JP2000176670A - Optical processing device - Google Patents

Optical processing device

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JP2000176670A
JP2000176670A JP10358240A JP35824098A JP2000176670A JP 2000176670 A JP2000176670 A JP 2000176670A JP 10358240 A JP10358240 A JP 10358240A JP 35824098 A JP35824098 A JP 35824098A JP 2000176670 A JP2000176670 A JP 2000176670A
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JP
Japan
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light beam
optical fiber
optical
light
conductive film
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Application number
JP10358240A
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Japanese (ja)
Inventor
Shingen Kinoshita
真言 木下
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Ricoh Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Microelectronics Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical processing device capable of making miniaturization compatible with the improvement of a processing speed by preventing the generation of variance of a processing dimension and a finished state or the like and reducing the diameter of a light beam while controlling the reduction of light beam power without using an optical system such as a mirror having many restrictions on a layout. SOLUTION: This device is provided with a YAG laser 1, a step index side optical fiber 2 which guides a light beam emitted from the laser 1 up to the vicinity of a substrate 3 being a workpiece while uniformizing energy density by refraction and reflection in an internal optical transmission line, a lens 20 for irradiating the substrate 3 by squeezing the light beam emitted from the light emitting end of the optical fiber 2 into a spot shape, and a mounting pedestal 5b on which the substrate 3 is placed and moreover which is driven and controlled in the direction crossing with the irradiating direction of the light beam. At least the end part 2c of the light emitting end side of the optical fiber 2 is formed so that the cross section area of a core 2a becomes narrow as the end part advances toward the downstream side in the advancing direction of the light beam.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、タッチパネル、液
晶パネル等のように絶縁性基板の表面に電極パターンを
するために該絶縁性基板上に形成した導電性膜に光ビー
ムを照射することにより該導電性膜の一部を除去する加
工や、プラスチック材等に光ビームを照射することによ
り貫通孔又は凹部を形成する加工等を行う光加工装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of irradiating a conductive film formed on an insulating substrate with a light beam in order to form an electrode pattern on the surface of the insulating substrate such as a touch panel or a liquid crystal panel. The present invention relates to an optical processing apparatus that performs processing for removing a part of the conductive film, and processing for forming a through hole or a concave portion by irradiating a plastic material or the like with a light beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、種々の電子機器に利用者が情報を
入力する手段としてタッチパネルが用いられている。ま
た、電子機器の表示手段としては液晶パネルが用いられ
ている。このようなタッチパネル及び液晶パネルは、透
明の導電性膜からなる透明電極が表面に形成された1組
の絶縁性基板を、該透明電極が対向するように張り合わ
せた構造になっている。また、タッチパネルの場合は、
上記透明電極が通常状態で接触しないように上記1組の
基板を所定の高さ(例えば9乃至12μm)のスペーサ
を介して対向させている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a touch panel has been used as a means for a user to input information to various electronic devices. In addition, a liquid crystal panel is used as a display unit of the electronic device. Such a touch panel and a liquid crystal panel have a structure in which a pair of insulating substrates each having a transparent electrode made of a transparent conductive film formed on a surface thereof are bonded so that the transparent electrodes face each other. In the case of a touch panel,
The set of substrates is opposed to each other via a spacer having a predetermined height (for example, 9 to 12 μm) so that the transparent electrodes do not contact in a normal state.

【0003】上記絶縁性基板の表面に形成される各透明
電極は、互いに接触しないようにスリット状の間隙で分
離して形成されている。従来、この絶縁基板上の透明電
極の配線パターンは、エッチング処理を含むフォトリソ
グラフィ法によって主に形成されていた。このフォトリ
ソグラフィ法は、絶縁性基板の全面に導電性膜を真空蒸
着等によって形成し、該導電性膜上にレジストパターン
を形成した後、該導電性膜の露出した部分をエッチング
液で溶かして除去し、絶縁パターンを形成して導電性膜
の配線パターンとするものである。
The transparent electrodes formed on the surface of the insulating substrate are separated by slit-shaped gaps so as not to contact each other. Conventionally, the wiring pattern of the transparent electrode on the insulating substrate has been mainly formed by a photolithography method including an etching process. In this photolithography method, a conductive film is formed on the entire surface of an insulating substrate by vacuum evaporation or the like, a resist pattern is formed on the conductive film, and then the exposed portion of the conductive film is dissolved with an etchant. After removal, an insulating pattern is formed to form a wiring pattern of a conductive film.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記フォト
リソグラフィ法を用いる場合、フォトレジストの現像液
やエッチング液等の廃液が発生するため、環境保全の観
点からあまり好ましくない。また、透明電極のパターン
形状を変える場合は、フォトリソグラフィ用のマスクを
新規に作成しなければならないため、加工効率が悪く、
他品種少量生産への対応及び低コスト化が難しかった。
特に、ハイブリッド方式のタッチパネルのように絶縁性
基板上の導電性膜に数本のスリットを形成するような場
合でも、数百本のスリットを形成するディジタル方式の
タッチパネルの場合と同じフォトリソグラフィ工程が必
要になってくるため、加工部分が少ないにもかかわらず
廃液の低減及び低コスト化を図ることが難しかった。
However, when the above-described photolithography method is used, a waste liquid such as a developing solution or an etching solution for the photoresist is generated, which is not preferable from the viewpoint of environmental protection. Also, when changing the pattern shape of the transparent electrode, a new mask for photolithography must be created, resulting in poor processing efficiency.
It was difficult to cope with low-volume production of other products and to reduce costs.
In particular, even when a few slits are formed in a conductive film on an insulating substrate such as a hybrid touch panel, the same photolithography process as in a digital touch panel that forms several hundred slits is performed. Since it becomes necessary, it is difficult to reduce the waste liquid and reduce the cost even though the number of processed parts is small.

【0005】そこで、上記エッチング処理を含むフォト
リソグラフィ法を用いた場合のような廃液処理の必要が
なく、低コストで他品種少量生産に好適な導電性膜の加
工装置として、レーザ光等の光ビームを用いて加工する
ものが考えられる。このレーザ照射による導電性膜の加
工について、本発明者が鋭意実験等を行ったところ、レ
ーザ光の断面におけるエネルギー分布に起因して、加工
後のスリットの幅が不規則になって波打った形状になっ
たり、導電性膜の一部が残留したり、レーザ光の中央に
対応する位置で絶縁性基板が深く掘れてしまったりする
等の不具合が発生する場合があることがわかった。
[0005] Therefore, there is no need for waste liquid treatment as in the case of using the photolithography method including the above-mentioned etching treatment. Processing using a beam is conceivable. The inventor of the present invention has conducted intensive experiments and the like on the processing of the conductive film by the laser irradiation. As a result of the energy distribution in the cross section of the laser beam, the width of the slit after processing was irregular and wavy. It has been found that problems such as a shape, a part of the conductive film remaining, and an insulative substrate being dug deep at a position corresponding to the center of the laser beam may occur.

【0006】また、上記光源の光ビームをミラーやレン
ズによる光学系で加工対象物の加工部まで導くように構
成した装置では、該ミラーなどの配置の自由度があまり
なく、光源、光学系及び載置台のレイアウト上で制約が
多く、装置の小型化を図ることが難しかった。また、装
置の小型化を図るために、光ビームを小径化して小径の
レンズ等を用いるようにすることが考えられるが、この
光ビームの小径化をアパチャーの遮光形状によって行お
うとすると、光ビームのパワーが低下し、所定の加工速
度が得られなくなってしまうおそれがあった。
In an apparatus configured to guide the light beam of the light source to a processing portion of an object to be processed by an optical system using a mirror or a lens, there is not much freedom in arrangement of the mirror and the like, and the light source, the optical system and There are many restrictions on the layout of the mounting table, and it has been difficult to reduce the size of the apparatus. In order to reduce the size of the apparatus, it is conceivable to use a small-diameter lens or the like by reducing the diameter of the light beam. However, if it is attempted to reduce the diameter of the light beam by the light shielding shape of the aperture, the light beam Power may decrease, and a predetermined processing speed may not be obtained.

【0007】本発明は以上の背景に鑑みなされたもので
あり、その目的は、光ビームの断面におけるエネルギー
不均一分布に起因する加工寸法や仕上り状態のばらつき
等の発生を防止するとともに、レイアウト上の制約が多
いミラーやレンズによる光学系を用いずに且つ光ビーム
パワーの低下を抑えつつ光ビームの小径化を行うことに
より装置の小型化と加工速度の向上との両立を図ること
ができる光加工装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background, and an object of the present invention is to prevent the occurrence of variations in processing dimensions and finished states due to non-uniform energy distribution in a cross section of a light beam, and to improve layout. Light that can achieve both miniaturization of the apparatus and improvement of the processing speed by reducing the diameter of the light beam without using an optical system including mirrors and lenses with many restrictions and while suppressing the decrease in the light beam power It is to provide a processing device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明は、光ビームを出射する光源と、該
光源から出射した光ビームを、内部の光伝送路での屈折
や反射によってエネルギー密度を均一化しながら加工対
象物の近傍までガイドする光ファイバと、該光ファイバ
の光出射端から出射した光ビームをスポット状に絞って
加工対象物に照射するための照射光学部材と、該加工対
象物が載置され且つ該光ビームの照射方向と交差する方
向に駆動制御可能な載置台とを備えた光加工装置であっ
て、上記光ファイバの少なくとも光出射端側の端部を、
上記光ビームの進行方向下流側にいくに従って上記光伝
送路の断面積が狭くなるように形成したことを特徴とす
るものである。
To achieve the above object, according to the present invention, a light source for emitting a light beam and a light beam emitted from the light source are refracted by an internal optical transmission line. An optical fiber that guides the vicinity of the processing object while making the energy density uniform by reflection, and an irradiation optical member for irradiating the processing object by narrowing the light beam emitted from the light emitting end of the optical fiber into a spot shape. A mounting table on which the processing object is mounted and which can be driven and controlled in a direction intersecting with the irradiation direction of the light beam, wherein at least an end portion of the optical fiber on a light emitting end side. To
The cross section of the optical transmission path is formed to be narrower toward the downstream side in the traveling direction of the light beam.

【0009】この請求項1の加工装置では、光源から出
射した光ビームが光ファイバでガイドされるとき、該光
ビームの互いに異なる角度で入射した光が該光ファイバ
内部の光伝送路で多重に屈折されたり反射されたりする
ことにより、該光ファイバから出射する光ビームの断面
におけるエネルギー密度が均一になる。しかも、該光フ
ァイバの少なくとも光出射端側の端部が、光ビームの進
行方向下流側にいくに従って該光伝送路の断面積が狭く
なっているので、該光ビームが該光伝送路の断面積が狭
くなっている部分を通過するときに、アパーチャを用い
た場合に比してより少ないパワー低下で該光ビームの直
径が小さくなる。このようにエネルギー密度が均一化さ
れ且つ直径が小さくなった光ビームが、照射光学部材で
スポット状に絞られて加工対象物に照射され、該加工対
象物が加工される。
In the processing apparatus of the first aspect, when the light beam emitted from the light source is guided by the optical fiber, the light beams incident at different angles are multiplexed on the optical transmission line inside the optical fiber. By being refracted or reflected, the energy density in the cross section of the light beam emitted from the optical fiber becomes uniform. In addition, since the cross-sectional area of the optical transmission line becomes narrower at least at the light emitting end of the optical fiber toward the downstream side in the traveling direction of the light beam, the light beam is cut off at the optical transmission line. When passing through a portion having a reduced area, the diameter of the light beam is reduced with less power reduction than when an aperture is used. The light beam having a uniform energy density and a reduced diameter is radiated to a processing object by being narrowed down into a spot by an irradiation optical member, and the processing object is processed.

【0010】請求項2の発明は、請求項1の光加工装置
において、上記光ファイバとして、軸芯部にコアを有す
るステップインデックス型の光ファイバを用いたことを
特徴とするものである。
A second aspect of the present invention is the optical processing apparatus according to the first aspect, wherein a step index type optical fiber having a core at a shaft core is used as the optical fiber.

【0011】この請求項1の加工装置では、光源から出
射した光ビームが光ファイバでガイドされるとき、該光
ビームの互いに異なる角度で入射した光が該光ファイバ
内部のコアで多重に反射されることにより、該光ファイ
バから出射する光ビームの断面におけるエネルギー密度
が均一になる。しかも、該光ファイバの少なくとも光出
射端側の端部が、光ビームの進行方向下流側にいくに従
って該コアの断面積が狭くなっているので、該光ビーム
が該コアの断面積が狭くなっている部分を通過するとき
に、アパーチャを用いた場合に比してより少ないパワー
低下で該光ビームの直径が小さくなる。このようにエネ
ルギー密度が均一化され且つ直径が小さくなった光ビー
ムが、照射光学部材でスポット状に絞られて加工対象物
に照射され、該加工対象物が加工される。
In the processing apparatus according to the first aspect, when the light beam emitted from the light source is guided by the optical fiber, the light beams of the light beam incident at different angles are reflected multiplely by the core inside the optical fiber. Thereby, the energy density in the cross section of the light beam emitted from the optical fiber becomes uniform. Moreover, since the cross-sectional area of the core decreases at least at the light emitting end of the optical fiber toward the downstream side in the traveling direction of the light beam, the cross-sectional area of the core decreases. When passing through the portion where the light beam passes, the diameter of the light beam becomes smaller with less power reduction than when an aperture is used. The light beam having a uniform energy density and a reduced diameter is radiated to a processing object by being narrowed down into a spot by an irradiation optical member, and the processing object is processed.

【0012】請求項3の発明は、請求項1又は2の光加
工装置において、上記照射光学部材を設ける代わりに、
上記光ファイバの光伝送路の光出射端を凸レンズ状に形
成したことを特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, in the optical processing apparatus of the first or second aspect, instead of providing the irradiation optical member,
The light emitting end of the optical transmission line of the optical fiber is formed in a convex lens shape.

【0013】この請求項3の加工装置では、上記光ファ
イバの光伝送路から出射した光ビームが、該光伝送路の
光出射端の凸レンズ状に形成された部分でスポット状に
絞られて加工対象物に照射される。
In the processing apparatus according to the third aspect, the light beam emitted from the optical transmission line of the optical fiber is processed by being narrowed down to a spot shape at a portion of the light emitting end of the optical transmission line which is formed in a convex lens shape. The object is irradiated.

【0014】なお、上記光ファイバとしては、グレーデ
ィッドインデックス型の光ファイバを用いることもでき
る。また、上記光ファイバの光出射端から出射した光ビ
ームの中央のエネルギー密度が均一な部分のみを通過さ
せる遮光部材を設けてもよい。この場合は、加工対象物
に照射する光ビームのエネルギー密度をより均一化し、
該光ビームの断面における外周端でエネルギー分布を急
峻に変化させることができ、加工寸法や仕上り状態のば
らつき等の発生をより確実に防止することができる。
Incidentally, a graded index type optical fiber can be used as the optical fiber. Further, a light-blocking member may be provided for passing only the central portion of the light beam emitted from the light emitting end of the optical fiber, where the energy density is uniform. In this case, the energy density of the light beam applied to the workpiece is made more uniform,
The energy distribution can be sharply changed at the outer peripheral end in the cross section of the light beam, and the occurrence of variations in processing dimensions and finished state can be more reliably prevented.

【0015】また、上記発明は、透明の絶縁性基板上の
透明の導電性膜にスリットを形成するように加工する場
合に適用することができる。この加工の場合は、上記ス
テップインデックス型の光ファイバから出射したエネル
ギー分布が均一化され且つ直径が小さくなった光ビーム
が、照射光学部材でスポット状に絞られ、上記透明の絶
縁性基板上の透明の導電性膜に照射されることにより、
該導電性膜がスリット状に加工される。このようにエネ
ルギー分布が均一化された光ビームを、透明の絶縁性基
板上の透明の導電性膜を照射することができる。従っ
て、該導電性膜に形成するスリットの幅のばらつき、該
スリットにおける導電性膜の一部の残留、該スリットに
おける絶縁性基板の損傷等を少なくすることができると
ともに、該スリットの端縁の凹凸を小さくし該スリット
の視認性を低下させることができる。
Further, the above-mentioned invention can be applied to a case where a slit is formed in a transparent conductive film on a transparent insulating substrate. In the case of this processing, a light beam whose energy distribution emitted from the step index type optical fiber is uniform and whose diameter is reduced is narrowed down into a spot shape by an irradiation optical member, and is formed on the transparent insulating substrate. By irradiating the transparent conductive film,
The conductive film is processed into a slit shape. A light beam having a uniform energy distribution can be applied to a transparent conductive film on a transparent insulating substrate. Accordingly, variation in the width of the slit formed in the conductive film, a part of the conductive film remaining in the slit, damage to the insulating substrate in the slit, and the like can be reduced, and the edge of the slit can be reduced. The unevenness can be reduced, and the visibility of the slit can be reduced.

【0016】また、上記発明は、絶縁性基板上の導電性
膜表面の導電性ペーストからなる配線パターンの周囲
に、配線間絶縁用のスリットを形成するように加工する
場合に適用することができる。この加工の場合は、上記
ステップインデックス型の光ファイバから出射したエネ
ルギー分布が均一化され且つ直径が小さくなった光ビー
ムが、照射光学部材でスポット状に絞られ、上記絶縁性
基板上の導電性膜であって表面に導電性ペーストからな
る配線パターンが形成されたものに照射され、該導電性
膜上の配線パターンの周囲に配線間絶縁用のスリットを
形成するように加工される。このようにエネルギー分布
が均一化された光ビームを、絶縁性基板上の導電性膜で
あって表面に導電性ペーストからなる配線パターンが形
成されたものに照射することができる。従って、該導電
性膜に形成する配線間絶縁用のスリットの幅のばらつ
き、該スリットにおける導電性膜の一部の残留、該スリ
ットにおける絶縁性基板の損傷等を少なくすることがで
きる。
Further, the above-mentioned invention can be applied to a case where processing is performed so as to form a slit for insulation between wirings around a wiring pattern made of conductive paste on the surface of a conductive film on an insulating substrate. . In the case of this processing, a light beam whose energy distribution emitted from the step index type optical fiber has been made uniform and whose diameter has been reduced is narrowed into a spot shape by an irradiation optical member, and the conductive material on the insulating substrate is electrically conductive. Irradiation is performed on a film having a wiring pattern made of a conductive paste formed on the surface, and the film is processed so as to form a slit for wiring insulation around the wiring pattern on the conductive film. The light beam having the uniform energy distribution can be applied to a conductive film on an insulating substrate having a wiring pattern formed of a conductive paste on the surface. Therefore, it is possible to reduce the variation in the width of the slit for wiring insulation formed in the conductive film, the remaining of a part of the conductive film in the slit, the damage of the insulating substrate in the slit, and the like.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明を、ハイブリッド型
のタッチパネルにおける透明の絶縁基板上に導電性膜の
一部をスリット状に除去して透明電極を形成する加工装
置に適用した実施形態について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment in which the present invention is applied to a processing apparatus for forming a transparent electrode by removing a part of a conductive film in a slit shape on a transparent insulating substrate in a hybrid type touch panel. explain.

【0018】図1(a)は本実施形態に係る加工装置の
概略構成図である。本加工装置は、Qスイッチ1aで制
御される光源としてのYAGレーザ1と、該YAGレー
ザ1から出射した光ビームとしての近赤外レーザ光(波
長λ=1064nm)を加工対象物の近傍までガイドす
るステップインデックス型の光ファイバ2とを備えてい
る。透明材料(例えば、ITO)からなる加工対象物と
しての導電性膜4が表面に形成された透明のプラスチッ
ク材(例えばPET、ポリカーボネート)からなる絶縁
性基板3は、X−Yステージ5のリニアモータ(例え
ば、サーボモータやステッピングモータ)5aで駆動さ
れる載置台5b上に固定され、図中水平方向に2次元的
に移動可能となっている。YAGレーザ1及びX−Yス
テージ5は、コンピュータ6a、シーケンサ6b及び同
期連動型運転用の制御回路基板6c等からなる制御手段
としての制御部6で制御される。例えば、制御部6はY
AGレーザ1を制御し、これによりレーザ光の繰り返し
周期、パルス幅等が変更される。なお、上記X−Yステ
ージ5に、載置台5bの移動距離を検知するリニアセン
サ(例えば、リニアエンコーダやリニアスケール)を設
け、このリニアセンサの出力に基づいて載置台5bをフ
ィードバック制御するように構成してもよい。
FIG. 1A is a schematic configuration diagram of a processing apparatus according to the present embodiment. This processing apparatus guides a YAG laser 1 as a light source controlled by a Q switch 1a and a near-infrared laser beam (wavelength λ = 1064 nm) as a light beam emitted from the YAG laser 1 to the vicinity of a processing target. And a step index type optical fiber 2. An insulating substrate 3 made of a transparent plastic material (for example, PET or polycarbonate) having a conductive film 4 as a processing object made of a transparent material (for example, ITO) formed on a surface thereof is a linear motor of an XY stage 5. (For example, a servomotor or a stepping motor), which is fixed on a mounting table 5b driven by a 5a, and is movable two-dimensionally in the horizontal direction in the figure. The YAG laser 1 and the XY stage 5 are controlled by a control unit 6 as control means including a computer 6a, a sequencer 6b, and a control circuit board 6c for synchronously linked operation. For example, the control unit 6
The AG laser 1 is controlled, whereby the repetition period, pulse width, and the like of the laser beam are changed. The XY stage 5 is provided with a linear sensor (for example, a linear encoder or a linear scale) for detecting the moving distance of the mounting table 5b, and the mounting table 5b is feedback-controlled based on the output of the linear sensor. You may comprise.

【0019】図1(b)は、上記光ファイバ2の光出射
端側の端部の拡大断面図である。光ファイバ2は、軸中
心部のコアと、該コアよりも屈折率が小さい外周部のク
ラッドとにより構成されている。光ファイバ2の光入射
端側の端部はYAGレーザ1の光出射部1bに接続さ
れ、該レーザからのレーザ光が図示しないレンズ等の光
学部材のより光ファイバ2のコア内に入射される。この
光ファイバ2の光出射端側の端部には、図1(b)に示
すようにレーザ光の進行方向下流側にいくに従ってコア
2aの断面積が狭くなるようにテーパー部2cが形成さ
れている。このようにコア2aの断面積が出射端側にい
くに従って狭くなっているので、コア2a内で多重に反
射されてガイドされるレーザ光は、光ビームパワーが低
下することなく、そのビーム径が小さくなっていく。
FIG. 1B is an enlarged sectional view of an end of the optical fiber 2 on the light emitting end side. The optical fiber 2 is composed of a core at the center of the axis and a clad at the outer periphery having a smaller refractive index than the core. The end of the optical fiber 2 on the light incident end side is connected to the light emitting portion 1b of the YAG laser 1, and laser light from the laser is incident on the core of the optical fiber 2 by an optical member such as a lens (not shown). . As shown in FIG. 1B, a tapered portion 2c is formed at the light emitting end of the optical fiber 2 so that the cross-sectional area of the core 2a becomes smaller toward the downstream side in the traveling direction of the laser light. ing. As described above, since the cross-sectional area of the core 2a becomes narrower toward the emission end side, the laser beam that is multiply reflected and guided in the core 2a has a beam diameter without decreasing the light beam power. It gets smaller.

【0020】また、上記光ファイバ2の先端部は、装置
本体に取り付けられた保持部材21で保持されている。
この保持部材21の内部には、照射光学部材としてのレ
ンズ20が取り付けられている。光ファイバ2のコア2
aから出射した小径のレーザ光は、レンズ20で集光さ
れ、保持部材21のビーム通過口21aを通して上記導
電性膜4上にスポット状に照射される。レンズ20で集
光されたレーザ光を導電性膜4に選択的に照射して該導
電性膜4を加熱し蒸発させることにより、該導電性膜4
を部分的に剥離除去することができる。このように絶縁
性基板3上の透明の導電性膜4の一部をレーザ光の照射
で除去する加工を行っているので、エッチング処理を含
むフォトリソグラフィ法を用いた場合のような廃液処理
を伴うことなく、透明電極を有するタッチパネルを低コ
ストで他品種少量生産することができる。
The distal end of the optical fiber 2 is held by a holding member 21 attached to the apparatus body.
A lens 20 as an irradiation optical member is mounted inside the holding member 21. Core 2 of optical fiber 2
The small-diameter laser light emitted from a is condensed by the lens 20 and is irradiated on the conductive film 4 in a spot shape through the beam passage opening 21 a of the holding member 21. The conductive film 4 is heated and evaporated by selectively irradiating the conductive film 4 with the laser light condensed by the lens 20, and thereby the conductive film 4 is heated.
Can be partially peeled off. Since the processing for removing a part of the transparent conductive film 4 on the insulating substrate 3 by irradiating the laser beam is performed as described above, the waste liquid processing such as the case of using the photolithography method including the etching processing is performed. Without this, it is possible to produce a touch panel having a transparent electrode at a low cost in a small amount of other types.

【0021】図1(c)は、上記及び光ファイバ2の先
端部及び保持部材21の拡大断面図である。保持部材2
1は、レンズ20の近傍にアシストガスを導入するため
のガス導入口21bを備えている。該導入口21bから
導入されたアシストガスの一部は、図中矢印に示すよう
にレンズ20の表面に沿って流れ、ビーム通過口21a
から排出される。このアシストガスにより、レンズ表面
へのゴミの付着を防止するとともに、レーザ光照射で絶
縁性基板3から剥離された導電性膜4の一部が保持部材
21の内部に入らないようにしている。
FIG. 1C is an enlarged cross-sectional view of the tip end of the optical fiber 2 and the holding member 21. Holding member 2
1 has a gas inlet 21b for introducing an assist gas near the lens 20. A part of the assist gas introduced from the inlet 21b flows along the surface of the lens 20 as shown by an arrow in the figure, and the beam passing port 21a
Is discharged from This assist gas prevents dust from adhering to the lens surface and prevents a part of the conductive film 4 peeled off from the insulating substrate 3 by laser light irradiation from entering the inside of the holding member 21.

【0022】図2は、本加工装置で加工するタッチパネ
ルの断面図である。また、図3(a)及び(b)はそれ
ぞれ、同タッチパネルの分解斜視図及び平面図である。
図2に示すようにタッチパネルは、各導電性膜4からな
る透明電極が通常状態で接触しないように1組の上下タ
ッチパネル基板7,8を所定の高さ(例えば9乃至12
μm)のスペーサ9を介して対向させた構造になってい
る。そして、このタッチパネルを図2中の上方から押圧
すると、上タッチパネル基板7が2点鎖線で示すように
変形し、上下パネル7,8の透明電極同士が接触する。
この接触による上下透明電極間の抵抗の変化から押圧さ
れたか否か及び押圧された位置を知ることができる。ま
た、このタッチパネルはアナログ方式とデジタル方式と
を組み合わせたハイブリッド型であり、図3に示すよう
に上下タッチパネル基板7,8のそれぞれに、互いに直
交するスリット7a,8aが各導電性膜に形成されてい
る。
FIG. 2 is a sectional view of a touch panel processed by the present processing apparatus. FIGS. 3A and 3B are an exploded perspective view and a plan view of the touch panel, respectively.
As shown in FIG. 2, the touch panel has a pair of upper and lower touch panel substrates 7 and 8 at a predetermined height (eg, 9
.mu.m). When the touch panel is pressed from above in FIG. 2, the upper touch panel substrate 7 is deformed as shown by a two-dot chain line, and the transparent electrodes of the upper and lower panels 7 and 8 are in contact with each other.
From the change in resistance between the upper and lower transparent electrodes due to this contact, it is possible to know whether or not the pressing has been performed and the pressed position. This touch panel is a hybrid type combining an analog type and a digital type. As shown in FIG. 3, slits 7a, 8a orthogonal to each other are formed on each of the upper and lower touch panel substrates 7, 8, respectively. ing.

【0023】本実施形態に係る加工装置は、上記図3に
示す導電性膜4のスリットを形成するものである。真空
蒸着、イオンプレーティング、スパッタリング等によっ
て表面に導電性膜4(厚さ=約500オングストロー
ム)が形成された絶縁性基板3は、導電性膜4側の上方
に向けてX−Yステージ5上にセットされる。そして、
レーザ光Lを所定のスポット径に絞って絶縁性基板3上
の導電性膜4に照射しながら、X−Yステージ5で一方
向に移動させることにより、幅500乃至1000μm
程度で導電性膜4をレーザ光の加熱で蒸発させて除去
し、各電極領域を絶縁するスリットを形成している。
The processing apparatus according to this embodiment forms the slits of the conductive film 4 shown in FIG. The insulating substrate 3 having the conductive film 4 (thickness: about 500 Å) formed on the surface thereof by vacuum deposition, ion plating, sputtering, or the like, is placed on the XY stage 5 toward the upper side of the conductive film 4. Is set to And
The laser beam L is moved to one direction by the XY stage 5 while irradiating the conductive film 4 on the insulating substrate 3 with the laser beam L being focused to a predetermined spot diameter, so that the width is 500 to 1000 μm.
To this extent, the conductive film 4 is removed by being evaporated by heating with a laser beam, and a slit for insulating each electrode region is formed.

【0024】ここで、上記YAGレーザ1から出射され
るレーザ光Lの断面におけるエネルギー分布は、図4
(a)に示すように中央が1番強い山型のプロファイル
をしている。図4(a)中の符号Eoで示すレベルは、
レーザ光による導電性膜4の除去加工のしきい値を示し
ている。このようなプロファイルのエネルギー分布を有
するレーザ光をそのまま照射して上記絶縁性基板3上の
導電性膜4の除去加工を行ったところ、図4(b)及び
(c)に示すようにスリット10の幅が一定ではなく、
波打った形状になった。そのため、湿気によるリークや
導電性異物102の付着によるリークが発生しやすく、
スリット10の波打ったエッジが目立ちやすく透明電極
の視認性の点で好ましくなかった。また、スリット10
の幅の制御が難しく、導電性膜の一部が残留した加工残
り101も発生しやすかった。この加工残り101によ
っても視認性が高くなってしまう。更に、図4(b)に
示すようにレーザ光Lの中央に対応する位置で絶縁性基
板3が深く掘れてしまったり、加工部が焦げて着色され
ることによりスリットの視認性が上がってしまったりす
るという不具合もあった。
Here, the energy distribution in the cross section of the laser beam L emitted from the YAG laser 1 is shown in FIG.
As shown in (a), the center has the strongest mountain-shaped profile. The level indicated by the symbol Eo in FIG.
It shows the threshold value for the removal processing of the conductive film 4 by laser light. When the conductive film 4 on the insulating substrate 3 was removed by directly irradiating a laser beam having the energy distribution of such a profile, the slit 10 was formed as shown in FIGS. 4B and 4C. Is not constant,
It became wavy. Therefore, leakage due to moisture or leakage due to adhesion of the conductive foreign matter 102 is likely to occur,
The wavy edge of the slit 10 is notable in that the transparent electrode is easily visible. In addition, slit 10
It is difficult to control the width of the conductive film, and the processing residue 101 in which a part of the conductive film remains is easily generated. The visibility is also increased by the unprocessed portion 101. Further, as shown in FIG. 4B, the insulating substrate 3 is dug deep at a position corresponding to the center of the laser beam L, or the processed portion is scorched and colored, thereby increasing the visibility of the slit. There was also a problem of rolling.

【0025】そこで、上記レーザ光のエネルギー分布に
起因する各種問題を解決すべく、本実施形態では、光源
1からのレーザ光を導電性膜4まで導く光学系として、
レーザ光Lの断面におけるエネルギー分布を均一にする
ことができる前述のステップインデックス型の光ファイ
バ2を用いている。
In order to solve various problems caused by the energy distribution of the laser light, in the present embodiment, an optical system for guiding the laser light from the light source 1 to the conductive film 4 is provided.
The above-described step index type optical fiber 2 which can make the energy distribution in the cross section of the laser beam L uniform is used.

【0026】上記ステップインデックス型の光ファイバ
2を用いて、図5(a)に示すように上記絶縁性基板3
上の導電性膜4に照射するレーザ光Lの断面におけるエ
ネルギー分布を、上記しきい値Eoを若干越えたレベル
で均一にすることにより、図5(b)及び(c)に示す
ようにスリット10の幅を所定の幅に一定することがで
きる。したがって、湿気によるリークや導電性異物10
2の付着によるリークが発生しにくく、スリット10の
エッジも目立ちにくくなる。また、スリット10の幅の
制御も容易になり、導電性膜4の一部が残留した加工残
りも発生しにくくなる。更に、図5(b)に示すように
レーザ光Lの中央に対応する位置で絶縁性基板3が深く
掘れてしまうこともなくなる。また、加工部が焦げて着
色されることがないので、スリットの視認性が上がるこ
ともない。
As shown in FIG. 5A, the insulating substrate 3 is used by using the step index type optical fiber 2.
By making the energy distribution in the cross section of the laser beam L applied to the upper conductive film 4 uniform at a level slightly exceeding the threshold value Eo, the slit is formed as shown in FIGS. 5B and 5C. The width of 10 can be fixed to a predetermined width. Therefore, leakage due to moisture or conductive foreign matter 10
Leakage due to adhesion of 2 is less likely to occur, and the edge of the slit 10 is less noticeable. In addition, the width of the slit 10 can be easily controlled, and processing residue with a part of the conductive film 4 remaining hardly occurs. Further, as shown in FIG. 5B, the insulating substrate 3 is not dug deep at a position corresponding to the center of the laser beam L. Further, since the processed portion is not scorched and colored, the visibility of the slit does not increase.

【0027】以上、本実施形態によれば、導電性膜4に
照射するレーザ光をステップインデックス型の光ファイ
バ2でガイドすることにより、該レーザ光の断面におけ
るエネルギー分布を均一にしているので、加工寸法のば
らつき、導電性膜の一部の残留、絶縁性基板の損傷等を
少なくすることができる。しかも、レイアウト上の制約
が多いミラーやレンズによる光学系を用いずに、光ビー
ムパワー低下を抑えつつ小径化を図ることができるの
で、装置の小型化と加工速度の向上との両立を図ること
ができる。
As described above, according to the present embodiment, the laser beam applied to the conductive film 4 is guided by the step index type optical fiber 2, thereby making the energy distribution in the cross section of the laser beam uniform. Variations in processing dimensions, partial residue of the conductive film, damage to the insulating substrate, and the like can be reduced. Moreover, since the diameter can be reduced while suppressing the light beam power reduction without using an optical system including mirrors and lenses, which have many layout restrictions, it is possible to achieve both miniaturization of the apparatus and improvement of the processing speed. Can be.

【0028】また、レンズ20を保持した保持部材21
の内部にアシストガスを導入する装置では、レンズ20
内に大きな温度分布が生じて経時的に熱変形が発生しや
すいが、本実施形態の装置ではレーザ光の小径化に伴っ
てレンズ20の直径も小さくすることができるので、該
レンズ内の温度分布を小さくすることができる。従っ
て、レンズ20の経時的な熱変形が発生しにくく、安定
した照射光学系を構成することができる。
A holding member 21 holding the lens 20
In the device for introducing the assist gas into the inside of the lens, the lens 20
Although a large temperature distribution occurs in the inside of the lens and thermal deformation easily occurs with time, the diameter of the lens 20 can be reduced in accordance with the reduction in the diameter of the laser beam in the apparatus of the present embodiment. The distribution can be reduced. Accordingly, thermal deformation of the lens 20 with time is unlikely to occur, and a stable irradiation optical system can be configured.

【0029】また、上記ステップインデックス型の光フ
ァイバ2を用いることにより、導電性膜4上に照射され
るレーザ光のスポットの形状が円形になるので、加工対
象物である絶縁性基板3をX,Y方向からずれた斜め方
向に移動させたときの上記スリット10のエッジの波う
ちを、レーザ光のスポット形状が四角形になる通常のカ
ライドスコープを用いてエネルギー分布を均一にした場
合に比較して、より小さくすることができる。
Further, by using the step index type optical fiber 2, the shape of the spot of the laser beam irradiated on the conductive film 4 becomes circular. , The wave of the edge of the slit 10 when moved in an oblique direction deviated from the Y direction is compared with a case where the energy distribution is made uniform using a normal kaleidoscope in which the spot shape of the laser beam is square. Then, it can be made smaller.

【0030】また、カライドスコープを用いてレーザ光
のビーム径の小径化を行おうとすると、レーザ光が光源
側に逆行しないようにするために光反射面の傾き角度を
大きくできないという制約から、カライドスコープが直
線状に細長くなってしまう。一方、本実施形態のように
所定の曲率の範囲内で自由に曲げることができる上記光
ファイバ2を用いた場合は、上記レーザ光の小径化やエ
ネルギー分布均一化のために光ファイバの全長を長くし
ても、光学系やXYステージのレイアウトの自由度が制
限されず、装置の小型を図ることができるとともに、装
置設計が容易になる。
Also, when trying to reduce the beam diameter of the laser light using a kaleidoscope, the inclination angle of the light reflecting surface cannot be increased in order to prevent the laser light from going back to the light source side. Callide scope becomes elongated in a straight line. On the other hand, when the optical fiber 2 that can be freely bent within a predetermined curvature range as in the present embodiment is used, the total length of the optical fiber is reduced in order to reduce the diameter of the laser light and make the energy distribution uniform. Even if the length is long, the degree of freedom of the layout of the optical system and the XY stage is not limited, so that the device can be downsized and the device design becomes easy.

【0031】また、上記レーザ光として、熱レーザとし
てのYAGレーザ1からの出射された赤外光又は可視光
のレーザ光を用い、導電性膜4の一部を主に加熱して蒸
発させることによって除去しているので、導電性膜4の
下地である絶縁性基板3(PET、ポリカーボネート
等)の着色・損傷等が少ない。
The laser light is a laser light of infrared light or visible light emitted from the YAG laser 1 as a heat laser, and a part of the conductive film 4 is mainly heated and evaporated. Therefore, the insulating substrate 3 (PET, polycarbonate, etc.) that is the base of the conductive film 4 is less colored and damaged.

【0032】また、Qスイッチ制御のYAGレーザ1を
用いることにより、レーザ光の繰り返し周期や照射時間
幅(パルス幅)を変えることで導電性膜4に与える熱エ
ネルギーの設定を変更できるので、導電性膜4の除去加
工処理の制御が容易になる。
Further, by using the Q-switch controlled YAG laser 1, the setting of the thermal energy applied to the conductive film 4 can be changed by changing the repetition period and irradiation time width (pulse width) of the laser light. The removal processing of the conductive film 4 is easily controlled.

【0033】なお、本実施形態では、図1(b)に示す
ように光ファイバ2の光出射端側の端部を、レーザ光の
進行方向下流側にいくに従ってコア2aとともにクラッ
ド2bの断面積も次第に狭くなるように形成している
が、図6(a)に示すようにクラッド2の断面積はその
ままにし、コア2aの断面積だけを次第に狭くするよう
に形成してもよい。また、上記端部だけでなく、光ファ
イバの全長にわたってコア2aの断面積を次第に狭くす
るように形成してもよい。また、図6(b)に示すよう
に光ファイバ2のコア2aの光出射端を凸レンズ状に形
成してもよい。この場合は、上記レンズ20を設けなく
ても、コア2aから出射したレーザ光を集光して導電性
膜4上にスポット状に照射することが可能となるので、
レーザ光の反射面が少なくなって光ビームパワーの低下
を更に防止することができるとともに、更に装置の小型
化を図ることができる。
In this embodiment, as shown in FIG. 1 (b), the cross-sectional area of the cladding 2b together with the core 2a and the core 2a is increased as the light emitting end of the optical fiber 2 moves downstream in the traveling direction of the laser light. 6A, the cross-sectional area of the clad 2 may be kept as it is, and only the cross-sectional area of the core 2a may be gradually narrowed as shown in FIG. Further, the cross-sectional area of the core 2a may be gradually reduced over the entire length of the optical fiber in addition to the end. Further, as shown in FIG. 6B, the light emitting end of the core 2a of the optical fiber 2 may be formed in a convex lens shape. In this case, even if the lens 20 is not provided, the laser light emitted from the core 2a can be focused and irradiated on the conductive film 4 in a spot shape.
The reflection surface of the laser beam is reduced, so that the reduction of the light beam power can be further prevented, and the size of the apparatus can be further reduced.

【0034】また、本実施形態では、コアの径が光出射
端側にいくに従って次第に小さくなっているステップイ
ンデックス型の光ファイバ2を用いているが、軸芯部の
屈折率が高い部分の直径が光出射端側にいくに従って次
第に小さくなったグレーディッドインデックス型の光フ
ァイバを用いてもよい。また、光ファイバの光出射端か
ら出射した光ビームの中央のエネルギー密度が均一な部
分のみを通過させる遮光部材を設けてもよい。
Further, in this embodiment, the step index type optical fiber 2 is used in which the diameter of the core gradually decreases as it goes to the light emitting end side, but the diameter of the shaft core portion where the refractive index is high is used. May be used as a graded index type optical fiber whose size gradually decreases toward the light emitting end. Further, a light-shielding member may be provided for passing only the central portion of the light beam emitted from the light emitting end of the optical fiber, where the energy density is uniform.

【0035】また、本実施形態では、光源としてYAG
レーザを用いているが、炭酸ガスレーザ等の赤外光又は
可視光のレーザ光を出射し得る他のレーザや、その他ラ
ンプ等の光源を用いてもよい。
In this embodiment, YAG is used as a light source.
Although a laser is used, another laser such as a carbon dioxide laser or the like that can emit infrared light or visible laser light, or another light source such as a lamp may be used.

【0036】また、上記実施形態では、タッチパネルの
透明電極を形成するために導電性膜4の一部を除去して
各透明電極を区画するスリット10を形成する加工につ
いて説明したが、上記実施形態の加工装置は、図7に示
すように絶縁性基板上の導電性膜4の表面に形成された
導電性ペースト(例えば銀ペースト)からなる配線パタ
ーン13の周囲に配線間絶縁用のスリット14を形成す
る場合にも用いることができ、同様な効果が得られるも
のである。
Further, in the above-described embodiment, the processing of forming a slit 10 for partitioning each transparent electrode by removing a part of the conductive film 4 to form a transparent electrode of the touch panel has been described. As shown in FIG. 7, the processing device (1) forms a slit 14 for insulating wiring between wirings around a wiring pattern 13 made of a conductive paste (for example, silver paste) formed on the surface of the conductive film 4 on the insulating substrate. It can be used also in the case of forming, and a similar effect can be obtained.

【0037】また、上記各実施形態では、タッチパネル
の透明電極形成用の導電性膜の加工に適用した場合につ
いて説明したが、本発明は、タッチパネルに限定される
ことなく、例えば液晶パネルの透明電極形成用の導電性
膜を加工する場合にも適用することができ、同様な効果
が得られるものである。また、本発明は、印刷マスク用
プラスチック材等に光ビームを照射することにより貫通
孔又は凹部を形成する加工等を行う場合にも適用できる
ものである。
In each of the above embodiments, the case where the present invention is applied to the processing of a conductive film for forming a transparent electrode of a touch panel has been described. However, the present invention is not limited to the touch panel, but may be, for example, a transparent electrode of a liquid crystal panel. The present invention can be applied to a case where a conductive film for forming is processed, and a similar effect can be obtained. The present invention can also be applied to a case where a process of forming a through hole or a concave portion by irradiating a light beam to a plastic material for a print mask or the like is performed.

【0038】[0038]

【発明の効果】請求項1乃至3の発明によれば、ステッ
プインデックス型の光ファイバを通過して断面における
エネルギー分布が均一になった光ビームを加工対象物に
照射しているので、光ビームの断面におけるエネルギー
不均一分布に起因する加工寸法のばらつき等の発生を防
止することができる。しかも、レイアウト上の制約が多
いミラーやレンズによる光学系を用いずに、光ビームパ
ワー低下を抑えつつ小径化を図ることができるので、装
置の小型化と加工速度の向上との両立を図ることができ
るという効果がある。
According to the first to third aspects of the present invention, the object to be processed is irradiated with the light beam having a uniform energy distribution in the cross section after passing through the step index type optical fiber. In this case, it is possible to prevent variations in processing dimensions due to non-uniform energy distribution in the cross section. Moreover, since the diameter can be reduced while suppressing the light beam power reduction without using an optical system including mirrors and lenses, which have many layout restrictions, it is possible to achieve both miniaturization of the apparatus and improvement of the processing speed. There is an effect that can be.

【0039】特に、請求項3の発明によれば、個別のレ
ンズ等の照射光学部材を設けずに、上記光ファイバのコ
アから出射した光ビームをスポット状に絞って加工対象
物に照射することができる。従って、個別のレンズ等の
照射光学部材を設けた場合に比して、レーザ光の反射面
が少なくなり光ビームパワーの低下を小さくなるととも
に、装置のより小型化を図ることができる効果がある。
In particular, according to the third aspect of the present invention, the light beam emitted from the core of the optical fiber is focused to a spot and irradiated to the workpiece without providing an irradiation optical member such as an individual lens. Can be. Therefore, as compared with the case where an irradiation optical member such as an individual lens is provided, there is an effect that the reflection surface of the laser beam is reduced, the decrease in the light beam power is reduced, and the apparatus can be further downsized. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)は本発明の実施形態に係る加工装置の概
略構成図。(b)は同加工装置に用いる光ファイバの光
出射端側の端部の拡大断面図。(c)は同光ファイバの
先端部及び保持部材の拡大断面図。
FIG. 1A is a schematic configuration diagram of a processing apparatus according to an embodiment of the present invention. (B) is an enlarged sectional view of the end part of the optical fiber used in the processing apparatus on the light emitting end side. FIG. 3C is an enlarged cross-sectional view of the tip of the optical fiber and a holding member.

【図2】タッチパネルの拡大断面図。FIG. 2 is an enlarged sectional view of a touch panel.

【図3】(a)はタッチパネルの分解斜視図。(b)は
同タッチパネルの平面図。
FIG. 3A is an exploded perspective view of a touch panel. (B) is a plan view of the touch panel.

【図4】(a)はYAGレーザから出射した直後のレー
ザ光の断面におけるエネルギー分布を示す説明図。
(b)は同レーザ光で加工した場合の絶縁性基板上の導
電性膜の斜視図。(c)は同絶縁性基板上の導電性膜の
平面図。
FIG. 4A is an explanatory diagram showing an energy distribution in a cross section of a laser beam immediately after emission from a YAG laser.
(B) is a perspective view of a conductive film on an insulating substrate when processed by the same laser beam. (C) is a plan view of a conductive film on the insulating substrate.

【図5】(a)は光ファイバを通過した後のレーザ光の
断面におけるエネルギー分布を示す説明図。(b)は同
レーザ光で加工した絶縁性基板上の導電性膜の斜視図。
(c)は同絶縁性基板上の導電性膜の平面図。
FIG. 5A is an explanatory diagram showing an energy distribution in a cross section of a laser beam after passing through an optical fiber. (B) is a perspective view of a conductive film on an insulating substrate processed by the laser light.
(C) is a plan view of a conductive film on the insulating substrate.

【図6】(a)は、変形例に係る光ファイバの光出射端
側の端部の拡大断面図。(b)は、他の変形例に係る光
ファイバの先端部の拡大断面図。
FIG. 6A is an enlarged cross-sectional view of an end portion on the light emitting end side of an optical fiber according to a modification. (B) is an expanded sectional view of the tip part of the optical fiber concerning other modifications.

【図7】タッチパネルの周端部の配線パターン及びその
周囲のスリットの説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a wiring pattern at a peripheral end of a touch panel and slits around the wiring pattern.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 YAGレーザ 1a Qスイッチ 1b 光出射部 2 光ファイバ 2a コア 2b クラッド 2c テーパー部 3 絶縁性基板(透明基板) 4 導電性膜 5 X−Yステージ 5a リニアモータ 5b 載置台 6 制御部 13 配線パターン 14 配線間絶縁用のスリット 20 レンズ 21 保持部材 21a ビーム通過口 21b ガス導入口 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 YAG laser 1a Q switch 1b Light emitting part 2 Optical fiber 2a Core 2b Cladding 2c Taper part 3 Insulating substrate (transparent substrate) 4 Conductive film 5 XY stage 5a Linear motor 5b Mounting table 6 Control part 13 Wiring pattern 14 Slit for wiring insulation 20 Lens 21 Holding member 21a Beam passing port 21b Gas inlet

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光ビームを出射する光源と、該光源から出
射した光ビームを、内部の光伝送路での屈折や反射によ
ってエネルギー密度を均一化しながら加工対象物の近傍
までガイドする光ファイバと、該光ファイバの光出射端
から出射した光ビームをスポット状に絞って加工対象物
に照射するための照射光学部材と、該加工対象物が載置
され且つ該光ビームの照射方向と交差する方向に駆動制
御可能な載置台とを備えた光加工装置であって、 上記光ファイバの少なくとも光出射端側の端部を、上記
光ビームの進行方向下流側にいくに従って上記光伝送路
の断面積が狭くなるように形成したことを特徴とする光
加工装置。
A light source for emitting a light beam, and an optical fiber for guiding the light beam emitted from the light source to the vicinity of a workpiece while making the energy density uniform by refraction or reflection in an internal optical transmission line. An irradiation optical member for squeezing a light beam emitted from a light emitting end of the optical fiber into a spot shape and irradiating the processing object with the processing object; and the processing object is placed and intersects with the irradiation direction of the light beam. An optical processing apparatus comprising: a mounting table that can be driven and controlled in a direction, wherein at least an end of the optical fiber on the light emitting end side is cut off as the light beam travels downstream in the traveling direction of the light beam. An optical processing apparatus characterized in that the area is reduced.
【請求項2】請求項1の光加工装置において、 上記光ファイバとして、軸芯部にコアを有するステップ
インデックス型の光ファイバを用いたことを特徴とする
光加工装置。
2. An optical processing apparatus according to claim 1, wherein a step index type optical fiber having a core at a shaft core is used as said optical fiber.
【請求項3】請求項1又は2の光加工装置において、 上記照射光学部材を設ける代わりに、上記光ファイバの
コアの光出射端を凸レンズ状に形成したことを特徴とす
る光加工装置。
3. The optical processing apparatus according to claim 1, wherein the light emitting end of the core of the optical fiber is formed in a convex lens shape instead of providing the irradiation optical member.
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