JP2000174012A - Forming method of patterned dielectric thin film excellent in surface morphology - Google Patents
Forming method of patterned dielectric thin film excellent in surface morphologyInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、紫外線、電子線、
イオンビーム、Ｘ線などの放射線に感応する加水分解性
有機金属化合物溶液を用いて、ネガ型のパターン化誘電
体薄膜を形成する方法に関する。本発明の方法により形
成されたパターン化誘電体薄膜は、その優れた表面モフ
ォロジー、電気特性、および光学特性により、キャパシ
ター膜、光導波路、光学素子等といった電子・光デバイ
スの材料として使用できる。TECHNICAL FIELD The present invention relates to an ultraviolet ray, an electron beam,
The present invention relates to a method for forming a negative-type patterned dielectric thin film using a hydrolyzable organometallic compound solution that is sensitive to radiation such as ion beams and X-rays. The patterned dielectric thin film formed by the method of the present invention can be used as a material for electronic / optical devices such as capacitor films, optical waveguides, optical elements, etc. due to its excellent surface morphology, electrical properties, and optical properties.
【０００２】[0002]
【従来の技術】誘電体薄膜は、ゾルゲル法、ＣＶＤ法、
スパッタリング法などの成膜方法により形成することが
できる。ここで、ゾルゲル法は、金属アルコキシド等の
加水分解性金属化合物の溶液を加水分解および重縮合
(脱水) して得たゲル状の含水金属酸化物の膜を焼成し
て、金属酸化物の薄膜を得る方法である。2. Description of the Related Art A dielectric thin film is formed by a sol-gel method, a CVD method,
It can be formed by a film formation method such as a sputtering method. Here, the sol-gel method involves hydrolyzing and polycondensing a solution of a hydrolyzable metal compound such as a metal alkoxide.
This is a method in which a gel-like hydrated metal oxide film obtained by (dehydration) is fired to obtain a metal oxide thin film.
【０００３】この誘電体薄膜をキャパシター膜、光導波
路、光学素子等といった電子・光デバイスの材料として
使用するには、パターン化する必要がある。誘電体薄膜
のパターン化は、半導体薄膜の場合と同様に、レジスト
を利用したフォトリソグラフィー技術により行うのが普
通である。In order to use this dielectric thin film as a material for an electronic / optical device such as a capacitor film, an optical waveguide, an optical element, etc., it is necessary to form a pattern. The patterning of the dielectric thin film is generally performed by photolithography using a resist, as in the case of the semiconductor thin film.
【０００４】このレジストを用いたパターン化は、レ
ジストの塗布またはレジスト膜の貼付、必要によりレ
ジスト膜の乾燥、放射線による画像形成露光、レジ
ストの現像、露出部の誘電体薄膜のエッチング、レ
ジストの除去、という工程を経て行われ、工程数が多
く、コスト高の原因となっていた。[0004] Patterning using this resist is performed by applying a resist or pasting a resist film, drying the resist film if necessary, exposing an image by radiation, developing the resist, etching the dielectric thin film on the exposed portion, and removing the resist. , And the number of steps is large, resulting in high cost.
【０００５】レジストを利用せずにパターン化誘電体薄
膜を形成する方法として、ゾルゲル法による誘電体薄膜
形成用組成物 (加水分解性金属化合物を含有する溶液)
に、放射線が照射されると水を遊離する感光剤を含有さ
せておくことが知られている。この組成物を基板上に塗
布し、膜を乾燥させてゲル化させた後、放射線により画
像形成露光すると、露光部では重縮合が進行して膜が緻
密化するため、未露光部と溶媒に対する溶解度差ができ
る。従って、溶媒により未露光部を除去することで現像
できる。その後、焼成により露光部の膜を金属酸化物に
変化させ結晶化させると、ネガ型のパターン化誘電体薄
膜が得られる (特開平７−187669号公報参照) 。As a method of forming a patterned dielectric thin film without using a resist, a composition for forming a dielectric thin film by a sol-gel method (a solution containing a hydrolyzable metal compound)
In addition, it is known that a photosensitive agent which releases water when irradiated with radiation is contained. After coating this composition on a substrate, drying and gelling the film, and then image-forming exposure with radiation, polycondensation proceeds in the exposed area and the film becomes denser, so the unexposed area and the solvent Solubility differences can occur. Therefore, development can be performed by removing unexposed portions with a solvent. Thereafter, when the film in the exposed portion is changed to a metal oxide by sintering and crystallized, a negative-type patterned dielectric thin film is obtained (see JP-A-7-187669).
【０００６】この方法はレジストを使用しないので、上
記工程のうち、、、、といったレジストに付随
する工程が省略され、少ない工程で、微細にパターン化
された誘電体薄膜を形成することができる。上記の焼成
は、大気雰囲気中 300〜800℃で行われる。通常は、こ
の焼成は、500 ℃以下 (通常は 400〜500 ℃) の仮焼成
(金属酸化物への熱分解と重縮合) と500 ℃以上 (通常
は 550〜800 ℃) の本焼成 (金属酸化物の結晶化) の２
段階で行われる。[0006] Since this method does not use a resist, of the above-mentioned steps, steps associated with the resist, such as..., Are omitted, and a finely patterned dielectric thin film can be formed with a small number of steps. The above calcination is performed at 300 to 800 ° C. in an air atmosphere. Usually, this calcination is pre-baked at 500 ° C or less (usually 400 to 500 ° C).
(Thermal decomposition and polycondensation to metal oxide) and main baking (crystallization of metal oxide) at 500 ° C or higher (usually 550 to 800 ° C).
Done in stages.
【０００７】[0007]
【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、上記特
開平７−187669号公報に記載の方法では、必ずしも表面
モフォロジーに優れたパターン化誘電体薄膜を得ること
ができないことに気付いた。ここで、表面モフォロジー
とは、誘電体薄膜の表面性状のことであり、具体的には
表面の結晶粒の粒径やそのバラツキ、さらには異常析出
物の有無などにより判定される。The present inventors have noticed that the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-187669 cannot always provide a patterned dielectric thin film having excellent surface morphology. Here, the surface morphology refers to the surface properties of the dielectric thin film, and specifically, is determined based on the particle size and variation of crystal grains on the surface, and the presence or absence of abnormal precipitates.
【０００８】即ち、上記公報に記載の方法では、結晶粒
の粒径が粗大で、粒径のバラツキが大きく、および／ま
たは異常析出物が表面に現れることがある。その結果、
パターン化誘電体薄膜の電気特性や光学特性が大きく劣
り、各種電子・光デバイスの材料として使用できないこ
とがある。That is, in the method described in the above publication, the crystal grains have a large grain size, a large variation in the grain size, and / or abnormal precipitates sometimes appear on the surface. as a result,
The electrical characteristics and optical characteristics of the patterned dielectric thin film are significantly poor, and may not be used as materials for various electronic and optical devices.
【０００９】本発明の目的は、キャパシター膜、光導波
路、光学素子等の電子・光デバイスの材料として使用す
るのに適した、表面モフォロジーに優れ、電気特性と光
学特性にも優れたパターン化誘電体薄膜を確実に形成す
ることができる方法を提供することである。An object of the present invention is to provide a patterned dielectric material having excellent surface morphology and excellent electrical and optical characteristics, which is suitable for use as a material for electronic and optical devices such as capacitor films, optical waveguides and optical elements. An object of the present invention is to provide a method capable of reliably forming a body thin film.
【００１０】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明者らは、前述した
感光剤を利用したゾルゲル法によるパターン化誘電体薄
膜の形成において表面モフォロジーが悪化する原因につ
いて研究を重ねた。その結果、感光剤の熱分解温度や上
記の仮焼成温度が不適切であると、誘電体薄膜の表面モ
フォロジーに悪影響を及ぼすことを究明した。Means for Solving the Problems The present inventors have repeatedly studied the causes of the deterioration of the surface morphology in the formation of the patterned dielectric thin film by the sol-gel method using the above-mentioned photosensitive agent. As a result, it has been found that improper thermal decomposition temperature of the photosensitive agent and the above-mentioned preliminary firing temperature adversely affect the surface morphology of the dielectric thin film.
【００１１】具体的には、従来は仮焼成を300 ℃以上、
通常は400 ℃以上の温度で行っているが、この仮焼成の
温度が400 ℃以上になると、感光剤を添加しない誘電体
薄膜と比べて表面モフォロジーが粗く (結晶粒が粗大
に) なり、かつ異常析出物が析出するようになって、電
気特性や光学特性が大きく低下し、電子・光デバイス材
料として使用不能になる。仮焼成温度が400 ℃以上と高
いと、加水分解性金属化合物の重縮合や熱分解が感光剤
の熱分解と同時に起こるようになり、感光剤の熱分解が
表面モフォロジーに悪影響を及ぼすためと考えられる。Specifically, conventionally, the calcination has been performed at 300 ° C. or higher,
Usually, it is carried out at a temperature of 400 ° C or more, but when the temperature of this pre-baking is 400 ° C or more, the surface morphology becomes coarser (the crystal grains become coarser) as compared with a dielectric thin film to which no photosensitizer is added, and Anomalous precipitates are deposited, and the electrical and optical characteristics are greatly reduced, making it unusable as an electronic / optical device material. If the calcination temperature is as high as 400 ° C or higher, polycondensation and thermal decomposition of the hydrolyzable metal compound will occur simultaneously with the thermal decomposition of the photosensitizer, and the thermal decomposition of the photosensitizer will adversely affect the surface morphology. Can be
【００１２】従って、この場合は、仮焼成を400 ℃より
低温で行うことが優れた表面モフォロジーを確保するの
に重要となるが、仮焼成温度がこのように低いと、仮焼
成中に感光剤が完全に熱分解せず、仮焼成後も残留する
感光剤またはその残渣が誘電体薄膜の表面モフォロジー
に悪影響を与えることがわかった。Therefore, in this case, it is important to perform the pre-baking at a temperature lower than 400 ° C. in order to ensure excellent surface morphology. Was not completely thermally decomposed, and the photosensitizer remaining after calcination or its residue adversely affected the surface morphology of the dielectric thin film.
【００１３】この点についてさらに検討した結果、感光
剤として、熱分解開始温度が300 ℃未満、好ましくは29
0 ℃以下で、かつ熱分解後に残留物が残らないものを使
用し、仮焼成を二段、即ち、主として感光剤の熱分解を
目的とする300 ℃未満の温度での加熱工程と、主として
加水分解性有機金属化合物の熱分解と重縮合を目的とす
る300 ℃以上での加熱工程、に分けて行うことにより、
表面モフォロジーが優れ、そのため電気特性と光学特性
にも優れたパターン化誘電体薄膜を確実に形成できるこ
とを見出した。As a result of further study on this point, a thermal decomposition starting temperature of less than 300 ° C., preferably 29
The pre-baking is performed in two stages, that is, a heating step at a temperature of less than 300 ° C. for the purpose of mainly thermal decomposition of the photosensitizer, and a heating step at a temperature of less than 300 ° C. By performing the heating step at 300 ° C or higher for the purpose of thermal decomposition and polycondensation of the decomposable organometallic compound,
It has been found that a patterned dielectric thin film having excellent surface morphology and hence excellent electrical and optical properties can be surely formed.
【００１４】なお、このように最初の加熱工程で感光剤
の大部分を熱分解により除去してしまえば、感光剤がそ
の後の仮焼成に悪影響を及ぼすことが避けられるので、
第２の加熱工程 (従来の仮焼成にあたる) を400 ℃以上
の温度で行うことも不可能ではない。しかし、最初の加
熱工程で感光剤を完全に熱分解させることは、感光剤の
熱分解温度がよほど低くなければ困難であるので、残留
する感光剤残渣の悪影響を避けるには、第２の加熱工程
を400 ℃未満の温度で行うのがよい。If most of the photosensitive agent is removed by thermal decomposition in the first heating step, the photosensitive agent can be prevented from adversely affecting subsequent calcination.
It is not impossible to carry out the second heating step (corresponding to conventional calcination) at a temperature of 400 ° C. or more. However, it is difficult to completely decompose the photosensitive agent in the first heating step unless the thermal decomposition temperature of the photosensitive agent is very low. The process is preferably performed at a temperature below 400 ° C.
【００１５】ここに、本発明は、放射線を照射されると
水を遊離する感光剤を含有するゾルゲル法用の成膜原料
溶液を基板上に塗布し、得られた塗膜を乾燥してゲル化
させ、ゲル化した塗膜に放射線を照射して画像形成露光
し、露光した塗膜を溶媒で現像して未露光部を除去し、
現像の済んだ塗膜を仮焼成して金属酸化物に変化させ、
最後に本焼成して金属酸化物の膜を結晶化させることか
らなるパターン化誘電体薄膜の形成方法において、前記
感光剤が、300 ℃未満の熱分解開始温度を持ち、かつ残
留物を残さずに熱分解できるものであり、前記仮焼成
が、前記感光剤の熱分解開始温度以上、300 ℃未満の温
度で行う第１加熱工程と、300 ℃以上、400 ℃未満の温
度で行う第２加熱工程の少なくとも２段階からなること
を特徴とする、パターン化誘電体薄膜の形成方法であ
る。Here, the present invention provides a sol-gel film-forming raw material solution containing a photosensitive agent that releases water when irradiated with radiation, applied onto a substrate, and drying the obtained coating film to form a gel. The gelled coating film is irradiated with radiation to form an image, and the exposed coating film is developed with a solvent to remove unexposed portions.
The developed coating film is pre-baked to change to metal oxide,
Finally, in the method for forming a patterned dielectric thin film, which comprises sintering to crystallize a metal oxide film, the photosensitive agent has a thermal decomposition initiation temperature of less than 300 ° C. and does not leave any residue. A first heating step in which the calcination is performed at a temperature equal to or higher than the thermal decomposition starting temperature of the photosensitive agent and lower than 300 ° C .; and a second heating step in which the preliminary firing is performed at a temperature higher than 300 ° C. and lower than 400 ° C. A method for forming a patterned dielectric thin film, comprising at least two steps of a process.
【００１６】好適態様においては、本焼成の温度が 600
〜700 ℃である。さらに、感光剤の熱分解開始温度と第
１加熱工程の加熱温度はいずれも 200〜290 ℃の範囲が
好ましく、第２加熱工程の加熱温度は 300〜370 ℃であ
ることが好ましい。In a preferred embodiment, the temperature of the main firing is 600
~ 700 ° C. Further, the temperature at which thermal decomposition of the photosensitive agent starts and the heating temperature in the first heating step are both preferably in the range of 200 to 290 ° C, and the heating temperature in the second heating step is preferably 300 to 370 ° C.
【００１７】本発明によれば、上記の方法により形成さ
れたパターン化誘電体薄膜を有する基板も提供される。
この誘電体薄膜は好ましくはチタン酸ジルコン酸鉛から
なる薄膜であるが、これに制限されるものではない。本
発明により、誘電体薄膜の表面の結晶粒の平均粒径が0.
05〜0.2 μｍの範囲内にある、表面モフォロジーに優
れ、従って電気特性と光学特性にも優れたパターン化誘
電体薄膜を形成することができる。According to the present invention, there is also provided a substrate having a patterned dielectric thin film formed by the above method.
The dielectric thin film is preferably a thin film made of lead zirconate titanate, but is not limited thereto. According to the present invention, the average grain size of the crystal grains on the surface of the dielectric thin film is 0.1.
It is possible to form a patterned dielectric thin film having excellent surface morphology in the range of 05 to 0.2 μm, and thus also having excellent electrical and optical properties.
【００１８】[0018]
【発明の実施の形態】本発明の方法が適用できる誘電体
薄膜の組成は、金属酸化物である限り特に制限されな
い。例えば、チタン酸ジルコン酸鉛（ＰＺＴ）、ランタ
ン含有チタン酸ジルコン酸鉛（ＰＬＺＴ）、チタン酸ス
トロンチウム（ＳＴＯ）、チタン酸バリウム（ＢＴ
Ｏ）、チタン酸バリウムストロンチウム（ＢＳＴ）、チ
タン酸ビスマス（Bi4Ti3O12)といった２種以上の金属を
含む複合酸化物型の誘電体薄膜が代表的であるが、酸化
タンタル（Ta2O5)、二酸化チタン（TiO2) 、酸化鉛 (Pb
O)、二酸化ジルコニウム (ZrO2) 、アルミナ (Al2O3)、
二酸化スズ (SnO2) 、二酸化ルテニウム（RuO2）といっ
た単一金属酸化物の誘電体薄膜にも適用可能である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The composition of a dielectric thin film to which the method of the present invention can be applied is not particularly limited as long as it is a metal oxide. For example, lead zirconate titanate (PZT), lanthanum-containing lead zirconate titanate (PLZT), strontium titanate (STO), barium titanate (BT)
O), barium strontium titanate (BST), bismuth titanate (Bi 4 Ti 3 O 12 ), and a composite oxide type dielectric thin film containing two or more kinds of metals are typical, but tantalum oxide (Ta 2 O 5 ), titanium dioxide (TiO 2 ), lead oxide (Pb
O), zirconium dioxide (ZrO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ),
It is also applicable to dielectric thin films of single metal oxides such as tin dioxide (SnO 2 ) and ruthenium dioxide (RuO 2 ).
【００１９】本発明のパターン化誘電体薄膜の形成は基
本的にはゾルゲル法である。従って、成膜原料はゾルゲ
ル法用の原料溶液であり、従来より知られているものと
同様でよい。The formation of the patterned dielectric thin film of the present invention is basically a sol-gel method. Accordingly, the film forming raw material is a raw material solution for the sol-gel method, and may be the same as conventionally known ones.
【００２０】一般にゾルゲル法用の成膜原料溶液は、加
水分解性の金属化合物を含む溶液である。加水分解性金
属化合物としては、金属アルコキシド、金属ハロゲン化
物、カルボン酸塩などが使用できる。In general, the film forming raw material solution for the sol-gel method is a solution containing a hydrolyzable metal compound. As the hydrolyzable metal compound, metal alkoxide, metal halide, carboxylate and the like can be used.
【００２１】原料溶液は、誘電体薄膜の組成に応じた割
合で各金属の加水分解性化合物を含有する。一般に、チ
タンやジルコニウムの原料はアルコキシド（例、プロポ
キシド、イソプロボキシド、ｎ−ブトキシド、ｔ−ブト
キシド）、鉛やアルカリ土類金属（例、バリウム、スト
ロンチウム）はカルボン酸塩（例、酢酸塩、プロピオン
酸塩、酪酸塩）を使用することが多い。鉛のように揮発
し易い金属成分は、成膜中の損失を見越して、やや多め
（例、５〜10％過剰）に含有させることが好ましい。The raw material solution contains a hydrolyzable compound of each metal at a ratio according to the composition of the dielectric thin film. Generally, the raw materials of titanium and zirconium are alkoxides (eg, propoxide, isopropoxide, n-butoxide, t-butoxide), and lead and alkaline earth metals (eg, barium, strontium) are carboxylate (eg, acetate, propione). Acid salts, butyrate salts). It is preferable that a metal component that is easily volatilized, such as lead, be contained in a slightly large amount (for example, an excess of 5 to 10%) in anticipation of loss during film formation.
【００２２】原料溶液は、各金属原料を適当な有機溶媒
に溶解させたものである。溶媒としては、エタノール、
イソプロパノール、２−メトキシエタノールなどのアル
コール類；酢酸、プロピオン酸などの低級脂肪族カルボ
ン酸類；シクロヘキサノン、イソホロン等のケトン類を
はじめとする各種の極性有機溶媒が使用できるが、通常
はアルコール類である。溶媒は２種以上の混合溶媒でも
よい。The raw material solution is obtained by dissolving each metal raw material in an appropriate organic solvent. As the solvent, ethanol,
Alcohols such as isopropanol and 2-methoxyethanol; lower aliphatic carboxylic acids such as acetic acid and propionic acid; and various polar organic solvents including ketones such as cyclohexanone and isophorone can be used, but usually alcohols. . The solvent may be a mixture of two or more solvents.
【００２３】原料の金属化合物がカルボン酸塩のように
結晶水を持つ場合には、この化合物を最初に溶媒に溶解
させ、次いで共沸蒸留により水を除去して、溶液を脱水
しておく。その後に残りの金属化合物（例、アルコキシ
ド）を添加して溶解させると、原料溶液が得られる。成
膜を促進させるため、原料溶液を例えば還流加熱して、
加水分解性金属化合物（例、アルコキシド）を部分加水
分解、さらには部分重縮合させてもよい。If the starting metal compound has water of crystallization, such as a carboxylate, this compound is first dissolved in a solvent and then the water is removed by azeotropic distillation to dehydrate the solution. Thereafter, when the remaining metal compound (eg, alkoxide) is added and dissolved, a raw material solution is obtained. In order to promote film formation, for example, the material solution is heated under reflux,
A hydrolyzable metal compound (eg, an alkoxide) may be partially hydrolyzed and further partially polycondensed.
【００２４】本発明では、このゾルゲル法用の成膜原料
溶液に、放射線照射により水を発生する感光剤を含有さ
せる。特開平７−187669号公報にも説明されているよう
に、金属原料として用いる金属化合物自体も放射線に対
して感受性があり、放射線を照射すると、露光部では加
水分解と重縮合が優先的に起こり、膜が緻密化するの
で、露光部と未露光部ではある程度の溶解度差が生ず
る。In the present invention, the film forming raw material solution for the sol-gel method contains a photosensitive agent which generates water by irradiation with radiation. As described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-187669, the metal compound itself used as the metal raw material is also sensitive to radiation, and when irradiated with radiation, hydrolysis and polycondensation occur preferentially in the exposed area. Since the film is densified, a certain degree of solubility difference occurs between the exposed portion and the unexposed portion.
【００２５】原料溶液が上記の感光剤を含有すると、放
射線照射により水が遊離し、これが加水分解および重縮
合反応を促進させ、三次元架橋した緻密な構造が生成す
るので、一種の硬化触媒として作用する。そのため、露
光部では膜の硬化が著しく進み、感光剤を添加しない場
合に比べて、露光部と未露光部との溶解度差が非常に大
きくなり、パターンの解像度が向上する。また、原料金
属化合物自体の放射線感受性に比べて感光剤の放射線感
受性は大きいため、照射線量を少なくすることができ
る。When the raw material solution contains the above-mentioned photosensitizer, water is released by irradiation of radiation, which promotes hydrolysis and polycondensation reaction, and forms a three-dimensionally cross-linked dense structure. Works. Therefore, in the exposed portion, the film hardens remarkably, and the difference in solubility between the exposed portion and the unexposed portion becomes very large as compared with the case where the photosensitive agent is not added, and the resolution of the pattern is improved. Further, the radiation sensitivity of the photosensitive agent is higher than the radiation sensitivity of the raw metal compound itself, so that the irradiation dose can be reduced.
【００２６】本発明で用いる感光剤は、誘電体薄膜の表
面モフォロジーへの悪影響を避けるため、仮焼成中に、
原料金属化合物の縮重合や熱分解より先に、まず感光剤
が熱分解するように、熱分解開始温度が300 ℃未満、好
ましくは 200〜290 ℃のものを使用する。また、この感
光剤は、後述する少なくとも二段の仮焼成中に完全に熱
分解して、残留物を残さずに熱分解できるものがよい。
仮焼成後に感光剤に由来する残留物が残ると、誘導体薄
膜の電気特性等に悪影響がある。The photosensitive agent used in the present invention is used during pre-baking in order to avoid adverse effects on the surface morphology of the dielectric thin film.
Prior to the polycondensation or thermal decomposition of the starting metal compound, a compound having a thermal decomposition initiation temperature of less than 300 ° C, preferably 200 to 290 ° C, is used so that the photosensitive agent is thermally decomposed first. Further, it is preferable that the photosensitive agent be completely thermally decomposed during at least the two-stage pre-baking described below and be capable of being thermally decomposed without leaving any residue.
If the residue derived from the photosensitizer remains after the calcination, it has an adverse effect on the electrical characteristics of the derivative thin film.
【００２７】放射線照射により水を遊離する感光剤とし
ては、放射性が照射されると分子内または分子間で脱水
反応が起こり、水を遊離することができる任意の化合物
を使用することができる。このような化合物の例は、分
子内にニトロ基などの電子吸引基と水酸基などの電子供
与基とを有している芳香族有機化合物である。電子吸引
基と電子供与基は比較的近接した位置に存在することが
好ましい。熱分解開始温度が 200〜290 ℃の範囲であ
る、この種の感光剤の具体例としては、ｏ−ニトロベン
ズアルデヒド、ｏ−ニトロベンジルアルコール、１−ヒ
ドロキシメチル−２−ニトロナフタレンなどが挙げられ
る。これらの感光剤は１種もしくは２種以上を使用でき
る。As the photosensitizer that releases water upon irradiation with radiation, any compound capable of releasing water by causing a dehydration reaction within or between molecules when irradiated with radioactivity can be used. Examples of such compounds are aromatic organic compounds having an electron-withdrawing group such as a nitro group and an electron-donating group such as a hydroxyl group in the molecule. It is preferable that the electron-withdrawing group and the electron-donating group are present at relatively close positions. Specific examples of this type of photosensitizer having a thermal decomposition onset temperature in the range of 200 to 290 ° C. include o-nitrobenzaldehyde, o-nitrobenzyl alcohol, 1-hydroxymethyl-2-nitronaphthalene, and the like. One or two or more of these photosensitive agents can be used.
【００２８】原料溶液中の原料金属化合物の濃度は１〜
20重量％の範囲内が好ましい。上記感光剤の添加量 (２
種以上を併用する場合は合計量) は、溶液中の原料金属
化合物の総金属原子数に対して 0.1〜３モル％、好まし
くは 0.5〜１モル％の範囲内である。感光剤の添加量が
少なすぎると、露光部と未露光部との溶解度差が大きく
ならず、パターンの解像度が低下する。感光剤の添加量
が多すぎると、照射により周囲の未露光部の塗膜まで変
性してしまい、やはり解像度が低下する。The concentration of the starting metal compound in the starting solution is 1 to
It is preferably in the range of 20% by weight. Addition amount of the above photosensitizer (2
(The total amount when using more than one species) is in the range of 0.1 to 3 mol%, preferably 0.5 to 1 mol%, based on the total number of metal atoms of the starting metal compound in the solution. If the amount of the photosensitive agent is too small, the difference in solubility between the exposed and unexposed portions will not increase, and the resolution of the pattern will decrease. If the amount of the photosensitizing agent is too large, the exposed unexposed portion of the coating film is denatured by irradiation, and the resolution is also lowered.
【００２９】原料溶液には、貯蔵時のゲル化を防止する
安定化剤として、アセチルアセトン、エタノールアミ
ン、オキソブタン酸エチルなどのキレート形成化合物を
添加してもよい。その添加量は、溶液中の原料金属化合
物の総金属原子数に対して0.05〜10モルの範囲内が好ま
しい。A chelate-forming compound such as acetylacetone, ethanolamine, or ethyl oxobutanoate may be added to the raw material solution as a stabilizer for preventing gelation during storage. The addition amount is preferably in the range of 0.05 to 10 mol based on the total number of metal atoms of the starting metal compound in the solution.
【００３０】原料溶液の基板への塗布は、均一な膜厚の
塗膜が形成される塗布法であれば特に制限されないが、
工業的にはスピンコート法が採用されることが多い。塗
膜を乾燥させてゲル化させる。この乾燥は、必要に応じ
て加熱しながら行う。加熱温度は、感光剤の熱分解開始
温度より十分に低い温度とする。通常は150 ℃以下の温
度である。The application of the raw material solution to the substrate is not particularly limited as long as a coating method having a uniform thickness is formed.
Industrially, a spin coating method is often employed. The coating is dried and gelled. This drying is performed while heating as required. The heating temperature is a temperature sufficiently lower than the thermal decomposition starting temperature of the photosensitive agent. Usually, the temperature is below 150 ° C.
【００３１】ゲル化した塗膜に次いで、パターン化のた
めに放射線を照射して露光する。放射線は、感光剤の種
類によっても変化するが、紫外線、電子線、イオンビー
ム、Ｘ線等が一般的である。紫外線源は、例えば、低圧
水銀灯、エキシマレーザー等でよい。画像形成露光は、
常法により、マスクを通して放射線を照射するか、或い
は放射線源がレーザーの場合にはパターン化されたレー
ザー光を照射する直描法によって行うことができる。照
射エネルギー量は特に制限されず、膜厚や感光剤の種類
によっても変動するが、通常は100 mJ/cm2以上であれば
よい。The gelled coating is then exposed to radiation for patterning. Radiation varies depending on the type of the photosensitive agent, but generally includes ultraviolet rays, electron beams, ion beams, X-rays, and the like. The ultraviolet source may be, for example, a low-pressure mercury lamp, an excimer laser, or the like. The image forming exposure is
In a conventional manner, the irradiation can be performed by irradiating radiation through a mask or, when the radiation source is a laser, by a direct drawing method of irradiating patterned laser light. The irradiation energy amount is not particularly limited and varies depending on the film thickness and the type of the photosensitizer, but it is usually 100 mJ / cm 2 or more.
【００３２】この放射線照射により、露光部では感光剤
から水が発生して塗膜が硬化 (緻密化) 化し、アルコー
ルなどの溶媒への溶解度が低下する。本発明では、感光
剤の存在により塗膜の放射線感受性が高くなっているの
で、少ない照射線量で露光部を選択的に硬化させること
ができる。そのため、電子線などの高エネルギー量の放
射線ではなく、紫外線でも十分に照射の目的を達成でき
る。By this radiation irradiation, water is generated from the photosensitive agent in the exposed portion, and the coating film is hardened (densified), and its solubility in a solvent such as alcohol is reduced. In the present invention, the radiation sensitivity of the coating film is increased by the presence of the photosensitizer, so that the exposed portion can be selectively cured with a small irradiation dose. Therefore, it is possible to sufficiently achieve the purpose of irradiation with ultraviolet rays instead of high-energy radiation such as electron beams.
【００３３】所望により、放射線照射後、乾燥不活性ガ
ス (N2、Ar等) 雰囲気中で40〜100℃に１〜10分間程度
放置してもよい。こうして空気中の水分を遮断して温度
保持することにより、未露光部の金属原料の加水分解を
抑制したまま、露光部の塗膜の硬化をさらに進めること
ができるので、露光部と未露光部との溶解度差が一層大
きくなる。If desired, after the irradiation, the film may be left at 40 to 100 ° C. for about 1 to 10 minutes in a dry inert gas (N 2 , Ar, etc.) atmosphere. By blocking the moisture in the air and maintaining the temperature in this manner, the curing of the coating film on the exposed part can be further promoted while the hydrolysis of the metal material in the unexposed part is suppressed. And the solubility difference becomes larger.
【００３４】その後、適当な溶媒を用いて現像すること
により、未露光部にある未硬化の塗膜を除去すると、露
光部に対応するネガ型のパターンが基板上に形成され
る。現像剤として用いる溶媒は、未露光部の材料を溶解
でき、露光部の硬化膜に対する溶解性の小さい溶媒であ
ればよい。好ましい溶媒はアルコール類である。適当な
アルコールとしては、２−メトキシエタノール、２−エ
トキシエタノールなどのアルコキシアルコールがある。
これでは溶解力が高すぎ、未露光部だけでなく、露光部
まで溶解が起こりうる場合には、上記アルコールにエチ
ルアルコール、イソプロピルアルコール（ＩＰＡ）など
のアルキルアルコールを添加することにより、溶解力を
調整することができる。現像にフッ酸／塩酸の混酸とい
った腐食性に強い酸を使用する必要はなく、腐食性のな
い、安全で安価なアルコール等の溶媒で現像を行うこと
ができることも、本発明の利点の１つである。Thereafter, the uncured coating film in the unexposed area is removed by developing with an appropriate solvent, so that a negative pattern corresponding to the exposed area is formed on the substrate. The solvent used as the developer may be any solvent that can dissolve the material in the unexposed area and has low solubility in the cured film in the exposed area. Preferred solvents are alcohols. Suitable alcohols include alkoxy alcohols such as 2-methoxyethanol and 2-ethoxyethanol.
In this case, if the dissolving power is too high and dissolution can occur not only in the unexposed portions but also in the exposed portions, the dissolving power can be increased by adding an alkyl alcohol such as ethyl alcohol or isopropyl alcohol (IPA) to the alcohol. Can be adjusted. One of the advantages of the present invention is that it is not necessary to use a highly corrosive acid such as a mixed acid of hydrofluoric acid / hydrochloric acid in the development, and the development can be performed with a non-corrosive, safe and inexpensive solvent such as alcohol. It is.
【００３５】現像は、例えば、常温の溶媒に10秒〜10分
間程度浸漬することにより実施できる。現像条件は、未
露光部が完全に除去され、露光部は実質的に除去されな
いように設定する。従って、現像条件は、放射線の照射
量、その後の熱処理の有無、現像に用いる溶媒の種類に
応じて変動する。The development can be carried out, for example, by immersion in a solvent at room temperature for about 10 seconds to 10 minutes. The development conditions are set so that the unexposed portions are completely removed and the exposed portions are not substantially removed. Therefore, the development conditions vary depending on the radiation dose, the presence or absence of a subsequent heat treatment, and the type of solvent used for development.
【００３６】現像により未露光部を除去した後、必要以
上の塗膜溶解を阻止するために、露光部の塗膜の溶解能
がないか溶解能が小さい、適当な有機溶媒によってリン
スを行うことが好ましい。このリンス液としては、例え
ば、エステル類（例、酢酸エチル）、ケトン類（例、メ
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトン）、炭化水
素類（例、トルエン、ｎ−ヘキサン）などが使用でき
る。また、イソプロピルアルコールのように、極性が比
較的小さいアルコールもリンス液として使用できる。After removing the unexposed portions by development, rinsing with an appropriate organic solvent having no or low solubility of the coating film in the exposed portion is performed to prevent unnecessary dissolution of the coating film. Is preferred. As the rinsing liquid, for example, esters (eg, ethyl acetate), ketones (eg, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone), hydrocarbons (eg, toluene, n-hexane) and the like can be used. Also, an alcohol having a relatively small polarity, such as isopropyl alcohol, can be used as the rinsing liquid.
【００３７】現像により得られたネガ型の塗膜パターン
を焼成により誘電体薄膜パターンに変化させる。この焼
成は、塗膜中の金属化合物を加水分解と脱水 (重縮合)
または熱分解により金属酸化物に変化させる仮焼成 (仮
焼) と、得られた金属酸化物の薄膜を結晶化させる本焼
成 (アニーリングともいう) の２段階で行われ、本焼成
温度の方が高い。The negative type coating film pattern obtained by development is changed into a dielectric thin film pattern by firing. This firing involves hydrolysis and dehydration (polycondensation) of metal compounds in the coating film.
Alternatively, the calcination is performed in two stages: calcination (calcination) in which the metal oxide is converted to metal oxide by thermal decomposition, and calcination (also called annealing) in which the obtained metal oxide thin film is crystallized. high.
【００３８】本発明においては、この仮焼成をさらに２
段階で行う。即ち、塗膜中の金属化合物の熱分解が起こ
る前に、予め塗膜中に残留する感光剤の少なくとも一部
を熱分解させるために、第１加熱工程として感光剤の熱
分解開始温度以上で、300 ℃未満の温度での加熱を行
う。なお、この第１加熱工程で塗膜中の残留感光剤の大
部分を熱分解させることが好ましいが、これを完全に熱
分解させて塗膜から除去する必要はない。第１加熱工程
の好ましい加熱温度は 200〜290 ℃であり、加熱時間は
１〜20分間程度でよい。In the present invention, this calcination is further performed for 2 hours.
Perform in stages. That is, before thermal decomposition of the metal compound in the coating film occurs, at least a part of the photosensitive agent remaining in the coating film is thermally decomposed in advance. Heating at a temperature below 300 ° C. It is preferable that most of the residual photosensitive agent in the coating film is thermally decomposed in the first heating step, but it is not necessary to completely decompose the photosensitizer and remove it from the coating film. The preferable heating temperature in the first heating step is 200 to 290 ° C., and the heating time may be about 1 to 20 minutes.
【００３９】こうして感光剤を少なくとも部分的に熱分
解させて除去した後、仮焼成の第２加熱工程を行って、
金属化合物の重縮合 (脱水) と熱分解を完了させ、塗膜
を金属酸化物の薄膜に変化させる。この第２加熱工程の
温度は、従来の仮焼成温度と同様に 400〜550 ℃の比較
的高い温度で行うこともできるが、この温度が高すぎる
と、残留する感光剤残渣の影響により膜の表面モフォロ
ジーが粗くなったり、結晶性が悪くなる。さらには膜の
剥離が起こることもある。また、第１加熱工程における
感光剤の熱分解の割合が低い場合には、感光剤が同時に
熱分解することによる悪影響も起こる。After the photosensitizer has been at least partially thermally decomposed and removed, a second heating step of pre-baking is performed.
Completes the polycondensation (dehydration) and thermal decomposition of the metal compound, turning the coating into a thin film of metal oxide. The temperature of the second heating step can be set at a relatively high temperature of 400 to 550 ° C. as in the case of the conventional calcination temperature. However, if this temperature is too high, the residual photosensitive agent residue will affect the film. Surface morphology becomes coarse or crystallinity deteriorates. Furthermore, peeling of the film may occur. Further, when the rate of thermal decomposition of the photosensitive agent in the first heating step is low, an adverse effect is caused by the simultaneous thermal decomposition of the photosensitive agent.
【００４０】従って、仮焼成の第２加熱工程の温度は、
400 ℃未満とし、好ましくは 300〜370 ℃の範囲とす
る。加熱時間は通常は１〜20分間程度でよい。この仮焼
成の第２加熱工程で感光剤が残留物を残さずに、実質的
に完全に熱分解することが好ましい。もし、このような
条件での仮焼成では熱分解または金属酸化物への転換が
不完全である場合には、さらに昇温して、例えば 400〜
550 ℃の温度で第３の加熱を行って仮焼成を完了させて
もよい。なお、塗布から仮焼成までをさらに１回または
数回反復して、膜厚を増大させることもできる。Therefore, the temperature of the second heating step of the preliminary firing is
The temperature is lower than 400 ° C, preferably in the range of 300 to 370 ° C. The heating time may usually be about 1 to 20 minutes. It is preferable that the photosensitive agent is substantially completely thermally decomposed without leaving any residue in the second heating step of the preliminary baking. If the thermal decomposition or the conversion to the metal oxide is incomplete in the calcination under these conditions, the temperature is further raised to, for example, 400 to
The third heating may be performed at a temperature of 550 ° C. to complete the calcination. The film thickness can be increased by repeating the process from application to calcination once or several times.
【００４１】その後の結晶化のための本焼成は、従来と
同様に実施すればよく、誘電体の材料によって適当な温
度を選択すればよい。代表的な本焼成温度は 600〜700
℃である。こうして、パターン化誘電体薄膜が基板上に
形成される。Subsequent main firing for crystallization may be performed in the same manner as in the prior art, and an appropriate temperature may be selected according to the dielectric material. Typical firing temperature is 600-700
° C. Thus, a patterned dielectric thin film is formed on the substrate.
【００４２】本発明の方法によると、仮焼成時に感光剤
を予め熱分解させ、かつ仮焼成を比較的低温で行うこと
で、感光剤による表面モフォロジーの悪影響が防止さ
れ、感光剤を使用せずにゾルゲル法により成膜された誘
電体薄膜と同等以上の優れた表面モフォロジーを有する
パターン化誘電体薄膜を形成することができる。即ち、
表面の結晶粒が微細かつ均一で、異常析出物の見られな
いパターン化誘電体薄膜が得られる。According to the method of the present invention, the photosensitive agent is thermally decomposed in advance at the time of calcination and the calcination is carried out at a relatively low temperature, whereby the adverse effect of the surface morphology due to the sensitizer is prevented, and the sensitizer is not used. Thus, a patterned dielectric thin film having excellent surface morphology equal to or better than a dielectric thin film formed by a sol-gel method can be formed. That is,
A patterned dielectric thin film having fine and uniform crystal grains on the surface and free from abnormal precipitates can be obtained.
【００４３】[0043]
【実施例】（実施例１）酢酸鉛３水和物を溶媒の２−メ
トキシエタノールに溶解させた後、得られた溶液から共
沸蒸留により水を除去した。次いで、この溶液に、テト
ラｎ−ブトキシジルコニウムとテトライソプロポキシチ
タンを加え、さらに溶液中に含まれる総金属原子１mol
につき0.5 mol に相当する量のｏ−ニトロベンズアルデ
ヒド (感光剤、熱分解開始温度約260 ℃) と３mol に相
当する量の 1,3−ブタンジオール(安定化剤) を添加
し、140 ℃で１時間の加熱還流を行って、加水分解性金
属化合物を部分加水分解および部分重縮合させて、ゾル
ゲル法用のＰＺＴ成膜用原料溶液を調製した。この溶液
中の原料金属化合物の合計濃度は12重量％であり、Pb／
Zr／Tiの金属原子比は 110／40／60であった。EXAMPLES (Example 1) Lead acetate trihydrate was dissolved in a solvent, 2-methoxyethanol, and water was removed from the resulting solution by azeotropic distillation. Next, tetra-n-butoxyzirconium and tetraisopropoxytitanium were added to this solution, and 1 mol of total metal atoms contained in the solution were added.
Of o-nitrobenzaldehyde (photosensitizer, thermal decomposition onset temperature about 260 ° C.) and 1,3-butanediol (stabilizer) equivalent to 3 moles at 140 ° C. The mixture was heated under reflux for a period of time to partially hydrolyze and partially polycondense the hydrolyzable metal compound, thereby preparing a PZT film-forming raw material solution for a sol-gel method. The total concentration of the starting metal compound in this solution was 12% by weight, and Pb /
The metal atomic ratio of Zr / Ti was 110/40/60.
【００４４】得られた溶液の一部を濃縮し、生成したゲ
ルについて大気雰囲気でTG-DTA分析を行い、感光剤を含
有しない従来のＰＺＴと同様に、前駆体の分解 (金属酸
化物の形成) が≦600 ℃で完了することを確認した。A part of the obtained solution was concentrated, and the resulting gel was subjected to TG-DTA analysis in an air atmosphere to decompose the precursor (formation of metal oxide) in the same manner as conventional PZT containing no photosensitizer. ) Was completed at ≦ 600 ° C.
【００４５】この溶液をスピンコート法で６インチウエ
ハの白金基板上に塗布し、大気中で95℃にて１分間乾燥
して塗膜をゲル化させた後、マスクを介して紫外線 (中
心波長365 nm) を10分間照射することにより画像形成露
光した。その後、２−プロパノールと２−メトキシエタ
ノールの１：１混合溶媒で現像して未露光部を除去し
た。次いで、大気中で仮焼成を行った。この仮焼成は、
それぞれ表１に示す第１工程と第２工程の２段階で行
い、加熱時間はいずれも10分間であった。This solution was applied on a platinum substrate of a 6-inch wafer by spin coating, dried at 95 ° C. for 1 minute in the air to gel the coating, and then exposed to ultraviolet light (center wavelength) through a mask. (365 nm) for 10 minutes. Thereafter, development was performed with a 1: 1 mixed solvent of 2-propanol and 2-methoxyethanol to remove unexposed portions. Next, calcination was performed in the air. This calcination is
Each was performed in two stages of the first step and the second step shown in Table 1, and the heating time was 10 minutes in each case.
【００４６】以上の塗布から仮焼成までの工程を２回繰
り返した。なお、露光時のマスクは同じものを同じ位置
で使用した。最後に、結晶化のための本焼成を表１に示
す温度で大気中で行って、成膜を完了した。得られたパ
ターン化ＰＺＴ薄膜の膜厚は0.2 μｍであり、目視では
鏡面に見えた。The above steps from coating to calcination were repeated twice. The same mask was used at the same position during exposure. Finally, main firing for crystallization was performed in the air at the temperatures shown in Table 1 to complete the film formation. The thickness of the obtained patterned PZT thin film was 0.2 μm, and it was visually observed as a mirror surface.
【００４７】得られたＰＺＴ薄膜の結晶構造をＸ線回折
で調べたところ、ペロブスカイト型結晶となっているこ
とを確認した。Ｘ線回折ピークの半値幅から評価した結
晶性は、感光剤を添加せずにゾルゲル法により同様に成
膜した従来のＰＺＴ薄膜と同程度であった。また、この
ＰＺＴ薄膜のZr／Tiの原子比をＥＰＭＡで分析したとこ
ろ、原料溶液中の組成と同じであった。When the crystal structure of the obtained PZT thin film was examined by X-ray diffraction, it was confirmed that the thin film was a perovskite crystal. The crystallinity evaluated from the half value width of the X-ray diffraction peak was about the same as that of a conventional PZT thin film similarly formed by a sol-gel method without adding a photosensitive agent. Further, when the atomic ratio of Zr / Ti of this PZT thin film was analyzed by EPMA, it was the same as the composition in the raw material solution.
【００４８】このＰＺＴ薄膜の上に白金電極を形成して
上下の白金電極間に電圧を印加することにより膜の電気
特性 (誘電分極) を測定したところ、図１に示すよう
に、残留分極量(Pr)が約30〜40μC/cm2 と大きく、電気
特性に優れていた。薄膜表面の電子顕微鏡観察では、結
晶粒の粒子径が約0.05〜0.20μｍであり、よく揃ってい
て、異常析出物は観察されなかった。かかる電子顕微鏡
写真の１例を図２に示す。エリプソメトリーにより測定
したこのＰＺＴ薄膜の屈折率は 2.5〜2.7 であり、バル
クのＰＺＴと同等であった。このように、電気特性、光
学特性、表面モフォロジーのいずれも、従来のＰＺＴ薄
膜と同等またはそれ以上であった。表１に、結晶粒の平
均粒径と屈折率も併せて示す。A platinum electrode was formed on the PZT thin film, and a voltage was applied between the upper and lower platinum electrodes to measure the electric characteristics (dielectric polarization) of the film. As shown in FIG. (Pr) was as large as about 30 to 40 μC / cm 2, and was excellent in electric characteristics. Electron microscopic observation of the surface of the thin film showed that the crystal grains had a particle size of about 0.05 to 0.20 μm, were well aligned, and no abnormal precipitate was observed. One example of such an electron micrograph is shown in FIG. The refractive index of this PZT thin film measured by ellipsometry was 2.5 to 2.7, which was equivalent to that of bulk PZT. As described above, all of the electrical characteristics, optical characteristics, and surface morphology were equal to or higher than those of the conventional PZT thin film. Table 1 also shows the average grain size and the refractive index of the crystal grains.
【００４９】[0049]
【表１】 [Table 1]
【００５０】(比較例１)感光剤として、熱分解後もイオ
ウ等の残留物が残るジフェニルヨードニウムトリフルオ
ロメタンスルホン酸を使用した以外は、実施例１と全く
同様にパターン化ＰＺＴ薄膜を基板上に形成した。薄膜
は、目視では白濁しており、鏡面ではなかった。(Comparative Example 1) A patterned PZT thin film was formed on a substrate in the same manner as in Example 1 except that diphenyliodonium trifluoromethanesulfonic acid, in which residues such as sulfur remained even after thermal decomposition, was used as a photosensitive agent. Formed. The thin film was cloudy visually and was not a mirror surface.
【００５１】得られたＰＺＴ薄膜の結晶構造をＸ線回折
で調べたところ、ペロブスカイト型結晶となっているこ
とを確認した。Ｘ線回折ピークの半値幅は、従来のＰＺ
Ｔ薄膜より大きく、結晶性が悪かった。また、電気特
性、光学特性、表面モフォロジーはいずれも、従来のＰ
ＺＴ薄膜のそれより悪かった。When the crystal structure of the obtained PZT thin film was examined by X-ray diffraction, it was confirmed that the thin film was a perovskite crystal. The half width of the X-ray diffraction peak is
It was larger than the T thin film and had poor crystallinity. Further, the electrical properties, optical properties, and surface morphology are all the same as those of the conventional P
It was worse than that of the ZT thin film.
【００５２】（比較例２）仮焼成の第２工程を 450℃で
行った以外は、実施例１と全く同様にパターン化ＰＺＴ
薄膜を基板上に形成した。従って、使用した感光剤も実
施例１と同じものであった。(Comparative Example 2) Patterned PZT was performed in exactly the same manner as in Example 1 except that the second step of pre-baking was performed at 450 ° C.
A thin film was formed on a substrate. Therefore, the used photosensitive agent was the same as in Example 1.
【００５３】得られたＰＺＴ薄膜 (目視では白濁してお
り鏡面ではなかった) の結晶構造をＸ線回折で調べたと
ころ、ペロブスカイト型結晶となっていることを確認し
た。Ｘ線回折ピークの半値幅は、従来のＰＺＴ薄膜より
大きく、結晶性が悪かった。強誘電特性は、図３に示す
ように、残留分極量(Pr)が約0.3 μC/cm2 であり、非常
に悪かった。When the crystal structure of the obtained PZT thin film (which was visually turbid and was not a mirror surface) was examined by X-ray diffraction, it was confirmed that it was a perovskite crystal. The half width of the X-ray diffraction peak was larger than that of the conventional PZT thin film, and the crystallinity was poor. As shown in FIG. 3, the ferroelectric properties were very poor, with a residual polarization (Pr) of about 0.3 μC / cm 2 .
【００５４】膜表面の電子顕微鏡観察 (電子顕微鏡写真
の１例を図４に示す) では表面に粒子径が約0.6 μｍの
異常析出物が多数みられ、結晶粒の平均粒径は 0.5μｍ
であった。また、エリプソメトリーによる屈折率の測定
は不可能だった。このように電気特性、表面モフォロジ
ー、光学特性のいずれも、従来のＰＺＴ薄膜より悪くな
った。An electron microscopic observation of the film surface (an example of an electron micrograph is shown in FIG. 4) shows a large number of abnormal precipitates having a particle diameter of about 0.6 μm on the surface and an average crystal grain diameter of 0.5 μm.
Met. Also, it was not possible to measure the refractive index by ellipsometry. Thus, all of the electrical properties, surface morphology, and optical properties were worse than the conventional PZT thin film.
【００５５】（比較例３）仮焼成を２段階に分けず、35
0 ℃の１段階 (加熱時間10分間) で行った以外は、実施
例１と全く同様にパターン化ＰＺＴ薄膜を基板上に形成
した。従って、使用した感光剤も実施例１と同じもので
あった。(Comparative Example 3) Preliminary firing was not divided into two stages,
A patterned PZT thin film was formed on a substrate in exactly the same manner as in Example 1, except that it was performed in one stage at 0 ° C. (heating time: 10 minutes). Therefore, the used photosensitive agent was the same as in Example 1.
【００５６】得られたＰＺＴ薄膜は目視では鏡面であ
り、Ｘ線回折ではペロブスカイト型結晶となっていた
が、Ｘ線回折ピークの半値幅は従来のＰＺＴ薄膜より大
きく、結晶性が悪かった。また、電気特性、表面モフォ
ロジー、光学特性はいずれも実施例１のそれより悪くな
った。The obtained PZT thin film was specular when visually observed, and was a perovskite crystal by X-ray diffraction. However, the half value width of the X-ray diffraction peak was larger than that of the conventional PZT thin film, and the crystallinity was poor. Further, the electrical properties, surface morphology, and optical properties were all worse than those of Example 1.
【００５７】[0057]
【発明の効果】本発明により、レジストを使用せずに簡
単な成膜操作で、電気特性、表面モフォロジー、光学特
性のいずれにも優れたパターン化誘電体薄膜を形成する
ことができ、成膜されたパターン化誘電体薄膜は、キャ
パシター膜、光導波路、光学素子等といった電子・光デ
バイスの材料として使用可能な特性を有している。ゾル
ゲル法はＣＶＤ法やスパッタリング法に比べて低コスト
で誘電体薄膜を大量に製造することができるので、パタ
ーン化誘電体薄膜を用いた電子・光デバイス材料を低コ
ストで効率よく製造することが可能となる。According to the present invention, a patterned dielectric thin film having excellent electrical characteristics, surface morphology and optical characteristics can be formed by a simple film forming operation without using a resist. The patterned dielectric thin film thus obtained has characteristics that can be used as materials for electronic and optical devices such as a capacitor film, an optical waveguide, and an optical element. The sol-gel method can produce a large amount of dielectric thin film at a lower cost than the CVD method and the sputtering method, so it is possible to efficiently and efficiently manufacture electronic and optical device materials using a patterned dielectric thin film at a low cost. It becomes possible.
【図１】本発明に従って成膜したパターン化ＰＺＴ薄膜
（仮焼成の第１加熱温度290 ℃、同第２加熱温度350
℃、本焼成温度600 ℃) の電気特性 (誘電分極) を示す
グラフである。FIG. 1 shows a patterned PZT thin film (first heating temperature of 290 ° C., second heating temperature of 350 ° C.)
FIG. 6 is a graph showing electrical characteristics (dielectric polarization) in the case of (° C., main firing temperature 600 ° C.).
【図２】本発明に従って成膜したパターン化ＰＺＴ薄膜
(焼成条件は図１と同じ) の表面モフォロジーを示す電
子顕微鏡写真である。FIG. 2 shows a patterned PZT thin film formed according to the present invention.
2 is an electron micrograph showing the surface morphology (the firing conditions are the same as in FIG. 1).
【図３】比較例で成膜したパターン化ＰＺＴ薄膜（仮焼
成の第１加熱温度 290℃、同第２加熱温度 450℃、本焼
成温度600 ℃) の電気特性 (誘電分極) を示すグラフで
ある。FIG. 3 is a graph showing the electrical characteristics (dielectric polarization) of the patterned PZT thin film (first heating temperature of 290 ° C., second heating temperature of 450 ° C., main firing temperature of 600 ° C.) of the comparative example. is there.
【図４】比較例で成膜したパターン化ＰＺＴ薄膜 (焼成
条件は図３と同じ) の表面モフォロジーを示す電子顕微
鏡写真である。FIG. 4 is an electron micrograph showing the surface morphology of a patterned PZT thin film (sintering conditions are the same as in FIG. 3) formed in a comparative example.
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成１０年１２月７日（１９９８．１２．
７）[Submission date] December 7, 1998 (1998.12.
7)
【手続補正１】[Procedure amendment 1]
【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing
【補正対象項目名】図２[Correction target item name] Figure 2
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【図２】 FIG. 2
【手続補正２】[Procedure amendment 2]
【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing
【補正対象項目名】図４[Correction target item name] Fig. 4
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【図４】 FIG. 4
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 厚木 勉 埼玉県大宮市北袋町１丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社総合研究所内 (72)発明者 内田 寛人 埼玉県大宮市北袋町１丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社総合研究所内 (72)発明者 小木 勝実 埼玉県大宮市北袋町１丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社総合研究所内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Tsutomu Atsugi 1-297 Kitabukurocho, Omiya City, Saitama Prefecture Inside Mitsubishi Materials Research Institute (72) Inventor Hiroto Uchida 1-297 Kitabukurocho, Omiya City, Saitama Mitsubishi Materials (72) Inventor Katsumi Ogi 1-297 Kitabukurocho, Omiya City, Saitama Prefecture Mitsubishi Materials Research Institute
Claims (7)
剤を含有するゾルゲル法用の成膜原料溶液を基板上に塗
布し、得られた塗膜を乾燥してゲル化させ、ゲル化した
塗膜に放射線を照射して画像形成露光し、露光した塗膜
を溶媒で現像して未露光部を除去し、現像の済んだ塗膜
を仮焼成して金属酸化物に変化させ、最後に本焼成して
金属酸化物の膜を結晶化させることからなるパターン化
誘電体薄膜の形成方法において、 前記感光剤が、300 ℃未満の熱分解開始温度を持ち、か
つ残留物を残さずに熱分解できるものであり、 前記仮焼成が、前記感光剤の熱分解開始温度以上、300
℃未満の温度で行う第１加熱工程と、300 ℃以上、400
℃未満の温度で行う第２加熱工程の少なくとも２段階か
らなることを特徴とする、パターン化誘電体薄膜の形成
方法。1. A sol-gel film-forming raw material solution containing a photosensitive agent that releases water when irradiated with radiation is applied on a substrate, and the obtained coating film is dried and gelled. The exposed coating film is exposed to radiation for image formation, the exposed coating film is developed with a solvent to remove unexposed portions, and the developed coating film is pre-baked to change into a metal oxide. Wherein the photosensitizer has a thermal decomposition onset temperature of less than 300 ° C. and does not leave any residue. It can be thermally decomposed, the calcination is not less than the thermal decomposition start temperature of the photosensitive agent, 300
A first heating step performed at a temperature lower than 400 ° C.,
A method for forming a patterned dielectric thin film, comprising at least two stages of a second heating step performed at a temperature of less than ° C.
項１記載の方法。2. The method according to claim 1, wherein the temperature of the main firing is from 600 to 700 ° C.
であり、第１加熱工程の加熱温度が 200〜290 ℃、第２
加熱工程の加熱温度が 300〜370 ℃である、請求項１ま
たは２記載の方法。3. The thermal decomposition start temperature of the photosensitive agent is 200 to 290 ° C.
And the heating temperature in the first heating step is 200 to 290 ° C.
The method according to claim 1 or 2, wherein the heating temperature in the heating step is 300 to 370 ° C.
はｏ−ニトロベンジルアルコール、および１−ヒドロキ
シメチル−２−ニトロナフタレンよりなる群から選ばれ
た１種もしくは２種以上である、請求項１〜３のいずれ
か１項に記載の方法。4. A photosensitizer comprising o-nitrobenzaldehyde,
The method according to any one of claims 1 to 3, wherein is one or more selected from the group consisting of o-nitrobenzyl alcohol and 1-hydroxymethyl-2-nitronaphthalene.
法により形成されたパターン化誘電体薄膜を有する基
板。5. A substrate having a patterned dielectric thin film formed by the method according to claim 1. Description:
る、請求項５記載のパターン化誘電体薄膜を有する基
板。6. The substrate having a patterned dielectric thin film according to claim 5, wherein the dielectric thin film is lead zirconate titanate.
0.05〜0.2 μｍの範囲内である、請求項５または６記載
のパターン化誘電体薄膜を有する基板。7. The average grain size of crystal grains on the surface of a dielectric thin film is
The substrate having a patterned dielectric thin film according to claim 5, wherein the substrate has a thickness in a range of 0.05 to 0.2 μm.
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