JP2000190374A - Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate - Google Patents

Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate

Info

Publication number
JP2000190374A
JP2000190374A JP10377598A JP37759898A JP2000190374A JP 2000190374 A JP2000190374 A JP 2000190374A JP 10377598 A JP10377598 A JP 10377598A JP 37759898 A JP37759898 A JP 37759898A JP 2000190374 A JP2000190374 A JP 2000190374A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transparent plastic
plastic plate
laser beam
laser light
silver
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10377598A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaki Takebe
正喜 武部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daicel Corp
Original Assignee
Daicel Chemical Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daicel Chemical Industries Ltd filed Critical Daicel Chemical Industries Ltd
Priority to JP10377598A priority Critical patent/JP2000190374A/en
Publication of JP2000190374A publication Critical patent/JP2000190374A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/76Measuring, controlling or regulating
    • B29C45/7686Measuring, controlling or regulating the ejected articles, e.g. weight control

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To objectively and simply inspect the silver streaking generated in a transparent plastic plate. SOLUTION: An inspecting device for quantitatively and automatically inspecting the silver streaking on a transparent plastic plate consists of a laser beam generating means, a condensing means for condensing laser beam to the transparent plastic plate, a scanning means for scanning condensed laser beam on the transparent plastic plate, a shading means for shading the laser beam transmitted through the transparent plastic plate, an operation means for calculating the quantity and position of the silver streaking from the detected quantity of refracted laser beam and a scanning position and an image processing means recording the calculated result obtained from the operation means on an image. In this case, the condensing means condenses laser beam on the transparent plastic plate so that the spot shape of the laser beam becomes an oval shape of which an aspect ratio (long diameter:short diameter) is 5:1-2:1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、透明プラスチック
板の銀条検査装置に関する。さらに詳しくは、集光した
レーザー光のスポットを透明プラスチック板上に照射し
て走査し、銀条に起因して屈折したレーザー光を検知す
ることにより、銀条を定量的かつ自動的に検査する銀条
検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting a transparent plastic plate for silver stripes. More specifically, by irradiating the spot of the condensed laser light on a transparent plastic plate and scanning, and detecting the laser light refracted due to the silver strip, the silver strip is quantitatively and automatically inspected. It relates to a silver strip inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】銀条は、射出成形された樹脂成形物の表
面の流動方向に発生する銀状の条痕であって、シルバー
とも、銀線とも呼ばれるものである。通常、重合反応に
よって製造された樹脂に含まれている未反応成分の粒子
が、成形時に金型面とこすれ合って、流動方向に銀色ま
たは白色の条痕を呈するものである。銀条は、樹脂の成
形不良の一種であって、樹脂成形品の品質管理項目の一
つとして、重視されている。また、樹脂そのものについ
ても、成形時の銀条の発生傾向を示す指標として銀条検
査が行われている。
2. Description of the Related Art A silver strip is a silver-like streak generated in the flow direction on the surface of an injection-molded resin molded product, and is also referred to as silver or silver wire. Usually, particles of unreacted components contained in the resin produced by the polymerization reaction rub against the mold surface during molding, and exhibit silver or white streaks in the flow direction. The silver strip is a kind of resin molding defect and is regarded as one of quality control items of the resin molded product. Further, the resin itself is also subjected to silver strip inspection as an index indicating the tendency of silver strip to be formed during molding.

【0003】従来、銀条の検査は、目視によりその個数
を数えるという方法で行われていた。しかし、目視によ
って銀条を検査する方法は、多大な時間と労力を要する
と共に、条痕の判定基準が判定者の主観に著しく影響さ
れるという問題があった。
Conventionally, silver strips have been inspected by visually counting the number of silver strips. However, the method of visually inspecting silver stripes requires a great deal of time and effort, and has a problem that the judgment criteria of the streak are significantly affected by the subjective judgment of the judge.

【0004】このような問題を解決するために、銀条の
検査を電気的に検査する方法が提案されている。たとえ
ば、特開平2−72920号公報には、イメージセンサ
を用いて射出成形された樹脂成形品の表面を走査し、得
られた出力信号を画像処理し、表面上に存在する銀条の
面積をイメージセンサの画素数に対応させて数値化して
求め、さらに予め設定された基準値と比較して、多数の
銀条が存在する成形不良品を確実に検出してこれを排出
するとともに、射出成形条件の適正な制御を可能にする
射出成形制御方法が記載されている。
In order to solve such a problem, there has been proposed a method of electrically inspecting silver stripes. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-72920 discloses that an image sensor is used to scan the surface of an injection-molded resin molded product, perform image processing on an obtained output signal, and determine the area of a silver strip existing on the surface. Numerical values are obtained in correspondence with the number of pixels of the image sensor, and are compared with a preset reference value to reliably detect and discharge defective molding products having a large number of silver strips, and to perform injection molding. An injection molding control method that enables proper control of conditions is described.

【0005】しかしながら、このような技術において
も、透明樹脂における銀条をチャージカップルドデバイ
ス(CCD)イメージセンサーで検出することは困難で
あることから、依然として、銀条の検査方法としては不
充分なものであった。
However, even with such a technique, it is difficult to detect silver stripes in a transparent resin with a charge-coupled device (CCD) image sensor. Was something.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、透明
プラスチック板に発生した銀条を、客観的かつ簡便に検
査する方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for objectively and easily inspecting a silver strip generated on a transparent plastic plate.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、透明プラ
スチック板上に発生した銀条の光学的特性を鋭意研究し
た結果、レーザー光を透明プラスチック板に照射した際
に、レーザー光は、透明プラスチック板を直進して透過
するものの、銀条を透過する際には屈折することを見出
し、本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems The present inventors have conducted intensive studies on the optical characteristics of silver strips generated on a transparent plastic plate, and as a result, when a laser beam was irradiated on the transparent plastic plate, The present inventors have found that although the light passes through the transparent plastic plate straightly, the light is refracted when the light passes through the silver strip, thereby completing the present invention.

【0008】すなわち、本発明は、透明プラスチック板
上の銀条を定量的かつ自動的に検査する装置において、
該検査装置は、(イ)レーザー光発生手段と、(ロ)該
レーザー光を透明プラスチック板上に集光させる集光手
段と、(ハ)集光させたレーザー光を該透明プラスチッ
ク板上で走査させる走査手段と、(ニ)該透明プラスチ
ック板を透過したレーザー光を遮蔽する遮蔽手段と、
(ホ)該遮蔽手段から漏洩した屈折レーザー光を検出す
るレーザー光検出手段と、(ヘ)検出した屈折レーザー
光量および走査位置から銀条の量および位置を算出する
演算手段と、(ト)該演算手段から得られた算出結果を
画像上に記録する画像処理手段とからなることを特徴と
する銀条検査装置を提供するものである。
That is, the present invention provides an apparatus for quantitatively and automatically inspecting silver strips on a transparent plastic plate,
The inspection apparatus includes (a) a laser beam generating means, (b) a light condensing means for condensing the laser light on a transparent plastic plate, and (c) a condensing laser light on the transparent plastic plate. Scanning means for scanning, (d) shielding means for shielding the laser light transmitted through the transparent plastic plate,
(E) laser light detecting means for detecting the refracted laser light leaked from the shielding means, (f) calculating means for calculating the amount and position of the silver strip from the detected refracted laser light amount and the scanning position, and It is an object of the present invention to provide a silver strip inspection apparatus, comprising: an image processing means for recording a calculation result obtained by a calculation means on an image.

【0009】また、本発明は、上記の集光手段は、透明
プラスチック板上に集光したレーザー光のスポット形状
を縦横比(長径:短径)が5:1〜2:1の長円形とな
るように集光させることを特徴とする上記の銀条検査装
置を提供するものである。
Further, in the present invention, the light condensing means may change the spot shape of the laser light condensed on the transparent plastic plate into an oval having an aspect ratio (major axis: minor axis) of 5: 1 to 2: 1. It is intended to provide the above-mentioned silver strip inspection apparatus, wherein the light is condensed so as to be as follows.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の銀条検査装置を
詳細に説明する。 (透明プラスチック板)本発明の銀条検査方法におい
て、透明プラスチック板は、合成樹脂を射出成形して得
られた透明な樹脂板または樹脂フィルムである。また、
通常銀条は、樹脂を射出成形して得られる樹脂板または
樹脂フィルムの表裏に発生するが、本発明の銀条検査装
置においては、透明プラスチック板の表面または裏面に
集光することによって、表面または裏面に発生した銀条
を検査することができる。しかし、表面に発生した銀条
を検査する場合においても、裏面の銀条が顕著に大きい
場合には、同時に検査することができる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The silver strip inspection apparatus of the present invention will be described below in detail. (Transparent plastic plate) In the silver strip inspection method of the present invention, the transparent plastic plate is a transparent resin plate or a resin film obtained by injection-molding a synthetic resin. Also,
Usually, silver stripes occur on the front and back of a resin plate or a resin film obtained by injection-molding a resin. Alternatively, the silver strip generated on the back surface can be inspected. However, when silver stripes generated on the front surface are inspected, if the silver stripes on the rear surface are significantly large, the inspection can be performed at the same time.

【0011】(銀条検査装置) (i)レーザー光発生手段、走査手段 本発明で使用するレーザー光の発生手段、集光手段、走
査手段は、いずれも、特に限定するものではなく、公知
のものまたは公知の方法を使用することができる。
(Silver Strip Inspection Apparatus) (i) Laser Light Generating Means, Scanning Means The laser light generating means, focusing means, and scanning means used in the present invention are not particularly limited, and are known in the art. Or known methods can be used.

【0012】(ii)集光手段 本発明で使用するレーザー光の集光手段は、特に限定す
るものではないが、通常レンズである。集光手段におい
て、集光されたレーザー光のスポットの形状は、通常銀
条の幅と同程度の10〜100μmである。また、銀条
は、通常射出成形の際に、樹脂の流れ方向に沿って発生
するため、その方向に長く、通常長さ数mmの直線状で
存在する。したがって、集光手段において、集光された
レーザー光のスポットの形状は、レーザー光の走査方向
に対して直交する長い長円形とすることで、感度良く検
出することができる。スポットの形状は、縦横比(長
径:短径の比率)が5:1〜2:1、好ましくは4:1
〜3:1である。縦横比が、5:1〜2:1の範囲外の
場合は、感度が低下するという問題がある。
(Ii) Focusing Means The focusing means of the laser beam used in the present invention is not particularly limited, but is usually a lens. In the focusing means, the shape of the focused laser beam spot is usually 10 to 100 μm, which is almost the same as the width of a silver strip. In addition, since silver stripes are usually generated along the resin flow direction during injection molding, they are long in that direction and usually exist in a linear shape having a length of several mm. Therefore, in the light condensing means, the shape of the spot of the condensed laser light can be detected with high sensitivity by making it a long ellipse orthogonal to the scanning direction of the laser light. The shape of the spot has an aspect ratio (ratio of major axis to minor axis) of 5: 1 to 2: 1, preferably 4: 1.
33: 1. When the aspect ratio is out of the range of 5: 1 to 2: 1, there is a problem that the sensitivity is reduced.

【0013】(iii)遮蔽手段 本発明で使用する遮蔽手段は、レーザー光を透過しない
ものであれば、特に限定するものではない。しかし、本
発明においては、遮蔽手段は、透明プラスチック板を透
過したレーザー光のスポットを完全に遮蔽できるもので
あることが肝要である。遮蔽物の形状は、趣向手段にお
ける集光の程度(たとえば、レンズの焦点距離)、集光
されたレーザー光のスポットの形状、透明プラスチック
板と遮蔽手段とレーザー光検出手段の相対的な位置から
設定することができる。
(Iii) Shielding means The shielding means used in the present invention is not particularly limited as long as it does not transmit laser light. However, in the present invention, it is important that the shielding means can completely shield the spot of the laser beam transmitted through the transparent plastic plate. The shape of the shield depends on the degree of focusing (for example, the focal length of the lens) in the desired means, the shape of the spot of the focused laser light, and the relative positions of the transparent plastic plate, the shielding means, and the laser light detecting means. Can be set.

【0014】(iv)レーザー光検出手段、演算手段、
画像処理手段 本発明で使用するレーザー光検出手段、演算手段、画像
処理手段は、いずれも、特に限定するものではなく、公
知のものまたは公知の方法を使用することができる。レ
ーザー光検出手段は、通常フォトダイオードであり、演
算手段および画像処理手段は、通常演算ソフトを組み込
んだパーソナルコンピュータである。
(Iv) laser beam detecting means, calculating means,
Image Processing Means The laser light detecting means, arithmetic means, and image processing means used in the present invention are not particularly limited, and any known means or known method can be used. The laser beam detecting means is usually a photodiode, and the calculating means and the image processing means are usually a personal computer incorporating calculation software.

【0015】以下に、本発明の銀条検査装置を、図面を
用いてさらに詳細に説明する。図1は、本発明の銀条検
査装置の要部構成(例)を表すものである。図1におい
て、11はレーザー光源であり、そこから発射されたレ
ーザー光は、レンズ12を介して、被測定物13の表面
上にレーザー光のスポットとして集光される。レーザー
光のスポットは、レーザー光源とデイテクタ14を治具
で一体化したものまたは被測定物13を二次元で移動さ
せることによって、被測定物13上の所望とする領域を
走査させることができる。
Hereinafter, the silver strip inspection apparatus of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a main configuration (example) of a silver strip inspection apparatus of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a laser light source, and a laser light emitted from the laser light source is condensed as a laser light spot on a surface of an object 13 via a lens 12. The laser beam spot can scan a desired area on the object 13 by integrating the laser light source and the detector 14 with a jig or by moving the object 13 two-dimensionally.

【0016】被測定物13を透過したレーザー光は、遮
蔽材15を介して、ディテクタ14に到達する。ディテ
クタ14において、到達したレーザー光は、電圧を発生
させ、電圧信号として数値化される。遮蔽材15は、そ
の中心を集光されたレーザー光の光軸に一致させ、ディ
テクタ14の表面の近傍に配置される。
The laser beam transmitted through the object 13 reaches the detector 14 via the shielding member 15. In the detector 14, the arrived laser light generates a voltage and is digitized as a voltage signal. The shielding member 15 is arranged near the surface of the detector 14 with its center coincident with the optical axis of the focused laser beam.

【0017】次に、ディテクタ14からの電圧信号は、
アンプ17により増幅された後、AD変換器18におい
てデジタル信号に変換される。デジタル信号は、演算装
置19に伝達され、そこで被測定物の表面上の走査位置
と組合せることにより、走査領域の電圧画像が作成され
る。
Next, the voltage signal from the detector 14 is
After being amplified by the amplifier 17, the signal is converted into a digital signal by the AD converter 18. The digital signal is transmitted to the arithmetic unit 19, where it is combined with the scanning position on the surface of the device under test to create a voltage image of the scanning area.

【0018】被測定物13上に存在する銀条は、次のよ
うにして検査することができる。被測定物13を透過し
たレーザー光は、遮蔽材15を介して、ディテクタ14
に到達するものの、被測定物13上に銀条が存在しない
場合には、遮蔽材15は、レーザー光がディテクタ14
の表面に到達したときの投影形状と同じ大きさに製作さ
れているため、遮蔽材15によって遮られ、ディテクタ
14までは到達しない。しかし、被測定物13の表面に
銀条が存在する場合は、銀条によってレーザー光は屈折
させられ、その進行方向が変化する。したがって、屈折
したレーザー光は、遮蔽材15によって遮蔽されること
なく、ディテクタ14の表面に到達して電圧を発生させ
る。このディテクタ14の電圧信号は、アンプ17によ
って増幅され、AD変換器18によってデジタル信号と
して演算装置19に取り込まれる。 演算装置19にお
いて、デジタル信号は、被測定物13の表面上の走査位
置と組合せることにより、走査領域の電圧画像が作成さ
れる。
The silver strip existing on the object 13 can be inspected as follows. The laser light transmitted through the device under test 13 passes through the shielding member 15 and passes through the detector 14.
, But no silver stripes exist on the DUT 13, the shielding material 15
Since it is manufactured to have the same size as the projected shape when it reaches the surface of, it is shielded by the shielding material 15 and does not reach the detector. However, when silver stripes exist on the surface of the DUT 13, the laser light is refracted by the silver stripes, and the traveling direction changes. Therefore, the refracted laser light reaches the surface of the detector 14 without being shielded by the shielding member 15 and generates a voltage. The voltage signal of the detector 14 is amplified by the amplifier 17 and taken into the arithmetic unit 19 as a digital signal by the AD converter 18. In the arithmetic unit 19, the digital signal is combined with the scanning position on the surface of the device under test 13 to create a voltage image of the scanning region.

【0019】図2は、銀条の検出原理を表す。被測定物
13上の走査位置(a)においては、集光されたレーザ
ー光のスポットは、被測定物13を透過した後、遮蔽材
15によって遮蔽されて、ディテクタ14に到達せず、
したがって、電圧を発生しない。しかし、走査位置
(b)においては、集光されたレーザー光のスポット
は、被測定物13の表面上の銀条16で屈折されて、そ
の一部は遮蔽材15の外側に漏洩し、したがって、ディ
テクタ14は電圧を発生する。すなわち、集光されたレ
ーザー光のスポットを、被測定物13の表面に走査させ
ることにより、被測定物13の走査領域において、銀条
の存在する位置を定めることができる。
FIG. 2 shows the principle of silver strip detection. At the scanning position (a) on the DUT 13, the spot of the condensed laser light is transmitted through the DUT 13, is blocked by the shielding member 15, and does not reach the detector 14.
Therefore, no voltage is generated. However, at the scanning position (b), the spot of the condensed laser light is refracted by the silver strip 16 on the surface of the DUT 13, and a part of the spot leaks to the outside of the shielding member 15. , Detector 14 generates a voltage. That is, by scanning the spot of the converged laser light on the surface of the DUT 13, the position where the silver stripe exists can be determined in the scanning region of the DUT 13.

【0020】図3は、集光されたレーザー光を、被測定
物13上で走査させた際の、走査線上の電圧変化を記録
した例である。銀条が存在する場所では、発生した電圧
は、ピークとして記録することができる。したがって、
発生する電圧に対して、所定の閾値を設定しておくこと
により、閾値を超える位置を、銀条が存在する位置に対
応させることができる。
FIG. 3 shows an example in which a voltage change on a scanning line when the converged laser light is scanned on the object 13 is recorded. Where silver stripes are present, the generated voltage can be recorded as a peak. Therefore,
By setting a predetermined threshold value for the generated voltage, a position exceeding the threshold value can be made to correspond to a position where a silver strip exists.

【0021】図4は、被測定物13の走査領域におい
て、閾値を超えるピーク電圧を示す電圧画像の例であ
る。画像上の点は、ディテクタ14で発生したピーク電
圧が所定の閾値を超えた点を示している。
FIG. 4 is an example of a voltage image showing a peak voltage exceeding a threshold value in a scanning region of the device under test 13. Points on the image indicate points where the peak voltage generated by the detector 14 exceeds a predetermined threshold.

【0022】銀条は、通常長さ数mmの直線状で存在す
ることから、上記の電圧画像上の銀条に起因するピーク
電圧を結んだ線は、その両端点の位置から演算して、画
像上に直線として記録することができる。同時に、記録
された直線のうち、所定の長さを超える直線は、すなわ
ち銀条の個数は、単位面積あたりの直線の個数として計
測される。図5は、銀条に起因する所定長さを超える直
線を、画像上に表したものである。
Since a silver strip is usually present in the form of a straight line having a length of several mm, the line connecting the peak voltages caused by the silver strip on the above-mentioned voltage image is calculated from the positions of both end points thereof. It can be recorded as a straight line on the image. At the same time, of the recorded straight lines, a straight line exceeding a predetermined length, that is, the number of silver strips is measured as the number of straight lines per unit area. FIG. 5 shows a straight line exceeding a predetermined length due to a silver strip on an image.

【0023】[0023]

【実施例】本発明を実施例に基づいてさらに説明する。
なお、本発明は、以下の実施例によって何ら限定される
ものではない。
EXAMPLES The present invention will be further described based on examples.
In addition, this invention is not limited at all by the following Examples.

【0024】(実施例)ポリスチレン製造装置から採取
した製品のポリスチレンのペレットを射出成形して、直
径76mm、厚み1.2mmの透明ポリスチレン板を作
製した。
EXAMPLE A transparent polystyrene plate having a diameter of 76 mm and a thickness of 1.2 mm was manufactured by injection molding a polystyrene pellet of a product collected from a polystyrene production apparatus.

【0025】作製した透明ポリスチレン板について、表
1に示すレーザー光測定装置を用いて表面上の銀条を検
査した。画像上の長さ3mm以上の直線(銀条)を銀条
とした場合に、単位面積あたりの銀条数は、0.2個/
cm2であった。図1に、得られた画像を示す。
With respect to the prepared transparent polystyrene plate, silver stripes on the surface were inspected using a laser beam measuring device shown in Table 1. When a straight line (silver strip) having a length of 3 mm or more on the image is a silver strip, the number of silver strips per unit area is 0.2 pieces /
cm 2 . FIG. 1 shows the obtained image.

【0026】[0026]

【表1】 [Table 1]

【0027】[0027]

【発明の効果】以上、詳細かつ具体的に説明したよう
に、本発明の銀条検査装置は、(イ)レーザー光の発生
手段と、(ロ)集光手段と、(ハ)走査手段と、(ニ)
遮蔽手段と、(ホ)レーザー光検出手段と、(ヘ)演算
手段と、(ト)画像処理手段とから構成したことによっ
て、透明プラスチック板上に発生した銀条を、客観的か
つ簡便に検査できるという効果を奏する。
As described above in detail and specifically, the silver strip inspection apparatus according to the present invention comprises (a) laser beam generating means, (b) condensing means, and (c) scanning means. , (D)
A silver strip generated on a transparent plastic plate can be objectively and easily inspected by comprising a shielding means, (e) a laser beam detecting means, (f) an arithmetic means, and (g) an image processing means. It has the effect of being able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の要部構成を表す。FIG. 1 shows a main configuration of the present invention.

【図2】本発明における銀条の検出原理を表す。FIG. 2 shows the principle of silver strip detection in the present invention.

【図3】被測定物上をレーザー光のスポットで走査した
時のディテクタの電圧変化を表す。
FIG. 3 shows a voltage change of a detector when scanning an object to be measured with a laser beam spot.

【図4】被測定物上をレーザー光のスポットで走査した
時のディテクタの電圧変化が所定の閾値を超えた点をプ
ロットした例を表す。
FIG. 4 illustrates an example in which points at which a voltage change of a detector exceeds a predetermined threshold when a laser light spot is scanned on a measurement object are plotted.

【図5】図4の結果をもとに、画像上に電圧画像に記録
された直線を記録した例を表す。
FIG. 5 illustrates an example in which a straight line recorded in a voltage image is recorded on an image based on the result of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 レーザー 12 レンズ 13 被測定物 14 ディテクタ 15 遮蔽材 16 銀条 17 増幅器 18 AD変換器 19 演算装置 REFERENCE SIGNS LIST 11 laser 12 lens 13 device under test 14 detector 15 shielding material 16 silver strip 17 amplifier 18 AD converter 19 arithmetic unit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明プラスチック板上の銀条を定量的か
つ自動的に検査する装置において、該検査装置は、
(イ)レーザー光発生手段と、(ロ)該レーザー光を透
明プラスチック板上に集光させる集光手段と、(ハ)集
光させたレーザー光を該透明プラスチック板上で走査さ
せる走査手段と、(ニ)該透明プラスチック板を透過し
たレーザー光を遮蔽する遮蔽手段と、(ホ)該遮蔽手段
から漏洩した屈折レーザー光を検出するレーザー光検出
手段と、(ヘ)検出した屈折レーザー光量および走査位
置から銀条の量および位置を算出する演算手段と、
(ト)該演算手段から得られた算出結果を画像上に記録
する画像処理手段とからなることを特徴とする銀条検査
装置。
An apparatus for quantitatively and automatically inspecting a silver strip on a transparent plastic plate, wherein the inspection apparatus comprises:
(B) laser beam generating means, (B) focusing means for focusing the laser light on a transparent plastic plate, and (C) scanning means for scanning the focused laser light on the transparent plastic plate. (D) shielding means for shielding the laser light transmitted through the transparent plastic plate; (e) laser light detecting means for detecting the refracted laser light leaked from the shielding means; Calculating means for calculating the amount and position of the silver strip from the scanning position;
(G) An image processing apparatus for recording a calculation result obtained from the calculating means on an image.
【請求項2】 該集光手段は、透明プラスチック板上に
集光したレーザー光のスポット形状を縦横比(長径:短
径)が5:1〜2:1の長円形することを特徴とする請
求項1に記載の銀条検査装置。
2. The condensing means according to claim 1, wherein the spot shape of the laser light condensed on the transparent plastic plate has an aspect ratio (major axis: minor axis) of 5: 1 to 2: 1. The silver strip inspection device according to claim 1.
JP10377598A 1998-12-29 1998-12-29 Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate Pending JP2000190374A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10377598A JP2000190374A (en) 1998-12-29 1998-12-29 Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10377598A JP2000190374A (en) 1998-12-29 1998-12-29 Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000190374A true JP2000190374A (en) 2000-07-11

Family

ID=18508994

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10377598A Pending JP2000190374A (en) 1998-12-29 1998-12-29 Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000190374A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3145487B2 (en) Particle analyzer
US4223346A (en) Automatic defect detecting inspection apparatus
US7292332B2 (en) Method and apparatus for detecting faults in transparent material
US5448349A (en) Particle analyzing apparatus and method wherein an optical deflector optically tracks a particle
JPH03267745A (en) Surface property detecting method
JPH06186156A (en) Particle analyzer
ATE187249T1 (en) SURFACE INSPECTION FACILITY
KR100974111B1 (en) Optical sensor and method for optically inspecting surfaces
JP3102925B2 (en) Particle analyzer
US6346713B1 (en) Method and installation for inspecting an article for defects
JPH02105041A (en) Particle measuring instrument
JP2000190374A (en) Silver streaking inspecting device for transparent plastic plate
JPS5940146A (en) Method for detecting foreign matter in extrusion resin
US4177482A (en) Population and profile data of bodies in a transparent mass
JPH09243333A (en) Device for inspecting extrusion
US4257264A (en) Tire checking apparatus
US5606591A (en) Procedure for measuring the dimensions of the optical focus of an X-ray tube
JP3227846B2 (en) Foreign matter detection method in molten polyethylene
EP0356563A1 (en) Method and measuring device for determining crack lengths and/or elongations in construction parts or samples
JPH10185534A (en) Instrument and method for measuring shape
JPH10300680A (en) Method for inspecting foreign object in injected resin
Jolma et al. The detection of knots in wood materials using the tracheid effect
US5402228A (en) On-line dirt counter
JPH0739518A (en) Optometry apparatus
JPS60222756A (en) Foreign matter inspector