JP2000123433A - Optical pickup device - Google Patents

Optical pickup device

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JP2000123433A
JP2000123433A JP10289881A JP28988198A JP2000123433A JP 2000123433 A JP2000123433 A JP 2000123433A JP 10289881 A JP10289881 A JP 10289881A JP 28988198 A JP28988198 A JP 28988198A JP 2000123433 A JP2000123433 A JP 2000123433A
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Japan
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light
beam splitter
optical
magneto
recording medium
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JP10289881A
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Inventor
Yoshio Yoshida
圭男 吉田
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Sharp Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pickup device for a magneto-optical disk in which the size is small, the optical utilization efficiency is high, the degree of freedom in designing is high and the mass-productivity and the precision in processing are superior. SOLUTION: A beam splitter 2 is provided between a semiconductor laser 1 that is a light source, a collimating lens 10 which is a converging means to converge light beams emitted from the laser 1 on a magneto-optical recording medium 12 and an objective lens 11. The beam splitter 2 is mainly made of optical crystal having a parallelogram cross section and polarizes and separates the reflected light beams from the medium 12. A photodetector 7 is provided on a stem 8 being the same as the laser 1 to detect the reflected light beams that are branched by the beam splitter 2 from the medium 12. A first diffraction element 6 is arranged between the beam splitter 2 and the photodetector 7 to diffract a portion of the reflected light beams that are separated by the beam splitter 2 from the medium 12.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク駆動装
置、特に光磁気ディスク駆動装置に用いられる光ピック
アップ装置に関する。
The present invention relates to an optical disk drive, and more particularly to an optical pickup device used for a magneto-optical disk drive.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光磁気ディスク用の光ピックアッ
プ装置としては、例えば特開平8−329544号に図
10及び図11に示すようなものが開示されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an optical pickup device for a magneto-optical disk, for example, the one shown in FIGS. 10 and 11 is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-329544.

【0003】この光ピックアップ装置は、光学モジュー
ル101の内部にSi基板102が配置され、その上に
発光素子としての半導体レーザ103と受光素子として
の光検出器104、105、112が設けられている。
この光学モジュール101の内部を密封するようにガラ
ス又は樹脂からなる透明基板106が配置され、その半
導体レーザ103に対向する面には、略5゜〜20゜で
回折される±1次回折光の焦点位置が異なるようなレン
ズ効果を有するホログラム回折素子(回折格子)107
が設けられている。透明基板106の他方の面には、3
個の三角プリズム108P、108Q、108Rと薄型
偏光分離素子109とを組み合わせた偏光プリズム10
8が配置されている。この薄型偏光分離素子109は、
例えばニオブ酸リチウムからなる偏光分離回折素子であ
り、入射した光を互いに直交する2つの直線偏光成分に
分離して一方の直線偏光成分を0次光、他方の直線偏光
成分を±1次光として出射させる機能がある。この光モ
ジュール101と光磁気記録媒体111との間には、対
物レンズ110が配置されている。
In this optical pickup device, a Si substrate 102 is disposed inside an optical module 101, and a semiconductor laser 103 as a light emitting element and photodetectors 104, 105, and 112 as light receiving elements are provided thereon. .
A transparent substrate 106 made of glass or resin is disposed so as to hermetically seal the inside of the optical module 101, and a focus of ± 1st-order diffracted light diffracted by approximately 5 ° to 20 ° is provided on a surface facing the semiconductor laser 103. Holographic diffraction element (diffraction grating) 107 having a lens effect at different positions
Is provided. On the other surface of the transparent substrate 106, 3
Prism 10 in which three triangular prisms 108P, 108Q, 108R and thin polarization splitter 109 are combined
8 are arranged. This thin polarization separation element 109 is
For example, it is a polarization separation / diffraction element made of lithium niobate. The incident light is separated into two linearly polarized light components orthogonal to each other, and one linearly polarized light component is defined as a zero-order light and the other linearly polarized light component is defined as a ± first-order light. It has the function of emitting light. An objective lens 110 is arranged between the optical module 101 and the magneto-optical recording medium 111.

【0004】このように構成された従来の光磁気ディス
ク用の光ピックアップ装置の基本的動作について、以下
に説明する。
[0004] The basic operation of the conventional optical pickup device for a magneto-optical disk thus configured will be described below.

【0005】半導体レーザ103から放射されたP偏光
の光は、ホログラム回折素子107が設けられた透明基
板106を透過し、偏光プリズム108の偏光分離面1
08aに入射する。この偏光分離面108aでは、P偏
光の透過率が略70%、P偏光の反射率が略30%、S
偏光の反射率が略100%に設定されているので光の略
70%が透過し、対物レンズ110によって光磁気記録
媒体111上に集光される。そして、光磁気記録媒体1
11では、記録されている磁気信号によって光の偏光面
が約0.5゜回転され、光磁気信号成分として若干のS
偏光成分を得た光が反射される。この光磁気記録媒体1
11で反射された光は、再び対物レンズ110を透過し
て偏光プロジェクションリズム108の偏光分離面10
8aに戻る。このとき、偏光分離面108aでは、上述
のようにP偏光の透過率が略70%、P偏光の反射率が
略30%、S偏光の反射率が略100%に設定されてい
るのでP偏光成分の略70%が透過し、P偏光成分の3
0%と光磁気信号成分であるS偏光成分の100%が反
射する。
[0005] P-polarized light emitted from the semiconductor laser 103 passes through a transparent substrate 106 provided with a hologram diffraction element 107, and is polarized by a polarization separation surface 1 of a polarizing prism 108.
08a. In this polarization separation surface 108a, the transmittance of P-polarized light is approximately 70%, the reflectance of P-polarized light is approximately 30%, and S
Since the reflectance of the polarized light is set to approximately 100%, approximately 70% of the light is transmitted and condensed on the magneto-optical recording medium 111 by the objective lens 110. Then, the magneto-optical recording medium 1
In No. 11, the plane of polarization of the light is rotated by about 0.5 ° by the recorded magnetic signal, and a small S
The light having the polarized component is reflected. This magneto-optical recording medium 1
The light reflected by the light 11 passes through the objective lens 110 again and passes through the polarization separation surface 10 of the polarization projection rhythm 108.
Return to 8a. At this time, since the transmittance of the P-polarized light is set to approximately 70%, the reflectance of the P-polarized light is set to approximately 30%, and the reflectance of the S-polarized light is set to approximately 100% on the polarization separating surface 108a as described above, About 70% of the component is transmitted, and 3
0% and 100% of the S-polarized light component which is a magneto-optical signal component is reflected.

【0006】このうち、偏光分離面108aで反射され
た光は、薄型偏光分離素子109により互いに直交する
2つの直線偏光成分に分離されて一方が0次光、他方が
±1次光として出射され、反射面108bで反射され
る。そして、+1次回折光は図11に示す光検出器11
2a上に、0次回折光は光検出器112b上に、−1次
回折光は光検出器112c上に集光される。このときの
光検出器112a、112b、112cの電気信号出力
を各々S1、S2、S3とすると、光磁気信号MOは、 MO=S1+S3−S2 により得られる。
The light reflected by the polarization separation surface 108a is separated into two linearly polarized light components orthogonal to each other by the thin polarization separation element 109, one of which is emitted as 0-order light, and the other is emitted as ± 1st-order light. Are reflected by the reflection surface 108b. Then, the + 1st-order diffracted light is output from the photodetector 11 shown in FIG.
On 2a, the 0th-order diffracted light is focused on the photodetector 112b, and the -1st-order diffracted light is focused on the photodetector 112c. Assuming that the electric signal outputs of the photodetectors 112a, 112b, 112c at this time are S1, S2, S3, respectively, the magneto-optical signal MO is obtained by MO = S1 + S3-S2.

【0007】一方、偏光分離面108aを透過した光
は、透明基板106に形成されたホログラム回折素子1
07に入射する。そして、+1次回折光は光検出器10
4に、−1次回折光は光検出器105に入射する。この
ときの、ホログラム回折素子107は±1次回折光の焦
点位置が異なるようなレンズ効果を有するので、例えば
+1次光は光検出器104よりホログラム回折素子10
7に近い所で焦点を結び、−1次光は光検出器105よ
りホログラム回折素子107から遠い所で焦点を結ぶ。
光磁気記録媒体111上に対物レンズ110で集光され
た光が媒体上に正しく焦点を結んでいるときには、図1
1に示すように光検出器104上と光検出器105上と
で光スポットの直径が等しくなるので、光検出器104
a〜104fの電気信号出力をS4〜S9、光検出器1
05a〜105fの電気信号をS10〜S15とする
と、フォーカス誤差信号FEは、 FE=(S4+S6+S7+S9+S11+S14)−
(S5+S8+S10+S12+S13+S15) により得られる。
On the other hand, the light transmitted through the polarization splitting surface 108a is reflected by the hologram diffraction element 1 formed on the transparent substrate 106.
07. Then, the + 1st-order diffracted light is applied to the photodetector 10
4, the -1st-order diffracted light enters the photodetector 105. At this time, the hologram diffraction element 107 has a lens effect such that the focal positions of the ± 1st-order diffracted lights are different.
7, and the -1st-order light is focused farther from the hologram diffraction element 107 than the photodetector 105.
When the light converged by the objective lens 110 on the magneto-optical recording medium 111 is correctly focused on the medium, FIG.
As shown in FIG. 1, the diameters of the light spots on the photodetector 104 and the photodetector 105 become equal,
The electric signal outputs of a to 104f are S4 to S9, and the photodetector 1
Assuming that the electric signals 05a to 105f are S10 to S15, the focus error signal FE is FE = (S4 + S6 + S7 + S9 + S11 + S14)-
(S5 + S8 + S10 + S12 + S13 + S15).

【0008】また、光検出器104の部分104a〜1
04cと104d〜104fとを分ける分割線を光磁気
記録媒体111上の情報トラック方向と平行になるよう
に光ピックアップ装置を配置しておけば、いわゆるプッ
シュ・プル法に基づいてトラッキング誤差信号TEが、 TE=(S4+S5+S6+S13+S14+S15)
−(S7+S8+S9+S10+S11+S12) により得られる。
Also, portions 104a to 104a of the photodetector 104
By arranging the optical pickup device such that the dividing line that separates 04c from 104d to 104f is parallel to the information track direction on the magneto-optical recording medium 111, the tracking error signal TE can be obtained based on the so-called push-pull method. , TE = (S4 + S5 + S6 + S13 + S14 + S15)
− (S7 + S8 + S9 + S10 + S11 + S12)

【0009】これに対して、特開平9−44893号に
は、図12に示すように、半導体レーザ212と一体化
されたフォトダイオード213、214、215上にホ
ログラム217を配置したパッケージ210上に、偏光
ビームスプリッター218及び1/4波長板219をこ
の順に接着固定した光ピックアップ装置が開示されてい
る。
On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-44893 discloses a package 210 in which a hologram 217 is arranged on photodiodes 213, 214, and 215 integrated with a semiconductor laser 212 as shown in FIG. An optical pickup device in which a polarizing beam splitter 218 and a quarter-wave plate 219 are bonded and fixed in this order is disclosed.

【0010】この光ピックアップ装置において、半導体
レーザ212から出射された光は、ビームスプリッター
218を透過して1/4波長板219で円偏光に変換さ
れた後、対物レンズ204により情報記録媒体205に
集光される。情報記録媒体205で反射された光は、1
/4波長板219によって90゜方向が異なる直線偏光
に変換される。そして、ビームスプリッター218によ
り100%反射されてホログラム217に到達し、回折
された後、フォトダイオード213、214、215に
入射する。
In this optical pickup device, light emitted from a semiconductor laser 212 passes through a beam splitter 218 and is converted into circularly polarized light by a 1 / wavelength plate 219, and thereafter, is converted into a circularly polarized light by an objective lens 204. It is collected. The light reflected by the information recording medium 205 is 1
The light is converted into linearly polarized light having a different direction by 90 ° by the ゜ wavelength plate 219. The light is reflected 100% by the beam splitter 218, reaches the hologram 217, is diffracted, and then enters the photodiodes 213, 214, and 215.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
特開平8−329544号に開示された光磁気ディスク
用の光ピックアップ装置においては、ホログラム回折素
子107が半導体レーザ103と光磁気記録媒体111
との間に配置されているため、以下のような問題点が生
じる。
However, in the optical pickup device for a magneto-optical disk disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-329544, the hologram diffraction element 107 includes the semiconductor laser 103 and the magneto-optical recording medium 111.
Therefore, the following problems occur.

【0012】まず、ホログラム回折素子107での回折
されることによって光磁気記録媒体111に到達する光
量が減少するので、より出力の大きい半導体レーザが必
要となる。
First, since the amount of light reaching the magneto-optical recording medium 111 is reduced by being diffracted by the hologram diffraction element 107, a semiconductor laser having a higher output is required.

【0013】次に、半導体レーザ103から出射されて
ホログラム回折素子107で回折された光が対物レンズ
110に入射すると、光磁気記録媒体111で反射され
て光検出器104及び105上に投射されるので、フォ
ーカス誤差信号とトラッキング誤差信号とに偽の信号が
発生する。これを防ぐためには、本発明者らが特公平7
−3703号において開示しているようにホログラム回
折素子107の形成領域を制限すればよいが、光の波長
が短くなるとホログラム回折素子107の格子ピッチも
それに比例して短くなるため、光ピックアップ装置を安
価に製造することが困難になる。
Next, when the light emitted from the semiconductor laser 103 and diffracted by the hologram diffraction element 107 enters the objective lens 110, it is reflected by the magneto-optical recording medium 111 and projected on the photodetectors 104 and 105. Therefore, false signals are generated in the focus error signal and the tracking error signal. In order to prevent this, the present inventors have proposed
As disclosed in Japanese Patent No. 3703, the formation area of the hologram diffraction element 107 may be limited. However, as the wavelength of light becomes shorter, the grating pitch of the hologram diffraction element 107 becomes shorter in proportion thereto. It becomes difficult to manufacture at low cost.

【0014】また、偏光プリズム108は配置と製造上
の制限によって2mm〜5mmの大きさになるので、光
検出器104から光検出器112までの距離も2mm〜
5mmとなり、通常の2倍〜5倍の大きさのSi基板1
02が必要となるので、光検出器のコストが増大すると
いう問題もある。
Since the size of the polarizing prism 108 is 2 mm to 5 mm due to restrictions on the arrangement and manufacturing, the distance from the light detector 104 to the light detector 112 is also 2 mm to 5 mm.
5 mm, which is 2 to 5 times the size of a normal Si substrate 1
02 is required, so that the cost of the photodetector increases.

【0015】しかも、偏光プリズム108は研磨した3
つの三角柱状のガラス部材(三角プリズム)108P、
108Q、108R)と短冊状の薄型偏光分離素子10
9とを貼り合わせて研磨・切断して作製するので、1度
に10個〜20個程度しか加工できず、コスト面及び精
度面において不利である。
In addition, the polarizing prism 108 is polished 3
Two triangular prism-shaped glass members (triangular prism) 108P,
108Q, 108R) and a strip-shaped thin polarizing beam splitter 10
9 is bonded and polished and cut, so that only about 10 to 20 pieces can be processed at a time, which is disadvantageous in cost and accuracy.

【0016】さらに、光検出器104及び105が半導
体レーザ103の近辺に配置されるので、透明基板10
6で反射された半導体レーザ103からの放射光がこれ
らの光検出器に入射して偽のサーボ信号が発生しやす
い。
Further, since the photodetectors 104 and 105 are arranged near the semiconductor laser 103, the transparent substrate 10
The radiated light from the semiconductor laser 103 reflected at 6 is incident on these photodetectors, and a false servo signal is likely to be generated.

【0017】一方、特開平9−44893号に開示され
ている光ピックアップ装置は、ホログラム217が半導
体レーザ212と情報記録媒体205との間に配置され
ていないので、情報記録媒体205に到達する光量が減
少したり、ホログラム217で回折された光が情報記録
媒体205に入射されて偽の信号が生じたりすることは
ない。また、フォトダイオード213〜215の形成領
域がビームスプリッターの大きさに関係しないのでSi
基板の面積を小さくできる。さらに、フォトダイオード
213〜215が半導体レーザ212の近辺にないの
で、半導体レーザ212の放射光がこれらのフォトダイ
オードに入射して偽の信号が生じることもない。
On the other hand, in the optical pickup device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-44893, since the hologram 217 is not disposed between the semiconductor laser 212 and the information recording medium 205, the amount of light reaching the information recording medium 205 Is not reduced, and the light diffracted by the hologram 217 does not enter the information recording medium 205 to generate a false signal. Also, since the formation area of the photodiodes 213 to 215 is not related to the size of the beam splitter,
The area of the substrate can be reduced. Further, since the photodiodes 213 to 215 are not in the vicinity of the semiconductor laser 212, the radiated light of the semiconductor laser 212 does not enter these photodiodes to generate a false signal.

【0018】しかし、この従来技術では、光磁気信号を
検出することができないので光磁気ディスクを再生する
ことができず、本発明のように光磁気ディスク用の光ピ
ックアップ装置として使用することはできない。
However, in this conventional technique, a magneto-optical signal cannot be detected, so that the magneto-optical disk cannot be reproduced, and cannot be used as an optical pickup device for a magneto-optical disk as in the present invention. .

【0019】また、ビームスプリッター218を固定す
る接着剤がホログラム217とビームスプリッター21
8との間に入り込むと接着剤の気泡によって光学特性が
劣化するおそれがある。さらに、ビームスプリッター2
18は断面が三角形のプリズムと断面が平行四辺形のプ
リズムとを接合したものであるので、加工精度及びコス
ト面で問題がある。
The adhesive for fixing the beam splitter 218 is composed of the hologram 217 and the beam splitter 21.
8 may deteriorate the optical characteristics due to bubbles of the adhesive. Furthermore, beam splitter 2
Since the prism 18 has a prism having a triangular cross section and a prism having a parallelogram cross section, there is a problem in processing accuracy and cost.

【0020】本発明は、このような従来技術の課題を解
決するためになされたものであり、小型で光利用効率が
高く、設計の自由度を向上することができ、光学特性が
良好で量産性及び加工精度にも優れた、光磁気ディスク
用の光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve such problems of the prior art, and is small in size, has high light use efficiency, can improve the degree of freedom in design, has good optical characteristics, and can be mass-produced. It is an object of the present invention to provide an optical pickup device for a magneto-optical disk which is excellent in performance and processing accuracy.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
装置は、光源と、該光源から放射される光を光磁気記録
媒体上に集光する集光手段と、該光源から該集光手段に
至る光路上に配置され、主として断面が平行四辺形の光
学結晶からなり、該光磁気記録媒体からの反射光を偏光
分離するビームスプリッターと、該光源と同一のパッケ
ージ内に配置され、該ビームスプリッターで分離された
該光磁気記録媒体からの反射光を検出する光検出器とを
備え、該光源から該光磁気記録媒体に至る光路上から外
れ、かつ、該ビームスプリッターから該光検出器に至る
光路上に、該ビームスプリッターで分離された該光磁気
記録媒体からの反射光の一部を回折させる第1の回折素
子が配置され、そのことにより上記目的が達成される。
An optical pickup device according to the present invention comprises: a light source; a light condensing means for condensing light emitted from the light source on a magneto-optical recording medium; A beam splitter that is disposed on an optical path leading to the optical path and is mainly made of an optical crystal having a parallelogram cross-section and that separates polarized light from reflected light from the magneto-optical recording medium; and a beam splitter disposed in the same package as the light source A light detector that detects reflected light from the magneto-optical recording medium separated by the light source, deviates from an optical path from the light source to the magneto-optical recording medium, and moves from the beam splitter to the light detector. A first diffraction element for diffracting a part of the reflected light from the magneto-optical recording medium separated by the beam splitter is arranged on the optical path, thereby achieving the above object.

【0022】前記ビームスプリッターは、前記光磁気記
録媒体からの反射光の一部を反射する第1の反射面と、
該第1の反射面からの反射光を前記光検出器の方向に反
射させる第2の反射面とを有する構成とすることができ
る。
The beam splitter has a first reflecting surface for reflecting a part of the reflected light from the magneto-optical recording medium;
A second reflecting surface for reflecting light reflected from the first reflecting surface in the direction of the photodetector.

【0023】前記ビームスプリッターは、前記第1の反
射面から前記第2の反射面に至る光路上に、前記光磁気
記録媒体からの反射光を互いに直交する2つの偏光成分
に分離する偏光分離素子を有する構成とすることができ
る。
The beam splitter is a polarizing beam splitter for splitting reflected light from the magneto-optical recording medium into two polarized components orthogonal to each other on an optical path from the first reflecting surface to the second reflecting surface. May be provided.

【0024】前記パッケージは、複数の異なる高さの取
り付け面を有し、前記第1の回折素子と前記ビームスプ
リッターとが異なる取り付け面に取り付けられているの
が好ましい。
It is preferable that the package has a plurality of mounting surfaces having different heights, and the first diffraction element and the beam splitter are mounted on different mounting surfaces.

【0025】前記光源から前記ビームスプリッターに至
る光路上に、該光源からの光を3つ以上の光に分割する
第2の回折素子が配置されていてもよい。
A second diffraction element for splitting light from the light source into three or more lights may be arranged on an optical path from the light source to the beam splitter.

【0026】前記第2の回折素子は前記第1の回折素子
と同一基板上に形成されていてもよい。
[0026] The second diffractive element may be formed on the same substrate as the first diffractive element.

【0027】前記第2の回折素子は前記第1の回折素子
と前記基板の同一面に形成されていてもよい。
[0027] The second diffraction element may be formed on the same surface of the substrate as the first diffraction element.

【0028】以下に、本発明の作用について説明する。The operation of the present invention will be described below.

【0029】本発明にあっては、光源と集光手段との間
にビームスプリッターが設けられ、ビームスプリッター
と光検出器との間に第1の回折素子が配置されている。
この第1の回折素子は、光源から光磁気記録媒体に至る
光路から外れているので、回折により半導体レーザから
の光量が減少することはなく、より少ない損失で光磁気
記録媒体に伝達される。また、第1の回折素子からの回
折光が集光手段に入射しないように配慮する必要がな
く、回折素子の設計の自由度が向上する。さらに、回折
角度が小さくてもよいので、光の波長が短くなっても回
折素子の格子間隔を大きく保つことができる。よって、
例えば密着露光等の方法により第1の回折素子を作製す
ることができる。
In the present invention, a beam splitter is provided between the light source and the condensing means, and a first diffraction element is provided between the beam splitter and the photodetector.
Since the first diffraction element is out of the optical path from the light source to the magneto-optical recording medium, the quantity of light from the semiconductor laser does not decrease due to diffraction, and is transmitted to the magneto-optical recording medium with less loss. Further, there is no need to consider that the diffracted light from the first diffractive element does not enter the condensing means, and the degree of freedom in designing the diffractive element is improved. Further, since the diffraction angle may be small, the grating interval of the diffraction element can be kept large even if the wavelength of light becomes short. Therefore,
For example, the first diffraction element can be manufactured by a method such as contact exposure.

【0030】従来の光ピックアップ装置のように光検出
器の配置がビームスプリッターの大きさに関係しないの
で、光検出器が形成されるSi基板の面積を小さくする
ことができる。また、光検出器と半導体レーザとを離し
て配置できるので、半導体レーザからの放射光が光検出
器に入射して偽のサーボ信号が発生することはない。
Since the arrangement of the photodetectors is not related to the size of the beam splitter as in the conventional optical pickup device, the area of the Si substrate on which the photodetectors are formed can be reduced. In addition, since the photodetector and the semiconductor laser can be arranged apart from each other, there is no possibility that the emitted light from the semiconductor laser is incident on the photodetector and a false servo signal is generated.

【0031】上記ビームスプリッターは、主として断面
が平行四辺形の光学結晶からなり、基本的に平行平板型
となるので、大きな基板を重ね合わせてから切断して作
製することにより量産性の向上及び精度の向上を図るこ
とができる。
Since the beam splitter is mainly made of an optical crystal having a parallelogram cross section and is basically of a parallel plate type, it is possible to improve mass productivity and improve accuracy by cutting a large substrate after laminating it. Can be improved.

【0032】上記ビームスプリッターは、光記録媒体か
らの反射光の一部を反射する第1の反射面と、第1の反
射面からの反射光を光検出器の方向に反射させる第2の
反射面とを設けることにより、光検出器と半導体レーザ
とを同一パッケージ内に配置して小型化することができ
る。
The beam splitter has a first reflecting surface that reflects a part of the reflected light from the optical recording medium, and a second reflecting surface that reflects the reflected light from the first reflecting surface toward the photodetector. By providing the surface, the photodetector and the semiconductor laser can be arranged in the same package to reduce the size.

【0033】さらに、ビームスプリッターの第1の反射
面から第2の反射面に至る光路上に、光記録媒体からの
反射光を互いに直交する2つの偏光成分に分離する偏光
分離素子を配置することにより、部品点数を低減でき
る。
Further, a polarization splitting element for splitting the reflected light from the optical recording medium into two polarization components orthogonal to each other is arranged on the optical path from the first reflection surface to the second reflection surface of the beam splitter. Thereby, the number of parts can be reduced.

【0034】上記パッケージに複数の異なる高さの取り
付け面を形成し、第1の回折素子を形成した基板とビー
ムスプリッターとを異なる取り付け面に取り付けること
により、両者を独立して位置調整することが可能とな
る。この場合、従来の光ピックアップ装置のように接着
剤等が両者の間に入り込むことはないので、光学特性が
劣化することもない。
A plurality of mounting surfaces having different heights are formed on the package, and the substrate on which the first diffraction element is formed and the beam splitter are mounted on different mounting surfaces, whereby the positions of the two can be adjusted independently. It becomes possible. In this case, since the adhesive or the like does not enter between them unlike the conventional optical pickup device, the optical characteristics do not deteriorate.

【0035】光源からビームスプリッターに至る光路上
に、光源からの光を3つ以上の光に分割する第2の回折
素子を配置してもよい。この場合、いわゆる3ビーム法
によりトラッキング信号を検出することができる。
A second diffraction element for dividing light from the light source into three or more lights may be arranged on the optical path from the light source to the beam splitter. In this case, the tracking signal can be detected by a so-called three-beam method.

【0036】この第2の回折素子は第1の回折素子と同
一基板上に形成することにより製造コストの上昇を抑え
ることができる。ここで、第1の回折素子と第2の回折
素子とを別の面に形成してもよいが、同一面に形成する
ことによりさらに製造コストの上昇を抑えることができ
る。
By forming the second diffraction element on the same substrate as the first diffraction element, it is possible to suppress an increase in manufacturing cost. Here, the first diffraction element and the second diffraction element may be formed on different surfaces, but by forming them on the same surface, it is possible to further suppress an increase in manufacturing cost.

【0037】[0037]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態につい
て図面を参照しながら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0038】(実施形態1)図1は本実施形態の光ピッ
クアップ装置の概略構成を示す斜視図であり、図2はそ
の断面図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of an optical pickup device of the present embodiment, and FIG. 2 is a sectional view thereof.

【0039】この光ピックアップ装置は、光源である半
導体レーザ1と、半導体レーザ1から放射される光を光
磁気記録媒体12上に集光する集光手段であるコリメー
トレンズ10及び対物レンズ11とを有している。そし
て、半導体レーザ1からコリメートレンズ10に至る光
路上には、光磁気記録媒体12からの反射光を偏光分離
するビームスプリッター2が配置されている。このビー
ムスプリッター2は基本的に平行平板型であり、主とし
て断面が平行四辺形の光学結晶からなる。半導体レーザ
1と同一のステム8には、ビームスプリッター2で分離
された光磁気記録媒体12からの反射光を検出する光検
出器7が設けられている。
This optical pickup device includes a semiconductor laser 1 as a light source, and a collimating lens 10 and an objective lens 11 as focusing means for focusing light emitted from the semiconductor laser 1 on a magneto-optical recording medium 12. Have. On the optical path from the semiconductor laser 1 to the collimator lens 10, a beam splitter 2 for polarizing and separating the reflected light from the magneto-optical recording medium 12 is arranged. The beam splitter 2 is basically a parallel plate type, and is mainly made of an optical crystal having a parallelogram cross section. The same stem 8 as the semiconductor laser 1 is provided with a photodetector 7 for detecting the reflected light from the magneto-optical recording medium 12 separated by the beam splitter 2.

【0040】ビームスプリッター2から光検出器7に至
る光路上には、半導体レーザ1から光磁気記録媒体12
に至る光路上から外れて、ビームスプリッター2で分離
された光磁気記録媒体12からの反射光の一部を回折さ
せる第1の回折素子(回折格子)6が配置されている。
On the optical path from the beam splitter 2 to the photodetector 7, the semiconductor laser 1
And a first diffraction element (diffraction grating) 6 for diffracting a part of the reflected light from the magneto-optical recording medium 12 separated by the beam splitter 2 is provided.

【0041】半導体レーザ1と光検出器7とが配置され
たステム8にはキャップ9が被せられており、そのキャ
ップ9に第1の回折素子6が形成された光透過性基板1
4とビームスプリッター2とが取り付けられている。キ
ャップ9の光通過領域には、気密封止のためにガラス板
15が取り付けられている。このようにステム8とキャ
ップ9とで構成されるパッケージ13内部を気密封止す
ることにより、半導体レーザ1と光検出器7との相対位
置が安定に保たれる。このキャップ9は、図2に示すよ
うに、2つの高さが異なる取り付け面9a、9bを有
し、第1の回折素子6が形成された光透過性基板14と
ビームスプリッター2とが異なる取り付け面9a、9b
に独立して取り付けられている。
A cap 9 is put on a stem 8 on which the semiconductor laser 1 and the photodetector 7 are arranged, and the light transmitting substrate 1 on which the first diffraction element 6 is formed is mounted on the cap 9.
4 and a beam splitter 2 are attached. A glass plate 15 is attached to the light passage area of the cap 9 for hermetic sealing. By hermetically sealing the inside of the package 13 including the stem 8 and the cap 9 in this manner, the relative position between the semiconductor laser 1 and the photodetector 7 can be stably maintained. As shown in FIG. 2, the cap 9 has two mounting surfaces 9a and 9b having different heights, and the light transmitting substrate 14 on which the first diffraction element 6 is formed and the beam splitter 2 have different mounting surfaces. Surface 9a, 9b
Is installed independently.

【0042】上記ビームスプリッター2は、光磁気記録
媒体12からの反射光の一部を反射する第1の反射面3
と、第1の反射面3からの反射光を光検出器7の方向に
反射させる第2の反射面5とを有している。そして、第
1の反射面3から第2の反射面5に至る光路上に、光磁
気記録媒体12からの反射光を互いに直交する2つの偏
光成分に分離する偏光分離素子4を有している。この偏
光分離素子4としては、例えば光軸の異なる2枚の光学
結晶基板を用いることができる。第1の反射面3は、例
えばP偏光の反射率を30%、S偏光の反射率を100
%に設定する。この場合、半導体レーザ1から出射され
る光の偏光方向をP偏光とすれば、光磁気記録媒体12
からの反射光が第1の反射面で反射される際に、見かけ
上の偏光面の回転量を増やすことができる。
The beam splitter 2 has a first reflecting surface 3 that reflects a part of the reflected light from the magneto-optical recording medium 12.
And a second reflection surface 5 that reflects light reflected from the first reflection surface 3 in the direction of the photodetector 7. On the optical path from the first reflection surface 3 to the second reflection surface 5, there is provided a polarization separation element 4 for separating the reflected light from the magneto-optical recording medium 12 into two polarization components orthogonal to each other. . As the polarization separation element 4, for example, two optical crystal substrates having different optical axes can be used. The first reflection surface 3 has, for example, a reflectance of 30% for P-polarized light and a reflectance of 100 for S-polarized light.
Set to%. In this case, if the polarization direction of light emitted from the semiconductor laser 1 is P-polarization, the magneto-optical recording medium 12
When the reflected light from is reflected by the first reflecting surface, the apparent rotation amount of the polarization plane can be increased.

【0043】このように構成された本実施形態の光ピッ
クアップ装置の動作について、以下に説明する。
The operation of the thus-configured optical pickup device of this embodiment will be described below.

【0044】半導体レーザ1から放射された光は、ビー
ムスプリッター2を透過してコリメートレンズ10及び
対物レンズ11により光磁気記録媒体12に集光され
る。光磁気記録媒体12で反射された光は光磁気記録媒
体12に記録された磁化の方向に応じてその偏光面が回
転し、再び対物レンズ11とコリメートレンス10を通
過してビームスプリッター2に入射する。ビームスプリ
ッター2に入射した光は第1の反射面3で反射され、偏
光分離素子4により互いに直交する2つの偏光成分に分
離され、さらに第2の反射面5で反射されて、第1の回
折素子6に入射する。
The light emitted from the semiconductor laser 1 passes through the beam splitter 2 and is focused on the magneto-optical recording medium 12 by the collimator lens 10 and the objective lens 11. The light reflected by the magneto-optical recording medium 12 has its polarization plane rotated in accordance with the direction of magnetization recorded on the magneto-optical recording medium 12, passes through the objective lens 11 and the collimator 10 again, and enters the beam splitter 2. I do. The light incident on the beam splitter 2 is reflected by the first reflection surface 3, separated into two polarization components orthogonal to each other by the polarization separation element 4, further reflected by the second reflection surface 5, and subjected to the first diffraction. The light enters the element 6.

【0045】第1の回折素子6は、図3に示すように、
3つの領域6a、6b、6cを有し、各々の領域で格子
間隔が異なっている。そして、各々直交する2つの偏光
成分に分離された光は、各々図3に実線の円と破線の円
で示されるように入射する。
As shown in FIG. 3, the first diffraction element 6
It has three regions 6a, 6b, 6c, and each region has a different lattice spacing. Then, the light separated into two orthogonal polarization components respectively enters as shown by a solid-line circle and a broken-line circle in FIG.

【0046】第1の回折素子6の領域6aに入射した光
は、図5に示す光検出器7の光検出部7aに、領域6b
に入射した光は光検出部7bに、領域6cに入射した光
は光検出部7cと光検出部7dの境界線上に各々入射す
る。第1の回折素子6を0次回折光として透過した光
は、光検出部7e及び7fに入射する。
The light incident on the area 6a of the first diffraction element 6 is applied to the light detecting portion 7a of the photodetector 7 shown in FIG.
Are incident on the photodetector 7b, and the light incident on the region 6c is incident on the boundary between the photodetector 7c and the photodetector 7d. The light that has passed through the first diffraction element 6 as the 0th-order diffracted light enters the light detection units 7e and 7f.

【0047】ここで、図1に示すように、第1の回折素
子6の領域6cの直線部は、光磁気記録媒体12のトラ
ック方向と直交する方向に設定されているので、光検出
部7aの出力信号と光検出部7bの出力信号の差を演算
することによりプッシュ・プル法に基づくラジアル誤差
信号が得られ、光検出部7cの出力信号と光検出部7d
の出力信号の差を演算することによりフーコー法に基づ
くフォーカス誤差信号が得られる。また、光検出部7e
の出力信号と光検出部7fの出力信号の差を演算するこ
とにより光磁気信号が再生される。
Here, as shown in FIG. 1, since the linear portion of the region 6c of the first diffraction element 6 is set in a direction orthogonal to the track direction of the magneto-optical recording medium 12, the light detecting portion 7a The radial error signal based on the push-pull method is obtained by calculating the difference between the output signal of the photodetector 7b and the output signal of the photodetector 7b.
By calculating the difference between the output signals, a focus error signal based on the Foucault method is obtained. Also, the light detection unit 7e
The magneto-optical signal is reproduced by calculating the difference between this output signal and the output signal of the photodetector 7f.

【0048】(実施形態2)図5は本実施形態の光ピッ
クアップ装置の概略構成を示す斜視図であり、図6はそ
の断面図である。ここでは簡単のため、第1の実施形態
と同様の機能を有する構成要素には同一の番号を付して
ある。
(Embodiment 2) FIG. 5 is a perspective view showing a schematic configuration of an optical pickup device of this embodiment, and FIG. 6 is a sectional view thereof. Here, for the sake of simplicity, components having the same functions as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals.

【0049】この光ピックアップ装置は、半導体レーザ
1からビームスプリッター2に至る光路上に第2の回折
素子6が配置されていること、及び光検出器7の光検出
部2が2個増えている以外は実施形態1と同様の構成で
ある。
In this optical pickup device, the second diffraction element 6 is arranged on the optical path from the semiconductor laser 1 to the beam splitter 2, and the number of the photodetectors 2 of the photodetector 7 is increased by two. Other than that, the configuration is the same as that of the first embodiment.

【0050】第2の回折素子16は、光透過性基板14
に第1の回折素子6と同一面に形成され、図7に示すよ
うな一定の間隔の直線格子である。この第2の回折素子
16により、半導体レーザ1からの光は2つのトラッキ
ング用ビームと1つの情報再生用ビームとの計3つのビ
ームに分割される。従って、光磁気記録媒体12上には
3つの光スポットが形成される。
The second diffraction element 16 is formed on the light transmitting substrate 14.
Are formed on the same plane as the first diffraction element 6, and are linear gratings at a constant interval as shown in FIG. The light from the semiconductor laser 1 is split by the second diffraction element 16 into a total of three beams, two tracking beams and one information reproducing beam. Accordingly, three light spots are formed on the magneto-optical recording medium 12.

【0051】光磁気記録媒体12で反射された3つのビ
ームは、ビームスプリッター2の第1の反射面3で反射
され、偏光分離素子4により互いに直交する2つの偏光
成分に分離されて、計6つのビームが形成される。そし
て、第2の反射面5で反射されて、第1の回折素子6に
入射する。
The three beams reflected by the magneto-optical recording medium 12 are reflected by the first reflecting surface 3 of the beam splitter 2 and separated into two orthogonal polarization components by the polarization splitting element 4. Two beams are formed. Then, the light is reflected by the second reflection surface 5 and enters the first diffraction element 6.

【0052】第1の回折素子6は、実施形態1と同様
に、3つの領域6a、6b、6cを有し、各々の領域で
格子間隔が異なっている。そして、各々直交する2つの
偏光成分に分離された光は、各々図8に実線の円と破線
の円で示されるように入射する。
The first diffraction element 6 has three regions 6a, 6b, and 6c, as in the first embodiment, and the lattice spacing is different in each region. Then, the light separated into two orthogonal polarization components is incident as shown by a solid circle and a broken circle in FIG. 8, respectively.

【0053】光検出器7には、実施形態1で示した光検
出部7a〜7fの他に、図9に示すような光検出部7g
及び7hが設けられ、第1の回折素子を0次回折光とし
て透過した2つのトラッキング用ビームは、各々光検出
部7g及び7hに入射する。
The photodetector 7 has a photodetector 7g as shown in FIG. 9 in addition to the photodetectors 7a to 7f shown in the first embodiment.
And 2h, and the two tracking beams transmitted through the first diffraction element as the 0th-order diffracted light are incident on the photodetectors 7g and 7h, respectively.

【0054】従って、光検出部7gの出力信号と光検出
部7hの出力信号の差を演算することにより3ビーム法
に基づくラジアル誤差信号が得られ、光検出部7cの出
力信号と光検出部7dの出力信号の差を演算することに
よりフーコー法に基づくフォーカス誤差信号が得られ
る。また、光検出部7aの出力信号と光検出部7bの出
力信号の差を演算することによりいわゆるプッシュ・プ
ル信号が得られ、これは、例えば光磁気記録媒体12上
に形成されたトラッキング溝を蛇行させて記録したアド
レス信号の検出に用いられる。さらに、光検出部7eの
出力信号と光検出部7fの出力信号の差を演算すること
により光磁気信号が再生される。
Therefore, by calculating the difference between the output signal of the light detection unit 7g and the output signal of the light detection unit 7h, a radial error signal based on the three-beam method is obtained, and the output signal of the light detection unit 7c and the light detection unit By calculating the difference between the 7d output signals, a focus error signal based on the Foucault method is obtained. A so-called push-pull signal is obtained by calculating the difference between the output signal of the light detection unit 7a and the output signal of the light detection unit 7b. It is used for detecting an address signal recorded in a meandering manner. Further, the magneto-optical signal is reproduced by calculating the difference between the output signal of the light detection unit 7e and the output signal of the light detection unit 7f.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明による場合
には、光源と集光手段との間にビームスプリッターが設
けられ、ビームスプリッターと光検出器との間に第1の
回折素子が配置されているので、半導体レーザからの光
をより少ない損失で光磁気記録媒体に伝達することがで
きる。光の利用効率を高めることができるので、出力の
低い半導体レーザを利用しても光磁気信号の検出が可能
となる。また、第1の回折素子からの回折光が集光手段
に入射しないように配慮する必要がなく、回折素子の設
計の自由度が向上する。さらに、回折角度が小さくても
よいので、光の波長が短くなっても回折素子の格子間隔
を大きく保つことができ、例えば密着露光のような量産
性の高い方法により製造することが可能となり、製造コ
ストの低廉化を図ることができる。
As described above in detail, in the case of the present invention, the beam splitter is provided between the light source and the condensing means, and the first diffraction element is provided between the beam splitter and the photodetector. The arrangement allows the light from the semiconductor laser to be transmitted to the magneto-optical recording medium with less loss. Since the light use efficiency can be improved, a magneto-optical signal can be detected even when a semiconductor laser having a low output is used. Further, there is no need to consider that the diffracted light from the first diffractive element does not enter the condensing means, and the degree of freedom in designing the diffractive element is improved. Furthermore, since the diffraction angle may be small, the lattice spacing of the diffraction element can be kept large even when the wavelength of light is short, and it can be manufactured by a method with high productivity such as contact exposure, for example. The manufacturing cost can be reduced.

【0056】従来の光ピックアップ装置のように光検出
器の配置がビームスプリッターの大きさに関係しないの
で、光検出器が形成されるSi基板の面積を小さくする
ことができ、量産性を向上することができる。また、光
検出器と半導体レーザとを離して配置できるので、半導
体レーザからの放射光が光検出器に入射して偽のサーボ
信号が発生することはなく、信頼性を向上させることが
できる。
Since the arrangement of the photodetectors is not related to the size of the beam splitter as in the conventional optical pickup device, the area of the Si substrate on which the photodetectors are formed can be reduced, and the mass productivity is improved. be able to. In addition, since the photodetector and the semiconductor laser can be arranged apart from each other, it is possible to prevent the emission light from the semiconductor laser from being incident on the photodetector and generate a false servo signal, thereby improving reliability.

【0057】ビームスプリッターは、主として断面が平
行四辺形の光学結晶からなるので、大きな基板を重ね合
わせてから切断して作製することができる。よって、組
立時の不良を防いで量産性の向上及び加工精度の向上を
図ることができる。
Since the beam splitter is mainly made of an optical crystal having a parallelogram cross section, it can be manufactured by stacking large substrates and then cutting. Therefore, it is possible to prevent a failure at the time of assembling, thereby improving mass productivity and improving processing accuracy.

【0058】本発明による場合には、ビームスプリッタ
ーに、光記録媒体からの反射光の一部を反射する第1の
反射面と、第1の反射面からの反射光を光検出器の方向
に反射させる第2の反射面とを設けることにより、光検
出器と半導体レーザとを同一パッケージ内に配置して小
型化することができる。さらに、ビームスプリッターの
第1の反射面から第2の反射面に至る光路上に、光記録
媒体からの反射光を互いに直交する2つの偏光成分に分
離する偏光分離素子を配置することにより、部品点数を
低減できる。
According to the present invention, the beam splitter includes a first reflecting surface for reflecting a part of the reflected light from the optical recording medium, and a reflected light from the first reflecting surface in a direction toward the photodetector. By providing the second reflecting surface for reflection, the photodetector and the semiconductor laser can be arranged in the same package to reduce the size. Further, by disposing a polarization separation element that separates the reflected light from the optical recording medium into two polarization components orthogonal to each other on an optical path from the first reflection surface to the second reflection surface of the beam splitter, The score can be reduced.

【0059】上記パッケージに複数の異なる高さの取り
付け面を形成し、第1の回折素子を形成した基板とビー
ムスプリッターとを異なる取り付け面に取り付けること
により、両者を独立して位置調整することが可能とな
る。また、従来の光ピックアップ装置のように接着剤等
が両者の間に入り込むことはないので、光学特性が劣化
せず、さらに信頼性を向上させることができる。
A plurality of mounting surfaces of different heights are formed on the package, and the substrate on which the first diffraction element is formed and the beam splitter are mounted on different mounting surfaces, whereby the positions of the two can be adjusted independently. It becomes possible. Further, since an adhesive or the like does not enter between them unlike the conventional optical pickup device, the optical characteristics are not degraded, and the reliability can be further improved.

【0060】さらに、光源からビームスプリッターに至
る光路上に、光源からの光を3つ以上の光に分割する第
2の回折素子を配置すれば、いわゆる3ビーム法により
トラッキング信号を検出することができる。よって、光
磁気記録媒体の傾きやトラッキング作用によりトラッキ
ング信号にオフセットが生じ難くなる。この第2の回折
素子を第1の回折素子と同一基板上の同一面に形成する
ことにより、製造コストの上昇を抑えることができる。
Further, if a second diffraction element for dividing light from the light source into three or more lights is arranged on the optical path from the light source to the beam splitter, the tracking signal can be detected by the so-called three-beam method. it can. Therefore, an offset is less likely to occur in the tracking signal due to the tilt or tracking action of the magneto-optical recording medium. By forming the second diffraction element on the same surface on the same substrate as the first diffraction element, it is possible to suppress an increase in manufacturing cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態1の光ピックアップ装置の概略構成を
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view illustrating a schematic configuration of an optical pickup device according to a first embodiment.

【図2】実施形態1の光ピックアップ装置の概略構成を
示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of the optical pickup device according to the first embodiment.

【図3】実施形態1の光ピックアップ装置における第1
の回折素子の平面図である。
FIG. 3 illustrates a first example of the optical pickup device according to the first embodiment.
FIG. 4 is a plan view of the diffraction element of FIG.

【図4】実施形態1の光ピックアップ装置における光検
出器の平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a photodetector in the optical pickup device according to the first embodiment.

【図5】実施形態2の光ピックアップ装置の概略構成を
示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view illustrating a schematic configuration of an optical pickup device according to a second embodiment.

【図6】実施形態2の光ピックアップ装置の概略構成を
示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of an optical pickup device according to a second embodiment.

【図7】実施形態2の光ピックアップ装置における第2
の回折素子の平面図である。
FIG. 7 illustrates a second example of the optical pickup device according to the second embodiment.
FIG. 4 is a plan view of the diffraction element of FIG.

【図8】実施形態2の光ピックアップ装置における第1
の回折素子の平面図である。
FIG. 8 illustrates a first example of the optical pickup device according to the second embodiment.
FIG. 4 is a plan view of the diffraction element of FIG.

【図9】実施形態2の光ピックアップ装置における光検
出器の平面図である。
FIG. 9 is a plan view of a photodetector in the optical pickup device according to the second embodiment.

【図10】従来の光ピックアップ装置の概略構成を示す
断面図である。
FIG. 10 is a sectional view showing a schematic configuration of a conventional optical pickup device.

【図11】従来の光ピックアップ装置における光検出器
の配置を示す平面図である。
FIG. 11 is a plan view showing an arrangement of a photodetector in a conventional optical pickup device.

【図12】従来の光ピックアップ装置の概略構成を示す
断面図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a conventional optical pickup device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ 2 ビームスプリッター 3 第1の反射面 4 偏光分離素子 5 第1の反射面 6 第1の回折素子 7 光検出器 8 ステム 9 キャップ 10 コリメートレンス 11 対物レンズ 12 光磁気記録媒体 13 パッケージ 14 光透過性基板 15 ガラス板 16 第2の回折素子 REFERENCE SIGNS LIST 1 semiconductor laser 2 beam splitter 3 first reflection surface 4 polarization separation element 5 first reflection surface 6 first diffraction element 7 photodetector 8 stem 9 cap 10 collimation 11 objective lens 12 magneto-optical recording medium 13 package 14 Light transmitting substrate 15 Glass plate 16 Second diffractive element

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源と、 該光源から放射される光を光磁気記録媒体上に集光する
集光手段と、 該光源から該集光手段に至る光路上に配置され、主とし
て断面が平行四辺形の光学結晶からなり、該光磁気記録
媒体からの反射光を偏光分離するビームスプリッター
と、 該光源と同一のパッケージ内に配置され、該ビームスプ
リッターで分離された該光磁気記録媒体からの反射光を
検出する光検出器とを備え、 該光源から該光磁気記録媒体に至る光路上から外れ、か
つ、該ビームスプリッターから該光検出器に至る光路上
に、該ビームスプリッターで分離された該光記録媒体か
らの反射光の一部を回折させる第1の回折素子が配置さ
れている光ピックアップ装置。
1. A light source; a light condensing means for condensing light emitted from the light source onto a magneto-optical recording medium; A beam splitter, which is made of an optical crystal of a shape, and polarization-separates the reflected light from the magneto-optical recording medium; and a beam splitter disposed in the same package as the light source and reflected from the magneto-optical recording medium separated by the beam splitter. A light detector for detecting light, deviated from an optical path from the light source to the magneto-optical recording medium, and separated by the beam splitter on an optical path from the beam splitter to the photodetector. An optical pickup device in which a first diffraction element for diffracting a part of light reflected from an optical recording medium is arranged.
【請求項2】 前記ビームスプリッターは、前記光磁気
記録媒体からの反射光の一部を反射する第1の反射面
と、該第1の反射面からの反射光を前記光検出器の方向
に反射させる第2の反射面とを有する請求項1に記載の
光ピックアップ装置。
2. A beam splitter, comprising: a first reflecting surface that reflects a part of the reflected light from the magneto-optical recording medium; and a reflected light from the first reflecting surface in a direction toward the photodetector. The optical pickup device according to claim 1, further comprising a second reflection surface that reflects light.
【請求項3】 前記ビームスプリッターは、前記第1の
反射面から前記第2の反射面に至る光路上に、前記光磁
気記録媒体からの反射光を互いに直交する2つの偏光成
分に分離する偏光分離素子を有する請求項2に記載の光
ピックアップ装置。
3. A beam splitter, on a light path from the first reflection surface to the second reflection surface, for separating a reflected light from the magneto-optical recording medium into two polarization components orthogonal to each other. The optical pickup device according to claim 2, further comprising a separation element.
【請求項4】 前記パッケージは、複数の異なる高さの
取り付け面を有し、前記第1の回折素子と前記ビームス
プリッターとが異なる取り付け面に取り付けられている
請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の光ピックアッ
プ装置。
4. The package according to claim 1, wherein the package has a plurality of mounting surfaces having different heights, and the first diffraction element and the beam splitter are mounted on different mounting surfaces. An optical pickup device as described in Crab.
【請求項5】 前記光源から前記ビームスプリッターに
至る光路上に、該光源からの光を3つ以上の光に分割す
る第2の回折素子が配置されている請求項1乃至請求項
4のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
5. The optical system according to claim 1, wherein a second diffraction element that divides light from the light source into three or more lights is disposed on an optical path from the light source to the beam splitter. An optical pickup device as described in Crab.
【請求項6】 前記第2の回折素子は前記第1の回折素
子と同一基板上に形成されている請求項5に記載の光ピ
ックアップ装置。
6. The optical pickup device according to claim 5, wherein the second diffraction element is formed on the same substrate as the first diffraction element.
【請求項7】 前記第2の回折素子は前記第1の回折素
子と前記基板の同一面に形成されている請求項6に記載
の光ピックアップ装置。
7. The optical pickup device according to claim 6, wherein the second diffraction element is formed on the same surface of the substrate as the first diffraction element.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6958969B2 (en) 2001-07-04 2005-10-25 Sharp Kabushiki Kaisha Optical semiconductor component package and optical pickup device

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