JP2000171505A - 配電線地絡保護リレー試験方法及び装置 - Google Patents
配電線地絡保護リレー試験方法及び装置Info
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- JP2000171505A JP2000171505A JP10343783A JP34378398A JP2000171505A JP 2000171505 A JP2000171505 A JP 2000171505A JP 10343783 A JP10343783 A JP 10343783A JP 34378398 A JP34378398 A JP 34378398A JP 2000171505 A JP2000171505 A JP 2000171505A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】残留分と１回の母線の１相地絡時の各フィーダ
に設けたＺＣＴの一次電流（被測定電流）の値を高精度
に算出し、かつ、各フィーダの対地零相アドミタンスと
対地逆相アドミタンスを高精度に算出することにより、
任意抵抗地絡時の各フィーダの零相一次電流及び対地静
電容量不平衡を算出又は評価する。 【解決手段】ＧＰＴ１、ＺＣＴ２、ＤＧＲ３及びＯＶＧ
Ｒ４に端子接続した入出力回路５と、該入出力回路５に
接続した計測・出力装置６と、該計測・出力装置６に接
続したコンピュータPC及びプリンタLPを配備して、母線
の１相地絡操作を含み、コンピュータPCからの指示操作
により計測・出力装置６及び入出力回路切替器５を介し
てＧＰＴ１、ＺＣＴ２、ＤＧＲ３及びＯＶＧＲ４に対す
る入出力をおこない、かつ、これらの装置出力をデータ
取得して演算処理及び表示・出力処理をおこなうように
装置系Ｘを構成する。
に設けたＺＣＴの一次電流（被測定電流）の値を高精度
に算出し、かつ、各フィーダの対地零相アドミタンスと
対地逆相アドミタンスを高精度に算出することにより、
任意抵抗地絡時の各フィーダの零相一次電流及び対地静
電容量不平衡を算出又は評価する。 【解決手段】ＧＰＴ１、ＺＣＴ２、ＤＧＲ３及びＯＶＧ
Ｒ４に端子接続した入出力回路５と、該入出力回路５に
接続した計測・出力装置６と、該計測・出力装置６に接
続したコンピュータPC及びプリンタLPを配備して、母線
の１相地絡操作を含み、コンピュータPCからの指示操作
により計測・出力装置６及び入出力回路切替器５を介し
てＧＰＴ１、ＺＣＴ２、ＤＧＲ３及びＯＶＧＲ４に対す
る入出力をおこない、かつ、これらの装置出力をデータ
取得して演算処理及び表示・出力処理をおこなうように
装置系Ｘを構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、６．６ｋＶ配電線
（非接地系統母線）に対して、接地変圧器（ＧＰＴ）、
零相変流器（ＺＣＴ）、地絡方向継電器（ＤＧＲ）、及
び地絡過電圧継電器（ＯＶＧＲ）とを用いてする配電線
地絡保護リレー試験方法及び装置に係り、詳しくは、母
線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アドミ
タンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電系
統（配電バンク）に対して、残留分と１回の母線の１相
地絡時の各配電線〔以下、フィーダ。〕に設けたＺＣＴ
の一次電流（被測定電流）の値を高精度に算出し、か
つ、各フィーダの対地零相アドミタンスと対地逆相アド
ミタンスを高精度に算出することにより、任意抵抗地絡
時の各フィーダの零相一次電流及び対地静電容量不平衡
を算出又は評価可能とする配電線地絡保護リレー試験方
法、及び該試験方法（試験手順）をコンピュータ支援に
より実行可能とする配電線地絡保護リレー試験装置に関
する。
（非接地系統母線）に対して、接地変圧器（ＧＰＴ）、
零相変流器（ＺＣＴ）、地絡方向継電器（ＤＧＲ）、及
び地絡過電圧継電器（ＯＶＧＲ）とを用いてする配電線
地絡保護リレー試験方法及び装置に係り、詳しくは、母
線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アドミ
タンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電系
統（配電バンク）に対して、残留分と１回の母線の１相
地絡時の各配電線〔以下、フィーダ。〕に設けたＺＣＴ
の一次電流（被測定電流）の値を高精度に算出し、か
つ、各フィーダの対地零相アドミタンスと対地逆相アド
ミタンスを高精度に算出することにより、任意抵抗地絡
時の各フィーダの零相一次電流及び対地静電容量不平衡
を算出又は評価可能とする配電線地絡保護リレー試験方
法、及び該試験方法（試験手順）をコンピュータ支援に
より実行可能とする配電線地絡保護リレー試験装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、６．６ｋＶ配電線（非接地系
統母線）の地絡保護リレー試験では、活線作業である母
線の人工地絡操作を数十回試行することにより、地絡保
護リレーの構成機器であるＯＶＧＲ（バンク一括）、Ｄ
ＧＲ（フィーダ毎）の整定や動作・不動作試験をおこな
っている。
統母線）の地絡保護リレー試験では、活線作業である母
線の人工地絡操作を数十回試行することにより、地絡保
護リレーの構成機器であるＯＶＧＲ（バンク一括）、Ｄ
ＧＲ（フィーダ毎）の整定や動作・不動作試験をおこな
っている。
【０００３】図８に示すように、従来試験ではそれぞれ
の機器の操作や測定に作業員が必要であり、通常６名を
要している。実施する試験項目は、残留測定（零相電
圧・零相電流測定）、母線地絡特性、線路位相特
性、最小動作試験である。これらの目的と方法は以下
のとおりである。
の機器の操作や測定に作業員が必要であり、通常６名を
要している。実施する試験項目は、残留測定（零相電
圧・零相電流測定）、母線地絡特性、線路位相特
性、最小動作試験である。これらの目的と方法は以下
のとおりである。
【０００４】残留測定（零相電圧・零相電流測定） 〔目的〕地絡保護リレーの誤動作がないようにリレーを
整定するため。 〔方法〕ＧＰＴ３次側に常時発生している零相電圧と、
ＺＣＴ２次側に常時発生しているフィーダ毎の零相電流
を測定する。
整定するため。 〔方法〕ＧＰＴ３次側に常時発生している零相電圧と、
ＺＣＴ２次側に常時発生しているフィーダ毎の零相電流
を測定する。
【０００５】母線地絡特性 〔目的〕バンクの地絡特性の把握と、ＯＶＧＲ，ＤＧＲ
の零相電圧の整定値を定めるため。 〔方法〕各相について３〜16ｋΩの範囲で人工地絡し、
地絡抵抗に対する零相電圧、地絡電流を測定・記録す
る。また、零相電圧、地絡電流からバンク全体の充電電
流を求める。
の零相電圧の整定値を定めるため。 〔方法〕各相について３〜16ｋΩの範囲で人工地絡し、
地絡抵抗に対する零相電圧、地絡電流を測定・記録す
る。また、零相電圧、地絡電流からバンク全体の充電電
流を求める。
【０００６】線路位相特性 〔目的〕ＤＧＲを内部地絡（自フィーダの地絡時）では
確実に動作し、外部地絡（自フィーダ以外の地絡時）で
誤動作しないように整定するため。 〔方法〕地絡抵抗６ｋΩで人工地絡させ、内部地絡時と
外部地絡時の零相電圧、零相電流及び零相電圧基準の零
相電流の位相（差）を測定する。
確実に動作し、外部地絡（自フィーダ以外の地絡時）で
誤動作しないように整定するため。 〔方法〕地絡抵抗６ｋΩで人工地絡させ、内部地絡時と
外部地絡時の零相電圧、零相電流及び零相電圧基準の零
相電流の位相（差）を測定する。
【０００７】最小動作試験 〔目的〕ＯＶＧＲ，ＤＧＲの整定後、これらが目標の検
出感度になっていることを調べる。 〔方法〕人工地絡により、それぞれのリレーが動作する
最大地絡抵抗値（零相電圧、零相電流における最小動作
値）と、動作しない最小地絡抵抗値を２５０Ω刻みで調
べる。
出感度になっていることを調べる。 〔方法〕人工地絡により、それぞれのリレーが動作する
最大地絡抵抗値（零相電圧、零相電流における最小動作
値）と、動作しない最小地絡抵抗値を２５０Ω刻みで調
べる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来試験の手法では、安全に対する十分な配慮が必要であ
ると同時に、多大な労力と時間を要してきた。このた
め、より安全で、効率的な試験手法が望まれる。
来試験の手法では、安全に対する十分な配慮が必要であ
ると同時に、多大な労力と時間を要してきた。このた
め、より安全で、効率的な試験手法が望まれる。
【０００９】こうしたなかで本発明者は、研究過程で以
下の知見を有するにいたり、新たな試験方法及び装置の
開発を進めてきた。
下の知見を有するにいたり、新たな試験方法及び装置の
開発を進めてきた。
【００１０】地絡抵抗値に対する零相電圧、及びフィ
ーダの零相一次電流（値）を高精度に算出できれば、そ
の結果をＧＰＴ三次側、ＺＣＴ一次側に出力して試験が
おこなえること。
ーダの零相一次電流（値）を高精度に算出できれば、そ
の結果をＧＰＴ三次側、ＺＣＴ一次側に出力して試験が
おこなえること。
【００１１】また、残留分と人工地絡時のフィーダの
零相一次電流（値）を知得できれば、フィーダの対地零
相アドミタンスと対地逆相アドミタンスを高精度に算出
できること。
零相一次電流（値）を知得できれば、フィーダの対地零
相アドミタンスと対地逆相アドミタンスを高精度に算出
できること。
【００１２】さらに、これらの値を用いれば、任意抵
抗地絡時の各フィーダの零相一次電流（地絡電流）及び
対地静電容量不平衡を算出又は評価できること。
抗地絡時の各フィーダの零相一次電流（地絡電流）及び
対地静電容量不平衡を算出又は評価できること。
【００１３】上記プロセスは、コンピュータ（パソコ
ン）の機能を利用して、計算、測定、制御がおこなえる
こと。したがって、より安全で、かつ、効率的なリレー
試験がおこなえること。
ン）の機能を利用して、計算、測定、制御がおこなえる
こと。したがって、より安全で、かつ、効率的なリレー
試験がおこなえること。
【００１４】本発明はこのような事情に鑑みなされたも
のであって、上記課題を解消し、コンピュータ支援によ
り総合的にリレー試験手順を実行可能な配電線地絡保護
リレー試験方法及び装置を提供するものである。
のであって、上記課題を解消し、コンピュータ支援によ
り総合的にリレー試験手順を実行可能な配電線地絡保護
リレー試験方法及び装置を提供するものである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、母線・各フィーダの各相（ａ，ｂ，ｃ）で
異なる対地アドミタンスを有し、かつ、各線間電圧が平
衡している配電系統（配電バンク）に対して、残留分と
１回の母線の１相地絡時の各フィーダに設けたＺＣＴの
一次電流（被測定電流）の値を高精度に算出し、かつ、
各フィーダの対地零相アドミタンスと対地逆相アドミタ
ンスを高精度に算出することにより、任意抵抗地絡時の
各フィーダの零相一次電流及び対地静電容量不平衡を算
出又は評価するようにした配電線地絡保護リレー試験方
法であって、少なくとも以下（１）〜（５）の処理手順
又は試験手順を包含することを特徴とするものである。 （１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に、数通りの付加
電流を出力する。 （２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の
二次電流を測定する。 （３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次電流値と変流比を変数とする連立方程式を立
てて演算処理し、その解によりそれぞれの値を求める。 （４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、計算式を導入することにより、バン
ク全体の対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタン
スを求める。 （５）各ＺＣＴにおいて、それぞれ残留零相電流、及び
１回の母線の１相地絡操作に対する零相電流を測定又は
算出評価し、計算式を導入することにより、各フィーダ
の対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求
めるとともに、ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意のコンダ
クタンスで地絡したときの零相電流を求める。
に本発明は、母線・各フィーダの各相（ａ，ｂ，ｃ）で
異なる対地アドミタンスを有し、かつ、各線間電圧が平
衡している配電系統（配電バンク）に対して、残留分と
１回の母線の１相地絡時の各フィーダに設けたＺＣＴの
一次電流（被測定電流）の値を高精度に算出し、かつ、
各フィーダの対地零相アドミタンスと対地逆相アドミタ
ンスを高精度に算出することにより、任意抵抗地絡時の
各フィーダの零相一次電流及び対地静電容量不平衡を算
出又は評価するようにした配電線地絡保護リレー試験方
法であって、少なくとも以下（１）〜（５）の処理手順
又は試験手順を包含することを特徴とするものである。 （１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に、数通りの付加
電流を出力する。 （２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の
二次電流を測定する。 （３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次電流値と変流比を変数とする連立方程式を立
てて演算処理し、その解によりそれぞれの値を求める。 （４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、計算式を導入することにより、バン
ク全体の対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタン
スを求める。 （５）各ＺＣＴにおいて、それぞれ残留零相電流、及び
１回の母線の１相地絡操作に対する零相電流を測定又は
算出評価し、計算式を導入することにより、各フィーダ
の対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求
めるとともに、ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意のコンダ
クタンスで地絡したときの零相電流を求める。
【００１６】また、上記試験方法（手順）をコンピュー
タ支援により総合的に実行可能とした配電線地絡保護リ
レー試験装置であって、ＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯ
ＶＧＲに端子接続した入出力回路と、該入出力回路に接
続した計測・出力装置と、該計測・出力装置に接続した
コンピュータ及びプリンタを配備して、母線の１相地絡
操作を含み、前記コンピュータからの指示操作により計
測・出力装置及び入出力回路を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、
ＤＧＲ及びＯＶＧＲに対する入出力をおこない、かつ、
これらの装置出力をデータ取得して演算処理及び表示・
出力処理をおこなうように装置系を構成するとともに、
前記装置系が、ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に、数通
りの付加電流を出力し、前記付加電流とＺＣＴの一次電
流との合成電流の二次電流を測定するための第一の測定
手段、及び前記付加電流に係る数通りの出力条件から、
各別にＺＣＴの一次電流値と変流比を変数とする連立方
程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれの値を
求めるための第一の演算処理手段と、ＧＰＴにおいて、
いずれか一組の相の線間電圧、残留零相電圧、及び１回
の母線の１相地絡操作に対する零相電圧を測定するため
の第二の測定手段、及びその測定結果に基づき、計算式
を導入することにより、バンク全体の対地零相アドミタ
ンス及び対地逆相アドミタンスを求めるための第二の演
算処理手段と、各ＺＣＴにおいて、残留零相電流、及び
１回の母線の１相地絡操作に対する零相電流を測定又は
算出するために、前記第一の測定手段及び演算処理手段
を包含する第三の測定手段、及びその測定又は算出に基
づき、計算式を導入することにより、各フィーダの対地
零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求めると
ともに、ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意のコンダクタン
スで地絡したときの零相電流をもとめるための第三の演
算処理手段と、を具備してなることを特徴とするもので
ある。
タ支援により総合的に実行可能とした配電線地絡保護リ
レー試験装置であって、ＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯ
ＶＧＲに端子接続した入出力回路と、該入出力回路に接
続した計測・出力装置と、該計測・出力装置に接続した
コンピュータ及びプリンタを配備して、母線の１相地絡
操作を含み、前記コンピュータからの指示操作により計
測・出力装置及び入出力回路を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、
ＤＧＲ及びＯＶＧＲに対する入出力をおこない、かつ、
これらの装置出力をデータ取得して演算処理及び表示・
出力処理をおこなうように装置系を構成するとともに、
前記装置系が、ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に、数通
りの付加電流を出力し、前記付加電流とＺＣＴの一次電
流との合成電流の二次電流を測定するための第一の測定
手段、及び前記付加電流に係る数通りの出力条件から、
各別にＺＣＴの一次電流値と変流比を変数とする連立方
程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれの値を
求めるための第一の演算処理手段と、ＧＰＴにおいて、
いずれか一組の相の線間電圧、残留零相電圧、及び１回
の母線の１相地絡操作に対する零相電圧を測定するため
の第二の測定手段、及びその測定結果に基づき、計算式
を導入することにより、バンク全体の対地零相アドミタ
ンス及び対地逆相アドミタンスを求めるための第二の演
算処理手段と、各ＺＣＴにおいて、残留零相電流、及び
１回の母線の１相地絡操作に対する零相電流を測定又は
算出するために、前記第一の測定手段及び演算処理手段
を包含する第三の測定手段、及びその測定又は算出に基
づき、計算式を導入することにより、各フィーダの対地
零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求めると
ともに、ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意のコンダクタン
スで地絡したときの零相電流をもとめるための第三の演
算処理手段と、を具備してなることを特徴とするもので
ある。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を添付図面を
参照しながら以下説明する。なお、この欄で参照する添
付図面は実施例においても参照される。
参照しながら以下説明する。なお、この欄で参照する添
付図面は実施例においても参照される。
【００１８】上記発明方法の処理（試験）手順（１）〜
（３）〔及び上記発明装置の第一の測定手段及び演算処
理手段〕において、付加電流の出力条件は、合成電流の
大きさがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるよう
に設定され、大きさが同じで位相が異なる３通りの電流
を採用するものである。
（３）〔及び上記発明装置の第一の測定手段及び演算処
理手段〕において、付加電流の出力条件は、合成電流の
大きさがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるよう
に設定され、大きさが同じで位相が異なる３通りの電流
を採用するものである。
【００１９】この場合の手法〔以下、手法Ｉ〕を以下に
述べる。あわせて、手法Ｉの測定回路の構成例を図１に
示す。図示するように、ＺＣＴ一次側の試験用貫通線に
付加電流を出力して、該付加電流とＺＣＴ一次電流（被
測定電流；未知）との合成電流の二次電流を測定し、出
力条件ごとにＺＣＴの一次電流値と変流比を変数とする
連立方程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ
の値を求める。（手法II及びIII において同じ。）以下
に計算式を示す。
述べる。あわせて、手法Ｉの測定回路の構成例を図１に
示す。図示するように、ＺＣＴ一次側の試験用貫通線に
付加電流を出力して、該付加電流とＺＣＴ一次電流（被
測定電流；未知）との合成電流の二次電流を測定し、出
力条件ごとにＺＣＴの一次電流値と変流比を変数とする
連立方程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ
の値を求める。（手法II及びIII において同じ。）以下
に計算式を示す。
【００２０】
【数１】
【００２１】以上の計算式により、I0，φ，ｎが求まる
が、（１−５）式から、計算結果の精度を考慮すると、
Ｑ<<−１，すなわちI0>>I0A 又はI0<<I0A となるように
I0Aを与えなければならない。このとき、I0のおよその
値としては、ＺＣＴ二次値に、ＺＣＴ電流のしきい値以
上のときの変流比の概ねの値を乗じた値を用いればよ
い。なお、ＺＣＴ電流のしきい値の概ねの値と、しきい
値以上のときのＺＣＴ変流比の概ねの値を予め測定等に
より求めておく必要がある。
が、（１−５）式から、計算結果の精度を考慮すると、
Ｑ<<−１，すなわちI0>>I0A 又はI0<<I0A となるように
I0Aを与えなければならない。このとき、I0のおよその
値としては、ＺＣＴ二次値に、ＺＣＴ電流のしきい値以
上のときの変流比の概ねの値を乗じた値を用いればよ
い。なお、ＺＣＴ電流のしきい値の概ねの値と、しきい
値以上のときのＺＣＴ変流比の概ねの値を予め測定等に
より求めておく必要がある。
【００２２】また、同処理（試験）手順（１）〜（３）
〔及び同装置の第一の測定手段及び演算処理手段〕にお
いて、付加電流の出力条件は、合成電流の大きさがＺＣ
Ｔ電流のしきい値（既知）以上となるように設定され、
位相が同じで大きさが異なる３通りの電流を採用する場
合がある。
〔及び同装置の第一の測定手段及び演算処理手段〕にお
いて、付加電流の出力条件は、合成電流の大きさがＺＣ
Ｔ電流のしきい値（既知）以上となるように設定され、
位相が同じで大きさが異なる３通りの電流を採用する場
合がある。
【００２３】この場合の手法〔以下、手法II〕を以下に
述べる。手法IIの測定回路の構成例を図２に示すととも
に、以下に計算式を示す。
述べる。手法IIの測定回路の構成例を図２に示すととも
に、以下に計算式を示す。
【００２４】
【数２】
【００２５】また、同処理（試験）手順（１）〜（３）
〔及び同装置の第一の測定手段及び演算処理手段〕にお
いて、付加電流の出力条件は、合成電流の大きさがＺＣ
Ｔ電流のしきい値（既知）以上となるように設定され、
異なる２通りの電流を採用する場合がある。
〔及び同装置の第一の測定手段及び演算処理手段〕にお
いて、付加電流の出力条件は、合成電流の大きさがＺＣ
Ｔ電流のしきい値（既知）以上となるように設定され、
異なる２通りの電流を採用する場合がある。
【００２６】この場合の手法〔以下、手法III 〕を以下
に述べる。手法III の測定回路の構成例を図３に示すと
ともに、以下に計算式を示す。
に述べる。手法III の測定回路の構成例を図３に示すと
ともに、以下に計算式を示す。
【００２７】
【数３】
【００２８】また、上記発明方法の処理（試験）手順
（４）〔上記発明装置の第二の測定手段及び演算処理手
段〕において、バンク全体の対地零相アドミタンス及び
対地逆相アドミタンスを求めるための導出過程（以下の
数４）を述べる。
（４）〔上記発明装置の第二の測定手段及び演算処理手
段〕において、バンク全体の対地零相アドミタンス及び
対地逆相アドミタンスを求めるための導出過程（以下の
数４）を述べる。
【００２９】さらに、同処理（試験）手順（５）〔上記
発明装置の第三の測定手段及び演算処理手段〕におい
て、各フィーダの対地零相アドミタンス及び対地逆相ア
ドミタンスを求めるとともに、任意抵抗地絡時のフィー
ダの零相一次電流を求めるための導出過程（以下の数５
及び数６）を述べる。
発明装置の第三の測定手段及び演算処理手段〕におい
て、各フィーダの対地零相アドミタンス及び対地逆相ア
ドミタンスを求めるとともに、任意抵抗地絡時のフィー
ダの零相一次電流を求めるための導出過程（以下の数５
及び数６）を述べる。
【００３０】ここで、対象とする三相不平衡な対地アド
ミタンスをもつ配電バンクを図４に示す。また、以下の
導出過程（数式）で使用する添字ｋに関し、ｋ＝０は母
線、ｋ＝１，２，・・・ｎはフィーダの号数である。な
お、線間電圧は平衡しているものとする。
ミタンスをもつ配電バンクを図４に示す。また、以下の
導出過程（数式）で使用する添字ｋに関し、ｋ＝０は母
線、ｋ＝１，２，・・・ｎはフィーダの号数である。な
お、線間電圧は平衡しているものとする。
【００３１】
【数４】
【００３２】
【数５】
【００３３】上記（21）、（22）、（24）、（25）、
（27）〜（30）式での電圧は、ＧＰＴ一次電圧で表して
いる。ただし、線間電圧はＧＰＴ二次端子、零相電圧は
ＧＰＴ三次端子で測定されるので、実際にはこれらの式
にＧＰＴの変圧比を考慮した式を用いる。また、（27）
〜（30）式での零相電流はＺＣＴ一次電流で表してい
る。
（27）〜（30）式での電圧は、ＧＰＴ一次電圧で表して
いる。ただし、線間電圧はＧＰＴ二次端子、零相電圧は
ＧＰＴ三次端子で測定されるので、実際にはこれらの式
にＧＰＴの変圧比を考慮した式を用いる。また、（27）
〜（30）式での零相電流はＺＣＴ一次電流で表してい
る。
【００３４】ここで、（24）、（25）式よりａ，ｂ相線
間電圧、残留零相電圧、１回の地絡に対する零相電圧を
測定すれば、バンク全体の対地零相アドミタンスと対地
逆相アドミタンスが求まることがわかる。さらに、（2
9）、（30）式よりフィーダの残留零相電流、１回の母
線地絡に対する零相電流を測定すれば（この２つは上述
の手法Ｉにより測定できる）、そのフィーダの対地零相
アドミタンスと対地逆相アドミタンスが求まることがわ
かる。
間電圧、残留零相電圧、１回の地絡に対する零相電圧を
測定すれば、バンク全体の対地零相アドミタンスと対地
逆相アドミタンスが求まることがわかる。さらに、（2
9）、（30）式よりフィーダの残留零相電流、１回の母
線地絡に対する零相電流を測定すれば（この２つは上述
の手法Ｉにより測定できる）、そのフィーダの対地零相
アドミタンスと対地逆相アドミタンスが求まることがわ
かる。
【００３５】さらに、任意抵抗地絡時（ａ，ｂ，ｃ相が
任意のコンダクタンス＜Ｇ＞で地絡したとき）のフィー
ダの零相一次電流<Ik0aout>,<Ik0bout>,<Ik0cout> （外
部地絡）; <Ik0ain >,<Ik0bin >,<Ik0cin > （内部地
絡）は以下により求まる。
任意のコンダクタンス＜Ｇ＞で地絡したとき）のフィー
ダの零相一次電流<Ik0aout>,<Ik0bout>,<Ik0cout> （外
部地絡）; <Ik0ain >,<Ik0bin >,<Ik0cin > （内部地
絡）は以下により求まる。
【００３６】
【数６】
【００３７】上記（31）〜（36）式での電圧は、ＧＰＴ
一次電圧で表している。ただし、線間電圧はＧＰＴ二次
端子、零相電圧はＧＰＴ三次端子で測定されるので、実
際にはこれらの式にＧＰＴの変圧比を考慮した式を用い
る。また、零相電流はＺＣＴ一次電流で表している。な
お、これらの式で求めた値をＺＣＴ一次電流として出力
するときは、残留零相一次電流分を差し引いておく必要
がある。
一次電圧で表している。ただし、線間電圧はＧＰＴ二次
端子、零相電圧はＧＰＴ三次端子で測定されるので、実
際にはこれらの式にＧＰＴの変圧比を考慮した式を用い
る。また、零相電流はＺＣＴ一次電流で表している。な
お、これらの式で求めた値をＺＣＴ一次電流として出力
するときは、残留零相一次電流分を差し引いておく必要
がある。
【００３８】ここでは、式の導出のために、ａ相を人工
地絡した場合の零相電圧・零相電流測定を用いたが、地
絡相はｂ相あるいはｃ相でも同様に式を導くことができ
る。また、＜Ｖab＞を電圧の基準として用いたが、上述
の（23）式により＜Ｖbc＞，＜Ｖca＞を用いることもで
きる。
地絡した場合の零相電圧・零相電流測定を用いたが、地
絡相はｂ相あるいはｃ相でも同様に式を導くことができ
る。また、＜Ｖab＞を電圧の基準として用いたが、上述
の（23）式により＜Ｖbc＞，＜Ｖca＞を用いることもで
きる。
【００３９】
【実施例】本発明の一実施例を添付図面を参照して以下
の順序で説明する。なお、以下の説明文中、＜＞はベク
トル量である。
の順序で説明する。なお、以下の説明文中、＜＞はベク
トル量である。
【００４０】１．装置構成 ２．零相一次電流測定 ２−１．測定手法 ２−２．有効性の検証 ３．模擬配電バンクでの試験（説明一部省略） ４．実配電バンクでの試験（説明一部省略） ５．まとめ
【００４１】１．装置構成 図５に回路構成として示すように、本試験装置（Ｘ）へ
の入力信号は、ＧＰＴ二次側線間電圧＜Ｖab＞、ＧＰＴ
三次側電圧＜Ｖ0 ＞、各フィーダのＺＣＴ二次側＜Ｉ0
＞でリレー盤の試験端子から入力される。また、リレー
動作信号も直接取り込む。出力は各地絡抵抗値に対して
計算された＜Ｖ0 ＞、一次側＜Ｉ0 ＞で、＜Ｖ0 ＞はリ
レー盤試験端子を経由してＯＶＧＲ及びＤＧＲに入力
し、一次側＜Ｉ0 ＞は各フィーダのＺＣＴに貫通させ
る。なお、ＧＰＴ二次側線間電圧＜Ｖ ab＞は位相基準と
する。
の入力信号は、ＧＰＴ二次側線間電圧＜Ｖab＞、ＧＰＴ
三次側電圧＜Ｖ0 ＞、各フィーダのＺＣＴ二次側＜Ｉ0
＞でリレー盤の試験端子から入力される。また、リレー
動作信号も直接取り込む。出力は各地絡抵抗値に対して
計算された＜Ｖ0 ＞、一次側＜Ｉ0 ＞で、＜Ｖ0 ＞はリ
レー盤試験端子を経由してＯＶＧＲ及びＤＧＲに入力
し、一次側＜Ｉ0 ＞は各フィーダのＺＣＴに貫通させ
る。なお、ＧＰＴ二次側線間電圧＜Ｖ ab＞は位相基準と
する。
【００４２】また、本発明の構成手段に係る実施例ブロ
ック図を図６に示す。図中、１がＧＰＴ、２がＺＣＴ、
３がＤＧＲ、４がＯＶＧＲ、５が入出力回路、６が計測
・出力装置、11が第一の測定手段、12が第二の測定手
段、13が第三の測定手段、21が第一の演算処理手段、22
が第二の演算処理手段、23が第三の演算処理手段、PCが
コンピュータ（パソコン）、LPがプリンタ、及びＸが本
試験装置である。
ック図を図６に示す。図中、１がＧＰＴ、２がＺＣＴ、
３がＤＧＲ、４がＯＶＧＲ、５が入出力回路、６が計測
・出力装置、11が第一の測定手段、12が第二の測定手
段、13が第三の測定手段、21が第一の演算処理手段、22
が第二の演算処理手段、23が第三の演算処理手段、PCが
コンピュータ（パソコン）、LPがプリンタ、及びＸが本
試験装置である。
【００４３】２．零相一次電流測定 ２−１．測定手法 ＺＣＴの変流比は零相電流がある値〔しきい値〕以上に
なるとほぼ一定値となる。〔ＺＣＴ二次電流vs. 変流比
のデータプロットは図示を省略する。〕この特性を用
い、ＺＣＴ一次側の試験用貫通線に、フィーダの零相一
次電流との合成値の大きさがしきい値以上となるような
電流を２，３通り出力すれば、ＺＣＴ一次・二次電流に
関する連立方程式が得られる。〔上記の手法Ｉ〜III に
おいて既述。〕
なるとほぼ一定値となる。〔ＺＣＴ二次電流vs. 変流比
のデータプロットは図示を省略する。〕この特性を用
い、ＺＣＴ一次側の試験用貫通線に、フィーダの零相一
次電流との合成値の大きさがしきい値以上となるような
電流を２，３通り出力すれば、ＺＣＴ一次・二次電流に
関する連立方程式が得られる。〔上記の手法Ｉ〜III に
おいて既述。〕
【００４４】２−２．有効性の検証 上記２−１の測定手法の有効性を検証するために、模擬
配電バンクのＺＣＴを用いて試験を行った。試験回路を
図７に示す。
配電バンクのＺＣＴを用いて試験を行った。試験回路を
図７に示す。
【００４５】ここで、フィーダは停電しておき、商用１
００Ｖ電源、抵抗器、スライダックを用いてＺＣＴ一次
回路に＜I0＞模擬電流を流した（出力）。I0の値は50〜
1995ｍＡとした。通常、零相一次電流は多少変動してお
り、その変動を模擬するため、各回の試験の初めにスラ
イダックによりI0の値を決めた後は、その調整をおこな
わなかった。
００Ｖ電源、抵抗器、スライダックを用いてＺＣＴ一次
回路に＜I0＞模擬電流を流した（出力）。I0の値は50〜
1995ｍＡとした。通常、零相一次電流は多少変動してお
り、その変動を模擬するため、各回の試験の初めにスラ
イダックによりI0の値を決めた後は、その調整をおこな
わなかった。
【００４６】また、リレー試験器を用いて付加電流＜I
0Am＞＝I0A exp(ｊθm )[m=1,2,3]を流した。電流の大
きさI0A はI0の値により適当に決め、位相θm は＜I0＞
の位相φを基準として位相計で測定し、３通りの付加電
流の位相差が互いに120 °となるように調整した。ＺＣ
Ｔの二次電流は、通常のリレー回路の中に電流計（内部
抵抗 1.2Ω固定）を挿入して測定した。試験は、各々の
I0値に対して４回おこなった。なお、試験に使用したリ
レー試験器、位相計、ＺＣＴ二次電流測定用電流計は、
本発明装置の構成要素と同様のものである。
0Am＞＝I0A exp(ｊθm )[m=1,2,3]を流した。電流の大
きさI0A はI0の値により適当に決め、位相θm は＜I0＞
の位相φを基準として位相計で測定し、３通りの付加電
流の位相差が互いに120 °となるように調整した。ＺＣ
Ｔの二次電流は、通常のリレー回路の中に電流計（内部
抵抗 1.2Ω固定）を挿入して測定した。試験は、各々の
I0値に対して４回おこなった。なお、試験に使用したリ
レー試験器、位相計、ＺＣＴ二次電流測定用電流計は、
本発明装置の構成要素と同様のものである。
【００４７】試験結果を表１に示す。I0入力値はスライ
ダックで調整した初期値であり、多少変動している。
I0，φ測定（算出）値は、４回の試験の変動範囲を示し
ている。I0入力値と測定値の差はI0で約１％以下、φで
２°以下であり、付加電流＜I0 Am＞を適当に選べば、非
常に高い精度で零相一次電流値が求まることがわかっ
た。
ダックで調整した初期値であり、多少変動している。
I0，φ測定（算出）値は、４回の試験の変動範囲を示し
ている。I0入力値と測定値の差はI0で約１％以下、φで
２°以下であり、付加電流＜I0 Am＞を適当に選べば、非
常に高い精度で零相一次電流値が求まることがわかっ
た。
【００４８】
【表１】
【００４９】このあと、３．模擬配電バンクでの試験、
及び４．実配電バンクでの試験を実行した。試験項目は
零相電圧・零相電流測定、対地アドミタンス計算、母線
地絡特性計算、線路位相特性試験、及びリレー最小動作
試験である。それぞれの試験方法（機器操作）及び試験
結果については説明を省略する。
及び４．実配電バンクでの試験を実行した。試験項目は
零相電圧・零相電流測定、対地アドミタンス計算、母線
地絡特性計算、線路位相特性試験、及びリレー最小動作
試験である。それぞれの試験方法（機器操作）及び試験
結果については説明を省略する。
【００５０】５．まとめ 任意抵抗地絡時の零相一次電流をバンク全体・各フィ
ーダの対地アドミタンスから精度よく求めることができ
た。
ーダの対地アドミタンスから精度よく求めることができ
た。
【００５１】残留分及び３ｋΩ母線地絡時の零相一次
電流を、ＺＣＴ二次電流測定値から精度よく求めること
ができた。
電流を、ＺＣＴ二次電流測定値から精度よく求めること
ができた。
【００５２】しきい値以上の零相電流に対するＺＣＴ
の変流比を表示し、零相二次電流測定回路の良否を判断
することができた。
の変流比を表示し、零相二次電流測定回路の良否を判断
することができた。
【００５３】これにより、線路位相特性試験、及びリレ
ー（ＤＧＲ）最小動作試験でＺＣＴ一次回路への電流出
力が精度よくできるようになり、効率的なリレー試験が
可能となった。
ー（ＤＧＲ）最小動作試験でＺＣＴ一次回路への電流出
力が精度よくできるようになり、効率的なリレー試験が
可能となった。
【００５４】
【発明の効果】本発明は以上の構成よりなるものであ
り、これによればコンピュータ支援により総合的にリレ
ー試験手順を実行可能なので、より安全で、かつ、効率
的なリレー試験をおこなうことができる。しかも、少人
数（３名）で短時間（15分前後）に試験を遂行でき、リ
レーをロックする時間の短縮が図れるので、運用上有益
である。
り、これによればコンピュータ支援により総合的にリレ
ー試験手順を実行可能なので、より安全で、かつ、効率
的なリレー試験をおこなうことができる。しかも、少人
数（３名）で短時間（15分前後）に試験を遂行でき、リ
レーをロックする時間の短縮が図れるので、運用上有益
である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明における手法Ｉの測定回路の構成例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図２】同じく手法IIの測定回路の構成例を示す説明図
である。
である。
【図３】同じく手法III の測定回路の構成例を示す説明
図である。
図である。
【図４】本発明が対象とする三相不平衡な対地アドミタ
ンスをもつ配電バンクを示す説明図である。
ンスをもつ配電バンクを示す説明図である。
【図５】装置構成を説明する回路構成概要図である。
【図６】装置構成を説明する実施例ブロック図である。
【図７】零相一次電流測定に係る試験回路の構成例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図８】従来の試験例を示す説明図である。
１ ＧＰＴ ２ ＺＣＴ ３ ＤＧＲ ４ ＯＶＧＲ ５ 入出力回路 ６ 計測・出力装置 11 第一測定手段 12 第二測定手段 13 第三測定手段 21 第一演算処理手段 22 第二演算処理手段 23 第三演算処理手段 PC コンピュータ（パソコン） LP プリンタ Ｘ 配電線地絡保護リレー試験装置（本試験装置）
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１２年１月１１日（２０００．１．１
１）
１）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１５】
【課題を解決するための手段】課題を解決するために本
発明は、母線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる
対地アドミタンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡して
いる配電系統（配電バンク）に対して、各フィーダに設
けたＺＣＴの一次電流値（零相一次電流値）を地絡して
いないときの残留分及び１回の母線の１相地絡時につい
て測定に基づき算出し、バンク全体の対地零相アドミタ
ンスと対地逆相アドミタンスをＧＰＴでの測定に基づき
算出し、これらの値を既知として各フィーダの対地零相
アドミタンスと対地逆相アドミタンスを算出し、さらに
ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタン
スで地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を算出
し、かつ、対地静電容量不平衡を評価するようにした配
電線地絡保護リレー試験方法であって、少なくとも以下
（１）〜（５）の処理手順又は試験手順を包含すること
を特徴とするものである。 （１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通りの付加電
流を出力する。 （２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の
二次電流を測定する。 （３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次・二次電流と変流比を変数とする連立方程式
を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ残留零相一
次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一
次電流値を求める。 （４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、これらの関係から導出される計算式
に基づき、バンク全体の対地零相アドミタンス及び対地
逆相アドミタンスを求める。 （５）上記手順（３）において求めた残留零相一次電流
値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電流
値と、上記手順（４）において求めたバンク全体の対地
零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスとの関係か
ら導出される計算式に基づき、各フィーダの対地零相ア
ドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め、さらに
ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタン
スで地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を求め
る。
発明は、母線・各配電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる
対地アドミタンスを有し、かつ、各線間電圧が平衡して
いる配電系統（配電バンク）に対して、各フィーダに設
けたＺＣＴの一次電流値（零相一次電流値）を地絡して
いないときの残留分及び１回の母線の１相地絡時につい
て測定に基づき算出し、バンク全体の対地零相アドミタ
ンスと対地逆相アドミタンスをＧＰＴでの測定に基づき
算出し、これらの値を既知として各フィーダの対地零相
アドミタンスと対地逆相アドミタンスを算出し、さらに
ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタン
スで地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を算出
し、かつ、対地静電容量不平衡を評価するようにした配
電線地絡保護リレー試験方法であって、少なくとも以下
（１）〜（５）の処理手順又は試験手順を包含すること
を特徴とするものである。 （１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通りの付加電
流を出力する。 （２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の
二次電流を測定する。 （３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次・二次電流と変流比を変数とする連立方程式
を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ残留零相一
次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一
次電流値を求める。 （４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、これらの関係から導出される計算式
に基づき、バンク全体の対地零相アドミタンス及び対地
逆相アドミタンスを求める。 （５）上記手順（３）において求めた残留零相一次電流
値及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電流
値と、上記手順（４）において求めたバンク全体の対地
零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスとの関係か
ら導出される計算式に基づき、各フィーダの対地零相ア
ドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め、さらに
ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタン
スで地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を求め
る。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１６】また、上記試験方法（手順）をコンピュー
タ支援により総合的に実行可能とした配電線地絡保護リ
レー試験装置であって、ＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯ
ＶＧＲに端子接続した入出力回路と、該入出力回路に接
続した計測・出力装置と、該計測・出力装置に接続した
コンピュータ及びプリンタを配備して、母線の１相地絡
操作を含み、前記コンピュータからの指示操作により計
測・出力装置及び入出力回路を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、
ＤＧＲ及びＯＶＧＲに対する入出力をおこない、かつ、
これらの装置出力をデータ取得して演算処理及び表示・
出力処理をおこなうように装置系を構成するとともに、
前記装置系が、ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通り
の付加電流を出力し、該付加電流とＺＣＴの一次電流と
の合成電流の二次電流を測定するための第一の測定手
段、及び前記付加電流に係る数通りの出力条件から、各
別にＺＣＴの一次・二次電流と変流比を変数とする連立
方程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ残留
零相一次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相一次電流値を求めるための第一の演算処理手段と、
ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、残留零
相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相電
圧を測定するための第二の測定手段、及びこれらの関係
から導出される計算式に基づき、バンク全体の対地零相
アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求めるための
第二の演算処理手段と、各ＺＣＴにおける残留零相一次
電流及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電
流を測定するために前記第一の測定手段を包含する第三
の測定手段、及び前記第一、第二の演算処理手段の結果
を包含し、残留零相一次電流値及び１回の母線の１相地
絡操作に対する零相一次電流値と、バンク全体の対地零
相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスとの関係から
導出される計算式に基づき、各フィーダの対地零相アド
ミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め、さらにａ，
ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタンスで
地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を求めるた
めの第三の演算処理手段を具備してなることを特徴とす
るものである。
タ支援により総合的に実行可能とした配電線地絡保護リ
レー試験装置であって、ＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯ
ＶＧＲに端子接続した入出力回路と、該入出力回路に接
続した計測・出力装置と、該計測・出力装置に接続した
コンピュータ及びプリンタを配備して、母線の１相地絡
操作を含み、前記コンピュータからの指示操作により計
測・出力装置及び入出力回路を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、
ＤＧＲ及びＯＶＧＲに対する入出力をおこない、かつ、
これらの装置出力をデータ取得して演算処理及び表示・
出力処理をおこなうように装置系を構成するとともに、
前記装置系が、ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に数通り
の付加電流を出力し、該付加電流とＺＣＴの一次電流と
の合成電流の二次電流を測定するための第一の測定手
段、及び前記付加電流に係る数通りの出力条件から、各
別にＺＣＴの一次・二次電流と変流比を変数とする連立
方程式を立てて演算処理し、その解によりそれぞれ残留
零相一次電流値及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相一次電流値を求めるための第一の演算処理手段と、
ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、残留零
相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相電
圧を測定するための第二の測定手段、及びこれらの関係
から導出される計算式に基づき、バンク全体の対地零相
アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求めるための
第二の演算処理手段と、各ＺＣＴにおける残留零相一次
電流及び１回の母線の１相地絡操作に対する零相一次電
流を測定するために前記第一の測定手段を包含する第三
の測定手段、及び前記第一、第二の演算処理手段の結果
を包含し、残留零相一次電流値及び１回の母線の１相地
絡操作に対する零相一次電流値と、バンク全体の対地零
相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスとの関係から
導出される計算式に基づき、各フィーダの対地零相アド
ミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め、さらにａ，
ｂ，ｃいずれか１相が任意の抵抗又はコンダクタンスで
地絡したときの各フィーダの零相一次電流値を求めるた
めの第三の演算処理手段を具備してなることを特徴とす
るものである。
Claims (5)
- 【請求項１】 ６．６ｋＶ配電線（非接地系統）に対し
て、母線に設けた接地変圧器（ＧＰＴ）に接続した地絡
過電圧継電器（ＯＶＧＲ）と、前記ＧＰＴ及び配電線
（フィーダ）毎に設けた零相変流器（ＺＣＴ）に接続し
たフィーダ毎の地絡方向継電器（ＤＧＲ）とを用いてす
る配電線地絡保護リレー試験方法において、母線・各配
電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アドミタンスを
有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電系統（配電
バンク）に対して、残留分と１回の母線の１相地絡時の
各フィーダに設けたＺＣＴの一次電流（被測定電流）の
値を高精度に算出し、かつ、各フィーダの対地零相アド
ミタンスと対地逆相アドミタンスを高精度に算出するこ
とにより、任意抵抗地絡時の各フィーダの零相一次電流
及び対地静電容量不平衡を算出又は評価するようにした
配電線地絡保護リレー試験方法であって、少なくとも以
下（１）〜（５）の処理手順又は試験手順を包含するこ
とを特徴とする配電線地絡保護リレー試験方法。 （１）ＺＣＴの一次側の試験用貫通線に、数通りの付加
電流を出力する。 （２）前記付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の
二次電流を測定する。 （３）付加電流に係る数通りの出力条件から、各別にＺ
ＣＴの一次電流値と変流比を変数とする連立方程式を立
てて演算処理し、その解によりそれぞれの値を求める。 （４）ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の線間電圧、
残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操作に対する
零相電圧を測定し、計算式を導入することにより、バン
ク全体の対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタン
スを求める。 （５）各ＺＣＴにおいて、それぞれ残留零相電流、及び
１回の母線の１相地絡操作に対する零相電流を測定又は
算出評価し、計算式を導入することにより、各配電線の
対地零相アドミタンス及び対地逆相アドミタンスを求め
るとともに、ａ，ｂ，ｃいずれか１相が任意のコンダク
タンスで地絡したときの零相電流を求める。 - 【請求項２】 付加電流の出力条件が、合成電流の大き
さがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるように設
定され、大きさが同じで位相が異なる３通りの電流であ
る請求項１記載の配電線地絡保護リレー試験方法。 - 【請求項３】 付加電流の出力条件が、合成電流の大き
さがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるように設
定され、位相が同じで大きさが異なる３通りの電流であ
る請求項１記載の配電線地絡保護リレー試験方法。 - 【請求項４】 付加電流の出力条件が、合成電流の大き
さがＺＣＴ電流のしきい値（既知）以上となるように設
定され、異なる２通りの電流である請求項１記載の配電
線地絡保護リレー試験方法。 - 【請求項５】 ６．６ｋＶ配電線（非接地系統）に対し
て、母線に設けた接地変圧器（ＧＰＴ）に接続した地絡
過電圧継電器（ＯＶＧＲ）と、前記ＧＰＴ及び配電線
（フィーダ）毎に設けた零相変流器（ＺＣＴ）に接続し
たフィーダ毎の地絡方向継電器（ＤＧＲ）とを用いてす
る配電線地絡保護リレー試験装置において、母線・各配
電線の各相（ａ，ｂ，ｃ）で異なる対地アドミタンスを
有し、かつ、各線間電圧が平衡している配電系統（配電
バンク）に対して、残留分と１回の母線の１相地絡時の
各フィーダに設けたＺＣＴの一次電流（被測定電流）の
値を高精度に算出し、かつ、各フィーダの対地零相アド
ミタンスと対地逆相アドミタンスを高精度に算出するこ
とにより、任意抵抗地絡時の各フィーダの零相一次電流
及び対地静電容量不平衡を算出又は評価するために、コ
ンピュータ支援により総合的にリレー試験手順を実行可
能とした配電線地絡保護リレー試験装置であって、ＧＰ
Ｔ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯＶＧＲに端子接続した入出力
回路と、該入出力回路に接続した計測・出力装置と、該
計測・出力装置に接続したコンピュータ及びプリンタを
配備して、母線の１相地絡操作を含み、前記コンピュー
タからの指示操作により計測・出力装置及び入出力回路
を介してＧＰＴ、ＺＣＴ、ＤＧＲ及びＯＶＧＲに対する
入出力をおこない、かつ、これらの装置出力をデータ取
得して演算処理及び表示・出力処理をおこなうように装
置系を構成するとともに、前記装置系が、ＺＣＴの一次
側の試験用貫通線に、数通りの付加電流を出力し、前記
付加電流とＺＣＴの一次電流との合成電流の二次電流を
測定するための第一の測定手段、及び前記付加電流に係
る数通りの出力条件から、各別にＺＣＴの一次電流値と
に対する変流比を変数とする連立方程式を立てて演算処
理し、その解によりそれぞれの値を求めるための第一の
演算処理手段と、ＧＰＴにおいて、いずれか一組の相の
線間電圧、残留零相電圧、及び１回の母線の１相地絡操
作に対する零相電圧を測定するための第二の測定手段、
及びその測定結果に基づき、計算式を導入することによ
り、バンク全体の対地零相アドミタンス及び対地逆相ア
ドミタンスを求めるための第二の演算処理手段と、各Ｚ
ＣＴにおいて、残留零相電流、及び１回の母線の１相地
絡操作に対する零相電流を測定又は算出するために、前
記第一の測定手段及び演算処理手段を包含する第三の測
定手段、及びその測定又は算出に基づき、計算式を導入
することにより、各フィーダの対地零相アドミタンス及
び対地逆相アドミタンスを求めるとともに、ａ，ｂ，ｃ
いずれか１相が任意のコンダクタンスで地絡したときの
零相電流を求めるための第三の演算処理手段を具備して
なることを特徴とする配電線地絡保護リレー試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34378398A JP3312172B2 (ja) | 1998-12-03 | 1998-12-03 | 配電線地絡保護リレー試験方法及び装置 |
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