JP2000165291A - Cdma test signal generator - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、通信方式にCDM
A方式を採用した移動端末を試験する移動端末試験装置
に係わり、特に、この移動端末試験装置に組込まれ、試
験対象の移動端末に対して、CDMA試験信号を送出す
るCDMA試験信号発生装置に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a CDM communication system.
The present invention relates to a mobile terminal test apparatus for testing a mobile terminal employing the A system, and more particularly, to a CDMA test signal generation apparatus incorporated in the mobile terminal test apparatus and transmitting a CDMA test signal to a mobile terminal to be tested.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、携帯電話やPHS等の移動体通信
が急速に普及しつつある。特に、今後は、PHS等のよ
うなデジタル方式を採用し、さらに、チャネル数の確保
のためにCDMA(code division multiple access)
通信方式を用いた移動体通信が広く用いられるものと考
えられる。2. Description of the Related Art In recent years, mobile communications such as mobile phones and PHSs have been rapidly spreading. In particular, in the future, digital systems such as PHS will be adopted, and CDMA (code division multiple access) will be used to secure the number of channels.
It is considered that mobile communication using a communication method is widely used.
【0003】したがって、この移動体通信に用いられる
各加入者が所持する移動端末又は開発中の移動端末が正
確に動作することの試験を正確にかつ迅速に実施する必
要がある。[0003] Therefore, it is necessary to accurately and quickly carry out a test for correctly operating a mobile terminal possessed by each subscriber used for the mobile communication or a mobile terminal under development.
【0004】図5は、CDMA方式を採用した移動端末
としての例えば携帯電話機の動作を試験する移動端末試
験装置の概略構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a mobile terminal test apparatus for testing the operation of, for example, a portable telephone as a mobile terminal adopting the CDMA system.
【0005】この移動端末試験装置は、大きく分けて、
携帯電話端末等の被試験端末1に対してCDMA試験信
号aを送出するCDMA試験信号発生装置2と、CDM
A試験信号aを受けてこのCDMA試験信号aに対応し
たCDMA測定信号bを出力す被試験端末1からのCD
MA測定信号bを受信して解析するCDMA信号受信解
析装置3とで構成されている。[0005] This mobile terminal test apparatus is roughly divided into
A CDMA test signal generator 2 for transmitting a CDMA test signal a to a terminal under test 1 such as a mobile phone terminal;
CD from terminal under test 1 receiving A test signal a and outputting CDMA measurement signal b corresponding to CDMA test signal a
And a CDMA signal reception analyzer 3 for receiving and analyzing the MA measurement signal b.
【0006】CDMA試験信号発生装置2においては、
テストパターン発生部4から出力された各チャネルのデ
ジタルの各テストパターンデータは次のスペクトラム拡
散部5において各チャネル毎に異なるPN(擬似雑音)
パターンデータが乗算されることによって、スペクトラ
ム拡散される。In the CDMA test signal generator 2,
Each digital test pattern data of each channel output from the test pattern generation unit 4 is different in PN (pseudo noise) for each channel in the next spread spectrum unit 5.
The spectrum is spread by multiplying the pattern data.
【0007】スペクトラム拡散された各チャネルのテス
トパターンデータは次の積和演算部6において、各チャ
ネル毎に該当チャネルに対応した重み係数が乗算され、
さらに乗算された各チャネルの乗算値がI相及びQ相毎
に全チャネルに亘って加算される。The spread spectrum test pattern data of each channel is multiplied by a weight coefficient corresponding to the corresponding channel for each channel in the following product-sum operation unit 6.
Further, the multiplied product values of the respective channels are added for all the channels for each of the I phase and the Q phase.
【0008】積和演算部6から出力された全チャネルに
亘って加算された出力データは、RN(ルートナイキス
ト)フィルタ7で波形整形されたのち変調部8へ入力さ
れる。変調部8は搬送周波数信号を入力された出力デー
タ(加算後のテストパターンデータ)で変調して、出力
RF(高周波)インタフェース9へ送出する。出力RF
インタフェース9は、変調部8から出力された変調信号
をCDMA試験信号aとして、被試験端末1へ送出す
る。The output data added from all the channels output from the product-sum operation unit 6 is shaped by a RN (root Nyquist) filter 7 and then input to a modulation unit 8. The modulator 8 modulates the carrier frequency signal with the input output data (test pattern data after addition) and sends the modulated signal to the output RF (high frequency) interface 9. Output RF
The interface 9 sends the modulated signal output from the modulator 8 to the terminal under test 1 as a CDMA test signal a.
【0009】一方、CDMA試験信号受信解析装置3に
おいては、入力RF(高周波)インタフェース10は、
被試験端末1から送信された高周波のCDMA測定信号
bを低周波(中間周波数)に周波数変換して、次の復調
部11へ送出する。復調部11は、入力されたCDMA
測定信号bをベースバンド信号に復調してスペクトラム
逆拡散部12へ送出する。On the other hand, in the CDMA test signal reception analyzer 3, the input RF (high frequency) interface 10
The high-frequency CDMA measurement signal b transmitted from the terminal under test 1 is frequency-converted to a low frequency (intermediate frequency) and transmitted to the next demodulation unit 11. The demodulation unit 11 receives the input CDMA
The measurement signal b is demodulated into a baseband signal and transmitted to the spectrum despreading unit 12.
【0010】スペクトラム逆拡散部12は、各チャネル
毎に異なるPNパターンデータを用いて入力データに対
して、逆拡散処理処理を実施し、各チャネル毎の受信デ
ータを得て、次の復号部13へ送出する。復号部13は
入力された各チャネルの受信データに各種複合化処理を
施して解析部14へ送出する。解析部14は復号部13
で復号された各チャネルの受信データに対して、伝送エ
ラー、ビット誤り、シグナリング試験等の各種解析を実
施する。[0010] The spectrum despreading section 12 performs despreading processing on input data using different PN pattern data for each channel, obtains received data for each channel, and outputs the received data to the next decoding section 13. Send to The decoding unit 13 performs various decoding processes on the input reception data of each channel and sends the data to the analysis unit 14. The analysis unit 14 is a decoding unit 13
Various analyzes such as a transmission error, a bit error, and a signaling test are performed on the received data of each channel decoded in step (1).
【0011】このような構成の移動端末試験装置の一方
を構成するCDMA試験信号発生装置2におけるテスト
パターン発生部4、スペクトラム拡散部5及び積和演算
部6は図6に示すように構成されている。The test pattern generator 4, the spread spectrum unit 5, and the product-sum operation unit 6 in the CDMA test signal generator 2 which constitutes one of the mobile terminal test apparatuses having such a configuration are configured as shown in FIG. I have.
【0012】テストパターン発生部4内には、例えば6
チャネルの各チャネル毎にテストパターン発生部4aが
組込まれている。各チャネルのテストパターン発生部4
aは、一対のベースバンドデータI,Qからなるテスト
パターンデータをスペクトラム拡散部5における対応す
るチャネルの乗算部5aへ送出する。In the test pattern generator 4, for example, 6
A test pattern generator 4a is incorporated for each channel. Test pattern generator 4 for each channel
a transmits test pattern data composed of a pair of baseband data I and Q to the multiplier 5a of the corresponding channel in the spread spectrum unit 5.
【0013】各チャネルの乗算部5aは一対のベースバ
ンドデータI,QとPNパターン発生部5bから出力さ
れたPNパターンデータとを乗算することによって、一
対のベースバンドデータI,Qをスペクトラム拡散し
て、次の積和演算部6における対応するチャネルの重み
付部6aへ送出する。The multiplier 5a of each channel multiplies the pair of baseband data I and Q by the PN pattern data output from the PN pattern generator 5b to spread the pair of baseband data I and Q. Then, the signal is sent to the weighting unit 6a of the corresponding channel in the next product-sum operation unit 6.
【0014】積和演算部6における対応するチャネルの
重み付部6aは、入力されたスペクトラム拡散された各
ベースバンドデータI、Qに対して、重み係数メモリ6
bに記憶された該当チャネルに設定された重み係数Gを
乗算して、各ベースバンドデータI,Q毎の各乗算値I
G、QGを加算部6cへ送出する。A weighting section 6a for the corresponding channel in the product-sum operation section 6 stores a weighting coefficient memory 6 for each of the input baseband data I and Q spread spectrum.
b is multiplied by the weight coefficient G set for the corresponding channel stored in the corresponding channel, and each multiplied value I for each baseband data I and Q is obtained.
G and QG are sent to the adder 6c.
【0015】なお、各チャネル毎に重み係数Gを異なる
値に設定することにより、各チャネルの試験信号の振幅
で示される信号強度を異なる値に設定できる。By setting the weight coefficient G to a different value for each channel, the signal strength indicated by the amplitude of the test signal of each channel can be set to a different value.
【0016】加算部6cは、各チャネルの重み付部6a
から出力された各ベースバンドデータI,Qの各乗算値
IG、QGを全てのチャネルに亘って、I相,Q相毎に
加算して、I相,Q相毎の加算値ΣIG、ΣQGを算出
して、次のRNフィルタ7へ送出する。The adder 6c includes a weighter 6a for each channel.
Are added for each of the I-phase and Q-phases over all the channels, and the added values ΣIG and ΣQG for each of the I- and Q-phases are added. The calculated value is sent to the next RN filter 7.
【0017】ここで、スペクトラム拡散部5がQPSK
方式を採用する場合においては、各チャネルの乗算部5
aから出力される各ベースバンドデータI,Qは、+
1,―1、0の3種類の値を取り得るので、各ベースバ
ンドデータI,Qは2ビットで表現される。したがっ
て、スペクトラム拡散された後に積和演算部6へ入され
る各ベースバンドデータI,Qも2ビットで表現でき
る。Here, the spread spectrum unit 5 is QPSK.
When the system is adopted, the multiplication unit 5 of each channel is used.
Each of the baseband data I and Q output from a is +
Since three types of values 1, 1, and 0 can be taken, each baseband data I, Q is represented by 2 bits. Therefore, each of the baseband data I and Q input to the product-sum operation unit 6 after being spread spectrum can also be represented by 2 bits.
【0018】加算部6cから出力されるベースバンドデ
ータI,Q毎の加算値ΣIG、ΣQGの必要とするビッ
ト数は、乗算する重み係数Gのダイナミックレンジにも
よるが、例えば16ビットで表現される。The number of bits required for the added values ΣIG and ΣQG for each of the baseband data I and Q output from the adder 6c is represented by, for example, 16 bits, depending on the dynamic range of the weighting coefficient G to be multiplied. You.
【0019】[0019]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図5に
示す移動端末試験装置の一方を構成するCDMA試験信
号発生装置2においてもまだ解消すべき次のような課題
があった。すなわち、このCDMA試験信号発生装置2
に組込まれている積和演算部6は、図6に示すように、
各チャネルのテストパターン発生部4aから出力される
テストパターンデータが一対のベースバンドデータI,
Qで構成されている場合は、乗算器で構成された重み付
部部6aは、チャネル数Nの2倍の数2Nだけ必要であ
る。また、加算部6cにおいては、各ベースバンドデー
タI,Qの各乗算値IG、QGを加算するのに、I相、
Q相毎に、それぞれ(Nー1)個の加算器が必要であ
る。よって、合計2(N―1)個の加算器が必要であ
る。However, the CDMA test signal generator 2 constituting one of the mobile terminal test apparatuses shown in FIG. 5 has the following problems to be solved. That is, the CDMA test signal generator 2
As shown in FIG. 6, the product-sum operation unit 6 incorporated in
The test pattern data output from the test pattern generator 4a of each channel is a pair of baseband data I,
In the case where the number of channels is N, the weighting unit 6a composed of a multiplier needs 2N, which is twice the number N of channels. The addition unit 6c adds the multiplication values IG and QG of the baseband data I and Q to the I-phase,
For each Q phase, (N-1) adders are required. Therefore, a total of 2 (N-1) adders are required.
【0020】したがって、Nチャネルの場合、積和演算
部6は2N個の乗算器(重み付部6a)と2(N―1)
個の加算器が必要である。例えば、6チャネルの場合、
12個の乗算器と10個の加算器が必要である。よっ
て、積和演算部6全体の構成が複雑かつ大型化するのみ
ならず、製造費が大幅に上昇する問題がある。Therefore, in the case of N channels, the product-sum operation unit 6 includes 2N multipliers (weighting units 6a) and 2 (N-1)
Adders are required. For example, in the case of 6 channels,
Twelve multipliers and ten adders are required. Therefore, there is a problem that not only the overall configuration of the product-sum operation unit 6 becomes complicated and large, but also that the manufacturing cost increases significantly.
【0021】さらに、スペクトラム拡散された後の各チ
ャネルのベースバンドデータI,Qに重み付けをして加
算する処理(ΣIG、ΣQG)は、I相、Q相それぞれ
について同様の処理である。したがって、I相、Q相そ
れぞれの回路構成に重複した機能が含まれる懸念があ
り、積和演算部6全体の構成がさらに非効率的となる懸
念がある。Further, the process of weighting and adding the baseband data I and Q of each channel after the spread spectrum (ΔIG, ΔQG) is the same process for each of the I phase and the Q phase. Therefore, there is a concern that the circuit configuration of each of the I-phase and the Q-phase may include redundant functions, and that the overall configuration of the product-sum operation unit 6 may be further inefficient.
【0022】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、積和演算部をメモリテーブル構成とするこ
とによって、簡単な構成で、小型で安価なCDMA試験
信号発生装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a small-sized and inexpensive CDMA test signal generator with a simple configuration by forming a product-sum operation unit in a memory table configuration. With the goal.
【0023】[0023]
【課題を解決するための手段】本発明は、各チャネル毎
のI相及びQ相の一対のベースバンドデータからなるテ
ストパターンデータを出力する複数のテストパターン発
生部と、各テストパターン発生部から出力される一対の
ベースバンドデータからなるテストパターンデータに対
して、それぞれ異なるパターンを有するPNパターンデ
ータを乗算して各テストパターンデータをスペクトラム
拡散するスペクトラム拡散部と、このスペクトラム拡散
された各チャネルのI相及びQ相の一対のベースバンド
データからなるテストパターンデータに対して該当チャ
ネルに設定された重み係数を乗算して、乗算された各チ
ャネルのI相、Q相毎の乗算値を全チャネルに亘って加
算し、チャネル多重演算を実施する積和演算部と、搬送
周波数信号を積和演算部のI相及びQ相の出力データで
変調する直交変調部と、この直交変調部の出力信号をC
DMA試験信号として出力する出力部とを備えたCDM
A試験信号発生装置に適用される。According to the present invention, there are provided a plurality of test pattern generators for outputting test pattern data comprising a pair of I-phase and Q-phase baseband data for each channel; A test pattern data consisting of a pair of baseband data to be output is multiplied by PN pattern data having different patterns to spread the test pattern data, and a spread spectrum unit for spread spectrum of each test pattern data. The test pattern data including a pair of baseband data of the I phase and the Q phase is multiplied by a weight coefficient set for the corresponding channel, and the multiplied value for each of the I and Q phases of each channel is applied to all the channels. And a sum-of-products operation unit for performing a channel multiplexing operation and summing the carrier frequency signal A quadrature modulation unit, the output signal of the quadrature modulating portion C which modulates the output data of the I-phase and Q-phase calculation section
Output unit for outputting as a DMA test signal
Applied to A test signal generator.
【0024】そして、請求項1のCDMA試験信号発生
装置においては、上述した積和演算部は、各アドレスに
対して、各チャネルの各ベースバンドデータが取り得る
全ての値における全てのチャネルに亘る各組合せが割付
けられ、各アドレスで指定された位置に該当アドレスが
示すベースバンドデータの組合せで得られる加算値を記
憶したI相及びQ相に対応した一対の積和演算メモリテ
ーブルで構成している。In the CDMA test signal generator according to the first aspect of the present invention, the product-sum operation unit covers all channels in all possible values of each baseband data of each channel for each address. Each combination is allocated, and a pair of multiply-accumulate operation memory tables corresponding to the I-phase and the Q-phase in which the added value obtained by the combination of the baseband data indicated by the corresponding address is stored at the position designated by each address. I have.
【0025】このように構成されたCDMA試験信号発
生装置においては、スペクトラム拡散された各チャネル
のテストパターンデータに対して重み係数を乗算して、
かつ乗算された各チャネルの乗算値を全チャネルに亘っ
て加算する機能は積和演算メモリテーブルで実現され
る。In the CDMA test signal generator configured as described above, the test pattern data of each channel subjected to spread spectrum is multiplied by a weighting factor.
The function of adding the multiplied values of the respective channels over all the channels is realized by a product-sum operation memory table.
【0026】すなわち、スペクトラム拡散部から出力さ
れた各チャネルの各テストパターンデータは積和演算メ
モリテーブルのアドレス端子にアドレス値として入力さ
れる。そして、このアドレス値で指定された位置に記憶
されている対応する演算結果が読出される。That is, each test pattern data of each channel output from the spread spectrum unit is input as an address value to an address terminal of the product-sum operation memory table. Then, the corresponding operation result stored at the position specified by the address value is read.
【0027】したがって、チャネル数に対応して定まる
数の乗算器や加算器が不要となるので、回路構成を飛躍
的に簡素化できる。各加算値が予め計算されて記憶され
ており、この記憶されているいる必要な加算値を読出す
のみである。Therefore, the number of multipliers and adders determined according to the number of channels is not required, so that the circuit configuration can be greatly simplified. Each addition value is calculated and stored in advance, and only the stored necessary addition value is read out.
【0028】また、スペクトラム拡散部から出力される
テストパターンデータはI相、Q相の一対のベースバン
ドデータで構成される。したがって、I相、Q相毎に、
一対の積和演算メモリテーブルが設けられている。The test pattern data output from the spread spectrum unit is composed of a pair of I-phase and Q-phase baseband data. Therefore, for each I phase and Q phase,
A pair of product-sum operation memory tables is provided.
【0029】また、請求項2のCDMA試験信号発生装
置においては、上述した積和演算部を、各アドレスに対
して、各チャネルの各ベースバンドデータが取り得る全
ての値における全てのチャネルに亘る各組合せが割付け
られ、各アドレスで指定された位置に該当アドレスが示
すベースバンドデータの組合せで得られる加算値を記憶
した1個の積和演算メモリテーブルと、この1個の積和
演算メモリテーブルをI相及びQ相用として時分割して
使用するための切換部とで構成している。Further, in the CDMA test signal generator according to the second aspect, the above-mentioned product-sum operation unit is provided for all the channels in all possible values of each baseband data of each channel for each address. One product-sum operation memory table in which each combination is allocated and an added value obtained by a combination of baseband data indicated by the corresponding address is stored at a position specified by each address; and one product-sum operation memory table And a switching unit for time-division use for the I-phase and the Q-phase.
【0030】前述したように、スペクトラム拡散された
後の各チャネルのベースバンドデータI,Qに重み付け
する処理は,I相、Q相それぞれについて同様の処理で
ある。したがって、請求項2のCDMA試験信号発生装
置においては、切換部で、1個の積和演算メモリテーブ
ルをI相、Q相毎に時分割して使用するようにしてい
る。As described above, the process of weighting the baseband data I and Q of each channel after spectrum spreading is the same for each of the I phase and the Q phase. Therefore, in the CDMA test signal generator according to the second aspect, the switching unit uses one product-sum operation memory table in a time-division manner for each of the I phase and the Q phase.
【0031】よって、積和演算メモリテーブルの必要と
する記憶容量を節減できる。Therefore, the required storage capacity of the product-sum operation memory table can be reduced.
【0032】さらに、請求項3におけるCDMA試験信
号発生装置においては、上述した発明のCDMA試験信
号発生装置に対して、さらに、積和演算メモリテーブル
の各アドレスで指定された位置の各加算値を、各チャネ
ルに対する重み係数を変更した場合における各加算値に
書換える加算値書換手段を付加している。Further, in the CDMA test signal generator according to the third aspect of the present invention, the CDMA test signal generator of the present invention is further provided with each additional value at a position specified by each address of the product-sum operation memory table. An addition value rewriting means for rewriting each addition value when the weight coefficient for each channel is changed is added.
【0033】このように構成されたCDMA試験信号発
止装置においては、各チャネルに対する重み係数を変更
して試験を実施する必要が生じた場合は、予め変更後の
重み係数を用いて各加算値を算出して、算出した各加算
値を積和演算メモリテーブルの対応するアドレスの指定
位置に書き込むのみでよい。In the thus configured CDMA test signal issuing apparatus, when it is necessary to change the weighting factor for each channel and execute the test, each added value is calculated using the weighting factor changed in advance. , And writing the calculated addition value to the designated position of the corresponding address in the product-sum operation memory table.
【0034】[0034]
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施形態を図面
を用いて説明する。 (第1実施形態)図1は、本発明の第1実施形態に係わ
るCDMA試験信号発生装置の概略構成を示すブロック
図である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a CDMA test signal generator according to a first embodiment of the present invention.
【0035】このCDMA試験信号発生装置は、例え
ば、合計6チャネル分のデータを送信することが可能で
ある。したがって、このCDMA試験信号発生装置内に
は、各チャネルに対応して、6台のテストパターン発生
部21が設けられている。各テストパターン発生部21
は、一対の2ビット構成のデジタルのベースバンドデー
タI(I1 ,I2 ,…,I6 ),Q(Q1 、Q2 、…,
Q6 )からなるテストパターンデータをそれぞれ出力す
る。The CDMA test signal generator can transmit, for example, data for a total of six channels. Therefore, in the CDMA test signal generator, six test pattern generators 21 are provided for each channel. Each test pattern generator 21
Are a pair of 2-bit digital baseband data I (I 1 , I 2 ,..., I 6 ), Q (Q 1 , Q 2 ,.
And it outputs the test pattern data consisting of Q 6).
【0036】各テストパターン発生部21から出力され
たベースバンドデータI(I1 ,I2 ,…,I6 ),Q
(Q1 ,Q2 ,…,Q6 )は、それぞれ該当チャネルの
I相(同相成分),Q相(直交成分)毎に設けられた各
拡散部22へ入力される。各拡散部22にはPNパター
ン発生部23から同一ビット周期を有しかつ異なるビッ
トパターンを有したPNパターンデータが供給される。The baseband data I (I 1 , I 2 ,..., I 6 ), Q output from each test pattern generator 21
(Q 1 , Q 2 ,..., Q 6 ) are input to the respective spreading sections 22 provided for the I phase (in-phase component) and the Q phase (quadrature component) of the corresponding channel. Each spreading section 22 is supplied with PN pattern data having the same bit period and different bit patterns from the PN pattern generating section 23.
【0037】拡散部22は、自己に入力されたベースバ
ンドデータI,QとPNパターン発生部23から供給さ
れた2ビット構成のPNパターンデータとを複素演算す
ることによって、一対のベースバンドデータI,Qをス
ペクトラム拡散して、スペクトラム拡散後の新たなベー
スバンドデータIa(Ia1 ,Ia2 ,…,Ia6 ),
Qa(Qa1 ,Qa2 ,…,Qa6 )として次の積和演
算部24へ送出する。この新たなベースバンドデータI
a,Qaは、{―1,0,+1}の3種類の値をとるの
で、2ビット構成である。The spreading section 22 performs a complex operation on the baseband data I and Q inputted thereto and the 2-bit PN pattern data supplied from the PN pattern generating section 23 to form a pair of baseband data I and Q. , Q are spread, and new baseband data Ia (Ia 1 , Ia 2 ,..., Ia 6 ) after the spread spectrum is obtained.
Qa (Qa 1 , Qa 2 ,..., Qa 6 ) is sent to the following product-sum operation unit 24. This new baseband data I
Since a and Qa take three values {-1, 0, +1}, they have a 2-bit configuration.
【0038】前記PNパターン発生部23は、同一ビッ
ト周期を有しかつ異なるビットパターンを有した多数の
PNパターンデータを、コンピユータからなる制御部2
6からの指示に基づいて生成し、クロック発生部25か
らのクロック信号kに同期して各拡散部22へ送出す
る。The PN pattern generating section 23 outputs a large number of PN pattern data having the same bit period and different bit patterns to the control section 2 comprising a computer.
6, and is transmitted to each spreading section 22 in synchronization with the clock signal k from the clock generating section 25.
【0039】よって、各拡散部22及びPNパターン発
生部23は、各テストパターン発生部21から出力され
た各パターンデータをスペクトラム拡散するスペクトラ
ム拡散部を構成する。Therefore, each of the spreading sections 22 and the PN pattern generating section 23 constitute a spectrum spreading section that spreads each pattern data output from each of the test pattern generating sections 21 in a spectrum.
【0040】積和演算部24は、I相、Q相に対応した
一対の積和演算メモリテーブル24a,24bで構成さ
れており、重み付けしたチャネル多重を実現する。I相
(同相成分)に対応する積和演算メモリテーブル24a
は、例えば、6チャネル多重する場合は、図2(a)に
示すように、12ビット構成の各アドレスA0 ,A1 ,
…が指定する位置に、該当アドレスA0 ,A1 ,…に対
応する加算値(ΣIG)0 ,(ΣIG)1 ,…が記憶さ
れている。The product-sum operation unit 24 is composed of a pair of product-sum operation memory tables 24a and 24b corresponding to the I and Q phases, and implements weighted channel multiplexing. Product-sum operation memory table 24a corresponding to I-phase (in-phase component)
For example, when multiplexing six channels, as shown in FIG. 2A, each address A 0 , A 1 ,
... in a position to specify the appropriate address A 0, A 1, corresponding additional value to ... (ΣIG) 0, (ΣIG ) 1, ... it is stored.
【0041】12ビット構成の各アドレスA0 ,A1 ,
…の各桁d1 ,d2 ,d3 ,…,d12の各端子に対し
て、先頭から2ビットずつ各チャネルにおける拡散後の
2ビット構成のベースバンドデータIa1 ,Ia2 ,
…,Ia6 が入力される。Each of the 12-bit addresses A 0 , A 1 ,
... each digit d 1, d 2, d 3 , ..., for each terminal of the d 12, baseband data Ia of two bits from the first two-bit configuration after spreading in each channel 1, Ia 2,
.., Ia 6 are input.
【0042】したがって、積和演算メモリテーブル24
aを12桁のアドレス空間で構成することによって、6
チャネルにおける各チャネルのベースバンドデータIa
1 ,Ia2 ,…,Ia6 が取りうる全ての組合せに対し
て、それぞれ対応する加算値(ΣIG)0 ,(ΣIG)
1 ,…が設定可能である。Therefore, the product-sum operation memory table 24
By constructing a with a 12-digit address space, 6
Baseband data Ia of each channel in channel
Addition values (ΣIG) 0 and (ΣIG) corresponding to all possible combinations of 1 , Ia 2 ,..., Ia 6
1 , ... can be set.
【0043】次に各アドレスA0 ,A1 ,…の指定位置
に設定される各加算値(ΣIG)0,(ΣIG)1 ,…
の値を説明する。すなわち、図6で説明したように、1
〜6の各チャネルに対して予め設定された各重み係数G
1 ,G2 ,…,G5 ,G6 を対応するチャネルの各チャ
ネルにおける拡散後の2ビット構成のベースバンドデー
タIa1 ,Ia2 ,…,Ia6 と乗算した各乗算値(I
a1G1),(Ia2G2),…,(Ia6G6)を1〜6の
全部のチャネルに対して加算した下記に示す加算値ΣI
Gが該当アドレスAの指定位置に書込まれている。Next, each addition value (@IG) 0 , (@IG) 1 ,... Set at the designated position of each address A 0 , A 1 ,.
Will be described. That is, as described with reference to FIG.
Weighting factors G preset for each channel of
1, G 2, ..., G 5, G 6 baseband data Ia 1 of 2-bit configuration after spreading in each channel of the corresponding channel, Ia 2, ..., the multiplication value obtained by multiplying the Ia 6 (I
a 1 G 1 ), (Ia 2 G 2 ),..., (Ia 6 G 6 ) are added to all the channels 1 to 6 and the following addition value {I
G is written in the designated position of the corresponding address A.
【0044】ΣIG=(Ia1G1)+(Ia2G2)+…
+(Ia6G6) このように、スペクトラム拡散部から出力された各チャ
ネルの各ベースバンドデータIa1 ,Ia2 ,…,Ia
6 は積和演算メモリテーブル24aのアドレス端子に1
2ビットのアドレス値として入力される。そして、この
アドレス値で指定された位置に記憶されている対応する
加算値ΣIGが読出されて積和演算部24から出力さ
れ、チャネル多重かされたベースバンドデータIbとし
てRNフィルタ27aへ入力される。ΣIG = (Ia 1 G 1 ) + (Ia 2 G 2 ) +...
+ (Ia 6 G 6 ) As described above, each baseband data Ia 1 , Ia 2 ,..., Ia of each channel output from the spread spectrum unit.
6 is 1 in the address terminal of the product-sum operation memory table 24a.
It is input as a 2-bit address value. Then, the corresponding addition value ΣIG stored at the position designated by the address value is read out, output from product-sum operation unit 24, and input to RN filter 27a as channel-multiplexed baseband data Ib. .
【0045】他方のQ相(直交成分)に対応する積和演
算メモリテーブル24bは、図2(b)に示すように、
12ビット構成の各アドレスA0 ,A1 ,…が指定する
位置に、該当アドレスA0 ,A1 ,…に対応する加算値
(ΣQG)0 ,(ΣQG)1,…が記憶されている。The product-sum operation memory table 24b corresponding to the other Q-phase (orthogonal component) has, as shown in FIG.
12 bits each address configuration A 0, A 1, to a position where ... is specified, the corresponding address A 0, A 1, corresponding additional value to ... (ΣQG) 0, (ΣQG ) 1, ... are stored.
【0046】各加算値(ΣQG)0 ,(ΣQG)1 ,…
の決定方法はI相(同相成分)に対応する積和演算メモ
リテーブル24aと同じであるので説明を省略する。Each of the added values (GQG) 0 , (GQG) 1 ,.
Is the same as that of the sum-of-products operation memory table 24a corresponding to the I-phase (in-phase component), and a description thereof will be omitted.
【0047】したがって、スペクトラム拡散部から出力
された各チャネルの各ベースバンドデータQa1 ,Qa
2 ,…,Qa6 が積和演算メモリテーブル24bの12
ビット構成の各アドレス端子へ印加されると、この各ベ
ースバンドデータQa1 ,Qa2 ,…,Qa6 の値で示
されるアドレスAの指定位置に記憶されている加算値Σ
QGが読出されて積和演算部24から出力され、チャネ
ル多重化されたベースバンドデータQbとしてRNフィ
ルタ27bへ入力される。Therefore, each baseband data Qa 1 , Qa of each channel output from the spread spectrum unit is output.
2, ..., 12 Qa 6 is a product-sum operation memory table 24b
When applied to the address terminals of bits, the respective baseband data Qa 1, Qa 2, ..., the added value that is stored in the designated position of the address A indicated by the value of Qa 6 sigma
The QG is read out and output from the product-sum operation unit 24, and is input to the RN filter 27b as channel-multiplexed baseband data Qb.
【0048】なお、積和演算部24内に設けられた各積
和演算メモリテーブル24a,24bの各アドレスAに
対する各加算値ΣIG(=Ib)、ΣQG(=Qb)の
書込処理は、コンピユータからなる制御部26が実施す
る。It should be noted that the process of writing the addition values .SIGMA.IG (= Ib) and .SIGMA. The control unit 26 is implemented.
【0049】具体的には、制御部26が各積和演算メモ
リテーブル24a,24bに対するR/W信号を書込状
態に設定した状態で、アドレスAを指定して、データ端
子に各加算値ΣIG(=Ib)、ΣQG(=Qb)を印
加して、各アドレスA位置に各加算値ΣIG(=I
b)、ΣQG(=Qb)を書込む。More specifically, in a state where the control unit 26 has set the R / W signal for each of the product-sum operation memory tables 24a and 24b to the write state, the address A is designated, and each addition value ΣIG is applied to the data terminal. (= Ib) and ΣQG (= Qb), and each addition value ΣIG (= I
b), ΣQG (= Qb) is written.
【0050】さらに、各チャネルを多重化する際の重み
付け方を変更する場合、積和演算部24の各積和演算メ
モリテーブル24a,24bに書込む各加算値ΣIG
(=Ib)、ΣQG(=Qb)を変更するが、その場合
においても同様の処理手順を実施する。Further, when the weighting method for multiplexing each channel is changed, each addition value ΣIG written in each of the product-sum operation memory tables 24a and 24b of the product-sum operation unit 24 is used.
(= Ib) and ΣQG (= Qb) are changed, but in such a case, the same processing procedure is performed.
【0051】なお、コンピユータからなる制御部26に
おいては、各チャネルに対する重み係数G1 ,G2 ,
…,G5 ,G6 を与えた場合における各加算値ΣIG
(=Ib)、ΣQG(=Qb)を求める計算プログラム
が記憶されており、例えば、操作者が各チャネルに対す
る重み係数G1 ,G2 ,…,G5 ,G6 を与えると、各
加算値ΣIG(=Ib)、ΣQG(=Qb)が自動的に
算出されて、さらに、自動的に各積和演算メモリテーブ
ル24a,24bに書込まれる。In the control section 26 composed of a computer, the weighting factors G 1 , G 2 ,
…, G 5 , G 6 , each addition value ΣIG
(= Ib) and ΣQG (= Qb) are stored. For example, when the operator gives weighting coefficients G 1 , G 2 ,..., G 5 , G 6 for each channel, ΣIG (= Ib) and ΣQG (= Qb) are automatically calculated, and are automatically written into the product-sum operation memory tables 24a and 24b.
【0052】積和演算部24から出力されたチャネル多
重化されたベースバンドデータIb,QbはそれぞれR
Nフィルタ27a,27bで波形整形された後、直交変
調部28へ入力される。直交変調部28は、搬送周波数
信号をベースバンドデータIb,Qbで直交変調して、
出力RF(高周波)インタフェース29へ送出する。出
力RFインタフェース29は、直交変調部28から出力
された変調信号をCDMA試験信号aとして、被試験端
末へ送出する。The channel-multiplexed baseband data Ib and Qb output from the product-sum operation unit 24 are R
After the waveforms are shaped by the N filters 27a and 27b, they are input to the quadrature modulator 28. The quadrature modulator 28 quadrature modulates the carrier frequency signal with the baseband data Ib, Qb,
Output to the RF (high frequency) interface 29. The output RF interface 29 sends the modulated signal output from the quadrature modulator 28 as a CDMA test signal a to the terminal under test.
【0053】このように構成された第1実施形態のCD
MA試験信号発生装置においては、スペクトラム拡散さ
れた各チャネルのベースバンドデータIa(Ia1 ,I
a2,…,Ia6 ),Qa(Qa1 ,Qa2 ,…,Qa
6 )に対して重み係数G1 ,G2 ,…,G5 ,G6 を乗
算して、かつ乗算された各チャネルの乗算値(Ia
1G1),(Ia2G2),…,(Ia6G6)、(Qa
1G1),(Qa2G2),…,(Qa6G6)を全チャネル
に亘って加算して加算値(ΣIG)0 ,(ΣIG)1,
…(ΣQG)0 ,(ΣQG)1 ,…を得る積和演算部2
4の機能は、I相,Q相毎の積和演算メモリテーブル2
4a、24bで実現される。The thus configured CD of the first embodiment
In the MA test signal generator, the baseband data Ia (Ia 1 , Ia 1)
a 2, ..., Ia 6) , Qa (Qa 1, Qa 2, ..., Qa
6 ) are multiplied by weighting factors G 1 , G 2 ,..., G 5 , G 6 , and the multiplied value (Ia
1 G 1 ), (Ia 2 G 2 ),..., (Ia 6 G 6 ), (Qa
1 G 1 ), (Qa 2 G 2 ),..., (Qa 6 G 6 ) are added over all channels, and the added values (ΣIG) 0 , (ΣIG) 1 ,
積 (ΣQG) 0 , (ΣQG) 1 ,...
The function 4 is a product-sum operation memory table 2 for each of the I-phase and the Q-phase.
4a and 24b.
【0054】したがって、チャネル数に対応して定まる
数の乗算器や加算器が不要となるので、積和演算部24
の回路構成を飛躍的に簡素化できる。具体的には、上述
した6チャネルの場合は、積和演算メモリテーブル24
a、24bをそれぞれ8Kアドレスのメモリ素子で実現
できる。Accordingly, since the number of multipliers and adders determined according to the number of channels is not required, the product-sum operation unit 24
Can be dramatically simplified. Specifically, in the case of the above-described six channels, the product-sum operation memory table 24
Each of a and 24b can be realized by a memory element having an 8K address.
【0055】また、実際に計算を実施するのではなく
て、記憶されている必要な加算値を読出すのみであるの
で、出力されるCDMA試験信号の信頼性を向上でき
る。Further, since the necessary added value stored is merely read out without actually performing the calculation, the reliability of the output CDMA test signal can be improved.
【0056】また、各チャネルに対する重み係数G1 ,
G2 ,…,G5 ,G6を変更して試験を実施する必要が
生じた場合は、制御部26が動作して、操作入力された
変更後の重み係数を用いて各加算値ΣIG ,ΣQGを
算出して、算出した各加算値ΣIG ,ΣQGを積和演
算メモリテーブル24a,24bの対応するアドレスの
指定位置に自動的に書込まれる。よって、簡単に各チャ
ネルに対する重み係数Gを変更できる。The weighting factors G 1 ,
If it becomes necessary to perform the test while changing G 2 ,..., G 5 , G 6 , the control unit 26 operates to use each of the added values {IG , ΣQG and each calculated addition value ΣIG , ΣQG are automatically written into the product-sum operation memory tables 24a, 24b at the designated positions of the corresponding addresses. Therefore, the weight coefficient G for each channel can be easily changed.
【0057】但し、重みを変更する場合には、送信尊号
を継続的に出力する事はできないが、途中で重みを変更
する必要がない移動端末試験装置(例えば、シグナルテ
スタ)等に適用することができる。However, when the weight is changed, it is not possible to continuously output the transmission code, but the present invention is applied to a mobile terminal test device (for example, a signal tester) which does not need to change the weight on the way. Can be.
【0058】(第2実施形態)図3は本発明の第2実施
形態に係わるCDMA試験信号発生装置の概略構成を示
すブロック図である。図1に示す第1実施形態のCDM
A試験信号発生装置と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明を省略する。(Second Embodiment) FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a CDMA test signal generator according to a second embodiment of the present invention. CDM of the first embodiment shown in FIG.
The same parts as those of the A test signal generator are denoted by the same reference numerals. Therefore, the detailed description of the overlapping part will be omitted.
【0059】この第2実施形態のCDMA試験信号発生
装置においては、積和演算部24は、1個の積和演算メ
モリテーブル24cと、この積和演算メモリテーブル2
4cの前段に設置された切換回路24dと、この積和演
算メモリテーブル24cの後段に設置された切換回路2
4eとで構成されている。In the CDMA test signal generator according to the second embodiment, the product-sum operation unit 24 includes one product-sum operation memory table 24c and the product-sum operation memory table 2c.
4c, and a switching circuit 2d disposed after the product-sum operation memory table 24c.
4e.
【0060】積和演算メモリテーブル24cは、図4に
示すように、第1実施形態のCDMA試験信号発生装置
における図2に示す各積和演算メモリテーブル24a,
24bと同一構成を有する。As shown in FIG. 4, the sum-of-products operation memory table 24c of the CDMA test signal generator of the first embodiment shown in FIG.
It has the same configuration as 24b.
【0061】前述したように、スペクトラム拡散された
後の各チャネルのベースバンドデータIa,Qaの各値
が等しい場合は、加算後の各加算値ΣIG、ΣQGも等
しくなる。As described above, when the respective values of the baseband data Ia and Qa of each channel after the spread spectrum are equal, the respective added values ΣIG and ΣQG after the addition are also equal.
【0062】切換回路24dは、制御部26からのI
相、Q相に対応する切換指令I/Qに応じて、積和演算
メモリテーブル24cのアドレス端子に入力される各チ
ャネルのスペクトラム拡散後の各ベースバンドデータI
a,Qaを時分割で切換える。The switching circuit 24d receives the I signal from the control unit 26.
Each baseband data I after the spread spectrum of each channel inputted to the address terminal of the product-sum operation memory table 24c according to the switching command I / Q corresponding to the phase and the Q phase.
a and Qa are switched by time division.
【0063】一方、切換回路24eは、制御部26から
のI相、Q相に対する切換指令I/Qに応じて、積和演
算メモリテーブル24cのデータ端子(出力端子)から
出力される各加算値をI相、Q相に割当てられた各RN
フィルタ27a、27bへ切換えて入力させる。On the other hand, the switching circuit 24e responds to the switching command I / Q for the I-phase and the Q-phase from the control unit 26, and outputs each addition value output from the data terminal (output terminal) of the product-sum operation memory table 24c. Is the RN assigned to each of the I phase and the Q phase.
The input is switched to the filters 27a and 27b.
【0064】制御部26は、各ベースバンドデータI,
Qのサンプルレート(チップレート)の2倍の速度で、
各切換回路24d、24eを同期して切り換える。した
がって、各切換回路24d、24eがI相(同相成分)
側に切換されている期間においては、積和演算メモリテ
ーブル24cには各チャネルのベースバンドデータIa
が入力され、積和演算メモリテーブル24cからRNフ
ィルタ27aへ加算値ΣIG(=Ib)が入力される。The control unit 26 controls each baseband data I,
At twice the sample rate (chip rate) of Q,
The switching circuits 24d and 24e are switched synchronously. Therefore, each of the switching circuits 24d and 24e is an I-phase (in-phase component).
During the period of switching to the side, the product-sum operation memory table 24c stores the baseband data Ia of each channel.
Is input, and the addition value メ モ リ IG (= Ib) is input from the product-sum operation memory table 24c to the RN filter 27a.
【0065】逆に、各切換回路24d、24eがQ相
(直交成分)側に切換されている期間においては、積和
演算メモリテーブル24cには各チャネルのベースバン
ドデータQaが入力され、同一の積和演算メモリテーブ
ル24cからRNフィルタ27bへ加算値ΣQG(=Q
b)が入力される。Conversely, during a period in which each of the switching circuits 24d and 24e is switched to the Q phase (quadrature component) side, the baseband data Qa of each channel is input to the product-sum operation memory table 24c, and the same From the product-sum operation memory table 24c to the RN filter 27b, the addition value ΣQG (= Q
b) is input.
【0066】すなわち、この第2実施形態のCDMA試
験信号発生装置においては、1個の積和演算メモリテー
ブル24cを、I相(同相成分)とQ相(直交成分)と
で時分割して使用するようにしている。よって、積和演
算部24として必要とする記憶容量を第1実施形態装置
に比較して半分に節減できる。That is, in the CDMA test signal generator of the second embodiment, one product-sum operation memory table 24c is used by time-sharing the I-phase (in-phase component) and the Q-phase (quadrature component). I am trying to do it. Therefore, the storage capacity required for the product-sum operation unit 24 can be reduced by half compared with the first embodiment.
【0067】[0067]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のCDMA
試験信号発生装置においては、スペクトラム拡散された
各チャネルのテストパターンデータに対して該当チャネ
ルに設定された重み係数を乗算して、乗算された各チャ
ネルの乗算値を全チャネルに亘って加算する積和演算部
(チャネル多重演算部)を、入力されるテストパターン
データの値をアドレスとし、そのアドレス値に積和演算
結果を記憶する積和演算メモリテーブルで構成してい
る。As described above, the CDMA of the present invention
The test signal generator multiplies the spread spectrum test pattern data of each channel by a weighting factor set for the corresponding channel, and adds the multiplied value of each channel over all channels. The sum operation unit (channel multiplex operation unit) is configured by a product-sum operation memory table in which the value of the input test pattern data is used as an address, and the product-sum operation result is stored in the address value.
【0068】したがって、簡単な構成で、小型で安価な
チャネル多重演算部を実現できる。Therefore, a small and inexpensive channel multiplexing operation unit can be realized with a simple configuration.
【0069】また、積和演算メモリテーブルの記憶内容
を書換え可能としている。したがって、各チャネルに設
定する各重み係数を簡単に変更できる。Further, the storage contents of the product-sum operation memory table can be rewritten. Therefore, each weight coefficient set for each channel can be easily changed.
【図1】本発明の第1実施形態に係わるCDMA試験信
号発生装置の概略構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a CDMA test signal generator according to a first embodiment of the present invention;
【図2】同CDMA試験信号発生装置内に形成された積
和演算メモリテーブルの記憶内容を示す図FIG. 2 is a diagram showing storage contents of a product-sum operation memory table formed in the CDMA test signal generator.
【図3】本発明の第2実施形態に係わるCDMA試験信
号発生装置の概略構成を示すブロック図FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a CDMA test signal generator according to a second embodiment of the present invention;
【図4】同CDMA試験信号発生装置内に形成された積
和演算メモリテーブルの記憶内容を示す図FIG. 4 is a diagram showing storage contents of a product-sum operation memory table formed in the CDMA test signal generator.
【図5】一般的な移動端末試験装置の概略構成を示すブ
ロック図FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a general mobile terminal test apparatus.
【図6】従来のCDMA試験信号発生装置の概略構成を
示すブロック図FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional CDMA test signal generator.
21…テストパターン発生部 22…信号合成部 23…PNパターン発生部 24…積和演算部 24a,24b,24c…積和演算部メモリテーブル 24d,24e…切換回路 25…クロック発生部 26…制御部 27a,27b…RNフィルタ 28…直交変調部 29…出力RFインタフェース Reference Signs List 21 test pattern generation unit 22 signal synthesis unit 23 PN pattern generation unit 24 sum-of-products calculation unit 24a, 24b, 24c sum-of-products calculation unit memory table 24d, 24e switching circuit 25 clock generation unit 26 control unit 27a, 27b RN filter 28 ... Quadrature modulator 29 ... Output RF interface
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柚木 一文 東京都港区虎ノ門二丁目10番1号 エヌ・ ティ・ティ移動通信網株式会社内 (72)発明者 東 明洋 東京都港区虎ノ門二丁目10番1号 エヌ・ ティ・ティ移動通信網株式会社内 (72)発明者 清尾 俊輔 東京都港区虎ノ門二丁目10番1号 エヌ・ ティ・ティ移動通信網株式会社内 Fターム(参考) 5K022 EE01 EE02 EE21 EE22 5K067 AA41 BB02 CC10 EE02 LL08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Kazufumi Yuzuki, 2-10-1, Toranomon, Minato-ku, Tokyo NTT Mobile Communications Network Co., Ltd. (72) Inventor Akihiro Higashi 2-chome Toranomon, Minato-ku, Tokyo No. 10-1 NTT Mobile Communication Network Co., Ltd. (72) Inventor Shunsuke Kiyo 2-10-1 Toranomon, Minato-ku, Tokyo F-term (reference) 5K022 EE01 EE02 EE21 EE22 5K067 AA41 BB02 CC10 EE02 LL08
Claims (3)
ースバンドデータからなるテストパターンデータを出力
する複数のテストパターン発生部(21)と、 各テストパターン発生部から出力される一対のベースバ
ンドデータからなるテストパターンデータに対して、そ
れぞれ異なるパターンを有するPNパターンデータを乗
算して各テストパターンデータをスペクトラム拡散する
スペクトラム拡散部(22,23)と、 このスペクトラム拡散された各チャネルのI相及びQ相
の一対のベースバンドデータからなるテストパターンデ
ータに対して該当チャネルに設定された重み係数を乗算
して、乗算された各チャネルのI相、Q相毎の乗算値を
全チャネルに亘って加算し、チャネル多重演算を実施す
る積和演算部(24)と、 搬送周波数信号を前記積和演算部のI相及びQ相の出力
データで変調する直交変調部(28)と、 この直交変調部の出力信号をCDMA試験信号として出
力する出力部(29)とを備えたCDMA試験信号発生装
置において、 前記積和演算部(24)は、各アドレスに対して、前記各
チャネルの各ベースバンドデータが取り得る全ての値に
おける全てのチャネルに亘る各組合せが割付けられ、各
アドレスで指定された位置に該当アドレスが示すベース
バンドデータの組合せで得られる加算値を記憶したI相
及びQ相に対応した一対の積和演算メモリテーブル(24
a,24b)で構成されたことを特徴とするCDMA試験信
号発生装置。1. A plurality of test pattern generators for outputting test pattern data comprising a pair of I-phase and Q-phase baseband data for each channel, and a pair of test pattern generators output from each test pattern generator. A spread spectrum unit (22, 23) for multiplying test pattern data consisting of baseband data by PN pattern data having different patterns to spread the spectrum of each test pattern data; The test pattern data including a pair of baseband data of the I phase and the Q phase is multiplied by a weight coefficient set for the corresponding channel, and the multiplied value for each of the I and Q phases of each channel is applied to all the channels. And a sum-of-products operation unit (24) for performing channel multiplexing operation over the carrier frequency signal. A CDMA test signal generator comprising: a quadrature modulator (28) for modulating with I-phase and Q-phase output data of a calculator; and an output unit (29) for outputting an output signal of the quadrature modulator as a CDMA test signal. In the above, the product-sum operation unit (24) assigns, to each address, each combination of all possible values of each baseband data of each channel over all channels, and designates each combination by each address. A pair of sum-of-products operation memory tables (24
a, 24b). A CDMA test signal generator.
ースバンドデータからなるテストパターンデータを出力
する複数のテストパターン発生部(21)と、 各テストパターン発生部から出力される一対のベースバ
ンドデータからなるテストパターンデータに対して、そ
れぞれ異なるパターンを有するPNパターンデータを乗
算して各テストパターンデータをスペクトラム拡散する
スペクトラム拡散部(22,23)と、 このスペクトラム拡散された各チャネルのI相及びQ相
の一対のベースバンドデータからなるテストパターンデ
ータに対して該当チャネルに設定された重み係数を乗算
して、乗算された各チャネルのI相、Q相毎の乗算値を
全チャネルに亘って加算し、チャネル多重演算を実施す
る積和演算部(24)と、 搬送周波数信号を前記積和演算部のI相、Q相毎の出力
データで変調する直交変調部(28)と、 この直交変調部の出力信号をCDMA試験信号として出
力する出力部(29)とを備えたCDMA試験信号発生装
置において、 前記積和演算部(24)は、各アドレスに対して、前記各
チャネルの各ベースバンドデータが取り得る全ての値に
おける全てのチャネルに亘る各組合せが割付けられ、各
アドレスで指定された位置に該当アドレスが示すベース
バンドデータの組合せで得られる加算値を記憶した1個
の積和演算メモリテーブル(24c)と、この1個の積和
演算メモリテーブルをI相及びQ相用として時分割して
使用するための切換部(24d,24e)とで構成されたこと
を特徴とするCDMA試験信号発生装置。2. A plurality of test pattern generators (21) for outputting test pattern data comprising a pair of I-phase and Q-phase baseband data for each channel, and a pair of test pattern generators output from each test pattern generator. A spread spectrum unit (22, 23) for multiplying test pattern data consisting of baseband data by PN pattern data having different patterns to spread the spectrum of each test pattern data; The test pattern data including a pair of baseband data of the I phase and the Q phase is multiplied by a weight coefficient set for the corresponding channel, and the multiplied value for each of the I and Q phases of each channel is applied to all the channels. And a sum-of-products operation unit (24) for performing channel multiplexing operation over the carrier frequency signal. A CDMA test signal generator comprising: a quadrature modulator (28) that modulates the output data of each of the I and Q phases of a calculator; and an output unit (29) that outputs the output signal of the quadrature modulator as a CDMA test signal. In the apparatus, the product-sum operation unit (24) assigns each combination of all possible values of each baseband data of each channel over all channels to each address, and designates each combination by each address. One sum-of-products operation memory table (24c) storing the added value obtained by the combination of the baseband data indicated by the corresponding address at the set position, and using this one sum-of-products operation memory table for the I phase and the Q phase A CDMA test signal generator comprising a switching section (24d, 24e) for use in a time-division manner.
スで指定された位置の各加算値を、各チャネルに対する
重み係数を変更した場合における各加算値に書換える加
算値書換手段(26)を備えたことを特徴とする請求項1
又は2記載のCDMA試験信号発生装置。3. An addition value rewriting means (26) for rewriting each addition value at a position designated by each address of the product-sum operation memory table to each addition value when a weight coefficient for each channel is changed. 2. The method according to claim 1, wherein
Or the CDMA test signal generator according to 2.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33746798A JP2000165291A (en) | 1998-11-27 | 1998-11-27 | Cdma test signal generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP33746798A JP2000165291A (en) | 1998-11-27 | 1998-11-27 | Cdma test signal generator |
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Publication Number | Publication Date |
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ID=18308925
Family Applications (1)
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JP (1) | JP2000165291A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007522700A (en) * | 2003-12-30 | 2007-08-09 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | CDMA integrated circuit demodulator with built-in test pattern generation |
JPWO2006134713A1 (en) * | 2005-06-14 | 2009-01-08 | アンリツ株式会社 | Communication device test signal generator and communication device test signal generation method |
-
1998
- 1998-11-27 JP JP33746798A patent/JP2000165291A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007522700A (en) * | 2003-12-30 | 2007-08-09 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | CDMA integrated circuit demodulator with built-in test pattern generation |
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JP4523941B2 (en) * | 2005-06-14 | 2010-08-11 | アンリツ株式会社 | Communication device test signal generator and communication device test signal generation method |
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