JP2000187061A - Fall-off preventing device for test board - Google Patents
Fall-off preventing device for test boardInfo
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣテスターのテ
ストヘッドの回転装置における、テストヘッドとテスト
ボードのドッキングを行う接続機構に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a connection mechanism for docking a test head and a test board in an apparatus for rotating a test head of an IC tester.
【０００２】[0002]
【従来の技術】ＩＣテスターのテストヘッド回転装置
は、テストするデバイスの電極に対して大きくて重いテ
ストヘッドに固定されたテストボードを所定位置に正確
にセットするために設けられている。従来のＩＣテスタ
ーのテストヘッドの回転装置は、テストヘッドに固定さ
れ、テストヘッド回転駆動部内に回転軸を持つアームを
回転制御部から回転開始信号、回転停止信号を送ること
でテストヘッドをほぼ半回転させる回転制御を行ってい
た。このようなとき、テストヘッド上に装着されるテス
トボードがテストヘッドに固定されているかどうかに関
わらず、テストヘッドは回転可能であった。2. Description of the Related Art A test head rotating device of an IC tester is provided for accurately setting a test board fixed to a large and heavy test head to a predetermined position with respect to electrodes of a device to be tested. In a conventional IC tester rotating device for a test head, an arm having a rotating shaft fixed to the test head and having a rotation axis in a test head rotation driving unit is almost half cut by sending a rotation start signal and a rotation stop signal from a rotation control unit. Rotation control to rotate was performed. In such a case, the test head was rotatable regardless of whether or not the test board mounted on the test head was fixed to the test head.
【０００３】図２は、従来のテストヘッドとテストヘッ
ド回転機構の構成を示すブロック図である。この図にお
いて、テストヘッド２にテストボード１が固定され、テ
ストヘッド回転駆動部５に回転制御部４から回転開始信
号を送ることで、テストヘッド２に取り付けられ、テス
トヘッド回転機構３内に回転軸を持つアーム８を回転さ
せていた。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional test head and a test head rotating mechanism. In this figure, a test board 1 is fixed to a test head 2, and is attached to the test head 2 by sending a rotation start signal from a rotation control unit 4 to a test head rotation drive unit 5. The arm 8 having the shaft was being rotated.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の回転
制御部ではテストボードのテストヘッドへの固定を確認
する手段を持っていなかったので、テストボードがテス
トヘッドに固定されないままテストヘッドを回転させる
ことが可能であり、テストボードがテストヘッドから落
下してＩＣテスターやテストボードの破損または操作者
のけがの原因となる可能性があるという課題があった。However, the conventional rotation control section has no means for confirming the fixation of the test board to the test head, so that the test head is rotated without the test board being fixed to the test head. There is a problem that the test board may drop from the test head and cause a breakage of the IC tester or the test board or an injury to the operator.
【０００５】本発明はこのような背景の下になされたも
ので、テストボードの固定が確認されたことによってテ
ストヘッドの回転が可能になるテストボード脱落防止装
置を提供することを目的とする。[0005] The present invention has been made under such a background, and an object of the present invention is to provide a test board falling-off prevention device which enables rotation of a test head upon confirmation of fixation of a test board.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、テストボードが固定されたテストヘッドをほぼ半回
転させて前記テストボードと供試デバイスとを接続する
ＩＣテスターのテストヘッド回転装置において、前記テ
ストヘッド内に設けられ、前記テストボードの前記テス
トヘッドへの装着状態を監視する固定監視部と、テスト
ヘッド回転機構内に設けられ、前記固定監視部から送出
された信号を受信する固定信号受信部と、該固定信号受
信部が検知した信号によって前記テストヘッドの回転を
可能とする回転制御部とを具備することを特徴とするテ
ストボード脱落防止装置を提供する。According to a first aspect of the present invention, there is provided a test head rotating apparatus for an IC tester for connecting a test board and a device under test by rotating a test head to which a test board is fixed substantially half a turn. , A fixed monitoring unit provided in the test head for monitoring the mounting state of the test board to the test head, and a signal provided from the fixed monitoring unit provided in the test head rotating mechanism. A test board drop-off prevention device, comprising: a fixed signal receiving unit; and a rotation control unit that enables the test head to rotate based on a signal detected by the fixed signal receiving unit.
【０００７】請求項２に記載の発明は、前記信号が、前
記テストボードが前記テストヘッドへの固定が確認され
たとき前記固定監視部から送出される信号であることを
特徴とする請求項１記載のテストボード脱落防止装置を
提供する。According to a second aspect of the present invention, the signal is a signal transmitted from the fixed monitoring unit when the test board is confirmed to be fixed to the test head. An apparatus for preventing the test board from falling off is provided.
【０００８】請求項３に記載の発明は、前記信号が、リ
レー接点の閉成による電流信号として送出され、フォト
カプラによって受信されることを特徴とする請求項１ま
たは２記載のテストボード脱落防止装置を提供する。According to a third aspect of the present invention, the test board is prevented from falling off according to the first or second aspect, wherein the signal is transmitted as a current signal by closing a relay contact and received by a photocoupler. Provide equipment.
【０００９】また請求項４に記載の発明は、前記信号
が、発光ダイオードによる光信号として送出され、フォ
トトランジスタによって受信されることを特徴とする請
求項１または２記載のテストボード脱落防止装置を提供
する。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a test board drop prevention device according to the first or second aspect, wherein the signal is transmitted as an optical signal by a light emitting diode and received by a phototransistor. provide.
【００１０】[0010]
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態につ
いて図を参照しながら説明する。図１はこの発明の一実
施形態によるＩＣテスターのテストボード脱落防止装置
の構成を示すブロック図である。この図において、符号
１はテストボード、２はテストボード１を固定するテス
トヘッド、３はテストヘッド回転機構である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an IC tester test board drop-off prevention device according to an embodiment of the present invention. In this figure, reference numeral 1 denotes a test board, 2 denotes a test head for fixing the test board 1, and 3 denotes a test head rotating mechanism.
【００１１】前記テストヘッド２には、回転軸１１を中
心としてテストヘッド２をほぼ半回転させ、テストする
デバイスとテストボード１とを図示していない接続ピン
によって接続するためのアーム８が取り付けられてい
る。前記テストヘッド２には、テストボード固定スイッ
チ７と固定監視部６が設けられ、この固定監視部６には
固定が確認されたことによって動作するリレー６１が配
設されている。The test head 2 is provided with an arm 8 for rotating the test head 2 approximately half a rotation about a rotation axis 11 and connecting a device to be tested and the test board 1 with connection pins (not shown). ing. The test head 2 is provided with a test board fixing switch 7 and a fixing monitoring unit 6, and the fixing monitoring unit 6 is provided with a relay 61 that operates when fixing is confirmed.
【００１２】また、前記テストヘッド回転機構３には、
前記アーム８を介して前記テストヘッド２を回転させる
ためのテストヘッド５と、このテストヘッド回転駆動部
５の回転制御を行う回転制御部４が設けられており、こ
の回転制御部４には固定信号受信部が内蔵されている。
前記固定監視部６から前記固定信号受信部４１への信号
は、２つのコネクタ９を介して前記テストヘッド２の回
転を妨げない構造の配線１０によって伝送される。The test head rotating mechanism 3 includes:
A test head 5 for rotating the test head 2 via the arm 8 and a rotation control unit 4 for controlling the rotation of the test head rotation drive unit 5 are provided. A signal receiving unit is built in.
A signal from the fixed monitoring unit 6 to the fixed signal receiving unit 41 is transmitted via two connectors 9 by a wiring 10 having a structure that does not hinder the rotation of the test head 2.
【００１３】次に、この実施形態の動作について説明す
る。図１において、テストボード１がテストヘッド２に
固定されていないと、固定監視部６に設けられたリレー
６１がＯＦＦされ、このリレー６１の接点は開放された
ままだが、テストボード１がテストヘッド２に固定さ
れ、テストボード固定スイッチ７がＯＮされると、固定
監視部６に設けられたリレー６１がＯＮする。Next, the operation of this embodiment will be described. In FIG. 1, when the test board 1 is not fixed to the test head 2, the relay 61 provided in the fixed monitoring unit 6 is turned off, and the contact of the relay 61 is kept open. 2 and the test board fixing switch 7 is turned on, the relay 61 provided in the fixing monitoring unit 6 is turned on.
【００１４】このリレー６１のＯＮによってリレー接点
が閉成し、電源から電流が供給されてテストボード１が
テストヘッド２に固定されたことを確認する信号として
コネクタ９と配線１０を介して回転制御部４内の固定信
号受信部４１に対して出力される。なお、前記配線１０
はテストヘッドの回転を妨げないように、フレキシブル
で、かつ十分な長さを持った電線であることが必要であ
る。When the relay 61 is turned on, the relay contact is closed, a current is supplied from a power source, and rotation control is performed via the connector 9 and the wiring 10 as a signal for confirming that the test board 1 is fixed to the test head 2. The signal is output to the fixed signal receiving unit 41 in the unit 4. The wiring 10
Must be flexible and have a sufficient length so as not to hinder the rotation of the test head.
【００１５】この出力された信号を受信することによっ
てフォトカプラ等による固定信号受信部４１がＯＮさ
れ、テストボード１がテストヘッド２に固定された事を
検知し、そこで初めてテストヘッド１を回転させるテス
トヘッド回転駆動部５に回転開始信号を送りテストヘッ
ド２を回転させる。By receiving the output signal, a fixed signal receiving unit 41 such as a photocoupler is turned on, and it is detected that the test board 1 is fixed to the test head 2, and the test head 1 is rotated for the first time. A rotation start signal is sent to the test head rotation drive unit 5 to rotate the test head 2.
【００１６】以上、本発明の一実施形態の動作を図面を
参照して詳述してきたが、本発明はこの実施形態に限ら
れるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設
計変更等があっても本発明に含まれる。例えば、テスト
ボードの固定確認の方法はリレー接点の閉成による電流
信号をフォトカプラで受信する構成に限られるものでは
なく、発光ダイオードによる光信号として送出され、フ
ォトトランジスタによって受信される構成であってもよ
い。The operation of one embodiment of the present invention has been described above in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to this embodiment, and a design change or the like may be made without departing from the gist of the present invention. The present invention is also included in the present invention. For example, the method of confirming the fixation of the test board is not limited to a configuration in which a current signal due to the closing of a relay contact is received by a photocoupler, but is a configuration in which the current signal is transmitted as an optical signal by a light emitting diode and received by a phototransistor. You may.
【００１７】[0017]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のテストボ
ード脱落防止装置によれば、テストボードとテストヘッ
ドとが固定されたことを確認する信号を固定信号受信部
が検知しない限りテストヘッドが回転しないので、テス
トボードが脱落する恐れがなくなり、試験装置やテスト
ボードの破損または操作者がけがをする事もなくなると
いう効果がある。As described above, according to the test board drop-off preventing device of the present invention, the test head can be used unless the fixed signal receiving section detects a signal confirming that the test board and the test head are fixed. Since the test board does not rotate, there is no danger of the test board falling off, and there is an effect that the test apparatus and the test board are not broken or the operator is not injured.
【図１】 本発明の一実施形態によるＩＣテスターのテ
ストボード脱落防止装置の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an IC tester test board dropout prevention device according to an embodiment of the present invention.
【図２】 従来の技術によるテストヘッドとテストヘッ
ド回転機構の関係を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a relationship between a test head and a test head rotating mechanism according to a conventional technique.
１ テストボード ２ テストヘッド ３ テストヘッド回転機構 ４ 回転制御部 ４１ 固定信号受信部 ５ テストヘッド回転駆動部 ６ 固定監視部 ６１ リレー ７ テストボード固定スイッチ ８ アーム ９ コネクタ １０ 配線 １１ 回転軸 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test board 2 Test head 3 Test head rotation mechanism 4 Rotation control part 41 Fixed signal receiving part 5 Test head rotation drive part 6 Fixed monitoring part 61 Relay 7 Test board fixed switch 8 Arm 9 Connector 10 Wiring 11 Rotation axis
Claims (4)
をほぼ半回転させて前記テストボードと供試デバイスと
を接続するＩＣテスターのテストヘッド回転装置におい
て、 前記テストヘッド内に設けられ、前記テストボードの前
記テストヘッドへの装着状態を監視する固定監視部と、 テストヘッド回転機構内に設けられ、前記固定監視部か
ら送出された信号を受信する固定信号受信部と、 該固定信号受信部が検知した信号によって前記テストヘ
ッドの回転を可能とする回転制御部と、を具備すること
を特徴とするテストボード脱落防止装置。1. A test head rotating device of an IC tester for connecting a test board and a device under test by rotating a test head to which a test board is fixed substantially half a turn, wherein the test board is provided in the test head, A fixed monitoring unit that monitors a state of attachment to the test head, a fixed signal receiving unit that is provided in the test head rotating mechanism and receives a signal transmitted from the fixed monitoring unit, and that the fixed signal receiving unit detects A rotation control unit that enables the test head to rotate in response to the signal.
れたとき前記固定監視部から送出される信号であること
を特徴とする請求項１記載のテストボード脱落防止装
置。2. The test board drop-off prevention device according to claim 1, wherein the signal is a signal transmitted from the fixation monitoring unit when the fixation of the test board to the test head is confirmed. .
トカプラによって受信されることを特徴とする請求項１
または２記載のテストボード脱落防止装置。3. The signal according to claim 1, wherein the signal is transmitted as a current signal by closing a relay contact and received by a photocoupler.
Or the test board dropout prevention device according to 2.
ランジスタによって受信されることを特徴とする請求項
１または２記載のテストボード脱落防止装置。4. The test board drop prevention device according to claim 1, wherein the signal is transmitted as an optical signal by a light emitting diode and received by a phototransistor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10363503A JP2000187061A (en) | 1998-12-21 | 1998-12-21 | Fall-off preventing device for test board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10363503A JP2000187061A (en) | 1998-12-21 | 1998-12-21 | Fall-off preventing device for test board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000187061A true JP2000187061A (en) | 2000-07-04 |
Family
ID=18479485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10363503A Withdrawn JP2000187061A (en) | 1998-12-21 | 1998-12-21 | Fall-off preventing device for test board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000187061A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008082769A (en) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Yokogawa Electric Corp | Semiconductor testing apparatus |
| JP2008134171A (en) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Yokogawa Electric Corp | Conversion box of semiconductor tester |
-
1998
- 1998-12-21 JP JP10363503A patent/JP2000187061A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2008134171A (en) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Yokogawa Electric Corp | Conversion box of semiconductor tester |
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