a substantially U-shape whose inner width is larger than the diameter of the stage 431. When the substrate 9 is placed on the stage 431, the stage 431 is positioned inside the U shape of the holding finger 41. State.
When the substrate 9 is placed on the stage 431, the center of the holding finger 41 is aligned with the center axis of the stage 431 (stage 4).
31) (vertical line passing through the center of the line 31).

【0012】中心基準点は、上記保持フィンガ41が基
板9をステージ431に載置した際に、ステージ431
の中心軸が基板9の表面を貫く点に設定されている。中
心出しは、基板9がステージ431に載置された際に、
基板9の表面の中心点が中心基準点に対してどの程度ず
れているかを検出し、中心点が中心基準点に一致するよ
うにX方向移動機構435及びY方向移動機構436を
駆動することにより行う。また、基板9の回転方向の位
置出しは、基板9の周縁に形成された特定の点(以下、
周縁特異点)の位置を検出し、基板9を回転させて周縁
特異点を所定の回転基準点に位置させることにより行
う。この周縁特異点は、具体的には基板9のオリエンテ
ーションフラット(以下、オリフラ)の中点である。
The center reference point is determined when the holding finger 41 places the substrate 9 on the stage 431.
Is set at a point passing through the surface of the substrate 9. Centering is performed when the substrate 9 is mounted on the stage 431.
By detecting how much the center point of the surface of the substrate 9 is shifted from the center reference point, by driving the X-direction movement mechanism 435 and the Y-direction movement mechanism 436 so that the center point coincides with the center reference point. Do. The position of the substrate 9 in the rotational direction is determined by a specific point formed on the periphery of the substrate 9 (hereinafter, referred to as a specific point).
This is performed by detecting the position of the peripheral singular point) and rotating the substrate 9 to position the peripheral singular point at a predetermined rotation reference point. This peripheral singular point is specifically the middle point of the orientation flat (hereinafter, orientation flat) of the substrate 9.

【0013】X方向移動機構435及びY方向移動機構
436の駆動は、不図示センサの検出結果によって行
う。センサの構成は、検出の方式によって異なるが、複
数のフォトセンサを用いる場合と、CCDセンサ等のイ
メージセンサを使用する場合に分けられる。このうち、
複数のフォトセンサを使用する場合は、中心軸を中心と
する円周上に均等に複数のフォトセンサ(透過型でも反
射型でもよい)を配置する。フォトセンサの配置位置
は、基板9と同等の直径の円周上である。
The driving of the X-direction moving mechanism 435 and the Y-direction moving mechanism 436 is performed based on the detection result of a sensor (not shown). The configuration of the sensor differs depending on the detection method, but is divided into a case where a plurality of photo sensors are used and a case where an image sensor such as a CCD sensor is used. this house,
When a plurality of photosensors are used, a plurality of photosensors (either a transmission type or a reflection type) are arranged evenly on a circumference centered on the central axis. The arrangement position of the photosensor is on the circumference having the same diameter as the substrate 9.

【0014】基板9がステージ431に載置されると、
回転機構433が支柱432を介してステージ431を
回転させる。ステージ431の表面には、基板9をステ
ージ431に吸着する真空吸着口が設けられており、基
板9はステージ431に真空吸着され、ステージ431
の回転に伴って一体に回転する。この回転の際、中心基
準点と中心点とのずれに従って、基板9の周縁が複数の
フォトセンサ437を周期的に遮光したり透過させたり
することになる。この際、どのフォトセンサ437がど
のようなタイミングで遮光されたり透過したりすること
を知ることから、中心基準点と中心点のずれ及び周縁特
異点と回転基準点とのずれが演算によって求められる。
不図示の制御部は、この演算を行って二つのずれ量を求
め、このずれを補正するようにX方向移動機構435と
Y方向移動機構436に駆動信号を送る。
When the substrate 9 is placed on the stage 431,
The rotation mechanism 433 rotates the stage 431 via the support 432. The surface of the stage 431 is provided with a vacuum suction port for sucking the substrate 9 on the stage 431.
It rotates together with the rotation of. During this rotation, the periphery of the substrate 9 periodically shields or transmits the plurality of photosensors 437 in accordance with the shift between the center reference point and the center point. At this time, since it is known which photo sensor 437 is shielded or transmitted at what timing, the shift between the center reference point and the center point and the shift between the peripheral singular point and the rotation reference point can be calculated. .
The control unit (not shown) performs this calculation to obtain two shift amounts, and sends a drive signal to the X-direction moving mechanism 435 and the Y-direction moving mechanism 436 so as to correct the difference.

【0015】また、CCDセンサを用いる場合、基板9
の周縁のうち特定の領域の画像を捉えるようにしてCC
Dセンサを配置する。そして、CCDセンサは固定した
状態にしておき、基板9を回転機構433によって回転
させる。中心基準点と中心点とのずれ及びオリフラの中
心等の周縁特異点の回転方向の位置に従い、CCDセン
サに捉えられる基板9の周縁の画像に振れが生ずる。こ
の振れの量及び振れが生じた際の基板9の回転角度の情
報から、中心基準点と中心点とのずれ及び回転基準点に
対する周縁特異点のずれが演算によって求められる。そ
して、同様にX方向移動機構435とY方向移動機構4
36に駆動信号を送って、中心基準点と中心点を一致さ
せ、回転機構433に駆動信号を送って周縁特異点を回
転基準点に一致させる。
When a CCD sensor is used, the substrate 9
To capture an image of a specific area in the periphery of
Place the D sensor. Then, the CCD sensor is kept fixed, and the substrate 9 is rotated by the rotation mechanism 433. In accordance with the displacement between the center reference point and the center point and the position of the peripheral singular point such as the center of the orientation flat in the rotational direction, the peripheral image of the substrate 9 captured by the CCD sensor is shaken. From the information on the amount of the shake and the rotation angle of the substrate 9 when the shake occurs, the shift between the center reference point and the center point and the shift of the peripheral singular point with respect to the rotation reference point are calculated. Then, similarly, the X direction moving mechanism 435 and the Y direction moving mechanism 4
A drive signal is sent to 36 to make the center reference point coincide with the center point, and a drive signal is sent to the rotation mechanism 433 to make the peripheral singular point coincide with the rotation reference point.

【0016】このような中心出しを行った後、保持フィ
ンガ41が基板9をステージ431から取り去り、ロー
ドロックチャンバー3内のロック内カセット31に基板
9に搬送する。尚、図4に示すように、上述のようなオ
ートローダ4は、二つ設けられている。そして、二つの
オートローダ4の間に一つの位置出し器43が設けられ
ている。
After such centering, the holding finger 41 removes the substrate 9 from the stage 431 and transports the substrate 9 to the in-lock cassette 31 in the load lock chamber 3. In addition, as shown in FIG. 4, two autoloaders 4 as described above are provided. One positioning device 43 is provided between the two autoloaders 4.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】半導体製造装置用基板
搬送システムは、装置の生産性を高めるため、基板搬送
に要する時間を短くすることが要求されている。しかし
ながら、上述した従来例の基板搬送システムでは、外部
カセットからロック内カセットに基板を一枚ずつ搬送し
ているため、基板搬送に要する時間を短くすることは困
難であった。即ち、外部カセットの基板の収容枚数の分
だけオートローダを動作させることが必要であり、基板
搬送に要する時間を短くすることは困難であった。ま
た、オートローダの動作回数が多くなると、オートロー
ダのメンテナンスの頻度が増加したり、動作の信頼性が
極めて高い機構が必要になったりして、ランニングコス
トや設備コスト等を上昇させる原因にもなる。
SUMMARY OF THE INVENTION In a substrate transfer system for a semiconductor manufacturing apparatus, it is required to reduce the time required for transferring the substrate in order to increase the productivity of the apparatus. However, in the above-described conventional substrate transport system, since the substrates are transported one by one from the external cassette to the in-lock cassette, it is difficult to shorten the time required for transporting the substrates. That is, it is necessary to operate the autoloader by the number of substrates accommodated in the external cassette, and it has been difficult to reduce the time required for substrate transport. In addition, when the number of times of operation of the autoloader increases, the frequency of maintenance of the autoloader increases, and a mechanism with extremely high operation reliability is required, which causes an increase in running costs and equipment costs.

【0018】搬送に要する時間を短くする方法として、
オートローダの動作速度、具体的には、保持フィンガの
移動速度を速くする方法がある。しかしながら、保持フ
ィンガの移動速度を速くすると、保持フィンガに確実に
基板を保持させるため、保持フィンガの表面に真空吸着
口を設けて基板を真空吸着する必要が生ずる。この場
合、真空吸着口が真空引きされることによって周囲の塵
や埃を集める結果となり、基板上に塵、埃、パーティク
ル等の異物が付着し易くなる。このため、基板の表面状
態を汚損させ、出来上がるデバイスの品質を損なう恐れ
がある。
As a method of shortening the time required for transportation,
There is a method of increasing the operation speed of the autoloader, specifically, the moving speed of the holding finger. However, when the moving speed of the holding finger is increased, it is necessary to provide a vacuum suction port on the surface of the holding finger to vacuum suck the substrate in order to surely hold the substrate with the holding finger. In this case, the vacuum suction port is evacuated, so that the surrounding dust and dirt are collected, and foreign substances such as dust, dirt, particles and the like easily adhere to the substrate. For this reason, the surface state of the substrate may be contaminated, and the quality of the resulting device may be impaired.

【0019】このような問題を解決する構成として、複
数の基板を一括して保持して搬送する構成が考えられ
る。しかしながら、ロック内カセットへの収容数の基板
を一度に搬送しようとすると、オートローダはかなり重
い重量の負荷を運ばなければならないことになる。最近
では、基板が大型化する傾向が顕著であり、大型化した
基板を多数保持して搬送すると、アームに過度の荷重が
かかってアームが撓んでしまい、最悪の場合には基板が
落下してしまう恐れがある。また、荷重が大きくなる
と、慣性も大きくなるので、移動機構の構成が大がかり
となり、コスト上の問題も生じてくる。
As a configuration for solving such a problem, a configuration in which a plurality of substrates are collectively held and transported is considered. However, if the number of substrates accommodated in the cassette in the lock is to be transported at one time, the autoloader must carry a considerably heavy load. Recently, there has been a remarkable tendency to increase the size of the substrate, and when holding and transporting a large number of enlarged substrates, an excessive load is applied to the arm, the arm is bent, and in the worst case, the substrate falls. There is a risk that it will. Further, when the load increases, the inertia also increases, so that the configuration of the moving mechanism becomes large, which causes a problem in cost.

【0020】このように、従来の基板搬送システムで
は、基板搬送に要する時間が長くかかり易く、また、そ
れを解決する方法もコストを上昇させたり基板を汚損さ
せたりする別の問題を生ずることがあった。本願の発明
は、このような課題を解決するためになされたものであ
り、基板の搬送に要する時間を効果的に短くできる実用
的な基板搬送システムを提供することを目的としてい
る。
As described above, in the conventional substrate transfer system, the time required to transfer the substrate is likely to be long, and the method for solving the problem may cause another problem of increasing the cost and soiling the substrate. there were. The invention of the present application has been made to solve such a problem, and an object of the invention is to provide a practical substrate transport system that can effectively shorten the time required for transporting a substrate.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本願の請求項1記載の発明は、複数の基板を収容可
能であり収容状態の各基板の位置関係が同じであるか類
似している二つのカセットの間で複数の基板を一括して
搬送することが可能な基板搬送システムであって、前記
収容状態の各基板の位置関係に適合した構造で複数の基
板を同時に保持することができる保持ユニットと、この
保持ユニットを少なくとも水平方向に移動させることが
可能な移動機構とを備えており、前記保持ユニットは、
前記カセットへの基板の収容枚数で割り切れる数の基板
を一度に搬送することが可能であり、前記移動機構は、
保持ユニットを複数回駆動することによって所定の収容
枚数の基板をカセットに収容するよう構成されている。
上記課題を解決するため、請求項2記載の発明は、複数
の基板を収容可能であり収容状態の各基板の位置関係が
同じであるか類似している二つのカセットの間で複数の
基板を一括して搬送することが可能な基板搬送システム
であって、前記収容状態の各基板の位置関係に適合した
構造で基板を保持するとともに少なくとも一つは複数の
基板を同時に保持することが可能な複数の保持ユニット
と、この複数の保持ユニットを少なくとも水平方向に移
動させることが可能な移動機構とを備えており、前記複
数の保持ユニットは、各々の保持ユニットが一度に保持
できる基板の数の合計又はその数の倍数の合計が前記カ
セットへの基板の収容枚数になっており、前記移動機構
は、各保持ユニットを一回又は複数回駆動することによ
って所定の収容枚数の基板をカセットに収容するよう構
成されている。上記課題を解決するため、請求項3記載
の発明は、上記請求項1又は2の構成において、前記保
持ユニットは、前記複数の基板を各々の上面に載置して
保持するよう複数設けられており、これら複数の保持ユ
ニットはフィンガ支持体に一体に保持されており、前記
移動機構は、フィンガ支持体を水平方向及び垂直方向に
移動させることが可能であるという構成を有する。ま
た、上記課題を解決するため、請求項4記載の発明は、
請求項2の構成において、前記複数の保持ユニットのう
ちの一つは、一枚の基板を搬送するものであり、前記二
つのカセットの間には、周縁基準点に対する周縁特異点
の回転方向のずれ及び又は中心基準点に対する基板の表
面の中心点のずれを算出する位置出し器が設けられてお
り、一方のカセットから基板が取り出されて他方のカセ
ットに収容される際、位置出し器を経由することによっ
て、基板の周縁特異点が周縁基準点に一致した状態で、
及び又は、基板の表面の中心点が中心基準点に一致した
状態で収容されるという構成を有する。また、上記課題
を解決するため、請求項5記載の発明は、上記請求項4
の構成において、前記一方のカセットと前記位置出し器
との間には、前記位置出し器を経由する際に複数の基板
を一度に係留することが可能な係留棚が設けられている
という構成を有する。また、上記課題を解決するため、
請求項6記載の発明は、上記請求項5の構成において、
前記係留棚で一度に係留される基板の枚数は、前記一方
のカセットの基板の収容枚数と同数以上であるという構
成を有する。また、上記課題を解決するため、請求項7
記載の発明は、基板に対して所定の処理を行う処理チャ
ンバーと、この処理チャンバーに対して真空中で基板を
搬送できるように接続されたロードロックチャンバーと
を備え、ロードロックチャンバー内には、複数の基板を
同時に収容可能なロック内カセットが設けられた半導体
製造装置であって、ロードロックチャンバー外に配設さ
れているとともに収容状態の各基板の位置関係が前記ロ
ック内カセットと同じであるか類似している外部カセッ
トと、この外部カセットに収容された基板を前記ロック
内カセットに搬送することが可能なオートローダとを備
えており、当該オートローダは、前記ロック内カセット
及び外部カセットの同一又は類似である収容状態の各基
板の位置関係に適合した構造で複数の基板を一括して保
持する保持ユニットを有し、保持ユニットが一回に保持
できる基板の数は前記ロック内カセットの所定の収容枚
数を割り切る数に一致しており、保持ユニットを複数回
動作させることにより前記所定の収容枚数の基板をロッ
ク内カセットに収容することが可能となっているという
構成を有する。また、上記課題を解決するため、請求項
8記載の発明は、基板に対して所定の処理を行う処理チ
ャンバーと、この処理チャンバーに対して真空中で基板
を搬送できるように接続されたロードロックチャンバー
とを備え、ロードロックチャンバー内には、複数の基板
を同時に収容可能なロック内カセットが設けられた半導
体製造装置であって、ロードロックチャンバー外に配設
されているとともに収容状態の各基板の位置関係が前記
ロック内カセットと同じであるか類似している外部カセ
ットと、この外部カセットに収容された基板を前記ロッ
ク内カセットに搬送することが可能なオートローダとを
備えており、オートローダは、前記ロック内カセット及
び外部カセットの同一又は類似である収容状態の各基板
の位置関係に適合した構造で基板を保持するとともに少
なくとも一つは複数の基板を同時に保持することが可能
な複数の保持ユニットを有し、各保持ユニットが一回に
保持できる基板の数の合計又はその数の倍数の合計が前
記ロック内カセットの所定の収容枚数に一致しており、
複数の保持ユニットを一回又は複数回動作させることに
より前記所定の収容枚数の基板をロック内カセットに収
容することが可能となっているという構成を有する。ま
た、上記課題を解決するため、請求項9記載の発明は、
上記請求項7又は8の構成において、前記保持ユニット
は、前記複数の基板を各々の上面に載置して保持するよ
う設けられた複数の保持フィンガと、これら複数の保持
フィンガを一体に支持したフィンガ支持体とから構成さ
れており、この保持ユニットを水平方向及び垂直方向に
移動させることが可能な移動機構が設けられているとい
う構成を有する。また、上記課題を解決するため、請求
項10記載の発明は、上記請求項8の構成において、前
記複数の保持ユニットのうちの一つは、一枚の基板を搬
送するものであり、前記ロック内カセットと外部カセッ
トとの間には、周縁基準点に対する周縁特異点の回転方
向のずれ及び又は中心基準点に対する基板の中心のずれ
を算出する位置出し器が設けられており、処理済みの基
板がロック内カセットから取り出されて外部カセットに
収容される際、位置出し器を経由することによって、基
板の周縁特異点が周縁基準点に一致した状態で、及び又
は、基板の表面の中心点が中心基準点に一致した状態で
収容されるよう構成されている。また、上記課題を解決
するため、請求項11記載の発明は、上記請求項10の
構成において、前記ロック内カセットと前記位置出し器
との間には、前記位置出し器を経由する際に複数の基板
を一度に係留することが可能な係留棚が設けられている
という構成を有する。また、上記課題を解決するため、
請求項12記載の発明は、上記請求項11の構成におい
て、前記係留棚で一度に係留される基板の枚数は、前記
ロック内カセットの基板の収容枚数と同数以上であると
いう構成を有する。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 of the present application is capable of accommodating a plurality of substrates, and the positional relationship among the substrates in the accommodated state is the same or similar. A substrate transfer system capable of simultaneously transferring a plurality of substrates between two cassettes, wherein the plurality of substrates can be simultaneously held in a structure suitable for the positional relationship between the substrates in the accommodated state. Holding unit, and a moving mechanism capable of moving the holding unit at least in the horizontal direction, the holding unit,
It is possible to transport at a time a number of substrates divisible by the number of substrates accommodated in the cassette, the moving mechanism,
A predetermined number of substrates are accommodated in the cassette by driving the holding unit a plurality of times.
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 2 can store a plurality of substrates between two cassettes that can store a plurality of substrates and have the same or similar positional relationship between the stored substrates. A substrate transport system capable of transporting all at once, wherein the substrate is held in a structure suitable for the positional relationship between the respective substrates in the accommodated state, and at least one of the substrates can simultaneously hold a plurality of substrates. A plurality of holding units, and a moving mechanism capable of moving the plurality of holding units at least in a horizontal direction, wherein the plurality of holding units have a number of substrates that each holding unit can hold at one time. The total or a multiple of the total is the number of substrates accommodated in the cassette, and the moving mechanism drives each holding unit once or a plurality of times to store the predetermined number of substrates. The substrate is configured to be accommodated in the cassette. According to a third aspect of the present invention, in order to solve the above problem, in the configuration of the first or second aspect, the plurality of holding units are provided so as to mount and hold the plurality of substrates on respective upper surfaces. The plurality of holding units are integrally held by a finger support, and the moving mechanism is configured to be able to move the finger support in a horizontal direction and a vertical direction. Further, in order to solve the above problem, the invention described in claim 4 is:
3. The configuration according to claim 2, wherein one of the plurality of holding units transports one substrate, and between the two cassettes, a rotation direction of a peripheral singular point with respect to a peripheral reference point. A position locator is provided for calculating the displacement and / or the displacement of the center point of the substrate surface with respect to the center reference point. When a substrate is taken out from one cassette and stored in the other cassette, the position locator is used. By doing so, in a state where the peripheral singular point of the substrate matches the peripheral reference point,
And / or a configuration in which the center point of the surface of the substrate is accommodated in a state in which the center point matches the center reference point. In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 5 is based on claim 4.
Wherein the mooring shelf that can moor a plurality of substrates at a time when passing through the locating device is provided between the one cassette and the locating device. Have. Also, in order to solve the above problems,
According to a sixth aspect of the present invention, in the configuration of the fifth aspect,
The number of substrates moored at one time on the mooring shelf is equal to or greater than the number of substrates accommodated in the one cassette. According to another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising:
The described invention includes a processing chamber for performing a predetermined process on the substrate, and a load lock chamber connected to the processing chamber so that the substrate can be transferred in a vacuum. A semiconductor manufacturing apparatus provided with an in-lock cassette capable of accommodating a plurality of substrates at the same time, wherein the positional relationship between the substrates disposed outside the load lock chamber and accommodated is the same as that of the in-lock cassette. Or a similar external cassette, and an autoloader capable of transporting a substrate accommodated in the external cassette to the lock-in cassette, wherein the autoloader is the same or the same as the lock-in cassette and the external cassette. A holding unit that holds a plurality of boards collectively with a structure that is similar to the positional relationship of each board in the accommodated state. The number of substrates that the holding unit can hold at one time is equal to a number that divides a predetermined number of sheets of the cassette in the lock, and the predetermined number of substrates is held by operating the holding unit a plurality of times. Can be accommodated in the cassette inside the lock. According to another aspect of the present invention, there is provided a processing chamber for performing a predetermined process on a substrate, and a load lock connected to the processing chamber so that the substrate can be transferred in a vacuum. A semiconductor manufacturing apparatus comprising a chamber and a lock lock cassette capable of simultaneously storing a plurality of substrates in the load lock chamber, wherein each substrate disposed outside the load lock chamber and in a stored state is provided. An external cassette having the same or similar positional relationship as the cassette in the lock, and an autoloader capable of transporting the substrate contained in the external cassette to the cassette in the lock. A board having a structure adapted to the positional relationship of the boards in the housed state, which are the same or similar to each other in the lock inner cassette and the outer cassette At least one holding unit has a plurality of holding units capable of holding a plurality of substrates at the same time, and the total number of substrates that each holding unit can hold at a time or a multiple of the total number of substrates is the lock. It matches the predetermined number of sheets in the inner cassette,
By operating the plurality of holding units once or a plurality of times, the predetermined number of substrates can be accommodated in the cassette inside the lock. In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 9 is
In the configuration according to claim 7 or 8, the holding unit integrally supports the plurality of holding fingers provided to mount and hold the plurality of substrates on respective upper surfaces thereof and the plurality of holding fingers. And a finger support, and a moving mechanism capable of moving the holding unit in the horizontal and vertical directions is provided. According to a tenth aspect of the present invention, in the configuration of the eighth aspect, one of the plurality of holding units transports a single substrate, and Between the inner cassette and the outer cassette, there is provided a positioner for calculating a shift in the rotation direction of the peripheral singular point with respect to the peripheral reference point and / or a shift of the center of the substrate with respect to the center reference point. Is removed from the cassette inside the lock and stored in the external cassette, by passing through the positioner, in a state where the peripheral singular point of the substrate coincides with the peripheral reference point, and / or the center point of the substrate surface is It is configured to be accommodated in a state that matches the central reference point. In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 11 is the invention according to claim 10, wherein a plurality of the cassettes in the lock and the positioning device are provided when passing through the positioning device. A mooring shelf capable of mooring the substrates at a time. Also, in order to solve the above problems,
According to a twelfth aspect of the present invention, in the configuration of the eleventh aspect, the number of substrates moored at one time on the mooring shelf is equal to or greater than the number of substrates accommodated in the cassette in the lock.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態につ
いて説明する。以下の説明では、上述した従来例と同
様、マルチチャンバータイプのスパッタリング装置にお
けるオートローダ4を基板搬送システムの例として説明
する。図1は、本願発明の基板搬送システムの実施形態
としてのオートローダの構成を説明する斜視概略図、図
2は、図1に示すオートローダの正面概略図である。図
1及び図2に示すオートローダは、図4に示すオートロ
ーダと同様、外部カセット5とロック内カセット31と
の間で基板(具体的には半導体ウェーハ)9の搬送を行
うものである。
Embodiments of the present invention will be described below. In the following description, an autoloader 4 in a multi-chamber type sputtering apparatus will be described as an example of a substrate transfer system, as in the above-described conventional example. FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating the configuration of an autoloader as an embodiment of the substrate transfer system of the present invention, and FIG. 2 is a schematic front view of the autoloader illustrated in FIG. The autoloader shown in FIGS. 1 and 2 transports a substrate (specifically, a semiconductor wafer) 9 between the external cassette 5 and the cassette 31 inside the lock, similarly to the autoloader shown in FIG.

【0023】図1には、二つのオートローダが示されて
いる。この二つのオートローダは、左右一対である。各
オートローダは、第一第二の二つの保持ユニット44
A,44Bと、この保持ユニット44A,44Bを移動
させる移動機構45と、基板9の位置出しを行う位置出
し器43と、基板9の回転位置出しの際に基板9が係留
される係留棚48とから主に構成されている。尚、位置
出し器43は一つであり、二つのオートローダに兼用さ
れている。
FIG. 1 shows two autoloaders. The two autoloaders are a pair of left and right. Each autoloader is provided with first and second two holding units 44.
A, 44B, a moving mechanism 45 for moving the holding units 44A, 44B, a positioner 43 for positioning the substrate 9, and a mooring shelf 48 to which the substrate 9 is moored when the substrate 9 is rotated. It is mainly composed of The positioner 43 is one and is also used for two autoloaders.

【0024】第一の保持ユニット44Aは、12枚の保
持フィンガ441と、12枚の保持フィンガ441を一
体に支持したフィンガ支持体442とから構成されてい
る。また、第二の保持ユニット44Bは、一枚の保持フ
ィンガ443と、この保持フィンガ443を支持したフ
ィンガ支持体444とから構成されている。尚、本実施
形態では、外部カセット5及びロック内カセット31
は、25枚の基板9を収容するよう構成されている。図
1には、図示の都合上12枚となっているが、実際には
25枚である。
The first holding unit 44A includes twelve holding fingers 441 and a finger support 442 integrally supporting the twelve holding fingers 441. The second holding unit 44B includes one holding finger 443 and a finger support 444 that supports the holding finger 443. In the present embodiment, the outer cassette 5 and the lock inner cassette 31 are used.
Is configured to accommodate 25 substrates 9. Although FIG. 1 shows 12 sheets for convenience of illustration, it is actually 25 sheets.

【0025】また、保持フィンガ441は、図4に示す
保持フィンガ41と同様の形状である。即ち、略U字状
の形状の部材である。また、保持フィンガ441を支持
したフィンガ支持体442は、保持フィンガ441のU
の字の先端とは反対側の部分で保持フィンガ441を固
定したものである。第一の保持ユニット44Aの構成に
おいて、保持フィンガ441は、一定の間隔をおいて上
下方向に重なるようにして配置されている。複数の保持
フィンガ441の水平方向での配置位置はすべて同じで
あり、従って、平面視で見ると、全て重なった状態に見
える。尚、各保持フィンガ441には、基板9を静電気
によって吸着する静電吸着機構が必要に応じて設けられ
る。
The holding finger 441 has the same shape as the holding finger 41 shown in FIG. That is, the member is substantially U-shaped. The finger support 442 supporting the holding finger 441 is connected to the U of the holding finger 441.
The holding finger 441 is fixed at the part opposite to the tip of the letter "". In the configuration of the first holding unit 44A, the holding fingers 441 are arranged so as to overlap in the vertical direction at a constant interval. The arrangement positions of the plurality of holding fingers 441 in the horizontal direction are all the same, and therefore, when viewed in a plan view, they all appear to overlap. In addition, each holding finger 441 is provided with an electrostatic attraction mechanism for attracting the substrate 9 by static electricity as needed.

【0026】移動機構45は、第一の保持ユニット44
Aを移動させる第一駆動部451と、第二の保持ユニッ
ト44Bを移動させる第二駆動部452と、第一駆動部
451及び第二駆動部452とを全体に回転及び上下動
させる主駆動部453とから主に構成されている。第一
駆動部451と第二駆動部452は、互いに独立して駆
動される多関節ロボットから構成されている。第一駆動
部451及び第二駆動部452は、ロボットの動作範囲
内における水平面内の任意の位置及び垂直方向の任意の
位置に第一の保持ユニット44A及び第二の保持ユニッ
ト44Bをそれぞれ位置させることが可能となってい
る。また、主駆動部453は、第一駆動部451と第二
駆動部452との動作範囲をより広くするため、第一駆
動部451と第二駆動部452とを全体に回転させた
り、上下動させたりする。尚、この回転の中心は、第一
駆動部451と第二駆動部452との丁度中間の位置に
設定されている。
The moving mechanism 45 includes a first holding unit 44
A main drive unit that rotates the first drive unit 451 that moves the first drive unit 451, the second drive unit 452 that moves the second holding unit 44B, and the first drive unit 451 and the second drive unit 452. 453 mainly. The first drive unit 451 and the second drive unit 452 are configured by articulated robots driven independently of each other. The first drive unit 451 and the second drive unit 452 respectively position the first holding unit 44A and the second holding unit 44B at an arbitrary position in a horizontal plane and an arbitrary position in the vertical direction within the operation range of the robot. It has become possible. In addition, the main drive unit 453 rotates the first drive unit 451 and the second drive unit 452 as a whole or moves up and down in order to broaden the operation range of the first drive unit 451 and the second drive unit 452. Or let it. Note that the center of this rotation is set at a position exactly intermediate between the first drive unit 451 and the second drive unit 452.

【0027】また、外部カセット5とロック内カセット
31とは、収容状態における各基板9の位置関係が同じ
になっている。即ち、両カセット5,31とも、各基板
9が水平な姿勢で所定間隔をおいて上下に重なるように
して保持するものである。そして、その各基板9の離間
間隔も二つのカセットでは同じになっている。そしてま
た、上記第一の保持ユニット44Aも、この位置関係を
保持して複数の基板9を一体に保持するようになってい
る。即ち、上下の基板9の離間間隔と、各保持フィンガ
441の配置間隔が一致した状態となっている。
The external cassette 5 and the in-lock cassette 31 have the same positional relationship among the substrates 9 in the accommodated state. That is, both cassettes 5 and 31 hold the substrates 9 in a horizontal posture so as to overlap one another at a predetermined interval. The spacing between the substrates 9 is the same in the two cassettes. Further, the first holding unit 44A also holds the plurality of substrates 9 while holding this positional relationship. That is, the spacing between the upper and lower substrates 9 and the spacing between the holding fingers 441 coincide with each other.

【0028】図1及び図2に示すように、係留棚48
は、位置出し器43の上方に配置されている。この係留
棚48は、垂直な姿勢のベース板に水平な姿勢の支持板
を上下に所定間隔をおいて複数設けた構成である。そし
て、この係留棚48は、外部カセット5やロック内カセ
ット31と同様の位置関係で所定数の基板9を収容して
係留することが可能なものである。従って、係留棚48
は、25枚の支持板を有し、25枚の基板9を一度に収
容することが可能になっている。尚、係留棚48は、外
部カセット5やロック内カセット31よりも多い収容数
としてもよい。例えば、係留棚48を50枚の収容数と
し、二つの外部カセット5分の基板9を収容するように
してもよいし、予備の収容数として外部カセット5より
数枚程度多く収容できるようにしてもよい。
As shown in FIG. 1 and FIG.
Is disposed above the positioner 43. The mooring shelf 48 has a configuration in which a plurality of support plates in a horizontal position are provided at predetermined intervals vertically on a base plate in a vertical position. The mooring shelf 48 can accommodate and moor a predetermined number of substrates 9 in the same positional relationship as the external cassette 5 and the lock-in cassette 31. Therefore, the mooring shelf 48
Has 25 support plates, and can accommodate 25 substrates 9 at a time. Note that the mooring shelf 48 may have a larger capacity than the external cassette 5 and the lock-in cassette 31. For example, the mooring shelf 48 may have a capacity of 50 sheets, and may accommodate the substrates 9 for two external cassettes 5, or may have a spare capacity of about several more than the external cassettes 5. Is also good.

【0029】本実施形態では、処理済みの基板9をロッ
ク内カセット31から外部カセット5に搬送する際に回
転位置出しを行うよう構成されている。具体的に説明す
ると、ロック内カセット31に12枚の処理済みの基板
9の収容が完了すると、第一の保持ユニット44Aが2
回、第二の保持ユニット44Bが1回駆動されて計25
枚の基板9を係留棚48に収容して係留させる。そし
て、この係留された25枚の基板9を第二の保持ユニッ
ト44Bが一枚ずつ取り出して位置出し器43に搬送
し、基板9の回転位置出しを行うよう構成されている。
位置出し器43の構成については、従来のものと同様な
ので説明を省略する。
In this embodiment, when the processed substrate 9 is transported from the cassette 31 in the lock to the external cassette 5, the rotation position is determined. More specifically, when the storage of the twelve processed substrates 9 in the lock cassette 31 is completed, the first holding unit 44A
Times, the second holding unit 44B is driven once and a total of 25
The substrates 9 are stored in the mooring shelf 48 and moored. Then, the second holding unit 44B takes out the moored 25 substrates 9 one by one and transports them to the positioning device 43, thereby performing the rotation position determination of the substrates 9.
The configuration of the positioner 43 is the same as that of the conventional one, and the description is omitted.

【0030】次に、上記構成に係る本実施形態の基板搬
送システムの全体の動作を説明する。尚、以下の説明で
は、外部カセット5及びロック内カセット31は一度に
25枚の基板9を収容可能であり、二つの外部カセット
5の各々には、未処理の基板9が25枚収容されている
として説明する。
Next, the overall operation of the substrate transport system according to the present embodiment having the above configuration will be described. In the following description, the external cassette 5 and the in-lock cassette 31 can accommodate 25 substrates 9 at a time, and each of the two external cassettes 5 accommodates 25 unprocessed substrates 9. It is explained that there is.

【0031】まず、一方の外部カセット5に収容された
未処理の基板9を一方のロック内カセット31に搬送す
るため、移動機構45は、第一の保持ユニット44Aの
保持フィンガ441を一方の外部カセット5内に移動さ
せて所定位置で停止させる。この停止位置では、保持フ
ィンガ441の各々は各基板9の少し下方に位置する。
この状態で移動機構45はフィンガ支持体442を少し
上昇させ、保持フィンガ441の上に12枚の基板9が
載った状態とする。12枚の基板9は、必要に応じて各
保持フィンガ441に静電吸着される。
First, in order to transport the unprocessed substrate 9 stored in the one external cassette 5 to the one in-lock cassette 31, the moving mechanism 45 moves the holding fingers 441 of the first holding unit 44A to the one external unit. It is moved into the cassette 5 and stopped at a predetermined position. In this stop position, each of the holding fingers 441 is located slightly below each substrate 9.
In this state, the moving mechanism 45 slightly raises the finger support 442 so that the twelve substrates 9 are placed on the holding fingers 441. The twelve substrates 9 are electrostatically attracted to the holding fingers 441 as necessary.

【0032】そして、移動機構45が保持フィンガ44
1を移動させ、一方のロック内カセット31まで搬送す
る。12枚の基板9を一括してロック内カセット31に
収容した後、移動機構45は保持フィンガ441を少し
下降させ、各基板9から各保持フィンガ441を引き離
した上で、各保持フィンガ441を後退させる。
Then, the moving mechanism 45 moves the holding finger 44
Is moved to one of the lock-in cassettes 31. After accommodating the twelve substrates 9 collectively in the cassette 31 inside the lock, the moving mechanism 45 slightly lowers the holding fingers 441, separates the respective holding fingers 441 from the respective substrates 9, and then retracts the respective holding fingers 441. Let it.

【0033】次に、移動機構45は、保持フィンガ44
1を上記と同様に移動させ、一方の外部カセット5から
さらに12枚の基板9を外部カセット5から一方のロッ
ク内カセット31へ搬送する。さらにその後、移動機構
45は、第二の保持ユニット44Bの保持フィンガ44
3を移動させ、残った一枚の基板9を外部カセット5か
ら一方のロック内カセット31へ搬送する。このように
して、25枚の基板9の一方のロック内カセット31へ
の搬送が完了する。
Next, the moving mechanism 45 includes the holding finger 44
1 is moved in the same manner as described above, and further 12 substrates 9 are transported from one external cassette 5 to one lock inner cassette 31 from the external cassette 5. Thereafter, the moving mechanism 45 moves the holding fingers 44 of the second holding unit 44B.
3 is moved, and the remaining one substrate 9 is transported from the external cassette 5 to one of the lock-in cassettes 31. In this way, the transfer of the 25 substrates 9 to one of the lock cassettes 31 is completed.

【0034】次に、処理済みの基板9をロック内カセッ
ト31から外部カセット5に搬出する動作について説明
する。処理済みの基板9は、通常は他方のロック内カセ
ット31に収容される。従って、図1に示す左右一対の
オートローダのうち、搬入の際に使用したのとは別のオ
ートローダが使用される。
Next, the operation of unloading the processed substrate 9 from the in-lock cassette 31 to the external cassette 5 will be described. The processed substrate 9 is normally stored in the other cassette 31 in the lock. Therefore, of the pair of left and right autoloaders shown in FIG. 1, another autoloader different from that used at the time of loading is used.

【0035】まず、移動機構45は、フィンガ支持体4
42を移動させて各保持フィンガ441を他方のロック
内カセット31内に位置させる。そして、上述と同様に
フィンガ支持体442を少し上昇させて12枚の基板9
を保持フィンガ441に一括して保持させる。移動機構
45は、フィンガ支持体442を係留棚48に移動さ
せ、12枚の基板9を係留棚48に一度に収容して係留
させる。同様に、第一の保持ユニット44Aをもう一回
動作させ、12枚の処理済みの基板9をロック内カセッ
ト31から係留棚48に一度に搬送して係留させる。さ
らに、第二の保持ユニット44Bを動作させ、残った1
枚の処理済みの基板9をロック内カセット31から係留
棚48に搬送する。
First, the moving mechanism 45 includes the finger support 4
By moving the holding finger 441, the holding fingers 441 are positioned in the other cassette 31 in the lock. Then, the finger support 442 is slightly raised in the same manner as described above so that the twelve substrates 9
Are collectively held by the holding fingers 441. The moving mechanism 45 moves the finger support 442 to the mooring shelf 48, and accommodates and anchors the twelve substrates 9 in the mooring shelf 48 at a time. Similarly, the first holding unit 44A is operated again, and the twelve processed substrates 9 are transported from the in-lock cassette 31 to the mooring shelf 48 at a time to be moored. Further, the second holding unit 44B is operated, and the remaining 1
The processed substrates 9 are transported from the in-lock cassette 31 to the mooring shelf 48.

【0036】次に、第二の保持ユニット44Bの保持フ
ィンガ443が移動し、係留棚48にある一枚の基板9
を取り出す。移動機構45は、保持フィンガ443を移
動させてこの一枚の基板9を位置出し器43のステージ
431に運び、基板9をステージ431に載置する。
尚、他方のロック内カセット31には、25枚分の空の
スペースが出来ているが、このスペースには、処理が終
了した基板9が順次収容される。
Next, the holding finger 443 of the second holding unit 44B moves, and the one substrate 9 on the mooring shelf 48 is moved.
Take out. The moving mechanism 45 moves the holding finger 443 to carry the single substrate 9 to the stage 431 of the positioner 43, and places the substrate 9 on the stage 431.
Incidentally, the other cassette 31 in the lock has an empty space for 25 sheets, and the processed substrates 9 are sequentially accommodated in this space.

【0037】そして、ステージ431の回転によって基
板9が回転し、基板9の周縁を検出するセンサからの信
号によって、周縁特異点と回転基準点とのずれが求めら
れる。即ち、オリフラの中点や周縁に形成された切り欠
きの位置と回転基準点とのずれが求められる。次に、ス
テージ431がこのずれを補償するように回転し、基板
9の周縁特異点が回転基準点に一致した位置で停止す
る。その後、第二の保持ユニット44Bが基板9をステ
ージ431から取り去り、外部カセット5に搬送して収
容させる。
The rotation of the stage 431 causes the substrate 9 to rotate, and the deviation between the peripheral singular point and the rotation reference point is determined by a signal from a sensor for detecting the peripheral edge of the substrate 9. That is, the deviation between the position of the notch formed at the middle point or the peripheral edge of the orientation flat and the rotation reference point is obtained. Next, the stage 431 rotates so as to compensate for this shift, and stops at a position where the peripheral singular point of the substrate 9 matches the rotation reference point. After that, the second holding unit 44B removes the substrate 9 from the stage 431 and transports the substrate 9 to the external cassette 5 to be stored therein.

【0038】尚、ステージ431の中心軸と基板9の中
心とが合っていない場合、必要に応じて中心出しの動作
も行われる。即ち、基板9の周縁を検出するセンサから
の信号によってステージ431の中心軸上の中心基準点
と基板9の中心点とのずれを求める。そして、第二の保
持ユニット44Bが基板9をステージ431から取り去
る際、このずれを補償するよう第二の保持ユニット44
Bを動作させる。具体的には、第二の保持ユニット44
Bの保持フィンガ443の中心(基板9の保持する領域
として定められた領域の中心)と基板9の中心とが一致
する位置で基板9を持ち上げるよう動作させる。
When the center axis of the stage 431 is not aligned with the center of the substrate 9, a centering operation is performed as necessary. That is, a deviation between the center reference point on the center axis of the stage 431 and the center point of the substrate 9 is determined based on a signal from a sensor that detects the periphery of the substrate 9. When the second holding unit 44B removes the substrate 9 from the stage 431, the second holding unit 44B compensates for the displacement.
Activate B. Specifically, the second holding unit 44
An operation is performed to lift the substrate 9 at a position where the center of the holding finger 443 of B (the center of the region defined as the region held by the substrate 9) coincides with the center of the substrate 9.

【0039】このようにして25枚の基板9を一枚ずつ
係留棚48から取り出し、周縁特異点と回転基準点のず
れの検出及び周縁特異点と回転基準点とを一致させる動
作とを行った後、外部カセット5に収容する。25枚め
の基板9が外部カセット5に収納されると、外部カセッ
ト5は満杯となる。その後、オペレーターがこの外部カ
セット5を装置から取り出し、次のプロセスのための装
置にまで持っていく。そして、空の外部カセット5を元
の位置に配置する。そして、同様に、処理済みの基板9
がロック内カセット31から係留棚48及び位置出し器
43を経由して外部カセット5に搬送される。
In this way, the 25 substrates 9 are taken out of the mooring shelf 48 one by one, and the operation of detecting the deviation between the peripheral singular point and the rotation reference point and making the peripheral singular point coincide with the rotation reference point is performed. Then, it is stored in the external cassette 5. When the twenty-fifth substrate 9 is stored in the external cassette 5, the external cassette 5 becomes full. Thereafter, the operator takes out the external cassette 5 from the apparatus and takes it to the apparatus for the next process. Then, the empty external cassette 5 is placed at the original position. Then, similarly, the processed substrate 9
Is transported from the cassette 31 inside the lock to the external cassette 5 via the mooring shelf 48 and the positioning device 43.

【0040】上記構成及び動作に係る本実施形態の基板
搬送システムは、複数の基板9を収容可能であり収容状
態の各基板9の位置関係が同じである外部カセット5と
ロック内カセット31との間で当該複数の基板9を一括
して搬送することが可能になっている。このため、基板
9の搬送に要する時間が飛躍的に短縮できる。また、移
動機構44の動作回数も飛躍的に少なくなり、また、動
作スピードも低くて良いので、移動機構44のメンテナ
ンスの頻度も低くて済み、動作の信頼性が極めて高い機
構は特に必要が無くなる。このため、ランニングコスト
や設備コスト等も抑制できる。
The substrate transport system according to the present embodiment having the above-described configuration and operation can accommodate a plurality of substrates 9 and the external cassette 5 and the lock-in cassette 31 in which the positional relationship of the substrates 9 in the accommodated state is the same. It is possible to transfer the plurality of substrates 9 at once between them. Therefore, the time required for transporting the substrate 9 can be significantly reduced. Further, the number of operations of the moving mechanism 44 is dramatically reduced, and the operation speed may be low. Therefore, the frequency of maintenance of the moving mechanism 44 may be low, and a mechanism having extremely high operation reliability is not particularly required. . For this reason, running costs and equipment costs can be suppressed.

【0041】そして、所定数の基板9を一度に搬送する
のでなく、何回かに分けて搬送するので、基板9が大型
化して重量が重くなった場合にも、保持フィンガ441
を保持したアームが撓んだりすることがない。また、荷
重が小さくできるので、慣性も小さくでき、移動機構の
構成もそれほど大がかりとならない。また、ロック内カ
セット31の所定数の基板9をいったん係留棚48に係
留し、係留棚48から一枚ずつ位置出し器43に基板9
を運んで位置出しを行うので、処理済みの基板9の位置
出しを一枚ずつ行う間に未処理の基板9をロック内カセ
ット31にすぐに搬入することができる。このため、ス
ループットが高くなり、生産性が向上する。
Since the predetermined number of substrates 9 are not transported at once, but are transported several times, even if the substrate 9 becomes large and heavy, the holding fingers 441 can be used.
The arm holding the arm does not bend. Further, since the load can be reduced, the inertia can be reduced, and the configuration of the moving mechanism does not become so large. Further, a predetermined number of substrates 9 in the cassette 31 inside the lock are once moored on the mooring shelf 48, and the substrate 9 is transferred from the mooring shelf 48 to the positioner 43 one by one.
Is carried out, the unprocessed substrates 9 can be immediately loaded into the cassette 31 in the lock while the processed substrates 9 are positioned one by one. Therefore, the throughput is increased, and the productivity is improved.

【0042】このような効果を有するため、本実施形態
の基板搬送システムは、搬送の過程で基板9の中心ずれ
を求めたり回転位置出しを行ったりすることが必要な各
種装置に好適に利用され、スループットの向上やコスト
抑制に大きく貢献する。尚、基板9の中心ずれの算出や
回転位置出しが不要な装置についても、上記複数の基板
9を一括して搬送する構成はスループットの向上に大き
く貢献する。この場合、位置出し器43及び係留棚48
は不要である。
Because of these effects, the substrate transfer system of the present embodiment is suitably used for various devices that need to determine the center deviation of the substrate 9 and determine the rotational position during the transfer process. This greatly contributes to improving throughput and suppressing costs. It should be noted that, even for an apparatus that does not require the calculation of the center shift of the substrate 9 and the determination of the rotational position, the configuration in which the plurality of substrates 9 are collectively conveyed greatly contributes to an improvement in throughput. In this case, the positioner 43 and the mooring shelf 48
Is unnecessary.

【0043】次に、上記実施形態の基板搬送システムが
好適に採用される本願発明の半導体製造装置の実施形態
について説明する。以下の説明では、図4に示す従来の
装置と同様に、マルチチャンバータイプのスパッタリン
グ装置を例に採り挙げる。図3は、実施形態の半導体製
造装置の構成を説明する平面概略図である。この半導体
製造装置は、図4と同様に、中央に配置されたセパレー
ションチャンバー1と、セパレーションチャンバー1の
周囲に設けられた複数の処理チャンバー2及び二つのロ
ードロックチャンバー3とからなるチャンバー配置にな
っており、各チャンバー1,2,3は専用又は兼用の排
気系によって排気され、各チャンバー1,2,3同士の
接続個所には不図示のゲートバルブが設けられている。
Next, an embodiment of a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention in which the substrate transfer system of the above embodiment is suitably adopted will be described. In the following description, a multi-chamber type sputtering apparatus is taken as an example, similarly to the conventional apparatus shown in FIG. FIG. 3 is a schematic plan view illustrating the configuration of the semiconductor manufacturing apparatus according to the embodiment. This semiconductor manufacturing apparatus has a chamber arrangement including a separation chamber 1 disposed at the center, a plurality of processing chambers 2 provided around the separation chamber 1, and two load lock chambers 3, as in FIG. Each of the chambers 1, 2, and 3 is exhausted by a dedicated or shared exhaust system, and a gate valve (not shown) is provided at a connection point between the chambers 1, 2, and 3.

【0044】また、セパレーションチャンバー1内に
は、同様に搬送ロボット11が設けられており、いずれ
か一方のロードロックチャンバー3から基板9を一枚ず
つ取り出し、各処理チャンバー2に送って順次処理を行
うことになっている。そして、最後の処理を終了した
後、いずれか一方のロードロックチャンバー3に戻すよ
うになっている。
A transfer robot 11 is also provided in the separation chamber 1, and the substrates 9 are taken out one by one from one of the load lock chambers 3 and sent to each of the processing chambers 2 for sequential processing. Supposed to do. Then, after the last processing is completed, the processing is returned to one of the load lock chambers 3.

【0045】処理チャンバー2の一つは、所定のスパッ
タリングを行うスパッタチャンバー2Aとして構成さ
れ、内部に、成膜する材料よりなるターゲット、ターゲ
ットをスパッタするための電力印加機構やガス導入手
段、マグネトロンスパッタリングのための磁石機構、所
定位置に基板9を保持する基板ホルダー等が設けられて
いる。また、他の処理チャンバー2の一つは、スパッタ
リングの前に基板9を予備加熱するプリヒートチャンバ
ー2Bとして構成され、さらに他の処理チャンバー2の
一つは、スパッタリング後に基板9を冷却する冷却チャ
ンバー2C等として構成される。
One of the processing chambers 2 is configured as a sputter chamber 2A for performing a predetermined sputtering, in which a target made of a material for forming a film, a power application mechanism for sputtering the target, gas introducing means, magnetron sputtering , A substrate holder for holding the substrate 9 at a predetermined position, and the like. One of the other processing chambers 2 is configured as a preheat chamber 2B for preheating the substrate 9 before sputtering, and another of the other processing chambers 2 is a cooling chamber 2C for cooling the substrate 9 after sputtering. And so on.

【0046】そして、ロードロックチャンバー3の外側
には、上記実施形態の基板搬送システムがオートローダ
4として設けられている。オートローダ4は、上述の通
り、ロードロックチャンバー3の外側に設けられた外部
カセット5と、ロードロックチャンバー3内のロック内
カセット31との間で基板9を搬送する機構である。
The substrate transfer system of the above embodiment is provided as an autoloader 4 outside the load lock chamber 3. The autoloader 4 is a mechanism for transporting the substrate 9 between the external cassette 5 provided outside the load lock chamber 3 and the lock cassette 31 in the load lock chamber 3 as described above.

【0047】次に、上記構成に係る本実施形態の半導体
製造装置の動作について説明する。まず、上述したよう
に一方のオートローダ4が動作して、一方の外部カセッ
ト5から一方のロック内カセット31に未処理の基板9
を搬送する。この搬送は、12枚ずつ2回、1枚1回、
計25枚の基板9の搬送である。
Next, the operation of the semiconductor manufacturing apparatus according to the present embodiment having the above configuration will be described. First, as described above, one autoloader 4 operates, and the unprocessed substrate 9 is transferred from the one external cassette 5 to the one lock-in cassette 31.
Is transported. This transfer is performed twice for each 12 sheets, once for each sheet,
This is a transfer of a total of 25 substrates 9.

【0048】そして、一方のロック内カセット31から
搬送ロボット11が基板9を一枚ずつ取り出し、順次ま
ずプリヒートチャンバー2Bに搬入する。プリヒートチ
ャンバー2B内には、所定の温度に加熱維持される不図
示のヒートステージが配設されており、基板9はこのヒ
ートステージに載置されて所定温度に加熱される。これ
によって、基板9はプリヒート(予備加熱)され、基板
9中の吸蔵ガスが放出される。
Then, the transfer robot 11 takes out the substrates 9 one by one from one of the cassettes 31 inside the lock, and sequentially carries them into the preheat chamber 2B. A heat stage (not shown) that is heated and maintained at a predetermined temperature is provided in the preheat chamber 2B, and the substrate 9 is placed on the heat stage and heated to the predetermined temperature. Thus, the substrate 9 is preheated (preheated), and the occluded gas in the substrate 9 is released.

【0049】次に、基板9はスパッタチャンバー2Aに
送られ、スパッタ成膜が行われる。具体的には、スパッ
タチャンバー2A内に設けられた不図示のターゲットを
不図示のスパッタ電源によってスパッタし、スパッタさ
れたターゲットの材料を基板9に到達させて所定の薄膜
を堆積させる。その後、基板9は、必要に応じて冷却チ
ャンバー2Cに送られる。プリヒートチャンバー2Bに
おける加熱及びスパッタチャンバー2Aにおけるスパッ
タ成膜を通して、基板9はある程度の温度まで加熱され
るが、この温度のまま取り出すと問題がある場合、基板
9は冷却チャンバー2Cで所定温度まで冷却される。具
体的には、冷却チャンバー2C内には、内部に冷媒を循
環させて所定温度に冷却された不図示の冷却ステージが
配設されており、基板9はこの冷却ステージに所定時間
載置されることで所定温度まで冷却される。
Next, the substrate 9 is sent to the sputtering chamber 2A, and a sputter film is formed. Specifically, a target (not shown) provided in the sputtering chamber 2A is sputtered by a sputtering power source (not shown), and the sputtered target material reaches the substrate 9 to deposit a predetermined thin film. Thereafter, the substrate 9 is sent to the cooling chamber 2C as needed. The substrate 9 is heated to a certain temperature through the heating in the preheat chamber 2B and the sputter deposition in the sputtering chamber 2A. You. Specifically, a cooling stage (not shown) in which a coolant is circulated and cooled to a predetermined temperature is provided in the cooling chamber 2C, and the substrate 9 is placed on the cooling stage for a predetermined time. This cools down to a predetermined temperature.

【0050】そして、搬送ロボット11は基板9を冷却
ステージから取り出し、他方のロック内カセット31に
収容する。他方のロック内カセット31に25枚の処理
済みの基板9が収容されると、他方のオートローダ4が
動作する。この際、上述したように、移動機構45は、
係留棚48及び位置出し器43を経由した基板9の搬送
を、12枚ずつ2回及び1枚1回行い、計25枚の基板
9を他方の外部カセット5に搬送する。
Then, the transfer robot 11 takes out the substrate 9 from the cooling stage and stores it in the other cassette 31 in the lock. When 25 processed substrates 9 are stored in the other cassette 31 in the lock, the other autoloader 4 operates. At this time, as described above, the moving mechanism 45
The transfer of the substrates 9 via the mooring shelves 48 and the positioning device 43 is performed twice and once for each of 12 substrates, and a total of 25 substrates 9 are transferred to the other external cassette 5.

【0051】尚、一方のロック内カセット31から25
枚の基板9が取り出されて処理にまわされると、一方の
ロック内カセット31には25枚分の空のスペースが出
来る。すると、一方のオートローダ4が再び動作し、2
5枚の未処理の基板9を外部カセット5からロック内カ
セット31に搬送する。即ち、12枚ずつ2回及び1枚
1回の基板9の搬送を行い、計25枚の基板9をロック
内カセット31に搬送する。
It should be noted that one of the cassettes 31 to 25 in the lock is provided.
When the substrates 9 are taken out and processed, the cassette 31 in one lock has an empty space for 25 substrates. Then, one of the autoloaders 4 operates again, and 2
The five unprocessed substrates 9 are transported from the external cassette 5 to the in-lock cassette 31. That is, the substrate 9 is transported twice and one by one for each of the 12 substrates, and a total of 25 substrates 9 are transported to the cassette 31 inside the lock.

【0052】上述した各実施形態の構成では、外部カセ
ット5からロック内カセット31へ(又はロック内カセ
ット31から係留棚48へ)25枚の基板9を搬送する
ための構成として、12枚ずつ2回及び1枚1回の搬送
としたが、これ以外の構成もあることは勿論である。例
えば、8枚ずつ3回及び1枚1回でもよいし、6枚ずつ
4回及び1枚1回でもよい。または、5枚ずつ5回でも
よい。尚、最後に1枚1回の搬送を行うのは、位置出し
器43への基板9の搬送が1枚ずつであり、基板9を1
枚保持して搬送する保持ユニット44Bが必要になるた
め、この保持ユニット44Bを効果的に利用するためで
ある。また、外部カセット5及びロック内カセット31
の基板9の収容数が第一の保持ユニット44Aの基板保
持数の倍数である場合、外部カセット5からロック内カ
セット31へ(又はロック内カセット31から係留棚4
8へ)の基板9の搬送は、第一の保持ユニット44Aの
みを利用して行われる場合もある。
In the configuration of each of the above-described embodiments, as a configuration for transporting 25 substrates 9 from the external cassette 5 to the lock-in cassette 31 (or from the lock-in cassette 31 to the mooring shelf 48), two 12-in. The transfer is performed once and once, but it goes without saying that there are other configurations. For example, it may be three times for eight sheets and once for one sheet, or four times for six sheets and once for one sheet. Alternatively, five sheets may be used five times. It is to be noted that the last transfer of one substrate is performed by transferring the substrates 9 to the positioner 43 one by one.
This is because a holding unit 44B for holding and transporting the sheets is required, and this holding unit 44B is used effectively. In addition, the external cassette 5 and the lock-in cassette 31
If the number of substrates 9 stored is a multiple of the number of substrates held by the first holding unit 44A, the external cassette 5 is transferred to the lock-in cassette 31 (or from the lock-in cassette 31 to the mooring shelf 4).
The transfer of the substrate 9 to 8) may be performed using only the first holding unit 44A.

【0053】上記説明から分かるように、本願発明にお
ける保持ユニットの構成は、外部カセット5及びロック
内カセット31の基板9の収容枚数によって変わる。具
体的には、一つの保持ユニットを使用する場合、その保
持ユニットが一度に保持する基板9の枚数は、上記収容
枚数を割り切る数とされる。また、複数の保持ユニット
を使用する場合、そのうちの少なくとも一つは複数の基
板9を同時に保持することで可能なものとされ、各々の
保持ユニットが一度に保持できる基板の数の合計又はそ
の数の倍数の合計が上記収容枚数になるよう構成され
る。
As can be seen from the above description, the structure of the holding unit according to the present invention changes depending on the number of substrates 9 accommodated in the external cassette 5 and the lock-in cassette 31. More specifically, when one holding unit is used, the number of substrates 9 held by the holding unit at one time is a number that is divisible by the number of accommodated substrates. When a plurality of holding units are used, at least one of the holding units is assumed to be capable of holding a plurality of substrates 9 at the same time, and the total number or the number of substrates that each holding unit can hold at one time. The total number of multiples is equal to the number of stored images.

【0054】また、係留棚48における基板9の係留枚
数が、ロック内カセット31の収容枚数と同数以上であ
る機構は、ロック内カセット31内の処理済みの基板9
を一括して係留することができ、ロック内カセット31
が一度に空になるメリットがある。このため、例えばそ
のロック内カセット31に未処理の基板9を一括して搬
入する場合、すぐに搬入を行うことができ、この点でさ
らにスループットが向上する。
The mechanism in which the number of substrates 9 moored on the mooring shelf 48 is equal to or larger than the number of accommodated cassettes 31 in the lock is a mechanism in which the processed substrates 9 in the cassette 31 inside the lock are processed.
Can be collectively moored, and the cassette 31 in the lock can be moored.
Has the advantage of being empty at once. Therefore, for example, when the unprocessed substrates 9 are collectively loaded into the in-lock cassette 31, the loading can be performed immediately, and in this respect, the throughput is further improved.

【0055】尚、上記説明では、ロック内カセット31
から外部カセット5への処理済みの基板9の搬出の際に
基板9の位置出しを行ったが、外部カセット5からロッ
ク内カセット31への未処理の基板9の搬入の際に行っ
ても良い。また、搬入時と搬出時の双方で行っても良
い。
In the above description, the cassette 31 inside the lock is used.
The position of the substrate 9 is determined when the processed substrate 9 is unloaded from the external cassette 5 to the external cassette 5, but may be determined when the unprocessed substrate 9 is transferred from the external cassette 5 to the lock-in cassette 31. . Further, it may be performed both at the time of loading and unloading.

【0056】また、前述した説明では、一方の側の外部
カセット5から同じ側のロック内カセット31に基板9
が搬入され、一方の側のロック内カセット31から同じ
の側の外部カセット5に基板9が搬出されたが、他方の
側に基板9を搬入したり搬出したりすることもできる。
例えば、一方の側のオートローダが駆動して一方の側の
外部カセット5から基板9を搬出して係留棚48又は位
置出し器43に一時的に配置し、その後、他方の側のオ
ートローダが駆動して他方の側のロック内カセット31
にこの基板9を搬入するようにしてもよい。つまり、一
方の側のロック内カセット31が搬入用で他方の側のロ
ック内カセット31が搬出用として固定して利用される
場合だけではなく、両方のロック内カセット31を時間
帯で分け、ある時間帯では両方とも搬入用とし、ある時
間帯では両方とも搬出用としたりする場合がある。
In the above description, the substrate 9 is transferred from the external cassette 5 on one side to the lock-in cassette 31 on the same side.
Is carried in, and the substrate 9 is carried out of the lock inside cassette 31 on one side to the external cassette 5 on the same side. However, the substrate 9 can be carried in and out of the other side.
For example, the autoloader on one side is driven to carry out the substrate 9 from the external cassette 5 on one side and temporarily place it on the mooring shelf 48 or the positioner 43, and thereafter, the autoloader on the other side is driven. And the cassette 31 in the lock on the other side.
Alternatively, the substrate 9 may be loaded. In other words, not only is the locked cassette 31 on one side used for loading and the locked cassette 31 on the other side is used fixedly for unloading, but also both locked cassettes 31 are divided by time zone. In some cases, both may be used for carry-in during a time period, and both may be used for carry-out during a certain time period.

【0057】上記説明では、半導体製造装置の例として
マルチチャンバースパッタリング装置が採り上げられた
が、インライン式などの他のチャンバー配置のスパッタ
リング装置や、化学蒸着(CVD)装置等の他の成膜装
置及びエッチング装置等、各種の半導体製造装置を実施
形態とすることが可能である。また、前述した基板搬送
システムの実施形態の利用例としては、半導体製造装置
の他、液晶基板を処理する装置や情報記録ディスク用の
基板を処理する装置等の各種の装置に利用例が考えられ
る。
In the above description, a multi-chamber sputtering apparatus has been taken as an example of a semiconductor manufacturing apparatus. However, other film forming apparatuses such as a sputtering apparatus having another chamber arrangement such as an in-line type, a chemical vapor deposition (CVD) apparatus, and the like. Various semiconductor manufacturing apparatuses such as an etching apparatus can be used as the embodiments. Further, as an application example of the above-described embodiment of the substrate transport system, in addition to a semiconductor manufacturing apparatus, an application example can be considered to various apparatuses such as an apparatus for processing a liquid crystal substrate and an apparatus for processing a substrate for an information recording disk. .

【0058】[0058]

【発明の効果】以上説明した通り、請求項1乃至6の発
明によれば、基板搬送に要する時間を短縮することがで
きる。このため、基板に対し所定の処理を行う基板処理
装置に採用されると、処理の効率の向上に貢献できる。
また、特に請求項4乃至6の発明によれば、基板の位置
出しが行われるので、基板のID番号の読み出し等の動
作が容易に行えたり、カセットの壁面への基板の衝突が
防止できたりするメリットがある。また、特に請求項5
乃至6の発明によれば、基板の位置出しの際、複数の基
板が係留棚に係留されるので、さらにスループットが高
くなる。また、特に請求項6の発明によれば、係留棚の
基板の収容枚数が一方のカセットの基板の収容枚数と同
数以上なので、係留棚への基板の係留によって一方のカ
セットがすぐに空にでき、この点でさらにスループット
が高くなる。また、請求項7乃至12の発明によれば、
基板搬送に要する時間を短縮した装置になるので、各種
半導体製造工程の生産性の向上に寄与することができ
る。また、特に請求項10乃至12の発明によれば、処
理済みの基板の位置出しが行われるので、基板のID番
号の読み出し等の動作が容易に行えたり、外部カセット
の壁面への基板の衝突が防止できたりするメリットがあ
る。また、特に請求項11乃至12の発明によれば、処
理済みの基板の位置出しの際、複数の基板が係留棚に係
留されるので、さらにスループットが高くなる。また、
特に請求項12の発明によれば、係留棚の基板の収容枚
数がロック内カセットの基板の収容枚数と同数以上なの
で、係留棚への基板の係留によってロック内カセットが
すぐに空にでき、この点でさらにスループットが高くな
る。
As described above, according to the first to sixth aspects of the present invention, the time required for transporting a substrate can be reduced. Therefore, when employed in a substrate processing apparatus that performs a predetermined process on a substrate, it is possible to contribute to an improvement in the efficiency of the process.
Further, according to the inventions of claims 4 to 6, since the positioning of the substrate is performed, the operation of reading the ID number of the substrate can be easily performed, and the collision of the substrate with the wall surface of the cassette can be prevented. There is a merit to do. In particular, claim 5
According to the inventions of the sixth to sixth aspects, when positioning the substrates, a plurality of substrates are moored on the mooring shelves, so that the throughput is further increased. According to the sixth aspect of the present invention, since the number of substrates accommodated in the mooring shelf is equal to or greater than the number of substrates accommodated in one cassette, one of the cassettes can be emptied immediately by mooring the substrate to the mooring shelf. In this regard, the throughput is further increased. According to the invention of claims 7 to 12,
Since the apparatus requires less time for substrate transfer, it can contribute to improvement in productivity in various semiconductor manufacturing processes. According to the tenth to twelfth aspects of the present invention, since the position of the processed substrate is determined, the operation of reading the ID number of the substrate can be easily performed, and the substrate collides with the wall surface of the external cassette. There is an advantage that can be prevented. In addition, according to the inventions of claims 11 and 12, a plurality of substrates are moored on the mooring shelves at the time of positioning the processed substrates, so that the throughput is further increased. Also,
In particular, according to the twelfth aspect, the number of substrates accommodated in the mooring shelf is equal to or greater than the number of substrates accommodated in the cassette in the lock. In this regard, the throughput is further increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本願発明の基板搬送システムの実施形態として
のオートローダの構成を説明する斜視概略図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating a configuration of an autoloader as an embodiment of a substrate transfer system according to the present invention.

【図2】図1に示すオートローダの正面概略図である。FIG. 2 is a schematic front view of the autoloader shown in FIG.

【図3】実施形態の半導体製造装置の構成を説明する平
面概略図である。
FIG. 3 is a schematic plan view illustrating the configuration of the semiconductor manufacturing apparatus according to the embodiment.

【図4】マルチチャンバータイプのスパッタリング装置
の従来の構成を説明する平面概略図である。
FIG. 4 is a schematic plan view illustrating a conventional configuration of a multi-chamber type sputtering apparatus.

【図5】図4に示された位置出し器のより詳細な構成を
説明する斜視概略図である。
FIG. 5 is a schematic perspective view illustrating a more detailed configuration of the positioner shown in FIG. 4;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 セパレーションチャンバー 11 搬送ロボット 2 処理チャンバー 3 ロードロックチャンバー 31 ロック内カセット 4 オートローダ 43 位置出し器 431 ステージ 433 回転機構 435 X方向移動機構 436 Y方向移動機構 44A 第一の保持ユニット 441 保持フィンガ 442 フィンガ支持体 44B 第二の保持ユニット 443 保持フィンガ 444 フィンガ支持体 45 移動機構 451 第一駆動機構 452 第二駆動機構 453 主駆動機構 48 係留棚 5 外部カセット 9 基板 REFERENCE SIGNS LIST 1 separation chamber 11 transfer robot 2 processing chamber 3 load lock chamber 31 cassette in lock 4 autoloader 43 positioner 431 stage 433 rotation mechanism 435 X direction movement mechanism 436 Y direction movement mechanism 44A first holding unit 441 holding finger 442 finger support Body 44B Second holding unit 443 Holding finger 444 Finger support 45 Moving mechanism 451 First drive mechanism 452 Second drive mechanism 453 Main drive mechanism 48 Mooring shelf 5 External cassette 9 Substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 信行 東京都府中市四谷5丁目8番1号アネルバ 株式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 FA01 FA07 FA09 FA12 FA15 GA03 GA09 GA43 GA48 GA49 GA50 JA06 JA14 JA15 JA17 JA28 JA29 JA34 JA40 KA06 KA08 KA11 KA13 PA08 PA18 PA30 5F045 AA19 BB08 DQ17 EB08 EJ04 EN04 HA25  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Nobuyuki Takahashi 5-8-1, Yotsuya, Fuchu-shi, Tokyo Anelva, Inc. F-term (reference) 5F031 CA02 FA01 FA07 FA09 FA12 FA15 GA03 GA09 GA43 GA48 GA49 GA50 JA06 JA14 JA15 JA17 JA28 JA29 JA34 JA40 KA06 KA08 KA11 KA13 PA08 PA18 PA30 5F045 AA19 BB08 DQ17 EB08 EJ04 EN04 HA25

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の基板を収容可能であり収容状態の
各基板の位置関係が同じであるか類似している二つのカ
セットの間で複数の基板を一括して搬送することが可能
な基板搬送システムであって、前記収容状態の各基板の
位置関係に適合した構造で複数の基板を同時に保持する
ことができる保持ユニットと、この保持ユニットを少な
くとも水平方向に移動させることが可能な移動機構とを
備えており、前記保持ユニットは、前記カセットへの基
板の収容枚数で割り切れる数の基板を一度に搬送するこ
とが可能であり、前記移動機構は、保持ユニットを複数
回駆動することによって所定の収容枚数の基板をカセッ
トに収容するよう構成されていることを特徴とする基板
搬送システム。
A substrate capable of accommodating a plurality of substrates and capable of collectively transporting a plurality of substrates between two cassettes in which the positional relationship between the accommodated substrates is the same or similar. A transport system, comprising: a holding unit capable of simultaneously holding a plurality of substrates with a structure adapted to a positional relationship of the respective substrates in the accommodated state; and a moving mechanism capable of moving the holding unit at least in a horizontal direction. The holding unit is capable of transporting at once a number of substrates divisible by the number of substrates accommodated in the cassette, and the moving mechanism is configured to drive the holding unit a plurality of times to perform predetermined operations. A substrate transport system, wherein the substrate is accommodated in a cassette.
【請求項2】 複数の基板を収容可能であり収容状態の
各基板の位置関係が同じであるか類似している二つのカ
セットの間で複数の基板を一括して搬送することが可能
な基板搬送システムであって、前記収容状態の各基板の
位置関係に適合した構造で基板を保持するとともに少な
くとも一つは複数の基板を同時に保持することが可能な
複数の保持ユニットと、この複数の保持ユニットを少な
くとも水平方向に移動させることが可能な移動機構とを
備えており、前記複数の保持ユニットは、各々の保持ユ
ニットが一度に保持できる基板の数の合計又はその数の
倍数の合計が前記カセットへの基板の収容枚数になって
おり、前記移動機構は、各保持ユニットを一回又は複数
回駆動することによって所定の収容枚数の基板をカセッ
トに収容するよう構成されていることを特徴とする基板
搬送システム。
2. A substrate capable of accommodating a plurality of substrates and capable of collectively transporting a plurality of substrates between two cassettes having the same or similar positional relationship between the accommodated substrates. A transport system, comprising: a plurality of holding units capable of holding a plurality of substrates simultaneously while holding the substrates in a structure adapted to the positional relationship of the respective substrates in the accommodated state; and a plurality of holding units. A moving mechanism capable of moving the unit at least in the horizontal direction, wherein the plurality of holding units have a total number of substrates that each holding unit can hold at a time or a total multiple of the number of substrates. The number of substrates accommodated in the cassette is set, and the moving mechanism drives each holding unit one or more times to accommodate a predetermined number of substrates accommodated in the cassette. A substrate transport system characterized by being constituted.
【請求項3】 前記保持ユニットは、前記複数の基板を
各々の上面に載置して保持するよう複数設けられてお
り、これら複数の保持ユニットはフィンガ支持体に一体
に保持されており、前記移動機構は、フィンガ支持体を
水平方向及び垂直方向に移動させることが可能であるこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の基板搬送システ
ム。
3. A plurality of the holding units are provided so as to place and hold the plurality of substrates on respective upper surfaces, and the plurality of holding units are integrally held by a finger support. The substrate transfer system according to claim 1, wherein the moving mechanism is capable of moving the finger support in a horizontal direction and a vertical direction.
【請求項4】 前記複数の保持ユニットのうちの一つ
は、一枚の基板を搬送するものであり、前記二つのカセ
ットの間には、周縁基準点に対する周縁特異点の回転方
向のずれ及び又は中心基準点に対する基板の表面の中心
点のずれを算出する位置出し器が設けられており、一方
のカセットから基板が取り出されて他方のカセットに収
容される際、位置出し器を経由することによって、基板
の周縁特異点が周縁基準点に一致した状態で、及び又
は、基板の表面の中心点が中心基準点に一致した状態で
収容されることを特徴とする請求項2記載の基板搬送シ
ステム。
4. A method according to claim 1, wherein one of the plurality of holding units is for transporting one substrate, and a difference between the two cassettes in a rotational direction of a peripheral singular point with respect to a peripheral reference point. Alternatively, there is provided a positioner for calculating a shift of the center point of the substrate surface with respect to the center reference point, and when the substrate is taken out from one cassette and stored in the other cassette, it passes through the positioner. 3. The substrate transport according to claim 2, wherein the substrate is accommodated in a state in which the peripheral singular point of the substrate coincides with the peripheral reference point and / or in a state in which the center point of the substrate surface coincides with the central reference point. system.
【請求項5】 前記一方のカセットと前記位置出し器と
の間には、前記位置出し器を経由する際に複数の基板を
一度に係留することが可能な係留棚が設けられているこ
とを特徴とする請求項4記載の基板搬送システム。
5. A mooring shelf, which is capable of mooring a plurality of substrates at a time when passing through the positioning device, is provided between the one cassette and the positioning device. The substrate transport system according to claim 4, wherein
【請求項6】 前記係留棚で一度に係留される基板の枚
数は、前記一方のカセットの基板の収容枚数と同数以上
であることを特徴とする請求項5の基板搬送システム。
6. The substrate transport system according to claim 5, wherein the number of substrates moored at one time on said mooring shelf is equal to or greater than the number of substrates accommodated in said one cassette.
【請求項7】 基板に対して所定の処理を行う処理チャ
ンバーと、この処理チャンバーに対して真空中で基板を
搬送できるように接続されたロードロックチャンバーと
を備え、ロードロックチャンバー内には、複数の基板を
同時に収容可能なロック内カセットが設けられた半導体
製造装置であって、ロードロックチャンバー外に配設さ
れているとともに収容状態の各基板の位置関係が前記ロ
ック内カセットと同じであるか類似している外部カセッ
トと、この外部カセットに収容された基板を前記ロック
内カセットに搬送することが可能なオートローダとを備
えており、当該オートローダは、前記ロック内カセット
及び外部カセットの同一又は類似である収容状態の各基
板の位置関係に適合した構造で複数の基板を一括して保
持する保持ユニットを有し、保持ユニットが一回に保持
できる基板の数は前記ロック内カセットの所定の収容枚
数を割り切る数に一致しており、保持ユニットを複数回
動作させることにより前記所定の収容枚数の基板をロッ
ク内カセットに収容することが可能となっていることを
特徴とする半導体製造装置。
7. A processing chamber for performing a predetermined process on a substrate, and a load lock chamber connected to the processing chamber so that the substrate can be transferred in a vacuum. A semiconductor manufacturing apparatus provided with an in-lock cassette capable of accommodating a plurality of substrates at the same time, wherein the positional relationship between the substrates disposed outside the load lock chamber and accommodated is the same as that of the in-lock cassette. Or a similar external cassette, and an autoloader capable of transporting a substrate accommodated in the external cassette to the lock-in cassette, wherein the autoloader is the same or the same as the lock-in cassette and the external cassette. A holding unit that holds a plurality of boards collectively with a structure that is similar to the positional relationship between the boards in a similar accommodated state The number of substrates that the holding unit can hold at one time is equal to a number that divides a predetermined number of sheets of the cassette in the lock, and the predetermined number of substrates is held by operating the holding unit a plurality of times. Characterized in that it is possible to store the data in a cassette inside the lock.
【請求項8】 基板に対して所定の処理を行う処理チャ
ンバーと、この処理チャンバーに対して真空中で基板を
搬送できるように接続されたロードロックチャンバーと
を備え、ロードロックチャンバー内には、複数の基板を
同時に収容可能なロック内カセットが設けられた半導体
製造装置であって、 ロードロックチャンバー外に配設されているとともに収
容状態の各基板の位置関係が前記ロック内カセットと同
じであるか類似している外部カセットと、この外部カセ
ットに収容された基板を前記ロック内カセットに搬送す
ることが可能なオートローダとを備えており、オートロ
ーダは、前記ロック内カセット及び外部カセットの同一
又は類似である収容状態の各基板の位置関係に適合した
構造で基板を保持するとともに少なくとも一つは複数の
基板を同時に保持することが可能な複数の保持ユニット
を有し、各保持ユニットが一回に保持できる基板の数の
合計又はその数の倍数の合計が前記ロック内カセットの
所定の収容枚数に一致しており、複数の保持ユニットを
一回又は複数回動作させることにより前記所定の収容枚
数の基板をロック内カセットに収容することが可能とな
っていることを特徴とする半導体製造装置。
8. A processing chamber for performing a predetermined process on a substrate, and a load lock chamber connected to the processing chamber so that the substrate can be transferred in a vacuum. A semiconductor manufacturing apparatus provided with an in-lock cassette capable of accommodating a plurality of substrates at the same time, wherein the positional relationship between the substrates disposed outside the load lock chamber and accommodated is the same as the in-lock cassette. And an autoloader capable of transporting a substrate contained in the external cassette to the cassette in the lock, wherein the autoloader is the same or similar to the cassette in the lock and the external cassette. Hold the board in a structure that matches the positional relationship of each board in the accommodated state and at least one It has a plurality of holding units capable of holding substrates at the same time, and the total number of substrates that each holding unit can hold at a time or a multiple of the total number of substrates is equal to the predetermined number of stored cassettes in the lock cassette. The semiconductor manufacturing apparatus is characterized in that the predetermined number of substrates can be stored in the cassette inside the lock by operating the plurality of holding units once or a plurality of times.
【請求項9】 前記保持ユニットは、前記複数の基板を
各々の上面に載置して保持するよう設けられた複数の保
持フィンガと、これら複数の保持フィンガを一体に支持
したフィンガ支持体とから構成されており、この保持ユ
ニットを水平方向及び垂直方向に移動させることが可能
な移動機構が設けられていることを特徴とする請求項7
又は8記載の半導体製造装置。
9. The holding unit includes: a plurality of holding fingers provided so as to place and hold the plurality of substrates on respective upper surfaces thereof; and a finger support that integrally supports the plurality of holding fingers. 8. A moving mechanism which is configured to move the holding unit in a horizontal direction and a vertical direction.
Or the semiconductor manufacturing apparatus according to 8.
【請求項10】 前記複数の保持ユニットのうちの一つ
は、一枚の基板を搬送するものであり、前記ロック内カ
セットと外部カセットとの間には、周縁基準点に対する
周縁特異点の回転方向のずれ及び又は中心基準点に対す
る基板の中心のずれを算出する位置出し器が設けられて
おり、処理済みの基板がロック内カセットから取り出さ
れて外部カセットに収容される際、位置出し器を経由す
ることによって、基板の周縁特異点が周縁基準点に一致
した状態で、及び又は、基板の表面の中心点が中心基準
点に一致した状態で収容されるよう構成されていること
を特徴とする請求項8記載の半導体製造装置。
10. A method according to claim 1, wherein one of said plurality of holding units transports one substrate, and a rotation of a peripheral singular point with respect to a peripheral reference point between said cassette inside said lock and said external cassette. A position locator is provided for calculating the deviation of the direction and / or the deviation of the center of the substrate with respect to the center reference point. When the processed substrate is taken out of the cassette in the lock and stored in the external cassette, the position locator is used By passing through, in a state where the peripheral singular point of the substrate coincides with the peripheral reference point, and / or, it is configured to be accommodated in a state where the center point of the surface of the substrate coincides with the central reference point. 9. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 8, wherein:
【請求項11】 前記ロック内カセットと前記位置出し
器との間には、前記位置出し器を経由する際に複数の基
板を一度に係留することが可能な係留棚が設けられてい
ることを特徴とする請求項10記載の半導体製造装置。
11. A mooring shelf, which is capable of mooring a plurality of substrates at a time when passing through the positioning device, is provided between the cassette in the lock and the positioning device. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 10, wherein:
【請求項12】 前記係留棚で一度に係留される基板の
枚数は、前記ロック内カセットの基板の収容枚数と同数
以上であることを特徴とする請求項11の半導体製造装
置。
12. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 11, wherein the number of substrates moored at one time on said mooring shelf is equal to or larger than the number of substrates accommodated in said cassette in said lock.
JP36825698A 1998-12-24 1998-12-24 Substrate processing equipment Expired - Fee Related JP4227235B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36825698A JP4227235B2 (en) 1998-12-24 1998-12-24 Substrate processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36825698A JP4227235B2 (en) 1998-12-24 1998-12-24 Substrate processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000195920A true JP2000195920A (en) 2000-07-14
JP4227235B2 JP4227235B2 (en) 2009-02-18

Family

ID=18491358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP36825698A Expired - Fee Related JP4227235B2 (en) 1998-12-24 1998-12-24 Substrate processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4227235B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004179660A (en) * 2002-11-25 2004-06-24 Boc Group Inc:The Semiconductor manufacturing system
EP3591695A1 (en) * 2018-07-06 2020-01-08 Meyer Burger AG Transport apparatus for transporting wafer-shaped objects
KR20210086698A (en) * 2018-11-14 2021-07-08 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Substrate processing apparatus and substrate transfer method

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007076017A2 (en) 2005-12-27 2007-07-05 Bayer Healthcare Llc Electrochemical sensor system using a substrate with at least one aperature and method of making the same

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004179660A (en) * 2002-11-25 2004-06-24 Boc Group Inc:The Semiconductor manufacturing system
KR101106803B1 (en) 2002-11-25 2012-01-19 에드워즈 배큠 인코포레이티드 Atmospheric robot handling equipment
EP3591695A1 (en) * 2018-07-06 2020-01-08 Meyer Burger AG Transport apparatus for transporting wafer-shaped objects
WO2020008358A1 (en) * 2018-07-06 2020-01-09 Meyer Burger (Switzerland) Ag Transport apparatus for transporting wafer-shaped objects
KR20210086698A (en) * 2018-11-14 2021-07-08 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Substrate processing apparatus and substrate transfer method
KR102512865B1 (en) 2018-11-14 2023-03-23 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 Substrate processing device and substrate transfer method

Also Published As

Publication number Publication date
JP4227235B2 (en) 2009-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6179910B2 (en) Substrate transfer apparatus having different holding end effectors
JP2867194B2 (en) Processing device and processing method
JP2002507846A5 (en)
JPH05275511A (en) Transferring system and treating device for object to be treated
JP2002516238A (en) Automatic substrate processing system
JPS6130030B2 (en)
JP2008297584A (en) Film-forming apparatus
JP3006714B2 (en) Vertical substrate transfer apparatus, vertical heat treatment apparatus, and substrate transfer method in vertical heat treatment apparatus
JP4109733B2 (en) Substrate transfer system and semiconductor manufacturing apparatus
TW200915470A (en) Substrate processing apparatus
JPH1079343A (en) Processing system and application and development processing system
JPH11130255A (en) Substrate carrier and transfer device
JP2003516622A (en) Front-end loader transporter with small installation area
KR20200000638A (en) Appratus and method for processing substrate
JP4227235B2 (en) Substrate processing equipment
KR100586111B1 (en) Single wafer conveying apparatus and method
JP2003068824A (en) Suctional holder, transporter, method of transporting substrate, and method of manufacturing electrooptic device
JPH10189685A (en) Substrate treatment equipment
JP2743274B2 (en) Substrate processing device and substrate transfer device
JPH04298059A (en) Vacuum processor
JP7257914B2 (en) Substrate processing system and substrate processing method
WO2024116600A1 (en) Film forming apparatus and film forming method
JP2926592B2 (en) Substrate processing equipment
JP2004221610A (en) Semiconductor processing apparatus
JPH0271544A (en) Substrate shifting device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051222

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080805

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081006

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081104

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081128

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4227235

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131205

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees